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HINTERGRUND
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Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Kompensieren des Leistungsverlusts einer Hochfrequenz--Signalsondenfehlanpassung (HF--Signalsondenfehlanpassung) beim Testen des leitfähigen Signals eines HF-Datensignal-Transceivers und insbesondere auf das Kompensieren eines solchen Leistungsverlusts während des Testens des leitfähigen Signals.
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Viele der heutigen elektronischen Vorrichtungen verwenden drahtlose Signaltechnologien für sowohl Konnektivitäts- als auch Kommunikationszwecke. Da drahtlose Vorrichtungen elektromagnetische Energie übertragen und empfangen, und da zwei oder mehr drahtlose Vorrichtungen das Potenzial einer Störung der Vorgänge der jeweils anderen aufgrund ihrer Signalfrequenzen und Leistungsspektraldichten aufweisen, müssen diese Vorrichtungen und ihre drahtlosen Signaltechnologien verschiedene Standardspezifikationen der drahtlosen Signaltechnologie einhalten.
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Beim Entwerfen solcher drahtlosen Vorrichtungen sorgen Ingenieure zusätzlich dafür, sicherzustellen, dass solche Vorrichtungen jede ihrer enthaltenen drahtlosen Signaltechnologie erfüllen oder überschreiten, die von Standardspezifikationen vorgeschrieben sind. Darüber hinaus werden, wenn diese Vorrichtungen später in Menge hergestellt werden, diese getestet, um sicherzustellen, dass Herstellungsfehler keinen unsachgemäßen Betrieb verursachen, einschließlich ihrer Einhaltung der Standardspezifikationen der drahtlosen Signaltechnologie.
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Das Testen solcher drahtlosen Vorrichtungen beinhaltet in der Regel das Testen der Empfangs- und Übertragungsuntersysteme des Prüflings (DUT). Das Testsystem sendet eine vorgeschriebene Sequenz von Testdatenpaketsignalen an einen DUT, z. B. unter Verwendung unterschiedlicher Frequenzen, Leistungspegel und/oder Signalmodulationstechniken, um zu bestimmen, ob das DUT-Empfangsuntersystem ordnungsgemäß arbeitet. In ähnlicher Weise sendet der DUT Testdatenpaketsignale mit einer Mehrzahl von Frequenzen, Leistungspegeln und/oder Modulationstechniken zum Empfangen und Verarbeiten durch das Testsystem, um zu bestimmen, ob das DUT-Übertragungsuntersystem ordnungsgemäß arbeitet.
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Zum Testen dieser Vorrichtungen nach ihrer Herstellung und Montage verwenden aktuelle Testsysteme der drahtlosen Vorrichtung in der Regel Testsysteme mit verschiedenen Untersystemen zum Bereitstellen von Testsignalen an jeden Prüfling (DUT) und zum Analysieren von Signalen, die von jedem DUT empfangen werden. Einige Systeme (oft als „Tester“ bezeichnet) schließen mindestens eine oder mehrere Testsignalquellen (z. B. in Form eines Vektorsignalgenerators oder „VSG“) zum Bereitstellen der an den DUT zu übertragenden Quellsignale und einen oder mehrere Empfänger (z. B. in Form eines Vektorsignalanalysators oder „VSA“) zum Analysieren von Signalen, die von dem DUT hergestellt werden. Die Herstellung von Testsignalen durch den VSG und die von dem VSA durchgeführte Signalanalyse sind im Allgemeinen programmierbar (z. B. durch Verwendung einer internen programmierbaren Steuerung oder einer externen programmierbaren Steuerung, wie eines Personalcomputers), um zu ermöglichen, dass jedes zum Testen einer Mehrzahl von Vorrichtungen zur Einhaltung einer Vielzahl von drahtlosen Signaltechnologiestandards mit sich unterscheidenden Frequenzbereichen, Bandbreiten und Signalmodulationseigenschaften verwendet werden kann.
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Die Testumgebung kann eine oder beide von zwei allgemeinen Formen der HF-Signalübermittlung einschließen: (1) leitfähig oder drahtgebunden und/oder (2) strahlend oder drahtlos. Im Falle von Ersterem (in der Regel als ein Koaxialkabel mit einem von einem geerdeten Leiter umgebenen Signalleiter, der als eine Abschirmung gegen externe elektromagnetische Störungen wirkt) ist eine wichtige Eigenschaft die des Signalpfadverlusts durch den leitfähigen Signalpfad. Eine weitere ist die der Signalreflexionen und des Leistungsverlusts aufgrund von Fehlanpassungen, die durch die HF-Signalsonde verursacht werden, die mit dem DUT zwischen den Impedanzen des leitfähigen Signalpfads und des leitfähigen Signalverbinders des DUT verbunden ist. Während die derzeitigen Techniken, die zum Bestimmen von Signalpfadverlust und/oder Sondenfehlanpassung verwendet werden, einfach sind, machten sie eine Unterbrechung und Neukonfiguration der HF-Signalverbindungen als Teil der Testvorgänge, z. B. vor und/oder während jeder Testsequenz, erforderlich. Dies führt zu längeren Testzeiten und erhöhten Testkosten aufgrund solcher Zeitverzögerungen sowie potenzieller Reparaturen oder Nachbearbeitung von Signalverbindungen.
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KURZDARSTELLUNG
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System und Verfahren zum Kompensieren des Leistungsverlusts aufgrund einer Hochfrequenz-Signalsondenfehlanpassung (HF-Signalsondenfehlanpassung) beim Testen des leitfähigen HF-Signals eines HF-Datensignal-Transceiver-Prüflings (DUT). Das Sourcing des HF-Testsignals mit dem HF-Vektorsignal-Transceiver bei mehreren Testfrequenzen ermöglicht eine Isolierung und Kompensation von Leistungsverlust aufgrund einer Fehlanpassung zwischen der HF-Signalsonde und der HF-DUT-Verbindung basierend auf vorbestimmten Verlusten des HF-Signalpfads.
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Gemäß Ausführungsformbeispielen schließt ein System zum Kompensieren des Leistungsverlusts einer Hochfrequenzsignalsonde (HF-Signalsonde), die beim Testen des leitfähigen HF-Signals eines Prüflings (DUT) verwendet wird, Folgendes ein: einen HF-Vektorsignal-Transceiver, der auf ein oder mehrere Transceiver-Steuersignale reagiert, indem ein oder mehrere ausgehende HF-Signale und eine Zeitdomäne erzeugt werden, die ein oder mehrere eingehende HF-Signale verarbeitet; eine HF-Signalsonde, um das eine oder die mehreren ausgehenden HF-Signale und das eine oder die mehreren eingehenden HF-Signale von bzw. an einen DUT zu übermitteln; einen leitenden HF-Signalpfad, der mit und zwischen dem HF-Vektorsignal-Transceiver und der HF-Signalsonde über einen ersten beziehungsweise einen zweiten Signalpfad verbunden ist, um das eine oder die mehreren ausgehenden HF-Signale und das eine oder die mehreren eingehenden HF-Signale zu übermitteln; einen oder mehrere Prozessoren, die gekoppelt sind, um mit dem HF-Vektorsignal-Transceiver zu kommunizieren; und eine oder Speichervorrichtungen, die mit dem einen oder den mehreren Prozessoren gekoppelt sind und ein nicht transitorisches computerlesbares Medium umfassen, das eine Vielzahl von computerlesbaren Anweisungen enthält. Bei Ausführen durch den einen oder die mehreren Prozessoren veranlassen die computerlesbaren Anweisungen den einen oder die mehreren Prozessoren, ein oder mehrere Transceiver-Steuersignale bereitzustellen, sodass: das eine oder die mehreren ausgehenden HF-Signale eine iterative Vielzahl von voneinander unterschiedlichen HF-Signalfrequenzen mit einem einzigen Frequenzton umfassen; das eine oder die mehreren eingehenden HF-Signale eine Vielzahl von reflektierten HF-Signalen von der HF-Signalsonde umfassen und sich auf mindestens einen Abschnitt des einen oder der mehreren ausgehenden HF-Signale beziehen; und die Zeitdomäne, die ein oder mehrere eingehende HF-Signale verarbeitet, das Berechnen einer Vielzahl von gemessenen Signalgrößen der Vielzahl von reflektierten HF-Signalen und das Berechnen einer Vielzahl von Nettosignalgrößen der Vielzahl von reflektierten HF-Signalen einschließt, die durch entsprechende einer Vielzahl von vorbestimmten Pfadverlusten des leitfähigen HF-Signalpfads reduziert werden, die der Vielzahl von voneinander unterschiedlichen HF-Signalfrequenzen entspricht.
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Gemäß weiteren Ausführungsformbeispielen schließt ein Verfahren zum Kompensieren des Leistungsverlusts einer Hochfrequenzsignalsonde (HF-Signalsonde), die beim Testen des leitfähigen HF-Signals eines Prüflings (DUT) verwendet wird, Folgendes ein: Reagieren, mit einem HF-Vektorsignal-Transceiver, auf ein oder mehrere Transceiver-Steuersignale, indem ein oder mehrere ausgehende HF-Signale und die Zeitdomäne erzeugt werden, die ein oder mehrere eingehende HF-Signale verarbeitet; Übermitteln des einen oder der mehreren ausgehenden HF-Signale und des einen oder der mehreren eingehenden HF-Signale über eine HF-Signalsonde zu beziehungsweise von einem DUT; Übermitteln des einen oder der mehreren ausgehenden HF-Signale und des einen oder der mehreren eingehenden HF-Signale über einen leitfähigen HF-Signalpfad, der über einen ersten beziehungsweise einen zweiten Signalpfad mit und zwischen dem HF-Vektorsignal-Transceiver und der HF-Signalsonde verbunden ist; und Kommunizieren mit dem HF-Vektorsignal-Transceiver durch Zugreifen auf und Ausführen von einer Vielzahl von computerlesbaren Anweisungen. Die Ausführung der computerlesbaren Anweisungen bewirkt, dass ein oder mehrere Transceiver-Steuersignale bereitgestellt werden, sodass: das eine oder die mehreren ausgehenden HF-Signale eine iterative Vielzahl von voneinander unterschiedlichen HF-Signalfrequenzen mit einem einzigen Frequenzton umfassen; das eine oder die mehreren eingehenden HF-Signale eine Vielzahl von reflektierten HF-Signalen von der HF-Signalsonde umfassen und sich auf mindestens einen Abschnitt des einen oder der mehreren ausgehenden HF-Signale beziehen; und die Zeitdomäne, die ein oder mehrere eingehende HF-Signale verarbeitet, das Berechnen einer Vielzahl von gemessenen Signalgrößen der Vielzahl von reflektierten HF-Signalen und das Berechnen einer Vielzahl von Nettosignalgrößen der Vielzahl von reflektierten HF-Signalen einschließt, die durch entsprechende einer Vielzahl von vorbestimmten Pfadverlusten des leitfähigen HF-Signalpfads reduziert werden, die der Vielzahl von voneinander unterschiedlichen HF-Signalfrequenzen entspricht.
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Figurenliste
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- 1 stellt eine gewöhnliche Testumgebung zum Testen eines leitfähigen HF-Signals dar.
- 2 stellt eine Testumgebung zum Testen eines leitfähigen HF-Signals gemäß Ausführungsformbeispielen dar.
- 3 stellt die Konstruktion und die Verwendung von Signaldatenfiltern gemäß Ausführungsformbeispielen dar.
- 4 stellt einen Vergleich von empirischen Testdaten unter Verwendung einer herkömmlichen OSL-Technik und einer Technik gemäß Ausführungsformbeispielen dar.
- 5 stellt eine Testumgebung zum Testen leitfähiger HF-Signale gemäß Ausführungsformbeispielen dar.
- 6 stellt einen Vergleich von empirischen Testdaten unter Verwendung eines herkömmlichen HF-Leistungsmessers und eines SMA-Koaxialverbinders als HF-Sonde gemäß Ausführungsformbeispielen dar.
- 7 stellt eine Zeitbeziehung zwischen entsprechenden einfallenden und reflektierten HF-Signalen dar.
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AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
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Die folgende ausführliche Beschreibung behandelt Ausführungsformbeispiele der vorliegend beanspruchten Erfindung mit Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen. Eine solche Beschreibung soll veranschaulichend und nicht einschränkend in Bezug auf den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung sein. Solche Ausführungsformen werden ausreichend im Detail beschrieben, um es einem Durchschnittsfachmann zu ermöglichen, die vorliegende Erfindung umzusetzen, und es versteht sich, dass andere Ausführungsformen mit einigen Variationen umgesetzt werden können, ohne vom Geist oder Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen.
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In der gesamten vorliegenden Offenbarung versteht sich, wenn keine klare Angabe des Gegenteils aus dem Kontext vorhanden ist, dass einzelne Schaltungselemente wie beschrieben einzahlig oder mehrzahlig in der Anzahl sein können. Zum Beispiel können die Begriffe „Schaltung“ und „Schaltlogik“ entweder eine einzelne Komponente oder eine Vielzahl von Komponenten einschließen, die entweder aktiv und/oder passiv sind und miteinander verbunden oder anderweitig gekoppelt sind (z. B. als ein oder mehrere integrierte Schaltungschips), um die beschriebene Funktion bereitzustellen. Zusätzlich kann sich der Begriff „Signal“ auf einen oder mehrere Ströme, eine oder mehrere Spannungen oder ein Datensignal beziehen. Innerhalb der Zeichnungen weisen ähnliche oder verwandte Elemente ähnliche oder verwandte Alpha-, numerische oder alphanumerische Bezugszeichen. Obwohl die vorliegende Erfindung im Kontext mit Implementierungen unter Verwendung diskreter elektronischer Schaltlogik (vorzugsweise in Form eines oder mehrerer integrierter Schaltungschips) erörtert wurde, können die Funktionen eines beliebigen Teils einer solchen Schaltlogik alternativ unter Verwendung eines oder mehrerer geeigneter programmierter Prozessoren implementiert werden, abhängig von den zu verarbeitenden Signalfrequenzen oder Datenraten. Darüber hinaus, in dem Umfang, in dem die Figuren Diagramme der Funktionsblöcke verschiedener Ausführungsformen veranschaulichen, geben die Funktionsblöcke nicht unbedingt die Unterteilung zwischen Hardware-Schaltlogik an.
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Unter Bezugnahme auf 1 schließt eine gewöhnliche Testumgebung 10a zum Testen des leitfähige HF-Signals einen Tester 12 (z. B. eine Kombination aus VSG und VSA oder einen Vektor-Transceiver) und einen leitfähigen HF-Testsignalpfad 14 ein, um mit dem DUT 16 verbunden zu werden. Der Signalpfad 14 kann ein(e) oder mehrere HF-Kabel und Fassung(en) 15a einschließen, die über einen HF-Verbinder 15b mit dem Tester 12 und mit dem DUT 16 über einen anderen HF-Verbinder 15c verbunden sind. Um den DUT 16 präzise zu testen, muss der HF-Signalverlust des Signalpfads 14 bestimmt werden, um präzise Messungen von Signalen zu ermöglichen, die durch und von dem DUT 16 empfangen werden. Derzeit überwiegen hierfür drei Techniken.
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Ein Verfahren schließt die Verwendung einer HF-Signalquelle (z. B. des Testers 12) ein, die über den HF-Signalpfad 14 mit einem Leistungsmesser (nicht gezeigt) verbunden ist, anstelle des DUT 16, um eine absolute Leistungsdifferenz zwischen dem, was der Leistungsmesser empfängt, und der bekannten Signalleistung von der Quelle zu messen. Dies erfordert jedoch eine hohe Präzision der gemessenen Differenz zwischen Quelle und dem Leistungsmesser sowie das Neukonfigurieren der DUT-Testanordnung, um die Signalquelle und den Leistungsmesser über den Signalpfad 14 zu verbinden.
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Ein zweites Verfahren schließt die Verwendung eines Zweiport-Vektor-Netzwerkanalysators (VNA, nicht gezeigt) anstelle des Testers 12 mit zwei Ports an jeder Verbindung 15b, 15c mit dem HF-Signalpfad 14 ein, um den Einführungsverlust (oft als S21 in S-Parameterbegriffen bezeichnet) direkter zu messen. Dies erfordert also eine kostenaufwändigere Testausrüstung, z. B. einen VNA, sowie das Neukonfigurieren der DUT-Testanordnung, um sich mit dem VNA zu verbinden.
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Ein drittes Verfahren schließt die Verwendung des Testers 12 an einer Verbindung 15b zum HF-Signalpfad 14 und Verwendungen einer Verbindung zum offenen Stromkreis (OPEN), eines Kurzschlussschaltungsverbindung (SHORT) und einer Lastverbindung (LOAD) mit der angemessenen charakteristischen Impedanz des HF-Systems ein, das jedes Mal an der anderen Verbindung 15c getestet wird (z. B. 50 Ohm Widerstand), um Messungen des Rückverlusts für jede Anschlussverbindung (OPEN, SHORT und LOAD) zu ermöglichen. Alle drei gemessenen Ergebnisse können dann verwendet werden, um den Pfadverlust zu berechnen. Dies hat den Effekt, dass die normale DUT-Testanordnung als ein emulierter Vektornetzwerkanalysator (VNA) effektiv verwendet wird, um den Rückverlust (S-Parameter S11) zu messen. Moderne VSA/VSG-Systeme können eine solche Messung auch durchführen, wenn sie einen gleichzeitigen VSG/VSA-Betrieb unterstützen und eine angemessene Verarbeitung der übertragenen und empfangenen Signale durchführen. Obschon dieses Verfahren das Beibehalten der DUT-Testanordnung ermöglichen kann, erfordert es weiterhin spezielle Verbinder für OPEN-, SHORT- und LOAD-Messungen sowie drei Vorgänge, um zwischen diesen drei speziellen Verbindern umzuschalten. (Dies wird oft als OSL-Verfahren bezeichnet.)
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Die Nachteile dieser Verfahren können unter Verwendung von Systemen und Verfahren von derzeit offenbarten Ausführungsformbeispielen vermieden werden. Wie nachstehend in näherem Detail erörtert, verbindet sich ein Vektor-Transceiver (z. B. ein Tester 12) mit dem Eingang 15b des HF-Signalpfads 14 und ein OPEN verbindet sich mit dem Ausgang 15c. Vorteile schließen das Beibehalten der DUT-Testanordnung und das Vermeiden zusätzlicher oder unterschiedlicher Testausrüstung ein, wodurch Betriebszeit und Kosten eingespart werden. Ferner sollte, obschon ein spezieller OPEN-Verbinder hilfreich sein kann, dieser nicht notwendig sein, da stattdessen einfach die Ausgangsverbindung 15c des HF-Signalpfads 14 anschlusslos belassen werden kann und dadurch als OPEN dient. In den meisten automatisierten Testanordnungen kann eine HF-Signalsonde am Ende des Kabels verwendet werden, die, wenn anschlusslos, als OPEN-Verbindung dienen kann, wenn sie z. B. nicht mit einer Last wie einem DUT verbunden ist.
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Unter Bezugnahme auf 2 schließt eine Testumgebung 10b zum Testen des leitfähigen HF-Signals gemäß Ausführungsformbeispielen den Tester 12 (z. B. Vektorsignal-Transceiver) und den leitfähigen HF-Testsignalpfad 14 ein, der ein(e) oder mehrere HF-Kabel und Fassung(en) 15a einschließt, die mit dem Tester 12 über einen HF-Eingangsverbinder 15b und einen HF-Ausgangsverbinder 15c verbunden sind. Wenn jedoch auf Pfadverluste getestet wird, kann der HF-Ausgangsverbinder 15c anschlusslos bleiben, um eine OPEN-Verbindung 15 cc bereitzustellen.
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Als optionale anfängliche Prozedur kann eine Information über die verwendete(n) Testhardware-Konfiguration(en) erstellt oder anderweitig bestimmt werden. Zum Beispiel können solche Informationen Details über den HF-Signalpfad 14 einschließen, wie die Anzahl von miteinander verbundenen Kabeln, die Länge jedes Kabels, wie viele Verbinder vor Ort sind usw. Wie angegeben, ist, anstatt den Ausgangsverbinder 15c mit dem DUT 16 zu verbinden, entweder ein HF-OPEN-Verbinder verbunden oder der Ausgangsverbinder 15c wird unverbunden belassen (d. h. anschlusslos)
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Ein Bereich von zu messenden HF-Testsignalfrequenzen (z. B. mit entsprechenden Frequenzmargen) kann basierend auf beabsichtigten oder erwarteten DUT-Vorgängen ausgewählt oder definiert werden. Der Vektorsignal-Transceiver-Tester kann programmiert oder anderweitig gesteuert werden, um mit seinem Sender einen einzelnen DC-Ton bei der Basisbandfrequenz für jede der HF-Testsignalfrequenzen bereitzustellen (z. B. zu erzeugen und zu emittieren) und seinem Empfänger ermöglichen, ein entsprechendes Rücksignal für jede der HF-Testsignalfrequenzen zu erfassen. Erfasste I/Q-Signalabtastwerte können über die Zeiterfassung gemittelt werden, um eine einzelne komplexe Anzahl zu berechnen. Das Iterieren dieser Schritte des Übertragens von einfallenden Signalen und Erfassen reflektierter Signale über Abschnitte oder den gesamten definierten Bereich von Frequenzen kann die Berechnung eines Arrays komplexer Zahlen ermöglichen, von denen jede einer jeweiligen der definierten Frequenzen entspricht. Ein solches komplexes numerisches Array kann gemäß bekannten Prinzipien verarbeitet werden, um einen Pfadverlust für jede zu messende Frequenz zu berechnen.
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Unter Bezugnahme auf 3 kann diese Verarbeitung 20 Schritte einschließen, durch die Rücksignaldaten 21 verarbeitet 22 werden können, um Zeit- oder Abstandsinformationen 23 (nachstehend ausführlicher erörtert) zur Verwendung beim Ausgestalten eines Filters 24 zu extrahieren, dessen Eigenschaften 25 zum Filtern 26 der Rücksignaldaten 21 verwendet werden können. Die gefilterten Rücksignaldaten 27 können gemittelt werden, um den absoluten Pfadverlust 29 für die zu testende Frequenz zu berechnen 28. Eine solche Verarbeitung 20 kann aus der Perspektive entweder einer Abstandsdomäne oder Frequenzdomäne strukturiert oder angewendet werden, um dem gleichen Zweck effektiv zu dienen, z. B. durch Verarbeiten, Filtern und Mitteln von gemessenen Signaldaten, die dabei als Abständen (z. B. durch die einfallenden und/oder reflektierten Signalimpulse durchquert) oder Frequenzen (z. B. der einfallenden und/oder reflektierten Signale) entsprechend verarbeitet werden.
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Unter Bezugnahme auf 4 zeigen ein lineares Diagramm von empirischen Testergebnissen von gemessenen Pfadverlusten über einen Frequenzbereich von unter 1 GHz bis mehr als 5GHz unter Verwendung eines herkömmlichen OSL-Verfahrens und eines Verfahrens gemäß Ausführungsformbeispielen, wie vorstehend erörtert, wie eng die hierin erörterten vorteilhaften Techniken Testergebnisse produzieren, die solche herkömmlichen OSL-Techniken eng nachverfolgen.
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Wie vorstehend angegeben, können herkömmliche Pfadverlustmessungs- und Kompensationstechniken dabei versagen, sehr viel weniger Kompensation für zusätzliche(n) Signalverlust(e) an der HF-Sonde zu berücksichtigen, die mit dem DUT verbunden ist, wodurch effektiv angenommen wird, dass eine perfekte Anpassung zwischen der HF-Sonde und dem HF-Verbinder auf dem DUT vorliegt. Da jedoch das erfolgreiche Verbinden der HF-Sonde mit dem DUT hauptsächlich auf einem mechanischen Betrieb beruht und durch Anlegen angemessener physischer Kräfte gesteuert wird. Bald nach Herstellen oder Entfernen mehrerer Verbindungen verursachen dementsprechend zugehörige Veränderungen der Oberflächenabnutzungen und der Anlegekräfte Beeinträchtigungen bei der Anpassung zwischen der HF-Sonde und dem DUT-Verbinder. Dies führt zu weiteren Leistungsverlusten im Signalpfad, die wie vorstehend erörtert nicht durch Pfadverlustmessungen allein erkannt oder kompensiert werden. Solche zusätzlichen Leistungsverluste, die durch solche HF-Sondenverbinderfehlanpassungen verursacht werden, können zu einer höheren Rate des erneuten Testens von DUTs führen, was wiederum zusätzliche Instanzen von DUT-Verbindungen erfordert und zu reduzierten Fertigungsertragsraten führen kann.
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Unter Bezugnahme auf 5 schließt eine Testumgebung 40 zum Erkennen und Ermöglichen einer Kompensation für die HF-Sonde, die beim Durchführen von dem Test des leitfähigen HF-Signals gemäß Ausführungsformbeispielen fehlangepasst wurde, einen Tester 42 (z. B. Kombination aus VSG/VSA oder Vektorsignal-Transceiver) und einen leitfähigen HF-Testsignalpfad 44 ein, um die Verbindung mit dem DUT 16 zu ermöglichen. Der Signalpfad 44 kann ein(e) oder mehrere HF-Kabel und Fassung(en) 45a einschließen, die über einen HF-Verbinder 45b mit dem Tester 42 und über eine HF-Sondenanordnung 45c mit dem DUT 16 verbunden sind. Die Verbindung mit dem DUT 16 wird über einen HF-Eingangssondenverbinder 45cb, die HF-Sonde 45ca und einen HF-Ausgangssondenverbinder 45 cc abgeschlossen, der wiederum mit einem HF-Verbinder 17 des DUT 16 verbunden ist.
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Wie nachstehend ausführlicher erörtert, kann in Übereinstimmung mit Ausführungsformbeispielen die Kompensation für den Leistungsverlust von HF-Sondenfehlanpassungen beim Testen von leitfähigen HF-Signalen bereitgestellt werden, indem das Rücksignal gemessen wird, um das Reflexionssignal zu schätzen, das durch die HF-Sondenfehlanpassungen verursacht wird, und wiederum eine solche Reflexion als einen zusätzlichen Signalpfadleistungsverlust berücksichtigen. Vorteile schließen ein Beibehalten der DUT-Testkonfiguration ein, da ein zusätzlicher Leistungsverlust gemessen werden kann, wobei die DUT in ihrer gewünschten Testkonfiguration verbleibt. Die volle Steuerung kann durch den Tester zurückgehalten werden, da die DUT-Steueraktion nicht notwendig ist. Die Kompensation für einen solchen zusätzlichen Leistungsverlust kann nach jeder DUT-Einführung in die Testkonfiguration bereitgestellt werden, wodurch die Präzision des DUT-HF-Tests erhöht wird.
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Dieser Prozess kann durchgeführt werden, indem zuerst der DUT mit der HF-Sonde verbunden wird. Dies kann vor, gefolgt von oder gleichzeitig mit der Definition spezifischer Frequenzen, bei denen Messungen durchzuführen sind, erfolgen. Der Vektor-Transceiver-Tester kann einen einzelnen DC-Ton mit der Basisbandsignalfrequenz übertragen, während jegliche resultierenden Reflexionen solcher einfallender Signalübertragungen von dem Empfänger des Testers erfasst werden können. Ein Durchschnitt der Zeit der erfassten I/Q-Abtastwerte kann berechnet werden, um eine einzelne komplexe Anzahl bereitzustellen. Solche einfallenden Signalübertragungen, reflektierten Signalerfassungen und gemittelte Berechnungen können über den definierten Frequenzbereich iteriert werden. Schließlich können die berechneten komplexen Zahlen verarbeitet werden, um das Reflexionssignal zu bestimmen, das durch HF-Sondenfehlanpassungen verursacht wird.
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Diese Verarbeitung der berechneten komplexen Zahlen zum Bestimmen des Reflexionssignals, das durch HF-Sondenfehlanpassungen verursacht wird, kann in Verbindung mit HF-Signalpfadverlustdaten durchgeführt werden, die zuvor mit dem vorstehend erörterten herkömmlichen OSL-Verfahren bestimmt wurden. Dies ermöglicht das Entfernen von HF-Signalpfadeffekten der ursprünglichen Testkonfiguration, wobei jede(r) verbleibende(n) Verlust(e) Reflexionssignale zugeschrieben wird/werden, die durch HF-Sondenfehlanpassungen verursacht und kompensiert werden. Alternativ kann eine solche Verarbeitung in Verbindung mit HF-Signalpfadverlustdaten durchgeführt werden, die unter Verwendung der vorstehend erörterten Technik bestimmt werden, bei der eine OPEN(z. B. anschlusslose)-HF-Signalpfadendverbindung mit einem Vektor-Transceiver-Tester verwendet wird, um die Reflexionssignale von der HF-Sonde zu extrahieren, die durch Anpassungsprobleme verursacht werden. Wenn das Reflexionssignal einen vorbestimmten Schwellenwert überschreitet oder anderweitig durchquert, kann der Test abgebrochen werden, um das Beheben oder anderes Auflösen solcher Probleme zu ermöglichen. Andernfalls kann die Kompensation des hinzugefügten Leistungsverlusts durch den Tester angewendet werden, während die DUT-HF-Tests fortgesetzt werden.
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Unter Bezugnahme auf 6 zeigt ein lineares Diagramm von empirischen Testergebnissen von gemessenen Pfadverlusten aufgrund von HF-Sondenreflexionen über einen Frequenzbereich von unter 1 GHz bis nahezu 6 GHz unter Verwendung eines herkömmlichen Leistungsmesserverfahrens und eines Verfahrens gemäß Ausführungsformbeispielen, wie vorstehend erörtert, wie eng die hierin erörterten vorteilhaften Techniken Testergebnisse produzieren, die solche herkömmlichen Leistungsmessertechniken eng nachverfolgen.
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Unter Bezugnahme auf 7 können diese Vorgänge aus der Perspektive von Zeit- oder Abstandsdomänen durchgeführt werden. Wie hier dargestellt, kann, wie ein Durchschnittsfachmann ohne Weiteres zu schätzen weiß, eine Wechselbeziehung zwischen Verarbeitung in der Zeit- und Abstandsdomäne leichter in Anbetracht der Tatsache verständlich sein, dass der reflektierte Signalimpuls von dem Empfänger des Testers nach einer Zeitverzögerung ΔT erfasst werden wird, die bekanntermaßen mit dem Abstand in Verbindung steht, über den der reflektierte Signalimpuls nach der Übertragung des einfallenden Signalimpulses gehen muss.
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Verschiedene andere Modifikationen und Alternativen in der Struktur und dem Verfahren des Betriebs dieser Erfindung sind für den Fachmann offensichtlich, ohne vom Schutzumfang und dem Geist der Erfindung abzuweichen. Obwohl die Erfindung in Verbindung mit spezifischen bevorzugten Ausführungsformen beschrieben wurde, versteht es sich, dass die Erfindung, wie beansprucht, nicht übermäßig auf solche spezifischen Ausführungsformen zu beschränken ist. Es ist beabsichtigt, dass die folgenden Ansprüche den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung definieren und dass Strukturen und Verfahren innerhalb des Schutzumfangs dieser Ansprüche und deren Äquivalente dadurch abgedeckt werden.
