TWI581581B - Detection System of Optical Fiber Routing Quality and Its Detection Method - Google Patents

Description

光纖路由品質之查測系統及其查測方法

本發明是有關於一種光纖路由品質之查測系統及其查測方法，特別是有關於一種利用反射鏡元件用以取代檢測人員在進行供裝前路由品質查測時所需攜帶量測設備，以進行光纖路由品質查測之光纖路由品質之查測系統及其查測方法。

以網路技術和應用趨勢來看，光纖網路具備寬頻帶的優點可以提供多樣化的服務，並克服傳輸瓶頸頻寬問題有逐漸取代傳統銅線網路的傾向。其中被動光網路(Passive Optical Network；PON)形式是目前最普遍使用的光纖網路架構，其隨著技術的成熟促使在接取網的應用日益普及，不僅性能可靠而且能夠有效節省光纖網路資源，更是完成光纖到家最後一哩網路(last-mile network)目標的主要途徑，因此電信業者莫不積極投入於PON建設以期能夠擴大寬頻網路涵蓋率來達到全光網路的目標。PON的網路架構是利用光分歧器將機房端的主軸光纖與多數的用戶端的分歧光纖連接成點對多點的樹形分支網路形式，其建設主要是包含從機房端將主軸光纖引進到節點(FTTN)網路，將原有銅纜交接箱取代成為光化交接箱，再從光化交接箱引接分歧光纖至用戶端的「全光化光纖到 家(FTTH)」網路兩個部分。在完成上述光纖網路建設之後要進行用戶端設備供裝之前，必須要對光纖路由品質作進一步查測以便確認其是否符合傳輸系統之要求。

一般查測的方法因被動光網路樹形分支網路形 式，使其光時域反射的軌跡在光分歧器之後所有反射訊號均疊加在一起，而造成無法單獨辨識分歧路由的困難，解決的方法是以光分歧器所在的光交化箱為界接點，分別從機房端與光化交接箱及光化交接箱與用戶端兩個方向來進行查測。它可以避開光分歧所造成的上述困擾，但需要派人攜帶設備至現場來進行全區間光損失、光時域反射器波形掃瞄及光纖全長距離等項目查測。然而這對電信業者而言則必須投入大量的量測設備與人員訓練成本，且所測得之數據必須要攜回機房端再進行記錄，其不僅費時且容易出錯。由此可見，上述習用方式仍有諸多缺失，實非良善之設計，而亟待加以改良。加拿大專利第CA2737974C號曾提到結合反射鏡元件與光時域反射儀(optical time domain reflectometers,OTDR)組合，將反射鏡元件裝設於所要監測的每一分歧光纖網路末端，藉由反射鏡元件提高反射由OTDR所發出之脈衝訊號強度來得知光纖網路的狀態，以作為平常網路維運時定期光纖網路品質監測。為從光分歧器之後眾多疊加的訊號中分辨出其來自於反射鏡元件的反射訊號，在設計上該反射鏡元件採用特殊設計讓OTDR所發出1625/1650nm兩種監測波長產生不同的反射強度，藉由觀察兩監測波長固定反射比率來確認為來自於反射鏡元件的訊號。然而兩波長設計的反射鏡元件的製造成本並不低，且要完成光纖網路品質監測必須在每一用戶端的分歧光纖網路末端裝設該反射鏡元 件，這對電信業者而言是非常沉重的成本，並且是造成其實用化的阻礙關鍵。

鑒於以上習知被動光網路路由品質查測方法的缺 失及反射鏡元件與OTDR結合用以定期光纖網路品質監的優劣分析，本案發明人乃亟思加以改良創新，提出一種被動式光纖接取網之光纖路由品質之查測系統及其查測方法，以期針對現有技術之缺失加以改善，進而增進產業上之實施利用。

有鑑於上述習知技藝之問題，本發明之目的就是在提供一種光纖路由品質之查測系統及其查測方法，將反射鏡元件用以取代查測人員在進行供裝前路由品質查測時所需攜帶量測設備。由於路由品質查測每次只裝設一反射鏡元件於光纖網路上，故無須使用雙波長的反射鏡元件設計，即可從單一反射峰得知為來自於反射鏡元件，更進一步降低查測的成本，以解決習知技術所存在之缺失。

根據本發明之目的，提出一種光纖路由品質之查測系統，其包含查測模組、至少一光纖模組及反射光學模組。查測模組產生查測光束。至少一光纖模組一端耦接查測模組，並接收查測光束，且至少一光纖模組之另一端反射查測光束，以形成另一查測光束。反射光學模組可活動地設置於至少一光纖模組之另一端，反射光學模組接收至少一光纖模組所傳輸之查測光束時，反射光學模組則反射查測光束，以形成反射光束。其中，查測模組經由至少一光纖模組分別接收另一查測光 束及反射光束，以分別分析出第一反射波形訊息及第二反射波形訊息，且查測模組比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊。

較佳地，至少一光纖模組包含主軸光纖、至少一 光分歧器及至少一分歧光纖。主軸光纖一端耦接查測模組，並接收查測光束。至少一光分歧器一端耦接主軸光纖之另一端，並接收查測光束。至少一分歧光纖一端耦接至少一光分歧器，並接收查測光束，且至少一分歧光纖之另一端反射查測光束，以形成另一查測光束。其中，於至少一分歧光纖接收查測光束且至少一分歧光纖之另一端活動地接合反射光學模組時，至少一分歧光纖則傳輸之查測光束至反射光學模組，以使反射光學模組則反射查測光束，而形成反射光束。

較佳地，至少一光纖模組更包含複數個分歧光 纖，且第一反射波形訊息及第二反射波形訊息分別具有相互對應之第一波形、第二波形及第三波形，第一波形表示為至少一光分歧器之位置，第二波形表示為複數個分歧光纖中之其一分歧光纖之位置，第三波形表示為複數個分歧光纖中之另一分歧光纖之位置。

較佳地，查測模組比對第一反射波形訊息之第一 波形、第二波形及第三波形與第二反射波形訊息之第一波形、第二波形及第三波形，且於查測模組判斷第一反射波形訊息中其一波形不符合第二反射波形訊息中之對應其一波形之波形時，查測模組則獲得波形掃描資訊。

較佳地，光纖路由品質之查測系統更包含路由選 擇模組，其設置於查測模組與至少一光纖模組之間，路由選擇模組可活動地控制查測模組與至少一光纖模組之接合或分離。

根據本發明之另一目的，提出一種光纖路由品質之查測方法，其應用於光纖路由品質之查測系統，查測系統包含查測模組、至少一光纖模組及反射光學模組，光纖路由品質之查測方法包含下列步驟：藉由查測模組產生查測光束；經由至少一光纖模組接收查測光束，並藉由至少一光纖模組之另一端反射該查測光束，以形成另一查測光束；藉由查測模組產生查測光束；經由至少一光纖模組接收查測光束，並傳輸查測光束至反射光學模組，以使反射光學模組反射查測光束而形成反射光束；藉由查測模組分別接收另一查測光束及反射光束，以分別分析出第一反射波形訊息及第二反射波形訊息；以及藉由查測模組比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊。

較佳地，至少一光纖模組更包含主軸光纖、至少一光分歧器及至少一分歧光纖，光纖路由品質之查測方法於經由至少一光纖模組接收查測光束，並藉由至少一光纖模組之另一端反射查測光束之步驟中更包含下列步驟：藉由主軸光纖接收查測光束； 藉由至少一光分歧器接收主軸光纖所傳輸之查測光束；以及藉由至少一分歧光纖接收至少一光分歧器所傳輸之查測光束，且至少一分歧光纖之另一端反射查測光束，以形成另一查測光束。

較佳地，光纖路由品質之查測方法於經由至少一光纖模組接收查測光束，並傳輸查測光束至反射光學模組，以使反射光學模組反射查測光束而形成反射光束之步驟中更包含下列步驟：藉由主軸光纖接收查測光束；藉由至少一光分歧器接收主軸光纖所傳輸之查測光束；以及藉由至少一分歧光纖接收至少一光分歧器所傳輸之查測光束，且利用至少一分歧光纖之另一端活動地接合反射光學模組，以將查測光束傳輸至反射光學模組，進而使反射光學模組反射查測光束，而形成反射光束。

較佳地，第一反射波形訊息及第二反射波形訊息分別具有相互對應之第一波形、第二波形及第三波形，光纖路由品質之查測方法於藉由查測模組比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊之步驟中更包含下列步驟：藉由該查測模組比對該第一反射波形訊息之該第一波形、該第二波形及該第三波形與該第二反射波形訊息之該 第一波形、該第二波形及該第三波形，且於該查測模組判斷該第一反射波形訊息中其一波形不符合該第二反射波形訊息中之對應該其一波形之波形時，該查測模組則獲得該波形掃描資訊。

較佳地，光纖路由品質之查測系統更包含路由選擇模組，光纖路由品質之查測方法更包含下列步驟：藉由該路由選擇模組活動地控制該查測模組與該至少一光纖模組之接合或分離。

承上所述，依本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法，其可具有一或多個下述優點：

(1)此光纖路由品質之查測系統及其查測方法可藉由將反射光學模組設置於光纖模組之一端，以進行查測光纖模組之光纖路由品質，藉此可提高檢測光纖路由品質之便利性。

(2)此光纖路由品質之查測系統及其查測方法可藉由將反射光學模組設置於光纖模組之一端，以進行查測光纖模組之光纖路由品質，藉此可解決習知檢測光纖路由品質時，需攜帶繁重之量測設備。

1‧‧‧光纖路由品質之查測系統

10‧‧‧查測模組

100‧‧‧查測光束

101‧‧‧另一查測光束

11‧‧‧光纖模組

110‧‧‧主軸光纖

111‧‧‧光分歧器

112‧‧‧分歧光纖

12‧‧‧反射光學模組

120‧‧‧反射光束

13‧‧‧路由選擇模組

A‧‧‧第一波形

B‧‧‧第二波形

C‧‧‧第三波形

S20~S26‧‧‧步驟

第1圖係為本發明之光纖路由品質之查測系統之第一實施例之示意圖。

第2圖係為本發明之光纖路由品質之查測系統之 第二實施例之示意圖。

第3圖係為本發明之光纖路由品質之查測系統之第一反射波形訊息之示意圖。

第4圖係為本發明之光纖路由品質之查測系統之第二反射波形訊息之示意圖。

第5圖係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第一流程圖。

第6圖係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第二流程圖。

第7圖係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第三流程圖。

第8圖係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第四流程圖。

為利 貴審查員瞭解本發明之技術特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本發明配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本發明實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係侷限本發明於實際實施上的專利範圍，合先敘明。

以下將參照相關圖式，說明依本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法之實施例，為使便於理解，下述 實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

請參閱第1圖，其係為本發明之光纖路由品質之查測系統之第一實施例之示意圖。如圖所示，光纖路由品質之查測系統1包含查測模組10、至少一光纖模組11及反射光學模組12。查測模組10產生查測光束100。至少一光纖模組11一端耦接查測模組10，並接收查測光束100，且至少一光纖模組11之另一端反射查測光束100，以形成另一查測光束101。反射光學模組12可活動地設置於至少一光纖模組11之另一端，反射光學模組12接收至少一光纖模組11所傳輸之查測光束100時，反射光學模組12則反射查測光束100，以形成反射光束120，反射光學模組12可為反射鏡。其中，查測模組10經由至少一光纖模組11分別接收另一查測光束101及反射光束120，以分別分析出第一反射波形訊息及第二反射波形訊息，且查測模組10比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊。

具體而言，本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法可藉由將反射光學模組12設置於光纖模組11之一端，以進行查測光纖模組11之光纖路由品質，藉此可提高檢測光纖路由品質之便利性。因此，在檢測人員欲進行查測光纖模組11之光纖路由品質時，可攜帶反射光學模組12(如反射鏡)至光纖模組11設置所在地。接著，通知位於查測模組10之後端人員，由查測模組10先產生查測光束100到至少一光纖模組11中。至少一光纖模組11接收查測光束100後，會由至少一光纖模組11之另一端反射查測光束100，以形成另一查測光束101。此另一查測光束101會經由至少一光纖模組11傳輸至 查測模組10，而經由查測模組10分析，以獲得第一反射波形訊息。

而後，檢測人員將反射光學模組12活動地設置於至少一光纖模組11之另一端，再通知後端人員控制查測模組10再次產生查測光束100到至少一光纖模組11中。而此次查測光束100通過至少一光纖模組11後，會由反射光學模組12反射至至少一光纖模組11，並形成反射光束120。查測模組10接收反射光束120後，經由分析會獲得第二反射波形訊息。

最後，藉由查測模組10比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得光纖路由的品質之波形掃描資訊。

藉此，藉由反射光學模組12取代習知之檢測人員在進行供裝前路由品質查測時所需攜帶繁雜之量測設備，以解決習知技術所存在之缺失。

進一步地，本發明之光纖路由品質之查測系統1較佳更可包含路由選擇模組13，其設置於查測模組10與至少一光纖模組11之間，路由選擇模組13可活動地控制查測模組10與至少一光纖模組11之接合或分離。

也就是說，在光纖路由品質之查測系統1設置複數個光纖模組11的情況下，可藉由於查測模組10與複數個光纖模組11之間設置路由選擇模組13，以利用路由選擇模組13控制查測模組10耦接複數個光纖模組11中之其一光纖模組11。其中，路由選擇模組13可由查測模組10或後端人員控制其作動。

請參閱第2圖，其係為本發明之光纖路由品質之 查測系統之第二實施例之示意圖。並請一併參閱第1圖。如圖所示，本實施例中之光纖路由品質之查測系統與上述第一實施例之光纖路由品質之查測系統所述的相同元件的作動方式相似，故不在此贅述。然而，值得一提的是，在本實施例中，至少一光纖模組11包含主軸光纖110、至少一光分歧器111及至少一分歧光纖112。主軸光纖110一端耦接查測模組10，並接收查測光束100。至少一光分歧器111一端耦接主軸光纖110之另一端，並接收查測光束100。至少一分歧光纖112一端耦接至少一光分歧器111，並接收查測光束100，且至少一分歧光纖112之另一端反射查測光束100，以形成另一查測光束101。 其中，於至少一分歧光纖112接收查測光束100且至少一分歧光纖112之另一端活動地接合反射光學模組12時，至少一分歧光纖12則傳輸之查測光束100至反射光學模組12，以使反射光學模組12則反射查測光束100，而形成反射光束120。

舉例而言，本發明之至少一光纖模組11進一步可 包含主軸光纖110、至少一光分歧器111及至少一分歧光纖112。主軸光纖110一端耦接查測模組10，至少一光分歧器111一端耦接主軸光纖110之另一端，至少一光分歧器111之另一端耦接至少一分歧光纖112。在查測模組10傳輸查測光束100到至少一光纖模組11時，若至少一分歧光纖112未接合反射光學模組12，查測光束100則會經由主軸光纖110與至少一光分歧器111，而到至少一分歧光纖112之另一端，並經由至少一分歧光纖112之另一端反射查測光束100，以形成另一查測光束101。

而當至少一分歧光纖112接合反射光學模組12之 情況下，查測模組10所傳輸之查測光束100會經由主軸光纖110與至少一光分歧器111，並通過至少一分歧光纖112之另一端而到反射光學模組12，再由反射光學模組12反射查測光束100，以形成反射光束120。

最後，查測模組10即可接收另一查測光束101及 反射光束120，以分別分析出第一反射波形訊息及第二反射波形訊息，並經由比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息後，獲得波形掃描資訊。

請參閱第3圖及第4圖，其分別為本發明之光纖 路由品質之查測系統之第一反射波形訊息之示意圖及第二反射波形訊息之示意圖，並請一併參閱第1圖及第2圖。如圖所示，本發明之至少一光纖模組11較佳更可包含複數個分歧光纖112，且第一反射波形訊息及第二反射波形訊息分別具有相互對應之第一波形A、第二波形B及第三波形C，第一波形A表示為至少一光分歧器111之位置，第二波形B表示為複數個分歧光纖中之其一分歧光纖112之位置，第三波形C表示為複數個分歧光纖中之另一分歧光纖112之位置。

具體而言，本發明之第一反射波形訊息與第二反 射波形訊息分別可為光時域反射波形掃瞄圖(分別如第3圖及第4圖所示)。同時，配合本發明之光纖模組11在包含複數個分歧光纖112的情況下進行說明。

在第一反射波形訊息中，其包含了第一波形A、 第二波形B及第三波形C，而在第二反射波形訊息中，同樣包含了第一波形A、第二波形B及第三波形C，且第一反射波形 訊息之第一波形A、第二波形B及第三波形C，分別對應第二反射波形訊息之第一波形A、第二波形B及第三波形C。

進一步地，各反射波形訊息中之第一波形A代表 了至少一光分歧器111距離查測模組10之位置，第二波形B代表了複數個分歧光纖中之其一分歧光纖112距離查測模組10之位置，第三波形C代表了複數個分歧光纖中之另一分歧光纖112距離查測模組10之位置。

由於反射光學模組12的反射率約在90%~95%範 圍，相對於光纖常用PC(physical contact)接頭端面其反射率在4%以下，大概可提高14 dB的反射光強度，因此，在檢測人員進行查測光纖模組11之光纖路由品質時，檢測人員可先在未裝設反射光學模組12的情況下，通知後端人員控制查測模組10產生查測光束100到至少一光纖模組11中。在查測模組10接收另一查測光束101後，會分析出第一反射波形訊息，如第3圖所示。

而後，在檢測人員將反射光學模組12設置於另一 分歧光纖112後，通知後端人員控制查測模組10產生查測光束100到至少一光纖模組11中。而查測模組10接收反射光束120後，會分析出第二反射波形訊息，如第4圖所示。

最後，經由查測模組10比對第一反射波形訊息與 第二反射波形訊息後，會發現第一反射波形訊息之第一波形A及第二波形B，與第二反射波形訊息之第一波形A及第二波形B略相同，反而第二反射波形訊息之第三波形C高於第一反射波形訊息之第三波形C，因此，即可得知反射光學模組12係設 置於另一分歧光纖112。

藉此，後端人員即可對所查測之另一分歧光纖112進行標記。

承上所述，進一步地，查測模組10比對第一反射波形訊息之第一波形A、第二波形B及第三波形C與第二反射波形訊息之第一波形A、第二波形B及第三波形C，且於查測模組判斷第一反射波形訊息中其一波形不符合第二反射波形訊息中之對應其一波形之波形時，查測模組則獲得波形掃描資訊。

也就是說，在查測模組10比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息後，可獲得波形距離及其反射光束強度之波形掃描資訊。並且，藉由將第二反射波形訊息經理論計算所設定門檻值相互比較，來判斷另一分歧光纖112之光纖路由品質是否正常。其中，門檻值=發射查測光強度-2 X(光纖長度X單位光纖損失+光分歧器插入損失)-可允許容忍值。

當其反射光束強度低於計算之門檻值，則為另一分歧光纖112之光纖路由品質為異常；相反地，反射光束強度大於或等於計算之門檻值，則表示另一分歧光纖112之光纖路由品質為正常。

且，高出第一反射波形訊息之第三波形C之波峰為設置反射光學模組12後，其反射查測光束強度增加所致，藉此，不但可以提高查測模組10所位於之後端對反射光束120辨識的能力，也可作為對受查測之分歧光纖的標記。

由此可知，本發明光纖路由品質之查測系統可利 用反射光學模組12反射由查測模組10所發出之查測光束，除可藉由其反射光束的強度來提高查測模組10所位於之後端對分歧光纖路由偵測的靈敏度，並可作為受偵測之分歧光纖路由辨識的標示。

儘管於前述說明本發明之光纖路由品質之查測系統之過程中，亦已同時說明本發明之光纖路由品質之查測方法之概念，但為求清楚起見，以下另繪示步驟流程圖以詳細說明。

請參閱第5圖，其係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第一流程圖，並請一併參閱第1圖至第4圖。如圖所示，本發明之光纖路由品質之查測方法可應用於光纖路由品質之查測系統，查測系統包含查測模組、至少一光纖模組及反射光學模組，光纖路由品質之查測方法包含下列步驟：步驟S20：藉由查測模組產生查測光束；步驟S21：經由至少一光纖模組接收查測光束，並藉由至少一光纖模組之另一端反射查測光束，以形成另一查測光束；步驟S22：藉由查測模組產生查測光束；步驟S23：經由至少一光纖模組接收查測光束，並傳輸查測光束至反射光學模組，以使反射光學模組反射查測光束而形成反射光束；步驟S24：藉由查測模組分別接收另一查測光束及反射光束，以分別分析出第一反射波形訊息及第二反射波形訊息；以及 步驟S25：藉由查測模組比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊。

進一步地，本發明之光纖路由品質之查測系統較佳更可包含路由選擇模組，光纖路由品質之查測方法較佳更可包含下列步驟：步驟S26：藉由路由選擇模組活動地控制查測模組與至少一光纖模組之接合或分離。

請參閱第6圖，其係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第二流程圖，並請一併參閱第1圖至第5圖。如圖所示，本發明之至少一光纖模組更包含主軸光纖、至少一光分歧器及至少一分歧光纖，光纖路由品質之查測方法於經由至少一光纖模組接收查測光束，並藉由至少一光纖模組之另一端反射查測光束之步驟S21中較佳更可包含下列步驟：步驟S210：藉由主軸光纖接收查測光束；步驟S211：藉由至少一光分歧器接收主軸光纖所傳輸之查測光束；以及步驟S212：藉由至少一分歧光纖接收至少一光分歧器所傳輸之查測光束，且至少一分歧光纖之另一端反射查測光束，以形成另一查測光束。

請參閱第7圖，其係為本發明之光纖路由品質之查測方法之第三流程圖，並請一併參閱第1圖至第6圖。如圖所示，本發明之光纖路由品質之查測方法於經由至少一光纖模組接收查測光束，並傳輸查測光束至反射光學模組，以使反射 光學模組反射查測光束而形成反射光束之步驟S23中較佳更可包含下列步驟：步驟S230：藉由主軸光纖接收查測光束；步驟S231：藉由至少一光分歧器接收主軸光纖所傳輸之查測光束；以及步驟S232：藉由至少一分歧光纖接收至少一光分歧器所傳輸之查測光束，且利用至少一分歧光纖之另一端活動地接合反射光學模組，以將查測光束傳輸至反射光學模組，進而使反射光學模組反射查測光束，而形成反射光束。

請參閱第8圖，其係為本發明之光纖路由品質之 查測方法之第四流程圖，並請一併參閱第1圖至第7圖。如圖所示，本發明之第一反射波形訊息及第二反射波形訊息分別具有相互對應之第一波形、第二波形及第三波形，光纖路由品質之查測方法於藉由查測模組比對第一反射波形訊息與第二反射波形訊息，以獲得波形掃描資訊之步驟S25中較佳更可包含下列步驟：步驟S250：藉由查測模組比對第一反射波形訊息之第一波形、第二波形及第三波形與第二反射波形訊息之第一波形、第二波形及第三波形，且於查測模組判斷第一反射波形訊息中其一波形不符合第二反射波形訊息中之對應其一波形之波形時，查測模組則獲得波形掃描資訊。

本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法，與前述習知技術相互比較時，確實具有下列之優點：

1.本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法可簡化檢測人員查測工具及作業步驟，檢測人員只需攜帶反射光學模組即可完成查測工作，同時可以降低對查測設備的投資成本。

2.本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法可提供查測分歧光纖標記以確保查測標的正確性，同時也可以提高其查測光束的靈敏度。

3.本發明之光纖路由品質之查測系統及其查測方法可於查測模組處進行單端光纖查測，亦可以穿透光分歧器直接查測分歧光纖之所在；查測結果可即時記錄於後端，以避免錯誤記錄。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

1‧‧‧光纖路由品質之查測系統

10‧‧‧查測模組

100‧‧‧查測光束

101‧‧‧另一查測光束

11‧‧‧光纖模組

12‧‧‧反射光學模組

120‧‧‧反射光束

13‧‧‧路由選擇模組

Claims (6)

1. 一種光纖路由品質之查測系統，其包含：一查測模組，其產生一查測光束；至少一光纖模組，其一端耦接該查測模組，並接收該查測光束，且該至少一光纖模組之另一端反射該查測光束，以形成另一查測光束；一反射光學模組，其可活動地設置於該至少一光纖模組之另一端，該反射光學模組接收該至少一光纖模組所傳輸之該查測光束時，該反射光學模組則反射該查測光束，以形成一反射光束；其中，該查測模組經由該至少一光纖模組分別接收該另一查測光束及該反射光束，以分別分析出一第一反射波形訊息及一第二反射波形訊息，且該查測模組比對該第一反射波形訊息與該第二反射波形訊息，以獲得一波形掃描資訊；其中該至少一光纖模組包含：一主軸光纖，其一端耦接該查測模組，並接收該查測光束；至少一光分歧器，其一端耦接該主軸光纖之另一端，並接收該查測光束；以及至少一分歧光纖，其一端耦接該至少一光分歧器，並接收該查測光束，且該至少一分歧光纖之另一端反射該查測光束，以形成該另一查測光束；其中，於該至少一分歧光纖接收該查測光束且該至少一分歧光纖之該另一端活動地接合該反射光學模組時，該至少一分歧光纖則傳輸之該查測光束至該反射光學模組，以使該反射光學模組則反射該查測光束，而形成該反射光束； 其中該至少一光纖模組更包含複數個該分歧光纖，且該第一反射波形訊息及該第二反射波形訊息分別具有相互對應之一第一波形、一第二波形及一第三波形，該第一波形表示為該至少一光分歧器之位置，該第二波形表示為該複數個該分歧光纖中之其一該分歧光纖之位置，該第三波形表示為該複數個該分歧光纖中之另一該分歧光纖之位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光纖路由品質之查測系統，其中該查測模組比對該第一反射波形訊息之該第一波形、該第二波形及該第三波形與該第二反射波形訊息之該第一波形、該第二波形及該第三波形，且於該查測模組判斷該第一反射波形訊息中其一波形不符合該第二反射波形訊息中之對應該其一波形之波形時，該查測模組則獲得該波形掃描資訊。
3. 如申請專利範圍第1項所述之光纖路由品質之查測系統，其更包含一路由選擇模組，其設置於該查測模組與該至少一光纖模組之間，該路由選擇模組可活動地控制該查測模組與該至少一光纖模組之接合或分離。
4. 一種光纖路由品質之查測方法，其應用於一光纖路由品質之查測系統，該查測系統包含一查測模組、至少一光纖模組及一反射光學模組，該光纖路由品質之查測方法包含下列步驟：藉由查測模組產生一查測光束；經由該至少一光纖模組接收該查測光束，並藉由該至少一光纖模組之另一端反射該查測光束，以形成另一查測光束；藉由該查測模組產生該查測光束； 經由該至少一光纖模組接收該查測光束，並傳輸該查測光束至該反射光學模組，以使該反射光學模組反射該查測光束而形成一反射光束；藉由該查測模組分別接收該另一查測光束及該反射光束，以分別分析出一第一反射波形訊息及一第二反射波形訊息；以及藉由該查測模組比對該第一反射波形訊息與該第二反射波形訊息，以獲得一波形掃描資訊；其中該至少一光纖模組更包含一主軸光纖、至少一光分歧器及至少一分歧光纖，該光纖路由品質之查測方法於經由該至少一光纖模組接收該查測光束，並藉由該至少一光纖模組之另一端反射該查測光束之步驟中更包含下列步驟：藉由該主軸光纖接收該查測光束；藉由該至少一光分歧器接收該主軸光纖所傳輸之該查測光束；以及藉由該至少一分歧光纖接收該至少一光分歧器所傳輸之該查測光束，且該至少一分歧光纖之另一端反射該查測光束，以形成該另一查測光束；其中該光纖路由品質之查測方法於經由該至少一光纖模組接收該查測光束，並傳輸該查測光束至該反射光學模組，以使該反射光學模組反射該查測光束而形成該反射光束之步驟中更包含下列步驟：藉由該主軸光纖接收該查測光束；藉由該至少一光分歧器接收該主軸光纖所傳輸之該查測光束；以及 藉由該至少一分歧光纖接收該至少一光分歧器所傳輸之該查測光束，且利用該至少一分歧光纖之該另一端活動地接合該反射光學模組，以將該查測光束傳輸至該反射光學模組，進而使該反射光學模組反射該查測光束，而形成該反射光束。
5. 如申請專利範圍第4項所述之光纖路由品質之查測方法，其中該第一反射波形訊息及該第二反射波形訊息分別具有相互對應之一第一波形、一第二波形及一第三波形，該光纖路由品質之查測方法於藉由該查測模組比對該第一反射波形訊息與該第二反射波形訊息，以獲得該波形掃描資訊之步驟中更包含下列步驟：藉由該查測模組比對該第一反射波形訊息之該第一波形、該第二波形及該第三波形與該第二反射波形訊息之該第一波形、該第二波形及該第三波形，且於該查測模組判斷該第一反射波形訊息中其一波形不符合該第二反射波形訊息中之對應該其一波形之波形時，該查測模組則獲得該波形掃描資訊。
6. 如申請專利範圍第4項所述之光纖路由品質之查測方法，其中該光纖路由品質之查測系統更包含一路由選擇模組，該光纖路由品質之查測方法更包含下列步驟：藉由該路由選擇模組活動地控制該查測模組與該至少一光纖模組之接合或分離。