JP2005148067A - 試験を受ける3ポートデバイスの校正パラメータの取得 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定デバイス(15,30,115)の試験のために校正を実行する。被測定デバイスの第1のポート(18,33,118)を校正モジュール(19,119)のポート(20,120)に接続する。被測定デバイスの第2のポート(16,31,116)をデバイステスター(11,111)の第1のポート(12,112)に接続する。被測定デバイスの第3のポート(17,32,117)をデバイステスターの第2のポート(13,113)に接続する。デバイステスターは、デバイステスターによる測定を実行して校正パラメータを取得する。デバイステスターからのコマンドに応答して、校正モジュール(19,119)が校正モジュールのポート(20,120)における終端値を変化させる。終端値の変更は、被測定デバイスの第1のポートから校正モジュールのポートを物理的に切り離すことなしに実行される。
【選択図】図1
Description
式1
S11mx=終端xを用いて測定されたS11
S21mx=終端xを用いて測定されたS21
S12mx=終端xを用いて測定されたS12
S22mx=終端xを用いて測定されたS22
式3
Gt=Γt/(1−S11Γt)
Gs=Γs/(1−S11Γs)
Go=Γo/(1−S11Γo)
式4
S11mt−S11ms=S21S12(Gt−Gs)
S11ms−S11mo=S21S12(Gs−Go)
S21vt−S21vs=S12S31(Gt−Gs)
S21vs−S21vo=S12S31(Gs−Go)
S22mt−S22ms=S31S13(Gt−Gs)
S22ms−S22mo=S31S13(Gs−Go)
式5
(Sijmt−Sijms)/(Sijms−Sijmo)=(Gt−Gs)/(Gs−Go)
i、j=1、2
式8
(S11ms−S11mo)/(S21vs−S21vo)=S21/S31
=(S21vs−S21vo)/(S22ms−S22mo)
式11
結合器:
指向性(dB)=20log10(S31/S32)
結合係数(dB)input port=20log10(S32)
結合係数(dB)output port=20log10(S32/S21)
スルー路損失(挿入損失)=20log10(S21)
入力リターン損失=20log10(S22)
出力リターン損失=20log10(S11)
結合ポートリターン損失=20log10(S33)
パワースプリッタ:
入力リターン損失=20log10(S11)
挿入損失(dB)=20log10(S21)又は20log10(S31)
出力トラッキング(dB)=20log10(S31/S21)
等価信号源整合ポート2(dB)=20log10(S22−(S21S32/S31))
等価信号源整合ポート3(dB)=20log10(S33−(S31S23/S21))
12、13、16-18、20、21、31-33、112、113、116-118、120、121 ポート
14、114 通信ポート
15、30、115 被測定デバイス(DUT)
19、119 校正モジュール
22、122 USBポート
30 方向性結合器
43 コントローラ
44 メモリ
45 ポート回路
Claims (6)
- 被測定デバイスの試験用の校正を実行するための方法であって、
被測定デバイスの第1のポートを校正モジュールのポートへ接続するステップと、
前記被測定デバイスの第2のポートをデバイステスターの第1のポートへ接続するステップと、
前記被測定デバイスの第3のポートを前記デバイステスターの第2のポートへ接続するステップと、及び
前記デバイステスターにより測定を実行して校正パラメータを取得するステップであって、前記デバイステスターからのコマンドに応答して前記校正モジュールにより前記校正モジュールのポートにおける終端値を変更し、前記終端値の変更が被測定デバイスの第1のポートから前記校正モジュールのポートを物理的に切り離すことなく実行されることを含む、ステップとを含む、方法。 - 前記デバイステスターの第1のポートの1ポート校正を実行するステップと、及び
前記デバイステスターの第2のポートの1ポート校正を実行するステップとをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記被測定デバイスがパワースプリッタであり、
前記被測定デバイスの第1のポートが、前記パワースプリッタの入力ポートであり、及び
前記被測定デバイスの第2のポート及び第3のポートが、前記パワースプリッタの出力ポートである、請求項1に記載の方法。 - 前記被測定デバイスが、
パワースプリッタと、
方向性結合器とのうちの一方である、請求項1に記載の方法。 - 前記被測定デバイスが方向性結合器であり、
前記被測定デバイスの第1のポートが、前記方向性結合器の出力ポートであり、及び
前記被測定デバイスの第2のポート及び第3のポートが、前記方向性結合器の被結合ポートである、請求項1に記載の方法。 - 前記校正パラメータが以下の3ポートSパラメータであり、即ち、
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの反射信号を表わすS11と、
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの伝送信号を表わすS21と
前記被測定デバイスの第1のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの伝送信号を表わすS31と
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの伝送信号を表わすS12と
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの反射信号を表わすS22と、
前記被測定デバイスの第2のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの伝送信号を表わすS32と、
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第1のポートへの伝送信号を表わすS13と、
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第2のポートへの伝送信号を表わすS23と、及び
前記被測定デバイスの第3のポートから前記被測定デバイスの第3のポートへの反射信号を表わすS33とであり、
S21=S12、S13=S31、及びS23=S32である、請求項1に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/712,645 US7013229B2 (en) | 2003-11-13 | 2003-11-13 | Obtaining calibration parameters for a three-port device under test |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005148067A true JP2005148067A (ja) | 2005-06-09 |
JP4177804B2 JP4177804B2 (ja) | 2008-11-05 |
Family
ID=34573588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004328624A Expired - Fee Related JP4177804B2 (ja) | 2003-11-13 | 2004-11-12 | 試験を受ける3ポートデバイスの校正パラメータの取得 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7013229B2 (ja) |
JP (1) | JP4177804B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011525986A (ja) * | 2008-06-26 | 2011-09-29 | デューン・メディカル・デバイシズ・リミテッド | Rf校正装置および方法 |
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US7777497B2 (en) * | 2008-01-17 | 2010-08-17 | Com Dev International Ltd. | Method and system for tracking scattering parameter test system calibration |
US8912809B2 (en) * | 2012-06-12 | 2014-12-16 | Apple Inc. | Methods and apparatus for performing wafer-level testing on antenna tuning elements |
DE102013226065B4 (de) | 2013-12-16 | 2020-06-18 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Verfahren zum gesteuerten Verbinden eines Kalibrierstandards in einem Kalibriermodul und ein zugehöriges Kalibriermodul |
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-
2003
- 2003-11-13 US US10/712,645 patent/US7013229B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-11-12 JP JP2004328624A patent/JP4177804B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7013229B2 (en) | 2006-03-14 |
US20050107972A1 (en) | 2005-05-19 |
JP4177804B2 (ja) | 2008-11-05 |
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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