JP5943588B2 - Cleaning device - Google Patents
Cleaning device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5943588B2 JP5943588B2 JP2011260076A JP2011260076A JP5943588B2 JP 5943588 B2 JP5943588 B2 JP 5943588B2 JP 2011260076 A JP2011260076 A JP 2011260076A JP 2011260076 A JP2011260076 A JP 2011260076A JP 5943588 B2 JP5943588 B2 JP 5943588B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frame
- spinner table
- wafer
- cleaning
- claw
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims description 59
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 claims description 31
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 25
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 51
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
本発明は、回転可能なスピンナーテーブルに保持されたウエーハに洗浄液を供給しながら洗浄する洗浄装置に関する。 The present invention relates to a cleaning apparatus that performs cleaning while supplying a cleaning liquid to a wafer held on a rotatable spinner table.
IC、LSI等のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウエーハは、ダイシング装置によって、個々のデバイスに分割され、携帯電話、パソコン等の各種の電気機器に利用される。 A wafer on which a device such as an IC or LSI is divided and formed on a surface by dividing lines is divided into individual devices by a dicing apparatus and used for various electric devices such as a mobile phone and a personal computer.
ダイシング装置は、フレームに支持されたウエーハを保持し回転可能なチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウエーハを切削する切削手段と、該切削手段によって切削されたウエーハを洗浄及び乾燥する洗浄手段と、から概ね構成されており、効率よくウエーハを個々のデバイスに分割することができる。 A dicing apparatus includes a chuck table that is rotatable while holding a wafer supported by a frame, a cutting unit that cuts the wafer held by the chuck table, and a cleaning unit that cleans and dries the wafer cut by the cutting unit. Thus, the wafer can be efficiently divided into individual devices.
洗浄手段には、ウエーハを保持し回転可能なスピンナーテーブルと、スピンナーテーブルの外周に配設されスピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、スピンナーテーブルとフレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、を備えている。フレーム保持手段は、洗浄中にフレームとともにウエーハがスピンナーテーブルから脱落することを防止するために、フレームの下部を支持するフレーム支持部と、フレーム支持部に支持されたフレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部とを備えており、切削済みのウエーハを効果的に洗浄し乾燥することができる(例えば、下記の特許文献1を参照)。 The cleaning means includes a spinner table that can hold and rotate a wafer, a frame holding means that is disposed on the outer periphery of the spinner table and holds a frame that rotates together with the spinner table, and a rotation that drives and rotates the spinner table and the frame holding means. Means. In order to prevent the wafer together with the frame from dropping off from the spinner table during the cleaning, the frame holding means holds the frame support part supporting the lower part of the frame and the upper part of the frame supported by the frame support part so that the rotation center And a plurality of frame pressing portions arranged at equal angles to each other, and can effectively clean and dry the cut wafer (see, for example, Patent Document 1 below).
しかし、フレーム保持手段は、スピンナーテーブルとともに、例えば、回転速度3000rpmで高速回転する必要があるため、フレーム押さえ部に対してフレームが許容範囲を超えてフレーム支持部からずれていると、スピンナーテーブルの回転により発生する遠心力によってフレームとともにウエーハがフレーム押さえ部の押圧力に抗してスピンナーテーブルから脱落してしまうという問題がある。 However, since the frame holding means needs to rotate at a high speed of, for example, 3000 rpm together with the spinner table, if the frame deviates from the frame support portion with respect to the frame pressing portion, the spinner table There is a problem that the wafer, together with the frame, falls off the spinner table against the pressing force of the frame pressing portion due to the centrifugal force generated by the rotation.
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、高速回転するスピンナーテーブルからフレームとともにウエーハが脱落しないようにすることに発明の解決すべき課題がある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and there is a problem to be solved by preventing the wafer from dropping off together with the frame from the spinner table rotating at high speed.
本発明は、粘着テープを介してフレームに支持された板状物を洗浄する洗浄装置であって、該板状物を保持し回転可能なスピンナーテーブルと、該スピンナーテーブルの外周に配設され該スピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、該スピンナーテーブルと該フレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、該スピンナーテーブルに保持された板状物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を少なくとも備え、該フレーム保持手段は、該フレームの下部を支持するフレーム支持部と、該フレーム支持部に支持された該フレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部と、を備え、該フレーム押さえ部は、アーム部と、該アーム部の上部に形成され該フレームを押圧する爪部と、該アーム部の下部に形成された錘部と、該スピンナーテーブルの回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部が該フレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備え、該錘部は、遠心力に加え揚力が生じるように翼が形成され、該スピンナーテーブルの回転にともない該錘部に作用する遠心力と該翼に作用する揚力との合力によって、該爪部が該支点軸を軸としてフレームを押圧する側に回動する。 The present invention relates to a cleaning device for cleaning a plate-like object supported by a frame via an adhesive tape, the spinner table holding and rotating the plate-like object, and disposed on the outer periphery of the spinner table. Frame holding means for holding a frame that rotates together with the spinner table, rotation means for rotationally driving the spinner table and the frame holding means, and cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the plate-like object held by the spinner table The frame holding means includes a frame support portion that supports the lower portion of the frame, and a plurality of frames that are disposed at an equal angle with respect to the rotation center while holding the upper portion of the frame supported by the frame support portion. A frame pressing portion, and the frame pressing portion is formed on an arm portion and an upper portion of the arm portion to press the frame. And the weight part formed at the lower part of the arm part, and the arm part so that the weight part is pulled to the outer periphery by the centrifugal force due to the rotation of the spinner table and the claw part presses the upper part of the frame. A fulcrum shaft that is rotatably supported, and the weight portion is formed with wings so as to generate lift in addition to centrifugal force, and the centrifugal force acting on the weight portion as the spinner table rotates and the wings By the resultant force with the acting lift force, the claw portion rotates about the fulcrum shaft to press the frame .
本発明では、洗浄装置に備えるフレーム押さえ部は、アーム部と、該アーム部の上部に形成されフレームを押圧する爪部と、該アーム部の下部に形成された錘部と、回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部がフレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備えており、該錘部には遠心力に加えて揚力が発生するように翼が形成されているため、遠心力と揚力との合力によって支点軸を支点としてフレーム押さえ部が回転し、爪部がフレームに向けて下降し、フレームを押圧することができる。したがって、高速回転するスピンナーテーブルからフレームとともにウエーハが脱落することを防止することができる。 In the present invention, the frame pressing part provided in the cleaning device includes an arm part, a claw part formed on the upper part of the arm part to press the frame, a weight part formed on the lower part of the arm part, and a centrifugal force due to rotation. And a fulcrum shaft that rotatably supports the arm portion so that the claw portion presses the upper portion of the frame, and the weight portion is lifted in addition to centrifugal force. Since the wings are formed so as to be generated, the frame pressing portion rotates about the fulcrum shaft by the resultant force of the centrifugal force and the lifting force, and the claw portion descends toward the frame and can press the frame. . Therefore, it is possible to prevent the wafer from dropping off together with the frame from the spinner table rotating at high speed.
図1に示すダイシング装置1には、その上面中央に形成された洗浄領域Pに図2に示す洗浄装置の第一例である洗浄装置2Aが搭載されている。図1に示すように、ダイシング及び洗浄の対象となる板状物であるウエーハWは、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となって支持されている。
In the dicing apparatus 1 shown in FIG. 1, a
図1に示すウエーハカセット5には、フレーム4と一体となっているウエーハWが複数収容されている。ウエーハカセット5の近傍には、ウエーハカセット5からフレーム4とともにウエーハWを取り出す搬出入手段6が配設されている。搬出入手段6は、フレーム4の端部を狭持する狭持部6aを備え、狭持部6aがフレーム4の端部を狭持しY軸方向に往復移動することができる。
A plurality of wafers W integrated with the
搬出入手段6の近傍には、旋回動可能な第一の搬送手段7が配設されている。第一の搬送手段7は、搬出入手段6によって取り出されたウエーハWを吸着し、自転可能なチャックテーブル8に搬送することができる。チャックテーブル8は、X軸方向に往復移動することができ、その移動経路上には、ウエーハWの分割予定ラインを検出するためのアライメントカメラ9及び切削ブレード10aを備える切削手段10が配設されている。
In the vicinity of the carry-in / out means 6, a first transport means 7 capable of rotating is disposed. The first transport means 7 can suck the wafer W taken out by the carry-in / out means 6 and transport it to the chuck table 8 that can rotate. The chuck table 8 can reciprocate in the X-axis direction, and a cutting means 10 including an alignment camera 9 and a
洗浄領域Pの上方には、Y軸方向に移動可能な第二の搬送手段11が配設されている。第二の搬送手段11は、切削手段10によってウエーハWが切削された後、Y軸方向に移動して、フレーム4と一体となっている切削後のウエーハWを吸着して洗浄領域Pに位置する洗浄装置2Aに搬送する。以下に、上記の如く構成されているダイシング装置1に搭載される洗浄装置2Aの詳細な装置構成について説明する。
Above the cleaning region P, a second transport unit 11 that is movable in the Y-axis direction is disposed. After the wafer W is cut by the cutting means 10, the second transport means 11 moves in the Y-axis direction, and adsorbs the wafer W after cutting integrated with the
図2に示す洗浄装置2Aは、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となっているウエーハWを保持し回転可能なスピンナーテーブル20と、スピンナーテーブル20の外周側に配設されスピンナーテーブル20とともに回転するフレーム4を保持するフレーム保持手段30と、スピンナーテーブル20とフレーム保持手段30とを回転駆動する回転手段40と、スピンナーテーブル20に保持されたウエーハWに洗浄液を供給する洗浄液供給手段50と、を少なくとも備えている。
A
図2に示すように、スピンナーテーブル20は、鉛直方向の軸心を有する軸部21によって支持されており、ウエーハWを吸引保持する保持面22を備えている。スピンナーテーブル20には多孔質部材を備えており、その表面が、ウエーハWを吸着する保持面22となっている。そして、図示しない吸引源から伝達される吸引力によって、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となっているウエーハWの下面側を保持面22で吸引して保持することができる。
As shown in FIG. 2, the spinner table 20 is supported by a
スピンナーテーブル20は、軸部21を介して回転手段40に接続されている。回転手段40は、モータ41と、モータ41の外周に配設された複数のエアーピストン42とを備えており、モータ41の駆動によってスピンナーテーブル20は回転可能な構成となっている。また、エアーピストン42の往復運動によって、モータ41を上下方向に昇降させるとともに、スピンナーテーブル20も上下方向に昇降させることができる。
The spinner table 20 is connected to the rotating means 40 via the
図2に示すように、スピンナーテーブル20の外周近傍には、洗浄液供給手段50が配設されている。洗浄液供給手段50は、旋回動可能な構成となっており、ウエーハ洗浄時には、スピンナーテーブル20の上方に移動するとともに洗浄液をウエーハWに供給する。また、スピンナーテーブル20の外周近傍には、洗浄液を除去するエアーノズル23が配設されている。
As shown in FIG. 2, cleaning liquid supply means 50 is disposed near the outer periphery of the spinner table 20. The cleaning liquid supply means 50 is configured to be capable of swiveling, and moves above the spinner table 20 and supplies the cleaning liquid to the wafer W during wafer cleaning. An
軸部21の上方の周囲には、洗浄液カバー24が配設され、モータ41の上方で、かつ、洗浄液カバー24の下方の位置に洗浄液を受け止める板状の洗浄液受け部25が形成されている。洗浄液受け部25には、排水口26が形成され、排水口26は、使用済みの洗浄液を外部に排出するドレンホース27に連通している。
A cleaning
図2に示すフレーム保持手段30は、フレーム4の下部4bを支持するリング形状のフレーム支持部31と、フレーム支持部31に支持されたフレーム4の上部4aを押さえスピンナーテーブル20の回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部32とを備えている。
The
図2及び図3に示すように、フレーム押さえ部32は、アーム部300と、アーム部300の上部301に形成されフレーム4を押圧する爪部310と、アーム部300の下部302に形成され所定の重量を有する錘部320と、スピンナーテーブル20の回転による遠心力で錘部320がスピンナーテーブル20の外周方向に引っ張られて爪部310がフレーム4の上部4aを押圧するようにアーム部300を回転可能に支持する支点軸330と、を備えている。支点軸330は、アーム部300に形成された挿入孔330bに挿入されている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
図3に示すように、爪部310は、アーム部300の上部301を屈曲させて形成されており、爪部310の先端がフレーム4の上部4aに当接するようになっている。
As shown in FIG. 3, the
図3に示すように、フレーム押さえ部32には、錘部320の側部において上面321aを湾曲させ下面321bが水平面となっている翼321が形成されており、該翼321は、スピンナーテーブル20の回転によって該錘部320に揚力を発生させることができる。
As shown in FIG. 3, the
錘部320に揚力を発生させるためには、スピンナーテーブル20を高速回転させる必要がある。スピンナーテーブル20が高速回転を行うと、翼321の湾曲させた上面321a側の圧力が下がり下面321b側の圧力が上がることとなり、翼321に揚力が発生し、翼321と一体となった錘部320にも揚力が生じる。
In order to generate lift in the
このように、フレーム押さえ部32においては、スピンナーテーブル20の高速回転によって発生する遠心力と翼321に発生する揚力との合力によって支点軸330を支点としてフレーム押さえ部32が回転し、爪部310がフレーム4に向けて下降するため、該爪部310がフレーム4の上部4aを押圧することができる。
As described above, in the
以下においては、洗浄装置2Aの動作例について説明する。
図1に示したチャックテーブル8にウエーハWが保持された後、チャックテーブル8をX軸方向の移動経路上にあるアライメントカメラ9の下方に移動させ、ウエーハWに形成された分割予定ラインが検出される。そして、さらにチャックテーブル8をX軸方向に移動させるとともに、切削ブレード10aを高速回転させながら切削手段10を下降させることにより、検出した分割予定ラインを切削する。同じようにしてX軸方向に向く分割予定ラインを全て切削した後、チャックテーブル8を90度回転させ、Y軸方向に向くウエーハWの分割予定ラインをX軸方向に向かせて上記同様の切削を行うと、すべての分割予定ラインが切削されてダイシングされ、ウエーハWは個々のデバイスに分割される。
Hereinafter, an operation example of the
After the wafer W is held on the chuck table 8 shown in FIG. 1, the chuck table 8 is moved below the alignment camera 9 on the movement path in the X-axis direction, and a planned division line formed on the wafer W is detected. Is done. Then, the chuck table 8 is further moved in the X-axis direction, and the cutting means 10 is lowered while the
切削手段10によってウエーハWが切削された後、第二の搬送手段11によって切削済みのウエーハWが洗浄装置2Aに搬送される。この際、第二の搬送手段11がウエーハWを下降させながら、図4に示す洗浄装置2Aが図2に示したエアーピストン42によって矢印A1方向にスピンナーテーブル20を上昇させる。そして、フレーム4をリング形状のフレーム支持部31に載置するとともにウエーハWをスピンナーテーブル20の保持面22に吸引保持させる。
After the wafer W is cut by the cutting means 10, the cut wafer W is transferred to the cleaning device 2 </ b> A by the second transfer means 11. At this time, the
図4に示すように、錘部320は、爪部310よりも重量があるため、スピンナーテーブル20の静止時には、錘部320および翼321が下方に位置し、爪部310が上方に位置している。
As shown in FIG. 4, the
洗浄装置2Aは、スピンナーテーブル20にウエーハWが吸引保持された後、図2に示したエアーピストン42によって、スピンナーテーブル20を矢印A2方向に下降させる。そして、図5に示すように、モータ41を駆動させてスピンナーテーブル20を矢印B方向に回転させる。スピンナーテーブル20の回転速度は、翼321に揚力を発生させるために、例えば、3000rpmに設定しておくことが望ましい。
After the wafer W is sucked and held on the spinner table 20, the
フレーム押さえ部32のアーム部300は、スピンナーテーブル20の回転による遠心力によってスピンナーテーブル20の外周方向に錘部320が引っ張られることで、支点軸330を支点として回転する。そうすると、図5に示すように、錘部320および翼321が外周側に移動し、爪部310は内周側に移動する。
The
このとき、翼321には揚力が発生するため、スピンナーテーブル20の回転による遠心力にこの揚力を加えた合力がアーム部300の一端にかかる。そのため、爪部310がフレーム4の上部4aを押圧し、フレーム4をフレーム支持部31との間で狭持することができる。翼321に安定した揚力を発生させるためには、爪部310がフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼321が水平方向に安定した状態となることが望ましい。このようにして、フレーム押さえ部32は、翼321に生じた揚力によって錘部320にも揚力を生じさせ、爪部310によってフレーム4の上部4aを強く押圧することでフレーム4とともにウエーハWがスピンナーテーブル20から脱落することを防止することができる。
At this time, lift force is generated on the
図5に示すように、スピンナーテーブル20の高速回転中には、洗浄液供給手段50を揺動させて供給口51から洗浄液を放出する。放出された洗浄液は、ウエーハWの上面に付着した切削屑を除去する。
As shown in FIG. 5, while the spinner table 20 is rotating at high speed, the cleaning liquid supply means 50 is swung to discharge the cleaning liquid from the
洗浄液でウエーハWの上面に付着した切削屑を除去した後、エアーノズル23を揺動させてエアー供給口をウエーハWの上方に移動させ、エアーを噴出する。その結果、ウエーハWの上面に付着している洗浄液が除去されて乾燥される。
After the cutting waste adhering to the upper surface of the wafer W is removed with the cleaning liquid, the
図6に示すフレーム押さえ部32aは、フレーム押さえ部の第二例である。図7及び図8に示す洗浄装置2Bは、フレーム押さえ部32aをフレーム押さえ部32に代えて洗浄装置2Aに適用したものである。なお、洗浄装置2Bは、図1に示したダイシング装置1に搭載することができる。
A
図6及び図7に示すように、フレーム押さえ部32aは、アーム部300aと、アーム部300aの上部301aに形成されフレーム4を押圧する爪部310aと、アーム部300aの下部302aに形成され錘部の機能を有する翼322と、スピンナーテーブル20の回転による遠心力で翼322がスピンナーテーブル20の外周方向に引っ張られて爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧するようにアーム部300aを回転可能に支持する支点軸330aと、を備えている。支点軸330aは、アーム部300aに形成された挿入孔330bbに挿入されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the
フレーム押さえ部32aでは、フレーム押さえ部32とは異なり、アーム部300aの下部302aにおいて上面322aを湾曲させて形成された翼322が直接形成されている。一方、翼322の下面322bは、翼321の下面321bと同様に水平面となっている。このような構成となっている翼322においては、それ自体が所定の重量を有して錘となっているとともに揚力を発生させることができる。爪部310aがフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼322が水平方向に安定した状態にするために、図6に示すフレーム押さえ部32aにおいては、アーム部300aは翼322の上面322aに対して傾きを設けて形成されている。
Unlike the
上記のように構成されるフレーム押さえ部32aにおいても、フレーム押さえ部32と同様にスピンナーテーブル20の回転時に翼322の湾曲させた上面322a側の圧力が下がり、翼322の下面322b側の圧力が上がるため、翼322に揚力が発生する。したがって、フレーム押さえ部32aにおいても、スピンナーテーブル20の高速回転によって発生する遠心力と翼322に発生する揚力との合力を利用して爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧することができる。
Also in the
以下においては、洗浄装置2Bの動作例について説明する。
図1に示したダイシング装置1の切削手段10によって、ウエーハWが切削された後、第二の搬送手段11によって切削済みのウエーハWが洗浄装置2Bに搬送される。この際
、第二の搬送手段11がウエーハWを下降させながら、図7に示す洗浄装置2Bが図2に示したエアーピストン42によって矢印A1方向にスピンナーテーブル20を上昇させる。そして、フレーム4をリング形状のフレーム支持部31に載置させるとともにウエーハWをスピンナーテーブル20の保持面22に吸引保持させる。
Below, the operation example of the washing | cleaning
After the wafer W is cut by the cutting means 10 of the dicing apparatus 1 shown in FIG. 1, the cut wafer W is transferred to the
図7に示すように、翼322は、爪部310aよりも重量があるため、スピンナーテーブル20の静止時には、翼322が下方に位置し、爪部310aが上方に位置している。
As shown in FIG. 7, the
洗浄装置2Bは、スピンナーテーブル20にウエーハWが吸引保持された後、図2に示したエアーピストン42によって、スピンナーテーブル20を矢印A2方向に下降させる。そして、図8に示すように、モータ41の駆動によりスピンナーテーブル20を矢印B方向に回転させる。スピンナーテーブル20の回転速度は、翼322に揚力を発生させるために、例えば、3000rpmに設定しておくことが望ましい。
After the wafer W is sucked and held on the spinner table 20, the
フレーム押さえ部32aのアーム部300aは、スピンナーテーブル20の回転による遠心力でスピンナーテーブル20の外周方向に翼322が引っ張られることで支点軸330aを支点として回転する。そうすると、図8に示すように、翼322が外周側に移動し、爪部310aは、内周側に移動する。
The
このとき、翼322には、揚力が発生するため、スピンナーテーブル20の回転による遠心力にこの揚力を加えた合力がアーム部300aの一端にかかる。そのため、爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧し、フレーム4をフレーム支持部31との間で狭持することができる。翼322に安定した揚力を発生させるためには、爪部310aがフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼322が水平方向に安定した状態となることが望ましい。このようにして、フレーム押さえ部32aでは、翼322に生じた揚力によって、爪部310aによってフレーム4の上部4aを強く押圧することでフレーム4とともにウエーハWがスピンナーテーブル20から脱落することを防止することができる。
At this time, since lift is generated on the
1:ダイシング装置
2A,2B:洗浄装置
20:スピンナーテーブル 21:軸部 22:保持面 23:エアーノズル
24:洗浄液カバー 25:洗浄液受け部 26:排水口 27:ドレンホース
30:フレーム保持手段 31:フレーム支持部 32,32a:フレーム押さえ部
300,300a:アーム部 301,301a:上部 302,302a:下部
310,310a:爪部
320:錘部 321,322:翼 321a,322a:上面
321b、322b:下面
330,330a:支点軸
40:回転手段 41:モータ 42:エアーピストン
50:洗浄液供給手段 51:供給口
3:粘着テープ
4:フレーム 4a:上部 4b:下部
5:ウエーハカセット
6:搬出入手段 6a:狭持部
7:第一の搬送手段
8:チャックテーブル
9:アライメントカメラ
10:切削手段 10a:切削ブレード
11:第二の搬送手段
W:ウエーハ P:洗浄領域
1:
Claims (1)
該板状物を保持し回転可能なスピンナーテーブルと、
該スピンナーテーブルの外周に配設され該スピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、
該スピンナーテーブルと該フレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、
該スピンナーテーブルに保持された板状物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を少なくとも備え、
該フレーム保持手段は、該フレームの下部を支持するフレーム支持部と、
該フレーム支持部に支持された該フレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部と、を備え、
該フレーム押さえ部は、アーム部と、
該アーム部の上部に形成され該フレームを押圧する爪部と、
該アーム部の下部に形成された錘部と、
該スピンナーテーブルの回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部が該フレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備え、
該錘部は、遠心力に加え揚力が生じるように翼が形成され、該スピンナーテーブルの回転にともない該錘部に作用する遠心力と該翼に作用する揚力との合力によって、該爪部が該支点軸を軸としてフレームを押圧する側に回動する洗浄装置。 A cleaning device for cleaning a plate-like object supported by a frame via an adhesive tape,
A spinner table that holds the plate and is rotatable;
A frame holding means arranged on the outer periphery of the spinner table to hold a frame rotating with the spinner table;
Rotating means for rotationally driving the spinner table and the frame holding means;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the plate-like object held by the spinner table,
The frame holding means includes a frame support portion that supports a lower portion of the frame;
A plurality of frame pressing portions disposed at equal angles with respect to the rotation center while holding the upper portion of the frame supported by the frame supporting portion;
The frame pressing portion includes an arm portion,
A claw portion that is formed on an upper portion of the arm portion and presses the frame;
A weight portion formed at a lower portion of the arm portion;
A fulcrum shaft that rotatably supports the arm portion such that the weight portion is pulled to the outer periphery by centrifugal force due to rotation of the spinner table and the claw portion presses the upper portion of the frame;
The weight part is formed with wings so that lift is generated in addition to centrifugal force, and the claw part is caused by the resultant force of the centrifugal force acting on the weight part and the lift acting on the wing as the spinner table rotates. A cleaning device that rotates to the side that presses the frame about the fulcrum shaft .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011260076A JP5943588B2 (en) | 2011-11-29 | 2011-11-29 | Cleaning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011260076A JP5943588B2 (en) | 2011-11-29 | 2011-11-29 | Cleaning device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013115234A JP2013115234A (en) | 2013-06-10 |
JP5943588B2 true JP5943588B2 (en) | 2016-07-05 |
Family
ID=48710506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011260076A Active JP5943588B2 (en) | 2011-11-29 | 2011-11-29 | Cleaning device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5943588B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6302665B2 (en) * | 2013-12-24 | 2018-03-28 | 株式会社ディスコ | Spinner device |
JP7057673B2 (en) * | 2018-01-04 | 2022-04-20 | 株式会社ディスコ | Processing equipment |
JP7504573B2 (en) | 2019-09-30 | 2024-06-24 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
CN115178557A (en) * | 2022-07-18 | 2022-10-14 | 东莞科卓机器人有限公司 | Wafer cutting machine belt cleaning device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4502260B2 (en) * | 2004-10-28 | 2010-07-14 | 株式会社ディスコ | Spinner cleaning device and dicing device |
US20110141448A1 (en) * | 2009-11-27 | 2011-06-16 | Nikon Corporation | Substrate carrier device, substrate carrying method, substrate supporting member, substrate holding device, exposure apparatus, exposure method and device manufacturing method |
-
2011
- 2011-11-29 JP JP2011260076A patent/JP5943588B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013115234A (en) | 2013-06-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101872903B1 (en) | Polishing apparatus and polishing method | |
JP4772679B2 (en) | Polishing apparatus and substrate processing apparatus | |
JP5554617B2 (en) | Holding table | |
JP4502260B2 (en) | Spinner cleaning device and dicing device | |
KR101514461B1 (en) | Protective tape cutting method for semiconductor wafer and device of the same | |
KR102374913B1 (en) | Conveyance device | |
JP5943588B2 (en) | Cleaning device | |
JP5009254B2 (en) | Resin coating equipment | |
JP5137747B2 (en) | Work holding mechanism | |
JP2021024036A (en) | Edge trimming device | |
JP6329813B2 (en) | Transfer robot | |
JP2010207723A (en) | Resin film forming apparatus | |
JP2015023138A (en) | Spinner cleaning apparatus | |
JP6397270B2 (en) | Cutting equipment | |
KR102659790B1 (en) | Machining apparatus | |
JP7045212B2 (en) | Grinding device | |
JP2014110270A (en) | Cleaning device | |
JP6101378B2 (en) | Polishing equipment | |
JP2009188296A (en) | Wafer cleaning device | |
JP2017204606A (en) | Manufacturing method of wafer | |
US11667008B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP5048987B2 (en) | Cleaning device | |
JP7144315B2 (en) | cleaning jig | |
JP2011146568A (en) | Method and device for detecting cracking of wafer | |
JP2022029691A (en) | Cleaning mechanism and processing device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141024 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20150427 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160127 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160324 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160426 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160524 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5943588 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |