-
PRIORITÄT
-
Diese Offenbarung beansprucht die Vorteile der vorläufigen
US-Anmeldung Nr. 63/060,010 mit dem Titel „MUX-ENABLED CABLES AND TEST FIXTURES“, die am 1. August 2020 eingereicht wurde und hierin durch Bezugnahme in vollem Umfang enthalten ist.
-
TECHNISCHES GEBIET
-
Diese Offenbarung bezieht sich auf Systeme und Verfahren im Zusammenhang mit Test- und Messsystemen und insbesondere auf Test- und Messsysteme zur Messung mehrerer Signale von einer zu testenden Vorrichtung (DUT).
-
STAND DER TECHNIK
-
Viele DUTs enthalten eine Vielzahl von ähnlich gestalteten Signalpfaden. Eine Peripheral Component Interconnect (PCI)-Express (PCle oder PCI-e)-Steckkarte und/oder ein PCIe-Motherboard-Steckplatz enthalten beispielsweise üblicherweise bis zu sechzehn elektrische Signal-„Spuren“. Die elektrischen Signalspuren sind in der Regel Differenzsignalspuren, d. h. zwei elektrische Anschlüsse bilden ein Differenzsignal. Test- und Messinstrumente, die typischerweise zur Prüfung solcher DUTs verwendet werden, wie Oszilloskope oder Bitfehlerraten-Tester (BERT), haben jedoch in der Regel einen, zwei oder vier Eingangsanschlüsse. Einige Oszilloskope verfügen über acht Eingangskanäle oder Anschlüsse. Hochleistungsgeräte haben jedoch aufgrund der höheren Hardwarekosten in der Regel weniger Eingangskanäle. Aufgrund der begrenzten physikalischen Kanaldichte kann die Kanalzahl auch aus thermischen Gründen niedrig gehalten werden. Aus diesem Grund ist es typisch, dass eine Test- und Messinstrumentenkonfiguration an eine Teilmenge der zu testenden elektrischen Signalspuren angeschlossen wird.
-
Um jede oder alle Signalspur(en) zu testen, muss ein Benutzer eine Verbindung zwischen dem Test- und Messinstrument und dem DUT, z. B. ein Testkabel oder eine Sonde, manuell von jeder Spur zu Spur bewegen. Das manuelle Verschieben des Kabels oder der Sonde ist ein fehleranfälliger und sehr zeit- und arbeitsintensiver Prozess. Alternativ kann, z. B. in einer zweikanaligen Test- und Messumgebung, ein Hochfrequenz (HF)-Schalter gebaut und gewartet werden, um eine Automatisierung des Tests aller Signalspuren des DUTs zu ermöglichen. Bei höheren Frequenzen ist es jedoch schwierig, einen geeigneten Schalter zu finden und die Auswirkungen des Schalters korrekt aus dem Signalpfad zu entfernen. Aus diesem Grund vertrauen viele Anwender nicht darauf, dass die Schalter ohne signifikante Fehler aus der Signalspur entfernt werden können, insbesondere oberhalb von 25 GHz.
-
Beispiele aus der Offenbarung beheben diese und andere Mängel des Standes der Technik.
-
Figurenliste
-
Aspekte, Merkmale und Vorteile von Beispielen der vorliegenden Offenbarung werden aus der folgenden Beschreibung von Beispielen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen ersichtlich, in denen:
- 1 ist ein Blockdiagramm eines Multiplexerkabels oder einer Testvorrichtung in einem Test- und Messsystem gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.
- 2 ist ein Blockdiagramm eines anderen Multiplexerkabels oder einer Testvorrichtung in einem Test- und Messsystem gemäß anderen Beispielen der Offenbarung.
- 3 ist eine Illustration eines Multiplexerkabels gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.
- 4 ist ein Blockdiagramm eines beispielhaften Multiplexerkabels oder einer Testvorrichtung gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.
- 5 ist ein Blockdiagramm eines beispielhaften Multiplexerkabels oder einer Testvorrichtung in einem Test- und Messsystem gemäß anderen Beispielen der Offenbarung.
-
BESCHREIBUNG
-
1 zeigt ein beispielhaftes Blockdiagramm eines Test- und Messsystems 100 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung. Das Test- und Messsystem 100 umfasst eine zu testende Vorrichtung (DUT) 102, das über ein Kabel oder eine Testvorrichtung 106 mit einem Test- und Messinstrument 104 verbunden ist, mit einem Multiplexer 108, der auch als Datenselektor bezeichnet werden kann.
-
Das DUT 102 kann mehrere Signalspuren 110 enthalten. Das Kabel oder die Testvorrichtung 106 kann mit den Signalspuren 110 des DUT 102 verbunden werden. In einigen Beispielen kann das Kabel oder die Testvorrichtung 106 an verschiedene Signalspuren verschiedener DUTs 102 angeschlossen werden. Das Kabel oder die Testvorrichtung 106 umfasst eine Reihe von DUT-Verbindungen 110. Obwohl vier DUT- Verbindungen 110 an den Multiplexer 108 gezeigt werden, kann jede beliebige Anzahl von Verbindungen enthalten sein, wie z. B. acht, sechzehn oder zweiunddreißig Verbindungen, ohne darauf beschränkt zu sein. Die Verbindungen 110 können beispielsweise Verbindungen mit hoher Dichte umfassen. Verbindungen mit hoher Dichte umfassen alle Verbindungen, die acht oder mehr Anschlüsse umfassen.
-
Wie der Fachmann versteht, kann sich ein DUT 102 auf eine eigenständige zu testende Vorrichtung mit einer oder mehreren Signalspuren beziehen oder auf eine bestimmte Signalspur eines DUTs 102, das mehrere Signalspuren hat.
-
Der Multiplexer 108 des Kabels 106 kann dann eine oder mehrere der Signalspuren 110 mit dem Test- und Messinstrument 104 verbinden 116. Obwohl 1 eine einzige Verbindung 116 zum Test- und Messinstrument 104 zeigt, kann eine beliebige Anzahl von Verbindungen 116 vorgesehen werden, z. B. die gleiche Anzahl von Eingängen. Je nach dem DUT 102 und dem Test- und Messinstrument 104 können Signale sowohl zu als auch von dem DUT 102 und dem Test- und Messinstrument 104 übertragen werden.
-
In einigen Beispielen kann das Kabel oder die Testvorrichtung 106 einen Speicher 118 und/oder einen Prozessor 120 enthalten. Das Kabel oder die Testvorrichtung 106 kann während der Herstellung oder im Werk getestet werden, um alle De-Embed- und/oder Kalibrierungsparameter für das Kabel oder die Testvorrichtung 106 zu bestimmen, um die Auswirkungen des Kabels oder der Testvorrichtung 106 auf die Signalergebnisse zu entfernen. In jedem der erörterten Fälle wird der Begriff Kalibrierungsparameter für alle Kalibrierungsparameter, einschließlich der De-Embed-Parameter des Kabels oder der Testvorrichtung 106, verwendet, die dazu dienen, die Auswirkungen des Kabels aus den vom Test- und Messinstrument 104 durchgeführten Signalmessungen zu entfernen. Die Kalibrierungsparameter können in dem Speicher 118 gespeichert und an das Test- und Messinstrument 104 gesendet werden. In einigen Beispielen können die Kalibrierungsparameter an ein Analysegerät gesendet werden, das von einem Test- und Messinstrument 104 entfernt ist. Das Analysegerät kann die Kalibrierungsparameter sowie Daten von dem Test- und Messinstrument 104 sammeln und jede erforderliche Verarbeitung der Daten vornehmen, wie es für einen Fachmann verständlich ist. In anderen Beispielen können die Kalibrierungsparameter für ein bestimmtes Kabel oder eine bestimmte Testvorrichtung 106 in einem Speicher 122 gespeichert werden, der sich im Test- und Messinstrument 104 befindet, oder von einem entfernten Speicher, wie beispielsweise einem Cloud-Speicher, abgerufen werden. Die Kalibrierungsparameter können auf der Grundlage einer Seriennummer oder einer anderen Identifikationsnummer des Kabels oder der Testvorrichtung 106 identifiziert werden.
-
Wie oben erwähnt, kann das Kabel oder die Testvorrichtung 106 in einigen Beispielen einen Prozessor 120 enthalten. Der Prozessor 120 kann den Multiplexer 108 betreiben, um verschiedene Spuren des DUT 102 mit dem Test- und Messinstrument 104 zu verbinden. In anderen Beispielen kann ein Prozessor 124 des Test- und Messinstruments 104 Steuersignale an den Multiplexer 108 senden, um verschiedene Spuren des DUTs 102 mit dem Test- und Messinstrument 104 zu verbinden. Das Test- und Messinstrument 104 kann auch Stromsignale an das Kabel und die Testvorrichtung 106 senden. Die Leistungs- und Steuersignale können über eine separate Verbindung (nicht dargestellt) zwischen dem Kabel oder der Testvorrichtung 106 und dem Test- und Messinstrument 104 gesendet werden, oder das Test- und Messinstrument 104 kann die Signale über die Verbindung mit dem einen oder mehreren Verbindungen 116 senden.
-
Der Prozessor 120 des Test- und Messinstruments 104 kann auch Effekte des Kabels oder der Testvorrichtung 106 unter Verwendung der für das Kabel oder die Testvorrichtung 106 spezifischen Kalibrierungsparameter ausblenden.
-
2 zeigt ein alternatives Test- und Messsystem 200 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung. In diesem Beispiel ähneln viele Merkmale des Test- und Messsystems 200 denen, die oben in Bezug auf 1 diskutiert wurden. Dementsprechend haben diese Merkmale die gleichen Referenznummern und werden hier nicht weiter in Bezug auf 2 diskutiert.
-
In einigen Beispielen kann das Multiplexerkabel oder die Testvorrichtung 202 einen Transceiver 204 und/oder eine Batterie 206 enthalten. Sowohl ein Transceiver 204 als auch eine Batterie 206 sind nicht erforderlich. In einigen Beispielen ist in dem Kabel oder der Testvorrichtung 202 nur eine Batterie 206 vorgesehen. Die Batterie 206 kann den Multiplexer 208, den Speicher 118 und den Prozessor 120 mit Strom versorgen.
-
Die Batterie 206 kann in einigen Beispielen wiederaufladbar sein und kann über eine Verbindung (nicht dargestellt) entweder vom DUT 106 oder vom Test- und Messinstrument 104 Strom erhalten oder abziehen. Der Transceiver 204 kann ein drahtloser Transceiver sein und kann in einigen Beispielen die Signale drahtlos über die Verbindung 116 an das Test- und Messinstrument 104 senden. Der Prozessor 120 kann über den Transceiver 204 Anweisungen zum Betrieb des Multiplexers 108 empfangen.
-
In 3 ist ein Beispiel für ein Kabel oder eine Testvorrichtung 300 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung dargestellt. Das Kabel 300 enthält eine Anzahl von Steckverbinder 302, die mit einem DUT, wie dem DUT 102, verbunden werden können. In 3 sind sechzehn Steckverbinder 302 dargestellt. Beispiele für das Kabel oder die Testvorrichtung 300 sind nicht auf sechzehn Steckverbinder 302 beschränkt, es kann eine beliebige Anzahl von Steckverbinder 302 verwendet werden. Das Kabel 300 kann ein Gehäuse 304 enthalten, in dem der Multiplexer 108 und alle anderen Komponenten untergebracht sind, die in dem Kabel oder der Testvorrichtung 106 in 1 oder dem Kabel oder der Testvorrichtung 202 in 2 dargestellt sind. In dem in 3 dargestellten Beispiel ist im Kabel 300 eine einzige Verbindung oder Ausgang 306 dargestellt, der z. B. an ein Test- und Messinstrument 104 angeschlossen werden kann. Es kann jedoch auch mehr als eine Verbindung 306 vorgesehen werden, wie oben beschrieben.
-
4 zeigt ein Blockdiagramm eines Hochfrequenzkabels (HF) 400 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung. Zur besseren Veranschaulichung ist das Kabel 400 mit vier Anschlüssen 402 dargestellt, die mit einem Multiplexer 404 mit vier Eingängen verbunden sind. Ein Signal auf der HF-Übertragungsleitung 406 kann an einen Anschluss 408 übertragen werden, der mit einem Test- und Messinstrument verbunden werden kann. Zusätzlich oder alternativ kann ein Signal von dem Test- und Messinstrument durch die Verbindung 408 gesendet und an einen der Anschlüsse 402 ausgegeben werden, der mit einem oder mehreren DUTs verbunden ist. Das heißt, die Anschlüsse 402 können mit einer bestimmten Signalspur eines oder mehrerer DUTs verbunden sein oder jeder kann mit einem anderen DUT verbunden sein.
-
Wie in 4 gezeigt, können Leistungssignale 410 und Steuersignale 412 von einem angeschlossenen Test- und Messinstrument empfangen werden. Während die Leistungssignale 410 und die Steuersignale 412 als separate Eingänge in das Kabel 400 dargestellt sind, können die Signale in einigen Beispielen über einen einzigen Stecker oder über die HF-Übertragungsleitung 406 gesendet werden.
-
Die Streuparameter, die auch als S-Parameter bezeichnet werden, können für jeden der Anschlüsse gespeichert werden, um das Test- und Messinstrument 104 bei der Entbettung des Kabels 400 aus dem Signal des DUT 102 zu unterstützen. Wenn beispielsweise Anschluss 1 aktiviert ist, können die Durchgangspfad-S-Parameter S11, S51, S15 und S55 und die Isolationspfad-S-Parameter S52, S53 und S54, die während der Herstellung des Kabels 400 bestimmt wurden, entweder direkt in einem Kabelspeicher selbst, wie in den 1 und 2 gezeigt, oder innerhalb des Test- und Messinstruments 104 gespeichert werden. Die S-Parameter des Durchgangspfads und des Isolationspfads werden für jeden der Anschlüsse 402 und den Anschluss 408 gespeichert. In einigen Beispielen kann ein Benutzer seine eigenen S-Parameter hochladen oder anderweitig portieren, z. B. wenn der Benutzer die S-Parameter ändern oder dem System Belastungen hinzufügen möchte.
-
Beispiele der Offenbarung sind nicht auf das in 4 gezeigte Beispiel beschränkt. Wie ein Fachmann verstehen wird, können Multiplexer 404 mit mehr Verbindungen verwendet werden, und es können auch mehrere Multiplexer 404 verwendet werden. So könnte das Kabel 400 beispielsweise acht Anschlüsse 402 haben, von denen jeweils vier zu einem Multiplexer 404 führen. Dann können entweder zwei Verbindungen 408 im Kabel 400 vorgesehen werden, oder es könnte ein dritter Multiplexer vorgesehen werden, der die Ausgänge des Multiplexers 404 mit vier Eingängen empfängt und einen einzigen Ausgang an das Test- und Messinstrument ausgibt. Das heißt, ein Baum von Multiplexern kann in einer einzigen Multiplexereinheit 404 bereitgestellt werden, die verwendet werden kann, um die Signale wie gewünscht zwischen einem oder mehreren DUTs und einem oder mehreren Test- und Messinstrumenten zu leiten.
-
5 zeigt ein weiteres Beispielsystem mit einem Kabel 500, das einen oder mehrere Multiplexer 502 enthält. Während in
5 ein Multiplexer 502 dargestellt ist, kann der Multiplexer 502 aus einer Anzahl verschiedener Multiplexer 502 bestehen. In einem solchen Beispiel kann es sich bei dem Test- und Messinstrument 504 beispielsweise um hochintegrierte Margin-Tester-Geräte handeln, die zum Beispiel zum schnellen und einfachen Testen eines mehrspurigen DUTs 506 verwendet werden können.
U.S. Patent App. Nr. 16/778,249 , und
U.S. Patent App. Nr. 16/778,262 , beide eingereicht am 31. Januar 2020, deren Inhalt hiermit in vollem Umfang durch Bezugnahme aufgenommen wird, beschreiben solche hochintegrierten Margin-Tester. Wie in dem oben genannten Dokument beschrieben, sind Margin-Tester in der Lage, gleichzeitig mehrere Signalspuren eines DUTs 506 durch eine Verbindung mit hoher Dichte zu testen. Margin-Tester können die Signalspuren des DUT 506 auch sequentiell und nicht gleichzeitig testen.
-
Ein oder mehrere DUTs 506 können über High-Density-Verbindungen 508 an das Multiplexerkabel 500 angeschlossen werden. Das heißt, jede Verbindung 508 stellt eine Verbindung mit hoher Dichte dar, wie zum Beispiel, aber nicht beschränkt auf, acht, sechzehn oder zweiunddreißig Verbindungen. Zur besseren Veranschaulichung und Erklärung wird die High-Density-Verbindung 508 jedoch als einzelne Verbindung dargestellt.
-
Der Multiplexer 502 kann über die High-Density-Verbindungen 508 eine Verbindung zu einem oder mehreren DUTs 506 herstellen und eine High-Density-Verbindung 510 zu einem oder mehreren Test- und Messinstrumenten 504 ausgeben. Der Multiplexer 502 kann eines der DUTs 506 über die Verbindungen 508 und 510 mit dem Test- und Messinstrument 504 verbinden. In einigen Beispielen werden Signale gleichzeitig über jede High-Density-Verbindung 508 von und zu dem mit dem Test- und Messinstrument 504 über die High-Density-Verbindung 510 verbundenen DUT 506 übertragen. Das heißt, dass alle Signalspuren eines der DUTs 506 durch das Test- und Messinstrument 504 über die Verbindung durch den Multiplexer 502 sequentiell oder gleichzeitig getestet werden können.
-
Dies kann es ermöglichen, dass mehrere DUTs 506 zu Vergleichs- und/oder Herstellungszwecken nahezu gleichzeitig auf derselben Box getestet werden. Darüber hinaus kann das Test- und Messgerät 504 jede Spur der High-Density-Verbindungen 508 separat testen, wie in den oben erwähnten und durch Verweis einbezogenen Patentanmeldungen diskutiert. In einer solchen Situation kann ein DUT 506 mit einer großen Anzahl von Signalspuren, wie z. B. sechsundneunzig Signalspuren, vom DUT 506 über vier High-Density-Verbindungen angeschlossen werden, und der Multiplexer 502 kann jeweils eine Spur mit dem Test- und Messinstrument 504 verbinden.
-
Während 5 mehrere DUTs 506 zeigt, die mit zwei Test- und Messinstrumenten 504 verbunden sind, sind die Beispiele der Offenbarung nicht auf diese Konfiguration beschränkt. Es kann eine gleiche Anzahl von DUTs 506 und Test- und Messinstrumenten 504 vorgesehen werden, oder ein einziges Test- und Messinstrument 504 kann mit mehreren DUTs 506 verbunden werden. Mehrere Test- und Messgeräte 504, die mit einem DUT 506 verbunden sind, können das Testen mehrerer Protokolle auf dem DUT 506 zur gleichen Zeit oder nahezu zur gleichen Zeit erleichtern.
-
In einigen Beispielen kann der Multiplexer 502 eine gleiche Anzahl von Eingängen und Ausgängen haben. Dies kann es ermöglichen, ein DUT 506 mit dem Test- und Messinstrument 504 durch Verbindungen hoher Dichte 508 und 510 über den Multiplexer 502 zu verbinden. Auf diese Weise können nicht standardisierte Protokolle wie Compute Express Link (CXL), benutzerdefinierte Protokolle oder Link-State-Permutationen an einem DUT 506 getestet werden. Der Multiplexer 502 kann verschiedene Signalspuren des DUT 506 und die Signalspuren des Test- und Messgeräts 504 verbinden und trennen. Zusätzlich oder alternativ kann der Multiplexer 502 Adapter enthalten, die das Ändern und/oder Spleißen von Signaltypen ermöglichen. Beispielsweise kann ein Adapter an den Multiplexer 502 angeschlossen werden, damit ein Benutzer eine COAX-Rohverbindung für eine PCIe-Verbindung verwenden kann, um eine weniger unordentliche Verbindung zu ermöglichen. Der Multiplexer 502 wäre dann in der Lage, die S-Parameter des Adapters, die bekannt und eingebettet sind, in einem Speicher zu speichern. Das heißt, der Adapter kann den Verbindungstyp des Multiplexers 502 ändern.
-
Das Multiplexerkabel 500 kann zusätzliche Komponenten enthalten, wie z. B. einen Speicher, einen Prozessor oder eine Batterie, ähnlich wie bei anderen Beispielen, die oben in Bezug auf die 1 und 2 diskutiert und hier nicht weiter beschrieben wurden. Zusätzlich oder alternativ können Quell- und Steuersignale von einem oder mehreren der angeschlossenen Test- und Messinstrumente 504 empfangen werden. Das Test- und Messinstrument 504 kann die Steuer- und Quellensignale über die High-Density-Verbindung 510 oder über eine separate Verbindung senden.
-
Ähnlich wie bei den oben besprochenen Beispielen können die Kalibrierungsparameter des Kabels 500 zum Zeitpunkt der Herstellung bestimmt und von dem Test- und Messinstrument 504 verwendet werden, um die Auswirkungen des Kabels 500 aus allen Messungen des einen oder der mehreren DUTs 506 zu entfernen.
-
Beispiele der Offenbarung ermöglichen es, dass ein oder mehrere Test- und Messinstrumente eine oder mehrere Signalspuren prüfen, die von einem oder mehreren DUTs stammen können. Die Multiplexerkabel oder Testvorrichtungen der Offenbarung können ein Umschalten zwischen den verschiedenen Signalspuren zu einem oder mehreren Test- und Messinstrumenten ermöglichen. Die Multiplexerkabel verfügen über bekannte Kalibrierungsparameter, die bei der Herstellung oder im Werk festgelegt wurden und von den Test- und Messinstrumenten verwendet werden können, um jegliche Auswirkungen des Kabels zu beseitigen. Dadurch kann stundenlange manuelle Arbeit eingespart werden, da nicht jede Signalspur oder jeder Ausgang eines DUTs einzeln an ein Test- und Messinstrument angeschlossen werden muss.
-
Aspekte der Offenbarung können auf speziell entwickelter Hardware, Firmware, digitalen Signalprozessoren oder auf einem speziell programmierten Computer mit einem Prozessor, der nach programmierten Anweisungen arbeitet, arbeiten. Die hier verwendeten Begriffe Controller oder Prozessor sollen Mikroprozessoren, Mikrocomputer, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) und spezielle Hardware-Controller umfassen. Ein oder mehrere Aspekte der Offenbarung können in computerverwendbaren Daten und computerausführbaren Anweisungen verkörpert sein, beispielsweise in einem oder mehreren Programmmodulen, die von einem oder mehreren Computern (einschließlich Überwachungsmodulen) oder anderen Geräten ausgeführt werden. Im Allgemeinen umfassen Programmmodule Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen usw., die bestimmte Aufgaben ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen implementieren, wenn sie von einem Prozessor in einem Computer oder einem anderen Gerät ausgeführt werden. Die computerausführbaren Anweisungen können auf einem computerlesbaren Speichermedium wie einer Festplatte, einer optischen Platte, einem Wechselspeichermedium, einem Festkörperspeicher, einem Random Access Memory (RAM) usw. gespeichert sein. Wie dem Fachmann klar sein wird, kann die Funktionalität der Programmmodule nach Belieben kombiniert oder verteilt werden. Darüber hinaus kann die Funktionalität ganz oder teilweise in Firmware oder Hardware-Äquivalenten wie integrierten Schaltungen, FPGA und dergleichen verkörpert sein. Bestimmte Datenstrukturen können verwendet werden, um einen oder mehrere Aspekte der Offenbarung effektiver zu implementieren, und solche Datenstrukturen werden im Rahmen der hier beschriebenen computerausführbaren Anweisungen und computerverwendbaren Daten in Betracht gezogen.
-
Die offenbarten Aspekte können in einigen Fällen in Hardware, Firmware, Software oder einer Kombination davon implementiert werden. Die offengelegten Aspekte können auch in Form von Anweisungen implementiert werden, die auf einem oder mehreren computerlesbaren Speichermedien gespeichert sind, die von einem oder mehreren Prozessoren gelesen und ausgeführt werden können. Solche Anweisungen können als Computerprogrammprodukt bezeichnet werden. Computerlesbare Medien, wie hier beschrieben, sind alle Medien, auf die ein Computergerät zugreifen kann. Als Beispiel und ohne Einschränkung können computerlesbare Medien Computerspeichermedien und Kommunikationsmedien umfassen.
-
Computerspeichermedien sind beliebige Medien, die zum Speichern von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Zu den Computerspeichermedien gehören beispielsweise RAM, ROM, EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, elektrisch löschbarer programmierbarer Festspeicher), Flash-Speicher oder andere Speichertechnologien, CD-ROM (Compact Disc Read Only Memory), DVD (Digital Video Disc) oder andere optische Plattenspeicher, Magnetkassetten, Magnetbänder, Magnetplattenspeicher oder andere magnetische Speichervorrichtungen sowie alle anderen flüchtigen oder nicht flüchtigen, entfernbaren oder nicht entfernbaren Medien, die in einer beliebigen Technologie eingesetzt werden. Computerspeichermedien schließen Signale als solche und vorübergehende Formen der Signalübertragung aus.
-
Kommunikationsmedien sind alle Medien, die für die Übertragung von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Als Beispiel und ohne Einschränkung können Kommunikationsmedien Koaxialkabel, Glasfaserkabel, Luft oder andere Medien umfassen, die für die Übertragung von elektrischen, optischen, Hochfrequenz- (HF), Infrarot-, akustischen oder anderen Signalen geeignet sind.
-
BEISPIELE
-
Im Folgenden werden Beispiele für die hier offengelegten Technologien beschrieben. Eine Konfiguration der Technologien kann eines oder mehrere und jede Kombination der unten beschriebenen Beispiele umfassen.
-
Beispiel 1 ist ein Kabel zum Verbinden einer oder mehrerer zu testender Vorrichtungen mit einem Test- und Messinstrument, das einen ersten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einer ersten Signalspur verbunden ist; einen zweiten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einer zweiten Signalspur verbunden ist; einen dritten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einem Test- und Messinstrument verbunden ist; und einen Multiplexer umfasst, der so ausgebildet ist, dass er zwischen der elektrischen Verbindung des ersten Anschlusses mit dem dritten Anschluss oder der Verbindung des zweiten Anschlusses mit dem dritten Anschluss umschaltet.
-
Beispiel 2 ist das Kabel von Beispiel 1, das außerdem einen Speicher umfasst, der so strukturiert ist, dass er Kalibrierungsparameter des Test- und Messkabels speichert.
-
Beispiel 3 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1 oder 2, wobei der erste Anschluss und/oder der zweite Anschluss ein Verbindungsanschluss mit hoher Dichte ist.
-
Beispiel 4 ist das Kabel aus Beispiel 3, wobei der dritte Anschluss ein High-Density Verbindungsanschluss ist.
-
Beispiel 5 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-4, das ferner einen Prozessor umfasst, der zur Steuerung des Multiplexers ausgebildet ist.
-
Beispiel 6 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-5, das ferner einen Eingang umfasst, der so ausgebildet ist, dass er ein Steuersignal zum Betrieb des Multiplexers empfängt.
-
Beispiel 7 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-6, das weiterhin einen Transceiver umfasst.
-
Beispiel 8 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-7, wobei sich die erste Signalspur und die zweite Signalspur innerhalb einer einzigen zu testenden Vorrichtung befinden.
-
Beispiel 9 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-7, wobei sich die erste Signalspur und die zweite Signalspur in verschiedenen zu testenden Vorrichtungen befinden.
-
Beispiel 10 ist das Kabel aus einem der Beispiele 1-9, wobei das Kabel ein Radiofrequenzkabel ist.
-
[Beispiel 11 ist ein Test- und Messsystem, das Folgendes umfasst: einen ersten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einer ersten Signalspur verbunden ist; einen zweiten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einer zweiten Signalspur verbunden ist; einen dritten Anschluss, der so strukturiert ist, dass er elektrisch mit einem Test- und Messinstrument verbunden ist; einen Multiplexer, der so ausgebildet ist, dass er zwischen der elektrischen Verbindung des ersten Anschlusses mit dem dritten Anschluss und der Verbindung des zweiten Anschlusses mit dem dritten Anschluss umschaltet; einen Eingang, der so ausgebildet ist, dass er Befehle zum Betrieb des Multiplexers empfängt; und einen Speicher, der so strukturiert ist, dass er die Kalibrierungsparameter des kalibrierten Kabels speichert.
-
Beispiel 12 ist ein Verfahren zum Verbinden einer oder mehrerer Signalspuren mit einem Test- und Messinstrument, umfassend das Verbinden einer ersten Signalspur von einem ersten Anschluss mit einem Test- und Messinstrument durch einen Multiplexer innerhalb einer Testvorrichtung; Übertragen eines ersten Signals zwischen der ersten Signalspur und dem Test- und Messinstrument durch den Multiplexer; Umschalten der Verbindung von der ersten Signalspur auf eine zweite Signalspur von einem zweiten Anschluss zu dem Test- und Messinstrument über den Multiplexer; und Übertragen eines zweiten Signals zwischen der zweiten Signalspur und dem Test- und Messinstrument über den Multiplexer.
-
Beispiel 13 ist das Verfahren von Beispiel 12, das ferner das Speichern von Kalibrierungsparametern des Test- und Messkabels umfasst.
-
Beispiel 14 ist das Verfahren aus Beispiel 13, das ferner das Entfernen eines Effekts der Testvorrichtung aus dem ersten Signal und dem zweiten Signal auf der Grundlage der Kalibrierungsparameter umfasst.
-
Beispiel 15 ist das Verfahren nach einem der Beispiele 12 bis 14, wobei das Verbinden der ersten Signalspur vom ersten Anschluss mit einem Test- und Messinstrument über einen Multiplexer das Verbinden mehrerer Signalspuren von einer ersten zu testenden Vorrichtung innerhalb einer Testvorrichtung mit mehreren Signalspuren einer zu testenden Vorrichtung über den Multiplexer umfasst.
-
Beispiel 16 ist das Verfahren von Beispiel 15, wobei der dritte Anschluss ein High-Density-Verbindungsanschluss ist.
-
Beispiel 17 ist das Verfahren nach einem der Beispiele 12-16, das ferner den Empfang eines Signals von einem Prozessor in der Testvorrichtung umfasst, um den Multiplexer anzuweisen, zwischen dem ersten Anschluss und dem zweiten Anschluss zu wechseln.
-
Beispiel 18 ist das Verfahren nach einem der Beispiele 12-17, das ferner den Empfang eines Steuersignals zum Betrieb des Multiplexers von dem Test- und Messinstrument umfasst.
-
Beispiel 19 ist das Verfahren aus Beispiel 18, das ferner das Empfangen des Steuersignals von einem Transceiver in der Testvorrichtung umfasst.
-
Beispiel 20 ist das Verfahren nach einem der Beispiele 12-19, wobei die erste Signalspur und die zweite Signalspur in einer einzigen zu testenden Vorrichtung liegen.
-
Beispiel 21 ist das Verfahren nach einem der Beispiele 12-19, wobei sich die erste Signalspur und die zweite Signalspur in verschiedenen zu testenden Vorrichtungen befinden.
-
Beispiel 22 ist das Verfahren aus einem der Beispiele 12-21, wobei die Testvorrichtung ein Hochfrequenz-(RF)-Kabel ist.
-
Die zuvor beschriebenen Versionen des offengelegten Gegenstands haben viele Vorteile, die entweder beschrieben wurden oder für eine Person mit normalen Kenntnissen offensichtlich wären. Dennoch sind diese Vorteile oder Merkmale nicht in allen Versionen der offengelegten Geräte, Systeme oder Verfahren erforderlich.
-
Außerdem wird in dieser schriftlichen Beschreibung auf bestimmte Merkmale verwiesen. Es ist davon auszugehen, dass alle in der Beschreibung offengelegten Merkmale, einschließlich der Ansprüche, der Zusammenfassung und der Zeichnungen, und alle Schritte in jedem offengelegten Verfahren oder Prozess in jeder Kombination kombiniert werden können, mit Ausnahme von Kombinationen, bei denen sich zumindest einige dieser Merkmale und/oder Schritte gegenseitig ausschließen. Jedes in der Beschreibung, einschließlich der Ansprüche, der Zusammenfassung und der Zeichnungen, offenbarte Merkmal kann durch alternative Merkmale ersetzt werden, die dem gleichen, gleichwertigen oder ähnlichen Zweck dienen, sofern nicht ausdrücklich anders angegeben.
-
Wenn in dieser Anmeldung auf ein Verfahren mit zwei oder mehr definierten Schritten oder Vorgängen Bezug genommen wird, können die definierten Schritte oder Vorgänge in beliebiger Reihenfolge oder gleichzeitig ausgeführt werden, sofern der Kontext diese Möglichkeiten nicht ausschließt.
-
Obwohl spezifische Beispiele der Offenbarung zum Zwecke der Veranschaulichung dargestellt und beschrieben wurden, können verschiedene Änderungen vorgenommen werden, ohne dass der Geist und der Umfang der Offenbarung beeinträchtigt werden. Dementsprechend sollte die Offenbarung nicht eingeschränkt werden, außer durch die beigefügten Ansprüche.
-
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
-
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
-
Zitierte Patentliteratur
-
- US 63060010 [0001]
- US 778249 [0022]
- US 778262 [0022]
