KR20140118805A - 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 및 전자 기기 - Google Patents

Abstract

본 발명의 과제는, 금속 재료 등의 도전성 재료의 터치 검출 전극을 사용하면서, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 제공하는 데 있다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 복수의 색 영역으로 구성되는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역과, 복수의 세선편을 포함하는 도전성 세선이 복수 배치되는 터치 검출 전극을 포함한다. 인접하는 세선편은, 굴곡부에서 접히게 배치된다. 복수의 도전성 세선은, 인접하는 세선편이 이루는 각도가 다른 굴곡부와 상이한 굴곡부를 포함한다.

Description

터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 및 전자 기기{DISPLAY DEVICE HAVING TOUCH DETECTION FUNCTION AND ELECTRONIC APPARATUS}

본 발명은 외부 근접 물체를 검출 가능한 표시 장치 및 전자 기기에 관한 것으로, 특히 정전 용량의 변화에 기초하여 외부 근접 물체를 검출 가능한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 및 전자 기기에 관한 것이다.

최근 들어, 소위 터치 패널이라고 불리는, 외부 근접 물체를 검출 가능한 터치 검출 장치가 주목받고 있다. 터치 패널은, 액정 표시 장치 등의 표시 장치 위에 장착 또는 일체화되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 사용되고 있다. 그리고, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 표시 장치에 각종 버튼 화상 등을 표시시킴으로써, 터치 패널을 통상의 기계식 버튼 대신으로서 정보 입력을 가능하게 하고 있다. 이러한 터치 패널을 갖는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 키보드나 마우스, 키패드와 같은 입력 장치를 필요로 하지 않기 때문에, 컴퓨터 외에, 휴대 전화와 같은 휴대 정보 단말기 등에서도 사용이 확대되는 경향이 있다.

터치 검출 장치의 방식으로서, 광학식, 저항식, 정전 용량식 등 몇 개의 방식이 존재한다. 정전 용량식의 터치 검출 장치를 휴대 정보 단말기 등에 사용하면, 비교적 단순한 구조를 갖고, 또한 저소비 전력의 기기를 실현할 수 있다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, 투광성 전극 패턴의 비가시화 대책이 이루어진 터치 패널이 기재되어 있다.

일본 특허 공개 제2010-197576호 공보

또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에서는, 박형화, 대형 화면화 또는 고정밀화를 위해, 터치 검출 전극의 저저항화가 요구되고 있다. 터치 검출 전극은, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물이 사용되고 있다. 터치 검출 전극을 저저항으로 하기 위해서는, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하는 것이 유효하다. 그러나, 금속 재료 등의 도전성 재료를 사용하면, 표시 장치의 화소와 금속 재료 등의 도전성 재료와의 간섭에 의해 무아레가 시인될 가능성이 있다.

본 발명은, 이러한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 금속 재료 등의 도전성 재료의 터치 검출 전극을 사용하면서, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 제공하는 데 있다.

본 발명에 의한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 기판과, 상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역으로 구성되는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역과, 제1 단부와 제2 단부를 갖는 직선 형상의 세선편을 복수 포함하고, 인접하는 세선편은 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속된, 상기 기판의 표면과 평행한 면에 연장되는 도전성 세선이 복수 배치되는 터치 검출 전극과, 상기 터치 검출 전극에 대하여 정전 용량을 갖는 구동 전극과, 상기 표시 영역에 화상을 표시하는 기능을 갖는 표시 기능층을 포함하고, 상기 인접하는 세선편은, 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속되는 부분인 굴곡부에서 접히도록 배치되고, 상기 복수의 도전성 세선은, 상기 인접하는 세선편이 이루는 각도가 다른 굴곡부와 서로 다른 굴곡부를 포함한다.

본 발명의 전자 기기는, 상기 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 구비한 것이다. 본 발명의 전자 기기는, 예를 들어 텔레비전 장치, 디지털 카메라, 퍼스널 컴퓨터, 비디오 카메라 또는 휴대 전화 등의 휴대 단말 장치 등이 해당한다.

본 발명의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 및 전자 기기에 의하면, 금속 재료 등의 도전성 재료의 터치 검출 전극을 사용하면서, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

도 1은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 나타내는 블록도이다.
도 2는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 장치에 접촉 또는 근접하지 않은 상태를 나타내는 설명도이다.
도 3은, 도 2에 도시하는 손가락이 장치에 접촉 또는 근접하지 않은 상태의 등가 회로의 예를 나타내는 설명도이다.
도 4는 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해서, 손가락이 장치에 접촉 또는 근접한 상태를 나타내는 설명도이다.
도 5는, 도 4에 도시하는 손가락이 장치에 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로의 예를 나타내는 설명도이다.
도 6은 구동 신호 및 터치 검출 신호의 파형의 일례를 도시하는 도면이다.
도 7은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 나타내는 도이다.
도 8은 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 나타내는 도이다.
도 9는 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도이다.
도 10은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 화소 배치를 나타내는 회로도이다.
도 11은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 구동 전극 및 터치 검출 전극의 일 구성예를 나타내는 사시도이다.
도 12는 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 동작예를 나타내는 타이밍 파형도이다.
도 13은 실시 형태 1에 관한 터치 검출 전극의 배치를 나타내는 모식도이다.
도 14는 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다.
도 15는 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다.
도 16은 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다.
도 17은 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 대한 무아레 평가를 도시한 도면이다.
도 18은 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다.
도 19는 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치에 대한 무아레 평가를 도시한 도면이다.
도 20은 실시 형태 2에 관한 터치 검출 전극의 배치를 나타내는 모식도이다.
도 21은 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다.
도 22는 실시 형태 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도이다.
도 23은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 24는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 25는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 26은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 27은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 28은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 29는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 30은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 31은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 32는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 33은 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 34는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.
도 35는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다.

본 발명을 실시하기 위한 형태(실시 형태)에 대해서, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다. 이하의 실시 형태에 기재한 내용에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소에는, 당업자가 용이하게 상정할 수 있는 것, 실질적으로 동일한 것이 포함된다. 또한, 이하에 기재한 구성 요소는 적절히 조합하는 것이 가능하다. 또한, 설명은 이하의 순서로 행한다.

1. 실시 형태(터치 검출 기능을 구비한 표시 장치)

1-1. 실시 형태 1

1-2. 실시 형태 2

1-3. 실시 형태 3

2. 적용예(전자 기기)

상기 실시 형태에 따른 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치가 전자 기기에 적용되어 있는 예

3. 본 발명의 형태

<1. 실시 형태>

<1-1. 실시 형태 1>

[구성예]

(전체 구성예)

도 1은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 구성예를 나타내는 블록도이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)와, 제어부(11)와, 게이트 드라이버(12)와, 소스 드라이버(13)와, 구동 전극 드라이버(14)와, 터치 검출부(40)를 구비하고 있다. 이 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)가 터치 검출 기능을 내장한 표시 디바이스이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 표시 소자로서 액정 표시 소자를 사용하고 있는 액정 표시부(20)와 정전 용량형의 터치 검출 디바이스(30)를 일체화한 장치이다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 표시 소자로서 액정 표시 소자를 사용하고 있는 액정 표시부(20)의 위에 정전 용량형의 터치 검출 디바이스(30)를 장착한 장치이어도 된다. 또한, 액정 표시부(20)는 예를 들어 유기 EL 표시 디바이스이어도 된다.

액정 표시부(20)는, 후술하는 바와 같이, 게이트 드라이버(12)로부터 공급되는 주사 신호(Vscan)에 따라서, 1 수평 라인씩 순차 주사하여 표시를 행하는 디바이스이다. 제어부(11)는, 외부로부터 공급된 영상 신호(Vdisp)에 기초하여, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 구동 전극 드라이버(14) 및 터치 검출부(40)에 대해 각각 제어 신호를 공급하고, 이것들이 서로 동기하여 동작하도록 제어하는 회로이다.

게이트 드라이버(12)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 표시 구동의 대상이 되는 1 수평 라인을 순차 선택하는 기능을 갖고 있다.

소스 드라이버(13)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의, 후술하는 각 부화소(SPix)에 화소 신호(Vpix)를 공급하는 회로이다.

구동 전극 드라이버(14)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의, 후술하는 구동 전극(COML)에 구동 신호(Vcom)를 공급하는 회로이다.

터치 검출부(40)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호와, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 터치 검출 디바이스(30)로부터 공급된 터치 검출 신호(Vdet)에 기초하여, 터치 검출 디바이스(30)에 대한 터치(후술하는 접촉 또는 근접 상태)의 유무를 검출하고, 터치가 있을 경우에 터치 검출 영역에서의 그 좌표 등을 구하는 회로이다. 이 터치 검출부(40)는, 터치 검출 신호 증폭부(42)와, A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)와, 검출 타이밍 제어부(46)를 구비하고 있다.

터치 검출 신호 증폭부(42)는, 터치 검출 디바이스(30)로부터 공급되는 터치 검출 신호(Vdet)를 증폭한다. 터치 검출 신호 증폭부(42)는, 터치 검출 신호(Vdet)에 포함되는 높은 주파수 성분(노이즈 성분)을 제거하고, 터치 성분을 취출하여 각각 출력하는 저역 통과 아날로그 필터를 구비하고 있어도 된다.

(정전 용량형 터치 검출의 기본 원리)

터치 검출 디바이스(30)는, 정전 용량형 터치 검출의 기본 원리에 기초해서 동작하여, 터치 검출 신호(Vdet)를 출력한다. 도 1 내지 도 6을 참조하여, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)에서의 터치 검출의 기본 원리에 대하여 설명한다. 도 2는, 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 손가락이 장치에 접촉 또는 근접하지 않은 상태를 나타내는 설명도이다. 도 3은, 도 2에 도시하는 손가락이 장치에 접촉 또는 근접하지 않은 상태의 등가 회로의 예를 나타내는 설명도이다. 도 4는, 정전 용량형 터치 검출 방식의 기본 원리를 설명하기 위해, 손가락이 장치에 접촉 또는 근접한 상태를 나타내는 설명도이다. 도 5는, 도 4에 도시하는 손가락이 장치에 접촉 또는 근접한 상태의 등가 회로의 예를 나타내는 설명도이다. 도 6은, 구동 신호 및 터치 검출 신호의 파형의 일례를 도시하는 도면이다.

예를 들어, 도 2 및 도 4에 도시한 바와 같이, 용량 소자(C1, C1')는, 유전체(D)를 사이에 두고 서로 대향 배치된 한 쌍의 전극, 구동 전극(E1) 및 터치 검출 전극(E2)을 구비하고 있다. 도 3에 도시한 바와 같이, 용량 소자(C1)는, 그 일단부가 교류 신호원(구동 신호원)(S)에 접속되고, 타단부는 전압 검출기(터치 검출부)(DET)에 접속된다. 전압 검출기(DET)는, 예를 들어 도 1에 도시하는 터치 검출 신호 증폭부(42)에 포함되는 적분 회로이다.

교류 신호원(S)으로부터 구동 전극(E1)(용량 소자(C1)의 일단부)에 소정의 주파수(예를 들어 수 kHz 내지 수백 kHz 정도)의 교류 구형파(Sg)를 인가하면, 터치 검출 전극(E2)(용량 소자(C1)의 타단부)측에 접속된 전압 검출기(DET)를 통해 출력 파형(터치 검출 신호(Vdet))이 나타난다. 또한, 이 교류 구형파(Sg)는, 후술하는 터치 구동 신호(Vcomt)에 상당하는 것이다.

손가락이 장치에 접촉(또는 근접)하지 않은 상태(비접촉 상태)에서는, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 용량 소자(C1)에 대한 충방전에 수반하여, 용량 소자(C1)의 용량값에 따른 전류(I₀)가 흐른다. 도 6에 도시한 바와 같이 전압 검출기(DET)는, 교류 구형파(Sg)에 따른 전류(I₀)의 변동을 전압의 변동(실선의 파형(V₀))으로 변환한다.

한편, 손가락이 장치에 접촉(또는 근접)한 상태(접촉 상태)에서는, 도 4에 도시한 바와 같이, 손가락에 의해 형성되는 정전 용량(C2)이 터치 검출 전극(E2)과 접하고 있거나 또는 근방에 있음으로써, 구동 전극(E1) 및 터치 검출 전극(E2)의 사이에 있는 프린지 분의 정전 용량이 차단되어, 용량 소자(C1)의 용량값보다 용량값이 작은 용량 소자(C1')로서 작용한다. 그리고, 도 5에 도시하는 등가 회로에서 보면, 용량 소자(C1')에 전류(I₁)가 흐른다. 도 6에 도시한 바와 같이, 전압 검출기(DET)는, 교류 구형파(Sg)에 따른 전류(I₁)의 변동을 전압의 변동(점선의 파형(V₁))으로 변환한다. 이 경우, 파형(V₁)은, 상술한 파형(V₀)과 비교하여 진폭이 작아진다. 이에 의해, 파형(V₀)과 파형(V₁)의 전압 차분의 절대값(|ΔV|)은, 손가락 등의 외부로부터 근접하는 물체의 영향에 따라서 변화하게 된다. 또한, 전압 검출기(DET)는, 파형(V₀)과 파형(V₁)의 전압 차분의 절대값(|ΔV|)을 고정밀도로 검출하기 위해서, 회로 내의 스위칭에 의해, 교류 구형파(Sg)의 주파수에 맞추어, 콘덴서의 충방전을 리셋하는 기간(Reset)을 설치한 동작으로 하는 것이 보다 바람직하다.

도 1에 도시하는 터치 검출 디바이스(30)는, 구동 전극 드라이버(14)로부터 공급되는 구동 신호(Vcom)(후술하는 터치 구동 신호(Vcomt))에 따라서, 1 검출 블록씩 순차 주사하여 터치 검출을 행하게 되어 있다.

터치 검출 디바이스(30)는, 복수의 후술하는 터치 검출 전극(TDL)으로부터, 도 3 또는 도 5에 도시하는 전압 검출기(DET)를 통해, 검출 블록마다 터치 검출 신호(Vdet)를 출력하고, 터치 검출부(40)의 터치 검출 신호 증폭부(42)에 공급하게 되어 있다.

A/D 변환부(43)는, 구동 신호(Vcom)에 동기한 타이밍에서, 터치 검출 신호 증폭부(42)로부터 출력되는 아날로그 신호를 각각 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 회로이다.

신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 포함되는, 구동 신호(Vcom)를 샘플링한 주파수 이외의 주파수 성분(노이즈 성분)을 저감하는 디지털 필터를 구비하고 있다. 신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 기초하여, 터치 검출 디바이스(30)에 대한 터치의 유무를 검출하는 논리 회로이다. 신호 처리부(44)는, 손가락에 의한 전압의 차분만 취출하는 처리를 행한다. 이 손가락에 의한 전압의 차분은, 상술한 파형(V₀)과 파형(V₁)의 차분의 절대값(|ΔV|)이다. 신호 처리부(44)는, 1 검출 블록당의 절대값(|ΔV|)을 평균화하는 연산을 행하여, 절대값(|ΔV|)의 평균값을 구해도 된다. 이에 의해, 신호 처리부(44)는, 노이즈에 의한 영향을 저감할 수 있다. 신호 처리부(44)는, 검출한 손가락에 의한 전압의 차분을 소정의 임계값 전압과 비교하여, 전압의 차분이 임계값 전압 이상이면, 외부로부터 근접하는 외부 근접 물체의 접촉 상태라 판단하고, 임계값 전압 미만이면 외부 근접 물체의 비접촉 상태라고 판단한다. 이와 같이 하여, 터치 검출부(40)는 터치 검출이 가능하게 된다.

좌표 추출부(45)는, 신호 처리부(44)에 있어서 터치가 검출되었을 때에, 그 터치 패널 좌표를 구하는 논리 회로이다. 검출 타이밍 제어부(46)는, A/D 변환부(43)와, 신호 처리부(44)와, 좌표 추출부(45)가 동기하여 동작하도록 제어한다. 좌표 추출부(45)는, 터치 패널 좌표를 신호 출력(Vout)으로서 출력한다.

(모듈)

도 7 및 도 8은, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 실장한 모듈의 일례를 나타내는 도이다. 도 7에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 모듈에 실장함에 있어서, 유리 기판의 TFT 기판(21) 위에 상술한 구동 전극 드라이버(14)를 형성해도 된다.

도 7에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)와, 구동 전극 드라이버(14)와, COG(Chip On Glass)(19A)를 갖고 있다. 이 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 후술하는 TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 구동 전극(COML)과, 구동 전극(COML)과 입체 교차하게 형성된 터치 검출 전극(TDL)을 모식적으로 도시하고 있다. 즉, 구동 전극(COML)은, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 한 변을 따르는 방향으로 형성되어 있고, 터치 검출 전극(TDL)은, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 다른 변을 따르는 방향으로 형성되어 있다. 터치 검출 전극(TDL)의 출력단은, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 상기 다른 변측에 설치되고, 플렉시블 기판 등에 의해 구성된 단자부(T)를 개재하여, 이 모듈의 외부에 실장된 터치 검출부(40)와 접속되어 있다. 구동 전극 드라이버(14)는, 유리 기판인 TFT 기판(21)에 형성되어 있다. COG(19A)는, TFT 기판(21)에 실장된 칩이며, 도 1에 도시한 제어부(11), 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13) 등, 표시 동작에 필요한 각 회로를 내장한 것이다. 또한, 도 8에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, COG(Chip On Glass)에 구동 전극 드라이버(14)를 내장해도 된다.

도 8에 도시한 바와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)를 실장한 모듈은, COG(19B)를 갖고 있다. 도 8에 나타내는 COG(19B)는, 상술한 표시 동작에 필요한 각 회로 외에, 구동 전극 드라이버(14)를 더 내장한 것이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 후술하는 바와 같이, 표시 동작시에, 1 수평 라인씩 선 순차 주사를 행한다. 한편, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 터치 검출 동작시에, 구동 전극(COML)에 구동 신호(Vcom)를 순차 인가함으로써, 1 검출 라인씩 선 순차 주사가 행해진다.

(터치 검출 기능을 구비한 표시부)

이어서, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의 구성예를 상세하게 설명한다. 도 9는, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 도 10은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 화소 배치를 나타내는 회로도이다. 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 화소 기판(2)과, 이 화소 기판(2)의 표면에 수직인 방향에 대향하여 배치된 대향 기판(3)과, 화소 기판(2)과 대향 기판(3)의 사이에 끼워진 액정층(6)을 구비하고 있다.

화소 기판(2)은, 회로 기판으로서의 TFT 기판(21)과, 이 TFT 기판(21) 위에 행렬 형상으로 배치된 복수의 화소 전극(22)과, TFT 기판(21) 및 화소 전극(22)의 사이에 형성된 복수의 구동 전극(COML)과, 화소 전극(22)과 구동 전극(COML)을 절연하는 절연층(24)을 포함한다. TFT 기판(21)에는, 도 10에 도시하는 각 부화소(SPix)의 박막 트랜지스터(TFT; Thin Film Transistor) 소자(Tr), 도 9에 나타내는 각 화소 전극(22)에 화소 신호(Vpix)를 공급하는 신호선(SGL), 각 TFT 소자(Tr)를 구동하는 주사선(GCL) 등의 배선이 형성되어 있다. 이와 같이, 신호선(SGL)은, TFT 기판(21)의 표면과 평행한 평면에 연장되고, 화소에 화상을 표시하기 위한 화소 신호(Vpix)를 공급한다. 도 10에 도시하는 액정 표시부(20)는, 행렬 형상으로 배치한 복수의 부화소(SPix)를 갖고 있다. 부화소(SPix)는, TFT 소자(Tr) 및 액정 소자(LC)를 구비하고 있다. TFT 소자(Tr)는, 박막 트랜지스터에 의해 구성되는 것이며, 본 예에서는, n채널의 MOS(Metal Oxide Semiconductor)형의 TFT로 구성되어 있다. TFT 소자(Tr)의 소스 또는 드레인의 한쪽은 신호선(SGL)에 접속되고, 게이트는 주사선(GCL)에 접속되고, 소스 또는 드레인의 다른 쪽은 액정 소자(LC)의 일단부에 접속되어 있다. 액정 소자(LC)는, 예를 들어 일단부가 TFT 소자(Tr)의 드레인에 접속되고, 타단부가 구동 전극(COML)에 접속되어 있다.

도 10에 도시하는 부화소(SPix)는, 주사선(GCL)에 의해, 액정 표시부(20)의 동일한 행에 속하는 다른 부화소(SPix)와 서로 접속되어 있다. 주사선(GCL)은, 게이트 드라이버(12)와 접속되고, 게이트 드라이버(12)로부터 주사 신호(Vscan)가 공급된다. 또한, 부화소(SPix)는, 신호선(SGL)에 의해, 액정 표시부(20)의 동일한 열에 속하는 다른 부화소(SPix)와 서로 접속되어 있다. 신호선(SGL)은, 소스 드라이버(13)와 접속되고, 소스 드라이버(13)로부터 화소 신호(Vpix)가 공급된다. 또한, 부화소(SPix)는, 구동 전극(COML)에 의해, 액정 표시부(20)의 동일한 행에 속하는 다른 부화소(SPix)와 서로 접속되어 있다. 구동 전극(COML)은, 구동 전극 드라이버(14)와 접속되고, 구동 전극 드라이버(14)로부터 구동 신호(Vcom)가 공급된다. 즉, 본 예에서는, 동일한 1행에 속하는 복수의 부화소(SPix)가 1개의 구동 전극(COML)을 공유하게 되어 있다. 실시 형태 1의 구동 전극(COML)이 연장되는 방향은, 주사선(GCL)이 연장되는 방향과 평행하다. 실시 형태 1의 구동 전극(COML)이 연장되는 방향은, 한정되지 않고, 예를 들어 구동 전극(COML)이 연장되는 방향은, 신호선(SGL)이 연장되는 방향과 평행한 방향이어도 된다.

도 1에 도시하는 게이트 드라이버(12)는, 주사 신호(Vscan)를, 도 10에 도시하는 주사선(GCL)을 통해 화소(Pix)의 TFT 소자(Tr)의 게이트에 인가함으로써, 액정 표시부(20)에 행렬 형상으로 형성되어 있는 부화소(SPix) 중 1행(1 수평 라인)을 표시 구동의 대상으로서 순차 선택한다. 도 1에 도시하는 소스 드라이버(13)는, 화소 신호(Vpix)를, 도 10에 도시하는 신호선(SGL)을 통해 게이트 드라이버(12)에 의해 순차 선택되는 1 수평 라인을 구성하는 각 부화소(SPix)에 각각 공급한다. 그리고, 이들의 부화소(SPix)에서는, 공급되는 화소 신호(Vpix)에 따라, 1 수평 라인의 표시가 이루어지게 되어 있다. 도 1에 도시하는 구동 전극 드라이버(14)는, 구동 신호(Vcom)를 인가하여, 도 7 및 도 8에 나타내는, 소정의 개수의 구동 전극(COML)을 포함하는 블록마다 구동 전극(COML)을 구동한다.

상술한 바와 같이, 액정 표시부(20)는, 게이트 드라이버(12)가 주사선(GCL)을 시분할적으로 선 순차 주사하도록 구동함으로써, 1 수평 라인이 순차 선택된다. 또한, 액정 표시부(20)는, 1 수평 라인에 속하는 부화소(SPix)에 대하여, 소스 드라이버(13)가 화소 신호(Vpix)를 공급함으로써, 1 수평 라인씩 표시가 행해진다. 이 표시 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)는, 그 1 수평 라인에 대응하는 구동 전극(COML)을 포함하는 블록에 대하여 구동 신호(Vcom)를 인가하게 되어 있다.

실시 형태 1에 관한 구동 전극(COML)은, 액정 표시부(20)의 구동 전극으로서 기능함과 함께, 터치 검출 디바이스(30)의 구동 전극으로서도 기능한다. 도 11은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 구동 전극 및 터치 검출 전극의 일 구성예를 나타내는 사시도이다. 도 11에 도시하는 구동 전극(COML)은, 도 9에 도시한 바와 같이, TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직 방향에 있어서, 화소 전극(22)에 대향하고 있다. 터치 검출 디바이스(30)는, 화소 기판(2)에 설치된 구동 전극(COML)과, 대향 기판(3)에 설치된 터치 검출 전극(TDL)에 의해 구성되어 있다. 터치 검출 전극(TDL)은, 구동 전극(COML)의 전극 패턴의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장되는 스트라이프 형상의 전극 패턴으로 구성되어 있다. 그리고, 터치 검출 전극(TDL)은, TFT 기판(21)의 표면에 대한 수직인 방향에 있어서, 구동 전극(COML)과 대향하고 있다. 터치 검출 전극(TDL)의 각 전극 패턴은, 터치 검출부(40)의 터치 검출 신호 증폭부(42)의 입력단에 각각 접속되어 있다. 구동 전극(COML)과 터치 검출 전극(TDL)에 의해 서로 교차한 전극 패턴은, 그 교차 부분에 정전 용량을 발생시키고 있다. 또한, 터치 검출 전극(TDL) 또는 구동 전극(COML)(구동 전극 블록)은, 스트라이프 형상으로 복수로 분할되는 형상에 한정되지 않는다. 예를 들어, 터치 검출 전극(TDL) 또는 구동 전극(COML)(구동 전극 블록)은 빗살 형상이어도 된다. 또는 터치 검출 전극(TDL) 또는 구동 전극(COML)(구동 전극 블록)은 서로 분리되어 있으면 좋고, 예를 들어 복수의 구동 전극(COML)을 서로 분리하는 슬릿의 형상은 직선이거나 곡선이어도 된다.

이 구성에 의해, 터치 검출 디바이스(30)에서는, 터치 검출 동작을 행할 때, 구동 전극 드라이버(14)가, 구동 전극 블록을 시분할적으로 선 순차 주사하도록 구동한다. 이에 의해, 스캔 방향(Scan)으로 구동 전극(COML)의 1 검출 블록이 순차 선택된다. 그리고, 터치 검출 전극(TDL)으로부터 터치 검출 신호(Vdet)를 출력한다. 이렇게 터치 검출 디바이스(30)는, 1 검출 블록의 터치 검출이 이루어지게 되어 있다. 즉, 구동 전극 블록은, 상술한 터치 검출의 기본 원리에서의 구동 전극(E1)에 대응하고, 터치 검출 전극(TDL)은, 터치 검출 전극(E2)에 대응하는 것이며, 터치 검출 디바이스(30)는, 이 기본 원리에 따라서 터치를 검출하게 되어 있다. 도 11에 도시한 바와 같이, 서로 교차한 전극 패턴은, 정전 용량식 터치 센서를 행렬 형상으로 구성하고 있다. 따라서, 터치 검출 디바이스(30)의 터치 검출면 전체에 걸쳐 주사함으로써, 외부 근접 물체의 접촉 또는 근접이 발생한 위치의 검출도 가능하게 되어 있다.

액정층(6)은, 전계의 상태에 따라서 거기를 통과하는 광을 변조하는 것이며, 예를 들어 FFS(프린지 필드 스위칭) 모드 또는 IPS(인플레인 스위칭) 모드 등의 횡전계 모드의 액정이 사용된다. 또한, 도 9에 나타내는 액정층(6)과 화소 기판(2)의 사이 및 액정층(6)과 대향 기판(3)의 사이에는, 각각 배향막이 배치되어도 된다.

대향 기판(3)은, 유리 기판(31)과, 이 유리 기판(31)의 한쪽 면에 형성된 컬러 필터(32)를 포함한다. 유리 기판(31)의 다른 쪽의 면에는, 터치 검출 디바이스(30)의 검출 전극인 터치 검출 전극(TDL)이 형성되고, 또한, 이 터치 검출 전극(TDL)의 위에는, 편광판(35)이 배치되어 있다.

도 9에 나타내는 컬러 필터(32)는, 예를 들어 적(R), 녹(G), 청(B)의 3색으로 착색된 컬러 필터의 색 영역을 주기적으로 배치하고, 상술한 도 10에 도시하는 각 부화소(SPix)에 R, G, B의 3색의 색 영역(32R, 32G, 32B)(도 10 참조)이 대응지어져, 색 영역(32R, 32G, 32B)을 1 조합으로 해서 화소(Pix)를 구성하고 있다. 화소(Pix)는, 주사선(GCL)에 평행한 방향 및 신호선(SGL)에 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치되어, 후술하는 표시 영역(Ad)을 형성한다. 컬러 필터(32)는, TFT 기판(21)과 수직인 방향에 있어서, 액정층(6)과 대향한다. 이와 같이, 부화소(SPix)는, 단색의 색 표시를 행할 수 있다. 또한, 컬러 필터(32)는 서로 다른 색으로 착색되어 있으면, 다른 색의 조합이어도 된다. 또한, 컬러 필터(32)는 없어도 된다. 이와 같이, 컬러 필터(32)가 존재하지 않는 영역, 즉 착색하지 않는 부화소(SPix)가 있어도 된다.

여기서, 유리 기판(31)은, 본 발명에서의 「기판」의 일 구체예에 대응한다. 색 영역(32R, 32G, 32B)은, 본 발명에서의 「색 영역」의 일 구체예에 대응한다. 화소(Pix)는, 본 발명에서의 「화소」의 일 구체예에 대응한다. 터치 검출 전극(TDL)은, 본 발명에서의 「터치 검출 전극」의 일 구체예에 대응한다. 구동 전극(COML)은, 본 발명에서의 「구동 전극」의 일 구체예에 대응한다. 액정층(6)은, 본 발명에서의 「표시 기능층」의 일 구체예에 대응한다.

[동작 및 작용]

계속해서, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 동작 및 작용에 대하여 설명한다.

구동 전극(COML)은, 액정 표시부(20)의 공통 구동 전극으로서 기능함과 함께, 터치 검출 디바이스(30)의 구동 전극으로서도 기능하기 때문에, 구동 신호(Vcom)가 서로 영향을 미칠 가능성이 있다. 이로 인해, 구동 전극(COML)은, 표시 동작을 행하는 표시 기간(B)과, 터치 검출 동작을 행하는 터치 검출 기간(A)으로 나누어서 구동 신호(Vcom)가 인가된다. 구동 전극 드라이버(14)는, 표시 동작을 행하는 표시 기간(B)에서는 표시 구동 신호로서 구동 신호(Vcom)를 인가한다. 그리고, 구동 전극 드라이버(14)는, 터치 검출 동작을 행하는 터치 검출 기간(A)에서는 터치 구동 신호로서 구동 신호(Vcom)를 인가한다. 이하의 설명에서는, 표시 구동 신호로서의 구동 신호(Vcom)를, 표시 구동 신호(Vcomd)로서 기재하고, 터치 구동 신호로서의 구동 신호(Vcom)를, 터치 구동 신호(Vcomt)로서 기재한다.

(전체 동작 개요)

제어부(11)는, 외부로부터 공급된 영상 신호(Vdisp)에 기초하여, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13), 구동 전극 드라이버(14) 및 터치 검출부(40)에 대하여 각각 제어 신호를 공급하고, 이것들이 서로 동기하여 동작하도록 제어한다. 게이트 드라이버(12)는, 표시 기간(B)에서, 액정 표시부(20)에 주사 신호(Vscan)를 공급하고, 표시 구동의 대상이 되는 1 수평 라인을 순차 선택한다. 소스 드라이버(13)는 표시 기간(B)에서, 게이트 드라이버(12)에 의해 선택된 1 수평 라인을 구성하는 각 화소(Pix)에, 화소 신호(Vpix)를 공급한다.

표시 기간(B)에서는, 구동 전극 드라이버(14)가 1 수평 라인에 관한 구동 전극 블록에 표시 구동 신호(Vcomd)를 인가하고, 터치 검출 기간(A)에서는, 구동 전극 드라이버(14)가 터치 검출 동작에 관한 구동 전극 블록에 대하여 터치 구동 신호(Vcomt)를 순차 인가하여, 1 검출 블록을 순차 선택한다. 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 표시 기간(B)에서, 게이트 드라이버(12), 소스 드라이버(13) 및 구동 전극 드라이버(14)에 의해 공급된 신호에 기초하여 표시 동작을 행한다. 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, 터치 검출 기간(A)에서, 구동 전극 드라이버(14)에 의해 공급된 신호에 기초하여 터치 검출 동작을 행하고, 터치 검출 전극(TDL)으로부터 터치 검출 신호(Vdet)를 출력한다. 터치 검출 신호 증폭부(42)는, 터치 검출 신호(Vdet)를 증폭하여 출력한다. A/D 변환부(43)는, 터치 구동 신호(Vcomt)에 동기한 타이밍에서, 터치 검출 신호 증폭부(42)로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환한다. 신호 처리부(44)는, A/D 변환부(43)의 출력 신호에 기초하여, 터치 검출 디바이스(30)에 대한 터치의 유무를 검출한다. 좌표 추출부(45)는, 신호 처리부(44)에서 터치 검출이 이루어졌을 때에, 그 터치 패널 좌표를 구한다.

(상세 동작)

이어서, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 상세 동작을 설명한다. 도 12는, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치의 일 동작예를 나타내는 타이밍 파형도이다. 도 12에 도시한 바와 같이, 액정 표시부(20)는, 게이트 드라이버(12)로부터 공급되는 주사 신호(Vscan)에 따라, 주사선(GCL) 중, 인접하는 (n-1)행째, n행째, (n+1)행째의 주사선(GCL)의 1 수평 라인씩 순차 주사하여 표시를 행한다. 마찬가지로, 구동 전극 드라이버(14)는, 제어부(11)로부터 공급되는 제어 신호에 기초하여, 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)의, 구동 전극(COML) 중, 인접하는 (m-1)열째, m열째, (m+1)열째에 구동 신호(Vcom)를 공급한다.

이와 같이, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)에서는, 1 표시 수평 기간(1H)마다, 터치 검출 동작(터치 검출 기간(A))과 표시 동작(표시 기간(B))을 시분할적으로 행한다. 터치 검출 동작에서는, 1 표시 수평 기간(1H)마다, 서로 다른 구동 전극(COML)을 선택하여 구동 신호(Vcom)를 인가함으로써, 터치 검출의 주사를 행한다. 이하에, 그 동작을 상세하게 설명한다.

우선, 게이트 드라이버(12)가, (n-1)행째의 주사선(GCL)에 대해 주사 신호(Vscan)를 인가하고, 주사 신호(Vscan)(n-1)가 저레벨에서 고레벨로 변화한다. 이에 의해, 1 표시 수평 기간(1H)이 개시된다.

이어서, 터치 검출 기간(A)에서, 구동 전극 드라이버(14)가 (m-1)열째의 구동 전극(COML)에 대해 구동 신호(Vcom)를 인가하고, 구동 신호(Vcom)(m-1)가 저레벨에서 고레벨로 변화한다. 이 구동 신호(Vcom)(m-1)는, 정전 용량을 통해 터치 검출 전극(TDL)에 전해져, 터치 검출 신호(Vdet)가 변화한다. 이어서, 구동 신호(Vcom)(m-1)가 고레벨에서 저레벨로 변화하면, 터치 검출 신호(Vdet)는 마찬가지로 변화한다. 이 터치 검출 기간(A)에서의 터치 검출 신호(Vdet)의 파형은, 상술한 터치 검출의 기본 원리에서의 터치 검출 신호(Vdet)에 대응하는 것이다. A/D 변환부(43)는, 이 터치 검출 기간(A)에서의 터치 검출 신호(Vdet)를 A/D 변환함으로써 터치 검출을 행한다. 이에 의해, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)에서는, 1 검출 라인의 터치 검출이 행해진다.

이어서, 표시 기간(B)에서, 소스 드라이버(13)가, 신호선(SGL)에 대해 화소 신호(Vpix)를 인가하여, 1 수평 라인에 대한 표시를 행한다. 또한, 도 12에 도시한 바와 같이, 이 화소 신호(Vpix)의 변화가, 기생 용량을 통해 터치 검출 전극(TDL)에 전해져, 터치 검출 신호(Vdet)가 변화할 수 있는데, 표시 기간(B)에서는 A/D 변환부(43)가 A/D 변환을 행하지 않도록 함으로써, 이 화소 신호(Vpix)의 변화의 터치 검출에 대한 영향을 억제할 수 있다. 소스 드라이버(13)에 의한 화소 신호(Vpix)의 공급이 종료된 뒤, 게이트 드라이버(12)가 (n-1)행째의 주사선(GCL)의 주사 신호(Vscan)(n-1)를 고레벨에서 저레벨로 변화시키고, 1 표시 수평 기간이 종료된다.

이어서, 게이트 드라이버(12)는, 조금 전과는 상이한 n행째의 주사선(GCL)에 대해 주사 신호(Vscan)를 인가하고, 주사 신호(Vscan)(n)가 저레벨에서 고레벨로 변화한다. 이에 의해, 다음의 1 표시 수평 기간이 개시된다.

다음의 터치 검출 기간(A)에서, 구동 전극 드라이버(14)가, 조금 전과는 상이한 m열째의 구동 전극(COML)에 대하여 구동 신호(Vcom)를 인가한다. 그리고, 터치 검출 신호(Vdet)의 변화를, A/D 변환부(43)가 A/D 변환함으로써, 이 1 검출 라인의 터치 검출이 행해진다.

이어서, 표시 기간(B)에서, 소스 드라이버(13)가, 신호선(SGL)에 대해 화소 신호(Vpix)를 인가하여, 1 수평 라인에 대한 표시를 행한다. 또한, 구동 전극 드라이버(14)가 표시 구동 신호(Vcomd)를 구동 전극(COML)에 공통 전위로서 인가하고 있다. 여기서, 표시 구동 신호(Vcomd)의 전위는, 예를 들어 터치 검출 기간(A)에서의 구동 신호(Vcomt)의 저레벨의 전위로 되어 있다. 또한, 실시 형태 1의 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도트 반전 구동을 행하기 때문에, 소스 드라이버(13)가 인가하는 화소 신호(Vpix)는, 앞의 1 표시 수평 기간의 것과 비교하여, 그 극성이 반전되어 있다. 이 표시 기간(B)이 종료된 후, 이 1 표시 수평 기간(1H)이 종료된다.

그 이후, 상술한 동작을 반복함으로써, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 표시면 전체면에 걸친 주사에 의해 표시 동작을 행함과 함께, 터치 검출면 전체면에 걸친 주사에 의해 터치 검출 동작을 행한다.

터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)에서는, 1 표시 수평 기간(1H)에서, 터치 검출 동작은 터치 검출 기간(A)에 행하고, 표시 동작은 표시 기간(B)에 행하도록 하고 있다. 이와 같이, 터치 검출 동작과 표시 동작을 별도의 기간에 행하도록 했기 때문에, 동일한 1 표시 수평 기간에 있어서 표시 동작과 터치 검출 동작의 양쪽을 행할 수 있음과 함께, 표시 동작의 터치 검출에 대한 영향을 억제할 수 있다.

(터치 검출 전극의 배치)

도 13은, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)의 배치를 나타내는 모식도이다. 도 13에 도시한 바와 같이, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에, 전체를 위에서 내려다 보면, 방향(Da)으로 연장되는 복수의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)을 포함한다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 굴곡부(TDC1, TDC2, TDC3, TDC4)에서 접히는 지그재그 선 또는 파선이다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선(ML1) 및 도전성 세선(ML2)은, 도전성 세선(ML1)의 단부(ML1e) 및 도전성 세선(ML2)의 단부(ML2e)에서 제1 도통부(TDB1)를 통해 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선(ML1) 및 도전성 세선(ML2)은, 제1 도통부(TDB1)에서 접속하는 부분을 제외하고 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되어, 검출 영역(TDA)에 속한다. 또한, 도전성 세선(ML3) 및 도전성 세선(ML4)은, 도전성 세선(ML3)의 단부(ML3e) 및 도전성 세선(ML4)의 단부(ML4e)에서 제1 도통부(TDB1)를 통해 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선(ML3) 및 도전성 세선(ML4)은, 제1 도통부(TDB1)에서 접속하는 부분을 제외하고 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되어, 검출 영역(TDA)에 속한다.

복수의 검출 영역(TDA)은, 서로 일정한 간격을 갖고 연장되어 있다. 복수의 검출 영역(TDA)은, 제1 도통부(TDB1)끼리 제2 도통부(TDB2)를 통해 접속되어 도통하고 있다. 제2 도통부(TDB2)는, 검출 배선(TDG)을 통해 도 1에 도시하는 터치 검출부(40)에 접속된다. 또한, 제1 도통부(TDB1) 및 제2 도통부(TDB2)는, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 동일한 재료로 형성된다. 상기의 구성에 의해, 도전성 세선수를 줄이는 동시에, 일정한 범위에 대하여 복수의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)으로 터치 검출을 행하기 위해, 터치 검출을 행할 때의 저항을 낮게 할 수 있다. 또한, 검출 영역(TDA)은, 3개 이상의 도전성 세선을 포함해도 되고, 1개의 도전성 세선을 포함해도 된다.

도전성 세선(ML1)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML1)은, 단부(ML1e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Uc), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub)의 순서대로 접속되어 있다. 세선편(Ua), 세선편(Ub 및 Uc)이 연장되는 방향은, 서로 상이한 방향이다. 세선편(Ua)은, 도전성 재료의 패턴이며, 제1 단부(Ua1)와 제2 단부(Ua2)를 포함한다. 세선편(Ub)은, 도전성 재료의 패턴이며, 제1 단부(Ub1)와 제2 단부(Ub2)를 포함한다. 세선편(Uc)은, 도전성 재료의 패턴이며, 제1 단부(Uc1)와 제2 단부(Uc2)를 포함한다.

세선편(Ua)과 세선편(Ub)은, 세선편(Ua)의 제2 단부(Ua2)와 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 접속되어 도통하고 있다. 당해 접속되는 부분은, 굴곡부(TDC1)이다. 또한, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제2 단부(Ub2)와 세선편(Ua)의 제1 단부(Ua1)가 접속되어 도통하고 있다. 당해 접속되는 부분은, 굴곡부(TDC4)이다. 굴곡부(TDC1) 및 굴곡부(TDC4)에 있어서, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 이루는 각도는 각도(θ1)이다.

세선편(Ub)과 세선편(Uc)은, 세선편(Ub)의 제2 단부(Ub2)와 세선편(Uc)의 제1 단부(Uc1)가 접속되어 도통하고 있다. 당해 접속되는 부분은, 굴곡부(TDC2)이다. 또한, 세선편(Ub)과 세선편(Uc)은, 세선편(Uc)의 제2 단부(Uc2)와 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 접속되어 도통하고 있다. 당해 접속되는 부분은, 굴곡부(TDC3)이다. 굴곡부(TDC2) 및 굴곡부(TDC3)에 있어서, 세선편(Ub)과 세선편(Uc)이 이루는 각도는 각도(θ2)이다.

세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 서로 다른 방향으로 연장되기 때문에, 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도와, 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도는 상이하다. 따라서, 각도(θ1) 및 각도(θ2)는 서로 다른 크기이다. 도전성 세선(ML1)에 있어서, 굴곡부(TDC1)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 굴곡부(TDC1)의 다음의 굴곡부(TDC2)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다.

도전성 세선(ML2)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML2)은, 단부(ML2e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Uc), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub)의 순서대로 접속되어 있다. 즉, 도전성 세선(ML2)은, 2개의 단부(ML2e)와 도전성 세선(ML1)의 2개의 단부(ML1e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML1)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선(ML2)은, 도전성 세선(ML1)과 상이한 형상이다. 또한, 도전성 세선(ML2)에 있어서, 굴곡부(TDC1)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 굴곡부(TDC1)의 다음의 굴곡부(TDC2)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다.

도전성 세선(ML3)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML3)은, 단부(ML3e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Uc), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub)의 순서대로 접속되어 있다. 즉, 도전성 세선(ML3)은, 2개의 단부(ML3e)와 도전성 세선(ML1)의 2개의 단부(ML1e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML1)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 도전성 세선(ML3)은, 2개의 단부(ML3e)와 도전성 세선(ML2)의 2개의 단부(ML2e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML2)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선(ML3)은, 도전성 세선(ML1) 및 도전성 세선(ML2)과 상이한 형상이다. 또한, 도전성 세선(ML3)에 있어서, 굴곡부(TDC3)에서 인접하는 세선편(Uc) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ2)와, 굴곡부(TDC3)의 다음의 굴곡부(TDC4)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Ua)이 이루는 각도(θ1)가 상이하다.

도전성 세선(ML4)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML4)은, 단부(ML4e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Uc), 세선편(Ub)의 순서대로 접속되어 있다. 즉, 도전성 세선(ML4)은, 2개의 단부(ML4e)와 도전성 세선(ML1)의 2개의 단부(ML1e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML1)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 도전성 세선(ML4)은, 2개의 단부(ML4e)와 도전성 세선(ML2)의 2개의 단부(ML2e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML2)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 도전성 세선(ML4)은, 2개의 단부(ML4e)와 도전성 세선(ML3)의 2개의 단부(ML3e)를 겹쳤을 때, 도전성 세선(ML3)과 겹치지 않는 부분을 포함한다. 이로 인해, 도전성 세선(ML4)은, 도전성 세선(ML1, ML2 및 ML3)과 상이한 형상이다. 또한, 도전성 세선(ML4)은, 굴곡부(TDC1)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 굴곡부(TDC1)의 다음의 굴곡부(TDC2)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다.

또한, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)의 폭은, 3㎛ 이상 또한 10㎛ 이하의 범위에 있는 것이 바람직하다. 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)의 폭은, 10㎛ 이하이면, 표시 영역(Ad) 중 블랙 매트릭스 또는 주사선(GCL) 및 신호선(SGL)으로 광의 투과가 억제되지 않는 개구부를 덮는 면적이 작아져, 개구율을 손상시킬 가능성이 낮아지기 때문이다. 또한, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)의 폭은, 3㎛ 이상이면 형상이 안정되고, 단선될 가능성이 낮아지기 때문이다. 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)의 폭이 3㎛ 미만인 경우, 단선에 대한 대책을 위해, 후술하는 실시 형태 2와 같이 인접하는 도전성 세선의 굴곡부끼리 접속되어 도통하고 있는 것이 바람직하다.

또한, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이 서로 다른 형상이면, 예를 들어 도전성 세선(ML1)은, 세선편(Uc)을 포함하지 않아도 된다. 또한, 각 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함하고 있으면, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 동일한 형상이어도 된다.

터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 도전성의 금속 재료이며, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 이것들의 합금의 금속 재료로 형성된다. 또는, 터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 이것들의 산화물(금속 산화물)로 형성되고, 도전성을 갖고 있다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 상술한 금속 재료와, 상술한 금속 산화물을 하나 이상 적층한 적층체로 패터닝되어 있어도 된다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 상술한 금속 재료 또는 금속 산화물과, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물을 하나 이상 적층한 적층체로 패터닝되어 있어도 된다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)은, 투광성 전극의 재료로서 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 투광성 도전 산화물보다 저저항이다. 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)의 재료는, 동일한 막 두께에서의 투과율이 ITO(Indium Tin Oxide)의 투과율보다 낮다. 예를 들어, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)의 재료는, 투과율이 10% 이하이어도 된다.

도 13에 도시한 바와 같이, 복수의 검출 영역(TDA)은, 서로 일정한 간격을 갖고 배치되어 있다. 터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이 배치되는 영역과, 터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이 없는 영역에서는, 차광성에 차가 있어, 터치 검출 전극(TDL)이 시인되기 쉬워질 가능성이 있다. 이로 인해, 대향 기판(3)에는, 검출 배선(TDG)에 접속되지 않은 더미 전극(TDD)이 인접하는 검출 영역(TDA)의 사이에 배치되어 있다. 더미 전극(TDD)은, 터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 동일한 재료로 형성된다. 더미 전극(TDD)은, 터치 검출 전극(TDL)과 동일 정도의 차광성을 갖고 있으면, 상이한 재료이어도 된다.

또한, 도 13에 나타내는 더미 전극(TDD)은, 세선편(Ud), 세선편(Ue) 및 세선편(Uf)을 포함한다. 예를 들어, 실시 형태 1에 관한 세선편(Ud)이 연장되는 방향과, 실시 형태 1에 관한 세선편(Ua)이 연장되는 방향은 평행하다. 예를 들어, 실시 형태 1에 관한 세선편(Ue)이 연장되는 방향과, 실시 형태 1에 관한 세선편(Ub)이 연장되는 방향은 평행하다. 예를 들어, 실시 형태 1에 관한 세선편(Uf)이 연장되는 방향과, 실시 형태 1에 관한 세선편(Uc)이 연장되는 방향은 평행하다. 세선편(Ud), 세선편(Ue) 및 세선편(Uf)은, 검출 영역(TDA)에서의 단위 면적당의 세선편(Ua, Ub, Uc)의 수와, 검출 영역(TDA)이 아닌 영역에서의 단위 면적당의 세선편(Ud, Ue, Uf)의 수가 동일 정도가 되도록 배치된다. 예를 들어, 실시 형태 1에 관한 더미 전극(TDD)의 일부는, 세선편(Ud), 세선편(Ue), 세선편(Uf), 세선편(Ue), 세선편(Ud), 세선편(Ue), 세선편(Ud), 세선편(Ue)의 순서로 방향(Da)으로 배열한다. 즉, 더미 전극(TDD)은, 도전성 세선(ML1)과 중첩할 수 있는 부분을 포함한다. 이로부터, 터치 검출 전극(TDL)이 배치되는 영역과, 터치 검출 전극(TDL)이 배치되지 않는 영역의 차광성의 차가 작아지기 때문에, 터치 검출 전극(TDL)이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 더미 전극(TDD)은, 세선편(Ud)과 세선편(Ue)의 사이 및 세선편(Ue)과 세선편(Uf)의 사이에, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 동일한 재료가 없는 슬릿인 분할부(TDDS)를 갖는다. 이로 인해, 분할부(TDDS)는, 세선편(Ud)과 세선편(Ue)의 전기적인 도통 및 세선편(Ue)과 세선편(Uf)의 전기적인 도통을 방해하여, 터치 검출 전극과의 용량차를 발생시킨다. 이로 인해, 터치 검출시, 손가락이 터치 검출 전극(TDL)과 더미 전극(TDD)의 양쪽에 근접한 경우에도, 더미 전극(TDD)이, 도 6에서 나타낸 절대값(|ΔV|)에 끼치는 영향을 작게 할 수 있다. 이와 같이, 더미 전극(TDD)은, 분할부(TDDS)를 포함함으로써, 터치 검출 전극(TDL)에 대해 정전 용량의 차가 발생하기 때문에, 터치 검출의 정밀도에 대한 영향을 작게 할 수 있다.

[작용 효과]

화소(Pix)는, 상기한 바와 같이 주사선(GCL)에 평행한 방향 및 신호선(SGL)에 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치되어 있다. 주사선(GCL) 및 신호선(SGL)이 블랙 매트릭스로 덮여 있는 경우에는, 블랙 매트릭스가 광의 투과를 억제한다. 주사선(GCL) 및 신호선(SGL)이 블랙 매트릭스로 덮여 있지 않은 경우에는, 주사선(GCL) 및 신호선(SGL)이 광의 투과를 억제한다. 실시 형태 1에서 주사선(GCL)에 평행한 방향을 따른 복수의 직선 형상의 모양이며, 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역(Ad) 위에 나타나기 쉬워진다. 또한, 신호선(SGL)에 평행한 방향을 따른 복수의 직선에 의해 주기성을 갖는 모양이, 표시 영역(Ad) 위에 나타나기 쉬워진다. 이로 인해, 표시 영역(Ad)의 표면에 대해 수직인 방향으로, 터치 검출 전극(TDL)을 겹친 경우, 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양과 터치 검출 전극(TDL)이 간섭하여 명암 모양을 형성함으로써, 무아레가 시인될 가능성이 있다.

실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 인접하는 도전성 세선(ML1) 및 도전성 세선(ML2)의 형상이 상이하고, 인접하는 도전성 세선(ML3) 및 도전성 세선(ML4)의 형상이 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML1)과 도전성 세선(ML2)을 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 조합한 형상과, 도전성 세선(ML3)과 도전성 세선(ML4)을 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 조합한 형상이 상이한 형상이다. 이로 인해, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 각 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)에 있어서, 굴곡부(TDC1) 또는 굴곡부(TDC4)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 당해 굴곡부의 다음의 굴곡부(TDC2 또는 TDC3)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

[실시 형태 1의 변형예 1]

도 14는, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에, 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되는 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)을 포함한다. 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)은, 굴곡부에서 접히는 지그재그 선 또는 파선이다. 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)은, 서로 다른 형상이다. 각 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 복수의 세선편으로 구성된다. 또한, 실시 형태 1의 변형예 1은, 설명을 위해 더미 전극(TDD)의 기재는 하지 않지만, 더미 전극(TDD)이 있어도 된다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명은 생략한다.

도전성 세선(ML5)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC51)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ51)이다. 굴곡부(TDC51)의 다음의 굴곡부(TDC52)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ52)이다. 굴곡부(TDC52)의 다음의 굴곡부(TDC53)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ53)이다. 도전성 세선(ML5)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ51), 각도(θ52) 및 각도(θ53)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML6)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC61)에서 인접하는 세선편의 이루는 각도는, 각도(θ61)이다. 굴곡부(TDC61)의 다음의 굴곡부(TDC62)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ62)이다. 굴곡부(TDC62)의 다음의 굴곡부(TDC63)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ63)이다. 도전성 세선(ML6)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ61), 각도(θ62) 및 각도(θ63)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML7)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC71)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ71)이다. 굴곡부(TDC71)의 다음의 굴곡부(TDC72)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ72)이다. 굴곡부(TDC72)의 다음의 굴곡부(TDC73)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ73)이다. 도전성 세선(ML7)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ71), 각도(θ72) 및 각도(θ73)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML8)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC81)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ81)이다. 굴곡부(TDC81)의 다음의 굴곡부(TDC82)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ82)이다. 굴곡부(TDC82)의 다음의 굴곡부(TDC83)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ83)이다. 도전성 세선(ML8)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ81), 각도(θ82) 및 각도(θ83)은 서로 상이하다.

또한, 각도(θ51)와 각도(θ52)의 차 및 각도(θ52)와 각도(θ53)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ61)와 각도(θ62)의 차 및 각도(θ62)와 각도(θ63)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ71)와 각도(θ72)의 차 및 각도(θ72)와 각도(θ73)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ81)와 각도(θ82)의 차 및 각도(θ82)와 각도(θ83)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다.

[작용 효과]

실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)의 형상이 서로 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도가 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 각 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)에 있어서, 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도가 모두 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 예를 들어 각도(θ51)와 각도(θ52)의 차 및 각도(θ52)와 각도(θ53)의 차가 0도 이상 또한 15도 이하인 경우, 표시 영역(Ad)에서의 휘도의 균일성은 유지되기 쉬워진다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 표시 영역(Ad) 위의 소위 거끌거림이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

[실시 형태 1의 변형예 2]

도 15는, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에, 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 연장되는 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)을 포함한다. 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은, 굴곡부에서 접히는 지그재그 선 또는 파선이다. 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은, 방향(Da)에서의 굴곡부의 위치가 정렬되면서, 서로 다른 형상이다. 각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 복수의 세선편으로 구성된다. 또한, 실시 형태 1의 변형예 2는, 설명을 위해 더미 전극(TDD)의 기재는 하지 않지만, 더미 전극(TDD)이 있어도 된다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명은 생략한다.

도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)의 형상은, 가상 도전성 세선(MLv)을 기준으로 한다. 가상 도전성 세선(MLv)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에서 방향(Da)으로 연장된다고 가정한 가상의 도전성 세선이다. 이하에서는 설명을 위해, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에 xy 좌표를 가정한다. 당해 xy 좌표의 y 방향은, 방향(Da)과 평행하다. 당해 xy 좌표의 x 방향은 방향(Da)에 대하여 직교 방향이다.

가상 도전성 세선(MLv)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편으로 구성된다. 가상 도전성 세선(MLv)에서의 굴곡부끼리의 x 방향의 어긋남은 일정하며, 길이(Px)이다. 가상 도전성 세선(MLv)에서의 굴곡부끼리의 y 방향의 어긋남은, 서로 다른 길이인 길이(Py1 및 Py2)를 적어도 포함한다. 예를 들어, 가상 도전성 세선(MLv)는, 굴곡부(TDCv1), 굴곡부(TDCv2) 및 굴곡부(TDCv3)를 포함한다. 굴곡부(TDCv2)는, 굴곡부(TDCv1)의 다음의 굴곡부이다. 굴곡부(TDCv3)는, 굴곡부(TDCv2)의 다음의 굴곡부이다. 굴곡부(TDCv1)와 굴곡부(TDCv2)의 y 방향의 어긋남은, 길이(Py1)이다. 굴곡부(TDCv2)와 굴곡부(TDCv3)의 y 방향의 어긋남은, 길이(Py2)이다.

또한, 굴곡부(TDCv1)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θv1)이다. 굴곡부(TDCv1)의 다음의 굴곡부(TDCv2)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θv2)이다. 굴곡부(TDCv2)의 다음의 굴곡부(TDCv3)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θv3)이다. 가상 도전성 세선(MLv)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θv1), 각도(θv2) 및 각도(θv3)는 서로 상이하다.

각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)이 갖는 세선편의 수는, 가상 도전성 세선(MLv)이 갖는 세선편의 수와 동일하다. 즉, 각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)이 갖는 굴곡부의 수는, 가상 도전성 세선(MLv)이 갖는 굴곡부의 수와 동일하다. 또한, 각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)에 있어서, 굴곡부의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부의 y 방향의 위치와 동일하다.

도전성 세선(MLa)의 굴곡부(TDCa1)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv1)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCa1)의 다음에 있는 굴곡부(TDCa2)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv2)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCa2)의 다음에 있는 굴곡부(TDCa3)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv3)의 y 방향의 위치와 동일하다. 또한, 도전성 세선(MLa)에 있어서, x 방향에서 가장 이격된 굴곡부끼리의 x 방향의 어긋남은, 길이(Pxa) 이하이다.

또한, 굴곡부(TDCa1)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θa1)이다. 굴곡부(TDCa1)의 다음의 굴곡부(TDCa2)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θa2)이다. 굴곡부(TDCa2)의 다음의 굴곡부(TDCa3)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θa3)이다. 도전성 세선(MLa)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θa1), 각도(θa2) 및 각도(θa3)는 서로 상이하다.

도전성 세선(MLb)의 굴곡부(TDCb1)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv1)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCb1)의 다음에 있는 굴곡부(TDCb2)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv2)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCb2)의 다음에 있는 굴곡부(TDCb3)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv3)의 y 방향의 위치와 동일하다. 또한, 도전성 세선(MLb)에 있어서, x 방향에서 가장 이격된 굴곡부끼리의 x 방향의 어긋남은, 길이(Pxb) 이하이다.

또한, 굴곡부(TDCb1)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θb1)이다. 굴곡부(TDCb1)의 다음의 굴곡부(TDCb2)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θb2)이다. 굴곡부(TDCb2)의 다음의 굴곡부(TDCb3)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θb3)이다. 도전성 세선(MLb)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θb1), 각도(θb2) 및 각도(θb3)는 서로 상이하다.

도전성 세선(MLc)의 굴곡부(TDCc1)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv1)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCc1)의 다음에 있는 굴곡부(TDCc2)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv2)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCc2)의 다음에 있는 굴곡부(TDCc3)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv3)의 y 방향의 위치와 동일하다. 또한, 도전성 세선(MLc)에 있어서, x 방향에서 가장 이격된 굴곡부끼리의 x 방향의 어긋남은, 길이(Pxc) 이하이다.

또한, 굴곡부(TDCc1)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θc1)이다. 굴곡부(TDCc1)의 다음의 굴곡부(TDCc2)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θc2)이다. 굴곡부(TDCc2)의 다음의 굴곡부(TDCc3)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θc3)이다. 도전성 세선(MLc)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θc1), 각도(θc2) 및 각도(θc3)는 서로 상이하다.

도전성 세선(MLd)의 굴곡부(TDCd1)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv1)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCd1)의 다음에 있는 굴곡부(TDCd2)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv2)의 y 방향의 위치와 동일하다. 굴곡부(TDCd2)의 다음에 있는 굴곡부(TDCd3)의 y 방향의 위치는, 가상 도전성 세선(MLv)의 굴곡부(TDCv3)의 y 방향의 위치와 동일하다. 또한, 도전성 세선(MLd)에 있어서, x 방향에서 가장 이격된 굴곡부끼리의 x 방향의 어긋남은, 길이(Pxd) 이하이다.

또한, 굴곡부(TDCd1)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θd1)이다. 굴곡부(TDCd1)의 다음의 굴곡부(TDCd2)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θd2)이다. 굴곡부(TDCd2)의 다음의 굴곡부(TDCd3)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θd3)이다. 도전성 세선(MLd)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θd1), 각도(θd2) 및 각도(θd3)는 서로 상이하다.

또한, 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)는, 40㎛ 이상 또한 300㎛ 이하인 것이 바람직하다. 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)가 300㎛ 이하이면, 터치 검출 전극(TDL)은, 육안으로 시인되기 어려워지는 동시에, 표시 영역(Ad) 중 블랙 매트릭스 또는 주사선(GCL) 및 신호선(SGL)으로 광의 투과가 억제되지 않는 개구부를 덮는 면적이 작아져, 개구율을 손상시킬 가능성이 낮아지기 때문이다. 또한, 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)가 40㎛ 이상이면, 예를 들어 각도(θa1, θb1, θc1, θd1)의 크기의 선택의 폭이 넓어지기 때문이다.

또한, 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)는, 200㎛ 이하인 것이 바람직하다. 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)가 200㎛ 이하이면, 터치 검출 전극(TDL)은, 300㎛인 경우와 비교하여 더욱 육안으로 시인되기 어려워지는 동시에, 시인에 지장이 생길 정도에 개구율의 손실을 작게 할 수 있기 때문이다.

또한, 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)는, 100㎛ 이하인 것이 바람직하다. 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)가 100㎛ 이하이면, 터치 검출 전극(TDL)은, 200㎛인 경우와 비교하여 더욱 육안으로 시인되기 어려워지는 동시에, 시인에 지장이 생길 정도로 개구율의 손실을 작게 할 수 있기 때문이다.

또한, 각도(θv1), 각도(θv2), 각도(θv3) 중 적어도 1개가 서로 다른 가상 도전성 세선이 복수 있어도 된다. 가상 도전성 세선(MLv)이 복수인 경우, 예를 들어 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)의 형상은, 각도(θv1), 각도(θv2), 각도(θv3) 중 적어도 1개가 서로 다른 가상 도전성 세선을 각각 기준으로 한다. 이 경우, 각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)의 굴곡부의 y 방향의 위치가 어긋나기 때문에, 터치 검출 전극(TDL)의 배치는, 실시 형태 1의 변형예 1의 도전성 세선(ML5, ML6, ML7, ML8)과 마찬가지의 배치로 할 수도 있다.

[작용 효과]

실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은 서로 다른 형상이다. 이로 인해, 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도가 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 각 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)에 있어서, 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도가 모두 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 복수의 도전성 세선(MLa, MLb, MLc, MLd)은, 굴곡부의 y 방향의 위치가 정렬되어 있다. 이로 인해, 표시 영역(Ad)에서의 휘도의 균일성은 유지되기 쉬워진다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 표시 영역(Ad) 위의 소위 거끌거림이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 길이(Px, Pxa, Pxb, Pxc, Pxd)가, 40㎛ 이상 300㎛ 이하일 때, 표시 영역(Ad)에서의 휘도의 균일성은, 더욱 유지되기 쉬워진다. 따라서, 실시 형태 1의 변형예 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 표시 영역(Ad) 위의 소위 거끌거림이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

[실시 형태 1의 변형예 3]

도 16은, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 연장되는 방향이 화소(Pix)의 배열에 의해 규정되는, 도 13에 나타낸 터치 검출 전극(TDL)이다. 구체적으로는, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 연장되는 방향은, 도 16에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도로 규정된다. 또한, 터치 검출 전극(TDL)이 연장되는 방향(Da)은, 도 16에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)과 평행하다.

도 16에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)과 화소 직교 방향(Dx)에 대하여 설명한다. 상술한 바와 같이, 표시 영역(Ad)은, 각 부화소(SPix)에 색 영역(32R, 32G, 32B)이 대응지어져, 색 영역(32R, 32G, 32B)을 1 조합으로 한 화소(Pix)를 복수 포함한다. 복수의 화소(Pix)는, 주사선(GCL)에 평행한 방향 및 신호선(SGL)에 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치된다. 또한, 화소(Pix)는, 색 영역(32R, 32G, 32B)이 각각 주사선(GCL)을 사이에 두고 인접하게 배치한다.

화소 배열 방향(Dy)은, 인간의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열하는 방향이다. 화소 직교 방향(Dx)은, 대향 기판(3)의 표면과 평행한 평면 위에서 화소 배열 방향(Dy)에 대해 직교하는 방향이다. R(적색), G(녹색), B(청색)의 3색 중에서는, 인간의 시감도가 가장 높은 색은 G(녹색)이다. 도 16에서, 색 영역(32G)이 배열하는 것은 신호선(SGL)과 평행한 방향이기 때문에, 실시 형태 1의 변형예 3에서의 화소 배열 방향(Dy)은 신호선(SGL)과 평행한 방향이 된다.

예로서, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)와 제2 단부(Ub2)의 상대적인 위치 관계의 설명을 위해, 도 16에서, 주사선(GCL)과 신호선(SGL)의 교차부 중에서 임의의 점을 원점(P00)으로 하고, 원점(P00)의 좌표를 (0, 0)으로 하는 xy 좌표를 정의한다. 화소 직교 방향(Dx)과 평행한 방향으로 x축을 설정하고, 화소 배열 방향(Dy)과 평행한 방향으로 y축을 설정한다. x 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이를 x 방향의 단위 길이로 하고, y 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이를 y 방향의 단위 길이로 한다. x 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이는, 제1 단위 길이(Lx1)이며, y 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이는, 제2 단위 길이(Ly1)이다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 제1 단위 길이(Lx1)와 제2 단위 길이(Ly1)의 비는, 1:1이다.

예를 들어, 원점(P00)으로부터 x 방향으로 제1 단위 길이(Lx1) 진행하고, 또한 y 방향으로 제2 단위 길이(Ly1) 진행한 점의 좌표는 (1, 1)이 된다. 이 xy 좌표에서, 점(P01)은, 좌표가 (0, 1)인 점이다. 점(P15)은, 좌표가 (1, 5)인 점이다. 점(P14)은, 좌표가 (1, 4)인 점이다. 점(P13)은, 좌표가 (1, 3)인 점이다. 점(P12)은, 좌표가 (1, 2)인 점이다. 점(P35)은, 좌표가 (3, 5)인 점이다. 점(P23)은, 좌표가 (2, 3)인 점이다. 점(P34)은, 좌표가 (3, 4)인 점이다. 점(P45)은, 좌표가 (4, 5)인 점이다. 점(P56)은, 좌표가 (5, 6)인 점이다. 점(P11)은, 좌표가 (1, 1)인 점이다. 점(P65)은, 좌표가 (6, 5)인 점이다. 점(P54)은, 좌표가 (5, 4)인 점이다. 점(P43)은, 좌표가 (4, 3)인 점이다. 점(P32)은, 좌표가 (3, 2)인 점이다. 점(P53)은, 좌표가 (5, 3)인 점이다. 점(P21)은, 좌표가 (2, 1)인 점이다. 점(P31)은, 좌표가 (3, 1)인 점이다. 점(P41)은, 좌표가 (4, 1)인 점이다. 점(P51)은, 좌표가 (5, 1)인 점이다. 점(P10)은, 좌표가 (1, 0)인 점이다.

(화소 배열 방향(Dy)에 대한 각도에 관한 평가예)

여기서, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)를 점(P00)의 위치로 했을 때의, 제2 단부(Ub2)가 위치하는 방향을 변화시켜, 무아레의 시인에 대하여 평가를 행하였다. 이하, 평가 결과는, 도 17에 나타내는 평가예 1부터 21로서 설명한다.

(평가예 1)

평가예 1에 관한 도전성 세선은, 화소 배열 방향(Dy)에 평행한 세선편이, 화소 배열 방향(Dy)에 복수 이어져 있다.

(평가예 2)

평가예 2에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P15)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 3)

평가예 3에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P14)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 4)

평가예 4에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P13)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 5)

평가예 5에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P12)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 6)

평가예 6에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P35)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 7)

평가예 7에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P23)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 8)

평가예 8에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P34)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 9)

평가예 9에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P45)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 10)

평가예 10에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P56)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 11)

평가예 11에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P11)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 12)

평가예 12에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P65)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 13)

평가예 13에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P54)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 14)

평가예 14에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P43)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 15)

평가예 15에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P32)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 16)

평가예 16에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P53)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 17)

평가예 17에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P21)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 18)

평가예 18에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P31)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 19)

평가예 19에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P41)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 20)

평가예 20에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(P00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(P00)으로부터 목표 위치인 점(P51)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 21)

평가예 21에 관한 도전성 세선은, 화소 직교 방향(Dx)에 평행한 세선편이, 화소 직교 방향(Dx)에 복수 이어져 있다.

[평가]

무아레 평가는, 평가예 1 내지 평가예 21에 대응하는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 표시 화상을, 육안으로 본 경우의 무아레의 모습을 4단계로 평가하고 있다. 이 4단계의 무아레 평가 기준은 이하와 같다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 표면과 인간의 눈과의 거리가 30cm 미만에서도 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 A로 나타낸다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 30cm 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 B로 나타낸다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 60cm 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 C로 나타낸다. 그리고, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 60cm 이상이어도 무아레를 시인할 수 있는 경우를, 문자 D로 나타낸다.

평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이, 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 27도보다 크고 또한 45도 미만에 있는 각도 또는 45도보다 크고 또한 63도 미만에 있는 각도를 이룬다는 제1 조건을 만족하고 있다. 그리고, 제1 조건을 만족하는, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 도전성 세선은, 도 17에 도시한 바와 같이, 평가예 6 내지 10 및 평가예 12 내지 16의, 무아레 평가가 A, B 및 C이며, 무아레의 시인이 억제되어 있다.

[작용 효과]

실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이, 제1 조건을 만족하는 세선편(Ub)을 포함함으로써, 명암 모양의 주기가, 인간이 시인할 수 없을 정도로 짧아지기 쉬워진다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 세선편(Ub)은, 화소 직교 방향(Dx) 및 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 각도를 갖고 연장되어 있다. 제1 조건을 만족하면, 당해 각도가 일정한 크기 이상이 되기 때문에, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이, 제1 조건을 만족하는 세선편(Ub)을 포함함으로써, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 제1 조건을 만족시키는 경우, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 세선편(Ub)이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 당해 각도의 정접값은, 제1 단위 길이(Lx1)의 값을 제2 단위 길이(Ly1)의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 제1 단위 길이(Lx1)의 2배의 값을 제2 단위 길이(Ly1)의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있으며, 또한 제1 단위 길이(Lx1)의 값을 제2 단위 길이(Ly1)의 값으로 나눈 값과는 상이하다. 이로 인해, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 직교 방향(Dx) 및 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도는, 일정한 크기 이상이 되어, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

[실시 형태 1의 변형예 4]

도 18은, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 세선편의 제1 단부와 제2 단부의 상대적인 위치 관계를 설명하는 모식도이다. 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 연장되는 방향이 화소(Pix)의 배열에 의해 규정되는, 도 13에 나타낸 터치 검출 전극(TDL)이다. 구체적으로는, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 연장되는 방향은, 도 18에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도로 규정된다. 또한, 터치 검출 전극(TDL)이 연장되는 방향(Da)은, 도 18에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)과 동일하다.

도 18에 나타내는 화소 배열 방향(Dy)과 화소 직교 방향(Dx)에 대하여 설명한다. 상술한 바와 같이, 표시 영역(Ad)은, 각 부화소(SPix)에 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)이 대응지어져, 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)을 1 조합으로 한 화소(Pix)를 복수 포함한다. 복수의 화소(Pix)는, 주사선(GCL)에 평행한 방향 및 신호선(SGL)에 평행한 방향을 따라서 행렬 형상으로 배치된다. 또한, 화소(Pix)는, 색 영역(32R, 32G, 32B, 32W)이 각각 주사선(GCL)을 사이에 두고 인접하게 배치한다.

화소 배열 방향(Dy)은, 인간의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열하는 방향이다. R(적색), G(녹색), B(청색), W(백색)의 4색 중에서는, 인간의 시감도가 가장 높은 색은 W(백색)이다. 도 18에서, 색 영역(32W)이 배열하는 것은 신호선(SGL)과 평행한 방향이기 때문에, 화소 배열 방향(Dy)은 신호선(SGL)과 평행한 방향이 된다.

예로서, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)와 제2 단부(Ub2)의 상대적인 위치 관계의 설명을 위해, 도 18에서, 주사선(GCL)과 신호선(SGL)의 교차부 중에서 임의의 점을 원점(Q00)으로 하고, 원점(Q00)의 좌표를 (0, 0)으로 하는 xy 좌표를 정의한다. 화소 직교 방향(Dx)과 평행한 방향으로 x축을 설정하고, 화소 배열 방향(Dy)과 평행한 방향으로 y축을 설정한다. x 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이를 x 방향의 단위 길이로 하고, y 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이를 y 방향의 단위 길이로 한다. x 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이는, 제1 단위 길이(Lx2)이며, y 방향의 화소(Pix) 1개분의 최대 길이는, 제2 단위 길이(Ly2)이다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 제1 단위 길이(Lx2)와 제2 단위 길이(Ly2)의 비는, 4:3이다.

예를 들어, 원점(Q00)으로부터 x 방향으로 제1 단위 길이(Lx2) 진행하고, 또한 y 방향으로 제2 단위 길이(Ly2) 진행한 점의 좌표는 (1, 1)이 된다. 이 xy 좌표에서, 점(Q01)은, 좌표가 (0, 1)인 점이다. 점(Q15)은, 좌표가 (1, 5)인 점이다. 점(Q14)은, 좌표가 (1, 4)인 점이다. 점(Q13)은, 좌표가 (1, 3)인 점이다. 점(Q12)은, 좌표가 (1, 2)인 점이다. 점(Q35)은, 좌표가 (3, 5)인 점이다. 점(Q23)은, 좌표가 (2, 3)인 점이다. 점(Q34)은, 좌표가 (3, 4)인 점이다. 점(Q45)은, 좌표가 (4, 5)인 점이다. 점(Q56)은, 좌표가 (5, 6)인 점이다. 점(Q11)은, 좌표가 (1, 1)인 점이다. 점(Q65)은, 좌표가 (6, 5)인 점이다. 점(Q54)은, 좌표가 (5, 4)인 점이다. 점(Q43)은, 좌표가 (4, 3)인 점이다. 점(Q32)은, 좌표가 (3, 2)인 점이다. 점(Q53)은, 좌표가 (5, 3)인 점이다. 점(Q21)은, 좌표가 (2, 1)인 점이다. 점(Q31)은, 좌표가 (3, 1)인 점이다. 점(Q41)은, 좌표가 (4, 1)인 점이다. 점(Q51)은, 좌표가 (5, 1)인 점이다. 점(Q10)은, 좌표가 (1, 0)인 점이다.

(화소 배열 방향(Dy)에 대한 각도에 관한 평가예)

여기서, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)를 점(Q00)의 위치로 했을 때의, 제2 단부(Ub2)가 위치하는 방향을 변화시켜, 무아레의 시인에 대하여 평가를 행하였다. 이하, 평가 결과는, 도 19에 나타내는 평가예 22부터 42로서 설명한다.

(평가예 22)

평가예 22에 관한 도전성 세선은, 화소 배열 방향(Dy)에 평행한 세선편이, 화소 배열 방향(Dy)으로 복수 이어져 있다.

(평가예 23)

평가예 23에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q15)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 24)

평가예 24에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q14)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 25)

평가예 25에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q13)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 26)

평가예 26에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q12)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 27)

평가예 27에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q35)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 28)

평가예 28에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q23)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 29)

평가예 29에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q34)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 30)

평가예 30에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q45)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 31)

평가예 31에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q56)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 32)

평가예 32에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q11)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 33)

평가예 33에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q65)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 34)

평가예 34에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q54)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 35)

평가예 35에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q43)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 36)

평가예 36에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q32)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 37)

평가예 37에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q53)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 38)

평가예 38에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q21)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 39)

평가예 39에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q31)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 40)

평가예 40에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q41)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 41)

평가예 41에 관한 도전성 세선은, 세선편(Ua)과 세선편(Ub)이 교대로 이어져 있다. 세선편(Ub)은, 세선편(Ub)의 제1 단부(Ub1)가 점(Q00)에 있을 때, 제2 단부(Ub2)는 점(Q00)으로부터 목표 위치인 점(Q51)을 향하는 방향에 있도록 배치된다. 세선편(Ua)은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향과 상이한 방향으로 연장된다. 또한, 세선편(Ua)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기와, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도의 크기는 동등하다.

(평가예 42)

평가예 42에 관한 도전성 세선은, 화소 직교 방향(Dx)에 평행한 세선편이, 화소 직교 방향(Dx)으로 복수 이어져 있다.

[평가]

무아레 평가는, 평가예 22 내지 평가예 42에 대응하는 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 표시 화상을, 육안으로 본 경우의 무아레의 모습을 4단계로 평가하고 있다. 이 4단계의 무아레 평가 기준은 이하와 같다. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 표면과 인간의 눈과의 거리가 30cm 미만에서도 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 A로 나타낸다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 30cm 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 B로 나타낸다. 또한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 60cm 이상이면 무아레를 시인할 수 없는 경우를, 문자 C로 나타낸다. 그리고, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)와 인간의 눈과의 거리가 60cm 이상이어도 무아레를 시인할 수 있는 경우를, 문자 D로 나타낸다.

평가예 27 내지 31 및 평가예 33 내지 37은, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이, 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 34도보다 크고 또한 53도 미만에 있는 각도 또는 54도보다 크고 또한 69도 미만에 있는 각도를 이룬다는 제2 조건을 만족하고 있다. 그리고, 제2 조건을 만족하는, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 도전성 세선은, 도 19에 도시한 바와 같이 평가예 27 내지 31 및 평가예 33 내지 37의, 무아레 평가가 A, B 및 C이며, 무아레의 시인이 억제되어 있다.

[작용 효과]

실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이, 제2 조건을 만족하는 세선편(Ub)을 포함함으로써, 명암 모양의 주기가, 인간이 시인할 수 없을 정도로 짧아지기 쉬워진다. 예를 들어, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 세선편(Ub)은, 화소 직교 방향(Dx) 및 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 각도를 갖고 연장되어 있다. 제2 조건을 만족하면, 당해 각도가 일정한 크기 이상이 되기 때문에, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML1, ML2, ML3, ML4)이, 제2 조건을 만족하는 세선편(Ub)을 포함함으로써, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다. 또한, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 제2 조건을 만족시키는 경우, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 세선편(Ub)이 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 당해 각도의 정접값은, 제1 단위 길이(Lx2)의 값을 제2 단위 길이(Ly2)의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 제1 단위 길이(Lx2)의 2배의 값을 제2 단위 길이(Ly2)의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있으며, 또한 제1 단위 길이(Lx2)의 값을 제2 단위 길이(Ly2)의 값으로 나눈 값과는 상이하다. 이로 인해, 세선편(Ub)이 연장되는 방향이 화소 직교 방향(Dx) 및 화소 배열 방향(Dy)에 대하여 이루는 각도는, 일정한 크기 이상이 되어, 명암 모양의 주기가 짧아지기 쉽다. 그 결과, 실시 형태 1의 변형예 4에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

<1-2. 실시 형태 2>

이어서, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)에 대하여 설명한다. 도 20은, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)의 배치를 나타내는 모식도이다. 또한, 상술한 실시 형태 1에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명은 생략한다.

도 20에 도시한 바와 같이, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에, 전체를 위에서 내려다 보면, 방향(Da)으로 연장되는 복수의 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)을 포함한다. 각 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)은, 굴곡부(TDC1, TDC2, TDC3, TDC4)에서 접히는 지그재그 선 또는 파선이다. 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선(ML9) 및 도전성 세선(ML10)은, 도전성 세선(ML9)의 단부(ML9e) 및 도전성 세선(ML10)의 단부(ML10e)에서 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선(ML9) 및 도전성 세선(ML10)은, 굴곡부끼리 접하도록 배치되고, 검출 영역(TDA)에 속한다. 도전성 세선(ML9) 및 도전성 세선(ML10)은, 당해 접하는 부분인 교차부(TDX)에서 접속되어 도통하고 있다. 또한, 도전성 세선(ML11) 및 도전성 세선(ML12)은, 도전성 세선(ML11)의 단부(ML11e) 및 도전성 세선(ML12)의 단부(ML12e)에서 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 접속되어 도통하고 있다. 도전성 세선(ML11) 및 도전성 세선(ML12)은, 굴곡부끼리 접하게 배치되고, 검출 영역(TDA)에 속한다. 도전성 세선(ML11) 및 도전성 세선(ML12)은, 당해 접하는 부분인 교차부(TDX)에서 접속되어 도통하고 있다.

도전성 세선(ML9)은, 실시 형태 1에서 나타낸 도전성 세선(ML1)에 대응한다. 도전성 세선(ML10)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML10)은, 단부(ML10e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Uc), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua)의 순서대로 접속되어 있다. 또한, 도전성 세선(ML10)은, 굴곡부의 위치가 도전성 세선(ML9)의 굴곡부의 위치와 1개 간격으로 동일하다. 도전성 세선(ML10)은, 굴곡부(TDC3)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)와, 굴곡부(TDC3)의 다음의 굴곡부(TDC4)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)가 상이하다.

도전성 세선(ML11)은, 실시 형태 1에서 나타낸 도전성 세선(ML2)에 대응한다. 도전성 세선(ML12)은, 세선편(Ua), 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)을 포함한다. 도전성 세선(ML12)은, 단부(ML12e)로부터 방향(Da)을 향해 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Ua), 세선편(Ub), 세선편(Uc), 세선편(Ub), 세선편(Ua)의 순서대로 접속되어 있다. 또한, 도전성 세선(ML12)은, 굴곡부의 위치가 도전성 세선(ML11)의 굴곡부의 위치와 1개 간격으로 동일하다. 도전성 세선(ML12)은, 굴곡부(TDC1)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 굴곡부(TDC1)의 다음의 굴곡부(TDC2)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다.

또한, 도전성 세선(ML9)과 도전성 세선(ML10)은, 굴곡부끼리 접속되어 있지 않아도 된다. 또한, 도전성 세선(ML11)과 도전성 세선(ML12)은, 굴곡부끼리 접속되어 있지 않아도 된다. 예를 들어, 도전성 세선(ML9)에서의 세선편(Ua)의 중간부와, 도전성 세선(ML10)에서의 세선편(Ub)의 중간부에서 접속되어 도통하고 있어도 된다.

[작용 효과]

실시 형태 2에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 인접하는 도전성 세선(ML9) 및 도전성 세선(ML10)의 형상이 상이하고, 인접하는 도전성 세선(ML11) 및 도전성 세선(ML12)의 형상이 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML9)과 도전성 세선(ML10)을 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 조합한 형상과, 도전성 세선(ML11)과 도전성 세선(ML12)을 제1 도통부(TDB1)를 개재하여 조합한 형상이 서로 다른 형상이다. 이로 인해, 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 각 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)에 있어서, 굴곡부(TDC1) 또는 굴곡부(TDC4)에서 인접하는 세선편(Ua) 및 세선편(Ub)이 이루는 각도(θ1)와, 당해 굴곡부의 다음의 굴곡부(TDC2 또는 TDC3)에서 인접하는 세선편(Ub) 및 세선편(Uc)이 이루는 각도(θ2)가 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML9, ML10, ML11, ML12)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 검출 영역(TDA)에 포함되는 도전성 세선의 일부가 가늘어져 도통이 불확실해도, 교차부(TDX)에서 다른 도전성 세선에 접속되어 있기 때문에, 터치 검출의 확률을 높일 수 있다. 예를 들어, 실시 형태 2에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML9)의 일부가 가늘어져 도통이 불확실해도, 교차부(TDX)에서 도전성 세선(ML10)에 접속되어 있기 때문에, 터치 검출의 확률을 높일 수 있다.

[실시 형태 2의 변형예 1]

도 21은, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)의 배치의 일부를 나타내는 모식도이다. 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 대향 기판(3)과 평행한 평면 위에, 굴곡부끼리 접하는 부분을 갖도록 연장되는 복수의 도전성 세선(ML13 내지 ML18)을 포함한다. 도전성 세선(ML13 내지 ML18)은, 굴곡부에서 접히는 지그재그 선 또는 파선이다. 도전성 세선(ML13 내지 ML18)은, 동일한 재료로 형성된다. 도전성 세선(ML13 내지 ML18)은, 서로 다른 형상이다. 각 도전성 세선(ML13 내지 ML18)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 복수의 세선편으로 구성된다. 또한, 실시 형태 2의 변형예 1은, 설명을 위해 더미 전극(TDD)의 기재는 하지 않지만, 더미 전극(TDD)이 있어도 된다. 또한, 상술한 실시 형태 1 및 실시 형태 2에서 설명한 것과 동일한 구성 요소에는 동일한 부호를 부여하여 중복하는 설명은 생략한다.

도전성 세선(ML13)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC131)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ131)이다. 굴곡부(TDC131)의 다음의 굴곡부(TDC132)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ132)이다. 굴곡부(TDC132)의 다음의 굴곡부(TDC133)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ133)이다. 도전성 세선(ML13)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ131), 각도(θ132) 및 각도(θ133)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML14)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC141)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ141)이다. 굴곡부(TDC141)의 다음의 굴곡부(TDC142)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ142)이다. 굴곡부(TDC142)의 다음의 굴곡부(TDC143)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ143)이다. 도전성 세선(ML14)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ141), 각도(θ142) 및 각도(θ143)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML15)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC151)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ151)이다. 굴곡부(TDC151)의 다음의 굴곡부(TDC152)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ152)이다. 굴곡부(TDC152)의 다음의 굴곡부(TDC153)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ153)이다. 도전성 세선(ML15)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ151), 각도(θ152) 및 각도(θ153)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML16)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC161)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ161)이다. 굴곡부(TDC161)의 다음의 굴곡부(TDC162)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ162)이다. 굴곡부(TDC162)의 다음의 굴곡부(TDC163)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ163)이다. 도전성 세선(ML16)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ161), 각도(θ162) 및 각도(θ163)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML17)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC171)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ171)이다. 굴곡부(TDC171)의 다음의 굴곡부(TDC172)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ172)이다. 굴곡부(TDC172)의 다음의 굴곡부(TDC173)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ173)이다. 도전성 세선(ML17)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ171), 각도(θ172) 및 각도(θ173)는 서로 상이하다.

도전성 세선(ML18)의 일부에 대하여 설명한다. 굴곡부(TDC181)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ181)이다. 굴곡부(TDC181)의 다음의 굴곡부(TDC182)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ182)이다. 굴곡부(TDC182)의 다음의 굴곡부(TDC183)에서 인접하는 세선편이 이루는 각도는, 각도(θ183)이다. 도전성 세선(ML18)은, 서로 다른 방향으로 연장되는 세선편만으로 구성되기 때문에, 각도(θ181), 각도(θ182) 및 각도(θ183)는 서로 상이하다.

또한, 각도(θ131)와 각도(θ132)의 차 및 각도(θ132)와 각도(θ133)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ141)와 각도(θ142)의 차 및 각도(θ142)와 각도(θ143)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ151)와 각도(θ152)의 차 및 각도(θ152)와 각도(θ153)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ161)와 각도(θ162)의 차 및 각도(θ162)와 각도(θ163)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ171)와 각도(θ172)의 차 및 각도(θ172)와 각도(θ173)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다. 각도(θ181)와 각도(θ182)의 차 및 각도(θ182)와 각도(θ183)의 차는, 0도 이상 또한 15도 이하인 것이 바람직하다.

[작용 효과]

실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 도전성 세선(ML13 내지 ML18)의 형상이 서로 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML13 내지 ML18)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도가 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 각 도전성 세선(ML13 내지 ML18)에 있어서, 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도가 모두 상이하다. 이로 인해, 도전성 세선(ML13 내지 ML18)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도는, 장소에 따라 상이하다. 따라서, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

이로부터, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 터치 검출 전극(TDL)의 도전성 세선(ML13 내지 ML18)과 상기의 표시 영역(Ad) 위에 나타나는 모양이 이루는 각도가 장소에 따라 상이하다. 따라서, 상기의 명암 모양이 일정한 주기를 갖기 어려워져, 무아레가 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 예를 들어 각도(θ131)와 각도(θ132)의 차 및 각도(θ132)와 각도(θ133)의 차가 0도 이상 또한 15도 이하인 경우, 표시 영역(Ad)에서의 휘도의 균일성은 유지되기 쉬워진다. 따라서, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 전극(TDL)은, 표시 영역(Ad) 위의 소위 거끌거림이 시인될 가능성을 저감할 수 있다.

또한, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 가령 도전성 세선(ML13 내지 ML18) 중 어느 하나의 도전성 세선의 일부가 가늘어져 도통이 불확실해도, 교차부(TDX)에서 다른 도전성 세선에 접속되어 있기 때문에, 터치 검출의 확률을 높일 수 있다. 예를 들어, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 검출 영역(TDA)에 포함되는 도전성 세선의 일부가 가늘어져 도통이 불확실해도, 교차부(TDX)에서 다른 도전성 세선에 접속되어 있기 때문에, 터치 검출의 확률을 높일 수 있다. 예를 들어, 실시 형태 2의 변형예 1에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, 도전성 세선(ML13)의 일부가 가늘어져 도통이 불확실해도, 교차부(TDX)에서 도전성 세선(ML14)에 접속되어 있기 때문에, 터치 검출의 확률을 높일 수 있다.

<1-3. 실시 형태 3>

도 22는, 실시 형태 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부의 개략 단면 구조를 도시하는 단면도이다. 상기의 실시 형태 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)는, FFS, IPS 등의 각종 모드의 액정을 사용한 액정 표시부(20)와 터치 검출 디바이스(30)를 일체화하여 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)로 할 수 있다. 그 대신에, 도 22에 나타내는 실시 형태 3에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시부(10)는, TN(Twisted Nematic: 트위스티드 네마틱) 모드, VA(Vertical Alignment: 수직 배향) 모드, ECB(Electrically Controlled Birefringence: 전계 제어 복굴절) 모드 등의 각종 모드의 액정과 터치 검출 디바이스를 일체화해도 된다.

<2. 적용예>

이어서, 도 23 내지 도 35를 참조하여, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에서 설명한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1)의 적용예에 대하여 설명한다. 도 23 내지 도 35는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치 또는 표시 장치를 적용하는 전자 기기의 일례를 나타내는 도이다. 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치는, 텔레비전 장치, 디지털 카메라, 노트북형 퍼스널 컴퓨터, 휴대 전화 등의 휴대 단말 장치 또는 비디오 카메라 등의 모든 분야의 전자 기기에 적용하는 것이 가능하다. 바꾸어 말하면, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치는, 외부로부터 입력된 영상 신호 또는 내부에서 생성한 영상 신호를, 화상 또는 영상으로서 표시하는 모든 분야의 전자 기기에 적용하는 것이 가능하다.

(적용예 1)

도 23에 나타내는 전자 기기는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치가 적용되는 텔레비전 장치이다. 이 텔레비전 장치는, 예를 들어 프론트 패널(511) 및 필터 유리(512)를 포함하는 영상 표시 화면부(510)를 갖고 있으며, 이 영상 표시 화면부(510)는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

(적용예 2)

도 24 및 도 25에 나타내는 전자 기기는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치가 적용되는 디지털 카메라이다. 이 디지털 카메라는, 예를 들어 플래시용의 발광부(521), 표시부(522), 메뉴 스위치(523) 및 셔터 버튼(524)을 갖고 있으며, 그 표시부(522)는 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

(적용예 3)

도 26에 나타내는 전자 기기는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치가 적용되는 비디오 카메라의 외관을 나타내는 것이다. 이 비디오 카메라는, 예를 들어 본체부(531), 이 본체부(531)의 전방측면에 설치된 피사체 촬영용의 렌즈(532), 촬영시의 스타트/스톱 스위치(533) 및 표시부(534)를 갖고 있다. 그리고, 표시부(534)는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

(적용예 4)

도 27에 나타내는 전자 기기는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치가 적용되는 노트북형 퍼스널 컴퓨터이다. 이 노트북형 퍼스널 컴퓨터는, 예를 들어 본체(541), 문자 등의 입력 조작을 위한 키보드(542) 및 화상을 표시하는 표시부(543)를 갖고 있으며, 표시부(543)는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

(적용예 5)

도 28 내지 도 35에 나타내는 전자 기기는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치가 적용되는 휴대 전화기이다. 이 휴대 전화기는, 예를 들어 상측 하우징(551)과 하측 하우징(552)을 연결부(힌지부)(553)에서 연결한 것이며, 디스플레이(554), 서브 디스플레이(555), 픽처 라이트(556) 및 카메라(557)를 갖고 있다. 그 디스플레이(554) 또는 서브 디스플레이(555)는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

(적용예 6)

도 35에 나타내는 전자 기기는, 휴대형 컴퓨터, 다기능의 휴대 전화, 음성 통화 가능한 휴대 컴퓨터 또는 통신 가능한 휴대 컴퓨터로서 동작하여, 소위 스마트폰, 태블릿 단말기라 불리기도 하는 정보 휴대 단말기이다. 이 정보 휴대 단말기는, 예를 들어 하우징(561)의 표면에 표시부(562)를 갖고 있다. 이 표시부(562)는, 실시 형태 1 내지 3 및 변형예에 관한 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치(1) 및 표시 장치이다.

<3. 본 발명의 형태>

또한, 본 발명은 이하의 형태를 취할 수도 있다.

(1) 기판과,

상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역으로 구성되는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역과,

제1 단부와 제2 단부를 갖는 직선 형상의 세선편을 복수 포함하고, 인접하는 세선편은 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속된, 상기 기판의 표면과 평행한 면에 연장되는 도전성 세선이 복수 배치되는 터치 검출 전극과,

상기 터치 검출 전극에 대하여 정전 용량을 갖는 구동 전극과,

상기 표시 영역에 화상을 표시하는 기능을 갖는 표시 기능층을 포함하고,

상기 인접하는 세선편은, 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속되는 부분인 굴곡부에서 접히게 배치되고,

상기 복수의 도전성 세선은, 상기 인접하는 세선편이 이루는 각도가 다른 굴곡부와 상이한 굴곡부를 포함하는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(2) 인접하는 상기 도전성 세선은, 서로 다른 형상인, 상기 (1)에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(3) 상기 도전성 세선은, 상기 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도와, 당해 굴곡부의 다음의 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도가 상이한, 상기 (1) 또는 상기 (2)에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(4) 상기 기판의 표면과 평행한 면 위에서 화소 배열 방향에 대해 직교하는 화소 직교 방향에서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제1 단위 길이로 하고, 상기 화소 배열 방향과 평행한 방향에서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제2 단위 길이로 했을 경우,

상기 세선편은, 상기 화소 배열 방향에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 당해 각도의 정접값은, 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 상기 제1 단위 길이의 2배의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있으며, 또한 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값과는 상이한, 상기 (1) 내지 상기 (3) 중 어느 하나에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(5) 상기 세선편은, 복수의 상기 색 영역 중, 인간의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열하는 방향인 화소 배열 방향에 대하여 27도보다 크고 또한 45도 미만에 있는 각도 또는 45도보다 크고 또한 63도 미만에 있는 각도를 갖는 방향으로 연장되는, 상기 (1) 내지 상기 (3) 중 어느 하나에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(6) 인접하는 상기 도전성 세선은, 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 배치되는, 상기 (1) 내지 상기 (5) 중 어느 하나에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(7) 인접하는 상기 도전성 세선은, 상기 굴곡부끼리 접하는 부분을 갖도록 배치되고, 한쪽의 상기 도전성 세선이 상기 접하는 부분에서 다른 쪽의 상기 세선편과 접속되는, 상기 (1) 내지 상기 (5) 중 어느 하나에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.

(8) 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 구비하는 전자 기기이며, 상기 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는, 상기 (1) 내지 상기 (7) 중 어느 하나에 기재된 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치인, 전자 기기.

1 : 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치
2 : 화소 기판
3 : 대향 기판
6 : 액정층
10 : 터치 검출 기능을 구비한 표시부
11 : 제어부
12 : 게이트 드라이버
13 : 소스 드라이버
14 : 구동 전극 드라이버
20 : 액정 표시부
21 : TFT 기판
22 : 화소 전극
24 : 절연층
30 : 터치 검출 디바이스
31 : 유리 기판
32 : 컬러 필터
32R, 32G, 32B, 32W : 색 영역
35 : 편광판
40 : 터치 검출부
Ad : 표시 영역
COML : 구동 전극
Dx : 화소 직교 방향
Dy : 화소 배열 방향
GCL : 주사선
ML1 내지 ML18, MLa, MLb, MLc, MLd : 도전성 세선
Pix : 화소
SGL : 신호선
SPix : 부화소
TDA : 검출 영역
TDB1 : 제1 도통부
TDB2 : 제2 도통부
TDD : 더미 전극
TDDS : 분할부
TDG : 검출 배선
TDL : 터치 검출 전극
TDX : 교차부

Claims (8)

1. 기판과,
   상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역으로 구성되는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역과,
   제1 단부와 제2 단부를 갖는 직선 형상의 세선편을 복수 포함하고, 인접하는 세선편은 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속된, 상기 기판의 표면과 평행한 면에 연장되는 도전성 세선이 복수 배치되는 터치 검출 전극과,
   상기 터치 검출 전극에 대하여 정전 용량을 갖는 구동 전극과,
   상기 표시 영역에 화상을 표시하는 기능을 갖는 표시 기능층을 포함하고,
   상기 인접하는 세선편은, 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속되는 부분인 굴곡부에서 접히게 배치되고,
   상기 복수의 도전성 세선은, 상기 인접하는 세선편이 이루는 각도가 다른 굴곡부와 상이한 굴곡부를 포함하는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
2. 제1항에 있어서,
   인접하는 상기 도전성 세선은, 서로 다른 형상인, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
3. 제1항에 있어서,
   상기 도전성 세선은, 상기 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도와, 당해 굴곡부의 다음의 굴곡부에서 인접하는 세선편이 이루는 각도가 서로 다른, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
4. 제1항에 있어서,
   상기 기판의 표면과 평행한 면 위에서, 화소 배열 방향에 대하여 직교하는 화소 직교 방향에서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제1 단위 길이로 하고, 상기 화소 배열 방향과 평행한 방향에서의, 상기 화소 1개분의 최대 길이를 제2 단위 길이로 했을 경우,
   상기 세선편은, 상기 화소 배열 방향에 대하여 각도를 갖는 방향으로 연장되고, 당해 각도의 정접값은, 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 2배의 값으로 나눈 값보다 크고, 상기 제1 단위 길이의 2배의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값보다 작은 범위에 있으며, 또한 상기 제1 단위 길이의 값을 상기 제2 단위 길이의 값으로 나눈 값과는 상이한, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
5. 제1항에 있어서,
   상기 세선편은, 복수의 상기 색 영역 중, 인간의 시감도가 가장 높은 색 영역이 배열하는 방향인 화소 배열 방향에 대하여, 27도보다 크고 또한 45도 미만에 있는 각도 또는 45도보다 크고 또한 63도 미만에 있는 각도를 갖는 방향으로 연장되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
6. 제1항에 있어서,
   인접하는 상기 도전성 세선은, 서로 교차하는 부분을 갖지 않도록 배치되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
7. 제1항에 있어서,
   인접하는 상기 도전성 세선은, 상기 굴곡부끼리 접하는 부분을 갖도록 배치되고, 한쪽의 상기 도전성 세선이 상기 접하는 부분에서 다른 쪽의 상기 세선편과 접속되는, 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치.
8. 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치를 구비하고,
   상기 터치 검출 기능을 구비한 표시 장치는,
   기판과,
   상기 기판의 표면과 평행한 면에, 복수의 색 영역으로 구성되는 화소가 행렬 형상으로 배치되는 표시 영역과,
   제1 단부와 제2 단부를 갖는 직선 형상의 세선편을 복수 포함하고, 인접하는 세선편은 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속된, 상기 기판의 표면과 평행한 면에 연장되는 도전성 세선이 복수 배치되는 터치 검출 전극과,
   상기 터치 검출 전극에 대하여 정전 용량을 갖는 구동 전극과,
   상기 표시 영역에 화상을 표시하는 기능을 갖는 표시 기능층을 포함하고,
   상기 인접하는 세선편은, 한쪽의 세선편의 제2 단부와 다른 쪽의 세선편의 제1 단부가 접속되는 부분인 굴곡부에서 접히게 배치되고,
   상기 복수의 도전성 세선은, 상기 인접하는 세선편이 이루는 각도가 다른 굴곡부와 상이한 굴곡부를 포함하는, 전자 기기.

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