CN202565272U - 光分路器性能测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光分路器性能测试系统，它由一台多波长光源、一个偏振控制器、一个带纤分支器、一台多通道光功率计和一台计算机组成，计算机控制信号线连接多波长光源，多波长光源输出的光源通过光纤和偏振控制器引出一个光源输出端口；带纤分支器的带纤端是光源输入端口，带纤分支器裸纤端的每根光纤都分别连接到多通道光功率计的每个通道上；多通道光功率计通过数据线连接计算机的信号输入端口。它可以自动检测并记录光分路器在不同波长下的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等指标同时进行测试，并将测试结果保存为需要的文件格式，测试效率高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光纤通信领域中使用的测试系统，特别涉及一种光分路器性能测试系统。
背景技术
在光纤通信技术中，光纤到户接入网采用的是无源光网络结构，而光分路器是无源光网络中的关键光器件之一，用以实现下行光信号的广播式发送。一个1×N端口的光分路器，要求将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中，并保持较小的偏振相关损耗，因此必须对光分路器的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等技术指标进行测试。而且，光分路器一般工作在1310nm、1490nm和1550nm三个光波段，因此需要对这三个波段的器件性能进行逐一测试。
针对光分路器性能的现有测试方案，一种是逐一对各波长下各通道的性能指标进行测试，再用计算软件分析器件的各种性能指标，这种方案测试效率太低。第二种方案是，以一个N×1光开关，将光分路器的各个输出端依次切换到光功率计进行测试，这种方案仍然存在效率低的缺点，比如测试一个端口的偏振相关损耗需要10秒钟，则测试一个1×32端口的光器件在一个波长下的偏振相关损耗需要320秒钟，并且测试结果的准确性受光开关的重复性影响较大。光分路器的生产领域，急需一种高效率的测试系统，对器件的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等指标同时进行测试，以提高测试效率。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种光分路器性能测试系统，满足对光分路器插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等技术指标的测试要求，提高测试效率。
本实用新型的技术方案是：一种光分路器性能测试系统，其特征在于：它由一台多波长光源、一个偏振控制器、一个带纤分支器、一台多通道光功率计、一台计算机和一套测试管理软件组成，计算机控制信号线连接多波长光源，多 波长光源输出的光源通过光纤和偏振控制器引出一个光源输出端口；带纤分支器的带纤端是光源输入端口，带纤分支器裸纤端的每根光纤都分别连接到多通道光功率计的每个通道上；多通道光功率计通过数据线连接计算机的信号输入端口。
所述的多波长光源中装备1310nm、1490nm和1550nm三个波长的半导体激光器，它可以对光分路器在1310nm、1490nm和1550nm三个光波段工作状态下的性能进行逐一检测。
所述的多通道光功率计有32路光纤输入通道，它最多可以对32芯的光分路器进行检测。
本实用新型的优点为：本实用新型包括一台计算机和一套测试管理软件，它可以控制光源产生端发出1310nm、1490nm和1550nm三个波长的光源，并通过偏振控制器转变为线偏振光，通过光源输出端口给光分路器加载光源，光分路器通过带纤分支器的使每根光纤都分别连接到多通道光功率计的每个通道上，多通道光功率计可以实时采集所有通道的光功率值，通过串口传输到控制电脑中。通过计算机和测试管理软件，可以自动记录光分路器最大和最小插入损耗值，自动得到待测件各通道的偏振相关损耗；光分路器在不同波长下的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等指标同时进行测试，并将测试结果保存为需要的文件格式，测试效率高。它还可以用于光分路器的生产过程中，通过软件中的柱状图实时显示各个通道的插入损耗指标，未调至合格的通道以红色标示，调至合格则以蓝色标示，可以提高生产效率。
附图说明
图1为本实用新型光分路器性能测试系统示意图；
图2为本实用新型多波长光源内部光路结构图；
图中：1、多波长光源，2、偏振控制器，3、带纤分支器，4、多通道光功率计，5、计算机，6、1310nm半导体激光器，7、1490nm半导体激光器，8、1550nm半导体激光器，9、光开关，10、输出端口。
具体实施方式
如图1和图2所示，一种光分路器性能测试系统，它由一台多波长光源、一个偏振控制器、一个带纤分支器、一台32路多通道光功率计、一台计算机和一套测试管理软件组成，计算机控制信号线连接多波长光源，多波长光源输出的光源通过光纤和偏振控制器引出一个光源输出端口；带纤分支器的带纤端是光源输入端口，带纤分支器裸纤端的每根光纤都分别连接到多通道光功率计的每个通道上；多通道光功率计通过数据线连接计算机的信号输入端口。所述的多波长光源中装备1310nm半导体激光器6、1490nm半导体激光器7和1550nm半导体激光器8，三个波长的半导体激光器，通过光纤连接到一个光开关9和光输出端口10上。
在测试光分路器11时，将光分路器11的光输入端连接光源输出端口，光分路器11的光输出端连接带纤分支器的带纤端。
Claims (3)
1.一种光分路器性能测试系统，其特征在于：它由一台多波长光源(1)、一个偏振控制器(2)、一个带纤分支器(3)、一台多通道光功率计(4)和一台计算机(5)组成，计算机(5)控制信号线连接多波长光源(1)，多波长光源(1)输出的光源通过光纤和偏振控制器(2)引出一个光源输出端口；带纤分支器(3)的带纤端是光源输入端口，带纤分支器(3)裸纤端的每根光纤都分别连接到多通道光功率计(4)的每个通道上；多通道光功率计(4)通过数据线连接计算机(5)的信号输入端口。
2.根据权利要求1所述的光分路器性能测试系统，其特征在于：所述的多波长光源中装备1310nm半导体激光器(6)、1490nm半导体激光器(7)和1550nm半导体激光器(8)。
3.根据权利要求1或2所述的光分路器性能测试系统，其特征在于：所述的多通道光功率计(4)有32路光纤输入通道。
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Addressee: Shanghai Create Optoelectronic Technology Co., Ltd. Document name: Notification of Termination of Patent Right |
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