CN117579139B - 一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，涉及光通信技术领域，其中，光组件抗反射测试装置包括：反射控制单元以及射频检测单元。被测光组件分别与反射控制单元、射频检测单元构成光回路。反射控制单元用于调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；射频检测单元用于检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值；本发明实施例可以快速测试去除隔离器后的光组件对反射光的抗反射值，以确定光组件的抵抗能力，并真实模拟光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器的光组件对反射光的抵抗能力。

Description

一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，具体而言，涉及一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质。

背景技术

在数字光纤通信系统中，可能出现由于光组件匹配不良或光信号发生散射等原因导致部分光信号沿着正常传输路径的反方向反射回到光组件上，从而造成该光组件在正常传输路径上的损耗。可理解的，该反射回到光组件的反射光，会在光组件上形成光反馈，使光失谐增加，从而影响光组件的输出功率。同时还会改变光组件的谐振条件，进而影响波长，破坏光组件的输出光谱，在传输系统中产生大量不可控的误码率。

为隔离反射光对传输系统的干扰，常在高速率、长距传输系统的光组件中加入光隔离器。其中，光隔离器又称光单向器，是一种光非互易传输的光纤无源器件。该光隔离器可以用于隔离反射光对传输系统的干扰。然而，随着传输系统的发展，为了降低成本，越来越多的光通信企业选择在不影响传输性能的情况下将光隔离器去掉。

在去除光隔离器后，光通信企业通常会重新设计光组件的光路，例如在激光二极管前增加光波导、改变激光二极管的发光角度、改变激光二极管的贴片位置或是改变滤波片的位置等等，以便对反射光进行一定程度上的抑制。若想要验证抑制反射光后的光组件是否满足传输设定，还需要进行光组件的抗反射测试。

现有技术中，进行光组件的抗反射测试时，光模块厂商需要与设备厂商紧密配合。例如将光组件焊接到光猫上或设置到光路线终端（Optical Line Terminal，OLT）中。此种方式不仅需要光模块厂商配合，还需要设备厂商配合，因而需要花费大量的协调时间，从而造成资源的浪费。此外，由于光组件的抗反射测试会进行带长纤的业务流测试，因此该过程也需要较长的测试时间。

基于此，整个测试过程需要耗费大量的时间与精力，导致无法快速判断当前优化设计的光路是否满足抗反射要求。

因此，急需一种评估装置可以快速评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力。

发明内容

本发明的目的包括，提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，可以快速评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力，并在不依赖光模块的基础上，能真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力，并基于评估结果调整抗反射能力。

本发明的实施例可以这样实现：

第一方面，本发明提供一种光组件抗反射测试装置，包括：反射控制单元以及射频检测单元；

被测光组件分别与所述反射控制单元、所述射频检测单元构成光回路；

所述被测光组件，用于接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；

所述反射控制单元，用于调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；

所述被测光组件，还用于接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号；并将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；

所述射频检测单元，用于检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值。

进一步地，所述射频参数包括灵敏度；所述射频检测单元，用于分别检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。

进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括光组件控温单元，所述光组件控温单元与所述被测光组件通信连接，以通过所述光组件控温单元调节所述被测光组件的工作温度。

进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：信号发射单元；所述信号发射单元用于向所述被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。

进一步地，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜；

所述偏振调节器，用于在预设工作温度下调节所述第一光信号的偏转方向，得到预设工作温度下预设偏振方向的偏振信号；

所述第一衰减器，用于调节所述偏振信号的光功率，以得到预设光功率的第二光信号；

所述全反射镜，用于将所述第二光信号反射回被测光组件。

进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：分光器；所述分光器包括第一通道以及第二通道；

所述分光器，用于均分所述第一光信号，并分别通过所述第一通道、所述第二通道将均分后的第一光信号分别反馈给所述反射控制单元、所述射频检测单元；

所述分光器，还用于通过所述第一通道将所述第二光信号反射回所述被测光组件；还用于通过所述第一通道将所述第三光信号通过反馈给所述射频检测单元。

进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：功率计；所述功率计用于检测所述第一光信号与所述第二光信号的光功率。

进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：隔离器，所述隔离器设置在所述第一通道的输出端，以隔离所述射频检测单元反射回所述被测光组件的第三光信号。

进一步地，所述射频检测单元包括：长纤筒、波形检测器以及电信号检测器；所述被测光组件分别与所述波形检测器、所述长纤筒、所述电信号检测器光学连接；所述长纤筒还与所述电信号检测器光学连接；其中，

所述波形检测器，用于获取所述第一光信号的眼图、所述第三光信号的眼图；并获取所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量；

所述电信号检测器，用于检测所述第三光信号的灵敏度；其中，所述第三光信号的灵敏度包括所述第三光信号通过所述长纤筒的第一灵敏度以及未通过所述长纤筒的第二灵敏度；

所述电信号检测器，还用于检测所述第一光信号通过所述长纤筒的第三灵敏度；

所述电信号检测器，还用于在第二灵敏度满足预设灵敏度时，依据所述第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定所述被测光组件的抗反射值。

进一步地，所述射频检测单元还包括：第二衰减器；所述第二衰减器与所述长纤筒、所述电信号检测器连接；

所述第二衰减器，用于调节通过所述长纤筒的第三光信号的光功率；

所述电信号检测器，用于检测通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的误码率以及通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率；

所述电信号检测器，还用于在所述误码率满足预设误码率后，将通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率值作为第一灵敏度值。

第二方面，本发明还提供一种光组件抗反射测试方法，应用于光组件抗反射测试装置，其中，所述光组件抗反射测试装置包括反射控制单元以及射频检测单元；所述光组件抗反射测试方法包括：

利用被测光组件接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；

利用反射控制单元调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；

利用被测光组件接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号，并将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；

利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值。

进一步地，所述射频参数包括灵敏度，所述利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值的步骤包括：

利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。

进一步地，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜，所述利用反射控制单元调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件的步骤包括：

利用偏振调节器在预设工作温度下调节所述第一光信号的偏转方向，得到预设工作温度下预设偏振方向的偏振信号；

利用第一衰减器调节所述偏振信号的光功率，得到预设光功率的第二光信号；

利用全反射镜将所述第二光信号反射回被测光组件。

第三方面，本发明还提供一种光组件抗反射测试系统，包括上述第一方面中任一项所述的光组件抗反射测试装置。

第四方面，本发明还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任一项所述的光组件抗反射测试方法。

本发明实施例的有益效果包括，例如：

提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，其中，光组件抗反射测试装置包括：反射控制单元以及射频检测单元；被测光组件分别与反射控制单元、射频检测单元构成光回路；反射控制单元用于调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；射频检测单元用于检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值；本发明可以快速测试去除隔离器后的光组件对反射光的抗反射值，以确定被测光组件的抵抗能力，并在不依赖光模块的基础上，能真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力，并基于评估结果调整抗反射能力。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试装置的结构示意图之一；

图2为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试装置的结构示意图之二；

图3为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试装置的结构示意图之三；

图4为本发明实施例中反射控制单元的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试装置的结构示意图之四；

图6为本发明实施例中射频检测单元的结构示意图之一；

图7为本发明实施例中射频检测单元的结构示意图之二；

图8为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试装置的结构示意图之五；

图9为本发明实施例提供的一种光组件抗反射测试方法的流程示意图；

图10为本发明实施例中步骤S4的子步骤示意图。

图标：100-光组件抗反射测试装置；101-反射控制单元；102-射频检测单元；103-光组件控温单元；104-信号发射单元；1001-偏振调节器；1002-第一衰减器；1003-全反射镜；105-功率计；106-分光器；201-长纤筒；202-电信号检测器；203-波形检测器；204-第二衰减器。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例中的特征可以相互结合。

正如背景技术中所述，在数字光纤通信系统中，为应对反射光对传输系统的干扰，常在高速率的长距传输系统中加入光隔离器；其中，光隔离器又称光单向器，是一种光非互易传输的光纤无源器件，用于实现光信号的正向传输，还可以用于抑制反向光，从而使得光路具有不可逆性。

而随着光传输系统的推广，为降低成本，越来越多的光通信企业会选择在不影响传输性能的情况下将光隔离器去掉。

现有技术中常会构建包含局端服务器（Optical Line Terminal Server，OLTServer）、光分路器、光猫的系统，从而分别在不同温度下按照协议要求及客户要求加载20km到60km的光纤运行长时间业务流，当检测业务流无丢包时则表示光组件去隔离器后能抵抗住链路中的光信号反射。然而此种方式存在以下问题：

一方面，用户端实际使用情况较为复杂。例如，光链路中反射量的数值并非是一个固定值，因此会导致抗反射测试过程中无法量化当前链路中反射光的具体大小，从而导致无法模拟光组件反射干扰最严苛的情况。

另一方面，上述测试过程还需要与设备商配合，例如，需要将被测光组件焊接至光猫，或者在光路线终端中进行测试。这不仅需要光模块厂商配合，也需要设备厂商配合，进而花费光模块厂商或者设备厂商过多的资源和精力。且带长纤（即，在20km到60km的光纤）执行业务流也需要较长的测试时间，整个过程费时费力。很难快速判断当前的光路设计或者光芯片波导设计是否满足抗反射要求。

综上，现有技术中缺乏一种评估装置可以快速评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力。

基于此，本发明实施例提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，能快速测试去除隔离器后光组件对反射光的抗反射值，以确定被测光组件的抵抗能力。并在不依赖光模块的基础上，能真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者能更为准确的评估去除隔离器后光组件对反射光的抵抗能力，并基于评估结果调整光组件抗反射能力。

第一方面，请参考图1，本发明实施例提供了一种光组件抗反射测试装置100，该光组件抗反射测试装置100包括：反射控制单元101以及射频检测单元102。

被测光组件分别与反射控制单元101、射频检测单元102构成光回路。

被测光组件，用于接收第一电信号，在预设工作温度下将第一电信号转换为第一光信号，并将第一光信号反馈给反射控制单元101以及射频检测单元102。

反射控制单元101，用于调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；其中，第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号。

被测光组件，还用于接收第二光信号；以第二光信号为干扰信号调节第一信号，得到第三光信号；将第三光信号反馈给射频检测单元102；其中，第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小。

射频检测单元102，用于检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值。

在本发明实施例中，被测光组件在接收到第一电信号后，将第一电信号转换为第一光信号，并将第一光信号分别传输给反射控制单元101以及射频检测单元102。从而分别与反射控制单元101、射频检测单元102构成光回路。可理解的，被测光组件在预设工作温度下将第一电信号转换为光信号，然后将该转换后的光信号，即第一光信号，一分为二，分别反馈给反射控制单元101以及射频检测单元102。此时，反射控制单元101通过调节第一光信号的光功率以及偏转方向，得到第二光信号，并将第二光信号反射回被测光组件。在反射控制单元101调整第一光信号的同时，射频检测单元102检测第一光信号的射频参数。基于此，本发明实施例中反射控制单元101为被测光组件提供可控光功率的干扰信号。

在一种可实现的实施例中，射频参数可包括灵敏度。当反射控制单元101将第二光信号反射回被测光组件时，该第二光信号作为一光功率固定的干扰信号，该干扰信号用于模拟反射光。在本发明实施例中该射频检测单元102在分别检测第一光信号、第三光信号的灵敏度后，依据第一光信号的灵敏度与第三光信号的灵敏度的差值确定被测光组件的抗反射值。

在本发明实施例中，依据反射控制单元101调节反射光的功率，从而量化该反射光。再将该量化后的反射光作为干扰信号，从而确定被测光组件的抗反射参数。在该发明实施例中，反射控制单元101依据光路可逆的原理实现反射光的输入。并依据第一衰减器1002调节反射光的功率，从而量化该反射光。达到被测光组件上反射光可控的效果。

在一种可实现的实施例中，请参考图2，光组件抗反射测试装置100还包括光组件控温单元103，光组件控温单元103与被测光组件通信连接，以通过光组件控温单元103调节被测光组件的工作温度。

在本实施例中，光组件控温单元103用于调节被测光组件的工作温度，以精确调整被测光组件的工作温度，从而基于不同工作温度测评该被测光组件的最佳工作温度。

在可选的实施方法中，请参考图3，光组件抗反射测试装置100还包括：信号发射单元104。信号发射单元104用于向被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。

信号发射单元104与被测光组件电连接，以通过信号发射单元104向被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。其中，该信号发射单元104可通过误码仪输出预设传输速率，预设码型的伪随机码信号，例如，可将伪随机二进制序列（Pseudo Random BinarySequence，PRBE）信号作为第一电信号，加载给后续被测光组件。被测光组件将伪随机二进制序列转换为第一光信号。上述信号发射单元104中的误码仪可选用带有信号检测功能的误码仪，以检测施加反射光后的被测光组件发出的第三光信号的误码率。

在一种可选的实施方式中，信号发射单元104与被测光组件可通过差分射频线连接。

请参考图4，反射控制单元101包括依次设置的偏振调节器1001、第一衰减器1002以及全反射镜1003。

偏振调节器1001，用于在预设工作温度下调节第一光信号的偏转方向，得到当前工作温度下预设偏振方向的偏振信号。

第一衰减器1002，用于调节偏振信号的光功率，以得到预设光功率的第二光信号。

全反射镜1003，用于将第二光信号反射回被测光组件。

在本实施例中，当偏振调节器1001接收到第一光信号后，该偏振调节器1001在预设工作温度下调节第一光信号的偏振方向。可通过调整第一光信号的偏振方向，获取不同的信号抖动。其中，不同的信号抖动对应光信号的不同眼图余量。

利用偏振调节器1001调整第一光信号的偏振方向时，获取最小眼图余量所对应的偏振方向。再基于该偏振方向利用第一衰减器1002调整第一光信号的光功率，得到调整后的光功率。在本实施例中，该调整后的光功率需满足预设光功率。以当前时刻下的最小眼图余量、预设光功率所对应的第一光信号，作为第二光信号。然后将该第二光信号作为反射光，加载到第一光信号上，得到第三光信号。

在一种可实现的实施例中，请参考图5，光组件抗反射测试装置100还包括：分光器106；分光器106包括第一通道以及第二通道。

其中，分光器106，用于均分第一光信号，并分别通过第一通道、第二通道将均分后的第一光信号传递给反射控制单元101、射频检测单元102。

分光器106，还用于通过第一通道将第二光信号反射回被测光组件；用还于通过第一通道将第三光信号传递给射频检测单元102。

在本发明实施例中，分光器106可采用光耦合器件，该光耦合器件包括多路输入通道与多路输出通道。其中，光耦合器件的输出通道和输入通道可复用。例如，当需利用光耦合器件将被测光组件的第一光信号传输至反射控制单元101时，光耦合器件中与被测光组件间导通的通道则作为输出通道。当需利用光耦合器件将第二光信号传输至被测光组件时，光耦合器件中与被测光组件间导通的通道则作为输出通道。上述过程中，光耦合器件与被测光组件、反射控制单元101的连接关系并不会改变。

基于此，在光耦合器件中建立被测光组件与反射控制单元101间光路的通道则为上述第一通道。在光耦合器件中建立被测光组件与射频检测单元102间光路的通道则为上述第二通道。本实施例中，分光器106接收到被测光组件的第一光信号后将该第一光信号均分，然后分别通过第一通道以及第二通道将均分后的第一光信号传递给反射控制单元101、射频检测单元102。

在一种可实现的实施例中，请参考图5，光组件抗反射测试装置100还包括：功率计105；功率计105用于检测第一光信号与第二光信号的光功率。

在该实施例中，功率计105通过分光器106的第三通道与反射控制单元101、被测光组件连接。上述第三通道为：在光耦合器件中建立功率计105与被测光组件、反射控制单元101间光路的通道。当分光器106接收到被测光组件的第一光信号后，将该第一光信号均分，然后通过第一通道、第二通道以及第三通道将均分后的第一光信号分别传递给反射控制单元101、射频检测单元102以及功率计105。从而可以依据功率计105检测到第一光信号的光功率。依据射频检测单元102获取第一光信号的光眼图以及灵敏度。

本发明实施例中，反射控制单元101可利用全反射镜1003将第二光信号反射回被测光组件。在通过反射控制单元101调节第一光信号的过程中亦可通过全反射镜1003反射调节信号，并基于第三通道被传输到功率计105上。从而依据功率计105上的读数调整第一衰减器1002的衰减量，得到预设光功率的反射光。

具体的，反射控制单元101中调节的第一光信号通过第三通道被功率计105接收。利用功率计105检测被调节的第一光信号的光功率值。即第一衰减器1002可依据功率计105检测的光功率数值进行调整，直到功率计105检测的光功率数值满足预设光功率值。

在本发明实施例中，分光器106可均分光信号。可理解的是，分光器106是将第一光信号通过不同通道传输到目标单元。上述均分只改变光路，使之与目标单元建立光回路，并不改变光信号的光功率，灵敏度等射频参数。

在一种可实现的实施例中，光组件抗反射测试装置100还包括：隔离器，隔离器设置在第一通道的输出端。该第一通道的输出端即光耦合器件与射频检测单元102的连接处。该隔离器用于阻止特定的干扰信号对后续检测的抗反射值造成影响。上述特定的干扰信号可能是射频检测单元102中待检测的第三光信号中部分光信号通过第一通道反射回到被测光组件所产生。

请参考图6，射频检测单元102包括：长纤筒201、波形检测器203以及电信号检测器202；被测光组件分别与波形检测器203、长纤筒201、波形检测器203光学连接；长纤筒201还与电信号检测器202光学连接；其中，

波形检测器203，用于获取第一光信号、第三光信号的眼图；并获取第三光信号与预设光信号间的眼图余量。

电信号检测器202，用于检测第三光信号的灵敏度。其中，第三光信号的灵敏度包括第三光信号通过长纤筒201的第一灵敏度以及第三光信号未通过长纤筒201的第二灵敏度。

在本发明实施例中，长纤筒201可用于模拟不同长距下的光纤传输线。因此可通过该长纤筒201模拟不同距离下光纤传输线以获取所对应光信号的灵敏度。例如，通过长纤筒201的光信号的灵敏度以及未通过长纤筒201的光信号的灵敏度。

被测光组件分别与波形检测器203、长纤筒201、电信号检测器202光学连接。其中，波形检测器203用于获取第一光信号的眼图以及第三光信号的眼图。

在一种可实现的实施例中，波形检测器203可选用光采样示波器，可直接从光采样示波器上获取第一光信号以及第三光信号的光眼图，以及各光眼图与预设光信号间的眼图余量。其中，可从光采样示波器中获取外边距（margin）参数，以该外边距参数确定被测光组件的眼图余量。

电信号检测器202可将光信号转换为电信号。在一种可实现的实施例中，该电信号检测器202包含依次连接的带标准接收（Receive，RX）的光模块以及检测器。其中，检测器前端设置的带标准接收的光模块，可以直接选用满足协议性能要求的光模块。通过光模块光信号转换为电信号，以供检测器确定该电信号的射频参数。

本发明实施例中，可依据该电信号检测器202获取：第三光信号通过长纤筒201的第一灵敏度，第三光信号未通过长纤筒201的第二灵敏度以及第一光信号通过长纤筒201的第三灵敏度。

电信号检测器202还在第二灵敏度满足预设灵敏度时，依据第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定被测光组件的抗反射值。

在一种可实现方式中，射频参数可为灵敏度，第三光信号的灵敏度包括第三光信号通过长纤筒201的第一灵敏度以及第三光信号未通过长纤筒201的第二灵敏度。当第二灵敏度满足预设灵敏度时，依据第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定被测光组件的抗反射值。

在另一种可实现的实施例中，请参考图7，射频检测单元102还包括：第二衰减器204；第二衰减器204分别与长纤筒201、电信号检测器202连接。第二衰减器204，用于调节通过长纤筒201的调节第三光信号的光功率；电信号检测器202，用于检测通过第二衰减器204调节后的第三光信号的误码率以及光功率；并在误码率满足预设误码率后，将光功率值作为第一灵敏度值。

在本发明实施例中，可理解的是，该第二衰减器204用于衰减第三光信号的光功率，从而调整第三光信号的误码率。电信号检测器202则用于检测该被衰减后的第三光信号的误码率。其中，本实施例与上一实施例的区别在于，本实施例中的电信号检测器202用于检测第三光信号的误码率以及光功率。当第二衰减器204可使衰减后的第三光信号所对应的误码率等于预设误码率，则可将当前电信号检测器202检测的第三光信号的光功率值作为第一灵敏度的数值。然后依据第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定被测光组件的抗反射值。

综上，请参考图8，本发明实施例提供一种光组件抗反射测试装置100包括：反射控制单元101以及射频检测单元102；被测光组件分别与反射控制单元101、射频检测单元102构成光回路；反射控制单元101用于调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；射频检测单元102用于检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值。基于该光组件抗反射测试装置100的设计，可快速测试去除隔离器的光组件对反射光的抗反射值，以确定光组件的抵抗能力，并真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器的光组件对反射光的抵抗能力。

第二方面，请参考图9，本发明实施例还提供一种光组件抗反射测试方法，该光组件抗反射测试方法应用于光组件抗反射测试装置100，其中，光组件抗反射测试装置100包括反射控制单元101以及射频检测单元102；光组件抗反射测试方法包括以下步骤：

S1、利用被测光组件接收第一电信号，在预设工作温度下将第一电信号转换为第一光信号，并将第一光信号反馈给反射控制单元101以及射频检测单元102。

S2、利用反射控制单元101调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；其中，第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号。

S3、利用被测光组件接收第二光信号，以第二光信号为干扰信号调节第一光信号，得到第三光信号，并将第三光信号反馈给射频检测单元102；其中，第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小。

S4、利用射频检测单元102检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值。

示例性地，断开反射控制单元101与被测光组件的光回路，在预设工作温度下通过功率计105检测当前预设工作温度下第一光信号的光功率。通过波形检测器203以及电信号检测器202分别获取当前预设工作温度下第一光信号的眼图余量、第三灵敏度，其中，第三灵敏度为第一光信号通过长纤筒201的第一光信号对应的灵敏度。

然后，在当前预设工作温度下，接入反射控制单元101与待测组件的光回路。通过偏振调节器1001调节第一光信号的偏振方向，以获取第一光信号的最小眼图余量所对应的偏转方向。并在当前预设工作温度下，利用第一衰减器1002在偏振方向不变的条件下，将第一光信号的光功率值调节到预设值，得到预设光功率的第二光信号。利用全反射镜1003将第二光信号反射回被测光组件，将该第二光信号作为干扰信号。利用该干扰信号调节第一光信号，得到第三光信号。

其次，利用波形检测器203以及电信号检测器202分别获取第三光信号所对应的眼图余量、第一灵敏度以及第二灵敏度。并判断第三光信号的眼图余量是否小于预设眼图余量；若第三光信号的眼图余量大于预设眼图余量，则判断第二灵敏度是否小于预设灵敏度。若第二灵敏度大于预设灵敏度，则将当前预设工作温度下第一光信号的第三灵敏度与第三光信号的第一灵敏度做差，得到差值。该差值则可作为评估被测光组件的抗反射能力的参数。在该实施例中，若第三光信号的眼图余量小于预设眼图余量，则当前工作温度下的被测光组件不满足抗反射测试的基本要求。

在另一种可实现的实施例中，判断第三光信号的眼图余量是否小于预设眼图余量；若第三光信号的眼图余量大于预设眼图余量，则判断第三光信号过长纤筒201后的误码率能否通过第二衰减器204调节达到预设误码率。可理解的，通过第二衰减器204衰减通过长纤筒201的第三光信号的光功率，并判断能否通过该调节方式，使得衰减后通过长纤筒201的第三光信号的误码率等于预设误码率。若该误码率始终无法等于该预设误码率，则认定当前预设工作温度下，被测光组件的抗反射能力并不满足预设要求，没有继续测定抗反射能力参数值的必要。若能满足预设要求，则可以满足预设误码率的第三光信号所对应的光功率值作为第一灵敏度值，得到第一灵敏度。然后将该第一灵敏度与第一光信号的第三灵敏度做差。然后基于差值，评估被测光组件的抗反射能力。

在一种可实现的实施例中，在检测当前工作温度下被测光组件的评估参数后，可通过光组件控温单元103调节不同的工作温度，以在不同工作温度下获取不同的抗反射值，从而获取该被测光组件最佳的工作温度参数。

在射频参数包括灵敏度的情况下，利用射频检测单元102检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值的步骤可以通过以下方式实现：利用射频检测单元102检测第一光信号、第三光信号的灵敏度，并将第一光信号的灵敏度与第三光信号的灵敏度的差值作为被测光组件的抗反射值。

请参考图10，反射控制单元101包括依次设置的偏振调节器1001、第一衰减器1002以及全反射镜1003，利用反射控制单元101调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件的步骤可以通过以下方式实现：

S41、利用偏振调节器1001在预设工作温度下调节第一光信号的偏转方向，得到预设工作温度下预设偏振方向的偏振信号。

S42、利用第一衰减器1002调节偏振信号的光功率，得到预设光功率的第二光信号。

S43、利用全反射镜1003将第二光信号反射回被测光组件。

第三方面，本发明还提供一种光组件抗反射测试系统，包括上述第一方面中任一项的光组件抗反射测试装置100。

本发明实施例中提供的一种光组件抗反射测试系统包括上述第一方面中任一项的光组件抗反射测试装置100的全部技术手段以及技术效果，此处不再赘述。

第四方面，本发明还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任一项的光组件抗反射测试方法。

综上所述，本发明实施例提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，可以快速测试去除隔离器后的光组件对反射光的抗反射值，以确定被测光组件的抵抗能力，并在不依赖光模块的基础上，真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器的光组件对反射光的抵抗能力，并基于评估结果调整抗反射能力。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种光组件抗反射测试装置，其特征在于，包括：反射控制单元以及射频检测单元；所述射频检测单元包括：长纤筒、波形检测器以及电信号检测器；被测光组件分别与所述波形检测器、所述长纤筒、所述电信号检测器光学连接；所述长纤筒还与所述电信号检测器光学连接；

被测光组件分别与所述反射控制单元、所述射频检测单元构成光回路；

所述被测光组件，用于接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；

所述反射控制单元，用于调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；

所述被测光组件，还用于接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号；将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；

所述波形检测器，用于获取所述第一光信号的眼图、所述第三光信号的眼图；并获取所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量；

所述电信号检测器，用于检测所述第三光信号的灵敏度；其中，所述第三光信号的灵敏度包括所述第三光信号通过所述长纤筒的第一灵敏度以及未通过所述长纤筒的第二灵敏度；

所述电信号检测器，还用于检测所述第一光信号通过所述长纤筒的第三灵敏度；

所述电信号检测器，还用于在第二灵敏度满足预设灵敏度时，依据所述第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定所述被测光组件的抗反射值。

2.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括光组件控温单元，所述光组件控温单元与所述被测光组件通信连接，以通过所述光组件控温单元调节所述被测光组件的工作温度。

3.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：信号发射单元；所述信号发射单元用于向所述被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。

4.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜；

所述偏振调节器，用于在预设工作温度下调节所述第一光信号的偏转方向，得到预设工作温度下预设偏振方向的偏振信号；

所述第一衰减器，用于调节所述偏振信号的光功率，以得到预设光功率的第二光信号；

所述全反射镜，用于将所述第二光信号反射回被测光组件。

5.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：分光器；所述分光器包括第一通道以及第二通道；

所述分光器，用于均分所述第一光信号，并分别通过所述第一通道、所述第二通道将均分后的第一光信号分别反馈给所述反射控制单元、所述射频检测单元；

所述分光器，还用于通过所述第一通道将所述第二光信号反射回所述被测光组件；还用于通过所述第一通道将所述第三光信号通过反馈给所述射频检测单元。

6.根据权利要求5所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：功率计；所述功率计用于检测所述第一光信号与所述第二光信号的光功率。

7.根据权利要求5所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：隔离器，所述隔离器设置在所述第一通道的输出端，以隔离所述射频检测单元反射回所述被测光组件的第三光信号。

8.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述射频检测单元还包括：第二衰减器；所述第二衰减器分别与所述长纤筒、所述电信号检测器连接；

所述第二衰减器，用于调节通过所述长纤筒的第三光信号的光功率；

所述电信号检测器，用于检测通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的误码率以及通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率；

所述电信号检测器，还用于在所述误码率满足预设误码率后，将通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率值作为第一灵敏度值。

9.一种光组件抗反射测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-8任一项所述的光组件抗反射测试装置，其中，所述光组件抗反射测试装置包括反射控制单元以及射频检测单元；所述光组件抗反射测试方法包括：

利用被测光组件接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；

利用反射控制单元调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；

利用被测光组件接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号，并将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；

利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值；

所述射频参数包括灵敏度，所述利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值的步骤包括：

利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。

10.根据权利要求9所述的光组件抗反射测试方法，其特征在于，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜，所述利用反射控制单元调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件的步骤包括：

利用偏振调节器在预设工作温度下调节所述第一光信号的偏转方向，得到当前工作温度下预设偏振方向的偏振信号；

利用第一衰减器调节所述偏振信号的光功率，得到预设光功率的第二光信号；

利用全反射镜将所述第二光信号反射回被测光组件。

11.一种光组件抗反射测试系统，其特征在于，包括权利要求1-8中任一项所述的光组件抗反射测试装置。

12.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求9、权利要求10中任一项所述的光组件抗反射测试方法。