CN103152096B - 一种光分路器自动测试仪及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种光分路器自动测试仪及其测试方法，包括多波长光源、光分路器、测试模块、控制器和计算机，所述光分路器的输入端与多波长光源光纤连接，光分路器的输出端与测试模块的输入端光纤连接；所述光分路器上设有带纤夹底座；所述测试模块包括光电探测器、步进电机，所述光电探测器为高速采样光功率计，光电探测器上设有一挡片，该挡片上设有一槽，该槽使得同一时刻仅有光分路器的一个通道的输出光透过；所述计算机与测试模块、控制器、多波长光源设有通讯连接；所述控制器用于控制测试模块。与现有技术相比，本发明的光分路器自动测试系统及测试方法，测试步骤简单，能够大幅提高测试效率和测试精度。
Description
技术领域
本发明涉及一种光分路器测试仪，尤其涉及一种光分路器自动测试仪及其测试方法。
背景技术
随着光纤通信的投资方向由通信干线，城域网等向光纤到户的方向发展，光纤到户的核心光器件光分路器的需求也将不断扩大。光分路器是光纤链路中最重要的无源器件之一，是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件。光分路器按原理可以分为熔融拉锥型(FBT)和平面波导型（PLC）两种。
目前，平面光波导分路器的测试领域中，主流产品为多通道综合测试仪，即通过8个探测器，同时测试8路PLC输出的方式进行PLC测试，该测试方案集成了光源、光开关模块、偏振控制器及8通道光功率计，可对PLC器件进行插入损耗，偏振相关损耗、均匀性、附加损耗等指标进行测试，但由于其使用8个探测器，故不可避免引入了通道间的漂移和偏差，使用机械式偏振控制器，偏振相关损耗测试速度慢且精确度低（三波长测试约为30秒），由于需要对8个通道分别进行归零操作，效率低下，需对PLC器件输出端每个端口进行剥纤，并使用裸纤夹持器，操作繁琐，引入误差大，且测试重复性差，虽有厂家提供了带纤熔接技术，然而带纤熔接机价格十分昂贵，性价比不高；传统8通道测试系统测试流程如图1所示。因此，当前平面光波导分路器测试已成为很多生产商产能瓶颈，虽然市场上有很多厂家可以提供多通道PLC测试设备，但操作步骤繁多，测试效率太低，测试精度不高以及稳定性较差。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中的多通道测试仪测试效率低下，测试精度较低以及稳定性较差的问题，提供一种光分路器的自动测试仪及其测试方法来解决上述问题。
为了实现上述目的，本发明的技术方案如下：
一种光分路器自动测试仪，其特征在于，包括多波长光源、光分路器、测试模块、控制器和计算机，所述光分路器的输入端与多波长光源光纤连接，光分路器的输出端与测试模块的输入端光纤连接；所述光分路器上设有带纤夹底座；所述测试模块包括光电探测器、步进电机，所述光电探测器为高速采样光功率计，光电探测器上设有一挡片，该挡片上设有一槽，该槽使得同一时刻仅有光分路器的一个通道的输出光透过；所述计算机与测试模块、控制器、多波长光源设有通讯连接；所述控制器用于控制测试模块。
所述槽的宽度为100±25um。
所述测试模块还包括电动平移台，该电动平移台用于移动光电探测器。
所述带纤夹底座下方设有手动平台，所述手动平台用于微调光分路器输出端与光电探测器的距离。
所述高速采样光功率计采样速率为50K/S，偏振模块一秒内在邦加球上产生10000个偏振态。
本发明还提供一种光分路器自动测试仪的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
1）连接光分路器的输入端：将光源输出端用光纤夹夹牢后放入夹具底座内测试参考光后将分光路器的输入端与光源的输出端熔接；
2）连接光分路器的输出端：将输出端带状光纤加持后剥除覆层，将带状光纤端面切平放入夹具底座内；
3）测试：调整光纤端面的距离后，点击测试仪开始，自动完成测试。所述测试参数包括插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、方向性、均匀性。
与现有技术相比，本发明的光分路器自动测试系统及测试方法，测试步骤简单，能够大幅提高测试效率和测试精度。消除了多通道测试方案中通道间漂移和计量偏差及参考值归零时繁琐操作的缺陷。在连接输出端步骤中，无带纤熔接失败重复步骤，无带纤熔接时引入的IL及PDL损耗，降低外界耦合误差，无需使用带纤熔接机，降低设备成本。采用高速偏振模块，邦加球覆盖率高，测试值更为准确。采用自主开发的测试系统，可以实现完全无纸化储存，具有自动生成测试报告、自动分级等功能。本发明可适用于不同类型的光分路器的产品测试，包括平面波导型光分路器、熔融拉锥型光分路器。
附图说明
图1为传统8通道测试系统测试流程示意图；
图2为本发明光分路器的自动测试仪的结构示意图；
图3为本发明光功率计前端挡片上的狭缝示意图；
图4为本发明光分路器输出端带状光纤结构示意图；
图5为本发明测试模块示意图。
具体实施方式
为使对本发明的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，用以较佳的实施例及附图配合详细的说明，说明如下：
参见图1至图5，如图所示，一种光分路器自动测试仪，包括多波长光源1、光分路器2、测试模块3、控制器4和计算机5，所述光分路器的输入端与多波长光源光纤连接，光分路器的输出端与测试模块的输入端光纤连接；所述计算机与测试模块、控制器、多波长光源设有通讯连接；所述控制器用于控制测试模块。
所述多波长光源1，可以根据客户需要，内置不同的波长，例如，可以使用这四波光源，波长值分别为1030,1490,1550,1625。多波长光源与计算机设有通讯连接，可以接收计算机发送的数据信号，并自动进行波长切换。
所述光分路器2上设有带纤夹底座21，带纤夹底座21下方设有手动平台22，所述手动平台用于微调光分路器输出端与光电探测器的距离，使得光电探测器尽可能完全接收输出端的光源。
所述测试模块3包括光电探测器31、步进电机32，所述光电探测器为高速采样光功率计，高速采样光功率计采样速率可达到50K/S，偏振模块在一秒内在邦加球上产生10000个偏振态。光电探测器上设有一挡片，该挡片上设有一槽，该槽使得同一时刻仅有光分路器的一个通道的输出光透过，该槽是宽度为100±25um的狭缝，优选的槽的宽度为100um（如图3所示）；在步进电机上设置平板形成电动平移台33，所述电动平移台33用于移动光电探测器。
所述控制器4 是步进电机控制器，用于驱动步进电机，从而移动光电探测器。
所述计算机5用于记录测试数据、处理测试数据、反馈数据信息（光波长切换反馈）。
本发明的工作原理是：光源从光分路器输出端输出，高速采样光功率计对光分路器的一个通道的输出光进行光功率采样，计算机自动记录高速采样光功率计传送的光功率数据，控制器接收到计算机反馈的数据信息，控制器驱动步进电机带动高速采样光功率计移动，高速采样光功率计继续对输出光进行光功率采样，如此反复执行对输出光的光功率采样，计算机自动分析最小的光功率损耗值。光分路器的所有通道的输出光完全从高速采样光功率计的探测狭缝划过后，完成一个波长的测试，计算机将信息反馈至多波长光源，多波长光源自动进行波长切换，进行不同光波长的测试。
本发明的使用方法包括如下步骤：
1、将光源输出端用光纤夹夹牢后放入夹具底座内，用旋钮调整光纤端面距狭缝0-10mm，优选1mm,进行参考光设置。
2、将光分路器的输入端与光源的输出线用光纤熔接机熔接起来，不需要进行加固处理。
3、将输出端带纤用带纤夹加持后放入热剥钳中，将涂覆层剥除3cm，用光纤切割刀将带状光纤端面切平后放入夹具底座内，调整光纤端面的距离后，点击测试开始。
4、测试自动进行，测试完毕后，计算机会自动记录该光分路器的插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、方向性、均匀性，并将其自动生成测试报告。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明的范围内。本发明要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (4)
1.一种光分路器自动测试仪，其特征在于，包括多波长光源(1)、光分路器(2)、测试模块(3)、控制器(4)和计算机(5)，所述光分路器的输入端与多波长光源光纤连接，光分路器的输出端与测试模块的输入端光纤连接；所述光分路器上设有带纤夹底座(21)；所述测试模块包括光电探测器(31)、步进电机(32)，所述光电探测器为高速采样光功率计，光电探测器上设有一挡片，该挡片上设有一槽，该槽使得同一时刻仅有光分路器的一个通道的输出光透过；所述计算机与测试模块、控制器、多波长光源设有通讯连接；所述控制器用于控制测试模块。
2.根据权利要求1所述的光分路器自动测试仪，其特征在于，所述槽为宽度为100±25um的狭缝。
3.根据权利要求1所述的光分路器自动测试仪，其特征在于，所述步进电机上设置平板形成电动平移台(33)，电动平移台用于移动光电探测器。
4.根据权利要求1所述的光分路器自动测试仪，其特征在于，所述带纤夹底座(21)下方设有手动平台(22)，所述手动平台用于微调光分路器输出端与光电探测器的距离。
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