CN203522743U - 一种sfp光模块测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种SFP光模块测试装置,涉及光通信中测试装置领域,包括连接待测光模块的测试板和与其相连的计算机,还包括与计算机依次连接的误码仪、SFP模块信号源、电调衰减器、光分路器,所述光分路器还连接一个光功率计,所述SFP光模块测试装置还包括眼图仪,眼图仪分别连接计算机和待测光模块,所述计算机还与电调衰减器相连。本实用新型能够自动完成SFP光模块各项性能指标的测试,无需人工记录数据,减少整体测试时间,提高测试效率。

Description

一种SFP光模块测试装置
技术领域
本实用新型涉及光通信中测试装置领域,具体来讲是一种SFP光模块测试装置。
背景技术
SFP光模块是通信领域中的一种标准光电转换模块,SFP光模块主要功能是实现光电/电光变换,包括光功率控制、调制发送,信号探测、IV转换以及限幅放大判决再生功能,此外还有防伪信息查询、
TX-disable等功能。
目前,SFP光模块性能指标主要依靠手动测试,每种性能指标需要对应的测试设备来测定。如测定SFP光模块的发射光功率,需要将SFP光模块通过功率计测试,并在功率计上进行手动调谐,将该指标调试到标准值,并记录相应数据。由于SFP光模块的测试包括多种性能指标,每种性能指标的测试都需要更换不同测试设备,又需要人工记录数据,导致整体测试时间较长,测试效率较低。
实用新型内容
针对现有技术中存在的缺陷,本实用新型的目的在于提供一种SFP光模块测试装置,能够自动完成SFP光模块各项性能指标的测试,无需人工记录数据,减少整体测试时间,提高测试效率。
为达到以上目的,本实用新型采取的技术方案是:一种SFP光模块测试装置,包括连接待测光模块的测试板和与其相连的计算机,还包括与计算机依次连接的误码仪、SFP模块信号源、电调衰减器、光分路器,所述光分路器还连接一个光功率计,所述SFP光模块测试装置还包括眼图仪,眼图仪分别连接计算机和待测光模块,所述计算机还与电调衰减器相连。
在上述技术方案的基础上,还包括数控电源,所述数控电源分别连接计算机和测试板。
在上述技术方案的基础上,所述待测光模块包括发射端口和接收端口,发射端口通过单模光纤连接眼图仪,接收端口通过单模光纤连接光分路器。
在上述技术方案的基础上,所述待测光模块通过金手指连接至测试板。
在上述技术方案的基础上,所述计算机通过不同的USB接口分别与误码仪、电调衰减器、测试板通信。
在上述技术方案的基础上,所述眼图仪通过GPIB电缆连接计算机。
在上述技术方案的基础上,所述误码仪通过电缆与SFP模块信号源相连,SFP模块信号源通过光纤与电调衰减器相连,电调衰减器通过电缆与光分路器相连。
本实用新型的有益效果在于:一个SFP光模块测试装置可以完成SFP光模块各项性能指标的测试,同一工位即可测定完成所有测试步骤,缩短整体测试时间,提高测试效率。
附图说明
图1为本实用新型SFP光模块测试装置信号流向示意框图。
附图标记:
测试板1,计算机2,误码仪3,SFP模块信号源4,电调衰减器5,光分路器6,光功率计7,眼图仪8,数控电源9,待测光模块10,发射端口11,接收端口12。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例作进一步详细说明。
如图1所示,本实用新型SFP光模块测试装置,用于测试待测光模块10(即待测试的SFP模块),待测光模块10包括发射端口11和接收端口12。SFP光模块测试装置包括连接待测光模块10的测试板1,以及与测试板1相连的计算机2,测试板1连接计算机2的USB接口,待测光模块10通过金手指连接至测试板1。SFP光模块测试装置还包括数控电源9,数控电源9分别连接计算机2和测试板1,并为二者供电。SFP光模块测试装置还包括误码仪3、SFP模块信号源4、电调衰减器5、光分路器6,误码仪3连接计算机2的USB接口,误码仪3通过电缆连接SFP模块信号源4,SFP模块信号源4对接收信号进行电/光转换,并通过光纤连接电调衰减器5,电调衰减器5通过电缆连接光分路器6,光分路器6通过单模光纤连接待测光模块10的接收端口12。SFP光模块测试装置还包括用于测试光功率和消光比的眼图仪8,待测光模块10的发射端口11通过单模光纤连接眼图仪8,眼图仪8通过GPIB电缆(General-Purpose Interface Bus,通用接口总线)连接计算机2。所述SFP光模块测试装置还包括光功率计7,光分路器6通过光纤连接光功率计7,光功率计7还与计算机2相连。
如图1所示,本实用新型SFP光模块测试装置测试时,首先将待测光模块10插入测试板1,将发射端口11与眼图仪8连接,接收端口12接入光分路器6。预先通过计算机2设置待测光模块10的各种性能指标,计算机2进行测试,给待测光模块10下调试命令。
计算机2通过眼图仪8得到待测光模块10的当前光功率值,并与计算机2内的预设光功率值相比较,如有偏差(大于或小于预光功率设值),计算机2通过测试板1给待测光模块10信号,增加或减少相应光功率,以便达到预设值。计算机2通过眼图仪8得到待测光模块10的当前发射光功率,将计算好的校准参数写入待测光模块10。
调节光功率后,再调节待测光模块10的消光比,同理,计算机2通过眼图仪8得到待测光模块10的当前消光比,并与计算机2内的预设消光比相比较,如有偏差(大于或小于预光功率设值),计算机2通过测试板1给待测光模块10信号,增加或减少相应消光比,以便达到预设值。
计算机2通过USB接口配置误码仪3当前的工作速率和测试码型,SFP模块信号源4将误码仪3的电信号转换为光信号,接入电调衰减器5。
计算机2读取光功率计7的数值(即待测光模块10接收端口12的值),根据当前LOS告警(即信号丢失告警,当输入信号值小于接收灵敏度值时,产生高电平告警)的预设值,计算机2调节电调衰减器5的衰减值,直至将光功率计7的数值调整到与LOS告警的预设值相同。计算机2通过测试板1读取待测光模块10的监控值,记录当前是否有LOS告警,如果没有LOS告警,则证明LOS告警不合格。
计算机2读取光功率计7的数值,根据当前DELOS的预设值,计算机调节衰减器的衰减值,直至将光功率计的数值调整到与DELOS的预设值相同。所述DELOS是从LOS告警恢复到正常状态,当输入信号大于LOS阈值,LOS告警消失。计算机2通过测试版1读取待测光模块10的监控值,记录当前LOS告警是否消失,如果有LOS告警,侧证明待测光模块的DELOS不合格。
计算机2读取光功率计7的数值,根据当前最小灵敏度的预设值,计算机2调节电调衰减器5的衰减值,直至将光功率计7的数值调整到与最小灵敏度的预设值相同。计算机2读等待一段时间(约30秒)后,读取误码仪3的误码个数,如果有误码,则证明待测光模块的最小灵敏度不合格。
计算机2记录该待测光模块10的SN序列号、产品型号等信息,存入计算机2的数据库。
当上述所有性能指标测试完成后,证明一个待测光模块10的测试完成,更换下一个测试光模块,进行新一轮测试。
本实用新型不仅局限于上述最佳实施方式,任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品,但不论在其形状或结构上作任何变化,凡是具有与本实用新型相同或相近似的技术方案,均在其保护范围之内。

Claims (7)

1.一种SFP光模块测试装置,包括连接待测光模块(10)的测试板(1)和与其相连的计算机(2),其特征在于:还包括与计算机(2)依次连接的误码仪(3)、SFP模块信号源(4)、电调衰减器(5)、光分路器(6),所述光分路器(6)还连接一个光功率计(7),所述SFP光模块测试装置还包括眼图仪(8),眼图仪(8)分别连接计算机(2)和待测光模块(10),所述计算机(2)还与电调衰减器(5)相连。
2.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:还包括数控电源(9),所述数控电源(9)分别连接计算机(2)和测试板(1)。
3.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:所述待测光模块(10)包括发射端口(11)和接收端口(12),发射端口(11)通过单模光纤连接眼图仪(8),接收端口(12)通过单模光纤连接光分路器(6)。
4.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:所述待测光模块(10)通过金手指连接至测试板(1)。
5.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:所述计算机(2)通过不同的USB接口分别与误码仪(3)、电调衰减器(5)、测试板(1)通信。
6.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:所述眼图仪(8)通过GPIB电缆连接计算机(2)。
7.如权利要求1所述的SFP光模块测试装置,其特征在于:所述误码仪(3)通过电缆与SFP模块信号源(4)相连,SFP模块信号源(4)通过光纤与电调衰减器(5)相连,电调衰减器(5)通过电缆与光分路器(6)相连。
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