JP4177804B2 - 試験を受ける3ポートデバイスの校正パラメータの取得 - Google Patents
試験を受ける3ポートデバイスの校正パラメータの取得 Download PDFInfo
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Description
式1
S11mx=終端xを用いて測定されたS11
S21mx=終端xを用いて測定されたS21
S12mx=終端xを用いて測定されたS12
S22mx=終端xを用いて測定されたS22
式3
Gt=Γt/(1−S11Γt)
Gs=Γs/(1−S11Γs)
Go=Γo/(1−S11Γo)
式4
S11mt−S11ms=S21S12(Gt−Gs)
S11ms−S11mo=S21S12(Gs−Go)
S21vt−S21vs=S12S31(Gt−Gs)
S21vs−S21vo=S12S31(Gs−Go)
S22mt−S22ms=S31S13(Gt−Gs)
S22ms−S22mo=S31S13(Gs−Go)
式5
(Sijmt−Sijms)/(Sijms−Sijmo)=(Gt−Gs)/(Gs−Go)
i、j=1、2
式8
(S11ms−S11mo)/(S21vs−S21vo)=S21/S31
=(S21vs−S21vo)/(S22ms−S22mo)
式11
結合器:
指向性(dB)=20log10(S31/S32)
結合係数(dB)input port=20log10(S32)
結合係数(dB)output port=20log10(S32/S21)
スルー路損失(挿入損失)=20log10(S21)
入力リターン損失=20log10(S22)
出力リターン損失=20log10(S11)
結合ポートリターン損失=20log10(S33)
パワースプリッタ:
入力リターン損失=20log10(S11)
挿入損失(dB)=20log10(S21)又は20log10(S31)
出力トラッキング(dB)=20log10(S31/S21)
等価信号源整合ポート2(dB)=20log10(S22−(S21S32/S31))
等価信号源整合ポート3(dB)=20log10(S33−(S31S23/S21))
12、13、16-18、20、21、31-33、112、113、116-118、120、121 ポート
14、114 通信ポート
15、30、115 被測定デバイス(DUT)
19、119 校正モジュール
22、122 USBポート
30 方向性結合器
43 コントローラ
44 メモリ
45 ポート回路
Claims (6)
- 被測定デバイスを試験するデバイステスターであって、
第1のポートと、
第2のポートと、
通信ポートとを含み、
前記デバイステスターが前記通信ポートを介して校正モジュールと通信し、前記被測定デバイスの第1のポートから前記校正モジュールのポートを物理的に切り離すことなく前記校正モジュールのポートにおける終端値を変更するように、前記校正モジュールに命令し、その命令は、前記被測定デバイスの第2のポートが前記デバイステスターの前記第1のポートに接続され、且つ前記被測定デバイスの第3のポートが前記デバイステスターの第2のポートに接続されて、前記デバイステスターが前記被測定デバイスの校正パラメータを取得する前記被測定デバイスの試験中に、与えられる、デバイステスター。 - 前記被測定デバイスがパワースプリッタである、請求項1に記載のデバイステスター。
- 前記被測定デバイスがパワースプリッタであり、
前記被測定デバイスの第1のポートが、前記パワースプリッタの入力ポートであり、及び
前記被測定デバイスの第2のポート及び第3のポートが、前記パワースプリッタの出力ポートである、請求項1に記載のデバイステスター。 - 前記被測定デバイスが、方向性結合器である、請求項1に記載のデバイステスター。
- 前記被測定デバイスが方向性結合器であり、
前記被測定デバイスの第1のポートが、前記方向性結合器の出力ポートであり、及び
前記被測定デバイスの第2のポート及び第3のポートが、前記方向性結合器の被結合ポートである、請求項1に記載のデバイステスター。 - 前記校正パラメータが以下の3ポートSパラメータであり、即ち、
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの反射信号を表わすS11と、
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの伝送信号を表わすS21と
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの伝送信号を表わすS31と
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの伝送信号を表わすS12と
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの反射信号を表わすS22と、
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの伝送信号を表わすS32と、
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの伝送信号を表わすS13と、
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの伝送信号を表わすS23と、及び
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの反射信号を表わすS33とであり、
S21=S12、S13=S31、及びS23=S32である、請求項1に記載のデバイステスター。
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