JP5672729B2 - 光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラム - Google Patents

Description

この発明は、光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラムに関する。

従来、光伝送装置などに用いられるレーザーモジュールには、光源であるレーザーダイオードの後方にフォトダイオードが配置されている。フォトダイオードは、レーザーダイオードから後方に出力される光パワーをモニタリングする。そして、レーザーモジュールは、フォトダイオードがモニタリングした光パワーを用いてレーザーダイオードの出力を監視していた。図１５は、従来のレーザーモジュールの構成の一例を示す図である。

図１５に示すように、レーザーモジュール１００は、ＬＤ（Laser Diode）１１０と、Ｌｅｎｓ１２０と、Ｉｓｏｌａｔｏｒ１３０と、Ｌｅｎｓ１４０とフェルール１５０と、ＰＤ（photo Diode）１６０とを有し、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ２００と接合されている。ＬＤ１１０は、レーザー光を発光する。Ｌｅｎｓ１２０は、ＬＤ１１０によって発光されたレーザー光を集光する。Ｉｓｏｌａｔｏｒ１３０は、Ｌｅｎｓ１２０からＬｅｎｓ１４０へのレーザー光とは異なる向きの光を遮断する。

Ｌｅｎｓ１４０は、Ｌｅｎｓ１２０を介して入射されたレーザー光をさらに集光する。フェルール１５０は、光ファイバであるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ２００とレーザーモジュールとを接合する。ＰＤ１６０は、Ｌｅｎｓ１２０とは逆の方向にＬＤ１１０から発光されたレーザー光を受光する。図１５に示すように、従来のレーザーモジュールでは、ＰＤ１６０によって受光されたレーザー光を監視することでＬＤ１１０の出力を監視していた。

また、レーザーモジュールの前方に光カップラが配置された光伝送装置が知られている。上記光伝送装置は、レーザーモジュールで発したレーザー光の一部を光カップラで分岐する。そして、光伝送装置は、分岐させたレーザー光の光パワーをモニタリングすることで、レーザーモジュールの出力を監視していた。図１６は、従来の光伝送装置の一例を示す図である。

図１６に示すように、光伝送装置２０００は、レーザーモジュール１００と、光カップラ３００と、ＰＤ４００とを有する。光カップラ３００は、レーザーモジュール１００から発せられたレーザー光を主信号光とモニター光に分岐する。ＰＤ４００は、モニター光を受光する。従来の光伝送装置２０００では、ＰＤ４００によって受光されたレーザー光を監視することでレーザーモジュール１００の出力を監視していた。

特開平７−７４３４３号公報

しかしながら、上述した従来技術では、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することができないという問題があった。具体的には、レーザーダイオードから後方に出力される光パワーを監視する技術では、レーザーダイオードの出力異常を検出しているに過ぎず、レーザーダイオードが発したレーザー光が光ファイバに達するまでの光出力系に発生した異常を検出することができない。さらに、レーザーダイオードから後方に出力される光パワーを監視する技術では、光ファイバに断線が生じた場合の異常も検出することができない。

また、光カップラにより分岐されたレーザー光の光パワーを監視する技術では、レーザーモジュールの出力異常を検出しているに過ぎず、レーザーダイオードが劣化しているのか、光出力系に異常が発生しているのか判定することができない。また、光カップラにより分岐されたレーザー光の光パワーを監視する技術では、光ファイバに断線が生じた場合の異常も検出することができない。

そこで、本開示の技術は、上述した従来技術の問題を鑑みて、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することが可能である光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラムを提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するため、開示の装置は、光源部が、光ファイバの方向に光を発する。反射部が、研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、光源部から発せられた光の一部を反射する。受光部が、光ファイバの方向から反射された反射光を受光する。記憶部が、自装置が正常に動作している場合に反射部によって反射されるであろう光を示す初期値を記憶する。更新部が、光源部が発する光の出力が変更された場合に初期値を新たに取得し、記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。検出部が、受光部によって受光された反射光を示す値と、記憶部によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する。

開示の装置は、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することを可能にする。

図１は、実施例１に係る光伝送装置の構成を示す図である。 図２は、実施例２に係るレーザーモジュールの構成を示す図である。 図３は、従来の光ファイバの端面を示す図である。 図４は、実施例２に係る光伝送装置の構成を示す図である。 図５は、実施例２に係るＲＯＭメモリーを示す図である。 図６は、実施例２に係るＦＰＧＡを示す図である。 図７は、実施例２に係るレーザーモジュールによる故障検出処理の手順を示す図である。 図８は、実施例２に係る光伝送装置による初期値設定処理の手順を示す図である。 図９は、実施例２に係る光伝送装置による故障検出処理の手順を示す図である。 図１０は、実施例３に係る光伝送装置の構成を示す図である。 図１１は、実施例３に係るＲＯＭメモリーを示す図である。 図１２は、実施例３に係るＦＰＧＡを示す図である。 図１３は、実施例３に係る光伝送装置による前兆予測処理の手順を示す図である。 図１４は、レーザーモジュールの故障検出プログラムを実行するコンピュータを示す図である。 図１５は、従来のレーザーモジュールの一例を示す図である。 図１６は、従来の光伝送装置の一例を示す図である。

以下に添付図面を参照して、本願の開示する光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラムの実施例を詳細に説明する。なお、本願の開示する光伝送装置、レーザーモジュール、レーザーモジュールの故障検出方法及びレーザーモジュールの故障検出プログラムは、以下の実施例により限定されるものではない。

実施例１に係る光伝送装置の構成を説明する。図１は、実施例１に係る光伝送装置の構成を示す図である。図１に示すように、光伝送装置１は、光源部２と、反射部３と、受光部４と、検出部５とを有し、自装置によって発したレーザー光を用いて故障検出処理を実行する。

光源部２は、光ファイバの方向に光を発する。反射部３は、研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、光源部２から発せられた光の一部を反射する。受光部４は、光ファイバの方向から反射された反射光を受光する。検出部５は、受光部４によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に反射部３によって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する。

上述したように、実施例１に係る光伝送装置１は、光ファイバ端面又はレンズにレーザー光の一部を反射し、光ファイバ方向から反射された反射光と正常時の反射光とを比較する。従って、実施例１に係る光伝送装置１は、光ファイバを接合する部分やレンズなどがずれることによる反射光の減少を検出することができる。また、実施例１に係る光伝送装置１は、光ファイバが断線することによる反射光の増加を検出することができる。すなわち、実施例１に係る光伝送装置１は、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することができる。

実施例２では、まず、実施例２に係るレーザーモジュールについて説明する。その後、実施例２に係る光伝送装置について説明する。

［実施例２に係るレーザーモジュールの構成］
まず、実施例２に係るレーザーモジュールの構成について説明する。図２は、実施例２に係るレーザーモジュール２０の構成を示す図である。図２に示すように、レーザーモジュール２０は、ＬＤ２１と、ＰＤ２２と、Ｌｅｎｓ２３と、Ｉｓｏｌａｔｏｒ２４と、Ｌｅｎｓ２５と、フェルール２６と、プリズム２７とを有している。また、レーザーモジュール２０は、ＰＤ２８と、コンパレータ２９とを有し、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０と接合されている。

Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０は、レーザーモジュール２０から出力されるレーザー光を伝送する光ファイバである。ＬＤ２１は、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向にレーザー光を出力する。ＰＤ２２は、ＬＤ２１がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０とは反対の方向に出力したレーザー光を受光する。

Ｌｅｎｓ２３は、ＬＤ２１によって出力されたレーザー光を集光する。具体的には、Ｌｅｎｓ２３は、ＬＤ２１によって、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向に出力されたレーザー光を集光する。Ｉｓｏｌａｔｏｒ２４は、ＬＤ２１によって出力されたレーザー光を一方向に透過させる素子である。具体的には、Ｉｓｏｌａｔｏｒ２４は、Ｌｅｎｓ２３からＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向に進行するレーザー光のみを透過する。

Ｌｅｎｓ２５は、Ｉｓｏｌａｔｏｒ２４を介して入射されたレーザー光を集光するとともに、レーザー光の一部を反射する。ここで、Ｌｅｎｓ２５にレーザー光を反射させるために施す処理について説明する。通常、光伝送装置が有するＬｅｎｓには、反射防止膜であるＡＲ（Anti Reflect）コートが施されている。例えば、ＡＲコートは、ＭｇＦ₂などを蒸着させることで形成された薄膜であり、薄膜の表面で反射する光と、薄膜を透過した後に反射する光とを干渉させることにより反射を防止する。

実施例２に係るＬｅｎｓ２５は、Ｌｅｎｓに対してＡＲコート処理を施す際に、微少の反射が発生するように処理を施されたＬｅｎｓである。例えば、Ｌｅｎｓ２５は、「−３０ｄＢｍ」程度の光を反射するようにＡＲコート処理が施される。なお、Ｌｅｎｓ２５によって反射されるレーザー光は、信号光に対して影響がない程度の光量である。

フェルール２６は、レーザーモジュール２０とＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０との接合部材である。ここで、フェルール２６によってレーザーモジュール２０と接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面について説明する。フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面は、レーザー光の一部を反射させるように研磨角度が調整されている。具体的には、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面は、レーザー光の入射効率を向上させるために研磨される角度とは異なる角度で研磨される。

図３は、従来の光ファイバの端面を示す図である。図３に示すように、通常の光ファイバの端面は、光ファイバへのレーザー光の入射効率を向上させるために、「７°〜８°」の角度で研磨処理が施される。フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面は、図３に示す研磨角度「７°〜８°」とは異なる角度で研磨処理が施される。例えば、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面は、「−３０ｄＢｍ」程度の光を反射するような角度に研磨処理が施される。なお、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射されるレーザー光は、信号光に対して影響がない程度の光量である。

図２に戻って、プリズム２７は、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射された反射光を、後述するＰＤ２８の方向に変化させる。ＰＤ２８は、光ファイバの方向から反射された反射光を受光する。具体的には、ＰＤ２８は、プリズム２７を介して入射される反射光を受光する。

コンパレータ２９は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する。具体的には、コンパレータ２９は、ＰＤ２８が反射光から変換した電流値と初期値との差分に基づいて出力を切り替え、図示しない出力先に出力する。例えば、コンパレータ２９は、ＰＤ２８が反射光から変換した電流値が、初期値と比較して、増加している場合と、減少している場合とで出力を切り替えて図示しない出力先に出力する。

ここで、初期値について説明する。初期値は、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光に対応する電流値である。なお、初期値は、レーザーモジュールの設計者によって予め設定される。

すなわち、実施例２に係るレーザーモジュール２０は、現時点でＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射される反射光が、正常時と比較して変化しているかどうかを判定することで故障を検出する。Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射される反射光は、例えば、機械的なストレスなどでＬｅｎｓ２５に位置ずれが生じた場合に減少する。また、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射される反射光は、例えば、機械的なストレスなどでフェルール２６におけるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０へのレーザー光の入射の焦点がずれた場合に減少する。また、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射される反射光は、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線した場合には、断線した部分でレーザー光の全反射が生じるために増加する。

従って、コンパレータ２９は、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光学系に異常が発生した場合と、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線した場合とで出力を切り替えることとなる。すなわち、実施例２に係るレーザーモジュール２０の管理者にとっては、コンパレータ２９からの出力を監視することによって、レーザーモジュール２０の光学系の異常や光ファイバの断線を検出することが可能である。

［実施例２に係る光伝送装置の構成］
次に、実施例２に係る光伝送装置の構成について説明する。図４は、実施例２に係る光伝送装置１０の構成を示す図である。なお、図４では、実施例２に係るレーザーモジュール２０と同様の構成要素については同一の符号を付し、実施例２に係るレーザーモジュール２０と同様の処理についてはその説明を省略する。

図４に示すように、光伝送装置１０は、レーザーモジュール２０ａと、出力部３０と、ＬＤ制御部４０と、ＲＯＭメモリー５０とを有する。そして、光伝送装置１０は、図４に示すように、Ａ／Ｄ（Analog to Digital）コンバータ６０と、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）７０とを有し、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０と接合されている。

出力部３０は、情報を出力する。例えば、出力部３０は、スピーカなどである。ＬＤ制御部４０は、ＬＤ２１から発せられるレーザー光の出力を制御する。例えば、ＬＤ制御部４０は、ＬＤ２１から発せられるレーザー光が任意の出力になるように制御する。ＲＯＭメモリー５０は、自装置が正常に動作している場合に反射されるであろう反射光を示す初期値を記憶する。具体的には、ＲＯＭメモリー５０は、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光を示す値を記憶する。

また、ＲＯＭメモリー５０は、ＬＤ２１がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０とは反対の方向に出力したレーザー光を示す値を記憶する。具体的には、ＲＯＭメモリー５０は、ＰＤ２２によって受光されたレーザー光を示す値を記憶する。また、ＲＯＭメモリー５０は、後述するＦＰＧＡ７０が故障検出に用いる閾値を記憶する。図５は、実施例２に係るＲＯＭメモリー５０を示す図である。

図５に示す「初期値」とは、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光を示す値を意味している。また、図５に示す「バックモニター値」とは、ＬＤ２１がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０とは反対の方向に出力したレーザー光を示す値を意味している。また、図５に示す「故障検出閾値」とは、後述するＦＰＧＡ７０が故障検出に用いる閾値を意味している。例えば、ＲＯＭメモリー５０は、図５に示すように、「初期値：−２７ｄＢｍ、バックモニター値：−２０ｄＢｍ、故障検出閾値：±５ｄＢｍ」を記憶する。なお、図５に示す「初期値」、「バックモニター値」、「故障検出閾値」は、管理者によって任意に設定される。

Ａ／Ｄコンバータ６０は、ＰＤ２２及びＰＤ２８によって受光された光をデジタル信号に変換する。具体的には、Ａ／Ｄコンバータ６０は、ＰＤ２２がレーザー光から変換した電流をデジタル信号に変換する。また、Ａ／Ｄコンバータ６０は、ＰＤ２８が反射光から変換した電流をデジタル信号に変換する。

ＦＰＧＡ７０は、光伝送装置１０が起動されるごとに初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。また、ＦＰＧＡ７０は、ＬＤ２１によって発せられる光の出力が任意の出力に変更された場合に初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＬＤ制御部４０によってＬＤ２１の出力が変更された場合に、初期値を取得してＲＯＭメモリー５０の初期値を更新する。

また、ＦＰＧＡ７０は、ＬＤ２２によって受光されたレーザー光の出力が変化した場合に初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２２によって受光されたレーザー光を示す値と、ＲＯＭメモリー５０によって記憶されたバックモニター値とを比較する。そして、ＦＰＧＡ７０は、レーザー光を示す値がバックモニター値と異なっている場合に、初期値を取得してＲＯＭメモリー５０の初期値を更新する。

例えば、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２２によって受光されたレーザー光を示す値が、図５に示す「バックモニター値：−２０ｄＢｍ」とは異なっていた場合に、初期値を取得してＲＯＭメモリー５０の初期値を更新する。なお、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値を初期値としてＲＯＭメモリー５０に格納する。

ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する。

また、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値が初期値と比較して所定の閾値を越えて増加していた場合には、光ファイバが断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値が初期値と比較して所定の閾値を越えて減少していた場合には、光ファイバへの光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定する。

具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値が初期値と比較して、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された故障検出閾値を超えて増加していた場合には、光ファイバが断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値が初期値と比較して、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された故障検出閾値を超えて減少していた場合には、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生していると判定する。

図６は、実施例２に係るＦＰＧＡ７０を示す図である。図６においては、縦軸が反射光の値を示し、横軸は、時間軸を示している。また、図６に示す「初期値」は、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光を示す値を意味している。また、図６に示す「故障検出閾値」とは、ＦＰＧＡ７０が故障の判定に用いる閾値を意味している。

図６に示すように、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値が初期値と比較して、故障検出閾値を超えて増加していた場合に、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値が初期値と比較して、故障検出閾値を超えて減少していた場合に、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生していると判定する。

例えば、図５に示すように「故障検出閾値」が「±５ｄＢｍ」であり、「初期値」が「−２７ｄＢｍ」であった場合には、ＦＰＧＡ７０は、以下に示すように故障検出を実行する。例えば、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８が受光した反射光を示す値が「−２１ｄＢｍ」以上であった場合に、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８が受光した反射光を示す値が「−３３ｄＢｍ」以下であった場合に、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生していると判定する。

そして、ＦＰＧＡ７０は、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の断線や光出力系の異常を検出した場合には、出力部３０からアラームが発生するように制御する。例えば、ＦＰＧＡ７０は、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線した場合と、光出力系に異常が発生した場合とで、出力部３０から異なるアラームを発生させるように制御する。すなわち、実施例２に係る光伝送装置１０の管理者にとっては、出力部３０から出力されるアラームによって、光ファイバの断線と光出力系の異常とを識別することができる。

次に、実施例２に係るレーザーモジュール２０による処理の手順と、実施例２に係る光伝送装置１０による処理の手順を説明する。なお、以下では、まず、実施例２に係るレーザーモジュール２０による処理の手順を説明したのち、実施例２に係る光伝送装置１０による処理の手順を説明する。

［実施例２に係るレーザーモジュールによる故障検出処理の手順］
図７は、実施例２に係るレーザーモジュール２０による故障検出処理の手順を示す図である。図７に示すように、実施例２に係るレーザーモジュール２０においては、故障検出のタイミングであると（ステップＳ１０１肯定）、まず、ＰＤ２８が反射光を受光したか否かを判定する（ステップＳ１０２）。例えば、実施例２に係るレーザーモジュール２０は、生産後や出荷時、あるいは運用時などに、管理者によって故障検出処理が実行されると、ＰＤ２８が反射光を受光したか否かを判定する。

ここで、ＰＤ２８によって反射光が受光されると（ステップＳ１０２肯定）、コンパレータ２９が初期値を取得して、差分を算出する（ステップＳ１０３）。具体的には、コンパレータ２９は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、初期値との差分を算出する。なお、ＰＤ２８が反射光を受光するまで、コンパレータ２９は待機状態である（ステップＳ１０２否定）。

そして、コンパレータ２９は、増減があるか否かを判定する（ステップＳ１０４）。ここで、増減があると判定した場合には（ステップＳ１０４肯定）、コンパレータ２９は、増加か否かを判定する（ステップＳ１０５）。ここで、増加であると判定した場合には（ステップＳ１０５肯定）、コンパレータ２９は、増加を通知して（ステップＳ１０６）、処理を終了する。

一方、増加ではないと判定した場合には（ステップＳ１０５否定）、コンパレータ２９は、減少を通知して（ステップＳ１０７）、処理を終了する。なお、増減がない場合には（ステップＳ１０４否定）、レーザーモジュール２０は処理を終了する。

なお、上記故障検出処理の手順では、レーザーモジュール２０の管理者が故障検出処理を実行した場合に、レーザーモジュール２０が故障検出処理を実行する場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定されるものではなく、例えば、レーザーモジュール２０が運用中である場合に、常時実行する場合であってもよい。

［実施例２に係る光伝送装置による初期値設定処理の手順］
図８は、実施例２に係る光伝送装置１０による初期値設定処理を示す図である。図８に示すように、実施例２に係る光伝送装置１０においては、起動されると（ステップＳ２０１肯定）、ＦＰＧＡ７０が、初期値を取得して、取得した初期値に更新する（ステップＳ２０２）。具体的には、光伝送装置１０が起動されると、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光から初期値を取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を取得した初期値に更新する。なお、光伝送装置１０は、起動されるまで待機状態である（ステップＳ２０１否定）。

そして、光伝送装置１０が終了されたか否かを判定する（ステップＳ２０３）。ここで、終了された場合には（ステップＳ２０３肯定）、光伝送装置１０は初期値設定処理を終了する。一方、終了されていない場合には（ステップＳ２０３否定）、ＦＰＧＡ７０が、ＬＤ２１が制御されたか否かを判定する（ステップＳ２０４）。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＬＤ制御部４０によってＬＤ２１の出力が制御されたか否かを判定する。

ここで、ＬＤ２１が制御された場合には（ステップＳ２０４肯定）、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光から初期値を取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を取得した初期値に更新する（ステップＳ２０２）。一方、ＬＤ２１が制御されていない場合には（ステップＳ２０４否定）、ＦＰＧＡ７０は、レーザー光が変化したか否かを判定する（ステップＳ２０５）。

具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２２によって受光されたレーザー光を示す値が、ＲＯＭメモリー５０によって記憶されたバックモニター値と比較して異なるか否かを判定する。ここで、レーザー光が変化していた場合には（ステップＳ２０５肯定）、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光から初期値を取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を取得した初期値に更新する（ステップＳ２０２）。

一方、レーザー光が変化していない場合には（ステップＳ２０５否定）、光伝送装置１０が終了されたか否かを判定する（ステップＳ２０３）。なお、上記ステップＳ２０４及びステップＳ２０５の判定は、平行して実行されている。

［実施例２に係る光伝送装置による故障検出処理の手順］
図９は、実施例２に係る光伝送装置１０による故障検出処理の手順を示す図である。図９に示すように、実施例２に係る光伝送装置１０においては、故障検出モードである場合には（ステップＳ３０１肯定）、ＰＤ２８が反射光を受光したか否かを判定する（ステップＳ３０２）。例えば、実施例２に係る光伝送装置１０は、例えば、管理者によって設定された故障検出モードの場合に、ＰＤ２８が反射光を受光したか否かを判定する。

ここで、ＰＤ２８によって反射光が受光されると（ステップＳ３０２肯定）、ＦＰＧＡ７０が初期値を取得して、差分を算出する（ステップＳ３０３）。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値との差分を算出する。なお、ＰＤ２８が反射光を受光するまで、ＦＰＧＡ７０は待機状態である（ステップＳ３０２否定）。

そして、ＦＰＧＡ７０は、差分が閾値を越えたか否かを判定する（ステップＳ３０４）。具体的には、ＦＰＧＡ７０は、算出した差分がＲＯＭメモリー５０によって記憶された故障検出閾値を超えたか否かを判定する。ここで、差分が閾値を越えたと判定した場合には（ステップＳ３０４肯定）、ＦＰＧＡ７０は、増加か否かを判定する（ステップＳ３０５）。

ここで、増加していると判定した場合には（ステップＳ３０５肯定）、ＦＰＧＡ７０は、光ファイバが断線していると判定して（ステップＳ３０６）、光ファイバの断線を示すアラームを出力部３０から出力させる（ステップＳ３０８）。一方、増加していないと判定した場合には（ステップＳ３０５否定）、ＦＰＧＡ７０は、光出力系に異常が発生していると判定して（ステップＳ３０７）、光出力系の異常を示すアラームを出力部３０から出力させる（ステップＳ３０８）。

なお、反射光を示す値と初期値との差分が閾値を越えていない場合には（ステップＳ３０４否定）、光伝送装置１０は、反射光を受光するまで待機する。上記した実施例２に係る光伝送装置１０による故障検出処理の手順では、光伝送装置１０が故障検出モードになっている場合に、故障検出処理を実行する場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定されるものではなく、例えば、光伝送装置１０が起動している場合に常時実行する場合であってもよい。

［実施例２の効果］
上述したように、実施例２によれば、ＬＤ２１が光ファイバの方向に光を発し、研磨角度を調整したＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面、又は、反射防止膜の反射率を調整したＬｅｎｓ２５が、ＬＤ２１から発せられた光の一部を反射する。そして、ＰＤ２８がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射された反射光を受光する。そして、コンパレータ２９が、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係るレーザーモジュール２０は、フェルール２６やＬｅｎｓ２５などがずれることによる反射光の減少を検出することができる。また、実施例２に係るレーザーモジュール２０は、光ファイバが断線することによる反射光の増加を検出することができる。すなわち、実施例２に係るレーザーモジュール２０は、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することが可能となる。

また、実施例２によれば、ＬＤ２１がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向に光を発し、研磨角度を調整したＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面、又は、反射防止膜の反射率を調整したＬｅｎｓ２５が、ＬＤ２１から発せられた光の一部を反射する。そして、ＰＤ２８がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の方向から反射された反射光を受光する。そして、ＦＰＧＡ７０が、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、フェルール２６やＬｅｎｓ２５などがずれることによる反射光の減少を検出することができる。また、実施例２に係る光伝送装置１０は、光ファイバが断線することによる反射光の増加を検出することができる。すなわち、実施例２に係る光伝送装置１０は、光出力系の異常や光ファイバの断線を検出することが可能となる。

また、実施例２によれば、ＲＯＭメモリー５０が、初期値を記憶する。そして、ＦＰＧＡ７０が、反射光を示す値とＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、適宜故障検出を行うことが可能になる。

また、実施例２によれば、ＦＰＧＡ７０が、自装置が起動されるごとに初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。そして、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値と新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、ＬＤ２１の出力の変動に対応した故障検出が可能になる。

また、実施例２によれば、ＦＰＧＡ７０は、ＬＤ２１によって発せられる光の出力が任意の出力に変更された場合に初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。そして、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値と新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、ＬＤ２１の出力の制御に対応した故障検出が可能になる。

また、実施例２によれば、ＰＤ２２が、ＬＤ２１によってＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０とは異なる方向に発せられるレーザー光を受光する。そして、ＦＰＧＡ７０が、ＰＤ２２によって受光されたレーザー光の出力が変化した場合に初期値を新たに取得し、ＲＯＭメモリー５０によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する。そして、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値と新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、従来の技術を用いることで、ＬＤ２１の出力の変動に容易に対応することが可能になる。

また、実施例２によれば、ＦＰＧＡ７０が、反射光を示す値が初期値と比較して所定の閾値を越えて増加していた場合には、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０は、反射光を示す値が初期値と比較して所定の閾値を越えて減少していた場合には、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０へのレーザー光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定する。従って、実施例２に係る光伝送装置１０は、初期値の精度を考慮した故障検出が可能になる。また、実施例２に係る光伝送装置１０は、光ファイバの断線と光出力系の異常とを識別することが可能になる。

上記実施例２では、反射光を示す値と初期値との差分が故障検出閾値を超えるか否かにより、故障を検出する場合について説明した。実施例３では、段階的に設定した閾値を用いて故障を予測する場合について説明する。

［実施例３に係る光伝送装置の構成］
まず、実施例３に係る光伝送装置の構成について説明する。図１０は、実施例３に係る光伝送装置１０ａの構成を示す図である。図１０に示すように、実施例３に係る光伝送装置１０ａは、実施例２に係る光伝送装置１０と比較して、ＲＯＭメモリー５０ａによって記憶される内容と、ＦＰＧＡ７０ａによる処理内容とが実施例２とは異なる。以下、これらを中心に説明する。

ＲＯＭメモリー５０ａは、「初期値」、「バックモニター値」及び「故障検出閾値」に加えて、「前兆予測閾値」を記憶する。図１１は、実施例３に係るＲＯＭメモリー５０を示す図である。図１１に示す「初期値」とは、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光を示す値を意味している。また、図１１に示す「バックモニター値」とは、ＬＤ２１がＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０とは反対の方向に出力したレーザー光を示す値を意味している。また、図１１に示す「故障検出閾値」とは、ＦＰＧＡ７０が故障検出に用いる閾値を意味している。また、図１１に示す「前兆予測閾値」とは、ＦＰＧＡ７０が故障の前兆予測に用いる閾値を示している。

例えば、ＲＯＭメモリー５０は、図１１に示すように、「初期値：−２７ｄＢｍ、バックモニター値：−２０ｄＢｍ、故障検出閾値：±５ｄＢｍ、前兆予測閾値：±３ｄＢｍ」を記憶する。なお、図１１に示す「初期値」、「バックモニター値」、「故障検出閾値」、「前兆予測閾値」は、管理者によって任意に設定される。

ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が初期値と比較して増加していた場合に、当該反射光を示す値の増加分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には光ファイバが断線する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、増加分の値が複数の閾値を越えていた場合には光ファイバが断線していると判定する。

また、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が初期値と比較して減少していた場合に、当該反射光を示す値の減少分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には、光ファイバへの光の出力に関与する光出力系に異常が発生する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、減少分の値が複数の閾値を越えていた場合には光ファイバへの光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定する。

具体的には、ＦＰＧＡ７０ａは、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値がＲＯＭメモリー５０ａによって記憶された前兆予測閾値を越えており、故障検出閾値を越えていない場合に、故障の前兆であると判定する。図１２は、実施例３に係るＦＰＧＡ７０ａを示す図である。

図１２においては、縦軸が反射光の値を示し、横軸は、時間軸を示している。また、図１２に示す「初期値」は、正常時に、Ｌｅｎｓ２５によって反射される反射光と、フェルール２６によって接合されるＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の端面によって反射される反射光とを合計した反射光を示す値を意味している。また、図１２に示す「故障検出閾値」とは、ＦＰＧＡ７０ａが故障の判定に用いる閾値を意味している。また、図１２に示す「前兆予測閾値」とは、ＦＰＧＡ７０ａが故障の前兆の判定に用いる閾値を意味している。

図１２に示すように、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が初期値と比較して、前兆予測閾値を越え、かつ、故障検出閾値未満で増加していた場合には、光ファイバが断線する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が初期値と比較して、前兆予測閾値を越え、かつ、故障検出閾値未満で減少していた場合には、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生する前兆であると判定する。

例えば、図１１に示すように「前兆予測閾値」が「±３ｄＢｍ」であり、「故障検出閾値」が「±５ｄＢｍ」であり、「初期値」が「−２７ｄＢｍ」であった場合には、ＦＰＧＡ７０ａは、以下に示すように故障の前兆を判定する。例えば、ＦＰＧＡ７０ａは、ＰＤ２８が受光した反射光を示す値が「−２２ｄＢｍ」以下であり、かつ、「−２４ｄＢｍ」より高い場合に、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、ＰＤ２８が受光した反射光を示す値が「−３２ｄＢｍ」以上であり、かつ、「−３０ｄＢｍ」より低い場合に、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生する前兆であると判定する。

さらに、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が故障検出閾値を越えて増加していた場合には、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が故障検出閾値を越えて減少していた場合には、Ｌｅｎｓ２５やフェルール２６などの光出力系に異常が発生していると判定する。

そして、ＦＰＧＡ７０ａは、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０の断線の前兆や光出力系の異常の前兆を判定した場合には、出力部３０からアラームが発生するように制御する。例えば、ＦＰＧＡ７０ａは、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線する前兆であると判定した場合と、光出力系に異常が発生する前兆である場合とで、出力部３０から異なるアラームを発生させるように制御する。すなわち、実施例３に係る光伝送装置１０ａの管理者にとっては、出力部３０から出力されるアラームによって、光ファイバの断線と光出力系の異常とを予測することができる。

［実施例３に係る光伝送装置による故障検出処理の手順］
次に、実施例３に係る光伝送装置による故障検出処理の手順を説明する。図１３は、実施例３に係る光伝送装置１０ａによる故障検出処理の手順を示す図である。なお、図１３に示すステップＳ４０１〜ステップＳ４０３は、図９に示すステップＳ３０１〜ステップＳ３０３と同様であることから詳細な説明は省略する。また、図１３に示すステップＳ４０６〜ステップＳ４０８は、図９に示すステップＳ３０５〜ステップＳ３０７と同様であることから詳細な説明は省略する。

図１３に示すように、実施例３に係る光伝送装置１０ａにおいては、故障検出モードで受光した反射光の値と初期値との差分を算出すると（ステップＳ４０１〜ステップＳ４０３）、ＦＰＧＡ７０ａが前兆予測閾値を越えたか否かを判定する（ステップＳ４０４）。具体的には、ＦＰＧＡ７０ａは、ＰＤ２８によって受光された反射光を示す値と初期値との差分が、ＲＯＭメモリー５０ａによって記憶された前兆予測閾値を越えたか否かを判定する。

ここで、差分が前兆予測閾値を越えたと判定した場合には（ステップＳ４０４肯定）、ＦＰＧＡ７０ａは、差分が故障検出閾値を越えたか否かを判定する（ステップＳ４０５）。具体的には、ＦＰＧＡ７０ａは、算出した差分がＲＯＭメモリー５０ａによって記憶された故障検出閾値を超えたか否かを判定する。ここで、差分が故障検出閾値を越えたと判定した場合には（ステップＳ４０５肯定）、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光の増減に基づいて、光ファイバの断線又は光出力系の異常を判定する（ステップＳ４０６〜ステップＳ４０８）。そして、ＦＰＧＡ７０ａは、光ファイバの断線又は光出力系の異常を示すアラームを出力部３０から出力させる（ステップＳ４１２）。

一方、差分が故障検出閾値を越えていないと判定した場合には（ステップＳ４０５否定）、ＦＰＧＡ７０ａは、増加か否かを判定する（ステップＳ４０９）。ここで、増加していると判定した場合には（ステップＳ４０９肯定）、ＦＰＧＡ７０ａは、光ファイバが断線する前兆と判定して（ステップＳ４１０）、光ファイバが断線する前兆を示すアラームを出力部３０から出力させる（ステップＳ４１２）。一方、増加していないと判定した場合には（ステップＳ４０９否定）、ＦＰＧＡ７０ａは、光出力系に異常が発生する前兆であると判定して（ステップＳ４１１）、光出力系に異常が発生する前兆を示すアラームを出力部３０から出力させる（ステップＳ４１２）。

なお、反射光を示す値と初期値との差分が前兆予測閾値を越えていない場合には（ステップＳ４０４否定）、光伝送装置１０ａは、反射光を受光するまで待機する。上記した実施例３に係る光伝送装置１０ａによる前兆予測処理の手順では、光伝送装置１０ａが故障検出モードになっている場合に、前兆予測処理を実行する場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定されるものではなく、例えば、光伝送装置１０ａが起動している場合に常時実行する場合であってもよい。

［実施例３の効果］
上述したように、実施例３によれば、ＦＰＧＡ７０ａが、反射光を示す値が初期値と比較して増加していた場合に、増加分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合にはＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、増加分の値が複数の閾値を越えていた場合にはＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０が断線していると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、反射光を示す値が初期値と比較して減少していた場合に、減少分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には、Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０へのレーザー光の出力に関与する光出力系に異常が発生する前兆であると判定する。また、ＦＰＧＡ７０ａは、減少分の値が複数の閾値を越えていた場合にはＯｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ８０への前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定する。従って、実施例３に係る光伝送装置１０ａは、光ファイバの断線や光出力系の異常を検出するとともに、光ファイバの断線や光出力系の異常を予測することが可能になる。

さて、これまで実施例１〜３について説明したが、上述した実施例１〜３以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、以下では、種々の異なる実施例を（１）〜（５）に区分けして説明する。

（１）初期値設定
上記実施例２及び３では、光伝送装置が起動された時点、ＬＤの出力が制御された時点及びＰＤ２２によって受光されたレーザー光が変化した時点それぞれでＦＰＧＡが初期値を更新する場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、上述した各時点のうち１時点のみで初期値を更新する場合であってもよい。

（２）処理部
上記実施例２及び３では、故障検出処理を実行する処理部として、ＦＰＧＡを用いる場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、又は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）などの電子回路を用いる場合であってもよい。

（３）記憶部
上記実施例２及び３では、初期値を記憶する記憶部として、ＲＯＭメモリーを用いる場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ（Flash Memory）などの半導体メモリー素子、または、ハードディスク、光ディスクなどの記憶装置を用いる場合であってもよい。

（４）システム構成等
図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示された構成要素と同一であることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、図４に示すＦＰＧＡ７０とＬＤ制御部４０とを一つの制御部として統合してもよい。また、一方で、図４に示すＲＯＭメモリー５０を、初期値を記憶する初期値記憶部と、閾値を記憶する閾値記憶部とに分散してもよい。

また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の全部または一部を手動的に行うこともできる。例えば、図８におけるＬＤ２１から出力されるレーザー光の制御を手動で行ってもよい。また、ＦＰＧＡ７０を光伝送装置１０の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしてもよい。また、ＦＰＧＡ７０を別の装置が有し、ネットワークに接続されて協働することで、上記した光伝送装置１０の機能を実現するようにしてもよい。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。

（５）レーザーモジュールの故障検出プログラム
ところで、上記実施例１では、ハードウェアロジックによって各種の処理を実現する場合を説明したが、本実施例はこれに限定されるものではなく、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行するようにしてもよい。そこで、以下では、図１４を用いて上記実施例１に示した光伝送装置１と同様の機能を有するレーザーモジュールの故障検出プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図１４は、レーザーモジュールの故障検出プログラムを実行するコンピュータを示す図である。

図１４に示すように、情報処理装置としてのコンピュータ１０００は、キーボード１０２０、モニタ１０３０、ＲＡＭ１０４０、ＨＤＤ１０５０、ＣＰＵ１０６０およびＲＯＭ１０７０を有する。そして、キーボード１０２０、モニタ１０３０、ＲＡＭ１０４０、ＨＤＤ１０５０、ＣＰＵ１０６０およびＲＯＭ１０７０は、バス１０１０などで接続される。

ＲＯＭ１０７０には、上記の実施例１に示した光伝送装置１と同様の機能を発揮するレーザーモジュールの故障検出プログラム、つまり、図１４に示すように、光源プログラム１０７１、反射プログラム１０７２が予め記憶されている。また、ＲＯＭ１０７０には、受光プログラム１０７３、検出プログラム１０７４が予め記憶されている。なお、これらのプログラム１０７１〜１０７４については、図１に示した光伝送装置１の各構成要素と同様、適宜統合または分散してもよい。

そして、ＣＰＵ１０６０が、これらのプログラム１０７１〜１０７４をＲＯＭ１０７０から読み出して実行することで、図１４に示すように、各プロセスとして機能するようになる。すなわち、光源プロセス１０６１、反射プロセス１０６２、受光プロセス１０６３、検出プロセス１０６４が機能するようになる。なお、各プロセス１０６１〜１０６４は、図１に示した光源部２、反射部３、受光部４、検出部５にそれぞれ対応する。

なお、上記各プログラム１０７１〜１０７４は、必ずしも最初からＲＯＭ１０７０に記憶させておく必要は無く、他の記憶媒体や記憶装置に各プログラムを記憶させておき、コンピュータ１０００がこれらから各プログラムを読み出して実行するようにしてもよい。他の記憶媒体や記憶装置とは、例えば、コンピュータ１０００に挿入されるフレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」である。また、他の記憶媒体や記憶装置とは、例えば、コンピュータ１０００の内外に備えられるＨＤＤなどの「固定用物理媒体」である。また、他の記憶媒体や記憶装置とは、公衆回線、インターネット、ＬＡＮ、ＷＡＮなどを介してコンピュータ１０００に接続される「他のコンピュータ（またはサーバ）」である。

以上の本実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。

（付記１）光ファイバの方向に光を発する光源部と、
研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源部から発せられた光の一部を反射する反射部と、
前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光部と、
前記受光部によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に前記反射部によって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する検出部と、
を有することを特徴とする光伝送装置。

（付記２）前記初期値を記憶する記憶部をさらに有し、
前記検出部は、前記反射光を示す値と前記記憶部によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出することを特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記３）自装置が起動されるごとに前記初期値を新たに取得し、前記記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する更新部をさらに有し、
前記検出部は、前記反射光を示す値と前記更新部によって新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出することを特徴とする付記２に記載の光伝送装置。

（付記４）前記更新部は、前記光源部によって発せられる光の出力が任意の出力に変更された場合に前記初期値を新たに取得し、前記記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新し、
前記検出部は、前記反射光を示す値と前記更新部によって新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出することを特徴とする付記３に記載の光伝送装置。

（付記５）前記光源部によって前記光とは異なる方向に発せられる異方向光を受光する異方向光受光部をさらに有し、
前記更新部は、前記異方向光受光部によって受光された異方向光の出力が変化した場合に前記初期値を新たに取得し、前記記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新し、
前記検出部は、前記反射光を示す値と前記更新部によって新たに更新された初期値との差分に基づいて故障を検出することを特徴とする付記３に記載の光伝送装置。

（付記６）前記検出部は、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて増加していた場合には、前記光ファイバが断線していると判定し、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて減少していた場合には、前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定することを特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記７）前記検出部は、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して増加していた場合に、当該反射光を示す値の増加分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には前記光ファイバが断線する前兆であると判定し、前記増加分の値が複数の閾値を越えていた場合には前記光ファイバが断線していると判定し、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して減少していた場合に、当該反射光を示す値の減少分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には、前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生する前兆であると判定し、前記減少分の値が複数の閾値を越えていた場合には前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定することを特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記８）光ファイバの方向に光を発する光源部と、
研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源部から発せられた光の一部を反射する反射部と、
前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光部と、
前記受光部によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に前記反射部によって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する検出部と、
を有することを特徴とするレーザーモジュール。

（付記９）光ファイバの方向に光を発する光源ステップと、
研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源ステップから発せられた光の一部を反射する反射ステップと、
前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光ステップと、
前記受光ステップによって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に前記反射ステップによって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する検出ステップと、
を含んだことを特徴とするレーザーモジュールの故障検出方法。

（付記１０）光ファイバの方向に光を発する光源手順と、
研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源手順から発せられた光の一部を反射する反射手順と、
前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光手順と、
前記受光手順によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に前記反射手順によって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する検出手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするレーザーモジュールの故障検出プログラム。

１、１０ 光伝送装置
２ 光源部
３ 反射部
４ 受光部
５ 検出部
２０、２０ａ レーザーモジュール
２１ ＬＤ
２２、２８ ＰＤ
２３、２５ Ｌｅｎｓ
２４ Ｉｓｏｌａｔｏｒ
２６ フェルール
２７ プリズム
２９ コンパレータ
３０ 出力部
４０ ＬＤ制御部
５０、５０ａ ＲＯＭメモリー
６０ Ａ／Ｄコンバータ
７０、７０ａ ＦＰＧＡ
８０ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ

Claims (7)

1. 光ファイバの方向に光を発する光源部と、
   研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源部から発せられた光の一部を反射する反射部と、
   前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光部と、
   自装置が正常に動作している場合に前記反射部によって反射されるであろう光を示す初期値を記憶する記憶部と、
   前記光源部が発する光の出力が変更された場合に前記初期値を新たに取得し、前記記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新する更新部と、
   前記受光部によって受光された反射光を示す値と、前記記憶部によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する検出部と、
   を有することを特徴とする光伝送装置。
2. 前記更新部は、自装置が起動されるごとに前記初期値を新たに取得し、前記記憶部によって記憶された初期値を新たに取得した初期値に更新することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
3. 前記検出部は、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて増加していた場合には、前記光ファイバが断線していると判定し、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて減少していた場合には、前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
4. 前記検出部は、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して増加していた場合に、当該反射光を示す値の増加分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には前記光ファイバが断線する前兆であると判定し、前記増加分の値が複数の閾値を越えていた場合には前記光ファイバが断線していると判定し、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して減少していた場合に、当該反射光を示す値の減少分の値が段階的に設定された複数の閾値間にある場合には、前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生する前兆であると判定し、前記減少分の値が複数の閾値を越えていた場合には前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
5. 光ファイバの方向に光を発する光源部と、
   研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源部から発せられた光の一部を反射する反射部と、
   前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光部と、
   前記受光部によって受光された反射光を示す値と、自装置が正常に動作している場合に前記反射部によって反射されるであろう光を示す初期値との差分に基づいて故障を検出する検出部とを有し、
   前記検出部は、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて増加していた場合には、前記光ファイバが断線していると判定し、前記反射光を示す値が前記初期値と比較して所定の閾値を越えて減少していた場合には、前記光ファイバへの前記光の出力に関与する光出力系に異常が発生していると判定する
   ことを特徴とするレーザーモジュール。
6. 光ファイバの方向に光を発する光源ステップと、
   研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源ステップから発せられた光の一部を反射する反射ステップと、
   前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光ステップと、
   自装置が正常に動作している場合に前記反射ステップによって反射されるであろう光を示す初期値を前記光の出力が変更された場合に新たに取得し、記憶部によって記憶された前記初期値を新たに取得した初期値に更新する更新ステップと、
   前記受光ステップによって受光された反射光を示す値と、前記記憶部によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する検出ステップと、
   を含んだことを特徴とするレーザーモジュールの故障検出方法。
7. 光ファイバの方向に光を発する光源手順と、
   研磨角度を調整した光ファイバの端面、又は、反射防止膜の反射率を調整した集光レンズにより、前記光源手順から発せられた光の一部を反射する反射手順と、
   前記光ファイバの方向から反射された反射光を受光する受光手順と、
   自装置が正常に動作している場合に前記反射手順によって反射されるであろう光を示す初期値を前記光の出力が変更された場合に新たに取得し、記憶部によって記憶された前記初期値を新たに取得した初期値に更新する更新手順と、
   前記受光手順によって受光された反射光を示す値と、前記記憶部によって記憶された初期値との差分に基づいて故障を検出する検出手順と、
   をコンピュータに実行させることを特徴とするレーザーモジュールの故障検出プログラム。

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