KR20150119382A - 광 네트워크 검출 방법, 장치 및 시스템 - Google Patents
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Abstract
본 발명의 실시예들은 광 네트워크 검출 방법, 장치, 디바이스 및 시스템, 및 광 분할기를 개시한다. 방법은 관리 디바이스가 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하는 단계 - 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 반사 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송된 테스팅 광 신호가 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송된 후에 광 분할기에 의해 반사되는 광 신호이고, 광 분할기는 광 출력 포트의 단부면 상에 배치된 반사막에 의해 테스팅 광 신호를 반사함 -; 및 반사 피크 전력과 광 분할기의 사전 결정 반사 전력을 비교하여 광 네트워크를 검출하는 단계를 포함한다. 본 발명의 실시예들에서, 검출자는 검출을 수행하기 위한 테스팅 장치를 광 분할기의 위치로 운반할 필요가 없으며, 따라서 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
Description
본원은 2013년 8월 30일자로 "METHOD, APPARATUS, DEVICE, AND SYSTEM FOR DETECTING OPTICAL NETWORK, AND OPTICAL SPLITTER"라는 명칭으로 중국 특허청에 출원된 중국 특허 출원 제201310389084.8호에 대해 우선권을 주장하며, 그 전체가 본 명세서에 참고로 포함된다.
본 발명은 광 통신 기술 분야에 관한 것으로서, 구체적으로는 광 네트워크를 검출하기 위한 방법, 장치, 디바이스 및 시스템, 및 광 분할기에 관한 것이다.
광섬유 네트워크의 규모의 증가에 따라, 수동형 광 네트워크(Passive Optical Network, PON) 기술이 점차 광 액세스 네트워크 기술들의 핫스팟이 되고 있다. PON은 광 라인 터미널(Optical Line Terminal, OLT), 광 분배 네트워크(Optical Distribution Network, ODN) 및 광 네트워크 유닛(Optical Network Unit, ONU)을 포함한다. 광 분배 네트워크 내의 중요한 수동형 컴포넌트는 광 분할기이다. 광 분할기는 광 신호들을 분할 및 결합할 수 있으며, 광 신호의 할당, 광 경로의 접속, 광 신호의 송신 방향의 제어, 광 컴포넌트들 간의 결합의 제어 등에 사용된다. 광 분할기는 고온, 고습도 환경에서 장시간 동안 동작하므로, 시간 경과에 따라 성능이 점차 저하되며, 이는 링크가 큰 손실로 인해 중단될 때까지 링크 손실의 증가를 초래한다.
PON의 정상적인 가동을 보증하기 위해, PON은 통상적으로 서비스의 활성화 전에 검출될 필요가 있으며, 검출은 광 분할기의 상태에 대한 검출 및 광섬유 링크의 손실 상황에 대한 검출을 포함한다. 종래 기술에서, 검출기는 통상적으로 광 분할기가 배치된 위치로 테스팅 디바이스를 운반하여 검출을 수행하는 것을 필요로 한다. 따라서, 검출 효율이 낮다.
발명의 요약
본 발명의 실시예들은 종래 기술에서의 광 네트워크 검출의 낮은 효율의 문제를 해결하기 위해, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법, 장치, 디바이스 및 시스템, 및 광 분할기를 제공한다.
전술한 기술적 문제를 해결하기 위해, 본 발명의 실시예들에서는 아래의 기술적 해법들이 개시된다.
제1 양태에 따르면, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법이 제공되며, 상기 방법은
테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 의해 수신하는 단계 - 상기 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 상기 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 상기 반사 광 신호는 상기 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 상기 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 상기 테스팅 광 신호는 상기 반사막을 이용하여 반사됨 -; 및
상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하는 단계
를 포함한다.
제1 양태와 관련하여, 제1 양태의 제1의 가능한 구현 방식에서, 상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하는 상기 단계는
상기 사전 설정 반사 전력과 상기 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하는 단계; 및
상기 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 상기 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 상기 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 상기 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하는 단계 - 상기 제1 전력 임계치는 상기 제2 전력 임계치보다 낮고, 상기 제2 전력 임계치는 상기 제3 전력 임계치보다 낮음 -
를 포함한다.
제1 양태 또는 제1 양태의 제1의 가능한 구현 방식과 관련하여, 제1 양태의 제2의 가능한 구현 방식에서, 상기 방법은
상기 반사 광 신호의, 상기 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 수신 시간을 수신하는 단계; 및
상기 수신 시간에 따라 상기 광 분할기와 상기 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하는 단계
를 더 포함한다.
제1 양태, 제1 양태의 제1의 가능한 구현 방식 또는 제1 양태의 제2의 가능한 구현 방식과 관련하여, 제1 양태의 제3의 가능한 구현 방식에서, 서비스의 활성화 전의 사전 검출이 상기 광 네트워크 상에서 수행될 때, 상기 사전 설정 반사 전력은 상기 광 분할기의 반사 전력의 이론 값이고;
서비스의 활성화 후의 검출이 상기 광 네트워크 상에서 수행될 때, 상기 사전 설정 반사 전력은 상기 서비스의 정상 가동 동안의 상기 광 분할기의 반사 전력이다.
제2 양태에 따르면, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치가 제공되며, 상기 장치는
테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하도록 구성되는 수신 유닛 - 상기 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 상기 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 상기 반사 광 신호는 상기 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 상기 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 상기 테스팅 광 신호는 상기 반사막을 이용하여 반사됨 -; 및
상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하도록 구성되는 검출 유닛
을 포함한다.
제2 양태와 관련하여, 제2 양태의 제1의 가능한 구현 방식에서, 상기 검출 유닛은
상기 사전 설정 반사 전력과 상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하도록 구성되는 차이 계산 서브유닛; 및
상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 상기 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하도록 구성되는 검출 결정 서브유닛 - 상기 제1 전력 임계치는 상기 제2 전력 임계치보다 낮고, 상기 제2 전력 임계치는 상기 제3 전력 임계치보다 낮음 -
을 포함한다.
제2 양태 또는 제2 양태의 제1의 가능한 구현 방식과 관련하여, 제2 양태의 제2의 가능한 구현 방식에서, 상기 수신 유닛은 상기 반사 광 신호의, 상기 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 수신 시간을 수신하도록 더 구성되고;
상기 장치는 상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 수신 시간에 따라 상기 광 분할기와 상기 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하도록 구성되는 계산 유닛을 더 포함한다.
제3 양태에 따르면, 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템이 제공되며, 상기 시스템은 테스팅 디바이스, 관리 디바이스 및 광 분할기를 포함하고,
상기 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하고; 반사 광 신호를 수신하고 - 상기 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 상기 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호임 -; 상기 반사 광 신호에 따라 상기 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고; 상기 반사 피크 전력을 상기 관리 디바이스에 보고하도록 구성되며;
상기 광 분할기는 N개의 광 출력 포트를 이용하여 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하고; 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치된 반사막을 이용하여 상기 테스팅 광 신호를 반사하여, 상기 테스팅 디바이스가 상기 반사 광 신호를 수신하게 하도록 구성되고, 여기서 N은 자연수이며;
상기 관리 디바이스는 상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하도록 구성된다.
제3 양태와 관련하여, 제3 양태의 제1의 가능한 구현 방식에서, 상기 광 분할기는 사전 설정 반사 비율에 따라 상기 테스팅 광 신호를 반사하는 광 분할기이다.
제4 양태에 따르면, 광 분할기가 제공되며, 상기 광 분할기는 광 입력 포트 및 N+1개의 광 출력 포트를 포함하고, 반사막이 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, N은 자연수이며;
상기 N개의 광 출력 포트는 상기 광학 입력 포트에 의해 수신되는 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고;
상기 하나의 광 출력 포트는 상기 반사막을 이용하여 테스팅 광 신호를 반사하여 - 상기 테스팅 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고, 상기 광학 입력 포트에 의해 수신됨 -, 상기 테스팅 디바이스가 수신되는 반사 광 신호에 따라 상기 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하게 하도록 구성된다.
본 발명의 실시예들에서, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하고, 반사 광 신호를 수신하며, 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, 반사막이 광 분할기의 하나의 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되고, 테스팅 디바이스는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고; 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하며, 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출한다. 반사 특성을 갖는 광 분할기가 본 발명의 실시예들에서 사용되므로, 테스팅 디바이스는 광 분할기에 의해 반사되는 수신 광 신호를 이용함으로써 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태를 광 라인 터미널에서 검출할 수 있다. 검출기가 검출을 수행하기 위해 테스팅 디바이스를 광 분할기가 배치된 위치로 운반할 필요가 없으므로, 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
본 발명의 실시예들에서의 또는 종래 기술에서의 기술적 해법들을 더 명확히 설명하기 위해, 아래에서는 실시예들 및 종래 기술을 설명하는 데 필요한 첨부 도면들이 간단히 소개된다. 분명히, 이 분야의 통상의 기술자는 독창적인 노력 없이도 이러한 첨부 도면들로부터 다른 도면들을 도출할 수도 있다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템의 아키텍처의 개략도이다.
도 1b는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 일 실시예의 흐름도이다.
도 1c는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 다른 실시예의 흐름도이다.
도 2는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 또 다른 실시예의 흐름도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 3b는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 다른 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 4는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 일 실시예의 블록도이다.
도 5는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 다른 실시예의 블록도이다.
도 6은 본 발명에 따른 테스팅 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
도 7은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다.
도 8은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다.
도 9는 본 발명에 따른 관리 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템의 아키텍처의 개략도이다.
도 1b는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 일 실시예의 흐름도이다.
도 1c는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 다른 실시예의 흐름도이다.
도 2는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 또 다른 실시예의 흐름도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 3b는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 다른 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 4는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 일 실시예의 블록도이다.
도 5는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 다른 실시예의 블록도이다.
도 6은 본 발명에 따른 테스팅 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
도 7은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다.
도 8은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다.
도 9는 본 발명에 따른 관리 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
이 분야의 기술자가 본 발명의 실시예들에서의 기술적 해법들을 더 잘 이해하게 하고, 본 발명의 실시예들의 목적들, 특징들 및 장점들을 더 명확하게 하기 위해, 아래에서는 첨부 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에서의 기술적 해법들이 더 상세히 설명된다.
본 발명의 일 실시예는 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템을 제공한다. 시스템은 테스팅 디바이스, 관리 디바이스 및 광 분할기를 포함하고, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하고; 반사 광 신호를 수신하고 - 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호임 -; 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고; 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하도록 구성되며; 광 분할기는 N개의 광 출력 포트를 이용하여 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하고; N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치된 반사막을 이용하여 테스팅 광 신호를 반사하여, 테스팅 디바이스가 반사 광 신호를 수신하게 하도록 구성되고, 여기서 N은 자연수이며; 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하도록 구성된다.
도 1a를 참조하면, 도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템의 아키텍처의 개략도이다. 개략도는 PON 시스템을 나타낸다.
본 발명의 이 실시예에서, PON은 중앙 제어국에 설치된 OLT 및 사용자 위치들에 설치된 다수의 ONU를 포함하며, OLT와 ONU들을 접속하는 ODN은 광 케이블 및 광 분할기를 포함한다. 광 분할기는 수동형 컴포넌트이다. 본 발명의 이 실시예에서 광 분할기는 광 신호를 ONU들로 전송하도록 구성되는 N개의 광 출력 포트뿐만 아니라, 수신 테스팅 광 신호를 반사하기 위해 반사막으로 도금된 하나의 광 출력 포트도 포함한다.
도 1a에서, PON 내의 광 분할기의 상태 및 OLT와 광 분할기 간의 광섬유 링크의 상태를 검출하기 위해, 테스팅 디바이스가 OLT 측에 배치된다. 테스팅 디바이스는 관리 디바이스에 접속된다. 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하며, 광 분할기에 의해 반사되는 광 신호를 수신한 후에 광 분할기의 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하여, 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 검출을 구현할 수 있다.
도 1b를 참조하면, 도 1b는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 일 실시예의 흐름도이다. 이 실시예는 테스팅 디바이스 측에서 설명된다.
단계 101: 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송한다.
이 실시예에서, 테스팅 디바이스는 관리 디바이스에 의해 전송되는 테스팅 명령을 수신한 후에 테스팅 광 신호를 전송할 수 있다. 관리 디바이스는 PON 서비스의 활성화 전에 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 활성화 전에 PON 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 사전 검출을 수행할 수 있거나; 관리 디바이스는 PON 서비스의 가동 동안 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 가동 동안 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 실시간 검출을 수행할 수 있다.
단계 102: 테스팅 디바이스는 반사 광 신호를 수신하며, 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이다.
도 1a를 참조하면, 테스팅 디바이스가 테스팅 광 신호를 전송한 후, 테스팅 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송된다는 것을 알 수 있다. 이 실시예에서 광 분할기는 광 신호를 반사하는 기능을 갖는다. 따라서, 테스팅 광 신호가 광 분할기로 전송된 후, 광 분할기는 테스팅 광 신호를 테스팅 디바이스로 반사할 수 있는데, 즉 테스팅 디바이스로 하여금 반사 광 신호를 수신하는 것을 가능하게 한다.
종래 기술의 광 분할기에 비해, 본 발명의 이 실시예에서의 광 분할기는 사전 설정 반사 비율에 따라 테스팅 광 신호를 반사할 수 있는 새로운 광 분할기이다. 새로운 광 분할기는 광 입력 포트 및 N+1개의 광 출력 포트를 포함하며, 반사막이 N+1개의 광 출력 포트 중 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, N은 자연수이다. N개의 광 출력 포트는 광학 입력 포트에 의해 수신되는 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고; 하나의 광 출력 포트는 반사막을 이용하여 테스팅 광 신호를 반사하여 - 테스팅 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고, 광학 입력 포트에 의해 수신됨 -, 테스팅 디바이스가 수신되는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하게 하도록 구성된다. 테스팅 광 신호가 결합단으로부터 새로운 광 분할기에 들어간 후, 테스팅 광 신호는 사전 설정 반사 비율에 따라 분할단에서 반사기에 의해 반사되며, 따라서 반사 광 신호가 생성된다.
단계 103: 테스팅 디바이스는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득한다.
반사 광 신호를 수신한 후, 테스팅 디바이스는 반사 광 신호의 반사광 전력을 획득한 후에 반사광 전력을 측정하여 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득할 수 있다.
단계 104: 테스팅 디바이스는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하며, 따라서 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교함으로써 광 네트워크를 검출한다.
이전 실시예로부터 알 수 있듯이, 반사 특성을 갖는 광 분할기가 이 실시예에서 사용되며, 따라서 테스팅 디바이스는 광 분할기에 의해 반사되는 수신 광 신호를 이용하여 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태를 광 라인 터미널에서 검출할 수 있다. 검출기가 검출을 수행하기 위해 테스팅 디바이스를 광 분할기가 배치된 위치로 운반할 필요가 없으므로, 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
도 1c를 참조하면, 도 1c는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 다른 실시예의 흐름도이다. 이 실시예는 관리 디바이스 측에서 설명된다.
단계 111: 관리 디바이스는 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하고, 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 반사 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이다.
이 실시예에서, 관리 디바이스는 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 테스팅 디바이스로 하여금 테스팅 광 신호를 전송하게 할 수 있다. 관리 디바이스는 PON 서비스의 활성화 전에 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 활성화 전에 PON 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 사전 검출을 수행할 수 있거나; 관리 디바이스는 PON 서비스의 가동 동안 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 가동 동안 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 실시간 검출을 수행할 수 있다.
단계 112: 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교함으로써 광 네트워크를 검출한다.
관리 디바이스는 사전 설정 반사 전력과 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하며, 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정할 수 있다. 이 실시예에서, 테스팅 디바이스는 OLT 측에 배치되므로, 테스팅 디바이스와 광 분할기 사이의 광섬유 링크의 검출된 상태는 OLT와 광 분할기 사이의 광 케이블의 광섬유 링크의 상태이다. 제1 전력 임계치는 제2 전력 임계치보다 낮고, 제2 전력 임계치는 제3 전력 임계치보다 낮다. 제1 전력 임계치, 제2 전력 임계치 및 제3 전력 임계치는 PON 내의 광 컴포넌트들의 상이한 타입들 및 광 링크들의 상이한 구조들에 따라 유연하게 설정될 수 있으며, 이는 본 발명의 이 실시예에서 한정되지 않는다.
이 실시예에서, 서비스의 활성화 전의 사전 검출이 광 네트워크 상에서 수행될 때, 사전 결정 반사 전력은 광 분할기의 반사 전력의 이론값일 수 있으며, 서비스의 활성화 후의 검출이 광 네트워크 상에서 수행될 때, 사전 결정 반사 전력은 서비스의 정상 가동 동안의 광 분할기의 반사 전력일 수 있다.
이전 실시예로부터 알 수 있듯이, 반사 특성을 갖는 광 분할기가 이 실시예에서 사용되며, 따라서 테스팅 디바이스는 광 분할기에 의해 반사되는 수신 광 신호를 이용하여 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태를 광 라인 터미널에서 검출할 수 있다. 검출기가 검출을 수행하기 위해 테스팅 디바이스를 광 분할기가 배치된 위치로 운반할 필요가 없으므로, 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
도 2를 참조하면, 도 2는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 다른 실시예를 나타낸다. 이 실시예에서, 광 네트워크를 검출하는 프로세스는 관리 디바이스와 테스팅 디바이스 간의 상호작용의 설명에 의해 상세히 설명된다.
단계 201: 테스팅 디바이스가 관리 디바이스에 의해 전송되는 테스팅 명령을 수신한다.
이 실시예에서, 관리 디바이스는 PON 서비스의 활성화 전에 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 활성화 전에 PON 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 사전 검출을 수행할 수 있거나, 관리 디바이스는 PON 서비스의 가동 동안 테스팅 명령을 테스팅 디바이스로 전송하여, 서비스의 가동 동안 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태에 대한 실시간 검출을 수행할 수 있다.
단계 202: 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송한다.
관리 디바이스에 의해 전송된 테스팅 명령을 수신한 후, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송한다. 도 1a를 참조하면, 테스팅 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송된다는 것을 알 수 있다.
이 실시예에서 광 분할기는 광 입력 포트 및 N+1개의 광 출력 포트를 포함하며, 반사막이 N+1개의 광 출력 포트 중 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, N은 자연수이다. N개의 광 출력 포트는 광학 입력 포트에 의해 수신되는 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고; 하나의 광 출력 포트는 반사막을 이용하여 테스팅 광 신호를 반사하여 - 테스팅 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고, 광학 입력 포트에 의해 수신됨 -, 테스팅 디바이스가 수신되는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하게 하도록 구성된다.
단계 203: 테스팅 디바이스는 반사 광 신호를 수신하며 - 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호임 -; 단계 204 및 단계 207을 개별적으로 수행한다.
이 실시예에서, 광 분할기는 광 신호를 반사하는 기능을 갖는다. 따라서, 테스팅 디바이스에 의해 전송되는 테스팅 광 신호가 광 분할기로 전송된 후, 광 분할기는 테스팅 광 신호를 테스팅 디바이스로 반사할 수 있는데, 즉 테스팅 디바이스로 하여금 반사 광 신호를 수신하는 것을 가능하게 한다.
종래 기술의 광 분할기에 비해, 본 발명의 이 실시예에서의 광 분할기는 사전 설정 반사 비율에 따라 테스팅 광 신호를 반사할 수 있는 새로운 광 분할기이다. 테스팅 광 신호가 결합단으로부터 새로운 광 분할기에 들어간 후, 테스팅 광 신호는 사전 설정 반사 비율에 따라 결합단에서 반사기에 의해 반사되며, 따라서 반사 광 신호가 생성된다.
단계 204: 테스팅 디바이스는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득한다.
반사 광 신호를 수신한 후, 테스팅 디바이스는 반사 광 신호의 반사광 전력을 직접 획득하고, 반사광 전력을 측정하여 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득할 수 있다. 반사광 전력을 측정하여 반사 피크 전력을 획득하는 프로세스는 종래 기술에서의 프로세스와 동일하며, 여기서는 더 설명되지 않는다.
단계 205: 테스팅 디바이스는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고한다.
단계 206: 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교함으로써 광 네트워크를 검출한다. 현재 프로세스가 종료된다.
관리 디바이스는 사전 설정 반사 전력과 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하며, 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정할 수 있다. 이 실시예에서, 테스팅 디바이스는 OLT 측에 배치되므로, 테스팅 디바이스와 광 분할기 사이의 광섬유 링크의 검출된 상태는 OLT와 광 분할기 사이의 광 케이블의 광섬유 링크의 상태이다. 제1 전력 임계치는 제2 전력 임계치보다 낮고, 제2 전력 임계치는 제3 전력 임계치보다 낮다. 제1 전력 임계치, 제2 전력 임계치 및 제3 전력 임계치는 PON 내의 광 컴포넌트들의 상이한 타입들 및 광 링크들의 상이한 구조들에 따라 유연하게 설정될 수 있으며, 이는 본 발명의 이 실시예에서 한정되지 않는다.
단계 207: 테스팅 디바이스는 반사 광 신호의 수신 시간을 기록한다.
단계 208: 테스팅 디바이스는 수신 시간을 관리 디바이스에 보고한다.
단계 209: 관리 디바이스는 수신 시간에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산한다. 현재 프로세스가 종료된다.
이 실시예에서, 테스팅 디바이스는 반사 광 신호의 수신 후에, 기록된 수신 시간을 관리 디바이스에 보고하며, 관리 디바이스는 수신 시간에 따라 테스팅 디바이스에 의한 테스팅 광 신호의 전송으로부터 반사 광 신호의 수신까지의 시간을 계산하여, 광속과 시간의 곱에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산할 수 있다. PON 검출에서의 일부로서, 관리 디바이스는 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의, 계산에 의해 획득되는 거리에 따라 광 분할기의 지리 설정 상황을 획득할 수 있다.
이전 실시예로부터 알 수 있듯이, 반사 특성을 갖는 광 분할기가 이 실시예에서 사용되며, 따라서 테스팅 디바이스는 광 분할기에 의해 반사되는 수신 광 신호를 이용하여 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태를 광 라인 터미널에서 검출할 수 있다. 검출기가 검출을 수행하기 위해 테스팅 디바이스를 광 분할기가 배치된 위치로 운반할 필요가 없으므로, 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
도 3a를 참조하면, 도 3a는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 3a에서, 관리 디바이스가 OLT 및 테스팅 디바이스에 접속된다. 테스팅 디바이스는 파장 분할 다중화(Wavelength Division Multiplexing, WDM) 디바이스를 이용하여 OLT와 광 분할기 사이의 트렁크 광 케이블에 접속된다. 도 3a에 도시된 PON 아키텍처는 1-레벨 광 분할 아키텍처인데, 즉 하나의 광 분할기만이 OLT와 ONU들 사이에 배치된다. 1-레벨 광 분할 아키텍처는 통상적으로 사용자들이 집중되는 장소에 적용되어, 광 케이블의 비용을 줄이고, 적은 수의 네트워크 노드로 인해 유지보수를 용이하게 한다.
도 3a를 참조하면, 현재 스테이지는 PON 서비스의 활성화 전의 사전 검출 스테이지이고, 제1 레벨 광 분할기의 분할 비율은 1:N, 예를 1:32이고, 광 분할기의 반사 전력의 임계치는 x dB인 것으로 가정한다. 광 분할기의 반사 전력의 임계치는 광 분할기의 상태와 관련되며, 광 분할기의 상태가 악화될 때, 임계치가 감소할 수 있으며, 이는 본 발명의 이 실시예에서 한정되지 않는다는 점에 유의해야 한다. 반사막의 층이 제1 레벨 광 분할기의 출력단에서 반사 포트 상에 도금되며, 수신되는 테스팅 광 신호를 반사하는 데 사용된다.
관리 디바이스에 의해 전송된 테스팅 명령을 수신한 후, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하며, 테스팅 광 신호의 파장은 1625 nm(나노미터) 또는 1650 nm일 수 있다. 광 케이블을 통해 제1 레벨 광 분할기로 전송된 후, 테스팅 광 신호는 제1 레벨 광 분할기의 반사 포트의 반사막에 의해 반사되며, 따라서 테스팅 디바이스는 반사 광 신호를 수신한다. 테스팅 디바이스는 반사 광 신호를 측정하여, 제1 레벨 광 분할기의 반사 피크 전력(x' dB)을 획득할 수 있고, 테스팅 디바이스는 반사 피크 전력(x' dB)을 관리 디바이스에 보고하고, 관리 디바이스는 x와 x' 사이의 차이를 계산하고, 차이가 제1 전력 임계치(W1)보다 작은 경우에, 제1 레벨 광 분할기가 정상이고, OLT와 제1 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상인 것으로 결정하거나, 차이가 제1 전력 임계치(W1)와 제2 전력 임계치(W2) 사이에 있는 경우에, OLT와 제1 레벨 광 분할기 사이의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나, 차이가 제2 전력 임계치(W2)와 제3 전력 임계치(W3) 사이에 있는 경우에, 제1 레벨 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정한다. W1은 W2보다 작고, W2는 W3보다 작고, W1, W2 및 W3은 PON 내의 광 컴포넌트들의 상이한 타입들 및 광 링크들의 상이한 구조들에 따라 유연하게 설정될 수 있으며, 이는 본 발명의 이 실시예에서 한정되지 않는다.
도 3b를 참조하면, 도 3b는 본 발명의 일 실시예가 적용되는 다른 광 네트워크 검출 아키텍처의 개략도이다.
도 3b에서, 관리 디바이스는 OLT 및 테스팅 디바이스에 접속된다. 테스팅 디바이스는 WDM 디바이스를 이용하여 OLT와 광 분할기 사이의 트렁크 광 케이블에 접속된다. 도 3b에 도시된 PON 아키텍처는 2-레벨 광 분할 아키텍처인데, 즉 제1 레벨 광 분할기 및 제2 레벨 광 분할기인 2개의 광 분할기가 OLT와 ONU들 사이에 배치된다. 2-레벨 광 분할 아키텍처는 통상적으로, 사용자들이 드문드문 분포되고, 자원을 절약하기 위해 얇은 커버리지가 사용되는 장소에 적용된다.
도 3b를 참조하면, 현재 스테이지가 PON 서비스의 활성화 후의 실시간 검출 스테이지이고, 제1 레벨 광 분할기의 분할 비율이 1:M, 예를 들어 1:4이고, 제2 레벨 광 분할기의 분할 비율이 1:M', 예를 들어 1:16인 것으로 가정되며, 서비스의 정상 가동 동안, 제1 레벨 광 분할기의 획득된 반사 전력이 y1이고, 제2 레벨 광 분할기의 획득된 반사 전력이 y2인 것으로 가정된다. 반사막의 층이 제1 레벨 광 분할기 및 제2 레벨 광 분할기 각각의 출력단에서 반사 포트 상에 도금되며, 수신되는 테스팅 광 신호를 반사하는 데 사용된다.
관리 디바이스에 의해 전송된 테스팅 명령을 수신한 후, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하며, 테스팅 광 신호의 파장은 1520 nm일 수 있다. 테스팅 광 신호는 광 케이블을 통해 제1 레벨 광 분할기로 전송되며, 이어서 제1 레벨 광 분할기로부터 제2 레벨 광 분할기로 전송된다. 제1 레벨 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호는 먼저 제1 레벨 광 분할기의 반사 포트의 반사막에 의해 테스팅 디바이스로 다시 반사되며, 따라서 테스팅 디바이스는 제1 반사 광 신호를 수신하고, 이어서 제2 레벨 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호는 제2 레벨 광 분할기의 반사 포트의 반사막에 의해 테스팅 디바이스로 다시 반사되고, 따라서 테스팅 디바이스는 제2 반사 광 신호를 수신한다. 테스팅 디바이스는 제1 반사 광 신호를 테스트하여 제1 레벨 광 분할기의 반사 피크 전력(y1')을 획득하고, 제2 반사 광 신호를 테스트하여 제2 레벨 광 분할기의 반사 피크 전력(y2')을 획득할 수 있고, 테스팅 디바이스는 제1 레벨 광 분할기의 반사 피크 전력(y1') 및 제2 레벨 광 분할기의 반사 피크 전력(y2')을 관리 디바이스에 보고하고, 관리 디바이스는 y1과 y1' 간의 차이를 계산하고, 차이에 따라 OLT와 제1 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크의 상태 및 제1 레벨 광 분할기의 상태를 검출한다. 구체적인 검출 프로세스는 도 3a에 도시된 x와 x' 사이의 차이에 따라 OLT와 제1 레벨 광 분할기 사이의 광섬유 링크의 상태 및 제1 레벨 광 분할기의 상태를 검출하는 전술한 프로세스와 동일하며, 여기서 반복되지 않는다. 유사하게, 관리 디바이스는 y2와 y2' 간의 차이를 계산하고, 차이에 따라 OLT와 제2 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크의 상태 및 제2 레벨 광 분할기의 상태를 검출한다. OLT와 제1 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이지만, OLT와 제2 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것이 검출될 때, 제1 레벨 광 분할기와 제2 레벨 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 더 결정될 수 있다.
본 발명은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 방법의 실시예들에 대응하는, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치, 테스팅 디바이스 및 관리 디바이스의 실시예들을 더 제공한다.
도 4를 참조하면, 도 4는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 일 실시예의 블록도이다. 장치는 테스팅 디바이스 내에 배치될 수 있다.
장치는 송신 유닛(410), 수신 유닛(420), 획득 유닛(430) 및 보고 유닛(440)을 포함하며,
송신 유닛(410)은 테스팅 광 신호를 전송하도록 구성되고;
수신 유닛(420)은 반사 광 신호를 수신하도록 구성되고, 반사 광 신호는 송신 유닛(410)에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트가 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호가 반사막을 이용하여 반사되며;
획득 유닛(430)은 수신 유닛(420)에 의해 수신되는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하도록 구성되고;
보고 유닛(440)은 획득 유닛(430)에 의해 획득되는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하여, 관리 디바이스가 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 결정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하게 하도록 구성된다.
옵션으로서, 획득 유닛(430)은 (도 4에 도시되지 않은)
반사 광 신호의 반사광 전력을 획득하도록 구성되는 반사광 전력 획득 서브유닛; 및
반사광 전력 획득 서브유닛에 의해 획득되는 반사광 전력을 측정하여 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하도록 구성되는 반사 피크 전력 측정 서브유닛
을 포함할 수 있다.
도 5를 참조하면, 도 5는 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 다른 실시예의 블록도이다. 장치는 테스팅 디바이스 내에 배치될 수 있다.
장치는 송신 유닛(510), 수신 유닛(520), 기록 유닛(530), 획득 유닛(540) 및 보고 유닛(550)을 포함하며,
송신 유닛(510)은 테스팅 광 신호를 전송하도록 구성되고;
수신 유닛(520)은 반사 광 신호를 수신하도록 구성되고, 반사 광 신호는 송신 유닛(510)에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트가 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호가 반사막을 이용하여 반사되며;
기록 유닛(530)은 수신 유닛(520)에 의해 수신되는 반사 광 신호의 수신 시간을 기록하도록 구성되고;
획득 유닛(540)은 수신 유닛(520)에 의해 수신되는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하도록 구성되고;
보고 유닛(550)은 기록 유닛(530)에 의해 기록되는 수신 시간을 관리 디바이스에 보고하여, 관리 디바이스가 수신 시간에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하게 하고, 획득 유닛(540)에 의해 획득되는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하여, 관리 디바이스가 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 결정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하게 하도록 구성된다.
옵션으로서, 획득 유닛(540)은 (도 5에 도시되지 않은)
반사 광 신호의 반사광 전력을 획득하도록 구성되는 반사광 전력 획득 서브유닛; 및
반사광 전력 획득 서브유닛에 의해 획득되는 반사광 전력을 측정하여 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하도록 구성되는 반사 피크 전력 측정 서브유닛
을 포함할 수 있다.
도 6을 참조하면, 도 6은 본 발명에 따른 테스팅 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
테스팅 디바이스는 네트워크 인터페이스(610), 광 인터페이스(620) 및 프로세서(630)를 포함하며,
광 인터페이스(620)는 테스팅 광 신호를 전송하고, 반사 광 신호를 수신하도록 구성되고, 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되며;
프로세서(630)는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고, 반사 피크 전력을 네트워크 인터페이스(610)를 통해 관리 디바이스에 보고하여, 관리 디바이스가 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 결정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하게 하도록 구성된다.
옵션으로서, 프로세서(630)는 구체적으로 반사 광 신호의 반사광 전력을 획득하고, 반사광 전력을 측정하여 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하도록 구성될 수 있다.
옵션으로서, 프로세서(630)는 반사 광 신호의 수신 시간을 기록하고, 수신 시간을 네트워크 인터페이스를 통해 관리 디바이스에 보고하여, 관리 디바이스가 수신 시간에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하게 하도록 더 구성될 수 있다.
도 7을 참조하면, 도 7은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다. 장치는 관리 디바이스 내에 배치될 수 있다.
장치는 수신 유닛(710) 및 검출 유닛(720)을 포함하며,
수신 유닛(710)은 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하도록 구성되고, 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 반사 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되며;
검출 유닛(720)은 수신 유닛(710)에 의해 수신되는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하도록 구성된다.
옵션으로서, 검출 유닛(720)은 (도 7에 도시되지 않은)
사전 결정 반사 전력과 수신 유닛에 의해 수신되는 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하도록 구성되는 차이 계산 서브유닛; 및
차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하도록 구성되는 검출 결정 서브유닛
을 포함할 수 있다.
도 8을 참조하면, 도 8은 본 발명에 따른, 광 네트워크를 검출하기 위한 장치의 또 다른 실시예의 블록도이다. 장치는 관리 디바이스 내에 배치될 수 있다.
장치는 수신 유닛(810), 계산 유닛(820) 및 검출 유닛(830)을 포함하며,
수신 유닛(810)은 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하고 - 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 반사 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호임 -, 반사 광 신호의, 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 수신 시간을 수신하도록 구성되며, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되며;
계산 유닛(820)은 수신 유닛(810)에 의해 수신되는 수신 시간에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하도록 구성되고;
검출 유닛(830)은 수신 유닛(810)에 의해 수신되는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 결정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하도록 구성된다.
옵션으로서, 검출 유닛(830)은 (도 8에 도시되지 않은)
사전 결정 반사 전력과 수신 유닛에 의해 수신되는 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하도록 구성되는 차이 계산 서브유닛; 및
차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하도록 구성되는 검출 결정 서브유닛
을 포함할 수 있다.
도 9를 참조하면, 도 9는 본 발명에 따른 관리 디바이스의 일 실시예의 블록도이다.
관리 디바이스는 네트워크 인터페이스(910) 및 프로세서(920)를 포함하며,
네트워크 인터페이스(910)는 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하도록 구성되고, 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 테스팅 디바이스에 의해 획득되는 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 반사 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되며;
프로세서(920)는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출하도록 구성된다.
옵션으로서, 프로세서(920)는 구체적으로 사전 결정 반사 전력과 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하고; 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 테스팅 디바이스와 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하도록 구성될 수 있으며, 제1 전력 임계치는 제2 전력 임계치보다 낮고, 제2 전력 임계치는 제3 전력 임계치보다 낮다.
옵션으로서, 네트워크 인터페이스(910)는 반사 광 신호의, 테스팅 디바이스에 의해 보고되는 수신 시간을 수신하도록 더 구성될 수 있으며, 프로세서(920)는 수신 시간에 따라 광 분할기와 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하도록 더 구성될 수 있다.
위의 실시예들로부터 알 수 있듯이, 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하고, 반사 광 신호를 수신하며, 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, 반사막이 광 분할기의 하나의 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 테스팅 광 신호는 반사막을 이용하여 반사되고, 테스팅 디바이스는 반사 광 신호에 따라 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고; 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 보고하며, 관리 디바이스는 반사 피크 전력을 광 분할기의 사전 설정 반사 전력과 비교하여 광 네트워크를 검출한다. 반사 특성을 갖는 광 분할기가 본 발명의 실시예들에서 사용되므로, 테스팅 디바이스는 광 분할기에 의해 반사되는 수신 광 신호를 이용함으로써 광 네트워크 내의 광 분할기의 상태 및 광섬유 링크의 상태를 광 라인 터미널에서 검출할 수 있다. 검출기가 검출을 수행하기 위해 테스팅 디바이스를 광 분할기가 배치된 위치로 운반할 필요가 없으므로, 광 네트워크 성능 검출의 효율이 향상된다.
이 분야의 기술자는 본 발명의 실시예들에서의 기술들이 필요한 범용 하드웨어 플랫폼에 더하여 소프트웨어에 의해 구현될 수 있다는 것을 명확히 이해할 수 있다. 그러한 이해에 기초하여, 본 발명의 실시예들에서의 기술적 해법들은 본질적으로 또는 종래 기술에 기여하는 부분은 소프트웨어 제품의 형태로 구현될 수 있다. 소프트웨어 제품은 ROM/RAM, 자기 디스크 또는 광 디스크와 같은 저장 매체 내에 저장되며, (개인용 컴퓨터, 서버 또는 네트워크 디바이스일 수 있는) 컴퓨팅 디바이스에게 본 발명의 실시예들 또는 실시예들의 일부 부분들에서 설명된 방법들을 수행하도록 지시하기 위한 여러 명령을 포함한다.
본 명세서 내의 실시예들 모두는 실시예들 내의 동일 또는 유사한 부분들에 대해 진행 방식으로 설명되고, 이러한 실시예들에 대한 참조가 행해질 수 있으며, 각각의 실시예는 다른 실시예들과의 차이에 집중된다. 특히, 시스템 실시예는 기본적으로 방법 실시예와 유사하고, 따라서 간단하게 설명되며, 관련 부분들에 대해, 방법 실시예 내의 부분 설명들이 참조될 수 있다.
위의 설명들은 본 발명의 구현 방식들이지만, 본 발명의 보호 범위를 한정하는 것을 의도하지 않는다. 본 발명의 사상 및 원리로부터 벗어나지 않고 이루어지는 임의의 변경, 등가 교체 및 개량은 본 발명의 보호 범위 내에 속해야 한다.
Claims (10)
- 광 네트워크를 검출하기 위한 방법으로서,
테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 관리 디바이스에 의해 수신하는 단계 - 상기 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 상기 테스팅 디바이스에 의해 획득되는, 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 상기 반사 광 신호는 상기 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 상기 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 상기 테스팅 광 신호는 상기 반사막을 이용하여 반사됨 -; 및
상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정된 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하는 단계
를 포함하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정된 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하는 상기 단계는
상기 사전 설정된 반사 전력과 상기 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하는 단계; 및
상기 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 상기 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 상기 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 상기 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하는 단계 - 상기 제1 전력 임계치는 상기 제2 전력 임계치보다 낮고, 상기 제2 전력 임계치는 상기 제3 전력 임계치보다 낮음 -
를 포함하는 방법. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 테스팅 디바이스에 의해 보고되는, 상기 반사 광 신호의 수신 시간을 수신하는 단계; 및
상기 수신 시간에 따라 상기 광 분할기와 상기 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
서비스의 활성화 전의 사전 검출이 상기 광 네트워크 상에서 수행될 때, 상기 사전 설정된 반사 전력은 상기 광 분할기의 반사 전력의 이론 값이고;
서비스의 활성화 후의 검출이 상기 광 네트워크 상에서 수행될 때, 상기 사전 설정된 반사 전력은 상기 서비스의 정상 가동 동안의 상기 광 분할기의 반사 전력인 방법. - 광 네트워크를 검출하기 위한 장치로서,
테스팅 디바이스에 의해 보고되는 반사 피크 전력을 수신하도록 구성되는 수신 유닛 - 상기 반사 피크 전력은 반사 광 신호에 따라 상기 테스팅 디바이스에 의해 획득되는, 광 분할기의 반사 피크 전력이고, 상기 반사 광 신호는 상기 테스팅 디바이스에 의해 전송되고 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호이고, N+1개의 광 출력 포트가 상기 광 분할기 상에 배치되고, N은 자연수이고, 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 N개의 광 출력 포트는 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고, 반사막이 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, 상기 테스팅 광 신호는 상기 반사막을 이용하여 반사됨 -; 및
상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정된 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하도록 구성되는 검출 유닛
을 포함하는 장치. - 제5항에 있어서,
상기 검출 유닛은
상기 사전 설정된 반사 전력과 상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 반사 피크 전력 간의 차이를 계산하도록 구성되는 차이 계산 서브유닛; 및
상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제1 전력 임계치보다 작을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 정상이고, 상기 광 분할기가 정상인 것으로 결정하거나; 상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제1 전력 임계치와 제2 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 테스팅 디바이스와 상기 광 분할기 간의 광섬유 링크가 장애를 갖는 것으로 결정하거나; 상기 차이 계산 서브유닛에 의해 계산되는 상기 차이가 제2 전력 임계치와 제3 전력 임계치 사이에 있을 때, 상기 광 분할기가 장애를 갖는 것으로 결정하도록 구성되는 검출 결정 서브유닛 - 상기 제1 전력 임계치는 상기 제2 전력 임계치보다 낮고, 상기 제2 전력 임계치는 상기 제3 전력 임계치보다 낮음 -
을 포함하는 장치. - 제5항 또는 제6항에 있어서,
상기 수신 유닛은 상기 테스팅 디바이스에 의해 보고되는, 상기 반사 광 신호의 수신 시간을 수신하도록 더 구성되고;
상기 장치는 상기 수신 유닛에 의해 수신되는 상기 수신 시간에 따라 상기 광 분할기와 상기 테스팅 디바이스 간의 거리를 계산하도록 구성되는 계산 유닛을 더 포함하는 장치. - 광 네트워크를 검출하기 위한 시스템으로서,
상기 시스템은 테스팅 디바이스, 관리 디바이스 및 광 분할기를 포함하고,
상기 테스팅 디바이스는 테스팅 광 신호를 전송하고; 반사 광 신호를 수신하고 - 상기 반사 광 신호는 광 케이블을 통해 상기 광 분할기로 전송되는 상기 테스팅 광 신호를 상기 광 분할기에 의해 반사함으로써 획득되는 광 신호임 -; 상기 반사 광 신호에 따라 상기 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하고; 상기 반사 피크 전력을 상기 관리 디바이스에 보고하도록 구성되며;
상기 광 분할기는 N개의 광 출력 포트를 이용하여 수신 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하고; 상기 N개의 광 출력 포트를 제외한 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치된 반사막을 이용하여 상기 테스팅 광 신호를 반사하여, 상기 테스팅 디바이스가 상기 반사 광 신호를 수신하게 하도록 구성되고, 여기서 N은 자연수이며;
상기 관리 디바이스는 상기 반사 피크 전력을 상기 광 분할기의 사전 설정된 반사 전력과 비교하여 상기 광 네트워크를 검출하도록 구성되는 시스템. - 제8항에 있어서,
상기 광 분할기는 사전 설정된 반사 비율에 따라 상기 테스팅 광 신호를 반사하는 광 분할기인 시스템. - 광 분할기로서,
상기 광 분할기는 광 입력 포트 및 N+1개의 광 출력 포트를 포함하고, 반사막이 상기 N+1개의 광 출력 포트 중 하나의 광 출력 포트의 단부면 상에 배치되고, N은 자연수이며;
상기 N개의 광 출력 포트는 상기 광학 입력 포트에 의해 수신되는 광 신호를 1:N의 비율에 따라 N개의 분배 광섬유를 통해 N개의 광 네트워크 유닛(ONU)으로 전송하도록 구성되고;
상기 하나의 광 출력 포트는 상기 반사막을 이용하여 테스팅 광 신호를 반사하여 - 상기 테스팅 광 신호는 테스팅 디바이스에 의해 전송되고, 상기 광학 입력 포트에 의해 수신됨 -, 상기 테스팅 디바이스가 수신되는 반사 광 신호에 따라 상기 광 분할기의 반사 피크 전력을 획득하게 하도록 구성되는 광 분할기.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310389084.8 | 2013-08-30 | ||
| CN201310389084.8A CN104426603A (zh) | 2013-08-30 | 2013-08-30 | 光网络检测方法、装置、设备、系统及分光器 |
| PCT/CN2014/084976 WO2015027859A1 (zh) | 2013-08-30 | 2014-08-22 | 光路处理方法和装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20150119382A true KR20150119382A (ko) | 2015-10-23 |
| KR101751158B1 KR101751158B1 (ko) | 2017-07-11 |
Family
ID=52585564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020157025499A KR101751158B1 (ko) | 2013-08-30 | 2014-08-22 | 광 네트워크 검출 방법, 장치 및 시스템 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9735865B2 (ko) |
| EP (1) | EP3018838B1 (ko) |
| JP (1) | JP6105158B2 (ko) |
| KR (1) | KR101751158B1 (ko) |
| CN (1) | CN104426603A (ko) |
| WO (1) | WO2015027859A1 (ko) |
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| CN115021807A (zh) * | 2022-05-27 | 2022-09-06 | 中国电信股份有限公司 | 分光器的监测方法及分光监测系统 |
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| CN102055523A (zh) | 2009-11-09 | 2011-05-11 | 中国移动通信集团江苏有限公司 | 一种诊断无源光网络故障的方法、设备及系统 |
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-
2013
- 2013-08-30 CN CN201310389084.8A patent/CN104426603A/zh active Pending
-
2014
- 2014-08-22 JP JP2016514273A patent/JP6105158B2/ja active Active
- 2014-08-22 WO PCT/CN2014/084976 patent/WO2015027859A1/zh active Application Filing
- 2014-08-22 EP EP14839363.0A patent/EP3018838B1/en active Active
- 2014-08-22 KR KR1020157025499A patent/KR101751158B1/ko active IP Right Grant
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- 2015-10-12 US US14/880,919 patent/US9735865B2/en active Active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN104426603A (zh) | 2015-03-18 |
| JP6105158B2 (ja) | 2017-03-29 |
| EP3018838A1 (en) | 2016-05-11 |
| KR101751158B1 (ko) | 2017-07-11 |
| US20160036523A1 (en) | 2016-02-04 |
| US9735865B2 (en) | 2017-08-15 |
| EP3018838A4 (en) | 2016-08-17 |
| EP3018838B1 (en) | 2017-11-15 |
| WO2015027859A1 (zh) | 2015-03-05 |
| JP2016524396A (ja) | 2016-08-12 |
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