KR20090078262A - 트레이 콘택장치 - Google Patents

트레이 콘택장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20090078262A
KR20090078262A KR1020080004117A KR20080004117A KR20090078262A KR 20090078262 A KR20090078262 A KR 20090078262A KR 1020080004117 A KR1020080004117 A KR 1020080004117A KR 20080004117 A KR20080004117 A KR 20080004117A KR 20090078262 A KR20090078262 A KR 20090078262A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tray
guide
auxiliary frame
transfer mechanism
transfer
Prior art date
Application number
KR1020080004117A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100944891B1 (ko
Inventor
오현수
김차일
Original Assignee
에버테크노 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에버테크노 주식회사 filed Critical 에버테크노 주식회사
Priority to KR1020080004117A priority Critical patent/KR100944891B1/ko
Publication of KR20090078262A publication Critical patent/KR20090078262A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100944891B1 publication Critical patent/KR100944891B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 트레이를 테스트장치에 콘택(contact)시키기 위한 트레이 트레이 콘택장치에 관한 것으로, 본 발명의 트레이 콘택장치는 메인프레임(100)에 설치되어 트레이(10)를 이송시키는 다수개의 트레이 이송부(200)와, 다수개의 트레이 이송부(200) 사이에 위치되도록 메인프레임(100)에 각각 설치되어 트레이(10)에 수납된 SSD를 테스트하기 위해 트레이 이송부(200)에 의해 이송된 트레이(10)를 테스트장치에 콘택시키는 다수개의 트레이 콘택부(300)로 구성되며, 다수개의 트레이 이송부(200)중 하나는 다수개의 트레이 콘택부(300)로 트레이(10)를 이송시켜 로딩시키며, 나머지 하나는 다수개의 트레이 콘택부(300)에 로딩된 트레이(10)를 이송시켜 언로딩시킴을 특징으로 한다.
Figure P1020080004117
테스트, 트레이, 콘택, 이송

Description

트레이 콘택장치{Tray Contacting Apparatus }
본 발명은 트레이 콘택장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 에스에스디(SSD)가 수납되는 트레이를 테스트장치에 콘택(contact)시키기 위한 트레이 콘택장치에 관한 것이다.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 약칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써 프로그램의 실행 속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다.
SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로 기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다.
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.
케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 SSD의 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스트장치에 SSD를 장착하여 실시하였다.
수작업이나 반자동으로 SSD를 테스트하는 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되며, 이를 개선하기 위해 SSD를 자동으로 테스트하기 위한 SSD 테스트 핸들러가 개발되었다. SSD 테스트 핸들러에서 다수개의 SSD를 동시에 테스트하기 위해 테스트장치에 다수개의 SSD가 수납된 트레이를 콘택시키기 위한 장치가 요구되고 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 다수개의 SSD를 자동 테스트 시 다수개의 SSD가 수납되는 트레이를 테스트 사이트에 콘택시 켜 테스트할 수 있는 트레이 콘택장치를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 트레이를 테스트 사이트에 콘택 시 다수개의 트레이를 동시에 콘택시켜 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 트레이 콘택장치를 제공함에 있다.
본 발명의 트레이 콘택장치는 메인프레임에 설치되어 트레이(tray)를 이송시키는 다수개의 트레이 이송부와, 다수개의 트레이 이송부 사이에 위치되도록 메인프레임(main frame)에 각각 설치되어 트레이에 수납된 SSD를 테스트하기 위해 트레이 이송부에 의해 이송된 트레이를 테스트장치에 콘택(contact)시키는 다수개의 트레이 콘택부로 구성되며, 다수개의 트레이 이송부중 하나는 다수개의 트레이 콘택부로 트레이를 이송시켜 로딩(loading)시키며, 나머지 하나는 다수개의 트레이 콘택부에 로딩된 트레이를 이송시켜 언로딩(unloading)시킴을 특징으로 하는 한다.
본 발명의 콘택장치는 케이스가 조립되지 않은 다수개의 SSD나 케이스가 조립된 다수개의 SSD를 수납하는 다수개의 트레이를 동시에 테스트장치와 콘택시켜 SSD를 테스트함으로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.
(실시예)
본 발명의 트레이 콘택장치의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다 음과 같다.
도 2는 본 발명의 트레이 콘택장치의 사시도이다. 도 1에 도시된 바와 같이 본 발명의 트레이 콘택장치는 메인프레임(100: 도 5에 도시됨), 다수개의 트레이 이송부(200) 및 다수개의 트레이 콘택부(300)로 구성되며, 각 구성을 설명하면 다음과 같다.
메인프레임(100)은 본 발명의 트레이 콘택장치를 전반적으로 지지하며, 다수개의 트레이 이송부(200)는 메인프레임(100)에 설치되어 트레이(10)를 이송시킨다. 이러한 다수개의 트레이 이송부(200)중 하나는 다수개의 트레이 콘택부(300)로 트레이(10)를 이송시켜 로딩시키며, 나머지 하나는 다수개의 트레이 콘택부(300)에 로딩된 트레이(10)를 이송시켜 언로딩시킨다. 다수개의 트레이 콘택부(300)는 다수개의 트레이 이송부(200) 사이에 위치되도록 메인프레임(100)에 각각 설치되어 트레이(10)에 수납된 SSD를 테스트하기 위해 트레이 이송부(200)에 의해 이송된 트레이(10)를 테스트장치(20)에 콘택시킨다.
트레이(10)를 테스트장치(20)에 콘택시키기 위한 트레이 콘택장치의 구성을 첨부된 도 2 내지 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2 내지 도 3에 도시된 바와 같이 다수개의 트레이 이송부(200)는 각각 제1보조프레임(210), 벨트이송기구(220), 트레이 홀딩부재(230), 제2보조프레임(240), 다수개의 제1LM 가이드부재(250) 및 트레이홀딩부재 이송기구(260)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
벨트이송기구(220)는 제1보조프레임(210)에 설치되며 모터(221), LM 가이 드(222), 타이밍 벨트(223), 타이밍 롤러(224) 및 다수개의 이동블록(225)으로 이루어진다. 트레이 홀딩부재(230)는 벨트이송기구(220)에 연결되어 트레이(10)가 홀딩되면 트레이(10)를 이송시킨다. 트레이(10)를 이송시키는 트레이 홀딩부재(230)는 제3보조프레임(231), 제2직선이송기구(232) 및 홀딩프레임(holding frame)(233)으로 이루어진다.
트레이 홀딩부재(230)를 이루는 제3보조프레임(231)은 벨트이송기구(220)에 연결되며, 제2직선이송기구(232)는 제3보조프레임(231)에 설치된다. 홀딩프레임(233)은 제2직선이송기구(232)에 의해 전/후진되도록 연결되어 다수개의 홀딩핀(holding pin)(233a)이 트레이(10)에 형성된 다수개의 홈(11)에 삽입되어 트레이(10)를 홀딩한다.
제2보조프레임(240)은 메인프레임(100)에 설치되며, 다수개의 제1LM 가이드부재(250)는 제2보조프레임(240)에 각각 설치된다. 트레이홀딩부재 이송기구(260)는 제1보조프레임(210)과 제2보조프레임(240)에 각각 설치되어 제1보조프레임(210)이 다수개의 제1LM 가이드부재(250)를 따라 가이드되어 전/후진되도록 이동시기 위한 것으로, 제2보조프레임(240)에 고정 설치되는 제1직선이송기구(261)에 연결되고 제1보조프레임(210)에 고정설치되는 이동플레이트(261)로 이루어진다. 이러한 구성을 갖는 트레이홀딩부재 이송기구(260)는 제1보조프레임(210)을 이동시키므로써 SSD의 크기에 따른 트레이(10)의 두께에 관계없이 트레이 홀딩부재(230)가 일정한 간격으로 전/후진하여 트레이(10)를 홀딩할 수 있도록 한다. 여기서, 트레이(10)의 두께는 SSD가 큰 경우에 SSD를 안전하게 수납하기 위해 SSD의 크기에 맞도록 커지 게 된다.
다수개의 트레이 콘택부(300)는 각각 도 2 및 도 5에 도시된 바와 같이 제4보조프레임(310), 스텝이송기구(320), 푸쉬(push)이송기구(330), 트레이 가이드스톱퍼(tray guide stopper)(340) 및 다수개의 트레이 가이드부재(350)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.
제4보조프레임(310)은 메인프레임(100)에 설치되며, 스텝이송기구(320)는 제4보조프레임(310)에 설치된다. 제4보조프레임(310)에 설치되는 스텝이송기구(320)는 다수개의 제2LM 가이드부재(321), 제5보조프레임(322) 및 제3직선이송기구(323)로 구성된다. 스텝이송기구(320)의 다수개의 제2LM 가이드부재(321)는 제4보조프레임(310)에 각각 설치되며, 제5보조프레임(322)은 다수개의 제2LM 가이드부재(321)에 가이드되어 이동되도록 설치된다. 제3직선이송기구(323)는 제4보조프레임(310)에 설치되고, 제5보조프레임(322)에 연결되어 트레이(10)를 테스트장치(20)의 배열수에 따라 스텝 이송시키기 위해 트레이 가이드스톱퍼(340)가 스텝 이송되도록 제5보조프레임(322)을 스텝 이송시킨다. 여기서, 테스트장치(20)의 배열수는 테스트장치(20)가 트레이(10)를 여러번 콘택시킬 수 있도록 구성되는 것을 나타낸다.
푸쉬(push)이송기구(330)는 스텝이송기구(320)에 설치되어 스텝이송기구(320)에 의해 스텝(step) 이송되도록 설치된다. 이러한 푸쉬이송기구(330)는 다수개의 제3LM 가이드부재(331), 제4직선이송기구(332) 및 다수개의 브라켓(333)으로 구성된다. 푸쉬이송기구(330)의 다수개의 제3LM 가이드부재(331)는 스텝이송기구(320)에 설치되며, 제4직선이송기구(332)는 스텝이송기구(320)와 트레이 가이드 스톱퍼(340)에 각각 설치되어 트레이 가이드스톱퍼(340)를 푸시한다. 다수개의 브라켓(333)은 트레이 가이드스톱퍼(340)와 상기 다수개의 제3LM 가이드부재(331)에 각각 설치되어 제4직선이송기구(332)에 의해 트레이 가이드스톱퍼(340)의 이송 시 다수개의 제3LM 가이드부재(331)에 가이드되어 이송된다.
트레이 가이드스톱퍼(340)는 푸쉬이송기구(330)에 의해 전/후진되도록 설치되며 스텝이송기구(320)에 의해 푸쉬이송기구(330)에 의한 이송방향과 직교되는 방향으로 스텝 이송되어 트레이(10)를 테스트장치(20)에 콘택시킨다. 테스트장치(20)에 트레이(10)를 콘택시키기 위해 트레이 가이드스톱퍼(340)는 푸시 가이드프레임(341), 스톱플레이트(342), 푸시플레이트(343) 및 다수개의 플로팅 부싱부재(344)로 구성된다. 트레이 가이드스톱퍼(340)의 스톱플레이트(342)는 푸시프레임(341)의 내측에 위치되며, 푸시플레이트(343)는 푸시프레임(341)에 설치된다. 다수개의 플로팅 부싱(bushing)부재(344)는 스톱플레이트(342)가 푸시플레이트(343)에 플로팅되도록 스톱플레이트(342)와 푸시플레이트(343)에 각각 설치된다. 푸시플레이트(343)가 플로팅되도록 스톱플레이트(342)에 설치하기 위한 다수개의 플로팅 부싱부재(344)는 각각 부싱부재(344a), 샤프트부재(344b) 및 탄성부재(344c)로 이루어진다. 플로팅 부싱부재(344)의 부싱부재(344a)는 푸시플레이트(343)에 설치되며, 샤프트부재(344b)는 부싱부재(344a)에 가이드되도록 스톱플레이트(342)와 푸시플레이트(343)에 각각 설치된다. 스프링이 적용되는 탄성부재(344c)는 스톱플레이트(342)와 푸시플레이트(343) 사이에 위치되도록 샤프트부재(344b)에 설치되어 스톱플레이트(342)와 푸시플레이트(343) 사이가 플로팅되도록 한다.
다수개의 트레이 가이드부재(350)는 트레이 가이드스톱퍼(340)에 각각 설치되어 트레이(10)를 가이드하거나 트레이(10)를 트레이 가이드스톱퍼(340)에 플로팅(floating)되도록 이송시킨다. 트레이(10)를 트레이 가이드스톱퍼(340)에 플로팅되도록 이송시키는 다수개의 트레이 가이드부재(350)는 각각 제6보조프레임(351), 다수개의 제4LM 가이드부재(352), 가이드 레일(rail)부재(353) 및 제5직선이송기구(354)로 구성된다. 다수개의 트레이 가이드부재(350)의 제6보조프레임(351)은 가이드스톱퍼(340)에 설치되며, 다수개의 제4LM 가이드부재(352)는 제6보조프레임(351)에 각각 설치된다. 가이드 레일부재(353)는 다수개의 제4LM 가이드부재(352)에 가이드되어 이송되도록 설치되어 트레이(10)를 가이드하며, 제5직선이송기구(354)는 제6보조프레임(351)과 가이드 레일부재(353)에 설치되어 트레이(10)가 트레이 가이드스톱퍼(340)에 밀착되도록 가이드 레일부재(353)를 이송시킨다.
이와 같은 본 발명의 트레이 콘택장치의 구성중 제3직선이송기구(323)는 볼스크류나 리니어모터와 같은 직선이송기구가 적용되며, 제4직선이송기구(332)는 모터(332a), 회전축(332b), 타이밍 롤러(332c) 및 타이밍 벨트(332d)로 구성된다. 또한, 제1직선이송기구(261), 제2직선이송기구(232),제5직선이송기구(354)는 각각 실린더가 적용되며, 제1 내지 제4LM 가이드부재(250,321,331,352)는 각각 LM가이드(도면부호 미기재)와 LM 가이드에 가이드되어 이동되는 이동블록(도면부호 미기재)으로 구성된다.
상기 구성을 갖는 본 발명의 트레이 콘택장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.
트레이(10)를 테스트장치(20)에 콘택시키기 위해 먼저 다수개의 트레이 이송부(200)중 하나에 의해 트레이(10)를 도 2에 도시된 화살표 B방향으로 이송시켜 다수개의 트레이 콘택부(300)에 로딩시킨다. 트레이(10)를 다수개의 트레이 콘택부(300)로 동시에 이송시키기 위해 도 2 및 도 4에 도시된 것과 같이 트레이 이송부(200)의 홀딩프레임(233)에 설치된 다수개의 홀딩핀(233a)이 트레이(10)에 형성된 다수개의 홈(11)에 삽입되어 다수개의 트레이(10)를 동시에 홀딩한 상태로 다수개의 트레이 콘택부(300)로 이송시킨다. 다수개의 트레이 콘택부(300)로 트레이(10)를 이송시키는 다수개의 트레이 이송부(200)는 트레이홀딩부재 이송기구(260)에 의해 제1보조프레임(210)을 전/후진시켜 트레이(10)의 두께에 관계없이 다수개의 홀딩핀(233a)이 일정한 간격으로 전/후진하여 트레이(10)를 홀딩할 수 있도록 한다.
다수개의 트레이 콘택부(300)로 각각에 트레이(10)가 동시에 이송되어 로딩되면 이를 메인프레임(100)의 상/하측에 각각 배열되도록 설치된 다수개의 트레이 콘택부(300)의 다수개의 트레이 가이드부재(350)에서 이송받는다. 다수개의 트레이 가이드부재(350)로 트레이(10)가 이송되면 다수개의 트레이 가이드부재(350)의 제5직선이송기구(354)는 트레이(10)가 트레이 가이드스톱퍼(340)에 밀착되도록 가이드 레일부재(353)를 이송시킨다.
다수개의 트레이 가이드부재(350)의 제5직선이송기구(354)에 의해 트레이(10)가 트레이 가이드스톱퍼(340)에 밀착되면 트레이 가이드스톱퍼(340)의 다수개의 플로팅 부싱부재(344)에 의해 트레이(10)가 밀착된 트레이 가이드스톱퍼(340) 의 스톱플레이트(342)와 푸시플레이트(343) 사이가 플로팅 상태가 된다. 이 상태에서 푸쉬이송기구(330)가 전진되면 트레이 가이드스톱퍼(340)가 전진하여 테스트장치(10)와 콘택되어 트레이(10)에 수납된 SSD가 테스트된다.
SSD 테스트가 완료되면 푸쉬이송기구(330)는 트레이 가이드스톱퍼(340)를 후진시켜 테스트장치(20)와 콘택상태를 해제시킨다. 트레이(10)와 테스트장치(20)의 콘택이 해제되면 트레이(10)는 테스트장치(20)의 배열수에 따라 스텝 이송시켜 테스트를 실시한다. 이를 위해 스텝이송기구(320)는 트레이 가이드스톱퍼(340)를 1 스텝(step), 2스텝 또는 여러 스텝으로 이송시켜 테스트장치(20)의 크기에 따라 트레이(10)를 스텝 이송시켜 SSD를 테스트할 수 있도록 한다.
스텝 이송등을 통해 트레이(10)에 수납된 SSD의 테스트가 완료되면 제5직선이송기구(354)가 트레이(10)를 전진시켜 플로팅을 해제시킨 후 다수개의 트레이 이송부(200)중 나머지 하나에 의해 로딩방향의 역방향(도 2에 도시된 화살표 C방향)으로 테스트(10)를 언로딩시켜 테스트작업을 완료하게 된다.
본 발명의 트레이 콘택장치는 낸드 플래쉬나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD나 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 테스트 핸들러에 적용할 수 있다.
도 1은 SSD의 사시도,
도 2는 본 발명의 트레이 콘택장치의 사시도,
도 3은 도 2에 도시된 트레이 이송부의 분리조립 사시도,
도 4는 도 2에 도시된 트레이 이송부를 다른 방향에서 바라본 사시도,
도 5는 도 2에 도시된 콘택부의 분리조립 사시도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
10: 트레이 20: 테스트장치
100: 메인프레임 200: 트레이 이송부
210: 제1보조프레임 220: 벨트이송기구
230: 트레이 홀딩부재 240: 제2보조프레임
250: 제1LM 가이드부재 260: 트레이홀딩부재 이송기구
300: 트레이 콘택부 310: 제4보조프레임
320: 스텝이송기구 330: 푸쉬이송기구
340: 트레이 가이드스톱퍼 350: 트레이 가이드부재

Claims (7)

  1. 메인프레임에 설치되어 트레이를 이송시키는 다수개의 트레이 이송부와,
    상기 다수개의 트레이 이송부 사이에 위치되도록 메인프레임에 각각 설치되어 트레이에 수납된 SSD를 테스트하기 위해 트레이 이송부에 의해 이송된 트레이를 테스트장치에 콘택시키는 다수개의 트레이 콘택부로 구성되며,
    상기 다수개의 트레이 이송부중 하나는 상기 다수개의 트레이 콘택부로 트레이를 이송시켜 로딩시키며, 나머지 하나는 다수개의 트레이 콘택부에 로딩된 트레이를 이송시켜 언로딩시킴을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 다수개의 트레이 이송부는 각각 제1보조프레임과,
    상기 제1보조프레임에 설치되는 벨트이송기구와,
    상기 벨트이송기구에 연결되어 트레이가 홀딩되면 트레이를 이송시키는 트레이 홀딩부재와,
    상기 메인프레임에 설치되는 제2보조프레임과,
    상기 제1보조프레임과 상기 제2보조프레임에 각각 설치되어 다수개의 제1LM 가이드부재와,
    상기 제2보조프레임에 설치되어 상기 제1보조프레임을 전/후진시켜 상기 트레이 홀딩부재를 트레이의 두께에 따라 가변시키는 트레이홀딩부재 이송기구로 구성되며,
    상기 트레이 홀딩부재는 상기 벨트이송기구에 연결되는 제3보조프레임과, 상기 제3보조프레임에 설치되는 제2직선이송기구와, 상기 제2직선이송기구에 의해 전/후진되도록 연결되어 다수개의 홀딩핀이 트레이에 형성된 다수개의 홈에 삽입되어 트레이를 홀딩하는 홀딩프레임으로 이루어짐을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 다수개의 트레이 콘택부는 각각 메인프레임에 설치되는 제4보조프레임과,
    상기 제4보조프레임에 설치되는 스텝이송기구와,
    상기 스텝이송기구에 설치되어 스텝이송기구에 의해 스텝 이송되도록 설치되는 푸쉬이송기구와,
    상기 푸쉬이송기구에 전/후진되도록 설치되며 상기 스텝이송기구에 의해 푸쉬이송기구에 의한 이송방향과 직교되는 방향으로 스텝 이송되어 트레이를 테스트장치에 콘택시키는 트레이 가이드스톱퍼와,
    상기 트레이 가이드스톱퍼에 각각 설치되어 트레이를 가이드하거나 트레이를 트레이 가이드스톱퍼에 플로팅되도록 이송시키는 다수개의 트레이 가이드부재로 구성됨을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 스텝이송기구는 상기 제4보조프레임에 각각 설치되는 다수개의 제2LM 가이드부재와,
    상기 다수개의 제2LM 가이드부재에 가이드되어 이동되도록 설치되는 제5보조 프레임과,
    상기 제4보조프레임에 설치되고 상기 제5보조프레임에 연결되어 트레이를 테스트장치의 크기에 따라 스텝이송시키기 위해 트레이 가이드스톱퍼가 스텝 이송되도록 제5보조프레임을 스텝 이송시키는 제3직선이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 푸쉬이송기구는 상기 스텝이송기구에 설치되는 다수개의 제3LM 가이드부재와,
    상기 스텝이송기구와 상기 트레이 가이드스톱퍼에 각각 설치되어 트레이 가이드스톱퍼를 푸시하는 제4직선이송기구와,
    상기 트레이 가이드스톱퍼와 상기 다수개의 제3LM 가이드부재에 각각 설치되어 제4직선이송기구에 의해 트레이 가이드스톱퍼의 이송 시 다수개의 제3LM 가이드부재에 가이드되어 이송되는 다수개의 브라켓으로 구성됨을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  6. 제3항에 있어서, 상기 트레이 가이드스톱퍼는 푸시 가이드프레임과,
    상기 푸시프레임의 내측에 위치되는 스톱플레이트와,
    상기 푸시프레임에 설치되는 푸시플레이트와,
    상기 스톱플레이트가 상기 푸시플레이트에 플로팅되도록 상기 스톱플레이트와 상기 푸시플레이트에 각각 설치되는 다수개의 플로팅 부싱부재로 구성되며,
    상기 다수개의 플로팅 부싱부재는 각각 상기 푸시플레이트에 설치되는 부싱부재와, 상기 부싱부재에 의해 가이드되도록 상기 스톱플레이트와 상기 푸시플레이트에 각각 설치되는 샤프트부재와, 상기 스톱플레이트와 상기 푸시플레이트 사이에 위치되도록 상기 샤프트부재에 설치되어 스톱플레이트와 푸시플레이트 사이가 플로팅되도록 하는 탄성부재로 이루어짐을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
  7. 제3항에 있어서, 상기 다수개의 트레이 가이드부재는 각각 트레이 가이드스톱퍼에 설치되는 제6보조프레임과,
    상기 제6보조프레임에 각각 설치되는 다수개의 제4LM 가이드부재와,
    상기 다수개의 제4LM 가이드부재에 가이드되어 이송되도록 설치되어 트레이를 가이드하는 가이드 레일부재와,
    상기 제6보조프레임과 상기 가이드 레일부재에 설치되어 트레이가 트레이 가이드스톱퍼에 밀착되도록 가이드 레일부재를 이송시키는 제5직선이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 트레이 콘택장치.
KR1020080004117A 2008-01-14 2008-01-14 트레이 콘택장치 KR100944891B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080004117A KR100944891B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 트레이 콘택장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080004117A KR100944891B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 트레이 콘택장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090078262A true KR20090078262A (ko) 2009-07-17
KR100944891B1 KR100944891B1 (ko) 2010-03-03

Family

ID=41336431

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080004117A KR100944891B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 트레이 콘택장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100944891B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150110934A (ko) * 2014-03-21 2015-10-05 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러, 반도체소자 테스트용 핸들러의 트레이 지지체및 연결기

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100401014B1 (ko) * 2000-04-20 2003-10-08 (주)테크윙 테스트 핸들러

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150110934A (ko) * 2014-03-21 2015-10-05 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러, 반도체소자 테스트용 핸들러의 트레이 지지체및 연결기

Also Published As

Publication number Publication date
KR100944891B1 (ko) 2010-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8305103B2 (en) Solid state drive testing apparatus to sort the solid state drives according to a determined operability of each drive
KR101767663B1 (ko) 기판 제조 설비 및 기판 제조 방법
KR20090078259A (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러의 트레이 스택장치
JP2013219354A (ja) 基板製造装置及び基板製造方法
CN102980742A (zh) 发光元件的检测装置及检测方法
JP2001021613A (ja) Icデバイスの試験装置
KR100944891B1 (ko) 트레이 콘택장치
KR100958272B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러의 로딩 및 언로딩장치
KR100904750B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR100439899B1 (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 클램핑 장치
US10078111B2 (en) Handler and management method thereof
KR100929781B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR101004607B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러의 트레이 회전 이송장치
KR20090123246A (ko) 에스에스디(ssd) 소켓장치
KR100940457B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러의 푸싱장치
KR100958278B1 (ko) 에스에스디(ssd) 언로딩장치
KR101406184B1 (ko) 반도체 소자 이송장치 및 테스트 핸들러
KR100899559B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR100940458B1 (ko) 트레이 이송장치
KR100929780B1 (ko) 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러
KR20020031463A (ko) 반도체 소자 실장 테스트 핸들러
KR100395369B1 (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러의 트레이 인입장치
KR101173373B1 (ko) 커스터머 트레이 스택커
KR101080189B1 (ko) 테스트핸들러용 적재장치 및 테스트핸들러
US7975827B2 (en) Linear machine for processing portable objects and method for processing portable objects

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee