CN110361166B

CN110361166B - 一种粗波分复用器光学性能测试方法

Info

Publication number: CN110361166B
Application number: CN201910599725.XA
Authority: CN
Inventors: 袁春英; 高小燕
Original assignee: Sichuan Tianyi Comheart Telecom Co Ltd
Current assignee: Sichuan Tianyi Comheart Telecom Co Ltd
Priority date: 2019-07-04
Filing date: 2019-07-04
Publication date: 2021-04-13
Anticipated expiration: 2039-07-04
Also published as: CN110361166A

Abstract

本发明公开了一种粗波分复用器光学性能测试系统及方法，系统包括计算机、点光源、宽带光源、光开关、拉锥、偏振控制器、功率计、测试器件、分路器和光谱分析仪，计算机对光开关进行控制选择光源类型，功率计和光谱分析仪将测得的数据传输给计算机进行分析计算，测试其光学性能；测试方法包括采用宽带光源做透射性能测试，采用点光源做反射性能的测试，通过光开关和计算机的结合来控制光源的选择。本发明的有益效果是：一次接线可以满足全部光学性能测试，人员操作简单，上手操作简单，上手操作快，数据易于管理追溯。

Description

一种粗波分复用器光学性能测试方法

技术领域

本发明涉及CWDM的光学性能测试领域，特别是一种粗波分复用器光学性能测试系统及方法。

背景技术

CWDM是一种面向城域网接入层的低成本WDM传输技术。从原理上讲，CWDM就是利用光复用器将不同波长的光信号复用至单根光纤进行传输，在链路的接收端，借助光解复用器将光纤中的混合信号分解为不同波长的信号，连接到相应的接收设备，因此CWDM广泛应用于网络扩容和升级、各类信号混合传输、模式转换、波长转换、光中继和安全组网。

在CWDM的生成领域中，测试成本占了整个生产成本的大部分，在传统的测试方法中，一个工位通常独占整套昂贵的仪器系统，由于测试时间大部分集中在器件接线、高低温变化等认为因素，仪器的利用率非常低，仪器资源得不到充分利用，从而造成浪费，提高了测试成本；其次测试需要分为多次进行，测试方法复杂，数据处理计算机测试效率非常缓慢，最测试人员管理及产品性能追溯管理也是生成过程的一个难点。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种一次接线可以满足全部光学性能测试，人员操作简单，上手操作简单，上手操作快，数据易于管理追溯的粗波分复用器光学性能测试系统及方法。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：一种粗波分复用器光学性能测试系统，包括计算机、点光源、宽带光源、光开关、分路器PLC、拉锥、偏振控制器PDL、功率计PM、测试器件DUT和光谱分析仪OSA，其特征在于：所述计算机与光开关、功率计PM和光谱分析仪OSA电连接，所述点光源和宽带光源与光开关电连接，所述分路器PLC包括分路器PLC I、分路器PLC II和分路器PLC III，所述拉锥包括拉锥I和拉锥II，所述光开关输出与分路器PLC I输入电连接，所述分路器PLC1输出与拉锥I的输入电连接，所述功率计PM包括功率计PM I、功率计PM II和功率计PM III，所述拉锥I的输出分别与偏振控制器PDL和功率计PM I电连接，所述偏振控制器PDL与测试器件DUT的COM端电连接，所述测试器件DUT反射端和透射端与分路器PLC II的输入端电连接，所述分路器PLC II的输出分别与拉锥II和分路器PLC III的输入电连接，所述拉锥II的输出与功率计PM II和分路器PLC I的输出电连接，所述分路器PLC III的输出分别与功率计PM III和光谱分析仪OSA电连接。

优选的，所述的点光源为1270-1610点光源18波长。

优选的，所述的宽带光源为AES光源，波长为1260-1650nm。

优选的，所述的光开关是1x19光开关，所述光开关的串口与计算机连接，通过计算机切换光源输出。

优选的，所述的分路器PLC I为1x2分路器PLC，所述分路器PLCII为2x2分路器PLC，所述分路器PLC III为1x2分路器PLC。

优选的，所述的拉锥I为1x2 拉锥 50:50，所述拉锥II为1x2 拉锥 50:50。

一种粗波分复用器光学性能测试方法，其特征在于：

S1、点光源和宽带光源与光开关连接，光开关输出与分路器PLC I输入连接，光开关的串口与计算机连接，通过计算机切换光源输出；

S2、光谱分析仪OSA对通过计算机控制光开关输出宽带光源进行光谱线扫描，做中心波长扫描、相邻隔离度和非相邻隔离度的测试，光谱分析仪OSA通过串口与计算机连接，并将数据传输至计算机；

S3、计算机通过S2得到的数据反馈控制光开关切换至透射波长，通过分路器PLCIII分为两路信号，一路信号控制切换相应波长进行透射测试偏振与插损，测试数据通过功率计PM III传输计算机；同时另外一路信号通过拉锥II分出一路信号接入功率计PM II测试回损，并将测试数据传输至计算机，另外一路信号与分路器PLC I输出端连接，通过功率计PM I测试出透射的方向性，并将测试数据上传计算机，透射相关测试完成；

S4、计算机控制光开关切换点光源进行反射测试，测试参数指标与透射一致，将测试出所有原始数据汇总到计算机，反射相关测试完成；

S5、计算机通过S4中的所有原始数据处理，计算出反射、透射的中心波长CWL、隔离度ISO、插损IL、偏振损耗PDL、回波损耗RL、方向性及带宽Bandwidth和均匀性UNI等光学指标。

本发明具有以下优点：一次接线可以满足全部光学性能测试，人员操作简单，上手操作简单，上手操作快，数据易于管理追溯。

附图说明

图1 为本发明的示意图；

图中，1-点光源，2-宽带光源，3-点光源与光开关输入连接线路，4-宽带光源与光开关输入端连接线路，5-光开关，6-光开关输出与分路器PLC I输入连接线路，7-分路器PLCI，8-分路器PLC I输出与拉锥I输入连接线路，9-拉锥I，10-拉锥I与拉锥II输出连接线路，11-拉锥I输出与偏振控制器PDL连接线路，12-拉锥I输出与功率计PM I连接线路，13-偏振控制器PDL ，14-功率计PM I，15-偏振控制器PDL与测试器件的COM端连接线路，16-测试器件DUT，17-测试器件DUT反射端与分路器II输入端连接线路，18-测试器件DUT透射端与分路器PLC II输入端连接线路，19-分路器PLC II，20-分路器PLC II输出与分路器PLC III输入连接线路，21-分路器PLC II与拉锥II连接，22-分路器PLC III，23-拉锥II，24-拉锥II与功率计PM II连接线路，25-功率计PM II，26-分路器PLC III与光谱分析仪OSA连接线路，27-分路器PLC III与功率计PM III连接线路，28-功率计PM III，29-光谱分析仪OSA，30-计算机。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定的发明的有益目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对根据本发明申请的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。在下述说明中，不同的“一实施例”或“实施例”指的不一定是同一实施例，此外，一或多个实施例中的特定特征、结构或特点可有任何合适形式组合：

如图1所示，一种粗波分复用器光学性能测试系统，包括计算机30、点光源1、宽带光源2、光开关5、分路器PLC、拉锥、偏振控制器PDL13、功率计PM、测试器件DUT16和光谱分析仪OSA29，其特征在于：所述计算机30与光开关5、功率计PM和光谱分析仪OSA29电连接，所述点光源1和宽带光源2与光开关5电连接，所述分路器PLC包括分路器PLC I7、分路器PLCII19和分路器PLC III22，所述拉锥包括拉锥I9和拉锥II23，所述光开关5输出与分路器PLCI7输入电连接，所述分路器PLC I7输出与拉锥I9的输入电连接，所述功率计PM包括功率计PM I14、功率计PM II25和功率计PM III28，所述拉锥I9的输出分别与偏振控制器PDL13和功率计PMI14电连接，所述偏振控制器PDL13与测试器件DUT16的COM端电连接，所述测试器件DUT16反射端和透射端与分路器PLC II19的输入端电连接，所述分路器PLC II19的输出分别与拉锥II23和分路器PLC III22的输入电连接，所述拉锥II23的输出与功率计PM II25和分路器PLC I7的输出电连接，所述分路器PLC III22的输出分别与功率计PM III28和光谱分析仪OSA29电连接。

做为可选的实施方式，所述的点光源1为1270-1610点光源118波长。

做为可选的实施方式，所述的宽带光源2为AES光源，波长为1260-1650nm。

做为可选的实施方式，所述的光开关5是1x19光开关5，所述光开关5的串口与计算机30连接，通过计算机30切换光源输出。

做为可选的实施方式，所述的分路器PLC I7为1x2分路器PLC，所述分路器PLCII19为2x2分路器PLC，所述分路器PLC III22为1x2分路器PLC。

做为可选的实施方式，所述的拉锥I9为1x2 拉锥 50:50，所述拉锥II23为1x2 拉锥 50:50。

一种粗波分复用器光学性能测试方法，其特征在于：

S1、点光源1和宽带光源2与光开关5连接，光开关5输出与分路器PLC I7输入连接，光开关5的串口与计算机30连接，通过计算机30切换光源输出；

S2、光谱分析仪OSA29对通过计算机30控制光开关5输出宽带光源2进行光谱线扫描，做中心波长扫描、相邻隔离度和非相邻隔离度的测试，光谱分析仪OSA29通过串口与计算机30连接，并将数据传输至计算机30；

S3、计算机30通过S2得到的数据反馈控制光开关5切换至透射波长，通过分路器PLC III22分为两路信号，一路信号控制切换相应波长进行透射测试偏振与插损，测试数据通过功率计PM III28传输计算机30；同时另外一路信号通过拉锥II23分出一路信号接入功率计PM II25测试回损，并将测试数据传输至计算机30，另外一路信号与分路器PLC I7输出端连接，通过功率计PM I14测试出透射的方向性，并将测试数据上传计算机30，透射相关测试完成；

S4、计算机30控制光开关5切换点光源1进行反射测试，重复S2到S3，测试参数指标与透射一致，将测试出所有原始数据汇总到计算机30，反射相关测试完成；

S5、计算机30通过S4中的所有原始数据处理，计算出反射、透射的中心波长CWL、隔离度ISO、插损IL、偏振损耗PDL、回波损耗RL、方向性及带宽Bandwidth和均匀性UNI等光学指标。

具体的实施例：18波长点光源通过点光源与光开关输入连接线路3与光开关5连接，AES宽带光源通过宽带光源与光开关输入端连接线路4与光开关5连接，光开光5通过光开光输出与分路器PLC I输入连接线路6与分路器PLC I7连接，分路器PLC I7通过分路器PLC I输出与拉锥I输入连接线路8与拉锥I9连接，拉锥I9通过拉锥I输出与偏振控制器PDL连接线路11与偏振控制器PDL13连接，拉锥I9通过拉锥I输出与功率计PM I连接线路12与功率计PM I14连接，拉锥I9通过拉锥I与拉锥II输出连接线路10与拉锥II23连接，偏振控制器PDL14通过偏振控制器PDL与测试器件的COM端连接线路15与测试器件DUT16连接，测试器件DUT16通过测试器件DUT反射端与分路器PLC II输入端连接线路17和测试器件DUT透射端与分路器PLC II输入端连接线路18与分路器PLC II19连接，分路器PLC II19通过分路器PLCII输出与分路器PLC III输入连接线路20与分路器PLC III22连接，分路器PLC III22通过分路器PLC III与功率计PM III连接线路27与功率计PM III28连接，分路器PLC III22通过分路器PLCIII与光谱分析仪OSA连接线路26与光谱分析仪OSA29连接，分路器PLC II19通过分路器PLCII输出与分路器PLCIII输入连接线路21与拉锥II23连接，拉锥II23通过拉锥II与功率计PMII连接线路24与功率计PM II25连接，光开光5、功率计（PM）和光谱分析仪（OSA）29与计算机30电连接；计算机30控制光开关5输出宽带光源2，光谱分析仪OSA29对该光源进行光谱线扫描，做中心波长扫描、相邻隔离度和非相邻隔离度的测试，光谱分析仪OSA29通过串口与计算机30连接，并将数据传输至计算机30，计算机30通过得到的数据反馈，控制光开关5切换至透射波长，通过分路器PLC III22分为两路信号，一路信号控制切换相应波长进行透射测试偏振与插损，测试数据通过功率计PM III28传输计算机30；同时另外一路信号通过拉锥II23分出一路信号接入功率计PM II25测试回损，并将测试数据传输至计算机30，另外一路信号与分路器PLC I7输出端连接，通过功率计PM I14测试出透射的方向性，并将测试数据上传计算机30，透射相关测试完成；计算机30控制光开关5切换点光源1进行反射测试，光谱分析仪OSA29对该光源进行光谱线扫描，做中心波长扫描、相邻隔离度和非相邻隔离度的测试，并将数据传输至计算机30，计算机30通过得到的数据反馈，控制光开关5切换至反射波长，通过分路器PLC III22分为两路信号，一路信号控制切换相应波长进行反射测试偏振与插损，测试数据通过功率计PM III28传输计算机30；同时另外一路信号通过拉锥II23分出一路信号接入功率计PM II25测试回损，并将测试数据传输至计算机30，另外一路信号与分路器PLC I7输出端连接，通过功率计PM I14测试出反射的方向性，并将测试数据上传计算机30，反射相关测试完成，计算机30通过得到的所有原始数据处理，计算出反射、透射的中心波长CWL、隔离度ISO、插损IL、偏振损耗PDL、回波损耗RL、方向性及带宽Bandwidth和均匀性UNI等光学指标，测试结束。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims

1.一种粗波分复用器光学性能测试系统，包括计算机（30）、点光源（1）、宽带光源（2）、光开关（5）、分路器PLC、拉锥、偏振控制器PDL（13）、功率计PM、测试器件DUT（16）和光谱分析仪OSA（29），其特征在于：所述计算机（30）与光开关（5）、功率计PM和光谱分析仪OSA（29）电连接，所述点光源（1）和宽带光源（2）与光开关（5）电连接，所述分路器PLC包括分路器PLC I（7）、分路器PLC II（19）和分路器PLC III（22），所述拉锥包括拉锥I（9）和拉锥II（23），所述光开关（5）输出与分路器PLC I（7）输入电连接，所述分路器PLC I（7）输出与拉锥I（9）的输入电连接，所述功率计PM包括功率计PM I（14）、功率计PM II（25）和功率计PM III（28），所述拉锥I（9）的输出分别与偏振控制器PDL（13）和功率计PMI（14）电连接，所述偏振控制器PDL（13）与测试器件DUT（16）的COM端电连接，所述测试器件DUT（16）反射端和透射端与分路器PLC II（19）的输入端电连接，所述分路器PLC II（19）的输出分别与拉锥II（23）和分路器PLC III（22）的输入电连接，所述拉锥II（23）的输出与功率计PM II（25）和分路器PLC I（7）的输出电连接，所述分路器PLC III（22）的输出分别与功率计PMIII（28）和光谱分析仪OSA（29）电连接。

2.根据权利要求1所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统，其特征在于：所述的点光源（1）为1270-1610点光源（1）的18种波长的任意一种。

3.根据权利要求1所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统，其特征在于：所述的宽带光源（2）为AES光源，波长为1260-1650nm。

4.根据权利要求1所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统，其特征在于：所述的光开关（5）是1x19光开关（5），所述光开关（5）的串口与计算机（30）连接，通过计算机（30）切换光源输出。

5.根据权利要求1所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统，其特征在于：所述的分路器PLC I（7）为1x2分路器PLC，所述分路器PLC II（19）为2x2分路器PLC，所述分路器PLCIII（22）为1x2分路器PLC。

6.根据权利要求1所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统，其特征在于：所述的拉锥I（9）为1x2 拉锥，该拉锥的分光比为50:50，所述拉锥II（23）为1x2 拉锥，该拉锥的分光比为50:50。

7.一种粗波分复用器光学性能测试方法，通过权利要求1~6任意一项所述的一种粗波分复用器光学性能测试系统进行实施；其特征在于：

S1、点光源（1）和宽带光源（2）与光开关（5）连接，光开关（5）输出与分路器PLC I（7）输入连接，光开关（5）的串口与计算机（30）连接，通过计算机（30）切换光源输出；

S2、光谱分析仪OSA（29）对通过计算机（30）控制光开关（5）输出宽带光源（2）进行光谱线扫描，做中心波长扫描、相邻隔离度和非相邻隔离度的测试，光谱分析仪OSA（29）通过串口与计算机（30）连接，并将数据传输至计算机（30）；

S3、计算机（30）通过S2得到的数据反馈控制光开关（5）切换至透射波长，通过分路器PLC III（22）分为两路信号，一路信号控制切换相应波长进行透射测试偏振与插损，测试数据通过功率计PM III（28）传输计算机（30）；同时另外一路信号通过拉锥II（23）分出一路信号接入功率计PM II（25）测试回损，并将测试数据传输至计算机（30），另外一路信号与分路器PLC I（7）输出端连接，通过功率计PM I（14）测试出透射的方向性，并将测试数据上传计算机（30），透射相关测试完成；

S4、计算机（30）控制光开关（5）切换点光源（1）进行反射测试，重复S2到S3，测试参数指标与透射一致，将测试出所有原始数据汇总到计算机（30），反射相关测试完成；

S5、计算机（30）通过S4中的所有原始数据处理，计算出反射、透射的中心波长CWL、隔离度ISO、插损IL、偏振损耗PDL、回波损耗RL、方向性及带宽Bandwidth和均匀性UNI的光学指标。