CN104660893B - 摄像设备和控制摄像设备的方法 - Google Patents
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Abstract
提供摄像设备和控制摄像设备的方法。摄像设备包括:摄像单元;计算单元,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;测光值确定单元,用于基于所述计算单元所计算出的光量变化特性,确定用于确定曝光条件所使用的测光值;以及曝光条件确定单元,用于基于通过所述测光值确定单元所确定的测光值,确定在基于通过所述计算单元所计算出的光量变化特性所设置的定时进行所述摄像单元的曝光时的曝光条件。
Description
技术领域
本发明涉及一种以数字照相机为代表的摄像设备,尤其涉及用于对拍摄时发生的、由荧光灯等所引起的外部光变化(一般称为闪烁)所导致的曝光不均匀进行校正的技术。
背景技术
当在闪烁光源下使用摄像设备进行拍摄时,在快门释放之前所要进行的测光操作出现下面的问题:由于测光传感器受到闪烁的影响,因而测光结果不稳定。为了解决这一问题,将测光传感器的积累时间控制成闪烁的发射周期的整数倍,或者以预定时间间隔间歇地进行积累。这使得即使在闪烁环境下,也能够进行平均亮度的稳定测光。
另一方面,随着近年来数字照相机的灵敏度的提高,即使在导致闪烁的人造光源下,照相机也能够进行高速快门的拍摄。在室内运动拍摄等时,高快门速度拍摄具有能够拍摄无模糊的照片的优点。另一方面,在闪烁光源下的高快门速度拍摄时,由于闪烁的影响,每帧的图像有时发生亮度和色温的变化。
为了解决这一问题,日本特开平6-209427和日本特开2006-222935公开了这样一种技术:通过检测闪烁、以及在亮度变化最少的闪烁的峰值位置进行曝光,来降低闪烁的影响。
然而,日本特开平6-209427和日本特开2006-222935所公开的技术是基于进行运动图像拍摄这一前提。在拍摄静止图像的情况下,在相同的峰值位置进行曝光时,释放时滞根据闪烁的定时而增大。在允许用户选择是否进行峰值位置拍摄的情况下,拍摄的最佳曝光条件根据是否进行闪烁峰值位置拍摄而变化。
图18示出在使用商业电源(50Hz)时所导致的闪烁环境下的一般测光输出。在闪烁的峰值处所获得的测光值AE_peak和平均测光值AE_ave之间存在测光差异。为此,在上述基于AE_ave计算的曝光条件下进行峰值位置拍摄时,产生的照片被过曝光了Δ。
发明内容
考虑到上述问题做出本发明,并且本发明提供一种不管是否存在闪烁光源、都能够以适当曝光进行拍摄的摄像设备。
根据本发明的第一方面,提供一种摄像设备,其包括:摄像单元;计算单元,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;测光值确定单元,用于基于所述计算单元所计算出的光量变化特性,确定用于确定曝光条件所使用的测光值;以及曝光条件确定单元,用于基于所述测光值确定单元所确定的测光值,确定在基于所述计算单元计算出的光量变化特性所设置的定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
根据本发明的第二方面,提供一种摄像设备,其包括:摄像单元;设置单元,用于设置所述摄像单元的曝光时间;计算单元,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;测光值确定单元,用于基于所述设置单元所设置的曝光时间,确定用于确定曝光条件所使用的测光值;以及曝光条件确定单元,用于基于所述测光值确定单元所确定的测光值,确定在基于所述计算单元计算出的光量变化特性所设置的定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
根据本发明的第三方面,提供一种摄像设备,其包括:摄像单元;计算单元,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;以及确定单元,用于确定曝光条件,其中,所述确定单元确定第一曝光条件和第二曝光条件,以使得所述第一曝光条件导致相比所述第二曝光条件较大的曝光不足,其中,所述第一曝光条件在基于所述计算单元所计算出的光量变化特性所设置的定时开始曝光的第一模式下使用,所述第二曝光条件在与所述第一模式相比、从曝光指示操作到开始曝光的等待时间较短的第二模式下使用。
根据本发明的第四方面,提供一种用于控制包括摄像单元的摄像设备的方法,所述方法包括以下步骤:计算步骤,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;测光值确定步骤,用于基于在所述计算步骤中所计算出的光量变化特性,确定用于确定曝光条件所使用的测光值;以及曝光条件确定步骤,用于基于在所述测光值确定步骤中所确定的测光值,确定在基于在所述计算步骤中所计算出的光量变化特性所设置的定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
根据本发明的第五方面,提供一种用于控制包括摄像单元的摄像设备的方法,所述方法包括以下步骤:设置步骤,用于设置所述摄像单元的曝光时间;计算步骤,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;测光值确定步骤,用于基于在所述设置步骤中所设置的曝光时间,确定用于确定曝光条件所使用的测光值;以及曝光条件确定步骤,用于基于在所述测光值确定步骤中所确定的测光值,确定在基于在所述计算步骤中所计算出的光量变化特性所设置的定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
根据本发明的第六方面,提供一种用于控制包括摄像单元的摄像设备的方法,所述方法包括以下步骤:计算步骤,用于计算来自被摄体的光的光量变化特性;以及确定步骤,用于确定曝光条件,其中,在所述确定步骤中,确定第一曝光条件和第二曝光条件,以使得所述第一曝光条件导致相比所述第二曝光条件较大的曝光不足,其中,所述第一曝光条件在基于在所述计算步骤中计算出的光量变化特性所设置的定时开始曝光的第一模式下使用,所述第二曝光条件在与所述第一模式相比、从曝光指示操作到开始曝光的等待时间较短的第二模式下使用。
通过(参考附图)对典型实施例的以下说明,本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1A和1B分别是示出根据本发明实施例的数字单镜头反光照相机的剖视图和顶视图;
图2是示出根据实施例的照相机的操作的流程图;
图3是根据实施例的程序图;
图4A和4B是表示闪烁检测操作时的测光输出的图;
图5A和5B是用于说明闪烁的峰值测光值和计算相应定时的方法的图;
图6是示出根据本发明实施例的摄像设备的结构的示意图;
图7是示出利用根据第一实施例的摄像设备进行降低闪烁的影响的拍摄时的测光值确定处理的流程图;
图8A和8B是示出用于闪烁检测的电荷的积累定时和图像信号的读出定时的图;
图9是示出垂直像素相加计数和读出时间之间的关系的图;
图10是示出计算闪烁光源的光量的峰值的定时的方法的例子的示意图;
图11是示出根据第一实施例的快门速度和通过测光校正值校正后的测光值之间的关系的图;
图12是示出根据第二实施例计算测光校正值的方法的流程图;
图13A~13E是各自示出根据第二实施例、通过利用近似进行的闪烁光源的波形预测来计算测光校正值的方法的例子的示意图;
图14是示出根据第二实施例的快门速度和通过测光校正值校正后的测光值之间的关系的图;
图15是根据第三实施例计算测光校正值的方法的流程图;
图16A~16E是示出根据第三实施例、通过利用近似进行的闪烁光源的波形预测来计算测光校正值的方法的例子的示意图;
图17是用于说明荧光灯和一些LED的光量的波形的图;以及
图18是表示在闪烁环境下所获得的测光值的图。
具体实施方式
下面参考附图,详细说明将本发明应用于数字单镜头反光照相机的实施例。
第一实施例
图1A是根据本发明第一实施例的单镜头反光照相机的剖视图。参考图1A,拍摄镜头102安装在照相机机体101的正面。拍摄镜头102是可更换的。照相机机体101经由安装接点组112与拍摄镜头102电连接。在拍摄镜头102中配置光圈113以调整进入照相机的光量。调焦透镜116在光轴上移动以进行焦点调节。
主镜103是半透半反镜。在取景器观察状态下,主镜103被倾斜设置在拍摄光路上,以将来自拍摄镜头102的拍摄光束向取景器光学系统反射。同时,透过主镜103的光经由副镜104进入AF单元105。在拍摄状态下,主镜103缩回到拍摄光路外。
AF单元105是基于相位差检测方式的AF传感器。由于基于相位差方式的焦点检测是已知技术,因而省略对具体控制操作的说明。下面概要说明基于该方式的操作。在焦点检测线传感器上形成拍摄镜头102的二次成像面来检测拍摄镜头102的焦点调节状态。基于该检测结果驱动调焦透镜116以进行自动焦点检测。
该照相机包括图像传感器108、低通滤波器106和焦平面快门107。对焦屏109被配置在取景器光学系统的拍摄镜头102的预期成像平面上。该照相机还包括用于改变取景器光路的五棱镜110、目镜114和测光时所使用的AE传感器111,其中操作者通过该目镜114观察对焦屏109以如虚线所示地检查拍摄画面。AE传感器111可以通过接收如实线所示的来自对焦屏的光来测量被摄体的亮度(对被摄体进行测光)。该照相机还包括用于显示拍摄信息的内置LCD 115。设置内置LCD 115以允许用户在通过目镜114观看的同时,检查诸如曝光条件等的与拍摄有关的信息。如图1A中的点划线所示,可以将各种类型的信息显示在用户通过目镜观看时从他/她的角度观看到的画面的下侧。
显示单元117通常由液晶面板构成,其实时显示操作者所拍摄的图像和通过图像传感器108所获得的图像信号,从而允许操作者观察被摄体的状态。
图1B是根据本实施例的数字单镜头反光照相机的顶视图。释放按钮119是具有半按下状态和完全按下状态的两阶段开关。半按下释放按钮119将启动诸如AE和AF等的拍摄之前的准备操作。完全按下释放按钮119将曝光图像传感器108,并且进行拍摄处理。在下面的说明中,将半按下状态记为S1的ON状态,并且将完全按下状态记为S2的ON状态。如内置LCD 115一样,外部LCD 118显示诸如照相机设置和曝光条件等的与拍摄有关的各种类型的信息。
接着参考图2的流程图,说明根据本实施例的数字单镜头反光照相机的操作。
当接通S1时,在步骤S301开始测光操作。在步骤S302,驱动AE传感器111进行测光操作。即使在测光时存在闪烁光源的情况下,为了防止测光值随着由周围环境光的闪烁所导致的亮度变化而变化,也获得随着由闪烁所导致的亮度变化而变化的测光值的平均值作为测光输出值。通过使用下面的现象进行该操作:在将AE传感器111的积累时间设置成闪烁周期的整数倍的情况下,不管积累的定时如何,都获得恒定输出。在这种情况下,闪烁光源亮度的变化频率是商业电源的频率的两倍。因此,在50Hz电源地区,上述频率是100Hz,并且发射周期是10ms。同样,因此,在60Hz电源地区,上述频率是120Hz,并且发射周期是8.33ms。也就是说,例如,当将AE传感器111的积累时间设置成8.33ms和10ms之间的9ms时,不管电源频率是50Hz还是60Hz,都积累差不多与闪烁的一个周期相对应的测光值。即使存在闪烁,也可以测量测光值的平均值。基于在这种情况下所获得的测光值,确定作为暂时曝光条件的光圈值AV1、快门速度TV1和ISO灵敏度ISO1。通过使用预先存储在照相机中的程序图确定AV1、TV1和ISO1。图3示出该程序图的例子,其中,当确定了如图3所示一样的程序图和测光值时,AV和TV被唯一确定。
当在步骤S302确定了暂时曝光控制值AV1、TV1和ISO1时,处理进入步骤S303。在步骤S303,检查抗闪烁模式是否处于ON。如果检测到了闪烁,则在随后的处理中,与闪烁的峰值同步进行释放操作(闪烁降低曝光控制)。需要少许等待时间以与峰值同步。因此,抗闪烁模式的缺点是释放时滞增大。为此,根据本实施例的照相机允许用户设置是否执行抗闪烁模式。在步骤S303,如果抗闪烁模式处于OFF,则处理进入步骤S311以进行正常拍摄序列。如果抗闪烁模式处于ON,则处理进入步骤S304以进行抗闪烁序列。注意,在本实施例中,与闪烁的峰值同步释放快门按钮,是为了在曝光期的中心与闪烁光源的光量的峰值一致时的定时附近进行曝光。
在步骤S304,在检测到闪烁的情况下,在检测闪烁的明/暗周期时生成峰值同步信号。为了实现这些操作,连续进行积累时间为1.66ms(预定时间)的积累12次(多次)。图4A示出当50Hz商业电源存在闪烁时的积累控制和输出测光值。如图4A所示,将第n积累记为“积累n”,将读出积累n的结果记为“读出n”,并且将根据读出n的结果所获得的测光值记为“AE(n)”。由于在有限时间内进行积累,因而以积累期的中值表示各测光值的获取时间。尽管图4A仅示出n=1和n=2时的图,但是这同样适用于n=3~12时的图。由于闪烁发射周期为10ms、并且10÷1.66≈6,因而如图4A所示,不管积累的定时如何,每六个周期获得的测光值几乎相同。也就是说,AE(n)=AE(n+6)。
同样,在60Hz商业电源的情况下,闪烁的发射周期为8.33ms,并且8.33/1.66≈5。因此,如图4B所示,每五个周期获得的测光值几乎相同,并且AE(n)=AE(n+5)。另一方面,在无闪烁环境下,不管n如何,AE(n)几乎都是恒定的。考虑到上述说明,当分别如下定义评价值F50和F60、并且使用预定阈值F_th时:
可以做出下面的判断:
(1)如果F50<F_th,并且F60<F_th,则可以判断为不存在闪烁。
(2)如果F50<F_th、并且F60≥F_th,则可以判断为存在发射周期T=10ms(电源频率为50Hz)的闪烁环境。
(3)如果F50≥F_th、并且F60<F_th,则可以判断为存在发射周期T=8.33ms(电源频率为60Hz)的闪烁环境。另外,在一些情况下,摇摄或者被摄体的移动可能导致F50和F60都超过F_th。在这种情况下,将F50和F60进行相互比较。如果F50较小,则判断为存在发射周期T=10ms(电源频率为50Hz)的闪烁环境。如果F60较小,则判断为存在发射周期T=8.33ms(电源频率为60Hz)的闪烁环境。也就是说,
(4)如果F50≥F_th、并且F60≥F_th,
则当F50≤F60时,存在发射周期T=10ms(电源频率为50Hz)的闪烁环境;以及
当F50>F60时,存在发射周期T=8.33ms(电源频率为60Hz)的闪烁环境。
在步骤S304,当存在闪烁时,生成峰值同步信号。该操作大体上是下面的处理:对12个所获得的测光值进行插值,并且计算获得峰值时的时间t(peak)。图5A是说明用于计算峰值定时的方法的例子的图。在AE(1)~AE(12)中,以P2(t(m),AE(m))表示获得最大输出时的点,以P1(t(m-1),AE(m-1))表示与紧接着的前一测光结果相对应的点,并且以P3(t(m+1),AE(m+1))表示与紧接着的后一测光结果相对应的点。获得通过包括与AE(m-1)和AE(m+1)中的较小值相对应的点(图5A中的P3)和点P2的两个点的直线,作为L1=at+b。另外,可以通过获得L1和L2之间的交点来计算峰值定时t(peak)和测光值AE(peak),其中,L2表示通过与AE1和AE3中的较大值相对应的点(图5A中P1)的、斜率为-a的直线。另外,由于闪烁的发射周期T已知,因而生成如图5B所示的、在每一定时t=t(peak)+nT(n是自然数)都变化的峰值同步信号。在判断是否存在闪烁时在步骤S304检测到了闪烁的情况下,生成闪烁的发射周期、峰值测光值和峰值同步信号。然后,处理进入步骤S305。
步骤S305是基于步骤S304是否存在闪烁的判断的分支步骤。如果未检测到闪烁,则如正常拍摄序列一样,处理进入步骤S311。如果检测到闪烁,则处理进入步骤S306。
在步骤S306,评价作为暂时曝光条件的快门速度TV1。在本实施例中,将拍摄时的曝光定时调整至闪烁的峰值附近,以在亮度变化较少的时区内进行曝光。为此,该操作在快门速度非常高的情况下是有效的。然而,如果快门速度比闪烁周期长,则将亮度的变化平均化,并且闪烁对拍摄图像几乎没有影响。也就是说,该操作不是很有效。为此,在照相机中设置预定比α,以评价暂时快门速度TV1与闪烁的发射周期T之比。也就是说,将暂时快门速度TV1与闪烁的发射周期T之比TV1/T与预定值α进行比较。如果TV1/T>α,则判断为快门速度相对于发射周期T十分长、并且闪烁对拍摄图像的影响十分低,而且如正常拍摄序列一样,处理进入步骤S311。与此相反,如果TV1/T≤α,则由于必须与峰值同步进行曝光,因而处理进入步骤S307。
注意,代替评价暂时快门速度TV1与闪烁的发射周期T之比的方法,可以使用评价TV1和闪烁的发射周期T之差的方法。可选地,可以使用评价快门速度TV1与不同于发射周期T的基准值之比的方法、或者评价TV1和该基准值之差的方法。
步骤S307是基于在将拍摄时的曝光定时匹配在闪烁的峰值附近的情况下进行峰值同步拍摄这一前提重新评价测光值的步骤。至此所述的序列中的暂时曝光条件AV1、TV1和ISO1是基于在步骤S302所获取的闪烁光源的光量的平均值的测光结果。与此相反,在峰值同步拍摄时,由于在闪烁的峰值处进行曝光,因而将通过使用峰值处的测光值来进行测光。由于在步骤S304将峰值处的测光值计算为AE(peak),因而根据AE(peak)和图3的程序图获得新的曝光条件AV2、TV2和ISO2。在步骤S307,将这些值设置为正式曝光条件。
由于至此已确定了正式曝光条件,因而在步骤S308,将AV2、TV2和ISO2显示在内置LCD 115和外部LCD 118上。这样使得用户即使在进行峰值同步拍摄时,也能够在拍摄之前检查适当曝光条件。在步骤S309,等待作为来自用户的曝光指示的S2信号。当接收到表示接通了S2的信息时,与在步骤S304所生成的峰值同步信号同步,使用TV2进行曝光。与峰值同步进行曝光由于是在亮度的变化少的定时进行曝光,因而可以在针对峰值亮度适当的曝光条件下,获得闪烁影响小的拍摄图像。
当不执行抗闪烁模式时,步骤S311~S314对应于正常拍摄序列。在步骤S311中,将暂时曝光条件AV1、TV1和ISO1确认为正式曝光条件。步骤S312和S313与步骤S308和S309相同。在步骤S314,在接通S2时,在无需等待闪烁的峰值的情况下进行曝光操作。
如上所述,在本实施例中,使用不同的测光值来确定抗闪烁模式处于ON(第一摄像控制)时的曝光控制值和抗闪烁模式处于OFF(第二摄像控制)时的曝光控制值。
注意,在上述流程图中,测光操作在接通S1时开始。然而,可以将照相机配置成不管是否接通S1,都自动周期性开始测光操作。
另外,在上述流程图中,没有说明下面的情况:在确认正式曝光条件之后,改变抗闪烁模式的ON或者OFF状态。然而,当改变该模式时,处理可以返回至步骤S303以进行随后的处理。
由于这样根据抗闪烁模式的ON或者OFF状态的变化来切换正式曝光条件,因而不管是否存在闪烁,都可以以适当的曝光来进行拍摄。另外,由于根据抗闪烁模式的ON或者OFF状态的变化来切换要显示的曝光条件,因而不管是否存在闪烁,用户都可以准确检查拍摄所要使用的曝光条件。这样便于将曝光条件改变为用户想要的曝光条件,并且可以使得用户以适当曝光来进行拍摄。
另外,在上述实施例中,在抗闪烁模式下,拍摄时的曝光定时匹配在闪烁的峰值附近。然而,只要可以降低闪烁的影响,曝光定时可以匹配在峰值附近的定时以外的任何预定定时。例如,闪烁光源的光量在两个定时、即光量变成最大的定时(峰值)和光量变成最小的定时(底部)时变化。为此,在抗闪烁模式下,还可以通过使得拍摄时的曝光定时匹配在闪烁的底部附近来降低闪烁的影响。
此外,在上述实施例中,没有特别说明测光方式。然而,可以将本实施例配置成从包括评价测光、斑点测光和平均测光的已知测光方式中来手动或者自动设置测光方式。在这一配置中,当根据抗闪烁模式是ON还是OFF来设置不同的测光方式时,还可以考虑测光方式之间的不同来改变曝光条件。例如,当抗闪烁模式处于ON时,通过诸如斑点测光等的被设计成获得局部测光值的测光方式不可能准确检测闪烁。因此,在这种情况下,自动设置平均测光。当抗闪烁模式处于OFF时,没有这类限制,还设置除平均测光以外的测光方式。如上所述,在抗闪烁模式处于ON时要使用的测光方式是固定的配置中,该测光方式趋向于不同于在抗闪烁模式处于OFF时所设置的测光方式。因此,优选以上述方式还考虑测光方式之间的不同来改变曝光条件。
第二实施例
接着说明本发明的第二实施例。在第二实施例中,在抗闪烁模式处于ON的情况下,根据快门速度,使用不同的测光值确定曝光控制值。这样使得可以准确确定曝光控制值。
图6是示出根据本实施例的摄像设备的结构的示意图。根据本实施例的摄像设备包括照相机机体1100和可从照相机机体1100拆卸的镜头单元1200。
首先说明照相机机体1100的结构。微型计算机CPU(称为照相机微型计算机)1101控制照相机机体1100的各个单元。存储器1102是诸如与照相机微型计算机1101连接的RAM或者ROM等的存储器。
图像传感器1103是例如包括红外截止滤波器或者低通滤波器的CCD或者CMOS。图像传感器1103对通过镜头单元1200入射的光束进行光电转换,并且输出图像信号。
快门1104运行以设置用于为图像传感器1103遮挡通过镜头单元1200入射的光束的遮光状态和用于将通过镜头单元1200入射的光束引导至图像传感器1103的缩回状态。也就是说,快门1104可以改变成为图像传感器1103遮挡光的第一状态和不为图像传感器1103遮挡光的第二状态,从而发挥调节图像传感器1103的曝光时间的功能。注意,照相机可以被配置成通过所谓的电子快门功能来调节图像传感器1103的曝光时间,其中,电子快门功能用于通过使用照相机微型计算机1101来控制图像传感器1103的电荷积累期。
半透半反镜1105可以移动至将通过镜头单元1200入射的光束引导至图像传感器1103的位置(镜上升状态)和将该光束引导至测光传感器1108的位置(镜下降状态)。也就是说,半透半反镜1105将通过镜头单元1200入射的光束的光路改变成将该光束引导至图像传感器1103的状态和将该光束引导至测光传感器1108的状态。当半透半反镜1105位于将光束引导至测光传感器1108的位置时,半透半反镜1105使通过镜头单元1200入射的光束在对焦屏1106上形成图像。
显示元件1107使用PN液晶等,并且显示表示自动焦点调节控制(AF控制)所使用的焦点检测区域的框(AF框)。测光传感器1108可以通过使用诸如CCD或者CMOS等的被设计成积累与入射光量相对应的电荷的电荷积累型图像传感器、基于输出图像信号,来检测被摄体的面部、跟踪被摄体、以及检测闪烁,还进行测光。注意,可以基于从图像传感器1103输出的图像信号代替从测光传感器1108输出的图像信号,来检测闪烁。
五棱镜1109将通过镜头单元1200入射的、并且通过半透半反镜1105反射的光束引导至测光传感器1108和光学取景器(未示出)。焦点检测电路1110进行用于AF控制的焦点检测。AF镜1111引导通过镜头单元1200入射的、并且穿过半透半反镜1105的光束的一部分。
CPU 1112是用于测光传感器1108的驱动控制和图像处理/计算的CPU(以下称为ICPU),并且基于来自测光传感器1108的输出信号(图像信号),进行与测光、被摄体面部检测和被摄体跟踪等有关的各种类型的计算。ICPU 1112基于来自测光传感器1108的输出信号,计算诸如来自被摄体的光的光量变化周期和光量满足预定条件的定时(光量变成最大或者最小的定时)等的光量变化特性。存储器1113是例如与ICPU 1112连接的RAM或者ROM。尽管本实施例被配置成具有独立于照相机微型计算机1101的ICPU 1112,但是本实施例可以被配置成使得照相机微型计算机1101执行ICPU 1112所执行的处理。
操作单元1114包括释放按钮和设置按钮,其中,利用释放按钮,用户发出用于使得照相机机体1100开始拍摄准备操作的指示和用于使得照相机机体1100进行拍摄操作的指示,利用设置按钮,用户进行照相机机体1100的各种类型的设置。操作单元1114还包括电源开关、模式拨盘和触摸面板,其中,利用电源开关,用户接通和断开照相机机体1100的电源,利用模式拨盘,用户从多个模式中选择照相机机体1100用的拍摄模式。
接着说明镜头单元1200的结构。镜头CPU 1201(称为LPU)控制镜头单元1200的各个单元,例如,调焦透镜、变焦透镜和光圈驱动单元,并且向照相机微型计算机1101发送与透镜有关的信息。
接着参考图7,说明在进行降低闪烁的影响的拍摄时所要进行的测光值确定处理。图7是示出通过根据本实施例的摄像设备进行降低闪烁的影响的拍摄时、所要进行的测光值确定处理的流程图。
首先,当用户操作电源开关以接通照相机机体1100的电源时,在步骤S1101,ICPU1112判断是否设置了测光允许状态。如果未设置测光允许状态,则ICPU 1112重复步骤S1101。注意,当用户接通照相机机体1100的电源、或者接通与释放按钮的半按下状态相对应的SW1时,测光允许状态被设置。当用户在测光允许状态下在预定时间段内未操作照相机机体1100时,测光允许状态被取消。
如果设置了测光允许状态,则处理进入步骤S1102以进行用于正常测光的积累/读出操作。该测光操作与第一实施例中的图2的步骤S302的操作相同,因此将省略对该操作的说明。
在步骤S1103,ICPU 1112基于在步骤S1102中通过测光传感器1108进行电荷积累和图像信号读出所获得的图像信号,通过进行与步骤S1103中的测光有关的计算(以下称为测光计算)来获取正常测光值BV。可以通过已知的计算方法来获取正常测光值BV。例如,可以通过将在步骤S1102所获得的图像信号的亮度成分按积累时间进行分割,获取正常测光值BV。在这种情况下,还可以通过将图像信号分成多个测光区域、并且对各个测光区域的亮度成分进行加权平均来获取正常测光值BV。
在步骤S1104,测光传感器1108如图8A和8B所示进行用于闪烁检测的多次电荷积累和图像信号读出。图8A和8B各自示出用于闪烁检测的电荷积累定时和图像信号读出定时。以600fps(约1.667ms的周期)连续进行12次积累/读出。该值600fps等于假定的闪烁频率(100Hz和120Hz)的最小公倍数。以600fps进行12次积累,这将进行整体上20ms时间段的积累。因此,不管商业电源是50Hz还是60Hz,作为结果的数据都包括与两个周期相对应的闪烁光源的光量变化。
下面说明以600fps(1.667ms的周期)驱动测光传感器1108的方法。
在本实施例中,基于从测光传感器1108输出的图像信号,除了进行测光以外,还进行被摄体面部检测、被摄体跟踪和闪烁检测等。为了准确进行被摄体面部检测,测光传感器1108需要具有相当于例如QVGA的特定像素计数。以600fps以上的帧频从具有能够进行准确被摄体面部检测的像素计数的图像传感器中读出所有像素信号需要复杂、昂贵的电路结构。
在这种情况下,对于用于被摄体面部检测的图像信号,读出所有像素信号,而对于用于闪烁检测的图像信号,通过进行像素相加读出或者间隔剔除读出,将帧频调整成600fps(1.667ms的周期)。
当使用CCD作为测光传感器1108时,优选通过利用相加时读出像素信号的像素相加读出操作疑似地降低读出行的数量来缩短读出时间。例如,如图9所示,在具有条纹状像素配置的CCD中进行垂直像素相加,将产生缩短读出时间的效果。图9示出垂直像素相加计数和读出时间之间的关系。以下是在没有任何像素信号加法(垂直像素相加计数为1)的情况下读出所有像素信号时的读出时间为6.25ms的CCD的例子。在具有图9所示特性的CCD的情况下,进行9像素相加将得到1.66ms的读出时间。这样可以设置约600fps的帧频。这种情况下读出的垂直方向上的图像信号的像素计数是在没有任何像素信号相加的情况下读出的垂直方向上的图像信号的像素计数的1/9。然而,在闪烁检测时,仅对图像信号之间的测光值进行相互比较,因而在甚至使用垂直方向上像素计数降低的图像信号时也不会存在问题。
另外,当使用CMOS作为测光传感器1108时,优选通过对读出像素信号的水平行施加限制的所谓的间隔剔除读出,将总积累/读出时间调整成约1.667ms的周期。
这样,结束对于约以600fps(约1.667ms的周期)驱动测光传感器的方法的说明。注意,上述测光传感器的积累/读出周期仅是例子,并且帧频可以不为600fps(约1.667ms的周期)左右。例如,由于积累时间越长,对于低照度环境越有效,因而可以将一次操作的积累时间设置成长于约1.667ms,并且可以将帧频设置成短于600fps。可选地,由于积累/读出周期越短,闪烁检测所需的时间越短,因而可以将一次操作的积累时间设置成短于约1.667ms。在这种情况下,可以通过将垂直像素相加计数设置成将读出时间缩短成比1.66ms短的时间的像素相加计数,将帧频设置成高于600fps。另外,图9所示的垂直像素相加计数和读出时间之间的关系仅是例子。然而,注意,由于帧频和600fps之间的差越大,则测光传感器的积累/读出周期和闪烁光源的光量变化周期之间的差越大,因而优选将帧频设置在600fps的±1%~±2%之内。也就是说,测光传感器的测光周期优选差不多等于第一商业电源频率两倍的频率和第二商业电源频率两倍的频率的最小公倍数的倒数。
当在步骤S1104完成用于闪烁检测的电荷积累和图像信号读出时,在步骤S1105,ICPU 1112基于读出的图像信号进行闪烁检测计算。图8A和8B示出该闪烁检测操作。由于该操作的内容与第一实施例中参考图4A和4B所述的图2的步骤S304的内容相同,因而省略对该操作的说明。
注意,例如,在用于闪烁检测的积累期间、摄像设备以摇摄等移动、或者被摄体移动的情况下,测光值变化可能很大,导致F50≥F_th和F60≥F_th(参考第一实施例)。在这种情况下,将F50与F60进行比较来检测闪烁。更具体地,如果F50≥F_th、F60≥F_th、并且F50≤F60,则判断为发生了光量变化周期为10ms的闪烁(存在商业电源频率为50Hz的闪烁光源)。相反,如果F50≥F_th、F60≥F_th、并且F50>F60,则判断为发生了光量变化周期为8.33ms的闪烁(存在商业电源频率为60Hz的闪烁光源)。注意,如果F50≥F_th、F60≥F_th、并且F50=F60,则由于不能确定闪烁光源的光量变化周期,因而可以判断为没有发生闪烁、或者未能检测到闪烁。
在F50≥F_th并且F60≥F_th的情况下,确定闪烁光源的光量变化周期。然而,在F50≥F_th并且F60≥F_th的情况下,由于闪烁检测精度低,因而可以重新进行用于闪烁检测的积累。
如果不存在闪烁光源,则由于不需要校正在步骤S1102所获取的测光值BV,因而不进行随后的处理。另外,如果不存在闪烁光源,则不需要调节进行降低闪烁的影响的拍摄的曝光定时,并且进行正常拍摄。因此,省略对该操作的详细说明。
在步骤S1105,如果存在闪烁光源,则ICPU 1112获得闪烁的特征点的定时。图10是说明对作为闪烁的特征点的定时的例子的、闪烁光源的光量的峰值的定时进行计算的方法的例子的图。参考图10所做的说明与第一实施例中参考图5A和5B所做的说明相同,因此省略该说明。
另外,在步骤S1105,ICPU 1112计算用于根据闪烁的光量的峰值的定时所要进行的曝光的测光校正值。ICPU 1112根据快门速度计算该测光校正值。下面说明计算测光校正值的方法。
首先,为了根据快门速度计算测光校正值,将进行降低闪烁的影响的拍摄时所设置的快门速度(TV)的范围划分成例如五个区间。将各个区间定义为1/8000≤TV≤1/500、1/500<TV≤1/250、1/250<TV≤1/200、1/200<TV≤1/160以及1/160<TV≤1/125。
当快门速度低于1/100sec(秒)时,由于在等于或者长于闪烁光源的一个光量变化周期的时段内进行曝光,因而闪烁的影响小。另外,只要曝光期接近闪烁光源的一个光量变化周期,即使快门速度对应于小于闪烁光源的一个光量变化周期的曝光期,也认为闪烁的影响相对地小。为此,当快门速度为8ms(1/125s)以下时,进行快门控制以降低闪烁的影响。当快门速度比8ms长时,由于不进行降低闪烁的影响的拍摄,因而不计算测光校正值。
随后,如图11所示,假定在闪烁光源的一个以上的光量变化周期中所获得的多个测光值按照降序是AE(max1)、AE(max2)、AE(max3)、AE(max4)、AE(max5)和AE(max6)。图11是示出快门速度和测光校正值之间的关系的图。通过下面给出的公式(3)或者(4),计算闪烁光源的一个光量变化周期中的平均测光值FLK_AE_average。当光源的频率是100Hz时,
当光源的频率是120Hz时,
然后通过公式(5)~(9)计算与快门速度相对应的测光校正值。
通过公式(5)获得1/8000≤TV≤1/500时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_500):
(BV_FLK_com_500)=AE(max1)-FLK_AE_average...(5)
通过公式(6)获得1/500≤TV≤1/250时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_250):
(BV_FLK_com_250)={AE(max1)+AE(max2)}/2-FLK_AE_average...(6)
通过公式(7)获得1/250≤TV≤1/200时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_200):
(BV_FLK_com_200)={AE(max1)+AE(max2)+AE(max3)}/3-FLK_AE_average
...(7)
通过公式(8)获得1/200≤TV≤1/160时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_160):
(BV_FLK_com_160)={AE(max1)+AE(max2)+AE(max3)+AE(max4)}/4-FLK_AE_average
...(8)
通过公式(9)获得1/160≤TV≤1/125时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_125):
(BV_FLK_com_125)={AE(max1)+AE(max2)+AE(max3)+AE(max4)+AE(max5)}/5-FLK_AE_average
...(9)
如上所述,在根据闪烁的光量的峰值的定时来进行曝光的情况下,随着曝光时间的缩短(快门速度增大),平均值变成更靠近光量变化的最大值的值的平均值,因此设置更大的测光校正值。注意,本实施例示例性说明了以下情况:将在进行降低闪烁的影响的拍摄时所设置的快门速度的范围划分成五个区间。然而,划分的区间的数量可以大于或者小于5。在这种情况下,优选不仅改变测光值的数量,还在改变用于各个测光值的加权系数的同时,计算要在各个区间使用的测光校正值。
在步骤S1105中完成闪烁检测计算和测光校正值的计算处理时,在步骤S1106中,ICPU 1112检查用户所选择的拍摄模式。在本实施例中,当用户操作操作单元1114的模式拨盘时,照相机微型计算机1101设置TV优先模式、AV优先模式、手动曝光模式和全自动曝光模式中的一个模式。TV优先模式是照相机微型计算机1101基于用户选择的快门速度和从ICPU1112输出的测光值来确定光圈值AV和ISO灵敏度(拍摄灵敏度)SV中的至少一个的模式。AV优先模式是照相机微型计算机1101基于用户所选择的光圈值和从ICPU 1112输出的测光值来确定快门速度和ISO灵敏度中的至少一个的模式。手动曝光模式是至少用户选择快门速度和光圈值的模式。全自动曝光模式是照相机微型计算机1101基于从ICPU 1112输出的测光值确定包括光圈值、快门速度和ISO灵敏度的所有值的模式。照相机微型计算机1101通过使用预先存储在存储器1102中的程序图,确定光圈值、快门速度和ISO灵敏度。
在设置了TV优先模式或手动曝光模式、并且基于用户选择预先确定了快门速度(照相机微型计算机1101基于用户对操作单元1114的操作设置了曝光时间)的情况下,处理进入步骤S1107。在步骤S1107,ICPU 1112根据预定快门速度选择要使用的测光校正值。
在设置了AV优先模式或全自动曝光模式、但未预先确定快门速度的情况下,处理进入步骤S1108。在步骤S1108,照相机微型计算机1101基于在步骤S1103所获取的正常测光值BV,暂时确定光圈值、快门速度和ISO灵敏度。ICPU 1112根据照相机微型计算机1101暂时确定的快门速度(基于照相机微型计算机1101根据通过测光所获得的测光值所设置的曝光时间),选择要使用的测光校正值。
在步骤S1109,ICPU 1112通过下面给出的公式(10),校正步骤S1103所获取的正常测光值BV。假定BV_FLK是校正之后的测光值,并且BV_FLK_com_***是步骤S1107或S1108所选择的测光校正值。
BV_FLK=BV+BV_FLK_com***...(10)
接着,终止在进行降低闪烁的影响的拍摄的情况下的测光值确定处理。
照相机微型计算机1101基于这样校正后的测光值,确定拍摄时要使用的曝光控制值。
如上所述,根据快门速度校正测光值使得可以降低由闪烁的影响所导致的测光误差,并且获取闪烁的影响得以降低的适当图像。
注意,本实施例示例性说明了用户选择的一些拍摄模式。然而,只要过程根据是否可以通过用户选择预先确定快门速度这一条件进行分类,本实施例也可以应用于其它模式。
第三实施例
接着说明本发明的第三实施例。本实施例与第二实施例的不同在于:通过基于用于闪烁检测的测光值进行的近似来预测闪烁光源的波形以计算测光校正值。省略对与根据第二实施例的摄像设备相同的点的说明,下面主要说明作为不同点的计算测光校正值的方法。
图12是用于根据本实施例的计算测光校正值的方法的流程图。图13A~13E是示出通过近似进行闪烁光源波形预测来计算测光校正值的方法的例子的示意图。根据图12和13A~13E说明根据本实施例的计算测光校正值的方法。注意,在图7的步骤S1105的闪烁检测计算之后,执行图12所示的流程图。
在步骤S1201,ICPU 1112基于通过与步骤S1104和S1105所使用的相同方法所获得的多个测光值,预测闪烁光源的波形。
首先,如图13A所示,在闪烁光源的一个以上的光量变化周期中所获得的多个测光值按照降序为AE(max1)、AE(max2)、AE(max3)、AE(max4)、AE(max5)和AE(max6)。
如图13B所示,在定时t=0,插值AE(max6)',从而使得AE(max6)'~AE(max6)构成一个周期。通过使用上述7个点进行的近似来预测闪烁光源的波形。
参考图17,说明荧光灯和一些LED的光量的波形。图17的横坐标表示时间,并且纵坐标表示发射强度。如图17所示,在荧光灯的一个光量变化周期中,仅存在光量变成0(最小)的瞬间期,而在LED的一个光量变化周期中,存在光量变成0(最小)的连续期。在基于对于诸如LED等的具有光量恒定的时期的闪烁光源所获得的多个测光值来计算用于闪烁检测的近似函数的情况下,所产生的波形很可能与实际闪烁光源有极大不同。因此,在本实施例中,还为了应对具有光量恒定的时期的闪烁光源,将一个光量变化周期划分成多个区间,并且在各划分的区间中进行近似,从而预测闪烁光源的波形。
例如,如图13C所示,通过使用上部三个点进行二次函数近似,并且在其它范围内通过使用两个邻接点来进行线性近似,从而预测闪烁光源的波形。
在这种情况下,通过f1(t)表示AE(max1)、AE(max2)和AE(max3)所获得的二次近似公式,并且按照要使用的测光值的降序,通过f2(t)、f3(t)、f4(t)和f5(t)表示其它线性近似公式。利用该操作,通过如下函数来近似闪烁光源的波形:
在区间0ms≤t<1.66ms,f5(t)
在区间1.66ms≤t<3.33ms,f3(t)
在区间3.33ms≤t<6.66ms,f1(t)
在区间6.66ms≤t<8.33ms,f2(t)
在区间8.33ms≤t≤10ms,f4(t)
在步骤S1202,ICPU 1112获得计算测光校正值所使用的测光值。如图13D所示,ICPU 1112基于上述近似公式,获得计算测光校正值所使用的测光值。
通过AE(max1)_calc、AE(max2)_calc、AE(max3)_calc、AE(max4)_calc、AE(max5)_calc和AE(max6)_calc表示通过近似公式所获得的计算测光值。根据下面给出的公式(11)~(21),使用通过上述近似公式和与步骤S1105所使用的相同方法所获得的t_peak,获得这些计算测光值。当t_peak≥5.0ms时,
AE(max1)_calc=f1(t_peak)...(11)
AE(max2)_calc=f2(t_peak-1.66)...(12)
AE(max3)_calc=f3(t_peak+1.66)...(13)
AE(max4)_calc=f4(t_peak-3.33)...(14)
AE(max5)_calc=f5(t_peak+3.33)...(15)
AE(max6)_calc=f6(t_peak-5.00)...(16)
当t_peak<5.0ms时,
AE(max1)_calc=f1(t_peak)...(11)
AE(max2)_calc=f2(t_peak+1.66)...(17)
AE(max3)_calc=f3(t_peak-1.66)...(18)
AE(max4)_calc=f4(t_peak+3.33)...(19)
AE(max5)_calc=f5(t_peak-3.33)...(20)
AE(max6)_calc=f6(t_peak+5.00)...(21)
通过该操作,如图13E所示,以闪烁的光量的峰值的定时为基准,按照1.66ms的间隔来获得测光值。在这种情况下,可以通过将计算测光值的计算所用的间隔缩短成短于1.66ms的时间,来增大各个区间中的计算测光值的数量。
随后,在步骤S1203,ICPU 1112计算测光校正值。首先,ICPU 1112通过下面给出的公式(22)或(23),计算闪烁光源的一个光量变化周期中的平均测光值FLK_AE_average。当光源的频率是100Hz时,
当光源的频率是120Hz时,
然后,ICPU 1112通过使用公式(24)~(28),计算与快门速度相对应的测光校正值。
通过公式(24)获得1/8000≤TV≤1/500时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_500):
(BV_FLK_com_500)=AE(max1)_calc-FLK_AE_average...(24)
通过公式(25)获得1/500<TV≤1/250时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_250):
(BV_FLK_com_250)={AE(max1)_calc+AE(max2)_calc}/2_FLK_AE_average...(25)
通过公式(26)获得1/250<TV≤1/200时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_200):
(BV_FLK_com_200)={AE(max1)_calc+AE(max2)_calc+AE(max3)_calc}/3-FLK_AE_average
...(26)
通过公式(27)获得1/200≤TV≤1/160时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_160):
(BV_FLK_com_160)={AE(max1)_calc+AE(max2)_calc+AE(max3)_calc+AE(max4)_calc}/4-FLK_AE_average
...(27)
通过公式(28)获得1/160≤TV≤1/125时所使用的测光校正值(BV_FLK_com_125):
(BV_FLK_com_125)={AE(max1)_calc+AE(max2)_calc+AE(max3)_calc+AE(max4)_calc+AE(max5)_calc}/5-FLK_AE_average
...(28)
随后要进行的测光校正值选择处理、测光值校正处理和曝光控制值确定处理与第一实施例中的相同,因此省略对其的说明。
图14示出各个快门速度和通过测光校正值校正后的测光值之间的关系。在本实施例中,将闪烁光源的一个光量变化周期分成多个区间,并且对于各区间计算近似公式,从而预测闪烁光源的波形。另外,由于通过使用预测波形以闪烁的光量的峰值的定时为基准来获得用于计算测光校正值的计算测光值,因而如图9所示,可以根据相比第一实施例更准确的快门速度来校正测光值。
如上所述,在本实施例中,不管闪烁光源的波形如何,都可以降低由闪烁的影响所导致的测光误差、并且获得闪烁的影响得以降低的适当图像。
第四实施例
接着说明本发明的第四实施例。本实施例与第二和第三实施例的不同在于:在计算测光校正值时,基于用于闪烁检测的测光值进行的近似来预测闪烁光源的波形,并且在与快门速度相对应的时间内对近似公式进行积分来计算测光校正值。省略对与根据第二和第三实施例的摄像设备相同的点的详细说明,并且下面主要说明作为不同点的计算测光校正值的方法。
图15是根据本实施例的计算测光校正值的方法的流程图。图16A~16E是示出利用通过近似进行的闪烁光源波形预测来计算测光校正值的方法的例子的示意图。参考图15和16A~16E说明根据本实施例的计算测光校正值的方法。注意,在图7的步骤S1105的闪烁检测计算之后执行图15所示的流程图。
在步骤S1301,ICPU 1112基于通过与步骤S1104和S1105所使用的相同方法所获得的多个测光值,预测闪烁光源的波形。
首先,如图16A所示,在闪烁光源的一个以上的光量变化周期中所获得的多个测光值按照降序为AE(max1)、AE(max2)、AE(max3)、AE(max4)、AE(max5)和AE(max6)。
然后,利用与图13B相同的方法,在定时t=0插值AE(max6)',使得AE(max6)'~AE(max6)构成一个周期。通过使用上述7个点进行近似来预测闪烁光源的波形。
如第三实施例一样,通过使用上部的三个点进行二次函数近似,并且在其它范围内通过使用两个邻接点来进行线性近似,从而预测闪烁光源的波形。在这种情况下,通过f1(t)表示AE(max1)、AE(max2)和AE(max3)所获得的二次近似公式,并且按照要使用的测光值的降序,通过f2(t)、f3(t)、f4(t)和f5(t)表示其它线性近似公式。通过该操作,如图11所示,通过如下近似闪烁光源的波形:
在区间0ms≤t<1.66ms,f5(t)
在区间1.66ms≤t<3.33ms,f3(t)
在区间3.33ms≤t<6.66ms,f1(t)
在区间6.66ms≤t<8.33ms,f2(t)
在区间8.33ms≤t≤10ms,f4(t)
然后,在步骤S1302,ICPU 1112通过使用下面给出的公式(29)或者(30),计算闪烁光源的一个光量变化周期中的平均测光值FLK_AE_average。当光源的频率是100Hz时,
当光源的频率是120Hz时,
然后,在步骤S1303,ICPU 1112通过以与快门速度相对应的时间对近似公式进行积分,计算与该快门速度相对应的曝光期内的平均测光值。在这种情况下,通过与上述步骤S1105相同的方法,获得积分区间的中央作为t_peak。假定FLK_AE_ex是与快门速度相对应的平均测光值,
其中,f(t)是表示闪烁光源的波形的近似公式,并且t_ex是快门速度。
作为例子,说明快门速度为1/200时的用于计算测光值的方法。
图16E是示出在快门速度为1/200时进行积分以获得测光值的图。假定FLK_AE_200是快门速度为1/200时的测光值,该测光值通过下面给出的公式(32)来获得。
在本实施例中,由于分割地近似闪烁光源的波形,因而也如下面给出的公式(33)所示地、分割地进行积分。
FLK_AE_200=(∫f3(t)dt+∫f1(t)dt+∫f2(t)dt)÷5...(33)
在这种情况下,通过公式(34)~(36),根据t_peak的值获得各个积分区间的积分值。
在步骤S304,ICPU 1112通过使用公式(37),计算与快门速度相对应的测光校正值。
BV_FLK_com_***=FLK_AE_ex-FLK_AE_average...(37)
随后所要进行的测光校正值选择处理、测光值校正处理和曝光控制值确定处理与第二实施例的相同,因此省略对其的说明。
如上所述,在本实施例中,将闪烁光源的一个光量变化周期分成多个区间,并且对于各区间计算近似公式,从而预测闪烁光源的波形。另外,由于通过以与快门速度相对应的时间对各近似公式进行积分来计算测光校正值,因而可以根据快门速度、相比第二和第三实施例更准确地校正测光值。
上述实施例示例性说明了闪烁光源的光量变化频率是100Hz的情况。当闪烁光源的光量变化频率是120Hz时,可以通过使用用于闪烁检测的五个测光值来进行相同计算。
另外,上述实施例示例性说明了在用于正常测光的积累和读出操作之后进行用于闪烁检测的积累和读出操作的情况。然而,执行顺序没有特别限制,并且可以首先进行用于闪烁检测的积累和读出操作。
上述实施例示例性说明了下面的情况:作为在基于来自被摄体的光的光量变化特性所设置的定时进行曝光的例子,根据闪烁光源的光量变成最大时的定时进行曝光,以进行降低闪烁的影响的拍摄。然而,只要可以进行降低闪烁的影响的拍摄,也可以在其它定时进行曝光。例如,在闪烁光源的光量持续处于最小的预定时段、诸如图17所示的LED等的光源的情况下,即使根据闪烁光源的光量变得最小的定时进行曝光,也可以进行降低闪烁的影响的拍摄。可选地,在光量变化从降低到升高而缓慢变化的光源的情况下,即使不存在光量恒定的时段,甚至根据光量变成最大的定时、以及光量变成最小的定时来进行曝光时,也可以进行降低闪烁的影响的拍摄。
此外,在上述实施例中,ICPU 1112基于来自测光传感器1108的输出信号(图像信号),进行测光以及计算来自被摄体的光的光量变化特性。然而,本实施例可以分开包括用于测光的传感器和用于计算光量变化特性的传感器。
根据上述实施例,可以提供一种不管是否存在闪烁光源都能够以适当曝光进行拍摄的摄像设备。
其它实施例
本发明的实施例还可以通过如下的方法来实现,即,通过网络或者各种存储介质将执行上述实施例的功能的软件(程序)提供给系统或装置,该系统或装置的计算机或是中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU)读出并执行程序的方法。
尽管参考典型实施例说明了本发明,但是应该理解,本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释,以包含所有这类修改、等同结构和功能。
Claims (8)
1.一种摄像设备,包括:
摄像单元;
检测单元,用于检测第一测光值;
设置单元,用于基于所述第一测光值,设置所述摄像单元的第一曝光时间;以及
计算单元,用于计算来自被摄体的光的周期性的光量变化特性,
其特征在于,还包括:
校正单元,用于基于所述设置单元所设置的第一曝光时间和所述计算单元计算出的周期性的光量变化特性之间的关系,校正所述第一测光值,以生成第二测光值;以及
曝光条件确定单元,用于基于所述校正单元所生成的所述第二测光值,确定在所述计算单元计算出的周期性的光量变化特性的预定定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
2.根据权利要求1所述的摄像设备,其中,随着所述设置单元所设置的所述第一曝光时间的缩短,所述校正单元校正所述第一测光值以增大所述第二测光值。
3.根据权利要求1所述的摄像设备,其中,所述计算单元通过周期性地获得多个测光值,计算所述周期性的光量变化特性。
4.根据权利要求1所述的摄像设备,其中,
所述检测单元基于利用与所述周期性的光量变化特性的一个周期基本相对应的电荷累积周期所获得的图像信号,检测所述第一测光值。
5.根据权利要求3所述的摄像设备,其中,所述计算单元通过周期性地获得分别与1.66毫秒的累积周期相对应的多个测光值,计算所述周期性的光量变化特性。
6.根据权利要求1所述的摄像设备,其中,所述第二测光值大于所述第一测光值。
7.一种用于控制摄像设备的方法,其中所述摄像设备包括摄像单元,所述方法包括以下步骤:
检测步骤,用于检测第一测光值;
设置步骤,用于基于所述第一测光值,设置所述摄像单元的第一曝光时间;以及
计算步骤,用于计算来自被摄体的光的周期性的光量变化特性,
其特征在于,还包括:
校正步骤,用于基于所述设置步骤中所设置的第一曝光时间和所述计算步骤中计算出的周期性的光量变化特性之间的关系,校正所述第一测光值,以生成第二测光值;以及
曝光条件确定步骤,用于基于所述校正步骤中所生成的所述第二测光值,确定在所述计算步骤中计算出的周期性的光量变化特性的预定定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
8.一种存储介质,其上存储有程序,该程序用于使得计算机执行用于控制包括摄像单元的摄像设备的处理,所述处理包括:
检测步骤,用于检测第一测光值;
设置步骤,用于基于所述第一测光值,设置所述摄像单元的第一曝光时间;以及
计算步骤,用于计算来自被摄体的光的周期性的光量变化特性,
其特征在于,还包括:
校正步骤,用于基于所述设置步骤中所设置的第一曝光时间和所述计算步骤中计算出的周期性的光量变化特性之间的关系,校正所述第一测光值,以生成第二测光值;以及
曝光条件确定步骤,用于基于所述校正步骤中所生成的所述第二测光值,确定在所述计算步骤中计算出的周期性的光量变化特性的预定定时进行所述摄像单元的曝光的情况下的曝光条件。
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