KR20150013644A - 전계 분석기 - Google Patents

전계 분석기 Download PDF

Info

Publication number
KR20150013644A
KR20150013644A KR1020147033591A KR20147033591A KR20150013644A KR 20150013644 A KR20150013644 A KR 20150013644A KR 1020147033591 A KR1020147033591 A KR 1020147033591A KR 20147033591 A KR20147033591 A KR 20147033591A KR 20150013644 A KR20150013644 A KR 20150013644A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electric field
data
data bits
personal computer
web page
Prior art date
Application number
KR1020147033591A
Other languages
English (en)
Inventor
제이슨 갈루피
Original Assignee
앰플리화이어 리서치 코오퍼레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 앰플리화이어 리서치 코오퍼레이션 filed Critical 앰플리화이어 리서치 코오퍼레이션
Publication of KR20150013644A publication Critical patent/KR20150013644A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0892—Details related to signal analysis or treatment; presenting results, e.g. displays; measuring specific signal features other than field strength, e.g. polarisation, field modes, phase, envelope, maximum value
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/029—Software therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

진폭 변조 RF 전계의 디지털 샘플을 생성하기 위한 전계 센서, 웹페이지를 생성하기 위한, 상기 전계 센서에 접속된 전계 프로세서, 및 상기 웹페이지를 검색하고 표시하기 위한 퍼스널 컴퓨터를 포함하는, 전계 분석기에 의해 생성된, 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치. 웹페이지를 사용하고 이러한 웹페이지를 퍼스널 컴퓨터에 표시함으로써, 전계 센서 내의 검출기의 비선형성을 보정하는 것과 같은 태스크를 퍼스널 컴퓨터에서 수행하는 것이 가능하고, 이러한 퍼스널 컴퓨터에서 이러한 태스크는 보다 효과적으로 실행될 수 있다.

Description

전계 분석기{FIELD ANALYZER}
본 발명은 전계 분석기에 관한 것이고, 구체적으로 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선을 표시하기 위한 장치에 관한 것이다. 본 발명은 많은 적용에서 사용되고, 특히 자동차와 같은 제품의 전기 및 전자 시스템의 동작이 라디오 및 텔레비전 통신, 레이더 펄스, 휴대폰 신호, 전력선 전계, 및 다른 종류의 전자기장에 의해 악영향을 받지 않도록 보장하기 위해 수행되는 전자파 적합성(EMC) 검사에서 사용된다.
EMC 검사에서, 피검사 장치를 일정 범위의 주파수 및 전력 레벨에 걸쳐 퍼져있는 전자 방사선에 놓고, 장치의 동작에 전자 방사선의 효과가 있는 경우 효과를 판정하기 위해 관찰한다. 전계를 생성하기 위해, 보통 합성기에 의해 RF 신호가 생성되고 증폭되어 피검사 장치에 인접한 안테나에 공급된다. 이러한 합성기는 변조 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 변조 포락선은 전계가 조정가능한 반복률 및 조정가능한 듀티 사이클을 갖는 일련의 펄스로서 인가되도록 할 수 있다.
피검사 장치의 위치에서의 전계의 강도가 합성기의 설정 및 증폭기 및 안테나의 주파수 응답에 기초하여 예측될 수 있지만, 이러한 전계의 임의의 주어진 위치에 대한 예측은 항상 신뢰할 수 있는 것은 아니다. 따라서, 전계 강도를 직접 측정하기 위해 피검사 장치의 부근에 "전계 프로브"로서 알려진 장치를 놓는 것이 일반적이다.
종래의 전계 측정 기기에서 전계 세기를 알아내기 위해 열전대가 사용된다. 진폭 변조 전계의 경우에, 열전대는 평균 진폭의 측정값만을 제공한다. 피크 진폭 레벨의 추정값은 합성기에서 변조 파형을 아는 것에 기초하여 평균 진폭으로부터 계산될 수 있다. 그러나, 전계 프로브의 위치에 존재하는 변조 포락선의 세부사항은 알아 낼 수 없다.
따라서, 직접 측정, 즉, 합성기로부터 유도된 정보에 독립적인 측정에 의해 높은 정확도로, 변조 전계의 최소, 최대 및 평균 진폭, 및 피크 진폭, 상승 및 소멸 시간, 듀티 사이클 등과 같은 다른 파형 세부사항을 사용자가 판정할 수 있도록 하는 전계 분석기가 필요하다. 또한, 변조 포락선의 진폭의 순간 변화를 관찰할 수 있는 시각적인, 오실로스코프 타입의 디스플레이에 변조 파형의 이러한 직접 측정된 세부사항을 보여주는 것이 바람직하다. 또한, 센서 유닛 내의 검출기의 비선형 응답을 신속하고 효율적으로 보정할 수 있는 전계 분석기가 필요하다.
본 발명에 의해 사용자는 오실로스코프 타입 디스플레이 및 인터페이스를 사용하여 전계의 변조 포락선을 보고 측정할 수 있다. 전용 오실로스코프 타입 디스플레이를 사용하는 대신에, 본 발명에 따른 장치는 전계 센서와 연관된 전계 프로세서 유닛 내의 마이크로컨트롤러의 메모리에 저장된 내장 웹페이지를 사용함으로써 변조 포락선을 표시한다. 규격 네트워크 접속을 통해 퍼스널 컴퓨터에 로딩되는 웹페이지는 전계 프로세서로부터 새로운 데이터를 검색하고 웹페이지의 다른 측면을 재로딩할 필요없이 그것을 그래픽 표시하는 기능을 갖고 있다. 여기에 사용된 용어 "퍼스널 컴퓨터"는 종래의 데스크톱 및 랩톱 퍼스널 컴퓨터뿐만 아니라, 태블릿 컴퓨터, 스마트폰 및 유사한 장치를 포함하는, 웹페이지를 표시하고 정보 및 선택을 웹페이지에 입력할 수 있는 기능을 갖는 다른 장치를 포함하고 있다. 이러한 퍼스널 컴퓨터는 전계 센서 및 전계 프로세서 바로 부근에, 또는 임의의 원격지에 위치될 수 있다.
보다 자세히, 여기에 기술된 것은 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선을 표시하기 위한 장치이다. 상기 장치는 전계 센서 유닛, 전계 처리 유닛, 및 퍼스널 컴퓨터의 3개의 주요 부품을 포함하고 있다. 상기 전계 센서 유닛은, 안테나, 상기 안테나에 접속된 입력부를 갖고 있고 출력을 제공하는 검출기, 및 상기 검출기에 응답하는 샘플링 회로로서, 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭을 나타내는 순차 샘플(sequential sample)을 디지털 포맷으로 제공하는 샘플링 회로를 포함한다. 상기 전계 처리 유닛은, 상기 순차 샘플을 수신하기 위한 수신기, 및 상기 수신기에 응답하는 마이크로컨트롤러로서, 상기 샘플을 유지하기 위한 버퍼 메모리 및 상기 버퍼 메모리로부터 퍼스널 컴퓨터에 표시되는 웹페이지에 데이터 패킷을 업로드하기 위한 트리거 응답(trigger-responsive) 수단을 포함하는 마이크로컨트롤러를 포함한다. 상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 데이터 패킷을 검색하고, 웹페이지에 상기 RF 전계의 변조 포락선의 오실로스코프 표시로서 상기 데이터 패킷을 표시한다.
상기 샘플링 회로는 클록 펄스 생성기 및, 데이터 비트의 직렬 스트림을 순차 그룹으로 생성하기 위한, 상기 클록 펄스 생성기로부터의 클록 펄스 및 상기 검출기의 출력에 응답하는 아날로그-디지털 변환기를 포함하고, 데이터 비트의 각 그룹은 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭의 샘플을 나타낸다.
상기 전계 센서 유닛은 상기 아날로그-디지털 변환기로부터 전기 출력을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 상기 데이터 비트의 직렬 스트림에 의해 표현되는 데이터에 상응하는 데이터를 광선의 형태로 전송하기 위한 변조 광 신호를 생성하도록 접속된 광전 변환기를 포함할 수 있다. 이러한 경우에, 상기 변조 포락선 표시 장치는 상기 광선을 수신하고 상기 광선을 상기 전계 처리 유닛에 전송하기 위한, 상기 광전 변환기에 접속된 광섬유 케이블을 포함할 수 있다. 상기 수신기는 상기 광선을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 데이터 비트의 직렬 스트림에 상응하는 데이터 비트의 스트림의 형태로 전기 신호를 생성하기 위한, 상기 광섬유 케이블에 접속된, 광 수신기일 수 있다.
상기 전계 처리 유닛은 상기 데이터 비트의 스트림으로부터 동기 클록 신호를 유도하기 위한 클록 복구 유닛을 포함할 수 있다. 이러한 경우에, 상기 마이크로컨트롤러는 상기 데이터 비트의 스트림 및 상기 동기 클록 신호를 수신하도록 구성될 수 있다.
상기 전계 처리 유닛은 상기 버퍼 메모리 내의 데이터 비트의 오정렬을 검출하고 보정하기 위한, 상기 버퍼 메모리에 응답하는, 비트 정렬 보정 회로를 포함할 수 있다.
본 장치의 특별히 바람직한 특징은 상기 표시된 변조 포락선이 상기 안테나의 위치에서의 RF 전계의 변조 포락선과 상응하도록 상기 퍼스널 컴퓨터에 저장되고 상기 비선형성을 보정하기 위해 상기 퍼스널 컴퓨터에서 사용되는, 상기 전계 센서 내의 비선형성을 나타내는 데이터에 대한 것이다. 주어진 전계 센서의 비선형성을 나타내는 데이터는 이러한 특정 센서와 연관된 전계 처리 유닛의 메모리에 영구 저장되고, 상기 장치가 동작할 때 상기 전계 처리 유닛의 메모리로부터 상기 퍼스널 컴퓨터로 다운로드될 수 있다.
본 발명의 세부사항 및 추가 장점은 도면과 함께 아래의 설명을 읽을 때 분명할 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 전계 분석기에 사용되는 전계 센서의 주요 부품을 도시하는 개략도이다.
도 2는 전계 센서, 전계 프로세서 및 퍼스널 컴퓨터를 포함하는 완전한 전계 분석기를 도시하는 개략도이다.
도 3은 전계 프로세서의 주요 부품을 도시하는 개략도이다.
도 4는 전계 프로세서의 마이크로컨트롤러에서 실행되는 내장된 펌웨어의 동작을 도시하는 고레벨 순서도이다.
도 5는 퍼스널 컴퓨터에서 실행되는 웹페이지 소프트웨어의 동작을 도시하는 고레벨 순서도이다.
도 6은 마이크로컨트롤러의 메인 루프를 도시하는 순서도이다.
도 7a 내지 도 7c는 전계 프로세서의 마이크로컨트롤러에 의해 전계 센서에 동작 전력을 공급하는 레이저의 제어를 설명하는 순서도의 일부를 도시한 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 도 7b의 타임아웃 타이머의 동작을 설명하는 순서도의 일부를 도시한 도면이다.
도 9는 도 4의 원격 통신 상태 기계(state machine)의 동작을 설명하는 순서도이다.
도 10은 도 4의 직접 메모리 접근(DMA) 루프의 동작의 순서도이다.
도 11a 내지 도 11d는 도 4의 데이터 상태 기계 루프의 동작을 설명하는 순서도의 일부를 도시한 도면이다.
도 12는 직렬 주변 장치 인터페이스(SPI) 클록 입력이 리이네이블되는(reenabled) 방법 및 카운터 및 동기식 카운터 인터럽트가 디스에이블되는 방법을 설명하는 순서도이다.
도 13은 외부 트리거 인터럽트 루틴을 도시하는 순서도이다.
도 14는 본 발명에 따른 전계 분석기를 통합한 EMC 검사 장치의 개략도이다.
도 15는 도 14의 검사 장치에서 사용되는 퍼스널 컴퓨터의 스크린상에 표시된 전형적인 웹페이지의 도면이다.
도 1에 개략적으로 도시된 전계 센서(20)는 매우 다양한 전계 센서중 하나일 수 있다. 적절한 전계 센서가 2012년 1월 26일 공개된 미국 특허 공개 2012/0019426에 기술되어 있고, 그 전체 내용은 여기에 참조에 의해 통합되어 있다. 간략하게, 미국 특허 공개 2012/0019426의 전계 센서는 수평선으로부터 35.3°의 각도로 베이스로부터 상방으로 뻗은 스톡(stalk)의 단부에 3개의 다이폴의 세트를 포함하고 있다. 이러한 다이폴은 각 다이폴이 다른 2개의 다이폴이 평행한 평면에 수직으로 뻗도록 배열되어 있다. 따라서, 스톡의 회전에 의해, 다이폴 중 하나는 다른 2개가 수평면에 있는 동안 수직 상태에 이를 수 있다. 이러한 전계 센서는 감지된 전계의 변조 포락선에 상응하는 출력을 생성하는, 검출기로서 기능하는 하나 이상의 다이오드를 포함하고 있다.
이러한 검출기 출력은 센서가 등방성이 되도록 전기 합산되어 단일 출력을 생성한다. 이러한 다이폴 검출기 및 합산 회로는 도 1의 "센서 헤드"(22)로 표시되어 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 전계 센서는 센서 헤드에 더하여 다른 부품을 포함하고 있다. 이러한 검출기의 합산된 출력은 바람직하게는 단극 저역통과 필터를 포함하는 증폭기(24)에 의해 증폭된다. 그다음, 이러한 여과되고 증폭된 신호는 아날로그-디지털(A/D) 변환기(26)에 의해 디지털 포맷으로 변환되는데, 샘플링 레이트는 클록 발진기(28)에 의해 로컬로 생성된 클록 펄스에 의해 제어된다. 역시 클록 펄스에 응답하는 이진 카운터(30)는 이러한 샘플을 구별하는데 사용된다. 이러한 적용에 적절한 전형적인 샘플링 방식에서, 아날로그-디지털 변환기는 초당 15 x 106 16 비트 샘플을 취하여 24 Mbit/s의 속도로 데이터 스트림을 생성한다.
이러한 디지털 데이터는 구동기(34)에 의해 구동되는 VCSEL(vertical cavity surface emitting laser)(32)에 의해 광 데이터로 변환되고 광섬유 케이블(36)을 통해 전송된다. 이러한 광섬유 케이블은 전기적으로 비도전성이어서 측정되는 전계에 간섭하지 않기 때문에 사용된다. 동일한 이유로, 전계 센서 내의 전자 부품의 동작을 위한 전력은 (도 1에 도시되지 않음) 레이저에 의해 생성되고 광섬유 케이블(38)을 통해 광전력 변환기(PPC: photovoltaic power converter)(42)를 거쳐 전자 전원 모듈(40)에 전달된다. 전계 센서내의 회로에 동작 전력을 공급하는데 사용된 레이저는 전계 프로세서의 일부이다.
도 2는 전계 분석기 하드웨어의 주요 부품을 도시하고 있다. 이러한 부품은 전계 센서(20), 전계 프로세서(44), 및 이더넷 접속을 통해 전계 프로세서와 통신하는 퍼스널 컴퓨터(PC)(46)를 포함하고 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 전계 센서로부터의 광 데이터는 광섬유 케이블(36)을 통해 전계 프로세서(44)에 접속되고, 전계 프로세서는 광섬유 케이블(38)을 통해 전계 센서에 동작 전력을 공급한다. 전계 프로세서 내의 레이저에 의해 급전될 때, 전계 센서는 레이저가 정지될 때까지 연속 비트 스트림의 형태로 출력을 생성할 것이다. 전계 센서에 전력을 공급하는데 사용되는 레이저는 반드시 상대적으로 높은 전력의 레이저이고, 이것을 전계 센서에 접속하는 광섬유 케이블이 파손되거나 끊어지는 동안 동작된다면 유해한 빔을 방출할 수 있다는 것에 주목하는 것이 중요하다.
전계 프로세서(44)의 보다 상세한 부분은 도 3에 도시되어 있다. 전계 센서에 동작 전력을 제공하는 레이저는 사용자 인터페이스(52)를 갖는 디지털 신호 처리 마이크로컨트롤러(50)에 의해 제어되는 적외선 레이저(48)이다. 광섬유 케이블(36)을 통해 전계 센서로부터 전계 프로세서로 전달되는 데이터는 광 수신기(54)에 의해 전자 펄스로 다시 변환되고, 전자 펄스는 증폭기(56)에 의해 증폭된다. 클록 복구 회로(58)는 데이터 비트의 스트림으로부터 동기 클록 신호를 유도하여서, 전계 센서로부터 전계 프로세서로 클록 데이터의 별개의 전송의 필요를 제거하면서 클록 발진기(28)에 의해 생성된 클록 펄스를 재생(reproducing)한다. 데이터 비트 및 클록 펄스는 직렬 주변 장치 인터페이스(SPI) 버스를 통해 마이크로컨트롤러(50)에 별개로 공급된다.
마이크로컨트롤러(50)는 부착된 전계 센서로부터의 데이터를 처리하기 위해 내장 소프트웨어를 사용한다. 마이크로컨트롤러는 전용 홀딩 버퍼 메모리에 디지털 비트 스트림을 자동으로 버퍼링하기 위해 직접 메모리 접근(DMA) 모듈(도시되지 않음)을 사용한다.
비동기식 (인터럽트 구동) 상태 기계는 전계 센서 데이터의 분석 및 파싱을 다룬다. 이러한 상태 기계는 우선, DMA 모듈을 사용하여 메모리로 자동으로 이동된 데이터를 분석한다.
전계 센서로부터의 비트 스트림이 연속성을 갖기 때문에, 이러한 데이터 비트는 DMA에 의해 메모리에 자동으로 전송될 때 적절하게 정렬되지 않을 수 있다. 즉, 비트 위치는 각 샘플의 최하위 비트(least significant bit)가 각 메모리 위치의 최하위 비트 위치에 저장되는 방식 등으로 시프트될 수 있다. 따라서, 이러한 데이터는 비트 정렬을 보정하기 위해 시프트될 필요가 있는지 여부를 결정하기 위해 분석되어야 한다. 버퍼 메모리 내의 데이터를 분석하는 프로세스에서, 상태 기계는 얼마나 많은 비트 만큼 데이터가 시프트될 필요가 있는지를 판정하기 위해 각 샘플이 2개의 선행 제로 비트 및 2개의 후행 제로 비트를 가질 것이라는 사실을 이용한다. 이러한 프로세스에서, 버퍼 메모리의 크기에 상응하는 데이터 양이 필수적으로 폐기된다. 그러나, 데이터 정렬이 달성된 후에, 데이터는 장치가 계속 동작하는 동안 다시 오정렬될 가능성은 거의 없다.
비트 정렬이 보정된 후에, 상태 기계는 트리거 발생을 검사한다. 트리거는 3개의 상이한 소스중 하나로부터 나올 수 있다. 프리런(free run) 모드에서, 트리거는 상태 기계의 이러한 부분이 도달될 때마다 자동으로 세팅된다. 내부 트리거 모드에서, 각 데이터 샘플은 사용자-정의된 임계값을 지났는지를 판정하기 위해 분석된다. 외부 트리거 모드에서, 외부 트리거 포트(60) 상의 상승 에지가 트리거를 유발할 것이다.
소프트웨어는 디스플레이 내의 파형의 위치를 제어하기 위해 트리거 이전(pre-trigger) 데이터의 부분 및 트리거 이후(post-trigger) 데이터 부분을 버퍼링하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 데이터의 50%가 트리거 이전이고 데이터의 50%가 트리거 이후라면, 파형은 도표 윈도우(plot window)의 중심에 일어나는 트리거에 의해 표시될 것이다. 필요하다면, 트리거 위치는 사용자가 조정할 수 있도록 될 수 있다.
일단 트리거가 일어나면, 사용자 선택된 타임 베이스가 데이터 패킷 시작 및 정지 포인트를 결정하는데 사용된다. 이러한 정보는 직접 메모리 접근(DMA) 모듈을 사용하여 홀딩 버퍼를 배정하는데 사용된다. 일단 이러한 DMA 전송이 완료되면, 버퍼는 웹페이지로 업로드되기 위해 준비된 완전한 데이터 패킷을 보유할 것이다. 이로 인해 웹페이지에 의해 폴링되는 플래그가 설정되어 완전한 데이터 패킷이 전계 프로세서로부터 검색될 수 있다는 것을 알 수 있도록 한다. 트리거가 발생한 후에, 웹페이지가 이전의 데이터 패킷을 성공적으로 검색할 때까지 다른트리거가 발생할 수 없다.
전계 센서 내의 검출기 다이오드 또는 다이오드들의 특징은 본질적으로 비선형성이고 따라서 퍼스널 컴퓨터의 스크린에 표시되는 변조 포락선의 크기는 전계 센서의 위치에서 전계의 크기를 정확히 나타내도록 보정이 이루어져 한다. 더욱이, 이러한 특징은 하나의 전계 센서로부터 다른 전계 센서로 변할 수 있다. 다수의 상이한 전계 센서의 각각을 수용하기 위해 전계 분석기를 구성할 때 당면하는 어려움을 피하기 위해, 바람직하게는 전계 센서는 전용 전계 프로세서와 연관된다. 또한, 바람직하게는 전계 센서의 검출기의 특성 곡선은 룩업 테이블로서 전계 프로세서의 메모리에 디지털식으로 저장되고 이더넷 링크를 통해 전계 프로세서와 통신하는 임의의 퍼스널 컴퓨터에 다운로드되기 위해 사용가능하다. 웹페이지가 전계 프로세서로부터 퍼스널 컴퓨터로 로딩될 때, 저장된 선형 보정 룩업 테이블 또한 포함된다. 그다음, 이러한 정보는 데이터 패킷에 상응하는 전계 크기가 도표 윈도우에 표시되기 전에, 검색된 데이터 패킷을 보정하기 위해 웹페이지에 의해 사용된다.
이러한 측정에 의해 검출된 전계의 변조 파형을 표시하기 위해 임의의 퍼스널 컴퓨터 대부분을 사용하는 것이 용이해진다. 각 전계 센서용 전용 전계 프로세서를 사용하고 웹페이지와 함께 퍼스널 컴퓨터에 비선형 보정 룩업 테이블을 다운로드함으로써 별개의 단계로서 특정 센서용 룩업 테이블의 위치를 파악하고 로딩할 때 일어날 수 있는 가능한 오류를 피할 수 있다. 더욱이, 마이크로컨트롤러 대신에 퍼스널 컴퓨터에서 비선형성을 보정함으로써 마이크로컨트롤러의 계산 부담을 덜 수 있다. 퍼스널 컴퓨터의 프로세서는 전계 프로세서에서 수행될 수 있는 것 보다 신속하게 선형화를 수행할 수 있다.
웹페이지는 웹페이지에 표시되는 파형을 위한 최소, 최대 및 평균 값을 계산하기 위해 비동기 자바스크립트 및 XML (AJAX)을 사용한다. 이것은 역시 마이크로컨트롤러의 계산 부담의 경감에 기여한다.
데이터 처리에 더하여, 전계 프로세서는 레이저(48)를 제어하고, 또한 이더넷 포트(62)를 통해 원격 통신을 제어한다. 이더넷 포트를 통해, 전계 프로세서는 웹 서버로서 기능하여, 내장된 웹페이지로의 접근을 제공한다. 다른 원격 통신 포트, 예를 들어, 광섬유(F/O) 직렬 포트(64), 유니버설 시리얼 버스(USB) 포트(66), 및 IEEE 표준 488을 따르는 범용 인터페이스 버스(GPIB)(68)가 RS-485 시리얼 버스를 통해 마이크로컨트롤러(50)에 접속된 입출력(IO) 보드(70)에 제공되어 있다.
IO 보드(70) 상의 원격 통신 포트 역시 데이터를 검색하는데 사용될 수 있지만 웹페이지에서와 같이 상세하지는 않다. 웹페이지에서 사용가능한 제어 모두는 원격 통신 포트중 하나를 사용하여 원격 설정되거나 판독될 수 있다. 최소, 최대 및 평균 진폭 값 역시 원격 통신 포트중 하나를 통해 취득될 수 있다. 그러나, 웹페이지가 없으면, 선형 보정이 마이크로컨트롤러에서 수행되어야 하고, 이것은 현저하게 더 긴 시간이 걸린다. 웹페이지는 또한 파형이 시각적으로 표시될 수 있도록 하는 이점을 갖고 있다.
전계 프로세서 내의 회로를 동작시키고, 전계 센서에 전력을 공급하는 레이저 빔을 생성하기 위한 전력이 전계 프로세서 내의 전원(72)에 AC 선전류로서 공급되고, 그 안의 회로에 그리고 레이저(48)에 적절한 전압의 직류로서 배전된다.
전계 프로세서 및 퍼스널 컴퓨터 내의 소프트웨어의 동작은 도 4 내지 도 13의 순서도를 통해 보다 상세하게 설명되어 있다.
도 4는 전계 프로세서 유닛 내의 마이크로컨트롤러의 내장 펌웨어의 일반적인 동작을 도시하고 있다. 단계(74)의 초기화는 마이크로컨트롤러 램(RAM)의 램의 모든 변수를 초기화하고, 마이크로컨트롤러의 주변 하드웨어 역시 초기화한다. 이러한 주변 하드웨어는 예를 들어, 마이크로컨트롤러(50)(도 3)와 연관된 별개의 칩(도시되지 않음)인 이더넷 물리층 칩을 포함한다. 클록 복구 회로(58) 역시 초기화된다.
초기화에 이어, 이더넷 태스크가 소프트웨어 스택에 의해 단계(76)에서 구현된다. 여기에서, 개인이 이더넷 포트를 통해 전계 프로세서에 접속된 퍼스널 컴퓨터를 사용하여 마이크로컨트롤러에 저장된 웹페이지를 호출한다면, 이더넷 태스크는 웹페이지를 퍼스널 컴퓨터에 로딩한다.
다음 블록(78)은 레이저 제어 상태 기계이다. 이러한 레이저 제어 상태 기계는 임의의 상태 기계와 같이, 시퀀스를 통해, 상태 또는 조건의 체크, 및 경로를 따르고 이러한 조건에 따라 코드를 실행하는 단계를 처리하는 소프트웨어로 구성되어 있다. 이러한 조건이 메인 루프의 소프트웨어가 다음 단계로 진행하도록 허용하지 않는다면, 상태 기계는 계속 루프에서 동작한다.
이러한 레이저 제어 상태 기계는 전계 센서에 동작 전력을 공급하는 적외선 레이저(48)(도 3)가 집속 빔(concentrated beam)으로 상당한 양의 전력을 전달하기 때문에 필수 요소이다. 만약 광섬유 케이블(38)이 예를 들어, 잘못되어 끊어지거나 손상되는 경우에, 레이저 제어 상태 기계는 클록 복구 신호를 이용할 수 없다는 것을 감지할 것이고 이로 인해 데이터 스트림이 손실되거나 불완전하다는 것을 판정할 것이다. 그러한 경우에, 레이저 제어 상태 기계는 레이저가 턴오프되는 상태로 간다. 레이저 제어 상태 기계는 또한 전계 프로세서의 프론트 패널에서 키 동작(key-operated) 스위치를 감시하여, 키 스위치(key switch)가 턴온되고 불능 상태가 아닌지를 확실히 한다. 물론, 레이저 제어 상태 기계는 키 스위치의 턴온과 데이터 스트림의 취득 사이의 시차(time lag)를 계산에 넣는다.
원격 통신 상태 기계(블록(80))는 IO 보드(70) 상의 포트(F/O 시리얼 포트(64), USB 포트(66), 및 GPIB 버스(68))를 제어한다.
마이크로컨트롤러에서, 직렬 주변 장치 인터페이스(SPI) 상의 직렬 데이터 스트림 및 복구된 클록 비트는 도 4의 블록(82)에 도시된 바와 같이 직접 메모리 접근(DMA)에 의해 메모리 버퍼에 전송된다. 버퍼 메모리가 연속 데이터 스트림을 수신함에 따라, 데이터 스트림은 교대로 버퍼 메모리의 절반을 채운 다음, 다른 절반을 채운다. 버퍼 메모리의 각 절반이 채우지고 있는 동안, 버퍼 메모리의 다른 절반의 콘텐츠는 마이크로컨트롤러 내의 보다 큰 버퍼 메모리에 직접 메모리 접근에 의해 전송된다. 임의의 주어진 순간에, 보다 큰 버퍼 메모리에 있는 (또는 그 일부에 있는) 것이 웹페이지에 보여지는 것을 나타낸다.
도 4는 또한 데이터 상태 기계 루프를 도시한다. 이러한 루프의 제1 단계는 블록(84)의 데이터 샘플의 정렬이다. 전계 센서로부터의 비트 스트림이 연속성을 갖기 때문에, 데이터 비트는 DMA 루프에서 메모리에 자동으로 전송될 때 적절하게 정렬될 수 없다. 즉, 비트 위치는 각 샘플의 최하위 비트가 각 메모리 위치의 최하위 비트 위치로 저장되지 않는 방식으로 시프트될 수 있다. 메모리 버퍼의 콘텐츠를 검색함으로써 그리고 각 샘플이 2개의 선행 제로 비트 및 2개의 후행 제로 비트를 가질 것이라는 사실을 활용함으로써, 마이크로컨트롤러는 일련의 토글링 비트가 이어지는 4개의 연이은 제로 비트를 찾을 수 있고 시프트되기 위해 얼마나 많은 비트 만큼 데이터가 필요한지를 계산할 수 있다. 오정렬에 상응하는 비트의 수 동안 클록을 턴오프함으로써 데이터는 적절하게 정렬될 수 있다. 버퍼의 크기에 상응하는 데이터 양은 이러한 프로세스에서 폐기될 필요가 있다. 그러나, 데이터가 정렬된 후에 다시 오정렬될 가능성은 거의 없다.
데이터 상태 기계 루프에서의 다음 단계는 블록(86)에서 트리거링 모드를 설정하는 것이다. 이러한 트리거는 버퍼 콘텐츠의 주어진 부분을 잠금처리하여, 보기 위해 웹사이트에 대해 사용가능하도록 한다. 이러한 소프트웨어는 디스플레이에서의 파형의 위치를 제어하기 위해, 트리거 이전의 데이터 부분 및 트리거 이후의 데이터 부분을 버퍼링하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 데이터의 50%가 트리거 이전이고 데이터의 50%가 트리거 이후인 경우에, 파형은 도표 윈도우의 중심에 일어나는 트리거에 의해 표시될 것이다. 필요하다면, 트리거 위치는 사용자가 조정할 수 있도록 될 수 있다.
3가지 상이한 트리거링 모드가 존재한다. "자동 설정" 트리거 모드는 메모리 콘텐츠의 일부가 웹페이지로 전송된 후에, 이러한 웹페이지가 연속 갱신되도록 다른 트리거가 자동으로 일어나는 프리런 모드이다.
다음 모드는 내부 트리거 모드 또는 "임계 조사" 모드이다. 이러한 모드에서, 마이크로컨트롤러 프로세서는 데이터가 사용자가 설정한 임계값, 예를 들어, 50v/m을 초과하거나 미달하는지를 판정하기 위해 조사한다. 임계값은 검출기 비선형성을 보정하기 위해 퍼스널 컴퓨터에서 사용되는 동일한 저장된 룩업 테이블을 사용하여 마이크로컨트롤러에서 계산된다. 이러한 모드에서, 웹페이지는 데이터가 다시 한번 사용자가 설정한 임계값을 초과하거나 아래로 떨어질 때까지 동결된 상태로 남는다.
"외부 트리거" 모드로 불리는 제3 모드에서, 변조 파형은 트리거 포트(60)(도 3)를 통해 마이크로컨트롤러에 공급된 외부 트리거 신호에 동기화된다.
데이터 상태 기계 루프의 블록(88)에서, 버퍼 메모리로부터 데이터의 트리거 이전 부분과 트리거 이후 부분 모두를 선택하여 웹페이지에 전송되기 위한 데이터 패킷이 규정된다. 그다음, 데이터 상태 기계 루프의 블록(90)에서, 선택된 데이터 패킷이 이더넷 포트(62)(도 3)를 통해 웹페이지에 전송될 수 있는 전송 버퍼로 직접 메모리 접근(DMA)에 의해 전송된다. 데이터 패킷은 전송 버퍼에 겹쳐쓰여지지 않는다. 데이터 패킷은 웹페이지가 호출할 때까지 전송 버퍼에 남아 있다.
전계 프로세서와 통신하는 퍼스널 컴퓨터에 표시되는 웹페이지는 마이크로컨트롤러의 메모리에 저장되고 퍼스널 컴퓨터에 의해 실행되는 코드의 세트로 구성되어 있다. 비동기 자바스크립트 및 XML(AJAX)에 의해 웹페이지의 고정된 부분은 연속으로 재로딩되지 않고 표시될 수 있고 동시에, 표시된 파형 및 관련된 데이터가 연속으로 갱신될 수 있다.
도 5는 퍼스널 컴퓨터의 일반적인 동작을 도시한다. 블록(92)에서의 초기화는 PC 내의 램의 메모리 값을 설정한다. 마이크로컨트롤러의 메모리로부터 PC로 웹페이지의 고정된 부분을 로딩하는 것 역시 초기화의 일부이다. 초기화 단계(92)에서, 검출기 선형화 룩업 테이블 역시 마이크로컨트롤러 메모리로부터 PC로 로딩된다.
마이크로컨트롤러의 메모리에서 사용가능하다면, 선택적인 반송 주파수 보정 테이블 역시 초기화 단계에서 PC로 로딩될 수 있다. 반송 주파수 보정 테이블은 전계 센서 헤드(22), 증폭기(24)(도 1) 및 전계 센서의 다른 부품에서의 정주파수(flat frequency) 응답으로부터의 이탈을 PC가 보정할 수 있도록 하는 룩업 테이블이다.
"사용자 제어 감시"로 라벨 붙인 단계(94)에서, 사용자는 다양한 메뉴 옵션, 예를 들어, 시간축 선택, 트리거 방법 및 스케일링을 선택할 수 있다. 임계 트리거링 모드가 선택되면, 사용자는 또한 임계값을 선택할 수 있고 트리거가 변조 포락선에서 펄스의 상승 또는 하강 에지에서 일어날 지를 선택할 수 있다. 단계(94)에서, 정주파수 응답으로부터의 센서의 주파수 응답의 이탈을 계산에 넣기 위해 사용자가 보정에 착수하는 것이 또한 가능하다. "사용자 제어 감시"을 선택하여 입력하면 웹페이지는 자동으로 PC에 재로딩될 것이다.
"시스템 상태 폴링"으로 라벨 붙인 단계(96)에서, PC는 데이터가 준비되었는지를 전계 프로세서 내의 마이크로컨트롤러가 신호하였는지를 판정하고, 레이저(48)(도 3)가 켜져 있는지, 그리고 아무런 결함이 발생하지 않았는지를 확인한다. 시스템 상태의 폴링 후에, 트리거가 발생하였는지에 대한 질의가 98에서 이루어진다. 트리거가 발생하였다면, 프로세스는 단계(100), 도표 데이터, 즉, PC 디스플레이 스크린에 표시될 데이터의 폴링으로 진행한다. 아무런 트리거가 존재하지 않는다면, PC는 단계(94)로 되돌아가 사용자는 계속 선택하거나 이전에 했던 선택을 조정할 수 있다.
"데이터 보정"으로 라벨 붙인 단계(102)는, 표시되기 전에, 마이크로컨트롤러의 메모리로부터 PC로 다운로드된 검출기 비선형 보정 룩업 테이블이 폴링된 데이터 샘플에서 보정을 하도록 활용되는 단계이다. 동일한 단계에서, 별개의 룩업 테이블을 사용하여, 정주파수 응답으로부터의 센서 부품 및 전계 프로세서 부품의 일부의 주파수 응답의 이탈에 대해 선택적 보정이 이루어질 수 있다.
"데이터 도표 갱신"으로 라벨 붙인 블록(104)에서, 파형 도표 및 관련된 수치 값은 웹페이지의 나머지가 불변의 상태로 남아 있는 동안에 PC의 디스플레이에서 갱신된다. 각 도표가 갱신됨에 따라, PC는 단계(94)로 되돌아가고, 그다음 사용자는 계속 선택을 하거나 이전에 했던 선택을 조정할 수 있다.
도 6은 마이크로컨트롤러의 전체 동작을 도시한다. 단계(106)에서, 소프트웨어내의 전역 변수가 초기화된다. 단계(108)에서, 클록 복구 변수는 물론 입출력(IO) 및 주변 장치가 초기화된다. 단계(110)에서, 이더넷 스택이 초기화된다. 이러한 초기화에 이어, 그다음 루프는 단계(112)에서 이더넷 태스크의 서비싱을 시작한다. 이어서 단계(114)에서 TCP(전송 제어 프로토콜)의 서비싱이 이어진다. 마지막으로, 레이저 제어 상태 기계 프로세스가 단계(116)에서 시작된다.
도 4 내지 도 6에서 전체적으로 도시된 동작을 도 7a 내지 도 13을 참조하여 하기에 보다 상세하게 설명한다.
레이저 제어 상태 기계
레이저 제어 상태 기계(도 4의 블록(78)의 동작의 상세한 내용은 도 7a 내지 도 7c에 도시되어 있다. ("프로브"로도 부르는) 센서는 다음과 같이 6개의 상태를 갖고 있다:
디스에이블
이네이블
부트업(데이터를 기다림)
실행(데이터가 돌아오고 있음)
셧다운
푸시버튼 체크(푸시버튼이 유지되고 있는가?)
도 7a에 도시된 바와 같이, 우선 레이저 제어 상태 기계는 프로브가 판정 블록(118)에서 디스에이블되었는지를 판정한다. 프로브가 디스에이블되었다면, 프로세스는 고장 지시기가 클리어되는 단계(120)(도 7b)로 진행하고, 블록(122)에서 전계 프로세서 유닛 상의 키-조작 스위치가 이네이블되어 있는지, 즉, 키-조작 스위치가 턴"온"되어 있는지 여부에 대해 질의한다. 키 스위치가 이네이블되어 있다면, 프로브는 단계(124)에서 이네이블되고, 레이저 제어 상태 기계는 도 4의 메인 루프의 동작이 원격 통신 상태 기계(80)으로 진행하는 "최종" 단계에 도달한다. 마찬가지로, 키 스위치가 이네이블되지 않은 것으로 발견되었다면, 동작은 프로브의 이네이블먼트 없이 "최종" 단계로 진행한다.
도 7a에서, 프로브가 블록(118)에서 디스에이블된 것으로 판정되지 않았다면, 프로세스는 프로브가 이에이블되어 있는지 여부에 대해 질의하는 판정 블록(126)으로 진행한다. 프로브가 이네이블되어 있다면, 키 스위치가 디스에이블되어 있는지 여부에 대해 판정이 판정 블록(128)에서 이루어진다. 키 스위치가 디스에이블되어 있다면, 프로브 상태는 블록(130)에서 "디스에이블" 상태로 변경되고, 레이저 제어 상태 기계의 동작은 종료되고, 도 4의 메인 루프는 블록(80)에서 원격 통신 상태 기계로 진행한다. 한편, 키 스위치가 디스에이블 상태가 아닌 것으로 판정되면, 레이저 활성화 푸시버튼이 눌려져 있는지 여부에 대한 질의가 판정 블록(132)에서 행하여진다. 이러한 버튼이 눌려져 있다면, 동작은 고장 지시기가 단계(136)에서 클리어되고 단계(138)에서 레이저가 이네이블되는 도 7b의 단계(134)의 세트로 진행한다. 단계(140)에서, 타임아웃 카운터가 클리어된다. 단계(142)에서 이네이블되는 타임아웃 카운터는 시스템으로 하여금 전계 센서가 부트업하고 데이터 전송을 개시하는 것을 대기하도록 할 수 있다. 프로브 상태는 단계(144)에서 부트업 상태로 변경된다.
다시 도 7a에서, 프로브 상태가 이네이블가 아닌 것으로 판정되면, 프로브가 부트업 상태에 있는지 여부에 대한 질의가 블록(146)에서 이루어진다. 만약 그러하다면, 프로브 상태가 이네이블 상태가 아니기 때문에, 상태 기계는 키 스위치가 디스에이블 상태, 즉, 턴오프되어 있는지 여부를 블록(148)에서 판정한다. 키 스위치가 디스에이블이라면, 프로브 상태는 블록(150)에서 셧다운으로 변경되고 레이저 제어 상태 기계는 그 "최종" 상태에 도달하여서, 메인 루프가 도 4의 블록(80)의 원격 통신 상태 기계로 진행하도록한다.
만약, 블록(146)에서 프로브가 부트업 상태가 아닌 것으로 판정하면, 상태 기계는 프로브가 실행 상태인지, 즉, 데이터를 수신하고 있는지 여부에 대한 질의가 블록(152)에서 행해지는 도 7c로 진행한다. 프로브가 실행 상태라면, 상태 기계는 블록(154)에서 키 스위치의 디스에이블링 및 로크의 손실에 대해 체크한다. 클록 복구 칩이 데이터 스트림에 대한 액티브 로크를 나타내지 않았다면 로크의 손실이 일어난다. 아무런 액티브 로크가 존재하지 않는다면, 데이터 스트림은 존재하지 않거나, 존재한다해도 사용불능이다. 이러한 2개의 조건중 하나가 일어났다면, 프로브 상태는 블록(156)에서 셧다운으로 시프트되고 레이저 제어 상태 기계는 그 "종료" 상태로 이동한다. 한편, 상태 기계는 블록(154)에서 이루어진 판정이 로크의 손실로 인한 것이었는지를 블록(158)에서 판정한다. 만약 그러하다면, 고장 지시기는 블록(160)에서 세팅된다.
프로브가 블록(152)에서 판정되는 대로 실행 상태가 아니라면, 프로브가 셧다운 상태인지에 대한 질의가 블록(162)에서 행하여진다. 만약 그러하다면, 레이저는 블록(164)에서 디스에이블되고, 직렬 주변 장치 인터페이스(SPI)로부터 마이크로컨트롤러 내의 버퍼 메모리로 데이터를 전송하는 직접 메모리 접근(DMA) 모듈은 블록(166)에서 셧다운되고, 프로브 상태는 블록(168)에서 "푸시버튼 체크" 상태로 변경된다.
프로브가 블록(162)에서 판정되는 대로 셧다운 상태가 아니라면, 상태 기계는 블록(170)에서 레이저 활성화 푸시버튼을 체크한다. 만약 푸시버튼이 눌려져 있지 않다면, 프로브가 블록(172)에서 이네이블된다. 한편, 푸시버튼이 눌려져 있다면, 레이저 제어 상태 기계는 루프 순환하여 푸시버튼을 다시 한번 체크한다. 이러한 방식으로 푸시버튼을 체크함으로써 사용자가 푸시버튼을 유지하여 루프를 강제로 재시작하는 것을 방지할 수 있는데, 이러한 재시작의 경우에 레이저는 레이저 반송 광섬유 케이블이 전계 센서에 접속되지 않았음에도 불구하고 푸시버튼을 유지함으로써 동작될 수도 있다.
도 8a 및 도 8b는 도 7b의 블록(142)에서 타임아웃 타이머의 이네이블링을 설명한다. 도 8a에서, 프로브 통신 타이머 오버플로 인터럽트가 발생하면, 타임아웃 카운트는 블록(174)에서 증가되고, 프로브 상태가 체크된다. 프로브가 "부트업" 상태라면, 타임아웃 카운트는 판정 블록(176)에서 체크된다. 카운트가 사전결정된 한계를 초과하면, 타임아웃 타이머는 블록(178)(도 8b)에서 디스에이블되고 판정 블록(180)에서 로크의 손실이 체크된다. 로크의 손실의 경우에, 고장 지시기가 블록(182)에서 활성화되고 프로브는 블록(184)에서 셧다운된다. 데이터가 클록에 잠금된다면, SPI 클록 입력은 186에서 이네이블되고, 트리거 플래그는 188에서 클리어되고, 상태 기계는 190에서 "언트리거"로 설정되고, SPI-버퍼 메모리 DMA 모듈이 192에서 이네이블되고 프로브 상태는 194에서 "부트업"으로부터 "실행" 상태로 변경된다.
도 8a로 다시 돌아가, 프로브가 "부트업" 상태가 아니라면, 상태 기계는 프로브가 상태가 "실행" 상태인지를 196에서 판정한다. 실행 상태이고 타임아웃 카운터의 카운트가 판정 블록(198)에서 판정되는 대로 사전결정된 한계를 초과한다면, 프로브 통신 타이머는 200에서 디스에이블되고, 고장 지시기는 202에서 활성화되고 프로브 상태는 204에서 "셧다운" 상태로 변경된다. 따라서, 시스템은 데이터 스트림이 전계 센서로부터 전계 프로세서로 들어오는 것을 보장한다. 이러한 데이터 스트림이 존재한다면, 타임아웃 카운터는 계속해서 리셋된다. 이러한 카운트가 프로브가 "부트업" 또는 "실행" 상태에 있는 동안 사전결정된 한계를 초과하거나, 로크의 손실이 검출된다면, 프로브는 셧다운된다.
원격 통신 상태 기계
원격 통신 상태 기계(도 4의 블록(80))의 동작의 세부 사항은 도 9에 도시되어 있다.
원격 통신 상태 기계의 가능한 상태는 다음과 같다:
디코드 들어온 커맨드 또는 질의를 해석하고, 전계 분석기가 응
답하기 위해 무엇을 해야하는지를 결정하는 것
서비스 디코드 서부루틴에 의해 디코딩된 액션을 수행하도록
초기화
기능 정지(stall) 특정 서비스가 종료될 수 있도록 대기 상태
응답 응답 착수
블록(206)에서, 상태 기계는 "디코드" 커맨드 상태를 체크한다. "디코드" 상태는 디폴트 상태, 즉, 시작점이다. 디코드 상태에서, 원격 통신 상태 기계는 데이터가 이더넷 포트(62)(도 3)를 통해 또는 IO 보드(70)(도 3)의 포트 64-68중 하나를 통해 들어오는 것을 기다린다. (유효 커맨드 또는 질의이든 관계없이) 임의의 데이터가 이러한 포트중 하나를 통해 들어왔는지에 대해 판정 블록(208)에서 판정한다. 데이터가 존재한다면, 디코딩 서브루틴은 무엇이 포트를 통해 들어왔는지를 판정하기 위해 블록(210)에서 실행되고, 상태는 블록(212)에서 "서비스"로 시프트한다. 한편, 아무런 데이터도 존재하지 않는다면, 커맨드 상태는 "디코드" 상태로 남게 된다.
커맨드 상태가 "디코드"가 아닐 때, 상태 기계는 상태가 "서비스" 상태인지에 대해 판정 블록(214)에서 판정한다. 만약 그러하다면, 서비스 서브루틴은 216에서 실행되고 커맨드 상태는 다른 동작이 "서비스" 서브루틴 내의 코드에 의해 판정되는 바와 같이 종료될 필요가 있는지 여부에 따라 블록(218)에서 "기능 정지" 또는 "응답"으로 변경된다.
판정 블록(220)에서, 상태 기계가 "디코드" 상태도 아니고 "서비스" 상태도 아니라면, 상태 기계가 "기능 정지" 상태인지에 대한 판정이 이루어진다. 만약 아니라면, 상태 기계는 블록(222)에서 응답하고 커맨드 상태는 블록(224)에서 디폴트 상태, "디코드"로 돌아간다.
상태 기계가 블록(220)에서 "기능 정지" 상태라면, 서비스가 종료될 때까지 이러한 상태로 남게 된다. 서비스가 블록(226)에서 판정된 대로 완료되었다면, 기계 상태는 블록(228)에서 "응답"으로 시프트된다.
도 10은 도 4의 DMA 루프(82)의 동작을 도시하고 있다. 마이크로컨트롤러 내의 버퍼 메모리("멤버퍼(membuffer)")는 2개의 절반부를 갖고 있고, 이러한 절반부의 콘텐츠는 보다 큰 출력 버퍼("아웃버퍼(out buffer)")에 교대로 전송된다. 버퍼 메모리가 절반 채워질 때와 완전히 채워졌을 때에 인터럽트가 발생한다. 인터럽트가 생성되고 버퍼 메모리의 제1 절반부가 채워진 것으로 블록(230)에서 판정될 때, 출력 버퍼로의 직접 메모리 접근(DMA)에 의한 버퍼 메모리의 제1 절반부의 콘텐츠의 전송이 블록(232)에서 시작된다. 그러나, 버퍼 메모리의 제1 절반부가 인터럽트의 시간에 채워지지 않고 제2 절반부가 채워져 있다면, 버퍼 메모리의 제2 절반부의 콘텐츠가 블록(234)에서 출력 버퍼로 전송된다.
데이터 상태 기계 루프
도 10의 출력 버퍼로의 DMA 전송이 종료될 때마다, 도 4의 데이터 상태 기계 루프는 데이터 패킷을 조합하고 웹페이지로 전송하도록 동작한다. 도 11a 내지 도 11d는 도 4의 데이터 상태 기계 루프, 특히 블록(84, 86 및 88)의 동작을 도시하고 있다.
데이터 상태 기계의 블록(84, 86 및 88)의 상태는 다음과 같다:
언트리거
트리거
대기
계속
데이터 준비
도 11a에서, 데이터의 최근에 전송된 블록이 비트가 적절한 메모리 위치에 맞추어 정렬되어 있는지 판정하기 위해 분석된다. 오프셋, 즉, 오정렬의 정도가 결정되고, 보정이 이루어진다.
도 11a에 도시된 바와 같이, 데이터 비트가 오정렬되면, 데이터가 오프셋된 비트의 수가 236에서 결정된다. 블록(238)에서 판정된 대로 오정렬이 발생하였다면, 동기식 카운터가 오프셋 값에 기초하여 블록(240)에서 세팅되고, SPI 클록 입력이 블록(242)에서 디스에이블된다. 즉, 도 3의 마이크로컨트롤러로 클록 복구 회로(58)에 의해 전송된 SPI 클록 비트는 마이크로컨트롤러내의 내부 카운터에 의해 계수되지만, 데이터를 버퍼 메모리에 클록킹하는데 사용되지 않는다. 동기식 카운터 및 동기식 카운터 인터럽트가 블록(244)에서 이네이블된다. 도 12를 참조하면, 오프셋 카운트가 계수되고, SPI 클록 입력이 리이네이블되고, 카운터 및 동기식 카운터 인터럽트가 디스에이블된다. SPI 클록이 리이네이블된 상태에서, SPI 버스로부터의 데이터가 다시 버퍼 메모리에 들어갈 수 있다.
다시 도 11a에서, 오프셋이 제로라면, 마이크로컨트롤러는 블록(246)에서 임계값 교차를 찾는데, 즉, 사전설정된 임계값을 초과하는(또는 아래로 떨어지는) 최초 샘플에 대한 출력 버퍼 내의 샘플을 나타내는 데이터를 검색한다. 임계값이 교차되지만 트리거 상태가 "언트리거" 상태라면, 경로는 블록(248)로부터 도 11b로 진행하는데, 도 11b에서 상태 기계는 트리거가 판정 블록(250)에서 프리런 모드에 있는지 여부를 판정한다. 트리거가 프리런 모드에 있다면, 웹페이지에 전송되는 정보는 블록(252)에서 스톱 인덱스를 설정함으로써 결정된다. 재시작 인덱스가 스톱 인덱스로부터 거꾸로 계산함으로써 블록(254)에서 설정되고, 재시작 및 스톱 인덱스는 데이터가 중첩되지 않도록, 웹페이지로 전송되는 데이터를 결정한다. 트리거 상태는 블록(256)에서 "트리거" 상태로 변경된다. 출력 버퍼가 다수의 패킷을 포함하고 있기 때문에, 이러한 패킷을 추적하고 이들을 겹쳐쓰는 것을 피하기 위해 블록(258)에서, "아웃인덱스"로 불리는 인덱스를 증가시킬 필요가 있다.
트리거가 프리런 모드에 있지 않다면, 상태 기계는 포트 60(도 3)에서의 외부 트리거 또는 내부 트리거를 블록(260)에서 체크한다. 내부 트리거는 블록(246)(도 11a)의 임계값 조사에 의해 결정되어 있을 것이다.
외부 또는 내부 트리거가 발생하였다면, 임계값 조사 또는 도 13에 도시된 외부 트리거 인터럽트 루틴에 의해 결정된 트리거 인덱스가 블록(228)에서 저장된다. 인덱스 값을 결정하는데 사용된 트리거 플래그는 블록(264)에서 클리어되고, 시스템은 트리거가 프리런 모드에 있는 경우에서처럼 스톱 및 재시작 인덱스를 설정하는 단계를 진행한다.
다시 도 11a를 참조하면, 트리거 상태가 판정 블록(266)에서 "트리거"된 것으로 판정되면, 시스템은 도 11c로 진행하고, 스톱 인덱스에 도달되었는지 여부에 대해 블록(268)에서 판정이 이루어진다. 스톱 인덱스에 도달되지 않았다면, 아웃인덱스는 258에서 증가된다.
스톱 인덱스에 도달되었다면, 출력 버퍼 내용의 일부는 사용자에 의해 선택된 시간축에 기초하여 스톱 인덱스로부터 거꾸로 작동함으로써 결정되고, 직접 메모리 접근(DMA) 전송이 블록(272)에서 시작되어 이렇게 선택된 출력 버퍼의 부분을 마이크로컨트롤러 내의 제3 버퍼 메모리인 전송 제어 프로토콜(TCP) 버퍼로 이동시키고, 트리거 상태는 블록(274)에서 "대기" 상태로 변경되고 아웃인덱스는 증가된다. 전송이 완료되면, 상태는 도 12에서 "계속"으로 변경된다.
다시 도 11a에서, 트리거 상태가 판정 블록(248과 266)에서 "트리거"도 아니고 "언트리거"도 아닌 것으로 판정되면, 시스템은 트리거 상태가 "대기", "계속" 또는 "데이터 준비" 상태인지를 판정 블록(276과 278)이 결정하는 도 11d로 진행한다. 트리거 상태가 "대기"도 아니고 "계속"도 아니라면, 트리거 상태는 블록(280)에서 "데이터 준비" 상태이고, 아웃인덱스가 증가된다. 트리거 상태가 "계속"이라면, 아웃인덱스는 블록(282)에서 재시작 인덱스와 비교되고, 아웃인덱스 및 재시작 인덱스가 동일하다면 트리거 상태는 블록(284)에서 "데이터 준비" 상태로 변경된다. 어느 경우에도, 아웃인덱스는 증가된다. 웹페이지는 도 5의 블록(96)에서 시스템 상태를 폴링함으로써 데이터 준비 상태를 체크한다. 웹페이지가 데이터를 취할 때, 트리거 상태는 "언트리거" 상태로 돌아간다.
본 발명의 전계 분석기는 전계 센서(20)가 무반향 콘과 타일이 붙여진 검사실(286)에 위치된, 도 14에 도시된 것과 같은 검사 장치에서 사용될 수 있다. 안테나(288), 또는 검사실 내의 피검사 장치(도시되지 않음)에 전자기장을 인가하기 위한 다른 적절한 장치가 방향성 결합기(292)를 통해 RF 증폭기(290)의 출력부에 접속되어 있다. 출력 전력은 방향성 결합기에 접속된 전력계(294)에 의해 감시된다. RF 신호는 합성기 또는 증폭기의 입력부에 접속된 다른 적절한 신호 생성기(296)에 의해 생성된다.
도 14에 도시된 바와 같이, 전계 센서(20)는 이러한 센서로부터 데이터를 전송하는 광섬유 케이블(36) 및 전계 센서에 동작 전력을 전달하는 광섬유 케이블(38)을 통해 전계 프로세서 유닛(44)에 접속되어 있다. 전계 프로세서는 이더넷 링크를 통해 퍼스널 컴퓨터(46)에 접속되어 있다.
전계 프로세서 유닛(44)의 프론트 패널에는 전력 스위치(298), 키 조작 스위치(300), 전계 센서에 동작 전력을 전달하는 레이저를 활성화시키기 위한 순간 푸시버튼(302), 및 고장 지시 LED(304)가 있다.
퍼스널 컴퓨터(46)에 표시된 웹페이지는 도 15에 보다 상세하게 도시되어 있다. 디스플레이는 전계 센서에 의해 수신된 RF 신호의 변조 포락선(306)을 도시하고 있다. 디스플레이를 위한 다양한 파라미터가 웹페이지 상의 그래픽 사용자 인터페이스에 의해 선택될 수 있다. 예를 들어, 진폭 스케일 및 시간축이 트리거 타입(외부, 내부 또는 프리런), 트리거 레벨, 및 트리거 에지(상승 또는 하강)에 따라 선택될 수 있다. 주파수 보정, 즉, 정주파수로부터의 전계 센서의 주파수 응답의 편차(deviation)에 대한 보정이 이네이블되거나 디스에이블될 수 있고, 주파수가 변조 포락선의 최대, 최소 및 평균 진폭과 함께 표시될 수 있다. 보정의 양은 승수로서 표시될 수 있다.
인가된 보정 승수를 유도하기 위해 웹페이지에 의해 사용되는 주파수 보정 값의 저장된 테이블을 사용자가 볼 수 있도록 "뷰 테이블" 버튼이 제공된다. "런/스톱" 버튼이 파형 표시의 갱신을 수동으로 시작하고 중지시키기 위해 사용된다. "싱글" 버튼이 단일 트리거 이벤트가 발생한 후에 파형 표시의 갱신을 자동으로 중지시키기 위해 제공된다. 키 스위치 위치, 전계 센서 전원 레이저의 상태 및 시스템 상태를 나타내는 상태 표시 역시 웹페이지에 제공된다.
도 4 내지 도 13에 도시된 소프트웨어 세부사항은 전계 센서가 RF 전계의 변조 포락선의 디지털 샘플을 생성하고 전계 프로세서가 퍼스널 컴퓨터에 이러한 변조 포락선을 표시하기 위한 웹페이지를 생성하는 전계 분석기를 구현하는 다수의 가능한 방법의 예이다. 변형은 예를 들어, 전계 센서의 검출기의 비선형성 또는 전계 센서의 주파수 응답에 대한 보정이 퍼스널 컴퓨터 대신에 전계 프로세서에서 수행되는 배열, 클록 비트가 센서에서 생성되고 전계 데이터에 관계없이 전계 프로세서에 전송되는 배열, 및 클록 데이터가 데이터 스트림을 인코딩함으로써 전송되는 배열을 포함한다. 따라서, 기술된 장치의 이러한 변형 및 다수의 다른 변형이 아래의 청구범위에서 한정된 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 이루어질 수 있다.

Claims (10)

  1. 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선을 표시하기 위한 장치로서,
    상기 전계의 디지털 샘플을 생성하기 위한 전계 센서;
    퍼스널 컴퓨터에 표시하기 위한 웹페이지를 생성하기 위한, 상기 전계 센서에 접속된 전계 프로세서로서, 상기 웹페이지는 시간의 간격에 대해 상기 포락선의 진폭의 변화를 보여주는 도표를 포함하는 전계 프로세서; 및
    상기 웹페이지를 검색하고 표시하기 위한 퍼스널 컴퓨터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  2. 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선을 표시하기 위한 장치로서,
    전계 센서 유닛;
    전계 처리 유닛; 및
    퍼스널 컴퓨터를 포함하고,
    상기 전계 센서는,
    안테나,
    상기 안테나에 접속된 입력부를 갖고 있고 출력을 제공하는 검출기, 및
    상기 검출기에 응답하는 샘플링 회로로서, 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭을 나타내는 순차 샘플을 디지털 포맷으로 제공하는 샘플링 회로
    를 포함하고,
    상기 전계 처리 유닛은,
    상기 순차 샘플을 수신하기 위한 수신기, 및
    상기 수신기에 응답하는 마이크로컨트롤러로서, 상기 샘플을 유지하기 위한 버퍼 메모리 및 상기 버퍼 메모리로부터 퍼스널 컴퓨터에 표시되는 웹페이지에 데이터 패킷을 업로드하기 위한 트리거 응답 수단을 포함하는 마이크로컨트롤러
    를 포함하고,
    상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 데이터 패킷을 검색하고, 웹페이지에 상기 RF 전계의 변조 포락선의 오실로스코프 표시로서 상기 데이터 패킷을 표시하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 샘플링 회로는 클록 펄스 생성기 및, 데이터 비트의 직렬 스트림을 순차 그룹으로 생성하기 위한, 상기 클록 펄스 생성기로부터의 클록 펄스 및 상기 검출기의 출력에 응답하는 아날로그-디지털 변환기를 포함하고, 데이터 비트의 각 그룹은 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭의 샘플을 나타내는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 전계 센서 유닛은 상기 아날로그-디지털 변환기로부터 전기 출력을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 상기 데이터 비트의 직렬 스트림에 의해 표현되는 데이터에 상응하는 데이터를 광선의 형태로 전송하기 위한 변조 광 신호를 생성하도록 접속된 광전 변환기를 포함하고,
    상기 변조 포락선 표시 장치는 상기 광선을 수신하고 상기 광선을 상기 전계 처리 유닛에 전송하기 위한, 상기 광전 변환기에 접속된 광섬유 케이블을 포함하고,
    상기 수신기는 상기 광선을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 데이터 비트의 직렬 스트림에 상응하는 데이터 비트의 스트림의 형태로 전기 신호를 생성하기 위한, 상기 광섬유 케이블에 접속된, 광 수신기인 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  5. 제2항에 있어서, 상기 전계 센서 유닛은 디지털 형태로 상기 순차 샘플에 의해 표현되는 데이터에 상응하는 데이터를, 상기 광선의 형태로, 전송하기 위한 변조 광 신호를 생성하기 위한, 상기 순차 샘플을 수신하도록 접속된, 광전 변환기를 포함하고,
    상기 변조 포락선 표시 장치는 상기 광선을 수신하고 상기 광선을 상기 전계 처리 유닛에 전송하기 위한, 광전 변환기에 접속된 광섬유 케이블을 포함하고,
    상기 수신기는 상기 광선을 수신하고 상기 순차 샘플에 상응하는 데이터 비트의 스트림의 형태로 전기 신호를 생성하기 위한, 상기 광섬유 케이블에 접속된, 광 수신기인 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  6. 제2항에 있어서, 상기 샘플링 회로는 클록 펄스 생성기 및, 순차 그룹으로 데이터 비트의 직렬 스트림을 생성하기 위한, 상기 클록 펄스 생성기로부터의 클록 펄스 및 상기 검출기의 출력에 응답하는, 아날로그-디지털 변환기를 포함하고,
    데이터 비트의 각 그룹은 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭의 샘플을 나타내고,
    상기 전계 처리 유닛은 상기 데이터 비트의 스트림으로부터 동기 클록 신호를 유도하기 위한 클록 복구 유닛을 포함하고,
    상기 마이크로컨트롤러는 상기 데이터의 스트림 및 상기 동기 클록 신호를 수신하도록 구성된 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  7. 제2항에 있어서, 상기 전계 처리 유닛은 상기 버퍼 메모리 내의 데이터 비트의 오정렬을 검출하고 보정하기 위한, 상기 버퍼 메모리에 응답하는, 비트 정렬 보정 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  8. 제2항에 있어서, 상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 전계 센서에 비선형성을 나타내는 데이터를 저장하고 상기 비선형성을 보정하기 위해 상기 저장된 데이터를 사용하는 수단을 포함하고, 상기 수단에 의해 상기 표시된 변조 포락선이 상기 안테나의 위치에서의 RF 전계의 변조 포락선과 상응하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  9. 제2항에 있어서, 상기 전계 센서의 비선형성을 나타내는 데이터가 상기 전계 처리 유닛 내의 메모리에 영구 저장되고, 상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 전계 처리 유닛의 메모리로부터 상기 비선형성을 나타내는 데이터를 다운로드하고 임시 저장하고 상기 비선형성을 보정하기 위해 상기 저장된 데이터를 사용하는 수단을 포함하고, 상기 수단에 의해 상기 표시된 변조 포락선이 상기 안테나의 위치에서의 RF 전계의 변조 포락선과 상응하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
  10. 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선을 표시하기 위한 장치로서,
    전계 센서 유닛;
    광섬유 케이블;
    전계 처리 유닛; 및
    퍼스널 컴퓨터;
    를 포함하고,
    상기 전계 센서 유닛은,
    안테나,
    상기 안테나에 접속된 입력부를 갖고 있고 출력을 제공하는 검출기,
    클록 펄스 생성기 및, 데이터 비트의 직렬 스트림을 순차 그룹으로 생성하기 위한, 상기 클록 펄스 생성기로부터의 클록 펄스 및 상기 검출기의 출력에 응답하는 아날로그-디지털 변환기를 포함하고, 데이터 비트의 각 그룹은 상기 안테나에 의해 수신된 진폭 변조 RF 전계의 진폭의 샘플을 나타내는 샘플링 회로, 및
    상기 아날로그-디지털 변환기로부터 전기 출력을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 상기 데이터 비트의 직렬 스트림에 의해 표현되는 데이터에 상응하는 데이터를 광선의 형태로 전송하기 위한 변조 광 신호를 생성하도록 접속된 광전 변환기
    를 포함하고,
    상기 광섬유 케이블은 상기 광선을 수신하고 상기 광선을 상기 전계 처리 유닛에 전송하기 위해 상기 광전 변환기에 접속되어 있고,
    상기 전계 처리 유닛은,
    상기 광선을 수신하고 상기 아날로그-디지털 변환기에 의해 생성된 데이터 비트의 직렬 스트림에 상응하는 데이터 비트의 스트림의 형태로 전기 신호를 생성하기 위한, 상기 광섬유 케이블에 접속된, 광 수신기,
    상기 데이터 비트의 스트림으로부터 동기 클록 신호를 유도하기 위한 클록 복구 유닛,
    상기 광 수신기로부터 상기 데이터 비트의 스트림 및 상기 동기 클록 신호를 수신하고, 상기 광 수신기로부터 상기 데이터 비트를 수신하기 위한 버퍼 메모리를 포함하는 마이크로컨트롤러, 및
    상기 버퍼 메모리 내의 데이터 비트의 오정렬을 검출하고 보정하기 위한, 상기 버퍼 메모리에 응답하는, 비트 정렬 보정 회로로서, 상기 버퍼 메모리로부터 퍼스널 컴퓨터에 표시되는 웹페이지에 데이터 패킷을 업로드하기 위한 트리거 응답 수단을 포함하는 비트 정렬 보정 회로
    를 포함하고,
    상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 데이터 패킷을 검색하고, 웹페이지에 상기 RF 전계의 변조 포락선의 오실로스코프 표시로서 상기 데이터 패킷을 표시하고,
    상기 퍼스널 컴퓨터는 상기 전계 센서에 비선형성을 나타내는 데이터를 저장하고 상기 비선형성을 보정하기 위한 상기 저장된 데이터를 사용하는 수단을 포함하고, 상기 수단에 의해 상기 표시된 변조 포락선이 상기 안테나의 위치에서의 RF 전계의 변조 포락선과 상응하는 것을 특징으로 하는 진폭 변조 RF 전계의 변조 포락선 표시 장치.
KR1020147033591A 2012-05-21 2013-05-20 전계 분석기 KR20150013644A (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/476,409 2012-05-21
US13/476,409 US20130307763A1 (en) 2012-05-21 2012-05-21 Field analyzer
PCT/US2013/041827 WO2013177040A1 (en) 2012-05-21 2013-05-20 Field analyzer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20150013644A true KR20150013644A (ko) 2015-02-05

Family

ID=49580902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147033591A KR20150013644A (ko) 2012-05-21 2013-05-20 전계 분석기

Country Status (7)

Country Link
US (2) US20130307763A1 (ko)
EP (1) EP2852915A4 (ko)
JP (1) JP2015518963A (ko)
KR (1) KR20150013644A (ko)
CN (2) CN104380309B (ko)
HK (1) HK1207454A1 (ko)
WO (1) WO2013177040A1 (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10758740B2 (en) * 2016-01-11 2020-09-01 University Of Maryland, Baltimore System, apparatus and method for transient electric field detection and display
CN106771652B (zh) * 2016-11-15 2019-11-12 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种短时间间隔调制域测量时序设计方法
US10725361B1 (en) * 2017-10-02 2020-07-28 SeeQC Inc. Superconducting optical-to-digital converter
US11782079B2 (en) 2020-02-22 2023-10-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg System and method for analyzing an electronic device
RU2753829C1 (ru) * 2020-09-24 2021-08-23 Акционерное общество "Корпорация "Тактическое ракетное вооружение" Способ определения коэффициента безэховости в радиочастотной безэховой камере и устройство для его осуществления
JP7507518B1 (ja) 2023-05-23 2024-06-28 エイターリンク株式会社 受信機、方法、電子回路、及び無線給電システム

Family Cites Families (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3483467A (en) * 1967-06-22 1969-12-09 Singer Inc H R B System for determining the transfer function of an electrical apparatus including signal amplitude to pulse width conversion means
US3806931A (en) * 1971-10-26 1974-04-23 Us Navy Amplitude modulation using phased-array antennas
IT1107883B (it) * 1978-04-13 1985-12-02 Aeritalia Spa Settore Avionica Misuratore di campo elettrico e di campo magnetico
US4588993A (en) * 1980-11-26 1986-05-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services Broadband isotropic probe system for simultaneous measurement of complex E- and H-fields
US4517570A (en) * 1983-03-02 1985-05-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Method for tuning a phased array antenna
US4646754A (en) * 1985-02-19 1987-03-03 Seale Joseph B Non-invasive determination of mechanical characteristics in the body
US5012235A (en) * 1987-10-20 1991-04-30 Telefind Corporation Paging receiver with continuously tunable antenna and RF amplifier
JPH01208769A (ja) * 1988-02-16 1989-08-22 Csk Corp バーストエラー訂正装置
JP2574409B2 (ja) * 1988-07-08 1997-01-22 松下電器産業株式会社 Ｅｍｃ試験用電磁波無響室およびそのシールド材
US5144225A (en) * 1989-03-31 1992-09-01 Schlumberger Technologies, Inc. Methods and apparatus for acquiring data from intermittently failing circuits
US5057848A (en) * 1989-05-30 1991-10-15 Holaday Industries, Inc. Broadband frequency meter probe
DE4108251A1 (de) * 1989-11-17 1992-09-17 Telefunken Systemtechnik Emv-pruefkammer (elektromagnetische vertraeglichkeitspruefung)
US5414345A (en) * 1991-04-29 1995-05-09 Electronic Development, Inc. Apparatus and method for low cost electromagnetic field susceptibility testing
US5233628A (en) * 1991-05-29 1993-08-03 Virginia Polytechnic Institute And State University Computer-based bit error simulation for digital wireless communications
GB2260380A (en) * 1991-07-30 1993-04-14 John Stephen Kirk Corrugated tube with integral connectors
US5710798A (en) * 1992-03-12 1998-01-20 Ntp Incorporated System for wireless transmission and receiving of information and method of operation thereof
US5353011A (en) * 1993-01-04 1994-10-04 Checkpoint Systems, Inc. Electronic article security system with digital signal processing and increased detection range
US5454007A (en) * 1993-09-24 1995-09-26 Rockwell International Corporation Arrangement for and method of concurrent quadrature downconversion input sampling of a bandpass signal
US5440232A (en) * 1993-12-06 1995-08-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy System for monitoring and analyzing field energy exposure
EP0700116A3 (en) * 1994-08-29 1998-01-07 Atr Optical And Radio Communications Research Laboratories Apparatus and method for controlling array antenna comprising a plurality of antenna elements with improved incoming beam tracking
US5994891A (en) * 1994-09-26 1999-11-30 The Boeing Company Electrically small, wideband, high dynamic range antenna having a serial array of optical modulators
US6307868B1 (en) * 1995-08-25 2001-10-23 Terayon Communication Systems, Inc. Apparatus and method for SCDMA digital data transmission using orthogonal codes and a head end modem with no tracking loops
US6446867B1 (en) * 1995-11-22 2002-09-10 Jorge Sanchez Electro-optic interface system and method of operation
GB2310727A (en) * 1996-02-29 1997-09-03 Rainford Group Plc Electromagnetic test cell
JPH1011368A (ja) * 1996-04-22 1998-01-16 Ricoh Co Ltd シリアルデータ受信装置
US5952818A (en) * 1996-05-31 1999-09-14 Rensselaer Polytechnic Institute Electro-optical sensing apparatus and method for characterizing free-space electromagnetic radiation
GB2315557B (en) * 1996-07-23 2001-01-31 Thermo Voltek Europ Bv An electromagnetic compatibility (EMC)test cell
US6130612A (en) * 1997-01-05 2000-10-10 Intermec Ip Corp. Antenna for RF tag with a magnetoelastic resonant core
US20050074057A1 (en) * 1997-11-03 2005-04-07 Gordon Bremer System and method for modulation on demand in a computing device
US6037782A (en) * 1998-02-20 2000-03-14 Hewlett-Packard Company Automatic adjustment of cables which aids in set-up of equipment under test for electromagnetic compatibility measurements
WO1999064846A1 (en) * 1998-06-12 1999-12-16 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Analyzer
DE19846870C1 (de) * 1998-10-12 2001-01-25 Peter Peyerl Verfahren zur Bestimmung der Impulsantwort eines breitbandigen linearen Systems und Meßanordnung zur Durchführung des Verfahrens
US6424927B1 (en) * 1999-06-18 2002-07-23 Sri International Computer-based real-time transient pulse monitoring system and method
US6236315B1 (en) * 1999-10-19 2001-05-22 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for improving the interrogation range of an RF tag
US6578153B1 (en) * 2000-03-16 2003-06-10 Fujitsu Network Communications, Inc. System and method for communications link calibration using a training packet
FR2809183B1 (fr) * 2000-05-16 2002-07-26 Inrets Dispositif d'essai en compatibilite electromagnetique
US20020033706A1 (en) * 2000-08-03 2002-03-21 Mehyar Khazei System method, and apparatus for field scanning
US6564158B1 (en) * 2000-08-17 2003-05-13 Holaday Industries, Inc. Broadband electromagnetic field component measurement system
US6559645B2 (en) * 2000-11-17 2003-05-06 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Detector apparatus and method
US6593896B2 (en) * 2001-10-01 2003-07-15 Amplifier Research Corporation Field probe
US20030083831A1 (en) * 2001-11-01 2003-05-01 International Business Machines Corporation System and method for evaluating electromagnetic emanation vulnerabilities of computing systems
US7209531B1 (en) * 2003-03-26 2007-04-24 Cavium Networks, Inc. Apparatus and method for data deskew
US7089099B2 (en) * 2004-07-30 2006-08-08 Automotive Technologies International, Inc. Sensor assemblies
FR2879752B1 (fr) * 2004-12-22 2007-01-26 Thales Sa Sonde electro-optique de mesure de champs electriques ou electromagnetiques a asservissement optique par la longueur d'onde du point de fonctionnement
CN101213437B (zh) * 2005-07-01 2011-10-12 希森美康株式会社 分析仪
US20070150819A1 (en) * 2005-12-09 2007-06-28 Mks Instruments, Inc. Graphical User Interface
US20070244990A1 (en) * 2006-04-03 2007-10-18 National Instruments Corporation Web browser graph user interface element with rich interactive capabilities
EP1884758B1 (en) * 2006-08-03 2009-10-28 Alcatel Lucent Control loop for the integrated sine wave OTDR measurement online
US8131489B2 (en) * 2006-10-27 2012-03-06 Tektronix, Inc. Long data record analysis
US7864882B2 (en) * 2006-12-30 2011-01-04 Motorola Mobility, Inc. Method and apparatus for generating constant envelope modulation using a quadrature transmitter
US7765380B2 (en) * 2007-01-19 2010-07-27 Unity Semiconductor Corporation Fast data access through page manipulation
US20080199185A1 (en) * 2007-02-15 2008-08-21 Miller Frederick W Method an apparatus for obtaining real-time measurements of optical signals in an optical network with minimal or no interruptions in communications over the network
US8155639B2 (en) * 2007-03-26 2012-04-10 At&T Mobility Ii Llc System and method for computer noteboook electromagnetic compatibility analysis
WO2009039481A1 (en) * 2007-09-20 2009-03-26 University Of South Florida Reconfigurable chamber for emulating multipath fading
EP2081032A1 (en) * 2008-01-21 2009-07-22 Queen Mary University of London Apparatus and method for detecting electromagnetic radiation emitted by a device
US9954976B2 (en) 2008-11-03 2018-04-24 Viavi Solutions Inc. System and method for remotely displaying data
US8064852B2 (en) * 2008-11-13 2011-11-22 Panasonic Corporation Methods and apparatus for dynamically compensating for DC offset drift and other PVT-related signal variations in polar transmitters
JP2010166546A (ja) * 2008-12-15 2010-07-29 Fuji Xerox Co Ltd 信号伝送装置、送信器および受信器
TWI391684B (zh) * 2009-03-20 2013-04-01 King Yuan Electronics Co Ltd 提高元件測試良率的測試方法與裝置
US8212572B2 (en) * 2009-07-21 2012-07-03 National Instruments Corporation Electromagnetic compatibility multi-carrier immunity testing system and method
JP2011043375A (ja) * 2009-08-20 2011-03-03 Stanley Electric Co Ltd 電磁界高速撮像装置
CN102056069B (zh) 2009-10-30 2013-12-11 清华大学 一种助听兼容性测试方法
CN201601016U (zh) * 2009-12-07 2010-10-06 河南省电力公司许昌供电公司 一种光学电流互感器
US8305282B2 (en) * 2010-07-23 2012-11-06 Amplifier Research Corporation Field probe
US8963560B2 (en) * 2011-08-15 2015-02-24 Steppir Antenna Systems Antenna system for electromagnetic compatibility testing
US20140136134A1 (en) * 2012-11-11 2014-05-15 Electronics And Telecommunications Research Institute Method and apparatus for calculating electromagnetic wave from electronic device
CN103901290A (zh) * 2012-12-28 2014-07-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电磁兼容性测试系统
CN104730301B (zh) * 2015-04-07 2017-12-08 京东方科技集团股份有限公司 一种信号源

Also Published As

Publication number Publication date
CN104380309B (zh) 2017-09-29
CN104380309A (zh) 2015-02-25
EP2852915A1 (en) 2015-04-01
EP2852915A4 (en) 2016-01-06
US20170269138A1 (en) 2017-09-21
US20130307763A1 (en) 2013-11-21
HK1207454A1 (en) 2016-01-29
JP2015518963A (ja) 2015-07-06
WO2013177040A1 (en) 2013-11-28
CN107741533A (zh) 2018-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20170269138A1 (en) Field analyzer
US9121877B2 (en) System and method for wireless remote display for high voltage line meter
CN110737251B (zh) 带时间传送的电池供电型现场设备
KR101443316B1 (ko) 매니지먼트 기능이 내장된 전원공급장치
US9234929B2 (en) Monitoring method and system and integrated monitoring device for antenna oscillator of base station
CN113189447B (zh) 一种基于贝叶斯网络的馈线故障检测方法、系统及设备
JP2013186125A (ja) 無線周波数エネルギーを測定する方法及び装置
CN112489412A (zh) 智能抄表系统及方法
CN115516480A (zh) 使用智能设备对电计量表全球定位系统坐标进行编程
CN110011729B (zh) 一种干扰的检测方法、装置、存储介质及电子装置
CN104749489A (zh) 一种基于振动信号的高压gis设备击穿性放电定位系统
CN107607903B (zh) 一种电能计量设备的校准方法和装置
CN106706952B (zh) 一种多通道高速测时系统及测时数据处理方法
KR101151127B1 (ko) 보호 계전 장치 및 이를 이용한 샘플링 레이트 자동 검출 방법
EP3123180B1 (en) Data decimation system and method for facilitating transmission and viewing of waveforms generated by an electrical device
Li et al. Software design of host computer for intelligent microwave switch based on Qt
US20220206482A1 (en) Substation equipment monitoring using a scada system
CN103592906A (zh) 电机参数远程监控方法和嵌入式主板
KR101680062B1 (ko) 근거리 통신 장치, 표시장치 및 콘센트장치
CN109765573B (zh) 一种卫星时间同步设备天馈系统的检测装置与方法
CN208953245U (zh) 光纤监测设备和光纤系统
EP2755337A1 (en) Monitoring method and system and integrated monitoring device for antenna oscillator of base station
CN106211228B (zh) 通信模块异常检测方法及装置、移动终端
CN214951552U (zh) 一种基于人工智能计量的脉冲水表
CN215768788U (zh) 一种三相电源测控装置及系统

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid