CN106354173A - 灵敏度衰减测试方法、测试装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开是关于灵敏度衰减测试方法、测试装置及测试系统。该方法包括：获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；判断当前温度是否在预设温度范围内；当当前温度超过预设温度范围时，生成第一控制指令；将第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而调整当前温度。该技术方案，在该当前温度超过该预设温度范围时，可以自动生成第一控制指令，并将该第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而自动地调整该当前温度，使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性。

Description

灵敏度衰减测试方法、测试装置及测试系统

技术领域

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及灵敏度衰减测试方法、灵敏度衰减测试装置及灵敏度衰减测试系统。

背景技术

众所周知，终端的接收灵敏度是衡量终端通信水平的重要指标，接收灵敏度表示终端接收信号时，在满足一定的误码率下所能允许的最小接收功率，因而，为了准确衡量该终端的性能，需要对终端在不同条件下的接收灵敏度进行测试，但实际情况下，在测试终端在不同条件下的接收灵敏度时，其接收灵敏度很容易受到环境因素的干扰而导致测试到的接收灵敏度不准确。

发明内容

本公开实施例提供了灵敏度衰减测试方法及装置。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种灵敏度衰减测试方法，包括：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，包括：

当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述方法还包括：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

在一个实施例中，所述获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，包括：

通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；

和/或，

通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

根据本公开实施例的第二方面，提供另一种灵敏度衰减测试方法，包括：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，

所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度，包括：

根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，

所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

在一个实施例中，所述方法还包括：

接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，

所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种灵敏度衰减测试装置，包括：

获取模块，用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

第一判断模块，用于判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

第一生成模块，用于当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

第一发送模块，用于将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一生成模块包括：

生成子模块，用于当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，其中，

所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述装置还包括：

第二生成模块，用于当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

第二发送模块，用于将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

在一个实施例中，所述获取模块包括：

第一获取子模块，用于通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；

和/或，

第二获取子模块，用于通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

在一个实施例中，所述装置还包括：

确定模块，用于当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

第二判断模块，用于判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

第三生成模块，用于当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

第三发送模块，用于将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

根据本公开实施例的第四方面，提供另一种灵敏度衰减测试装置，包括：

第一接收模块，用于接收第一设备发送的第一控制指令，其中，

所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

调整模块，用于根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述调整模块包括：

处理子模块，用于根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

在一个实施例中，所述装置还包括：

第二接收模块，用于接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，

所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

第二处理模块，用于根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

根据本公开实施例的第五方面，提供一种灵敏度衰减测试系统，包括：

第一设备，与第二设备相连接，用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，判断所述当前温度是否在预设温度范围内，并在所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，将所述第一控制指令发送至第二设备；

所述第二设备，用于接收第一设备发送的第一控制指令，并根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一设备包括：温度传感器和控制芯片；

所述温度传感器，用于获取所述当前温度；

所述控制芯片，用于当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令；

所述散热设备，用于根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一设备包括：温度传感器和控制芯片；

所述温度传感器，用于获取所述当前温度；

所述控制芯片用于：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令；并将所述第二控制指令发送至所述散热设备；

或者

所述控制芯片用于：

当所述当前温度小于预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长，

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长，

当达到所述预设工作时长时，生成第二控制指令，

将所述第二控制指令发送至所述散热设备；

以及

所述散热设备用于：

接收所述第一设备发送的第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

在一个实施例中，所述第一设备放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上，与所述终端相连接；

和/或

所述温度传感器设置在所述终端内以及所述控制芯片设置在用于对所述终端进行灵敏度衰减测试的与所述终端相连接的测试端内。

根据本公开实施例的第六方面，提供了一种灵敏度衰减测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

根据本公开实施例的第七方面，提供了另一种灵敏度衰减测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的实施例提供的技术方案，通过获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，可以在该当前温度超过该预设温度范围时，自动生成第一控制指令，并将该第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而自动地调整该当前温度，使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图2是根据一示例性实施例示出的另一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图3是根据一示例性实施例一示出的又一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图4是根据一示例性实施例一示出的再一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图5是根据一示例性实施例一示出的再一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图6是根据一示例性实施例一示出的再一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图7是根据一示例性实施例一示出的再一种灵敏度衰减测试方法的流程图。

图8是根据一示例性实施例示出的一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图9是根据一示例性实施例示出的另一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图10是根据一示例性实施例示出的又一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图11是根据一示例性实施例示出的再一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图12是根据一示例性实施例示出的再一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图13是根据一示例性实施例示出的再一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图14是根据一示例性实施例示出的再一种灵敏度衰减测试装置的框图。

图15是根据一示例性实施例示出的一种灵敏度衰减测试系统的框图。

图16是根据一示例性实施例示出的另一种灵敏度衰减测试系统的框图。

图17是根据一示例性实施例示出的又一种灵敏度衰减测试系统的框图。

图18是根据一示例性实施例示出的再一种灵敏度衰减测试系统的框图。

图19是根据一示例性实施例示出的适用于灵敏度衰减测试装置的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

众所周知，终端的接收灵敏度是衡量终端通信水平的重要指标，接收灵敏度表示终端接收信号时，在满足一定的误码率下所能允许的最小接收功率，因而，为了准确衡量该终端的性能，需要对终端在不同条件下的接收灵敏度进行测试，但实际情况下，在测试终端在不同条件下的接收灵敏度时，其接收灵敏度很容易受到环境因素的干扰而导致测试到的接收灵敏度不准确。

为了解决上述技术问题，本公开实施例提供了一种灵敏度衰减测试方法，该方法可用于灵敏度衰减测试程序、系统或装置中，且该方法对应的执行主体可以是具有温度检测功能和发送控制指令功能的第一设备，如图1所示，该方法包括步骤S101至步骤S104：

在步骤S101中，获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

进行灵敏度衰减测试的终端是位于具有屏蔽外界信号的屏幕盒内的，且进行灵敏度衰减测试是测试终端在多个信道上的不同信道的接收灵敏度(接收灵敏度就是接收机能够正确地把有用信号拿出来的最小信号接收功率)，每个信道的信号频率范围是不同的，而相邻信道的信号频率范围是连续的，在理想情况下，终端在不同测试信道上的接收灵敏度是相同的，而实际上，由于受环境干扰等外界因素的影响，终端在不同测试信道上的接收灵敏度是不同的、会不断衰减，因而，测试终端在不同测试信道上的接收灵敏度的过程就是进行灵敏度衰减测试的过程。

另外，在进行灵敏度衰减测试时，由于温度这项环境因素对终端的接收灵敏度影响最大，致使接收灵敏度不准确，甚至于当温度过高时，还会导致终端自动关机，无法正常进行灵敏度衰减测试，严重影响灵敏度的测试效率，因而，通过自动地、实时地获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，便于对温度进行有效调节，以确保进行灵敏度测试时获取到的接收灵敏度的准确性。

在步骤S102中，判断当前温度是否在预设温度范围内；

该预设温度范围可以是经过多次实验测试出的终端进行灵敏度测试时所适宜的最佳温度范围。

在步骤S103中，当当前温度超过(即大于)预设温度范围时，生成第一控制指令；

在步骤S104中，将第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而调整当前温度。

当该终端的当前温度超过该预设温度范围时，说明终端的温度已过高，可能严重影响到测试到的终端的接收灵敏度的准确性，因而，可以自动生成第一控制指令，并将该第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而自动地调整该当前温度，使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

如图2所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最高温度；

第二设备包括：散热设备；

上述图1所示的步骤S103可被执行为：

在步骤A1中，当当前温度大于预设最高温度时，生成第一控制指令，第一控制指令用于控制散热设备开始工作，降低当前温度。

当该当前温度大于预设最高温度时，通过生成控制散热设备开始工作的第一控制指令，可以控制该散热设备开始工作，以降低当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试，这也有利于提高进行灵敏度衰减测试的效率。

如图3所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最低温度；

第二设备包括：散热设备；

上述方法还可包括：

在步骤S301中，当当前温度降低至低于预设最低温度时，生成第二控制指令，第二控制指令用于控制散热设备停止工作；

在步骤S302中，将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作。

当该当前温度低于预设最低温度时，说明该终端的当前温度已过低、周围环境过冷，而温度波动太大也会影响测试到的终端的接收灵敏度的准确性，因而，可以生成控制散热设备停止工作的第二控制指令，并将该第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作，不再继续降低该终端的当前温度从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过低而影响终端的接收灵敏度的准确性。

在一个实施例中，上述图1至图3中的步骤S101可被执行为：

通过放置在屏蔽盒内用于摆放终端的支架上的温度传感器获取当前温度；

和/或，

通过读取终端的芯片工作温度来获取当前温度。

终端的当前温度可以是终端的外壳的温度、终端所在环境周围的温度、或者是CPU(Central Processing Unit，中央处理器)芯片的温度，其中，

当该当前温度是终端的外壳的温度或者终端所在环境周围的温度时，可以通过放置在屏蔽盒内的用于摆放该终端的支架上的温度传感器来获取该当前温度，此时，该温度传感器可以直接接触位于支架上的终端或者与位于支架上的终端紧邻；

当该当前温度是终端的CPU芯片时，可以通过CPU自带的温度传感器来检测该芯片的当前温度。

如图4所示，在一个实施例中，上述方法还可包括：

在步骤S401中，当当前温度小于预设最高温度时，确定散热设备的当前工作时长；

在步骤S402中，判断当前工作时长是否达到预设工作时长；

在步骤S403中，当达到预设工作时长时，生成用于控制散热设备停止工作的第二控制指令；

在步骤S404中，将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作。

当该当前温度小于预设最高温度时，首先说明该终端的当前温度已不太高，而由于在当前温度高于该预设最高温度时，已向散热设备发送了控制指令使得散热设备已开始工作，因而，可以确定散热设备的当前工作时长，进而判断当前工作时长是否达到预设工作时长，当达到预设工作时长时，说明该散热设备已工作一段时间，终端的当前温度也降低了不少，基本已回归该预设温度范围，因而，可以生成用于控制散热设备停止工作的第二控制指令，进而将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作，避免由于散热设备工作太久导致当前温度被降低太多而影响测试到的终端的接收灵敏度的准确性，从而实现确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性。

如图5所示，本公开实施例还提供了另一种灵敏度衰减测试方法，该方法包括：

在步骤S501中，接收第一设备发送的第一控制指令，其中，

第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断当前温度是否在预设温度范围内，当当前温度超过预设温度范围时，生成第一控制指令；

在步骤S502中，根据第一控制指令进行运行，调整当前温度。

通过接收第一设备发送的第一控制指令，可以根据该第一控制指令自动运行从而调整自动该当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

如图6所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最高温度；

上述图5所示的步骤S502可被执行为：

在步骤B1中，根据第一控制指令开始工作，以降低当前温度，其中，第一设备用于在当前温度大于预设最高温度时，生成第一控制指令。

在接收到第一控制指令时，可以根据该第一控制指令进行运行，以降低当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试，这也有利于提高进行灵敏度衰减测试的效率。

如图7所示，在一个实施例中，方法还包括：

在步骤S701中，接收第一设备发送的第二控制指令，其中，第一设备在当前温度降低至低于预设最低温度、或者在当前温度小于预设最高温度且第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成第二控制指令；

在步骤S702中，根据第二控制指令，停止工作，以停止降低当前温度。

在接收到第一设备发送的第二控制指令时，说明该当前温度小于该预设最高温度且当前工作时长达到预设工作时长或者该当前温度已降低至低于该预设最低温度，因而，可以根据该第二控制指令停止工作，以停止降低该终端的当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过低而影响终端的接收灵敏度的准确性。

对应本公开实施例提供的上述灵敏度衰减测试方法，本公开实施例还提供一种灵敏度衰减测试装置，如图8所示，该装置包括：

获取模块801，还被配置为获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

进行灵敏度衰减测试的终端是位于具有屏蔽外界信号的屏幕盒内的，且进行灵敏度衰减测试是测试终端在多个信道上的不同信道的接收灵敏度(接收灵敏度就是接收机能够正确地把有用信号拿出来的最小信号接收功率)，每个信道的信号频率范围是不同的，而相邻信道的信号频率范围是连续的，在理想情况下，终端在不同测试信道上的接收灵敏度是相同的，而实际上，由于受环境干扰等外界因素的影响，终端在不同测试信道上的接收灵敏度是不同的、会不断衰减，因而，测试终端在不同测试信道上的接收灵敏度的过程就是进行灵敏度衰减测试的过程。

另外，在进行灵敏度衰减测试时，由于温度这项环境因素对终端的接收灵敏度影响最大，致使接收灵敏度不准确，甚至于当温度过高时，还会导致终端自动关机，无法正常进行灵敏度衰减测试，严重影响灵敏度的测试效率，因而，通过自动地、实时地获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，便于对温度进行有效调节，以确保进行灵敏度测试时获取到的接收灵敏度的准确性。

第一判断模块802，还被配置为判断当前温度是否在预设温度范围内；

该预设温度范围可以是经过多次实验测试出的终端进行灵敏度测试时所适宜的最佳温度范围。

第一生成模块803，还被配置为当当前温度超过预设温度范围时，生成第一控制指令；

第一发送模块804，还被配置为将第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而调整当前温度。

当该终端的当前温度超过该预设温度范围时，说明终端的温度已过高，可能严重影响到测试到的终端的接收灵敏度的准确性，因而，

可以自动生成第一控制指令，并将该第一控制指令发送至第二设备，以控制第二设备运行从而自动地调整该当前温度，使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

如图9所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最高温度；

第二设备包括：散热设备；

上述图8中的第一生成模块803可以包括：

生成子模块8031，还被配置为当当前温度大于预设最高温度时，生成第一控制指令，第一控制指令还被配置为控制散热设备开始工作，降低当前温度。

当该当前温度大于预设最高温度时，通过生成控制散热设备开始工作的第一控制指令，可以控制该散热设备开始工作，以降低当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试，这也有利于提高进行灵敏度衰减测试的效率。

如图10所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最低温度；

第二设备包括：散热设备；

上述图8所示的装置还可包括：

第二生成模块1001，还被配置为当当前温度降低至低于预设最低温度时，生成第二控制指令，第二控制指令还被配置为控制散热设备停止工作；

第二发送模块1002，还被配置为将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作。

当该当前温度低于预设最低温度时，说明该终端的当前温度已过低、周围环境过冷，而温度波动太大也会影响测试到的终端的接收灵敏度的准确性，因而，可以生成控制散热设备停止工作的第二控制指令，并将该第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作，不再继续降低该终端的当前温度从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过低而影响终端的接收灵敏度的准确性。

在一个实施例中，上述图8至图10所示的获取模块801可以包括：

第一获取子模块，还被配置为通过放置在屏蔽盒内还被配置为摆放终端的支架上的温度传感器获取当前温度；

和/或，

第二获取子模块，还被配置为通过读取终端的芯片工作温度来获取当前温度。

终端的当前温度可以是终端的外壳的温度、终端所在环境周围的温度、或者是CPU(Central Processing Unit，中央处理器)芯片的温度，而当该当前温度是终端的外壳的温度或者终端所在环境周围的温度时，可以通过放置在屏蔽盒内的还被配置为摆放该终端的支架上的温度传感器来获取该当前温度，此时，该温度传感器可以直接接触位于支架上的终端或者与位于支架上的终端紧邻；

当该当前温度是终端的CPU芯片时，可以通过CPU自带的温度传感器来检测该芯片的当前温度。

如图11所示，在一个实施例中，上述图9所示的装置还可包括：

确定模块1101，还被配置为当当前温度小于预设最高温度时，确定散热设备的当前工作时长；

第二判断模块1102，还被配置为判断当前工作时长是否达到预设工作时长；

第三生成模块1103，还被配置为当达到预设工作时长时，生成还被配置为控制散热设备停止工作的第二控制指令；

第三发送模块1104，还被配置为将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作。

当该当前温度小于预设最高温度时，首先说明该终端的当前温度已不太高，而由于在当前温度高于该预设最高温度时，已向散热设备发送了控制指令使得散热设备已开始工作，因而，可以确定散热设备的当前工作时长，进而判断当前工作时长是否达到预设工作时长，当达到预设工作时长时，说明该散热设备已工作一段时间，终端的当前温度也降低了不少，基本已回归该预设温度范围，因而，可以生成还被配置为控制散热设备停止工作的第二控制指令，进而将第二控制指令发送至散热设备，以使散热设备停止工作，避免由于散热设备工作太久导致当前温度被降低太多而影响测试到的终端的接收灵敏度的准确性，从而实现确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性。

对应本公开实施例提供的上述灵敏度衰减测试方法，本公开实施例还提供另一种灵敏度衰减测试装置，如图12所示，该装置包括：

第一接收模块1201，还被配置为接收第一设备发送的第一控制指令，

其中，

第一设备还被配置为获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断当前温度是否在预设温度范围内，当当前温度超过预设温度范围时，生成第一控制指令；

调整模块1202，还被配置为根据第一控制指令进行运行，调整当前温度。

通过接收第一设备发送的第一控制指令，可以根据该第一控制指令自动运行从而调整自动该当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

如图13所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最高温度；

上述图12所示的调整模块1202包括：

处理子模块12021，还被配置为根据第一控制指令开始工作，以降低当前温度，其中，

第一设备还被配置为在当前温度大于预设最高温度时，生成第一控制指令。

在接收到第一控制指令时，可以根据该第一控制指令进行运行，以降低当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试，这也有利于提高进行灵敏度衰减测试的效率。

如图14所示，在一个实施例中，上述图12所示的装置还包括：

第二接收模块1401，还被配置为接收第一设备发送的第二控制指令，其中，

第一设备在当前温度降低至低于预设最低温度、或者在当前温度小于预设最高温度且第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成第二控制指令；

第二处理模块1402，还被配置为根据第二控制指令，停止工作，以停止降低当前温度。

在接收到第一设备发送的第二控制指令时，说明该当前温度小于该预设最高温度且当前工作时长达到预设工作时长或者该当前温度已降低至低于该预设最低温度，因而，可以根据该第二控制指令停止工作，以停止降低该终端的当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过低而影响终端的接收灵敏度的准确性。

如图15所示，根据本公开实施例的第五方面，提供一种灵敏度衰减测试系统，包括：

第一设备1501，与第二设备1502相连接，还被配置为获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，判断当前温度是否在预设温度范围内，并在当前温度超过预设温度范围时，生成第一控制指令，将第一控制指令发送至第二设备1502；

第二设备1502，还被配置为接收第一设备1501发送的第一控制指令，并根据第一控制指令进行运行，调整当前温度。

第一设备1501在当前温度超过预设温度范围时，说明终端的温度已过高，可能严重影响到测试到的终端的接收灵敏度的准确性，因而，通过自动生成第一控制指令，并将第一控制指令发送至第二设备1502，第二设备1502可以自动运行从而自动地调整该当前温度，使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试。

如图16所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最低温度；

第二设备1502包括：散热设备15021；

第一设备1501包括：温度传感器15011和控制芯片15012；

温度传感器15011，还被配置为获取当前温度；

控制芯片15012，还被配置为当当前温度大于预设最高温度时，生成第一控制指令；

散热设备15021，还被配置为根据第一控制指令开始工作，以降低当前温度。

当温度传感器15011检测到的该当前温度大于预设最高温度时，通过生成控制散热设备15021开始工作的第一控制指令，使得该散热设备15021可以开始工作，以降低当前温度，从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过高而影响终端的接收灵敏度的准确性，甚至由于温度过高而导致终端自动关机无法正常地进行接收灵敏度的测试，这也有利于提高进行灵敏度衰减测试的效率。

如图16所示，在一个实施例中，预设温度范围包括：预设最低温度；

第二设备1502包括：散热设备15021；

第一设备1501包括：温度传感器15011和控制芯片15012；

温度传感器15011，还被配置为获取当前温度；

控制芯片15012还被配置为：

当当前温度降低至低于预设最低温度时，生成第二控制指令；并将第二控制指令发送至散热设备15021；

或者

控制芯片15012还被配置为：

当当前温度小于预设最高温度时，确定散热设备15021的当前工作时长，

判断当前工作时长是否达到预设工作时长，

当达到预设工作时长时，生成第二控制指令，

将第二控制指令发送至散热设备15021；

以及

散热设备15021还被配置为：

接收第一设备1501发送的第二控制指令；

根据第二控制指令，停止工作，以停止降低当前温度。

当温度传感器15011检测到的该当前温度低于预设最低温度时，说明该终端的当前温度已过低、周围环境过冷，而温度波动太大也会影响测试到终端的接收灵敏度的准确性，因而，控制芯片15012可以生成控制散热设备15021停止工作的第二控制指令，并将该第二控制指令发送至散热设备15021，而散热设备15021在接收到第二控制指令时，会停止工作，不再继续降低该终端的当前温度从而使得该终端的当前温度逐渐回归至该预设温度范围，进而确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性，避免由于终端温度过低而影响终端的接收灵敏度的准确性。

或者

当温度传感器15011检测到的该当前温度小于预设最高温度时，首先说明该终端的当前温度已不太高，而由于在当前温度高于该预设最高温度时，已向散热设备15021发送了控制指令使得散热设备15021已开始工作，因而，可以确定散热设备15021的当前工作时长，进而判断当前工作时长是否达到预设工作时长，当达到预设工作时长时，说明该散热设备15021已工作一段时间，终端的当前温度也降低了不少，基本已回归该预设温度范围，因而，

可以生成用于控制散热设备15021停止工作的第二控制指令，进而将第二控制指令发送至散热设备15021，而散热设备15021在接收到该第二控制指令时，会停止工作，避免由于散热设备15021工作太久导致当前温度被降低太多而影响测试到的终端的接收灵敏度的准确性，从而实现确保测试温度的一致性和测试到的终端的接收灵敏度的准确性。

在一个实施例中，第一设备1501放置在屏蔽盒内还被配置为摆放终端的支架上，与终端相连接；

为了更好地调节该终端的当前温度，散热设备15021也可以位于该屏蔽盒内，而当第一设备同时独立的集成有该温度传感器15011和发送(第一/第二)控制指令的控制芯片15012(如图17所示，只是此处未画出该温度传感器15011和控制芯片15012)时，该第一设备、终端和第二设备可以均位于屏蔽盒内，终端同时与第一设备和第二设备相连接。

和/或

温度传感器15011设置在终端内以及控制芯片15012设置在还被配置为对终端进行灵敏度衰减测试的与终端相连接的测试端内。

当该第一设备由终端中的CPU的温度传感器15011和对终端进行灵敏度衰减测试的测试端上的发送(第一/第二)控制指令的控制芯片15012组合而成(如图18所示，在图18中，温度传感器15011位于终端内，发送控制指令的控制芯片15012是位于计算机上的，只是此处未画出该温度传感器15011和控制芯片15012)时，终端和第二设备可以均位于屏蔽盒内，而第一设备的温度传感器15011位于终端内，发送(第一/第二)控制指令的控制芯片15012位于屏蔽盒之外的测试端内。

其次，该散热设备15021可以包括风扇，同时还可以包含吸热材料。

另外，在进行灵敏度衰减测试时，获取终端在某个信道的接收灵敏度的过程与相关技术类似，具体过程如下：

如图17和图18所示的测试端向终端发送功率不断减小的测试信号(其中，该测试信号的频率位于待测试的当前信道对应的频率范围内)，其中，图17和图18中的测试端内的综合测试仪用于向终端发送测试信号和接收终端反馈的误码率，而计算机用于接收综合测试仪获取到的误码率，并根据该误码率控制综合测试仪不断调整发送的测试信号的功率，同时在获取到当前信道的接收灵敏度时，还用于控制综合测试仪将测试信号的发送频率调整至下一个待测信道对应的频率范围内，以测试终端在下一个待测信道的接收灵敏度；

终端在接收到测试端发送的测试信号之后，向测试端反馈接收到的该测试信号的误码率；

测试端判断该误码率是否大于或等于预设误码率，当误码率大于或等于预设误码率时，测试端确定该误码率对应的测试信号的发送功率即为该终端在当前信道的接收灵敏度(具体地：测试端中的综合测试仪将接收到的误码率反馈至计算机，由计算机判断该误码率是否大于或等于预设误码率，并在误码率大于或等于预设误码率时，确定该误码率对应的测试信号的发送功率即为该终端在当前信道的接收灵敏度)。

根据本公开实施例的第六方面，提供一种灵敏度衰减测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

上述处理器还可被配置为：

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，包括：

当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

上述处理器还可被配置为：

所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述方法还包括：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，其中，

所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

上述处理器还可被配置为：

所述获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，包括：

通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；

和/或，

通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

上述处理器还可被配置为：

所述方法还包括：

当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

根据本公开实施例的第七方面，提供一种灵敏度衰减测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，

所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

上述处理器还可被配置为：

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度，包括：

根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，

所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

上述处理器还可被配置为：

所述方法还包括：

接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

图19是根据一示例性实施例示出的一种用于灵敏度衰减测试装置1900的框图，该装置适用于终端设备。例如，装置1900可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个用户数字助理等。

参照图19，装置1900可以包括以下一个或至少两个组件：处理组件1902，存储器1904，电源组件1906，多媒体组件1908，音频组件1910，输入/输出(I/O)接口1912，传感器组件1914，以及通信组件1916。

处理组件1902通常控制装置1900的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件1902可以包括一个或至少两个处理器1920来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件1902可以包括一个或至少两个模块，便于处理组件1902和其他组件之间的交互。例如，处理组件1902可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件1908和处理组件1902之间的交互。

存储器1904被配置为存储各种类型的数据以支持在装置1900的操作。这些数据的示例包括用于在装置1900上操作的任何存储对象或方法的指令，联系用户数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器1904可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件1906为装置1900的各种组件提供电源。电源组件1906可以包括电源管理系统，一个或至少两个电源，及其他与为装置1900生成、管理和分配电源相关联的组件。

多媒体组件1908包括在所述装置1900和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或至少两个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件1908包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置1900处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件1910被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件1910包括一个麦克风(MIC)，当装置1900处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器1904或经由通信组件1916发送。在一些实施例中，音频组件1910还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口1912为处理组件1902和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件1914包括一个或至少两个传感器，用于为装置1900提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件1914可以检测到装置1900的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置1900的显示器和小键盘，传感器组件1914还可以检测装置1900或装置1900一个组件的位置改变，用户与装置1900接触的存在或不存在，装置1900方位或加速/减速和装置1900的温度变化。传感器组件1914可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件1914还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件1914还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件1916被配置为便于装置1900和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置1900可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件1916经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件1916还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置1900可以被一个或至少两个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子组件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器1904，上述指令可由装置1900的处理器1920执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由上述装置1900的处理器执行时，使得上述装置1900能够执行一种灵敏度衰减测试方法，包括：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，包括：

当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述方法还包括：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

在一个实施例中，所述获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，包括：

通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；和/或，

通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由上述装置1800的处理器执行时，使得上述装置1800能够执行另一种灵敏度衰减测试方法，包括：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

在一个实施例中，所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度，包括：

根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

在一个实施例中，所述方法还包括：

接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

本领域技术用户员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (22)

1.一种灵敏度衰减测试方法，用于第一设备，其特征在于，包括：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，包括：

当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述方法还包括：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，包括：

通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；和/或，

通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

6.一种灵敏度衰减测试方法，用于第二设备，其特征在于，包括：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度，包括：

根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

9.一种灵敏度衰减测试装置，用于第一设备，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

第一判断模块，用于判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

第一生成模块，用于当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

第一发送模块，用于将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一生成模块包括：

生成子模块，用于当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制所述散热设备开始工作，降低所述当前温度。

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述装置还包括：

第二生成模块，用于当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述散热设备停止工作；

第二发送模块，用于将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，

所述获取模块包括：

第一获取子模块，用于通过放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上的温度传感器获取所述当前温度；和/或，

第二获取子模块，用于通过读取所述终端的芯片工作温度来获取所述当前温度。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

确定模块，用于当所述当前温度小于所述预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长；

第二判断模块，用于判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长；

第三生成模块，用于当达到所述预设工作时长时，生成用于控制所述散热设备停止工作的第二控制指令；

第三发送模块，用于将所述第二控制指令发送至所述散热设备，以使所述散热设备停止工作。

14.一种灵敏度衰减测试装置，用于第二设备，其特征在于，包括：

第一接收模块，用于接收第一设备发送的第一控制指令，其中，所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

调整模块，用于根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最高温度；

所述调整模块包括：

处理子模块，用于根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度，其中，所述第一设备用于在所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成所述第一控制指令。

16.根据权利要求14或15所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二接收模块，用于接收所述第一设备发送的第二控制指令，其中，所述第一设备在所述当前温度降低至低于所述预设最低温度、或者在所述当前温度小于所述预设最高温度且所述第二设备的当前工作时长达到预设工作时长时，生成所述第二控制指令；

第二处理模块，用于根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

17.一种灵敏度衰减测试系统，其特征在于，包括：

第一设备，与第二设备相连接，用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，判断所述当前温度是否在预设温度范围内，并在所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令，将所述第一控制指令发送至第二设备；

所述第二设备，用于接收第一设备发送的第一控制指令，并根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。

18.根据权利要求17所述的系统，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一设备包括：温度传感器和控制芯片；

所述温度传感器，用于获取所述当前温度；

所述控制芯片，用于当所述当前温度大于所述预设最高温度时，生成第一控制指令；

所述散热设备，用于根据所述第一控制指令开始工作，以降低所述当前温度。

19.根据权利要求17所述的系统，其特征在于，

所述预设温度范围包括：预设最低温度；

所述第二设备包括：散热设备；

所述第一设备包括：温度传感器和控制芯片；

所述温度传感器，用于获取所述当前温度；

所述控制芯片用于：

当所述当前温度降低至低于所述预设最低温度时，生成第二控制指令；并将所述第二控制指令发送至所述散热设备；

或者

所述控制芯片用于：

当所述当前温度小于预设最高温度时，确定所述散热设备的当前工作时长，

判断所述当前工作时长是否达到预设工作时长，

当达到所述预设工作时长时，生成第二控制指令，

将所述第二控制指令发送至所述散热设备；

以及

所述散热设备用于：

接收所述第一设备发送的第二控制指令；

根据所述第二控制指令，停止工作，以停止降低所述当前温度。

20.根据权利要求18或者19所述的系统，其特征在于，

所述第一设备放置在屏蔽盒内用于摆放所述终端的支架上，与所述终端相连接；和/或

所述温度传感器设置在所述终端内以及所述控制芯片设置在用于对所述终端进行灵敏度衰减测试的与所述终端相连接的测试端内。

21.一种终端的灵敏度测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度；

判断所述当前温度是否在预设温度范围内；

当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

将所述第一控制指令发送至第二设备，以控制所述第二设备运行从而调整所述当前温度。

22.一种终端的灵敏度测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

接收第一设备发送的第一控制指令，其中，所述第一设备用于获取进行灵敏度衰减测试的终端的当前温度，并判断所述当前温度是否在预设温度范围内，当所述当前温度超过所述预设温度范围时，生成第一控制指令；

根据所述第一控制指令进行运行，调整所述当前温度。