KR20130021755A - Susceptor and apparatus for cvd including the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 화학기상증착용 서셉터 및 이를 구비하는 화학기상증착장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 서셉터 표면의 온도 균일도가 향상된 화학기상증착용 서셉터 및 이를 구비하는 화학기상증착장치에 관한 것이다.The present invention relates to a chemical vapor deposition susceptor and a chemical vapor deposition apparatus having the same, and more particularly, to a chemical vapor deposition susceptor having improved temperature uniformity of the susceptor surface and a chemical vapor deposition apparatus having the same. It is about.
LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel) 및 OLED(Organic Light Emitting Diodes) 등의 평판표시소자(FPD, Flat Panel Display)는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이러한 제조 공정에는 기판에 소정의 박막을 형성시키는 박막증착공정이 포함된다.Flat panel displays (FPDs), such as liquid crystal displays (LCDs), plasma display panels (PDPs), and organic light emitting diodes (OLEDs), are manufactured through a variety of processes. A thin film deposition process for forming a thin film is included.
박막증착공정에 사용되는 장치의 하나인 화학기상증착장치(CVD)는, 진공으로 이루어진 챔버 내에서 가열된 기판에 증기압이 높은 반응가스를 보내어 그 반응가스의 막을 기판에 성장시키도록 하는 장치이다.Chemical Vapor Deposition (CVD), which is one of the devices used in the thin film deposition process, is a device that sends a reaction gas having a high vapor pressure to a heated substrate in a vacuum chamber to grow a film of the reaction gas on the substrate.
이러한 화학기상증착장치의 챔버 내에는 기판을 지지하기 위한 서셉터가 설치되는데, 서셉터는 상부면에 안착되는 기판에 열을 전달하기 위해 내부에 히터를 구비하게 된다. 이에 서셉터의 상면으로 기판이 로딩되면 서셉터가 대략 400℃ 정도의 온도로 가열된다.The susceptor for supporting the substrate is installed in the chamber of the chemical vapor deposition apparatus, the susceptor is provided with a heater therein to transfer heat to the substrate seated on the upper surface. When the substrate is loaded onto the upper surface of the susceptor, the susceptor is heated to a temperature of about 400 ° C.
이때 기판에 증착되는 박막의 증착율은 서셉터에 의해 가열되는 기판의 온도에 크게 영향을 받는다. 예를 들어 같은 조건으로 막을 증착하더라도 기판의 온도가 높은 곳에 증착되는 막의 두께는 온도가 낮은 곳에서 증착되는 막의 두께보다 두껍다.The deposition rate of the thin film deposited on the substrate is greatly influenced by the temperature of the substrate heated by the susceptor. For example, even when the film is deposited under the same conditions, the thickness of the film deposited at a high temperature of the substrate is thicker than that of the film deposited at a low temperature.
따라서 기판을 가열하는 서셉터 상면의 온도가 균일하지 못하면 기판의 온도편차가 발생하여 CVD 박막의 두께 균일도가 저하되는 문제가 발생한다.Therefore, if the temperature of the upper surface of the susceptor for heating the substrate is not uniform, a temperature deviation of the substrate occurs, causing a problem that the thickness uniformity of the CVD thin film is lowered.
또한, 기판을 가열하는 서셉터의 국부 영역에서 온도편차가 심하게 되면 생산제품의 막질이나 표면 색깔이 변하는 현상도 발생하게 된다.In addition, when the temperature deviation is severe in the local region of the susceptor for heating the substrate, the film quality or surface color of the product is changed.
특히, 최근과 같이 기판이 대형화될수록 기판을 가열하는 서셉터의 온도 편차가 심하기 발생하는 경항이 있어, 이를 개선하기 위한 방안이 필요한 실정이다.In particular, as the substrate becomes larger in recent years, there is a tendency that the temperature variation of the susceptor for heating the substrate is severe, and there is a need for a method for improving the substrate.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 기판을 가열하는 서셉터 표면의 온도 균일도가 향상된 화학기상증착용 서셉터 및 이를 구비하는 화학기상증착장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an aspect of the present invention is to provide a chemical vapor deposition susceptor having improved temperature uniformity on a surface of a susceptor for heating a substrate, and a chemical vapor deposition apparatus having the same.
본 발명의 일 측면에 따르면, 피처리 기판을 지지하고 가열하는 서셉터 본체; 상기 서셉터 본체의 하부에 수용되며, 외부 전력의 공급에 의해 발열하는 코일히터; 및 상기 코일히터 상부의 상기 서셉터 본체에 수용되며, 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 흡수하여 발열하는 열전달부재를 포함하는 화학기상증착용 서셉터가 제공될 수 있다.According to an aspect of the invention, the susceptor body for supporting and heating the substrate to be processed; A coil heater accommodated in the lower part of the susceptor body and generating heat by supply of external power; And a heat transfer member accommodated in the susceptor body above the coil heater and absorbing heat transferred from the coil heater to generate heat.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 라인패턴을 따라 직 상부에 마련되되, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 작은 재질의 금속판재로 마련될 수 있다.The heat transfer member may be provided on the upper portion of the coil heater directly along the line pattern, and may be formed of a metal plate material having a smaller heat transfer coefficient than the susceptor body.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 열과 열 사이의 상부에 마련되되, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 큰 재질의 금속판재로 마련될 수 있다.The heat transfer member may be provided at an upper portion between the heat and the heat of the coil heater, and may be formed of a metal plate material having a larger heat transfer coefficient than the susceptor body.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 직 상부에 배치되어 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 상기 서셉터 본체에 열복사를 통해 전달하는 복사홀로 마련될 수 있다.The heat transfer member may be disposed directly above the coil heater and may be provided as a radiation hole for transferring heat transferred from the coil heater to the susceptor body through heat radiation.
상기 열전달부재는, 상기 코일히터의 직 상부에 배치되어 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 상기 서셉터 본체에 열복사를 통해 전달하는 복사홀; 및 상기 복사홀 사이에 배치되며, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 큰 재질의 금속판재로 마련될 수 있다.The heat transfer member may include: a radiation hole disposed directly above the coil heater to transfer heat transferred from the coil heater to the susceptor body through heat radiation; And a metal plate material disposed between the radiation holes and having a greater heat transfer coefficient than the susceptor body.
상기 코일히터는, 상기 서셉터 본체에 마련되는 매립홀에 삽입되는 코일히터; 상기 코일히터와 상기 매립홀 사이에 개재되어 상기 코일히터를 고정하는 인서트; 및 상기 인서트의 상부에 삽입되어 상기 인서트를 고정하는 인서트홀더를 포함할 수 있다.The coil heater may include a coil heater inserted into a buried hole provided in the susceptor body; An insert interposed between the coil heater and the buried hole to fix the coil heater; And an insert holder inserted into an upper portion of the insert to fix the insert.
상기 인서트는 상기 서셉터 본체에 비하여 열팽창계수가 큰 재질로 마련될 수 있다.The insert may be made of a material having a larger coefficient of thermal expansion than the susceptor body.
상기 코일히터와 상기 매립홀 사이의 간극에 삽입되는 분말을 더 포함하되, 상기 분말은 상기 서셉터 본체에 비하여 열전도도가 큰 재질로 마련될 수 있다.The powder may further include a powder inserted into a gap between the coil heater and the buried hole, wherein the powder may be made of a material having a higher thermal conductivity than the susceptor body.
상기 코일히터는 서로 높낮이가 다른 두 개의 코일히터 패턴으로 마련될 수 있다.The coil heaters may be provided in two coil heater patterns having different heights from each other.
상기 두 개의 코일히터 패턴 중 높은 위치에 있는 상기 코일히터 패턴은 낮은 위치에 있는 상기 코일히터 패턴에 비하여 작은 전류량이 공급될 수 있다.The coil heater pattern at the higher position of the two coil heater patterns may be supplied with a smaller amount of current than the coil heater pattern at the lower position.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 피처리 기판에 대한 증착공정이 진행되는 챔버; 및 상기 챔버의 내부로 로딩되는 상기 기판을 지지하고 가열하는 서셉터를 포함하되, 상기 서셉터는 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 기재된 서셉터로 마련될 수 있다.According to another aspect of the present invention, a chamber in which a deposition process is performed on a substrate to be processed; And a susceptor for supporting and heating the substrate loaded into the chamber, wherein the susceptor may be provided as the susceptor according to any one of
본 발명의 실시예들은, 기판을 가열하는 서셉터 표면의 온도 균일도가 향상된 화학기상증착용 서셉터 및 이를 구비하는 화학기상증착장치를 제공할 수 있다.Embodiments of the present invention may provide a chemical vapor deposition susceptor having improved temperature uniformity of a susceptor surface for heating a substrate, and a chemical vapor deposition apparatus having the same.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 화확기상증착장치의 개략적인 구조도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.
도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.
도 5는 본 발명의 제4 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.
도 6은 본 발명의 제5 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.
도 7은 코일히터와 서셉터 본체의 결합 형태를 나타낸 구조도이다.
도 8은 코일히터 만이 구비된 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이다.
도 9는 본 발명의 제1 실시예에 따른 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이다.
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이다.
도 11은 도 8 내지 도 10의 온도분포 곡선을 나타내는 시뮬레이션 데이터이다.1 is a schematic structural diagram of a chemical vapor deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a first embodiment of the present invention.
3 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a second embodiment of the present invention.
4 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a third embodiment of the present invention.
5 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a fourth embodiment of the present invention.
6 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a fifth embodiment of the present invention.
7 is a structural diagram showing a coupling form of the coil heater and the susceptor body.
8 is simulation data showing a heat transfer amount of the susceptor body provided with only a coil heater.
9 is simulation data showing a heat transfer amount of the susceptor body according to the first embodiment of the present invention.
10 is simulation data showing a heat transfer amount of the susceptor body according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 11 is simulation data illustrating a temperature distribution curve of FIGS. 8 to 10.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부도면 및 첨부도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, operational advantages of the present invention, and objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings and the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference symbols in the drawings denote like elements.
설명에 앞서, 이하에서 사용되는 '기판'이라는 용어는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel) 및 OLED(Organic Light Emitting Diodes) 등의 평면디스플레이(Flat Display)용 기판을 의미하며, 대면적 기판은 8세대 이상에 적용되는 수준의 크기를 가리킨다.Prior to the description, the term 'substrate' used below means a substrate for a flat display such as a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP) and organic light emitting diodes (OLED), and the like. Area substrate refers to the size of the level applied to 8 generations or more.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 화학기상증착장치의 전체 단면도이다.1 is an overall cross-sectional view of a chemical vapor deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 화학기상증착장치(1)는, 상부 및 하부 챔버(10, 20)와, 상부 챔버 내에 마련되어 상부 전극의 역할을 하는 전극(40)과, 하부 챔버(20) 내에 마련되어 기판(G)이 로딩(Loading)되는 서셉터(30)와, 서셉터(30)의 하부에서 서셉터(30)를 지지하는 서셉터지지대(33)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the chemical
이처럼 상부 및 하부 챔버(10, 20)가 한 몸체를 이루어 그 내부의 증착공간(S)에서 증착 공정이 진행될 때는 증착공간(S)이 진공 분위기로 유지될 수 있도록 증착공간(S)은 외부와 차폐된다.As described above, the upper and
도 1에 자세히 도시된 바와 같이, 상부 챔버(10)의 내부에는 횡 방향을 따라 전극(40)이 마련되어 있다. 전극(40)은, 하부 챔버(20)를 향한 전면에 배치되는 가스분배판(45)과, 가스분배판(45)과의 버퍼공간(B)을 사이에 두고 가스분배판(45)의 배후에 배치되는 후방플레이트(41)를 구비한다.As shown in detail in FIG. 1, the
가스분배판(45)에는, 챔버(10, 20) 내에 형성되는 증착공간(S)으로 증착 공정을 위한 플라즈마 상태의 가스(gas)를 분배하는 다수의 오리피스(미도시)가 그 두께방향을 따라 형성되어 있다.In the
가스분배판(45)과 후방플레이트(41) 사이에는 현가지지부재(43)가 마련되어 있다. 현가지지부재(43)는 버퍼공간(B) 내의 증착물질이 외부로 누출되지 않도록 버퍼공간(B)을 차폐할 뿐만 아니라 가스분배판(45)을 후방플레이트(41)에 대해 현가 지지한다. 뿐만 아니라 현가지지부재(43)는 증착 공정 시 대략 200℃ 정도로 가열된 가스분배판(45)이 X축, Y축 및 Z축 방향 중 적어도 어느 한 방향으로 열팽창하는 것을 보상하는 역할도 겸한다.A
후방플레이트(41)와 상부 챔버(10) 사이에는 후방플레이트(41)가 상부 챔버(10)의 외벽에 직접 접촉되어 통전되지 않도록 절연체(17)가 마련되어 있다. 절연체(17)는 테프론 등으로 제작될 수 있다. 후방플레이트(41)의 주변에는 상부 챔버(10)에 대해 후방플레이트(41)를 지지하는 플레이트지지부(미도시)가 더 구비되어 있다.An
상부 챔버(10)의 상단에는 상판부(11)가 마련되어 있는데, 상판부(11)는 상부 챔버(10)의 상부를 덮는 역할을 할 뿐만 아니라 지지 플레이트(미도시)가 지지 및 결합되는 부분이 된다. 그리고 상부 챔버(10)의 외벽 일측에는 하부 챔버(20)의 측벽 두께와 상부 챔버(10)의 측벽 두께 차이를 보강하는 보강벽부(26)가 더 마련되어 있다.An
지지 플레이트(미도시)에는, 그 상부에 공정 가스(gas)를 공급시키기 위한 가스공급부(15)와, 상부 챔버(10) 내에 결합되어 있는 후방플레이트(41)와 연결라인(14)에 의해 전기적으로 연결되어 있는 고주파 전원부(12)와, 가스공급부(15)와 가스유입관(미도시)이 연결되도록 가스공급부(15) 및 고주파 전원부(12) 사이에 마련되어 가스공급부(15)로부터 유입되는 공정 가스(gas)의 이동 경로가 되는 가스이동관(미도시)과, 가스이동관(미도시) 및 그 주변 영역을 차폐하는 차폐박스(미도시) 등이 장착되어 있다.The support plate (not shown) is electrically connected to the
이러한 구성에 의해 가스공급부(15)로부터 공급되는 공정 가스(gas)가 가스유입관(미도시)을 통해 버퍼공간(B)으로 공급될 수 있고, 후방플레이트(41)가 고주파 전원부(12)에 의해 공급되는 고주파 전력에 의해 전극을 띠게 됨으로써 버퍼공간(B)으로 유입된 공정 가스(gas)를 플라즈마화 할 수 있다.By this configuration, process gas supplied from the
하부 챔버(20)에 대해서 살펴보면, 하부 챔버(20)는, 실질적으로 기판(G)에 대한 증착 공정이 진행되는 부분으로서, 전술한 증착공간(S)이 하부 챔버(20) 내에 형성된다. 이러한 하부 챔버(20)의 외벽에는 소정의 작업 로봇(미도시)에 의해 기판(G)이 증착공간(S) 내외로 출입할 수 있도록 기판출입부(21)가 형성되어 있다. 이러한 기판출입부(21)는 그 주변에 결합된 도어(24)에 의해 선택적으로 개폐된다. Referring to the
도시하지는 않았지만, 하부 챔버(20) 내의 바닥면 영역에는 증착공간(S)에 존재하는 공정 가스(gas)를 다시 증착공간(S)으로 확산시키는 가스확산판(미도시)이 마련되어 있다.Although not shown, a gas diffusion plate (not shown) is provided in the bottom region of the
서셉터(30)는 하부 챔버(20) 내의 증착공간(S)에서 횡 방향으로 배치되어 로딩(loading)되는 기판(G)을 지지한다. 보통은 증착 대상물인 기판(G)의 면적보다 큰 구조물로 형성되며, 서셉터(30)의 상면은 기판(G)이 정밀하게 수평 상태로 로딩될 수 있도록 거의 정반(Surface plate)으로 제조된다.The
서셉터(30)의 상면으로 기판(G)이 얹혀지면서 로딩되거나 취출되기 위해 서셉터(30)에는 로딩되거나 취출되는 기판(G)의 하면을 안정적으로 지지하는 복수의 리프트 핀(31, Lift Pin)이 더 구비되어 있다. 리프트 핀(31)들은 서셉터(30)를 관통하도록 서셉터(30)에 설치되어 있다.In order to load or withdraw the substrate G on the upper surface of the
이러한 리프트 핀(31)들은 서셉터(30)가 하강할 때, 그 하단이 하부 챔버(20)의 바닥면에 가압되어 상단이 서셉터(30)의 상단으로 돌출된다. 리프트 핀(31)의 돌출된 상단은 기판(G)을 상부로 들어올리게 되고 따라서 기판(G)은 서셉터(30)로부터 이격되게 된다. When the
반대로, 서셉터(30)가 부상하면, 리프트 핀(31)이 서셉터(30)의 상면에 대해 하방으로 이동하여 기판(G)이 서셉터(30)의 상면에 밀착된다. 즉, 리프트 핀(31)들은 로봇아암(미도시)이 서셉터(30)에 로딩된 기판(G)을 파지할 수 있도록 기판(G)과 서셉터(30) 사이의 공간을 형성하는 역할을 겸한다. On the contrary, when the
이러한 서셉터(30)에는, 그 상단이 서셉터(30)의 배면 중앙 영역에 고정되고 하단이 하부 챔버(20)를 통해 하방으로 노출되어 서셉터(30)를 승강 가능하게 지지하는 컬럼(32)이 더 결합되어 있다. In the
한편, 서셉터(30)는 무겁고 사이즈가 크게 되면 이에 의하여 처짐 등이 발생될 수 있는데, 이는 서셉터(30)의 상면에 로딩되는 기판(G)의 처짐 등으로 연계될 수 있다. 이에 본 실시예에서는, 도 1에 도시된 바와 같이, 컬럼(32)의 상부 영역에는 서셉터 지지부(33)가 마련되어 서셉터(30)를 안정적으로 떠받치고 있다. 그러나 본 발명의 권리범위는 이에 제한되지 않으며 서셉터(30)에 처짐이 없는 경우라면 서셉터 지지부(33)는 생략될 수 있다.On the other hand, if the
서셉터(30)는 하부 챔버(20) 내의 증착공간(S)에서 상하로 승강한다. 즉, 기판(G)이 로딩될 때는 하부 챔버(20) 내의 바닥면 영역에 배치되어 있다가 기판(G)이 서셉터(30)의 상면에 밀착되고 증착 공정이 진행될 때에는 기판(G)이 가스분배판(30)에 인접할 수 있도록 부상한다. 이를 위해, 서셉터(30)에 결합된 컬럼(32)에는 서셉터(30)를 승강시키는 승강 모듈(50)이 더 마련되어 있다.The
승강 모듈(50)에 의해 서셉터(30)가 승강하는 과정에서 컬럼(32)과 하부 챔버(20) 사이에 공간이 발생되면 안된다. 따라서 컬럼(32)이 통과하는 하부 챔버(20)의 해당 영역에는 컬럼(32)의 외부를 감싸도록 벨로우즈관(51)이 마련되어 있다. 벨로우즈관(51)은 서셉터(30)가 하강할 때 팽창되고, 서셉터(30)가 부상할 때 압착된다.In the process of elevating the
이상과 같이 서셉터(30)는 기판(G)이 안정적으로 증착 공정이 진행될 수 있도록 기판(G)을 지지하고 가열하는 부분이다.As described above, the
기판(G)을 가열하는데 있어 작은 면적의 화학기상증착용 서셉터의 경우 온도 균일도를 맞추는 것은 종래의 히터에 인가되는 전압을 조절하는 것으로 충분하나, 대면적 기판의 경우 히터의 전압을 조절하는 것만으로 기판 전 영역에 걸쳐 균일한 온도로 가열하도록 하는 것은 사실상 불가능하다.In the case of a small area chemical vapor deposition susceptor for heating the substrate G, it is sufficient to adjust the temperature uniformity to adjust the voltage applied to the conventional heater, but in the case of a large area substrate, only the voltage of the heater is controlled. As a result, it is virtually impossible to allow heating to a uniform temperature over the entire area of the substrate.
따라서 본 발명의 일 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터(30)는 이러한 문제점을 고려하여 서셉터(30)의 히팅 구조를 이중구조로 하여 서셉터(30) 표면에 도달하는 전열량을 조절함으로써 서셉터(30) 표면의 온도 균일도를 향상시킬 수 있도록 하고 있다.Therefore, the chemical
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.2 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a first embodiment of the present invention.
이를 참조하면, 서셉터(30)는 기판(G)을 지지하는 서셉터 본체(310)와, 서셉터 본체(310)의 하부에 수용되며 외부 전력의 공급에 의해 발열하는 코일히터(311)와, 코일히터(311) 상부의 서셉터 본체(310)에 수용되며 코일히터(311)로부터 전달되는 열을 흡수하여 발열하는 열전달부재(321)를 포함한다.Referring to this, the
서셉터 본체(310)는, 예를 들면 질화 알루미늄이나 세라믹스 또는 석영 등의 비금속 재료로 형성되고, 내부에 수용되는 코일히터(311) 및 열전달부재(321)로부터 열을 전달받아 기판을 가열한다.The
코일히터(311)는 서셉터 본체(310)에 형성된 매립홈(310a, 도 7 참조)에 수용되는데, 이에 대한 자세한 설명은 후술한다.The
매립홈(310a) 및 이에 수용되는 코일히터(311)는 서셉터 본체(310)의 수평면의 전 영역에 걸쳐 고루 배치될 수 있도록 일정한 형태의 라인패턴으로 마련될 수 있다. 예를 들어 서셉터 본체(310)의 중앙부에 위치하는 한편의 단부로부터 서셉터 본체(310)의 중앙부에 위치하는 다른 한편의 단부까지 이어지는 1개 이상의 라인패턴으로 이루어질 수 있다. The buried
코일히터(311)의 양 단부에는 전력 공급선(미도시)이 접속되며, 전력 공급선을 통하여 전력이 공급되면 코일히터(311)가 발열하게 된다.Power supply lines (not shown) are connected to both ends of the
코일히터(311)의 발열에 의한 열은 서셉터 본체(310)의 상부면으로 전달된다.Heat generated by the heat of the
서셉터 본체(310)를 따라 전달되는 열의 양상을 살펴보면, 동일한 재질에서 단위시간당 전도에 의한 전열량은 두께에 반비례하여 나타난다. 즉, 서셉터 본체(310)의 상부면에 도달하는 열은 코일히터(311)와 가장 거리가 가까운 코일히터(311)의 직 상부면이 가장 크며, 코일히터(311)의 열과 열 사이의 상부면에 도달하는 열은 상대적으로 작게 된다.Looking at the aspect of heat transmitted along the
따라서 코일히터(311)로부터 서셉터 본체(310) 상부면까지의 거리에 따라 도달하는 전열량의 차이가 발생하게 된다. 이는 서셉터 본체(310) 상부면의 온도편차로 나타난다(도 8 참조).Accordingly, a difference in heat transfer amount is generated depending on the distance from the
본 실시예에서는 이러한 온도 편차가 발생하는 것을 방지하기 위해 코일히터(311)의 상부에 열전달부재(321)가 마련된다. 여기서 열전달부재(321)는 코일히터(311)와 같이 전력이 공급되어 발열하는 것은 아니나, 코일히터(311)로부터 공급된 열이 흡수된 후 재 발열하게 된다.In this embodiment, the
본 실시예에서 열전달부재(321)는 코일히터(311)와 동일한 라인패턴을 가지고, 코일히터(311)의 직 상부에 배치되는 금속판재(321)로 마련될 수 있다.In the present embodiment, the
금속판재(321)가 코일히터(311)의 직 상부에 위치하도록 배치되는 경우, 금속판재(321)는 서셉터 본체(310)보다 열전달계수가 낮은 재질로 마련된다.When the
코일히터(311)의 직 상부는 주변보다 전열량이 큰 부분이므로 금속판재(321)의 재질을 서셉터 본체(310)보다 열전달계수가 낮은 재질을 사용함으로써 서셉터 본체(310)의 표면에 도달하는 전열량을 줄여 온도편차를 줄일 수 있다.Since the upper portion of the
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.3 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a second embodiment of the present invention.
이를 참조하면, 열전달부재(322)는 코일히터(311)의 열과 열 사이의 상부에 배치되는 금속판재(322)로 마련된다. 이 경우 금속판재(322)의 재질은 서셉터 본체(310)보다 열전달계수가 높은 재질로 마련된다. Referring to this, the
서셉터 본체(310)보다 열전달계수가 높은 재질 금속판재(322)를 사용하여 코일히터(311)의 열과 열 사이의 전열량을 높임으로써 코일히터(311)의 직 상방으로 전달되는 전열량과의 편차를 줄일 수 있다.The heat transfer coefficient between the heat of the
도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.4 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a third embodiment of the present invention.
도 4의 (a)를 참조하면, 열전달부재(323)는 코일히터(311)의 직 상부에 마련된 복사홀(323)로 마련된다. 복사홀(322a)에서는 코일히터(311)로부터 전달된 열이 복사되어 서셉터 본체(310) 상부로 전달된다.Referring to Figure 4 (a), the
복사에 의한 열전달은 전도에 의한 열전달에 비하여 전열량이 작으므로, 코일히터(311)의 직 상부에 복사홀(323)을 배치하여 전열량을 줄이면 코일히터(311)의 열과 열 사이로 전달되는 전열량과의 편차를 줄일 수 있다.Since heat transfer by radiation has a smaller amount of heat transfer than heat transfer by conduction, the
도 4의 (b)는 복사홀(323)을 형성하는 다른 방법을 도시한 것으로, 서셉터 본체(310)를 분리한 후, 분리된 서셉터 본체(310)의 어느 하나의 표면에 요홈을 코일히터(311)의 라인패턴과 같은 형태로 형성하고, 분리된 서셉터 본체(310)를 다시 접착시키면 복사홀(323)을 서셉터 본체(310) 내에 용이하게 형성시킬 수 있다.4B illustrates another method of forming the
도 5는 본 발명의 제4 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.5 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a fourth embodiment of the present invention.
이를 참조하면, 열전달부재(322, 323)는 코일히터(311)의 상부에 금속판재(322)와 복사홀(323)이 함께 배치된 형태로 마련된다.Referring to this, the
복사홀(323)은 코일히터(311)의 열을 따라 직 상부에 배치되고, 금속판재(322)는 복사홀(323)과 복사홀(323) 사이, 즉, 코일히터(311)의 열과 열 사이의 직 상부에 배치된다. 이때 열전달부재(322)는 서셉터 본체(310)의 비하여 열전달계수가 더 큰 재질로 마련된다.The radiation holes 323 are disposed directly above the
이와 같이 서셉터 본체(310)에 비하여 전열량을 줄이는 복사홀(323)과 서셉터 본체(310)에 비하여 전열량을 높이는 금속판재(322)를 코일히터(311)의 라인패턴에 맞추어 교대로 배치하면 서셉터 본체(310) 상부 표면의 온도 균일도를 더 높일 수 있게 된다.In this way, the radiating
도 6은 본 발명의 제5 실시예에 따른 화학기상증착용 서셉터의 개략적인 히팅 구조도이다.6 is a schematic heating structure diagram of a susceptor for chemical vapor deposition according to a fifth embodiment of the present invention.
이를 참조하면, 본 실시예에서 코일히터(312)는 높낮이를 달리하는 두 개의 코일히터 패턴(312a, 312b)으로 마련된다.Referring to this, in the present embodiment, the
높은 위치에 있는 코일히터 패턴(312a)과 낮은 위치에 있는 코일히터 패턴(312b)은 각각 전류량이 개별적으로 조절되도록 하여 서셉터 본체(310) 표면의 온도 편차를 조절할 수 있다.The
이에 대하여 좀 더 자세히 설명하면, 코일히터(312)를 통해 전달되는 열은 동심원 형태로 전달되므로 서셉터 본체(310)의 상부 표면에서는 동심원과 동심원이 만나면서 만들어지는 일정한 파형의 전열량 곡선이 만들어진다. 이는 일종의 온도 편차를 나타내는 곡선이다.In more detail, the heat transmitted through the
도 6에서 높은 위치에 있는 코일히터 패턴(312a)에 비하여 낮은 위치에 있는 코일히터 패턴(312b)에 더 높은 전류량을 인가하면, 서셉터 본체(310)의 표면에서는 낮은 위치에 있는 코일히터 패턴(312b)이 만드는 상대적으로 큰 동심원과 높은 위치에 있는 코일히터 패턴(312a)이 만드는 작은 동심원이 만나 전열량 파형이 만들어지게 된다.In FIG. 6, when a higher amount of current is applied to the
이러한 전열량 파형은 동일 높이의 코일히터(311)가 만드는 전열량의 파형에 비하여 파고가 작은 완만한 형태가 된다. 즉, 서셉터 본체(310) 상부면에서의 전열량 편차를 줄일 수 있게 된다.The heat transfer waveform has a gentle wave shape with a smaller wave height than the heat transfer waveform produced by the
이때 낮은 위치에 있는 코일히터 패턴(312b)의 직 상부에 전열량을 높일 수 있도록 서셉터 본체(310)에 비하여 열전달계수가 높은 열전달부재(321)를 배치하여 전열량을 조절하면, 서셉터 본체(310) 표면에서의 온도편차를 더 줄일 수 있다.At this time, if the
도 7은 코일히터와 서셉터 본체와의 결합 형태를 나타낸 구조도이다.7 is a structural diagram illustrating a coupling form between a coil heater and a susceptor body.
이를 참조하면, 코일히터(311, 312)는 전술한 바와 같이, 매립홈(310a)에 삽입되고, 코일히터(311, 312)의 상부에 인서트(311b)와 인서트홀더(311c)가 차례로 삽입된다.Referring to this, as described above, the
코일히터(311, 312)와 매립홈(310a) 사이의 간극에는 서셉터 본체(310)보다 열전도도가 높은 물질 예를 들어 구리 등의 분말(311a) 삽입하여 간극에 의해 열전도 효율이 떨어지는 것을 방지할 수 있다.In the gap between the
또한, 인서트(311b)는 서셉터 본체(310)보다 열팽창율이 높은 물질을 사용하여 코일히터(311, 312)가 발열할 때 자연스럽게 팽창하도록 하여 매립홈(310a)과 인서트(311b)의 결합력을 증가시킬 수 있다.In addition, the
이상에서 설명한 서셉터(30)의 히팅 구조에 의해 달성되는 서셉터 본체(310) 표면에서의 온도 균일도 향상 효과는 다음과 같은 시뮬레이션 데이터를 통해서 확인할 수 있다.The effect of improving the temperature uniformity on the surface of the
도 8은 코일히터 만이 구비된 경우 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이고, 도 9는 제1 실시예에 따른 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이며, 도 10은 제3 실시예에 따른 서셉터 본체의 전열량을 나타내는 시뮬레이션 데이터이고, 도 11은 도 8 내지 도 10의 온도분포 곡선을 나타내는 시뮬레이션 데이터이다.8 is simulation data showing the heat transfer amount of the susceptor body when only the coil heater is provided, FIG. 9 is simulation data showing the heat transfer amount of the susceptor body according to the first embodiment, and FIG. It is simulation data which shows the heat transfer amount of the susceptor main body, FIG. 11 is simulation data which shows the temperature distribution curve of FIGS.
먼저, 도 8을 참조하여 코일히터(311) 만이 구비된 상태에서의 전열량을 살펴보면, 서셉터 본체(310)의 동일 높이에서의 온도를 기준으로 할 때 코일히터(311)의 직 상방에서의 온도가 가장 높으며, 코일히터(311)의 열과 열 사이는 상부는 상대적으로 낮은 것을 알 수 있다. 즉, 온도분포 곡선은 도 11에서와 같이 볼록한 형태의 2차원 곡선을 나타낸다. 이러한 온도분포는 서셉터 본체(310) 표면에서 온도편차로 나타나고, 이는 기판(G)을 부등 가열하여 증착 품질을 떨어뜨리는 원인이 된다.First, referring to FIG. 8, the heat transfer amount in the state where only the
도 9를 참조하면, 열전달부재(321)가 코일히터(311)의 직 상방에 위치한 경우로서, 열전달부재(321)에 의해 서셉터 본체(310)의 동일 높이에서의 온도편차가 줄어든 것을 알 수 있다. 이때의 열전달부재(321)는 서셉터 본체(310)에 비하여 열전달계수가 작은 재질이다.9, when the
이를 도 11을 통해 다시 확인하면, 적색의 온도분포 곡선이 흑색의 온도분포 곡선에 비하여 완만한 형태를 하고 있으며, 이는 수치상으로 온도편차가 약 6.5% 개선된 것임을 알 수 있다.Again confirming this through FIG. 11, the red temperature distribution curve has a gentle shape compared to the black temperature distribution curve, and it can be seen that the temperature deviation is numerically improved by about 6.5%.
도 10의 시뮬레이션 데이터를 살펴보면, 코일히터(311)의 직 상부에 복사홀(323)이 구비된 경우에도 온도편차가 줄어든 것을 확인할 수 있다. 도 11에 나타난 바와 같이 청색의 온도분포 곡선은 흑색의 온도분포 곡선에 비하여 완만한 기울기를 나타내며, 이는 수치상으로 온도편차가 약 17.1% 정도 개선된 것임을 알 수 있다.Looking at the simulation data of FIG. 10, it can be seen that the temperature deviation is reduced even when the
만일 시뮬레이션 데이터로부터 여전히 온도편차가 만족할 만한 수준으로 감소하지 않는 영역이 나타난다면, 열전달부재(321, 322, 323)의 배치와 크기 모양을 변형하여 전열량을 조절함으로써 온도편차를 낮출 수 있다.If the area still does not decrease from the simulation data to a satisfactory level, the temperature deviation can be lowered by adjusting the heat transfer amount by modifying the arrangement and size of the
이와 같이 본 발명은 기재된 실시 예들에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정 예 또는 변형 예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As described above, the present invention is not limited to the described embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention, which will be apparent to those skilled in the art. Accordingly, such modifications or variations are intended to fall within the scope of the appended claims.
1: 화학기상증착장치 10: 상부 챔버
20: 하부 챔버 30: 서셉터
310: 서셉터 본체 311, 312: 코일히터
321, 322, 323: 열전달부재1: chemical vapor deposition apparatus 10: upper chamber
20: lower chamber 30: susceptor
310:
321, 322, 323: heat transfer member
Claims (11)
상기 서셉터 본체의 하부에 수용되며, 외부 전력의 공급에 의해 발열하는 코일히터; 및
상기 코일히터 상부의 상기 서셉터 본체에 수용되며, 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 흡수하여 발열하는 열전달부재를 포함하는 화학기상증착용 서셉터.A susceptor body for supporting and heating a substrate to be processed;
A coil heater accommodated in the lower part of the susceptor body and generating heat by supply of external power; And
A chemical vapor deposition susceptor that is accommodated in the susceptor body above the coil heater and includes a heat transfer member that absorbs heat transferred from the coil heater and generates heat.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 라인패턴을 따라 직 상부에 마련되되, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 작은 재질의 금속판재로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The heat transfer member is a chemical vapor deposition susceptor is provided in the upper portion directly along the line pattern of the coil heater, the metal plate material of the heat transfer coefficient is lower than the susceptor body.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 열과 열 사이의 상부에 마련되되, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 큰 재질의 금속판재로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The heat transfer member is a chemical vapor deposition susceptor is provided in the upper portion between the heat and the heat of the coil heater, the metal plate material of the heat transfer coefficient is larger than the susceptor body.
상기 열전달부재는 상기 코일히터의 직 상부에 배치되어 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 상기 서셉터 본체에 열복사를 통해 전달하는 복사홀로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The heat transfer member is a chemical vapor deposition susceptor is disposed directly above the coil heater is provided as a radiation hole for transferring the heat transferred from the coil heater to the susceptor body through heat radiation.
상기 열전달부재는,
상기 코일히터의 직 상부에 배치되어 상기 코일히터로부터 전달되는 열을 상기 서셉터 본체에 열복사를 통해 전달하는 복사홀; 및
상기 복사홀 사이에 배치되며, 상기 서셉터 본체에 비하여 열전달계수가 큰 재질의 금속판재로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The heat transfer member,
A radiation hole disposed directly above the coil heater to transfer heat transferred from the coil heater to the susceptor body through heat radiation; And
It is disposed between the radiation hole, the chemical vapor deposition susceptor is provided with a metal plate of a material having a greater heat transfer coefficient than the susceptor body.
상기 코일히터는,
상기 서셉터 본체에 마련되는 매립홀에 삽입되는 코일히터;
상기 코일히터와 상기 매립홀 사이에 개재되어 상기 코일히터를 고정하는 인서트; 및
상기 인서트의 상부에 삽입되어 상기 인서트를 고정하는 인서트홀더를 포함하는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The coil heater,
A coil heater inserted into a buried hole provided in the susceptor body;
An insert interposed between the coil heater and the buried hole to fix the coil heater; And
A chemical vapor deposition susceptor including an insert holder inserted into an upper portion of the insert to fix the insert.
상기 인서트는 상기 서셉터 본체에 비하여 열팽창계수가 큰 재질로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method according to claim 6,
The insert is a chemical vapor deposition susceptor provided with a material having a larger coefficient of thermal expansion than the susceptor body.
상기 코일히터와 상기 매립홀 사이의 간극에 삽입되는 분말을 더 포함하되, 상기 분말은 상기 서셉터 본체에 비하여 열전도도가 큰 재질로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method according to claim 6,
And a powder inserted into a gap between the coil heater and the buried hole, wherein the powder is made of a material having a higher thermal conductivity than the susceptor body.
상기 코일히터는 서로 높낮이가 다른 두 개의 코일히터 패턴으로 마련되는 화학기상증착용 서셉터.The method of claim 1,
The coil heater is a chemical vapor deposition susceptor provided with two coil heater patterns different in height from each other.
상기 코일히터는 상기 두 개의 코일히터 패턴 중 높은 위치에 있는 상기 코일히터 패턴은 낮은 위치에 있는 상기 코일히터 패턴에 비하여 작은 전류량이 공급되는 화학기상증착용 서셉터.10. The method of claim 9,
The coil heater is a chemical vapor deposition susceptor, the coil heater pattern of which the higher position of the two coil heater patterns is supplied with a smaller amount of current than the coil heater pattern of the lower position.
상기 챔버의 내부로 로딩되는 상기 기판을 지지하고 가열하는 서셉터를 포함하되,
상기 서셉터는 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 기재된 서셉터로 마련되는 화학기상증착장치.A chamber in which a deposition process is performed on a substrate to be processed; And
A susceptor for supporting and heating the substrate loaded into the chamber,
Chemical vapor deposition apparatus provided with the susceptor according to any one of claims 1 to 10.
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150020961A (en) * | 2013-08-19 | 2015-02-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | Method for testing susceptor of chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light emitting display apparatus by using the same |
KR20180040318A (en) * | 2016-10-12 | 2018-04-20 | 주성엔지니어링(주) | Substrate supporting unit and substrate processing apparatus having the same |
KR20190016130A (en) * | 2016-07-02 | 2019-02-15 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | A device for increasing deposition uniformity in a spatial ALD processing chamber |
CN110023537A (en) * | 2016-09-19 | 2019-07-16 | 阿卜杜拉国王科技大学 | Pedestal |
US11473196B2 (en) * | 2020-03-25 | 2022-10-18 | Kokusai Electric Corporation | Substrate processing apparatus |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3170248B2 (en) * | 1998-10-26 | 2001-05-28 | 日本エー・エス・エム株式会社 | Semiconductor substrate holding device |
KR100730379B1 (en) * | 2005-07-26 | 2007-06-19 | (주)대하이노텍 | Heater module of chemical vapor deposition apparatus |
KR100848378B1 (en) * | 2005-12-15 | 2008-07-24 | 주식회사 마이크로텍 | Structure for inserting heat wire of susceptor and method for the same |
-
2011
- 2011-08-23 KR KR1020110084212A patent/KR101318174B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150020961A (en) * | 2013-08-19 | 2015-02-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | Method for testing susceptor of chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light emitting display apparatus by using the same |
KR20190016130A (en) * | 2016-07-02 | 2019-02-15 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | A device for increasing deposition uniformity in a spatial ALD processing chamber |
US11085129B2 (en) | 2016-07-02 | 2021-08-10 | Applied Materials, Inc. | Device to increase deposition uniformity in spatial ALD processing chamber |
CN110023537A (en) * | 2016-09-19 | 2019-07-16 | 阿卜杜拉国王科技大学 | Pedestal |
US11339478B2 (en) | 2016-09-19 | 2022-05-24 | King Abdullah University Of Science And Technology | Susceptor |
KR20180040318A (en) * | 2016-10-12 | 2018-04-20 | 주성엔지니어링(주) | Substrate supporting unit and substrate processing apparatus having the same |
US11473196B2 (en) * | 2020-03-25 | 2022-10-18 | Kokusai Electric Corporation | Substrate processing apparatus |
US11926893B2 (en) | 2020-03-25 | 2024-03-12 | Kokusai Electric Corporation | Substrate processing apparatus, substrate processing method and non-transitory computer-readable recording medium therefor |
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