CN109274422A - 一种光模块测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光模块测试系统及方法，测试系统包括示波器、功率计、光谱仪、光衰减器、光源模块和误码仪，将光模块的关键测试指标：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等测试项目整合到一个测试链路来实现。与现有技术相比，本发明的积极效果是：本发明在保证模块生产测试的情况下，实现了：1、整合了光模块的测试工序，减少了软件管理工作，避免了软件管理的风险，降低了测试成本同时保证了测试需求；2、巧妙的链路设计，增强了仪器的使用效率；3、建立了测试指标之间的关联性，相当于严格了测试要求，增强了测试结果的可靠性。

Description

一种光模块测试系统及方法

技术领域

本发明涉及一种光模块测试系统及方法。

背景技术

在光模块的生产中，为了确保模块的质量，需对模块的关键指标进行测试。关键指标包括：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等。现有的测试方式是：通道代价的测试需要单独的测试链路才能实现，而除通道代价以外的其他指标测试则需构建另外的测试链路可能实现。因此，在生产中造成测试工序繁琐，测试人员，设备，场地等资源的浪费，增加了生产成本，降低了测试效率。

发明内容

为了克服现有技术的缺点，本发明提供了一种光模块测试系统及方法，将光模块的关键测试指标：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等测试项目整合到一个测试链路来实现。

本发明所采用的技术方案是：一种光模块测试系统，包括示波器、功率计、光谱仪、光衰减器、光源模块和误码仪，其中：待测模块的发射端Tx信号通过光纤连接至第一光开关的X1端口，其接收端Rx信号通过光纤连接至第二光开关的X1端口；光源模块的发射端Tx_ref信号通过光纤连接至第一光开关的X2端口，其接收端Rx_ref信号通过光纤连接至第二光开关的X2端口；第一光开关的Y1端口与第三光开关的X2端口通过光纤相连，第一光开关的Y2端口经由光分路器后分别连接示波器、功率计和光谱仪的输入端口以及第二光开关的Y1端口；第三光开关的X1与Y1端之间连接10Km光纤桶，第三光开关的Y2端口与光衰减器In端连接；第二光开关的Y2端口与光衰减器Out端连接。

本发明还提供了一种光模块测试方法，包括如下内容：

(1)控制第一光开关和第二光开关处于交叉状态、第三光开关处于直通状态，即可通过读取功率计，示波器，光谱仪测试光模块发射端的光功率，消光比，光谱等参数；调节控制衰减器，通过误码仪即可实现接收端灵敏度、过载的测试；

(2)控制第一光开关和第二光开关处于直通状态，调节控制衰减器，通过误码仪即可测量发射端光路带光纤与不带光纤的灵敏度值，从而测量其通道代价特性。

与现有技术相比，本发明的积极效果是：

本发明在保证模块生产测试的情况下，实现了：

1、整合了光模块的测试工序，减少了软件管理工作，避免了软件管理的风险，测试成本低同时保证了测试需求；

2、巧妙的链路设计，增强了仪器的使用效率；

3、建立指标的关联性，相当于严格了测试要求，增强了测试结果的可靠性。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1为本发明的测试链路构成示意图；

图2为通道代价测试中10Km光纤的加载/取消示意图；

图3为接收/发射端测试灵敏度测试、通道代价测试示意图；

图4为待测模块回环连接方式示意图；

图5为控制光开关1，光开关2处于交叉状态，光开关3处于直通状态测试示意图；

图6为控制光开关1，光开关2处于直通状态，光开关3处于交叉状态测试示意图。

具体实施方式

一种光模块测试系统，如图1所示，设备清单包括：

序号	名称	序号	名称
				1	同轴线	8	功率计
2	待测模块	9	光谱仪
				3	光开关1	10	光衰减器
4	10Km光纤桶	11	光开关2
				5	光开关3	12	光源模块
6	1/4光分路器	13	误码仪
				7	示波器	14	/

待测模块DUT电气端口Tx+/-，Rx+/-使用同轴线实现回环连接，使得误码仪产生的调制信号经光源模块由电信号转为光信号，再由链路传至待测模块接收端由光信号转为电信号，加载至模块发射端。连接描述：待测模块DUT的发射端Tx信号通过光纤连接至光开关1的X1端口，其接收端Rx信号通过光纤连接至光开关2的X1端口；光源模块REF的发射端Tx_ref信号通过光纤连接至光开关1的X2端口，其接收端Rx_ref信号通过光纤连接至光开关2的X2端口；光开关1的Y1端口与光开关3的X2端口通过光纤相连，光开关1的Y2端口经由一个1分4的光分路器后分别连接了示波器、功率计、光谱仪的输入端口以及光开关2的Y1端口；光开关3的X1与Y1端之间连接了通道代价测试所用的10Km光纤，光开关3的Y2端口与光衰减器In端连接；光开关2的Y2端口与光衰减器Out端连接。

通过控制光开关1，光开关2，光开关3来改变光路的连接，实现不同的光路信号走向，从而实现模块关键指标的测试在同一个工位完成。

(1)通道代价测试中10Km光纤的加载/取消采用2*2光开关3完成，如图2所示，图中(a)为Tx光路加载10Km光纤；(b)为Tx光路不加载10Km光纤；

(2)接收/发射端测试采用共用同一个光衰减器，降低了测试成本，如图3所示，图中(a)为Rx灵敏度测试时的链路连接；(b)为Tx通道代价测试时的链路连接；

(3)待测模块回环连接方式如图4所示；

本发明提供了一种新型模块测试方法，包括如下步骤：

步骤一：控制光开关1，光开关2处于交叉状态，光开关3处于直通状态，如图5所示，在这种链路状态下，即可通过读取功率计，示波器，光谱仪测试其发射端的光功率，消光比，光谱等参数，控制衰减器，通过误码仪即可实现接收端灵敏度、过载的测试；

步骤二：控制光开关1，光开关2处于直通状态，光开关3处于交叉状态，如图6所示，在这种链路状态下，调节控制衰减器，通过误码仪可以测量发射端光路带10Km光纤与不带光纤的灵敏度值，从而判定其通道代价特性。

背景技术与本发明不同之处：

(1)背景技术对模块关键测试需要两个测试链路、两道测试工序；而本发明只需要一个测试链路、一道测试工序即可完成，节约了成本又减少了工序；

(2)背景技术待测模块采用直接加载发射端调制信号，而本发明采用回环连接方式，建立了接收/发射端指标的关联性，降低测试链路的复杂程度。

(3)背景技术需要专用的通道代价测试软件，本技术只需要一个测试软件，提高了软件的功能性，节省了开发、管理工作。

Claims (9)

1.一种光模块测试系统，其特征在于：包括示波器、功率计、光谱仪、光衰减器、光源模块和误码仪，其中：待测模块的发射端Tx信号通过光纤连接至第一光开关的X1端口，其接收端Rx信号通过光纤连接至第二光开关的X1端口；光源模块的发射端Tx_ref信号通过光纤连接至第二光开关的X2端口，其接收端Rx_ref信号通过光纤连接至第二光开关的X2端口；第一光开关的Y1端口与第三光开关的X2端口通过光纤相连，第一光开关的Y2端口经由光分路器后分别连接示波器、功率计和光谱仪的输入端口以及第二光开关的Y1端口；第三光开关的X1与Y1端之间连接10Km光纤桶，第三光开关的Y2端口与光衰减器In端连接；第二光开关的Y2端口与光衰减器Out端连接。

2.根据权利要求1所述的一种光模块测试系统，其特征在于：所述待测模块的电气端口使用同轴线实现回环连接，使得误码仪所产生的调制信号经光源模块由电信号转为光信号，再由链路传至待测模块接收端由光信号转为电信号，加载至待测模块发射端。

3.根据权利要求1所述的一种光模块测试系统，其特征在于：所述第一光开关的X1端口与Y2端口连接、X2端口与Y1端口连接；所述第二光开关的X1端口与Y2端口连接、X2端口与Y1端口连接；所述第三光开关的X1端口与Y1端口连接、X2端口与Y2端口连接。

4.根据权利要求1所述的一种光模块测试系统，其特征在于：所述第一光开关的X1端口与Y1端口连接、X2端口与Y2端口连接；所述第二光开关的X1端口与Y1端口连接、X2端口与Y2端口连接。

5.根据权利要求4所述的一种光模块测试系统，其特征在于：所述第三光开关的X1端口与Y1端口连接、X2端口与Y2端口连接。

6.根据权利要求4所述的一种光模块测试系统，其特征在于：所述第三光开关的X1端口与Y2端口连接、X2端口与Y1端口连接。

7.一种光模块测试方法，其特征在于：包括如下内容：

(1)控制第一光开关和第二光开关处于交叉状态、第三光开关处于直通状态，即可通过读取功率计，示波器，光谱仪测试光模块发射端的光功率，消光比，光谱等参数；调节控制衰减器，通过误码仪即可实现接收端灵敏度、过载的测试；

(2)控制第一光开关和第二光开关处于直通状态，调节控制衰减器，通过误码仪即可测量发射端光路带光纤与不带光纤的灵敏度值，从而测量其通道代价特性。

8.根据权利要求7所述的一种光模块测试方法，其特征在于：当第一光开关和第二光开关处于直通状态时，控制第三光开关处于交叉状态，即可测量发射端光路带光纤的灵敏度值。

9.根据权利要求7所述的一种光模块测试方法，其特征在于：当第一光开关和第二光开关处于直通状态时，控制第三光开关处于直通状态，即可测量发射端光路不带光纤的灵敏度值。