KR20120087034A - Light emitting device and light emitting device package - Google Patents

Light emitting device and light emitting device package Download PDF

Info

Publication number
KR20120087034A
KR20120087034A KR1020110008472A KR20110008472A KR20120087034A KR 20120087034 A KR20120087034 A KR 20120087034A KR 1020110008472 A KR1020110008472 A KR 1020110008472A KR 20110008472 A KR20110008472 A KR 20110008472A KR 20120087034 A KR20120087034 A KR 20120087034A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
external electrode
light emitting
layer
electrode
pad
Prior art date
Application number
KR1020110008472A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101781217B1 (en
Inventor
정환희
이상열
송준오
최광기
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020110008472A priority Critical patent/KR101781217B1/en
Publication of KR20120087034A publication Critical patent/KR20120087034A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101781217B1 publication Critical patent/KR101781217B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Abstract

PURPOSE: A light emitting device and a light emitting device package are provided to reduce an operation voltage by arranging two or more pad parts in which a wire is bonded at a predetermined location on an electrode. CONSTITUTION: A junction layer(170) is formed on a support substrate(180). An ohmic layer(150) is formed on the junction layer. A light emitting structure layer(135) generating light is formed on the ohmic layer. The light emitting structure layer comprises a first conductivity type semiconductor layer(110), an active layer(120), and a second conductivity type semiconductor layer(130). A current blocking layer(145) is formed in an inner side between the second conductivity type semiconductor layer and the ohmic layer.

Description

발광 소자 및 발광 소자 패키지{LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE}LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE}

실시 예는 발광 소자 및 발광 소자 패키지에 관한 것이다.Embodiments relate to a light emitting device and a light emitting device package.

발광 다이오드(LED)는 전기 에너지를 빛으로 변환하는 반도체 소자의 일종이다. 발광 다이오드는 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저 소비 전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경친화성의 장점을 가진다.Light emitting diodes (LEDs) are a type of semiconductor device that converts electrical energy into light. Light emitting diodes have the advantages of low power consumption, semi-permanent life, fast response speed, safety and environmental friendliness compared to conventional light sources such as fluorescent and incandescent lamps.

이에 기존의 광원을 발광 다이오드로 대체하기 위한 많은 연구가 진행되고 있으며, 실내 외에서 사용되는 각종 램프, 액정표시장치, 전광판, 가로등 등의 조명 장치의 광원으로서 발광 소자를 사용하는 경우가 증가하고 있는 추세이다.Accordingly, many researches are being conducted to replace existing light sources with light emitting diodes, and the use of light emitting devices as light sources for lighting devices such as lamps, liquid crystal displays, electronic signs, and street lamps that are used indoors and outdoors is increasing. to be.

실시 예는 새로운 구조를 갖는 발광 소자 및 발광 소자 패키지를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device and a light emitting device package having a new structure.

또한, 실시 예는 동작 전압을 감소하는 발광 소자 및 발광 소자 패키지를 제공한다.In addition, the embodiment provides a light emitting device and a light emitting device package for reducing the operating voltage.

또한, 실시 예는 와이어 접합이 이루어지는 전극 패드부의 위치에 따라 동작 전압을 개선하는 발광 소자 및 발광 소자 패키지를 제공한다.In addition, the embodiment provides a light emitting device and a light emitting device package for improving the operating voltage according to the position of the electrode pad portion to which the wire bonding is made.

실시 예는 지지 기판; 상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층; 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 전극부를 포함하고, 상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 제1모서리에 가까운 제1영역 상에 배치되며, 상기 제2패드부는 상기 제1모서리의 맞은편 제2모서리로부터 제1방향과 상기 제1방향에 직교하는 제2방향 중 적어도 한 방향으로 이격된 제2영역 상에 배치되는 발광 소자를 제공한다.Embodiments include a support substrate; A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate; A first pad portion and a second pad portion disposed closer to the outermost portion from a center region of the upper surface of the light emitting structure layer, and an electrode portion extending from at least one of the first pad portion and the second pad portion, The first pad portion is disposed on a first area closer to the first edge than the center area of the upper surface of the light emitting structure layer, and the second pad part is disposed in a first direction and the first direction from a second edge opposite to the first edge. A light emitting device is disposed on a second region spaced apart in at least one of a second direction perpendicular to the direction.

또한, 실시 예는 지지 기판; 상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층; 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 외부 전극을 포함하고, 상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 최외곽부에 더 가까운 제1영역 상에 배치되며, 상기 제2패드부는 상기 제1영역으로부터 상기 발광 구조층 상면의 제1 측면을 따라 연장되는 제1선분과 상기 제1영역과 상기 제1영역의 맞은편을 연결한 제2선분이 적어도 10도의 각도로 이격되는 제2영역 상에 배치되는 발광 소자를 제공한다.In addition, an embodiment includes a support substrate; A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate; A first pad part and a second pad part disposed closer to the outermost part from a center area of the upper surface of the light emitting structure layer, and an external electrode extending from at least one of the first pad part and the second pad part; And the first pad portion is disposed on a first region closer to the outermost portion than the center region of the upper surface of the light emitting structure layer, and the second pad portion is disposed along the first side surface of the upper surface of the light emitting structure layer from the first region. Provided is a light emitting device in which an extended first line segment and a second line segment connecting the first region and the opposite side of the first region are disposed on a second region spaced at an angle of at least 10 degrees.

또한, 실시 예는 패키지 몸체와; 상기 패키지 몸체에 설치된 제1 전극층 및 제2 전극층; 및 상기 제1 전극층 및 상기 제2 전극층과 전기적으로 연결되는 발광 소자를 포함하는 발광 소자 패키지에 있어서, 상기 발광 소자는, 지지 기판; 상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층; 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 전극부를 포함하고, 상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 제1모서리에 가까운 제1영역 상에 배치되며, 상기 제2패드부는 상기 제1모서리의 맞은편 제2모서리로부터 제1방향과 상기 제1방향에 직교하는 제2방향 중 적어도 한 방향으로 이격된 제2영역 상에 배치되는 발광 소자 패키지를 제공한다.In addition, the embodiment is a package body; A first electrode layer and a second electrode layer provided on the package body; And a light emitting device electrically connected to the first electrode layer and the second electrode layer, wherein the light emitting device comprises: a support substrate; A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate; A first pad portion and a second pad portion disposed closer to the outermost portion from a center region of the upper surface of the light emitting structure layer, and an electrode portion extending from at least one of the first pad portion and the second pad portion, The first pad portion is disposed on a first area closer to the first edge than the center area of the upper surface of the light emitting structure layer, and the second pad part is disposed in a first direction and the first direction from a second edge opposite to the first edge. A light emitting device package is disposed on a second region spaced apart in at least one of a second direction perpendicular to the direction.

또한, 실시 예는 패키지 몸체와; 상기 패키지 몸체에 설치된 제1 전극층 및 제2 전극층; 및 상기 제1 전극층 및 상기 제2 전극층과 전기적으로 연결되는 발광 소자를 포함하는 발광 소자 패키지에 있어서, 상기 발광 소자는, 지지 기판; 상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층; 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 외부 전극을 포함하고, 상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 최외곽부에 더 가까운 제1영역 상에 배치되며, 상기 제2패드부는 상기 제1영역으로부터 상기 발광 구조층 상면의 제1 측면을 따라 연장되는 제1선분과 상기 제1영역과 상기 제1영역의 맞은편을 연결한 제2선분이 적어도 10도의 각도로 이격되는 제2영역 상에 배치되는 발광 소자 패키지를 제공한다.In addition, the embodiment is a package body; A first electrode layer and a second electrode layer provided on the package body; And a light emitting device electrically connected to the first electrode layer and the second electrode layer, wherein the light emitting device comprises: a support substrate; A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate; A first pad part and a second pad part disposed closer to the outermost part from a center area of the upper surface of the light emitting structure layer, and an external electrode extending from at least one of the first pad part and the second pad part; And the first pad portion is disposed on a first region closer to the outermost portion than the center region of the upper surface of the light emitting structure layer, and the second pad portion is disposed along the first side surface of the upper surface of the light emitting structure layer from the first region. According to an embodiment, there is provided a light emitting device package, wherein an extended first line segment and a second line segment connecting the first region and the opposite side of the first region are disposed on a second region spaced at an angle of at least 10 degrees.

실시 예는 와이어 접합이 이루어지는 적어도 두 개의 패드부를 전극 상의 소정의 위치에 배열함으로써 동작 전압을 감소할 수 있다.According to an embodiment, the operating voltage may be reduced by arranging at least two pad portions in which wire bonding is performed at predetermined positions on the electrodes.

한편 그 외의 다양한 효과는 후술될 본 발명의 실시 예에 따른 상세한 설명에서 직접적 또는 암시적으로 개시될 것이다.Meanwhile, various other effects will be directly or implicitly disclosed in the detailed description according to the embodiment of the present invention to be described later.

도 1은 실시 예에 따른 발광 소자의 단면도;
도 2는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 일 예를 도시한 도면;
도 3a 및 도 3b는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 다른 예를 도시한 도면;
도 4는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 또 다른 예를 도시한 도면;
도 5는 실시 예에 따른 발광 소자에서 동작 전압을 측정하는 패드부의 위치를 도시한 도면;
도 6은 실시 예에 따른 발광 소자에서 패드부의 위치에 따른 동작 전압을 도시한 도면;
도 7 내지 도 14는 실시 예에 따른 발광 소자의 제조방법을 설명하는 도면;
도 15는 실시 예에 따른 발광 소자를 포함하는 발광 소자 패키지의 단면도;
도 16은 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함하는 백라이트 유닛을 도시한 도면;
도 17은 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함하는 조명 유닛을 도시한 도면.
1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment;
2 is a view showing an example of the shape on the plane of the electrode in the light emitting device according to the embodiment;
3A and 3B show another example of a shape on a plane of an electrode in a light emitting device according to an embodiment;
4 is a view showing another example of the shape on the plane of the electrode in the light emitting device according to the embodiment;
5 is a view showing the position of the pad unit for measuring the operating voltage in the light emitting device according to the embodiment;
6 is a view illustrating an operating voltage according to a position of a pad unit in a light emitting device according to an embodiment;
7 to 14 illustrate a method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment;
15 is a cross-sectional view of a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment;
16 is a view illustrating a backlight unit including a light emitting device or a light emitting device package according to an embodiment;
17 is a view illustrating a lighting unit including a light emitting device or a light emitting device package according to an embodiment.

하기에서 실시 예들을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술 되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description of the embodiments, when it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intentions or customs of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.

또한, 실시 예들의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on)" 또는 "하/아래(under)"에 형성된다는 기재는, 직접(directly) 또는 다른 층을 개재하여 형성되는 것을 모두 포함한다. 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In addition, in the description of the embodiments, each layer (film), region, pattern or structures may be "top" or "under" or "under" of the substrate, each layer (film), region, pad or pattern. The base material formed at ")" includes all those formed directly or through another layer. Criteria for the top / bottom or bottom / bottom of each layer will be described with reference to the drawings.

도면에서 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들의 두께나 크기는 설명의 명확성 및 편의를 위하여 변형될 수 있으므로, 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.The thickness or the size of each layer (film), region, pattern or structure in the drawings may be modified for clarity and convenience of explanation, and thus does not entirely reflect the actual size.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시 예들에 따른 발광 소자, 발광 소자 제조방법, 발광 소자 패키지 및 조명 시스템에 대해 설명한다.Hereinafter, a light emitting device, a light emitting device manufacturing method, a light emitting device package, and an illumination system according to embodiments will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 실시 예에 따른 발광 소자의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 본 실시 예에 따른 발광 소자(100)는, 지지 기판(180), 상기 지지 기판(180) 상에 빛을 생성하는 발광 구조층(135), 상기 발광 구조층(135) 상에 전극(115)을 포함한다. 상기 발광 구조층(135)은 제1 도전형 반도체층(110), 활성층(120) 및 제2 도전형 반도체층(130)을 포함하며, 상기 제1 도전형 반도체층(110)과 상기 제2 도전형 반도체층(130)으로부터 제공되는 전자 및 정공이 상기 활성층(120)에서 재결합(recombination)됨으로써 빛을 생성할 수 있다.Referring to FIG. 1, the light emitting device 100 according to the present exemplary embodiment may include a support substrate 180, a light emitting structure layer 135 that generates light on the support substrate 180, and the light emitting structure layer 135. And an electrode 115 on the top. The light emitting structure layer 135 includes a first conductivity type semiconductor layer 110, an active layer 120, and a second conductivity type semiconductor layer 130, and the first conductivity type semiconductor layer 110 and the second conductivity type. Electrons and holes provided from the conductive semiconductor layer 130 may be recombined in the active layer 120 to generate light.

지지 기판(180)과 발광 구조층(135) 사이에는 접합층(170), 반사층(160), 오믹층(150), 채널층(140), 전류 차단층(145) 등이 위치할 수 있고, 상기 발광 구조층(135)의 측면으로 패시베이션층(190)이 형성될 수 있다. 이에 대하여 좀 더 상세하게 설명하면 다음과 같다.The bonding layer 170, the reflective layer 160, the ohmic layer 150, the channel layer 140, the current blocking layer 145, and the like may be disposed between the support substrate 180 and the light emitting structure layer 135. The passivation layer 190 may be formed on the side surface of the light emitting structure layer 135. This will be described in more detail as follows.

상기 지지 기판(180)은 발광 구조층(135)을 지지하며 전극(115)과 함께 발광 구조층(135)에 전원을 제공할 수 있다. 그리고, 상기 지지 기판(180)은 Cu, Au, Ni, Mo, Cu-W, Si, Ge, GaAs, ZnO, 또는 SiC 중 적어도 하나를 포함하는 전도성 지지 기판일 수 있다. 그러나 실시 예가 이에 한정되는 것은 아니며 전도성 지지 기판 대신 절연성의 기판을 사용하고 별도의 전극을 형성하는 것도 가능하다.The support substrate 180 may support the light emitting structure layer 135 and provide power to the light emitting structure layer 135 together with the electrode 115. In addition, the support substrate 180 may be a conductive support substrate including at least one of Cu, Au, Ni, Mo, Cu-W, Si, Ge, GaAs, ZnO, or SiC. However, the embodiment is not limited thereto, and an insulating substrate may be used instead of the conductive support substrate, and a separate electrode may be formed.

상기 지지 기판(180)은 30㎛ 내지 500㎛의 두께를 가질 수 있다. 그러나 실시 예가 이에 한정되는 것은 아니며, 발광 소자(100)의 설계에 따라 달라질 수 있음은 당업자에게 자명할 것이다.The support substrate 180 may have a thickness of 30 μm to 500 μm. However, the embodiment is not limited thereto, and it will be apparent to those skilled in the art that the embodiment may vary depending on the design of the light emitting device 100.

상기 지지 기판(180) 상에 접합층(170)이 형성될 수 있다. 상기 접합층(170)은 본딩층(bonding layer) 또는 시드층(seed layer)으로서, 반사층(160)과 채널층(140) 아래에 형성될 수 있다. 상기 접합층(170)은 외 측면이 노출되며, 반사층(160), 오믹층(150)의 단부 및 채널층(140)에 접촉되어, 반사층(160), 오믹층(150) 및 채널층(140) 사이의 접착력을 강화시켜 줄 수 있다.A bonding layer 170 may be formed on the support substrate 180. The bonding layer 170 may be formed under the reflective layer 160 and the channel layer 140 as a bonding layer or a seed layer. An outer side surface of the bonding layer 170 is exposed and contacts the reflective layer 160, the end of the ohmic layer 150, and the channel layer 140, and thus the reflective layer 160, the ohmic layer 150, and the channel layer 140. It can strengthen the adhesion between).

상기 접합층(170)은 배리어(barrier) 금속 또는 본딩(bonding) 금속을 포함한다. 예를 들어, 상기 접합층(170)은 Cu, Ni, Ag, Mo, Al, Au, Nb, W, Ti, Cr, Ta, Al, Pd, Pt, Si, Al-Si, Ag-Cd, Au-Sb, Al-Zn, Al-Mg, Al-Ge, Pd-Pb, Ag-Sb, Au-In, Al-Cu- Si, Ag-Cd-Cu, Cu-Sb, Cd-Cu, Al-Si-Cu, Ag-Cu, Ag-Zn, Ag-Cu-Zn, Ag-Cd-Cu-Zn, Au-Si, Au-Ge, Au-Ni, Au-Cu, Au-Ag-Cu, Cu-Cu2O, Cu-Zn, Cu-P, Ni-P, Ni-Mn-Pd, Ni-P, Pd-Ni 중 어느 하나 또는 둘 이상을 포함하는 층으로 형성될 수도 있다.The bonding layer 170 may include a barrier metal or a bonding metal. For example, the bonding layer 170 is Cu, Ni, Ag, Mo, Al, Au, Nb, W, Ti, Cr, Ta, Al, Pd, Pt, Si, Al-Si, Ag-Cd, Au -Sb, Al-Zn, Al-Mg, Al-Ge, Pd-Pb, Ag-Sb, Au-In, Al-Cu- Si, Ag-Cd-Cu, Cu-Sb, Cd-Cu, Al-Si -Cu, Ag-Cu, Ag-Zn, Ag-Cu-Zn, Ag-Cd-Cu-Zn, Au-Si, Au-Ge, Au-Ni, Au-Cu, Au-Ag-Cu, Cu-Cu2O Or Cu-Zn, Cu-P, Ni-P, Ni-Mn-Pd, Ni-P, or Pd-Ni.

이러한 접합층(170) 상에는 반사층(160)이 형성될 수 있다. 상기 반사층(160)은 발광 구조층(135)에서 발생되어 반사층(160) 쪽으로 향하는 빛을 반사시켜, 발광 소자(100)의 발광 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The reflective layer 160 may be formed on the bonding layer 170. The reflective layer 160 may be generated by the light emitting structure layer 135 to reflect the light toward the reflective layer 160, thereby improving the luminous efficiency of the light emitting device 100.

한편, 상기 반사층(160)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 또는 이들의 합금 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 반사층(160)은 상술한 금속 또는 합금과, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), AZO(aluminium zinc oxide), ATO(antimony tin oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 반사층(160)이 IZO/Ni, AZO/Ag, IZO/Ag/Ni, AZO/Ag/Ni, Ag/Cu, Ag/Pd/Cu 등의 적층 구조를 포함할 수 있다. Meanwhile, the reflective layer 160 may include at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, or an alloy thereof. In addition, the reflective layer 160 may include the above-described metal or alloy, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IZO), and indium gallium tin (IGTO). oxide), IGZO (indium gallium zinc oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide) can be formed in a multi-layer using a transmissive conductive material. For example, the reflective layer 160 may include a stacked structure of IZO / Ni, AZO / Ag, IZO / Ag / Ni, AZO / Ag / Ni, Ag / Cu, Ag / Pd / Cu, and the like.

상기 반사층(160) 상에 오믹층(150)이 형성될 수 있다. 상기 오믹층(150)은 제2 도전형 반도체층(130)에 오믹 접촉되어 발광 구조층(135)에 전원이 원활히 공급될 수 있도록 한다. 상기 오믹층(150)은, ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni, Ag, Pt, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 이용하여 단층 또는 다층으로 구현할 수 있다.An ohmic layer 150 may be formed on the reflective layer 160. The ohmic layer 150 is in ohmic contact with the second conductive semiconductor layer 130 so that power can be smoothly supplied to the light emitting structure layer 135. The ohmic layer 150 may include ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, GZO (gallium zinc oxide), IrO x , RuO x , RuO x / ITO, Ni, Ag, Pt, Ni / IrO x / Au, or can be implemented as a single layer or multi-layer using at least one of Ni / IrO x / Au / ITO .

이처럼, 본 실시 예에서는 상기 반사층(160)의 상면이 오믹층(150)과 접촉하는 것을 예시하여 설명하고 있으나, 상기 반사층(160)이 채널층(140) 또는 발광 구조층(135)과 접촉하는 것도 가능할 것이다. As described above, in the present exemplary embodiment, the upper surface of the reflective layer 160 is in contact with the ohmic layer 150, but the reflective layer 160 is in contact with the channel layer 140 or the light emitting structure layer 135. It would also be possible.

상기 오믹층(150)과 상기 제2 도전형 반도체층(130) 사이의 내측에는 전류 차단층(145)이 형성될 수 있다. 상기 전류 차단층(145)은 ZnO, SiO2, SiON, Si3N4, Al2O3, TiO2, Ti, Al, Cr 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.A current blocking layer 145 may be formed inside the ohmic layer 150 and the second conductive semiconductor layer 130. The current blocking layer 145 may include at least one of ZnO, SiO 2 , SiON, Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti, Al, Cr.

상기 전류 차단층(145)의 상면은 제2 도전형 반도체층(130)과 접촉하고, 상기 전류 차단층(145)의 하면 및 측면은 오믹층(150)과 접촉할 수 있다.An upper surface of the current blocking layer 145 may contact the second conductive semiconductor layer 130, and a lower surface and a side surface of the current blocking layer 145 may contact the ohmic layer 150.

상기 전류 차단층(145)은 전극(115)과 수직 방향으로 적어도 일부분이 중첩되도록 형성될 수 있으며, 이에 따라 전극(115)과 지지 기판(180) 사이의 최단 거리로 전류가 집중되는 현상을 완화하여 발광 소자(100)의 발광 효율을 향상시킬 수 있다. The current blocking layer 145 may be formed such that at least a portion of the current blocking layer 145 overlaps with the electrode 115 in a vertical direction, thereby alleviating a phenomenon in which current is concentrated at the shortest distance between the electrode 115 and the supporting substrate 180. The luminous efficiency of the light emitting device 100 can be improved.

한편, 접합층(170)과 제2 도전형 반도체층(130) 사이의 외측에는 채널층(140)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 채널층(140)은 발광 구조층(135)과 접합층(170) 사이의 둘레 영역에 형성될 수 있으며, 이에 의해 링 형상, 루프 형상, 프레임 형상 등으로 형성될 수 있다. Meanwhile, a channel layer 140 may be formed outside the junction layer 170 and the second conductivity-type semiconductor layer 130. That is, the channel layer 140 may be formed in the circumferential region between the light emitting structure layer 135 and the bonding layer 170, thereby forming a ring shape, a loop shape, a frame shape, or the like.

상기 채널층(140)은 전기 절연성을 가지는 물질, 반사층(160) 또는 접합층(170) 보다 전기 전도성이 낮은 물질, 또는 제2 도전형 반도체층(130)과 쇼트키 접촉을 형성하는 물질을 이용하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 채널층(140)은, ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, ZnO, SiO2, SiOx, SiOxNy, Si3N4, Al2O3, TiOx, TiO2, Ti, Al 또는 Cr 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The channel layer 140 may be formed of an electrically insulating material, a material having a lower electrical conductivity than the reflective layer 160 or the bonding layer 170, or a material forming a Schottky contact with the second conductive semiconductor layer 130. Can be formed. For example, the channel layer 140 may include ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, ZnO, SiO 2 , SiO x , SiO x N y , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , TiO x , TiO 2 , Ti, Al, or Cr.

상기 채널층(140)의 상면에는 제2 도전형 반도체층(130)과 패시베이션층(190)이 접촉하고, 상기 채널층(140)의 하면 및 측면에는 오믹층(150)과 접합층(170)이 접촉할 수 있다.The second conductive semiconductor layer 130 and the passivation layer 190 are in contact with the upper surface of the channel layer 140, and the ohmic layer 150 and the bonding layer 170 are disposed on the lower surface and the side surface of the channel layer 140. You can contact this.

본 실시 예에서는, 상기 오믹층(150)이 채널층(140)의 하면 및 측면에 접촉하는 것을 예시하여 설명하고 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 따라서, 상기 오믹층(150)과 상기 채널층(140)이 서로 이격되어 배치되거나, 상기 오믹층(150)이 상기 채널층(140)의 측면에만 접촉할 수도 있다. 또한, 상기 채널층(140)이 반사층(160)과 오믹층(150) 사이에 형성될 수도 있다.In the present exemplary embodiment, the ohmic layer 150 contacts the bottom and side surfaces of the channel layer 140, but is not limited thereto. Therefore, the ohmic layer 150 and the channel layer 140 may be spaced apart from each other, or the ohmic layer 150 may contact only the side surface of the channel layer 140. In addition, the channel layer 140 may be formed between the reflective layer 160 and the ohmic layer 150.

또한, 상기 채널층(140)은 일부분이 발광 구조층(135)과 수직 방향에서 중첩될 수 있다. 이러한 채널층(140)은 접합층(170)과 활성층(120) 사이의 측면에서의 거리를 증가시켜 접합층(170)과 활성층(120) 사이의 전기적 단락의 발생 가능성을 줄일 수 있다. 또한, 상기 채널층(140)은 발광 구조층(135)과 지지 기판(180) 사이의 틈새로 수분 등이 침투되는 것도 방지할 수 있다.In addition, a portion of the channel layer 140 may overlap the light emitting structure layer 135 in the vertical direction. The channel layer 140 may increase the distance at the side surface between the bonding layer 170 and the active layer 120 to reduce the possibility of electrical short circuit between the bonding layer 170 and the active layer 120. In addition, the channel layer 140 may also prevent moisture or the like from penetrating into the gap between the light emitting structure layer 135 and the support substrate 180.

또한, 상기 채널층(140)은 칩 분리 공정에서 전기적 단락이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 좀 더 상세하게 설명하면, 발광 구조층(135)을 단위 칩 영역으로 분리하기 위하여 아이솔레이션 에칭(isolation etching)을 하는 경우, 접합층(170)에서 발생된 파편이 제2 도전형 반도체층(130)과 활성층(120) 사이 또는 활성층(120)과 제1 도전형 반도체층(110) 사이에 부착되어 전기적 단락이 발생할 수 있는데, 상기 채널층(140)은 이러한 전기적 단락을 방지한다. 따라서, 상기 채널층(140)은 아이솔레이션 에칭 시 깨지지 않거나 파편이 발생하지 않는 물질, 또는 극히 일부분이 깨지거나 소량의 파편이 발생하더라도 전기적 단락을 일으키지 않는 절연성 물질로 형성될 수 있다.In addition, the channel layer 140 may prevent an electrical short circuit from occurring in the chip separation process. In more detail, when the isolation etching is performed to separate the light emitting structure layer 135 into the unit chip region, the debris generated in the bonding layer 170 is the second conductive semiconductor layer 130. And an electrical short may occur between the active layer 120 or between the active layer 120 and the first conductive semiconductor layer 110, and the channel layer 140 prevents the electrical short. Accordingly, the channel layer 140 may be formed of a material that does not break or cause fragmentation during isolation etching, or an insulating material that does not cause an electrical short even when a very small portion or a small amount of fragmentation occurs.

그리고, 오믹층(150) 및 채널층(140) 상에 발광 구조층(135)이 형성될 수 있다. 상기 발광 구조층(135)의 측면은 복수 개의 칩을 단위 칩 영역으로 구분하는 아이솔레이션 에칭에 의해 경사를 가질 수 있다.In addition, the light emitting structure layer 135 may be formed on the ohmic layer 150 and the channel layer 140. Side surfaces of the light emitting structure layer 135 may have an inclination by an isolation etching that divides a plurality of chips into unit chip regions.

상기 발광 구조층(135)은 복수의 Ⅲ족-Ⅴ족 원소의 화합물 반도체층을 포함할 수 있으며, 제1 도전형 반도체층(110), 제2 도전형 반도체층(130) 및 이들 사이에 위치한 활성층(120)을 포함할 수 있다. 이때, 상기 제2 도전형 반도체층(130)이 오믹층(150)과 채널층(140) 상에 위치하고, 상기 활성층(120)이 제2 도전형 반도체층(130) 상에 위치하고, 상기 제1 도전형 반도체층(110)이 활성층(120) 상에 위치할 수 있다.The light emitting structure layer 135 may include a compound semiconductor layer of a plurality of group III-V elements, and may be disposed between the first conductive semiconductor layer 110 and the second conductive semiconductor layer 130 and therebetween. The active layer 120 may be included. In this case, the second conductive semiconductor layer 130 is positioned on the ohmic layer 150 and the channel layer 140, and the active layer 120 is positioned on the second conductive semiconductor layer 130. The conductive semiconductor layer 110 may be located on the active layer 120.

또한, 상기 제1 도전형 반도체층(110)과 상기 활성층(120) 사이에는 제1 도전형의 InGaN/GaN 슈퍼래티스 구조 또는 InGaN/InGaN 슈퍼래티스 구조(미도시)가 형성될 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(130)과 상기 활성층(120) 사이에는 제2 도전형의 AlGaN층(미도시)이 형성될 수도 있다.In addition, a first conductivity type InGaN / GaN superlattice structure or an InGaN / InGaN superlattice structure (not shown) may be formed between the first conductivity type semiconductor layer 110 and the active layer 120. In addition, a second conductive AlGaN layer (not shown) may be formed between the second conductive semiconductor layer 130 and the active layer 120.

상기 제1 도전형 반도체층(110)은 제1 도전형 도펀트가 도핑된 Ⅲ족-Ⅴ족 원소의 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 도전형 반도체층(110)은 n형 반도체층을 포함할 수 있다. 이러한 n형 반도체층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료에 n형 도펀트가 도핑되어 형성될 수 있다. 예를 들면, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에 Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 포함되어 형성될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(110)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 한정되지는 않는다.The first conductivity type semiconductor layer 110 may include a compound semiconductor of a group III-V element doped with a first conductivity type dopant. For example, the first conductivity-type semiconductor layer 110 may include an n-type semiconductor layer. The n-type semiconductor layer is doped with n-type dopants to a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. For example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, etc. may be formed by including n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se, Te, and the like. The first conductivity type semiconductor layer 110 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

상기 활성층(120)은 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조(multi quantum well, MQW), 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나로 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The active layer 120 may be formed of any one of a single quantum well structure, a multi quantum well structure (MQW), a quantum dot structure, or a quantum line structure, but is not limited thereto.

상기 활성층(120)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 활성층(120)이 다중 양자 우물 구조로 형성된 경우, 상기 활성층(120)은 복수의 우물층과 복수의 장벽층이 적층되어 형성될 수 있다. 일 예로, 상기 활성층(120)은 InGaN을 포함하는 우물층과 GaN을 포함하는 장벽층이 교대로 적층되어 형성될 수 있다.The active layer 120 may be formed of a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1). When the active layer 120 has a multi-quantum well structure, the active layer 120 may be formed by stacking a plurality of well layers and a plurality of barrier layers. For example, the active layer 120 may be formed by alternately stacking a well layer including InGaN and a barrier layer including GaN.

이러한 활성층(120)의 위 및/또는 아래에는 n형 또는 p형 도펀트가 도핑된 클래드층(미도시)이 형성될 수도 있으며, 이 클래드층은 AlGaN층 또는 InAlGaN층을 포함할 수 있다. 상기 장벽층의 밴드 갭은 우물층의 밴드 갭보다 크며, 상기 클래드층의 밴드 갭은 상기 활성층의 밴드 갭보다 클 수 있다.A clad layer (not shown) doped with an n-type or p-type dopant may be formed on and / or under the active layer 120, and the clad layer may include an AlGaN layer or an InAlGaN layer. The band gap of the barrier layer may be larger than the band gap of the well layer, and the band gap of the clad layer may be larger than the band gap of the active layer.

상기 제2 도전형 반도체층(130)은 제2 도전형 도펀트가 도핑된 Ⅲ족-Ⅴ족 원소의 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 제2 도전형 반도체층(130)은 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 이러한 p형 반도체층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료에 p형 도펀트가 도핑되어 형성될 수 있다. 예를 들면, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에 Mg, Zn, Ca, Sr, Br 등의 p형 도펀트가 포함되어 형성될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(130)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정되지는 않는다.The second conductivity type semiconductor layer 130 may include a compound semiconductor of a group III-V element doped with a second conductivity type dopant. For example, the second conductivity-type semiconductor layer 130 may include a p-type semiconductor layer. The p-type semiconductor layer is a p-type dopant doped in a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. For example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, etc. may be formed by including p-type dopants such as Mg, Zn, Ca, Sr, Br and the like. The second conductivity type semiconductor layer 130 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

본 실시 예에서는, 상기 제1 도전형 반도체층(110)이 n형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 도전형 반도체층(130)이 p형 반도체층을 포함하고 있는 것을 예시하고 있으나 이에 한정되지 않는다. 즉, 상기 제1 도전형 반도체층(110)이 p형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 도전형 반도체층(130)이 n형 반도체층을 포함할 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(130) 아래에 또 다른 n형 또는 p형 반도체층(미도시)이 형성될 수도 있다. 이에 따라, 발광 구조층(135)은, np, pn, npn, pnp 접합 구조 중 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.In the present exemplary embodiment, the first conductive semiconductor layer 110 includes an n-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 130 includes a p-type semiconductor layer, but the present invention is not limited thereto. Do not. That is, the first conductivity type semiconductor layer 110 may include a p-type semiconductor layer, and the second conductivity type semiconductor layer 130 may include an n-type semiconductor layer. In addition, another n-type or p-type semiconductor layer (not shown) may be formed under the second conductive semiconductor layer 130. Accordingly, the light emitting structure layer 135 may have at least one of np, pn, npn, and pnp junction structures.

또한, 상기 제1 도전형 반도체층(110) 및 상기 제2 도전형 반도체층(130) 내의 도펀트의 도핑 농도는 균일할 수도 있고, 불균일할 수도 있다. 즉, 발광 구조층(135)의 구조는 다양하게 변형될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, the doping concentrations of the dopants in the first conductive semiconductor layer 110 and the second conductive semiconductor layer 130 may be uniform or non-uniform. That is, the structure of the light emitting structure layer 135 may be variously modified, but is not limited thereto.

이러한 발광 구조층(135)의 상면에는 광 추출 구조(112)가 형성될 수 있다. 상기 광 추출 구조(112)는 표면에서 전반사되는 빛의 양을 최소화하여 발광 소자(100)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다. 상기 광 추출 구조(112)는 랜덤한 형상 및 배열을 갖거나, 규칙적인 형상 및 배열을 갖도록 형성될 수 있다. 본 실시 예에서, 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면은 광 추출 효율을 증가시키기 위해 러프니스 패턴이 형성될 수 있다.The light extraction structure 112 may be formed on an upper surface of the light emitting structure layer 135. The light extraction structure 112 may improve the light extraction efficiency of the light emitting device 100 by minimizing the amount of light totally reflected from the surface. The light extraction structure 112 may have a random shape and arrangement, or may be formed to have a regular shape and arrangement. In this embodiment, a roughness pattern may be formed on an upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 110 to increase light extraction efficiency.

상기 발광 구조층(135), 좀 더 상세하게는, 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면에 전극(115)이 형성된다. 상기 전극(115)은 소정의 패턴 형상으로 분기될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting structure layer 135, and more specifically, the electrode 115 is formed on the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 110. The electrode 115 may be branched in a predetermined pattern shape, but is not limited thereto.

또한, 상기 전극(115)은 적어도 두 개 이상의 패드부(미도시)와, 상기 패드부(미도시)에 연결된 적어도 한 가지 형상의 전극부(115a, 115b)가 동일 또는 상이한 적층 구조로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 여기서, 상기 패드부(미도시)는 상기 전극(115) 상에 와이어 접합이 이루어지는 부분을 의미한다.In addition, the electrode 115 has at least two pad portions (not shown) and at least one electrode portion 115a, 115b connected to the pad portion (not shown) may have the same or different stacked structure. But it is not limited thereto. Here, the pad part (not shown) means a portion where wire bonding is made on the electrode 115.

본 실시 예에서, 상기 전극(115)은 패드부(미도시)와 상기 패드부로부터 연장된 외부 전극(115a) 및 내부 전극(115b)을 포함한다. 하지만, 상기 적어도 한가지 형상의 전극부는 상기 외부 전극(115a)만으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 전극(115)의 상면을 평면으로 구성하였으나, 상기 전극(115)의 상면에 러프니스 패턴이 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.In the present embodiment, the electrode 115 includes a pad part (not shown), an external electrode 115a and an internal electrode 115b extending from the pad part. However, the at least one electrode portion may be formed of only the external electrode 115a. In addition, although the upper surface of the electrode 115 is configured as a plane, a roughness pattern may be formed on the upper surface of the electrode 115, but is not limited thereto.

상기 전극(115)은 Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, WTi 또는 이들의 합금 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The electrode 115 may be Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, WTi, or their It may comprise at least one of the alloys.

한편, 상기 발광 구조층(135)의 적어도 일 측면에는 패시베이션층(190)이 형성될 수 있다. 상기 패시베이션층(190)은 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면 및 상기 채널층(140)의 상면에 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다.The passivation layer 190 may be formed on at least one side of the light emitting structure layer 135. The passivation layer 190 may be formed on an upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 110 and an upper surface of the channel layer 140, but is not limited thereto.

상기 패시베이션층(190)은 상기 발광 구조층(135)을 전기적으로 보호하기 위하여 형성될 수 있으며, 예를 들어, SiO2, SiOx, SiOxNy, Si3N4, Al2O3 로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다.The passivation layer 190 may be formed to electrically protect the light emitting structure layer 135. For example, the passivation layer 190 may be formed of SiO 2 , SiO x , SiO x N y , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 . It may be formed, but is not limited thereto.

도 2는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 일 예를 도시한 도면이다. 도 1에는 전극을 I-I' 단면으로 절단한 형태가 도시되어 있다.2 is a view showing an example of the shape on the plane of the electrode in the light emitting device according to the embodiment. Figure 1 shows a form in which the electrode is cut in the section II '.

도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 전극(115)은 상기 제1 도전형 반도체층(110) 상에 형성되며, 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 전극부(115a, 115b)를 포함한다. 1 and 2, the electrode 115 is formed on the first conductivity type semiconductor layer 110 and is disposed closer to the outermost part from the center area of the upper surface of the light emitting structure layer. And a second pad portion, and electrode portions 115a and 115b extending from at least one of the first pad portion and the second pad portion.

상기 전극(115)은 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 제1모서리에 가까운 제1영역 상에 배치되는 제1 패드부와, 상기 제1모서리의 맞은편 제2모서리로부터 제1방향과 상기 제1방향에 직교하는 제2방향 중 적어도 한 방향으로 이격된 제2영역 상에 배치되는 제2 패드부를 포함한다.The electrode 115 may include a first pad part disposed on a first area closer to a first edge than a center area of an upper surface of the light emitting structure layer, and a first direction and the first direction from a second edge opposite to the first edge. And a second pad part disposed on the second area spaced apart in at least one of the second directions perpendicular to the one direction.

또한, 상기 전극(115)은 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면 주변부를 따라 연장되는 상기 외부 전극(115a)과, 상기 외부 전극(115a)의 제1 부분과 상기 외부 전극(115a)의 제2 부분을 연결하는 내부 전극(115b)을 포함할 수 있다. 상기 내부 전극(115b)은 상기 외부 전극(115a)에 의해 둘러싸이는 영역 내에 배치될 수도 있다. 본 실시 예에서는 두 개의 내부 전극(115b1, 115b2)을 예시하여 설명하고 있으나, 이에 한정되지는 않는다.In addition, the electrode 115 extends along the upper periphery of the upper surface of the first conductivity-type semiconductor layer 110, the first portion of the external electrode 115a, and the external electrode 115a. It may include an internal electrode (115b) connecting the second portion of the. The inner electrode 115b may be disposed in an area surrounded by the outer electrode 115a. In the present exemplary embodiment, two internal electrodes 115b1 and 115b2 are described, but the present invention is not limited thereto.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 외부 전극(115a)은 제1 외부 전극(115a1), 제2 외부 전극(115a2), 제3 외부 전극(115a3), 제4 외부 전극(115a4)을 포함한다. 그리고, 상기 내부 전극(115b)은 제1 내부 전극(115b1), 제2 내부 전극(115b2)을 포함한다.As illustrated in FIG. 2, the external electrode 115a includes a first external electrode 115a1, a second external electrode 115a2, a third external electrode 115a3, and a fourth external electrode 115a4. The internal electrode 115b includes a first internal electrode 115b1 and a second internal electrode 115b2.

상기 외부 전극(115a)은 상기 제1 도전형 반도체층(110) 상면의 최외곽부로부터 50㎛ 이내에 적어도 일부분이 형성될 수도 있으며, 상기 외부 전극(115a)은 상기 패시베이션층(180)과 접촉할 수도 있다. 예를 들면, 상기 제1 외부 전극(115a1), 제2 외부 전극(115a2), 제3 외부 전극(115a3), 제4 외부 전극(115a4) 각각은 적어도 일부분이 상기 제1 도전형 반도체층(110) 상면의 최외곽부로부터 50㎛ 이내에 배치될 수도 있다.At least a portion of the external electrode 115a may be formed within 50 μm from an outermost portion of the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 110, and the external electrode 115a may be in contact with the passivation layer 180. It may be. For example, each of the first external electrode 115a1, the second external electrode 115a2, the third external electrode 115a3, and the fourth external electrode 115a4 may be at least partially disposed in the first conductive semiconductor layer 110. It may be disposed within 50㎛ from the outermost part of the upper surface).

상기 외부 전극(115a)은 4개의 변과 4개의 꼭지점을 갖는 사각형 형태로 배치될 수 있으며, 제1 방향으로 연장된 제1 외부 전극(115a1) 및 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 연장된 제3 외부 전극(115a3) 및 제4 외부 전극(115a4)을 포함한다.The external electrode 115a may be disposed in a quadrangular shape having four sides and four vertices, and the first external electrode 115a1 and the second external electrode 115a2 extending in a first direction and the first direction. And a third external electrode 115a3 and a fourth external electrode 115a4 extending in a second direction perpendicular to the second direction.

상기 내부 전극(115b)은 상기 제2 방향으로 연장되어 상기 제1 방향으로 연장된 제1 외부 전극(115a1) 및 제2 외부 전극(115a2)을 연결하는 제1 내부 전극(115b1) 및 제2 내부 전극(115b2)을 포함한다.The internal electrode 115b extends in the second direction to connect the first external electrode 115a1 and the second external electrode 115a2 extending in the first direction, and the second internal electrode 115b1. Electrode 115b2.

상기 패드부(115c)는 제1 패드부(115c1)와 제2 패드부(115c2)를 포함한다. 상기 제1 패드부(115c1)는 상기 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제3 외부 전극(115a3)이 만나는 꼭지점 부분에 배치되고, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 외부 전극(115a1)과 상기 제4 외부 전극(115a4) 상에 배치된다. 한편, 상기 제1 패드부(115c1)는 다른 꼭지점 부분에 배치될 수 있고, 이때 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 패드부(115c1)와 인접하지 않는 외부 전극 상에 위치한다.The pad part 115c includes a first pad part 115c1 and a second pad part 115c2. The first pad part 115c1 is disposed at a vertex portion where the second external electrode 115a2 and the third external electrode 115a3 meet, and the second pad part 115c2 is the first external electrode 115a1. ) And the fourth external electrode 115a4. Meanwhile, the first pad part 115c1 may be disposed at another vertex portion, and the second pad part 115c2 is positioned on an external electrode that is not adjacent to the first pad part 115c1.

상기 제2 패드부(115c2)의 위치를 좀 더 상세히 설명하면, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제2 외부 전극(115a2)을 기준으로 소정의 각도 이상인 영역과, 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제3 외부 전극(115a3)을 기준으로 소정의 각도 이상인 영역에 위치한다. 예를 들면, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제2 외부 전극(115a2)을 기준으로 10도 이상의 영역부터 80도 이하의 영역까지 위치한다.When the position of the second pad part 115c2 is described in more detail, the second pad part 115c2 may have a line segment connecting itself with the first pad part 115c1 to form the second external electrode 115a2. A region that is greater than or equal to a predetermined angle as a reference and a line segment connecting the first pad part 115c1 to itself is positioned in an region that is greater than or equal to a predetermined angle with respect to the third external electrode 115a3. For example, the second pad portion 115c2 may have a line segment connecting itself with the first pad portion 115c1 to an area of 10 degrees or more to 80 degrees or less based on the second external electrode 115a2. Located.

더욱 바람직하게는, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 영역 중에서 상기 제1 패드부(115c1)의 맞은 편인 제1 외부 전극(115a1)과 제4 외부 전극(115a4)이 만나는 부분이 아닌 영역에 위치한다.More preferably, the second pad portion 115c2 is located in a region other than the portion where the first external electrode 115a1 and the fourth external electrode 115a4, which are opposite to the first pad portion 115c1, meet. Located.

한편, 상기 제2 패드부의 위치를 각도가 아닌 거리 비율로 표시하면 다음과 같다.On the other hand, if the position of the second pad portion is expressed by the distance ratio rather than the angle as follows.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 패드부(115c1)는 상기 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제3 외부 전극(115a3)이 접하는 부분에 위치하고, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 외부 전극(115a1)과 상기 제4 외부 전극(115a4) 상에 위치함을 가정한다.As shown in FIG. 2, the first pad part 115c1 is positioned at a portion where the second external electrode 115a2 and the third external electrode 115a3 are in contact with each other, and the second pad part 115c2 is disposed at the contact point. It is assumed that the first external electrode 115a1 and the fourth external electrode 115a4 are positioned.

외부 전극(115a)의 형상이 4개의 변과 4개의 꼭지점을 갖는 정사각형 또는 직사각형의 형태인 경우, 제1 외부 전극(115a1)의 길이와 제2 외부 전극(115a2)의 길이를 A, 제3 외부 전극(115a3)의 길이와 제4 외부 전극(115a4)의 길이를 B라고 가정한다.When the shape of the external electrode 115a is a square or rectangular shape having four sides and four vertices, the length of the first external electrode 115a1 and the length of the second external electrode 115a2 are A and the third external. It is assumed that the length of the electrode 115a3 and the length of the fourth external electrode 115a4 are B.

그리고, 상기 제3 외부 전극(115a3)에서 상기 제1 외부 전극(115a1) 상에 위치하는 제2 패드부(115c2)까지의 길이를 C, 상기 제2 외부 전극(115a2)에서 상기 제4 외부 전극(115a4) 상에 위치하는 제2 패드부(115c2)까지의 길이를 D라고 가정한다.The length from the third external electrode 115a3 to the second pad portion 115c2 positioned on the first external electrode 115a1 is C, and the second external electrode 115a2 to the fourth external electrode. Assume that the length to the second pad portion 115c2 located on the 115a4 is D.

먼저, 상기 제1 외부 전극(115a1) 상에 위치하는 상기 제2 패드부(115c2)의 위치(X)를 거리 비율로 표현하면 하기 수학식 1과 같다.First, when the position (X) of the second pad portion 115c2 positioned on the first external electrode 115a1 is expressed as a distance ratio, Equation 1 below.

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서, A는 제1 외부 전극(115a1)의 길이, B는 제3 외부 전극(115a3)의 길이, C는 제3 외부 전극(115a3)에서 제1 외부 전극(115a1) 상에 위치하는 제2 패드부(115c2)까지의 길이, θ는 제1 패드부와 제2 패드부를 연결한 선분과 제3 외부 전극 사이의 각도이다.Here, A is the length of the first external electrode 115a1, B is the length of the third external electrode 115a3, C is the second pad located on the first external electrode 115a1 at the third external electrode 115a3. The length θ up to the portion 115c2 is an angle between the line segment connecting the first pad portion and the second pad portion and the third external electrode.

즉, 상기 제2 패드부(115c2)의 위치(X)는 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제3 외부 전극(115a3)을 기준으로 소정의 각도 이상인 영역에서부터 대각선 맞은 편까지의 영역에 위치한다. 더욱 바람직하게는, 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제3 외부 전극(115a3)을 기준으로 10도 이상인 영역으로 한다. That is, the position X of the second pad part 115c2 is diagonally aligned from an area where a line segment connecting the first pad part 115c1 and itself is greater than or equal to a predetermined angle with respect to the third external electrode 115a3. Located in the area up to the side. More preferably, the line segment connecting the first pad portion 115c1 and itself is 10 degrees or more with respect to the third external electrode 115a3.

다음으로, 상기 제4 외부 전극(115a4) 상에 위치하는 상기 제2 패드부(115c2)의 위치(Y)를 거리 비율로 표현하면 하기 수학식 2와 같다.Next, when the position (Y) of the second pad portion 115c2 positioned on the fourth external electrode 115a4 is expressed as a distance ratio, Equation 2 below.

Figure pat00002
Figure pat00002

여기서, A는 제2 외부 전극(115a2)의 길이, B는 제4 외부 전극(115a3)의 길이, D는 제2 외부 전극(115a2)에서 제4 외부 전극(115a4) 상에 위치하는 제2 패드부(115c2)까지의 길이, θ는 제1 패드부와 제2 패드부를 연결한 선분과 제2 외부 전극 사이의 각도이다.Here, A is the length of the second external electrode 115a2, B is the length of the fourth external electrode 115a3, D is the second pad located on the fourth external electrode 115a4 at the second external electrode 115a2. The length θ up to the portion 115c2 is an angle between the line segment connecting the first pad portion and the second pad portion and the second external electrode.

즉, 상기 제2 패드부(115c2)의 위치(Y)는 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제2 외부 전극(115a2)을 기준으로 소정의 각도 이상인 영역에서부터 대각선 맞은 편까지의 영역에 위치한다. 더욱 바람직하게는, 상기 제1 패드부(115c1)와 자신을 연결한 선분이 상기 제2 외부 전극(115a2)을 기준으로 10도 이상인 영역으로 한다.That is, the position Y of the second pad part 115c2 is diagonally aligned from an area where a line segment connecting the first pad part 115c1 and itself is greater than or equal to a predetermined angle with respect to the second external electrode 115a2. Located in the area up to the side. More preferably, the line segment connecting the first pad portion 115c1 and itself is 10 degrees or more with respect to the second external electrode 115a2.

도 3a 및 도 3b는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 다른 예를 도시한 도면이다.3A and 3B illustrate another example of a shape on a plane of an electrode in the light emitting device according to the embodiment.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 상기 전극(115)은 상기 제1 도전형 반도체층(110) 상에 형성되며, 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면 주변부를 따라 연장되는 상기 외부 전극(115a)과, 상기 외부 전극(115a)의 제1 부분과 상기 외부 전극(115a)의 제2 부분을 연결하는 내부 전극(115b)을 포함할 수 있다. 상기 내부 전극(115b)은 상기 외부 전극(115a)에 의해 둘러싸이는 영역 내에 배치될 수도 있다.3A and 3B, the electrode 115 is formed on the first conductive semiconductor layer 110 and extends along the upper periphery of the first conductive semiconductor layer 110. And an internal electrode 115b connecting the first portion of the external electrode 115a and the second portion of the external electrode 115a. The inner electrode 115b may be disposed in an area surrounded by the outer electrode 115a.

상기 외부 전극(115a)은 제1 외부 전극(115a1), 제2 외부 전극(115a2), 제3 외부 전극(115a3), 제4 외부 전극(115a4)을 포함한다. 그리고, 상기 내부 전극(115b)은 제1 내부 전극(115b1), 제2 내부 전극(115b2)을 포함할 수도 있다.The external electrode 115a includes a first external electrode 115a1, a second external electrode 115a2, a third external electrode 115a3, and a fourth external electrode 115a4. The internal electrode 115b may include a first internal electrode 115b1 and a second internal electrode 115b2.

상기 외부 전극(115a)은 상기 제1 도전형 반도체층(110) 상면의 최외곽부로부터 50㎛ 이내에 적어도 일부분이 형성될 수도 있으며, 상기 외부 전극(115a)은 상기 패시베이션층(180)과 접촉할 수도 있다.At least a portion of the external electrode 115a may be formed within 50 μm from an outermost portion of the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 110, and the external electrode 115a may be in contact with the passivation layer 180. It may be.

상기 외부 전극(115a)은 4개의 변과 4개의 꼭지점을 갖는 사각형 형태로 배치될 수 있으며, 제1 방향으로 연장된 제1 외부 전극(115a1) 및 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 연장된 제3 외부 전극(115a3) 및 제4 외부 전극(115a4)을 포함한다.The external electrode 115a may be disposed in a quadrangular shape having four sides and four vertices, and the first external electrode 115a1 and the second external electrode 115a2 extending in a first direction and the first direction. And a third external electrode 115a3 and a fourth external electrode 115a4 extending in a second direction perpendicular to the second direction.

상기 내부 전극(115b)은 상기 제2 방향으로 연장되어 상기 제1 방향으로 연장된 제1 외부 전극(115a1) 및 제2 외부 전극(115a2)을 연결하는 제1 내부 전극(115b1) 및 제2 내부 전극(115b2)을 포함한다. 실시 예에서는 두 개의 내부 전극(115b1, 115b2)을 예시하여 설명하고 있으나, 이를 한정하지는 않는다. The internal electrode 115b extends in the second direction to connect the first external electrode 115a1 and the second external electrode 115a2 extending in the first direction, and the second internal electrode 115b1. Electrode 115b2. In the exemplary embodiment, two internal electrodes 115b1 and 115b2 are described by way of example, but the present invention is not limited thereto.

상기 패드부(115c)는 제1 패드부(115c1)와 제2 패드부(115c2)를 포함할 수 있으며, 상기 제1 패드부(115c1)는 상기 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제3 외부 전극(115a3)이 만나는 꼭지점 부분에 배치되고, 상기 제2 패드부(115c2)는 상기 제1 외부 전극(115a1)과 상기 제4 외부 전극(115a4) 상에 배치된다.The pad part 115c may include a first pad part 115c1 and a second pad part 115c2, and the first pad part 115c1 may include the second external electrode 115a2 and the third external part. The vertex portion where the electrode 115a3 meets is disposed, and the second pad portion 115c2 is disposed on the first external electrode 115a1 and the fourth external electrode 115a4.

한편, 도 3a에 도시된 전극은 제2 외부 전극(115a2)과 제4 외부 전극(115a4)이 만나는 부분과 제1 외부 전극(115a1)과 제3 외부 전극(115a3)이 만나는 부분이 서로 연결되는 구조를 형성하는 반면, 도 3b에 도시된 전극은 제2 외부 전극(115a2)과 제4 외부 전극(115a4)이 만나는 부분과 제1 외부 전극(115a1)과 제3 외부 전극(115a3)이 만나는 부분이 개방되는 구조를 형성한다.Meanwhile, in the electrode illustrated in FIG. 3A, a portion where the second external electrode 115a2 and the fourth external electrode 115a4 meet and a portion where the first external electrode 115a1 and the third external electrode 115a3 meet each other are connected to each other. While forming the structure, the electrode illustrated in FIG. 3B has a portion where the second external electrode 115a2 and the fourth external electrode 115a4 meet and a portion where the first external electrode 115a1 and the third external electrode 115a3 meet. This forms an open structure.

도 4는 실시 예에 따른 발광 소자에서 전극의 평면 상의 형태의 또 다른 예를 도시한 도면이다. 이하, 전술한 바와 동일 또는 극히 유사한 부분에 대한 설명은 생략하고, 서로 다른 부분에 대해서만 상세하게 설명하도록 한다.4 is a view showing another example of the shape on the plane of the electrode in the light emitting device according to the embodiment. Hereinafter, the description of the same or very similar parts as described above will be omitted, and only different parts will be described in detail.

도 4를 참조하면, 전극의 제1 패드부(115c1)를 기준으로 외부로 연장되는 제2 외부 전극(115a2) 및 제3 외부 전극(115a3)의 폭이 상기 제1 패드부(115c1)로부터 멀어질수록 가늘어지는 구조로 형성될 수 있다. 또한, 전극의 제2 패드부(115c2)를 기준으로 외부로 연장되는 제4 외부 전극(115a4)의 폭이 상기 제2 패드부(115c2)로부터 멀어질수록 가늘어지는 구조로 형성될 수 있다.Referring to FIG. 4, the widths of the second external electrode 115a2 and the third external electrode 115a3 extending to the outside with respect to the first pad portion 115c1 of the electrode are far from the first pad portion 115c1. It may be formed in a thinner structure. In addition, the width of the fourth external electrode 115a4 that extends to the outside with respect to the second pad portion 115c2 of the electrode may be formed to be thinner as the width of the fourth external electrode 115a4 moves away from the second pad portion 115c2.

도 5는 실시 예에 따른 발광 소자에서 동작 전압을 측정하는 패드부의 위치를 도시한 도면이다. 도 6은 실시 예에 따른 발광 소자에서 패드부의 위치에 따른 동작 전압을 도시한 도면이다.5 is a diagram illustrating a location of a pad unit for measuring an operating voltage in a light emitting device according to an exemplary embodiment. 6 is a diagram illustrating an operating voltage according to a position of a pad unit in the light emitting device according to the embodiment.

도 5를 참조하면, 제1 패드부(115c1)는 상기 제2 외부 전극(115a2)과 상기 제3 외부 전극(115a3)이 접하는 부분에 위치하고, 제2 패드부(115c2)는 제4 외부 전극(115a4) 상의 A지점, B지점, C지점 또는 D지점에 각각 위치하는 것을 가정한다.Referring to FIG. 5, the first pad part 115c1 is positioned at a portion where the second external electrode 115a2 and the third external electrode 115a3 are in contact with each other, and the second pad part 115c2 is a fourth external electrode ( Suppose it is located at point A, point B, point C or point D respectively on 115a4).

여기서, 전류 350㎃를 발광소자로 공급하여 상기 제2 패드부(115c2)의 위치에 따른 동작 전압을 측정하면 하기 표1 및 도 6과 같다.Herein, when the current of 350 mA is supplied to the light emitting device to measure the operating voltage according to the position of the second pad part 115c2, it is shown in Table 1 and FIG. 6.

제2 패드부의 위치 Position of the second pad part A 지점A point B 지점B point C 지점C point D 지점D point
동작 전압(V)

Operating voltage (V)

3.38

3.38

3.34

3.34

3.32

3.32

3.33

3.33

표1 및 도 6을 참조하면, 상기 제2 패드부(115c2)가 A 지점(기준 지점)에 위치하는 경우 동작 전압이 가장 높고, 상기 제2 패드부(115c2)가 B, C, D 지점에 위치하는 경우 상대적으로 동작 전압이 낮음을 확인할 수 있다. 따라서, 상기 제2 패드부(115c2)의 위치를 상기 제2 외부 전극(115a2)을 기준으로 소정의 각도 이상의 영역부터 소정의 각도 이하의 영역에 배치함으로써 동작 전압이 감소할 수 있다.Referring to Table 1 and FIG. 6, when the second pad part 115c2 is located at the A point (reference point), the operating voltage is the highest, and the second pad part 115c2 is located at the B, C, and D points. If it is located, it can be seen that the operating voltage is relatively low. Therefore, the operation voltage can be reduced by arranging the position of the second pad part 115c2 in a region of a predetermined angle or more from a region of a predetermined angle or less with respect to the second external electrode 115a2.

이하, 실시 예에 따른 발광 소자의 제조방법에 대해 상세히 설명한다. 다만, 전술한 내용과 중복되는 내용은 생략하거나 간략히 설명하도록 한다.Hereinafter, a method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment will be described in detail. However, the content overlapping with the above description will be omitted or briefly described.

도 7 내지 도 14는 실시 예에 따른 발광 소자의 제조방법을 설명하는 도면이다.7 to 14 are views illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment.

도 7을 참조하면, 성장 기판(101) 상에 발광 구조층(135)을 형성한다.Referring to FIG. 7, the light emitting structure layer 135 is formed on the growth substrate 101.

상기 성장기판(101)은 예를 들어, 사파이어(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge 중 적어도 하나로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 예를 들어, 상기 성장 기판(101)은 상기 발광 구조층이 성장되며, 상기 사파이어 기판이 사용될 수도 있다.The growth substrate 101 may be formed of, for example, at least one of sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, but is not limited thereto. For example, the light emitting structure layer may be grown on the growth substrate 101, and the sapphire substrate may be used.

상기 발광 구조층(135)은 상기 성장기판(101) 상에 상기 제1 도전형 반도체층(110), 활성층(120) 및 제2 도전형 반도체층(130)을 순차적으로 성장함으로써 형성될 수 있다.The light emitting structure layer 135 may be formed by sequentially growing the first conductive semiconductor layer 110, the active layer 120, and the second conductive semiconductor layer 130 on the growth substrate 101. .

상기 발광 구조층(135)은 예를 들어, 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting structure layer 135 may include, for example, Metal Organic Chemical Vapor Deposition (MOCVD), Chemical Vapor Deposition (CVD), Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD), Molecular Beam Epitaxy (MBE), Hydride Vapor Phase Epitaxy (HVPE), and the like may be formed using, but are not limited thereto.

한편, 상기 발광 구조층(135) 및 상기 성장 기판(101) 사이에는 격자 상수 차이를 완화하기 위해 버퍼층(미도시) 및/또는 언도프트 반도체층(미도시)이 형성될 수도 있다. 상기 언도프트 반도체층은 의도적으로 제1 도전형의 불순물을 주입하지는 않았으나, 제1 도전형의 전도 특성을 가질 수도 있는 질화물층이며, 예를 들어, 상기 언도프트 질화물층은 Undoped-GaN층으로 형성될 수도 있다. 상기 언도프트 반도체층과 상기 성장 기판(101) 사이에 버퍼층이 형성될 수도 있다. 또한, 상기 언도프트 반도체층은 반드시 형성되어야 하는 것은 아니며, 형성되지 않을 수도 있다.Meanwhile, a buffer layer (not shown) and / or an undoped semiconductor layer (not shown) may be formed between the light emitting structure layer 135 and the growth substrate 101 to alleviate the lattice constant difference. The undoped semiconductor layer is a nitride layer which may not intentionally inject impurities of the first conductivity type, but may have a conductivity characteristic of the first conductivity type. For example, the undoped nitride layer is formed of an Undoped-GaN layer. May be A buffer layer may be formed between the undoped semiconductor layer and the growth substrate 101. In addition, the undoped semiconductor layer is not necessarily formed, and may not be formed.

도 8을 참조하면, 상기 발광 구조층(135) 상에 단위 칩 영역에 대응하여 채널층(140)이 형성된다.Referring to FIG. 8, a channel layer 140 is formed on the light emitting structure layer 135 to correspond to a unit chip region.

상기 채널층(140)은 마스크 패턴을 이용하여 제2 도전형 반도체층(130) 상에 형성될 수 있다. 상기 채널층(140)은 다양한 증착 방법을 이용하여 형성할 수 있다.The channel layer 140 may be formed on the second conductive semiconductor layer 130 using a mask pattern. The channel layer 140 may be formed using various deposition methods.

상기 채널층(140)은 전기 절연성을 가지는 물질, 반사층(160) 또는 접합층(170) 보다 전기 전도성이 낮은 물질, 또는 제2 도전형 반도체층(130)과 쇼트키 접촉을 형성하는 물질을 이용하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 채널층(140)은, ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, ZnO, SiO2, SiOx, SiOxNy, Si3N4, Al2O3, TiOx, TiO2, Ti, Al 또는 Cr 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The channel layer 140 may be formed of an electrically insulating material, a material having a lower electrical conductivity than the reflective layer 160 or the bonding layer 170, or a material forming a Schottky contact with the second conductive semiconductor layer 130. Can be formed. For example, the channel layer 140 may include ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, ZnO, SiO 2 , SiO x , SiO x N y , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , It may include at least one of TiO x , TiO 2 , Ti, Al or Cr.

도 9 및 도 10을 참조하면, 상기 제2 도전형 반도체층(130) 및 상기 채널층(140) 상에 오믹 접촉층(150)을 형성하고, 상기 오믹 접촉층(150) 상에 반사층(160)을 형성할 수 있다.9 and 10, an ohmic contact layer 150 is formed on the second conductive semiconductor layer 130 and the channel layer 140, and a reflective layer 160 is formed on the ohmic contact layer 150. ) Can be formed.

상기 오믹 접촉층(150) 및 상기 반사층(160)은 예를 들어, 전자빔(E-beam) 증착, 스퍼터링(Sputtering), PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) 중 어느 하나의 방법에 의해 형성될 수 있다. The ohmic contact layer 150 and the reflective layer 160 may be formed by, for example, any one of electron beam (E-beam) deposition, sputtering, and plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD). .

상기 오믹 접촉층(150)과 반사층(160)이 형성되는 면적은 다양하게 선택될 수 있으며, 상기 오믹 접촉층(150) 및/또는 반사층(160)이 형성되는 면적에 따라 다양한 종류의 발광 소자가 제작될 수 있다.The area in which the ohmic contact layer 150 and the reflective layer 160 are formed may be variously selected, and various kinds of light emitting devices may be formed according to the area in which the ohmic contact layer 150 and / or the reflective layer 160 are formed. Can be made.

도 11을 참조하면, 상기 반사층(160) 및 상기 채널층(140) 상에 접합층(170)을 매개로 하여 지지 기판(180)을 형성한다.Referring to FIG. 11, the support substrate 180 is formed on the reflective layer 160 and the channel layer 140 via the bonding layer 170.

상기 접합층(170)은 상기 반사층(160), 상기 오믹 접촉층(150)의 단부 및 상기 보호층(140)에 접촉되어, 상기 반사층(160), 오믹 접촉층(150), 및 채널층(140) 사이의 접착력을 강화시켜 줄 수 있다.The bonding layer 170 is in contact with the reflective layer 160, the ends of the ohmic contact layer 150, and the protective layer 140, so that the reflective layer 160, the ohmic contact layer 150, and the channel layer ( 140) can enhance the adhesion between.

상기 지지 기판(180)은 상기 접합층(170) 상에 부착된다. 비록, 실시 예에서는 상기 지지 기판(180)이 상기 접합층(170)을 통해 본딩 방식으로 결합된 것이 예시되어 있으나, 상기 지지 기판(180)을 도금 방식 또는 증착 방식으로 형성하는 것도 가능하다.The support substrate 180 is attached on the bonding layer 170. Although the embodiment illustrates that the support substrate 180 is bonded by the bonding layer 170, the support substrate 180 may be formed by a plating method or a deposition method.

도 12를 참조하면, 상기 성장기판(101)을 상기 발광 구조층(135)으로부터 제거한다. 도 12에서는 도 11에 도시된 발광 소자를 뒤집어서 도시하였다. 여기서, 상기 성장기판(101)은 레이저 리프트 오프(Laser Lift Off) 방법 또는 화학적 리프트 오프(Chemical Lift Off) 방법에 의해 제거될 수 있다.Referring to FIG. 12, the growth substrate 101 is removed from the light emitting structure layer 135. In FIG. 12, the light emitting device illustrated in FIG. 11 is shown upside down. In this case, the growth substrate 101 may be removed by a laser lift off method or a chemical lift off method.

도 13을 참조하면, 상기 발광 구조층(135)에 단위 칩 영역에 따라 아이솔레이션(isolation) 에칭을 하여 복수 개의 발광 구조층(135)으로 분리한다.Referring to FIG. 13, the light emitting structure layer 135 is isolated by a plurality of light emitting structure layers 135 by an isolation etching according to a unit chip region.

예를 들어, 상기 아이솔레이션 에칭은 ICP(Inductively Coupled Plasma)와 같은 건식 식각 방법에 의해 실시될 수 있다.For example, the isolation etching may be performed by a dry etching method such as inductively coupled plasma (ICP).

도 14를 참조하면, 상기 채널층(140) 및 상기 발광 구조층(135) 상에 패시베이션층(180)을 형성하고, 상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면이 노출되도록 상기 패시베이션층(180)을 선택적으로 제거한다.Referring to FIG. 14, a passivation layer 180 is formed on the channel layer 140 and the light emitting structure layer 135, and the passivation layer is formed so that the top surface of the first conductive semiconductor layer 110 is exposed. Selectively remove 180).

상기 제1 도전형 반도체층(110)의 상면에 광 추출 효율 향상을 위한 러프니스 패턴(112)을 형성하고, 상기 러프니스 패턴(112) 상에 전극(115)을 형성한다. 여기서, 상기 러프니스 패턴(112)은 습식 식각 공정 또는 건식 식각 공정에 의해 형성될 수 있다.A roughness pattern 112 is formed on the top surface of the first conductive semiconductor layer 110 to improve light extraction efficiency, and an electrode 115 is formed on the roughness pattern 112. The roughness pattern 112 may be formed by a wet etching process or a dry etching process.

이후, 상기 구조물을 칩 분리 공정을 통해 단위 칩 영역으로 분리하면 복수 개의 발광 소자를 제작할 수 있다.Thereafter, when the structure is separated into a unit chip region through a chip separation process, a plurality of light emitting devices may be manufactured.

상기 칩 분리 공정은 예를 들어, 블레이드(blade)를 이용해 물리적인 힘을 가하여 분리시키는 브레이킹 공정, 칩 경계에 레이저를 조사하여 칩을 분리시키는 레이저 스크라이빙 공정, 습식 식각 또는 건식 식각을 포함하는 식각 공정 등을 포함할 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다.The chip separation process may include, for example, a breaking process of separating a chip by applying a physical force using a blade, a laser scribing process of separating a chip by irradiating a laser to a chip boundary, and a wet etching or a dry etching process. It may include an etching process, but is not limited thereto.

도 15는 실시 예에 따른 발광 소자를 포함하는 발광 소자 패키지의 단면도이다.15 is a cross-sectional view of a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment.

도 15를 참조하면, 발광 소자 패키지(1000)는 패키지 몸체(30)와, 상기 패키지 몸체(30)에 설치된 제1 전극(31) 및 제2 전극(32)과, 상기 패키지 몸체(30)에 설치되어 상기 제1 전극(31) 및 제2 전극(32)과 전기적으로 연결되는 발광 소자(100)와, 상기 발광 소자(100)를 포위하는 몰딩 부재(40)를 포함한다.Referring to FIG. 15, the light emitting device package 1000 may include a package body 30, a first electrode 31 and a second electrode 32 installed on the package body 30, and the package body 30. The light emitting device 100 is installed to be electrically connected to the first electrode 31 and the second electrode 32, and a molding member 40 surrounding the light emitting device 100.

상기 패키지 몸체(30)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있으며, 측면이 경사면으로 형성된 캐비티를 가질 수 있다.The package body 30 may include a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material, and may have a cavity having an inclined side surface.

상기 제1 전극(31) 및 상기 제2 전극(32)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광 소자(100)에 전원을 제공한다. 또한, 상기 제1 전극(31) 및 상기 제2 전극(32)은 상기 발광 소자(100)에서 발생한 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 상기 발광 소자(100)에서 발생한 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.The first electrode 31 and the second electrode 32 are electrically separated from each other, and provide power to the light emitting device 100. In addition, the first electrode 31 and the second electrode 32 may increase the light efficiency by reflecting the light generated from the light emitting device 100, the heat generated from the light emitting device 100 to the outside It can also play a role.

상기 발광 소자(100)는 상기 패키지 몸체(30) 상에 설치되거나 상기 제1 전극(31) 또는 상기 제2 전극(32) 상에 설치될 수 있다.The light emitting device 100 may be installed on the package body 30 or on the first electrode 31 or the second electrode 32.

상기 발광 소자(100)는 상기 제1 전극(31) 및 상기 제2 전극(32)과 와이어 방식, 플립칩 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다. 본 실시 예에서는, 상기 발광 소자(100)가 상기 제1 전극(31)과 상기 와이어(50)를 통해 전기적으로 연결되고 상기 제2 전극(32)과 직접 접촉하여 전기적으로 연결된 것이 예시되어 있다.The light emitting device 100 may be electrically connected to the first electrode 31 and the second electrode 32 by any one of a wire method, a flip chip method, and a die bonding method. In the present embodiment, it is illustrated that the light emitting device 100 is electrically connected to the first electrode 31 and the wire 50 and is directly connected to the second electrode 32.

상기 몰딩 부재(40)는 상기 발광 소자(100)를 포위하여 상기 발광 소자(100)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩 부재(40)에는 형광체가 포함되어 상기 발광 소자(100)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있다.The molding member 40 may surround the light emitting device 100 to protect the light emitting device 100. In addition, the molding member 40 may include a phosphor to change the wavelength of light emitted from the light emitting device 100.

실시 예에 따른 발광 소자 패키지는 복수 개가 기판상에 배열되며, 상기 발광 소자 패키지에서 방출되는 광의 경로 상에 광학 부재인 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트, 형광 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광 소자 패키지, 기판, 광학 부재는 백라이트 유닛으로 기능을 하거나 조명 유닛으로 기능을 할 수 있으며, 예를 들어, 조명 시스템은 백라이트 유닛, 조명 유닛, 지시 장치, 램프, 가로등을 포함할 수 있다.A plurality of light emitting device packages according to the embodiment may be arranged on a substrate, and a light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, a fluorescent sheet, and the like, which are optical members, may be disposed on a path of light emitted from the light emitting device package. The light emitting device package, the substrate, and the optical member may function as a backlight unit or as a lighting unit. For example, the lighting system may include a backlight unit, a lighting unit, an indicator device, a lamp, and a street lamp.

도 16은 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함하는 백라이트 유닛을 설명하는 도면이다. 다만, 도 16의 백라이트 유닛(1100)은 조명 시스템의 일 예이며, 이에 대해 한정하지는 않는다.16 is a view illustrating a backlight unit including a light emitting device or a light emitting device package according to an embodiment. However, the backlight unit 1100 of FIG. 16 is an example of a lighting system, but is not limited thereto.

도 16을 참조하면, 상기 백라이트 유닛(1100)은 바텀 프레임(1140)과, 상기 바텀 프레임(1140) 내에 배치된 광가이드 부재(1120)와, 상기 광가이드 부재(1120)의 적어도 일 측면 또는 하면에 배치된 발광 모듈(1110)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 광가이드 부재(1120) 아래에는 반사시트(1130)가 배치될 수 있다.Referring to FIG. 16, the backlight unit 1100 may include a bottom frame 1140, an optical guide member 1120 disposed in the bottom frame 1140, and at least one side or a bottom surface of the optical guide member 1120. It may include a light emitting module 1110 disposed in. In addition, a reflective sheet 1130 may be disposed under the light guide member 1120.

상기 바텀 프레임(1140)은 상기 광가이드 부재(1120), 상기 발광 모듈(1110) 및 상기 반사시트(1130)가 수납될 수 있도록 상면이 개구된 박스(box) 형상으로 형성될 수 있으며, 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom frame 1140 may be formed in a box shape having an upper surface open to accommodate the light guide member 1120, the light emitting module 1110, and the reflective sheet 1130. Or it may be formed of a resin material but is not limited thereto.

상기 발광 모듈(1110)은 기판(700)과, 상기 기판(700)에 탑재된 복수 개의 발광 소자 패키지(600)를 포함할 수 있다. 상기 복수 개의 발광 소자 패키지(600)는 상기 광가이드 부재(1120)에 빛을 제공할 수 있다. 본 실시 예에서, 상기 발광 모듈(1110)은 상기 기판(700) 상에 발광 소자 패키지(600)가 설치된 것이 예시되어 있으나, 실시 예에 따른 발광 소자(100)가 직접 설치되는 것도 가능하다.The light emitting module 1110 may include a substrate 700 and a plurality of light emitting device packages 600 mounted on the substrate 700. The plurality of light emitting device packages 600 may provide light to the light guide member 1120. In the present embodiment, the light emitting module 1110 is illustrated that the light emitting device package 600 is installed on the substrate 700, it is also possible that the light emitting device 100 according to the embodiment is installed directly.

도시된 바와 같이, 상기 발광 모듈(1110)은 상기 바텀 프레임(1140)의 내측 면들 중 적어도 어느 하나에 배치될 수 있으며, 이에 따라 상기 광가이드 부재(1120)의 적어도 하나의 측면을 향해 빛을 제공할 수 있다.As shown, the light emitting module 1110 may be disposed on at least one of the inner surfaces of the bottom frame 1140, thereby providing light toward at least one side of the light guide member 1120. can do.

다만, 상기 발광 모듈(1110)은 상기 바텀 프레임(1140)의 아래에 배치되어, 상기 광가이드 부재(1120)의 밑면을 향해 빛을 제공할 수도 있으며, 이는 상기 백라이트 유닛(1100)의 설계에 따라 다양하게 변형 가능하므로 이에 대해 한정하지는 않는다.However, the light emitting module 1110 may be disposed under the bottom frame 1140 to provide light toward the bottom surface of the light guide member 1120, which is according to the design of the backlight unit 1100. Since various modifications are possible, the present invention is not limited thereto.

상기 광가이드 부재(1120)는 상기 바텀 프레임(1140) 내에 배치될 수 있다. 상기 광가이드 부재(1120)는 상기 발광 모듈(1110)로부터 제공받은 빛을 면광원화 하여, 표시 패널(미도시)로 가이드할 수 있다.The light guide member 1120 may be disposed in the bottom frame 1140. The light guide member 1120 may guide the light provided from the light emitting module 1110 to a display panel by surface light source.

상기 광가이드 부재(1120)는 도광판(LGP, Light Guide Panel) 일 수 있다. 상기 도광판은 PMMA(polymethyl metaacrylate)와 같은 아크릴 수지 계열, PET(polyethylene terephthlate), PC(poly carbonate), COC 및 PEN(polyethylene naphthalate) 수지 중 하나로 형성될 수 있다.The light guide member 1120 may be a light guide panel (LGP). The light guide plate may be formed of one of an acrylic resin series such as polymethyl metaacrylate (PMMA), polyethylene terephthlate (PET), poly carbonate (PC), COC, and polyethylene naphthalate (PEN) resin.

상기 광가이드 부재(1120)의 상측에는 광학 시트(1150)가 배치될 수도 있다.The optical sheet 1150 may be disposed above the light guide member 1120.

상기 광학 시트(1150)는 확산 시트, 집광 시트, 휘도상승 시트, 및 형광 시트 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 광학 시트(1150)는 상기 확산 시트, 집광 시트, 휘도상승 시트 및 형광 시트가 적층되어 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 확산 시트(1150)는 상기 발광 모듈(1110)에서 출사된 광을 고르게 확산시켜주고, 상기 확산된 광은 상기 집광 시트에 의해 표시 패널(미도시)로 집광될 수 있다. 이때 상기 집광 시트로부터 출사되는 광은 랜덤하게 편광된 광인데, 상기 휘도상승 시트는 상기 집광 시트로부터 출사된 광의 편광도를 증가시킬 수 있다. 상기 집광 시트는 수평 또는/및 수직 프리즘 시트일 수 있다. 또한, 상기 휘도상승 시트는 조도 강화 필름(Dual Brightness Enhancement film) 일 수 있다. 또한, 상기 형광 시트는 형광체가 포함된 투광성 플레이트 또는 필름이 될 수도 있다.The optical sheet 1150 may include at least one of a diffusion sheet, a light collecting sheet, a luminance rising sheet, and a fluorescent sheet. For example, the optical sheet 1150 may be formed by stacking the diffusion sheet, the light collecting sheet, the luminance increasing sheet, and the fluorescent sheet. In this case, the diffusion sheet 1150 may evenly diffuse the light emitted from the light emitting module 1110, and the diffused light may be focused onto a display panel (not shown) by the light collecting sheet. In this case, the light emitted from the light collecting sheet is randomly polarized light, and the luminance increasing sheet may increase the degree of polarization of the light emitted from the light collecting sheet. The light collecting sheet may be a horizontal or vertical prism sheet. In addition, the luminance increase sheet may be a roughness enhancement film. In addition, the fluorescent sheet may be a translucent plate or film containing a phosphor.

상기 광가이드 부재(1120)의 아래에는 상기 반사시트(1130)가 배치될 수 있다. 상기 반사시트(1130)는 상기 광가이드 부재(1120)의 하면을 통해 방출되는 빛을 상기 광가이드 부재(1120)의 출사면을 향해 반사할 수 있다.The reflective sheet 1130 may be disposed under the light guide member 1120. The reflective sheet 1130 may reflect light emitted through the bottom surface of the light guide member 1120 toward the exit surface of the light guide member 1120.

상기 반사시트(1130)는 반사율이 좋은 수지 재질, 즉, PET, PC, PVC 레진 등으로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective sheet 1130 may be formed of a resin material having good reflectance, that is, PET, PC, PVC resin, etc., but is not limited thereto.

도 17은 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함하는 조명 유닛을 설명하는 도면이다. 다만, 도 17의 조명 유닛(1200)은 조명 시스템의 일 예이며, 이에 대해 한정하지는 않는다.17 is a view illustrating a lighting unit including a light emitting device or a light emitting device package according to an embodiment. However, the lighting unit 1200 of FIG. 17 is an example of a lighting system, but is not limited thereto.

도 17을 참조하면, 상기 조명 유닛(1200)은 케이스 몸체(1210)와, 상기 케이스 몸체(1210)에 설치된 발광 모듈(1230)과, 상기 케이스 몸체(1210)에 설치되며 외부 전원으로부터 전원을 제공받는 연결 단자(1220)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 17, the lighting unit 1200 is installed in the case body 1210, the light emitting module 1230 installed in the case body 1210, and the case body 1210, and provides power from an external power source. It may include a receiving connection terminal 1220.

상기 케이스 몸체(1210)는 방열 특성이 양호한 재질로 형성되는 것이 바람직하며, 예를 들어 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있다.The case body 1210 is preferably formed of a material having good heat dissipation characteristics, for example, may be formed of a metal material or a resin material.

상기 발광 모듈(1230)은 기판(700)과, 상기 기판(700)에 탑재되는 적어도 하나의 발광 소자 패키지(600)를 포함할 수 있다. 본 실시 예에서, 상기 발광 모듈(1230)은 상기 기판(700) 상에 발광 소자 패키지(600)가 설치된 것이 예시되어 있으나, 본 실시 예에 따른 발광 소자(100)가 직접 설치되는 것도 가능하다.The light emitting module 1230 may include a substrate 700 and at least one light emitting device package 600 mounted on the substrate 700. In the present embodiment, the light emitting module 1230 is illustrated that the light emitting device package 600 is installed on the substrate 700, the light emitting device 100 according to the present embodiment may be installed directly.

상기 기판(700)은 절연체에 회로 패턴이 인쇄된 것일 수 있으며, 예를 들어, 일반 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board), 메탈 코아(Metal Core) PCB, 연성(Flexible) PCB, 세라믹 PCB 등을 포함할 수 있다.The substrate 700 may be a circuit pattern printed on the insulator, and for example, a general printed circuit board (PCB), a metal core PCB, a flexible PCB, a ceramic PCB, and the like. It may include.

또한, 상기 기판(700)은 빛을 효율적으로 반사하는 재질로 형성되거나, 표면이 빛에 효율적으로 반사되는 컬러, 예를 들어 백색, 은색 등으로 형성될 수 있다.In addition, the substrate 700 may be formed of a material that reflects light efficiently, or may be formed of a color in which the surface is efficiently reflected by light, for example, white, silver, or the like.

상기 기판(700) 상에는 상기 적어도 하나의 발광 소자 패키지(600)가 탑재될 수 있다. 상기 발광 소자 패키지(600)는 각각 적어도 하나의 발광 다이오드(LED: Light Emitting Diode)를 포함할 수 있다. 상기 발광 다이오드는 적색, 녹색, 청색 또는 백색의 유색 빛을 각각 발광하는 유색 발광 다이오드 및 자외선(UV, UltraViolet)을 발광하는 UV 발광 다이오드를 포함할 수 있다.The at least one light emitting device package 600 may be mounted on the substrate 700. Each of the light emitting device packages 600 may include at least one light emitting diode (LED). The light emitting diodes may include colored light emitting diodes emitting red, green, blue, or white colored light, and UV light emitting diodes emitting ultraviolet (UV) light.

상기 발광 모듈(1230)은 색감 및 휘도를 얻기 위해 다양한 발광 다이오드의 조합을 가지도록 배치될 수 있다. 예를 들면, 고 연색성(CRI)을 확보하기 위해 백색 발광 다이오드, 적색 발광 다이오드 및 녹색 발광 다이오드를 조합하여 배치할 수 있다. 또한, 상기 발광 모듈(1230)에서 방출되는 광의 진행 경로 상에는 형광 시트가 더 배치될 수 있으며, 상기 형광 시트는 상기 발광 모듈(1230)에서 방출되는 광의 파장을 변화시킨다. 예를 들어, 상기 발광 모듈(1230)에서 방출되는 광이 청색 파장대를 갖는 경우 상기 형광 시트에는 황색 형광체가 포함될 수 있으며, 상기 발광 모듈(1230)에서 방출된 광은 상기 형광 시트를 지나 최종적으로 백색광으로 보이게 된다.The light emitting module 1230 may be arranged to have a combination of various light emitting diodes in order to obtain color and brightness. For example, the white light emitting diode, the red light emitting diode, and the green light emitting diode may be combined and disposed to secure high color rendering (CRI). In addition, a fluorescent sheet may be further disposed on a path of the light emitted from the light emitting module 1230, and the fluorescent sheet changes the wavelength of light emitted from the light emitting module 1230. For example, when the light emitted from the light emitting module 1230 has a blue wavelength band, the fluorescent sheet may include a yellow phosphor, and the light emitted from the light emitting module 1230 finally passes white light through the fluorescent sheet. Will appear.

상기 연결 단자(1220)는 상기 발광 모듈(1230)과 전기적으로 연결되어 전원을 공급할 수 있다. 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 연결 단자(1220)는 소켓 방식으로 외부 전원에 돌려 끼워져 결합되지만, 이에 대해 한정하지는 않는다. 예를 들어, 상기 연결 단자(1220)는 핀(pin) 형태로 형성되어 외부 전원에 삽입되거나, 배선에 의해 외부 전원에 연결될 수도 있는 것이다.The connection terminal 1220 may be electrically connected to the light emitting module 1230 to supply power. As shown in FIG. 14, the connection terminal 1220 is inserted into and coupled to an external power source in a socket manner, but is not limited thereto. For example, the connection terminal 1220 may be formed in a pin shape and inserted into an external power source, or may be connected to the external power source by a wire.

상술한 바와 같은 조명 시스템은 상기 발광 모듈에서 방출되는 광의 진행 경로 상에 광가이드 부재, 확산 시트, 집광 시트, 휘도상승 시트 및 형광 시트 중 적어도 어느 하나가 배치되어, 원하는 광학적 효과를 얻을 수 있다.In the lighting system as described above, at least one of a light guide member, a diffusion sheet, a light collecting sheet, a luminance rising sheet, and a fluorescent sheet may be disposed on a propagation path of light emitted from the light emitting module to obtain a desired optical effect.

이상에서 설명한 바와 같이, 조명 시스템은 동작 전압을 감소하고 광 효율이 향상된 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 포함함으로써, 우수한 광 효율 및 신뢰성을 가질 수 있다.As described above, the illumination system may have excellent light efficiency and reliability by including a light emitting device or a light emitting device package which reduces the operating voltage and improves the light efficiency.

한편 이상에서는 본 발명의 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되지 않으며, 후술 되는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the invention has been shown and described with reference to certain preferred embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the claims below, but also by those equivalent to the claims.

Claims (11)

지지 기판;
상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층;
상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 전극부를 포함하고,
상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 제1 모서리에 가까운 제1영역 상에 배치되며,
상기 제2패드부는 상기 제1모서리의 맞은편 제2 모서리로부터 제1방향과 상기 제1방향에 직교하는 제2방향 중 적어도 한 방향으로 이격된 제2영역 상에 배치되는 발광 소자.
Support substrates;
A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate;
A first pad portion and a second pad portion disposed closer to the outermost portion from a center region of the upper surface of the light emitting structure layer, and an electrode portion extending from at least one of the first pad portion and the second pad portion,
The first pad part is disposed on a first area closer to a first edge than a center area of an upper surface of the light emitting structure layer.
The second pad part is disposed on a second area spaced apart from at least one of a first direction and a second direction orthogonal to the first direction from a second edge opposite the first edge.
제 1항에 있어서, 상기 전극부는,
상기 제1 방향으로 형성된 제1 외부 전극 및 제2 외부 전극과, 상기 제2 방향으로 연장되어 상기 제1 외부 전극과 제2 외부 전극을 연결하는 제3 외부 전극 및 제4 외부 전극을 포함하는 발광소자.
The method of claim 1, wherein the electrode unit,
Light emission includes a first external electrode and a second external electrode formed in the first direction, and a third external electrode and a fourth external electrode extending in the second direction to connect the first external electrode and the second external electrode. device.
제 2항에 있어서, 상기 전극부는,
상기 외부 전극 영역 내에 배치되어 상기 외부 전극의 제1 부분과 제2 부분을 연결하는 내부 전극을 더 포함하는 발광 소자.
The method of claim 2, wherein the electrode unit,
And an inner electrode disposed in the outer electrode region and connecting the first portion and the second portion of the outer electrode.
제 3항에 있어서,
상기 외부 전극의 적어도 일부분의 폭이 상기 내부 전극의 폭보다 크게 형성되는 발광 소자.
The method of claim 3, wherein
The width of at least a portion of the external electrode is formed larger than the width of the inner electrode.
제 1항에 있어서,
상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부를 기준으로 외부로 연장되는 전극부의 폭이 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부로부터 멀어질수록 얇아지는 발광 소자.
The method of claim 1,
The light emitting device of claim 1, wherein the width of an electrode portion extending outwardly from the first pad portion and the second pad portion becomes thinner from the first pad portion and the second pad portion.
제 1항에 있어서,
상기 제1 패드부로부터 연장되는 전극부의 일 부분과 상기 제2 패드부로부터 연장되는 전극부의 일 부분이 서로 연결되는 구조를 갖는 발광 소자.
The method of claim 1,
And a portion of the electrode portion extending from the first pad portion and a portion of the electrode portion extending from the second pad portion are connected to each other.
제 1항에 있어서,
상기 제1 패드부로부터 연장되는 외부 전극의 일 부분과 상기 제2 패드부로부터 연장되는 외부 전극의 일 부분이 서로 개방되는 구조를 갖는 발광 소자.
The method of claim 1,
The light emitting device having a structure in which a portion of the external electrode extending from the first pad portion and a portion of the external electrode extending from the second pad portion are opened to each other.
지지 기판;
상기 지지 기판 상에 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조층;
상기 발광 구조층 상면의 센터 영역으로부터 최외곽부에 더 가깝게 배치된 제1 패드부 및 제2 패드부와, 상기 제1 패드부 및 상기 제2 패드부 중 적어도 하나로부터 연장되는 외부 전극을 포함하고,
상기 제1패드부는 상기 발광 구조층 상면의 센터 영역보다 최외곽부에 더 가까운 제1영역 상에 배치되며,
상기 제2패드부는 상기 제1영역으로부터 상기 발광 구조층 상면의 제1 측면을 따라 연장되는 제1선분과 상기 제1영역과 상기 제1영역의 맞은편을 연결한 제2선분이 적어도 10도의 각도로 이격되는 제2영역 상에 배치되는 발광 소자.
Support substrates;
A light emitting structure layer including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer on the support substrate;
A first pad part and a second pad part disposed closer to the outermost part from a center area of the upper surface of the light emitting structure layer, and an external electrode extending from at least one of the first pad part and the second pad part; ,
The first pad part is disposed on the first area closer to the outermost part than the center area of the upper surface of the light emitting structure layer,
The second pad part may have a first line segment extending from the first region along a first side surface of the upper surface of the light emitting structure layer, and a second line segment connecting the first region and the first region opposite to the first region may be at least 10 degrees. The light emitting device is disposed on the second region spaced apart.
제 8항에 있어서, 상기 외부전극은,
제1 방향으로 형성된 제1 외부 전극 및 제2 외부 전극과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 연장되어 상기 제1 외부 전극과 제2 외부 전극을 연결하는 제3 외부 전극 및 제4 외부 전극을 포함하는 발광소자.
The method of claim 8, wherein the external electrode,
A first external electrode and a second external electrode formed in a first direction, and a third external electrode and a fourth external electrode extending in a second direction orthogonal to the first direction to connect the first external electrode and the second external electrode; Light emitting device comprising an electrode.
제 9항에 있어서,
상기 제1 패드부는 상기 제1 방향으로 형성된 제2 외부 전극과 상기 제2 방향으로 형성된 제3 외부 전극이 만나는 지점에 배치되고,
상기 제2 패드부는 상기 제1 패드부와 인접하지 않는 제1 외부 전극 상에 배치되고, 하기 수학식에 해당하는 거리 비율(X)을 가지는 영역에 배치되는 발광 소자.
[수학식]
Figure pat00003
, 여기서 A는 제1 외부 전극의 길이, B는 제3 외부 전극의 길이, C는 제3 외부 전극에서 제1 외부 전극 상에 위치하는 제2 패드부까지의 길이, 10°는 제1 패드부와 제2 패드부를 연결한 선분과 제3 외부 전극 사이의 각도임.
The method of claim 9,
The first pad part is disposed at a point where the second external electrode formed in the first direction and the third external electrode formed in the second direction meet each other.
The second pad part is disposed on a first external electrode which is not adjacent to the first pad part, and is disposed in an area having a distance ratio (X) corresponding to the following equation.
[Mathematical Expression]
Figure pat00003
Where A is the length of the first external electrode, B is the length of the third external electrode, C is the length from the third external electrode to the second pad portion located on the first external electrode, and 10 ° is the first pad portion. And an angle between the line segment connecting the second pad portion and the third external electrode.
제 9항에 있어서,
상기 제1 패드부는 상기 제1 방향으로 형성된 제2 외부 전극과 상기 제2 방향으로 형성된 제3 외부 전극이 만나는 지점에 배치되고,
상기 제2 패드부는 상기 제1 패드부와 인접하지 않는 제4 외부 전극 상에 배치되고, 하기 수학식에 해당하는 거리 비율(Y)을 가지는 영역에 배치되는 발광 소자.
[수학식]
Figure pat00004
, 여기서 A는 제2 외부 전극의 길이, B는 제4 외부 전극의 길이, D는 제2 외부 전극에서 제4 외부 전극 상에 위치하는 제2 패드부(115c2)까지의 길이, 10°는 제1 패드부와 제2 패드부를 연결한 선분과 제2 외부 전극 사이의 각도임.
The method of claim 9,
The first pad part is disposed at a point where the second external electrode formed in the first direction and the third external electrode formed in the second direction meet each other.
The second pad part is disposed on a fourth external electrode which is not adjacent to the first pad part, and is disposed in an area having a distance ratio (Y) corresponding to the following equation.
[Mathematical Expression]
Figure pat00004
Where A is the length of the second external electrode, B is the length of the fourth external electrode, D is the length from the second external electrode to the second pad portion 115c2 positioned on the fourth external electrode, and 10 ° is the length of the second external electrode. 1 The angle between the line segment connecting the pad portion and the second pad portion and the second external electrode.
KR1020110008472A 2011-01-27 2011-01-27 Light emitting device and light emitting device package KR101781217B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110008472A KR101781217B1 (en) 2011-01-27 2011-01-27 Light emitting device and light emitting device package

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110008472A KR101781217B1 (en) 2011-01-27 2011-01-27 Light emitting device and light emitting device package

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120087034A true KR20120087034A (en) 2012-08-06
KR101781217B1 KR101781217B1 (en) 2017-09-25

Family

ID=46872691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110008472A KR101781217B1 (en) 2011-01-27 2011-01-27 Light emitting device and light emitting device package

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101781217B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160018046A (en) * 2014-08-07 2016-02-17 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and lighting system

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100986353B1 (en) * 2009-12-09 2010-10-08 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, method for fabricating the light emitting device and light emitting device package

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160018046A (en) * 2014-08-07 2016-02-17 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and lighting system

Also Published As

Publication number Publication date
KR101781217B1 (en) 2017-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5788210B2 (en) Light emitting device, light emitting device package
TWI420705B (en) Light emitting device and light emitting device package
JP6199948B2 (en) Light emitting device, light emitting device package
KR101154709B1 (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR20120020061A (en) Light emitting device, light emitting device package, light unit
KR20120111364A (en) Light emitting device and light emitting device package
KR101803569B1 (en) Light emitting device
KR20120048413A (en) Light emitting device and light emitting device package
KR20110115384A (en) Light emitting device and method for manufacturing the same, light emitting device package and lighting system
KR20120039412A (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR20120014972A (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR101781305B1 (en) Light emitting device, light emitting device package, and lighting system
KR101776302B1 (en) Light emitting device and light emitting device package
KR20120019750A (en) Light emitting device
KR20110118333A (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR101781217B1 (en) Light emitting device and light emitting device package
KR20120087036A (en) Light emitting device and light emitting device package
KR101852566B1 (en) Light emitting device, light emitting device package, and light unit
KR102563266B1 (en) Light emitting device and light module
KR101786081B1 (en) Light emitting device and light emitting device package
KR20120020599A (en) Light emitting device and light emitting device package
KR101693869B1 (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR101683906B1 (en) Light emitting device, method for fabricating the light emitting device, light emitting device package and lighting system
KR20120058350A (en) Light emitting device
KR20130016945A (en) Light emitting device and method for fabricating the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant