KR20150068943A - Laser processing apparatus - Google Patents

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KR20150068943A
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KR1020150080117A
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게이이치 나카츠카
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브이 테크놀로지 씨오. 엘티디
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Abstract

The purpose of the present invention is to heat surrounding areas of a processing part which conducts CVD processing in an efficient and effective manner while reducing the bending of an object to be processed. In the laser processing apparatus (101) which conducts laser CVD processing, an air heater (165) provides hot wind to areas near a processing part of a panel (131) through a gas window (161). The gas window (161) maintains a CVD space near the processing part as fuel gas atmosphere by discharging fuel gas from a gas suction and discharge unit (164). A cooling air unit (167) provides cooling air to areas around the processing part of the panel (131) through the gas window (161). A laser unit (163) transmits laser light to the processing part through a laser injection observation unit (162) and the gas window (161). The present invention would be applied to a laser repair device.

Description

레이저 가공 장치{LASER PROCESSING APPARATUS}[0001] LASER PROCESSING APPARATUS [0002]

본 발명은, 레이저 가공 장치에 관한 것으로, 특히, 레이저 CVD(Chemical Vapor Deposition) 가공을 행하는 레이저 가공 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a laser processing apparatus, and more particularly to a laser processing apparatus for performing laser CVD (Chemical Vapor Deposition) processing.

종래, 레이저 CVD(Chemical Vapor Deposition)법을 사용하여, LCD(Liquid Crystal Display) 패널이나 유기 EL(Electro-Luminescence) 패널 등의 디스플레이 패널에 사용되는 기판 배선의 결함을 수정하는 레이저 가공 장치가 보급되어 있다.Conventionally, a laser processing apparatus for correcting defects in a substrate wiring used in a display panel such as an LCD (Liquid Crystal Display) panel or an organic EL (Electro-Luminescence) panel using a laser CVD (Chemical Vapor Deposition) have.

레이저 CVD법을 사용한 레이저 가공 장치로는, 가공 대상이 되는 기판 상의 배선을 수정하는 부분 근방에 원료 가스를 공급하는 동시에, 그 기판 상의 수정 부분에 레이저광을 조사하고, 레이저광의 에너지에 의해 활성화한 원료 가스를 막으로서 수정 부분에 퇴적함으로써, 기판 상의 배선이 수정된다. 그러나, 원료 가스를 기판 표면에 공급하였을 때에, 레이저광을 조사하고 있지 않은 부분에 있어서도, 원료 가스와 기판의 온도차에 의해 원료 가스가 재결정화하고, 재결정화에 의해 생성된 이물질이 배선의 결함 부분이 되어, 이것이 기판의 품질을 저하시킨다.In a laser processing apparatus using a laser CVD method, a raw material gas is supplied in the vicinity of a portion for correcting a wiring on a substrate to be processed, laser light is irradiated on a quartz portion on the substrate, By depositing the raw material gas as a film on the quartz portion, the wiring on the substrate is modified. However, when the raw material gas is supplied to the surface of the substrate, the raw material gas is recrystallized by the temperature difference between the raw material gas and the substrate even in the portion where the laser beam is not irradiated, , Which degrades the quality of the substrate.

따라서, 원료 가스에 포함되는 원료 물질이 기판 상에서 재결정하는 것을 방지하기 위해, 소정의 온도(예를 들어, 40℃ 전후) 이상으로 기판을 따뜻하게 한 상태에서 레이저 CVD 가공(이하, 간단히 CVD 가공이라고도 칭함)이 행해진다.Therefore, in order to prevent the raw material contained in the raw material gas from recrystallizing on the substrate, laser CVD processing (hereinafter simply referred to as CVD processing) is performed in a state where the substrate is warmed to a temperature not lower than a predetermined temperature (for example, about 40 캜) ) Is performed.

기판을 따뜻하게 하는 방법으로서는, 예를 들어, 기판이 적재되는 글래스 적재대의 이면에 부착한 투명 필름 히터에 의해 글래스 적재대 전체를 가열하는 방법이 알려져 있다.As a method of warming the substrate, for example, there is known a method of heating the entire glass table by a transparent film heater attached to the back surface of the glass table on which the substrate is placed.

또한, 예를 들어, 열풍에 의해 기판의 가공 부분의 근방을 가열하는 방법이 알려져 있다(예를 들어, 특허 문헌 1 참조).Further, for example, there is known a method of heating near a machining portion of a substrate by hot air (see, for example, Patent Document 1).

일본 특허 출원 공개 제2011-149046호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-149046

그러나, 기판을 가열하면, 열팽창에 의해 기판이 휘어, 가공 위치나 포커스의 어긋남이 발생하여, 가공 품질이 악화되는 것이 상정된다. 또한, 휨량이 커지면, 기판의 표면이 레이저 가공 장치의 일부에 접촉되어, 손상되어 버리는 것이 상정된다.However, when the substrate is heated, the substrate is warped by the thermal expansion, and the position of the processing and the shift of the focus are generated, and the processing quality is deteriorated. Further, when the amount of warping becomes large, it is assumed that the surface of the substrate comes into contact with a part of the laser processing apparatus and is damaged.

본 발명은, 이와 같은 상황을 감안하여 이루어진 것이며, 확실하고 또한 효율적으로 CVD 가공을 행하는 가공 부분 근방을 가열하는 동시에, 가공 대상의 휨을 저감할 수 있게 하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a situation, and it is intended to heat the vicinity of a machining portion for surely and efficiently performing the CVD machining, and to reduce the warping of the machining object.

본 발명의 일측면의 레이저 가공 장치는, 가공 대상의 가공 부분 근방을 향해 원료 가스 및 열풍을 분출하고, 원료 가스 및 열풍을 분출하는 위치보다 외측으로부터 가공 부분 근방의 주변을 향해 냉각풍을 분출하는 동시에, 원료 가스 및 열풍을 분출하는 위치와 냉각풍을 분출하는 위치 사이에 원료 가스, 열풍 및 냉각풍을 흡입하기 위한 배기구가 설치되어 있는 공급 유닛과, 가공 부분에 레이저광을 조사하는 조사 수단을 구비한다.A laser machining apparatus according to one aspect of the present invention ejects a raw material gas and a hot air toward a vicinity of a machining part to be machined and ejects a cooling air from the outside toward a periphery in the vicinity of the machining part from a position for ejecting the source gas and hot air At the same time, a supply unit provided with an exhaust port for sucking raw material gas, hot air and cooling air between a position for ejecting the raw material gas and hot air and a position for ejecting the cooling air, and an irradiation means for irradiating laser beam Respectively.

본 발명의 일측면의 레이저 가공 장치에 있어서는, 열풍에 의해 가공 부분 근방이 따뜻해지고, 냉각풍에 의해 가공 부분 근방의 주변이 냉각되어, 가공 부분 근방이 원료 가스 분위기로 유지되고, 가공 부분에 레이저광이 조사되어, 가공 부분에 박막이 형성된다.In the laser machining apparatus of one aspect of the present invention, the vicinity of the machining portion is warmed by hot air, the periphery near the machining portion is cooled by the cooling wind, the vicinity of the machining portion is maintained in the atmosphere of the source gas, Light is irradiated to form a thin film on the processed portion.

따라서, 확실하고 또한 효율적으로 CVD 가공을 행하는 가공 부분 근방을 가열하는 동시에, 가공 대상의 휨을 저감할 수 있다.Therefore, it is possible to heat the vicinity of the machining portion for surely and efficiently performing the CVD machining, and to reduce the warping of the machining object.

이 레이저 가공 장치는, 예를 들어, 레이저 리페어 장치에 의해 구성된다. 이 원료 가스는, 예를 들어, 크롬카르보닐 가스 등에 의해 구성된다. 이 공급 유닛은, 예를 들어, 가스 윈도우 등에 의해 구성된다. 이 조사 수단은, 예를 들어, 레이저광을 사출하는 레이저 유닛에 의해 구성된다.This laser processing apparatus is constituted by, for example, a laser repair apparatus. This raw material gas is constituted by, for example, chromium carbonyl gas or the like. This supply unit is constituted by, for example, a gas window or the like. This irradiating means is constituted by, for example, a laser unit for emitting laser light.

이 배기구를, 원료 가스 및 열풍을 분출하는 위치를 둘러싸도록 형성하고, 냉각풍을 분출하는 송풍구를, 배기구를 둘러싸도록 형성할 수 있다.The exhaust port is formed so as to surround the position where the raw material gas and the hot air are blown out, and a blowing hole for blowing out the cooling wind can be formed so as to surround the exhaust port.

이에 의해, 보다 확실하게 가공 부분 근방을 가열하고, 가공 부분 근방의 주변을 냉각할 수 있다.Thereby, it is possible to more reliably heat the vicinity of the machining portion and cool the periphery in the vicinity of the machining portion.

이 공급 유닛 내에 있어서, 원료 가스 및 열풍이 통과하는 경로와 냉각풍이 통과하는 경로 사이에 단열층을 형성할 수 있다.In this supply unit, a heat insulating layer can be formed between the path through which the raw material gas and hot air pass and the path through which the cooling wind passes.

이에 의해, 원료 가스나 열풍이 냉각풍에 의해 냉각되는 것을 방지할 수 있다.Thereby, it is possible to prevent the raw material gas and the hot air from being cooled by the cooling wind.

가공 대상을 두는 다이의 설치면에 가공 대상과 설치면 사이에 간극을 형성하기 위한 복수의 돌기를 형성하도록 할 수 있다.It is possible to form a plurality of protrusions on the mounting surface of the die to be machined to form a gap between the machining object and the mounting surface.

이에 의해, 가공 대상의 가공 부분 근방의 열이 다이를 타고 배출되어, 가공 부분 근방이 냉각되는 것을 방지할 수 있다.As a result, it is possible to prevent the heat in the vicinity of the machined portion to be machined from being discharged through the die and to prevent the vicinity of the machined portion from being cooled.

냉각풍을 냉각하기 위한 냉각 수단을 더 설치할 수 있다.A cooling means for cooling the cooling wind can be further provided.

이에 의해, 보다 확실하게 가공 부분 근방의 주변을 냉각할 수 있다.Thus, it is possible to more reliably cool the periphery in the vicinity of the machining portion.

이 냉각 유닛은, 열풍과 원료 가스를 다른 위치로부터 가공 부분 근방을 향해 분출하도록 할 수 있다.This cooling unit can blow the hot air and the raw material gas from other positions toward the vicinity of the machining part.

이에 의해, 열풍 및 원료 가스를 가공 부분 근방에 확실하게 공급할 수 있다.This makes it possible to reliably supply the hot air and the raw material gas in the vicinity of the machining area.

이 레이저 가공 장치에 있어서는, 열풍에 의해 가공 부분 근방을 소정의 시간 가열한 후, 원료 가스에 의해 가공 부분 근방에 원료 가스 분위기를 생성하고, 가공 부분에 레이저광을 조사하는 제1 공정과, 냉각풍에 의해 가공 부분 근방의 주변을 냉각하는 제2 공정을 병행하여 행하도록 제어하는 제어 수단을 더 설치하도록 할 수 있다.In this laser processing apparatus, a first step of heating a portion near a machining portion by hot air for a predetermined time, generating a source gas atmosphere in the vicinity of the machining portion by the source gas, and irradiating the machining portion with laser light, And a second step of cooling the periphery in the vicinity of the machining part by the wind.

이에 의해, 가공 부분 근방의 분위기를 거의 동일하게 유지할 수 있어, 가공 불균일의 발생을 방지할 수 있는 동시에, 확실하게 가공 부분 근방의 주변을 냉각할 수 있다.Thereby, the atmosphere in the vicinity of the machining portion can be maintained substantially the same, the occurrence of uneven machining can be prevented, and the periphery in the vicinity of the machining portion can be reliably cooled.

본 발명의 일측면에 따르면, 확실하고 또한 효율적으로 CVD 가공을 행하는 가공 부분 근방을 가열하는 동시에, 가공 대상의 휨을 저감할 수 있다.According to one aspect of the present invention, it is possible to heat the vicinity of a machining portion for surely and efficiently performing a CVD process, and to reduce the warping of an object to be machined.

도 1은 본 발명을 적용한 레이저 가공 장치의 일 실시 형태의 외관의 구성예를 나타내는 사시도이다.
도 2는 기판의 설치 및 철거 방법의 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 레이저 가공 장치의 가공 유닛의 구성예를 나타내는 블록도이다.
도 4는 가공 유닛의 가스 윈도우를 가로로부터 본 단면도이다.
도 5는 가공 유닛의 가스 윈도우의 하면의 평면도이다.
도 6은 기판의 설치예를 나타내는 도면이다.
도 7은 레이저 가공 장치에 의해 실행되는 레이저 리페어 처리를 설명하기 위한 흐름도이다.
도 8은 가공 유닛의 변형예를 나타내는 블록도이다.
Fig. 1 is a perspective view showing an example of the configuration of an appearance of an embodiment of a laser machining apparatus to which the present invention is applied.
2 is a view showing an example of a method of installing and demounting a substrate.
3 is a block diagram showing a configuration example of a machining unit of the laser machining apparatus.
4 is a cross-sectional view of the gas window of the processing unit viewed from the side.
5 is a plan view of the lower surface of the gas window of the processing unit.
6 is a view showing an example of the installation of the substrate.
7 is a flowchart for explaining the laser repair processing executed by the laser processing apparatus.
8 is a block diagram showing a modified example of the machining unit.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태(이하, 실시 형태라고 함)에 대해서 설명한다. 또한, 설명은 이하의 순서로 행한다.Hereinafter, a mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as an embodiment) will be described. The description will be made in the following order.

1. 실시 형태1. Embodiment

2. 변형예2. Variations

<실시 형태><Embodiment>

[레이저 가공 장치의 구성예][Exemplary Configuration of Laser Processing Apparatus]

도 1은, 본 발명을 적용한 레이저 가공 장치의 일 실시 형태의 외관의 구성예를 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing an example of the configuration of an appearance of an embodiment of a laser machining apparatus to which the present invention is applied.

도 1의 레이저 가공 장치(101)는, LCD 패널이나 유기 EL 패널 등의 디스플레이 패널에 사용되는 기판 배선의 결함 등의 수정을 행하는 레이저 리페어 장치이다. 예를 들어, 레이저 가공 장치(101)는, 레이저 유기 플라즈마에 의해 기판의 여분의 패턴을 제거하는 ZAP 가공 및 레이저 CVD법에 의해 기판이 결핍되어 있는 패턴을 형성하는 CVD 가공을 행한다. 레이저 가공 장치(101)는 기대(111), 글래스 적재대(112a 내지 112d), 레일 부재(113a, 113b), 컬럼(114) 및 헤드(115)를 포함하도록 구성된다.The laser machining apparatus 101 shown in Fig. 1 is a laser repair apparatus for correcting defects of a substrate wiring used in a display panel such as an LCD panel or an organic EL panel. For example, the laser machining apparatus 101 performs a CVD process for forming a pattern in which a substrate is deficient by a ZAP process and a laser CVD process for removing an extra pattern of a substrate by a laser induced plasma. The laser processing apparatus 101 is configured to include a base 111, glass mounts 112a to 112d, rail members 113a and 113b, a column 114 and a head 115. [

또한, 이하, 컬럼(114)의 길이 방향을 x축 방향 또는 좌우 방향이라고 칭하고, 레일 부재(113a, 113b)의 길이 방향을 y축 방향 또는 전후 방향이라고 칭하고, x축 및 y축에 수직한 방향을 z축 방향 또는 상하 방향이라고 칭한다.Hereinafter, the longitudinal direction of the column 114 is referred to as an x-axis direction or the left-right direction, and the longitudinal direction of the rail members 113a and 113b is referred to as a y-axis direction or forward and backward direction, and a direction perpendicular to the x- Axis direction or a vertical direction.

기대(111)의 상면 좌우의 양단부에는, 레일 부재(113a, 113b)가 설치되어 있다. 또한, 레일 부재(113a)와 레일 부재(113b) 사이에는, 길이 방향이 y축 방향과 일치하는 판 형상의 글래스 적재대(112a 내지 112d)가, 소정의 간격으로 기대(111)의 상면에 설치되어 있다.On both upper left and right ends of the upper surface of the base 111, rail members 113a and 113b are provided. Plate glass mounting bases 112a to 112d whose longitudinal direction coincides with the y-axis direction are installed between the rail member 113a and the rail member 113b at the predetermined intervals on the upper surface of the base 111 .

글래스 적재대(112a 내지 112d) 위에는, 도 2에 도시되는 바와 같이, 가공 대상이 되는 기판(131)이 적재된다. 이때, 도 2에 도시되는 바와 같이, 예를 들어, 기판(131)을 운반하는 오토 로더의 아암(132)을, 각 글래스 적재대의 사이의 홈에 삽입함으로써, 용이하게 기판(131)을 글래스 적재대(112a 내지 112d)에 설치하거나, 글래스 적재대(112a 내지 112d)로부터 철거하거나 하는 것이 가능하다.On the glass pedestals 112a to 112d, as shown in Fig. 2, the substrate 131 to be processed is loaded. At this time, as shown in Fig. 2, for example, by inserting the arm 132 of the autoloader for transporting the substrate 131 into the grooves between the respective glass mounts, the substrate 131 can be easily loaded 112a to 112d, or can be removed from the glass pedestals 112a to 112d.

또한, 글래스 적재대(112a 내지 112d)의 상면인 설치면에는, 투명한 수지로 이루어지는 작은 돌기부가 다수 형성되어 있다. 후술하는 바와 같이, 이 돌기부에 의해, 기판(131)의 가공 부분 근방의 열이 글래스 적재대(112)를 타고 배출되어, 가공 부분 근방이 차가워지는 것이 방지된다.In addition, a large number of small protrusions made of transparent resin are formed on the mounting surface, which is the upper surface of the glass pedestals 112a to 112d. As will be described later, the protrusions prevent the heat in the vicinity of the processed portion of the substrate 131 from being exhausted on the glass table 112 to prevent the vicinity of the processed portion from getting cold.

또한, 이하, 글래스 적재대(112a 내지 112d)를 개별적으로 구별할 필요가 없는 경우, 간단히 글래스 적재대(112)라고 칭한다.Hereinafter, when it is unnecessary to distinguish the glass stacking pads 112a to 112d individually, they are simply referred to as glass stacking pads 112. [

레일 부재(113a, 113b)의 상면에는, 각각 y축 방향으로 연장되는 레일이 설치되어 있다. 또한, 레일 부재(113a)와 레일 부재(113b) 사이에는, 컬럼(114)이 가설되어 있고, 컬럼(114)의 하면의 길이 방향의 양단부가, 레일 부재(113a, 113b)의 상면의 레일에 끼워 맞추어져 있다. 그리고, 도시하지 않은 액추에이터 등을 사용하여, 레일 부재(113a, 113b)의 상면의 레일에 따라서, 컬럼(114)을 y축 방향으로 이동시키는 것이 가능하다.On the upper surfaces of the rail members 113a and 113b, rails extending in the y-axis direction are provided, respectively. A column 114 is provided between the rail member 113a and the rail member 113b and both end portions in the longitudinal direction of the lower surface of the column 114 are fixed to rails on the upper surface of the rail members 113a and 113b Are fitted. It is possible to move the column 114 in the y-axis direction along the rails on the upper surfaces of the rail members 113a and 113b by using an actuator (not shown) or the like.

또한, 컬럼(114)의 전방면 및 상면에는 레일이 설치되어 있고, 역 L자형의 헤드(115)가, 컬럼(114)의 전방면 및 상면의 레일에 끼워 맞추어져 있다. 그리고, 도시하지 않은 액추에이터 등을 사용하여, 컬럼(114)의 전방면 및 상면의 레일에 따라서, 헤드(115)를 x축 방향으로 이동시키는 것이 가능하다.In addition, a rail is provided on the front and top surfaces of the column 114, and an inverted L-shaped head 115 is fitted to the front and top rails of the column 114. It is possible to move the head 115 in the x-axis direction along the rails on the front surface and the top surface of the column 114 using an actuator (not shown) or the like.

헤드(115)에는, 도 3을 참조하여 후술하는 가공 유닛(151)이 설치되어 있다. 보다 구체적으로는, 가공 유닛(151)의 각 부는, 헤드(115)에 내장되거나, 헤드(115)의 하면에 장착되거나 하고 있다. 그리고, 가공 유닛(151)은, 도시하지 않은 액추에이터 등에 의해, z축 방향으로 이동시키는 것이 가능하다. 또한, 상술한 바와 같이, 컬럼(114)을 y축 방향으로 이동시키거나, 헤드(115)를 x축 방향으로 이동시키거나 함으로써, 가공 유닛(151)을 x축 방향 및 y축 방향으로 이동시키는 것이 가능하다.The head 115 is provided with a machining unit 151 to be described later with reference to Fig. More specifically, each part of the processing unit 151 is built in the head 115, or mounted on the lower surface of the head 115. The machining unit 151 can be moved in the z-axis direction by an actuator (not shown) or the like. As described above, by moving the column 114 in the y-axis direction or moving the head 115 in the x-axis direction, the processing unit 151 is moved in the x-axis direction and the y-axis direction It is possible.

또한, 기대(111)에는 컬럼(114), 헤드(115) 및 가공 유닛(151)의 이동을 제어하거나, 가공 유닛(151)의 동작을 제어하거나 하는 제어부(152)(도 3)가 내장되어 있다.3) for controlling the movement of the column 114, the head 115 and the machining unit 151 or for controlling the operation of the machining unit 151 is built in the base 111 have.

또한, 이하, 장소를 이동하지 않는 기대(111), 글래스 적재대(112) 및 레일 부재(113a, 113b)를 통합해서 고정부(101A)라고 칭하고, 장소를 이동하는 컬럼(114) 및 헤드(115)를 통합해서 가동부(101B)라고 칭한다.Hereinafter, the base 111, the glass table 112, and the rail members 113a and 113b, which do not move in place, are collectively referred to as a fixing portion 101A and a column 114 and a head 115 are collectively referred to as a moving part 101B.

[가공 유닛의 구성예][Configuration example of machining unit]

도 3은, 가공 유닛(151)의 구성예를 나타내는 블록도이다. 가공 유닛(151)은 가스 윈도우(161), 레이저 조사 관찰 유닛(162), 레이저 유닛(163), 가스 흡기 배기 유닛(164), 에어 히터(165), 에어 히터 제어 유닛(166) 및 냉각풍 공급 유닛(167)을 포함하도록 구성된다.Fig. 3 is a block diagram showing a configuration example of the machining unit 151. Fig. The processing unit 151 includes a gas window 161, a laser irradiation observation unit 162, a laser unit 163, a gas intake / exhaust unit 164, an air heater 165, an air heater control unit 166, And a supply unit 167.

가스 윈도우(161)는 글래스 적재대(112)에 적재되어 있는 기판(131)의 상방에, 기판(131)과 약간의 간격을 두고 배치된다. 또한, 가스 윈도우(161)와 기판(131) 사이의 거리는, 가공 유닛(151)을 z축 방향으로 이동시킴으로써 조정할 수 있다. 상세한 것은 도 4 및 도 5를 참조하여 후술하지만, 가스 윈도우(161)는 가스 흡기 배기 유닛(164)으로부터 공급되는 원료 가스 및 퍼지 가스와 에어 히터(165)로부터 공급되는 열풍을, 기판(131)의 레이저광이 조사되는 부분(이하, 레이저 조사부라고 칭함) 근방에 공급하는 도입구를 갖고 있다. 또한, 가스 윈도우(161)는 원료 가스 및 퍼지 가스를 외부로 누출되지 않도록 흡입하는 흡입구를 구비하고 있다. 또한, 가스 윈도우(161)는 레이저 조사부 근방의 주변에 냉각풍을 공급하는 도입구를 갖고 있다.The gas window 161 is disposed above the substrate 131 mounted on the glass table 112 with a slight gap from the substrate 131. Further, the distance between the gas window 161 and the substrate 131 can be adjusted by moving the machining unit 151 in the z-axis direction. 4 and 5, the gas window 161 is connected to the substrate 131 through the gas inlet / exhaust unit 164 and the source gas and the purge gas supplied from the gas intake / exhaust unit 164 and the hot air supplied from the air heater 165, (Hereinafter referred to as &quot; laser irradiating portion &quot;) where the laser beam is irradiated. Further, the gas window 161 is provided with a suction port for sucking the raw material gas and the purge gas so as not to leak to the outside. The gas window 161 has an inlet for supplying cooling air to the periphery near the laser irradiation portion.

가스 윈도우(161)의 바로 위에는, 레이저 조사 관찰 유닛(162)이 설치되어 있다. 레이저 조사 관찰 유닛(162)은, 레이저광의 에너지를 바꾸는 어테뉴에이터(도시하지 않음), 레이저광의 빔 형상을 변화시키는 가변 애퍼쳐 기구(도시하지 않음), 대물 렌즈를 상하시켜 초점 위치를 조정하는 기구(도시하지 않음) 및 기판(131)의 레이저 조사부 근방을 관찰하기 위한 현미경 기구(도시하지 않음) 등을 갖고 있다.Above the gas window 161, a laser irradiation observation unit 162 is provided. The laser irradiation observation unit 162 includes an attenuator (not shown) for changing the energy of the laser beam, a variable aperture mechanism (not shown) for changing the beam shape of the laser beam, a mechanism for adjusting the focal position by raising and lowering the objective lens (Not shown) and a microscope mechanism (not shown) for observing the vicinity of the laser irradiation part of the substrate 131 and the like.

레이저 유닛(163)은, 예를 들어, ZAP 가공용의 레이저광(이하, ZAP 레이저광이라고 칭함) 및 CVD 가공용의 레이저광(이하, CVD 레이저광이라고 칭함)을 사출하는 레이저광원을 각각 구비하고 있다. 그리고, 레이저 유닛(163)으로부터 사출된 레이저광은, 레이저 조사 관찰 유닛(162) 및 가스 윈도우(161)를 통해, 기판(131)에 조사된다. 또한, 상술한 바와 같이, 컬럼(114) 및 헤드(115)의 이동에 맞춰서 가공 유닛(151)을 x축 방향 및 y축 방향으로 이동시킴으로써, 기판(131)의 레이저 조사부의 위치를 조정할 수 있다. The laser unit 163 is provided with, for example, a laser light source for emitting laser light for ZAP processing (hereinafter referred to as ZAP laser light) and laser light for CVD processing (hereinafter referred to as CVD laser light) . The laser beam emitted from the laser unit 163 is irradiated to the substrate 131 through the laser irradiation observation unit 162 and the gas window 161. [ As described above, the position of the laser irradiation unit of the substrate 131 can be adjusted by moving the processing unit 151 in the x-axis direction and the y-axis direction in accordance with the movement of the column 114 and the head 115 .

또한, 예를 들어, Nd:YLF 레이저의 제3 고조파(파장 351㎚)로, 반복 주파수가 30㎐, 시간폭이 20피코초의 레이저광이, ZAP 레이저광으로서 사용되고, Nd:YLF 레이저의 제3 고조파(파장 349㎚)로, 반복 주파수가 4㎑, 시간폭이 30나노초의 레이저광이, CVD 레이저광으로서 사용된다.Further, for example, a laser beam having a repetition frequency of 30 Hz and a time width of 20 picoseconds is used as the ZAP laser light at the third harmonic (wavelength 351 nm) of the Nd: YLF laser, and the third A laser beam having a repetition frequency of 4 kHz and a time width of 30 nanoseconds is used as CVD laser light at harmonics (wavelength 349 nm).

가스 흡기 배기 유닛(164)은, 원료 가스, 퍼지 가스를 필요한 타이밍에서 가스 윈도우(161)에 공급하고, 또한, 가스 윈도우(161)로부터 흡인된 배기 가스의 무해화 처리를 행하는 기구 등을 구비한다. 또한, 원료 가스에는, 예를 들어, 크롬카르보닐 가스가 사용되고, 퍼지 가스에는, 예를 들어, 헬륨 가스 또는 아르곤 가스가 사용된다.The gas intake / exhaust unit 164 is provided with a mechanism for supplying the raw material gas and the purge gas to the gas window 161 at a required timing and for performing the detoxification treatment of the exhaust gas sucked from the gas window 161 . As the raw material gas, for example, chromium carbonyl gas is used. As the purge gas, for example, helium gas or argon gas is used.

에어 히터(165)는 에어 히터 제어 유닛(166)의 제어의 기초로, 필요한 타이밍에, 가스 윈도우(161)를 통해, 소정의 온도(예를 들어, 150 내지 300℃)의 열풍을 기판(131)의 레이저 조사부 근방에 공급한다.The air heater 165 generates hot air of a predetermined temperature (for example, 150 to 300 degrees Celsius) through the gas window 161 on the basis of the control of the air heater control unit 166, In the vicinity of the laser irradiation part.

에어 히터 제어 유닛(166)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 에어 히터(165)로부터 열풍을 분출하는 타이밍 및 열풍의 온도 등을 제어한다.The air heater control unit 166 controls the timing of blowing the hot air from the air heater 165 and the temperature of the hot air based on the control of the control unit 152. [

냉각풍 공급 유닛(167)은, 예를 들어, 팬 등에 의해 구성되고, 제어부(152)의 제어의 기초로, 냉각풍을 필요한 타이밍에서 가스 윈도우(161)에 공급하고, 가스 윈도우(161)로부터 냉각풍을 분출하는 타이밍을 제어한다.The cooling wind supply unit 167 is constituted by, for example, a fan and supplies cooling wind to the gas window 161 at a necessary timing based on the control of the control unit 152 and supplies the cooling wind from the gas window 161 Thereby controlling the timing of jetting the cooling wind.

또한, 제어부(152)는 레이저 가공 장치(101)의 가동부(101B)의 각 부의 동작을 제어한다. 예를 들어, 제어부(152)는, 도시하지 않은 액추에이터 등을 통해, 컬럼(114)의 y축 방향의 이동, 헤드(115)의 x축 방향의 이동 및 가공 유닛(151)의 z축 방향의 이동을 제어한다. 또한, 예를 들어, 제어부(152)는 레이저 조사 관찰 유닛(162)의 조명, 애퍼쳐, 어테뉴에이터의 감쇠율 등을 제어한다. 또한, 예를 들어, 제어부(152)는 레이저 유닛(163)으로부터 사출되는 레이저광의 에너지, 반복 주파수, 시간폭(펄스폭) 및 사출 타이밍 등을 제어한다. 또한, 예를 들어, 제어부(152)는 가스 흡기 배기 유닛(164)의 가스 개폐 밸브(도시하지 않음)의 개폐 타이밍 등의 제어를 행한다. 또한, 예를 들어, 제어부(152)는 에어 히터 제어 유닛(166)을 통해, 에어 히터(165)로부터 열풍을 분출하는 타이밍 및 열풍의 온도 등을 제어한다. 또한, 예를 들어, 제어부(152)는 냉각풍 공급 유닛(167)을 통해, 가스 윈도우(166)로부터 냉각풍을 분출하는 타이밍을 제어한다.In addition, the control unit 152 controls the operation of each part of the movable part 101B of the laser machining apparatus 101. [ For example, the control unit 152 controls the movement of the column 114 in the y-axis direction, the movement of the head 115 in the x-axis direction, and the movement of the processing unit 151 in the z-axis direction of the processing unit 151, Control the movement. Further, for example, the control unit 152 controls the illumination of the laser irradiation observation unit 162, the aperture, the attenuation rate of the attenuator, and the like. In addition, for example, the control unit 152 controls energy, repetition frequency, time width (pulse width), and injection timing of the laser light emitted from the laser unit 163. For example, the control unit 152 controls the opening and closing timing of the gas opening / closing valve (not shown) of the gas intake / exhaust unit 164 and the like. Further, for example, the control unit 152 controls the timing of blowing hot air from the air heater 165 and the temperature of the hot air through the air heater control unit 166. Further, for example, the control unit 152 controls the timing of blowing the cooling wind from the gas window 166 through the cooling wind supply unit 167. [

[가스 윈도우의 구성예][Configuration example of gas window]

다음에, 도 4 및 도 5를 참조하여, 가스 윈도우(161)의 구성예에 대해서 설명한다. 도 4는 가스 윈도우(161)를 가로로부터 본 단면도이며, 도 5는 가스 윈도우(161)의 하면의 평면도이다. 가스 윈도우(161)는 원반 형상의 윈도우 포트(201) 및 원반 형상의 창(202)에 의해 구성된다.Next, a configuration example of the gas window 161 will be described with reference to Figs. 4 and 5. Fig. Fig. 4 is a cross-sectional view of the gas window 161, and Fig. 5 is a plan view of the lower surface of the gas window 161. Fig. The gas window 161 is constituted by a disk-shaped window port 201 and a disk-shaped window 202.

윈도우 포트(201)의 중앙에는, 가스 도입 공간부(201A)가 형성되어 있다. 가스 도입 공간부(201A)는 윈도우 포트(201)의 하면으로부터 소정의 높이까지는 직경이 일정하고, 도중으로부터 상면부를 향해 테이퍼 형상으로 직경이 확장되어 있다. 또한, 윈도우 포트(201)의 상면에는 레이저 유닛(163)으로 발진되고 대물 렌즈(204)로부터 출사된 레이저광 LB를 도입하기 위한 창(202)이, 가스 도입 공간부(201A)의 상단부 개구를 덮도록 설치되어 있다.At the center of the window port 201, a gas introducing space 201A is formed. The gas introducing space 201A has a constant diameter from the lower surface of the window port 201 to a predetermined height and has a diameter tapered from the middle toward the upper surface. A window 202 for introducing the laser beam LB emitted from the objective lens 204 and oscillated by the laser unit 163 is provided on the upper surface of the window port 201 to open the upper end opening of the gas introducing space 201A Respectively.

창(202)의 바로 하방에는, 퍼지 가스 도입구(201B-1, 201B-2)가, 기판(131)의 상면에 대하여 평행하고, 또한, 서로 대향하도록 설치되어 있다. 가스 흡기 배기 유닛(164)으로부터 공급되는 퍼지 가스는 퍼지 가스 도입구(201B-1, 201B-2)를 통해, 가스 도입 공간부(201A)의 측면으로부터 분출하고, 그 퍼지 가스에 의해 창(202)의 흐려짐이 방지된다. 또한, 가스 도입 공간부(201A)의 측면으로부터 분출한 퍼지 가스는, 창(202)의 바로 아래에서 2개의 흐름이 부딪치고, 가스 도입 공간부(201A)의 하방을 향해, 거의 기판(131)의 면에 대하여 수직으로 하강한다.The purge gas introduction ports 201B-1 and 201B-2 are provided so as to be parallel to the upper surface of the substrate 131 and oppose to each other. The purge gas supplied from the gas intake / exhaust unit 164 is ejected from the side surface of the gas introduction space portion 201A via the purge gas introduction ports 201B-1 and 201B-2, Is prevented from being blurred. The purge gas ejected from the side surface of the gas introduction space portion 201A collides with the two streams just below the window 202 and is directed substantially toward the bottom of the gas introduction space portion 201A, As shown in Fig.

가스 도입 공간부(201A)의 직경이 일정해지는 영역에는, 원료 가스 도입구(201C)가, 기판(131)의 면에 평행하게 설치되어 있다. 가스 흡기 배기 유닛(164)으로부터 공급되는 원료 가스는 원료 가스 도입구(201C)를 통해, 가스 도입 공간부(201A)의 측면으로부터 분출하고, 퍼지 가스의 흐름에 섞여, 기판(131)의 상면에 대략 수직으로 하강하는 흐름이 된다. 그리고, 원료 가스는 가스 도입 공간부(201A)의 하단부 개구로부터 레이저 조사부 근방을 향해 분출하고, 윈도우 포트(201)와 기판(131) 사이의 CVD 공간(211)으로 확산한다. 이 CVD 공간(211)은 기판(131)의 레이저 조사부 근방, 즉, 레이저광 및 원료 가스에 의해 기판(131)에 박막을 형성하는 부분 근방에 접하고 있다.In the region where the diameter of the gas introducing space 201A is constant, a material gas inlet 201C is provided parallel to the surface of the substrate 131. [ The raw material gas supplied from the gas intake / exhaust unit 164 is ejected from the side surface of the gas introduction space portion 201A through the raw material gas inlet 201C, mixed with the flow of the purge gas, The flow is substantially vertically descending. The raw material gas is ejected from the lower end opening of the gas introduction space portion 201A toward the vicinity of the laser irradiation portion and diffused into the CVD space 211 between the window port 201 and the substrate 131. [ This CVD space 211 is in contact with the vicinity of a portion where a thin film is formed on the substrate 131 by the laser irradiation portion of the substrate 131, that is, by the laser beam and the source gas.

윈도우 포트(201)의 하면의 가스 도입 공간부(201A)의 하단부 개구의 주위에는, 송풍구(201D-1 내지 201D-3)가 설치되어 있다. 에어 히터(165)로부터 공급되는 열풍은, 도 4의 화살표 A1로 나타내어지는 바와 같이, 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터 레이저 조사부 근방을 향해 분출하고, CVD 공간(211)으로 확산한다.The air outlets 201D-1 to 201D-3 are provided around the lower end opening of the gas introduction space portion 201A on the lower surface of the window port 201. [ The hot air supplied from the air heater 165 sprays from the air blowing openings 201D-1 to 201D-3 toward the vicinity of the laser irradiation part and diffuses into the CVD space 211 as indicated by arrow A1 in Fig.

윈도우 포트(201)의 하면의 송풍구(201D-1 내지 201D-3)의 외측에는, 가스 도입 공간부(201A)의 하단부 개구 및 송풍구(201D-1 내지 201D-3)의 주위를 둘러싸도록 링 형상의 배기구(201E)가 형성되어 있다. 또한, 배기구(201E)를 둘러싸도록 링 형상의 배기구(201F)가 형성되어 있다. 그리고, 가스 도입 공간부(201A)로부터 분출된 퍼지 가스 및 원료 가스와 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터 분출된 열풍을 포함하는 기체의 대부분이, 도 4의 화살표 B1, B2로 나타내어지는 바와 같이, 배기구(201E)에 흡입되고, 나머지가 배기구(201F)에 흡입된다. 배기구(201E, 201F)에 흡입된 기체는, 배기구(201E, 201F)에 설치되어 있는 도시하지 않은 흡입구로부터 가스 흡기 배기 유닛(164)에 보내진다.1 to 201D-3 to surround the lower end opening of the gas introducing space portion 201A and the peripheries of the air outlets 201D-1 to 201D-3 on the outer side of the air outlets 201D-1 to 201D-3 on the lower surface of the window port 201, An exhaust port 201E is formed. Further, a ring-shaped exhaust port 201F is formed so as to surround the exhaust port 201E. Most of the purge gas and the raw material gas ejected from the gas introduction space portion 201A and the gas including the hot air blown out from the blowing out ports 201D-1 to 201D-3 are indicated by arrows B1 and B2 And is sucked into the exhaust port 201E, and the rest is sucked into the exhaust port 201F. The gas sucked into the exhaust ports 201E and 201F is sent to the gas intake / exhaust unit 164 from a suction port (not shown) provided in the exhaust ports 201E and 201F.

이와 같이, 배기구(201E, 201F)로부터 퍼지 가스, 원료 가스 및 열풍을 포함하는 기체를 흡입함으로써, CVD 공간(211)을 외부로부터 차단하는 도넛 형상의 가스 커텐 실드부(212)가 형성된다. 이 가스 커텐 실드부(212)에 의해 원료 가스가 외부로 누설되는 것이 방지되어, CVD 공간(211)이 원료 가스 분위기로 유지된다. 또한, 송풍구(201D-1 내지 201D-3)에 가깝고, 레이저 조사부 근방의 점선으로 둘러싸인 기판(131)의 원형의 부분 P1(이하, 가열 부분 P1이라고 칭함)이 가열된다.In this way, a donut-shaped gas curtain shield portion 212 for shielding the CVD space 211 from the outside is formed by sucking the gas including the purge gas, the source gas, and the hot air from the exhaust ports 201E and 201F. The gas curtain shield portion 212 prevents the source gas from leaking to the outside, and the CVD space 211 is maintained in the atmosphere of the source gas. Further, the circular portion P1 (hereinafter referred to as the heating portion P1) of the substrate 131 surrounded by the dotted line near the tuyeres 201D-1 to 201D-3 and near the laser irradiation portion is heated.

또한, 배기구(201F)의 더 외측에, 배기구(201F)를 둘러싸도록, 윈도우 포트(201)의 하면의 외주 부근에, 링 형상의 송풍구(201G)가 형성되어 있다. 그리고, 도 4의 화살표 C1 내지 C4로 나타내어지는 바와 같이, 송풍구(201G)로부터 가열 부분 P1의 주변을 향해 냉각풍이 분출하고, 기판(131) 상으로 확산한다. 그 중, 윈도우 포트(201)의 내측을 향해 CVD 공간(211)의 방향으로 진행하는 냉각풍의 대부분은, 도 4의 화살표 D1, D2로 나타내어지는 바와 같이, 배기구(201F)에 흡입되고, 나머지가 배기구(201E)에 흡입된다. 배기구(201E, 201F)에 흡입된 냉각풍은, 배기구(201E, 201F)에 설치되어 있는 도시하지 않은 흡입구로부터 가스 흡기 배기 유닛(164)에 보내진다.A ring-shaped air outlet 201G is formed on the outer side of the air outlet 201F and near the outer periphery of the lower surface of the window port 201 so as to surround the air outlet 201F. Then, as shown by the arrows C1 to C4 in Fig. 4, the cooling wind is blown from the air blowing port 201G toward the periphery of the heating portion P1, and diffuses onto the substrate 131. [ Most of the cooling air flowing in the direction of the CVD space 211 toward the inside of the window port 201 is sucked into the exhaust port 201F as shown by the arrows D1 and D2 in Fig. And sucked into the exhaust port 201E. The cooling wind sucked into the exhaust ports 201E and 201F is sent to the gas intake / exhaust unit 164 from an unillustrated intake port provided in the exhaust ports 201E and 201F.

이에 의해, 배기구(201F)의 바로 아래 부근으로부터 외측의, 가열 부분 P1의 주위의 점선으로 둘러싸인 기판(131)의 도넛 형상의 부분 P2(이하, 냉각 부분 P2라고 칭함)가 냉각된다. As a result, the donut-shaped portion P2 (hereinafter referred to as the cooling portion P2) of the substrate 131 surrounded by the dotted line around the heating portion P1 is cooled from the vicinity immediately below the exhaust port 201F.

이와 같이, 기판(131)의 열풍에 의해 가열되는 레이저 조사부 근방의 가열 부분 P1의 주변을 냉각함으로써, 가열 부분 P1이 필요 이상으로 커지는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 열팽창에 의한 기판(131)의 휨을 억제하고, 가공 위치나 포커스 어긋남의 발생을 방지하여, 가공 품질을 향상시킬 수 있다.As described above, by cooling the periphery of the heating portion P1 in the vicinity of the laser irradiation portion heated by the hot air of the substrate 131, it is possible to prevent the heating portion P1 from becoming unnecessarily large. Thus, warpage of the substrate 131 due to thermal expansion can be suppressed, occurrence of a machining position and a focus shift can be prevented, and processing quality can be improved.

또한, 상세한 위치는 도시하고 있지 않지만, 윈도우 포트(201) 내에서, 퍼지 가스, 원료 가스 및 열풍이 통과하는 경로(이하, 가스 열풍 경로라고 칭함)와, 냉각풍 및 배기구(201E, 201F)로부터 흡입된 기체가 통과하는 경로(이하, 냉각풍 배기 경로라고 칭함) 사이에 단열층(203)이 형성된다. 이에 의해, 냉각풍에 의해 퍼지 가스, 원료 가스 및 열풍이 냉각되는 것을 방지할 수 있다.Although a detailed position is not shown, a path through which the purge gas, the source gas and the hot air pass (hereinafter referred to as a gas hot air flow path), the cooling wind and the exhaust ports 201E and 201F from the window port 201 A heat insulating layer 203 is formed between a path through which the sucked gas passes (hereinafter referred to as a cooling wind exhaust path). Thereby, it is possible to prevent the purge gas, the source gas, and the hot air from being cooled by the cooling wind.

또한, 윈도우 포트(201)의 단열층(203)보다 가스 열풍 경로측이, 제어부(152)의 제어의 기초로, 도시하지 않은 히터 등에 의해 원료 가스에 포함되는 원료 물질이 재결정을 개시하는 온도보다 높은 온도(예를 들어, 65 내지 70℃)로 설정된다.Further, the gas hot air path side rather than the heat insulating layer 203 of the window port 201 can be heated by a heater (not shown) or the like to a temperature higher than the temperature at which the raw material contained in the raw material gas starts recrystallization Temperature (for example, 65 to 70 DEG C).

[글래스 적재대(112)의 돌기부의 효과][Effect of protrusion of the glass mount 112]

도 6은, 기판(131)을 글래스 적재대(112)에 설치한 상태를 도시하고 있다.Fig. 6 shows a state in which the substrate 131 is provided on the glass mounting table 112. Fig.

상술한 바와 같이, 글래스 적재대(112)의 설치면에는, 다수의 돌기부가 형성되어 있다. 덧붙여서 말하면, 도 6에는, 다수의 돌기부 중 돌기부(251-1 내지 251-3)만 도시되어 있다. 또한, 이하, 돌기부(251-1 내지 251-3)를 개별적으로 구별할 필요가 없는 경우, 간단히 돌기부(251)라고 칭한다.As described above, a plurality of projections are formed on the mounting surface of the glass table 112. Incidentally, only the protruding portions 251-1 to 251-3 are shown in Fig. 6 among the plurality of protruding portions. Hereinafter, when it is not necessary to individually distinguish the protruding portions 251-1 to 251-3, they are simply referred to as protruding portions 251. [

이 돌기부(251)에 의해 기판(131)을 지지함으로써, 기판(131)과 글래스 적재대(112) 사이에 간극이 형성되고, 열풍에 의해 가열된 기판(131)의 열이 글래스 적재대(112)를 타고 배출되어, 레이저 조사부 근방이 냉각되는 것이 방지된다. 그 결과, 원료 가스에 포함되는 원료 물질이 기판(131) 위에서 재결정하는 것을 보다 확실하게 방지할 수 있다.A gap is formed between the substrate 131 and the glass table 112 by supporting the substrate 131 by the protrusions 251. The heat of the substrate 131 heated by the hot air is transferred to the glass table 112 So that the vicinity of the laser irradiation part is prevented from being cooled. As a result, it is possible to reliably prevent recrystallization of the raw material contained in the raw material gas on the substrate 131.

한편, 기판(131)을 돌기부(251)로 지지함으로써, 글래스 적재대(112)의 설치면에 바로 두는 것보다, 열에 의해 기판(131)이 휘기 쉬워진다. 그러나, 상술한 바와 같이, 레이저 조사부 근방(가열 부분 P1) 주변을 냉각함으로써, 기판(131)을 돌기부(251)로 지지하는 것에 의한 기판(131)의 휨의 증대를 억제할 수 있다.On the other hand, when the substrate 131 is supported by the protrusions 251, the substrate 131 is easily bent by heat rather than being directly placed on the mounting surface of the glass mounting table 112. However, as described above, it is possible to suppress the increase in the warpage of the substrate 131 by supporting the substrate 131 with the protrusion 251 by cooling the vicinity of the laser irradiation part (the heating part P1).

[리페어 처리][Repair processing]

다음에, 도 7의 흐름도를 참조하여, 레이저 가공 장치(101)에 의해 실행되는 리페어 처리에 대해서 설명한다. 또한, 이 흐름도는, 기판(131)의 어떤 부분의 가공이 종료된 후로부터, 다음 부분의 가공이 종료될 때까지의 처리의 흐름을 도시하고 있다.Next, the repair processing executed by the laser machining apparatus 101 will be described with reference to the flowchart of Fig. This flowchart also shows the flow of processing from the end of machining of a certain portion of the substrate 131 to the end of machining of the next portion.

스텝 S1에 있어서, 냉각풍 공급 유닛(167)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 냉각풍의 공급을 개시한다. 이에 의해, 송풍구(201G)로부터 냉각풍의 분출이 개시되고, 기판(131)의 송풍구(201G)에 가까운 부분(도 4의 냉각 부분 P2)이 냉각된다.In step S1, the cooling wind supply unit 167 starts supply of the cooling wind on the basis of the control of the control unit 152. [ As a result, the blowing of the cooling wind from the blowing port 201G is started, and the portion of the substrate 131 close to the blowing port 201G (the cooling portion P2 in Fig. 4) is cooled.

또한, 냉각풍의 공급이 이미 개시되어 있는 경우에는, 스텝 S1의 처리는 스킵된다. 또한, 기판(131)의 가공 중은, 기본적으로 상시 가스 윈도우(161)로부터 냉각풍이 분출된다. 즉, 스텝 S2 내지 S13의 공정과 병행하여, 기판(131)의 레이저 조사부 근방의 주변을 냉각하는 공정이 행해진다.If the supply of the cooling wind has already been started, the processing of step S1 is skipped. During processing of the substrate 131, the cooling wind is basically ejected from the gas window 161 at all times. That is, in parallel with the steps S2 to S13, a step of cooling the periphery of the substrate 131 in the vicinity of the laser irradiation part is performed.

스텝 S2에 있어서, 제어부(152)는 가공 유닛(151)을 z축 방향으로 상승시킨다. 예를 들어, 기판(131)의 가공을 행할 때, 기판(131)과 가스 윈도우(161) 사이의 거리는, 약 0.5㎜ 정도로 설정되어 있다. 그리고, 제어부(152)는 가공 유닛(151)을 다음의 가공 위치로 이동시키기 위해, 기판(131)과 가스 윈도우(161) 사이의 거리가 2 내지 3㎜ 정도로 확대되도록, 가공 유닛(151)을 z축 방향으로 상승시킨다.In step S2, the control unit 152 raises the machining unit 151 in the z-axis direction. For example, when processing the substrate 131, the distance between the substrate 131 and the gas window 161 is set to about 0.5 mm. The control unit 152 controls the machining unit 151 so that the distance between the substrate 131 and the gas window 161 is enlarged to about 2 to 3 mm so as to move the machining unit 151 to the next machining position. up in the z-axis direction.

스텝 S3에 있어서, 가스 흡기 배기 유닛(164)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 원료 가스의 공급을 정지한다. 또한, 원료 가스의 공급이 이미 정지되어 있는 경우에는, 스텝 S3의 처리는 스킵된다. 또한, 퍼지 가스의 공급은 계속된다.In step S3, the gas intake / exhaust unit 164 stops the supply of the raw material gas on the basis of the control of the control unit 152. [ When the supply of the raw material gas is already stopped, the process of step S3 is skipped. Further, the supply of the purge gas is continued.

스텝 S4에 있어서, 에어 히터(165)는 제어부(152) 및 에어 히터 제어 유닛(166)의 제어의 기초로, 열풍의 공급을 개시한다. 이에 의해, 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터의 열풍의 분출이 개시되고, 기판(131)의 송풍구(201D-1 내지 201D-3)에 가까운 부분(도 4의 가열 부분 P1)이 가열된다.In step S4, the air heater 165 starts supplying hot air on the basis of the control of the control unit 152 and the air heater control unit 166. [ As a result, the blowing of hot air from the air blowing openings 201D-1 to 201D-3 is started and the portion (heating portion P1 in Fig. 4) near the air blowing openings 201D-1 to 201D- do.

스텝 S5에 있어서, 레이저 가공 장치(101)는 가공 유닛(151)을 이동한다. 즉, 제어부(152)는 헤드(115)의 x축 방향의 위치 및 컬럼(114)의 y축 방향의 위치를 제어하고, 다음의 가공 위치까지 가공 유닛(151)을 이동시킨다.In step S5, the laser machining apparatus 101 moves the machining unit 151. That is, the control unit 152 controls the position of the head 115 in the x-axis direction and the position of the column 114 in the y-axis direction, and moves the machining unit 151 to the next machining position.

스텝 S6에 있어서, 제어부(152)는 기판(131)과 가스 윈도우(161) 사이의 거리가 0.5㎜ 정도까지 가깝게 되도록, 가공 유닛(151)을 z축 방향으로 하강시킨다.The control unit 152 moves the processing unit 151 downward in the z-axis direction so that the distance between the substrate 131 and the gas window 161 is as close as 0.5 mm.

스텝 S7에 있어서, 제어부(152)는 열풍의 공급 시간을 타이머로 세트한다. 즉, 제어부(152)는 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터 분출되는 열풍에 의해, CVD 공간(211)에 접하고 있는 영역을 포함하는 기판(131)의 가공면의 영역의 온도를, 원료 가스에 포함되는 원료 물질이 재결정하지 않는 온도(예를 들어, 40℃ 전후) 이상으로 하기 위해 필요한 시간을 타이머로 세트한다.In step S7, the control unit 152 sets the supply time of hot air as a timer. That is, the control unit 152 controls the temperature of the region of the processed surface of the substrate 131 including the region in contact with the CVD space 211 by the hot air blown from the tuyeres 201D-1 to 201D- A time required for setting the raw material contained in the gas to be not higher than a temperature at which the raw material is not recrystallized (for example, around 40 占 폚) is set as a timer.

스텝 S8에 있어서, 레이저 가공 장치(101)는 가공 준비를 개시한다. 예를 들어, 레이저 조사 관찰 유닛(162)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 레이저 유닛(163)으로부터 사출되는 레이저광의 초점 위치가, 기판(131)의 가공면에 맞도록 대물 렌즈의 초점 위치를 조정한다. 또한, 제어부(152)는 레이저광의 에너지, 어테뉴에이터에 의한 레이저광의 감쇠율의 값, 슬릿의 크기 등, 도시하지 않은 입력부를 통해 유저에 의해 입력되는 가공 조건에 관한 설정을 취득하고, 그 설정에 기초하여, 레이저 조사 관찰 유닛(162) 및 레이저 유닛(163)을 제어한다. 또한, 제어부(152)는, 도시하지 않은 입력부를 통해 유저에 의해 입력되는, CVD 가공 및 ZAP 가공을 행하는 위치의 상세한 정보를 취득한다.In step S8, the laser machining apparatus 101 starts preparation for machining. For example, based on the control of the control unit 152, the laser irradiation observation unit 162 sets the focal position of the laser beam emitted from the laser unit 163 to the focal point of the objective lens Adjust the position. In addition, the control unit 152 acquires settings relating to the machining conditions input by the user through an input unit (not shown), such as the energy of the laser beam, the value of the attenuation rate of the laser beam by the attenuator, the size of the slit, And controls the laser irradiation observation unit 162 and the laser unit 163. Further, the control unit 152 acquires detailed information of a position to be subjected to CVD processing and ZAP processing, which is input by a user through an input unit (not shown).

스텝 S9에 있어서, 에어 히터(165)는 제어부(152) 및 에어 히터 제어 유닛(166)의 제어의 기초로, 스텝 S7에 있어서 세트된 타이머가 만료된 시점에서, 열풍의 공급을 정지한다. 이와 같이, 원료 가스의 공급 전에 열풍을 정지하고, 원료 가스 공급 중에 열풍을 보내지 않도록 함으로써, 가공 중의 CVD 공간(211) 내의 분위기를 거의 동일하게 유지할 수 있어, 가공 불균일의 발생을 방지할 수 있다.In step S9, the air heater 165 stops supplying the hot air at the timing when the timer set in step S7 expires on the basis of the control of the control unit 152 and the air heater control unit 166. [ In this way, by stopping the hot air before the supply of the source gas and not sending the hot air during the supply of the source gas, the atmosphere in the CVD space 211 during processing can be kept substantially the same, and occurrence of machining unevenness can be prevented.

스텝 S10에 있어서, 가스 흡기 배기 유닛(164)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 원료 가스의 공급을 개시한다. 이에 의해, 원료 가스가, 가스 도입 공간부(201A)의 하단부로부터 분출하고, 윈도우 포트(201)와 기판(131) 사이의 CVD 공간(211)으로 확산한다.In step S10, the gas intake / exhaust unit 164 starts supply of the raw material gas on the basis of the control of the control unit 152. [ The source gas is ejected from the lower end of the gas introducing space 201A and diffused into the CVD space 211 between the window port 201 and the substrate 131. [

스텝 S11에 있어서, 레이저 가공 장치(101)는 CVD 가공을 행한다. 구체적으로는, 제어부(152)는 헤드(115)의 x축 방향의 위치 및 컬럼(114)의 y축 방향의 위치를 제어하면서, 레이저 유닛(163)으로부터의 레이저광의 사출을 제어하고, 스텝 S8에 있어서 설정된 기판(131)의 CVD 가공을 행하는 부분에, 레이저광을 조사시킨다. 이에 의해, 기판(131)의 레이저광이 조사된 부분에, 원료 가스에 포함되는 원료 물질에 의한 박막이 형성되고, 새로운 패턴이 형성된다.In step S11, the laser processing apparatus 101 performs CVD processing. More specifically, the control unit 152 controls the injection of the laser beam from the laser unit 163 while controlling the position of the head 115 in the x-axis direction and the position of the column 114 in the y-axis direction, A laser beam is irradiated to a portion of the substrate 131 to be subjected to CVD processing. As a result, a thin film of the raw material contained in the raw material gas is formed on the portion of the substrate 131 irradiated with the laser beam, and a new pattern is formed.

스텝 S12에 있어서, 가스 흡기 배기 유닛(164)은 제어부(152)의 제어의 기초로, 원료 가스의 공급을 정지한다.In step S12, the gas intake / exhaust unit 164 stops the supply of the raw material gas on the basis of the control of the control unit 152. [

스텝 S13에 있어서, 레이저 가공 장치(101)는 ZAP 가공을 행한다. 구체적으로는, 제어부(152)는 헤드(115)의 x축 방향의 위치 및 컬럼(114)의 y축 방향의 위치를 제어하면서, 레이저 유닛(163)으로부터의 레이저광의 사출을 제어하고, 스텝 S8에 있어서 설정된 기판(131)의 ZAP 가공을 행하는 부분에, 레이저광을 조사시킨다. 이에 의해, 기판(131)의 레이저광이 조사된 부분의 패턴이 제거된다.In step S13, the laser machining apparatus 101 performs ZAP processing. More specifically, the control unit 152 controls the injection of the laser beam from the laser unit 163 while controlling the position of the head 115 in the x-axis direction and the position of the column 114 in the y-axis direction, The laser beam is irradiated to the portion of the substrate 131 that is set in the ZAP process. Thereby, the pattern of the portion of the substrate 131 irradiated with the laser beam is removed.

또한, ZAP 가공을 행할 필요가 없는 경우에는, 스텝 S12 및 스텝 S13의 처리는 스킵된다. 또한, 아직 가공하는 부분이 남아 있는 경우, 또한 스텝 S1로부터 처리가 실행된다.If it is not necessary to perform the ZAP processing, the processing in steps S12 and S13 is skipped. If there still remains a part to be processed, processing is also executed from step S1.

이상과 같이 하여, 확실하고 또한 효율적으로 기판의 CVD 가공을 행하는 부분 근방을 가열할 수 있다.As described above, it is possible to reliably and efficiently heat the vicinity of the portion where the CVD processing of the substrate is performed.

즉, 투명 필름 히터를 사용하지 않으므로, 투명 필름 히터의 단선 등에 의한 수리나 교환을 할 필요가 없어, 그에 관한 비용이나 수고를 삭감하거나, 작업의 정체를 방지하거나 할 수 있다.In other words, since the transparent film heater is not used, it is not necessary to repair or replace the transparent film heater by disconnection or the like, so that the cost and labor can be reduced or the operation can be prevented from being stagnated.

또한, CVD 가공을 행하는 부분 근방만을 가열하므로, 가열에 필요한 에너지를 삭감할 수 있는 동시에, 불필요한 부분을 가열함으로써, 주변의 부품이나 기기에 열에 의한 악영향을 주는 것을 방지할 수 있다.In addition, since only the vicinity of the part to be subjected to the CVD process is heated, the energy required for heating can be reduced, and unnecessary parts can be heated, thereby preventing adverse effects caused by heat on surrounding parts and devices.

또한, 기판을 가열하기 위한 부품을 소형화할 수 있는 동시에, 가공 대상이 되는 기판의 크기에 의해서 교환할 필요가 없어, 비용을 삭감할 수 있는 동시에, 보수품의 보관이 용이해진다.In addition, the parts for heating the substrate can be downsized, and it is not necessary to replace the parts by the size of the substrate to be processed, so that the cost can be reduced and the maintenance can be easily stored.

또한, 가공 유닛(151)의 이동 범위 내이면, 기판의 모든 부분을 빠짐없이 가열할 수 있어, 가열 부족의 발생을 방지할 수 있다.Further, if the processing unit 151 is within the moving range, all the portions of the substrate can be heated without fail, and the occurrence of insufficient heating can be prevented.

또한, 기판(131)의 레이저 조사부 근방의 주변을 냉각함으로써, 기판(131)의 휨을 억제할 수 있다. 이에 의해, 가공 위치나 포커스 어긋남의 발생을 방지하여, 가공 품질을 향상시킬 수 있다. 또한, 기판(131)의 표면이 레이저 가공 장치(101)의 일부에 접촉되어, 손상시키는 것을 방지할 수 있다.Further, by cooling the periphery of the substrate 131 in the vicinity of the laser irradiation portion, warping of the substrate 131 can be suppressed. Thereby, the occurrence of the machining position and the focus deviation can be prevented, and the machining quality can be improved. In addition, it is possible to prevent the surface of the substrate 131 from contacting with a part of the laser processing apparatus 101 and damaging it.

<2. 변형예><2. Modifications>

이상의 설명에서는, 에어 히터(165)로부터 소정의 온도 이상의 열풍을 공급하는 예를 나타냈다. 그러나, 상술한 바와 같이 윈도우 포트(201)가 높은 온도(65 내지 70℃)로 설정되어 있으므로, 에어 히터(165)로부터 주위의 온도와 동일한 바람을 공급하고, 윈도우 포트(201)의 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터 분출하도록 하는 것만으로, 송풍구(201D-1 내지 201D-3)로부터는 열풍이 분출되게 된다. 그리고, 그 열풍에 의해 기판(131)을 가열하도록 하는 것도 가능하다.In the above description, an example in which hot air of a predetermined temperature or more is supplied from the air heater 165 is shown. However, since the window port 201 is set at a high temperature (65 to 70 degrees Celsius) as described above, the same air as the ambient temperature is supplied from the air heater 165, -1 to 201D-3, hot air is blown from the air blowing openings 201D-1 to 201D-3. It is also possible to heat the substrate 131 by the hot air.

또한, 도 4 및 도 5에 도시한 퍼지 가스 도입구, 원료 가스 도입구 및 송풍구의 수는, 그 일례이며, 필요에 따라서 증감하는 것이 가능하다.The numbers of the purge gas inlet, the raw material gas inlet, and the air outlet shown in Figs. 4 and 5 are merely examples, and can be increased or decreased as needed.

또한, 예를 들어, 가공 유닛(151) 대신에, 도 8에 도시되는 가공 유닛(301)을 사용하도록 하는 것도 가능하다.It is also possible to use, for example, the machining unit 301 shown in Fig. 8 instead of the machining unit 151. Fig.

가공 유닛(301)은, 도 3의 가공 유닛(151)과 비교하여, 냉각기(311)가 설치되어 있는 점이 다르다. 그리고, 냉각기(311)에 의해 레이저 가공 장치(101)의 온도보다 낮은 온도로 냉각된 냉각풍이, 가스 윈도우(161)로부터 분출된다.The machining unit 301 differs from the machining unit 151 of Fig. 3 in that a cooler 311 is provided. The cooling wind cooled by the cooler 311 to a temperature lower than the temperature of the laser processing apparatus 101 is ejected from the gas window 161. [

이에 의해, 기판(131)의 냉각 부분 P2(도 4)가 열수축되고, 가열 부분 P1의 팽창이 캔슬되기 때문에, 기판(131)의 휨을 보다 저감시킬 수 있다.Thus, the cooling portion P2 (Fig. 4) of the substrate 131 is thermally contracted and the expansion of the heating portion P1 is canceled, so that the warp of the substrate 131 can be further reduced.

또한, 본 발명의 실시 형태는, 상술한 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에 있어서 다양한 변경이 가능하다.The embodiments of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

101 : 레이저 가공 장치
112a : 내지 112d : 글래스 적재대
113a, 113b : 레일 부재
114 : 컬럼
115 : 헤드
131 : 기판
151 : 가공 유닛
152 : 제어부
161 : 가스 윈도우
162 : 레이저 조사 관찰 유닛
163 : 레이저 유닛
164 : 가스 흡기 배기 유닛
165 : 에어 히터
166 : 에어 히터 제어 유닛
167 : 냉각풍 공급 유닛
201 : 윈도우 포트
201A : 가스 도입 공간부
201B-1, 201B-2 : 퍼지 가스 도입구
201C : 원료 가스 도입구
201D-1 내지 201D-3 : 송풍구
201E, 201F : 배기구
201G : 송풍구
211 : CVD 공간
212 : 가스 커텐 실드부
301 : 가공 유닛
311 : 냉각기
101: Laser processing device
112a: to 112d:
113a and 113b:
114: column
115: Head
131: substrate
151: Machining unit
152:
161: Gas window
162: laser irradiation observation unit
163: Laser unit
164: gas intake / exhaust unit
165: Air heater
166: Air heater control unit
167: Cooling air supply unit
201: Windows Port
201A: gas introduction space part
201B-1, 201B-2: Purge gas inlet
201C: feed gas inlet
201D-1 to 201D-3:
201E, 201F: Exhaust air
201G: Tuyere
211: CVD space
212: gas curtain shield portion
301: Machining unit
311: Cooler

Claims (5)

가공 대상의 가공 부분 근방을 향해 원료 가스 및 열풍을 분출하고, 상기 원료 가스 및 상기 열풍을 분출하는 위치보다 외측으로부터 상기 가공 부분 근방의 주변을 향해 냉각풍을 분출하는 동시에, 상기 원료 가스 및 상기 열풍을 분출하는 위치와 상기 냉각풍을 분출하는 위치 사이에 상기 원료 가스, 상기 열풍 및 상기 냉각풍을 흡입하기 위한 배기구가 설치되어 있는 공급 유닛과,
상기 가공 부분에 레이저광을 조사하는 조사 수단을 구비하고,
상기 공급 유닛 내에 있어서, 상기 원료 가스 및 상기 열풍이 통과하는 경로와 상기 냉각풍이 통과하는 경로 사이에 단열층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는,
레이저 가공 장치.
The raw material gas and the hot air are blown toward the vicinity of the machining part to be machined and the cool air is blown out from the outside to the periphery of the machining part from the position where the raw material gas and the hot air are blown out, A supply unit provided with an exhaust port for sucking the raw material gas, the hot air and the cooling air between a position for ejecting the raw material gas and a position for ejecting the cooling air,
And irradiating means for irradiating the machining portion with laser light,
Wherein a heat insulating layer is formed in the supply unit between a path through which the raw material gas and the hot air pass and a path through which the cooling wind passes.
Laser processing apparatus.
제1항에 있어서,
상기 배기구는, 상기 원료 가스 및 상기 열풍을 분출하는 위치를 둘러싸도록 형성되고,
상기 냉각풍을 분출하는 송풍구는, 상기 배기구를 둘러싸도록 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 레이저 가공 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the exhaust port is formed so as to surround a position for ejecting the raw material gas and the hot air,
And a blowing port for blowing out the cooling air is formed so as to surround the exhaust port.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 가공 대상을 두는 다이의 설치면에 상기 가공 대상과 상기 설치면 사이에 간극을 형성하기 위한 복수의 돌기가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는, 레이저 가공 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein a plurality of projections for forming a gap between the object to be processed and the mounting surface are formed on the mounting surface of the die for holding the object to be processed.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 냉각풍을 냉각하기 위한 냉각 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는, 레이저 가공 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
Further comprising cooling means for cooling the cooling wind.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 공급 유닛은, 상기 열풍과 상기 원료 가스를 다른 위치로부터 상기 가공 부분 근방을 향해 분출하는 것을 특징으로 하는, 레이저 가공 장치.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the supply unit ejects the hot air and the source gas from different positions toward the vicinity of the machining portion.
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