CN109120339A - 光模块调试方法、光模块调试系统及光模块管理系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种光模块调试方法、光模块调试系统及光模块管理系统，通过预先已搭建好的对不同参数进行调试的光路，由调试终端根据配置好的调试流程控制光路的选通，从而自动完成对待调试光模块的各待调试参数的调试。调试过程中不需要人员参与，不需要重复进行光纤连接、设备更替等工作，调试终端根据预设调试顺序即可自动完成对待调试光模块的调试，极大的缩减人工成本，大幅度提升了调试效率，同时由调试终端自动对数据进行采集和计算，也提高了测试准确性。

Description

光模块调试方法、光模块调试系统及光模块管理系统

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光模块调试方法、光模块调试系统及光模块管理系统。

背景技术

在光通信技术中，光模块是所有光信息产物的基础，对于光通信系统有着不可或缺的重要作用，因此高性能的光模块有着广阔的市场前景。

随着科技的不断创新，信息技术在生活中的作用越来越显著。光纤通信技术是信息传播的基础，而光模块是完成信息在光纤中传输的关键，因此高性能的光模块有着广阔的市场前景。但是光模块的技术指标众多，包括光器件初始值，波长，眼图，消光比，灵敏度，定标及误码数等等。每一只模块均需完成所有技术参数的调试使之满足指标要求之后，才能保证模块的性能。由于需要调试的技术参数较多，这就使得对于光模块进行调试的流程较为繁杂。而对于这些较为繁杂的调试流程而言，传统的调试方法是：由调试员工按照各技术参数的光路搭建要求，分别搭建不同的调试光路，从而对待调试光模块的各技术参数逐项进行调试。但是根据这种调试方法，员工需要频繁的进行光纤连接、设备更替等工作，此外还要在操作测试设备的同时实时监控测试的值，而这些操作均需要专业人员来进行，这就使得整个调试过程，对高质量人力资源的依赖非常严重，人工消耗很大，但调试效率却不高，同时调试准确性也有待怀疑。而当前，随着产品量产化，对于光模块的调试工作量也随之剧增，这也使得传统的调试方法不能满足实际需求。因此提出一种高效地，对人力资源的依赖性低的调试方法已迫在眉睫。

发明内容

本发明提供实施例的一种光模块调试方法、光模块调试系统及光模块管理系统，主要解决的技术问题是：传统的调试方法需要员工频繁的进行光纤连接、设备更替等工作，此外还要在操作测试设备的同时实时监控测试的值，使得整个调试过程，人工消耗很大，但调试效率却不高，同时调试准确性也有待怀疑的问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种光模块调试方法，包括：

调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路；各所述测试光路包括与所述第一程控光路选择器连接的用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的参数测试设备；

所述调试终端获取所述测试光路中的参数测试设备的测试结果；

所述调试终端根据所述测试结果完成对所述待调试光模块对应参数的调试。

本发明实施例还提供一种光模块调试系统，包括调试终端、第一程控光路选择器、以及至少两个用于对待调试光模块中的不同待调试参数进行测试的参数测试设备；

所述第一程控光路选择器、待调试光模块以及各参数测试设备均与所述调试终端通信连接；

所述参数测试设备与所述第一程控光路选择器的输出端连接形成用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的测试光路；所述第一程控光路选择器的输入端与所述待调试光模块的光输出端连接；

所述调试终端用于根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路，以及用于获取所述测试光路中的参数测试设备的测试结果，并根据获取到的所述测试结果完成对所述待调试光模块对应参数的调试。

本发明实施例还提供一种光模块管理系统，包括服务器，以及与所述服务器通信连接的上述光模块调试系统；

所述光模块调试系统用于对待调试光模块进行调试，并将调试结果上报给所述服务器；

所述服务器用于接收所述光模块调试系统上报的光模块的调试结果并保存。

本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行前述的任一项的光模块调试方法。

本发明的有益效果是：

根据本发明实施例提供的光模块调试方法、光模块调试系统、光模块管理系统以及计算机存储介质，通过调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路(各测试光路包括与第一程控光路选择器连接的用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的参数测试设备)，并获取测试光路中的参数测试设备的测试结果，最后根据测试结果完成对待调试光模块对应参数的调试。即在本发明实施例提供的方案中，由调试终端通过自动控制第一程控光路选择器来选通对应的测试光路，从而自动完成对待调试光模块的某一或某几个待调试参数的调试。调试过程中不需要人员参与，不需要重复进行光纤连接、设备更替等工作，调试终端根据预设调试顺序即可自动完成对待调试光模块的调试，极大的缩减人工成本，大幅度提升了调试效率，同时由调试终端自动对数据进行采集和计算，也提高了测试准确性。

附图说明

图1为本发明的本发明实施例一的一种光模块调试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例一的一种较具体的光模块调试系统的结构示意图；

图3为本发明实施例一的一种更具体的光模块调试系统的结构示意图；

图4为本发明实施例一的一种光模块管理系统的结构示意图；

图5为本发明实施例二的一种光模块调试方法的流程示意图；

图6为本发明实施例二的一种对多通道光模块进行各通道某一待调试参数进行调试的流程示意图；

图7为本发明实施例三的一种具体的光模块调试系统结构示意图；

图8为本发明实施例三的一种设备与调试终端的连接结构示意图；

图9为本发明实施例三的一种具体的调试流程示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明实施例作进一步详细说明。

实施例一：

为缩减调试光模块过程中的人工成本，并提升调试效率，本实施例中提供了一种光模块调试系统1，参见图1，图1为本实施例提供的一种光模块调试系统1的结构示意图，包括：调试终端11、第一程控光路选择器12、以及至少两个用于对待调试光模块中的不同待调试参数进行测试的参数测试设备13。

其中，第一程控光路选择器12、待调试光模块以及各参数测试设备13均与调试终端11通信连接。具体的，第一程控光路选择器12、待调试光模块以及各参数测试设备13可以通过网口与调试终端11建立通信连接。更具体的，可以通过网口以及交换机与调试终端11建立通信连接。

其中，参数测试设备13与第一程控光路选择器12的输出端连接形成用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的测试光路；应当理解的是，在进行调试时，第一程控光路选择器12的输入端与待调试光模块的光输出端连接。

在本实施例中，进行调试时，调试终端11会根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器12选通对应的测试光路，并获取测试光路中的参数测试设备13的测试结果，再根据获取到的测试结果完成对待调试光模块对应参数的调试。

应当理解的是，参数测试设备13在完成对待调试光模块相应待调试参数的测试之后，可以主动将测试结果上报给调试终端，也可以不主动上报测试结果，而是由调试终端主动到各参数测试设备上读取测试结果。

值得注意的是，在本实施例中，由于所需测试的待调试参数的不同，不同测试光路中的参数测试设备13也各不相同，从而使得各测试光路也各不相同。参见图2，在本实施例中测试光路至少包括：

包含第一程控光路选择器12和眼图仪131的第一测试光路；其中第一程控光路选择器12的一个输出端与眼图仪131连接。

包含第一程控光路选择器12和第一多波长计1321的第二测试光路；其中第一程控光路选择器12的一个输出端与第一多波长计1321连接。

包含第一程控光路选择器12、光功率控制装置133、分光器134以及第二多波长计1322的第三测试光路；其中第一程控光路选择器12的一个输出端与光功率控制装置133连接，光功率控制装置133还与分光器134连接，分光器134分别与待调试光模块和第二多波长计1322连接，用于将光功率控制装置133传输来的光信号均匀传输给待调试光模块和第二多波长计1322。应当理解的是，本实施中分光器134可以为50/50分光器。

应当理解的是，上述各测试光路中，不同的测试光路其对应的第一程控光路选择器12的输出端也不同。本实施例中，第一程控光路选择器12可以由一个1入N出光开关(1*N光开关)来实现，其中N为大于等于3的正整数。

应当理解的是，为简化整体光路，提高设备利用率并减少设备成本，本实施中可以仅设置一个多波长计132，即设置第一多波长计1321和第二多波长计1322为同一多波长计。此时，为保证仍可分别选通第二测试光路或第三测试光路，在测试光路中还应包括一个第二程控光路选择器14，参见图3，此时第一程控光路选择器12的一个输出端与第二程控光路选择器14的一个输入端连接，分光器134的一个输出端与第二程控光路选择器14的另一个输入端连接，而第二程控光路选择器14的输出端与多波长计132连接。

应当理解的是，本实施例中第二程控光路选择器14同样与调试终端11网络连接，由调试终端11控制第二程控光路选择器14选择某一输入端进行光信息输入。这样，通过第二程控光路选择器14即可分别实现对第二测试光路或第三测试光路的选通。

应当理解的是，参见图2或图3所示，本实施例中光功率控制装置133包括通过光纤连接的光放大器1331和光衰减器1332。调试终端11通过调整光放大器1331和光衰减器1332从而控制输入给分光器134的光信号的功率。

应当理解的是，仍旧参见图3所示，在本实施提供的光模块调试系统还包括一个带有误码测试功能的调试板15，该调试版15用于容纳固定待调试光模块，并为调试终端11与待调试光模块之间建立通信连接，以及为待调试光模块提供激光源。

值得注意的是，在本实施例中，待调试光模块的待调试参数应当包括初始值，波长，消光比，误码数，出光功率定标值及入光功率定标值等中的至少两项。

还值得注意的是，由于各光路设备之间是通过光纤连接的，存在着插损，因此建立好光模块调试系统的整体光路后，需要设置插损补偿值以进行插损补偿。

具体的，取一光模块安装于调试板15内，利用光功率计获取光模块出光端的功率值TxPwr1；再选通第二测试光路，利用多波长计132读取到光功率值TxPwr2。插损补偿值即为TxOffset＝TxPwr1-TxPwr2。

还值得注意的是，为保证调试的准确性，在对待调试光模块进行调试之前，还需要对光模块调试系统的光纤插损进行检查。

具体的，对于待调试光模块出光端的插损检查：先利用光功率计测量得到待调试光模块出光端的光功率值TxPwr1；再选通第二测试光路，利用多波长计132读取到光功率值TxPwr2。调试终端11计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否处于设定范围内(例如小于0.5dB)，若处于设定范围内，则待调试光模块出光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁。

对于待调试光模块入光端的插损检查：选通第三测试光路，利用光功率计测量得到待调试光模块入光端的光功率值TxPwr1；利用多波长计132读取到光功率值TxPwr2。调试终端11计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否处于设定范围内(例如小于0.5dB)，若处于设定范围内，则待调试光模块入光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁。

本实施例中，在进行调试时，对于待调试参数“初始值”而言，应优先于其他待调试参数进行调试，该调试可直接由调试终端11通过与待调试光模块的通信连接进行。

具体的，调试终端11获取待调试光模块的软件版本和逻辑版本与配置文件的版本号比较，如果一致，测试通过，否则，测试不通过，并弹出对话框说明模块的软件版本和逻辑版本需要更新。同时调试终端11获取待调试光模块SN码写入对应的寄存器中，例如寄存器有0x8044～0x8050，SN码为697845123874，写入时需要将6的ASCII码写到0x8044寄存器，9的ASCII码写到0x8045寄存器，7的ASCII码写到0x8046寄存器，…，最终将SN码的各个数值分别写入到对应的寄存器中。此后，调试终端11根据写入的待调试光模块的SN码在预存的初始值数据资料中查找出与该SN码对应的初始值数据，并将之写入到待调试光模块相应的寄存器中。应当理解的是，待调试光模块所需写入的初始值包括光器件TOSA(TransmitterOptical Subassembly，光发射次组件)/ROSA(Receiver Optical Subassembly，光接收次组件)AWG(Arrayed Waveguide Grating，阵列波导光栅)温度、ROSA APD(Avalanche PhotoDiode，雪崩光电二极管)偏置电压、TOSA激光器偏置电流、Heater电流、EA、VB、VC等。还值得注意的是，在初始值写完之后，调试终端11还会对待调试光模块的主要性能量TXAWG温度进行查询，如果查询到的温度与初始值设置的温度之差处于允许范围内(例如小于±0.3℃)，则测试通过；否则，调试终端11对相应的性能寄存器进行调整，并继续查询比较，直至查询到的温度与初始值设定的温度偏差处于允许范围内。

对于待调试参数“波长”而言，调试终端11可以控制第一程控光路选择器12选通第二测试光路(对于如图3所示的光路，调试终端11还需控制第二程控光路选择器14选通对应的光输入端从而实现第二测试光路的选通)，多波长计132测试待调试光模块光输出的中心波长，此后调试终端11获取该测得的中心波长，并根据测得的中心波长与该待调试光模块对应的ITU-T标准波段进行对比，判断差值是否在接受范围内(例如判断差值是否小于±7GHz)，若在即判定波长调试成功，否则，波长调试失败。具体的，在第二测试光路选通时，先通过波长锁定寄存器判定输入到多波长计132的光波长是否处于目标波长段内，即判定波长锁定寄存器是否锁定，若是，则多波长计132接收输入的光波，并测试得到中心波长；调试终端11读取测得的中心波长，并与该待调试光模块对应的ITU-T标准波段进行对比，确定波长调试是否成功。此时其余测试光路不连通。

应当理解的是，在第二测试光路选通时，还可以进行出光功率定标。具体的，多波长计132测量出光功率值Txpwr，并将光功率的单位由dBm转换为mW。调试终端11读取待调试光模块中对应寄存器的值，得到定标电压值TxVot，利用公式K1＝Txpwr*1000/TxVot得到出光功率定标系数K1，并将K1值写入相应寄存器中。应当理解的是，对于光模块而言，其在输出光信号时，会在相应寄存器中写入对应该输出光信号的电压值，调试终端11通过读取该寄存器的值即可得到输出光信号的电压。

本实施例中，对于可通过眼图仪131测试的待调试参数而言，调试终端11可以控制第一程控光路选择器12选通第一测试光路，眼图仪131测量待调试光模块光输出的眼图，得到消光比、交叉点、掉沙、SNR(SIGNAL-NOISE RATIO，信噪比)值，并上报给调试终端，此后调试终端根据眼图仪131测量得到的消光比、交叉点、掉沙、SNR值与预存的相关标准值进行比较，从而确定对应参数是否满足要求。此时其余测试光路不连通。

本实施例中，调试终端11可以控制第一程控光路选择器12选通第三测试光路(对于如图3所示的光路，调试终端11还需控制第二程控光路选择器14选通对应的光输入端从而实现第三测试光路的选通)，此时可以实现误码调试。具体的，设置入光功率为灵敏度功率，调试板15测试误码数，如果误码数小于等于预设误码数阈值(优选误码数阈值为0)，则调试终端11读取对应的偏置电压寄存器值Vop作为定标值，并保存该偏置电压寄存器值以及对应的误码数。如果误码数大于预设误码数阈值，则调试终端11控制待调试光模块以预设步长增加偏置电压寄存器的值(优选以25的步长进行增加)，连续增加n次(优选n为15)，每增加一次即读取一次误码数，一共读取到n组数据，判断这n组数据中是否有误码数小于等于预设误码数阈值，若有，以误码数最小的一组所对应的偏置电压寄存器值做为Vop定标值，并写入寄存器；若无，则调试失败。

应当理解的是，在第三测试光路选通，且误码调试成功后，还可以进行入光功率定标。具体的，光功率控制装置133将入光功率调到-10dBm，多波长计读取光功率Pwr1，调试终端11计算得到入光功率RxPwr1＝Pwr1+RxOffset。调试终端11读取入光定标电压RxVolt1。此后，光功率控制装置133将入光功率调到-20dBm，多波长计读取光功率Pwr2，调试终端11计算得到入光功率RxPwr2＝Pwr2+RxOffset。调试终端11读取入光定标电压RxVolt2。调试终端11根据公式K2＝(RxPwr1-RxPwr2)/ln(RxVolt1/RxVolt2)以及B＝RxPwr1-K2*ln(RxVolt1/8250)得到入光功率定标系数K2和B，并将K2和B乘以5000换算成16进制数，并按照顺序以重要数据方式写入相应的寄存器中。

还应当理解的是，本实施例中的待调试光模块可以是多通道光模块，对于多通道光模块而言，调试终端11可以控制多通道光模块进行通道切换。调试终端11在对某一个待调试参数进行调试时，会对多通道光模块的每一个通道的该待调试参数都进行调试。此时调试板15应对应选择可兼容多通道光模块的调试板设备。

应当理解的是，在进行计算插损补偿值时，需要对多通道光模块的各个通道分别计算插损补偿值。在需要利用到插损补偿值计算时，针对各通道的计算即采用通道自身对应的插损补偿值进行计算。

应当理解的是，在第二测试光路选通时，还可以进行出光功率检查，具体的，打开调试版15的激光源，各通道均输出波长，等待一定时间(例如1分钟)后，用多波长计轮询测量待调试光模块的各通道光功率，直到各通道光功率的跳变达到设定范围(例如小于正负0.1dB)，判断各通道输出光是否满足功率范围，若满足，出光功率检查通过，否则，不通过。

值得注意的是，在本实施例中，调试终端11在进行调试之前，应当由工程师进行相关数据配置，例如进行光模块的SN配置、员工工号配置、调试流程(即调试顺序)配置、测试规格配置等。

应当理解的是，在本实施例中，调试终端11按照预设的调试顺序依次对待调试光模块的各个参数进行调试时，若对某一个参数的调试失败，则直接结束对待调试光模块的调试。此时调试终端11可以向工程师反馈调试失败，并反馈哪一个参数调试失败。

应当理解的是，为保证调试结果的准确性，本实施例中，调试终端11在根据预设调试顺序对待调试光模块各项待调试参数完成调试之后，还可以对待调试光模块的各项参数进行至少一次复测，并将复测得到的待调试光模块的各项参数的测试结果与调试终端11对待调试光模块的各项参数进行调试后得到的调试结果进行比较，若复测得到的待调试光模块的各项参数的结果与调试结果匹配，则判定调试成功，否则即判定调试失败，需要重新调试。

在本实施例中，为保证复测得到的值得有效性，可以将调试板15或待调试光模块掉电之后重新上电，再对各参数进行复测。

参见图4，本实施例中还提供一种包含光模块调试系统1的光模块管理系统，包括光模块调试系统1和服务器2。其中光模块调试系统1在对待调试光模块进行调试之后，会将调试结果上报给服务器2，由服务器2进行保存。这样就使得可以对所有调试后的光模块的调试结果进行追溯，更加便于管理。

本实施例提供的光模块调试系统和光模块管理系统，将系统中的各个设备均与调试终端建立通信连接，通过调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路(各测试光路包括与第一程控光路选择器连接的用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的参数测试设备)，并获取测试光路中的参数测试设备的测试结果，最后根据测试结果完成对待调试光模块对应参数的调试。即在本发明实施例提供的方案中，由调试终端通过自动控制第一程控光路选择器来选通对应的测试光路，从而自动完成对待调试光模块的某一或某几个待调试参数的调试。调试过程中不需要人员参与，不需要重复进行光纤连接、设备更替等工作，调试终端根据预设调试顺序即可自动完成对待调试光模块的调试，极大的缩减人工成本，大幅度提升了调试效率，同时由调试终端自动对数据进行采集和计算，也提高了测试准确性。

实施例二：

为缩减调试光模块过程中的人工成本，并提升调试效率，本实施例中提供了一种光模块调试方法，参见图5，图5为本实施例提供的一种光模块调试方法的流程示意图，包括：

S501：调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路；

在本实施例中，第一程控光路选择器与调试终端之间存在网络连接，其受调试终端的控制选择接通具体的某一测试光路进行相应的待调试光模块的待调试参数的测试。

应当理解的是，在本实施例中，各测试光路包括第一程控光路选择器和与第一程控光路选择器各输出端分别连接的各个参数测试设备，参数测试设备与第一程控光路选择器之间可以通过光纤连接。

S502：调试终端获取测试光路中的参数测试设备的测试结果；

在本实施例中，各参数测试设备与调试终端均存在网络连接。本实施例中，不同的参数测试设备可以对待调试光模块的不同待调试参数进行测试，并将测试结果上报给调试终端。应当理解的是，各参数测试设备也可以不主动上报测试结果，而是由调试终端主动到各参数测试设备上读取测试结果。

S503：调试终端根据测试结果完成对待调试光模块对应参数的调试。

值得注意的是，在本实施例中，由于所需测试的待调试参数的不同，不同测试光路中的参数测试设备也各不相同，从而使得各测试光路也各不相同。因此，参见图2，在本实施例中测试光路至少包括：包含第一程控光路选择器和眼图仪的第一测试光路，包含第一程控光路选择器和第一多波长计的第二测试光路，以及包含第一程控光路选择器、光功率控制装置、分光器以及第二多波长计的第三测试光路。

应当理解的是，上述各测试光路中，不同的测试光路其对应的第一程控光路选择器的输出端也不同。本实施例中，第一程控光路选择器可以由一个1入N出光开关(1*N光开关)来实现，其中N为大于等于3的正整数。

应当理解的是，为简化整体光路，提高设备利用率并减少设备成本，本实施中可以仅设置一个多波长计，即第一多波长计和第二多波长计为同一多波长计。此时，为保证仍可分别选通第二测试光路或第三测试光路，在测试光路中还应包括一个第二程控光路选择器，其电路结构参见图3，此时第一程控光路选择器的一个输出端与第二程控光路选择器的一个输入端连接，分光器的一个输出端与第二程控光路选择器的另一个输入端连接，而第二程控光路选择器的输出端与多波长计连接。

应当理解的是，本实施例中第二程控光路选择器同样与调试终端网络连接，由调试终端控制第二程控光路选择器选择某一输入端进行光信息输入。这样，通过第二程控光路选择器即可分别实现对第二测试光路或第三测试光路的选通。

应当理解的是，本实施例中光功率控制装置包括通过光纤连接的光放大器和光衰减器。调试终端通过调整光放大器和光衰减器从而控制输入给分光器的光信号的功率。

图3所示的光路中还包括一个带有误码测试功能的调试板，该调试版用于容纳固定待调试光模块，并为调试终端与待调试光模块之间建立通信连接，以及为待调试光模块提供激光源。

在本实施例中，待调试光模块的待调试参数应当包括初始值，波长，消光比，误码数，出光功率定标值及入光功率定标值等中的至少两项。

还值得注意的是，由于各光路设备之间是通过光纤连接的，存在着插损，因此建立好光模块调试系统的整体光路后，存在设置插损补偿值以进行插损补偿的步骤。

具体过程包括：取一光模块安装于调试板内，利用光功率计获取光模块出光端的功率值TxPwr1；再选通第二测试光路，利用多波长计读取到光功率值TxPwr2。利用公式TxOffset＝TxPwr1-TxPwr2计算得到插损补偿值TxOffset。

还值得注意的是，为保证调试的准确性，在对待调试光模块进行调试之前，还存在对光模块调试系统的光纤插损进行检查的步骤，具体包括：

对于待调试光模块出光端的插损检查：先利用光功率计测量得到待调试光模块出光端的光功率值TxPwr1；再选通第二测试光路，利用多波长计132读取到光功率值TxPwr2。调试终端11计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否处于设定范围内(例如小于0.5dB)，若处于设定范围内，则待调试光模块出光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁。

对于待调试光模块入光端的插损检查：选通第三测试光路，利用光功率计测量得到待调试光模块入光端的光功率值TxPwr1；利用多波长计132读取到光功率值TxPwr2。调试终端11计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否处于设定范围内(例如小于0.5dB)，若处于设定范围内，则待调试光模块入光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁。

本实施例中，在进行调试时，对于待调试参数“初始值”而言，应优先于其他待调试参数进行调试，该调试可直接由调试终端通过与待调试光模块的通信连接进行。

本实施例中，调试终端可以控制第一程控光路选择器选通第二测试光路(对于如图3所示的光路，调试终端还需控制第二程控光路选择器选通对应的光输入端从而实现第二测试光路的选通)，从而对待调试参数“波长”进行调试。具体步骤包括：多波长计测试待调试光模块光输出的中心波长；调试终端获取该测得的中心波长，并根据测得的中心波长与该待调试光模块对应的ITU-T标准波段进行对比，判断差值是否在接受范围内；若在即判定波长调试成功，否则，波长调试失败。

本实施例中，在第二测试光路选通时，还可以进行出光功率定标。具体的，多波长计测量出光功率值Txpwr，并将光功率的单位由dBm转换为mW。调试终端读取待调试光模块中对应寄存器的值，得到定标电压值TxVot，利用公式K1＝Txpwr*1000/TxVot得到出光功率定标系数K1，并将K1值写入相应寄存器中。

本实施例中，调试终端可以控制第一程控光路选择器选通第一测试光路，从而进行眼图测试，通过眼图仪测量待调试光模块光输出的眼图，得到消光比、交叉点、掉沙、SNR值，并将之与预存的相关标准值进行比较，从而确定对应参数是否满足要求。

本实施例中，调试终端可以控制第一程控光路选择器选通第三测试光路(对于如图3所示的光路，调试终端还需控制第二程控光路选择器选通对应的光输入端从而实现第三测试光路的选通)，此时可以实现误码调试。具体的，设置入光功率为灵敏度功率，调试板测试误码数，如果误码数小于等于预设误码数阈值，则调试终端读取对应的偏置电压寄存器值Vop作为定标值，并保存该偏置电压寄存器值以及对应的误码数。如果误码数大于预设误码数阈值，则调试终端控制待调试光模块以预设步长增加偏置电压寄存器的值，连续增加n次，每增加一次即读取一次误码数，一共读取到n组数据，判断这n组数据中是否有误码数小于等于预设误码数阈值，若有，以误码数最小的一组所对应的偏置电压寄存器值做为Vop定标值，并写入寄存器；若无，则调试失败。

应当理解的是，在第三测试光路选通，且误码调试成功后，还可以进行入光功率定标。具体的，光功率控制装置将入光功率调到-10dBm，多波长计读取光功率Pwr1，调试终端计算得到入光功率RxPwr1＝Pwr1+RxOffset。调试终端读取入光定标电压RxVolt1。此后，光功率控制装置将入光功率调到-20dBm，多波长计读取光功率Pwr2，调试终端计算得到入光功率RxPwr2＝Pwr2+RxOffset。调试终端读取入光定标电压RxVolt2。调试终端根据公式K2＝(RxPwr1-RxPwr2)/ln(RxVolt1/RxVolt2)以及B＝RxPwr1-K2*ln(RxVolt1/8250)得到入光功率定标系数K2和B，并将K2和B乘以5000换算成16进制数，并按照顺序以重要数据方式写入相应的寄存器中。

还应当理解的是，本实施例中的待调试光模块可以是多通道光模块，对于多通道光模块而言，调试终端可以控制多通道光模块进行通道切换。调试终端在对某一个待调试参数进行调试时，会对多通道光模块的每一个通道的该待调试参数都进行调试。此时调试板应对应选择可兼容多通道光模块的调试板设备。此时参见图6，对多通道光模块进行调试的过程包括：

S601：调试终端获取各测试光路中的参数测试设备对多通道光模块当前通道的测试结果；

S602：调试终端根据获取到的测试结果完成对与多通道光模块当前通道对应参数的调试；

S603：控制多通道光模块按照预设切换顺序将所述多通道光模块当前通道切换至下一通道，转至S601。

应当理解的是，在本实施例中，若多通道光模块各个通道的某一参数都调试完毕之后，调试终端即会按照预设调试顺序对下一待调试参数进行调试。还应当理解的是，在本实施例中多通道光模块可以采用多通道CFP光模块。

应当理解的是，若待调试光模块为多通道光模块，则在进行计算插损补偿值时，需要对多通道光模块的各个通道分别计算插损补偿值。在需要利用到插损补偿值计算时，针对各通道的计算即采用通道自身对应的插损补偿值进行计算。

应当理解的是，在第二测试光路选通时，还可以进行出光功率检查，具体的，打开调试版的激光源，各通道均输出波长，等待一定时间后，用多波长计轮询测量待调试光模块的各通道光功率，直到各通道光功率的跳变达到设定范围，判断各通道输出光是否满足功率范围，若满足，出光功率检查通过，否则，不通过。

值得注意的是，在本实施例中，调试终端11在进行调试之前，应当由工程师进行相关数据配置，例如进行光模块的SN配置、员工工号配置、调试流程(即调试顺序)配置、测试规格配置等。

应当理解的是，在本实施例中，调试终端按照预设的调试顺序依次对待调试光模块的各个参数进行调试时，若对任意一个参数的调试失败，则直接结束对待调试光模块的调试。此时调试终端可以向工程师反馈调试失败，并反馈哪一个参数调试失败。

应当理解的是，为保证调试结果的准确性，本实施例中，调试终端在根据预设调试顺序对待调试光模块各项待调试参数完成调试之后，还可以对待调试光模块的各项参数进行至少一次复测，并将复测得到的待调试光模块的各项参数的测试结果与调试终端对待调试光模块的各项参数进行调试后得到的调试结果进行比较，若复测得到的待调试光模块的各项参数的结果与调试结果匹配，则判定调试成功，否则即判定调试失败，需要重新调试。

在本实施例中，为保证复测得到的值得有效性，可以将调试板或待调试光模块掉电之后重新上电，再对各参数进行复测。

应当理解的是，在本实施例中，调试终端还可以将调试结果上传到服务器上，由服务器对调试结果进行保存，使得可以对所有调试后的光模块的调试结果进行追溯，更加便于管理。

本实施例提供的光模块调试方法，通过调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路(各测试光路包括与第一程控光路选择器连接的用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的参数测试设备)，并获取测试光路中的参数测试设备的测试结果，最后根据测试结果完成对待调试光模块对应参数的调试。即在本发明实施例提供的方案中，由调试终端通过自动控制第一程控光路选择器来选通对应的测试光路，从而自动完成对待调试光模块的某一或某几个待调试参数的调试。调试过程中不需要人员参与，不需要重复进行光纤连接、设备更替等工作，调试终端根据预设调试顺序即可自动完成对待调试光模块的调试，极大的缩减人工成本，大幅度提升了调试效率，同时由调试终端自动对数据进行采集和计算，也提高了测试准确性。

实施例三：

本实施例在实施例一和二的基础上，以一种具体的光模块调试系统结构，且待调试光模块为多通道CFP光模块的情况为例，对本发明实施例的方案作进一步示例说明。

参见图7所示的光模块调试系统，包括调试终端，多波长计，两个1*4可控光开关，眼图仪，可调光衰减器，可调光放大器，50/50分光器，具有激光源以及误码测试功能的CFP光模块调试板。其中：

CFP光模块调试板与调试终端通过网口或者串口进行通信，CFP光模块调试板与多通道CFP光模块通过MDIO接口进行通信，多通道CFP光模块的输出端口通过LC-LC光纤连接到1*4可控光开关A的输入端口，1*4可控光开关A的输出口1接眼图仪的接收端口，输出口3接可调光放大器，可调光放大器的输出口接可调光衰减器，可调光衰减器的输出口接50/50分光器，分光器两个输出端口一个接CFP光模块的接收端口，另一个接1*4可控光开关B的3输入口，1*4可控光开关A的4输出端口接1*4可控光开关B的1输入端口，1*4可控光开关B的输出端口接多波长及的接收端口。

值得注意的是，在本实施例中，除光模块调试系统之外，还需要用到光功率计。参见图8所示，本实施例中所有设备均通过网口或者串口经由交换机与调试终端相连，调试终端对测试设备进行控制。

在本实施例中，参见图9，其具体的调试过程如下：

S901：插损补偿值配置。

具体的，将CFP光模块安装到CFP光模块调试板中，将CFP光模块的出光端与光功率计连接，调试终端控制打开CFP光模块的第x通道的出光，关闭其他通道的出光，利用光功率计获取光模块出光端第x通道的功率值TxPwr1；再将CFP光模块的出光端与光模块光开关A连接，将光开关A选通4输出端口，将光开关B选通1输出端口，此时多波长计读取第x通道的光功率值TxPwr2。调试终端计算插损补偿值TxOffset[x]＝TxPwr1-TxPwr2。

根据上述步骤，调试终端依次计算得到CFP光模块所有通道的插损补偿值。应当理解的是，该步骤仅在光模块调试系统正式使用之前进行，在光模块调试系投入使用之后即不再需要进行。

S902：工程师将多通道CFP光模块安装到CFP光模块调试板中，并上电。

S903：进行插损检查。

具体的，对于待调试光模块出光端的插损检查：调试终端控制打开CFP光模块的第x通道的出光，关闭其他通道的出光，先利用光功率计测量得到待调试光模块出光端的光功率值TxPwr1；再将CFP光模块的出光端与光模块光开关A连接，将光开关A选通4输出端口，将光开关B选通1输出端口，利用多波长计读取到光功率值TxPwr2。调试终端计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否小于0.5dB，若小于，则待调试光模块出光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁或要求工程师重新进行插损补偿值配置。

对于待调试光模块入光端的插损检查：调试终端控制打开CFP光模块的第x通道的出光，关闭其他通道的出光，将光开关A选通3输出端口，将光开关B选通3输出端口，利用光功率计测量得到待调试光模块入光端的光功率值TxPwr1；利用多波长计读取到光功率值TxPwr2。调试终端计算TxPwr1-TxPwr2-TxOffset的绝对值是否处于设定范围内(例如小于0.5dB)，若处于设定范围内，则待调试光模块入光端的正常；否则，需要检查系统中各光纤端口是否清洁或要求工程师重新进行插损补偿值配置。

S904：系统数据配置。

具体的，工程师在调试终端上进行数据输入或选择操作，从而进行CFP光模块SN配置、员工工号配置、测试流程配置、测试规格配置等。同时还可以通过调试终端对光模块调试系统中的仪器进行配置，由调试终端自动调用仪器的初始参数信息，当需要修改仪器设置时，则进入仪器参数设置界面，对仪器参数进行改动即可。

S905：版本检查及CFP光模块SN码获取。

具体的，调试终端下发命令让CFP光模块进入密码保护状态。此后，调试终端查询CFP光模块版本，将得到的CFP光模块软件版本和逻辑版本与配置文件中的版本号比较。如果一致，测试通过，否则，测试不通过，并弹出对话框说明模块的软件版本和逻辑版本需要更新。

此外，调试终端还会将CFP光模块的外部条码(SN码)写到对应的寄存器中，将每一个SN码的数解析成ASCII码依次存储到相应寄存器中。

S906：初始值写入。

具体的，调试终端根据写入的CFP光模块的SN码在预存的初始值数据资料中查找出与该SN码对应的初始值数据，并将之写入到CFP光模块相应的寄存器中。应当理解的是，CFP光模块所需写入的初始值包括光器件TOSA/ROSA AWG温度、ROSA APD偏置电压、TOSA激光器偏置电流、Heater电流、EA、VB、VC等。还值得注意的是，在初始值写完之后，调试终端还会对CFP光模块的主要性能量TXAWG温度进行查询，如果查询到的温度与初始值设置的温度之差小于±0.3℃，则测试通过；否则，调试终端对相应的性能寄存器进行调整，并继续查询比较，直至查询到的温度与初始值设定的温度偏差小于±0.3℃为止。

S907：波长调试。

具体的，将光开关A选通4输出端口，将光开关B选通1输出端口。判定波长锁定寄存器是否锁定，若否，结束调试。若是，则多波长计接收输入的光波，并测试得到中心波长。调试终端读取测得的中心波长，并与该待调试光模块对应的ITU-T标准波段进行对比，判断差值是否小于±7GHz，若是即判定波长调试成功，否则，波长调试失败。

S908：眼图测试。

具体的，将光开关A选通1输出端口。调试终端控制每次单开一个通道激光，并等待30s，用眼图仪依次测量各通道眼图，得到各通道的消光比、交叉点、掉沙、SNR值，并将之与预存的相关标准值进行比较，从而确定对应参数是否满足要求。若不满足要求即需要进行调整。

S909：出光功率检查。

具体的，将光开关A选通4输出端口，将光开关B选通1输出端口。调试终端控制打开各通道的激光，等待1分钟后，用多波长计轮询测量CFP光模块各通道光功率，直到各通道光功率的跳变小于正负0.1dB，判断是各路出光否满足出光功率范围，在范围内，出光功率检查通过，否则，不通过。

S910：出光功率定标。

具体的，将光开关A选通4输出端口，将光开关B选通1输出端口。多波长计测量出光功率值Txpwr[x]，并将光功率的单位由dBm转换为mW。调试终端读取待调试光模块中对应寄存器的值，得到定标电压值TxVot[x]，利用公式K1[x]＝Txpwr[x]*1000/TxVot[x]得到出光功率定标系数K1，并将K1[x]值写入相应寄存器中。应当理解的是，Txpwr[x]表示CFP光模块第x通道的光功率值，TxVot[x]表示CFP光模块第x通道的定标电压值。

S911：误码数调试。

具体的，将光开关A选通3输出端口。设置第x通道的入光功率为灵敏度功率，CFP光模块调试板测试误码数，如果第x路误码寄存器等于0，则调试终端读取对应的偏置电压寄存器值Vop作为定标值，并保存该偏置电压寄存器值以及对应的误码数。如果第x路误码寄存器不等于0，则调试终端11控制待调试光模块以25的步长增加偏置电压寄存器的值，连续增加15次，读取到15组数据，判断这15组数据中是否有误码数为0的，若有，以误码数最小的一组所对应的偏置电压寄存器值做为Vop定标值，并写入寄存器；若无，则调试失败。

S912：入光功率定标。

具体的，先检查是否已经完成S911，如果完成，则继续进行入光功率定标，否者结束入光功率定标，并提示需要先完成S911。在检查通过之后，将光开关A选通3输出端口，将光开关B选通3输出端口。将第x通道的入光功率调到-10dBm，通过多波长计回读第x路的光功率Pwr1[x]，入光功率RxPwr1[x]＝Pwr1[x]+RxOffset[x]。调试终端读取第x路入光定标电压RxVolt1[x]。此后，将第x通道的入光功率调到-20dBm，多波长计读取光功率Pwr2[x]，调试终端计算得到入光功率RxPwr2[x]＝Pwr2[x]+RxOffset[x]。调试终端读取入光定标电压RxVolt2[x]。调试终端11根据公式K2[x]＝(RxPwr1[x]-RxPwr2[x])/ln(RxVolt1[x]/RxVolt2[x])以及B[x]＝RxPwr1[x]-K2[x]*ln(RxVolt1[x]/8250)得到入光功率定标系数K2[x]和B[x]，并将K2[x]和B[x]乘以5000换算成16进制数，并按照顺序以重要数据方式写入相应的寄存器中。

S913：复测验证。

具体的，将CFP光模块调试板掉电后重新上电，通过调试终端使光模块进入密码保护状态，对各参数进行复测验证，确认各项指标满足通过准则。

S914：调试结束，调试终端上传测试结果到服务器，将测试主界面中的SN条码值清空。

应当理解的是，根据不同类型的CFP光模块可以进行调试流程顺序的调整，以达到最佳的调试效果。

本实施例提供的光模块调试系统和光模块调试过程中，预先已搭建好对不同参数进行调试的光路，由调试终端根据配置好的调试流程控制光路的选通，从而自动完成对待调试光模块的各待调试参数的调试。调试过程中不需要人员参与，不需要重复进行光纤连接、设备更替等工作，调试终端根据预设调试顺序即可自动完成对待调试光模块的调试，极大的缩减人工成本，大幅度提升了调试效率，同时由调试终端自动对数据进行采集和计算，也提高了测试准确性。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在计算机存储介质(ROM/RAM、磁碟、光盘)中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。所以，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种光模块调试方法，其特征在于，包括：

调试终端根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路；各所述测试光路包括与所述第一程控光路选择器连接的用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的参数测试设备；

所述调试终端获取所述测试光路中的参数测试设备的测试结果；

根据所述测试结果完成对所述待调试光模块对应参数的调试。

2.如权利要求1所述的光模块调试方法，其特征在于，所述待调试参数包括初始值，波长，消光比，误码数，出光功率定标值及入光功率定标值中的至少两项；

在所述待调试参数包括初始值时，首先对初始值进行调试；

在所述待调试参数包括误码数和入光功率定标值时，将所述误码数在所述入光功率定标值之前进行调试。

3.如权利要求2所述的光模块调试方法，其特征在于，所述光模块调试方法还包括：

若所述调试终端对所述待调试光模块的任意待调试参数调试失败，结束对所述待调试光模块的调试。

4.如权利要求1-3任一项所述的光模块调试方法，其特征在于，在所述调试终端根据所述预设调试顺序对所述待调试光模块各项待调试参数完成调试之后还包括：

对所述待调试光模块的各项参数进行至少一次复测；

将所述复测得到的所述待调试光模块的各项参数的测试结果与所述调试终端对所述待调试光模块的各项参数进行调试后得到的调试结果进行比较；

若所述复测得到的所述待调试光模块的各项参数的结果与所述调试结果匹配，判定调试成功。

5.如权利要求1-3任一项所述的光模块调试方法，其特征在于，所述待调试光模块为多通道光模块；

所述调试终端获取所述测试光路中的参数测试设备的测试结果包括：

所述调试终端获取各所述测试光路中的参数测试设备对所述多通道光模块当前通道的测试结果；

所述调试终端根据所述测试结果完成对所述待调试光模块对应参数的调试包括：

所述调试终端根据获取到的所述测试结果完成对与所述多通道光模块当前通道对应参数的调试；

所述光模块调试方法还包括：

所述调试终端在完成对与所述多通道光模块当前通道对应参数的调试之后，控制所述多通道光模块按照预设切换顺序将所述多通道光模块当前通道切换至下一通道。

6.一种光模块调试系统，其特征在于，包括调试终端、第一程控光路选择器、以及至少两个用于对待调试光模块中的不同待调试参数进行测试的参数测试设备；

所述第一程控光路选择器、待调试光模块以及各参数测试设备均与所述调试终端通信连接；

所述参数测试设备与所述第一程控光路选择器的输出端连接形成用于对待调试光模块的至少一项待调试参数进行测试的测试光路；所述第一程控光路选择器的输入端与所述待调试光模块的光输出端连接；

所述调试终端用于根据预设调试顺序控制第一程控光路选择器选通对应的测试光路，以及用于获取所述测试光路中的参数测试设备的测试结果，并根据获取到的所述测试结果完成对所述待调试光模块对应参数的调试。

7.如权利要求6所述的光模块调试系统，其特征在于，所述测试光路包括：

包含所述第一程控光路选择器和眼图仪的第一测试光路；所述第一程控光路选择器的一个输出端与所述眼图仪连接；

包含所述第一程控光路选择器和第一多波长计的第二测试光路；所述第一程控光路选择器的一个输出端与所述第一多波长计连接；

包含所述第一程控光路选择器、光功率控制装置、分光器以及第二多波长计的第三测试光路；所述第一程控光路选择器的一个输出端与所述光功率控制装置连接，所述光功率控制装置还与所述分光器连接，所述分光器分别与所述待调试光模块和所述第二多波长计连接，用于将所述光功率控制装置传输来的光信号均匀传输给所述待调试光模块和所述第二多波长计。

8.如权利要求7所述的光模块调试系统，其特征在于，所述第一多波长计与所述第二多波长计为同一多波长计；所述测试光路还包括第二程控光路选择器；

所述第一程控光路选择器的一个输出端与所述第二程控光路选择器的一个输入端连接，所述第二程控光路选择器的输出端与所述多波长计连接；

所述分光器与所述第二程控光路选择器的另一个输入端连接，所述第二程控光路选择器的输出端与所述多波长计连接。

9.如权利要求7或8所述的光模块调试系统，其特征在于，所述光功率控制装置包括通过光纤连接的光放大器和光衰减器。

10.一种光模块管理系统，其特征在于，包括服务器，以及与所述服务器通信连接的如权利要求6-9任一项所述的光模块调试系统；

所述光模块调试系统用于对待调试光模块进行调试，并将调试结果上报给所述服务器；

所述服务器用于接收所述光模块调试系统上报的光模块的调试结果并保存。