KR20150107447A - 렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법 - Google Patents

렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법 Download PDF

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KR20150107447A
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Abstract

본 발명에 따른 렌즈 검사장치는 검사대; 상기 검사대에 배치되며, 복수의 렌즈가 수용되는 트레이; 상기 트레이에 수용된 렌즈의 윗면을 촬영하는 제1카메라; 상기 제1카메라를 상기 트레이에 수용된 렌즈 각각의 상부로 이송시켜 정렬시키는 제1카메라 이송모듈; 상기 트레이에 수용된 렌즈를 이송하는 렌즈 이송모듈; 상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 밑면을 촬영하는 제2카메라; 및 상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 측면을 촬영하는 제3카메라;를 포함한다.

Description

렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법{APPARATUS FOR INSPECTING LENS AND METHOD OF INSPECTING LENS USING THE SAME}
본 발명은 엘이디 상부에 구비되는 렌즈를 검사하기 위한 렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법에 관한 것이다.
최근 들어 디스플레이 장치는 초박형, 경량화, 대형화, 저전력이 요구되고 있다. 이러한 요구에 따라 디스플레이 장치의 백라이트 유닛의 광원으로는 주로 엘이디(LED;Light Emitting Diode)가 사용되고 있다.
이와 같이 엘이디를 사용하는 디스플레이 장치의 백라이트 유닛에 대해서는 이미 "대한민국 공개특허 제2013-0000904호;백라이트 유닛 및 그를 이용한 디스플레이 장치"에 의해 개시된 바 있다. 상기 공개특허에 따르면, 백라이트 유닛은 리플렉터, 리플렉터 위에 배치되는 광원 모듈, 광원 모듈을 감싸는 렌즈로 구성된다.
이와 같이 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈는 광원으로부터 방출되는 광이 고휘도를 유지하고 전방으로 균일하게 확산 또는 분산되도록 하기 위하여, 돔 형상으로 이루어지거나 홈이 형성될 수 있으며, 엘이디가 설치된 기판과 렌즈 간의 정렬 및 결합을 위해 다수의 홈, 돌기가 형성될 수 있다.
이와 같이 다른 렌즈들에 비해 복잡한 구조로 이루어지는 렌즈는 그 외경, 내경, 두께뿐만 아니라, 렌즈에 형성되는 홈, 돌기의 개수, 위치 및 표면거칠기에 의해 광의 품질을 결정되기 때문에 다른 용도로 사용되는 렌즈들에 비해 정밀한 검사가 요구된다.
하지만 종래의 렌즈 검사장치들은 단일 카메라를 사용하여 렌즈를 검사하기 때문에 복잡한 구조의 렌즈를 정밀하게 검사하는 데에는 한계가 있다.
대한민국 공개특허 제2013-0000904호(2013. 01. 03. 공개)
본 발명의 목적은 복잡한 구조로 이루어지는 렌즈를 정밀하게 검사하도록 한 렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명에 따른 렌즈 검사장치는 검사대; 상기 검사대에 배치되며, 복수의 렌즈가 수용되는 트레이; 상기 트레이에 수용된 렌즈의 윗면을 촬영하는 제1카메라; 상기 제1카메라를 상기 트레이에 수용된 렌즈 각각의 상부로 이송시켜 정렬시키는 제1카메라 이송모듈; 상기 트레이에 수용된 렌즈를 이송하는 렌즈 이송모듈; 상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 밑면을 촬영하는 제2카메라; 및 상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 측면을 촬영하는 제3카메라;를 포함한다.
바람직하게, 상기 렌즈 이송모듈은 상기 트레이에 수용된 렌즈를 상기 제2카메라와 상기 제3카메라가 동시에 촬영가능한 위치로 이송시킬 수 있으며, 상기 렌즈 이송모듈은 상기 렌즈를 파지하는 핑거를 포함하고, 상기 제2카메라와 상기 제3카메라 각각은, 상기 렌즈가 상기 핑거에 파지된 상태로 상기 위치에 위치하여 정지된 경우에, 상기 렌즈의 밑면과 측면을 촬영할 수 있으며, 상기 핑거는 회전가능하게 구비되고, 상기 핑거에 파지된 렌즈는 상기 제3카메라가 상기 렌즈의 측면을 촬영하는 경우에 상기 핑거에 의해 회전될 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 렌즈 검사방법은 렌즈가 수용된 트레이가 검사대로 로딩되는 렌즈로딩 단계; 상기 검사대에 이동가능하게 구비되는 제1카메라에 의해 상기 트레이에 수용된 렌즈의 윗면을 촬영하는 제1검사단계; 상기 트레이에 수용된 렌즈를 상기 검사대에 고정설치된 제2카메라와 제3카메라가 동시에 촬영이 가능한 위치로 이송하는 단계; 및 상기 제2카메라와 상기 제3카메라에 의해 상기 위치로 이송된 렌즈의 밑면과 측면이 촬영되는 제2검사 단계;를 포함한다.
바람직하게, 상기 제2검사 단계에서의 상기 렌즈의 측면 촬영은 상기 렌즈가 회전하는 상태에서 이루어질 수 있다.
본 발명에 따른 렌즈 검사장치 및 이를 이용한 렌즈 검사방법은 렌즈의 윗면, 밑면 및 측면을 각각 촬영하여 복잡한 구조를 가지는 렌즈를 정밀하게 검사하여 렌즈 검사의 신뢰도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치를 간략하게 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치를 도 1에 표기된 I-I'선을 기준으로 절단한 단면도이다.
도 3은 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치를 도 1에 표기된 Ⅱ-Ⅱ'선을 기준으로 절단한 단면도이다.
도 4는 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈를 나타낸 단면도이다.
도 5는 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법을 나타낸 순서도이다.
도 6은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 윗면을 나타낸 이미지이다.
도 7은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 밑면을 나타낸 이미지이다.
도 8은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 측면을 나타낸 이미지이다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 일실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
이하, 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시 예에 따른 렌즈 검사장치를 간략하게 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치를 도 1에 표기된 I-I'선을 기준으로 절단한 단면도이고, 도 3은 본 실시예에 따른 렌즈 검사장치를 도 1에 표기된 Ⅱ-Ⅱ'선을 기준으로 절단한 단면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 실시 예에 따른 렌즈 검사장치는 검사대(100), 트레이(210), 제1카메라(310), 제1카메라 이송모듈(311), 렌즈 이송모듈(410), 제2카메라(320) 및 제3카메라(330)를 포함한다.
검사대(100)는 수평 프레임(110)과 수직 프레임(120)이 조합된 데스크 형태로 이루어질 수 있다. 프레임들(110, 120)의 내측에는 트레이(210)를 지지할 수 있는 지지대(130)가 배치될 수 있다. 지지대(130)는 롤러 형태로 마련될 수 있다. 트레이(210)는 복수의 렌즈(10)가 수용되도록 복수의 수용홀(211)이 형성되고, 각각의 수용홀(211)에는 렌즈(10)가 수용될 수 있다. 트레이(210)는 도시되지 않은 트레이 공급장치, 또는 작업자에 의해 지지대로 공급될 수 있다.
제1카메라(310)는 트레이(210)에 수용된 렌즈(10)의 윗면을 촬영하며, 제1카메라 이송모듈(311)은 제1카메라(310)가 트레이(210)에 수용된 각각의 렌즈(10) 윗면을 촬영할 수 있도록 제1카메라(310)를 렌즈(10) 각각의 상부로 이송시켜 정렬시킨다.
이를 위해, 제1카메라 이송모듈(311)은 제1카메라(310)를 지지하며, 제1카메라(310)를 3차원으로 이송할 수 있다. 즉, 제1카메라 이송모듈(311)은 제1카메라(310)를 도 1에 표기된 x축 방향, y축 방향 및 z축 방향을 이송할 수 있다. 이러한 제1카메라 이송모듈(311)은 유/공압실린더와 리니어 가이드를 포함하는 리니어 액츄에이터, 랙 앤 피니온과 회전모터를 포함하는 리니어 액츄에이터, 볼 스크류와 회전모터를 포함하는 리니어 액츄에이터 등의 액츄에이터가 3차원으로 조합되는 3차원 이송모듈로 구현될 수 있다. 이러한 3차원 이송모듈에 대해서는 본 기술 분야에서 이미 널리 알려진 기술이므로 그 상세한 구성에 대한 상세한 설명은 생략하도록 한다. 이와 같이 제1카메라(310)는 제1카메라 이송모듈(311)에 의해 이송되어 트레이(210)에 수용된 렌즈(10) 각각의 상부에 정렬될 수 있다.
제2카메라(320)와 제3카메라(330)는 검사대(100) 일측에 고정설치되며, 렌즈 이송모듈(410)은 트레이(210)에 수용된 렌즈(10)를 제2카메라(320)와 제3카메라(330)가 촬영가능한 위치로 이송한다.
제2카메라(320)는 렌즈 이송모듈(410)에 의해 이송된 렌즈(10)의 밑면을 촬영하며, 제3카메라(330)는 렌즈 이송모듈(410)에 의해 이송된 렌즈(10)의 측면을 촬영한다.
렌즈 이송모듈(410)은 지지대(130)의 상측에 배치될 수 있다. 렌즈 이송모듈(410)은 상술된 바와 같은 3차원 이송모듈을 포함할 수 있다. 물론, 렌즈 이송모듈(410)은 제1카메라(310)의 이송경로에 교차되지 않는 렌즈(10)의 이송경로가 형성되도록 구성되는 것이 바람직하다. 렌즈 이송모듈(410)의 단부에는 렌즈(10)를 파지하기 위한 핑거(420)가 배치될 수 있다. 핑거(420)는 렌즈(10) 표면의 손상, 자국, 이물질 등이 남지 않도록 렌즈(10)를 진공 흡착하는 진공 흡착척의 형태로 마련될 수 있다.
렌즈 이송모듈(410)은 트레이(210)에 수용된 렌즈(10)를 제2카메라(320)와 제3카메라(330)가 동시에 촬영가능한 위치로 이송시킬 수 있다. 예를 들어, 도면에 보이는 바와 같이, 제2카메라(320)는 상기 위치의 아래에 고정설치될 수 있으며, 제3카메라(330)는 상기 위치의 전방 또는 후방에 고정설치될 수 있다. 그러면 렌즈(10)가 렌즈 이송모듈(410)에 의해 상기 위치로 이송되면, 제2카메라(320)에 의해 렌즈(10)의 밑면이 촬영될 수 있으며, 제3카메라(330)에 의해 렌즈(10)의 측면이 촬영될 수 있다.
상기 위치에는 렌즈(10)를 지지하기 위한 별도의 지지구성이 구비될 수도 있으나, 별도의 지지구성 없이 렌즈(10)가 핑거(420)에 파지된 상태로 상기 위치에 위치하여 정지된 경우에, 제2카메라(320)와 제3카메라(330) 각각이, 상기 위치에서 핑커(420)에 파지된 상태로 정지된 렌즈(10)의 밑면과 측면을 촬영하도록 구성될 수 있다.
예를들어, 렌즈 이송모듈(410)은 트레이(210)에 수용된 렌즈(10)를 핑거(420)가 파지한 상태에서 제2카메라(320)와 제3카메라(330)의 사이 즉, 하측에 고정설치된 제2카메라(320)와 측방에 고정설치된 제3카메라(330) 사이로 이동시킴으로써, 제2카메라(320)와 제3카메라(330)에 의해 동시에 촬영가능한 위치로 위치시킬 수 있다. 그러면 제2카메라(320)는 핑거(420)에 파지된 상태로 정지된 렌즈(10)의 밑면을 촬영할 수 있으며, 제3카메라(330)는 상기 렌즈(10)의 측면을 촬영할 수 있게 된다.
제3카메라(330)가 렌즈(10)의 측면을 촬영하는 경우에는 상기 렌즈(10)는 회전되는 것이 바람직하며, 이를 위해 렌즈(10)를 파지하는 핑거(420)는 렌즈(10)의 중심축과 동축을 가지는 회전축을 기준으로 회전구동되도록 구성될 수 있다. 이와 같이, 제3카메라(330)가 렌즈(10)의 측면을 촬영하는 경우에 핑거(420)가 회전하면 핑거(420)에 파지된 렌즈(10)도 함께 회전하게 되고, 제3카메라(330)는 회전하는 렌즈(10)를 촬영하면서 렌즈(10)의 모든 방향에서의 측면 형상을 촬영할 수 있게 된다. 이는 제3카메라(330)가 렌즈(10)를 중심으로 어느 한 방향의 측방에 고정설치되더라도, 렌즈(10)의 다양한 방향에서의 측면 촬영을 가능하게 하여 렌즈에 대한 정밀한 검사를 가능하게 하는 장점을 제공한다.
한편, 도면에는 도시되지 않지만, 제1카메라(310), 제2카메라(320) 및 제3카메라(330)의 일측에는 촬영시 렌즈(10) 방향으로 빛을 발산하는 광원이 배치될 수 있다. 제1카메라(310) 일측에 구비되는 광원은 제1카메라 이송모듈(311)에 의해 제1카메라(310)와 함께 이송됨이 바람직하며, 제2카메라(320)와 제3카메라(330) 각각의 일측에 구비되는 광원은 제2카메라(320)와 제3카메라(330)와 마찬가지로 그 일측에 고정설치될 수 있다.
다른 실시 예로, 도면에서 보이는 바와 같이, 지지대(130)의 하측에는 렌즈(10)로 검사용 광을 입사시키는 광원(510)이 배치될 수 있다. 그리고 광원(510)은 광원 이송모듈(520)에 의해 이송될 수 있다. 광원 이송모듈(520)은 상술된 바와 같은 3차원 이송모듈을 포함할 수 있다. 광원 이송모듈(520)은 제 1카메라(310)에 의해 렌즈(10)의 윗면이 촬영될 때 광원(510)이 렌즈(10)의 하측에 정렬되도록 한다. 그리고 렌즈(10)가 제 2카메라(320)와 제 3카메라(330)의 사이로 이송되면 광원 이송모듈(520)은 렌즈(10)의 하측에 정렬되도록 렌즈(10)를 이송하여 제 3카메라(330)에 의해 렌즈(10)의 측면이 촬영될 때 광원(510)이 렌즈(10)의 하측에 정렬되도록 한다.
한편, 도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 렌즈 검사장치는 렌즈(10)에 대한 렌즈 데이터가 저장되는 메모리와, 메모리에 저장된 렌즈 데이터와 제 1, 2, 3 카메라(310, 320, 330)에 의해 촬영된 이미지를 비교하는 비교부와, 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교 결과 렌즈의 검사결과를 판단하는 판단부와, 렌즈 이미지를 표시하고 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교결과를 화상으로 표시하는 디스플레이 장치를 더 포함할 수 있다.
이하, 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법을 설명하기에 앞서 백라이트 유닛에 사용되는 일실시예의 렌즈에 대해 설명하도록 한다. 이하에서 설명되는 렌즈는 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법의 설명의 편의와 이해를 돕기 위한 것으로, 본 발명에 따른 렌즈 검사방법이 이하에서 설명되는 렌즈를 검사하는 것으로 한정하여 이해되서는 아니될 것이다.
도 4는 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈를 나타낸 단면도이다.
도 4를 참조하면, 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈(10)는 윗면(11)이 함몰된 형태로 마련되고, 광의 확산 또는 분산을 위한 홈(11a)이 형성될 수 있다. 이때, 렌즈(10)의 밑면(12)은 광원이 결합된 기판에 결합되는 면이고, 렌즈(10)의 윗면(11)은 디스플레이 패널을 향해 광이 방출되는 면일 수 있다.
그리고 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈(10)는 윗면(11)과 밑면(12)의 외경이 상이할 수 있다. 즉, 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈(10)는 광원으로부터 방출되는 광이 디스플레이 패널을 향해 확산되도록 윗면(11)의 면적이 밑면(12)의 면적보다 더 넓은 사다리꼴의 단면 형상을 가질 수 있다.
또한 백라이트 유닛에 사용되는 렌즈(10)의 밑면(12)에는 결합홈(12) 및/또는 결합핀(12b)이 형성될 수 있다. 결합홈(12) 및/또는 결합핀(12b)은 광원이 설치되는 기판에 렌즈(10)의 정렬 및/또는 결합을 위한 것일 수 있다.
이하, 상술된 렌즈를 검사하는 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 설명하도록 한다.
도 5는 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법을 나타낸 순서도이다.
도 5를 참조하면, 상술된 바와 같은 렌즈(10)를 검사하기 위해, 본 실시예는 렌즈(10)가 수용된 트레이(210)가 검사대(100)로 공급되고, 트레이(210)는 지지대(130)에 지지된다.
계속해서, 제1카메라(310)가 제1카메라 이송모듈(311)에 의해 이송되어 렌즈(10)에 정렬된다. 즉, 제1카메라 이송모듈(311)은 제1카메라(310)를 3차원으로 이송하여 제1카메라(310)가 렌즈(10)의 동축 상에 위치하도록 제1카메라(310)의 위치를 정렬한다. 이와 같이 제1카메라(310)가 렌즈(10)에 정렬되면 제1카메라(310)는 렌즈(10)의 윗면을 촬영한다.
도 6은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 윗면을 나타낸 이미지이다.
도 6에 나타난 바와 같이, 제1카메라(310)에 의해 촬영된 이미지는 비교부에 의해 메모리에 저장된 렌즈 데이터와 비교된다. 판단부는 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교결과, 렌즈(10) 윗면(11)의 외경, 홈(11a)의 내경의 정상 여부를 판단하며, 판단 결과는 디스플레이 장치를 통해 디스플레이 된다.
계속해서, 제1카메라 이송모듈(311)은 초기의 위치로 복귀하고, 렌즈 이송모듈(410)에 의해 렌즈(10)의 상측으로 핑거(420)가 이송된다. 핑거(420)는 렌즈(10)를 향해 하강되어 렌즈(10)를 진공 흡착한다. 렌즈 이송모듈(410)은 핑거(420)를 상승시키고 렌즈(10)를 파지한 핑거(420)를 제2카메라(320)와 제3카메라(330)가 동시에 촬영가능한 위치인 제2카메라(320)와 제3카메라(330) 사이로 이송한다.
이와 같이 렌즈(10)가 제2카메라(320)와 제3카메라(330)의 사이로 이송되면, 제2카메라(320)는 렌즈(10)의 밑면을 촬영한다.
도 7은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 밑면을 나타낸 이미지이다.
도 7을 참조하면, 제2카메라(320)에 의해 촬영된 이미지는 비교부에 의해 메모리에 저장된 렌즈 데이터와 비교된다. 판단부는 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교결과, 렌즈(10) 밑면(12)의 외경, 결합홈(12) 및/또는 결합핀(12b)의 위치 및 개수, 결합홈(12) 및/또는 결합핀(12b)의 외경의 정상 여부를 판단하며, 판단 결과는 디스플레이 장치를 통해 디스플레이 된다.
제 3카메라(330)는 제2카메라(320)와 제3카메라(330)의 사이로 이송된 렌즈(10)의 측면을 촬영한다.
도 8은 본 실시예에 따른 렌즈 검사방법에 따라 촬영된 렌즈 측면을 나타낸 이미지이다.
도 8을 참조하면, 제3카메라(330)에 의해 촬영된 이미지는 비교부에 의해 메모리에 저장된 렌즈 데이터와 비교된다. 판단부는 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교결과, 렌즈(10)의 두께, 렌즈(10) 윗면(11)에 형성된 홈(11a)의 형상의 정상 여부를 판단하며, 판단 결과는 디스플레이 장치를 통해 디스플레이 된다.
또한, 핑거(420)는 회전 구동되고, 핑거(420)와 함께 회전되는 렌즈(10)가 촬영되어 취득되는 이미지들을 바탕으로 렌즈(10) 윗면(11)의 3점, 즉 렌즈(10) 윗면(11)의 양 끝단의 2점과, 렌즈(10) 윗면(11)의 가운데 1점을 검출하여 렌즈(10) 윗면(11)의 형상이 검사될 수 있다. 즉, 렌즈(10)가 회전되면서 취득된 렌즈(10) 측면(13)에 대한 이미지들은 비교부에 의해 메모리에 저장된 렌즈 데이터와 비교된다. 판단부는 렌즈 데이터와 렌즈 이미지의 비교결과, 렌즈(10) 윗면(11)의 형상의 정상 여부를 판단하며, 판단 결과는 디스플레이 장치를 통해 디스플레이 된다.
상술된 설명에서 렌즈(10)의 정밀한 검사를 위하여 제2카메라(320)에 의한 렌즈(10) 밑면(12)의 촬영과, 제3카메라(330)에 의한 렌즈(10) 측면(13)의 촬영이 각각 수행되는 것으로 설명하고 있다. 다른 실시예로, 검사에 소요되는 시간을 단축하기 위하여 제2카메라(320)에 의한 렌즈(10) 밑면(12)의 촬영과, 제3카메라(330)에 의한 렌즈(10) 측면(13)의 촬영은 함께 수행될 수 있다.
한편, 제 1, 2, 3 카메라(310, 320, 330)에 의해 촬영된 렌즈 이미지들은 렌즈(10)의 가공 후에 잔류할 수 있는 이물질 및 표면 거칠기에 대한 검사를 병행할 수 있도록 한다.
또한 제 1, 3 카메라(310, 330)에 의해 렌즈 윗면(11)과 렌즈 측면(13)이 촬영되는 동안에, 광원(510)으로부터 렌즈(10)에 검사용 광이 조사되면, 제 1, 3 카메라(310, 330)에 의해 촬영된 렌즈(10)의 이미지들은 렌즈(10)를 투과하는 광의 형태, 광의 휘도 등에 대한 검사도 병행할 수 있도록 구성될 수도 있다. 물론, 광원 이송모듈(520)은 렌즈(10)의 위치에 따라 광원(510)을 이송하여 광원(510)을 렌즈(10)에 정렬시킬 수 있다.
한편, 렌즈(10)의 윗면(11), 밑면(12) 및 측면(13)의 검사 과정 중 렌즈(10)의 상태가 불량인 불량품으로 판별되는 렌즈(10)는, 렌즈 이송모듈(410)에 의해 이송되어 트레이(210)로 재수용될 수 있다. 반면, 렌즈(10)의 윗면(11), 밑면(12) 및 측면(13)에 대한 모든 항목의 검사가 종료된 후 상태가 양호한 양품으로 판별되는 렌즈(10)는, 렌즈 이송모듈(410)에 의해 이송되어 배출트레이(220)에 수용될 수 있다.
이와 같이 본 실시예는 렌즈(10)의 윗면(11), 밑면(12) 및 측면(13)을 각각 촬영하여 렌즈(10)에 대한 정밀한 촬영이 가능하다. 따라서 본 실시예는 위에서 설명한 바와 같은 렌즈(10)뿐만 아니라, 구조가 복잡한 렌즈에 대해서도 검사 신뢰도가 향상될 수 있다.
앞에서 설명되고, 도면에 도시된 본 발명의 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 기재된 사항에 의하여만 제한되고, 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 변경하는 것이 가능하다. 따라서 이러한 개량 및 변경은 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호 범위에 속하게 될 것이다.
10 : 렌즈 11 : 렌즈 윗면
12 : 렌즈 밑면 13 : 렌즈 측면
100 : 검사대 110 : 수평 프레임
120 : 수직 프레임 130 : 지지대
210 : 트레이 211 : 수용홀
220 : 배출 트레이 310 : 제1카메라
311 : 제1카메라 이송모듈 320 : 제2카메라
330 : 제3카메라 410 : 렌즈 이송모듈
420 : 핑거 510 : 광원
520 : 광원 이송모듈

Claims (6)

  1. 검사대;
    상기 검사대에 배치되며, 복수의 렌즈가 수용되는 트레이;
    상기 트레이에 수용된 렌즈의 윗면을 촬영하는 제1카메라;
    상기 제1카메라를 상기 트레이에 수용된 렌즈 각각의 상부로 이송시켜 정렬시키는 제1카메라 이송모듈;
    상기 트레이에 수용된 렌즈를 이송하는 렌즈 이송모듈;
    상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 밑면을 촬영하는 제2카메라; 및
    상기 검사대에 고정설치되어 상기 이송모듈에 의해 이송된 렌즈의 측면을 촬영하는 제3카메라;를 포함하는 렌즈 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 렌즈 이송모듈은 상기 트레이에 수용된 렌즈를 상기 제2카메라와 상기 제3카메라가 동시에 촬영가능한 위치로 이송시키는 것을 특징으로 하는 렌즈 검사장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 렌즈 이송모듈은 상기 렌즈를 파지하는 핑거를 포함하고,
    상기 제2카메라와 상기 제3카메라 각각은, 상기 렌즈가 상기 핑거에 파지된 상태로 상기 위치에 위치하여 정지된 경우에, 상기 렌즈의 밑면과 측면을 촬영하는 것을 특징으로 하는 렌즈 검사장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 핑거는 회전가능하게 구비되고, 상기 핑거에 파지된 렌즈는 상기 제3카메라가 상기 렌즈의 측면을 촬영하는 경우에 상기 핑거에 의해 회전되는 것을 특징으로 하는 렌즈 검사장치.
  5. 렌즈가 수용된 트레이가 검사대로 로딩되는 렌즈로딩 단계;
    상기 검사대에 이동가능하게 구비되는 제1카메라에 의해 상기 트레이에 수용된 렌즈의 윗면을 촬영하는 제1검사단계;
    상기 트레이에 수용된 렌즈를 상기 검사대에 고정설치된 제2카메라와 제3카메라가 동시에 촬영이 가능한 위치로 이송하는 단계; 및
    상기 제2카메라와 상기 제3카메라에 의해 상기 위치로 이송된 렌즈의 밑면과 측면이 촬영되는 제2검사 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈 검사방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제2검사 단계에서의 상기 렌즈의 측면 촬영은 상기 렌즈가 회전하는 상태에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 렌즈 검사방법.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170120780A (ko) * 2016-04-22 2017-11-01 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 핸들링 시스템
KR20170138096A (ko) * 2016-06-07 2017-12-15 한미반도체 주식회사 렌즈유닛 검사장치
KR20180124308A (ko) * 2017-05-11 2018-11-21 주식회사 탑 엔지니어링 카메라 모듈용 스프링 컷팅 및 조립 장치
KR20180127186A (ko) * 2017-05-18 2018-11-28 가부시키가이샤 도쿄 웰드 워크 외관 검사 장치 및 워크 외관 검사 방법
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KR20230067920A (ko) * 2021-11-10 2023-05-17 엠피닉스 주식회사 마이크로 렌즈 외관 검사 탑재형 자동 이재장치

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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