CN102056069B - 一种助听兼容性测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种助听兼容性测试方法，其包括以下步骤：提供一助听兼容性测试一体化探头；提供一待测信号源，并确定一测试区；在所述测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域；利用所述助听兼容性用探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量，并获得各点的磁场参数或电场参数；以及选取所述磁探头与电探头同时获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
Description
技术领域
本发明涉及一种助听兼容性测试工具，特别是涉及一种助听兼容性测试一体化探头。
背景技术
助听兼容性(Hearing Aid Compatibility，简称HAC)是随着数字移动电话的普及，数字移动电话发送的无线电波会在天线周围形成电磁场，这会使配戴助听器的人们听到刺耳的嗡嗡声。因此，越来越多的助听器配戴者开始抱怨他们的数字移动电话和助听器不能很好地兼容使用。寻求助听器和数字移动电话间良好的兼容性，已成为助听器制造商、数字移动电话制造商、网络服务商共同关注的问题。为此，美国联邦通信委员会(FCC)对数字移动电话制造商和电信运营商作出了强制性规定，国际无线协会组织(CTIA)也提供了数字移动电话的明细表，助听器配戴者可以从中查到有哪些电话是低辐射和兼容性较好的。同时，美国标准化协会(ANSI)引导并提议了助听器和移动电话的测量方法。目前，HAC测试需遵循ANSI C63-19的标准，在这份标准中规定了助听器的电磁兼容的抗扰度要求和测量方法。
众所周知，当数字移动电话在通话时，信号是从其天线以电磁波的形式发出来。通常在HAC测试中，使用一种电探头来测试该电磁波的电场参数，使用另外一种磁探头来测试该电磁波的磁场参数。一般电探头包括三个偶极子，该三个偶极子以等边三角形设置以测试该电磁波中的电场大小。所述磁探头包括三个互感线圈，该三个互感线圈相互正交绝缘设置以测试各个方向之磁场。
在HAC测试方法中，通常将以数字移动电话中听筒的几何中心为中心，上下左右各25毫米所围成的边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区。并且，在习惯上，在这个50*50的区域内均匀画出11条经线与11条纬线。利用上述的电探头与磁探头分别测量该11条经线与11条纬线的121个交点处的电磁场参数。但是，由于所述电探头与磁探头为分立结构，在利用所述电探头或者磁探头测量完所述测试区所有交点处的电场参数或者磁场参数后，需要更换一个磁探头或者电探头测试所述交叉处的磁场参数或者电场参数，而更换探头的时间一般较长，更换后的探头还需要重新进行校准，而且还需要人工来更换探头，占据了整个测试时间的大约60%。因此，这种分离的电探头与磁探头增加了测试时间与费用，降低了测试速度与效率。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种能提高助听兼容性测试速度与效率的助听兼容性测试方法。
一种助听兼容性测试方法，其包括以下步骤：提供一助听兼容性测试一体化探头，其包括一电路板以及间隔设置于所述电路板上的一磁探头和一电探头，所述磁探头与电探头的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的整倍数；提供一待测信号源，并以该待测信号源为中心，取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区；在所述的测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域，其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘；利用所述助听兼容测试一体化探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量，并获得各点的磁场参数与电场参数；以及选取所述助听兼容性测试一体化探头的磁探头与电探头获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
与现有技术相比，本发明助听兼容性测试方法使用包括有一并组装在电路板上的磁探头与电探头的助听兼容性测试一体化探头。因此对测试区域中的测试点进行电场参数与磁场参数测试时，可以一次性全部测试完所述测试点的电场参数与磁场参数，不需要人工更换磁探头或电探头，也不需要对更换后的磁探头或电探头进行重新校准。相对相对现有技术节省大量作业时间，提高测试效率，也降低测试成本。并且，本发明的该磁探头与电探头的几何中心的距离为大于或者等于10毫米并为5毫米的倍数。因此，磁探头与电探头之间的干扰程度较小，能够在保证测试精度的前提下，分别获得两个间隔的测试点的磁场参数与电场参数。因此，与现有技术相比，该助听兼容性测试方法进一步大幅提高了测试速度与效率。
附图说明
图1是本发明第一实施例所提供的一种助听兼容性测试方法的流程示意图。
图2是图1中的助听兼容性测试方法所采用的助听兼容性测试一体化探头的正面结构示意图。
图3是图1中的助听兼容性测试方法所采用的助听兼容性测试一体化探头的反面结构示意图。
图4是图2的助听兼容性测试一体化探头中的电路板的结构示意图。
图5是图2的助听兼容性测试一体化探头中的磁探头的电路示意图。
图6是图2的助听兼容性测试一体化探头中的电探头的结构示意图。
图7是图2的助听兼容性测试一体化探头中的电探头的电路示意图。
图8是使用11条经线及11条纬线进行标注后的待测信号源的测试区的示意图。
图9是图1中的助听兼容性测试方法所采用的助听兼容性测试一体化探头在图8中的测试区中的一种测试路径示意图。
图10是本发明第二实施例所提供的一种助听兼容性测试方法的流程示意图。
图11是本发明第三实施例所提供的一种助听兼容性测试方法的流程示意图。
具体实施方式
以下将结合附图对本发明作进一步详细的说明。
请参阅图1，本发明第一实施例提供一种助听兼容性测试方法。该方法包括下列步骤：
请参阅图2及图3，步骤S201，提供一助听兼容性测试一体化探头100，该助听兼容性测试一体化探头100包括一电路板10、间隔设置于所述电路板10的一磁探头11和一电探头12，所述磁探头11与电探头12的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。
请一并参阅图4，所述电路板10可以为印刷电路板(Printed Circuit Board，简称PCB板)，该电路板10具有正反两面。该电路板10的正反两面均可设置各种具有特定功能的电子元器件。所述电路板10具有一个圆环状凹槽101、6个间隔绝缘设置的微孔102及一个开口103。所述磁探头11可通过所述圆环状凹槽101及微孔102固定在所述电路板10上。所述电探头12可通过所述开口103嵌接在所述电路板10上。所述磁探头11及电探头12与电路板10之间还可以设置黏胶使该磁探头11及电探头12与所述电路板10结合更牢固。所述凹槽101的直径小于10毫米，所述开口103形状不限，其几何中心距该开口103靠近所述凹槽101的边的距离小于5毫米。在本实施例中，所述凹槽101的直径为6毫米。所述开口103为一矩形开口，该开口103靠近所述凹槽101的边的距离为3毫米，进一步地，所述开口103与凹槽101的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。可以理解，所述凹槽101及微孔102也可以用一直径为6毫米的圆形开口来代替，此时，所述磁探头11通过所述圆形开口嵌接在所述电路板10。
请一并参阅图5，所述磁探头11包括三个互感线圈111、三组第一检波电路112、及三组第一传输线113。所述第一检波电路112分别与所述磁探头11及第一传输线113电连接。可以理解，所述第一检波电路112及第一传输线113即可设置在所述电路板10的正面，也可设置在所述电路板10的反面。在本实施例中，其中一组第一检波电路112及其对应的一组第一传输线113设置在所述电路板10的正面，与平行于所述电路板10的一个互感线圈111电连接，另外两组所述第一检波电路112及其对应的两组第一传输线113设置在所述电路板10的反面，与垂直于所述电路板10的两个互感线圈111分别电连接。
每一互感线圈111均具有一断口114，该断口114使得每一互感线圈111具有两个输入端。所述互感线圈111的形状可为方形、三角形、圆形、椭圆形或其他多边形。由于圆形线圈在用相同尺寸材料所制备的环形结构中所包围的面积最大，能够获得最大的磁通量，提高磁探头11的灵敏度，因此在本实施例中，所述互感线圈111的形状优选为圆形，其直径可以为6毫米。所述三个互感线圈111相互正交设置并围成类似地球仪的立体结构，该立体结构的几何中心为所述每个互感线圈111的共同圆心。制备所述互感线圈111的材料包括铜、银或金。在本实施例中，所述互感线圈111由铜制成。其中一个互感线圈111平行且贴合所述电路板10设置，另外的两个互感线圈111垂直于所述电路板10设置，并且该另外的两个互感线圈111与所述电路板10相互垂直交叉，该另外的两个互感线圈111的断口114靠近所述电路板10。在本实施例中，与所述电路板10平行的互感线圈111设置在所述凹槽101，每一个与所述电路板10垂直的互感线圈111均通过3个微孔102固定，且其断口114分别固定在相互靠近的两个微孔102。所述三个互感线圈111相互之间的交叉部分可以间隔设置或填充绝缘材料以使该三个互感线圈111相互之间绝缘设置。所述绝缘材料可以为橡胶，绝缘漆等。
所述第一检波电路112分别与一个互感线圈111的两个输出端电连接。具体地，所述第一检波电路112由一第一检波二极管115及至少一第一电容116组成。所述第一检波二极管115与第一电容116相互串联。具体地，所述第一检波二极管115的两端分别与所述互感线圈111的一个输出端及第一电容116电连接。所述电容116的另一端电连接于所述互感线圈111的另一个输出端。所述第一检波二极管115具有单向导通特性，用于低通滤波。所述第一电容116用于存储第一检波电路112中的电量防止该第一检波电路112短路。所述第一检波电路112用于从该互感线圈111检测到的射频信号提取信号包络（envelope），并将该信号包络进行放大。所述射频信号包括调幅信号及调频信号。在本实施例中，所述射频信号为从全球移动通讯系统制式（Global System forMobile Communications，GSM）的数字移动电话的天线上发射出来的调幅信号。所谓调幅信号是一个高频信号承载一个低频信号，调幅信号的波包即为基带低频信号。如在每个信号周期取平均值，其将恒为零。但是，该调幅信号通过所述第一检波电路112后，由于第一检波电路112的单向导电特性，调幅信号的负向部分被截去，仅留下其正向部分，此时如在每个信号低通滤波，所得为调幅信号的信号包络即为基带低频信号，实现了解调（检波）功能，从而获得该电磁波的磁场参数。
所述第一传输线113用于将由所述第一检波电路112提取到的信号包络输出到一信号处理装置中。优选地，所述第一传输线113为一高阻抗传输线，该高阻抗传输线可以用来屏蔽信号包络中的高频信号，从而获得稳定的低频信号电平。每一组第一传输线113均包括两根导线，分别与第一检波电路112电连接，具体地，所述两根导线分别与所述第一检波二极管115的两端电连接，使所述第一检波二极管115与相对应的一互感线圈111并联设置。所述第一传输线113颗通过印刷等方式设置在所述电路板10上。
如图2及图6所示，所述电探头12包括一支撑体121、设置在所述支撑体121上的三个偶极子122、三个第二检波电路123及三组第二传输线124。所述第二检波电路123分别与所述电探头12及第二传输线124电连接。可以理解，与所述磁探头11类似地，所述第二传输线124即可设置在所述电路板10的正面，也可设置在所述电路板10的反面。在本实施例中，其中一组第二传输线124设置在所述电路板10的正面，与暴露于所述电路板10正面的一个偶极子122电连接，另外两组第二传输线124设置在所述电路板10的反面，与暴露所述电路板10反面的两个偶极子122分别电连接。
所述支撑体121设有至少三个支撑面，用于设置所述三个偶极子122，并使该三个偶极子122相互正交设置。该支撑体121的具体结构、形状与材料不限，只要保证设置其上的三个偶极子122相互正交且绝缘即可。如图5所示，本实施例中，所述支撑体121优选地为由三片大小相等的矩形支撑板围成的中空棱柱结构，使该支撑体121的横截面呈等边三角形，该等边三角形的高等于所述开口103的宽。该支撑板为印刷电路板，每一支撑板相对支撑体121具有一外表面及一内表面。所述偶极子122可以选择设置在所述电路板的外表面或内表面上，本实施例中所述三个偶极子122分别设置在所述三个电路板的外表面上。所述三个支撑板可以是通过胶粘结而成也可以通过其他方式结合在一起。所述支撑体121设置在所述电路板10且以所述电路板10为对称面，具体地，其中一片支撑板垂直所述电路板10，另外两片支撑板与所述电路板10呈30度夹角。
所述偶极子122是根据正负极的电场分布原理制备的用来测量电场参数的元件。通常，所述偶极子122由相距较近的一对导电体所构成，该偶极子的长度小于7毫米，每一个导电体的长度小于3毫米。所述偶极子122一般为条形导电材料制成，该该导电材料可以为铜、银、金中的一种或任意组合。在本实施例中，所述偶极子122由铜制成，其总长度小于6毫米，该偶极子122中的每一个导电体的长度大致为2.5毫米。因为所述支撑体121的横截面为等边三角形，所以所述偶极子122的轴线与三角形支撑体121的轴线之间的夹角α设置为54.7度，以保证所述三个偶极子122之间能够相互正交。如果所述支撑体121的横截面为其他形状，则所述偶极子122的轴线与三角形支撑体121的轴线之间的夹角应作出相应调整，以使所述三个偶极子122相互正交。所述三个偶极子122的几何中心位于所述支撑体122的轴线上，该几何中心也为所述电探头12的几何中心。为了防止磁探头11与电探头12所探测的磁场与电场之间的相互干扰而降低其所测得的参数的准确性，所述磁探头11的几何中心与所述电探头12的几何中心之间的距离应大于或等于10毫米。在本实施例中，所述磁探头11与电探头12的几何中心之间的距离D为10毫米。另外，根据ANSI C63-19的标准所要求的测量方法，每两个测量点的之间的距离为5毫米，因此所述磁探头11的几何中心与所述电探头12的几何中心之间的距离D应为5的倍数。
如图7所示，所述第二检波电路123包括一个第二检波二极管，该第二检波二极管的两端分别与所述偶极子122中的两个导电体电连接，使该第二检波电路123与偶极子122并联以实现其解调（检波）功能。所述第二检波电路123与第一检波电路122的作用基本相同，在此不再赘述。
该第二传输线124用来将所述第二检波电路123从所述偶极子122信号传输到一信号处理装置。每一组第二传输线124均具有两根传输线，分别与相对应的所述第二检波二极管125的两端电连接。所述第二传输线124在所述电路板10及支撑板的部分可通过印刷等方式设置其上，在所述支撑板与电路板10的交界处，可采用焊接等方式使所述第二传输线124延续。
下面将对本实施例所提供的助听兼容性测试一体化探头100的助听兼容性测试方法进行详细说明，
步骤S202，提供一待测信号源，并以该待测信号源为中心，取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区。所述待测信号源可以为数字移动电话中听筒的几何中心。所述边长为50毫米的正方形测试区是根据ANSI C63-19标准所要求的测量方法而设定的。
步骤S203，在所述50*50平方毫米的测试区内均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5平方毫米的小区域，其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘。如图7所示，仅为了方便说明本测试方法，在本实施例中，将该11条经线及11条纬线分别进行标注，即标注为经线(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，纬线(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，从而在所述测试区内形成诸如(1，1)、(1，2)……(11，11)等121个测试点。另外还需要说明的是，在图8中，仅为示意方便，磁探头11以及电探头12仅以两个填充有剖面线的圆来表示。
步骤S204，利用所述助听兼容性用探头100的磁探头11对所述经线1与纬线1的交点(1，1)及(1，2)进行测量。此时，因为所述电探头12还没有进入测试区，因此在(1，1)及(1，2)这两点处助听兼容性测试一体化探头100仅能够获得由所述磁探头11所获得的磁场参数并被数据处理系统记录。在本实施例中，所述磁探头11先进入测试区进行测试。当然可以想到的是，还可以由电探头12先进入测试区进行测试。
步骤S205，沿所述纬线1继续移动所述助听兼容性测试一体化探头100一个长度为5毫米的步长，使所述磁探头11移动到纬线1与经线3的交点(1，3)，并获得的该(1，3)点处的磁场参数，同时，所述电探头12也移动到了经线1与纬线1的交点(1，1)处，并获得该(1，1)点的电场参数。此时，所述(1，3)点的磁场参数与(1,1)点的电场参数被同时获得，并被数据处理系统记录。此时，所述助听兼容性测试一体化探头100中的磁探头11及电探头能够同时工作。
步骤S206，重复步骤S205八次，便可以测试得纬线1与经线4，5，6，7，8，9，10，11的交点(1，4)、(1，5)、(1，6)、(1，7)、(1，8)、(1，9)、(1，10)、(1，11)八个点的磁场参数与电场参数。此时，数据处理系统可以依次记录下(1，n+2)点的磁场参数以及(1，n)点的电场参数，其中，n为1，2，3，4，5，6，7，8，9。该(1，n+2)点的磁场参数以及(1，n)点的电场参数为所述助听兼容性测试一体化探头100的磁探头11与电探头12同时获得的磁场参数与电场参数。
步骤S207，继续移动所述助听兼容性测试一体化探头100，使得电探头12测试(1，10)点与(1，11)点处的电场参数。可以想到的是，此时，所述磁探头11由于已经移出了测试区，因此该(1，10)点与(1，11)点处助听兼容性测试一体化探头100仅能够获得由所述电探头12所获得的电场参数并被数据处理系统记录。
步骤S208，重复上述步骤S201到步骤S207以测试经线2，3，4，5，6，7，8，9，10，11与纬线1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11的所有交点处的磁场参数或电场参数，从而测试所述待测信号源的助听兼容性。在所述步骤中，可以以任意方式利用所述助听兼容性测试一体化探头100来测试所述交点。请参阅图9，在另一实施例中，为进一步节省时间，使所述助听兼容性测试一体化探头100在测试区中的测试路径更短，可采用如下方式测试：在测试完经线1上的所有交点后，即测完(1，11)点时，接着可以将电探头12移动到(2，11)点及（2，10）点测试这两点的电场参数，而此时，所述磁探头11还在测试区外；然后移动所述助听兼容性测试一体化探头100，使该电探头12测试点（2，9）、（2，8）…..（2，2）、（2，1）点的电场参数，而该磁探头11则可测得点（2，11）、（2，10）…..（2，4）、（2，3）点的磁场参数；继续移动所述助听兼容性测试一体化探头100，直到所述磁探头11测得（2，2）、（2，1）点的磁场参数，此时，所述电探头12在测试区外；依次类推，可获得所述测试区中所有点的磁场参数与电场参数。
通过上述测量方法，所述数据处理系统可以获得所述测试区中121个测试点的磁场参数与电场参数。且有99个测试点的磁场参数与电场参数是同时获得了，可以有效缩短测试时间。具体地，当所述磁探头11与电探头12同时分别获得两个测试点的磁场参数与电场参数时，所述磁探头11在所述测试区的交点为（m，n），所述电探头在所述测试区的交点为（m，n+X），或者所述电探头12在所述测试区的交点为（m，n），所述磁探头11在所述测试区的交点为（m，n+X）。其中，m大于等于1小于等于11，n大于等于1小于等于9，X为所述磁探头11与电探头12的几何中心的距离D与5毫米的倍数。
对该121个测试点的磁场参数与电场参数进行数值分析，如插值，拟合等数据处理方法，便可以得到该数字移动电话的天线所发出的电磁波的电场场强大小及磁场场强大小。将该电场场强大小及磁场场强大小与ANSI C63-19的标准所要求的电场场强大小及磁场场强大小作比较，便可知该数字移动电话的天线所发出的电磁波的电场场强大小及磁场场强大小是否符合ANSI C63-19的标准，即该手机的电磁辐射是否合格。
请参阅图10，本发明第二实施例提供一种助听兼容性测试方法。该方法包括下列步骤：
步骤S301，提供一助听兼容性测试一体化探头100，该助听兼容性测试一体化探头100包括一电路板10、间隔设置于所述电路板10的一磁探头11和一电探头12，所述磁探头11与电探头12的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。
步骤S302，提供一待测信号源，并以该待测信号源为中心，取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区。
步骤S303，在所述50*50平方毫米的测试区内均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5平方毫米的小区域，其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘。
步骤S304，使所述电探头12与磁探头11的几何中心的连线与所述经线平行。
步骤S305，移动所述助听兼容性测试一体化探头100，使所述磁探头11或电探头12移到测试区中经线1与纬线1的交点（1，1）。可以理解，此时，所述磁探头11与电探头12中的一个移动交点（1，1），进入了测试区，而另外一个还在测试区外。
步骤S306，使所述助听兼容性测试一体化探头100沿平行于经线1的方向前进10+X步，使进入测试区的磁探头11或电探头12测试经线1上所有的测试点。可以理解，此时，所述磁探头11与电探头12均有机会进入测试区，并测试完经线1上所有测试点的磁场参数与电场参数。其中，两步之间的距离为5毫米，即两步之间的距离等于相邻两根经线或相邻两根纬线之间的距离。所述X为所述磁探头与电探头的几何中心的距离D与5毫米的倍数，在本实施例中，所述距离D为10毫米，因此，所述X为2。
步骤S307，使所述助听兼容性测试一体化探头100沿平行于纬线的方向前进10步，使所述电探头12与磁探头11到达经线2、经线3……经线10、经线11，且每前进到一条经线，均沿平行于经线的方向前进10+X步，使进入测试区的磁探头11或电探头12测试所前进到的经线上所有的测试点。其中，所述助听兼容性测试一体化探头100在相邻两条经线上的前进方向相反。
步骤S308，选取所述助听兼容性测试一体化探头100的磁探头11与电探头12获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
请参阅图11，本发明实施例提供一种助听兼容性测试方法。该方法包括下列步骤：
步骤S401，提供一助听兼容性测试一体化探头100，该助听兼容性测试一体化探头100包括一电路板10、间隔设置于所述电路板10的一磁探头11和一电探头12，所述磁探头11与电探头12的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。
步骤S402，提供一待测信号源，并以该待测信号源为中心，取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区。
步骤S403，在所述50*50平方毫米的测试区内均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5平方毫米的小区域，其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘。
步骤S404，使所述电探头12与磁探头11的几何中心的连线与所述经线垂直。
步骤S405，移动所述助听兼容性测试一体化探头100，使所述磁探头11或电探头12移到测试区中经线1与纬线1的交点（1，1）。此时，所述电探头12与磁探头11中的一个进入测试区，而另外一个在测试区外。
步骤S406，使所述助听兼容性测试一体化探头100沿平行于经线1的方向前进10步，使进入测试区的磁探头11或电探头12测试经线1上所有的测试点。此时，只有所述电探头12与磁探头11中的一个能够测试完所述经线1上所有测试点的电场参数或磁场参数，而未进入测试区的电探头12与磁探头11则还不能正式进行测试。
步骤S407，使所述助听兼容性测试一体化探头100沿平行于纬线的方向前进10+X步，且每前进一步，均沿平行于经线的方向前进10步，使进入测试区的磁探头11或电探头12测试所前进到的经线上所有的测试点。可以理解，当前进到经线(1+X)时，所述电探头12与磁探头11均能够进入测试区，此时，可以分别同时测试测试区两个测试点的电场参数或磁场参数。
步骤S408，选取所述助听兼容性测试一体化探头100的磁探头11与电探头12获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
本发明助听兼容性测试方法使用包括有一并组装在电路板10上的磁探头11与电探头12的助听兼容性测试一体化探头100。因此对测试区域中的测试点进行电场参数与磁场参数测试时，可以一次性全部测试完所述测试点的电场参数与磁场参数，不需要人工更换磁探头11或电探头12，也不需要对更换后的磁探头11或电探头12进行重新校准。相对相对现有技术节省大量作业时间，提高测试效率，也降低测试成本。并且，本发明的该磁探头11与电探头12的几何中心的距离为大于或者等于10毫米并为5毫米的倍数。因此，磁探头11与电探头12之间的干扰程度较小，能够在保证测试精度的前提下，分别获得两个间隔的测试点的磁场参数与电场参数。因此，与现有技术相比，该助听兼容性测试方法进一步大幅提高了测试速度与效率。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其他变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围。
Claims (12)
1.一种助听兼容性测试方法，其包括以下步骤：
提供一助听兼容性测试一体化探头，该助听兼容性测试一体化探头包括一电路板以及间隔设置于所述电路板上的一磁探头和一电探头，所述磁探头与电探头的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的整数倍；
提供一待测信号源，并以该待测信号源为中心，取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区；
在所述测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域，其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘；
利用所述助听兼容性测试一体化探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量，并获得各点的磁场参数与电场参数；以及选取所述助听兼容性测试一体化探头的磁探头与电探头获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
2.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述磁探头包括三个相互正交且交叉设置的三个互感线圈，所述三个互感线圈相互绝缘设置。
3.如权利要求2所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述互感线圈为具有一断口的圆形线圈。
4.如权利要求3所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述磁探头还包括三个第一检波电路，每一个所述第一检波电路均与一个所述互感线圈的断口的两端电连接。
5.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述电探头包括三个相互正交设置的偶极子，所述三个偶极子相互绝缘设置。
6.如权利要求5所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述电探头还包括一个支撑体，该支撑体包括成等边三角形设置的三个侧壁，所述三个偶极子分别设置在三个侧壁上，每个所述偶极子的轴线与该等边三角形的轴线之间的锐角为54.7度。
7.如权利要求5所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：所述电探头还包括三个第二检波电路，每一个所述第二检波电路分别均与一个所述偶极子的两端电连接。
8.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：当所述磁探头与电探头同时分别获得两个测试点的磁场参数与电场参数时，所述磁探头在所述测试区的交点为（m，n），所述电探头在所述测试区的交点为（m，n+X），m大于等于1小于等于11，n大于等于1小于等于9，X为该整数倍。
9.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于：当所述电探头与磁探头同时分别获得两个测试点的电场参数与磁场参数时，所述电探头在所述测试区的交点为（m，n），所述磁探头在所述测试区的交点为（m，n+X），m大于等于1小于等于11，n大于等于1小于等于9，X为该整数倍。
10.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于，获得各点的磁场参数与电场参数的方法进一步包括如下步骤：
使所述电探头与磁探头的几何中心的连线与所述经线平行；
移动所述助听兼容性测试一体化探头，使所述磁探头或电探头移到测试区中经线1与纬线1的交点（1，1）；
使所述助听兼容性测试一体化探头沿平行于经线1的方向前进10+X步，使进入测试区的磁探头或电探头测试经线1上所有的测试点；
使所述助听兼容性测试一体化探头沿平行于纬线的方向前进10步，使所述电探头与磁探头到达经线2、经线3……经线10、经线11，且每前进到一条经线，均沿平行于经线的方向前进10+X步，使进入测试区的磁探头或电探头测试所前进到的经线上所有的测试点，X为该整数倍，所述助听兼容性测试一体化探头前进的步长为5毫米。
11.如权利要求1所述的助听兼容性测试方法，其特征在于，获得各点的磁场参数与电场参数的方法进一步包括如下步骤：
使所述电探头与磁探头的几何中心的连线与所述经线垂直；
移动所述助听兼容性测试一体化探头，使所述磁探头或电探头移到测试区中经线1与纬线1的交点（1，1）；
使所述助听兼容性测试一体化探头沿平行于经线1的方向前进10步，使进入测试区的磁探头或电探头测试经线1上所有的测试点；
使所述助听兼容性测试一体化探头沿平行于纬线的方向前进10+X步，且每前进一步，均沿平行于经线的方向前进10步，使进入测试区的磁探头或电探头测试所前进到的经线上所有的测试点，X为该整数倍，所述助听兼容性测试一体化探头前进的步长为5毫米。
12.如权利要求10或11所述的助听兼容性测试方法，其特征在于，所述助听兼容性测试一体化探头在相邻两条经线上的前进方向相反。
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