CN115102615B - 光分路器测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光分路器测试系统，涉及光分路器测试技术领域，通过数据截分单元用于对所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值进行横次比对，首先进行数据标定，获取到传输通道Ci对应的插损值Hi、偏损值Pi和损均值Ui，之后对插损值进行偏体分析，根据分析的具体情况产生损受信号；再根据偏体分析的原理对偏损值和损均值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号二和损受信号三，根据产生损受信号、损受信号二和损受信号三确定对应光分路器是否存在问题。

Description

光分路器测试系统

技术领域

本发明属于光分路器测试技术领域，具体是光分路器测试系统。

背景技术

公告号为CN104618014B的专利公开了一种光分路器测试系统，包括光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器、多通道光功率计和控制系统，所述第一光纤对准器用于将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，所述第二光纤对准器用于将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接。提供的光分路器测试系统，测试成本低、测试时间短、效率高；

其具体公开了一种如何针对光分路器多个通路的进行同步实时测试，主要针对对光分路器的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性等技术指标进行同步测试；其具体虽然提供了针对通道如何进行测试，但是针对光分路器而言，如何判定光分路器本身不符合使用标准，针对单通道数据得到光分路器是否合格问题；

同时，对于在光分路器出现问题时，如何根据光分路器的情况来判定针对用户同一批次采购的光分路器，进行分析，从而获取到可能出现问题的光分路器，进行批次检验，便于避免在使用时临时检测；

基于此，现提供一种解决方案。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一；为此，本发明提出了光分路器测试系统。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例提出光分路器测试系统，包括：

分路测试数据获取单元，用于获取所有传输通道的插损值、偏损值和损均值；

分路测试数据获取单元用于将所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值传输到数据截分单元，数据截分单元用于对所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值进行横次比对，横次比对具体方式为：

步骤一：首先进行数据标定，获取到传输通道Ci对应的插损值Hi、偏损值Pi和损均值Ui，i＝1、...、n；且Ci、Hi、Pi和Ui为一一对应关系；

步骤二：之后获取到传输通道Ci的插损值Hi，对插损值进行偏体分析，主要根据插损值Hi的均值K，之后计算到偏差值W，根据偏差值W与预设数值X1的关系确定核删占比和核插损值Kh；

根据核删占比与X2关系产生混乱信号，当核插损值Kh超过X4时，且未产生混乱信号时，将其标记为损受信号；

在产生混乱信号时进行混乱判定，根据判定情况产生损受信号；

步骤三：获取到所有的偏损值Pi和损均值Ui，将其按照步骤二中偏体分析的原理对偏损值和损均值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号，将此时的损受信号依次标记为损受信号二和损受信号三；

数据截分单元用于将产生的损受信号、损受信号二和损受信号三传输到处理器；处理器用于对损受信号、损受信号二和损受信号三进行核定分析，核定分析具体方式为：

当产生损受信号、损受信号二和损受信号三中任意两个信号时，产生到期信号。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明通过数据截分单元用于对所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值进行横次比对，首先进行数据标定，获取到传输通道Ci对应的插损值Hi、偏损值Pi和损均值Ui，之后对插损值进行偏体分析，根据分析的具体情况产生损受信号；再根据偏体分析的原理对偏损值和损均值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号二和损受信号三，根据产生损受信号、损受信号二和损受信号三确定对应光分路器是否存在问题；

再之后通过对应使用用户，批次采购的光分路器，与存在问题的光分路器之间的关联性，判定目标光分路器，推荐用户进行批次检测；本发明能够对光分路器的通道情况判定光分路器是否存在问题，同时对用户批次采购的光分路器进行分析，帮助用户缩小批次检验光分路器的范围；本发明简单有效且易于实用。

附图说明

图1为本发明的系统框图。

具体实施方式

下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本申请提供了光分路器测试系统，作为本发明的实施例一，其具体包括分路测试数据获取单元01、数据截分单元02、处理器03、管理单元07、产品特性搜集单元04、众向反馈单元05和显示单元06；

其中，所述分路测试数据获取单元01，用于获取到经过测试后的所有的传输通道的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性，依次标记为插损值、偏损值和损均值；传输通道指代为光分路器中对应的输入端和输出端的输出通道；分路测试数据获取单元01用于将所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值传输到数据截分单元02，数据截分单元02用于对所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值进行横次比对，横次比对具体方式为：

步骤一：首先进行数据标定，具体为：

将所有的传输通道标记为Ci，i＝1、...、n，表示为存在n个传输通道；对应每个传输通道Ci的插损值标记为Hi，i＝1、...、n，对应每个传输通道Ci的偏损值标记为Pi，i＝1、...、n，对应每个传输通道的损均值标记为Ui，i＝1、...、n；且Ci、Hi、Pi和Ui为一一对应关系；

步骤二：之后获取到传输通道Ci的插损值Hi，对插损值进行偏体分析，偏体分析的具体方式为：

S1：首先获取到插损值Hi，i＝1、...、n；自动获取到Hi的均值K；

S2：之后利用公式计算偏差值W，具体计算公式为：

式中，|*|表示为对括号内的数值取绝对值；

S3：将偏差值W与X1进行比较，X1为预设数值，当W超过X1时，进行删值操作，具体为：

按照|Hi-K|值从大到小的方式对Hi进行排序，按照排序后的顺序依次选中Hi，每选中一个Hi时，将其删除，删除之后按照步骤S1-S2的原理重新计算W值；之后重新将W值与X1之间进行比较，若W还是超过X1，则继续对下一个Hi值进行相同的处理，直到W值不超过X1；

之后得到删除的Hi值的个数，将其除以n，得到的数值标记为核删占比；

S4：当核删占比超过X2时，产生混乱信号，X2为预设数值，一般取值为0.45；

S5：当W不超过X1时，将此时的均值K标记为核插损值Kh；

S6：进行混乱判定，具体为：

当产生混乱信号时，此时获取到全部的Hi的数值的均值K，获取到Hi中大于K的个数，将其标记为均上值，将均上值除以n，得到数值标记为均上占比；均上占比超过X3时，产生损受信号，否则不做处理；此处X3为预设值，通常一般取值为0.7；

在未产生混乱信号时，当核插损值Kh超过X4时，且未产生混乱信号时，将其标记为损受信号，否则不做处理，X4为预设数值；

步骤三：获取到所有的偏损值Pi，将其按照步骤二中偏体分析的原理对偏损值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号，将此时的损受信号标记为损受信号二；

步骤四：获取到所有的损均值Ui，将其按照步骤二中偏体分析的原理对偏损值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号，将此时的损受信号标记为损受信号三；

数据截分单元02用于将产生的损受信号、损受信号二和损受信号三传输到处理器03；处理器03用于对损受信号、损受信号二和损受信号三进行核定分析，核定分析具体方式为：

当产生损受信号、损受信号二和损受信号三中任意两个信号时，产生到期信号；

处理器03用于在产生到期信号时，自动驱动显示单元06显示“当前光分路器已经不适于使用，建议更换”；

作为本发明的实施例二，在实施例一的基础上，

处理器03还用于将产生的到期信号及其对应的光分路器传输到产品特性搜集单元04；

产品特性搜集单元04用于根据产生到期信号的光分路器进行特性搜集，特性搜集具体方式为：

SS1：将产生到期信号的光分路器标记为初始光分路器，之后获取到初始光分路器的生产过时、受用时间和制作产线，生产过时根据生产日期确定，即为生产日期距离产生到期信号时的时间长度，受用时间指代为光分路器具体投入使用的时长；

SS1：之后获取到对应初始光分路器的使用用户，所有采购的光分路器，将其标记为待分光分路器；

SS2：同步获取到所有待分光分路器的生产过时、受用时间和制作产线，依次标记为待分生产过时、待分受用时间和待分制作产线；

SS3：首先根据制作产线和待分制作产线，来定义待分光分路器的翻倍值，具体定义方式为：

当待分制作产线与制作产线一致时，将翻倍值标记为1.3，否则将翻倍值标记为1；将所有的待分光分路器的翻倍值标记为Fj，j＝1、...、m，表示为存在m个待分光分路器；

SS4：之后将待分生产过时减去生产过时之后取绝对值，将该值标记为过时绝差；

将待分受用时间减去受用时间之后取绝对值，将该值标记为受用绝差；

得到所有待分光分路器的过时绝差和受用绝差，对应依次标记为Gj和Yj，j＝1、...、m；

SS5：利用公式计算所有待分光分路器的离距值Lj，具体计算公式为：

Lj＝(0.41*Gj+0.59*Yj)/Fj；

式中，0.41和0.59均为预设的权值，用于凸显不同因素的不同重要性；

SS6：之后按照Lj从小到大的方式对待分光分路器进行排序，将排名前百分之三十五的待分光分路器标记为目标光分路器；

产品特性搜集单元04用于将目标光分路器传输到众向反馈单元05，众向反馈单元05用于在收到目标光分路器时，驱动显示单元06显示“当前光分路器可能也存在损坏，建议批次检验+目标光分路器”。

作为本发明的实施例三，在实施例一和实施例二的基础上，还包括管理单元，管理单元07与处理器03通信连接，用于录入所有的预设数值。

作为本发明的实施例四，该实施例用于将实施例一到实施例三融合实施。

上述公式中的部分数据均是去除量纲取其数值计算，公式是由采集的大量数据经过软件模拟得到最接近真实情况的一个公式；公式中的预设参数和预设阈值由本领域的技术人员根据实际情况设定或者通过大量数据模拟获得。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方法而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方法进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方法的精神和范围。

Claims (8)

1.光分路器测试系统，其特征在于，包括：

分路测试数据获取单元，用于获取所有传输通道的插损值、偏损值和损均值并传输至数据截分单元；

数据截分单元，用于对所有的传输通道的插损值、偏损值和损均值进行横次比对，横次比对具体方式为：

步骤一：首先进行数据标定，获取到传输通道Ci对应的插损值Hi、偏损值Pi和损均值Ui，i＝1、...、n；且Ci、Hi、Pi和Ui为一一对应关系；

步骤二：之后根据传输通道Ci的插损值Hi，对插损值进行偏体分析，根据插损值Hi的均值K，之后计算到偏差值W，根据偏差值W与预设数值X1的关系确定核删占比和核插损值Kh；偏体分析的具体方式为：

S1：首先获取到插损值Hi，i＝1、...、n；自动获取到Hi的均值K；

S2：之后利用公式计算偏差值W，具体计算公式为：

式中，|*|表示为对括号内的数值取绝对值；

S3：将偏差值W与X1进行比较，X1为预设数值，当W超过X1时，进行删值操作，具体为：

按照|Hi-K|值从大到小的方式对Hi进行排序，按照排序后的顺序依次选中Hi，每选中一个Hi时，将其删除，删除之后按照步骤S1-S2的原理重新计算W值；之后重新将W值与X1之间进行比较，若W还是超过X1，则继续对下一个Hi值进行相同的处理，直到W值不超过X1；

之后得到删除的Hi值的个数，将其除以n，得到的数值标记为核删占比；

S4：当核删占比超过X2时，产生混乱信号，X2为预设数值；

S5：当W不超过X1时，将此时的均值K标记为核插损值Kh；

S6：进行混乱判定，具体为：

当产生混乱信号时，此时获取到全部的Hi的数值的均值K，获取到Hi中大于K的个数，将其标记为均上值，将均上值除以n，得到数值标记为均上占比；均上占比超过X3时，产生损受信号，否则不做处理；此处X3为预设值；

当核插损值Kh超过X4时，且未产生混乱信号时，将其标记为损受信号，否则不做处理，X4为预设数值；

根据核删占比与X2关系产生混乱信号，当核插损值Kh超过X4时，且未产生混乱信号时，将其标记为损受信号；

在产生混乱信号时进行混乱判定，根据判定情况产生损受信号；

步骤三：获取到所有的偏损值Pi和损均值Ui，将其按照步骤二中偏体分析的原理对偏损值和损均值进行相同处理，根据处理结果产生损受信号，将此时的损受信号依次标记为损受信号二和损受信号三；

数据截分单元用于将产生的损受信号、损受信号二和损受信号三传输到处理器；处理器用于对损受信号、损受信号二和损受信号三进行核定分析，核定分析具体方式为：

当产生损受信号、损受信号二和损受信号三中任意两个信号时，产生到期信号。

2.根据权利要求1所述的光分路器测试系统，其特征在于，获取所有传输通道的插损值、偏损值和损均值具体方式为：

经过测试后的所有的传输通道的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性，依次标记为插损值、偏损值和损均值；传输通道指代为光分路器中对应的输入端和输出端的输出通道。

3.根据权利要求1所述的光分路器测试系统，其特征在于，步骤一中数据标定的具体方式为：

将所有的传输通道标记为Ci，i＝1、...、n，表示为存在n个传输通道；对应每个传输通道Ci的插损值标记为Hi，i＝1、...、n，对应每个传输通道Ci的偏损值标记为Pi，i＝1、...、n，对应每个传输通道的损均值标记为Ui，i＝1、...、n；且Ci、Hi、Pi和Ui为一一对应关系。

4.根据权利要求1所述的光分路器测试系统，其特征在于，处理器用于在产生到期信号时，自动驱动显示单元显示“当前光分路器已经不适于使用，建议更换”。

5.根据权利要求1所述的光分路器测试系统，其特征在于，所述处理器还用于将产生的到期信号及其对应的光分路器传输到产品特性搜集单元；

产品特性搜集单元用于根据产生到期信号的光分路器进行特性搜集，特性搜集具体方式为：

SS1：将产生到期信号的光分路器标记为初始光分路器，之后获取到初始光分路器的生产过时、受用时间和制作产线，生产过时根据生产日期确定，即为生产日期距离产生到期信号时的时间长度，受用时间指代为光分路器具体投入使用的时长；

SS1：之后获取到对应初始光分路器的使用用户，所有采购的光分路器，将其标记为待分光分路器；

SS2：同步获取到所有待分光分路器的生产过时、受用时间和制作产线，依次标记为待分生产过时、待分受用时间和待分制作产线；

SS3：首先根据制作产线和待分制作产线，来定义待分光分路器的翻倍值，具体定义方式为：

当待分制作产线与制作产线一致时，将翻倍值标记为1.3，否则将翻倍值标记为1；将所有的待分光分路器的翻倍值标记为Fj，j＝1、...、m，表示为存在m个待分光分路器；

SS4：之后将待分生产过时减去生产过时之后取绝对值，将该值标记为过时绝差；

将待分受用时间减去受用时间之后取绝对值，将该值标记为受用绝差；

得到所有待分光分路器的过时绝差和受用绝差，对应依次标记为Gj和Yj，j＝1、...、m；

SS5：利用公式计算所有待分光分路器的离距值Lj，具体计算公式为：

Lj＝(0.41*Gj+0.59*Yj)/Fj；

式中，0.41和0.59均为预设的权值；

SS6：之后按照Lj从小到大的方式对待分光分路器进行排序，将排名前百分之三十五的待分光分路器标记为目标光分路器。

6.根据权利要求5所述的光分路器测试系统，其特征在于，产品特性搜集单元用于将目标光分路器传输到众向反馈单元，众向反馈单元用于在收到目标光分路器时，将其传输到显示单元。

7.根据权利要求5所述的光分路器测试系统，其特征在于，显示单元接收到众向反馈单元传输的目标光分路器时，自动显示“当前光分路器可能也存在损坏，建议批次检验+目标光分路器”。

8.根据权利要求1-7任一项所述的光分路器测试系统，其特征在于，还包括管理单元，管理单元与处理器通信连接，用于录入所有的预设数值。

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