KR20150058081A

KR20150058081A - 촬상장치, 그 제어 방법 및 기억매체

Info

Publication number: KR20150058081A
Application number: KR1020140162265A
Authority: KR
Inventors: 아쓰시 수가와라; 나오유키 나카가와라; 케이타 나가이
Original assignee: 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 2013-11-20
Filing date: 2014-11-20
Publication date: 2015-05-28
Also published as: CN104660893B; KR101757654B1; US20150138392A1; CN104660893A; US9648249B2

Abstract

촬상장치는, 촬상 유닛과, 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛과, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 유닛과, 상기 측광값 결정 유닛에 의해 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 유닛을 구비한다.

Description

촬상장치, 그 제어 방법 및 기억매체{IMAGE CAPTURING APPARATUS, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND STORAGE MEDIUM}

본 발명은, 디지털 카메라로 대표되는 촬상장치에 관한 것으로서, 특히 촬영시에 발생하는 형광등 등으로부터 얻어지는 외광변화(일반적으로는 플리커라고 불린다)에 의한 노광 얼룩의 보정기술에 관한 것이다.

촬상장치에 의한 플리커 광원하의 촬영시에, 셔터 릴리즈 전에 행하는 측광동작은, 측광 센서가 플리커의 영향을 받기 때문에 측광결과가 안정하지 않다고 하는 문제가 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해서, 측광 센서의 축적 시간을 플리커의 발광 주기의 정수배로 제어하거나, 혹은 소정의 시간간격으로 간헐적으로 축적을 행한다. 이에 따라 플리커 환경하에서도, 그 평균 밝기의 안정한 측광을 행하는 것이 가능하다.

한편, 최근의 디지털 카메라의 고감도화에 따라, 그 카메라는 플리커를 발생시키는 인공광원하에서도 고속 셔터로 촬영 가능하게 되고 있다. 실내 스포츠의 촬영등에서, 고속 셔터 촬영은, 블러(blur)가 없는 사진을 촬영할 수 있는 장점이 있다. 한편, 플리커 광원하에서의 고속 셔터 촬영에서는, 플리커의 영향 때문에, 화상들은, 프레임마다 밝기와 색온도가 달라지는 경우도 있다.

이러한 문제를 해결하기 위해서, 일본국 공개특허공보 특개평6-209427호와 2006-222935호에서는, 플리커를 검출하고, 밝기의 변화가 최소인 플리커의 피크 위치에서의 노광을 행함으로써, 플리커의 영향을 저감하는 기술이 개시되어 있다.

그렇지만, 일본국 공개특허공보 특개평6-209427호와 일본국 공개특허공보 특개2006-222935호에 개시된 기술은, 동영상 촬영을 행하는 것을 전제로 한다. 정지화상 촬영시에, 같은 피크 위치에서 노광을 행하면, 플리커의 타이밍에 따라 릴리즈 타임 래그가 길어져버린다. 유저에 의해 피크 위치 촬영을 행할 것인지를 아닌지를 선택할 수 있는 경우, 플리커의 피크 위치 촬영을 행할지 아닌지에 따라, 촬영에 최적인 노출 조건이 달라진다.

도 18은 상용 전원(50Hz)이 사용될 때 생긴 플리커 환경에서의 일반적인 측광 출력을 나타낸다. 플리커의 피크에서 얻어진 측광값AE_peak과, 평균 측광값AE_ave간에 측광차이가 있다. 이 때문에, 상술한 것처럼 AE_ave를 바탕으로 산출한 노출 조건으로 피크 위치 촬영을 행할 경우에, 그 결과로 얻어진 Δ만큼 과다노출된다.

본 발명은 상술한 과제를 감안하여 이루어진 것으로서, 플리커 광원의 유/무에 관계없이, 적절한 노출로 촬영할 수 있는 촬상장치를 제공한다.

본 발명의 제1 국면에 의하면, 촬상장치는, 촬상 유닛; 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛; 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 유닛; 및 상기 측광값 결정 유닛에 의해 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 유닛을 구비한다.

본 발명의 제2 국면에 의하면, 촬상장치는, 촬상 유닛; 상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정하는 설정 유닛; 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛; 상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 유닛; 및 상기 측광값 결정 유닛에 의해 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 유닛을 구비한다.

본 발명의 제3 국면에 의하면, 촬상장치는, 촬상 유닛; 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛; 및 노출 조건을 결정하는 결정 유닛을 구비하고, 상기 결정 유닛은, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 노광을 시작시키는 제1의 모드에서 사용된 제1의 노출 조건이, 상기 제1의 모드보다도 노광 지시 조작으로부터 노광을 시작시킬 때까지의 대기 시간이 짧은 제2의 모드에서 사용된 제2의 노출 조건보다도 노출부족이 되도록, 상기 제1 및 상기 제2의 노출 조건을 결정한다.

본 발명의 제4 국면에 의하면, 촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법은, 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝; 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 스텝; 및 상기 측광값 결정 스텝에서 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 스텝을 포함한다.

본 발명의 제5 국면에 의하면, 촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법은, 상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정하는 설정 스텝; 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝; 상기 설정 스텝에서 설정된 노광 시간에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 스텝; 및 상기 측광값 결정 스텝에서 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출조건을 결정하는 노출 조건 결정 스텝을 포함한다.

본 발명의 제6 국면에 의하면, 촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법은, 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝; 및 노출 조건을 결정하는 결정 스텝을 포함하고, 상기 결정 스텝에서는, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 노광을 시작시키는 제1의 모드에서 사용된 제1의 노출 조건이, 상기 제1의 모드보다도 노광 지시 조작으로부터 노광을 시작시킬 때까지의 대기 시간이 짧은 제2의 모드에서 사용된 제2의 노출 조건보다도 노출부족이 되도록, 상기 제1 및 상기 제2의 노출 조건을 결정한다.

본 발명의 또 다른 특징들은, (첨부도면을 참조하여) 이하의 예시적 실시예들의 설명으로부터 명백해질 것이다.

도 1a, 1b는, 각각, 본 발명의 일 실시예에 따른 디지털 일안 리플렉스 카메라의 단면도와 평면도이고,
도 2는 본 실시예에 따른 상기 카메라의 동작을 나타내는 흐름도이고,
도 3은 본 실시예에 따른 프로그램 차트이고,
도 4a, 4b는 플리커 검출 동작시의 측광출력을 나타내는 그래프이고,
도 5a, 5b는 플리커의 피크 측광값과 대응한 타이밍의 산출 방법을 설명하는 도이고,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 촬상장치의 개략적인 구성도이고,
도 7은 제1의 실시예에 따른 촬상장치의 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때의 측광값 결정 처리를 나타내는 흐름도이고,
도 8a, 8b는 플리커 검출용의 전하의 축적 타이밍 및 화상신호의 판독 타이밍을 나타내는 도면이고,
도 9는 수직화소 가산수와 판독시간의 관계를 나타내는 도면이고,
도 10은 플리커 광원의 광량의 피크의 타이밍을 산출하는 방법의 일례를 나타내는 모식도이고,
도 11은 제1의 실시예에 따른 셔터 스피드와 측광보정값에 의해 보정된 측광값과의 관계를 나타내는 도면이고,
도 12는 제2의 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법의 흐름도이고,
도 13a 내지 13e는 제2의 실시예에 따른 근사에 의한 플리커 광원에 대한 파형예측을 사용하여서 측광보정값의 산출 방법의 일례를 각각 나타내는 모식도이고,
도 14는 제2의 실시예에 따른 셔터 스피드와 측광보정값에 의해 보정된 측광값과의 관계를 나타내는 도면이고,
도 15는 제3의 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법의 흐름도이고,
도 16a 내지 16e는 제3의 실시예에 따른 근사에 의한 플리커 광원에 대한 파형예측을 사용하여 측광보정값의 산출 방법의 일례를 나타내는 모식도이고,
도 17은 형광등과 일부의 LED의 광량의 파형을 설명하는 도이고,
도 18은 플리커 환경하에서 얻어진 측광값을 표현하는 그래프다.

이하, 본 발명을 디지털 일안 리플렉스 카메라에 적용한 실시예에 대해서, 첨부도면을 참조해서 상세하게 설명한다.

(제1의 실시예)

도 1a는 본 발명의 제1의 실시예에 따른 디지털 일안 리플렉스 카메라의 단면도다. 도 1a를 참조하면, 카메라 본체(101)의 전방면에는, 촬영 렌즈(102)가 장착된다. 촬영 렌즈(102)는 교환가능하다. 카메라 본체(101)와 촬영 렌즈(102)는 마운트 접점군(112)을 거쳐서 전기적으로 접속된다. 조리개(113)는 촬영 렌즈(102)에 배치되어 카메라내에 입력하는 광량을 조정한다. 포커싱 렌즈(116)는 광축상에서 이동하여 초점조절을 행한다.

메인 미러(103)는 반투명경이다. 메인 미러(103)는 뷰파인더 관찰 상태에서는 촬영 광로 위에 경사지게 설치되어, 촬영 렌즈(102)로부터의 촬영 광빔을 뷰파인더 광학계에 반사한다. 동시에, 메인 미러(103)를 투과한 광은 서브 미러(104)를 거쳐 AF유닛(105)에 입사한다. 촬영 상태에서는, 메인 미러(103)는 촬영 광로외에 대피된다.

AF유닛(105)은 위상차 검출 방식에 근거한 AF센서다. 그 위상차 검출방식에 의거한 초점검출이 공지의 기술이기 때문에, 구체적인 제어동작에 관한 설명은 생략한다. 이러한 방식에 의거한 동작에 대해 아래에 개요를 서술한다. 촬영 렌즈(102)의 2차 결상면을 초점검출 라인 센서 위에 형성 함으로써, 촬영 렌즈(102)의 초점조절 상태를 검출한다. 그 검출 결과를 바탕으로 포커싱 렌즈(116)를 구동해서 자동 초점검출을 행한다.

이 카메라는, 촬상소자(108), 로패스 필터(106), 및 포컬 플레인 셔터(107)를 구비한다. 포커싱 스크린(109)은 뷰파인더 광학계의 촬영 렌즈(102)의 예정 결상면에 배치된다. 이 카메라는, 뷰파인더 광로 변경용의 펜타프리즘(110), 촬영자가 포커싱 스크린(109)을 관찰하여 파선으로 나타낸 바와 같이 촬영 화면을 확인하는 아이피스(eyepiece)(114), 및 측광에 사용된 AE센서(111)도 구비한다. AE센서(111)는, 실선으로 나타내는 바와 같이, 포커싱 스크린으로부터 광을 수광하여서 피사체의 밝기를 측정할 수 있다(피사체를 측광할 수 있다). 이 카메라는, 촬영 정보 표시용의 내장LCD(115)를 더 구비한다. 내장LCD(115)는, 유저가 아이피스(114)를 들여다보는 동안, 노출 조건등 촬영에 관련된 정보를 확인할 수 있도록 구성된다. 도 1a에 일점쇄선으로 나타나 있는 바와 같이, 유저가 상기 아이피스로 들여다볼 때, 유저가 보는 화면 하측에 각종 정보를 표시할 수 있다.

디스플레이 유닛(117)은, 일반적으로는 액정 패널로 형성되어, 촬영자가 촬영한 화상과, 촬상소자(108)에서 얻어진 화상신호를 실시간으로 표시함으로써, 유저가 피사체의 상태를 관찰할 수 있게 되어 있다.

도 1b는, 본 실시예에 따른 디지털 일안 리플렉스 카메라의 평면도다. 릴리즈 버튼(119)은, 반가압 상태와 완전가압 상태를 가지는 2단 스위치다. 릴리즈 버튼(119)이 반가압됨으로써, AE와 AF등의 촬영전의 준비 동작이 시작된다. 릴리즈 버튼(119)이 완전가압됨으로써, 촬상소자(108)가 노광되어서 촬영 처리가 행해진다. 이하, 반가압된 상태를 S1이 ON된 상태로서 적고, 완전가압된 상태를 S2가 ON된 상태라고 적는다. 외장형 LCD(118)는, 내장LCD(115)와 같이, 카메라의 설정이나 노출 조건등, 촬영에 관련된 각종 정보를 표시한다.

다음에, 본 실시예에 따른 디지털 일안 리플렉스 카메라의 동작에 대해서 도 2의 흐름도를 참조해서 설명한다.

S1이 ON된 경우, 스텝S301에서 측광동작을 시작한다. 스텝S302에서, AE센서(111)를 구동해서 측광동작을 행한다. 측광시에 가령 플리커 광원이 있는 경우에도, 주위의 환경광의 플리커에 의한 밝기의 변화에 대하여 측광값이 변동하지 않도록, 플리커에 의한 밝기의 변화에 맞춰서 변동하는 측광값의 평균값을 측광출력값으로서 얻는다. 이러한 동작은, AE센서(111)의 축적 시간을, 플리커의 주기의 정수배로 설정하면, 축적의 타이밍에 관계없이 일정한 출력을 얻는 현상을 이용하여 행해진다. 이 경우에, 플리커 광원의 밝기가 변화되는 주파수는, 상용전원의 주파수의 2배가 된다. 그러므로, 50Hz의 전원지역에서는, 전원 주파수가 100Hz이고, 그 발광 주기는 10ms다. 마찬가지로, 60Hz의 전원지역에서는, 전원 주파수가 120Hz이고, 그 발광 주기는 8.33ms다. 즉, 예를 들면 AE센서(111)의 축적시간을, 8.33ms와 10ms의 사이의 9ms로 설정하면, 전원 주파수가 50Hz인지 60Hz인지에 관계없이, 플리커의 거의 1주기에 대응한 측광값을 축적한다. 플리커가 있는 경우에도, 그 측광값의 평균값을 측광하는 것이 가능하다. 이 경우에 얻어진 측광값을 바탕으로, 잠정의 노출 조건인 조리개 값AV1, 셔터 스피드TV1 및 ISO감도ISO1을 결정한다. AV1, TV1, ISO1은, 카메라 내부에 미리 기억된 프로그램 차트를 이용해서 결정된다. 그 프로그램 차트의 예를 도 3에 나타낸다. 도 3은 ISO가 1OO일 경우를 나타내고, 여기서, 도 3과 같은 프로그램 차트와 측광값이 결정될 때, AV와 TV가 유일하게 결정된다.

스텝S302에서 잠정노출 제어 값AV1, TV1, ISO1이 결정되면, 스텝S303의 처리로 진행된다. 스텝S303에서는, 플리커 대책 모드가 ON으로 되어 있는지를 확인한다. 가령 플리커가 검출되었을 경우, 이 후의 처리에서 플리커의 피크에 동기해서 릴리즈 동작을 행한다(플리커 경감 노광 제어). 피크에 동기시키기 위해서는 약간의 대기 시간이 필요하다. 이 때문에, 플리커 대책 모드는, 릴리즈 타임 래그가 길어져버린다고 하는 단점이 있다. 이 때문에, 본 실시예에 따른 카메라에서는, 유저가 플리커 대책 모드를 행할 것인가 행하지 않을 것인가를 설정할 수 있게 되어 있다. 스텝S303에서는, 플리커 대책 모드가 OFF인 경우에, 통상 촬영 시퀀스를 행하는 스텝S311의 처리로 진행된다. 플리커 대책 모드가 ON인 경우에는, 플리커 대책 시퀀스를 행하는 스텝S304의 처리로 진행된다. 이때, 본 실시예에 있어서, 플리커의 피크에 동기해서 셔터 버튼을 릴리즈 한다고 하는 것은, 노광 기간의 중심이 플리커 광원의 광량의 피크와 일치하는 타이밍 근방에 노광하는 것이다.

스텝S304에서는, 플리커가 검출되었을 경우에는, 플리커의 명/암 주기를 검출할 때 피크 동기신호를 생성한다. 이것들의 동작을 실현하기 위해서, 축적 시간 1.66ms(소정시간)의 축적을 연속적으로 12회(복수회) 행한다. 도 4a는, 50Hz의 상용전원에서 플리커가 존재했을 경우의 축적 제어와 출력 측광값을 나타낸다. 도 4a에 나타낸 바와 같이, n회째의 축적을 "축적n", 축적n의 결과를 판독하는 것을 "판독n", 판독n의 결과로부터 얻어진 측광값을 "AE(n)"이라고 적는다. 각 측광값의 취득 시간은, 축적이 유한한 시간에서 행해지기 때문에, 축적 기간의 중앙값으로 대표된다. 도 4a에서는, n=1과 n=2의 플로트만 나타내었지만, n=3∼12의 플로트에 관해서도 마찬가지다. 플리커 발광 주기는 10ms이며, 10÷1.66≒6이기 때문에, 도 4a에 나타나 있는 바와 같이, 축적의 타이밍에 관계없이, 6회 주기로 거의 같은 측광값이 얻어진다. 즉, AE(n)=AE(n+6)이다.

마찬가지로, 60Hz 상용전원의 경우에, 플리커의 발광 주기가 8.33ms이며, 8.33/1.66≒5이다. 그러므로, 도 4b에 나타나 있는 바와 같이, 5회주기로 거의 같은 측광값을 얻어, AE(n)=AE(n+5)가 된다. 한편, 플리커가 없는 환경하에서는, n에 관계없이 AE(n)은 거의 일정하다. 상기 설명을 고려하여,

...(1)

...(2)

와 같이 평가값 F50, F60을 각각 정의하고, 소정의 역치F_th를 사용하면, (1) F50 <F_th 및 F60 <F_th인 경우, 플리커가 없다고 판정될 수 있고,

(2) F50 <F_th 및 F60≥F_th인 경우, 발광 주기T=10ms(전원 주파수 50Hz)의 플리커 환경이 존재한다고 판정될 수 있고,

(3) F50≥F_th 및 F60 <F_th인 경우, 발광 주기T=8.33ms(전원 주파수 60Hz)의 플리커 환경이 존재한다고 판정될 수 있다. 추가로, 일부의 경우에, 패닝(panning)이나 피사체의 움직임에 의해 F50과 F60의 양쪽이 F_th를 초과할 수도 있다. 이 경우에, F50과 F60이 서로 비교된다. F50쪽이 작은 경우에, 발광 주기T＝10ms(전원 주파수 50Hz)의 플리커 환경이 존재한다고 판정된다. F60쪽이 작은 경우에는, 발광 주기T=8.33ms(전원 주파수 60Hz)의 플리커 환경이 존재한다고 판정된다. 즉,

(4) F50≥F_th 및 F60≥F_th인 경우,

F50≤F60일 때 발광 주기T=10ms(전원 주파수 50Hz)의 플리커 환경이 존재하고,

F50 > F60일 때 발광 주기T=8.33ms(전원 주파수 60Hz)의 플리커 환경이 존재한다.

스텝S304에서는, 플리커가 존재하는 경우에 피크 동기신호를 생성한다. 기본적으로는, 얻어진 12개의 측광값을 보간하고, 피크를 얻을 때의 시간t(peak)를 산출하는 처리다. 도 5a는 피크 타이밍을 산출하는 방법의 일례를 설명하는 그래프다. AE(1)∼AE(12) 중에서, 최대의 출력을 얻는 점을 P2(t(m), AE(m))이라고 하고, 그 바로 앞의 측광결과에 해당한 점을 P1(t(m-1), AE(m-1))이라고 하고, 그 바로 뒤의 측광결과에 해당한 점을 P3(t(m+1), AE(m+1))이라고 한다. AE(m-1)과 AE(m+1)의 작은쪽에 해당한 점(도 5a에서는 P3)과 점P2로 이루어진 2개의 점을 지나가는 직선을, L1=at+b로서 구한다. 또한, AEl과 AE3의 큰쪽에 해당하는 점(도 5a에서는 P1)을 지나고, 기울기 -a의 직선을 L2로 하고, L1과 L2의 교점을 구하여서, 피크 타이밍t(peak)와 측광값AE(peak)를 산출할 수 있다. 또한, 플리커의 발광 주기T가 알려져 있기 때문에, t=t(peak)+nT(n은 자연수)의 타이밍마다 변화되는 도 5b에 도시된 것과 같은 피크 동기신호를 생성한다. 스텝S304에서 플리커의 유/무 판정시에 플리커가 검출되는 경우, 플리커의 발광 주기, 피크 측광값 및 피크 동기신호를 생성한다. 그 후, 스텝S305의 처리로 진행된다.

스텝S305는, 스텝S304에서 플리커의 유/무의 판정에 근거하는 분기 스텝이다. 플리커가 검출되지 않은 경우에는, 통상 촬영 시퀀스인 스텝S311의 처리로 진행된다. 플리커가 검출된 경우에는, 스텝S306의 처리로 진행된다.

스텝S306에서는, 잠정노출 조건의 셔터 스피드 TV1을 평가한다. 본 실시예에서는, 촬영시의 노광 타이밍을 플리커의 피크 근방에 맞추어서 밝기의 변동이 적은 시간영역에서 노광을 행한다. 그 때문에, 이 동작은, 셔터 스피드가 대단히 빠를 경우에 유효하다. 그렇지만, 셔터 스피드가 플리커 주기보다 긴 경우에는, 밝기의 변동이 평균화되어, 플리커는 원래 촬영 화상에 거의 영향을 미치지 않는다. 즉, 이 동작은, 그다지 유효하지 않다. 그 때문에, 소정의 비율α를 카메라내에 설정하여, 잠정의 셔터 스피드 TV1과 플리커의 발광 주기T와의 비율을 평가한다. 즉, 플리커의 주기인 T에 대한 잠정의 노광 시간TV1의 비율인 TV1/T를 소정값α와 비교한다. TV1/T>α이면, 셔터 스피드가 발광 주기T에 대하여 충분히 길고, 촬영 화상에 대하여 플리커의 영향이 충분히 작다고 판정해서, 통상 촬영 시퀀스인 스텝S311의 처리로 진행된다. 반대로, TV1/T≤α이면, 피크에 동기해서 노광을 행할 필요가 있기 때문에, 단계S307의 처리로 진행된다.

이때, 잠정의 셔터 스피드 TV1과 플리커의 발광 주기T의 비율을 평가하는 방법 대신에, TV1과 플리커의 발광 주기T와의 차이를 평가하는 방법을 사용하여도 된다. 또는, 발행 주기T이외의 기준값에 대한 셔터 스피드 TV1의 비율을 평가하는 방법이나 TV1과 그 기준값과의 차이를 평가하는 방법을 사용하는 것이 가능하다.

스텝S307은, 촬영시의 노광 타이밍을 플리커의 피크 근방에 맞추는 피크 동기 촬영을 전제로 해서 측광값을 재평가하는 스텝이다. 지금까지 설명된 시퀀스에서의 잠정 노출 조건AV1, TV1 및 ISO1은, 스텝S302에서 취득한 플리커 광원의 광량의 평균값의 측광 결과에 근거한다. 이와 대조하여, 피크 동기 촬영에서는, 플리커의 피크에서 노광을 행하기 때문에, 측광은 피크에서의 측광값을 사용해서 행해져야 한다. 피크에서의 측광값이 스텝S304에서 AE(peak)로서 산출되었기 때문에, AE(peak)와 도 3의 프로그램 차트로부터, 새로운 노출 조건 AV2, TV2 및 ISO2를 구한다. 이들 값을, 스텝S307에서는 정식 노출 조건으로서 설정한다.

지금까지 정식 노출 조건이 확정되었기 때문에, 스텝S308에서는, 내장LCD(115)와 외장형LCD(118)에, AV2, TV2, ISO2를 표시한다. 이에 따라 유저는, 피크 동기 촬영을 행할 때에도 적절한 노출 조건을 촬영전에 확인할 수 있다. 스텝S309에서는, 유저로부터의 노광 지시인 S2신호를 기다린다. S2가 ON된 것을 가리키는 정보를 수신하면, 스텝S304에서 생성한 피크 동기신호에 동기시켜서, TV2를 사용해서 노광을 행한다. 피크에 동기해서 노광을 행함으로써, 밝기의 변동이 적을 때의 타이밍에서 노광이 행해지기 때문에, 플리커의 영향이 적은 촬영 화상을, 피크의 휘도에 대하여 적절한 노출 조건으로 얻을 수 있다.

스텝S311∼S314는, 플리커 대책 모드를 실행하지 않은 경우의 통상 촬영 시퀀스에 해당한다. 스텝S311에서는, 잠정노출 조건AV1, TV1, ISO1을, 정식 노출 조건으로서 확정한다. 스텝S312, S313은, 스텝S308, S309와 같다. 스텝S314에서는, S2가 ON으로 될 때의 시간에 플리커의 피크를 기다리지 않고 노광 동작을 행한다.

이상과 같이, 본 실시예에서는, 플리커 대책 모드가 ON(제1의 촬상제어)일 때의 노출 제어 값과, 플리커 대책 모드가 OFF(제2의 촬상제어)일 때의 노출 제어 값을, 다른 측광값을 사용해서 결정하고 있다.

이때, 상기의 흐름도에서는, S1이 ON으로 되었을 때 측광동작을 시작한다. 그렇지만, 상기 카메라는, S1이 ON으로 되는지에 상관없이 주기적으로 자동으로 측광동작을 시작하도록 구성되어도 된다.

또한, 상기의 흐름도에서는, 정식 노출 조건이 확정된 후에 플리커 대책 모드의 ON 또는 OFF 상태가 변경되었을 경우에 관해서는 기재되지 않고 있다. 그렇지만, 모드가 변경되면, 스텝S303의 처리로 되돌아가서 이후의 처리를 행하여도 된다.

이와 같이, 플리커 대책 모드의 ON 또는 OFF 상태의 변경에 따라 정식 노출 조건을 바꾸므로, 플리커의 유/무에 관계 없이, 적절한 노출로 촬영을 행할 수 있다. 추가로, 플리커 대책 모드의 ON 또는 OFF 상태의 변경에 따라 표시되는 노출 조건을 바꾸므로, 플리커의 유/무에 관계 없이, 촬영에 사용되는 노출 조건을 유저가 정확히 확인할 수 있다. 그 때문에 유저가 의도하는 노출 조건으로 변경하는 것이 용이해서, 유저에 있어서 적절한 노출로 촬영을 행할 수 있다.

또한, 상기의 실시예에서는, 플리커 대책 모드로 촬영시의 노광 타이밍을 플리커의 피크 근방에 맞추고 있다. 그렇지만, 플리커의 영향을 저감할 수 있으면, 피크 근방의 타이밍이외의 임의의 소정의 타이밍과 노광 타이밍을 맞추어도 된다. 예를 들면, 플리커 광원의 광량은, 2개의 타이밍, 즉, 광량이 최대가 되는 타이밍(피크)과 광량이 최소가 되는 타이밍(보텀)에서 변화된다. 그 때문에, 플리커 대책 모드로 촬영시의 노광 타이밍을 플리커의 보텀 근방에 맞춰도 플리커의 영향을 저감할 수 있다.

또한, 상기의 실시예에서는, 측광방식에 대해서 구체적인 설명은 없다. 그렇지만, 상기의 실시예에서는, 평가 측광, 스폿 측광 및 평균 측광으로 이루어진 주지의 측광방식으로부터, 수동 또는 자동으로 측광방식을 설정하도록 구성되어도 된다. 이러한 구성에 있어서, 플리커 대책 모드가 ON 또는 OFF인지에 따라 다른 측광방식이 설정될 경우, 측광방식의 차이도 고려해서 노출 조건을 변경하여도 된다. 예를 들면, 플리커 대책 모드가 ON일 때는, 스폿 측광등 국소적인 측광값을 구하는 측광방식에서는 플리커를 정확하게 검출할 수 없다. 그러므로, 이 경우에, 평균 측광이 자동으로 설정된다. 플리커 대책 모드가 OFF일 때는 그러한 제한이 없기 때문에, 평균 측광이외의 측광방식도 설정된다. 상술한 것처럼, 플리커 대책 모드가 ON일 때에 사용되는 측광방식을 고정으로 하는 구성에서는, 그 측광방식은, 플리커 대책 모드가 OFF일 때 설정된 측광방식과 다르게 된다. 그러므로, 상기와 같이 측광방식의 차이도 고려해서 노출 조건을 변경하는 것이 바람직하다.

(제2의 실시예)

다음에, 본 발명의 제2의 실시예에 관하여 설명한다. 제2의 실시예에서는, 플리커 대책 모드가 ON일 경우, 셔터 스피드에 따라 노출 제어 값의 결정에 다른 측광값을 사용한다. 이에 따라 정확하게 노출 제어 값을 결정할 수 있다.

도 6은, 본 실시예에 따른 촬상장치의 개략적인 구성도다. 본 실시예에 따른 촬상장치는, 카메라 본체(1100)와, 카메라 본체(1100)에 착탈가능한 렌즈 유닛(1200)을 구비한다.

우선, 카메라 본체(1100)의 구성에 관하여 설명한다. 마이크로컴퓨터CPU(이하, 카메라 마이크로컴퓨터라고 함)(1101)는, 카메라 본체(1100)의 각각의 부를 제어한다. 메모리(1102)는, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)에 접속되어 있는 RAM이나 ROM등의 메모리다.

촬상소자(1103)는, 예를 들면, 적외 차단 필터나 로패스 필터를 포함하는 CCD 또는 CMOS이다. 촬상소자(1103)는, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사하는 광빔을 광전변환해서 화상신호를 출력한다.

셔터(1104)는, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔으로부터 촬상소자(1103)를 차광하는 차광 상태와, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔을 촬상소자(1103)에 이끄는 대피 상태가 되도록 주행한다. 즉, 셔터(1104)는, 촬상소자(1103)를 차광하는 제1의 상태와 촬상소자(1103)를 차광하지 않는 제2의 상태로 변경가능하여서, 촬상소자(1103)의 노광 시간을 조절하는 기능을 한다. 또한, 상기 카메라는, 촬상소자(1103)의 노광 시간을, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)를 사용하여 촬상소자(1103)의 전하 축적 기간을 제어하는, 소위 전자셔터 기능에 의해 조절하도록 구성되어도 된다.

반투명경(1105)은, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔을, 촬상소자(1103)에 이끄는 위치(미러 업 상태)와 측광 센서(1108)에 이끄는 위치(미러 다운 상태)로 이동가능하다. 즉, 반투명경(1105)은, 상기 광빔을 촬상소자(1103)에 이끄는 상태와 상기 광빔을 측광 센서(1108)에 이끄는 상태로, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔의 광로를 변경한다. 반투명경(1105)이 광빔을 측광 센서(1108)에 이끄는 위치에 있는 경우에는, 반투명경(1105)은, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔을 포커싱 스크린(1106)에 결상시킨다.

표시 소자(1107)는, PN액정등을 사용하고, 자동초점조절 제어(AF제어)에 사용된 초점검출 영역을 가리키는 프레임(AF프레임)을 표시한다. 측광 센서(1108)는, CCD 또는 CMOS등의 입사광량에 대응한 전하를 축적하는 전하축적형 촬상소자를 사용하여서, 출력 화상신호에 의거하여 측광뿐만 아니라 피사체의 얼굴 검출, 피사체 추적, 및 플리커의 검출을 행할 수 있다. 이때, 측광 센서(1108)로부터 출력되는 화상신호 대신에, 촬상소자(1103)로부터 출력되는 화상신호에 의거하여 플리커를 검출해도 된다.

펜타프리즘(1109)은, 반투명경(1105)에서 반사되고 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사한 광빔을 측광 센서(1108) 및 (도면에 나타내지 않은) 광학 뷰파인더에 이끈다. 초점검출 회로(1110)는, AF제어를 위한 초점검출을 행한다. AF미러(1111)에 의해, 렌즈 유닛(1200)을 거쳐서 입사해 반투명경(1105)을 통과한 광빔의 일부가 인도된다.

CPU(1112)는, 측광 센서(1108)의 구동제어나 화상처리/연산용의 CPU(이하, ICPU라고 한다)이며, 측광 센서(1108)로부터의 출력 신호(화상신호)에 의거하여 측광, 피사체의 얼굴검출, 피사체 추적에 관련된 각종 연산을 행한다. ICPU(1112)는, 측광 센서(1108)로부터의 출력 신호에 의거하여, 피사체로부터의 광의 광량변화 주기나 광량이 소정의 조건을 충족시키는 타이밍(예를 들면, 광량이 최대 또는 최소가 되는 타이밍) 등의 광량 변화특성을 산출한다. 메모리(1113)는, ICPU(1112)에 접속되어 있는 RAM이나 ROM등의 메모리다. 본 실시예는, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)와는 별도로 ICPU(1112)를 갖도록 구성되지만, ICPU(1112)에서 실행하는 처리를 카메라 마이크로컴퓨터(1101)에서 실행하도록 구성되어도 된다.

조작부(1114)는, 유저가 카메라 본체(1100)에 촬영 준비 동작의 시작 지시나 촬영 동작의 시작 지시를 행하기 위한 릴리즈 버튼과, 유저가 카메라 본체(1100)의 각종 설정을 행하기 위한 설정 버튼을 구비한다. 또한, 조작부(1114)는, 유저가 카메라 본체(1100)의 전원의 온 및 오프를 바꾸는 전원 스위치와, 유저가 카메라 본체(1100)의 촬영 모드를 복수의 모드 중에서 선택하는 모드 다이얼과, 터치패널을 구비한다.

다음에, 렌즈 유닛(1200)의 구성에 관하여 설명한다. 렌즈 CPU(1201)(이하, LPU라고 한다)는, 렌즈 유닛(1200)의 각각의 부, 예를 들면 포커스 렌즈, 줌렌즈, 조리개의 구동부를 제어하고, 렌즈에 관한 정보를 카메라 마이크로컴퓨터(1101)에 송신한다.

다음에, 도 7을 참조하여 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때 행해지는 측광값 결정 처리에 관하여 설명한다. 도 7은, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때 본 실시예에 따른 촬상장치가 행하는 측광값 결정 처리를 나타내는 흐름도다.

우선, 유저가 전원 스위치를 조작하여 카메라 본체(1100)의 전원이 온(on) 상태가 되면, 스텝S11O1에서 ICPU(1112)는, 측광 허가 상태가 설정되었는가 아닌가를 판별한다. 그 측광 허가 상태가 설정되어 있지 않은 경우는, ICPU(1112)는 스텝S11O1을 반복한다. 또한, 유저가 카메라 본체(1100)의 전원을 ON 했을 때나 릴리즈 버튼의 반가압 상태인 SW1이 ON되었을 때, 그 측광 허가 상태가 된다. 유저가 측광 허가 상태에서 소정시간 카메라 본체(1100)를 조작하지 않으면, 그 측광 허가 상태는 취소된다.

측광 허가 상태이면, 스텝S11O2의 처리로 진행되어 통상 측광용의 축적/판독 동작을 행한다. 이 측광 동작은, 상기 제1의 실시예의 도 2에 있어서의 스텝S302의 동작과 같으므로, 그 동작에 대한 설명을 생략한다.

스텝S11O2에서 측광 센서(1108)에 의한 전하의 축적 및 화상신호의 판독을 행해 얻어진 화상신호에 의거하여, 스텝S11O3에서는, ICPU(1112)는 측광에 관련된 연산(이하, 측광연산이라고 한다)을 행해서 통상 측광값BV를 취득한다. 통상 측광값BV는, 공지의 연산 방법에 의해 취득되어도 된다. 예를 들면, 통상 측광값BV는, 스텝S11O2에서 얻어진 화상신호의 휘도성분을 축적 시간으로 나누어서 취득하여도 된다. 이 경우에, 통상 측광값BV는, 화상신호를 복수의 측광영역으로 분할해서 각 측광영역의 휘도성분을 가중평균해서도 취득되어도 된다.

스텝S11O4에서, 도 8a, 8b에 나타낸 것처럼, 측광 센서(1108)는, 플리커 검출용의 여러번의 전하의 축적 및 화상신호의 판독을 행한다. 도 8a, 8b는, 플리커 검출용의 전하의 축적 타이밍 및 화상신호의 판독 타이밍을 각각 나타내는 도면이다. 600fps(약 1.667ms주기)로 축적/판독을 연속해서 12회 행한다. 이 값, 600fps는, 미리 상정된 플리커 주파수(100Hz와 120Hz)의 최소 공배수와 같다. 600fps에서 12회 축적을 행하는 것은, 전체적으로 20ms의 기간에 축적을 행한다. 그러므로, 그 결과로 얻어진 데이터는, 상용전원 주파수가 50Hz 또는 60Hz인지에 상관없이 2주기에 해당한 플리커 광원의 광량변화를 포함한다.

이하, 측광 센서(1108)를 600fps(1.667ms주기)로 구동시키는 방법에 관하여 설명한다.

본 실시예에서는, 측광 센서(1108)로부터 출력되는 화상신호에 의거하여, 측광뿐만 아니라 피사체의 얼굴검출, 피사체 추적 및 플리커의 검출을 행한다. 피사체의 얼굴검출을 정확하게 행하기 위해서는, 측광 센서(1108)의 화소수는 어느 정도, 예를 들면 QVGA상당의 화소수가 필요하다. 이러한 피사체의 얼굴검출을 정확하게 행하는 것이 가능한 화소수를 가지는 촬상소자의 전체 화소신호를 600fps이상의 프레임 레이트로 판독하기 위해서는, 값비싼 회로 구성이 필요하다.

이 상황에서, 피사체의 얼굴검출을 행하기 위한 화상신호에 관해서는, 전체 화소신호를 판독하고, 플리커 검출을 행하기 위한 화상신호에 관해서는, 화소 가산 판독이나 선별 판독을 행하여서 프레임 레이트를 600fps(1.667ms 주기)로 조정한다.

측광 센서(1108)로서 CCD를 사용할 경우, 화소신호를 가산해서 판독하는 화소 가산 판독에 의해, 판독 라인수를 의사적으로 감소시켜서 판독 시간을 단축시키는 것이 바람직하다. 예를 들면, 화소배열이 스트라이프형의 CCD에서 수직화소 가산을 행함으로써, 도 9에 나타나 있는 바와 같이, 판독 시간의 단축 효과가 있다. 도 9는, 수직화소 가산수와 판독시간의 관계를 나타낸다. 화소신호를 가산하지 않고 전체 화소신호를 판독하는(수직화소 가산수가 1) 경우의 판독 시간이 6.25ms가 되는 CCD를 예로 든다. 도 9에 나타낸 특징을 가지는 CCD의 경우, 9화소 가산을 함으로써 판독 시간은 1.66ms가 된다. 이것은 프레임 레이트를 약 600fps로 할 수 있다. 이 경우에 판독된 화상신호는, 화소신호를 가산하지 않고 판독된 화상신호와 비교해서 수직방향의 화소수가 1/9이 된다. 그렇지만, 플리커 검출에 있어서는, 화상신호간의 측광값을 서로 비교하는 것뿐이므로, 수직방향의 화소수가 감소한 화상신호를 사용하는 경우도 문제 없다.

또한, 측광 센서(1108)로서 CMOS를 사용할 경우, 화소신호의 판독을 행하기 위해 수평 라인을 한정한 소위 선별 판독에 의해, 축적/판독의 합계 시간이 약 1.667ms주기가 되도록 조정하는 것이 바람직하다.

이상으로, 측광 센서를 약 600fps(약 1.667ms주기) 정도로 구동시키는 방법에 관한 설명을 끝낸다. 또한, 상기의 측광 센서의 축적/판독 주기는 어디까지나 일례이며, 프레임 레이트는 약 600fps(약 1.667ms주기)가 아니어도 된다. 예를 들면, 축적 시간이 길수록 저휘도의 환경에 더 유효하기 때문에, 1회의 축적 시간을 약 1.667ms보다도 길게 하고, 프레임 레이트를 600fps보다도 짧게 해도 된다. 또는, 축적/판독 주기가 짧을수록 플리커 검출에 필요한 시간이 짧아지기 때문에, 1회의 축적 시간을 약 1.667ms보다도 짧게 해도 된다. 이 경우에, 수직화소 가산수를 판독시간이 1.66ms보다도 짧아지는 화소 가산수로 설정해서, 프레임 레이트를 600fps보다도 크게 해도 된다. 또한, 도 9에 나타낸 수직화소 가산수와 판독시간의 관계도 어디까지나 일례다. 그렇지만, 프레임 레이트와 600fps간의 차이가 클수록 측광 센서의 축적/판독 주기와 플리커 광원의 광량변화의 주기간의 차이가 커지기 때문에, 600fps±1%∼±2%이내로 프레임 레이트를 설정하는 것이 바람직하다. 즉, 측광 센서의 측광주기는, 제1의 상용전원 주파수의 2배의 주파수와 제2의 상용전원 주파수의 2배의 주파수와의 최소공배수의 역수와 거의 같은 주기인 것이 바람직하다.

스텝S11O4에서 플리커 검출용의 전하의 축적 및 화상신호의 판독을 완료하면, 스텝S11O5에서 ICPU(1112)는, 판독된 화상신호에 의거해 플리커 검출 연산을 행한다. 도 8a, 8b는, 그 플리커 검출의 동작을 나타낸다. 이 동작의 내용이 제1의 실시예의 도 2에 있어서의 스텝S304에서 도 4a, 4b를 참조해서 설명한 내용과 같으므로, 그에 대한 설명을 생략한다.

또한, 예를 들면, 플리커 검출용의 축적을 행하고 있는 동안에 패닝 등의 촬상장치의 이동이나 피사체의 이동이 생겼을 경우에, 측광값이 크게 변화되어서 F50≥F_th 및 F60≥F_th(제1의 실시예 참조)가 되는 경우도 있다. 이 경우에, F50과 F60을 비교해서 플리커 검출을 행한다. 보다 구체적으로는, F50≥F_th, F60≥F_th 및 F50≤F60의 경우, 광량변화 주기가 10ms인 플리커가 생기고 있다(상용전원 주파수가 50Hz의 플리커 광원이 존재한다)고 판단한다. 반대로, F50≥F_th, F60≥F_th 및 F50>F60의 경우, 광량변화 주기가 8.33ms의 플리커가 생기고 있다(상용전원 주파수가 60Hz의 플리커 광원이 존재한다)고 판단한다. 또한, F50≥F_th, F60≥F_th 및 F50=F60의 경우에는, 플리커 광원의 광량변화 주기를 판단할 수 없기 때문에, 플리커가 생기지 않고 있거나, 혹은 플리커의 검출 불가라고 판단해도 된다.

F50≥F_th 및 F60≥F_th의 경우에, 플리커 광원의 광량변화 주기를 판단한다. 그렇지만, F50≥F_th 및 F60≥F_th의 경우에는, 플리커 검출의 정밀도가 낮으므로, 플리커 검출용의 축적을 다시 해도 된다.

플리커 광원이 존재하지 않는 경우, 스텝S1O2에서 취득한 측광값BV를 보정할 필요는 없기 때문에, 이후의 처리는 행하지 않는다. 또한, 플리커 광원이 존재하지 않는 경우, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행하기 위해서 노광 타이밍을 조절할 필요도 없고, 통상 촬영을 행할 것이다. 그러므로, 이 동작에 대한 상세한 설명은 생략한다.

스텝S11O5에서, ICPU(1112)는, 플리커 광원이 존재하는 경우에는, 플리커의 특징점의 타이밍을 구한다. 도 10은 플리커의 특징점의 타이밍의 일례인 플리커 광원의 광량의 피크의 타이밍을 산출하는 방법의 일례를 설명하는 도다. 도 10을 참조하여 행한 설명은, 제1의 실시예에 있어서의 도 5a, 5b를 참조하여 행한 설명과 같으므로, 생략한다.

추가로, 스텝S11O5에서, ICPU(1112)는, 플리커의 광량의 피크의 타이밍에 따라 노광을 행하는 측광보정값을 산출한다. ICPU(1112)는, 이 측광보정값을 셔터 스피드에 따라 산출한다. 이하에서는, 측광보정값의 산출 방법을 설명한다.

우선, 셔터 스피드에 따라 측광보정값을 산출하기 위해서, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때 설정되는 셔터 스피드(TV)의 범위를, 예를 들면 5개의 구간으로 분할한다. 각각의 구간은, 1/8000≤TV≤1/500, 1/500 <TV≤1/250, 1/250 <TV≤1/200, 1/200 <TV≤1/160, 1/160 <TV≤1/125로서 정의된다.

셔터 스피드가 1/100초보다 느린 경우에, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기분이상의 기간으로 노광을 행하기 때문에, 플리커의 영향이 적어진다. 추가로, 셔터 스피드가 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기미만의 노광 기간에 해당하는 경우에도, 노광 기간이 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기에 가까우면, 플리커의 영향이 상대적으로 적다고 간주한다. 이 때문에, 셔터 스피드가 8ms(1/125s)이하일 경우, 플리커의 영향을 저감시키기 위해 셔터 제어를 행한다. 셔터 스피드가 8ms보다 긴 경우, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행하지 않으므로, 측광보정값을 산출하지 않는다.

다음에, 도 11에 나타나 있는 바와 같이, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기이상에서 얻어진 복수의 측광값이, 내림차순으로 AE(max1), AE(ma x2), AE(max3), AE(max4), AE(max5), AE(max6)이다. 도 11은, 셔터 스피드와 측광보정값의 관계를 나타내는 도면이다. 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기의 평균 측광값FLK_AE_average를 이하의 식(3) 또는 식(4)에 의해 산출한다. 광원의 주파수가 100Hz의 경우,

...(3)

광원의 주파수가 120Hz의 경우,

...(4)

그리고, 셔터 스피드에 대응한 측광보정값을 이하의 식(5)∼식(9)를 사용해서 산출된다.

1/8000≤TV≤1/500의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_500)은 식(5)에 의해 구해진다.

(BV_FLK_com_500)=AE(max1)-FLK_AE_average ...(5)

1/500<TV≤1/250의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_250)은 식(6)에 의해 구해진다.

...(6)

1/250<TV≤1/200의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_200)은 식(7)에 의해 구해진다.

...(7)

1/200≤TV≤1/160의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_1600)은 식(8)에 의해 구해진다.

...(8)

1/160≤TV≤1/125의 경우에 사용된 측광보정값(BⅤ_FLK_com_125)은 식(9)에 의해 구해진다.

...(9)

이상과 같이, 플리커의 광량의 피크의 타이밍에 맞춰서 노광을 행할 경우, 노광 시간이 짧아질수록(셔터 스피드가 고속이 될수록), 그 평균값은 광량변화의 극대치에 가까운 값의 평균값이 되기 때문에, 측광보정값을 크게 한다. 또한, 본 실시예에서는 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때에 설정된 셔터 스피드의 범위를 5개의 구간으로 분할하는 경우를 예로 들었다. 그렇지만, 분할된 구간의 수는 5보다 많아도 적어도 된다. 이 경우, 측광값의 수를 변경할뿐만 아니라, 각 측광값에 대한 가중 계수를 바꾸면서 각 구간에서 사용되는 측광보정값을 산출하는 것도 바람직하다.

스텝S11O5에서 플리커 검출 연산 및 측광보정값의 산출 처리를 완료하면, 스텝S11O6에서 ICPU(1112)는, 유저에 의해 선택된 촬영모드를 확인한다. 본 실시예에서는, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)는, 유저가 조작부(1114)의 모드 다이얼을 조작함에 따라, TV우선모드, AV우선모드, 메뉴얼 노출모드, 전자동 노출모드 중 하나를 설정한다. TV우선모드는, 유저에 의해 선택된 셔터 스피드와 ICPU(1112)로부터 출력된 측광값에 의거하여 카메라 마이크로컴퓨터(1101)가 조리개 값AV와 ISO감도(촬영감도)SV 중 적어도 한쪽을 결정하는 모드다. AV우선모드는, 유저에 의해 선택된 조리개 값과 ICPU(1112)로부터 출력된 측광값에 의거하여 카메라 마이크로컴퓨터(1101)가 셔터 스피드와 ISO감도 중 적어도 한쪽을 결정하는 모드다. 메뉴얼 노출모드는, 적어도 유저에 의해 셔터 스피드와 조리개 값이 선택되는 모드다. 전자동 노출모드는, ICPU(1112)로부터 출력된 측광값에 의거하여, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)가 조리개 값, 셔터 스피드 및 ISO감도를 포함하는 모든 값을 결정하는 모드다. 카메라 마이크로컴퓨터(1101)는, 메모리(1102)에 미리 기억된 프로그램 차트를 이용해서 조리개 값, 셔터 스피드 및 ISO감도를 결정한다.

TV우선모드 또는 메뉴얼 노출모드가 설정되고 유저의 선택에 의거하여 셔터 스피드가 미리 결정된 경우(카메라 마이크로컴퓨터(1101)는 조작부(1114)의 유저에 의한 조작에 의거하여 노광 시간을 설정한 경우), 스텝S11O7의 처리로 진행된다. 스텝S11O7에서, ICPU(1112)는 소정의 셔터 스피드에 따라 사용되는 측광보정값을 선택한다.

AV우선모드 또는 전자동 노출모드가 설정되고 셔터 스피드가 미리 결정되지 않은 경우, 스텝S11O8의 처리로 진행된다. 스텝S11O8에서, 카메라 마이크로컴퓨터(1101)는, 스텝S1103에서 취득된 통상 측광값BV에 의거하여 조리개 값, 셔터 스피드 및 ISO감도를 잠정 결정한다. ICPU(1112)는, (측광에 의해 얻어진 측광값에 의거하여 카메라 마이크로컴퓨터(1101)가 설정한 노광 시간에 의거하여) 카메라 마이크로컴퓨터(1101)에 의해 잠정 결정된 셔터 스피드에 따라 사용하는 측광보정값을 선택한다.

스텝S1109에서, ICPU(1112)는, 이하의 식(10)을 사용해서 스텝S1103에서 취득된 통상 측광값BV를 보정한다. 보정후의 측광값을 BV_FLK, 스텝S11O7 또는 S11O8에서 선택한 측광보정값을 BV_FLK_com_＊＊＊이라고 하면,

...(10)

이상으로, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 때의 측광값 결정 처리를 종료한다.

카메라 마이크로컴퓨터(1101)는, 이렇게 하여 보정된 측광값에 의거하여 촬영하는데 사용되는 노출 제어값을 결정한다.

상기와 같이, 셔터 스피드에 따라 측광값을 보정함으로써 플리커의 영향에 의한 측광의 오차를 경감할 수 있고, 플리커의 영향을 저감시킨 적절한 화상을 취득할 수 있다.

또한, 본 실시예에서는, 유저에 의해 선택된 일부의 촬영 모드를 예시하였다. 그러나, 본 실시예는, 셔터 스피드가 유저 선택에 의해 미리 결정 가능한가 아닌가라고 하는 조건에 따라 순서를 분류하면 그 밖의 모드에 적용되어도 된다.

(제3의 실시예)

다음에, 본 발명의 제3의 실시예에 관하여 설명한다. 본 실시예는, 플리커 검출용의 측광값에 의거한 근사에 의해 플리커 광원의 파형을 예측해서 측광보정값을 산출한다는 점에서, 제2의 실시예와 다르다. 이하, 상기 제2의 실시예에 따른 촬상장치와 공통되는 점에 대한 상세한 설명을 생략하고, 다른 점인 측광보정값의 산출 방법에 대해서 주로 설명한다.

도 12는, 본 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법의 흐름도다. 도 13a 내지 도 13e는 근사에 의한 플리커 광원의 파형예측을 사용하여 측광보정값의 산출 방법의 일례를 나타내는 모식도다. 도 12 및 도 13a 내지 도 13e를 참조하여 본 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법을 설명한다. 또한, 도 12에 나타낸 흐름도는, 도 7의 스텝S11O5의 플리커 검출 연산에 계속되어서 실행된다.

스텝S1201에서, ICPU(1112)는, 스텝S11O4, S11O5와 같은 방법으로 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 플리커 광원의 파형을 예측한다.

우선, 도 13a에 나타나 있는 바와 같이, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기 이상에서 얻어진 복수의 측광값은, 내림차순으로 AE(max1), AE(max2), AE(max3), AE(max4), AE(max5) 및 AE(max6)가 있다.

도 13b에 나타나 있는 바와 같이, AE(max6)'을 t=0이 되는 타이밍에 보간하여, AE(max6)' 내지 AE(max6)는 1주기를 구성한다. 이상의 7점을 사용한 근사에 의해 플리커 광원의 파형을 예측한다.

도 17을 참조하여 형광등과 일부의 LED의 광량의 파형을 설명한다. 도 12의 가로축은 시간, 세로축은 발광 강도다. 도 17에 나타나 있는 바와 같이, 형광등의 광량변화의 1주기에 있어서 광량이 0(최소)이 되는 순간적 기간만이 존재하는 한편, LED의 광량변화의 1주기에 있어서 광량이 0(최소)이 되는 계속적 기간이 존재한다. LED와 같은 광량이 일정한 기간을 갖는 플리커 광원에 대하여 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 플리커 검출용의 근사 함수를 산출하면, 그 결과로 얻어진 파형은 실제의 플리커 광원의 파형과는 크게 다를 가능성이 높다. 따라서, 본 실시예에서는, 광량이 일정한 기간이 존재하는 플리커 광원에 대하여도 대응하기 위해서, 광량변화의 1주기를 복수의 구간으로 분할하고, 분할된 각 구간에서 근사함으로써, 플리커 광원의 파형을 예측한다.

예를 들면, 도 13c에 나타나 있는 바와 같이, 상위 3점을 사용해서 이차함수 근사를 행하고, 그 밖의 범위에서는 인접하는 2점을 사용해서 일차 근사를 행함으로써, 플리커 광원의 파형을 예측한다.

이 경우에, AE(max1), AE(max2), AE(max3)에 의해 구한 이차 근사식을 f1(t)으로 나타내고, 그 밖의 일차 근사식을 사용하는 측광값의 내림차순으로 f2(t), f3(t), f4(t) 및 f5(t)로 나타낸다. 이러한 동작에 의해, 플리커 광원의 파형은,

0ms≤t <1.66ms의 구간에서는 f5(t)

1.66ms≤t <3.33ms의 구간에서는 f3(t)

3.33ms≤t <6.66ms의 구간에서는 f1(t)

6.66ms≤t <8.33ms의 구간에서는 f2(t)

8.33ms≤t≤10ms의 구간에서는 f4(t)에 의해 근사된다.

스텝S1202에서, ICPU(1112)는, 측광보정값의 산출에 사용된 측광값을 구한다. 도 13d에 나타나 있는 바와 같이, ICPU(1112)는, 상기의 근사식에 의거하여 측광보정값의 산출에 사용된 측광값을 구한다.

근사식에 의해 구한 산출용 측광값을, AE(max1)_calc, AE(max2)_calc, AE(max3)_calc, AE(max4)_calc, AE(max5)_calc, AE(max6)_calc로 나타낸다. 이것들의 산출용 측광값은, 전술한 근사식과, 전술한 스텝S11O5에 사용된 것과 같은 방법으로 얻어진 t_peak를 사용해서, 이하의 식(11)∼(21)에 따라 구해진다. t_peak≥5.0ms일 경우,

AE(max1)_calc = f1(t_peak) ...(11)

AE(max2)_calc = f2(t_peak-1.66) ...(12)

AE(max3)_calc = f3(t_peak+1.66) ...(13)

AE(max4)_calc = f4(t_peak-3.33) ...(14)

AE(max5)_calc = f5(t_peak+3.33) ...(15)

AE(max6)_calc = f6(t_peak-5.00) ...(16)

t_peak<5.0ms일 경우,

AE(max1)_calc = f1(t_peak) ...(11)

AE(max2)_calc = f2(t_peak+1.66) ...(17)

AE(max3)_calc = f3(t_peak-1.66) ...(18)

AE(max4)_calc = f4(t_peak+3.33) ...(19)

AE(max5)_calc = f5(t_peak-3.33) ...(20)

AE(max6)_calc = f6(t_peak+5.00) ...(21)

이러한 동작에 의해, 도 13e에 나타나 있는 바와 같이, 플리커의 광량의 피크의 타이밍을 기준으로서 1.66ms간격으로 측광값이 구해진다. 이 경우에, 산출용 측광값을 산출하는 간격을 1.66ms보다 짧은 시간으로 줄여서, 각 구간의 산출용 측광값의 수를 늘리는 것이 가능하다.

그 후에, 스텝S1203에서, ICPU(1112)는, 측광보정값을 산출한다. 우선, ICPU(1112)는, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기의 평균 측광값FLK_AE_average를 이하의 식(22) 또는 식(23)을 사용해서 산출한다. 광원의 주파수가 100Hz일 경우,

...(22)

광원의 주파수가 120Hz일 경우,

...(23)

그 후, ICPU(1112)는, 셔터 스피드에 대응한 측광보정값을 이하의 식(24)∼식(28)을 사용해서 산출한다.

1/8000≤TV≤1/500의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_500)은 식(24)에 의해 구해진다.

...(24)

1/500<TV≤1/250의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_250)은 식(25)에 의해 구해진다.

...(25)

1/250<TV≤1/200의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_200)은 식(26)에 의해 구해진다.

...(26)

1/200≤TV≤1/160의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_1600)은 식(27)에 의해 구해진다.

...(27)

1/160≤TV≤1/125의 경우에 사용된 측광보정값(BV_FLK_com_125)은 식(28)에 의해 구해진다.

...(28)

이후에 행해지는 측광보정값의 선택 처리, 측광값의 보정처리, 노출 제어 값의 결정 처리는, 상기 제1의 실시예와 같기 때문에, 그들에 대한 설명은 생략한다.

도 14는, 각 셔터 스피드와 측광보정값에 의해 보정된 측광값과의 관계를 나타낸다. 본 실시예에서는, 플리커 광원의 광량변화의 1주기를 복수의 구간으로 분할해서 구간마다 근사식을 산출함으로써, 플리커 광원의 파형을 예측하고 있다. 추가로, 플리커의 광량의 피크의 타이밍을 기준으로서 측광보정값을 산출하기 위한 산출용 측광값을 상기 예측된 파형을 사용해서 구하므로, 도 9에 나타나 있는 바와 같이, 제1의 실시예보다도 정확한 셔터 스피드에 따라 측광값을 보정할 수 있다.

이상과 같이, 본 실시예에서는, 플리커 광원의 파형에 관계없이, 플리커의 영향에 의한 측광의 오차를 경감할 수 있고, 플리커의 영향을 저감시킨 적절한 화상을 취득하는 것이 가능하다.

(제4의 실시예)

다음에, 본 발명의 제4의 실시예에 관하여 설명한다. 본 실시예는, 측광보정값 산출시에, 플리커 검출용의 측광값에 의거한 근사에 의해 플리커 광원의 파형을 예측하고, 그 근사식을 셔터 스피드에 대응한 시간으로 적분해서 측광보정값을 연산한다는 점에서, 상기 제2 및 상기 제3의 실시예와 다르다. 이하, 상기 제2 및 제3의 실시예에 따른 촬상장치에 공통되는 점에 관해서는 상세한 설명을 생략하고, 다른 점인 측광보정값의 산출 방법에 대해서 주로 설명한다.

도 15는, 본 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법의 흐름도다. 도 16a 내지 도 16e는, 근사에 의한 플리커 광원의 파형 예측을 사용한 측광보정값의 산출 방법의 일례를 나타내는 모식도다. 이 도 15와 도 16a 내지 도 16e를 참조하여 본 실시예에 따른 측광보정값의 산출 방법을 설명한다. 또한, 도 15에 나타낸 흐름도는, 도 7의 스텝S11O5의 플리커 검출 연산에 계속되어서 실행된다.

스텝S1301에서, ICPU(1112)는, 전술한 스텝S11O4, S11O5에 사용된 것과 같은 방법으로 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 플리커 광원의 파형을 예측한다.

우선, 도 16a에 나타나 있는 바와 같이, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기이상에서 얻어진 복수의 측광값은, 내림차순으로 AE(max1), AE(max2), AE(max3), AE(max4), AE(max5) 및 AE(max6)가 있다.

그리고, 도 13b와 같은 방법으로 AE(max6)' 내지 AE(max6)가 1주기를 구성하도록 t=0의 타이밍에서, AE(max6)'을 보간한다. 이상의 7점을 사용한 근사에 의해 플리커 광원의 파형을 예측한다.

제3의 실시예와 같이, 상위 3점을 사용해서 이차 함수 근사를 행하고, 그 밖의 범위에서는 인접하는 2점을 사용해서 일차 근사를 행함으로써, 플리커 광원의 파형을 예측한다. 이 경우에, AE(max1), AE(max2) 및 AE(max3)에 의해 구한 이차 근사식을 f1(t)으로 나타내고, 그 밖의 일차 근사식을 사용되는 측광값의 내림차순으로 f2(t), f3(t), f4(t) 및 f5(t)로 나타낸다. 이 동작에 의해, 플리커 광원의 파형은, 도 11에 나타나 있는 바와 같이,

0ms≤t <1.66ms의 구간에서는 f5(t)

1.66ms≤t <3.33ms의 구간에서는 f3(t)

3.33ms≤t <6.66ms의 구간에서는 f1(t)

6.66ms≤t <8.33ms의 구간에서는 f2(t)

8.33ms≤t≤10ms의 구간에서는 f4(t)에 의해 근사된다.

스텝S1302에서, ICPU(1112)는, 플리커 광원의 광량변화 주기의 1주기의 평균 측광값FLK_AE_average를 이하의 식(29) 또는 식(30)을 사용해서 산출한다. 광원의 주파수가 100Hz의 경우,

광원의 주파수가 120Hz의 경우,

스텝S1303에서, ICPU(1112)는, 셔터 스피드에 대응한 노광 기간의 평균 측광값을, 근사식을 셔터 스피드에 대응한 시간으로 적분하여서 산출한다. 이 경우에, 적분구간의 중앙은, 전술한 스텝S11O5와 같은 방법으로 t_peak로서 얻어진다. 셔터 스피드에 대응한 평균 측광값을 FLK_AE_ex라고 한다.

여기에서, f(t)는 플리커 광원의 파형을 나타내는 근사식이고, t_ex는 셔터 스피드다.

일례로서 셔터 스피드가 1/200일 때의 측광값의 산출 방법을 설명한다.

도 16e는, 셔터 스피드가 1/200일 때의 측광값을 구하는 적분을 나타내는 그래프다. 셔터 스피드가 1/200일 때의 측광값을 FLK_AE_200이라고 하면, 이하의 식(32)로 측광값이 구해진다.

본 실시예에서는, 플리커 광원의 파형을 분할해서 근사하고 있기 때문에, 적분도 이하의 식(33)으로 나타낸 것처럼 분할해서 행해진다.

이 경우에, 각 적분구간의 적분값은, t_peak의 값에 따라 이하의 식(34)∼(36)으로 구해진다.

...(34)

...(35)

...(36)

스텝S304에서, ICPU(1112)는, 셔터 스피드에 대응한 측광보정값을 식(37)을 사용해서 산출한다.

BV_FLK_com_*** = FLK_AE_ex-FLK_AE_average

...(37)

이후에 행해진 측광보정값의 선택 처리, 측광값의 보정처리, 및 노출 제어 값의 결정 처리는, 제2의 실시예와 같기 때문에, 그들에 대한 설명은 생략한다.

이상과 같이, 본 실시예에서는, 플리커 광원의 광량변화의 1주기를 복수의 구간으로 분할해서 구간마다 근사식을 산출함으로써, 플리커 광원의 파형을 예측하고 있다. 추가로, 각 근사식을 셔터 스피드에 대응한 시간으로 적분하여서 측광보정값을 연산하므로, 상기 제2, 제3의 실시예보다도 더 정확하게 셔터 스피드에 따라 측광값을 보정할 수 있다.

상기의 실시예에서는 플리커 광원의 광량변화의 주파수가 100Hz인 경우를 예로 들었다. 플리커 광원의 광량변화의 주파수가 120Hz인 경우에는, 플리커 검출용의 5개의 측광값을 사용해서 같은 연산을 행하여도 된다.

또한, 상기의 실시예에서는 통상 측광용의 축적과 판독동작 후에 플리커 검출용의 축적과 판독동작을 행하는 경우의 예를 들었다. 그렇지만, 실행순서는 구체적으로 한정되지 않고, 플리커 검출용의 축적과 판독동작을 먼저 행해도 된다.

상기의 실시예에서는, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행하기 위해서, 피사체로부터의 광의 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 노광을 행하는 예로서, 플리커 광원의 광량이 최대가 되는 타이밍에 맞춰서 노광을 행하는 경우를 예로 들었다. 그렇지만, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 수 있으면 다른 타이밍에서 노광을 행하여도 된다. 예를 들면, 도 17에 나타낸 LED와 같이 플리커 광원의 광량이 계속 최소가 되는 소정의 기간을 갖는 광원의 경우에, 플리커 광원의 광량이 최소가 되는 타이밍에 맞춰서 노광을 실시해도, 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 수 있다. 또는, 광량이 일정해지는 기간이 없어도, 광량변화가 감소에서 증가로 점점 변화되는 광원의 경우, 광량이 최대가 되는 타이밍뿐만 아니라 광량이 최소가 되는 타이밍에 맞춰서 노광을 실시할 때도 플리커의 영향을 저감시킨 촬영을 행할 수 있다.

또한, 상기의 실시예에서는, ICPU(1112)가 측광 센서(1108)로부터의 출력 신호(화상신호)에 의거하여 측광을 행하고 피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하고 있다. 그렇지만, 상기 실시예는, 측광용의 센서와 광량 변화특성 산출용의 센서를 따로따로 구비해도 된다.

상기의 실시예에 의하면, 플리커 광원의 유/무에 관계 없이, 적절한 노출로 촬영을 행할 수 있는 촬상장치를 제공하는 것이 가능하다.

그 밖의 실시예

또한, 본 발명의 실시예(들)는, 기억매체(보다 완전하게는 '비일시적 컴퓨터 판독 가능한 기억매체'라고도 함)에 레코딩된 컴퓨터 실행가능한 명령어들(예를 들면, 하나 이상의 프로그램)을 판독하고 실행하여 상술한 실시예(들)의 하나 이상의 기능의 수행하는 것 및/또는 상술한 실시예(들)의 하나 이상의 기능을 수행하기 위한 하나 이상의 회로(예를 들면, 주문형 반도체(ASIC))를 구비하는 것인, 시스템 또는 장치를 갖는 컴퓨터에 의해 실현되고, 또 예를 들면 상기 기억매체로부터 상기 컴퓨터 실행가능한 명령어를 판독하고 실행하여 상기 실시예(들)의 하나 이상의 기능을 수행하는 것 및/또는 상술한 실시예(들)의 하나 이상의 기능을 수행하는 상기 하나 이상의 회로를 제어하는 것에 의해 상기 시스템 또는 상기 장치를 갖는 상기 컴퓨터에 의해 행해지는 방법에 의해 실현될 수 있다. 상기 컴퓨터는, 하나 이상의 프로세서(예를 들면, 중앙처리장치(CPU), 마이크로처리장치(MPU))를 구비하여도 되고, 컴퓨터 실행 가능한 명령어를 판독하여 실행하기 위해 별개의 컴퓨터나 별개의 프로세서의 네트워크를 구비하여도 된다. 상기 컴퓨터 실행가능한 명령어를, 예를 들면 네트워크나 상기 기억매체로부터 상기 컴퓨터에 제공하여도 된다. 상기 기억매체는, 예를 들면, 하드 디스크, 랜덤액세스 메모리(RAM), 판독전용 메모리(ROM), 분산형 컴퓨팅 시스템의 스토리지, 광디스크(콤팩트 디스크(CD), 디지털 다기능 디스크(DVD) 또는 블루레이 디스크(BD)^TM등), 플래시 메모리 소자, 메모리 카드 등 중 하나 이상을 구비하여도 된다.

본 발명을 예시적 실시예들을 참조하여 기재하였지만, 본 발명은 상기 개시된 예시적 실시예들에 한정되지 않는다는 것을 알 것이다. 아래의 청구항의 범위는, 모든 변형예와, 동등한 구조 및 기능을 포함하도록 폭 넓게 해석해야 한다.

Claims

촬상 유닛;
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛;
상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 유닛; 및
상기 측광값 결정 유닛에 의해 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 유닛을 구비하는, 촬상장치.
제 1 항에 있어서,
측광 유닛을 더 구비하고,
상기 산출 유닛은, 상기 측광 유닛에 의해 여러번의 측광을 행해서 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 상기 광량 변화특성을 산출하는, 촬상장치.
제 2 항에 있어서,
상기 산출 유닛은, 상기 측광 유닛에 의해 여러번의 측광을 행해서 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 상기 피사체로부터의 광의 광량의 피크 타이밍을 산출하고,
상기 측광값 결정 유닛은, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 피크 타이밍에 대응하는 측광값을 상기 노출 조건의 결정에 사용된 측광값으로서 사용하는, 촬상장치.
제 1 항에 있어서,
상기 측광값 결정 유닛은, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍과, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정되지 않은 타이밍에서, 노광을 행할 때의 노출 조건의 결정에 사용된 다른 측광값을 사용하는, 촬상장치.
촬상 유닛;
상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정하는 설정 유닛;
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛;
상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 유닛; 및
상기 측광값 결정 유닛에 의해 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 유닛을 구비한, 촬상장치.
제 5 항에 있어서,
측광 유닛; 및
상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여, 상기 측광 유닛에 의해 측광을 행해 얻어진 측광값을 보정하는 보정 유닛을 더 구비하고,
상기 측광값 결정 유닛은, 상기 보정 유닛에 의해 보정된 측광값을, 노출 조건의 결정에 사용된 측광값으로서 사용하는, 촬상장치.
제 6 항에 있어서,
상기 산출 유닛은, 상기 측광 유닛에 의해 측광을 행해 얻어진 측광값에 의거하여 상기 광량 변화특성을 산출하고,
상기 보정 유닛은, 상기 광량 변화특성을 산출할 때에 사용된 측광값과 상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여, 상기 측광 유닛에 의해 측광을 행해 얻어진 상기 광량 변화특성을 산출할 때에 사용되지 않는 측광값을 보정하는, 촬상장치.
제 6 항에 있어서,
상기 보정 유닛은, 상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간이 짧을수록 상기 측광 유닛에 의해 측광을 행해 얻어진 측광값을 보정하기 위한 측광보정값을 크게 하는, 촬상장치.
제 6 항에 있어서,
상기 설정 유닛은, 상기 측광 유닛에 의해 측광을 행해 얻어진 측광값에 의거하여 상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정하고,
상기 보정 유닛은, 상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여, 상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정할 때에 사용된 측광값을 보정하는, 촬상장치.
제 6 항에 있어서,
상기 산출 유닛은, 상기 측광 유닛에 의해 여러번의 측광을 행해 얻어진 복수의 측광값에 의거하여 상기 광량 변화특성을 산출하는, 촬상장치.
제 6 항에 있어서,
상기 보정 유닛은, 상기 설정 유닛에 의해 설정된 노광 시간에 의거하여 상기 측광 유닛에 의해 소정의 측광기간에서 측광을 행해 얻어진 측광값을 보정하는, 촬상장치.
촬상 유닛;
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 유닛; 및
노출 조건을 결정하는 결정 유닛을 구비하고,
상기 결정 유닛은, 상기 산출 유닛에 의해 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 노광을 시작시키는 제1의 모드에서 사용된 제1의 노출 조건이, 상기 제1의 모드보다도 노광 지시 조작으로부터 노광을 시작시킬 때까지의 대기 시간이 짧은 제2의 모드에서 사용된 제2의 노출 조건보다도 노출부족이 되도록, 상기 제1 및 상기 제2의 노출 조건을 결정하는, 촬상장치.
촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법으로서,
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝;
상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 스텝; 및
상기 측광값 결정 스텝에서 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출 조건을 결정하는 노출 조건 결정 스텝을 포함하는, 촬상장치의 제어 방법.
촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법으로서,
상기 촬상 유닛의 노광 시간을 설정하는 설정 스텝;
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝;
상기 설정 스텝에서 설정된 노광 시간에 의거하여 노출 조건의 결정에 사용된 측광값을 결정하는 측광값 결정 스텝; 및
상기 측광값 결정 스텝에서 결정된 측광값에 의거하여, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 상기 촬상 유닛의 노광을 행할 때의 노출조건을 결정하는 노출 조건 결정 스텝을 포함하는, 촬상장치의 제어 방법.
촬상 유닛을 구비한 촬상장치의 제어 방법으로서,
피사체로부터의 광의 광량 변화특성을 산출하는 산출 스텝; 및
노출 조건을 결정하는 결정 스텝을 포함하고,
상기 결정 스텝에서는, 상기 산출 스텝에서 산출된 광량 변화특성에 의거하여 설정된 타이밍에서 노광을 시작시키는 제1의 모드에서 사용된 제1의 노출 조건이, 상기 제1의 모드보다도 노광 지시 조작으로부터 노광을 시작시킬 때까지의 대기 시간이 짧은 제2의 모드에서 사용된 제2의 노출 조건보다도 노출부족이 되도록, 상기 제1 및 상기 제2의 노출 조건을 결정하는, 촬상장치의 제어 방법.
청구항 13에 기재된 제어 방법의 각 스텝을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기억한 기억매체.
청구항 14에 기재된 제어 방법의 각 스텝을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기억한 기억매체.
청구항 15에 기재된 제어 방법의 각 스텝을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기억한 기억매체.