KR20140066340A

KR20140066340A - 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법

Info

Publication number: KR20140066340A
Application number: KR1020120133434A
Authority: KR
Inventors: 박재철; 박제형
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2012-11-23
Filing date: 2012-11-23
Publication date: 2014-06-02
Also published as: KR101403127B1; CN103839503A; US9576512B2; CN103839503B; US20140145739A1

Abstract

본 발명은 복수개의 색상을 표시하기 위한 복수개의 서브픽셀 및 상기 서브픽셀들에 연결되는 복수개의 데이터라인을 포함하는 표시부, 상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀들에 대한 색상별로 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 검사신호를 공급하기 위한 제1검사부, 및 상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀에 대한 색상별로 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사부가 공급하는 검사신호와 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하기 위한 제2검사부를 포함하는 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘릴 수 있도록 구현됨으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

Description

디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법{Display Panel and Method for Testing Display Panel}

본 발명은 디스플레이패널이 정상적으로 작동하는지 여부를 검사하기 위한 디스플레이패널 검사방법에 관한 것이다.

LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes), PDP(Plasma Display Panel), EPD(Electrophoretic Display) 등의 디스플레이장치는 여러 가지 제조공정을 거쳐 제조된다. 이러한 제조공정은 디스플레이패널에 대한 점등검사 공정을 포함한다. 디스플레이패널은 디스플레이장치에서 영상을 표시하는 기능을 담당한다. 점등검사 공정은 디스플레이패널에 소정의 검사신호를 입력하여 디스플레이패널이 검사신호에 따라 정상적으로 동작하는지를 검사하는 공정이다.

도 1은 종래 기술에 따른 디스플레이패널의 개략적인 구성도이고, 도 2는 종래 기술에 따른 디스플레이패널이 점등검사되는 모습을 촬영한 사진이다.

도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 복수의 게이트라인들(GL1 내지 GLn) 및 복수의 데이터라인들(DL1 내지 DLm)이 교차하여 복수의 서브픽셀(SP)들을 정의하는 표시부(11), 및 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 연결되는 검사부(12)를 포함한다.

상기 검사부(12)는 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 공통전압(Vcom)을 기준으로 정극성 검사신호(+) 및 부극성 검사신호(-)를 교대로 공급한다. 상기 검사부(12)는 검사장치(미도시)로부터 공급되는 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호를 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 전달함으로써, 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호를 교대로 공급한다. 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)은 하나의 연결라인을 통해 상기 검사부(12)에 연결된다.

따라서, 상기 검사부(12)가 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호를 교대로 공급하면, 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 상기 서브픽셀(SP)들 전부가 프레임 단위로 구동되어 점등됨으로써, 점등검사 공정이 수행되었다. 예컨대, 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 제1프레임에서 상기 서브픽셀(SP)들 전부가 정극성 검사신호에 따라 구동된 후, 제1프레임 다음에 해당하는 제2프레임에서 상기 서브픽셀(SP)들 전부가 부극성 검사신호에 따라 구동되는 동작이 반복됨으로써, 점등검사 공정이 수행되었다. 즉, 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 프레임 단위로 상기 서브픽셀(SP)들 전부가 전압 극성이 반복적으로 반전되는 프레임 인버전(Frame Inversion) 방식으로 점등검사 공정이 수행되었다.

이와 같이 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 프레임 인버전 방식으로 점등검사 공정이 수행되므로, 검사신호에 대한 주파수가 낮으면 플리커(Flicker)가 발생함에 따라 점등검사 공정에 어려움이 있는 문제가 있다.

이러한 플리커 문제를 해결하기 위한 방안으로, 검사신호에 대한 주파수를 높이는 방안이 제안되었다. 그러나, 검사신호에 대한 주파수를 높이면, 상기 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호 각각이 인가되는 시간이 짧아지므로, 상기 서브픽셀(SP)들에 픽셀전압이 충전되는 시간이 짧아지게 된다. 따라서, 종래 기술에 따른 디스플레이패널(10)은 도 2에 도시된 바와 같이, 일부 서브픽셀(SP)들이 픽셀전압이 완전히 충전되지 못한 상태로 구동됨에 따라 상대적으로 어둡게 점등됨으로써, 양품임에도 불량으로 판정되는 문제가 있다.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 픽셀전압이 완전히 충전되지 못한 상태로 구동됨에 따라 양품임에도 불량으로 판정되는 것을 방지할 수 있는 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법을 제공하기 위한 것이다.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 레드(Red) 서브픽셀에 연결된 제1데이터라인, 그린(Green) 서브픽셀에 연결된 제2데이터라인, 및 블루(Blue) 서브픽셀에 연결된 제3데이터라인이 순차적으로 복수개 형성되는 디스플레이패널을 검사할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 상기 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 제1데이터라인들 및 2K 번째 제1데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계; 상기 제1데이터라인들에 검사신호를 공급할 때, 상기 제2데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 2K 번째 제2데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계; 및 상기 제1데이터라인들에 검사신호를 공급할 때, 상기 제3데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 2K 번째 제3데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 제1색상을 표시하기 위한 제1서브픽셀, 상기 제1색상과 상이한 제2색상을 표시하기 위한 제2서브픽셀 및 상기 제1색상과 제2색상 각각과 상이한 제3색상을 표시하기 위한 제3서브픽셀을 각각 복수개 포함하는 디스플레이패널을 검사할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 상기 제1서브픽셀들에 연결된 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 제1검사신호를 공급하는 단계; 및 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제1데이터라인들 중에서 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호에 대해 반대되는 극성을 갖는 제2검사신호를 공급하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 디스플레이패널이 갖는 복수개의 데이터라인들 중에서 (2K-1)번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 제1검사신호를 공급하는 단계; 및 상기 (2K-1)번째 데이터라인들에 제1검사신호를 공급할 때, 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호에 반대되는 극성을 갖는 제2검사신호를 공급하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 디스플레이패널이 갖는 복수개의 데이터라인들 중에서 (2K-1)번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하는 제1검사단계; 상기 (2K-1)번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하는 제2검사단계; 및 검사신호의 전압 크기를 변경하여 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널은 복수개의 색상을 표시하기 위한 복수개의 서브픽셀 및 상기 서브픽셀들에 연결되는 복수개의 데이터라인을 포함하고, 영상을 표시하기 위한 표시부; 상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀들에 대한 색상별로 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 검사신호를 공급하기 위한 제1검사부; 및 상기 제1검사부가 검사신호를 공급할 때, 상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀에 대한 색상별로 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사부가 공급하는 검사신호와 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하기 위한 제2검사부를 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.

본 발명은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘릴 수 있도록 구현됨으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 디스플레이패널의 개략적인 구성도
도 2는 종래 기술에 따른 디스플레이패널이 점등검사되는 모습을 촬영한 사진
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 디스플레이패널의 개략적인 구성도
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 디스플래이패널이 검사되는 과정을 설명하기 위한 개략적인 작동상태도
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이패널에 검사장치가 접촉되는 과정을 설명하기 위한 개략적인 측면도

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이패널의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes), PDP(Plasma Display Panel), EPD(Electrophoretic Display) 등의 디스플레이장치에서 영상을 표시하는 기능을 담당하는 것이다. 이러한 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 디스플레이장치로 제조되는 모듈 공정이 수행되기 이전에, 오토 프로브 장치(Auto-Probe Apparatus) 등과 같은 검사장치를 이용하여 정상적으로 작동하는지 여부를 확인하기 위한 점등검사 공정을 거치게 된다.

이를 위해, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 영상을 표시하기 위한 표시부(2), 점등 검사공정을 수행하는데 이용되는 제1검사부(3) 및 제2검사부(4)를 포함한다. 상기 제1검사부(3) 및 상기 제2검사부(4)는 상기 표시부(2) 외측에 위치되는 비표시부(5)에 위치되게 형성된다.

상기 표시부(2)는 복수개의 데이터라인들(D1 내지 Dm), 복수개의 게이트라인들(G1 내지 Gn), 및 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm)과 상기 게이트라인들(G1 내지 Gn)이 서로 교차하여 정의되는 복수개의 서브픽셀(SP)들을 포함한다. 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm)은 상기 서브픽셀(SP)들에 연결된다. 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm)과 상기 게이트라인들(G1 내지 Gn)의 교차영역에는 상기 서브픽셀(SP)들을 스위칭하기 위한 박막트랜지스터(TFT, 미도시)들이 형성된다.

도 4를 참고하면, 상기 표시부(2)는 복수개의 서브픽셀들(SP1, SP2, SP3)이 하나의 단위픽셀(P)을 이루고, 상기 단위픽셀(P)들을 복수개 포함한다. 하나의 단위픽셀(P)은 제1색상을 표시하기 위한 제1서브픽셀(SP1), 제2색상을 표시하기 위한 제2서브픽셀(SP2) 및 제3색상을 표시하기 위한 제3서브픽셀(SP2)을 포함할 수 있다. 상기 제1색상, 상기 제2색상 및 상기 제3색상은 서로 다른 색상이다. 예컨대, 하나의 단위픽셀(P)은 레드(Red)를 표시하기 위한 제1서브픽셀(SP1), 그린(Green)을 표시하기 위한 제2서브픽셀(SP2), 및 블루(Blue)를 표시하기 위한 제3서브픽셀(SP3)을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 제1색상은 레드(Red), 상기 제2색상은 그린(Green), 상기 제3색상은 블루(Blue)이다. 상기 제1색상은 사이언(Cyan), 상기 제2색상은 마젠타(Magenta), 상기 제3색상은 옐로우(Yellow)일 수도 있다. 도시되지 않았지만, 하나의 단위픽셀(P)은 서로 다른 색상을 표시하기 위한 4개 이상의 서브픽셀(SP, 도 3에 도시됨)을 포함할 수도 있다.

이하에서는 레드를 표시하기 위한 제1서브픽셀(SP1), 그린을 표시하기 위한 제2서브픽셀(SP2), 및 블루를 표시하기 위한 제3서브픽셀(SP3)이 하나의 단위픽셀(P)을 이루는 실시예를 기준으로 하여, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)에 관해 구체적으로 설명한다.

도 4를 참고하면, 상기 표시부(2)는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결되는 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm), 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결되는 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm), 및 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결되는 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm)을 포함한다. 상기 표시부(2)에는 상기 제1데이터라인(RD1), 상기 제2데이터라인(GD1), 및 상기 제3데이터라인(BD1) 순서로 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm), 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm), 및 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm)이 교번하여 복수개가 형성된다.

도 3을 참고하면, 상기 제1검사부(3)는 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm) 중에서 일부 데이터라인들에 연결된다. 상기 제1검사부(3)는 해당 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 검사신호는 상기 검사장치로부터 공급된다. 상기 검사장치는 상기 제1검사부(3)에 접촉됨으로써, 상기 제1검사부(3)를 통해 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm) 중에서 일부 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 상기 검사장치는 공통전압(Vcom)을 기준으로 정극성 검사신호(+) 및 부극성 검사신호(-)를 교대로 인가하는 제1검사신호 및 공통전압(Vcom)을 기준으로 부극성 검사신호(-) 및 정극성 검사신호(+)를 교대로 인가하는 제2검사신호를 공급할 수 있다.

상기 제2검사부(4)는 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm) 중에서 일부 데이터라인들에 연결된다. 상기 제2검사부(4)는 해당 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 상기 검사장치는 상기 제2검사부(4)에 접촉됨으로써, 상기 제2검사부(4)를 통해 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm) 중에서 일부 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 상기 검사장치는 상기 제2검사부(4)를 통해 상기 제1검사신호 및 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다.

도 4를 참고하면, 상기 제2검사부(4)는 상기 서브픽셀들(SP1, SP2, SP3)에 대한 색상별로 2K 번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 상기 제1검사부(3)는 상기 서브픽셀들(SP1, SP2, SP3)에 대한 색상별로 (2K-1) 번째 데이터라인들에 검사신호를 공급한다. 이 경우, 상기 제1검사부(3)가 검사신호를 공급할 때, 상기 제2검사부(4)는 상기 제1검사부(3)가 공급하는 검사신호와 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급한다. 이를 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.

우선, 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결된 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm)에 관해 살펴보면, 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들은 상기 제1검사부(3)에 연결된다. 그리고, 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 2K 번째 제1데이터라인들은 상기 제2검사부(4)에 연결된다. 이 경우, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들 및 상기 2K 번째 제1데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급한다.

예컨대, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 즉, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다.

이에 따라, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 점등검사시 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 연결된 제1서브픽셀(SP1)들 및 상기 2K 번째 제1데이터라인들에 연결된 제1서브픽셀(SP1)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 점등검사시 플리커(Flicker)가 발생하는 것을 방지할 수 있으므로, 점등검사 공정에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 플리커가 발생하지 않으므로, 검사신호에 대한 주파수를 낮출 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호 각각이 인가되는 시간을 늘림으로써, 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘릴 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 상기 제1서브픽셀(SP1)들 중에서 일부가 픽셀전압이 완전히 충전되지 못한 상태로 구동됨에 따라 양품임에도 불량으로 판정되는 경우가 발생하는 것을 방지함으로써, 점등검사 공정에 대한 정확성과 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

다음, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결된 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm)에 관해 살펴보면, 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들은 상기 제1검사부(3)에 연결된다. 그리고, 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 2K 번째 제2데이터라인들은 상기 제2검사부(4)에 연결된다. 이 경우, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 상기 2K 번째 제2데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급한다.

예컨대, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제2데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제2데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 즉, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 수 있다.

이에 따라, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 점등검사시 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 연결된 제2서브픽셀(SP2)들 및 상기 2K 번째 제2데이터라인들에 연결된 제2서브픽셀(SP2)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘림으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

다음, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결된 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm)에 관해 살펴보면, 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들은 상기 제1검사부(3)에 연결된다. 그리고, 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 2K 번째 제3데이터라인들은 상기 제2검사부(4)에 연결된다. 이 경우, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 상기 2K 번째 제3데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급한다.

예컨대, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제3데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제3데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 즉, 상기 제1검사부(3)가 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하면, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다.

이에 따라, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 점등검사시 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 연결된 제3서브픽셀(SP3)들 및 상기 2K 번째 제3데이터라인들에 연결된 제3서브픽셀(SP3)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘림으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

상술한 바와 같이 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있으면서도 검사신호에 대한 주파수를 낮출 수 있음에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 디스플레이장치가 실제로 구동될 때 구동신호의 주파수와 동일한 주파수의 검사신호로 점등검사 공정이 수행되는 것이 가능하다. 예컨대, 디스플레이장치가 60Hz 주파수의 구동신호로 구동되는 경우, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 60Hz 주파수의 검사신호로 점등검사 공정이 수행되더라도, 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 디스플레이장치가 실제 구동될 때와 동일한 조건으로 점등검사 공정이 수행될 수 있으므로, 점등검사 공정에 대한 정확성과 신뢰도를 더 향상시킬 수 있다.

또한, 상술한 바와 같이 점등검사 공정이 수행되는 과정에서, 상기 검사장치는 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)를 통해 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm), 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 및 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm)에 인가하는 검사신호의 전압 크기를 변경할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 검사신호의 전압 크기에 따라 계조가 변경됨으로써, 계조별로 점등검사 공정이 수행될 수 있다.

도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)는 색상에 관계없이 (2K-1) 번째 데이터라인 및 2K 번째 데이터라인에 동시에 서로 다른 극성의 검사신호를 공급할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 컬럼 인버전(Column Inversion) 방식으로 점등검사 공정이 수행될 수 있다. 이를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.

우선, 상기 표시부(2)에는 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)이 배치되는 방향으로 상기 제1서브픽셀(SP1), 상기 제2서브픽셀(SP2) 및 상기 제3서브픽셀(SP3) 순서로 단위픽셀(P)들이 복수개 형성된다. 상기 제2서브픽셀(SP2)은 상기 제1서브픽셀(SP1)의 옆에 위치되고, 상기 제3서브픽셀(SP3)은 상기 제2서브픽셀(SP2)의 옆에 위치된다. 상기 제2서브픽셀(SP2)은 상기 제1서브픽셀(SP1)과 상기 제3서브픽셀(SP3) 사이에 위치된다.

다음, 도 5에 도시된 바와 같이 상기 제1검사부(3)는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결된 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제1검사부(3)는 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결된 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제1검사부(3)는 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결된 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 이에 따라, (2K-1) 번째 단위픽셀(P)들에는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 정극성 검사신호, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 부극성 검사신호, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 정극성 검사신호가 공급된다.

이와 동시에, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 부극성 검사신호, 2K 번째 제2데이터라인들에 정극성 검사신호, 2K 번째 제3데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 이에 따라, 2K 번째 단위픽셀(P)들에는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 부극성 검사신호, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 정극성 검사신호, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 부극성 검사신호가 공급된다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)이 배치되는 방향으로 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성 순서로 검사신호가 공급되는 컬럼 인버전 방식으로 점등검사 공정이 수행될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 디스플레이장치가 실제 구동될 때와 동일한 조건으로 점등검사 공정이 수행될 수 있으므로, 점등검사 공정에 대한 정확성과 신뢰도를 더 향상시킬 수 있다.

다음, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제1검사부(3)는 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 부극성 검사신호, (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 정극성 검사신호, (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급한다. 이에 따라, (2K-1) 번째 단위픽셀(P)들에는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 부극성 검사신호, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 정극성 검사신호, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 부극성 검사신호가 공급된다.

이와 동시에, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 정극성 검사신호, 2K 번째 제2데이터라인들에 부극성 검사신호, 2K 번째 제3데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급한다. 이에 따라, 2K 번째 단위픽셀(P)들에는 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 정극성 검사신호, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 부극성 검사신호, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 정극성 검사신호가 공급된다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)이 배치되는 방향으로, 도 5에 도시된 바와 같이 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성 순서로 검사신호가 공급된 후에, 도 6에 도시된 바와 같이 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성 순서로 검사신호가 공급됨으로써 컬럼 인버전 방식으로 점등검사 공정이 수행될 수 있다.

다음, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 다시 도 5에 도시된 바와 같이 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성 순서로 검사신호가 공급된 후에, 도 6에 도시된 바와 같이 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성 순서로 검사신호가 공급되는 과정이 반복적으로 수행될 수 있다. 즉, 상기 제1검사부(3)는 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호, (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호, (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급한다. 그리고, 상기 제2검사부(4)는 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호, 2K 번째 제2데이터라인들에 제1검사신호, 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다. 이와 같이 점등검사 공정이 수행되는 과정에서, 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)를 통해 공급되는 검사신호의 전압 크기가 변경됨에 따라 계조가 변경됨으로써, 계조별로 점등검사 공정이 수행될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상술한 바와 같이 점등검사 공정이 수행되는 과정에서 상기 게이트라인들(GL1 내지 GLn)에는 스캔신호가 공급된다.

도 4 및 도 7을 참고하면, 상기 비표시부(5, 도 4에 도시됨)는 상기 표시부(3) 외측에 위치된다. 상기 비표시부(5)에는 드라이버 IC(미도시)가 실장된다. 상기 비표시부(5)에는 디스플레이장치가 실제 구동될 때 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)에 데이터신호를 공급하는 복수개의 구동패드(100)들이 형성된다. 상기 구동패드(100)들은 각각 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)에 연결된다.

상기 비표시부(5)에는 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 형성된다. 도 4 및 도 7을 참고하여 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)에 관해 더 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.

상기 제1검사부(3)는 검사장치(200, 도 7에 도시됨)로부터 검사신호를 공급받기 위해 상기 검사장치(200)에 접촉되는 제1검사패드(31), 제2검사패드(32) 및 제3검사패드(33), 상기 제1검사패드(31)에 연결되는 제1연결라인(35), 상기 제2검사패드(32)에 연결되는 제2연결라인(36), 및 상기 제3검사패드(33)에 연결되는 제3연결라인(37)을 포함할 수 있다. 상기 검사장치(200)는 본체(210, 도 7에 도시됨) 및 검사신호를 공급하기 위한 검사신호공급부(220, 도 7에 도시됨)를 포함한다. 상기 본체(210)에는 상기 제1검사패드(31), 상기 제2검사패드(32) 및 상기 제3검사패드(33)에 접촉되기 위한 제1접촉부재(211, 도 7에 도시됨)들이 결합된다. 상기 제1접촉부재(211)들이 각각 상기 제1검사패드(31), 상기 제2검사패드(32) 및 상기 제3검사패드(33)에 접촉되면, 상기 검사신호공급부(220)는 상기 제1접촉부재(211)들을 통해 검사신호를 공급함으로써 본 발명에 따른 디스플레이장치(1)에 대한 점등검사 공정을 수행한다.

상기 제1검사패드(31)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제1검사패드(31)는 상기 구동패드(100)들의 일측에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제1검사패드(31)에 접촉됨으로써, 상기 제1연결라인(35) 및 상기 제1연결라인(35)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1검사패드(31)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제1검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제2검사패드(32)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제2검사패드(32)는 상기 구동패드(100)들의 일측에 위치되게 형성된다. 상기 제2검사패드(32)는 상기 제1검사패드(31) 및 상기 제3검사패드(33) 사이에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제2검사패드(32)에 접촉됨으로써, 상기 제2연결라인(36) 및 상기 제2연결라인(36)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2검사패드(32)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제2검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제3검사패드(33)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제3검사패드(33)는 상기 구동패드(100)들의 일측에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제3검사패드(33)에 접촉됨으로써, 상기 제3연결라인(37) 및 상기 제3연결라인(37)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제3검사패드(33)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제1검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제1연결라인(35)은 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결된 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들 및 상기 제1검사패드(31)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제1검사패드(31)에 접촉됨으로써, 상기 제1연결라인(35)을 통해 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제1연결라인(35)은 스위칭소자를 통해 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

상기 제2연결라인(36)은 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결된 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 상기 제2검사패드(32)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제2검사패드(32)에 접촉됨으로써, 상기 제2연결라인(36)을 통해 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제2연결라인(36)은 스위칭소자를 통해 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

상기 제3연결라인(37)은 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결된 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 상기 제3검사패드(33)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제3검사패드(33)에 접촉됨으로써, 상기 제3연결라인(37)을 통해 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제3연결라인(37)은 스위칭소자를 통해 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

도 4 및 도 7을 참고하면, 상기 제1검사부(3)는 제1인에이블패드(34) 및 제1인에이블연결라인(38)을 더 포함할 수 있다.

상기 제1인에이블패드(34)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제1인에이블패드(34)는 상기 구동패드(100)들의 일측에 위치되게 형성된다. 상기 제1인에이블패드(34)는 상기 제1검사패드(31)의 옆에 위치되게 형성된다. 상기 제1검사패드(31)는 상기 제1인에이블패드(34) 및 상기 제2검사패드(32) 사이에 위치되게 형성된다.

상기 제1인에이블연결라인(38)은 상기 제1연결라인(35), 상기 제2연결라인(36) 및 상기 제3연결라인(37)들 각각이 갖는 스위칭소자들 및 상기 제1인에이블패드(34)를 연결한다. 상기 검사장치(200, 도 7에 도시됨)는 상기 제1인에이블패드(34)에 접촉됨으로써, 상기 제1인에이블연결라인(38) 및 상기 제1인에이블연결라인(38)에 연결된 스위칭소자들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 검사장치(200)는 상기 제1인에이블패드(34)를 통해 인에이블 검사신호를 공급할 수 있다. 이 경우, 상기 본체(210, 도 7에 도시됨)에는 상기 제1검사패드(31), 상기 제2검사패드(32), 상기 제3검사패드(33) 및 상기 제1인에이블패드(34)에 접촉되기 위한 제1접촉부재(211, 도 7에 도시됨)들이 결합된다. 상기 제1접촉부재(211)들이 각각 상기 제1검사패드(31), 상기 제2검사패드(32), 상기 제3검사패드(33) 및 상기 제1인에이블패드(34)에 접촉되면, 상기 검사신호공급부(220, 도 7에 도시됨)는 상기 제1접촉부재(211)들을 통해 검사신호를 공급함으로써 본 발명에 따른 디스플레이장치(1)에 대한 점등검사 공정을 수행한다.

도 4 및 도 7을 참고하면, 상기 제2검사부(4)는 상기 검사장치(200, 도 7에 도시됨)로부터 검사신호를 공급받기 위해 상기 검사장치(200)에 접촉되는 제4검사패드(41), 제5검사패드(42) 및 제6검사패드(43), 상기 제4검사패드(41)에 연결되는 제4연결라인(45), 상기 제5검사패드(42)에 연결되는 제5연결라인(46), 및 상기 제6검사패드(43)에 연결되는 제6연결라인(47)을 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 본체(210, 도 7에 도시됨)에는 상기 제4검사패드(41), 상기 제5검사패드(42) 및 상기 제6검사패드(43)에 접촉되기 위한 제2접촉부재(212, 도 7에 도시됨)들이 결합된다. 상기 제2접촉부재(212)들이 각각 상기 제4검사패드(41), 상기 제5검사패드(42) 및 상기 제6검사패드(43)에 접촉되면, 상기 검사신호공급부(220, 도 7에 도시됨)는 상기 제2접촉부재(212)들을 통해 검사신호를 공급함으로써 본 발명에 따른 디스플레이장치(1)에 대한 점등검사 공정을 수행한다. 상기 제2접촉부재(212)들 및 상기 제1접촉부재(211, 도 7에 도시됨)들은 서로 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다.

상기 제4검사패드(41)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제4검사패드(41)는 상기 구동패드(100)들의 타측에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제4검사패드(41)에 접촉됨으로써, 상기 제4연결라인(45) 및 상기 제4연결라인(45)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제4검사패드(41)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제2검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제5검사패드(42)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제5검사패드(42)는 상기 구동패드(100)들의 타측에 위치되게 형성된다. 상기 제5검사패드(42)는 상기 제4검사패드(41) 및 상기 제6검사패드(43) 사이에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제5검사패드(42)에 접촉됨으로써, 상기 제5연결라인(46) 및 상기 제5연결라인(46)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제5검사패드(42)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제1검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제6검사패드(43)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제6검사패드(43)는 상기 구동패드(100)들의 타측에 위치되게 형성된다. 상기 검사장치(200)는 상기 제6검사패드(43)에 접촉됨으로써, 상기 제6연결라인(47) 및 상기 제6연결라인(47)에 연결된 데이터라인들에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제6검사패드(43)는 상기 검사장치(200)로부터 상기 제2검사신호를 공급받을 수 있다.

상기 제4연결라인(45)은 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결된 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 2K 번째 제1데이터라인들 및 상기 제4검사패드(41)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제4검사패드(41)에 접촉됨으로써, 상기 제4연결라인(45)을 통해 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제4연결라인(45)은 스위칭소자를 통해 상기 2K 번째 제1데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

상기 제5연결라인(46)은 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결된 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 2K 번째 제2데이터라인들 및 상기 제5검사패드(42)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제5검사패드(42)에 접촉됨으로써, 상기 제5연결라인(46)을 통해 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제5연결라인(46)은 스위칭소자를 통해 상기 2K 번째 제2데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

상기 제6연결라인(47)은 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결된 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 2K 번째 제3데이터라인들 및 상기 제6검사패드(43)를 연결한다. 상기 검사장치(200)는 상기 제6검사패드(43)에 접촉됨으로써, 상기 제6연결라인(47)을 통해 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급할 수 있다. 상기 제6연결라인(47)은 스위칭소자를 통해 상기 2K 번째 제3데이터라인들에 연결될 수 있다. 상기 스위칭소자는 박막트랜지스터(TFT)일 수 있다.

도 4 및 도 7을 참고하면, 상기 제2검사부(4)는 제2인에이블패드(44)를 더 포함할 수 있다.

상기 제2인에이블패드(44)는 상기 비표시부(5)에 위치되게 형성된다. 상기 제2인에이블패드(44)는 상기 구동패드(100)들의 타측에 위치되게 형성된다. 상기 제2인에이블패드(44)는 상기 제4검사패드(41)의 옆에 위치되게 형성된다. 상기 제4검사패드(41)는 상기 제2인에이블패드(44) 및 상기 제5검사패드(42) 사이에 위치되게 형성된다. 상기 제2인에이블패드(44)는 상기 제1인에이블연결라인(38)을 통해 상기 상기 제4연결라인(45), 상기 제5연결라인(46) 및 상기 제6연결라인(47)들 각각이 갖는 스위칭소자들에 연결될 수 있다. 상기 검사장치(200)는 상기 제2인에이블패드(44)를 통해 인에이블 검사신호를 공급할 수 있다. 이 경우, 상기 본체(210, 도 7에 도시됨)에는 상기 제4검사패드(41), 상기 제5검사패드(42), 상기 제6검사패드(43) 및 상기 제2인에이블패드(44)에 접촉되기 위한 제2접촉부재(212, 도 7에 도시됨)들이 결합된다. 상기 제2접촉부재(212)들이 각각 상기 제4검사패드(41), 상기 제5검사패드(42), 상기 제6검사패드(43) 및 상기 제2인에이블패드(44)에 접촉되면, 상기 검사신호공급부(220, 도 7에 도시됨)는 상기 제2접촉부재(212)들을 통해 검사신호를 공급함으로써 본 발명에 따른 디스플레이장치(1)에 대한 점등검사 공정을 수행한다.

도시되지 않았지만, 상기 제2검사부(4)는 제2인에이블연결라인(미도시)을 더 포함할 수도 있다. 상기 제2인에이블연결라인은 상기 제4연결라인(45), 상기 제5연결라인(46) 및 상기 제6연결라인(47)들 각각이 갖는 스위칭소자들 및 상기 제2인에이블패드(44)를 연결할 수 있다. 상기 검사장치(200)는 상기 제2인에이블패드(44)에 접촉됨으로써, 상기 제2인에이블연결라인 및 상기 제2인에이블연결라인에 연결된 스위칭소자들에 전기적으로 연결될 수 있다.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 3 내지 도 7을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 상술한 본 발명에 따른 디스플레이패널(1)을 이용하여 수행될 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 오토 프로브 장치와 같은 검사장치(200, 도 7에 도시됨)가 본 발명에 따른 디스플레이패널(1) 검사신호를 공급하여 점등검사 공정을 수행함으로써 이루어질 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 다음과 같은 구성을 포함한다.

우선, 상기 디스플레이패널(1)이 갖는 복수개의 데이터라인들(D1 내지 Dm)(도 3에 도시됨) 중에서 (2K-1) 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 (2K-1) 번째 데이터라인들에 공통전압을 기준으로 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호를 교대로 인가하는 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 (2K-1) 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200, 도 7에 도시됨)가 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)에 접촉하는 공정, 및 상기 검사장치(200)가 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)를 통해 (2K-1) 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정을 포함할 수 있다.

다음, 상기 디스플레이패널(1)이 갖는 복수개의 데이터라인들(D1 내지 Dm) 중에서 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호에 반대되는 극성을 갖는 제2검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 2K 번째 데이터라인들에 공통전압을 기준으로 부극성 검사신호 및 정극성 검사신호를 교대로 인가하는 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 2K 번째 데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200, 도 7에 도시됨)가 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)에 접촉한 상태에서 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)를 통해 2K 번째 데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정을 포함할 수 있다.

상기 2K 번째 데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정 및 상기 (2K-1) 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은 동시에 수행될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 (2K-1) 번째 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하는 제1검사단계, 및 (2K-1) 번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하는 제2검사단계를 순차적으로 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 상기 데이터라인들(D1 내지 Dm)이 배치되는 방향으로, 도 5에 도시된 바와 같이 상기 제1검사단계에서 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성 순서로 검사신호를 공급한 후에, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제2검사단계에서 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성 순서로 검사신호를 공급함으로써 컬럼 인버전 방식으로 점등검사 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 디스플레이장치가 실제 구동될 때와 동일한 조건으로 점등검사 공정을 수행할 수 있으므로, 점등검사 공정에 대한 정확성과 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 검사신호의 전압 크기를 변경하여 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행하는 공정을 더 포함할 수 있다. 이러한 공정은 상기 검사장치(200)가 상기 제1검사신호와 상기 제2검사신호의 전압 크기를 변경한 후에, 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)를 통해 (2K-1) 번째 데이터라인들에 전압 크기가 변경된 제1검사신호를 공급하고, 2K 번째 데이터라인들에 전압 크기가 변경된 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사 공정을 수행하고자 하는 계조에 대응되게 검사신호의 전압 크기를 변경함으로써, 디스플레이패널(1)에 대해 계조별로 점등검사 공정을 수행할 수 있다.

상기 검사신호의 전압 크기를 변경하여 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행하는 공정은, 제1계조에 대해 점등검사 공정이 완료될 때까지 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행한 후에, 상기 제1계조에 대한 점등검사 공정이 완료되면 검사신호의 전압 크기를 상기 제1계조와 상이한 제2계조에 대응되게 변경한 후에 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행함으로써 이루어질 수 있다. 상기 검사신호의 전압 크기를 변경하여 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행하는 공정은, 디스플레이패널(1)에 대해 점등검사 공정을 수행하여야 하는 모든 계조에 대해 점등검사 공정이 수행될 때까지 반복하여 수행될 수 있다. 디스플레이패널(1)에 대해 점등검사 공정을 수행하여야 하는 계조의 개수 및 순서는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다.

도 4 내지 도 7을 참고하면, 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 연결되는 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm), 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 연결되는 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm), 및 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 연결되는 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm)을 포함하는 디스플레이패널(1)에 대해 점등검사 공정을 수행하는 경우, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 다음과 같은 구성을 포함할 수 있다.

우선, 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 공통전압을 기준으로 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호를 교대로 인가하는 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200, 도 7에 도시됨)가 상기 제1검사패드(31)에 접촉한 상태로, 상기 제1검사패드(31) 및 상기 제1연결라인(35)을 통해 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

다음, 상기 제1데이터라인들(RD1 내지 RDm) 중에서 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 2K 번째 제1데이터라인들에 공통전압을 기준으로 부극성 검사신호 및 정극성 검사신호를 교대로 인가하는 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200)가 상기 제4검사패드(41)에 접촉한 상태로, 상기 제4검사패드(41) 및 상기 제4연결라인(45)을 통해 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

상기 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정 및 상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은 동시에 수행될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 (2K-1) 번째 제1데이터라인들 및 2K 번째 제1데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급할 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 연결된 제1서브픽셀(SP1)들 및 2K 번째 제1데이터라인들에 연결된 제1서브픽셀(SP1)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지함으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 검사신호에 대한 주파수를 낮출 수 있으므로, 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호 각각이 인가되는 시간을 늘릴 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 상기 제1서브픽셀(SP1)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘림으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

다음, 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200)가 상기 제2검사패드(32)에 접촉한 상태로, 상기 제2검사패드(32) 및 상기 제2연결라인(36)을 통해 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

다음, 상기 제2데이터라인들(GD1 내지 GDm) 중에서 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200)가 상기 제5검사패드(42)에 접촉한 상태로, 상기 제5검사패드(42) 및 상기 제5연결라인(46)을 통해 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

상기 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정 및 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은 동시에 수행될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 2K 번째 제2데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급할 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 연결된 제2서브픽셀(SP2)들 및 2K 번째 제2데이터라인들에 연결된 제2서브픽셀(SP2)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지함으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 검사신호에 대한 주파수를 낮출 수 있으므로, 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호 각각이 인가되는 시간을 늘릴 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 상기 제2서브픽셀(SP2)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘림으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

다음, 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200)가 상기 제3검사패드(33)에 접촉한 상태로, 상기 제3검사패드(33) 및 상기 제3연결라인(37)을 통해 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

다음, 상기 제3데이터라인들(BD1 내지 BDm) 중에서 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급한다. 이러한 공정은 상기 제1검사부(3)와 상기 제2검사부(4)가 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다. 상기 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은, 상기 검사장치(200)가 상기 제6검사패드(43)에 접촉한 상태로, 상기 제6검사패드(43) 및 상기 제6연결라인(47)을 통해 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급함으로써 이루어질 수 있다.

상기 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정 및 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정은 동시에 수행될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 2K 번째 제3데이터라인들에 동시에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급할 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 연결된 제3서브픽셀(SP3)들 및 2K 번째 제3데이터라인들에 연결된 제3서브픽셀(SP3)들을 교대로 점등시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지함으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 검사신호에 대한 주파수를 낮출 수 있으므로, 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 정극성 검사신호 및 부극성 검사신호 각각이 인가되는 시간을 늘릴 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 점등검사시 플리커가 발생하는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 상기 제3서브픽셀(SP3)들에 픽셀전압이 충전되는 시간을 늘림으로써, 점등검사 공정에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.

상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정, 상기 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정, 상기 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정, 상기 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정, 상기 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 공정, 및 상기 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 공정은 동시에 수행될 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 상기 데이터라인들(RD1 내지 RDm, GD1 내지 GDm, BD1 내지 BDm)이 배치되는 방향으로, 도 5에 도시된 바와 같이 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성 순서로 검사신호를 공급한 후에, 도 6에 도시된 바와 같이 부극성, 정극성, 부극성, 정극성, 부극성, 정극성 순서로 검사신호를 공급함으로써 컬럼 인버전 방식으로 점등검사 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이패널 검사방법은 디스플레이장치가 실제 구동될 때와 동일한 조건으로 점등검사 공정을 수행할 수 있으므로, 점등검사 공정에 대한 정확성과 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

1 : 디스플레이패널 2 : 표시부 3 : 제1검사부 4 : 제2검사부

Claims

레드(Red) 서브픽셀에 연결된 제1데이터라인, 그린(Green) 서브픽셀에 연결된 제2데이터라인, 및 블루(Blue) 서브픽셀에 연결된 제3데이터라인이 순차적으로 복수개 형성되는 디스플레이패널을 검사하기 위한 방법으로,
상기 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 제1데이터라인들 및 2K 번째 제1데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계;
상기 제1데이터라인들에 검사신호를 공급할 때, 상기 제2데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 2K 번째 제2데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계; 및
상기 제1데이터라인들에 검사신호를 공급할 때, 상기 제3데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 2K 번째 제3데이터라인들에 서로 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 디스플레이패널 검사방법.
제1색상을 표시하기 위한 제1서브픽셀, 상기 제1색상과 상이한 제2색상을 표시하기 위한 제2서브픽셀 및 상기 제1색상과 제2색상 각각과 상이한 제3색상을 표시하기 위한 제3서브픽셀을 각각 복수개 포함하는 디스플레이패널을 검사하기 위한 방법으로,
상기 제1서브픽셀들에 연결된 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 제1데이터라인들에 제1검사신호를 공급하는 단계; 및
상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제1데이터라인들 중에서 2K 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호에 대해 반대되는 극성을 갖는 제2검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 디스플레이패널 검사방법.
제2항에 있어서,
상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제2서브픽셀들에 연결된 제2데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 단계;
상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제2데이터라인들 중에서 2K 번째 제2데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 단계;
상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제3서브픽셀들에 연결된 제3데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급하는 단계; 및
상기 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 상기 제1검사신호를 공급할 때, 상기 제3데이터라인들 중에서 2K 번째 제3데이터라인들에 상기 제2검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이패널 검사방법.
디스플레이패널이 갖는 복수개의 데이터라인들 중에서 (2K-1)번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 제1검사신호를 공급하는 단계; 및
상기 (2K-1)번째 데이터라인들에 제1검사신호를 공급할 때, 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사신호에 반대되는 극성을 갖는 제2검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 디스플레이패널 검사방법.
디스플레이패널이 갖는 복수개의 데이터라인들 중에서 (2K-1)번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하는 제1검사단계;
상기 (2K-1)번째 데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급함과 동시에 2K 번째 데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하는 제2검사단계; 및
검사신호의 전압 크기를 변경하여 상기 제1검사단계와 상기 제2검사단계를 반복 수행하는 단계를 포함하는 디스플레이패널 검사방법.
복수개의 색상을 표시하기 위한 복수개의 서브픽셀 및 상기 서브픽셀들에 연결되는 복수개의 데이터라인을 포함하고, 영상을 표시하기 위한 표시부;
상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀들에 대한 색상별로 (2K-1) 번째(K는 0보다 큰 정수) 데이터라인들에 검사신호를 공급하기 위한 제1검사부; 및
상기 제1검사부가 검사신호를 공급할 때, 상기 데이터라인들 중에서 상기 서브픽셀에 대한 색상별로 2K 번째 데이터라인들에 상기 제1검사부가 공급하는 검사신호와 반대되는 극성을 갖는 검사신호를 공급하기 위한 제2검사부를 포함하는 디스플레이패널.
제6항에 있어서,
상기 제1검사부와 상기 제2검사부는 상기 서브픽셀들에 대한 색상별로 상기 (2K-1) 번째 데이터라인들에 연결된 서브픽셀들 및 상기 2K 번째 데이터라인들에 연결된 서브픽셀들을 교대로 점등시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이패널.
제6항에 있어서,
상기 제1검사부는 제1서브픽셀들에 연결된 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하고, 상기 제1서브픽셀 옆에 위치한 제2서브픽셀들에 연결된 제2데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하며, 상기 제2서브픽셀 옆에 위치한 제3서브픽셀들에 연결된 제3데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하고;
상기 제2검사부는 상기 제1데이터라인들 중에서 2K 번째 제1데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하고, 상기 제2데이터라인들 중에서 2K 번째 제2데이터라인들에 정극성 검사신호를 공급하며, 상기 제3데이터라인들 중에서 2K 번째 제3데이터라인들에 부극성 검사신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 디스플레이패널.
제6항에 있어서, 상기 제1검사부는
검사장치로부터 공통전압을 기준으로 정극성 검사신호와 부극성 검사신호가 교대로 인가되는 제1검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제1검사패드;
검사장치로부터 공통전압을 기준으로 부극성 검사신호와 정극성 검사신호가 교대로 인가되는 제2검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제2검사패드;
검사장치로부터 상기 제1검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제3검사패드;
제1색상을 표시하기 위한 제1서브픽셀들에 연결된 제1데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제1데이터라인들 및 상기 제1검사패드를 연결하는 제1연결라인;
상기 제1색상과 상이한 제2색상을 표시하기 위한 제2서브픽셀들에 연결된 제2데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제2데이터라인들 및 상기 제2검사패드를 연결하는 제2연결라인; 및
상기 제1색상 및 상기 제2색상 각각과 상이한 제3색상을 표시하기 위한 제3서브픽셀들에 연결된 제3데이터라인들 중에서 (2K-1) 번째 제3데이터라인들 및 상기 제3검사패드를 연결하기 위한 제3연결라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이패널.
제9항에 있어서,
검사장치로부터 상기 제2검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제4검사패드;
검사장치로부터 상기 제1검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제5검사패드;
검사장치로부터 상기 제2검사신호를 공급받기 위해 검사장치와 접촉되는 제6검사패드;
상기 제1데이터라인들 중에서 2K 번째 제1데이터라인들 및 상기 제4검사패드를 연결하는 제4연결라인;
상기 제2데이터라인들 중에서 2K 번째 제2데이터라인들 및 상기 제5검사패드를 연결하는 제5연결라인; 및
상기 제3데이터라인들 중에서 2K 번째 제3데이터라인들 및 상기 제6검사패드를 연결하는 제6연결라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이패널.