JP2022027745A - ケーブル、試験測定システム及び１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法 - Google Patents

ケーブル、試験測定システム及び１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ＤＵＴの信号レーンと試験測定装置の間に信頼性の高い選択可能な接続を提供する。【解決手段】複数の接続１１０は、ＤＵＴ１０２の信号レーン１０９をマルチプレクサ・ケーブル１０６に接続する。マルチプレクサ・ケーブル１０６は、１つ以上の信号レーン１０９を接続１１６を介して試験測定装置１０４に選択的に接続する。ケーブル１０６は、ケーブル１０６のディエンベッド・パラメータや校正パラメータを求めて信号結果からケーブルの影響を除去するために製造中に又は工場で試験されても良い。校正パラメータは、メモリ１１８に記憶され、試験測定装置１０４に送られる。【選択図】図１

Description

本開示技術は、試験測定システムに関連するシステム及び方法に関し、特に被試験デバイス（ＤＵＴ）からの複数の信号を測定するための試験測定システムに関する。
多くのＤＵＴには、同様に設計された多数の信号経路が含まれている。例えば、PCIe 又は PCI-e （Peripheral Component Interconnect Express）プラグイン・カードや PCIe マザーボード・スロットには、通常、最大１６個の電気信号「レーン」が含まれる。電気信号レーンは、通常、差動信号レーンであり、２つの電気ポートが１つの差動信号を構成することを意味する。しかし、オシロスコープやビット・エラー・レート・テスタ（bit error rate tester：BERT）などのＤＵＴをテストするために通常使用される試験測定装置には、通常、１、２又は４つの入力ポートがある。オシロスコープの中には、８つの入力チャンネル又はポートが含まれているものもある。しかし、高性能な計測器は、ハードウェア・コストの増大のため、通常、入力チャンネルが少なくなっている。物理的なチャンネル密度の制限によっても、熱的なスルー・プットの理由により、チャンネル数を低く抑えられることになる。このため、試験測定装置の構成は、試験対象の電気信号レーンのサブセットに接続されるのが一般的である。
米国特許出願公開第２０２０／０２５０３６８号明細書 米国特許出願公開第２０２０／０２４９２７５号明細書 国際公開第２０２０／１６０４７７号
テクトロニクスの「オシロスコープ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０２１年８月２日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/oscilloscope> テクトロニクスのビット・エラー・レート・テスタ「ＢＥＲＴＳｃｏｐｅ ＢＳＡシリーズ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０２１年８月２日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/bit-error-rate-tester/bertscope>
信号レーンの夫々又は全てを試験するには、ユーザは、試験計測装置とＤＵＴの間の接続（例えば、試験ケーブル又はプローブなど）を、各レーンからレーンへと手作業で移動する必要がある。ケーブル又はプローブを手動で移動すると、エラーが発生しやすく、時間と労力を要するプロセスが発生する。これに代えて、２チャンネルの試験測定環境などにおいて、無線周波数（RF）スイッチを構築すれば、ＤＵＴの全ての信号レーンを試験するための自動化を維持することができる。しかし、適切なスイッチを特定し、信号経路のスイッチの影響を正しくディエンベッドするのは、高い周波数では困難である。このため、多くのユーザは、特に２５ＧＨｚ以上において、重大なエラーなしにスイッチをディエンベッドできることについては、懐疑的である。
本開示技術の例は、これら及び他の先行技術の欠陥に対処するものである。
この発明は、１つ以上の被試験デバイスと試験測定装置を接続するための校正された試験測定ケーブルに関する。これは、第１信号レーンに電気的に接続するように構成された第１ポートと、第２信号レーンに電気的に接続するように構成された第２ポートと、試験測定装置に電気的に接続するように構成された第３ポートと、第１ポートを第３ポートに電気的に接続するのと、第２ポートを第３ポートに接続するのとの間で切り替える（スイッチする）ように構成されたマルチプレクサとを有する。第１及び第２信号レーンは、同じ被試験デバイス又は異なる被試験デバイス上にあっても良い。入力部は、マルチプレクサを操作するための命令を受けることができる。
本開示技術の実施例の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照した以下の実施例の説明から明らかとなろう。
図１は、開示技術の例による試験測定システムにおけるマルチプレクサ・ケーブル又は試験フィクスチャのブロック図である。 図２は、開示技術の他の例による試験測定システムにおける別のマルチプレクサ・ケーブル又は試験フィクスチャのブロック図である。 図３は、開示技術の例によるマルチプレクサ・ケーブルの説明図である。 図４は、開示技術の例による多重化ケーブル又は試験フィクスチャの例のブロック図である。 図５は、開示技術の他の例による試験測定システムにおける多重化ケーブル又は試験フィクスチャの例のブロック図である。
図１は、開示技術のいくつかの例による試験測定システム１００のブロック図の例を示す。試験測定システム１００には、被試験デバイス（ＤＵＴ）１０２があり、データ・セレクタとも呼ばれるマルチプレクサ１０８を有するケーブル又は試験フィクスチャ１０６を介して試験測定装置１０４に接続される。
ＤＵＴ１０２は、複数の信号レーン１０９があっても良い。ケーブル又は試験フィクスチャ１０６は、ＤＵＴ１０２の複数の信号レーン１０９に取り付けることができる。いくつかの例では、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６は、異なるＤＵＴ１０２の異なる信号レーンに接続できる。ケーブル又は試験フィクスチャ１０６には、複数の信号レーン１０９の夫々に接続された多数のＤＵＴ接続線１１０がある。マルチプレクサ１０８への４つのＤＵＴ接続線１１０が図示されているが、限定するものではないが、８、１６又は３２個の接続線のような、任意の数の接続線があっても良い。例えば、接続線１１０は、高密度接続線であっても良い。高密度接続線には、８以上の
接続線が含まれる。
当業者であればわかるように、ＤＵＴ１０２は、１つ以上の信号レーンを有するスタンドアロンの被試験デバイスに言及しているか、又は複数の信号レーンを有するＤＵＴ１０２の特定の１つの信号レーンに言及しているとしても良い。
ケーブル１０６のマルチプレクサ１０８は、次に、１つ以上の信号レーン１０９を、接続線１１６を通して試験測定装置１０４に接続しても良い。図１は、試験測定装置１０４への単一の接続線１１６を示しているが、入力信号と同じ数など、任意の数の接続線１１６があっても良い。ＤＵＴ１０２及び試験測定装置１０４に応じて、信号はＤＵＴ１０２と試験測定装置１０４のそれぞれと往路及び復路の両方を行き来して良い。
一部の例では、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６は、メモリ１１８やプロセッサ１２０を含んでいても良い。ケーブル又は試験フィクスチャ１０６は、信号結果からケーブル又は試験フィクスチャ１０６の影響を取り除くための、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６に関するディエンベッド・パラメータや校正パラメータの全てを求めるために、製造中か又は工場において試験されても良い。それぞれの説明について、校正パラメータという用語は、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６のディエンベッド・パラメータなど、試験測定装置１０４によって行われる信号測定からケーブルの影響を除去するために使用される校正パラメータに言及するために使用される。校正パラメータは、メモリ１１８に記憶され、試験測定装置１０４に送られる。いくつかの例では、校正パラメータは、試験測定装置１０４から遠隔にある分析装置に送られても良い。分析装置は、試験測定装置１０４から校正パラメータに加えてデータを収集し、当業者であればわかるように、データに必要なあらゆる処理を提供する。他の例では、特定のケーブル又は試験フィクスチャ１０６の校正パラメータが、試験測定装置１０４に位置するメモリ１２２に記憶されるか、又は、クラウド・ストレージのような遠隔のストレージから取り出されても良い。校正パラメータは、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６のシリアル番号又はその他の識別番号に基づいて識別されても良い。
上述したように、いくつかの例では、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６に、プロセッサ１２０があっても良い。プロセッサ１２０は、ＤＵＴ１０２の各種信号レーン１０９を試験測定装置１０４に接続するようにマルチプレクサ１０８を操作できる。他の例では、試験測定装置１０４のプロセッサ１２４は、ＤＵＴ１０２の各種信号レーン１０９を試験測定装置１０４に接続する制御信号をマルチプレクサ１０８に送信できる。試験測定装置１０４は、また、ケーブル及び試験フィクスチャ１０６に電力信号を送ることができる。これら電力及び制御信号は、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６と試験測定装置１０４との間の別の接続線（図示せず）を介して送信されても良いし、又は、試験測定装置１０４が、１つ以上の接続線１１６を使った接続を介して、これら信号を送信できても良い。
試験測定装置１０４のプロセッサ１２４は、ケーブル又は試験フィクスチャ１０６に固有の校正パラメータを使用してケーブル又は試験フィクスチャ１０６の影響をディエンベッドすることもできる。
図２は、本開示技術の例による別の試験測定システム２００を示す。この例では、試験測定システム２００の多くの特徴は、図１に関して上で説明したものと類似している。そこで、これらの特徴には同じ参照番号を用い、図２に関して、ここでは、これ以上説明しない。
いくつかの例では、マルチプレクサ・ケーブル又は試験フィクスチャ２０２は、トランシーバ２０４やバッテリ２０６を有していても良い。トランシーバ２０４とバッテリ２０６の両方は必要ない。いくつかの例では、バッテリ２０６のみがケーブル又は試験フィクスチャ２０２に設けられている。バッテリ２０６は、マルチプレクサ２０８、メモリ１１８及びプロセッサ１２０に電力を供給できる。
バッテリ２０６は、いくつかの例では充電可能であり、ＤＵＴ１０６又は試験測定装置１０４のいずれかから接続（図示せず）を介して電力を受ける又は吸い上げることができる。トランシーバ２０４は、無線トランシーバであっても良く、いくつかの例では、接続１１６を介して無線で試験測定装置１０４に信号を送信しても良い。プロセッサ１２０は、マルチプレクサ１０８を操作するための命令をトランシーバ２０４を介して受けても良い。
図３は、開示技術の例によるケーブル又は試験フィクスチャ３００の例を示す。ケーブル３００は、ＤＵＴ１０２などのＤＵＴに接続できる多数のコネクタ３０２がある。図３では、１６個のコネクタ３０２が示されている。ケーブル又は試験フィクスチャ３００の例は、１６個のコネクタ３０２に限定されず、任意の数のコネクタ３０２を使用しても良い。ケーブル３００は、ハウジング３０４があり、これは、図１のケーブル又は試験フィクスチャ１０６に示されたか、又は、図２のケーブル又は試験フィクスチャ２０２に示されたマルチプレクサ１０８及び他の任意の部品を収容することができる。図３に示す例では、例えば試験測定装置１０４に接続できるケーブル３００に単一の接続線又は出力３０６が示されている。しかし、上述したように複数の接続線３０６が提供されても良い。例えば、複数の電気的接続線が物理的な１つの線として束ねられても良い。
図４は、開示技術の例による無線周波数（ＲＦ）ケーブル４００のブロック図を示す。説明の都合上、ケーブル４００は、４つのポート４０２を有すると図示され、これらは４入力マルチプレクサ４０４に接続される。ＲＦ伝送線路４０６上の信号は、ポート４０８に送信することができ、これは試験測定装置に接続できる。加えて又はこれに代えて、試験測定からの信号を、接続４０８を介して送信し、１つ以上のＤＵＴに接続されたポート４０２の１つへと出力できる。即ち、ポート４０２は、１つ以上のＤＵＴの特定の１つの信号レーンに接続しても良いし、又は、夫々が異なるＤＵＴに接続されても良い。
図４に示すように、電力信号４１０と制御信号４１２は、接続された試験測定装置から受けても良い。電力信号４１０と制御信号４１２は、ケーブル４００への別々の入力として示されているが、いくつかの例では、これら信号が、単一のコネクタを介して送信されても良いし、ＲＦ伝送線路４０６を介して送信されても良い。
これらポート夫々のＳパラメータ（scattering parameters）は、ＤＵＴ１０２の信号からケーブル４００をディエンベッドする際に試験測定装置１０４を支援するために記憶されても良い。例えば、ポート１がイネーブルされた場合、ケーブル４００の製造時に求められたスルー・パスのＳパラメータＳ11、Ｓ51、Ｓ15及びＳ55と、アイソレーション・パスのＳパラメータＳ52、Ｓ53及びＳ54は、図１と２に示すようにケーブルメモリ自体に直接保存することもできるし、又は、試験測定装置１０４内に記憶される。スルー・パス及びアイソレーション・パスのＳパラメータは、ポート４０２及びポート４０８のそれぞれに関して記憶される。いくつかの例では、ユーザがＳパラメータの変更を希望したり、システムにストレスを加えたいなど、ユーザが独自のＳパラメータをアップロードしたり、さもなければ移植（port）しても良い。
開示技術の例は、図４に示す例に限定されない。当業者であれば理解するように、より多くの接続を有するマルチプレクサ４０４が使用されても良いのに加えて、複数のマルチプレクサ４０４が使用されても良い。例えば、ケーブル４００は８つのポート４０２を持つこともでき、４つ夫々が１つのマルチプレクサ４０４へと向かう。次に、ケーブル４００に２つのポート４０８を設けても良いし、又は、第３のマルチプレクサを設けて、複数の４入力マルチプレクサ４０４の出力を受け、１つの出力信号を試験測定装置に出力するしても良い。即ち、単一のマルチプレクサユニット４０４内に複数のマルチプレクサからなるツリー（tree：木）を設けても良く、これは、複数の信号を１つ以上のＤＵＴと１つ以上の試験測定装置の間で、必要に応じて複数の信号を配信（ルーティング）できる。
図５は、１つ以上のマルチプレクサ５０２を含むケーブル５００を有する別の例システムを示す。図５には、１つのマルチプレクサ５０２が示されているが、マルチプレクサ５０２は、多数の異なるマルチプレクサ５０２から構成されても良い。このような例では、試験測定装置５０４は、例えば、マルチ・レーンのＤＵＴ５０６を迅速かつ容易に試験するのに使用できる高度統合型（highly-integrated）マージン・テスタ装置であっても良い。特許文献１及び２は、いずれも２０２０年１月３１日に出願され、その内容は、それぞれの全体が参照することによって本願に組み込まれるものであるが、そのような高度統合型マージン・テスタを記載する。先に参照した文書に説明されるように、マージン・テスタは、高密度接続によって、ＤＵＴ５０６の複数の信号レーンを同時にテストすることができる。また、マージン・テスタは、同時にではなく、ＤＵＴ５０６の複数の信号レーンを順次（シーケンシャルに）試験することもできる。
１つ以上のＤＵＴ５０６は、高密度接続５０８を介してマルチプレクサ・ケーブル５００に接続されても良い。即ち、各接続５０８は、限定するものではないが、８、１６又は３２個の接続のような高密度接続を表す。しかし、図示や説明を容易にするために、１つの高密度接続５０８は、単一の接続線として示されている。
マルチプレクサ５０２は、高密度接続５０８を介して１つ以上のＤＵＴ５０６に接続することができ、高密度接続５１０で１つ以上の試験測定装置５０４に出力できる。マルチプレクサ５０２は、接続５０８及び５１０を介してＤＵＴ５０６の中の１つを試験測定装置５０４に接続できる。いくつかの例では、複数の信号が、高密度接続５１０を介して試験測定装置５０４に接続されたＤＵＴ５０６との間の往復の両方向で高密度接続５０８を介して同時に送信される。即ち、ＤＵＴ５０６の中の１つの全ての信号レーンは、マルチプレクサ５０２による接続を介して、試験測定装置５０４によって順次（シーケンシャルに）又は同時に試験できる。
これにより、比較や製造の目的で、同じボックスで複数のＤＵＴ５０６をほぼ同時に試験することができる。更に、試験測定装置５０４は、先に言及され、参照によって組み込まれる上記特許出願で説明されるように、高密度接続５０８の各レーンを別々に試験することができる。このような状況では、多数の信号レーン（限定するものではいが、例えば、９６個の信号レーン）を有するＤＵＴ５０６は、ＤＵＴ５０６から４つの高密度を介して接続することができ、またマルチプレクサ５０２は、一度に１つの信号レーンを試験測定装置５０４に接続できる。
図５は、２つの試験測定装置５０４に接続された複数のＤＵＴ５０６を示しているが、開示技術の例は、この構成に限定されない。同数のＤＵＴ５０６及び試験測定装置５０４が用意されても良いし、又は、単一の試験測定装置５０４が複数のＤＵＴ５０６に接続されても良い。複数の試験測定装置５０４を１つのＤＵＴ５０６に接続させると、ＤＵＴ５０６についての複数のプロトコルを同時に又はほぼ同時に試験するのを容易にできる。
いくつかの例では、マルチプレクサ５０２は、同じ数の入力と出力を有しても良い。これによれば、ＤＵＴ５０６は、マルチプレクサ５０２により、高密度接続５０８及び５１０を介して試験測定装置５０４に接続することができる。これにより、compute express link（CXL）、カスタムのプロトコル、リンク・ステートの順列（link-state permutations）などの非標準プロトコルをＤＵＴ５０６で試験できる。マルチプレクサ５０２は、ＤＵＴ５０６の各種信号レーンと、試験測定装置５０４の信号レーンを接続及び切断できる。加えて又はこれに代えて、マルチプレクサ５０２が、信号形式の変更やスプライシング（splicing：組み替え）を可能にするアダプタを有していても良い。例えば、アダプタをマルチプレクサ５０２に接続して、ユーザがPCIe接続のために生のCOAX接続を使用できるようにすれば、より乱雑さの少ない接続を可能にできる。マルチプレクサ５０２は、既知でエンベッドされたアダプタのＳパラメータをメモリ内に記憶できる。即ち、アダプタは、マルチプレクサ５０２の接続形式を変更できる。
マルチプレクサ・ケーブル５００には、図１及び図２に関して上述した他の例と同様に、メモリ、プロセッサ又はバッテリなどの追加コンポーネントがあっても良いが、ここでは、更に説明はしない。加えて又はこれに代えて、接続された１つ以上の試験測定装置５０４からソース信号及び制御信号を受けても良い。試験測定装置５０４は、高密度接続５１０を介して、これら制御信号及びソース信号を送信しても良いし、別の接続を介して送信されても良い。
上述した例と同様に、ケーブル５００の校正パラメータを、製造時に求め、試験測定装置５０４が使用して、１つ以上のＤＵＴ５０６の任意の測定からケーブル５００の影響を除去しても良い。
開示技術の例によれば、１つ以上の試験測定装置が、１つ以上のＤＵＴに由来することのある１つ以上の信号レーンを試験することが可能となる。開示技術のマルチプレクサ・ケーブル又は試験フィクスチャは、１つ以上の試験測定装置に様々な信号レーンを切り替えることができる。マルチプレクサ・ケーブルは、製造時又は工場で求められた既知の校正パラメータを有し、これを試験測定装置が利用することで、ケーブルの影響を除去できる。これにより、ＤＵＴの各信号レーン又は出力を、試験測定装置に個別に接続する必要がなくなるので、手作業の時間を節約できる。
本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。
開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。
コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。
通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。

実施例
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
実施例１は、１つ以上の被試験デバイスを試験測定装置に接続するためのケーブルであって、第１信号レーンに電気的に接続するように構成された第１ポートと、第２信号レーンに電気的に接続するように構成された第２ポートと、試験測定装置に電気的に接続するように構成された第３ポートと、上記第１ポートを上記第３のポートに電気的に接続するか、上記第２ポートを上記第３ポートに接続するかの間で切り替えるよう構成されるマルチプレクサとを具える。
実施例２は、実施例１のケーブルであって、試験測定ケーブルの校正パラメータを記憶するように構成されたメモリを更に具える。
実施例３は、実施例１又は２のいずれかのケーブルであって、上記第１ポート又は上記第２ポートは、高密度接続ポートである。
実施例４は、実施例３のケーブルであって、上記第３ポートは、高密度接続ポートである。
実施例５は、実施例１～４のいずれかのケーブルであって、上記マルチプレクサを制御するように構成されたプロセッサを更に具える。
実施例６は、実施例１～５のいずれかケーブルであって、上記マルチプレクサを操作するための制御信号を受けるように構成された入力部を更に具える。
実施例７は、実施例１～６のいずれかケーブルであって、トランシーバを更に具える。
実施例８は、実施例１～７のいずれかのケーブルであって、上記第１信号レーンと上記第２信号レーンが、１つの被試験デバイス内にある。
実施例９は、実施例１～７のいずれかのケーブルであって、上記第１信号レーンと上記第２信号レーンが、異なる被試験デバイスにある。
実施例１０は、実施例１～９のいずれかのケーブルであって、ケーブルは、無線周波数ケーブルである。
実施例１１は、試験測定システムであって、第１信号レーンに電気的に接続するように構成された第１ポートと、第２信号レーンに電気的に接続するように構成された第２ポートと、試験測定装置に電気的に接続するように構成された第３ポートと、上記第１ポートを上記第３ポートに電気的に接続する処理と上記第２ポートを上記第３ポートに接続する処理との間で切り替えるよう構成されたマルチプレクサと、マルチプレクサを操作するための命令を受けるように構成された入力部と、校正されたケーブルの校正パラメータを記憶するように構成されたメモリとを具える。
実施例１２は、１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法であって、試験フィクスチャ内のマルチプレクサを介して第１ポートの第１信号レーンを試験測定装置に接続する処理と、上記第１信号レーンと上記試験測定装置の間で上記マルチプレクサを介して第１信号を送信する処理と、上記マルチプレクサを介して上記試験測定装置への接続を上記第１信号レーンから、第２ポートの第２信号レーンへと切り替える処理と、上記第２信号レーンと上記試験測定装置の間で第２信号をマルチプレクサを介して送信する処理とを具える。
実施例１３は、実施例１２の方法であって、試験測定ケーブルの校正パラメータを記憶する処理を更に具える。
実施例１４は、実施例１３の方法であって、上記校正パラメータに基づいて、上記第１信号及び上記第２信号から上記試験フィクスチャの影響を除去する処理を更に具える。
実施例１５は、実施例１２～１４のいずれかの方法であって、マルチプレクサを介して第１ポートの第１信号レーンを試験測定装置に接続する処理が、上記マルチプレクサを介して第１被試験デバイスの複数の信号レーンを試験測定装置の複数の信号レーンに接続する処理を有する。
実施例１６は、実施例１５の方法であって、第３ポートは高密度接続ポートである。
実施例１７は、実施例１２～１６のいずれかの方法であって、上記第１ポートと上記第２ポートとの間で切り替えるようマルチプレクサに指示する信号を上記試験フィクスチャ内のプロセッサから受ける処理を更に具える。
実施例１８は、実施例１２～１７のいずれかの方法であって、上記試験測定装置から上記マルチプレクサを操作する制御信号を受ける処理を更に具える。
実施例１９は、実施例１８の方法であって、試験フィクスチャ内のトランシーバから上記制御信号を受ける処理を更に具える。
実施例２０は、実施例１２～１９のいずれかの方法であって、上記第１信号レーン及び上記第２信号レーンが、単一の被試験デバイス内にある。
実施例２１は、実施例１２～１９のいずれかの方法であって、上記第１信号レーン及び上記第２信号レーンは、異なる被試験デバイスにある。
実施例２２は、実施例１２～２１のいずれかの方法であって、上記試験フィクスチャは、無線周波数ケーブルである。
開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。
加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。特許請求の範囲、要約及び図面を含め、本明細書に開示される全ての特徴と、開示される全ての方法又は処理における全ての工程は、互いに少なくとも一部分が排他的でない限り、任意に組み合わせても良い。特許請求の範囲、要約及び図面を含め、本明細書に開示される特徴の夫々は、特に明記されていない限り、同じ、等価又は類似の目的に寄与する代替の特徴で置き換えても良い。
また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。
説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。
１００ 試験測定システム
１０２ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
１０４ 試験測定装置
１０６ ケーブル又は試験フィクスチャ
１０８ マルチプレクサ
１０９ 信号レーン
１１０ ＤＵＴ接続
１１６ 接続
１１８ メモリ
１２０ プロセッサ
１２２ メモリ
１２４ プロセッサ
２００ 試験測定システム
２０２ マルチプレクサ・ケーブル又は試験フィクスチャ
２０４ トランシーバ
２０６ バッテリ
３００ ケーブル又は試験フィクスチャ
３０２ コネクタ
３０４ ハウジング
３０６ 接続又は出力
４００ 無線周波数（ＲＦ）ケーブル
４０２ ポート
４０４ ４入力マルチプレクサ
４０６ ＲＦ伝送ライン
４０８ ポート
４１０ 電力信号線
４１２ 制御信号線
５００ マルチプレクサ・ケーブル
５０２ マルチプレクサ
５０４ 試験測定装置
５０６ ＤＵＴ
５０８ 接続
５１０ 接続

Claims (10)

  1. １つ以上の被試験デバイスを試験測定装置に接続するためのケーブルであって、
    第１信号レーンに電気的に接続するように構成された第１ポートと、
    第２信号レーンに電気的に接続するように構成された第２ポートと、
    試験測定装置に電気的に接続するように構成された第３ポートと、
    上記第１ポートを上記第３のポートに電気的に接続するか、上記第２ポートを上記第３ポートに接続するかの間で切り替えるよう構成されるマルチプレクサと
    を具えるケーブル。
  2. 試験測定ケーブルの校正パラメータを記憶するように構成されたメモリを更に具える請求項１のケーブル。
  3. 上記マルチプレクサを制御するように構成されたプロセッサを更に具える請求項１又は２のケーブル。
  4. 上記マルチプレクサを操作するための制御信号を受けるように構成された入力部を更に具える請求項１から３のいずれかのケーブル。
  5. 上記第１信号レーンと上記第２信号レーンが、異なる被試験デバイスにある請求項１から４のいずれかのケーブル。
  6. 第１信号レーンに電気的に接続するように構成された第１ポートと、
    第２信号レーンに電気的に接続するように構成された第２ポートと、
    試験測定装置に電気的に接続するように構成された第３ポートと、
    上記第１ポートを上記第３ポートに電気的に接続する処理と上記第２ポートを上記第３ポートに接続させる処理との間で切り替えるよう構成されたマルチプレクサと、
    該マルチプレクサを操作するための命令を受けるように構成された入力部と、
    校正されたケーブルの校正パラメータを記憶するように構成されたメモリと
    を具える試験測定システム。
  7. 試験フィクスチャ内のマルチプレクサを介して第１ポートの第１信号レーンを試験測定装置に接続する処理と、
    上記第１信号レーンと上記試験測定装置の間で上記マルチプレクサを介して第１信号を送信する処理と、
    上記マルチプレクサを介して上記試験測定装置への接続を上記第１信号レーンから、第２ポートの第２信号レーンへと切り替える処理と、
    上記第２信号レーンと上記試験測定装置の間で第２信号をマルチプレクサを介して送信する処理と
    を具える１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法。
  8. 上記校正パラメータに基づいて、上記第１信号及び上記第２信号から上記試験フィクスチャの影響を除去する処理を更に具える請求項７の１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法。
  9. 上記マルチプレクサを介して上記第１ポートの上記第１信号レーンを上記試験測定装置に接続する処理が、上記マルチプレクサを介して第１被試験デバイスの複数の信号レーンを試験測定装置の複数の信号レーンに接続する処理を有する請求項７又は８の１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法。
  10. 上記試験測定装置から上記マルチプレクサを操作する制御信号を受ける処理を更に具える請求項７から９のいずれかの１つ以上の信号レーンを試験測定装置に接続する方法。
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