CN115347952B - 光路测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
光路测试方法、装置、设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115347952B CN115347952B CN202211277648.4A CN202211277648A CN115347952B CN 115347952 B CN115347952 B CN 115347952B CN 202211277648 A CN202211277648 A CN 202211277648A CN 115347952 B CN115347952 B CN 115347952B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test point
- module
- optical signal
- light source
- analysis result
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 371
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 340
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 143
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 67
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 169
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 25
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
- H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
- H04B10/0791—Fault location on the transmission path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
本发明涉及光路测试领域，公开了一种光路测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：激发光源模块，并使光源模块输出光信号；将光谱分析仪与第一测试点连接，并在光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将光源模块和发射链路模块导通；将光谱分析仪与第二测试点连接，通过光谱分析仪采集并分析第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果；将光谱分析仪与第三测试点连接，通过光谱分析仪采集分析第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果；基于光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果调试光路系统。通过本方法能够提前介入光路测试，加快定位故障点，减少故障排查时间和其它光器件的影响，有效保护光路。
Description
技术领域
本发明涉及光路测试领域，尤其涉及一种光路测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
应用光时域反射原理的设备包含的φ-OTDR系统由电路硬件和光路硬件组成，光路硬件通过熔纤方式将光器件连接在一起，组成φ-OTDR的光路系统，现有判断光路系统是否正常的方案是通过上位机直接测试整装设备输出波形或者使用仪器捕捉整体光路输出信号，属于后介入测试方案。存在的缺点是不能及时反映光路状态，最终测试出现故障后无法快速定位到故障点，使光路问题排查困难，且在排查过程中容易导致光路损坏，增加产品成本，影响生产效率。
发明内容
本发明的主要目的在于解决现有的光路测试方法中，无法提前接入光路测试导致故障排查范围大的技术问题。
本发明第一方面提供了一种光路测试方法，所述光路测试方法应用于光路系统，所述光路系统包括光源模块、发射链路模块、反射链路模块、环形器模块，所述光源模块与所述发射链路模块连接，所述发射链路模块与所述环形器模块的第一接口连接，所述环形器的第三接口与所述反射链路模块连接，其特征在于，分别在所述光源模块的输出口设置第一测试点，在所述环形器的第二接口设置第二测试点，在所述反射链路模块的输出口设置第三测试点；所述光路测试方法包括：激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。
可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，所述将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，包括；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；导通所述光源模块和所述发射链路模块。
可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，包括；通过所述发射链路模块获取所述光源模块输出的光信号，将所述光信号处理后得到发射光信号；通过所述环形器模块将所述发射链路模块输出的发射光信号传输至所述第二测试点输出；通过所述光谱分析仪于所述第二测试点采集输出的所述发射光信号后，基于所述光源模块输出的光信号和所述发射光信号生成发射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，在所述发射链路模块的输入口还设置有第四测试点， 所述将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，还包括；在所述第四测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述发射链路模块后通过所述光谱分析仪于所述第二测试点处采集输出的可调光信号，得到发射光信号；基于所述第四测试点接入的可调光信号和所述发射光信号，生成所述发射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第一方面的第四种实现方式中，所述将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，包括；于所述环形器模块的第三接口输出所述发射光信号至所述反射链路模块；所述反射链路模块在获取所述发射光信号后输出反射光信号至所述第三测试点；所述光谱分析仪于所述第三测试点获取所述反射光信号后，基于所述发射光信号和所述发射光信号生成反射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第一方面的第五种实现方式中，所述将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，还包括；在所述第二测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述反射链路模块后于所述第三测试点处被采集，得到反射光信号；基于所述可调光信号和所述反射光信号，生成所述反射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第一方面的第六种实现方式中，所述光路系统还包括APD接收模块，所述APD接收模块与所述反射链路模块连接；在所述基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统之后，还包括；导通所述第一测试点、所述第四测试点；将APD接收模块连接于所述第三测试点，用于将得到的所述反射光信号转换成电信号。
本发明第二方面提供了一种光路测试装置，所述光路测试装置包括：光源激发模块，用于激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；光源分析模块，用于将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；发射链路分析模块，用于将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；反射链路分析模块，用于将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；光路系统调试模块，用于基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。
可选的，在本发明第二方面的第一种实现方式中，所述光源分析模块具体用于：将光谱分析仪与所述第一测试点连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；导通所述光源模块和所述发射链路模块。
可选的，在本发明第二方面的第二种实现方式中，所述发射链路分析模块具体用于：通过所述发射链路模块获取所述光源模块输出的光信号，将所述光信号处理后得到发射光信号；通过所述环形器模块将所述发射链路模块输出的发射光信号传输至所述第二测试点输出；通过所述光谱分析仪于所述第二测试点采集输出的所述发射光信号后，基于所述光源模块输出的光信号和所述发射光信号生成发射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第二方面的第三种实现方式中，所述发射链路分析模块具体还用于：在所述第四测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述发射链路模块后通过所述光谱分析仪于所述第二测试点处采集输出的可调光信号，得到发射光信号；基于所述第四测试点接入的可调光信号和所述发射光信号，生成所述发射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第二方面的第四种实现方式中，所述反射链路分析模块具体用于：于所述环形器模块的第三接口输出所述发射光信号至所述反射链路模块；所述反射链路模块在获取所述发射光信号后输出反射光信号至所述第三测试点；所述光谱分析仪于所述第三测试点获取所述反射光信号后，基于所述发射光信号和所述发射光信号生成反射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第二方面的第五种实现方式中，所述反射链路分析模块具体还用于：在所述第二测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述反射链路模块后于所述第三测试点处被采集，得到反射光信号；基于所述可调光信号和所述反射光信号，生成所述反射链路功能分析结果。
可选的，在本发明第二方面的第六种实现方式中，所述光路测试装置还包括光路系统组装模块，所述光路系统组装模块具体用于：导通所述第一测试点、所述第四测试点；将APD接收模块连接于所述第三测试点，用于将得到的所述反射光信号转换成电信号。
本发明第三方面提供了一种光路测试设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有请求，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述请求，以使得所述光路测试设备执行上述的光路测试方法的步骤。
本发明的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有请求，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的光路测试方法的步骤。
本发明的技术方案中，通过激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。本申请的技术方案通过对光路中的功能模块分开逐步测试，提早发现光路问题，缩小故障范围，可加快定位故障点，减少故障排查时间，提高生产效率，分段分区域测试可减少对其它光器件的影响，排查问题时可有效保护光路。
附图说明
图1为本发明实施例中光路测试方法的第一个实施例示意图；
图2为本发明实施例中光路测试方法的第二个实施例示意图；
图3为本发明实施例中光路测试方法的第三个实施例示意图；
图4为本发明实施例中光路测试装置的一个实施例示意图；
图5为本发明实施例中光路测试装置的另一个实施例示意图；
图6为本发明实施例中光路测试设备的一个实施例示意图；
图7为本发明实施例中光路测试方法的第一个结构示意图。
具体实施方式
本发明的技术方案中，通过激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。本申请的技术方案通过对光路中的功能模块分开逐步测试，提早发现光路问题，缩小故障范围，可加快定位故障点，减少故障排查时间，提高生产效率，分段分区域测试可减少对其它光器件的影响，排查问题时可有效保护光路。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等（如果存在）是用于区别类似的构件，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”或“具有”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
为便于理解，下面对本发明实施例的具体流程进行描述，请参阅图1和图7，本发明实施例中光路测试方法的第一个实施例包括：
101、激发光源模块，并使光源模块输出预设的光信号；
在本实施例中，通过激发光源模块，使光源输出稳定的光信号，其中，光源模块输出的光信号的参数可以是预设的，也可以是基于测试目的的不同进行设置。
具体的，当进行光源功能测试时，光源模块设置成在预设范围内可变动的参数指标。同理，在进行发射链路功能分析和反射链路功能分析时将光源模块输出的光信号设置成对应于发射链路功能分析和反射链路功能分析的参数指标，其中，参数指标至少包括输出功率和波形。
具体的，对光路中的光源模块完成盘纤后在第一测试点熔接1个APC接头并做好标识，该接头用于接入光谱分析仪测试，测试光源的输出功率大小和波形，光功率和输出波形满足设定的参数指标可进入下一个功能块光路盘纤，否则反查光路可能出现故障的问题点，排查后重新进入测试，直至测试成功后结束。
102、将光谱分析仪与第一测试点连接，并在光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将光源模块和发射链路模块导通；
在本实施例中，光源模块输出预设的光信号后，通过传感光纤传输至第一测试点，随后从第一测试点输出至光谱分析仪，光谱分析仪通过读取光信号得到的检测信息与光信号的标准参数进行比对，得到光源功能分析结果。在确认光源功能分析结果正常后断开光谱分析仪与第一测试点的连接，并导通第一测试点，使得光源模块至能发送测试后合格的光信号至发射链路模块。
具体的，检测信息和标准参数均应当包含光信号的波形和输出功率。
103、将光谱分析仪与第二测试点连接，通过光谱分析仪采集并分析第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果；
在本实施例中，在第一测试点或第四测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过发射链路模块后从第二测试点输出至光谱分析仪，光谱分析仪获取了由第二测试点输出的光信号即发射光信号后对发射光信号进行解析，得到发射光信号的检测信息，通过与发射光信号的标准参数进行对比，得到发射链路功能分析结果。
具体的，检测信息和标准参数均应当包含第二测试点输出的光信号（即发射光信号）的输出光功率、通路增益、底噪功率。
104、将光谱分析仪与第三测试点连接，通过光谱分析仪采集并分析第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果；
在本实施例中，在第二测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过环形器模块和反射链路模块，光信号或可调光信号被处理成反射光信号，反射光信号通过第三测试点输出至光谱分析仪，光谱分析仪对获取的反射光信号进行解析，得到反射光信号的检测信息，通过与反射观光信号的标准参数进行比对，得到反射链路功能分析结果。
具体的，检测信息和标准参数均应当包含第三测试点输出的光信号（即反射光信号）的输出光功率、通路增益、底噪功率。
105、基于光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果调试光路系统。
在本实施例中，基于得到的光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果，调试对应的功能模块，在若干次调试后得到合格的结果后，完成对光路系统的测试，其中，光路系统可以是φ-OTDR光路系统。
在本实施例中，通过激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。本申请的技术方案通过对光路中的功能模块分开逐步测试，提早发现光路问题，缩小故障范围，可加快定位故障点，减少故障排查时间，提高生产效率，分段分区域测试可减少对其它光器件的影响，排查问题时可有效保护光路。
请参阅图2，本发明实施例中光路测试方法的第二个实施例包括：
201、激发光源模块，并使光源模块输出预设的光信号；
202、将光谱分析仪与第一测试点连接，通过光谱分析仪于第一测试点获取光源模块输出的光信号，并输出光信号对应的检测信息；
在本实施例中，在第一测试点熔接1个APC接头并做好标识，该接头用于接入光谱分析仪测试，测试光源的输出功率大小和波形，光功率和输出波形满足设定的参数指标可进入下一个功能块光路盘纤，否则反查光路可能出现故障的问题点，排查后重新进入测试，直至测试达到合格标准。
203、比对预设的光信号的标准参数和检测信息，生成光源功能分析结果；
在本实施例中，光源功能分析结果包括对光源模块输出的光信号合格或不合格，以及检测信息和标准参数的差异值，用于调整光源模块，使光源模块调整后输出的光信号符合标准参数。
具体的，结合上位机查看标准参数中的波形，脉宽设置200ns，距离选择80km，设备业务光口接入40km或75km光纤盘，如出现波形低问题，那问题就基本定位在光源模块、发射链路模块、反射链路模块的连接熔纤点上，可快速排查问题；波形正常即代表设备已正常运行，可以结束测试。
204、导通光源模块和发射链路模块；
在本实施例中，通过导通光源模块和发射链路模块，使得在后续步骤生成发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果中同样可以利用光源模块输出对应的测试用的光信号对发射链路模块或反射链路模块进行测试。
205、通过发射链路模块获取光源模块输出的光信号，将光信号处理后得到发射光信号；
在本实施例中，将光源模块调整至对应测试发射链路模块的标准参数的光信号，基于调整后符合测试发射链路模块的标准参数的光信号用于对发射链路模块进行测试。
206、通过环形器模块将发射链路模块输出的发射光信号传输至第二测试点输出；
在本实施例中，光源模块与发射链路模块的输入端相连接，发射链路模块的输出端与环形器模块的第一接口相连接，环形器模块的第二接口作为第二测试点，输出测试的发射光信号。
207、通过光谱分析仪于第二测试点采集输出的发射光信号后，基于光源模块输出的光信号和发射光信号生成发射链路功能分析结果；
在本实施例中，发射链路模块的测试需要在第一测试点或第四测试点和第二测试点分别熔接1个APC接头并做好标识，第一测试点连接光源模块，根据光路特性设置一个合适的光源功率，第二测试点接入光谱分析仪测试，测试指标有输出光功率、通路增益、底噪功率，测试结果满足设定的参数指标可进入下一个功能块光路盘纤，否则反查光路可能出现故障的问题点，排查后重新进入测试。
208、于环形器模块的第三接口输出发射光信号至反射链路模块；
在本实施例中，通过环形器模块的第二接口获取用于检测反射链路模块的发射光信号，并于环形器模块的第三接口输出至反射链路模块，反射链路模块通过将发射光信号转化成反射光信号后于反射链路模块的输出端输出至上位机，其中上位机包括光谱分析仪。
209、反射链路模块在获取发射光信号后输出反射光信号至第三测试点；
210、光谱分析仪于第三测试点获取反射光信号后，基于发射光信号和发射光信号生成反射链路功能分析结果；
在本实施例中，反射链路模块的测试需要在链路输入端即环形器模块的第二接口或第二测试点和输出端即反射链路模块的输出端或第三测试点分别熔接1个APC接头并做好标识，第三测试点接入光谱分析仪，第二测试点接入可调光源输出，测试指标有输出光功率、通路增益、底噪功率，测试方法与发射链路的测试方法一致，测试结果满足设定的参数指标后可进行上述步骤3个功能块的整体光路熔接。
具体的，还可以在第二测试点接入标准长度的传感光纤，初始发射的光信号由光源模块提供，经过调试后于发射链路模块输出端得到输出参数符合检测标准的发射光信号，用于检测反射链路模块。
211、基于光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果调试光路系统。
本实施例在前实施例的基础上，详细描述了将光谱分析仪与所述第一测试点连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；导通所述光源模块和所述发射链路模块的过程。通过本实施例相较于传统方法，明确了针对光源模块这部分光路的检测方式，通过在第一测试点接入上位机即光谱分析仪对光源模块进行调试，当光功率和输出波形满足设定的参数指标可进行发射链路模块或反射链路模块的测试。
请参阅图3，本发明实施例中光路测试方法的第三个实施例包括：
301、激发光源模块，并使光源模块输出预设的光信号；
302、将光谱分析仪与第一测试点连接，并在光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将光源模块和发射链路模块导通；
303、在第四测试点接入一可调光源；
在本实施例中，发射链路功能块光路的测试需要在输入端即第四测试点和输出端即第二测试点分别熔接1个APC接头并做好标识，第四测试点端接入1550nm可调光源，第二测试点接入上位机即光谱分析仪，根据光路特性设置一个合适的光源功率，发射链路输出端接入光谱分析仪测试，测试指标有输出光功率、通路增益、底噪功率，测试结果满足设定的参数指标可进入下一个功能块光路盘纤，否则反查光路可能出现故障的问题点，排查后重新进入测试，测试合格后生成发射链路功能分析结果并进入下一步骤。
304、通过可调光源发出预设的可调光信号，经由发射链路模块后通过光谱分析仪于第二测试点处采集输出的可调光信号，得到发射光信号；
305、基于第四测试点接入的可调光信号和发射光信号，生成发射链路功能分析结果；
306、在第二测试点接入一可调光源；
在本实施例中，反射链路模块的测试需要在链路输入端即环形器模块的第二接口或第二测试点和输出端即反射链路模块的输出端或第三测试点分别熔接1个APC接头并做好标识，第三测试点接入光谱分析仪，第二测试点接入可调光源输出，测试指标有输出光功率、通路增益、底噪功率，测试方法与发射链路的测试方法一致，测试结果满足设定的参数指标后可进行上述步骤3个功能块的整体光路熔接。
307、通过可调光源发出预设的可调光信号，经由反射链路模块后于第三测试点处被采集，得到反射光信号；
308、基于可调光信号和反射光信号，生成反射链路功能分析结果；
309、基于光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果调试光路系统；
310、导通第一测试点、第四测试点；
在本实施例中，完成光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能测试且测试合格后，通过采取包括但不限于熔接的方式导通第一测试点和第四测试点，使得光信号能够通过第一测试点和第四测试点，形成完整的光路系统。
311、将APD接收模块连接于第三测试点，用于将得到的反射光信号转换成电信号。
在本实施例中，通过在第三测试点熔接APD接收模块，使得整个包含了光源模块、发射链路模块、环形器模块和反射链路模块的光路系统输出的光信号能够转换成电信号被上位机读取。
具体的，APD接收模块全称Avalanche Photo Diode,译为雪崩光电二极管，指的是在激光通信中使用的光敏元件。其作用原理为在以硅或锗为材料制成的光电二极管的P-N结上加上反向偏压后，射入的光被P-N结吸收后会形成光电流。加大反向偏压会产生“雪崩”即光电流成倍地激增的现象。
本实施例在前实施例的基础上，详细描述了在所述第二测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述反射链路模块后于所述第三测试点处被采集，得到反射光信号；基于所述可调光信号和所述反射光信号，生成所述反射链路功能分析结果的过程。通过本实施例相较于传统方法，细化了对反射链路模块的测试过程，还提供了通过可调光源在环形器模块的第二接口发出可调光信号使得对反射链路模块的测试不需要光源模块和发射链路模块进行参与，减少其他模块对反射链路模块测试的影响。
上面对本发明实施例中光路测试方法进行了描述，下面对本发明实施例中光路测试装置进行描述，请参阅图4，本发明实施例中光路测试装置一个实施例包括：
光源激发模块401，用于激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；
光源分析模块402，用于将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通；
发射链路分析模块403，用于将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果；
反射链路分析模块404，用于将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果；
光路系统调试模块405，用于基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。
本发明实施例中，光路测试装置运行上述光路测试方法，包括，通过激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。本申请的技术方案通过对光路中的功能模块分开逐步测试，提早发现光路问题，缩小故障范围，可加快定位故障点，减少故障排查时间，提高生产效率，分段分区域测试可减少对其它光器件的影响，排查问题时可有效保护光路。
请参阅图5，本发明实施例中光路测试装置的第二个实施例包括：
光源激发模块401，用于激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；
光源分析模块402，用于将光谱分析仪与所述第一测试点连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通；
发射链路分析模块403，用于将所述光谱分析仪与所述第二测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果；
反射链路分析模块404，用于将所述光谱分析仪与所述第三测试点连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果；
光路系统调试模块405，用于基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统。
在本实施例中，所述光源分析模块402具体用于：
将光谱分析仪与所述第一测试点连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；导通所述光源模块和所述发射链路模块。
在本实施例中，所述发射链路分析模块403具体用于：
通过所述发射链路模块获取所述光源模块输出的光信号，将所述光信号处理后得到发射光信号；通过所述环形器模块将所述发射链路模块输出的发射光信号传输至所述第二测试点输出；通过所述光谱分析仪于所述第二测试点采集输出的所述发射光信号后，基于所述光源模块输出的光信号和所述发射光信号生成发射链路功能分析结果。
在本实施例中，所述发射链路分析模块403具体还用于：
在所述第四测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述发射链路模块后通过所述光谱分析仪于所述第二测试点处采集输出的可调光信号，得到发射光信号；基于所述第四测试点接入的可调光信号和所述发射光信号，生成所述发射链路功能分析结果。
在本实施例中，所述反射链路分析模块404具体用于：
于所述环形器模块的第三接口输出所述发射光信号至所述反射链路模块；所述反射链路模块在获取所述发射光信号后输出反射光信号至所述第三测试点；所述光谱分析仪于所述第三测试点获取所述反射光信号后，基于所述发射光信号和所述发射光信号生成反射链路功能分析结果。
在本实施例中，所述反射链路分析模块404具体还用于：
在所述第二测试点接入一可调光源；通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述反射链路模块后于所述第三测试点处被采集，得到反射光信号；基于所述可调光信号和所述反射光信号，生成所述反射链路功能分析结果。
在本实施例中，所述光路测试装置还包括光路系统组装模块406，所述光路系统组装模块406具体用于：
导通所述第一测试点、所述第四测试点；将APD接收模块连接于所述第三测试点，用于将得到的所述反射光信号转换成电信号。
本实施例在上一实施例的基础上，详细描述了各个模块的具体功能以及部分模块的单元构成，通过上述模块并细化了原有模块的具体作用，完善了光路测试装置的运行，提高了其运行时的可靠性以及明确了各个步骤间的实际逻辑，提高了装置的实用性。
上面图4和图5从模块化功能实体的角度对本发明实施例中的光路测试装置进行详细描述，下面从硬件处理的角度对本发明实施例中光路测试设备进行详细描述。
图6是本发明实施例提供的一种光路测试设备的结构示意图，该光路测试设备600可因配置或性能不同而产生比较大的差异，可以包括一个或一个以上处理器（centralprocessing units，CPU）610（例如，一个或一个以上处理器）和存储器620，一个或一个以上存储应用程序633或数据632的存储介质630（例如一个或一个以上海量存储设备）。其中，存储器620和存储介质630可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质630的程序可以包括一个或一个以上模块（图示没标出），每个模块可以包括对光路测试设备600中的一系列请求操作。更进一步地，处理器610可以设置为与存储介质630通信，在光路测试设备600上执行存储介质630中的一系列请求操作，以实现上述光路测试方法的步骤。
光路测试设备600还可以包括一个或一个以上电源640，一个或一个以上有线或无线网络接口650，一个或一个以上输入输出接口660，和/或，一个或一个以上操作系统631，例如Windows Serve，Mac OS X，Unix，Linux，FreeBSD等等。本领域技术人员可以理解，图6示出的光路测试设备结构并不构成对本申请提供的光路测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以为非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质也可以为易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有请求，当所述请求在计算机上运行时，使得计算机执行所述的光路测试方法的步骤。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统或装置、单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干请求用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（read-only memory，ROM）、随机存取存储器（random access memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种光路测试方法，所述光路测试方法应用于光路系统，所述光路系统包括光源模块、发射链路模块、反射链路模块、环形器模块，所述光源模块与所述发射链路模块连接，所述发射链路模块与所述环形器模块的第一接口连接，所述环形器的第三接口与所述反射链路模块连接，其特征在于，分别在所述光源模块的输出口设置第一测试点，在所述环形器的第二接口设置第二测试点，在所述反射链路模块的输出口设置第三测试点，在所述发射链路模块的输入口设置有第四测试点；所述光路测试方法包括：
分别于所述第一测试点、所述第二测试点、所述第三测试点和第四测试点熔接APC接头；
激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；
将光谱分析仪与所述第一测试点的APC接头连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；
将所述光谱分析仪与所述第二测试点的APC接头连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；
将所述光谱分析仪与所述第三测试点的APC接头连接，第二测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过环形器模块和反射链路模块，光信号或可调光信号被处理成反射光信号，反射光信号通过第三测试点输出至光谱分析仪，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到对应于所述反射链路模块的反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；
基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统；
判断所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果是否满足设定的参数指标；
若满足，则导通所述第一测试点、所述第四测试点的所述APC接头；
将APD接收模块连接于所述第三测试点的APC接头，用于将得到的所述反射光信号转换成电信号。
2.根据权利要求1所述的光路测试方法，其特征在于，所述将光谱分析仪与所述第一测试点的APC接头连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，包括：
将光谱分析仪与所述第一测试点的APC接头连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；
比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；
导通所述光源模块和所述发射链路模块。
3.根据权利要求1所述的光路测试方法，其特征在于，所述将所述光谱分析仪与所述第二测试点的APC接头连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，包括：
通过所述发射链路模块获取所述光源模块输出的光信号，将所述光信号处理后得到发射光信号；
通过所述环形器模块将所述发射链路模块输出的发射光信号传输至所述第二测试点输出；
通过所述光谱分析仪于所述第二测试点采集输出的所述发射光信号后，基于所述光源模块输出的光信号和所述发射光信号生成发射链路功能分析结果。
4.根据权利要求3所述的光路测试方法，其特征在于，所述将所述光谱分析仪与所述第二测试点的APC接头连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，还包括：
在所述第四测试点接入一可调光源；
通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述发射链路模块后通过所述光谱分析仪于所述第二测试点处采集输出的可调光信号，得到发射光信号；
基于所述第四测试点接入的可调光信号和所述发射光信号，生成所述发射链路功能分析结果。
5.根据权利要求3所述的光路测试方法，其特征在于，所述将所述光谱分析仪与所述第三测试点的APC接头连接，第二测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过环形器模块和反射链路模块，光信号或可调光信号被处理成反射光信号，反射光信号通过第三测试点输出至光谱分析仪，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到对应于所述反射链路模块的反射链路功能分析结果，包括：
于所述环形器模块的第三接口输出所述发射光信号至所述反射链路模块；
所述反射链路模块在获取所述发射光信号后输出反射光信号至所述第三测试点；
所述光谱分析仪于所述第三测试点获取所述反射光信号后，基于所述发射光信号和所述反射光信号生成反射链路功能分析结果。
6.根据权利要求1所述的光路测试方法，其特征在于，所述将所述光谱分析仪与所述第三测试点的APC接头连接，第二测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过环形器模块和反射链路模块，光信号或可调光信号被处理成反射光信号，反射光信号通过第三测试点输出至光谱分析仪，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到对应于所述反射链路模块的反射链路功能分析结果，还包括：
在所述第二测试点接入一可调光源；
通过所述可调光源发出预设的可调光信号，经由所述反射链路模块后于所述第三测试点处被采集，得到反射光信号；
基于所述可调光信号和所述反射光信号，生成所述反射链路功能分析结果。
7.一种光路测试装置，所述光路测试装置应用于光路系统，所述光路系统包括光源模块、发射链路模块、反射链路模块、环形器模块，所述光源模块与所述发射链路模块连接，所述发射链路模块与所述环形器模块的第一接口连接，所述环形器的第三接口与所述反射链路模块连接，其特征在于，分别在所述光源模块的输出口设置第一测试点，在所述环形器的第二接口设置第二测试点，在所述反射链路模块的输出口设置第三测试点，在所述发射链路模块的输入口设置有第四测试点；分别于所述第一测试点、所述第二测试点、所述第三测试点和第四测试点熔接APC接头；所述光路测试装置包括：
光源激发模块，用于激发所述光源模块，并使所述光源模块输出预设的光信号；
光源分析模块，用于将光谱分析仪与所述第一测试点的APC接头连接，并在所述光谱分析仪输出光源功能分析结果后，将所述光源模块和所述发射链路模块导通，其中，所述光源功能分析结果包括光信号的波形和输出功率；
发射链路分析模块，用于将所述光谱分析仪与所述第二测试点的APC接头连接，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果，其中，所述发射链路功能分析结果包括所述第二测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；
反射链路分析模块，用于将所述光谱分析仪与所述第三测试点的APC接头连接，第二测试点通过光源模块或可调光源输出光信号或可调光信号经过环形器模块和反射链路模块，光信号或可调光信号被处理成反射光信号，反射光信号通过第三测试点输出至光谱分析仪，通过所述光谱分析仪采集并分析所述第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果，其中，所述反射链路功能分析结果包括所述第三测试点输出的光信号的输出光功率、通路增益、底噪功率；
光路系统调试模块，用于基于所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果调试所述光路系统；判断所述光源功能分析结果、所述发射链路功能分析结果和所述反射链路功能分析结果是否满足设定的参数指标；若满足，则导通所述第一测试点、所述第四测试点的所述APC接头；将APD接收模块连接于所述第三测试点的APC接头，用于将得到的所述反射光信号转换成电信号。
8.根据权利要求7所述的光路测试装置，其特征在于，所述光源分析模块具体用于：
将光谱分析仪与所述第一测试点连接，通过所述光谱分析仪于所述第一测试点获取所述光源模块输出的光信号，并输出所述光信号对应的检测信息；比对预设的光信号的标准参数和所述检测信息，生成所述光源功能分析结果；导通所述光源模块和所述发射链路模块。
9.一种光路测试设备，其特征在于，所述光路测试设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有请求，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；
所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述请求，以使得所述光路测试设备执行如权利要求1-6中任一项所述的光路测试方法的各个步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的光路测试方法的各个步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211277648.4A CN115347952B (zh) | 2022-10-19 | 2022-10-19 | 光路测试方法、装置、设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211277648.4A CN115347952B (zh) | 2022-10-19 | 2022-10-19 | 光路测试方法、装置、设备及存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115347952A CN115347952A (zh) | 2022-11-15 |
| CN115347952B true CN115347952B (zh) | 2023-01-31 |
Family
ID=83957305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202211277648.4A Active CN115347952B (zh) | 2022-10-19 | 2022-10-19 | 光路测试方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115347952B (zh) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109274422A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-01-25 | 四川光恒通信技术有限公司 | 一种光模块测试系统及方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5672729B2 (ja) * | 2010-03-15 | 2015-02-18 | 富士通株式会社 | 光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラム |
| TW201315170A (zh) * | 2011-09-27 | 2013-04-01 | Chunghwa Telecom Co Ltd | 光頻域反射式光纖網路測試方法 |
| CN103176159B (zh) * | 2013-02-20 | 2016-08-10 | 国网智能电网研究院 | 用于互易型反射式光学电压传感单元的测试装置及其方法 |
| CN104009795A (zh) * | 2013-02-25 | 2014-08-27 | 中兴通讯股份有限公司 | Otdr光路检测装置及方法 |
| CN104426603A (zh) * | 2013-08-30 | 2015-03-18 | 华为技术有限公司 | 光网络检测方法、装置、设备、系统及分光器 |
| CN103823175B (zh) * | 2014-01-10 | 2016-09-28 | 上海波汇科技股份有限公司 | 一种基于otdr的光电探测电路频响特性测试方法 |
| US10890604B2 (en) * | 2017-07-20 | 2021-01-12 | Tektronix, Inc. | Monitoring device under test waveform on signal generator |
| CN109297681A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-02-01 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 激光器电光转换效率的测试系统及方法 |
| CN109617600B (zh) * | 2018-12-28 | 2020-09-15 | 东南大学 | 基于pon链路故障识别的探测脉冲波形自调试系统和方法 |
| CN113138065B (zh) * | 2021-04-14 | 2022-08-16 | 温州大学 | 一种基于多模式传输反射分析少模光纤故障的装置及方法 |
-
2022
- 2022-10-19 CN CN202211277648.4A patent/CN115347952B/zh active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109274422A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-01-25 | 四川光恒通信技术有限公司 | 一种光模块测试系统及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN115347952A (zh) | 2022-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20210344417A1 (en) | Automated system for link health assessment in fiber optic networks | |
| CN101951289B (zh) | 无源光网络测试仪 | |
| CN105823494A (zh) | 光缆智能识别系统及方法 | |
| CN1662808B (zh) | 用于检测不透明膜层埋覆缺陷的光学技术 | |
| CN1988418B (zh) | 一种对光模块进行自动定标的方法 | |
| CN109861747A (zh) | 一种光纤链路智能诊断系统 | |
| CN115347952B (zh) | 光路测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| US20040070750A1 (en) | Optical time domain reflectometry system and method | |
| CN113675706A (zh) | 一种光纤激光器健康监测方法 | |
| US11808659B2 (en) | Parallel optics based optical time domain reflectometer acquisition | |
| CN214096364U (zh) | 一种基于双复眼透镜组的拉曼探头 | |
| JPH03150442A (ja) | 光学故障点探索装置 | |
| EP3786606A1 (en) | Parallel optics based optical time domain reflectometer acquisition | |
| TWI581581B (zh) | Detection System of Optical Fiber Routing Quality and Its Detection Method | |
| CN106370202A (zh) | 一种陀螺用探测器综合性能在线测试方法及装置 | |
| CN2632670Y (zh) | 激光遥感瓦斯探测器 | |
| CN110686865A (zh) | 一种基于oct技术的光纤熔接结构及损耗云检测系统 | |
| CN218956062U (zh) | 一种激光芯片测试系统 | |
| CN104949771A (zh) | 一种tdlas气体测温检测方法 | |
| CN215064946U (zh) | 一种用于分布式光纤测温系统的防漏采集装置 | |
| CN114486179B (zh) | 一种反卷积滤波的高精度光纤质量检测方法及系统 | |
| CN117579139B (zh) | 一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质 | |
| CN220568661U (zh) | 一种双波长检测烟雾透过率的装置 | |
| CN114486846B (zh) | 一种多气体组分和浓度的检测装置及检测方法 | |
| JP2773998B2 (ja) | 光検知装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20231027 Address after: 610, 6th Floor, Building A, No. 2 Lize Zhong'er Road, Chaoyang District, Beijing, 100000 Patentee after: Zhongguancun Technology Leasing Co.,Ltd. Address before: 510000 Room 303, building C1, No. 182, Kexue Avenue, Huangpu District, Guangzhou, Guangdong Patentee before: Gaokan (Guangzhou) Technology Co.,Ltd. |