CN111092652B - 一种光器件的性能检测系统及其测试方法 - Google Patents
一种光器件的性能检测系统及其测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111092652B CN111092652B CN201911179625.8A CN201911179625A CN111092652B CN 111092652 B CN111092652 B CN 111092652B CN 201911179625 A CN201911179625 A CN 201911179625A CN 111092652 B CN111092652 B CN 111092652B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical
- channel
- input
- control unit
- max
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
- H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
- H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
- H04B10/07955—Monitoring or measuring power
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本发明涉及光通信技术领域,具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于:包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11。本发明通过集成了光源功能,光功率计功能以及光路切换功能,使其可以通过上位机直接控制与读取光源,光功率,光通道,因而待测器件只需要连接一次,提升了效率并降低了测试误差,能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗,缩短测试时间。
Description
技术领域
本发明涉及光通信技术领域,具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。
背景技术
伴随着科技的飞速进步,光通信成为了主流的通信方式,光连接器、光耦合器、光复用器、光开关等各种光器已经成为此领域中必不可少的部分。然而每个光器件之间,同一个光器件不同通道之间,都存在差异性,所以通道的插入损耗和通道一致性的指标已经成为每个光器件的重要指标。为增加光通信的可靠性和准确度,在光器件的出厂时,须进行性能测试。若为单通道器件,需进行插入损耗测试;若为多通道器件,需进行通道一致性测试。而由于光器件所工作的波长的多样性、检测过程的繁杂性,导致检测过程中精度和效率低下。
常规光器件性能测试过程一般需用到多波长光源和功率计,首先用光源接入光功率计,测出基准光功率,然后用光源接光器件的一个输入端,功率计接光器件一个的输出端,测一组数据与基准光功率比较,然后再拔掉光器件的输入和输出,接上另外一个通道,继续测量。如果有波长一致性指标,还需要调节光源的波长并重复上述过程。
针对现在的测量方法,目前存在的缺陷有:(1)需要多次拔插,容易造成光功率计和光源的探测传感器变脏,造成测量一致性低;(2)测量时间较长,人工成本较高;(3)若待测器件为多通道器件,其通道一致性和波长一致性指标将会耗费更多的时间和人工。
发明内容
本发明为了能够很好地克服现有技术中,测量过程繁琐、测量数据可靠性较低的问题,提出了一种新型的光器件的性能检测系统及测试方法,其具体方法为;
一种光器件的性能检测系统,其特征在于:包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11;所述光模块1的光源输出端与所述一入多出的光开关2的输入端熔接,所述一入多出光开关2的输出端与待测器件12的输入端相连,所述待测器件12的输出端与所述多入一出的光开关3相连,所述多入一出的光开关3的输出端与所述功率探测模块4熔接,所述微控单元MCU5的一路通过所述光模块控制电路9控制所述光模块1,所述微控单元MCU5的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2,所述微控单元MCU5的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3,所述微控单元MCU5的另一路通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4探测到的光功率值,所述微控单元MCU5的另一路通过所述串口6与所述PC上位机8连接。
一种基于所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:包括了
第一步:
将所述待测器件12所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关2的输出端口,再将所述待测器件12所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口;
第二步:
通过所述PC上位机8上的按钮,控制光开关2的通道切换,使得所述光模块1的光功率输出到所述功率探测模块4的对应通道上;
第三步:
所述PC上位机8通过所述串口6往所述微控单元MCU5下发指令;
第四步:
所述微控单元MCU5通过所述光模块控制电路9,控制打开所述光模块1,并输出指定波长和功率的光;
第五步:
所述微控单元MCU5通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2,切换到A通道;
第六步:
所述微控单元MCU5通过所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3,切换到A通道;
第七步:
所述微控单元MCU5通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4测得的光功率值Pin_A_A;
第八步:
所述微控单元MCU5通过所述串口6将待测器件的通道插损值PnIL上传给所述PC上位机8显示;
第九步:
通过操作所述PC上位机8改变光路通道为B通道,测试出光模块1经过所述待测器件12之后的所有通道的功率值Pin_B_B,再使用公式
P1IL=Pin_A_A-Pin_B_B
P1IL为通道的插损值,Pin_A_A为A通道的探测功率值,Pin_B_B为B通道的探测功率值;并循环步骤1至步骤8,从而测试出该器件所有通道的插损值PnIL,其中n为通道数,PnIL即为待测器件的所有通道插损值。
进一步的所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:当待测器件12为多通道时,通过操作所述PC上位机8改变光路通道,依次对通道进行选择切换,并循环步骤1至步骤8,多次测量,记录数据,再使用公式
PMAx_IL=Pin_max-Pin_min
PMAX_IL为待测器件的通道插损一致性值,Pin_max为所有通道的插损值PnIL的最大值,Pin_min为所有通道的插损值PnIL的最小值;
得出所述待测器件12的插损值PnIL与通道一致性PMAX_IL;
所述微控单元MCU5通过所述串口6将待测器件的通道一致性PMAX_IL上传给所述PC上位机8显示。
进一步的所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:通过操作所述PC上位机8改变切换不同的波长,并循环步骤1至步骤8,依次对波长进行选择切换,记录数据,并通过公式:
PMAx_WDL=Pin_wdl_max-Pin_wdl_min
PMAX_WDL为不同波长的插损值,Pin_wdl_max为P1IL不同波长中通道插损的最大值,Pin_wdl_min为P1IL不同波长中通道插损的最小值;
得出所述待测器件12的波长一致性PMAX_WDL;
所述微控单元MCU5通过所述串口6将待测器件的通道一致性PMAX_WDL上传给所述PC上位机8显示。
本发明的有益效果在于,本发明所述的一种光器件的性能检测系统及测试方法,其所有待测光器件一次便可全部接入系统,测试人员通过使用上位机逐步进行波长切换,通道选择和数据读取记录,使得整个测试过程只需要60s便可完成。大大的简化了测试的过程降低人工成本,减少插拔次数可以有效提高数据的可靠性。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细的说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
图1为;一种光器件的结构示意图
图2为;一种光器件测试过程的流程图
附图标记说明:
1、光模块;2、一入多出的光开关;3、多入一出的光开关;4、功率探测模块;5、微控单元MCU;6、串口;7、模拟电压采集电路;8、PC上位机;9、光模块控制电路;10、一入多出逻辑门控制电路;11、多入一出逻辑门控制电路;12、待测器件。
具体实施方式
本发明提出的一种新型的光器件的性能检测系统及测试方法,由光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路99、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11、待测器件12组成。
本发明结构如图1所示,光模块1的光源输出与一入多出的光开关2的输入端熔接,待测器件12的输入端与一入多出光开关2的输出相连,再将待测器件12的输出与多入一出的光开关3相连,多入一出的光开关3的输出端与功率探测模块4熔接。微控单元MCU5的一路通过光模块控制电路9,控制打开光模块1,并输出指定波长和功率的光。微控单元MCU5的另一路通过一入多出逻辑门控制电路10控制一入多出光开关2,切换到A通道。微控单元MCU5的另一路通过多入一出逻辑门控制电路11控制多入一出光开关3,切换到A通道。微控单元MCU5的另一路通过模拟电压采集电路7采集并记录功率探测模块4探测到的光功率值。微控单元MCU5的另一路通过串口6将数据上传给PC上位机8显示,同时PC上位机8也可以通过串口6往微控单元MCU5下发指令。
光模块1采用高精度波长和功率可调的光模块(Tunable Laser)采用了Inp芯片,并集成了可调制的光栅Y分支(MG-Y)激光器和半导体放大器(SOA)。MG-Y激光器是一种可电子调谐的器件,能够发出C波段中的任何波长的光;SOA的作用是将激光器发出的光进行放大,并能够灵活的控制输出功率;Inp芯片主要用来控制以及信息采集传输。
一入多出的光开关2、多入一出的光开关3,是一种具有可通过外部控制来实现光传输通道切换的光学器件。本发明采用的是微电子(MEMS)型的光开关,可通过PC上位机8控制微型电磁铁和压电器件改变内部微型反射镜的转动,从而来实现光传输通道的切换。
功率探测模块4采用高精度的功率探测模块,其是以三元系材料InxGa1-xAs为核心的光电探测器,该器件是一种是将光电探测器检测到光功率转换为光电流的光电器件。
本系统的测量方法流程为:
第一步:
将待测器件12的所有输入的光纤连接器插入一入多出的光开关2的的输出端口,再将所有待测器件12的所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口;
第二步:
通过PC上位机8上的按钮,控制光开关2的通道切换,使得所述光模块1的光功率输出到所述功率探测模块4的对应通道上;
第三步:
PC上位机8通过串口6往微控单元MCU5下发指令;
第四步:
微控单元MCU5通过光模块控制电路9,控制打开光模块1,并输出指定波长和功率的光;
第五步:
微控单元MCU5通过一入多出逻辑门控制电路10控制一入多出光开关2,切换到A通道;
第六步:
微控单元MCU5通过多入一出逻辑门控制电路11控制多入一出光开关3,切换到A通道;
第七步:
微控单元MCU5通过模拟电压采集电路7采集并记录光功率值Pin_A_A;
第八步:
微控单元MCU5通过串口6将待测器件的通道插损值PnIL上传给PC上位机8显示;
第九步:
通过操作PC上位机8改变光路通道,测试出光模块1经过待测器件12之后的所有通道的功率值Pin_B_B,再使用公式
P1IL=Pin_A_A-Pin_B_B
P1IL为通道的插损值,Pin_A_A为A通道的探测功率值,Pin_B_B为B通道的探测功率值;
并循环步骤1至步骤8,从而测试出该器件所有通道的插损值PnIL,其中n为通道数,PnIL即为待测器件的所有通道插损值。
进一步的,多通道的光器件,通过操作PC上位机8改变光路通道,依次对通道进行选择切换,并循环步骤1至步骤8,多次测量,记录数据,再使用公式
PMAX_IL=Pin_max-Pin_min
PMAX_IL为待测器件的通道插损一致性值,Pin_max为所有通道的插损值PnIL中的最大值,Pin_min为所有通道的插损值PnIL中的最小值;
得出待测器件12的插损值PnIL与通道一致性PMAX_IL;微控单元MCU5通过串口6将待测器件的通道一致性PMAX_IL上传给PC上位机8显示。
进一步的,改变切换不同的波长,并循环步骤1至步骤8,依次对波长进行选择切换,记录数据,并通过公式:
PMAX_WDL=Pin_wdl_max-Pin_wdl_min
PMAX_WDL为不同波长的插损值,Pin_wdl_max为P1IL不同波长中通道插损的最大值,Pin_wdl_min为P1IL不同波长中通道插损的最小值;
得出所述待测器件12的波长一致性PMAX_WDL;
所述微控单元MCU5通过所述串口6将待测器件的通道一致性PMAX_WDL上传给所述PC上位机8显示。
下面通过具体实施例进一步的说明本发明。
本实施例中,我们将一个1入3出的分束器作为待测原件,对其进行波长一致性,通道插损以及通道一致性进行测量。光模块1采用的是OCARO公司生产的可调谐激光器。一入多出的光开关2及一出光开关3均采用JDSU生产的MEMS型光开关,功率探测模块采用的是北京敏光的InGAs型光电探测器。
将所有部件按图1所示的结构安装好后,将1入3出的分束器的入端接入一入多出光开关2的B端口;再将1入3出的分束器的输出端接入多入一出光开关3的B,C,D端口。
在通过PC上位机8中的程序选择A-A通道、B-B通道、B-C通道、B-D通道,波长选择C34、C46、C16;
点击PC上位机8开始测量;
PC上位机通过串口6下发指令,给微控单元MCU5;
微控单元MCU5通过光模块控制电路9控制光模块1分别输出C34,C46,C16波长的光;
微控单元MCU5通过一入多出逻辑门控制电路10控制一入多出光开关分别切换通道A和通道B;
微控单元MCU5通过多入一出逻辑门控制电路11控制多入一出光开关分别切换通道A、通道B、通道C、通道D;
微控单元MCU通过模拟电压采集电路9采集功率探测模块4检测到的功率。
微控单元MCU5再对数据进行分类处理,得出
Pin_A_A(C34),Pin_A_A(C46),Pin_A_A(C16),Pin_B_B(C34),Pin_B_B(C46),Pin_B_B(C16),Pin_B_C(C34),Pin_B_C(C46),Pin_B_C(C16),Pin_B_D(C34),Pin_B_D(C46),Pin_B_D(C16)
12组数据如下表;
光源波长 | P<sub>in_A_A</sub> | P<sub>in_B_B</sub> | P<sub>in_B_C</sub> | P<sub>in_B_D</sub> |
C46 | 10.51dBm | 5.71dBm | 5.69dBm | 5.64dBm |
C34 | 10.51dBm | 5.70dBm | 5.68dBm | 5.62dBm |
C16 | 10.51dBm | 5.75dBm | 5.70dBm | 5.69dBm |
微控单元5并自动计算出
插入损耗:
PBIL=Pin_A_A(C34)-Pin_B_B(C34)=4.81dB
PCIL=Pin_A_A(C34)-Pin_B_C(C34)=4.83dB
PDIL=Pin_A_A(C34)-Pin_B_D(C34)=4.89dB
波长一致性:
PMAX_IL=Pin_B_D(C16)-Pin_B_D(C46)=0.05dB
通道一致性:
PMAX_IL=Pin_B_B(C34)-Pin_B_D(C34)=0.08dB
以上测量,待测光器件在初次接入系统,测试人员通过上位机逐步进行波长切换,通道选择和数据读取记录,整个过程只需要60s。
本发明通过集成了光源功能,光功率计功能以及光路切换功能,使其可以通过上位机直接控制与读取光源,光功率,光通道,因而待测器件只需要连接一次,提升了效率并降低了测试误差,能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗,缩短测试时间。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本领域技术的技术人员在本实用新型公开的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (4)
1.一种光器件的性能检测系统,其特征在于:包括了光模块(1)、一入多出的光开关(2)、多入一出的光开关(3)、功率探测模块(4)、微控单元MCU(5)、串口(6)、模拟电压采集电路(7)、PC上位机(8)、光模块控制电路(9)、一入多出逻辑门控制电路(10)、多入一出逻辑门控制电路(11);所述光模块(1)的光源输出端与所述一入多出的光开关(2)的输入端熔接,所述一入多出光开关(2)的输出端与待测器件(12)的输入端相连,所述待测器件(12)的输出端与所述多入一出的光开关(3)相连,所述多入一出的光开关(3)的输出端与所述功率探测模块(4)熔接,所述微控单元MCU(5)的一路通过所述光模块控制电路(9)控制所述光模块(1),所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2),所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3),所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)探测到的光功率值,所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述串口(6)与所述PC上位机(8)连接。
2.一种基于权利要求1所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:包括了
第一步:
将所述待测器件(12)所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关(2)的输出端口,再将所述待测器件(12)所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关(3)的输入接口;
第二步:
通过所述PC上位机(8)上的按钮,控制光开关(2)的通道切换,使得所述光模块(1)的光功率输出到所述功率探测模块(4)的对应通道上;
第三步:
所述PC上位机(8)通过所述串口(6)往所述微控单元MCU(5)下发指令;
第四步:
所述微控单元MCU(5)通过所述光模块控制电路(9),控制打开所述光模块(1),并输出指定波长和功率的光;
第五步:
所述微控单元MCU(5)通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2),切换到A通道;
第六步:
所述微控单元MCU(5)通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3),切换到A通道;
第七步:
所述微控单元MCU(5)通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)测得的光功率值Pin_A_A;
第八步:
所述微控单元MCU(5)通过所述串口(6)将待测器件的通道插损值PnIL上传给所述PC上位机(8)显示;
第九步:
通过操作所述PC上位机(8)改变光路通道为B通道,测试出光模块(1)经过所述待测器件(12)之后的所有通道的功率值Pin_B_B,再使用公式
P1IL=Pin_A_A-Pin_B_B
P1IL为通道的插损值,Pin_A_A为A通道的探测功率值,Pin_B_B为B通道的探测功率值;
并循环步骤1至步骤8,从而测试出该器件所有通道的插损值PnIL,其中n为通道数,PnIL即为待测器件的所有通道插损值。
3.根据权利要求2所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:当待测器件(12)为多通道时,通过操作所述PC上位机(8)改变光路通道,依次对通道进行选择切换,并循环步骤1至步骤8,多次测量,记录数据,再使用公式
PMAX_IL=Pin_max-Pin_min
PMAX_IL为待测器件的通道插损一致性值,Pin_max为所有通道的插损值PnIL中的最大值,Pin_min为所有通道的插损值PnIL中的最小值;
得出所述待测器件(12)的插损值PnIL与通道一致性PMAX_IL;
所述微控单元MCU(5)通过所述串口(6)将待测器件的通道一致性PMAX_IL上传给所述PC上位机(8)显示。
4.根据权利要求2或3所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法,其特征在于:通过操作所述PC上位机(8)改变切换不同的波长,并循环步骤1至步骤8,依次对波长进行选择切换,记录数据,并通过公式:
PMAX_WDL=Pin_wdl_max-Pin_wdl_min
PMAX_WDL为不同波长的插损值,Pin_wdl_max为P1IL不同波长中通道插损的最大值,Pin_wdl_min为P1IL不同波长中通道插损的最小值;
得出所述待测器件(12)的波长一致性PMAX_WDL;
所述微控单元MCU(5)通过所述串口(6)将待测器件的通道一致性PMAX_WDL上传给所述PC上位机(8)显示。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911179625.8A CN111092652B (zh) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | 一种光器件的性能检测系统及其测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911179625.8A CN111092652B (zh) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | 一种光器件的性能检测系统及其测试方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111092652A CN111092652A (zh) | 2020-05-01 |
CN111092652B true CN111092652B (zh) | 2022-07-15 |
Family
ID=70394145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911179625.8A Active CN111092652B (zh) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | 一种光器件的性能检测系统及其测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111092652B (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113381807B (zh) * | 2021-05-13 | 2022-09-09 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种光模块性能检测设备、方法及系统 |
CN113329278B (zh) * | 2021-05-24 | 2022-07-05 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种光源通道切换模块、功率调节装置及功率定标方法 |
CN113504462B (zh) * | 2021-09-09 | 2021-12-07 | 南京光智元科技有限公司 | 测试装置及测试方法 |
CN116203288B (zh) * | 2023-02-13 | 2024-01-12 | 成都光创联科技有限公司 | 光器件静态性能的测试装置和测试方法 |
CN116429381B (zh) * | 2023-06-02 | 2023-08-18 | 成都光创联科技有限公司 | 多端口复合光路器件的光路检测装置及装配方法 |
CN117375710B (zh) * | 2023-12-07 | 2024-02-23 | 成都光创联科技有限公司 | 接收光器件的性能测试方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202978941U (zh) * | 2012-12-06 | 2013-06-05 | 上海光家仪器仪表有限公司 | 多通道光分路器回波损耗测试分析仪 |
CN103438995A (zh) * | 2013-08-13 | 2013-12-11 | 中国电子科技集团公司第二十三研究所 | 多通道光功率自动监测仪及其测试方法 |
CN104333415A (zh) * | 2014-09-26 | 2015-02-04 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种用于测试光模块的多通道自动测试方法及系统 |
CN104506233A (zh) * | 2015-01-08 | 2015-04-08 | 武汉正光恒远科技有限公司 | 一种1xN多通道光开关的轮询测试系统 |
CN107677455A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-02-09 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法 |
CN109347548A (zh) * | 2017-11-13 | 2019-02-15 | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 | 一种光路集成测试平台及基于该平台实现的光通道集成测试方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100472996C (zh) * | 2003-03-07 | 2009-03-25 | 中兴通讯股份有限公司 | 实现光网络节点的动态通道功率均衡控制装置及方法 |
-
2019
- 2019-11-27 CN CN201911179625.8A patent/CN111092652B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202978941U (zh) * | 2012-12-06 | 2013-06-05 | 上海光家仪器仪表有限公司 | 多通道光分路器回波损耗测试分析仪 |
CN103438995A (zh) * | 2013-08-13 | 2013-12-11 | 中国电子科技集团公司第二十三研究所 | 多通道光功率自动监测仪及其测试方法 |
CN104333415A (zh) * | 2014-09-26 | 2015-02-04 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种用于测试光模块的多通道自动测试方法及系统 |
CN104506233A (zh) * | 2015-01-08 | 2015-04-08 | 武汉正光恒远科技有限公司 | 一种1xN多通道光开关的轮询测试系统 |
CN107677455A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-02-09 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法 |
CN109347548A (zh) * | 2017-11-13 | 2019-02-15 | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 | 一种光路集成测试平台及基于该平台实现的光通道集成测试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111092652A (zh) | 2020-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111092652B (zh) | 一种光器件的性能检测系统及其测试方法 | |
CN102201864B (zh) | 一种多通道光器件的损耗测试装置 | |
US11187613B2 (en) | Opto electrical test measurement system for integrated photonic devices and circuits | |
CN105049113B (zh) | 一种有源光模块多通道自动化测试系统及方法 | |
CN101430242B (zh) | 用于对掺铒光纤放大器性能进行自动测试的装置及方法 | |
CN105352598A (zh) | 一种多通道光功率计自动校准系统及方法 | |
CN103647600B (zh) | 一种多通道智能光学测试装置 | |
CN201898510U (zh) | 无源器件损耗分析装置 | |
CN101344454B (zh) | Sld光源自动筛选的系统 | |
CN102075242A (zh) | 无源器件损耗分析装置 | |
CN102192830A (zh) | 一种plc型光分路器测试方法 | |
CN110445538A (zh) | 一种光模块多通道测试系统 | |
CN102594443A (zh) | 光分路器性能测试系统 | |
CN109039445B (zh) | 一种多通道光猫调测试系统及其调测试方法 | |
CN201156736Y (zh) | 光性能检测仪 | |
US20040036857A1 (en) | WDM measurement system | |
CN116067625A (zh) | 一种光谱仪内置光源长时间波长稳定性测试系统及方法 | |
CN202565272U (zh) | 光分路器性能测试系统 | |
CN110838871B (zh) | 一种基于光纤网络的光波测试模块自动校准方法 | |
CN103326773B (zh) | 一种plc平面波导光分路器自动测量装置 | |
KR101089182B1 (ko) | 광파장 파워 측정기 | |
CN111256960A (zh) | 一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法 | |
CN100393015C (zh) | 多波长光源的产生装置及使用其检测光放大器的方法 | |
CN210426954U (zh) | 一种光量子交换机插损测量系统 | |
CN217443591U (zh) | 测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |