CN209748563U - 一种光分路器测试系统 - Google Patents

Abstract

一种光分路器测试系统，包括多波长光源、偏振控制单元、光回波损耗测试单元、光分路器、光功率采集单元和主控制单元；多波长光源包括多个光源以及与多个光源相连的光开关，光开关包括多个输入端，且光开关的每个输入端与一个光源的输出端相连，多波长光源的输出端通过光纤与偏振控制单元的输入端连接，偏振控制单元的输出端与与光回波损耗测试单元的输入端连接，光回波损耗测试单元的输出端与光分路器的输入端连接；光分路器的输出端与光功率采集单元的输入端连接。本实用新型采用了精确的数据采集技术和软件校准技术，结合管理界面，可方便快捷地测试期间在不同波长下的回波损耗、每个通道的插入损耗和偏振相关损耗。

Description

一种光分路器测试系统

技术领域

本实用新型涉及光纤技术领域，尤其涉及一种光分路器测试系统。

背景技术

光分路器又称为分光器，是光纤链路中重要的无源器件之一。光分路器是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件，用于将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中。为了使光分路器保持较小的偏振相关损耗，在采用光分路器进行光信号的传输之前，必须对光分路器的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性等技术指标进行测试。

在光纤通信技术中，光纤到户接入网采用的是无源光网络结构，而光分路器是无源光网络中的关键光器件之一，用以实现下行光信号的广播式发送。一个1×N端口的光分路器，要求将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中，并保持较小的偏振相关损耗，因此必须对光分路器的插入损耗、损耗均匀性和偏振相关损耗等技术指标进行测试。而且，光分路器一般工作在1310nm、1490nm和1550nm三个光波段，因此需要对这三个波段的器件性能进行逐一测试。

传统的测试方法需要多台不同波长的光源，光功率计、光毁损测试仪、偏振控制器等对光分路器的IL、RL和PDL指标一一进行测试，既需要昂贵的成本，又难以达到较高的效率，为解决上述问题，本申请中提出一种光分路器测试系统。

实用新型内容

（一）实用新型目的

为解决背景技术中存在的技术问题，本实用新型提出一种光分路器测试系统，采用了精确的数据采集技术和软件校准技术，结合管理界面，可方便快捷地测试期间在不同波长下的回波损耗、每个通道的插入损耗和偏振相关损耗。

（二）技术方案

为解决上述问题，本实用新型提出了一种光分路器测试系统，包括多波长光源、偏振控制单元、光回波损耗测试单元、光分路器、光功率采集单元和主控制单元；多波长光源包括多个光源以及与多 个光源相连的光开关，光开关包括多个输入端，且光开关的每个输入端与一个光源的输出端相连，多波长光源的输出端通过光纤与偏振控制单元的输入端连接，偏振控制单元的输出端与与光回波损耗测试单元的输入端连接，光回波损耗测试单元的输出端与光分路器的输入端连接；光分路器的输出端与光功率采集单元的输入端连接；光分路器至少包括：一个光输入端口、两个光输出端口以及置于输入端口和输出端口之间的等规格的第一透镜和第二透镜，以及等厚度的分光片和玻片；其中，输入端口置于第一透镜的两倍焦距处；分光片置于第一透镜和输入端口之间；第一输出端口置于第一透镜相背于输入端口的另一侧的两倍焦距处；玻片置于第一透镜与第一输出端口之间；第二输出端口置于第二透镜的两倍焦距处；第一输出端口的光路和第二输出端口的光路分别与所述输入端口的光路完全对称。

优选的，偏振控制单元由四组光纤挤压器组成偏振态调整装置。

优选的，光功率采集单元由八组光功率采集板组成。

优选的，主控制单元采用微处理器以及各种控制总线组成。

根据上述的技术方案，本实用新型还提出了一种光分路器测试系统的测试方法，包括以下步骤：

S1、将多波长光源通过光回波损耗测试单元与光功率采集单元连接，

S2、将偏振控制单元集成到光功率采集单元，由主控制单元统一控制；

S3、多波长光源由一根光源线输出，输出的光源线经光功率采集单元的个探测 口分别校准，并测试初始值p即可；

S4、后光源线与待测光分路器连接，光分路器是选择匹配的 根连接器，每根连接器分别与光功率采集单元连接；

S5、然后选择PDL模式，由主控制单元自动控制多波长光源光开关的切换和偏振控制单元的动作。

本实用新型的上述技术方案具有如下有益的技术效果：测试系统包括多波长光源、偏振控制单元、光回波损耗测试单元、光功率采集模块、主控制单元部分组成，系统采用了精确的数据采集技术和软件校准技术，结合管理界面，可方便快捷地测试期间在不同波长下的回波损耗、每个通道的插入损耗和偏振相关损耗。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种光分路器测试系统的结构示意图。

图2为本实用新型提出的一种光分路器测试系统的流程框图。

附图标记：1、多波长光源；2、偏振控制单元；3、光回波损耗测试单元；4、光分路器；5、光功率采集单元；6、主控制单元。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

如图1和图2所示，本实用新型提出的一种光分路器测试系统，包括多波长光源1、偏振控制单元2、光回波损耗测试单元3、光分路器4、光功率采集单元5和主控制单元6；多波长光源1包括多个光源以及与多 个光源相连的光开关，光开关包括多个输入端，且光开关的每个输入端与一个光源的输出端相连，多波长光源1的输出端通过光纤与偏振控制单元2的输入端连接，偏振控制单元2的输出端与与光回波损耗测试单元3的输入端连接，光回波损耗测试单元3的输出端与光分路器4的输入端连接；光分路器4的输出端与光功率采集单元5的输入端连接；光分路器4至少包括：一个光输入端口、两个光输出端口以及置于输入端口和输出端口之间的等规格的第一透镜和第二透镜，以及等厚度的分光片和玻片；其中，输入端口置于第一透镜的两倍焦距处；分光片置于第一透镜和输入端口之间；第一输出端口置于第一透镜相背于输入端口的另一侧的两倍焦距处；玻片置于第一透镜与第一输出端口之间；第二输出端口置于第二透镜的两倍焦距处；第一输出端口的光路和第二输出端口的光路分别与所述输入端口的光路完全对称。

在一个可选的实施例中，偏振控制单元2由四组光纤挤压器组成偏振态调整装置。

在一个可选的实施例中，光功率采集单元5由八组光功率采集板组成。

在一个可选的实施例中，主控制单元6采用微处理器以及各种控制总线组成。

根据上述的技术方案，本实用新型还提出了一种光分路器测试系统的测试方法，包括以下步骤：

S1、将多波长光源1通过光回波损耗测试单元3与光功率采集单元5连接；S2、将偏振控制单元2集成到光功率采集单元5，由主控制单元6统一控制；

S3、多波长光源1由一根光源线输出，输出的光源线经光功率采集单元5的8个探测口分别校准，并测试初始值p0即可；

S4、后光源线与待测光分路器4连接，光分路器4是选择匹配的8 根连接器，每根连接器分别与光功率采集单元5连接；

S5、然后选择PDL模式，由主控制单元6自动控制多波长光源1光开关的切换和偏振控制单元2的动作。

本实用新型中，测试系统包括多波长光源1、偏振控制单元2、光回波损耗测试单元3、光功率采集模块5、主控制单元6部分组成，系统采用了精确的数据采集技术和软件校准技术，结合管理界面，可方便快捷地测试期间在不同波长下的回波损耗、每个通道的插入损耗和偏振相关损耗。

应当理解的是，本实用新型的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本实用新型的原理，而不构成对本实用新型的限制。因此，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。此外，本实用新型所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。

Claims (4)

1.一种光分路器测试系统，其特征在于，包括多波长光源（1）、偏振控制单元（2）、光回波损耗测试单元（3）、光分路器（4）、光功率采集单元（5）和主控制单元（6）；多波长光源（1）包括多个光源以及与多个光源相连的光开关，光开关包括多个输入端，且光开关的每个输入端与一个光源的输出端相连，多波长光源（1）的输出端通过光纤与偏振控制单元（2）的输入端连接，偏振控制单元（2）的输出端与光回波损耗测试单元（3）的输入端连接，光回波损耗测试单元（3）的输出端与光分路器（4）的输入端连接；光分路器（4）的输出端与光功率采集单元（5）的输入端连接；

光分路器（4）至少包括：一个光输入端口、两个光输出端口以及置于输入端口和输出端口之间的等规格的第一透镜和第二透镜，以及等厚度的分光片和玻片；

其中，输入端口置于第一透镜的两倍焦距处；分光片置于第一透镜和输入端口之间；第一输出端口置于第一透镜相背于输入端口的另一侧的两倍焦距处；玻片置于第一透镜与第一输出端口之间；第二输出端口置于第二透镜的两倍焦距处；第一输出端口的光路和第二输出端口的光路分别与所述输入端口的光路完全对称。

2.根据权利要求1所述的一种光分路器测试系统，其特征在于，偏振控制单元（2）由四组光纤挤压器组成偏振态调整装置。

3.根据权利要求1所述的一种光分路器测试系统，其特征在于，光功率采集单元（5）由八组光功率采集板组成。

4.根据权利要求1所述的一种光分路器测试系统，其特征在于，主控制单元（6）采用微处理器以及控制总线组成。