DE112022002912T5

DE112022002912T5 - Remote-köpfe mit mehreren eingängen für sequenzielles testen

Info

Publication number: DE112022002912T5
Application number: DE112022002912.9T
Authority: DE
Inventors: Shane A. HAZZARD; Ajaiey Kumar Sharma; Timothy E. Bieber; John Marrinan; Andrew McCann; Pieter Christiaan Seidel; Josiah A. BARTLETT
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 2021-06-03
Filing date: 2022-06-03
Publication date: 2024-03-14
Also published as: US20220390513A1; CN117413191A; WO2022256713A1

Abstract

Ein Eingangs-Selektor zum elektrischen Verbinden eines einer Vielzahl von Testsignalen von einer zu testenden Vorrichtung mit einem Test- und Messinstrument umfasst einen Multiplexer mit mehreren Eingängen, wobei jeder der mehreren Eingänge mit einem anderen der Vielzahl von Testsignalen von der zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist und einen Ausgang eines ausgewählten der mehreren Eingänge hat, und einen Verstärker, der mit dem Ausgang des Multiplexers gekoppelt ist, um das ausgewählte Testsignal der zu testenden Vorrichtung zu verstärken, bevor es als ein Ausgang des Eingangs-Selektors an das Test- und Messinstrument gesendet wird. In alternativen Architekturen sind zwei oder mehr Verstärker mit der Vielzahl von Testsignalen gekoppelt, und der Multiplexer wählt einen Ausgang eines der beiden Verstärker aus, um ihn an ein Messinstrument zum Testen weiterzuleiten.

Description

TECHNISCHER BEREICH
Diese Offenlegung bezieht sich auf Systeme und Verfahren im Zusammenhang mit Test- und Messsystemen und insbesondere auf Test- und Messsysteme zur Messung mehrerer Signale von einer zu testenden Vorrichtung (DUT).
HINTERGRUND
Viele DUTs enthalten eine Vielzahl ähnlich gestalteter Signalpfade. Eine Peripheral Component Interconnect (PCI)-Express (PCIe oder PCI-e)-Steckkarte und/oder ein PCIe-Motherboard-Steckplatz enthalten zum Beispiel üblicherweise bis zu sechzehn elektrische Signal-„Lanes“. Bei den elektrischen Signal-Lanes handelt es sich in der Regel um Differenzsignal-Lanes, was bedeutet, dass eine Differenz-Lane zwei elektrische Messanschlüsse erfordert, um das Differenzsignal der Lane vollständig zu messen. Um eine PCIe-Vorrichtung mit sechzehn Lanes vollständig zu messen, wären also 32 elektrische Messanschlüsse erforderlich. Test- und Messinstrumente, die typischerweise zum Testen solcher DUTs verwendet werden, wie Oszilloskope oder Bitfehlerraten-Tester (BERTs), haben jedoch in der Regel einen, zwei oder vier Eingangsanschlüsse. Einige Oszilloskope verfügen zwar über acht Eingangskanäle oder -anschlüsse, doch Hochleistungsinstrumente haben aufgrund der höheren Hardwarekosten für jeden Kanal in der Regel weniger Eingangskanäle. Auch die physikalische Kanaldichte mag aus thermischen Gründen und aus Gründen des Durchsatzes die Anzahl der Kanäle gering halten. Aus diesem Grund ist es typisch, dass eine Test- und Messinstrumentenkonfiguration nur an eine Teilmenge der zu testenden elektrischen Signal-Lanes angeschlossen wird.
Da nur eine Teilmenge der Lanes mit dem Messinstrument gekoppelt ist, muss der Benutzer, wenn er alle Signal-Lanes testen möchte, eine Verbindung zwischen dem Test- und Messinstrument und dem DUT, z. B. ein Testkabel oder eine Sonde, manuell von einer Lane zur anderen Lane bewegen. Das manuelle Verschieben des Kabels oder der Sonde ist ein fehleranfälliger und sehr zeit- und arbeitsintensiver Prozess. Alternativ kann, z. B. in einer zweikanaligen Test- und Messumgebung, ein Hochfrequenzschalter gebaut und gewartet werden, der einen automatischen Test aller Signal-Lane des DUTs ermöglicht. Bei höheren Frequenzen ist es jedoch schwierig, einen geeigneten Schalter zu finden und die Auswirkungen des Schalters korrekt aus dem Signalpfad zu entfernen, was manuell durchgeführt werden muss. Aus diesem Grund vertrauen viele Anwender nicht darauf, dass die Schalter ohne signifikante Fehler aus dem Signalpfad entfernt werden können, insbesondere über 25 GHz. Außerdem ist eine HF-Schaltmatrix physisch sehr groß, was die HF-Schaltmatrixlösung besonders unattraktiv für Benutzer macht, die nur eine begrenzte Fläche zum Testen haben.
Diese und andere Mängel des Standes der Technik werden durch Beispiele der Offenbarung behoben.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Aspekte, Merkmale und Vorteile von Beispielen der vorliegenden Offenbarung werden aus der folgenden Beschreibung von Beispielen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen ersichtlich, in denen:

1 ist ein Blockdiagramm eines Eingangs-Selektors in einem Test- und Messsystem mit einem aktiven Verstärker gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.
2 ist ein Blockdiagramm eines Eingangs-Selektors in einem Test- und Messsystem mit aktiven Verstärkern mit mehreren Betriebsarten gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.
3 ist ein Blockdiagramm eines Eingangs-Selektors mit einem aktiven Verstärker, der permanent mit einer Messvorrichtung gekoppelt ist, gemäß einigen Beispielen der Offenbarung.

BESCHREIBUNG
1 zeigt ein beispielhaftes Blockdiagramm eines Test- und Messsystems 100 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung. Das Test- und Messsystem 100 umfasst eine zu testende Vorrichtung (DUT) 110, bei dem es sich um eine Testplatine handeln kann, die über ein Kabel oder eine Testvorrichtung mit einem Test- und Messinstrument 160 verbunden ist, das einen wählbaren Eingang aufweist, der hier als Eingangs-Selektor 130 bezeichnet wird. Der Eingangs-Selektor 130 umfasst einen Multiplexer 132, der auch als Daten-Selektor bezeichnet werden kann, sowie einen Verstärker 134 zur Verstärkung eines ausgewählten Signals, bevor es an das Messinstrument 160 übertragen wird. Wenn der Verstärker 134 so nah wie möglich am ausgewählten Signal angebracht wird, erhöht sich das Signal-RauschVerhältnis des ausgewählten Signals im Testsystem 100 im Vergleich zu herkömmlichen Systemen, da das ausgewählte Signal so nah wie möglich an der Quelle verstärkt wird. Der Multiplexer 132 hat mehrere Eingänge, die jeweils mit einem der Ausgänge des DUTs 110 gekoppelt sind, und einen einzigen Ausgang, der dem Verstärker 134 zugeführt wird. Die Viele-zu-Einem- oder Viele-zu-Wenigen-Funktion des Multiplexers 132 ermöglicht es dem Benutzer, jedes der gewünschten Signale des DUTs 110 für den Test auszuwählen und gleichzeitig die Anzahl der zwischen dem Messinstrument 160 und dem DUT 110 angeschlossenen Kabel zu minimieren. In einigen Ausführungsformen sind die Ausgänge der HF-Anschlüsse 141-147 nicht direkt mit den Eingängen des Multiplexers 132 verbunden, sondern gehen in ein Dämpfungsglied oder einen Puffer, um das Signal zu modifizieren, bevor es dem Eingang des Multiplexers 132 zugeführt wird. Wie weiter unten beschrieben, kann der Benutzer den Multiplexer 132 manuell, z. B. über eine Benutzeroberfläche, oder programmatisch, z. B. mit Hilfe von Programmskripten, die im Testsystem 100 arbeiten, steuern. Weitere Vorteile des Testsystems 100, wie z. B. die Verschiebung einer Signalkalibrierungsebene 146 näher zum DUT 110, werden weiter unten beschrieben. Obwohl in 1 nur ein einziger Ausgang dargestellt ist, kann der Multiplexer 132 mehrere Ausgänge haben, insbesondere dann, wenn der Multiplexer mehrere Eingänge vom DUT 110 hat, z. B. acht, sechzehn, zweiunddreißig oder mehr Eingänge. Mehrere Ausgänge des Multiplexers 132 erhöhen den Durchsatz beim Testem des DUTs 110. In einigen Ausführungsformen kann der Multiplexer 132 zwischen einem und acht Ausgängen aufweisen. In der Regel wird jeder dieser Ausgänge über einen eigenen Verstärker 134 verstärkt, bevor er mit einem Testanschluss des Messinstruments 160 verbunden wird.
Das DUT 110 kann mehrere Signal-Lanes enthalten. In dem in 1 dargestellten System umfasst das Messobjekt 110 zwei Lanes, Lane 0 und Lane 1, die mit den Ausgangsverstärkern 112 bzw. 114 verbunden sind. In der dargestellten Ausführungsform enthält jede einzelne Lane zwei Signale, A und B, die Differenzsignale sind, d. h. das Ausgangssignal für jede Lane wird als Differenz zwischen den Signalen A und B der Lane übertragen. Wie in 1 dargestellt, sind alle vier Ausgänge des DUTs 110 einzeln mit dem Eingangs-Selektor 130 gekoppelt, und zwar ist jeder der Ausgänge des DUTs 110 mit einem separaten Eingang des Multiplexers 132 gekoppelt, so dass jeder der einzelnen Ausgänge durch Steuerung des Multiplexers 132 zum Testen ausgewählt werden kann. Insbesondere wird das Signal A der Lane 0 von einem HF-Anschluss 121 am DUT 110 über ein HF-Kabel 131 mit einem HF-Anschluss 141 am Eingangs-Selektor 130 gekoppelt. Das HF-Kabel 131 kann z. B. ein Koaxialkabel sein, um den Signalverlust zwischen dem DUT 110 und dem Eingangs-Selektor zu minimieren. Ebenso wird das Signal B von Lane 0 über ein HF-Kabel 133 zwischen den HF-Anschlüssen 123 und 143 an den Eingangs-Selektor 130 gekoppelt, das Signal A von Lane 1 über ein HF-Kabel 135 zwischen den HF-Anschlüssen 125 und 145 und das Signal B von Lane 1 über ein HF-Kabel 137 zwischen den HF-Anschlüssen 127 und 147.
Obwohl nur vier Verbindungen vom DUT 110 zum Eingangs-Selektor 130 und weiter zum Multiplexer 132 dargestellt sind, kann eine beliebige Anzahl von Verbindungen in ein Testsystem aufgenommen werden, wie z. B. acht, sechzehn oder zweiunddreißig Verbindungen, ohne darauf beschränkt zu sein. Die Verbindungen zwischen dem DUT 110 können Verbindungen mit hoher Dichte umfassen, d. h. acht oder mehr Verbindungen zwischen dem DUT 110 und dem Eingangs-Selektor 130. Wie bereits erwähnt, kann der Multiplexer 132 insbesondere bei Ausführungsformen mit einer höheren Anzahl von Verbindungen vom DUT 110 mehrere Ausgänge aufweisen und ist nicht auf einen einzigen Ausgang beschränkt.
Wie der Fachmann weiß, kann sich das DUT 110 auf eine eigenständige, zu testende Vorrichtung mit einer oder mehreren Signal-Lane oder auf eine bestimmte Ausgangskomponente eines DUTs 110 beziehen, das selbst mehrere Signal-Lanes hat. Eine moderne PCIe-Vorrichtung kann z. B. sechzehn Lanes umfassen, die jeweils ein Differenzsignalpaar A und B aufweisen. Ausführungsformen gemäß dieser Offenbarung bieten dem Benutzer die Möglichkeit, auf einfache Weise eines der Signale einer solchen Vorrichtung zum Testen auszuwählen und gleichzeitig das Rauschen zu eliminieren, das durch die Verwendung eines oder mehrerer kaskadierter HF-Schalter, wie in den derzeitigen Systemen, unweigerlich hinzugefügt wird.
Der Multiplexer 132 des Eingangs-Selektors 130 bietet dem Benutzer eine Auswahlfunktion. Mit anderen Worten: Der Benutzer steuert den Multiplexer 132 des Eingangs-Selektors 130, um einen der vier Eingänge des Multiplexers als gewünschten Ausgang des Eingangs-Selektors auszuwählen. Das ausgewählte Signal vom Multiplexer 132 wird durch den Verstärker 134 verstärkt, bevor es über eine HF-Verbindung, z. B. ein Kabel 152, an einen Testanschluss 162 des Messinstruments 160 gesendet wird. Obwohl in 1 der Verstärker 134 nur einen einzigen Ausgang aufweist, der an das Messinstrument 160 gesendet wird, kann der Verstärker 134 in anderen Ausführungsformen mehr als ein Signal zum Testen an das Messinstrument 160 senden. So kann der Verstärker 134 beispielsweise ein Differenzverstärker sein, der ein Differenzsignal über zwei getrennte Pfade an das Messinstrument 160 sendet. In anderen Ausführungsformen kann der Eingangs-Selektor 130 mehrere Verstärker 134 enthalten, die jeweils ein verstärktes Signal an das Messinstrument 160 senden. Beispielsweise kann der Eingangs-Selektor 130 so gesteuert werden, dass er gleichzeitig den A-Eingang der beiden Lanes 0 und 1 als separate Signale, die vom Multiplexer 132 durch separate Verstärker 134 geleitet werden, an das Messinstrument 160 sendet. Oder der Eingangs-Selektor 130 kann so gesteuert werden, dass er gleichzeitig sowohl den A- als auch den B-Eingang von Lane 1 aus dem Multiplexer 132 und den einzelnen Verstärkern 134 als getrennte Signale an das Messinstrument 160 sendet.
Je nach dem DUT 110 und dem Test- und Messinstrument 160 können Signale sowohl zu als auch von dem DUT 110 und dem Test- und Messinstrument 160 übertragen werden. Solche Signale können zur Charakterisierung jedes der Pfade vom DUT 110 zum Messinstrument 160 verwendet werden, wie unten beschrieben.
Der Eingangs-Selektor 130 kann über eine Stromleitung 154 vom Messinstrument 160 mit Strom versorgt werden, um den Multiplexer 132, den Verstärker 134 und möglicherweise andere Komponenten des Eingangs-Selektors zu betreiben. In anderen Ausführungsformen kann der Eingangs-Selektor 130 an eine vom Messinstrument 160 getrennte Stromversorgung angeschlossen sein, z. B. direkt an das Stromnetz. In wieder anderen Ausführungsformen kann der Eingangs-Selektor 130 dem DUT 110 Strom entziehen, ohne die Integrität der Signale des DUTs zu beeinträchtigen. Zum Beispiel überträgt ein Universal Serial Bus sowohl Strom als auch Daten über seine Leitungen, und der Eingangs-Selektor 130 kann eine kleine Menge Strom von den USB-Kabeln verwenden. In anderen Ausführungsformen mag der Strombedarf des Eingangs-Selektors 130 so gering sein, dass er durch eine wiederaufladbare oder austauschbare Batterie im Eingangs-Selektor 130 gedeckt werden kann. Dies mag bei bestimmten Ausführungsformen des Eingangs-Selektors 130 möglich sein, z. B. wenn der Eingangs-Selektor 130 als anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis (ASIC) oder als MEMS-Schalter (Micro-Electro-Mechanical System) ausgeführt ist. In anderen Ausführungsformen kann der Eingangs-Selektor 130 mehrere diskrete Komponenten umfassen, die auf einer gedruckten Leiterplatte (PC board) montiert sind.
Wie unten beschrieben, können Steuersignale zwischen dem Messinstrument 160 und dem Eingangs-Selektor 130 über eine Steuerleitung 156 übertragen werden. In einigen Ausführungsformen kann ein Benutzer oder Bediener das Messinstrument 160 bedienen, um eines der Signale des DUTs 110 für den Test auszuwählen. Daraufhin sendet das Messinstrument 160 ein Steuersignal über die Steuerleitung 156, um den Eingangs-Selektor 130 zu veranlassen, den Multiplexer 132 zu betätigen, um das gewünschte Signal auszuwählen, das dann durch den Verstärker 134 verstärkt und zum Testen an das Messinstrument 160 gesendet wird. Der Benutzer kann die Auswahl auf einer Benutzerschnittstelle des Messinstruments 160 treffen oder das Instrument mit Hilfe von programmatischen Steuerungen anweisen, z. B. mit der PI-Programmierschnittstelle, die für Messinstrumente von Tektronix, Inc. aus Beaverton, Oregon, erhältlich ist. Beispielsweise kann der Benutzer das Messinstrument 160 so programmieren, dass ein erstes Signal vom DUT 110, z. B. Lane 0, Signal A, zum Testen ausgewählt wird, und dann die gewünschten Parameter des ausgewählten Signals am Messinstrument 160 für eine bestimmte Zeit testen. Nach der ersten Testperiode veranlasst das Testprogramm den Multiplexer 132 des Eingangs-Selektors 130, ein zweites Signal vom DUT 110 zum Testen auszuwählen, z. B. Lane 0, Signal B. Auf diese Weise können alle Signale vom DUT 110 in einem Skript getestet werden, ohne dass der Benutzer physisch irgendwelche Kabel zwischen dem DUT 110 und dem Messinstrument 160 wechseln muss. Stattdessen wird die Umschaltung zum Anschluss des gewünschten Signals des DUTs 110 an das Messinstrument 160 durch die Steuerung des Multiplexers 132 des Eingangs-Selektors 130 vorgenommen.
In 1 kann die Verbindung mit dem Testanschluss 162, der Stromleitung 154 und der Steuerleitung 156 in einer Sondenschnittstelle zum Messinstrument 160 enthalten sein. In einigen Ausführungsformen können die Stromversorgungsleitung 154 und die Steuerleitung 156 auch in einer einzigen Verbindung enthalten sein, d. h. in einer, die sowohl Stromversorgungs- als auch Steuersignale über dieselbe Leitung sendet.
In einigen Beispielen kann der Eingangs-Selektor 130 einen Speicher 136 und/oder einen Controller oder Prozessor 138 enthalten. Der Eingangs-Selektor 130 kann während der Herstellung oder im Werk getestet werden, um die Auswirkungen der Einbeziehung des Eingangs-Selektors 130 in das Testsystem 100 im Vergleich zum direkten Anschluss eines bestimmten Ausgangs des DUTs 110 an den Testanschluss 162 des Messinstruments 160 zu messen. Das Kompensieren aller negativen Effekte der Einbeziehung des Eingangs-Selektors 130, seiner Komponenten, einschließlich des Multiplexers 132 und des Verstärkers 134, und der zugehörigen Kabel 131, 133, 135, 137 und 152 wird als De-Embedding oder Kalibrierung bezeichnet. Der Begriff „Kalibrierungsparameter“ bezieht sich in dieser Offenbarung auf alle Kalibrierungsparameter, einschließlich der De-Embed-Parameter des Eingangs-Selektors 130, die verwendet werden, um Effekte oder Auswirkungen des Vorhandenseins des Eingangs-Selektors 130 und der zugehörigen Kabel 131, 133, 135, 137 und 152 im Testsystem 100 aus den von dem Test- und Messinstrument 160 durchgeführten Signalmessungen zu entfernen. Die Kalibrierungsparameter können in einem speziellen Kalibrierungsparameterspeicher 140 oder im allgemeinen Speicher 136 gespeichert und während einer Testsitzung an das Test- und Messinstrument 160 gesendet werden. In einigen Beispielen können die Kalibrierungsparameter an eine Analysevorrichtung gesendet werden, die von dem Test- und Messinstrument 160 entfernt ist. Die Analysevorrichtung kann die Kalibrierungsparameter sowie die Daten vom Test- und Messinstrument 160 sammeln und die erforderlichen Datenverarbeitungsvorgänge durchführen, wie ein Fachmann weiß. In anderen Beispielen können die Kalibrierungsparameter für einen bestimmten Eingangs-Selektor 130 in einem Speicher 163 im Test- und Messinstrument 160 gespeichert oder von einem entfernten Speicher, wie z. B. einem Cloud-Speicher, abgerufen und an den Eingangs-Selektor 130 gesendet werden, um in seinem Kalibrierungsparameterspeicher 140 gespeichert zu werden. Die besonderen Kalibrierungsparameter, die zum De-Embedding der Wirkungen des Eingangs-Selektors 130 verwendet werden, können z. B. anhand einer Seriennummer oder einer anderen Identifikationsnummer des Eingangs-Selektors 130 identifiziert werden.
Streuparameter, auch als S-Parameter bezeichnet, für jeden der Anschlüsse des Multiplexers 132 können zusammen mit den Kalibrierungsparametern 140 oder im separaten Speicher 136 gespeichert werden, um das Test- und Messinstrument 160 beim De-Embedding des Eingangs-Selektors 130 aus dem Signal des DUTs 110 zu unterstützen. Die S-Parameter des Durchgangs- und Isolationspfades werden für jeden der Anschlüsse 141, 143, 145, 147 des Multiplexers 132 sowie für den Anschluss 162 des Messinstruments 160 gespeichert. In einigen Beispielen kann ein Benutzer seine eigenen S-Parameter hochladen oder anderweitig portieren, z. B. wenn der Benutzer die S-Parameter ändern oder dem System Stress hinzufügen möchte.
Bei dem Verstärker 134 kann es sich um einen aktiven Verstärker mit einem niederohmigen Eingang, z. B. 50 Ohm, handeln, der für den Test vieler serieller Daten-DUTs 110 geeignet ist, wie z. B. PCIe-Geräte, Serial-ATA-Busse (AT Attachment), MIPI-Schnittstellen (Mobile Industry Processor Interface), Fibre Channel und HDMI-Schnittstellen (High-Definition Multimedia Interface). In anderen Ausführungsformen kann der Verstärker 134 einen Puffer enthalten oder verwenden, um Signale vom DUT 110 für den Test zu puffern. In diesen Ausführungsformen hat der Verstärker 134 typischerweise eine relativ hohe Eingangsimpedanz, z. B. 100 kOhm oder 150 kOhm differentiellen DC-Eingangswiderstand. Ein Eingangs-Selektor 130 mit dieser relativ hohen Eingangsimpedanz ist beispielsweise für das Testen von Speicherschaltungen und seriellen Hochgeschwindigkeitsbussen nützlich. Sowohl bei einem Eingangsverstärker 134 mit niedriger Impedanz als auch bei einem Eingangsverstärker 134 mit hoher Impedanz ermöglicht die Aufnahme des Verstärkers 134 in den Eingangs-Selektor, dass das ausgewählte Signal vom Ausgang des Multiplexers 132 so nah wie möglich an der ausgewählten Quelle und in einer Weise verstärkt wird, die seine Signalübertragungseigenschaften zum Messinstrument 160 maximiert. Diese Platzierung des Verstärkers 134 innerhalb des Eingangs-Selektors 130 verringert nicht nur Rauschstörungen, sondern die Verwendung der Kalibrierungsparameter 140 innerhalb des Eingangs-Selektors 130 ermöglicht es, dass eine Kalibrierebene 146 näher an einer gewünschten Testebene 116 des DUT 110 liegt. Die Kalibrierebene 146 ist die theoretische Ebene, auf die der Eingangs-Selektor 130, wie oben beschrieben, kompensiert und kalibriert wurde, um die Auswirkungen des Eingangs-Selektors 130 so weit wie möglich zu beseitigen. Die gewünschte Testebene 116 ist die theoretische Ebene des DUTs 110, an der der Benutzer testen möchte. In der in 1 dargestellten Ausführungsform ist die gewünschte Testebene 116 die Ebene am Ausgang der Verstärker 112, 114. Die Komponenten zwischen diesen beiden Testebenen 116, 146, d. h. die Steckverbinder 121-127, die Kabel 131-137 und die Steckverbinder 141-147, sind ebenfalls so gewählt, dass sie die vom DUT 110 empfangenen Signale möglichst wenig beeinflussen. Daher bietet die Einbeziehung des Verstärkers 134 in den Eingangs-Selektor 130, der ferner Kompensations- und Kalibrierungsparameter 140 enthält, die bestmögliche Testumgebung, d. h. diejenige, die für die genaueste Messung der Signale des DUTs 110 sorgt und gleichzeitig die Möglichkeit bietet, umzuschalten, welcher der vielen möglichen Ausgänge des DUTs 110 zum Testen mit dem Messinstrument 160 verbunden wird.
Wie in den Diagrammen gezeigt, können Benutzer eine Kalibrierungsebene an einer bestimmten Stelle im DUT 110 wünschen, die möglicherweise nicht physisch zugänglich ist. Wie in 1 dargestellt, möchten manche Benutzer beispielsweise eine Wellenform so betrachten und analysieren, wie sie im Inneren einer bestimmten Vorrichtung im DUT 110 erscheinen würde. Es ist möglich, die theoretische Testebene 116 an einer gewünschten Stelle durch mathematische Analyse der erfassten Wellenformen zu „positionieren“, was durch Anwendungen wie Serial Data Link Analysis (SDLA) vereinfacht wird. Zu den erforderlichen Informationen für diese Analyse gehören die S-Parameter der verketteten Blöcke im Signalpfad. Die Bestimmung dieser S-Parameter ist schwierig, erfordert spezielle Ausrüstung und Fachwissen und ist fehleranfällig. Die Hinzufügung eines komplexen Signalpfads, einschließlich handelsüblicher HF-Schalter, verschärft das Problem der Bestimmung und Verwendung der S-Parameter. In Ausführungsformen dieser Offenbarung wird jedoch die Wirkung der Einbeziehung des Eingangs-Selektors 130 in das Testsystem 100 voranalysiert und die Kalibrierungsparameter, einschließlich der S-Parameter, im Kalibrierungsparameterspeicher 140 gespeichert, der dann vor oder gleichzeitig mit der Verwendung des Testsystems 100 an das Messinstrument 160 gesendet oder von diesem abgerufen werden kann. Durch diese Bestimmung der Kalibrierungsparameter und deren Speicherung im Eingangs-Selektor 130 zum Zeitpunkt der Herstellung wird die Belastung der Endbenutzer, die die Kalibrierungsparameter selbst bestimmen müssen, die, wie oben beschrieben, schwer genau zu bestimmen sind, erheblich verringert oder beseitigt.
Wie oben erwähnt, kann der Eingangs-Selektor 130 in einigen Beispielen einen Prozessor 138 enthalten. Der Prozessor 138 kann den Multiplexer 132 betreiben, um verschiedene Lanes des DUTs 110 mit dem Test- und Messinstrument 160 zu verbinden. In anderen Beispielen kann ein Prozessor 164 des Test- und Messinstruments 160 Steuersignale an den Multiplexer 132 des Eingangs-Selektors 130 senden, um verschiedene Lanes des DUTs 110 mit dem Test- und Messinstrument 160 zu verbinden.
2 zeigt ein alternatives Test- und Messsystem 200 gemäß einigen Beispielen der Offenbarung. In diesem Beispiel sind viele Merkmale des Test- und Messsystems 200 gleich oder ähnlich wie das oben in Bezug auf 1 beschriebene Testsystem 100. Dementsprechend haben diese Merkmale die gleichen Referenznummern und werden hier nicht weiter in Bezug auf 2 diskutiert.
Anders als beim Eingangs-Selektor 130 werden bei einem Eingangs-Selektor 230 die Eingänge des DUTs 110 mit Verstärkern gekoppelt, bevor sie mit einem Multiplexer verbunden werden. In einigen Ausführungsformen sind die Verstärker Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238. Die Ausgänge der Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238 werden mit dem Multiplexer 232 gekoppelt, der ein ausgewähltes Signal über ein HF-Kabel 152 an den Testanschluss 162 des Messinstruments 160 ausgibt. Obwohl nur zwei Pfade zwischen dem DUT 110 und dem Eingangs-Selektor 230 dargestellt sind, kann der Eingangs-Selektor Hardware enthalten, um eine beliebige Anzahl von Signalpfaden vom DUT 110 anzuschließen, beispielsweise vier, acht, sechzehn oder zweiunddreißig. Eine solche Anzahl von Pfaden ist bei Speicher- oder Komponententests, wie z. B. bei PCIe-Geräten, üblich. Wie oben beschrieben, kann der Multiplexer 232 auch mehrere Ausgänge haben, obwohl er in 2 nur mit einem Ausgang dargestellt ist, insbesondere dann, wenn der Multiplexer mehrere Eingänge vom DUT 110 hat, z. B. acht, sechzehn, zweiunddreißig oder mehr Eingänge. Die Erhöhung der Anzahl der Ausgänge des Multiplexers 232 hat den Effekt, dass die Bandbreite und damit die Testgeschwindigkeit des Test- und Messsystems 200 erhöht wird.
Die Tri-Mode-Verstärker 234, 238 arbeiten in einer von mehreren Betriebsarten. Ein Benutzer kann auswählen, in welchen Modi die Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238 wie oben beschrieben arbeiten. Mit anderen Worten, der Benutzer kann eine Betriebsart mit Hilfe des Eingangs-Selektors 230 oder über das Messinstrument 160 auswählen, entweder im direkten Auswahlmodus, z. B. über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) oder über die PI-Programmierschnittstelle des Messinstruments, wie oben beschrieben. In einer solchen Ausführungsform werden Steuersignale zum Betrieb des Eingangs-Selektors 230 vom Messinstrument 160 erzeugt und auf der Steuerleitung 156 übertragen, um den Prozessor 138 des Eingangs-Selektors 230 zu steuern.
Jeder Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238 hat einen A- und einen B-Eingang von der gleichen Lane, z. B. Lane 0 oder Lane 1. In einer Ausführungsform umfassen die Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238 mindestens vier Betriebsmodi:

Modus 1, Differenz-Signalmodus: A-B
Modus 2, gemeinsamer Signalmodus: (A+B)/2
Modus 3, unsymmetrischer A-Modus: A-Masse-Referenzspannung
Modus 4, einseitiger B-Modus: B-Masse-Referenzspannung

Im Modus 1, dem Differenzsignalmodus, werden die Eingänge A und B der jeweiligen Lane voneinander subtrahiert, und das Differenzsignal wird an den Ausgang des Verstärkers gesendet. In Modus 2, dem Gleichtaktsignalmodus, werden die Eingänge A und B addiert und dann durch 2 geteilt. Das endgültige Ausgangssignal, das an den Ausgang des Verstärkers gesendet wird, ist das Gleichtaktsignal, das der Durchschnitt der Signale A und B ist. In den Modi 3 und 4 wird nur einer der beiden Eingänge ausgegeben, entweder A oder B im Verhältnis zu einer Masse-Referenzspannung, die ebenfalls als Eingang für den Tri-Mode-Eingangsverstärker vorgesehen ist. Jeder dieser Modi ist für einen Benutzer, der ein DUT 110 testet, nützlich. Der Ausgang jedes Tri-Mode-Eingangsverstärkers 234, 238 ist mit dem Multiplexer 232 verbunden. Wie oben beschrieben, kann der Benutzer den Multiplexer 232 steuern, um auszuwählen, welcher Ausgang des DUTs 110 an das Messinstrument geliefert wird. In der in 2 gezeigten Ausführungsform werden durch die Auswahl des Tri-Mode-Eingangsverstärkers 234 die Ausgänge von Lane 0 ausgewählt, während durch die Auswahl des Tri-Mode-Eingangsverstärkers 238 die Ausgänge von Lane 1 ausgewählt werden. Durch die Auswahl des Modus, in dem ein Tri-Mode-Eingangsverstärker 234, 238 arbeitet, und durch die Auswahl, welcher der Tri-Mode-Eingangsverstärker 234 oder 238 vom Multiplexer 232 ausgewählt wird, kann der Benutzer also festlegen, welche Signale zum Testen und Messen an das Messinstrument 160 weitergeleitet werden sollen. Durch die Steuerung des Betriebs der Tri-Mode-Eingangsverstärker 234 und 238 sowie des Multiplexers 232 im Eingangs-Selektor 230 kann ein Benutzer vollständige automatische Testskripte zum Testen aller verschiedenen Modi aller verschiedenen Lanes des DUTs 110 einrichten, ohne jemals Kabel zwischen dem DUT 110 und dem Messinstrument abtrennen oder neu anschließen zu müssen.
Wie in 1 beschrieben, können auch die Kalibrierungsparameter jedes der Testpfade zwischen dem DUT 110 und dem Messinstrument zum Zeitpunkt der Herstellung des Eingangs-Selektors 230 kalibriert und im Kalibrierungsparameterspeicher 140 gespeichert werden. Ein Vorteil der in 2 dargestellten Ausführungsform gegenüber 1 besteht darin, dass der Multiplexer 232 vollständig von den Eingängen des DUTs 110 isoliert ist, im Gegensatz zu der Ausführungsform, bei der der Multiplexer 132 direkt mit den Eingängen gekoppelt ist, ohne zuvor Puffer zu durchlaufen.
Obwohl der Multiplexer 232 als Teil des Eingangs-Selektors 230 dargestellt ist, kann er in einigen Ausführungsformen auch in eine Kompensationsbox integriert sein, bei der es sich um bekannte Schnittstellen zwischen einem Messinstrument und einer Messsonde oder einem Messinstrument handelt.
3 ist ein Blockdiagramm eines Testsystems 300, das einen Eingangs-Selektor 330 mit einem aktiven Verstärker enthält, wobei der Eingangs-Selektor permanent mit einer Messvorrichtung 360 gekoppelt ist. In diesem Ausführungsbeispiel ist der Eingangs-Selektor 330 über ein dauerhaftes Kabel 350 mit der Messvorrichtung 360 verbunden. Das Versorgungskabel 350 umfasst Anschlüsse für eine Stromleitung, eine Steuerleitung und eine oder mehrere Datenschnittstellen zur Übertragung der Daten, die vom DUT 110 abgetastet und vom Eingangs-Selektor 330 ausgewählt werden, wie oben beschrieben. Wie bereits erwähnt, können auch die Stromleitung und die Steuerleitung innerhalb des Kabels 350 eine gemeinsame Verbindung haben. Diese Ausführungsform mit dem Versorgungskabel 350 bietet die beste Signalintegrität und die einfachste Handhabung, da der Eingangs-Selektor 330 nicht über eine HF-Schnittstelle mit der Messvorrichtung verbunden ist, wie dies bei den vorherigen Beispielen in den der Fall war. Eine solche HF-Schnittstelle fügt dem Testsystem Rauschen hinzu, was durch die Verwendung des fest angeschlossenen Kabels 350 vermieden wird. In diesem Fall ist der Eingangs-Selektor 330 fest mit dem Messinstrument 360 verbunden und kann nicht von diesem getrennt werden. Diese Ausführungsform, bei der das Kabel 350 mit dem Eingangs-Selektor 330 verbunden ist, mag bessere Testeigenschaften aufweisen, insbesondere bei Verbindungen mit höheren Frequenzen. Die Kalibrierungsparameter können in einem Kalibrierungsparameterspeicher 342 auf dem Eingangs-Selektor 330 oder in einem Kalibrierungsparameterspeicher 346 auf der Messvorrichtung 360 gespeichert werden. In einigen Ausführungsformen werden die Kalibrierungsparameter in beiden Kalibrierungsparameterspeichern 342 und 346 gespeichert. Auch der Eingangs-Selektor 330 kann die Architektur einer der in den 1 und 2 beschriebenen Ausführungsformen aufweisen, insbesondere im Hinblick auf die relativen Positionen des Multiplexers 332 oder des Verstärkers 334 in der Signal-Lane.
In einigen Ausführungsformen kann die Funktionalität des Eingangs-Selektors 330 sogar in die Test- und Messvorrichtung 360 selbst integriert sein. In einer solchen Ausführungsform umfasst die Messvorrichtung zwei oder mehr HF-Schalter, die direkt mit dem DUT 110 gekoppelt sind. Die Ausgänge der HF-Schalter sind über interne Verbindungen mit den Testkanälen der Messvorrichtung 360 verbunden. Der Benutzer kann dann durch Steuerung der HF-Schalter auswählen, welcher Kanal des DUTs 110 getestet werden soll. Dies vereinfacht die HF-Verbindungen für den Benutzer etwas, da jeder vom DUT 110 getestete Kanal direkt mit der Messvorrichtung 360 verbunden ist. Es reduziert auch die Leistungsanforderungen der Auswahlfunktion, da kein Multiplexer oder Verstärker betrieben werden muss, sondern die Umschaltung innerhalb der Messvorrichtung 360 erfolgt.
Beispiele der Offenlegung ermöglichen es einem oder mehreren Test- und Messinstrumenten, eine oder mehrere Signal-Lane zu testen, die von einem oder mehreren DUTs stammen können. Die Eingangs-Selektoren der Offenbarung können das Umschalten zwischen den verschiedenen Signal-Lane zu einem oder mehreren Test- und Messinstrumenten ermöglichen. Die Eingangs-Selektoren verfügen über bekannte, bei der Herstellung oder im Werk ermittelte Kalibrierungsparameter, die von den Test- und Messinstrumenten verwendet werden können, um jegliche Auswirkungen der Selektoren, ihrer Komponenten und ihrer Verbindungskabel zu beseitigen. Der Betrieb des Eingangs-Selektors kann programmatisch gesteuert werden, und der Benutzer kann einen Selektor so programmieren, dass er alle angeschlossenen Signal-Lane eines DUTs durchläuft, ohne dass Kabel abgetrennt oder umverlegt werden müssen. Dies kann stundenlange manuelle Arbeit während einer Testsitzung einsparen.
Aspekte der Offenlegung können auf speziell entwickelter Hardware, Firmware, digitalen Signalprozessoren oder auf einem speziell programmierten Computer mit einem nach programmierten Anweisungen arbeitenden Prozessor arbeiten. Die hier verwendeten Begriffe „Controller“ oder „Prozessor“ sollen Mikroprozessoren, Mikrocomputer, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) und spezielle Hardware-Controller umfassen. Ein oder mehrere Aspekte der Offenbarung können in computerverwendbaren Daten und computerausführbaren Anweisungen verkörpert sein, beispielsweise in einem oder mehreren Programmmodulen, die von einem oder mehreren Computern (einschließlich Überwachungsmodulen) oder anderen Geräten ausgeführt werden. Im Allgemeinen umfassen Programmmodule Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen usw., die bestimmte Aufgaben ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen implementieren, wenn sie von einem Prozessor in einem Computer oder einem anderen Gerät ausgeführt werden. Die computerausführbaren Anweisungen können auf einem computerlesbaren Speichermedium wie einer Festplatte, einer optischen Platte, einem Wechselspeichermedium, einem Festkörperspeicher, einem Random Access Memory (RAM) usw. gespeichert sein. Wie dem Fachmann klar sein wird, kann die Funktionalität der Programm-Module in verschiedenen Aspekten beliebig kombiniert oder verteilt werden. Darüber hinaus kann die Funktionalität ganz oder teilweise in Firmware oder Hardware-Äquivalenten wie integrierten Schaltungen, FPGA und dergleichen verkörpert sein. Bestimmte Datenstrukturen können verwendet werden, um einen oder mehrere Aspekte der Offenbarung effektiver zu implementieren, und solche Datenstrukturen werden im Rahmen der hier beschriebenen computerausführbaren Anweisungen und computerverwendbaren Daten in Betracht gezogen.
Die offengelegten Aspekte können in einigen Fällen in Hardware, Firmware, Software oder einer beliebigen Kombination davon implementiert sein. Die offengelegten Aspekte können auch in Form von Anweisungen implementiert werden, die auf einem oder mehreren computerlesbaren Speichermedien gespeichert sind, die von einem oder mehreren Prozessoren gelesen und ausgeführt werden können. Solche Anweisungen können als Computerprogrammprodukt bezeichnet werden. Computerlesbare Medien, wie hier beschrieben, sind alle Medien, auf die ein Computergerät zugreifen kann. Computerlesbare Medien können zum Beispiel Computerspeichermedien und Kommunikationsmedien umfassen, ohne darauf beschränkt zu sein.
Computerspeichermedien sind alle Medien, die zur Speicherung von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Zu den Computerspeichermedien gehören beispielsweise RAM, ROM, EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), Flash-Speicher oder andere Speichertechnologien, CD-ROM (Compact Disc Read Only Memory), DVD (Digital Video Disc) oder andere optische Plattenspeicher, Magnetkassetten, Magnetbänder, Magnetplattenspeicher oder andere magnetische Speichervorrichtungen sowie alle anderen flüchtigen oder nicht flüchtigen, entfernbaren oder nicht entfernbaren Medien, die in einer beliebigen Technologie eingesetzt werden. Computerspeichermedien schließen Signale als solche und vorübergehende Formen der Signalübertragung aus.
Kommunikationsmedien sind alle Medien, die für die Übertragung von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Zu den Kommunikationsmedien gehören beispielsweise Koaxialkabel, Glasfaserkabel, Luft oder jedes andere Medium, das für die Übertragung von elektrischen, optischen, Hochfrequenz- (HF), Infrarot-, akustischen oder anderen Signalen geeignet ist.
BEISPIELE
Nachfolgend werden Beispiele für die hierin offengelegten Technologien aufgeführt. Eine Ausbildung der Technologien kann eines oder mehrere und jede Kombination der unten beschriebenen Beispiele umfassen.
Beispiel 1 ist ein Eingangs-Selektor zum elektrischen Verbinden eines von mehreren Testsignalen von einer zu testenden Vorrichtung mit einem Test- und Messinstrument, wobei der Eingangs-Selektor einen Multiplexer mit mehreren Eingängen enthält, wobei jeder der mehreren Eingänge mit einem anderen der mehreren Testsignale von der zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist und einen Ausgang eines ausgewählten der mehreren Eingänge hat, und einen Verstärker, der mit dem Ausgang des Multiplexers gekoppelt ist, um das ausgewählte Testsignal der zu testenden Vorrichtung zu verstärken, bevor es als ein Ausgang des Eingangs-Selektors an das Test- und Messinstrument gesendet wird.

Beispiel 2 ist ein Eingangs-Selektor gemäß Beispiel 1, der ferner einen Speicher umfasst, der so strukturiert ist, dass er Kalibrierungsparameter des Eingangs-Selektors speichert.
Beispiel 3 ist ein Eingangs-Selektor gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem der Verstärker ein gepufferter Verstärker ist, der eine Eingangsimpedanz von über 10.000 Ohm aufweist.
Beispiel 4 ist ein Eingangs-Selektor gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem der Verstärker ein Verstärker mit einer Eingangsimpedanz von etwa 50 Ohm ist.
Beispiel 5 ist ein Eingangs-Selektor nach einem der vorhergehenden Beispiele, der ferner einen Prozessor zur Steuerung des Multiplexers umfasst.
Beispiel 6 ist ein Eingangs-Selektor nach einem der vorhergehenden Beispiele, der ferner einen Eingang aufweist, der so ausgebildet ist, dass er ein Steuersignal zum Betrieb des Multiplexers empfängt.
Beispiel 7 ist ein Eingangs-Selektor nach einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem das Steuersignal durch programmatische Steuerung erzeugt wird.
Beispiel 8 ist ein Eingangs-Selektor gemäß einem der vorangegangenen Beispiele, bei dem der Ausgang des Eingangs-Selektors über ein HF-Kabel an das Test- und Messinstrument gesendet wird.
Beispiel 9 ist ein Eingangs-Selektor nach einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem der Eingangs-Selektor über mindestens eine direkte Signaltestleitung dauerhaft mit dem Test- und Messinstrument verbunden ist.
Beispiel 10 ist ein Eingangs-Selektor nach einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem der Multiplexer zwei oder mehr Ausgänge hat und bei dem jeder der zwei oder mehr Ausgänge verstärkt wird, bevor er als Ausgang des Eingangs-Selektors an das Test- und Messinstrument gesendet wird.
Beispiel 11 ist ein Eingangs-Selektor zum elektrischen Verbinden eines von mehreren Testsignalen von einer zu testenden Vorrichtung mit einem Test- und Messinstrument, wobei der Eingangs-Selektor einen ersten Verstärker enthält, der mit einer ersten Lane einer zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist, wobei die erste Lane zwei separate Signale zum Testen aufweist und der erste Verstärker einen einzelnen Ausgang hat, einen zweiten Verstärker, der mit einer zweiten Lane der zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist, wobei die zweite Lane zwei separate Signale zum Testen aufweist, wobei der zweite Verstärker einen einzelnen Ausgang aufweist, und einen Multiplexer, der einen ersten Eingang aufweist, der mit dem Ausgang des ersten Verstärkers gekoppelt ist, und einen zweiten Eingang aufweist, der mit dem Ausgang des zweiten Verstärkers gekoppelt ist, wobei der Multiplexer ferner einen Ausgang aufweist, der mit dem Test- und Messinstrument gekoppelt ist.
Beispiel 12 ist ein Eingangs-Selektor gemäß Beispiel 11, bei dem der erste Verstärker so betreibbar ist, dass er ein Differenzausgangssignal aus einer Differenz zwischen den beiden getrennten Signalen der ersten Lane erzeugt, und so betreibbar ist, dass er ein Gleichtaktausgangssignal aus einem Mittelwert der beiden getrennten Signale der ersten Lane erzeugt.
Beispiel 13 ist ein Eingangs-Selektor gemäß den vorangegangenen Beispielen 11-12, bei dem der erste Verstärker ferner so betrieben werden kann, dass er ein Ausgangssignal von einem der beiden getrennten Signale der ersten Lane relativ zu einem Massebezugssignal erzeugt.
Beispiel 14 ist ein Eingangs-Selektor gemäß den vorangegangenen Beispielen 11-13, der ferner einen Speicher umfasst, der so strukturiert ist, dass er Kalibrierungsparameter des Eingangs-Selektors speichert.
Beispiel 15 ist ein Eingangs-Selektor gemäß den vorangegangenen Beispielen 11-14, der ferner einen Prozessor umfasst, der zur Steuerung des Multiplexers ausgebildet ist.
Beispiel 16 ist ein Eingangs-Selektor gemäß den vorangegangenen Beispielen 11-15, der ferner einen Eingang umfasst, der so ausgebildet ist, dass er ein Steuersignal zum Betrieb des Multiplexers empfängt.
Beispiel 17 ist ein Eingangs-Selektor gemäß Beispiel 16, bei dem das Steuersignal durch programmatische Steuerung erzeugt wird.
Beispiel 18 ist ein Eingangs-Selektor gemäß den vorangegangenen Beispielen 11-17, bei dem der Multiplexer zwei oder mehr Ausgänge hat, die jeweils so ausgebildet sind, dass sie unabhängig voneinander mit dem Test- und Messinstrument gekoppelt werden können.
Beispiel 19 ist ein Verfahren zum Verbinden einer oder mehrerer Signal-Lane mit einem Test- und Messinstrument, einschließlich des Verbindens einer ersten Signal-Lane von einem ersten Anschluss mit einem Eingang eines Multiplexers in einer Eingangs-Selektor-Vorrichtung, des Verbindens einer zweiten Signal-Lane von einem zweiten Anschluss mit dem Eingang eines Multiplexers in der Eingangs-Selektor-Vorrichtung, Betreiben des Multiplexers, um entweder die erste Signal-Lane des ersten Anschlusses oder die zweite Signal-Lane des zweiten Anschlusses auszuwählen, Verstärken eines Signals auf der von dem Multiplexer in der Eingangs-Selektor-Vorrichtung ausgewählten Lane und Übertragen des verstärkten Signals an ein Test- und Messinstrument.
Beispiel 20 ist ein Verfahren gemäß Beispiel 19, das ferner das Speichern von Kalibrierungsparametern der Eingangs-Selektor-Vorrichtung umfasst.
Beispiel 21 ist ein Verfahren gemäß Beispiel 20, das ferner das Entfernen eines Effekts der Eingangs-Selektor-Vorrichtung von jedem auf der ersten Signal-Lane und der zweiten Signal-Lane übertragenen Signal auf der Grundlage der Kalibrierungsparameter umfasst.
Beispiel 22 ist ein Verfahren gemäß einem der vorangehenden Beispielverfahren, das ferner den Empfang eines Steuersignals zum Betrieb des Multiplexers von dem Test- und Messinstrument umfasst.
Beispiel 23 ist ein Verfahren gemäß Beispiel 22, das ferner die Erzeugung des Steuersignals als Ausgabe eines Satzes von Programmieranweisungen umfasst.

Die zuvor beschriebenen Versionen des offengelegten Gegenstands haben viele Vorteile, die entweder beschrieben wurden oder für eine Person mit normalen Kenntnissen offensichtlich sind. Dennoch sind diese Vorteile oder Merkmale nicht in allen Versionen der offengelegten Geräte, Systeme oder Verfahren erforderlich.
Außerdem wird in dieser schriftlichen Beschreibung auf bestimmte Merkmale verwiesen. Es ist davon auszugehen, dass alle in der Beschreibung, einschließlich der Ansprüche, der Zusammenfassung und der Zeichnungen, offengelegten Merkmale und alle Schritte in jedem offengelegten Verfahren oder Prozess in jeder Kombination kombiniert werden können, mit Ausnahme von Kombinationen, bei denen sich zumindest einige dieser Merkmale und/oder Schritte gegenseitig ausschließen. Jedes in der Beschreibung, einschließlich der Ansprüche, der Zusammenfassung und der Zeichnungen, offenbarte Merkmal kann durch alternative Merkmale ersetzt werden, die dem gleichen, gleichwertigen oder ähnlichen Zweck dienen, sofern nicht ausdrücklich etwas anderes angegeben ist.
Auch wenn in dieser Anmeldung auf ein Verfahren mit zwei oder mehr definierten Schritten oder Vorgängen Bezug genommen wird, können die definierten Schritte oder Vorgänge in beliebiger Reihenfolge oder gleichzeitig ausgeführt werden, sofern der Kontext diese Möglichkeiten nicht ausschließt.
Obwohl spezifische Beispiele der Offenbarung zum Zwecke der Veranschaulichung dargestellt und beschrieben wurden, können verschiedene Änderungen vorgenommen werden, ohne vom Geist und Umfang der Offenbarung abzuweichen. Dementsprechend sollte die Offenbarung nicht eingeschränkt werden, außer durch die beigefügten Ansprüche.

Claims

Ein Eingangs-Selektor zum elektrischen Verbinden eines von mehreren Testsignalen von einer zu testenden Vorrichtung mit einem Test- und Messinstrument, wobei der Eingangs-Selektor Folgendes umfasst: einen Multiplexer mit mehreren Eingängen, wobei jeder der mehreren Eingänge mit einem anderen der mehreren Testsignale von der zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist, und mit einem Ausgang eines ausgewählten der mehreren Eingänge; und einen Verstärker, der mit dem Ausgang des Multiplexers gekoppelt ist, um das ausgewählte Testsignal der zu testenden Vorrichtung zu verstärken, bevor es als Ausgang des Eingangs-Selektors an das Test- und Messinstrument gesendet wird.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1 umfasst ferner einen Speicher, der zum Speichern von Kalibrierungsparametern des Eingangs-Selektors strukturiert ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, bei dem der Verstärker ein gepufferter Verstärker ist, der eine Eingangsimpedanz von über 10.000 Ohm aufweist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, bei dem der Verstärker ein Verstärker mit einer Eingangsimpedanz von etwa 50 Ohm ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1 umfasst ferner einen Prozessor, der zur Steuerung des Multiplexers ausgebildet ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, der ferner einen Eingang umfasst, der so ausgebildet ist, dass er ein Steuersignal zum Betrieb des Multiplexers empfängt.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, bei dem das Steuersignal durch programmatische Steuerung erzeugt wird.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, bei dem der Ausgang des Eingangs-Selektors über ein HF-Kabel an das Test- und Messinstrument gesendet wird.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, wobei der Eingangs-Selektor über mindestens eine direkte Signaltestleitung dauerhaft mit dem Test- und Messinstrument verbunden ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 1, bei dem der Multiplexer zwei oder mehr Ausgänge hat und bei dem jeder der zwei oder mehr Ausgänge verstärkt wird, bevor er als ein Ausgang des Eingangs-Selektors an das Test- und Messinstrument gesendet wird.
Ein Eingangs-Selektor zum elektrischen Verbinden eines von mehreren Testsignalen von einer zu testenden Vorrichtung mit einem Test- und Messinstrument, wobei der Eingangs-Selektor folgendes umfasst: einen ersten Verstärker, der mit einer ersten Lane einer zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist, wobei die erste Lane zwei getrennte Signale zum Testen aufweist und der erste Verstärker einen einzigen Ausgang hat; einen zweiten Verstärker, der mit einer zweiten Lane der zu testenden Vorrichtung gekoppelt ist, wobei die zweite Lane zwei getrennte Signale zum Testen aufweist und der zweite Verstärker einen einzigen Ausgang hat; und einen Multiplexer mit einem ersten Eingang, der mit dem Ausgang des ersten Verstärkers gekoppelt ist, und mit einem zweiten Eingang, der mit dem Ausgang des zweiten Verstärkers gekoppelt ist, wobei der Multiplexer ferner einen Ausgang aufweist, der mit dem Test- und Messinstrument gekoppelt ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, bei dem der erste Verstärker so betrieben werden kann, dass er ein Differenzausgangssignal einer Differenz zwischen den beiden getrennten Signalen der ersten Lane erzeugt, und so betrieben werden kann, dass er ein Gleichtaktausgangssignal eines Durchschnitts der beiden getrennten Signale der ersten Lane erzeugt.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, wobei der erste Verstärker ferner so betrieben werden kann, dass er ein Ausgangssignal von einem der beiden getrennten Signale der ersten Lane relativ zu einem Massebezugssignal erzeugt.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, der ferner einen Speicher umfasst, der so strukturiert ist, dass er Kalibrierungsparameter des Eingangs-Selektors speichert.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, der ferner einen Prozessor umfasst, der zur Steuerung des Multiplexers ausgebildet ist.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, der ferner einen Eingang umfasst, der so ausgebildet ist, dass er ein Steuersignal zum Betrieb des Multiplexers empfängt.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 16, bei dem das Steuersignal durch programmatische Steuerung erzeugt wird.
Der Eingangs-Selektor nach Anspruch 11, wobei der Multiplexer zwei oder mehr Ausgänge hat, die jeweils so ausgebildet sind, dass sie unabhängig voneinander mit dem Test- und Messinstrument gekoppelt werden können.
Ein Verfahren zum Verbinden einer oder mehrerer Signal-Lane mit einem Test- und Messinstrument, umfassend: Verbinden einer ersten Signal-Lane von einem ersten Anschluss mit einem Eingang eines Multiplexers in einer Eingangs-Selektor-Vorrichtung; Anschließen einer zweiten Signal-Lane von einem zweiten Anschluss an den Eingang eines Multiplexers in der Eingangs-Selektor-Vorrichtung; Betätigen des Multiplexers, um entweder die erste Signal-Lane des ersten Anschlusses oder die zweite Signal-Lane des zweiten Anschlusses auszuwählen; Verstärken eines Signals auf der durch den Multiplexer in der Eingangs-Selektor-Vorrichtung ausgewählten Lane; und Übertragen des verstärkten Signals an ein Test- und Messinstrument.
Das Verfahren nach Anspruch 19, das ferner das Speichern von Kalibrierungsparametern der Eingangs-Selektor-Vorrichtung umfasst.
Das Verfahren nach Anspruch 20, das ferner das Entfernen eines Effekts der Eingangs-Selektor-Vorrichtung von jedem auf der ersten Signal-Lane und der zweiten Signal-Lane übertragenen Signal auf der Grundlage der Kalibrierungsparameter umfasst.
Das Verfahren nach Anspruch 19, das ferner ein Empfangen eines Steuersignals zum Betrieb des Multiplexers vom Test- und Messinstrument umfasst.
Das Verfahren nach Anspruch 22, das ferner ein Erzeugen des Steuersignals als Ausgabe eines Satzes von Programmieranweisungen umfasst.