CN116980033A - 一种plc光分路器测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种PLC光分路器测试系统，涉及光分路器测试技术领域，通过测定单元获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值，以及每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki，并对工作波段进行测段分析，根据工作波段Gi的关联值和对应的Ki，确定评测波段；之后借助测试单元得到目标对象在对应评测波段的偏差和值，再利用处理器对所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值进行定点分析，得到核定波段；之后测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试，并将测试结果传输到结果收集单元；从而能够根据典型的核定波段对光分路器进行测试，快速且简单的确定结果；本发明简单有效，且易于实用。
Description
技术领域
本发明属于光分路器测试技术领域，具体是一种PLC光分路器测试系统。
背景技术
光分路器又称为分光器，是光纤链路中重要的无源器件之一。光分路器是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件，用于将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中。为了使光分路器保持较小的偏振相关损耗，在采用光分路器进行光信号的传输之前，必须对光分路器的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性等技术指标进行测试。
在光纤通信技术中，光纤到户接入网采用的是无源光网络结构，而光分路器是无源光网络中的关键光器件之一，用以实现下行光信号的广播式发送。一个1×N端口的光分路器，要求将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中，并保持较小的偏振相关损耗，因此必须对光分路器的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等技术指标进行测试。
而光分路器中又包含有PLC光分路器，PLC光分路器由三个部分组成，一个光分路器芯片和两端的光纤阵列耦合组成，这三个组件必须要精密对准，其设计和组装对于PLC分路器的稳定性起到了重要作用。芯片采用半导体工艺在石英基底上生长制作一层分光波导，芯片有一个输入端和N个输出端波导。然后在芯片两端分别耦合输入输出光纤阵列，封上外壳，组成一个有一个输入和N个输出的光分路器。
影响PLC光分路器工作的指标主要包括如下几个方面：
插入损耗、插入损耗是指PLC分路器工作波长在规定输出端口的光功率相对全部输入光功率的减少值，简单说是每一路输出相对于输入光损失的dB数；一般来说，插入损耗值越小，分路器性能指标越好；
回波损耗，回波损耗是指在光纤连接处，反向反射光即连续不断向输入端传输的散射光相对输入光的比率的分贝数，回波损耗越大越好，以减少反射光对光源和系统的影响；
方向性，方向性是指PLC分路器正常工作时，同一侧中非注入光一端的输出光功率与注入光功率即被测波长的比值；
偏振相关损耗，偏振相关损耗是指传输光信号的偏振态在全偏振态变化时，PLC分路器各输出端口输出光功率的最大变化量；
隔离度，隔离度是指光纤分路器的某一光路对其他光路中的光信号的隔离能力。
而且，光分路器一般工作在1260nm-1650nm光波段，那么对不同波段进行逐一测试则成了一个难题，针对每一个光波段进行测试，不具备普适性，针对现场环境进行测试，则需要面对多变的环境，由于现场工作波段不一样，导致需要定制化测试，尤其是针对一个工厂或者单个单位生成的光分路器进行数据测试，且能够快速确定光分路器是否符合标准；基于此，现提供一种解决方案。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一；
为此，本发明提出了一种PLC光分路器测试系统，包括：
测定单元，用于获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值，将其标记为工作波段Gi，i＝1、...、n；每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki，i＝1、...、n；
目标对象的工作波段，并对工作波段进行测段分析，根据工作波段Gi的关联值和对应的Ki，确定评测波段；
之后测定单元用于将评测波段传输到测试单元，测试单元在接收到测定单元传输的评测波段时，按照评测波段从小到大的顺序依次在对应的评测波段进行测试，得到目标对象在对应评测波段的偏差和值，偏差和值指代为在产生误差时所有要素的误差值之和；
测试单元在输出若干个目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到结果收集单元，结果收集单元在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到处理器，处理器在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值时，自动进行定点分析，定点分析具体方式为：
步骤一：任选一评测波段；
步骤二：选定后，得到对应该评测波段的所有目标对象的偏差和值，将其标记为Pj，j＝1、...、o，表示为存在o个目标对象；
步骤三：之后自动计算Pj的均值，将其标记为Z，之后自动计算Pj的聚合度W，根据聚合度确定偏差定值；
步骤四：之后任选下一评测波段，重复步骤二道步骤四，得到所有评测波段的偏差定值；
步骤五：按照偏差定值从大到小的顺序对评测波段排序，将其标记为评测波段序列；
步骤六：之后将偏差定值超过设定偏差值的评测波段标记为选定波段，设定偏差值为预设数值；并根据选定波段詹评测波段的个数关系，和对应偏差定值从大到小的两个因素进行核定分析，得到核定波段；
处理器，用于将核定波段传输到数据反馈单元，数据反馈单元用于将核定波段传输到测试单元，测试单元在接收到数据反馈单元传输的核定波段后，会自动拒绝接收测定单元传输的评测波段，测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试，并将测试结果传输到结果收集单元，结果收集单元会借助处理器将测试结果传输到显示单元，显示单元接收结果收集单元传输的测试结果并进行自动显示。
进一步地，Gi表示为当前在靠近时段内光分路器在n个工作波段进行工作，Ki取值至少为1；目标对象指代为PLC光分路器。
进一步地，测段分析具体方式为：
获取到Gi及其对应的Ki，令i＝1，获取到对应的G1，获取到其关联值L i，i＝1、...、n，关联值用于表示不同工作波段G i之间的波段数值差；
利用公式计算所有Gi的综现值Qi，具体计算公式为：
Qi＝0.32*L i+0.68Ki，i＝1、...、n；
之后得到所有的综现值Qi，将Qi≥X2对应的工作波段标记为评测波段，X2为预设数值。
进一步地，关联值获取方式为：
获取到任意Gi满足|Gi-G1|≤X1条件的G i值，将其标记为符合段Dj，j＝1、...、m，此处m≤n；此处的Gi中i取值不为1；X1为预设数值；
将符合段Dj对应的个数相加，得到数值标记为关联值；
获取到所有Gi的关联值，将其标记为Li，i＝1、...、n。
进一步地，步骤三中确定偏差定值的具体方式为：
当W值不超过X3时，自动将此处的Pj数值中最大的偏差和值标记为对应选中评测波段的偏差定值，X3为预设数值；
当W超过X3时，则将Pj中所有的数值均值标记为对应选中评测波段的偏差定值；X3为预设数值。
进一步地，核定分析具体方式为：
S1：获取到选定波段的个数占评测波段个数的比例，将其标记为选定比；
S2：当选定比超过X4时，不做任何处理；
S3：否则自动获取到所有的选定波段，若存在任意两个选定波段的波段数值的差值≤X1，则将对应选定波段中偏差定值小的删除，剩余的才标记为选定波段；
S4：之后按照偏差定值从大到小的方式选中满足选定比达到X4个数的评测波段，将评测波段重新标记为新的选定波段，删除过的选定波段不重复选取；
S5：之后重复步骤S3-S5，直到选中满足要求的选定波段，将其标记为核定波段。
进一步地，还包括用户单元，用户单元与处理器通信连接，用于录入所有的预设数值。
进一步地，数据反馈单元还用于对存储的核定波段进行阶段删除，阶段删除操作为：
每间隔T1时间将核定波段删除一次，此处T1为预设数值
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明通过测定单元获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值，以及每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki，并对工作波段进行测段分析，根据工作波段Gi的关联值和对应的Ki，确定评测波段；
之后借助测试单元得到目标对象在对应评测波段的偏差和值，再利用处理器对所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值进行定点分析，得到核定波段；之后测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试，并将测试结果传输到结果收集单元；从而能够根据典型的核定波段对光分路器进行测试，快速且简单的确定结果；本发明简单有效，且易于实用。
附图说明
图1为本发明的系统框图。
具体实施方式
下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本申请提供了一种PLC光分路器测试系统；
作为本发明的实施例一，其具体包括：
数据反馈单元、测定单元、测试单元、结果收集单元、处理器、显示单元、用户单元；
其中，测定单元，用于获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值，将其标记为工作波段Gi，i＝1、...、n，表示为当前在靠近时段内光分路器在n个工作波段进行工作，每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki，i＝1、...、n，Ki取值至少为1；目标对象指代为PLC光分路器；
目标对象的工作波段，并对工作波段进行测段分析，确定评测波段，测段分析具体方式为：
获取到Gi及其对应的Ki，令i＝1，获取到对应的G1，获取到其关联值，关联值获取方式为：
获取到任意Gi满足|Gi-G1|≤X1条件的G i值，将其标记为符合段Dj，j＝1、...、m，此处m≤n；此处的Gi中i取值不为1；X1为预设数值，一般情况下，取值为3；
将符合段Dj对应的个数相加，得到数值标记为关联值；
获取到所有Gi的关联值，将其标记为Li，i＝1、...、n；
利用公式计算所有Gi的综现值Qi，具体计算公式为：
Qi＝0.32*L i+0.68Ki，i＝1、...、n；
之后得到所有的综现值Qi，将Qi≥X2对应的工作波段标记为评测波段，X2为预设数值；
之后测定单元用于将评测波段传输到测试单元，测试单元在接收到测定单元传输的评测波段时，按照评测波段从小到大的顺序依次在对应的评测波段进行测试，得到目标对象在对应评测波段的偏差和值，偏差和值指代为在产生误差时所有要素的误差值之和；
测试单元在输出若干个目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到结果收集单元，结果收集单元在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到处理器，处理器在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值时，自动进行定点分析，定点分析具体方式为：
步骤一：任选一评测波段；
步骤二：选定后，得到对应该评测波段的所有目标对象的偏差和值，将其标记为Pj，j＝1、...、o，表示为存在o个目标对象；
步骤三：之后自动计算Pj的均值，将其标记为Z，之后自动计算Pj的聚合度W，聚合度W计算公式为：
当W值不超过X3时，自动将此处的Pj数值中最大的偏差和值标记为对应选中评测波段的偏差定值，X3为预设数值；
当W超过X3时，则将Pj中所有的数值均值标记为对应选中评测波段的偏差定值；X3为预设数值；
步骤四：之后任选下一评测波段，重复步骤二道步骤四，得到所有评测波段的偏差定值；
步骤五：按照偏差定值从大到小的顺序对评测波段排序，将其标记为评测波段序列；
步骤六：之后将偏差定值超过设定偏差值的评测波段标记为选定波段，并根据选定波段进行核定分析，得到核定波段，具体核定分析方式为：
S1：设定偏差值为预设数值；获取到选定波段的个数占评测波段个数的比例，将其标记为选定比；
S2：当选定比超过X4时，不做任何处理；
S3：否则自动获取到所有的选定波段，若存在任意两个选定波段的波段数值的差值≤X1，则将对应选定波段中偏差定值小的删除，剩余的才标记为选定波段；
S4：之后按照偏差定值从大到小的方式选中满足选定比达到X4个数的评测波段，将评测波段重新标记为新的选定波段，删除过的选定波段不重复选取；
S5：之后重复步骤S3-S5，直到选中满足要求的选定波段，将其标记为核定波段；
处理器，用于将核定波段传输到数据反馈单元，数据反馈单元用于将核定波段传输到测试单元，测试单元在接收到数据反馈单元传输的核定波段后，会自动拒绝接收测定单元传输的评测波段，测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试，并将测试结果传输到结果收集单元，结果收集单元会借助处理器将测试结果传输到显示单元，显示单元接收结果收集单元传输的测试结果并进行自动显示；
还包括用户单元，用户单元与处理器通信连接，用于录入所有的预设数值；
作为本发明的实施例二，本实施例在实施例一的基础上实施，不同之处在于，本实施例二中数据反馈单元会对存储的核定波段进行阶段删除，阶段删除操作为：
每间隔T1时间将核定波段删除一次，此处T1为预设数值；
作为本发明的实施例三，本实施例的技术方案在于，将实施例一和实施例二融合实施。
上述公式中的部分数据均是去除量纲取其数值计算，公式是由采集的大量数据经过软件模拟得到最接近真实情况的一个公式；公式中的预设参数和预设阈值由本领域的技术人员根据实际情况设定或者通过大量数据模拟获得。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方法而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方法进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方法的精神和范围。
Claims (8)
1.一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，包括：
测定单元，用于获取到靠近时段内所有的目标对象在工作时所处不同的波段值，将其标记为工作波段Gi，i＝1、...、n；每个工作波段存在的目标对象个数对应表示为Ki，i＝1、...、n；
目标对象的工作波段，并对工作波段进行测段分析，根据工作波段Gi的关联值和对应的Ki，确定评测波段；
之后测定单元用于将评测波段传输到测试单元，测试单元在接收到测定单元传输的评测波段时，按照评测波段从小到大的顺序依次在对应的评测波段进行测试，得到目标对象在对应评测波段的偏差和值，偏差和值指代为在产生误差时所有要素的误差值之和；
测试单元在输出若干个目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到结果收集单元，结果收集单元在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值后，将其传输到处理器，处理器在接收到所有目标对象在所有的评测波段的偏差和值时，自动进行定点分析，定点分析具体方式为：
步骤一：任选一评测波段；
步骤二：选定后，得到对应该评测波段的所有目标对象的偏差和值，将其标记为Pj，j＝1、...、o，表示为存在o个目标对象；
步骤三：之后自动计算Pj的均值，将其标记为Z，之后自动计算Pj的聚合度W，根据聚合度确定偏差定值；
步骤四：之后任选下一评测波段，重复步骤二道步骤四，得到所有评测波段的偏差定值；
步骤五：按照偏差定值从大到小的顺序对评测波段排序，将其标记为评测波段序列；
步骤六：之后将偏差定值超过设定偏差值的评测波段标记为选定波段，设定偏差值为预设数值；并根据选定波段詹评测波段的个数关系，和对应偏差定值从大到小的两个因素进行核定分析，得到核定波段；
处理器，用于将核定波段传输到数据反馈单元，数据反馈单元用于将核定波段传输到测试单元，测试单元在接收到数据反馈单元传输的核定波段后，会自动拒绝接收测定单元传输的评测波段，测试单元会按照核定波段对所有的目标对象进行测试，并将测试结果传输到结果收集单元，结果收集单元会借助处理器将测试结果传输到显示单元，显示单元接收结果收集单元传输的测试结果并进行自动显示。
2.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，Gi表示为当前在靠近时段内光分路器在n个工作波段进行工作，Ki取值至少为1；目标对象指代为PLC光分路器。
3.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，测段分析具体方式为：
获取到Gi及其对应的Ki，令i＝1，获取到对应的G1，获取到其关联值Li，i＝1、...、n，关联值用于表示不同工作波段Gi之间的波段数值差；
利用公式计算所有Gi的综现值Qi，具体计算公式为：
Qi＝0.32*Li+0.68Ki，i＝1、...、n；
之后得到所有的综现值Qi，将Qi≥X2对应的工作波段标记为评测波段，X2为预设数值。
4.根据权利要求3所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，关联值获取方式为：
获取到任意Gi满足|Gi-G1|≤X1条件的Gi值，将其标记为符合段Dj，j＝1、...、m，此处m≤n；此处的Gi中i取值不为1；X1为预设数值；
将符合段Dj对应的个数相加，得到数值标记为关联值；
获取到所有Gi的关联值，将其标记为Li，i＝1、...、n。
5.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，步骤三中确定偏差定值的具体方式为：
当W值不超过X3时，自动将此处的Pj数值中最大的偏差和值标记为对应选中评测波段的偏差定值，X3为预设数值；
当W超过X3时，则将Pj中所有的数值均值标记为对应选中评测波段的偏差定值；X3为预设数值。
6.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，核定分析具体方式为：
S1：获取到选定波段的个数占评测波段个数的比例，将其标记为选定比；
S2：当选定比超过X4时，不做任何处理；
S3：否则自动获取到所有的选定波段，若存在任意两个选定波段的波段数值的差值≤X1，则将对应选定波段中偏差定值小的删除，剩余的才标记为选定波段；
S4：之后按照偏差定值从大到小的方式选中满足选定比达到X4个数的评测波段，将评测波段重新标记为新的选定波段，删除过的选定波段不重复选取；
S5：之后重复步骤S3-S5，直到选中满足要求的选定波段，将其标记为核定波段。
7.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，还包括用户单元，用户单元与处理器通信连接，用于录入所有的预设数值。
8.根据权利要求1所述的一种PLC光分路器测试系统，其特征在于，数据反馈单元还用于对存储的核定波段进行阶段删除，阶段删除操作为：
每间隔T1时间将核定波段删除一次，此处T1为预设数值。
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101788459A (zh) * | 2010-02-08 | 2010-07-28 | 暨南大学 | 一种准连续方式的分光波长组合方法 |
| CN202565272U (zh) * | 2011-01-10 | 2012-11-28 | 上海坤腾光电科技有限公司 | 光分路器性能测试系统 |
| US20130229648A1 (en) * | 2012-03-05 | 2013-09-05 | Verizon Patent And Licensing Inc. | Testing of passive optical components |
| CN103297125A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-09-11 | 镇江奥菲特光电科技有限公司 | 光纤分路器自动测试系统 |
| CN107769849A (zh) * | 2017-11-23 | 2018-03-06 | 扬州智锐光电科技有限公司 | 一种plc波分复用技术光学测试系统及其方法 |
| CN110071760A (zh) * | 2019-04-28 | 2019-07-30 | 中山市光促通信有限公司 | 一种光分路器测试系统 |
| CN113873357A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-12-31 | 华为技术有限公司 | 分光器、odn、识别onu所在光链路的方法、olt、onu和pon系统 |
| CN115102615A (zh) * | 2022-06-17 | 2022-09-23 | 滁州爱沃富光电科技有限公司 | 光分路器测试系统 |
-
2023
- 2023-08-02 CN CN202310962331.2A patent/CN116980033B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101788459A (zh) * | 2010-02-08 | 2010-07-28 | 暨南大学 | 一种准连续方式的分光波长组合方法 |
| CN202565272U (zh) * | 2011-01-10 | 2012-11-28 | 上海坤腾光电科技有限公司 | 光分路器性能测试系统 |
| US20130229648A1 (en) * | 2012-03-05 | 2013-09-05 | Verizon Patent And Licensing Inc. | Testing of passive optical components |
| CN103297125A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-09-11 | 镇江奥菲特光电科技有限公司 | 光纤分路器自动测试系统 |
| CN107769849A (zh) * | 2017-11-23 | 2018-03-06 | 扬州智锐光电科技有限公司 | 一种plc波分复用技术光学测试系统及其方法 |
| CN110071760A (zh) * | 2019-04-28 | 2019-07-30 | 中山市光促通信有限公司 | 一种光分路器测试系统 |
| CN113873357A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-12-31 | 华为技术有限公司 | 分光器、odn、识别onu所在光链路的方法、olt、onu和pon系统 |
| CN115102615A (zh) * | 2022-06-17 | 2022-09-23 | 滁州爱沃富光电科技有限公司 | 光分路器测试系统 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 刘健;周沅韬;: "PLC型光分路器光学特性测试", 广东通信技术, no. 09, 15 September 2015 (2015-09-15) * |
| 李云燕;余志强;黄涌;黎志刚;: "全自动多通道光测试技术的研究与实现", 广西通信技术, no. 02, 15 June 2016 (2016-06-15) * |
Also Published As
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