JP2013115234A - Washing device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent a wafer from falling from a spinner table which rotates at a high speed together with a frame.SOLUTION: Frame holding means 30 included in a washing device 2A cleaning a wafer W includes a frame support part 31 which supports a lower part 4b of a frame 4, and a plurality of frame press parts 32 which press an upper part 4a of the frame 4, and are arranged at equal angle intervals around the center of rotation of a spinner table 20. Each of the frame press parts 32 includes an arm part 300, a claw part 310 formed at an upper part 301 and pressing the frame 4, a weight part 320 formed at a low part 302, and a fulcrum shaft 330 supporting the arm part 300 rotatably so that the claw part 310 presses the upper part 4a of the frame 4. The weight part 320 has a blade 321 formed so as to generate lift force during rotation of the spinner table 20 in addition to centrifugal force, and the frame press part 32 presses the frame 4 to prevent the wafer W from falling from the spinner table 20.

Description

本発明は、回転可能なスピンナーテーブルに保持されたウエーハに洗浄液を供給しながら洗浄する洗浄装置に関する。   The present invention relates to a cleaning apparatus that performs cleaning while supplying a cleaning liquid to a wafer held on a rotatable spinner table.

IC、LSI等のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウエーハは、ダイシング装置によって、個々のデバイスに分割され、携帯電話、パソコン等の各種の電気機器に利用される。   A wafer on which a device such as an IC or LSI is divided and formed on a surface by dividing lines is divided into individual devices by a dicing apparatus and used for various electric devices such as a mobile phone and a personal computer.

ダイシング装置は、フレームに支持されたウエーハを保持し回転可能なチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウエーハを切削する切削手段と、該切削手段によって切削されたウエーハを洗浄及び乾燥する洗浄手段と、から概ね構成されており、効率よくウエーハを個々のデバイスに分割することができる。   A dicing apparatus includes a chuck table that is rotatable while holding a wafer supported by a frame, a cutting unit that cuts the wafer held by the chuck table, and a cleaning unit that cleans and dries the wafer cut by the cutting unit. Thus, the wafer can be efficiently divided into individual devices.

洗浄手段には、ウエーハを保持し回転可能なスピンナーテーブルと、スピンナーテーブルの外周に配設されスピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、スピンナーテーブルとフレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、を備えている。フレーム保持手段は、洗浄中にフレームとともにウエーハがスピンナーテーブルから脱落することを防止するために、フレームの下部を支持するフレーム支持部と、フレーム支持部に支持されたフレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部とを備えており、切削済みのウエーハを効果的に洗浄し乾燥することができる(例えば、下記の特許文献1を参照)。   The cleaning means includes a spinner table that can hold and rotate a wafer, a frame holding means that is disposed on the outer periphery of the spinner table and holds a frame that rotates together with the spinner table, and a rotation that drives and rotates the spinner table and the frame holding means. Means. In order to prevent the wafer together with the frame from dropping off from the spinner table during the cleaning, the frame holding means holds the frame support part supporting the lower part of the frame and the upper part of the frame supported by the frame support part so that the rotation center And a plurality of frame pressing portions arranged at equal angles to each other, and can effectively clean and dry the cut wafer (see, for example, Patent Document 1 below).

特開2006−128359号公報JP 2006-128359 A

しかし、フレーム保持手段は、スピンナーテーブルとともに、例えば、回転速度3000rpmで高速回転する必要があるため、フレーム押さえ部に対してフレームが許容範囲を超えてフレーム支持部からずれていると、スピンナーテーブルの回転により発生する遠心力によってフレームとともにウエーハがフレーム押さえ部の押圧力に抗してスピンナーテーブルから脱落してしまうという問題がある。   However, since the frame holding means needs to rotate at a high speed of, for example, 3000 rpm together with the spinner table, if the frame deviates from the frame support portion with respect to the frame pressing portion, the spinner table There is a problem that the wafer, together with the frame, falls off the spinner table against the pressing force of the frame pressing portion due to the centrifugal force generated by the rotation.

本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、高速回転するスピンナーテーブルからフレームとともにウエーハが脱落しないようにすることに発明の解決すべき課題がある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and there is a problem to be solved by preventing the wafer from dropping off together with the frame from the spinner table rotating at high speed.

本発明は、粘着テープを介してフレームに支持された板状物を洗浄する洗浄装置であって、該板状物を保持し回転可能なスピンナーテーブルと、該スピンナーテーブルの外周に配設され該スピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、
該スピンナーテーブルと該フレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、該スピンナーテーブルに保持された板状物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を少なくとも備え、
該フレーム保持手段は、該フレームの下部を支持するフレーム支持部と、該フレーム支持部に支持された該フレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部と、を備え、該フレーム押さえ部は、アーム部と、該アーム部の上部に形成され該フレームを押圧する爪部と、該アーム部の下部に形成された錘部と、該スピンナーテーブルの回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部が該フレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備え、該錘部は、遠心力に加え揚力が生じるように翼が形成されている。
The present invention relates to a cleaning device for cleaning a plate-like object supported by a frame via an adhesive tape, the spinner table holding and rotating the plate-like object, and disposed on the outer periphery of the spinner table. Frame holding means for holding a frame rotating with the spinner table;
Rotating means for rotationally driving the spinner table and the frame holding means, and cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the plate-like object held by the spinner table,
The frame holding means includes a frame support portion that supports a lower portion of the frame, and a plurality of frame pressing portions that are disposed at an equal angle with respect to the rotation center while pressing the upper portion of the frame supported by the frame support portion. The frame pressing portion includes an arm portion, a claw portion formed on the upper portion of the arm portion and pressing the frame, a weight portion formed on the lower portion of the arm portion, and a rotation of the spinner table. And a fulcrum shaft that rotatably supports the arm portion so that the weight portion is pulled to the outer periphery by centrifugal force and the claw portion presses the upper portion of the frame, and the weight portion is lifted in addition to centrifugal force The wings are formed so that.

本発明では、洗浄装置に備えるフレーム押さえ部は、アーム部と、該アーム部の上部に形成されフレームを押圧する爪部と、該アーム部の下部に形成された錘部と、回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部がフレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備えており、該錘部には遠心力に加えて揚力が発生するように翼が形成されているため、遠心力と揚力との合力によって支点軸を支点としてフレーム押さえ部が回転し、爪部がフレームに向けて下降し、フレームを押圧することができる。したがって、高速回転するスピンナーテーブルからフレームとともにウエーハが脱落することを防止することができる。   In the present invention, the frame pressing part provided in the cleaning device includes an arm part, a claw part formed on the upper part of the arm part to press the frame, a weight part formed on the lower part of the arm part, and a centrifugal force due to rotation. And a fulcrum shaft that rotatably supports the arm portion so that the claw portion presses the upper portion of the frame, and the weight portion is lifted in addition to centrifugal force. Since the wings are formed so as to be generated, the frame pressing portion rotates about the fulcrum shaft by the resultant force of the centrifugal force and the lifting force, and the claw portion descends toward the frame and can press the frame. . Therefore, it is possible to prevent the wafer from dropping off together with the frame from the spinner table rotating at high speed.

ダイシング装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a dicing apparatus. 洗浄装置の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of a washing | cleaning apparatus. フレーム押さえ部の第一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 1st example of a frame holding | suppressing part. 第一例のフレーム押さえ部がフレームを保持する前の状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state before the flame | frame holding | suppressing part of a 1st example hold | maintains a flame | frame. 第一例のフレーム押さえ部がフレームを保持する状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state in which the flame | frame holding | suppressing part of a 1st example hold | maintains a flame | frame. フレーム押さえ部の第二例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 2nd example of a flame | frame holding | suppressing part. 第二例のフレーム押さえ部がフレームを保持する前の状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state before the flame | frame holding | suppressing part of a 2nd example hold | maintains a flame | frame. 第二例のフレーム押さえ部がフレームを保持する状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state in which the flame | frame holding | suppressing part of a 2nd example hold | maintains a flame | frame.

図1に示すダイシング装置1には、その上面中央に形成された洗浄領域Pに図2に示す洗浄装置の第一例である洗浄装置2Aが搭載されている。図1に示すように、ダイシング及び洗浄の対象となる板状物であるウエーハWは、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となって支持されている。   In the dicing apparatus 1 shown in FIG. 1, a cleaning apparatus 2A that is a first example of the cleaning apparatus shown in FIG. 2 is mounted in a cleaning region P formed in the center of the upper surface. As shown in FIG. 1, a wafer W that is a plate-like object to be diced and cleaned is supported integrally with a frame 4 via an adhesive tape 3.

図1に示すウエーハカセット5には、フレーム4と一体となっているウエーハWが複数収容されている。ウエーハカセット5の近傍には、ウエーハカセット5からフレーム4とともにウエーハWを取り出す搬出入手段6が配設されている。搬出入手段6は、フレーム4の端部を狭持する狭持部6aを備え、狭持部6aがフレーム4の端部を狭持しY軸方向に往復移動することができる。   A plurality of wafers W integrated with the frame 4 are accommodated in the wafer cassette 5 shown in FIG. In the vicinity of the wafer cassette 5, carry-in / out means 6 for taking out the wafer W together with the frame 4 from the wafer cassette 5 is disposed. The carry-in / out means 6 includes a holding portion 6a that holds the end portion of the frame 4, and the holding portion 6a can hold the end portion of the frame 4 and reciprocate in the Y-axis direction.

搬出入手段6の近傍には、旋回動可能な第一の搬送手段7が配設されている。第一の搬送手段7は、搬出入手段6によって取り出されたウエーハWを吸着し、自転可能なチャックテーブル8に搬送することができる。チャックテーブル8は、X軸方向に往復移動することができ、その移動経路上には、ウエーハWの分割予定ラインを検出するためのアライメントカメラ9及び切削ブレード10aを備える切削手段10が配設されている。   In the vicinity of the carry-in / out means 6, a first transport means 7 capable of rotating is disposed. The first transport means 7 can suck the wafer W taken out by the carry-in / out means 6 and transport it to the chuck table 8 that can rotate. The chuck table 8 can reciprocate in the X-axis direction, and a cutting means 10 including an alignment camera 9 and a cutting blade 10a for detecting a division line of the wafer W is disposed on the movement path. ing.

洗浄領域Pの上方には、Y軸方向に移動可能な第二の搬送手段11が配設されている。第二の搬送手段11は、切削手段10によってウエーハWが切削された後、Y軸方向に移動して、フレーム4と一体となっている切削後のウエーハWを吸着して洗浄領域Pに位置する洗浄装置2Aに搬送する。以下に、上記の如く構成されているダイシング装置1に搭載される洗浄装置2Aの詳細な装置構成について説明する。   Above the cleaning region P, a second transport unit 11 that is movable in the Y-axis direction is disposed. After the wafer W is cut by the cutting means 10, the second transport means 11 moves in the Y-axis direction, and adsorbs the wafer W after cutting integrated with the frame 4 to be positioned in the cleaning region P. To the cleaning device 2A. Below, the detailed apparatus structure of the washing | cleaning apparatus 2A mounted in the dicing apparatus 1 comprised as mentioned above is demonstrated.

図2に示す洗浄装置2Aは、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となっているウエーハWを保持し回転可能なスピンナーテーブル20と、スピンナーテーブル20の外周側に配設されスピンナーテーブル20とともに回転するフレーム4を保持するフレーム保持手段30と、スピンナーテーブル20とフレーム保持手段30とを回転駆動する回転手段40と、スピンナーテーブル20に保持されたウエーハWに洗浄液を供給する洗浄液供給手段50と、を少なくとも備えている。   A cleaning device 2A shown in FIG. 2 has a spinner table 20 that holds and rotates a wafer W integrated with a frame 4 via an adhesive tape 3, and is disposed on the outer peripheral side of the spinner table 20 together with the spinner table 20. Frame holding means 30 for holding the rotating frame 4, rotating means 40 for rotationally driving the spinner table 20 and the frame holding means 30, and a cleaning liquid supply means 50 for supplying a cleaning liquid to the wafer W held on the spinner table 20 , At least.

図2に示すように、スピンナーテーブル20は、鉛直方向の軸心を有する軸部21によって支持されており、ウエーハWを吸引保持する保持面22を備えている。スピンナーテーブル20には多孔質部材を備えており、その表面が、ウエーハWを吸着する保持面22となっている。そして、図示しない吸引源から伝達される吸引力によって、粘着テープ3を介してフレーム4と一体となっているウエーハWの下面側を保持面22で吸引して保持することができる。   As shown in FIG. 2, the spinner table 20 is supported by a shaft portion 21 having a vertical axis, and includes a holding surface 22 that sucks and holds the wafer W. The spinner table 20 includes a porous member, and the surface thereof serves as a holding surface 22 that adsorbs the wafer W. The lower surface side of the wafer W integrated with the frame 4 can be sucked and held by the holding surface 22 via the adhesive tape 3 by a suction force transmitted from a suction source (not shown).

スピンナーテーブル20は、軸部21を介して回転手段40に接続されている。回転手段40は、モータ41と、モータ41の外周に配設された複数のエアーピストン42とを備えており、モータ41の駆動によってスピンナーテーブル20は回転可能な構成となっている。また、エアーピストン42の往復運動によって、モータ41を上下方向に昇降させるとともに、スピンナーテーブル20も上下方向に昇降させることができる。   The spinner table 20 is connected to the rotating means 40 via the shaft portion 21. The rotating means 40 includes a motor 41 and a plurality of air pistons 42 disposed on the outer periphery of the motor 41, and the spinner table 20 is configured to be rotatable by driving the motor 41. Further, the reciprocating motion of the air piston 42 can raise and lower the motor 41 in the vertical direction, and the spinner table 20 can also be raised and lowered in the vertical direction.

図2に示すように、スピンナーテーブル20の外周近傍には、洗浄液供給手段50が配設されている。洗浄液供給手段50は、旋回動可能な構成となっており、ウエーハ洗浄時には、スピンナーテーブル20の上方に移動するとともに洗浄液をウエーハWに供給する。また、スピンナーテーブル20の外周近傍には、洗浄液を除去するエアーノズル23が配設されている。   As shown in FIG. 2, cleaning liquid supply means 50 is disposed near the outer periphery of the spinner table 20. The cleaning liquid supply means 50 is configured to be capable of swiveling, and moves above the spinner table 20 and supplies the cleaning liquid to the wafer W during wafer cleaning. An air nozzle 23 for removing the cleaning liquid is disposed near the outer periphery of the spinner table 20.

軸部21の上方の周囲には、洗浄液カバー24が配設され、モータ41の上方で、かつ、洗浄液カバー24の下方の位置に洗浄液を受け止める板状の洗浄液受け部25が形成されている。洗浄液受け部25には、排水口26が形成され、排水口26は、使用済みの洗浄液を外部に排出するドレンホース27に連通している。   A cleaning liquid cover 24 is disposed around the shaft 21, and a plate-shaped cleaning liquid receiving portion 25 that receives the cleaning liquid is formed above the motor 41 and below the cleaning liquid cover 24. A drain outlet 26 is formed in the cleaning liquid receiver 25, and the drain outlet 26 communicates with a drain hose 27 that discharges the used cleaning liquid to the outside.

図2に示すフレーム保持手段30は、フレーム4の下部4bを支持するリング形状のフレーム支持部31と、フレーム支持部31に支持されたフレーム4の上部4aを押さえスピンナーテーブル20の回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部32とを備えている。   The frame holding means 30 shown in FIG. 2 holds the ring-shaped frame support part 31 that supports the lower part 4 b of the frame 4 and the upper part 4 a of the frame 4 supported by the frame support part 31 against the rotation center of the spinner table 20. And a plurality of frame pressing portions 32 arranged at equal angles.

図2及び図3に示すように、フレーム押さえ部32は、アーム部300と、アーム部300の上部301に形成されフレーム4を押圧する爪部310と、アーム部300の下部302に形成され所定の重量を有する錘部320と、スピンナーテーブル20の回転による遠心力で錘部320がスピンナーテーブル20の外周方向に引っ張られて爪部310がフレーム4の上部4aを押圧するようにアーム部300を回転可能に支持する支点軸330と、を備えている。支点軸330は、アーム部300に形成された挿入孔330bに挿入されている。   As shown in FIGS. 2 and 3, the frame pressing portion 32 is formed on the arm portion 300, a claw portion 310 formed on the upper portion 301 of the arm portion 300 to press the frame 4, and a lower portion 302 of the arm portion 300. The weight portion 320 having a weight of λ and the centrifugal force caused by the rotation of the spinner table 20 causes the weight portion 320 to be pulled in the outer peripheral direction of the spinner table 20 so that the claw portion 310 presses the upper portion 4 a of the frame 4. And a fulcrum shaft 330 that is rotatably supported. The fulcrum shaft 330 is inserted into an insertion hole 330 b formed in the arm unit 300.

図3に示すように、爪部310は、アーム部300の上部301を屈曲させて形成されており、爪部310の先端がフレーム4の上部4aに当接するようになっている。   As shown in FIG. 3, the claw portion 310 is formed by bending the upper portion 301 of the arm portion 300, and the tip of the claw portion 310 comes into contact with the upper portion 4 a of the frame 4.

図3に示すように、フレーム押さえ部32には、錘部320の側部において上面321aを湾曲させ下面321bが水平面となっている翼321が形成されており、該翼321は、スピンナーテーブル20の回転によって該錘部320に揚力を発生させることができる。   As shown in FIG. 3, the frame pressing portion 32 is formed with wings 321 whose upper surface 321 a is curved at the side portion of the weight portion 320 and whose lower surface 321 b is a horizontal surface, and the wing 321 is formed on the spinner table 20. The lift can be generated in the weight part 320 by the rotation of.

錘部320に揚力を発生させるためには、スピンナーテーブル20を高速回転させる必要がある。スピンナーテーブル20が高速回転を行うと、翼321の湾曲させた上面321a側の圧力が下がり下面321b側の圧力が上がることとなり、翼321に揚力が発生し、翼321と一体となった錘部320にも揚力が生じる。   In order to generate lift in the weight part 320, it is necessary to rotate the spinner table 20 at a high speed. When the spinner table 20 rotates at a high speed, the pressure on the curved upper surface 321a side of the wing 321 decreases and the pressure on the lower surface 321b side increases, lift is generated in the wing 321 and the weight unit integrated with the wing 321 320 also generates lift.

このように、フレーム押さえ部32においては、スピンナーテーブル20の高速回転によって発生する遠心力と翼321に発生する揚力との合力によって支点軸330を支点としてフレーム押さえ部32が回転し、爪部310がフレーム4に向けて下降するため、該爪部310がフレーム4の上部4aを押圧することができる。   As described above, in the frame pressing portion 32, the frame pressing portion 32 rotates with the fulcrum shaft 330 as a fulcrum by the resultant force of the centrifugal force generated by the high-speed rotation of the spinner table 20 and the lifting force generated in the blade 321, and the claw portion 310. Is lowered toward the frame 4, the claw portion 310 can press the upper portion 4 a of the frame 4.

以下においては、洗浄装置2Aの動作例について説明する。
図1に示したチャックテーブル8にウエーハWが保持された後、チャックテーブル8をX軸方向の移動経路上にあるアライメントカメラ9の下方に移動させ、ウエーハWに形成された分割予定ラインが検出される。そして、さらにチャックテーブル8をX軸方向に移動させるとともに、切削ブレード10aを高速回転させながら切削手段10を下降させることにより、検出した分割予定ラインを切削する。同じようにしてX軸方向に向く分割予定ラインを全て切削した後、チャックテーブル8を90度回転させ、Y軸方向に向くウエーハWの分割予定ラインをX軸方向に向かせて上記同様の切削を行うと、すべての分割予定ラインが切削されてダイシングされ、ウエーハWは個々のデバイスに分割される。
Hereinafter, an operation example of the cleaning apparatus 2A will be described.
After the wafer W is held on the chuck table 8 shown in FIG. 1, the chuck table 8 is moved below the alignment camera 9 on the movement path in the X-axis direction, and a planned division line formed on the wafer W is detected. Is done. Then, the chuck table 8 is further moved in the X-axis direction, and the cutting means 10 is lowered while the cutting blade 10a is rotated at a high speed, thereby cutting the detected divisional line. In the same way, after cutting all the division lines that are oriented in the X-axis direction, the chuck table 8 is rotated by 90 degrees, and the wafer W that is oriented in the Y-axis direction is directed in the X-axis direction to perform the same cutting as described above. As a result, all the lines to be divided are cut and diced, and the wafer W is divided into individual devices.

切削手段10によってウエーハWが切削された後、第二の搬送手段11によって切削済みのウエーハWが洗浄装置2Aに搬送される。この際、第二の搬送手段11がウエーハWを下降させながら、図4に示す洗浄装置2Aが図2に示したエアーピストン42によって矢印A1方向にスピンナーテーブル20を上昇させる。そして、フレーム4をリング形状のフレーム支持部31に載置するとともにウエーハWをスピンナーテーブル20の保持面22に吸引保持させる。   After the wafer W is cut by the cutting means 10, the cut wafer W is transferred to the cleaning device 2 </ b> A by the second transfer means 11. At this time, the cleaning device 2A shown in FIG. 4 raises the spinner table 20 in the direction of the arrow A1 by the air piston 42 shown in FIG. 2 while the second transport means 11 lowers the wafer W. Then, the frame 4 is placed on the ring-shaped frame support portion 31 and the wafer W is sucked and held on the holding surface 22 of the spinner table 20.

図4に示すように、錘部320は、爪部310よりも重量があるため、スピンナーテーブル20の静止時には、錘部320および翼321が下方に位置し、爪部310が上方に位置している。   As shown in FIG. 4, the weight part 320 is heavier than the claw part 310. Therefore, when the spinner table 20 is stationary, the weight part 320 and the wing 321 are located below and the claw part 310 is located above. Yes.

洗浄装置2Aは、スピンナーテーブル20にウエーハWが吸引保持された後、図2に示したエアーピストン42によって、スピンナーテーブル20を矢印A2方向に下降させる。そして、図5に示すように、モータ41を駆動させてスピンナーテーブル20を矢印B方向に回転させる。スピンナーテーブル20の回転速度は、翼321に揚力を発生させるために、例えば、3000rpmに設定しておくことが望ましい。   After the wafer W is sucked and held on the spinner table 20, the cleaning device 2A lowers the spinner table 20 in the arrow A2 direction by the air piston 42 shown in FIG. Then, as shown in FIG. 5, the motor 41 is driven to rotate the spinner table 20 in the arrow B direction. The rotation speed of the spinner table 20 is preferably set to 3000 rpm, for example, in order to generate lift in the blade 321.

フレーム押さえ部32のアーム部300は、スピンナーテーブル20の回転による遠心力によってスピンナーテーブル20の外周方向に錘部320が引っ張られることで、支点軸330を支点として回転する。そうすると、図5に示すように、錘部320および翼321が外周側に移動し、爪部310は内周側に移動する。   The arm portion 300 of the frame pressing portion 32 rotates about the fulcrum shaft 330 as a fulcrum when the weight portion 320 is pulled in the outer peripheral direction of the spinner table 20 by the centrifugal force generated by the rotation of the spinner table 20. Then, as shown in FIG. 5, the weight part 320 and the wing 321 move to the outer peripheral side, and the claw part 310 moves to the inner peripheral side.

このとき、翼321には揚力が発生するため、スピンナーテーブル20の回転による遠心力にこの揚力を加えた合力がアーム部300の一端にかかる。そのため、爪部310がフレーム4の上部4aを押圧し、フレーム4をフレーム支持部31との間で狭持することができる。翼321に安定した揚力を発生させるためには、爪部310がフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼321が水平方向に安定した状態となることが望ましい。このようにして、フレーム押さえ部32は、翼321に生じた揚力によって錘部320にも揚力を生じさせ、爪部310によってフレーム4の上部4aを強く押圧することでフレーム4とともにウエーハWがスピンナーテーブル20から脱落することを防止することができる。   At this time, lift force is generated on the blade 321, so that a resultant force obtained by adding this lift force to the centrifugal force generated by the rotation of the spinner table 20 is applied to one end of the arm unit 300. Therefore, the claw portion 310 can press the upper portion 4 a of the frame 4, and the frame 4 can be held between the frame support portion 31. In order to generate a stable lifting force on the wing 321, it is desirable that the wing 321 is stable in the horizontal direction when the claw portion 310 presses the upper portion 4 a of the frame 4. In this way, the frame pressing portion 32 causes lift to the weight portion 320 due to the lift generated on the wings 321, and the claw portion 310 strongly presses the upper portion 4 a of the frame 4, so that the wafer W together with the frame 4 is spinner. It is possible to prevent the table 20 from falling off.

図5に示すように、スピンナーテーブル20の高速回転中には、洗浄液供給手段50を揺動させて供給口51から洗浄液を放出する。放出された洗浄液は、ウエーハWの上面に付着した切削屑を除去する。   As shown in FIG. 5, while the spinner table 20 is rotating at high speed, the cleaning liquid supply means 50 is swung to discharge the cleaning liquid from the supply port 51. The discharged cleaning liquid removes cutting waste adhering to the upper surface of the wafer W.

洗浄液でウエーハWの上面に付着した切削屑を除去した後、エアーノズル23を揺動させてエアー供給口をウエーハWの上方に移動させ、エアーを噴出する。その結果、ウエーハWの上面に付着している洗浄液が除去されて乾燥される。   After the cutting waste adhering to the upper surface of the wafer W is removed with the cleaning liquid, the air nozzle 23 is swung to move the air supply port above the wafer W, and the air is ejected. As a result, the cleaning liquid adhering to the upper surface of the wafer W is removed and dried.

図6に示すフレーム押さえ部32aは、フレーム押さえ部の第二例である。図7及び図8に示す洗浄装置2Bは、フレーム押さえ部32aをフレーム押さえ部32に代えて洗浄装置2Aに適用したものである。なお、洗浄装置2Bは、図1に示したダイシング装置1に搭載することができる。   A frame pressing portion 32a shown in FIG. 6 is a second example of the frame pressing portion. The cleaning device 2B shown in FIGS. 7 and 8 is applied to the cleaning device 2A in place of the frame pressing portion 32a instead of the frame pressing portion 32. The cleaning device 2B can be mounted on the dicing device 1 shown in FIG.

図6及び図7に示すように、フレーム押さえ部32aは、アーム部300aと、アーム部300aの上部301aに形成されフレーム4を押圧する爪部310aと、アーム部300aの下部302aに形成され錘部の機能を有する翼322と、スピンナーテーブル20の回転による遠心力で翼322がスピンナーテーブル20の外周方向に引っ張られて爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧するようにアーム部300aを回転可能に支持する支点軸330aと、を備えている。支点軸330aは、アーム部300aに形成された挿入孔330bbに挿入されている。   As shown in FIGS. 6 and 7, the frame pressing portion 32a is formed on the arm portion 300a, a claw portion 310a formed on the upper portion 301a of the arm portion 300a and pressing the frame 4, and a weight formed on the lower portion 302a of the arm portion 300a. The wing 322 having the function of the part and the centrifugal force generated by the rotation of the spinner table 20 causes the wing 322 to be pulled in the outer peripheral direction of the spinner table 20 so that the claw 310a presses the upper part 4a of the frame 4 to rotate the arm part 300a. And a fulcrum shaft 330a that supports it. The fulcrum shaft 330a is inserted into an insertion hole 330bb formed in the arm portion 300a.

フレーム押さえ部32aでは、フレーム押さえ部32とは異なり、アーム部300aの下部302aにおいて上面322aを湾曲させて形成された翼322が直接形成されている。一方、翼322の下面322bは、翼321の下面321bと同様に水平面となっている。このような構成となっている翼322においては、それ自体が所定の重量を有して錘となっているとともに揚力を発生させることができる。爪部310aがフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼322が水平方向に安定した状態にするために、図6に示すフレーム押さえ部32aにおいては、アーム部300aは翼322の上面322aに対して傾きを設けて形成されている。   Unlike the frame pressing portion 32, the frame pressing portion 32a is directly formed with wings 322 formed by curving the upper surface 322a in the lower portion 302a of the arm portion 300a. On the other hand, the lower surface 322b of the wing 322 is a horizontal plane similarly to the lower surface 321b of the wing 321. In the wing 322 having such a configuration, the wing 322 itself has a predetermined weight to be a weight and can generate lift. In order to make the wing 322 stable in the horizontal direction when the claw portion 310a presses the upper portion 4a of the frame 4, in the frame pressing portion 32a shown in FIG. On the other hand, it is formed with an inclination.

上記のように構成されるフレーム押さえ部32aにおいても、フレーム押さえ部32と同様にスピンナーテーブル20の回転時に翼322の湾曲させた上面322a側の圧力が下がり、翼322の下面322b側の圧力が上がるため、翼322に揚力が発生する。したがって、フレーム押さえ部32aにおいても、スピンナーテーブル20の高速回転によって発生する遠心力と翼322に発生する揚力との合力を利用して爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧することができる。   Also in the frame pressing portion 32a configured as described above, the pressure on the curved upper surface 322a side of the blade 322 decreases when the spinner table 20 rotates, and the pressure on the lower surface 322b side of the blade 322 decreases. As a result, lift occurs in the wing 322. Therefore, also in the frame pressing portion 32 a, the claw portion 310 a can press the upper portion 4 a of the frame 4 using the resultant force of the centrifugal force generated by the high speed rotation of the spinner table 20 and the lift generated in the wing 322.

以下においては、洗浄装置2Bの動作例について説明する。
図1に示したダイシング装置1の切削手段10によって、ウエーハWが切削された後、第二の搬送手段11によって切削済みのウエーハWが洗浄装置2Bに搬送される。この際
、第二の搬送手段11がウエーハWを下降させながら、図7に示す洗浄装置2Bが図2に示したエアーピストン42によって矢印A1方向にスピンナーテーブル20を上昇させる。そして、フレーム4をリング形状のフレーム支持部31に載置させるとともにウエーハWをスピンナーテーブル20の保持面22に吸引保持させる。
Below, the operation example of the washing | cleaning apparatus 2B is demonstrated.
After the wafer W is cut by the cutting means 10 of the dicing apparatus 1 shown in FIG. 1, the cut wafer W is transferred to the cleaning apparatus 2B by the second transfer means 11. At this time, the cleaning device 2B shown in FIG. 7 raises the spinner table 20 in the direction of the arrow A1 by the air piston 42 shown in FIG. 2 while the second transport means 11 lowers the wafer W. Then, the frame 4 is placed on the ring-shaped frame support portion 31 and the wafer W is sucked and held on the holding surface 22 of the spinner table 20.

図7に示すように、翼322は、爪部310aよりも重量があるため、スピンナーテーブル20の静止時には、翼322が下方に位置し、爪部310aが上方に位置している。   As shown in FIG. 7, the wing 322 is heavier than the claw portion 310 a, so that when the spinner table 20 is stationary, the wing 322 is located below and the claw portion 310 a is located above.

洗浄装置2Bは、スピンナーテーブル20にウエーハWが吸引保持された後、図2に示したエアーピストン42によって、スピンナーテーブル20を矢印A2方向に下降させる。そして、図8に示すように、モータ41の駆動によりスピンナーテーブル20を矢印B方向に回転させる。スピンナーテーブル20の回転速度は、翼322に揚力を発生させるために、例えば、3000rpmに設定しておくことが望ましい。   After the wafer W is sucked and held on the spinner table 20, the cleaning device 2B lowers the spinner table 20 in the arrow A2 direction by the air piston 42 shown in FIG. Then, as shown in FIG. 8, the spinner table 20 is rotated in the arrow B direction by driving the motor 41. The rotation speed of the spinner table 20 is preferably set to 3000 rpm, for example, in order to generate lift in the blade 322.

フレーム押さえ部32aのアーム部300aは、スピンナーテーブル20の回転による遠心力でスピンナーテーブル20の外周方向に翼322が引っ張られることで支点軸330aを支点として回転する。そうすると、図8に示すように、翼322が外周側に移動し、爪部310aは、内周側に移動する。   The arm portion 300a of the frame pressing portion 32a rotates around the fulcrum shaft 330a as a result of the wing 322 being pulled in the outer circumferential direction of the spinner table 20 by the centrifugal force generated by the rotation of the spinner table 20. Then, as shown in FIG. 8, the wing 322 moves to the outer peripheral side, and the claw portion 310a moves to the inner peripheral side.

このとき、翼322には、揚力が発生するため、スピンナーテーブル20の回転による遠心力にこの揚力を加えた合力がアーム部300aの一端にかかる。そのため、爪部310aがフレーム4の上部4aを押圧し、フレーム4をフレーム支持部31との間で狭持することができる。翼322に安定した揚力を発生させるためには、爪部310aがフレーム4の上部4aを押さえたときに、翼322が水平方向に安定した状態となることが望ましい。このようにして、フレーム押さえ部32aでは、翼322に生じた揚力によって、爪部310aによってフレーム4の上部4aを強く押圧することでフレーム4とともにウエーハWがスピンナーテーブル20から脱落することを防止することができる。   At this time, since lift is generated on the blade 322, a resultant force obtained by adding this lift to the centrifugal force generated by the rotation of the spinner table 20 is applied to one end of the arm portion 300a. Therefore, the claw portion 310 a can press the upper portion 4 a of the frame 4, and the frame 4 can be held between the frame support portion 31. In order to generate a stable lift force on the wing 322, it is desirable that the wing 322 be in a stable state in the horizontal direction when the claw portion 310a presses the upper portion 4a of the frame 4. In this way, the frame pressing portion 32a prevents the wafer W from dropping from the spinner table 20 together with the frame 4 by strongly pressing the upper portion 4a of the frame 4 by the claw portion 310a by the lift generated in the wing 322. be able to.

1:ダイシング装置
2A,2B:洗浄装置
20:スピンナーテーブル 21:軸部 22:保持面 23:エアーノズル
24:洗浄液カバー 25:洗浄液受け部 26:排水口 27:ドレンホース
30:フレーム保持手段 31:フレーム支持部 32,32a:フレーム押さえ部
300,300a:アーム部 301,301a:上部 302,302a:下部
310,310a:爪部
320:錘部 321,322:翼 321a,322a:上面
321b、322b:下面
330,330a:支点軸
40:回転手段 41:モータ 42:エアーピストン
50:洗浄液供給手段 51:供給口
3:粘着テープ
4:フレーム 4a:上部 4b:下部
5:ウエーハカセット
6:搬出入手段 6a:狭持部
7:第一の搬送手段
8:チャックテーブル
9:アライメントカメラ
10:切削手段 10a:切削ブレード
11:第二の搬送手段
W:ウエーハ P:洗浄領域
1: Dicing device 2A, 2B: Cleaning device 20: Spinner table 21: Shaft portion 22: Holding surface 23: Air nozzle 24: Cleaning liquid cover 25: Cleaning liquid receiving portion 26: Drain port 27: Drain hose 30: Frame holding means 31: Frame support part 32, 32a: Frame pressing part 300, 300a: Arm part 301, 301a: Upper part 302, 302a: Lower part 310, 310a: Claw part 320: Weight part 321, 322: Wing 321a, 322a: Upper surface 321b, 322b: Lower surface 330, 330a: fulcrum shaft 40: rotating means 41: motor 42: air piston 50: cleaning liquid supply means 51: supply port 3: adhesive tape 4: frame 4a: upper part 4b: lower part 5: wafer cassette 6: carry-in / out means 6a : Nipping part 7: First conveying means 8: Chuck table 9: Ara Instruments camera 10: cutting means 10a: cutting blade 11: second transport means W: wafer P: washing zone

Claims (1)

粘着テープを介してフレームに支持された板状物を洗浄する洗浄装置であって、
該板状物を保持し回転可能なスピンナーテーブルと、
該スピンナーテーブルの外周に配設され該スピンナーテーブルとともに回転するフレームを保持するフレーム保持手段と、
該スピンナーテーブルと該フレーム保持手段とを回転駆動する回転手段と、
該スピンナーテーブルに保持された板状物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を少なくとも備え、
該フレーム保持手段は、該フレームの下部を支持するフレーム支持部と、
該フレーム支持部に支持された該フレームの上部を押さえ回転中心に対して等角度に配設された複数のフレーム押さえ部と、を備え、
該フレーム押さえ部は、アーム部と、
該アーム部の上部に形成され該フレームを押圧する爪部と、
該アーム部の下部に形成された錘部と、
該スピンナーテーブルの回転による遠心力で該錘部が外周に引っ張られ該爪部が該フレームの上部を押圧するように該アーム部を回転可能に支持する支点軸と、を備え、
該錘部は、遠心力に加え揚力が生じるように翼が形成されている洗浄装置。
A cleaning device for cleaning a plate-like object supported by a frame via an adhesive tape,
A spinner table that holds the plate and is rotatable;
A frame holding means arranged on the outer periphery of the spinner table to hold a frame rotating with the spinner table;
Rotating means for rotationally driving the spinner table and the frame holding means;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the plate-like object held by the spinner table,
The frame holding means includes a frame support portion that supports a lower portion of the frame;
A plurality of frame pressing portions disposed at equal angles with respect to the rotation center while holding the upper portion of the frame supported by the frame supporting portion;
The frame pressing portion includes an arm portion,
A claw portion that is formed on an upper portion of the arm portion and presses the frame;
A weight portion formed at a lower portion of the arm portion;
A fulcrum shaft that rotatably supports the arm portion such that the weight portion is pulled to the outer periphery by centrifugal force due to rotation of the spinner table and the claw portion presses the upper portion of the frame;
The weight part is a cleaning device in which wings are formed so that lift is generated in addition to centrifugal force.
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