CN204481817U - 光模块参数测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光模块参数测试设备,通过利用控制模块将误码检测模块、发射光模块、光衰减模块、光分路模块、灵敏度光功率检测模块和发射光功率检测模块进行协调控制来检测光模块的灵敏度、发射光功率、高告警和低告警参数,解决了现有技术中对这些参数独立测试所带来的成本高、操作复杂的问题,到达了降低成本、简单化调试操作、减少测试时间以及提高测试效率的效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及光通信领域,主要涉及一种光模块参数测试设备。
背景技术
光模块是一个由光电子器件、功能电路和光接口等结构件组成的光电转换模块。光模块主要用于光信号的收发,光信号通过光纤接入光模块,可以将光信号转为电信号。同时也可以将电信号的信息通过光模块转成光信号,然后通过光纤发送出去。
光模块是一种高速光电器件,高速率发送和接收必然存在复杂的电磁耦合与信号杂扰,因此,光模块的性能参数测试是检验成品的重要工序。组装好的光模块必须进行参数测试以判断是否能正确实现预设的功能,模块参数的性能测试是成品的最后一道工序,也是判断模块能否成为合格产品的重要依据。
目前自动测试光模块灵敏度、发射光功率、高告警和低告警参数领域中,都是由多个独立设备(光功率计、机械光衰减器、误码仪和发射光模块)经过通信口连接组成的测试系统。测试过程需要用手不断调节机械光衰减器和测试输出的光功率,找到满足误码率要求的光功率,或满足使用要求的光功率,测试过程中需要经常插拔光纤用来测试该状态下得光功率大小,多次插拔光纤会影响测试准确度和测试效率。这种测试成本较高,而且操作复杂,测试时间较长,效率低下,调试难度大。
实用新型内容
有鉴于此,为了克服现有技术中光模块参数测试成本高、操作复杂的问题,本实用新型提供一种光模块参数测试设备,以达到降低成本、简单化调试操作、减少测试时间以及提高测试效率的效果。
为了解决光模块参数测试成本高、操作复杂的问题,本实用新型的光模块参数测试设备包括:
误码检测模块,生成带码型的电信号以及用于检测输入的电信号是否有误码;
发射光模块,将所述带码型的电信号转换为光信号;
光衰减模块,对所述光信号进行衰减得到衰减后的光信号;
光分路模块,将所述衰减后的光信号分成两路,一路用于输送至灵敏度光功率检测模块,一路作为待测光模块的光输入;
灵敏度光功率检测模块,读取光功率值;
发射光功率检测模块,读取所述待测光模块的发射光功率;
控制模块,控制所述误码检测模块启动误码检测和读取检测结果,并协调控制所述发射光模块进行电光信号的转换、所述光衰减模块对光信号的衰减以及所述灵敏度光功率检测模块和所述发射光功率检测模块对光功率值的读取。
为了简化测试操作,方便调试,该光模块参数测试设备外部设置有用于接收外部控制指令的通信接口。
为了简化测试操作,方便调试,该光模块参数测试设备外部设置有:
电信号输入接口,连接所述误码检测模块的电输入端和所述待测光模块的电输出端;
电信号输出接口,连接所述误码检测模块的电输出端和所述待测光模块的电输入端;
光输入接口,连接所述发射光功率检测模块的光输入端和所述待测光模块的光输出端;
光输出接口,连接所述光分路模块的光输出端和所述待测光模块的光输入端;
告警总线接口,连接所述控制模块和所述待测光模块的告警信号接口。
其中,该光模块参数测试设备能够测试的参数包括:待测光模块的灵敏度、发射光功率、高告警和低告警参数。
优选地,所述光衰减模块采用电可调光衰减器,无需手动调整光衰减器。
优选地,所述控制模块可以采用单片机。
与现有技术相比,本实用新型的优点为:利用本实用新型的测试设备将各个模块进行集成,由于各个模块在设备内部稳定连接,降低了对设备性能的要求,因此使得整个测试成本降低;本实用新型的测试设备设置有通信接口用于和PC机连接,方便控制信息的输入,同时,还具有光电输入输出接口,使用时只需通过对应接口连接光模块,利用PC机输入测试指令,操作简单,调试方便;无需针对单一的测试参数进行反复部署测试装置和反复插拔光纤,只需要一次连接即可测试所有参数,因此缩短了整体测试时间,提高了测试效率。
附图说明
图1为本实用新型的光模块参数测试设备模块示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型作更进一步的说明。
图1中,光模块参数测试设备内部封装有:控制模块、误码检测模块、发射光模块、光衰减模块、光分路模块、灵敏度光功率检测模块和发射光功率检测模块;控制模块与误码检测模块、发射光模块、光衰减模块、灵敏度和发射光功率检测模块分别通过通信接口连接;误码检测模块的电输出端与发射光模块的电输入端连接;发射光模块的光输出端与光衰减模块的光输入端连接;光衰减模块的光输出端与光分路模块的光输入端连接;光分路模块的光输出端分别与灵敏度光功率检测模块和待测光模块的光输入端连接;该设备外部设置有与PC机连接的通信接口和与待测光模块连接的电信号输入接口、电信号输出接口、光输出接口、光输入接口以及告警总线接口;待测光模块的电输出端通过设备外部的电信号输入接口与误码检测模块的电输入端连接,电输入端通过电信号输出接口与误码检测模块的电输出端连接,待测光模块的光输入端通过设备外部的光输出接口与光分路模块的光输出端连接,光输出端与通过设备外部的光输入接口与发射光功率检测模块的光输入端连接,告警信号接口通过告警总线接口与设备内部的控制模块连接。
控制模块可以采用单片机C8051F350,不限于此型号,只要带16位ADC和10位DAC功能即可,用于解析PC机传递过来的控制指令信息,并根据解析内容控制误码检测模块、发射光模块、光衰减模块、灵敏度和发射光功率检测模块协调工作;误码检测模块采用VSC8228误码检测芯片设计的误码仪,检测芯片也可以采用SI5040、GT1704或GT1706,用于根据接收到的PC机传递过来的指令信息进行相关操作,包括:确定电信号码型并将带数据的电信号码型传输给发射光模块、启动误码检测、停止误码检测以及产生误码测试结果;发射光模块采用常见发射光源,只需要有发射部分,无需接收部分,可以较低发射模块的功耗,使模块的温度变化小,性能稳定,系统的稳定性较高;光衰减模块采用广州永大的电可调光衰减器VOA,通过单片机的DAC输出电流,该电流经过采样电阻转化为电压,用此电压控制升压芯片LM2733的反馈脚控制输出电压,用这个电压控制该电可调光衰减器的工作,实现对光的衰减;光分路模块采用市场上常见的1:1光分路器;灵敏度和发射光功率检测模块采用C8051F350带16位的AD芯片设计的光功率计,由光敏管接收到光,将光转化为电,经过放大后输出到单片机AD口进行采集并得出光的强度,按照功能区分分别命名为灵敏度光功率计和发射光光功率计。
使用时,将PC机和待测试光模块与该设备分别连接,由PC机设定所有光模块要测试的参数,并发送控制指令到单片机;首先由PC机发出启动指令并将灵敏度值、高告警值和低告警值发送到单片机,然后按顺序测试发射光功率、灵敏度、高告警和低告警。
参数的具体测试过程如下:PC机发出启动指令、码型和速率、灵敏度值、高告警值和低告警值到单片机,单片机将码型和速率发送到误码仪并启动误码仪将设定速率的电信号输出到待测光模块的电输入端,待测光模块进行电光转换并在光输出端输出光信号进入发射光光功率计,发射光光功率计检测发射光功率,将测得的发射光功率送到单片机用于PC机读取判断使用。然后由单片机协调控制误码仪发出码型到发光源,发出带码型的光信号到光衰减器,单片机根据PC机发送过来的灵敏度值控制光衰减器将光衰减到灵敏度值,再通过灵敏度光功率计判断是否衰减到指定的光功率值同时将此光发射到待测光模块的接收端,再启动误码测试功能,在传送一定的数据量之后通过读取误码仪的测试结果判断是否有误码,如有误码表示灵敏度低,再调整光衰减器的衰减量并重新传送一定的数据量再判断是否有误码,直到无误码,此时的光功率大小为灵敏度。测试完灵敏度之后测试模块处于能正常通信状态,单片机再根据高告警值控制光衰减器,直到输出的光功率与高告警值相同,此时读取高告警信号判断是否处于高告警状态,如果状态不对再调整光衰减器,直到有高告警状态为止;然后单片机再根据低告警值控制光衰减器,直到输出光的功率与低告警值相同为止,此时读取低告警信号,判断待测光模块是否处于低告警状态,如果状态不对再调整光衰减器,直到有低告警状态为止。
以上详细描述了本实用新型的优选实施方式,但是,本实用新型并不限于上述实施方式中的具体细节,在本实用新型的技术构思范围内,可以对本实用新型的技术方案进行多种等同变换,这些等同变换均属于本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种光模块参数测试设备,其特征在于,包括:
误码检测模块,生成带码型的电信号以及用于检测输入的电信号是否有误码;
发射光模块,将所述带码型的电信号转换为光信号;
光衰减模块,对所述光信号进行衰减得到衰减后的光信号;
光分路模块,将所述衰减后的光信号分成两路,一路用于输送至灵敏度光功率检测模块,一路作为待测光模块的光输入;
灵敏度光功率检测模块,读取光功率值;
发射光功率检测模块,读取所述待测光模块的发射光功率;
控制模块,控制所述误码检测模块启动误码检测和读取检测结果,并协调控制所述发射光模块进行电光信号的转换、所述光衰减模块对光信号的衰减以及所述灵敏度光功率检测模块和所述发射光功率检测模块对光功率值的读取。
2.根据权利要求1所述的光模块参数测试设备,其特征在于,该设备还设置有用于接收外部控制指令的通信接口。
3.根据权利要求1所述的光模块参数测试设备,其特征在于,还包括:
电信号输入接口,连接所述误码检测模块的电输入端和所述待测光模块的电输出端;
电信号输出接口,连接所述误码检测模块的电输出端和所述待测光模块的电输入端;
光输入接口,连接所述发射光功率检测模块的光输入端和所述待测光模块的光输出端;
光输出接口,连接所述光分路模块的光输出端和所述待测光模块的光输入端;
告警总线接口,连接所述控制模块和所述待测光模块的告警信号接口。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块参数测试设备,其特征在于,所述光模块参数包括:灵敏度、发射光功率、高告警和低告警参数。
5.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块参数测试设备,其特征在于,所述光衰减模块采用电可调光衰减器。
6.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块参数测试设备,其特征在于,所述控制模块采用单片机。
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