KR20120106615A - Protection film coating method and protection film coating device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 각종 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 피복하는 방법 및 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a method and apparatus for coating a resin film on the surfaces of various wafers.
IC, LSI 등의 복수의 디바이스가 비율 예정 라인에 의해 구획되어 표면에 형성된 웨이퍼는, 분할 예정 라인을 따라서 레이저 조사가 행해져 개개의 디바이스로 분할되어, 각종 전자기기 등에 이용되고 있다(예를 들어 특허문헌 1 참조). A plurality of devices, such as ICs and LSIs, are partitioned by a ratio scheduled line and formed on the surface of the wafer, and the laser irradiation is performed along the division scheduled line to divide the individual devices, and are used in various electronic devices and the like (for example, a patent). See Document 1).
실리콘 등으로 구성된 웨이퍼에 레이저빔을 조사하면, 잔해(debris)가 비산하여 웨이퍼의 표면에 부착되어 디바이스의 품질을 저하시킨다고 하는 문제가 있기 때문에, 웨이퍼의 표면에 폴리비닐알콜(PVA) 등으로 구성되는 액상 수지를 피복하여 보호막을 형성하여, 잔해가 비산하더라도 보호막에 의해 디바이스의 표면을 보호하여 품질 저하를 방지하는 기술이 본 출원인에 의해 제안되어, 실제 사용되고 있다(예를 들어 특허문헌 2 참조). When a laser beam is irradiated onto a wafer made of silicon or the like, debris scatters and adheres to the surface of the wafer, thereby degrading device quality. Thus, the surface of the wafer is made of polyvinyl alcohol (PVA) or the like. The technique which coats the liquid resin to form a protective film, protects the surface of a device with a protective film, and prevents a quality fall even if a debris scatters is proposed by the present applicant, and is actually used (for example, refer patent document 2). .
그런데, 액상 수지와 웨이퍼는 친화성이 낮기 때문에, 예를 들어 직경 300 mm의 웨이퍼의 표면에 두께 4 ㎛의 보호막을 형성하는 경우에는, 보호막으로서 피복되는 PVA 등의 액상 수지는 0.3 cc 정도이면 충분함에도 불구하고, 실제로는 19 cc?30 cc의 액상 수지가 사용되고, 그 중의 98%?99% 가까이가 폐기되고 있어, 매우 비경제적이라고 하는 문제가 있다. However, since the liquid resin and the wafer have low affinity, for example, when a protective film having a thickness of 4 m is formed on the surface of a 300 mm diameter wafer, the liquid resin such as PVA coated as the protective film is about 0.3 cc. In spite of this, a liquid resin of 19 cc to 30 cc is actually used, and almost 98% to 99% of them are discarded, and there is a problem that it is very uneconomical.
따라서, 이러한 문제를 해소하기 위해, 웨이퍼의 표면을 덮는 수층(水層)을 형성하고, PVA 등의 액상 수지를 적하하는 방법에 의해, PVA 등의 액상 수지를 효율적으로 피복할 수 있는 방법 및 장치가 제안되어, 실제 사용되고 있다(예를 들어 특허문헌 3 참조).Therefore, in order to solve such a problem, the method and apparatus which can efficiently coat liquid resins, such as PVA, by forming the water layer which covers the surface of a wafer, and dropping liquid resins, such as PVA, Is proposed and actually used (for example, refer patent document 3).
그러나, 웨이퍼의 발수성이나 장치의 경사짐에 기인하여, 웨이퍼의 표면을 덮는 수층의 형성에 100초 이상의 시간이 필요하다는 문제가 있다. However, due to the water repellency of the wafer and the inclination of the device, there is a problem that a time of 100 seconds or more is required to form a water layer covering the surface of the wafer.
본 발명은 이러한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, PVA 등의 액상 수지를 웨이퍼에 효율적으로 피복할 수 있도록 하는 것이다. This invention is made | formed in view of such a problem, and is what makes it possible to coat liquid resin, such as PVA, on a wafer efficiently.
제1 발명은, 웨이퍼를 링형 프레임에 장착된 보호 테이프에 점착한 상태로 유지하는 스피너 테이블을 포함하는 보호막 형성 장치를 이용하여, 웨이퍼의 표면에 액상 수지를 피복하여 보호막을 형성하는 보호막 형성 방법에 관한 것으로, 이하의 각 공정에 의해 구성된다. 1st invention is a protective film formation method which forms a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer using the protective film forming apparatus containing the spinner table which hold | maintains a wafer to the protective tape attached to the ring-shaped frame. It is related and is comprised by each of the following processes.
(1) 스피너 테이블로 링형 프레임을 유지하는 프레임 유지 공정, (1) a frame holding step of holding a ring-shaped frame with a spinner table;
(2) 스피너 테이블로 웨이퍼의 표면을 상측을 향하게 유지하는 웨이퍼 유지 공정, (2) a wafer holding step of holding the surface of the wafer upward with a spinner table;
(3) 링형 프레임을 웨이퍼에 대하여 상대적으로 상승시켜 링형 프레임과 웨이퍼로 유발 형상의 오목부를 형성하는 오목부 형성 공정, (3) a concave forming step of raising the ring-shaped frame relative to the wafer to form concave portions of the ring-shaped frame and the wafer;
(4) 오목부 형성 공정후, 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼의 표면을 덮는 수층을 형성하는 수층 형성 공정, (4) an aqueous layer forming step of forming a water layer covering the surface of the wafer held on the spinner table after the recess forming step;
(5) 수층에서의 웨이퍼의 중심부에 액상 수지를 적하하는 액상 수지 적하 공정, (5) a liquid resin dropping step of dropping liquid resin into the center of the wafer in the water layer;
(6) 스피너 테이블을 회전시켜 웨이퍼의 회전에 따라 수층에 작용하는 원심력에 의해 수층을 비산시키고 적하된 액상 수지를 확장시켜, 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 피복하는 수지 피막 피복 공정. (6) A resin film coating step of rotating a spinner table to disperse the water layer by centrifugal force acting on the water layer in accordance with the rotation of the wafer, expanding the dropped liquid resin, and covering the resin film on the surface of the wafer.
상기 보호막 형성 방법에 있어서, 수지 피막 피복 공정에서는, 프레임을 웨이퍼에 대하여 상대적으로 하강시킴으로써 유발 형상을 플랫 형상으로 복귀시키는 것에 의해, 수층의 확장에 수반하여 적하된 액상 수지를 확장시켜, 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 형성하는 것이 바람직하다.In the above protective film forming method, in the resin film coating step, by lowering the frame relative to the wafer, the induced shape is returned to a flat shape, thereby expanding the liquid resin dropped along with the expansion of the water layer, thereby increasing the surface of the wafer. It is preferable to form a resin film on the substrate.
제2 발명은, 상기 보호막 형성 방법의 실시에 적합한 보호막 피복 장치에 관한 것으로, 링형 프레임에 장착된 보호 테이프에 점착된 상태의 웨이퍼를 유지하는 웨이퍼 유지 수단과, 링형 프레임을 유지하는 링형 프레임 유지 수단을 포함하는 스피너 테이블과, 스피너 테이블을 회전 구동시키는 회전 구동 수단과, 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼에 물을 공급하는 물공급 수단과, 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼에 액상 수지를 공급하는 액상 수지 공급 수단과, 링형 프레임 유지 수단과 웨이퍼 유지 수단을 상대적으로 상하 동작시키는 상하 동작 수단을 포함하는 것이다.2nd invention is related with the protective film coating apparatus suitable for implementation of the said protective film formation method, The wafer holding means which hold | maintains the wafer adhered to the protective tape attached to the ring-shaped frame, and the ring-shaped frame holding means which hold | maintains a ring-shaped frame. A spinner table comprising: a rotation drive means for rotating the spinner table; water supply means for supplying water to the wafer held on the spinner table; and liquid resin supply means for supplying liquid resin to the wafer held on the spinner table. And up and down operation means for relatively vertically operating the ring-shaped frame holding means and the wafer holding means.
본 발명에 따른 수지 피막 피복 공정에서는, 링형 프레임에 장착된 보호 테이프에 웨이퍼를 점착한 상태의 링형 프레임을 웨이퍼에 대하여 상대적으로 상승시켜 링형 프레임과 웨이퍼로 유발 형상의 오목부를 형성하고, 그 오목부에 물을 공급하여 웨이퍼의 표면에 수층을 형성한 후, 웨이퍼의 중심부에 액상 수지를 적하하고, 스피너 테이블을 회전시켜 원심력에 의해 수층을 비산시키고 적하된 액상 수지를 확장시켜, 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 피복하기 때문에, 액상 수지를 효율적으로 웨이퍼의 표면 전체에 골고루 피복할 수 있다. 또, 적하된 액상 수지의 대부분이 웨이퍼의 표면에 피복되기 때문에, 매우 경제적이다. In the resin film coating process according to the present invention, the ring-shaped frame in which the wafer is adhered to the protective tape mounted on the ring-shaped frame is raised relative to the wafer to form recesses having a protruding shape with the ring-shaped frame and the wafer. After water was supplied to form a water layer on the surface of the wafer, a liquid resin was added dropwise to the center of the wafer, the spinner table was rotated to disperse the water layer by centrifugal force, and the dropped liquid resin was expanded to provide a resin on the surface of the wafer. Since it coats a film, liquid resin can be coat | covered evenly over the whole surface of a wafer efficiently. In addition, since most of the dropped liquid resin is coated on the surface of the wafer, it is very economical.
도 1은 보호막 피복 장치의 일례를 나타내는 사시도이다.
도 2는 보호 테이프를 개재하여 링형 프레임에 지지된 웨이퍼를 스피너 테이블에 유지한 상태를 개략적으로 나타내는 단면도이다.
도 3은 링형 프레임을 상승시켜 웨이퍼의 표면과 보호 테이프로 오목부를 형성한 상태를 개략적으로 나타내는 단면도이다.
도 4는 오목부에 물을 공급하여 웨이퍼의 표면상에 수층을 형성하는 상태를 개략적으로 나타내는 단면도이다.
도 5는 수층의 위에 액상 수지를 적하하는 상태를 개략적으로 나타내는 단면도이다.
도 6은 스피너 테이블을 회전시켜 수층을 비산시켜, 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 형성하는 상태를 개략적으로 나타내는 단면도이다. 1 is a perspective view showing an example of a protective film coating device.
2 is a cross-sectional view schematically showing a state in which a wafer supported on a ring-shaped frame is held on a spinner table via a protective tape.
3 is a cross-sectional view schematically illustrating a state in which a concave portion is formed of a surface of a wafer and a protective tape by raising a ring-shaped frame.
4 is a sectional view schematically showing a state in which water is supplied to the recess to form a water layer on the surface of the wafer.
5 is a cross-sectional view schematically showing a state in which a liquid resin is dropped on the water layer.
FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing a state in which a spinner table is rotated to scatter water layers to form a resin film on the wafer surface.
1. 장치 구성 1. Device Configuration
도 1에 나타내는 보호막 피복 장치(1)는, 웨이퍼의 표면에 액상 수지를 피복하여 보호막을 형성하는 장치이며, 회전 구동 수단(2)에 의해 구동되어 회전 가능한 스피너 테이블(3)을 포함하고 있다. The protective film coating apparatus 1 shown in FIG. 1 is an apparatus which forms a protective film by coating liquid resin on the surface of a wafer, and includes the spinner table 3 which is driven by the rotation drive means 2, and is rotatable.
스피너 테이블(3)에 유지되는 웨이퍼(W)는, 링형 프레임(F)의 개구부를 막도록 장착된 보호 테이프(T)에 점착된다. 스피너 테이블(3)은, 링형 프레임(F)에 장착된 보호 테이프(T)에 점착된 상태의 웨이퍼(W)를 유지하는 웨이퍼 유지 수단(4)과, 보호 테이프(T)를 개재하여 웨이퍼(W)와 일체화된 링형 프레임(F)을 유지하는 링형 프레임 유지 수단(5)으로 구성되어 있다. The wafer W held by the spinner table 3 is adhered to the protective tape T mounted to block the opening of the ring-shaped frame F. As shown in FIG. The spinner table 3 includes a wafer (4) for holding a wafer W in a state of being adhered to a protective tape T attached to the ring-shaped frame F, and a wafer (via a protective tape T). It consists of the ring-shaped
스피너 테이블(3)의 주위에는, 스피너 테이블(3)의 웨이퍼 유지 수단(4)에 유지된 웨이퍼(W)에 물을 공급하는 물공급 수단(6)이 설치되어 있다. 물공급 수단(6)은, 도시하지 않은 수원(水源)에 연통되어 선회 가능한 베이스부(60)와, 베이스부(60)로부터 수평 방향으로 연장되고 선단부가 아래쪽으로 만곡된 분출부(61)로 구성된다. Around the spinner table 3, water supply means 6 for supplying water to the wafer W held by the wafer holding means 4 of the spinner table 3 is provided. The water supply means 6 is connected to a water source (not shown), which is pivotable, and a
스피너 테이블(3)의 주위에는, 스피너 테이블(3)의 웨이퍼 유지 수단(4)에 유지된 웨이퍼(W)에 액상 수지를 공급하는 액상 수지 공급 수단(7)이 설치되어 있다. 액상 수지 공급 수단(7)은, 도시하지 않은 액상 수지의 탱크에 연통되어 선회 가능한 베이스부(70)와, 베이스부(70)로부터 수평 방향으로 연장되고 선단부가 아래쪽으로 만곡된 적하부(71)로 구성된다. Around the spinner table 3, liquid resin supply means 7 for supplying a liquid resin to the wafer W held by the wafer holding means 4 of the spinner table 3 is provided. The liquid resin supply means 7 communicates with a tank of liquid resin (not shown), which is pivotable, and a dropping
웨이퍼 유지 수단(4)은, 보호 테이프(T)를 개재하여 웨이퍼(W)를 흡인 유지할 수 있는 유지 테이블(40)과, 유지 테이블의 하단에 연결된 축부(41)와, 축부(41)를 승강시키는 승강 구동부(42)를 포함하고 있고, 축부(41)와 승강 구동부(42)로 유지 테이블(40)을 상하 동작시키는 상하 동작 수단(43)이 구성되어 있다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 유지 테이블(40)은 도시하지 않은 흡인원에 연통하는 흡인부(40a)를 포함하고 있다. 도 1의 승강 구동부(42) 및 축부(41)로는, 예를 들어 에어실린더 및 피스톤 로드를 사용할 수 있고, 상하 동작 수단(43)은, 링형 프레임 유지 수단(5)과 웨이퍼 유지 수단(4)을 상대적으로 상하 동작시키기 위한 수단으로서 기능한다. 도 2 이후에서는 상하 동작 수단(43)은 도시하지 않는다.The wafer holding means 4 raises and lowers the holding table 40 which can suction hold the wafer W via the protective tape T, the
도 2에 나타낸 바와 같이, 링형 프레임 유지 수단(5)은, 링형 프레임(F)을 아래쪽에서 지지하는 지지대(50)와, 지지대(50)에 부착되어 링형 프레임(F)을 위쪽에서 압박하는 압박부(51)와, 지지대(50)의 하단에 연결된 복수의 축부(52)와, 축부(52)를 승강시키는 복수의 승강 구동부(53)를 포함하고 있고, 축부(52)와 승강 구동부(53)로 지지대(50)를 상하 동작시키는 상하 동작 수단(54)을 구성하고 있다. 압박부(51)는, 에어의 주입 등에 의해 회전축(510)을 중심으로 회전할 수 있다. 또, 승강 구동부(53) 및 축부(52)로는, 예를 들어 에어실린더 및 피스톤 로드를 사용할 수 있다. 상하 동작 수단(43)은, 링형 프레임 유지 수단(5)과 웨이퍼 유지 수단(4)을 상대적으로 상하 동작시키기 위한 수단으로서 기능한다. As shown in FIG. 2, the ring-shaped
도 2에 나타낸 바와 같이, 스피너 테이블(3)을 회전 구동시키는 회전 구동 수단(2)은, 모터(20)와, 모터(20)에 의해 회전 구동되는 회전축(21)과, 회전축(21)의 회전에 따라서 회전하는 베이스대(22)로 구성되고, 베이스대(22)에는 승강 구동부(53)가 고정되어 있다. 모터(20)가 회전축(21)을 회전시키면, 베이스대(22)도 회전하고, 웨이퍼 유지 수단(4) 및 프레임 유지 수단(5)이 회전하는 구성으로 되어 있다. 베이스대(22)는, 평면부(220)와, 그 둘레 가장자리로부터 아래쪽으로 늘어뜨려진 수하부(221)로 구성되어 있다. As shown in FIG. 2, the rotation drive means 2 for rotating the spinner table 3 includes a
스피너 테이블(3)의 아래쪽에는 받침 수단(8)이 설치되어 있다. 받침 수단(8)은, 베이스대(22)를 구성하는 수하부(221)의 내측 둘레에 위치하는 내측벽(80)과, 수하부(221)보다 외측 둘레에 위치하는 외측벽(81)과, 내측벽(80)의 하단부와 외측벽(81)의 하단부를 연결하는 바닥판(82)으로 구성되어 있다. A supporting means 8 is provided below the spinner table 3. The supporting means 8 includes an
2. 보호막 피복 방법2. Protective film coating method
다음으로, 웨이퍼(W)의 표면(W1)에 보호막을 피복하는 경우에서의 보호막 피복 장치(1)의 동작에 관해 설명한다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 보호 테이프(T)의 외측 둘레부에 링형 프레임(F)을 점착하여 링형 프레임(F)의 개구부를 보호 테이프(T)에 의해 막고, 그 막힌 부분의 보호 테이프(T)에 웨이퍼(W)의 이면(W2)을 점착한다. 이와 같이 하여, 웨이퍼(W)가 보호 테이프(T)를 개재하여 링형 프레임(F)과 일체화되어 지지된 상태가 되고, 웨이퍼(W)의 표면(W1)이 상측을 향해 노출된 상태가 된다. Next, the operation of the protective film coating device 1 in the case of coating the protective film on the surface W1 of the wafer W will be described. As shown in FIG. 2, the ring-shaped frame F is affixed to the outer periphery of the protective tape T, the opening part of the ring-shaped frame F is blocked by the protective tape T, and the protective tape T of the blocked part is shown. ) Is attached to the back surface W2 of the wafer W. In this way, the wafer W is integrated with and supported by the ring-shaped frame F via the protective tape T, and the surface W1 of the wafer W is exposed upward.
(1) 프레임 유지 공정(1) frame maintenance process
도 2에 나타낸 바와 같이, 보호 테이프(T)를 개재하여 웨이퍼(W)와 일체화된 링형 프레임(F)을, 스피너 테이블(3)의 프레임 유지 수단(5)의 지지대(50)에 배치한다. 그리고, 압박부(51)를 지지대(50)를 향하여(도 2에서의 화살표 A의 방향으로) 회전시키고, 지지대(50)와 압박부(51) 사이에 링형 프레임(F)을 끼워서 유지한다. As shown in FIG. 2, the ring-shaped frame F integrated with the wafer W via the protection tape T is arrange | positioned at the support stand 50 of the frame holding means 5 of the spinner table 3. And the
(2) 웨이퍼 유지 공정(2) wafer holding process
도 2에 나타낸 바와 같이, 보호 테이프(T)를 개재하여 링형 프레임(F)과 일체화된 웨이퍼(W)를 스피너 테이블(3)의 웨이퍼 유지 수단(4)의 유지 테이블(40)에 배치한다. 그리고, 흡인부(40a)에 부압을 작용시킴으로써, 웨이퍼(W)의 표면(W1)이 상측이 되어 노출된 상태로, 보호 테이프(T)를 개재하여 웨이퍼(W)의 이면(W2)측을 흡인 유지한다. 프레임 유지 공정 및 웨이퍼 유지 공정은, 어느 쪽을 먼저 행해도 좋고, 두 공정을 동시에 행해도 좋다. As shown in FIG. 2, the wafer W integrated with the ring-shaped frame F is disposed on the holding table 40 of the wafer holding means 4 of the spinner table 3 via the protective tape T. As shown in FIG. Then, a negative pressure is applied to the
(3) 오목부 형성 공정(3) recess formation process
프레임 유지 공정 및 웨이퍼 유지 공정후, 링형 프레임(F)을 웨이퍼(W)에 대하여 상대적으로 상승 동작시킨다. 구체적으로는, 도 3에 나타내는 프레임 유지 수단(5)의 상하 동작 수단(54)이 지지대(50)를 상승시키거나, 웨이퍼 유지 수단(4)의 상하 동작 수단(43)이 유지 테이블(40)을 하강시키거나, 또는 상하 동작 수단(54)이 지지대(50)를 상승시키고 상하 동작 수단(43)이 유지 테이블(40)을 하강시킴으로써, 프레임 유지 수단(5)과 웨이퍼 유지 수단(4)을 상대적으로 상하 동작시킨다. 이와 같이 하여 링형 프레임(F)을 웨이퍼(W)에 대하여 상대적으로 상승시키면, 웨이퍼(W)와 프레임(F) 사이에 고저차가 생기고, 보호 테이프(T)에 의해 경사면(90)이 형성된다. 그리고, 웨이퍼(W)의 표면(W1)을 바닥면(91)으로 하고, 이 바닥면(91)과 경사면(90)으로 유발 형상의 오목부(9)가 형성된다. After the frame holding step and the wafer holding step, the ring-shaped frame F is operated to be lifted relative to the wafer W. FIG. Specifically, the up-down operation means 54 of the frame holding means 5 shown in FIG. 3 raises the
(4) 수층 형성 공정(4) water layer forming process
오목부 형성 공정후, 도 4에 나타낸 바와 같이, 물공급 수단(6)을 선회시키고, 분출부(61)를 스피너 테이블(3)에 유지된 웨이퍼(W)의 위쪽으로 이동시켜, 분출부(61)로부터 물(610)을 토출시킨다. 그렇게 하면, 유발형의 오목부(9)에 물이 고여, 웨이퍼(W)의 표면(W1)을 덮는 수층(61a)이 형성된다. After the recess forming step, as shown in FIG. 4, the water supply means 6 is pivoted, and the
(5) 액상 수지 적하 공정(5) Liquid resin dropping process
수층 형성 공정후, 물공급 수단(6)의 분출부(61)를 웨이퍼(W)의 위쪽으로부터 후퇴시키고, 도 5에 나타낸 바와 같이, 액상 수지 공급 수단(7)을 선회시켜 적하부(71)을 웨이퍼(W)의 중심부의 위쪽으로 이동시킨다. 그리고, 그 상태로 적하부(71)로부터 액상 수지(710)를 적하한다. 예를 들어, 웨이퍼(W)의 직경이 300 mm이며, 4 ㎛ 두께의 수지를 피복하고자 하는 경우는, 2 cc 정도의 액상 수지(710)를 적하한다. 액상 수지(710)로는, 예를 들어 점도가 50?70 센티포어즈의 폴리비닐알콜을 사용할 수 있다. 적하된 액상 수지(710)는 그 점도에 의해 수층(61a) 상에 체류한다.After the water layer forming step, the
(6) 수지 피막 피복 공정(6) resin film coating process
액상 수지 적하 공정후, 도 6에 나타낸 바와 같이, 링형 프레임 유지 수단(5)을 웨이퍼 유지 수단(4)에 대하여 상대적으로 하강시킴으로써, 유발형의 오목부(9)가 형성되지 않은 상태, 즉 웨이퍼(W)와 링형 프레임(F) 사이에 단차가 없어져, 보호 테이프(T)가 수평이 된 플랫 형상으로 복귀하여, 스피너 테이블(3)을 회전시킨다. 그렇게 하면, 웨이퍼(W)의 회전에 따라 수층(61a)에 원심력이 작용하여, 그 원심력에 의해 수층(61a)을 형성했던 물(61b)이 외측 둘레로 비산하고, 적하된 액상 수지(710)가 수평 방향 외측 둘레로 확장되어 웨이퍼(W)의 표면(W1)의 한면에 골고루 퍼져, 수지 피막(71a)이 웨이퍼(W)의 표면(W1) 상에 형성된다. After the liquid resin dropping step, as shown in FIG. 6, the ring-shaped frame holding means 5 is lowered relative to the wafer holding means 4, whereby the induced
이상과 같이, 링형 프레임(F)을 웨이퍼에 대하여 상대적으로 상승시켜 오목부를 형성하고, 오목부에 물을 공급하여 웨이퍼의 표면 상에 수층을 형성하고, 그 위에서 액상 수지를 적하한 후 웨이퍼를 회전시켜 수층을 비산시켜 액상 수지를 스핀코트함으로써, 웨이퍼의 표면에 효율적으로 수지 피막을 피복할 수 있다. As described above, the ring-shaped frame F is raised relative to the wafer to form a recess, water is supplied to the recess to form a water layer on the surface of the wafer, and the liquid resin is dropped thereon, and then the wafer is rotated. The resin film can be efficiently coated on the surface of the wafer by spin coating the liquid resin by scattering the aqueous layer.
1: 보호막 피복 장치 2: 회전 구동 수단
20: 모터 21: 회전축
22: 베이스대 220: 평면부
221: 수하부 3: 스피너 테이블
W: 웨이퍼 W1: 표면
W2: 이면 T: 보호 테이프
F: 링형 프레임 4: 웨이퍼 유지 수단
40: 유지 테이블 40a: 흡인부
41: 축부 42: 승강 구동부
43: 상하 동작 수단 5: 링형 프레임 유지 수단
50: 지지대 51: 압박부
510: 회전축 52: 축부
53: 승강 구동부 54: 상하 동작 수단
6: 물공급 수단 60: 베이스부
61: 분출부 610: 물
61a: 수층 7: 액상 수지 공급 수단
70: 베이스부 71: 적하부
8: 받침 수단 80: 내측벽
81: 외측벽 82: 바닥판
9: 오목부 90: 경사면
91: 바닥면1: protective film coating device 2: rotation drive means
20: motor 21: rotating shaft
22: base stand 220: flat part
221: lower part 3: spinner table
W: wafer W1: surface
W2: Backside T: Masking Tape
F: ring-shaped frame 4: wafer holding means
40: holding table 40a: suction part
41: shaft portion 42: lifting drive portion
43: vertical operation means 5: ring-shaped frame holding means
50: support 51: compression
510: rotating shaft 52: shaft portion
53: lift drive unit 54: vertical operation means
6: water supply means 60: base part
61: jet 610: water
61a: water layer 7: liquid resin supply means
70: base portion 71: dripping portion
8: supporting means 80: inner wall
81: outer wall 82: bottom plate
9: recess 90: inclined surface
91: bottom surface
Claims (3)
상기 스피너 테이블에서 상기 링형 프레임을 유지하는 프레임 유지 공정과,
상기 스피너 테이블에서 상기 웨이퍼의 표면을 상측을 향하게 유지하는 웨이퍼 유지 공정과,
상기 링형 프레임을 상기 웨이퍼에 대하여 상대적으로 상승시켜, 상기 링형 프레임과 상기 웨이퍼로 유발 형상의 오목부를 형성하는 오목부 형성 공정과,
상기 오목부 형성 공정후, 상기 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼의 표면을 덮는 수층(水層)을 형성하는 수층 형성 공정과,
상기 수층에서의 웨이퍼의 중심부에 액상 수지를 적하하는 액상 수지 적하 공정과,
상기 스피너 테이블을 회전시켜 상기 웨이퍼의 회전에 수반하여 수층에 작용하는 원심력에 의해 상기 수층을 비산시키고 적하된 액상 수지를 확장시켜, 상기 웨이퍼의 표면에 수지 피막을 피복하는 수지 피막 피복 공정
을 포함하는 보호막 피복 방법. A protective film coating method of forming a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer by using a protective film forming apparatus including a spinner table for holding a wafer adhered to a protective tape mounted on a ring frame.
A frame holding step of holding the ring-shaped frame in the spinner table;
A wafer holding step of holding the surface of the wafer upward in the spinner table;
A concave forming step of raising the ring-shaped frame relative to the wafer to form concave portions of the ring-shaped frame and the wafer;
An aqueous layer forming step of forming a water layer covering the surface of the wafer held on the spinner table after the recess forming step;
A liquid resin dropping step of dropping a liquid resin in the center of the wafer in the water layer;
Resin coating process which rotates the spinner table, scatters the aqueous layer by centrifugal force acting on the aqueous layer with the rotation of the wafer, expands the dropped liquid resin, and coats the resin film on the surface of the wafer.
Protective film coating method comprising a.
링형 프레임에 장착된 보호 테이프에 점착된 상태의 웨이퍼를 유지하는 웨이퍼 유지 수단과, 상기 링형 프레임을 유지하는 링형 프레임 유지 수단을 포함하는 스피너 테이블과,
상기 스피너 테이블을 회전 구동시키는 회전 구동 수단과,
상기 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼에 물을 공급하는 물공급 수단과,
상기 스피너 테이블에 유지된 웨이퍼에 액상 수지를 공급하는 액상 수지 공급 수단과,
상기 링형 프레임 유지 수단과 상기 웨이퍼 유지 수단을 상대적으로 상하 동작시키는 상하 동작 수단
을 포함하고 있는 보호막 피복 장치.A protective film coating device for forming a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer,
A spinner table including wafer holding means for holding a wafer adhered to a protective tape mounted to the ring-shaped frame, and ring-shaped frame holding means for holding the ring-shaped frame;
Rotation drive means for rotationally driving the spinner table;
Water supply means for supplying water to the wafer held on the spinner table;
Liquid resin supply means for supplying a liquid resin to a wafer held on the spinner table;
Vertical operation means for relatively vertically operating the ring-shaped frame holding means and the wafer holding means
Protective coating device comprising a.
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