JP5715859B2 - Protective film coating method and protective film coating apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、各種ウェーハの表面に樹脂被膜を被覆する方法及び装置に関する。   The present invention relates to a method and apparatus for coating a resin film on the surface of various wafers.

IC、LSI等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウェーハは、分割予定ラインに沿ってレーザー照射が行われて個々のデバイスに分割され、各種電子機器等に利用されている(例えば特許文献1参照)。   A wafer on which a plurality of devices such as IC, LSI, etc. are partitioned by a planned dividing line and formed on the surface is divided into individual devices by laser irradiation along the planned dividing line, and is used for various electronic devices, etc. (For example, refer to Patent Document 1).

シリコン等から構成されたウェーハにレーザー光線を照射すると、デブリが飛散してウェーハの表面に付着し、デバイスの品質を低下させるという問題があることから、ウェーハの表面にポリビニルアルコール(PVA)等から構成される液状樹脂を被覆して保護膜を形成し、デブリが飛散しても保護膜によってデバイスの表面を保護して品質低下を防止する技術が本出願人によって提案され、実用に供されている(例えば特許文献2参照)。   When a laser beam is irradiated onto a wafer made of silicon, etc., there is a problem that debris scatters and adheres to the wafer surface, degrading the quality of the device. Therefore, the wafer surface is made of polyvinyl alcohol (PVA) or the like. The present applicant has proposed and put to practical use a technique for forming a protective film by coating a liquid resin, and protecting the surface of the device with the protective film even if debris is scattered to prevent quality degradation. (For example, refer to Patent Document 2).

ところが、液状樹脂とウェーハとは親和性が低いため、例えば直径300mmのウェーハの表面に厚さ4μmの保護膜を形成する場合には、保護膜として被覆されるPVA等の液状樹脂は0.3cc程度あれば足りるにもかかわらず、実際には19〜30ccの液状樹脂が使用され、そのうちの98〜99%近くが廃棄されており、極めて不経済であるという問題がある。   However, since the affinity between the liquid resin and the wafer is low, for example, when a protective film having a thickness of 4 μm is formed on the surface of a wafer having a diameter of 300 mm, the liquid resin such as PVA coated as the protective film is 0.3 cc. In spite of that, it is sufficient to use 19 to 30 cc of liquid resin, and nearly 98 to 99% of it is discarded, which is very uneconomical.

そこで、かかる問題を解消するために、ウェーハの表面を覆う水の層を形成し、PVA等の液状樹脂を滴下する方法により、PVA等の液状樹脂を効率よく被覆できる方法及び装置が提案され、実用に供されている(例えば特許文献3参照)。   Therefore, in order to solve such a problem, a method and an apparatus that can efficiently coat a liquid resin such as PVA are proposed by forming a water layer covering the surface of the wafer and dropping a liquid resin such as PVA. It has been put to practical use (see, for example, Patent Document 3).

特開平6−120334号公報JP-A-6-120334 特開2004−188475号公報JP 2004-188475 A 特開2010−125351号公報JP 2010-125351 A

しかし、ウェーハの撥水性や装置の傾きに起因して、ウェーハの表面を覆う水の層の形成に100秒以上に時間を要しているという問題がある。   However, due to the water repellency of the wafer and the inclination of the apparatus, there is a problem that it takes time of 100 seconds or more to form the water layer covering the surface of the wafer.

本発明は、このような問題点にかんがみなされたもので、PVA等の液状樹脂をウェーハに効率よく被覆できるようにすることである。   The present invention has been made in view of such problems, and is to enable a liquid resin such as PVA to be efficiently coated on a wafer.

第一の発明は、ウェーハをリング状フレームに装着された保護テープに貼着した状態で保持するスピンナーテーブルを備えた保護膜形成装置を用い、ウェーハの表面に液状樹脂を被覆して保護膜を形成する保護膜形成方法に関するもので、以下の各工程により構成される。
(1)スピンナーテーブルでリング状フレームを保持するフレーム保持工程、
(2)スピンナーテーブルでウェーハの表面を上側に向けて保持するウェーハ保持工程、
(3)リング状フレームをウェーハに対して相対的に上昇させてリング状フレームとウェーハとですり鉢形状の凹部を形成する凹部形成工程、
(4)凹部形成工程後、スピンナーテーブルに保持されたウェーハの表面を覆う水の層を形成する水層形成工程、
(5)水の層におけるウェーハの中心部に液状樹脂を滴下する液状樹脂滴下工程、
(6)スピンナーテーブルを回転させウェーハの回転に伴って水の層に働く遠心力により水の層を飛散させるとともに滴下した液状樹脂を拡張させてウェーハの表面に樹脂被膜を被覆する樹脂被膜被覆工程。
The first invention uses a protective film forming apparatus having a spinner table that holds a wafer in a state of being attached to a protective tape mounted on a ring-shaped frame, and covers the surface of the wafer with a liquid resin to form a protective film. The present invention relates to a protective film forming method to be formed, and includes the following steps.
(1) A frame holding step for holding a ring-shaped frame with a spinner table;
(2) A wafer holding process for holding the wafer surface upward with a spinner table,
(3) A concave portion forming process in which the ring-shaped frame is raised relative to the wafer to form a mortar-shaped concave portion between the ring-shaped frame and the wafer;
(4) A water layer forming step of forming a water layer covering the surface of the wafer held on the spinner table after the recess forming step,
(5) A liquid resin dropping step in which a liquid resin is dropped at the center of the wafer in the water layer,
(6) A resin film coating process in which the spinner table is rotated to disperse the water layer by centrifugal force acting on the water layer as the wafer rotates, and the dropped liquid resin is expanded to cover the surface of the wafer with the resin film. .

上記保護膜形成方法において、樹脂被膜被覆工程では、フレームをウェーハに対して相対的に下降させることですり鉢形状をフラット形状に戻すことにより、水の層の拡張に伴って滴下した液状樹脂を拡張させてウェーハの表面に樹脂被膜を形成することが望ましい。   In the above protective film forming method, in the resin coating process, the liquid resin dripped with the expansion of the water layer is expanded by lowering the frame relative to the wafer and returning the mortar shape to a flat shape. It is desirable to form a resin film on the surface of the wafer.

第二の発明は、上記保護膜形成方法の実施に好適な保護膜被覆装置に関するもので、リング状フレームに装着された保護テープに貼着された状態のウェーハを保持するウェーハ保持手段と、リング状フレームを保持するリング状フレーム保持手段とを備えたスピンナーテーブルと、スピンナーテーブルを回転駆動する回転駆動手段と、スピンナーテーブルに保持されたウェーハに水を供給する水供給手段と、スピンナーテーブルに保持されたウェーハに液状樹脂を供給する液状樹脂供給手段と、リング状フレーム保持手段とウェーハ保持手段とを相対的に上下動作させる上下動手段とを具備するものである。   A second invention relates to a protective film coating apparatus suitable for carrying out the above protective film forming method, a wafer holding means for holding a wafer attached to a protective tape attached to a ring-shaped frame, and a ring A spinner table having a ring-shaped frame holding means for holding a frame, a rotation driving means for rotationally driving the spinner table, a water supply means for supplying water to a wafer held on the spinner table, and a spinner table Liquid resin supply means for supplying liquid resin to the wafer, and vertical movement means for relatively moving the ring-shaped frame holding means and the wafer holding means up and down.

本発明に係る樹脂被膜被覆工程では、リング状フレームに装着された保護テープにウェーハを貼着した状態のリング状フレームをウェーハに対して相対的に上昇させてリング状フレームとウェーハとですり鉢形状の凹部を形成し、その凹部に水を供給してウェーハの表面に水の層を形成した後、ウェーハの中心部に液状樹脂を滴下し、スピンナーテーブルを回転させて遠心力により水の層を飛散させるとともに滴下した液状樹脂を拡張させてウェーハの表面に樹脂被膜を被覆するため、液状樹脂を効率よくウェーハの表面全体に行き渡らせて被覆することができる。また、滴下した液状樹脂のほとんどがウェーハの表面に被覆されるため、極めて経済的である。   In the resin film coating process according to the present invention, the ring-shaped frame with the wafer attached to the protective tape mounted on the ring-shaped frame is raised relative to the wafer to form a mortar shape between the ring-shaped frame and the wafer. After forming a concave portion and supplying water to the concave portion to form a water layer on the surface of the wafer, a liquid resin is dropped on the central portion of the wafer, and the spinner table is rotated to form a water layer by centrifugal force. Since the liquid resin dropped and expanded is coated with the resin film on the surface of the wafer, the liquid resin can be efficiently spread over the entire surface of the wafer and coated. Further, since most of the dropped liquid resin is coated on the surface of the wafer, it is extremely economical.

保護膜被覆装置の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of a protective film coating | coated apparatus. 保護テープを介してリング状フレームに支持されたウェーハをスピンナーテーブルに保持した状態を略示的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the state hold | maintained on the spinner table with the wafer supported by the ring-shaped flame | frame via the protective tape. リング状フレームを上昇させてウェーハの表面と保護テープとで凹部を形成した状態を略示的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the state which raised the ring-shaped flame | frame and formed the recessed part with the surface of a wafer, and the protective tape. 凹部に水を供給してウェーハの表面上に水の層を形成する状態を略示的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows roughly the state which supplies water to a recessed part and forms the layer of water on the surface of a wafer. 水の層の上に液状樹脂を滴下する状態を略示的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the state which dripped liquid resin on the layer of water. スピンナーテーブルを回転させて水の層を飛散させ、ウェーハの表面に樹脂被膜を形成する状態を略示的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematically the state which rotates a spinner table and scatters a layer of water and forms the resin film on the surface of a wafer.

1 装置構成
図1に示す保護膜被覆装置1は、ウェーハの表面に液状樹脂を被覆して保護膜を形成する装置であり、回転駆動手段2によって駆動されて回転可能なスピンナーテーブル3を備えている。
1 Apparatus Configuration A protective film coating apparatus 1 shown in FIG. 1 is an apparatus that forms a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer, and includes a spinner table 3 that can be rotated by being driven by a rotation driving means 2. Yes.

スピンナーテーブル3に保持されるウェーハWは、リング状フレームFの開口部を塞ぐように装着された保護テープTに貼着される。スピンナーテーブル3は、リング状フレームFに装着された保護テープTに貼着された状態のウェーハWを保持するウェーハ保持手段4と、保護テープTを介してウェーハWと一体化されたリング状フレームFを保持するリング状フレーム保持手段5とから構成されている。   The wafer W held on the spinner table 3 is attached to a protective tape T mounted so as to close the opening of the ring frame F. The spinner table 3 includes a wafer holding means 4 for holding the wafer W attached to the protective tape T attached to the ring-shaped frame F, and a ring-shaped frame integrated with the wafer W via the protective tape T. And a ring-shaped frame holding means 5 for holding F.

スピンナーテーブル3の周囲には、スピンナーテーブル3のウェーハ保持手段4に保持されたウェーハWに水を供給する水供給手段6が配設されている。水供給手段6は、図示しない水源に連通し旋回可能な基部60と、基部60から水平方向に延びるとともに先端部が下方に湾曲した噴出部61とから構成される。   Around the spinner table 3, water supply means 6 for supplying water to the wafer W held by the wafer holding means 4 of the spinner table 3 is disposed. The water supply means 6 includes a base portion 60 that can be swung in communication with a water source (not shown), and an ejection portion 61 that extends in the horizontal direction from the base portion 60 and has a tip portion curved downward.

スピンナーテーブル3の周囲には、スピンナーテーブル3のウェーハ保持手段4に保持されたウェーハWに液状樹脂を供給する液状樹脂供給手段7が配設されている。液状樹脂供給手段7は、図示しない液状樹脂のタンクに連通し旋回可能な基部70と、基部70から水平方向に延びるとともに先端部が下方に湾曲した滴下部71とから構成される。   Around the spinner table 3, liquid resin supply means 7 for supplying liquid resin to the wafer W held by the wafer holding means 4 of the spinner table 3 is disposed. The liquid resin supply means 7 includes a base portion 70 that can be swung in communication with a liquid resin tank (not shown), and a dropping portion 71 that extends from the base portion 70 in the horizontal direction and has a tip portion curved downward.

ウェーハ保持手段4は、保護テープTを介してウェーハWを吸引保持することができる保持テーブル40と、保持テーブルの下端に連結された軸部41と、軸部41を昇降させる昇降駆動部42とを備えており、軸部41と昇降駆動部42とで保持テーブル40を上下動作させる上下動手段43が構成されている。図2に示すように、保持テーブル40は、図示しない吸引源に連通する吸引部40aを備えている。図1の昇降駆動部42及び軸部41としては、例えばエアシリンダ及びピストンロッドを使用することができ、上下動手段43は、リング状フレーム保持手段5とウェーハ保持手段4とを相対的に上下動作させるための手段として機能する。なお、図2以降では、上下動手段43は図示していない。   The wafer holding means 4 includes a holding table 40 capable of sucking and holding the wafer W via the protective tape T, a shaft portion 41 connected to the lower end of the holding table, and a lift drive unit 42 for moving the shaft portion 41 up and down. The shaft portion 41 and the lift drive portion 42 constitute a vertical movement means 43 that moves the holding table 40 up and down. As shown in FIG. 2, the holding table 40 includes a suction unit 40a that communicates with a suction source (not shown). 1, for example, an air cylinder and a piston rod can be used. The vertical movement means 43 moves the ring-shaped frame holding means 5 and the wafer holding means 4 up and down relatively. It functions as a means for operating. In FIG. 2 and subsequent figures, the vertical movement means 43 is not shown.

図2に示すように、リング状フレーム保持手段5は、リング状フレームFを下方から支持する支持台50と、支持台50に取り付けられリング状フレームFを上方から押圧する押圧部51と、支持台50の下端に連結された複数の軸部52と、軸部52を昇降させる複数の昇降駆動部53とを備えており、軸部52と昇降駆動部53とで支持台50を上下動作させる上下動手段54を構成している。押圧部51は、エアの注入などによって回転軸510を中心として回転することができる。また、昇降駆動部53及び軸部52としては、例えばエアシリンダ及びピストンロッドを使用することができる。上下動手段43は、リング状フレーム保持手段5とウェーハ保持手段4とを相対的に上下動作させるための手段として機能する。   As shown in FIG. 2, the ring-shaped frame holding means 5 includes a support base 50 that supports the ring-shaped frame F from below, a pressing portion 51 that is attached to the support base 50 and presses the ring-shaped frame F from above, and supports A plurality of shaft portions 52 coupled to the lower end of the base 50 and a plurality of lift drive portions 53 that lift and lower the shaft portions 52 are provided, and the support base 50 is moved up and down by the shaft portions 52 and the lift drive portions 53. The vertical movement means 54 is comprised. The pressing portion 51 can rotate around the rotation shaft 510 by air injection or the like. Moreover, as the raising / lowering drive part 53 and the axial part 52, an air cylinder and a piston rod can be used, for example. The vertical movement means 43 functions as a means for relatively moving the ring-shaped frame holding means 5 and the wafer holding means 4 up and down.

図2に示すように、スピンナーテーブル3を回転駆動する回転駆動手段2は、モータ20と、モータ20によって回転駆動される回転軸21と、回転軸21の回転に伴って回転する基台22とから構成され、基台22には昇降駆動部53が固定されている。モータ20が回転軸21を回転させると、基台22も回転し、ウェーハ保持手段4及びフレーム保持手段5が回転する構成となっている。基台22は、平面部220と、その周縁部から下方に垂下する垂下部221とから構成されている。   As shown in FIG. 2, the rotational drive means 2 that rotationally drives the spinner table 3 includes a motor 20, a rotational shaft 21 that is rotationally driven by the motor 20, and a base 22 that rotates as the rotational shaft 21 rotates. The lifting / lowering drive unit 53 is fixed to the base 22. When the motor 20 rotates the rotating shaft 21, the base 22 is also rotated, and the wafer holding means 4 and the frame holding means 5 are configured to rotate. The base 22 includes a flat portion 220 and a hanging portion 221 that hangs downward from the peripheral edge thereof.

スピンナーテーブル3の下方には、受け手段8が配設されている。受け手段8は、基台22を構成する垂下部221の内周側に位置する内側壁80と、垂下部221よりも外周側に位置する外側壁81と、内側壁80の下端部と外側壁81の下端部とをつなぐ底板82とから構成されている。   Receiving means 8 is disposed below the spinner table 3. The receiving means 8 includes an inner wall 80 positioned on the inner peripheral side of the hanging portion 221 constituting the base 22, an outer wall 81 positioned on the outer peripheral side of the hanging portion 221, a lower end portion and an outer wall of the inner wall 80. The bottom plate 82 is connected to the lower end of 81.

2 保護膜被覆方法
次に、ウェーハWの表面W1に保護膜を被覆する場合における保護膜被覆装置1の動作について説明する。図2に示すように、保護テープTの外周部にリング状フレームFを貼着してリング状フレームFの開口部を保護テープTによって塞ぎ、その塞がれた部分の保護テープTにウェーハWの裏面W2を貼着する。このようにして、ウェーハWが保護テープTを介してリング状フレームFと一体化されて支持された状態となり、ウェーハWの表面W1が上側に向いて露出した状態となる。
2 Protective Film Coating Method Next, the operation of the protective film coating apparatus 1 when the protective film is coated on the surface W1 of the wafer W will be described. As shown in FIG. 2, a ring-shaped frame F is attached to the outer periphery of the protective tape T, the opening of the ring-shaped frame F is closed with the protective tape T, and the wafer W is applied to the blocked protective tape T. The back surface W2 is attached. In this manner, the wafer W is integrated with and supported by the ring-shaped frame F via the protective tape T, and the surface W1 of the wafer W is exposed upward.

(1)フレーム保持工程
図2に示すように、保護テープTを介してウェーハWと一体化されたリング状フレームFをスピンナーテーブル3のフレーム保持手段5の支持台50に載置する。そして、押圧部51を支持台50に向けて(図2における矢印Aの方向に)回転させ、支持台50と押圧部51とでリング状フレームFを挟持して保持する。
(2)ウェーハ保持工程
図2に示すように、保護テープTを介してリング状フレームFと一体化されたウェーハWをスピンナーテーブル3のウェーハ保持手段4の保持テーブル40に載置する。そして、吸引部40aに負圧を作用させることにより、ウェーハWの表面W1が上側になって露出した状態で、保護テープTを介してウェーハWの裏面W2側を吸引保持する。なお、フレーム保持工程及びウェーハ保持工程は、どちらを先に行ってもよいし、両工程を同時に行ってもよい。
(3)凹部形成工程
フレーム保持工程及びウェーハ保持工程の後、リング状フレームFをウェーハWに対して相対的に上昇動作させる。具体的には、図3に示すフレーム保持手段5の上下動手段54が支持台50を上昇させるか、ウェーハ保持手段4の上下動手段43が保持テーブル40を下降させるか、または、上下動手段54が支持台50を上昇させるとともに上下動手段43が保持テーブル40を下降させることで、フレーム保持手段5とウェーハ保持手段4とを相対的に上下動させる。このようにしてリング状フレームFをウェーハWに対して相対的に上昇させると、ウェーハWとフレームFとの間に高低差が生じるとともに、保護テープTによって斜面90が形成される。そして、ウェーハWの表面W1を底面91とし、この底面91と斜面90とで、すり鉢形状の凹部9が形成される。
(1) Frame holding step As shown in FIG. 2, the ring-shaped frame F integrated with the wafer W via the protective tape T is placed on the support base 50 of the frame holding means 5 of the spinner table 3. Then, the pressing portion 51 is rotated toward the support base 50 (in the direction of arrow A in FIG. 2), and the ring-shaped frame F is sandwiched and held between the support base 50 and the pressing portion 51.
(2) Wafer Holding Step As shown in FIG. 2, the wafer W integrated with the ring-shaped frame F via the protective tape T is placed on the holding table 40 of the wafer holding means 4 of the spinner table 3. Then, by applying a negative pressure to the suction portion 40a, the back surface W2 side of the wafer W is sucked and held via the protective tape T with the front surface W1 of the wafer W exposed on the upper side. Note that either the frame holding step or the wafer holding step may be performed first, or both steps may be performed simultaneously.
(3) Concave forming step After the frame holding step and the wafer holding step, the ring-shaped frame F is moved up relative to the wafer W. Specifically, the vertical movement means 54 of the frame holding means 5 shown in FIG. 3 raises the support base 50, the vertical movement means 43 of the wafer holding means 4 lowers the holding table 40, or the vertical movement means. 54 raises the support base 50 and the vertical movement means 43 lowers the holding table 40, whereby the frame holding means 5 and the wafer holding means 4 are relatively moved up and down. When the ring-shaped frame F is raised relative to the wafer W in this way, a height difference is generated between the wafer W and the frame F, and a slope 90 is formed by the protective tape T. The front surface W1 of the wafer W is defined as a bottom surface 91, and the bottom surface 91 and the inclined surface 90 form a mortar-shaped recess 9.

(4)水層形成工程
凹部形成工程の後、図4に示すように、水供給手段6を旋回させ、噴出部61をスピンナーテーブル3に保持されたウェーハWの上方に移動させ、噴出部61から水610を吐出させる。そうすると、すり鉢状の凹部9に水が溜まり、ウェーハWの表面W1を覆う水の層61aが形成される。
(4) Water Layer Formation Step After the recess formation step, as shown in FIG. 4, the water supply means 6 is swung to move the ejection portion 61 above the wafer W held on the spinner table 3. Water 610 is discharged from the water. As a result, water accumulates in the mortar-shaped recess 9 and a water layer 61a covering the surface W1 of the wafer W is formed.

(5)液状樹脂滴下工程
水層形成工程の後、水供給手段6の噴出部61をウェーハWの上方から退避させ、図5に示すように、液状樹脂供給手段7を旋回させて滴下部71をウェーハWの中心部の上方に移動させる。そして、その状態で滴下部71から液状樹脂710を滴下する。例えば、ウェーハWの直径が300mmであり、4μmの厚さの樹脂を被覆しようとする場合は、2cc程度の液状樹脂710を滴下する。液状樹脂710としては、例えば粘度が50〜70センチポアズのポリビニルアルコールを使用することができる。滴下された液状樹脂710は、その粘度により、水層61aの上に滞留する。
(5) Liquid resin dropping step After the water layer forming step, the ejection portion 61 of the water supply means 6 is retracted from above the wafer W, and the liquid resin supply means 7 is swung as shown in FIG. Is moved above the center of the wafer W. And the liquid resin 710 is dripped from the dripping part 71 in the state. For example, when the diameter of the wafer W is 300 mm and a resin having a thickness of 4 μm is to be coated, a liquid resin 710 of about 2 cc is dropped. As the liquid resin 710, for example, polyvinyl alcohol having a viscosity of 50 to 70 centipoise can be used. The dropped liquid resin 710 stays on the water layer 61a due to its viscosity.

(6)樹脂被膜被覆工程
液状樹脂滴下工程の後、図6に示すように、リング状フレーム保持手段5をウェーハ保持手段4に対して相対的に下降させることにより、すり鉢状の凹部9が形成されていない状態、すなわちウェーハWとリング状フレームFとの間に段差がなくなり保護テープTが水平状となったフラット形状に戻し、スピンナーテーブル3を回転させる。そうすると、ウェーハWの回転に伴って水の層61aに遠心力が働き、その遠心力によって水の層61aを形成していた水61bが外周側に飛散するとともに、滴下した液状樹脂710が、水平方向外周側に拡張されてウェーハWの表面W1の一面に行き渡り、樹脂被膜71aがウェーハWの表面W1の上に形成される。
(6) Resin film coating step After the liquid resin dropping step, the mortar-shaped recess 9 is formed by lowering the ring-shaped frame holding means 5 relative to the wafer holding means 4 as shown in FIG. The spinner table 3 is rotated by returning to the flat state in which the level difference between the wafer W and the ring-shaped frame F is eliminated and the protective tape T is horizontal. Then, a centrifugal force acts on the water layer 61a with the rotation of the wafer W, and the water 61b forming the water layer 61a is scattered by the centrifugal force to the outer peripheral side, and the dropped liquid resin 710 is horizontal. The resin film 71a is formed on the front surface W1 of the wafer W by extending to the outer peripheral side in the direction and spreading over one surface W1 of the wafer W.

以上のように、リング状フレームFをウェーハに対して相対的に上昇させて凹部を形成し、凹部に水を供給してウェーハの表面上に水の層を形成し、その上から液状樹脂を滴下した後、ウェーハを回転させて水の層を飛散させて液状樹脂をスピンコートすることにより、ウェーハの表面に効率よく樹脂被膜を被覆することができる。   As described above, the ring-shaped frame F is raised relative to the wafer to form a recess, and water is supplied to the recess to form a water layer on the surface of the wafer. After the dropping, the wafer is rotated to scatter the water layer and spin coat the liquid resin, whereby the resin film can be efficiently coated on the surface of the wafer.

1:保護膜被覆装置
2:回転駆動手段
20:モータ 21:回転軸
22:基台 220:平面部 221:垂下部
3:スピンナーテーブル
W:ウェーハ W1:表面 W2:裏面
T:保護テープ
F:リング状フレーム
4:ウェーハ保持手段
40:保持テーブル 40a:吸引部
41:軸部 42:昇降駆動部 43:上下動手段
5:リング状フレーム保持手段
50:支持台 51:押圧部 510:回転軸
52:軸部 53:昇降駆動部 54:上下動手段
6:水供給手段 60:基部
61:噴出部 610:水 61a:水の層
7:液状樹脂供給手段 70:基部 71:滴下部
8:受け手段 80:内側壁 81:外側壁 82:底板
9:凹部 90:斜面 91:底面
1: Protective film coating device 2: Rotation drive means 20: Motor 21: Rotating shaft 22: Base 220: Plane portion 221: Hanging part 3: Spinner table W: Wafer W1: Front surface W2: Back surface T: Protective tape F: Ring Frame 4: wafer holding means 40: holding table 40a: suction part 41: shaft part 42: elevating drive part 43: vertical movement means 5: ring-shaped frame holding means 50: support base 51: pressing part 510: rotating shaft 52: Shaft part 53: Elevating drive part 54: Vertical movement means 6: Water supply means 60: Base 61: Jetting part 610: Water 61a: Water layer 7: Liquid resin supply means 70: Base 71: Dropping part 8: Receiving means 80 : Inner wall 81: Outer wall 82: Bottom plate 9: Recessed portion 90: Slope 91: Bottom

Claims (3)

ウェーハをリング状フレームに装着された保護テープに貼着した状態で保持するスピンナーテーブルを備えた保護膜形成装置を用い、ウェーハの表面に液状樹脂を被覆して保護膜を形成する保護膜形成方法であって、
該スピンナーテーブルで該リング状フレームを保持するフレーム保持工程と、
該スピンナーテーブルで該ウェーハの表面を上側に向けて保持するウェーハ保持工程と、
該リング状フレームを該ウェーハに対して相対的に上昇させて該リング状フレームと該ウェーハとですり鉢形状の凹部を形成する凹部形成工程と、
該凹部形成工程後、該スピンナーテーブルに保持されたウェーハの表面を覆う水の層を形成する水層形成工程と、
該水の層におけるウェーハの中心部に液状樹脂を滴下する液状樹脂滴下工程と、
該スピンナーテーブルを回転させ該ウェーハの回転に伴って水の層に働く遠心力により該水の層を飛散させるとともに滴下した液状樹脂を拡張させて該ウェーハの表面に樹脂被膜を被覆する樹脂被膜被覆工程と、
を含む保護膜形成方法。
Protective film forming method for forming a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer using a protective film forming apparatus having a spinner table that holds the wafer in a state of being attached to a protective tape attached to a ring-shaped frame Because
A frame holding step of holding the ring-shaped frame by the spinner table;
A wafer holding step of holding the wafer surface upward with the spinner table;
A concave portion forming step of raising the ring-shaped frame relative to the wafer to form a mortar-shaped concave portion between the ring-shaped frame and the wafer;
A water layer forming step of forming a water layer covering the surface of the wafer held by the spinner table after the recess forming step;
A liquid resin dropping step in which a liquid resin is dropped at the center of the wafer in the water layer;
Resin film coating that rotates the spinner table to disperse the water layer by centrifugal force acting on the water layer as the wafer rotates and expands the dropped liquid resin to coat the surface of the wafer with a resin film Process,
A protective film forming method comprising:
前記樹脂被膜被覆工程では、前記フレームを前記ウェーハに対して相対的に下降させることで前記すり鉢形状をフラット形状に戻すことにより、水の層の拡張に伴って滴下した液状樹脂を拡張させて該ウェーハの表面に樹脂被膜を形成する
請求項1に記載の保護膜形成方法。
In the resin film coating step, the liquid resin dropped by the expansion of the water layer is expanded by returning the mortar shape to a flat shape by lowering the frame relative to the wafer. The protective film forming method according to claim 1, wherein a resin film is formed on the surface of the wafer.
ウェーハの表面に液状樹脂を被覆して保護膜を形成する保護膜被覆装置であって、
リング状フレームに装着された保護テープに貼着された状態のウェーハを保持するウェーハ保持手段と、該リング状フレームを保持するリング状フレーム保持手段とを備えたスピンナーテーブルと、
該スピンナーテーブルを回転駆動する回転駆動手段と、
該スピンナーテーブルに保持されたウェーハに水を供給する水供給手段と、
該スピンナーテーブルに保持されたウェーハに液状樹脂を供給する液状樹脂供給手段と、
該リング状フレーム保持手段と該ウェーハ保持手段とを相対的に上下動作させる上下動手段と、
を具備している樹脂被膜被覆装置。
A protective film coating apparatus for forming a protective film by coating a liquid resin on the surface of a wafer,
A wafer holding means for holding a wafer attached to a protective tape attached to a ring-shaped frame, and a spinner table comprising a ring-shaped frame holding means for holding the ring-shaped frame;
A rotation drive means for rotating the spinner table;
Water supply means for supplying water to the wafer held on the spinner table;
Liquid resin supply means for supplying liquid resin to the wafer held by the spinner table;
A vertically moving means for relatively moving the ring-shaped frame holding means and the wafer holding means up and down;
A resin film coating apparatus comprising:
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