KR20090004926A - 복합 관형 부재, 관형 부재, 드리프트 튜브, 카트리지/임팩터 조립체, 카트리지, 전자 회로, 증기화 광 산란 검출기, 테스트 샘플 분석 방법 및 입력된 전압 신호 처리 방법 - Google Patents

복합 관형 부재, 관형 부재, 드리프트 튜브, 카트리지/임팩터 조립체, 카트리지, 전자 회로, 증기화 광 산란 검출기, 테스트 샘플 분석 방법 및 입력된 전압 신호 처리 방법 Download PDF

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제임스 엠 이세 앤더슨
알렉산드라 엠 쿠크
마이클 에프 윅니엔스키
멘도자 제이 워싱톤
라이다흐 사리-노르드하우스
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올테크 어소시에이츠, 인크.
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Abstract

본 발명은 증기화 광 산란 검출기 및 다른 장치에 사용하기에 적합한 구성요소를 개시한다. 증기화 광 산란 검출기 및 다른 장치에 사용하기에 적합한 구성요소 제조 및 사용 방법이 또한 개시된다.
Figure P1020087024641
증기화 광 산란기, 관형 부재, 드리프트 튜브, 카트리지, 임팩터, 카트리지 인서트

Description

복합 관형 부재, 관형 부재, 드리프트 튜브, 카트리지/임팩터 조립체, 카트리지, 전자 회로, 증기화 광 산란 검출기, 테스트 샘플 분석 방법 및 입력된 전압 신호 처리 방법{EVAPORATIVE LIGHT SCATTERING DETECTOR}
본 발명은 증기화 광 산란 검출기(ELSD)와 같은 분석 장치에 사용하기에 적합한 다양한 구성요소에 관한 것이다. 본 발명은 또한 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 장치와 같은 다양한 구성요소의 제조 및 사용 방법에 관한 것이다.
향상된 장치 성능을 제공하기 위해 증기화 광 산란 검출기(ELSD)와 같은 분석 장치에 사용하기에 적합한 다양한 구성요소에 대한 요구가 당 기술 분야에 존재한다.
본 발명은 이에 한정되는 것은 아니지만 증기화 광 산란 검출기(ELSD)를 포함하는 분석 장치에 사용하기에 적합한 구성요소의 발견에 의해 전술된 어려움 및 문제점의 일부를 처리한다. 본 발명의 구성요소는 분석 장치에 사용된 공지된 구성요소에 비해 하나 이상의 장점을 제공한다. 하나 이상의 장점은 이들에 한정되는 것은 아니지만, 드리프트 튜브(drift tube)와 같은 관형 부재의 길이를 따라 더 안정적인 처리 온도를 제공하는 능력과, 드리프트 튜브와 같은 관형 부재의 길이를 따른 처리 온도를 모니터링하고/하거나 조절하는 능력과, 드리프트 튜브와 같은 관형 부재를 통한 흐름 특성을 더 효과적이고 효율적으로 조절하는 능력과, 개별 구성요소를 세척하기 위해 구성요소를 효과적이고 효율적으로 분해하는 능력과, 입력 전압 신호에 인가된 이득에 무관한 전압 성분을 갖는 출력 전압을 제공하기 위해 입력된 전압 신호를 증폭하는 능력을 포함할 수 있다.
일 예시적인 실시예에서, 본 발명의 구성요소는 제 1 단부, 제 2 단부, 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체를 포함하고, 관형 벽 구조체는 제 1 금속의 내부층 및 제 2 금속의 외부층을 포함하고, 제 2 금속은 제 1 금속에 비교하여 더 높은 열전달계수를 갖는 복합 관형 부재를 포함한다. 내부층은 예를 들면 스테인레스강을 포함할 수 있고, 반면에 외부층은 예를 들면 구리를 포함할 수 있다.
다른 예시적인 실시예에서, 본 발명의 구성요소는 제 1 단부, 제 2 단부, 길이(L), 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체와, 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 위치된 2개 이상의 온도 센서와, 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 외부벽면 상에 위치된 가열 요소를 포함하는 관형 부재를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 가열 요소는 길이(L)를 따라 약 8℃ 미만의 평균 온도 구배를 유지할 수 있다. 관형 부재는 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 외부벽면 상에 위치된 하나 이상의 가열 요소를 더 포함할 수 있다.
본 발명은 또한 드리프트 튜브 및 증기화 광 산란 검출기와 함께 사용하기에 적합한 카트리지/임팩터 조립체에 관한 것이고, 이 카트리지/임팩터 조립체는 (1) (i) 드리프트 튜브의 내부벽면을 따라 드리프트 튜브의 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트 및 (ii) 카트리지 인서트의 길이를 따른 임팩터 위치설정 부재로서, 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 카트리지 인서트 내에 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는 임팩터 위치설정 부재를 포함하는 카트리지, 및 (2) 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 카트리지 인서트 내에 위치설정 가능하도록 치수 설정된 적어도 하나의 임팩터를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 임팩터는 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역이 조절될 수 있도록 카트리지 인서트 내에서 상호 교환 가능한 다양한 크기 및 기하학적 형상의 일 세트의 임팩터에 속하는 하나의 임팩터이다. 예를 들면, 일 세트의 임팩터는 카트리지 인서트를 통한 총 단면 흐름 영역의 약 25% 내지 약 75%를 점유하도록 설계될 수 있다.
본 발명은 또한 드리프트 튜브 내의 하나 이상의 정지 위치에 하나 이상의 선택적인 임팩터를 위치설정하기에 적합한 카트리지에 관한 것이고, 이 카트리지는 (i) 드리프트 튜브의 내부벽면을 따라 드리프트 튜브의 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트, 및 (ii) 카트리지 인서트의 길이를 따른 적어도 하나의 임팩터 위치설정 부재로서, 임팩터가 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 카트리지 인서트 내에 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는 적어도 하나의 임팩터 위치설정 부재를 포함한다. 전술된 바와 같이, 카트리지는 일 세트의 임팩터에 속하는 하나의 임팩터를 포함할 수 있고, 일 세트의 임팩터는 다양한 상이한 임팩터 크기를 갖는 2개 이상의 임팩터를 포함하고, 일 세트의 임팩터 내의 각각의 임팩터는 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 카트리지 인서트에 제거 가능하게 부착될 수 있다.
본 발명은 또한 입력된 전압 신호에 전압 이득을 제공할 수 있는 전압 증폭기와, 전압 증폭기와 직렬의 출력 저항기와, 출력 저항기에 일정 전류를 제공하는 전류원과, 전류원과 직렬의 전류 조정 다이오드를 포함하고, 전류 조정 다이오드는 전류원으로부터 출력 저항기에 일정 전류의 일방향 흐름을 제공하고, 전자 회로는 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압을 제공할 수 있다. 전자 회로는 부가의 전자 구성요소, 하나 이상의 외부 시스템 구성요소, 또는 이들 모두와 조합하여 사용될 수 있다.
본 발명은 또한 본 발명의 전술된 구성요소 중 하나 이상의 제조 및 사용 방법에 관한 것이다. 본 발명의 전술된 구성요소 중 하나 이상은 적어도 하나의 분석물을 잠재적으로 포함하는 테스트 샘플을 분석하는 방법과 같은 분석적인 테스트 방법 단계 또는 단계들을 수행하는데 사용될 수 있다. 일 예시적인 실시예에서, 이 방법은 길이(L), 제 1 단부, 제 2 단부, 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체를 포함하고 가열 요소에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸인 관형 부재 내로 테스트 샘플을 도입하는 단계와, 내부가 약 8℃ 미만의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 갖도록 관형 벽 구조체의 내부를 일정 온도로 유지하는 단계를 포함한다. 몇몇 실시예에서, 이 방법은 내부가 약 1.5℃만큼 낮은 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 갖도록 관형 벽 구조체의 내부를 일정 온도로 유지하는 단계를 포함한다.
본 발명은 또한 입력된 전압 신호를 처리하도록 본 발명의 전술된 전자 회로를 사용하는 방법에 관한 것이다. 일 예시적인 실시예에서, 이 방법은 입력된 전압 신호를 제공하는 단계와, 전압 증폭기를 거쳐 입력된 전압 신호를 증폭하는 단계와, 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압으로 입력된 전압 신호를 변환하는 단계를 포함한다. 예시적인 방법은 하나 이상의 부가의 전자 구성요소를 포함하는 전자 시스템 내에서 수행될 수 있고, 부가의 전자 구성요소의 적어도 하나는 네거티브 입력 전압을 처리할 수 없다. 예시적인 방법은 또한 하나 이상의 외부 시스템 구성요소를 포함하는 시스템 내에서 수행될 수 있고, 네거티브 입력 전압은 외부 시스템 구성요소 중 적어도 하나의 출력에 부정적인 영향을 준다.
본 발명의 이들 및 다른 특징 및 장점은 개시된 실시예의 이하의 상세한 설명 및 첨부된 청구범위의 고찰 후에 더 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명의 예시적인 복합 관형 부재를 도시하는 도면,
도 2는 다수의 센서를 상부에 갖는 도 1에 도시된 예시적인 복합 관형 부재 의 도면,
도 3은 가열 요소가 다수의 센서 상부에 위치되어 있는 도 2에 도시된 예시적인 복합 관형 부재의 도면,
도 4는 선 A-A를 따른 도 3에 도시된 예시적인 복합 관형 부재의 단면도,
도 5는 본 발명의 예시적인 카트리지/임팩터 조립체를 도시하는 도면,
도 6은 도 5에 도시된 예시적인 카트리지/임팩터 조립체의 단면도,
도 7a 및 도 7b는 각각 도 5 및 도 6에 도시된 카트리지/임팩터 조립체와 함께 사용하기에 적합한 제 1 예시적인 임팩터의 정면도 및 측면도,
도 8a 및 도 8b는 각각 도 5 및 도 6에 도시된 카트리지/임팩터 조립체와 함께 사용하기에 적합한 제 2 예시적인 임팩터의 정면도 및 측면도,
도 9는 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 장치와 같은 장치에 사용하기에 적합한 종래의 전자 회로의 개략도.
본 발명의 원리의 이해를 증진시키기 위해, 본 발명의 특정 실시예의 설명이 이어지고, 특정 언어가 특정 실시예를 설명하는데 사용된다. 그럼에도 불구하고, 본 발명의 범주의 어떠한 한정도 특정 언어의 사용에 의해 의도되는 것은 아니라는 것이 이해될 수 있을 것이다. 설명되어 있는 본 발명의 원리의 변경, 추가의 수정 및 이러한 추가의 적용이 본 발명이 속하는 기술 분야의 숙련자에게 일반적으로 실시될 수 있는 바와 같이 고려된다.
본 발명은 이들에 한정되는 것은 아니지만, 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 장치, 하전된 에어로졸 검출기(예를 들면, 코로나 CAD) 장치, 및 질량 분석기를 포함하는 분석 장치에 사용하기에 적합한 다양한 구성요소에 관한 것이다. 본 발명의 일 바람직한 실시예에서, 개시된 구성요소의 하나 이상은 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 장치 내에 통합된다. 본 명세서에 사용된 적합한 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 및 구성요소의 설명은 예를 들면 미국 특허 제 6,229,605 호 및 제 6,362,880 호에서 발견될 수 있고, 이들 양 특허의 요지는 그대로 본 명세서에 참조로서 인용되어 있다.
본 발명은 또한 ELSD 장치와 같은 분석 장치에 사용하기에 적합한 다양한 구성요소 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명은 또한 장치의 하나 이상의 기능의 성능에 기여하기 위해, 분석 장치 내의, 예를 들어 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 장치 내의 개시된 구성요소의 하나 이상을 사용하는 방법에 관한 것이다.
일 예시적인 실시예에서, 본 발명의 개시된 구성요소의 하나 이상(도 1 내지 도 9에 도시됨)은 ELSD 장치 내에 통합된다. 예를 들면, 예시적인 관형 부재(10)(도 1 내지 도 5에 도시됨)와 같은 본 발명의 관형 부재는 ELSD 장치에 대한 향상된 드리프트 튜브를 제공하기 위해, 분무기(nebulizer)(52)(도 5에 도시됨) 및 다른 ELSD 장치 구성요소와 조합될 수 있다. 다른 예에서, 예시적인 카트리지/임팩터 조립체(51)(도 5 및 도 6에 도시됨)와 같은 본 발명의 카트리지/임팩터 조립체는 ELSD 장치의 "분할 흐름(split-flow)" 능력을 제공하기 위해 종래의 드리프트 튜브 또는 본 발명의 예시적인 관형 부재(10)와 조합하여 사용될 수 있다. 또 다 른 예에서, 예시적인 전자 회로(80)(도 9에 도시됨)와 같은 본 발명의 전자 회로는 장치 내의 하나 이상의 입력된 전압 신호의 이로운 처리를 제공하기 위해 ELSD 장치와 같은 분석 장치 내에 통합될 수 있다.
도 1 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다양한 구성요소는 다수의 개별 구성요소 특징부를 포함한다. 다양한 구성요소, 가능한 구성요소 특징부, 및 다양한 구성요소 구성의 설명이 이하에 제공된다.
I. 장치 구성요소
본 발명은 단독으로 또는 서로 조합하여 사용되어 공지의 분석 장치의 성능에 기여할 수 있는 이하의 개별 구성요소에 관한 것이다.
A. 관형 부재
본 발명은 도 1 및 도 4에 도시된 예시적인 관형 부재(10)와 같은 관형 부재에 관한 것이다. 본 발명의 관형 부재는 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 또는 임의의 다른 분석 장치[예를 들어, 하전된 에어로졸 검출기(예를 들어, 코로나 CAD) 장치 또는 질량 분석기] 내의 관형 부재로서 사용될 수 있다.
도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 예시적인 관형 부재(10)는 제 1 단부(11), 제 2 단부(12), 제 1 단부(11)와 제 2 단부(12) 사이에서 소정 거리 연장하는 관형 벽 구조체(13), 및 관형 벽 구조체(13)에 의해 둘러싸인 내부(22)(도 4에 도시됨)를 포함한다.
1. 관형 벽 구조체
예시적인 관형 부재(10)는 하나 이상의 동심 층(concentric layer)을 갖는 관형 벽 구조체(13)를 포함한다. 하나 이상의 동심 층의 각각은 요구되는 특징(예를 들어, 구조적 완전성, 고온 저항성 등)을 최종 관형 부재(10)에 제공할 수 있다. 또한, 하나 이상의 동심 층의 각각은 층 두께를 갖고, 특정 특징(예를 들어, 화학적 불활성 등)을 최종 관형 부재(10)에 제공하기 위해 하나 이상의 층 재료로 형성된다.
관형 벽 구조체(13)는 제 1 단부(11) 및 제 2 단부(12)에 근접한 부착 특징부(30)를 더 포함할 수 있다. 부착 특징부(30)는 임의의 주어진 장치의 하나 이상의 구성요소에 예시적인 관형 부재(10)를 연결하는데 사용될 수 있다. 적합한 부착 특징부(30)는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 예시적인 관형 부재(10)가 임의의 주어진 장치의 하나 이상의 구성요소 상의 대응 나사산에 부착될 수 있게 하는 나사산과; 예시적인 관형 부재(10)가 하나 이상의 구멍을 통해 연장하는 볼트 또는 나사를 거쳐 임의의 주어진 장치의 하나 이상의 구성요소에 부착될 수 있게 하는 하나 이상의 구멍을 내부에 포함하는 플랜지(도시 생략)와; 예시적인 관형 부재(10)가 하나 이상의 구멍[예를 들면, 도 5에 도시된 관형 벽 구조체(13)의 제 1 단부(11) 내의 구멍(45) 참조] 내로 연장하는 볼트 또는 나사를 거쳐 임의의 주어진 장치의 하나 이상의 구성요소에 부착될 수 있게 하는 제 1 단부(11) 및/또는 제 2 단부(12)에서의 관형 벽 구조체(13) 내의 하나 이상의 구멍과; 대응 클램핑 부재 를 거쳐 임의의 주어진 장치의 하나 이상의 구성요소에 예시적인 관형 부재(10)를 부착하는데 사용될 수 있는 클램핑 부재를 포함한다.
일 예시적인 실시예에서(후술됨), 관형 벽 구조체(13)는 2개 이상의 동심 층을 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 관형 벽 구조체(13)는 내부층(23) 및 외부층(24)(도 4에 도시됨)을 포함하고, 내부층(23)은 관형 부재(10)에 대부분의 전체적인 구조적 완전성을 제공하고, 외부층(24)은 내부층(23)에 절연 특성과 같은 부가의 특성을 제공한다.
a. 내부층
일 예시적인 실시예에서, 관형 벽 구조체(13)는 하나 이상의 외부층(24)과 조합하여 하나 이상의 내부층 또는 내부 슬리브(23)를 포함한다. 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 내부층(23)은 전형적으로 관형 부재(10)의 전체 길이(예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이 길이 L+X1+X2의 합)로 연장한다. 또한, 내부층(23)은 전형적으로, 제 1 단부(11), 제 2 단부(12), 및 관형 부재(10)의 내부(22)를 둘러싸는 내부벽면(14)을 형성한다.
내부층(23)은 관형 벽 구조체(13)의 내부(22)에 대면하는 내부벽면(14)을 포함한다. 내부층(23)은 또한 외부층(24)의 내부면(26)과 직접 접촉할 수 있는 외부면(25)을 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 내부층(23)의 외부면(25)은 외부층(24)의 내부면(26)과 직접 접촉한다.
일 예시적인 실시예에서, 내부층(23) 또는 적어도 내부층(23)의 내부벽 면(14)은 불활성 재료를 포함한다. 적합한 불활성 재료는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 알루미늄, 스테인레스강 및 티타늄과 같은 금속과, 폴리에테르에테르케톤(PEEK) 및 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE)과 같은 폴리머 재료와, 보로실리케이트 글래스를 포함하는 글래스와, 세라믹 재료를 포함한다. 일 예시적인 실시예에서, 내부벽면(14)은 알루미늄 및 스테인레스강으로부터 선택된 금속을 포함한다. 추가의 예시적인 실시예에서, 내부벽면(14)은 6061-T6 알루미늄 또는 316L 스테인레스강, 바람직하게는 316L 스테인레스강을 포함한다.
내부층(23)은 이들에 한정되는 것은 아니지만 내부층(23)을 형성하는데 사용된 재료, 하나 이상의 외부층의 존재 유무, 및 관형 부재(10)의 요구되는 구조적 요건[예를 들어, 예시적인 관형 부재(10)의 요구되는 압력 용량]을 포함하는 다수의 인자에 따라 변하는 평균 층 두께를 가질 수 있다. 전형적으로, 내부층(23)은 약 0.25 밀리미터(㎜)[0.01 인치(in)] 내지 약 50.8㎜(2in)의 평균 층 두께를 갖는다. 일 바람직한 실시예에서, 내부층(23)은 스테인레스강을 포함하고, 약 0.76㎜(0.03in) 내지 약 1.52㎜(0.6in)의 평균 층 두께를 갖는다. 추가의 바람직한 실시예에서, 내부층(23)은 스테인레스강을 포함하고, 약 2.54㎜(0.10in) 내지 약 5.08㎜(0.20in)[더 바람직하게는, 약 3.30㎜(0.13in)]의 두께를 갖는다.
b. 외부층
관형 벽 구조체(13)는 전술된 내부층(들)(23)에 부가하여 하나 이상의 층을 선택적으로 포함할 수 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 외부층 또는 외부 슬리 브(24)가 내부층(23)의 부분 상으로 연장될 수 있다. 대안적으로, 외부층 또는 외부 슬리브(24)는 내부층(23)의 실질적으로 전체 외부면 영역에 걸쳐 연장될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 외부층(24)은 내부층(23)의 외부면(25)과 접촉할 수 있는 내부면(26)을 갖는다. 다른 실시예에서, 외부층(24)의 내부면(26)과 내부층(23)의 외부면(25) 사이에 요구되는 간격이 있을 수 있다.
일 예시적인 실시예에서, 외부층(24)은 예시적인 관형 부재(10)에 양호한 열 전도성을 제공하는 재료를 포함한다. 예를 들면, 외부층(24)은 구리와 같은 금속을 포함할 수 있어, 열이 외부층(24)의 외부벽면(15)에 인가될 때, 외부층(24)이 내부층(23)의 외부면(25)을 따라 실질적으로 균일한 양의 열을 제공하게 한다. 이 예시적인 실시예는 관형 부재(10)가 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 이용될 때 특히 유용하다.
추가의 예시적인 실시예에서, 외부층(24)은 예시적인 관형 부재(10)[예를 들어, 예시적인 관형 부재(10)의 내부층(23)]에 절연 특성을 제공하는 절연 재료를 포함한다. 예를 들면, 외부층(24)은 내부층(23)을 절연하기 위해 폴리우레탄 발포체와 같은 발포 절연체를 포함할 수 있다. 이 예시적인 실시예는 관형 부재(10)가 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 이용될 때 특히 유용하다.
외부층(24)은 이들에 한정되는 것은 아니지만, 외부층의 요구되는 기능, 외부층의 두께 등을 포함하는 다수의 인자에 따라 다양한 재료를 포함할 수 있다. 외부층(24)을 형성하기 위한 적합한 재료는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 구리와 같은 금속, 폴리우레탄 발포체와 같은 폴리머 발포체 재료, 글래스 재료, 및 세 라믹 재료를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 외부층(24)은 스테인레스강으로 형성된 내부층(23)과 같은 내부층(23)에 전기 도금된 구리의 층을 포함한다. 추가의 예시적인 실시예에서, 외부층(24)은 스테인레스강으로 형성된 내부층(23)과 같은 내부층(23) 상에 끼워맞춤된 미리 성형된 구리의 슬리브를 포함한다.
전형적으로, 외부층(24)은 약 0.10㎜(0.004in) 내지 약 50.8㎜(2in)의 평균 층 두께를 갖는다. 일 예시적인 실시예에서, 외부층(24)은 구리층을 포함하고, 약 0.76㎜(0.03in) 내지 약 1.52㎜(0.6in)의 평균 층 두께를 갖는다. 일 바람직한 실시예에서, 외부층(24)은 구리층을 포함하고, 약 2.54㎜(0.10in) 내지 약 7.62㎜(0.30in)[더 바람직하게는, 약 6.35㎜(0.25in)]의 두께를 갖는다.
추가의 예시적인 실시예에서, 관형 벽 구조체(13)는 예를 들면 향상된 화학 저항을 제공하기 위해 외부면(15)의 일부 또는 실질적으로 전체 상에 도포되는 선택적인 최외측 투명 코팅 재료(도시 생략)를 더 포함할 수 있다. 투명한 코팅 재료는 이에 한정되는 것은 아니지만 폴리우레탄 재료를 포함하는 임의의 투명 코팅 재료를 포함할 수 있다. 전형적으로, 존재할 때, 투명 코팅층은 약 0.01 내지 약 0.5㎜의 평균 층 두께를 갖는다.
c. 관형 벽 구조체 단면 형상
관형 벽 구조체(13)는 제 1 단부(11)에 있는 입구 단면 흐름 영역, 관형 벽 구조체(13)의 제 2 단부(12)에 있는 출구 단면 흐름 영역, 및 제 1 단부(11)와 제 2 단부(12) 사이의 관형 단면 흐름 영역을 갖는다. 본 발명의 일 예시적인 실시예 에서, 관형 단면 흐름 영역은 입구 단면 흐름 영역, 출구 단면 흐름 영역, 또는 이들 모두와 실질적으로 동일하다. 본 발명의 추가의 예시적인 실시예에서, 관형 단면 흐름 영역은 입구 단면 흐름 영역 및 출구 단면 흐름 영역의 모두와 실질적으로 동일하다.
관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역 및 출구 단면 흐름 영역의 각각은 임의의 요구되는 단면 형태를 가질 수 있다. 적합한 단면 형태는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 원형, 직사각형, 정사각형, 5각형, 삼각형, 및 6각형 단면 형태를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역, 및 출구 단면 흐름 영역의 각각은 원형 단면 흐름 영역을 갖는다.
d. 관형 부재 치수
본 발명의 관형 부재는 관형 부재의 사용에 따라 다양한 크기를 가질 수 있다. 예를 들면, 본 발명의 관형 부재가 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 사용될 때, 관형 부재는 전형적으로 최대 약 50.8㎝(20in), 더 전형적으로는 약 20.32㎝(8in) 내지 약 40.64㎝(16in)의 범위의 전체 길이를 갖는다. 일 바람직한 실시예에서, 본 발명의 관형 부재는 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 사용되고, 약 27.94㎝(11in)의 전체 길이를 갖는다. 그러나, 개시된 관형 부재의 전체 치수에 어떠한 한정도 존재하지 않는다는 것을 이해해야 한다.
전술된 바와 같이, 관형 벽 구조체(13)는 관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역, 및 출구 단면 흐름 영역을 가질 수 있다. 관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역, 및 출구 단면 흐름 영역의 각각은 임의의 주어진 관형 벽 구조체의 사용에 따라 크기가 다양할 수 있다. 전형적으로, 관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역, 및 출구 단면 흐름 영역의 각각은 개별적으로 최대 약 506㎠(78.5in2)이다. 일 바람직한 실시예에서, 본 발명의 관형 부재는 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 사용되고, 관형 단면 흐름 영역, 입구 단면 흐름 영역, 및 출구 단면 흐름 영역의 각각은 약 3.84㎠(0.59in2)이다. 그러나, 전술된 바와 같이, 개시된 관형 부재의 전체 치수에 대한 어떠한 한정도 존재하지 않는다.
e. 압력 용량
본 발명의 관형 부재 및 카트리지는 임의의 주어진 구성요소의 최종 사용에 따라 다양한 내부 압력을 견디기 위한 재료로 구성될 수 있다. 전형적으로, 본 발명의 관형 부재 및 카트리지는 약 103.42 MPa(15,000 psig)의 압력 용량을 갖도록 구성된다. 몇몇 실시예에서, 본 발명의 관형 부재 및 카트리지는 약 3.45(500 psig) 내지 약 34.5 MPa(5,000 psig)의 범위의 압력 용량을 갖도록 구성된다.
2. 온도 센서
본 발명의 관형 부재는 관형 부재의 길이를 따라 위치된 예시적인 온도 센서(19)와 같은 하나 이상의 온도 센서를 더 포함할 수 있다. 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, 예시적인 관형 부재(10)는 2개의 센서(19)를 포함하지만, 임의의 수 의 센서가 예시적인 관형 부재(10)를 따라 위치될 수 있다는 것을 이해해야 한다.
전형적으로, 존재할 때, 2개 이상의 온도 센서(19)는 예시적인 관형 부재(10)의 길이를 따라 위치된다. 각각의 온도 센서(19)는 예시적인 관형 부재(10)의 외부면(15)을 따라, 내부층(23)의 외부면(25)을 따라, 또는 이들 모두를 따라 위치될 수 있다.
2개 이상의 온도 센서(19)가 사용될 때, 온도 센서(19)가 예시적인 관형 부재(10)의 길이의 상당한 부분을 따라 분포되는 것이 바람직하다. 도 2에 도시된 바와 같이, 거리(d)는 온도 센서(19)들 사이의 거리이고, 반면에 거리(d2)는 제 1 단부(11)와 하나의 온도 센서(19) 사이의 거리를 나타내고, 거리(d3)는 제 2 단부(12)와 다른 온도 센서(19) 사이의 거리를 나타낸다. 일 예시적인 실시예에서, 온도 센서(19)는 약 L/2의 거리만큼 서로로부터 분리되고, 여기서 거리(L)는 관형 벽 구조체(13)의 길이이다. 바람직하게는, 2개 이상의 온도 센서(19)는 관형 벽 구조체(13)를 따른 온도 및 임의의 온도 구배를 측정하기 위해 관형 벽 구조체(13)를 따라 위치된다.
도 3의 선 A-A를 따른 단면도인 도 4에 도시된 바와 같이, 온도 센서(19)의 센서 내부면(20)은 외부층(24)의 외부벽면(15)과 접촉하여, 또는 내부(22)(도시 생략) 내의 그리고 그 주위의 다른 대안적인 위치에 위치될 수 있다. 도 4는 또한 온도 센서 외부면(21)이 후술되는 선택적인 가열 요소(16)의 내부면(17)과 접촉할 수 있는 것을 도시한다.
다수의 온도 센서(19)를 사용하는 일 이점은 관형 벽 구조체(13) 전체에 걸 쳐 그리고 이를 따른 다양한 위치에서 온도를 정확하게 측정할 수 있고, 후술되는 하나 이상의 가열 요소(16)와 제휴하여 더 재현 가능한 결과 및 양호한 성능을 제공하기 위해 관형 벽 구조체(13)의 더 양호한 가열 제어를 제공할 수 있다는 것이다. 일 바람직한 실시예에서, x개의 온도 센서가 관형 벽 구조체(13) 내에, 그 둘레에 또는 그 상부에 위치될 수 있어, 센서가 예를 들면 동일한 거리(d)만큼 이격되게 하지만, 센서(19)는 물론 서로로부터 또는 관형 벽 구조체(13)를 따라 임의의 거리만큼 이격될 수도 있다. x개의 온도 센서(19)가 서로로부터 동일한 거리(d)로 이격될 때, 관형 벽 구조체(13)는 관형 벽 구조체(13)를 따른 온도를 모니터링하고 관형 벽 구조체(13)를 따른 온도 변동량을 제어하고/제어하거나 최소화하기 위해 (x+1)의 다수의 구역으로 바람직하게 분할된다. 대안적으로, 예시적인 관형 부재(10)가 x개의 온도 센서를 포함할 때, x개의 온도 센서는 관형 벽 구조체(13)를 따라 서로로부터 약 L/(x-1)의 거리로 바람직하게 위치된다.
바람직하게는, 본 발명의 관형 부재는 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따른 최소의 평균 온도 구배를 가능하게 하는 관형 벽 구조체를 포함한다. 일 예시적인 실시예에서, 본 발명의 관형 부재는 약 8℃ 미만의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 가능하게 하는 관형 벽 구조체를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 관형 부재는 약 7℃ 미만(또는 약 6℃ 미만, 또는 약 5℃ 미만, 또는 약 4℃ 미만, 또는 약 3℃ 미만, 또는 약 2℃ 미만, 또는 약 1.5℃ 미만, 또는 약 1.0℃ 미만)의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 가능하게 하는 관형 벽 구조체를 포함한다.
3. 가열 요소
본 발명의 관형 부재는 도 3 및 도 4에 도시된 예시적인 가열 요소(16)와 같은 하나 이상의 선택적인 가열 요소를 더 포함할 수 있다. 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 예시적인 가열 요소(16)는 내부면(17) 및 외부면(18)을 포함한다. 단일의 연속적인 가열 요소로서 도시되어 있지만, 예시적인 가열 요소(16)는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 예시적인 가열 요소(16)와 같은 가열 테이프, 점 접점(point contact), 및 가열된 블랭킷 또는 슬리브를 포함하는 하나 이상의 열원을 포함할 수 있다. 또한, 예시적인 가열 요소(16)는 관형 벽 구조체(13)의 길이를 따라 외부 벽 구조체(15) 상에 위치되는 것으로 도 3에 도시되어 있지만, 예시적인 가열 요소(16)는 관형 벽 구조체(13)의 전체 길이를 따라 또는 관형 벽 구조체(13)의 전체 길이의 일부를 따라 연장되도록 치수 설정되고 위치될 수도 있다.
다수의 상업적으로 입수 가능한 가열 요소가 본 발명에 사용될 수 있다. 적합한 상업적으로 입수 가능한 가열 요소는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 상표명 실리콘 러버 히터스(Silicon Rubber Heaters)로 템프코 일렉트릭 히터 코포레이션(Tempco Electric Heater Corporation)(미국 일리노이주 우드 데일 소재)으로부터 상업적으로 입수 가능한 실리콘 고무 가열 요소, 템프코 일렉트릭 히터 코포레이션(미국 일리노이주 우드 데일 소재)으로부터 상업적으로 입수 가능한 캡톤(KAPTON)
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가요성 히터(Flexible Heaters), 및 템프코 일렉트릭 히터 코포레이션(미국 일리노이주 우드 데일 소재)으로부터 상업적으로 입수 가능한 테이프 및 외장(sheath)과 같은 다른 가열 제품을 포함한다.
일 바람직한 실시예에서, 상표면 실리콘 러버 히터스로 템프코 일렉트릭 히터 코포레이션(미국 일리노이주 우드 데일 소재)으로부터 상업적으로 입수 가능한 4개의 실리콘 고무 가열 요소가 관형 벽 구조체(13)를 가열하는데 사용된다. 실리콘 고무 가열 요소는 관형 벽 구조체(13)의 구조에 따라 예시적인 관형 부재(10)의 외부면(15)을 따라, 내부층(23)의 외부면(25)을 따라, 또는 이들 모두를 따라 접착식으로 부착되어 분포된다.
다른 바람직한 실시예에서, 하나 이상의 가열 요소(16)는 약 8℃ 미만의 관형 부재(10)의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 생성하기 위해 하나 이상의 온도 센서(19)와 제휴하여 사용된다. 추가의 바람직한 실시예에서, 하나 이상의 가열 요소(16)는 약 7℃ 미만(또는 약 6℃ 미만, 또는 약 5℃ 미만, 또는 약 4℃ 미만, 또는 약 3℃ 미만, 또는 약 2℃ 미만, 또는 약 1.5℃ 미만, 또는 약 1.0℃ 미만)의 관형 부재(10)의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 생성하기 위해 하나 이상의 온도 센서(19)와 제휴하여 사용된다.
4. 접지 나사
본 발명의 관형 부재는 도 1에 도시된 예시적인 접지 나사(29)와 같은 하나 이상의 접지 나사를 더 포함할 수 있다. 예시적인 접지 나사(29)는 예시적인 관형 부재(10)의 전기 접지를 가능하게 한다.
B. 카트리지/임팩터 조립체
본 발명은 또한 도 5 내지 도 8b에 도시된 바와 같은 신규하게 설계된 카트리지, 임팩터, 및 카트리지/임팩터 조립체에 관한 것이다. 개시된 카트리지, 임팩터, 및 카트리지/임팩터 조립체는 ELSD 장치 내의 제거 가능한 구성요소로서 특히 유용하다.
도 5에 도시된 일 예시적인 실시예에서, 예시적인 제거 가능한 카트리지/임팩터 조립체(51)는 임팩터(52)와 조합하여 예시적인 제거 가능한 카트리지(58)를 포함한다. 예시적인 제거 가능한 카트리지/임팩터 조립체(51)는 이하의 부가의 장치 구성요소, 즉 분무기(50), O-링(56), 예시적인 제거 가능한 카트리지(58)를 관형 벽 구조체(13)에 부착하기에 적합한 나사(43)와 조합하여 도시되어 있다.
1. 카트리지
도 5 및 도 6에 도시된 예시적인 카트리지(58)는 카트리지 인서트(57), 플랜지 섹션(65), 및 임팩터(들)가 카트리지 인서트(57)를 통해 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 카트리지 인서트(57) 내에 하나 이상의 임팩터[예를 들어, 예시적인 임팩터(52)]를 일시적으로 고정할 수 있는 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재(61)를 포함한다.
일 예시적인 실시예에서, 카트리지는 ELSD 장치의 드리프트 튜브 내의 정지 위치(들)에 하나 이상의 임팩터를 위치시키기에 적합하다. 이 예시적인 실시예에서, 카트리지는 (i) 드리프트 튜브의 내부벽면[예를 들어, 내부벽면(14)]을 따라 드리프트 튜브의 제 1 단부[예를 들어, 제 1 단부(11)] 내에서 연장 가능하도록 치 수 설정된 카트리지 인서트와, (ii) 카트리지 인서트의 길이를 따라 위치된 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 포함하고, 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재의 각각은 임팩터가 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 카트리지 인서트 내에 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있다.
본 발명의 카트리지는 예시적인 관형 부재(10)를 포함하는 전술된 관형 부재들 중 임의의 관형 부재와 함께 사용하기에 적합하도록 치수 설정될 수 있다. 카트리지 인서트(57)는 관형 벽 구조체(13)의 내부벽면(14)을 따른 관형 벽 구조체(13)의 제 1 단부(11)에서의 개구(42) 내에서, 즉 드리프트 튜브 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된다. 도 5에 도시된 바와 같이, 카트리지 인서트(57)는 분무기(50)와 관형 벽 구조체(13) 사이에 위치될 수 있어, 분무기(50)가 나사(43)에 의해 또는 임의의 다른 부착 부재에 의해 카트리지/임팩터 조립체(51)에 제거 가능하게 부착될 수 있게 한다. 유사하게, 카트리지/임팩터 조립체(51)는 이에 한정되는 것은 아니지만, 예시적인 카트리지(58)의 플랜지(65) 내의 구멍(44)에 의해 이어서 관형 벽 구조체(13) 내의 구멍(45)에 의해 수용되기에 적합한 나사(43)를 포함하는 임의의 적합한 부착 부재에 의해 관형 벽 구조체(13)에 제거 가능하게 부착될 수 있다.
예시적인 카트리지(58)는 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재(61)[도 5 및 도 6에 나사 구멍(61)으로서 도시됨]를 더 포함할 수 있다. 각각의 임팩터 위치설정 부재(61)는 카트리지 인서트(57)의 길이(C3)를 따라 적소에 임팩터(52)를 제거 가능하게 고정하여 카트리지 인서트(57)를 통해 단면 흐름 영역(59)의 일부를 점유하 기 위해 카트리지 인서트(57) 내에 위치된다. 도 5에 도시된 바와 같이, 예시적인 임팩터 위치설정 부재(61)는 대응 나사(60)와 함께 카트리지 인서트(57) 내에 임팩터(52)를 위치시키는데 사용된다. 예시적인 카트리지(58)는 일 세트의 대향하는 임팩터 위치설정 부재(61)를 포함하지만, 2개 이상의 세트의 대향하는 임팩터 위치설정 부재(61)가 카트리지 인서트(57) 내에서의 임팩터(52)의 위치의 융통성을 제공하기 위해 카트리지 인서트(57)의 길이를 따라 위치될 수도 있다는 것을 이해해야 한다.
도 6에 도시된 바와 같이, 임팩터(52)는 예시적인 카트리지(58)의 플랜지(65)로부터 길이(C3)로 위치된다. 길이(C3)는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 카트리지 인서트(57)의 전체 길이(예를 들어, C1), 대응 관형 부재의 전체 길이, 임팩터(52)의 요구되는 위치, 및 테스트될 테스트 샘플 조성을 포함하는 다수의 인자에 따라 다양할 수 있다. 예를 들면, 길이(C1)에 대한 길이(C3)의 비는 특정 테스트 샘플의 요건에 기초하여 임팩터(52)의 위치설정을 가능하게 하도록 도 6에 도시된 것보다 낮을 수 있다.
예시적인 카트리지(58)의 전체 길이(C1)는 이들에 한정되는 것은 아니지만 대응 관형 부재의 전체 길이, 대응 관형 부재의 전체 길이에 대한 임팩터(52)의 요구되는 위치, 및 테스트될 테스트 샘플 조성을 포함하는 다수의 인자에 따라 다양할 수 있다. 일 예시적인 실시예에서, C1은 내부층(23)만큼 길 수 있어, 카트리지 인서트(57)가 대응 관형 부재의 관형 벽 구조체의 내부 표면층으로서 효과적으로 작용할 수 있게 한다. 전형적으로, C1은 대응 관형 부재의 길이의 절반 미만, 더 전형적으로는 대응 관형 부재의 길이의 약 25% 내지 33%이다. 일 예시적인 실시예에서, 예시적인 카트리지(58)는 약 8.10 센티미터(㎝)(3.19in)의 전체 길이를 갖고, 약 27.94㎝(11.00in)의 전체 길이를 갖는 관형 부재 내에 약 7.62㎝(3.00in)로 위치된 일 세트의 임팩터 위치설정 부재[예를 들어, 임팩터 위치설정 부재(61)]를 갖는다.
이하에 더 설명되는 바와 같이, 다양한 치수를 갖는 임팩터가 제거식으로 교환될 수 있도록 임팩터(52)가 제거 가능하여, 광범위한 샘플 유형 및 이동상(mobile phase)이 적절하게 치수 설정된 임팩터(52)로 간단히 교체함으로써 임의의 주어진 관형 부재 내에서 테스트될 수 있게 한다. 임팩터(52)를 함께 교환하거나 심지어 제거함으로써, 임의의 주어진 장치는 제 1 단면 흐름 영역[예를 들어, 카트리지 인서트(57)의 총 단면 흐름 영역의 50%]을 갖는 제 1 "분할 흐름" 형태로부터 제 2 단면 흐름 영역[예를 들어, 카트리지 인서트(57)의 총 단면 흐름 영역의 25%]을 갖는 제 2 "분할 흐름" 형태로, 임팩터(52)가 모두 제거되는 단일 흐름 형태[예를 들어, 카트리지 인서트(57)의 총 단면 흐름 영역의 100%]로 변환될 수 있다. 분할 흐름 형태에서, 임팩터(52)의 크기는 검출될 샘플 및 이동상에 따라, 최대 최적화를 위한 분할의 양을 변경하기 위해 변경될 수 있다. 또한, 제거 가능한 임팩터는 또한 세척 용도로[예를 들어, 관형 벽 구조체(13)가 ELSD 장치 내의 드리프트 튜브로서 이용될 때] 관형 벽 구조체(13)로의 용이한 접근을 허용한다.
전술된 바와 같이, 도 5 및 도 6에는 도시되어 있지 않지만, 예시적인 카트리지(58)는 카트리지 인서트 내에 2개 이상의 임팩터를 선택적으로 위치시키기 위 해 카트리지 인서트의 길이를 따라 위치된 2개 이상의 세트의 임팩터 위치설정 부재를 포함할 수 있다. 다수의 세트의 임팩터 위치설정 부재는 동일한 카트리지 내의 단일 흐름 형태 또는 임의의 수의 가능한 "분할 흐름" 형태간을 결정할 때 사용자에 향상된 융통성을 제공한다.
도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 예시적인 카트리지(58)는 관형 부재, 가스켓, O-링, 필터, 단부 캡 등과 같은 다른 장치 구성요소에 예시적인 카트리지(58)를 연결하기에 적합한 플랜지(65)를 더 포함할 수 있다. 일 바람직한 실시예에서, 플랜지(65)는 ELSD 장치에서의 사용을 위한 드리프트 튜브를 형성하기 위해, 전술된 예시적인 관형 부재(10)와 같은 관형 부재에 예시적인 카트리지(58)를 연결하는데 사용된다.
본 발명의 일 실시예에서, 플랜지(65)는 예시적인 카트리지(58)의 일체형 부분으로서 형성된다. 이러한 구성은 도 5 및 도 6에 도시된 예시적인 카트리지/임팩터 조립체(51)에 도시되어 있다. 다른 실시예에서, 플랜지(65)는 카트리지 인서트(57)의 일 단부 상에 고정된 개별 카트리지 구성요소일 수 있다. 구성에 무관하게, 플랜지(65)는 플랜지(65)가 임의의 다른 장치 구성요소에 연결될 수 있게 하기 위해 하나 이상의 구조적 특징부를 포함한다. 적합한 구조적 특징부는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 플랜지의 표면으로부터 연장하는 볼트, 플랜지 내의 나사산 형성 구멍, 파이프 나사산, 압축 피팅(fitting), 커넥터 등을 포함한다.
카트리지(58)는 하나 이상의 재료, 바람직하게는 하나 이상의 인서트 재료를 포함할 수 있다. 카트리지(58)를 형성하기에 적합한 재료는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 알루미늄, 스테인레스강 및 티타늄과 같은 금속과, 폴리에테르에테르케톤(PEEK) 및 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE)과 같은 폴리머 재료와, 보로실리케이트 글래스를 포함하는 글래스와, 세라믹 재료를 포함한다. 본 발명의 일 예시적인 실시예에서, 카트리지(58)는 알루미늄 및 스테인레스강으로부터 선택된 금속을 포함한다. 바람직한 실시예에서, 카트리지(58)는 316L 스테인레스강과 같은 스테인레스강을 포함한다.
카트리지(58)의 카트리지 인서트(57)는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 임의의 주어진 관형 부재의 내경, 카트리지(57)의 요구되는 구조적 완전성 등을 포함하는 다수의 인자에 따라 변하는 평균 벽 두께를 가질 수 있다. 전형적으로, 카트리지 인서트(57)는 약 0.10㎜(0.004in) 내지 약 50.8㎜(2in)의 평균 벽 두께를 갖는다. 일 예시적인 실시예에서, 카트리지 인서트(57)는 스테인레스강을 포함하고, 약 2.54㎜(0.10in) 내지 약 10.16㎜(0.40in)[더 바람직하게는, 약 6.35㎜(0.25in)]의 평균 벽 두께를 갖는다.
2. 임팩터
도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 예시적인 제거 가능한 카트리지/임팩터 조립체(51)는 하나 이상의 임팩터(52)를 더 포함한다. 2개의 예시적인 임팩터(52)가 도 7a 내지 도 8b에 도시된다. 바람직하게는, 각각의 임팩터(52)는 상부 및 하부 주연면(70) 및 측면 주연면(71)에 의해 경계 형성된 주 표면(74)을 갖는 평면형의 중실형 본체(73)를 포함한다. 상부 및 하부 주연면(70) 내에는, 카트리지 인서 트(57)의 대응 임팩터 위치설정 부재(61) 또는 상부 또는 하부 주연면(70)과 대응 임팩터 위치설정 부재(61)를 결합할 수 있는 대응 부착 부재(예를 들어, 나사)를 수용하기에 적합한 개구(72)가 위치되어 있다.
본 발명의 일 예시적인 실시예에서, 일 세트의 상호 교환 가능 임팩터(52)가 제거 가능하게 삽입될 수 있도록 설계되고 임의의 주어진 카트리지(58)의 카트리지 인서트(57) 내에 장착된다. 바람직하게는, 임팩터의 세트는 카트리지 인서트(57)를 통해 다양한 비율의 총 단면 흐름 영역(59)을 제공하기 위해 치수 설정된 복수의 임팩터를 포함한다. 예를 들면, 임의의 주어진 세트의 임팩터(52)는 카트리지 인서트(57)를 통해 총 단면 흐름 영역(59)의 약 5% 내지 약 95%를 점유할 수 있다. 다른 세트의 임팩터(52)는 총 단면 흐름 영역의 약 5% 내지 약 95%의 범위로 카트리지 인서트(57)를 통해 임의의 비율의 총 단면 흐름 영역(59)을 점유할 수 있다.
다양한 임팩터(52)는 임의의 주어진 카트리지 인서트 내에 끼워맞춤되도록 요구되는 바에 따라 치수 설정될 수 있다. 일 예시적인 실시예에서, 임팩터(52)는 약 5.0㎜(0.2in) 내지 약 25.4㎜(1.0in)의 폭(I1), 약 5.0㎜(0.2in) 내지 약 25.4㎜(1.0in)의 길이(I2), 및 약 1.3㎜(0.05in) 내지 약 25.4㎜(1.0in)의 두께(I3)를 갖는다(도 7a 및 도 7b 참조). 일 바람직한 실시예에서, 임팩터(52)는 약 14.0㎜(0.55in)의 폭(I1), 약 21.8㎜(0.86in)의 길이(I2), 및 약 3.2㎜(0.125in)의 두께(I3)를 갖는다.
부가적으로, 임팩터(52)의 형상은 요구되는 바에 따라 변경될 수도 있다. 도 7a 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 제 1 예시적인 임팩터(52)는 실질적으로 직사 각형 형상을 갖는다. 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 제 2 예시적인 임팩터(52)는 실질적으로 타원형 형상을 갖는다. 임팩터(52)의 다른 적합한 형상은 이들에 한정되는 것은 아니지만, 원형 형상, 정사각형 형상, 삼각형 형상, 구형 형상 등을 포함한다. 임의의 주어진 임팩터의 형상에 대한 유일한 제한은 형상이 임의의 주어진 분무된 이동상을 위한 충분한 충격 표면 영역을 제공하는 것이다.
임팩터(52)는 하나 이상의 재료, 바람직하게는 하나 이상의 불활성 재료를 포함할 수 있다. 임팩터(52)를 형성하기에 적합한 재료는 이들에 한정되는 것은 아니지만, 알루미늄, 스테인레스강 및 티타늄과 같은 금속과, 폴리에테르에테르케톤(PEEK) 및 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE)과 같은 폴리머 재료와, 보로실리케이트 글래스를 포함하는 글래스와, 세라믹 재료, 또는 이들의 조합을 포함한다. 본 발명의 일 예시적인 실시예에서, 임팩터(52)는 테플론(TEFLON)
Figure 112008070317112-PCT00002
재료로 선택적으로 코팅된 알루미늄 및 스테인레스강으로부터 선택된 금속을 포함한다. 바람직한 실시예에서, 임팩터(52)는 테플론
Figure 112008070317112-PCT00003
재료로 코팅된 316L 스테인레스강과 같은 스테인레스강을 포함한다.
3. 임팩터 부착 부재
임팩터(52)는 이에 한정되는 것은 아니지만 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같은 하나 이상의 나사(60)를 포함하는 임의의 적합한 부착 부재에 의해 카트리지 인서트(57)에 제거 가능하게 부착될 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, 하나 이상의 나사(60)는 도 6에 도시된 바와 같이, 카트리지 인서트(57)의 측벽을 통해 그리 고 임팩터(52) 내의 각각의 개구(72) 내로 연장하도록 카트리지 인서트(57)의 대응 임팩터 위치설정 부재(61)를 통해 삽입될 수 있다.
C. 전자 회로
본 발명은 또한 분석 장치에 사용하기에 적합한 전자 회로에 관한 것이다. 본 발명의 전자 회로는 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압을 생성하기 위해 하나 이상의 입력된 전압 신호를 증폭할 수 있는 전자 회로를 포함한다. 일 예시적인 실시예에서, 전자 회로는 입력된 전압 신호에 전압 이득을 제공할 수 있는 전압 증폭기와, 전압 증폭기와 직렬의 출력 저항기와, 출력 저항기에 일정 전류를 제공하는 전류원과, 전류원과 직렬의 전류 조정 다이오드(current steering diode)를 포함하고, 전류 조정 다이오드는 전류원으로부터 출력 저항기로 일정 전류의 일방향 흐름을 제공하고, 전자 회로는 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압을 제공할 수 있다. 본 발명의 예시적인 전자 회로는 도 9에 도시된다.
도 9에 도시된 바와 같이, 예시적인 전자 회로(80)는 광검출기(photodetector)(도시 생략)와 같은 장치로부터 입력된 전압 신호(82)에 전압 이득을 제공할 수 있는 전압 증폭기(81)를 포함한다. 예시적인 전자 회로(80)는 또한 전압 증폭기(81)와 직렬의 출력 저항기(83)와, 출력 저항기(83)에 일정 전류(Is)를 제공하는 전류원(84)과, 전류원(84)과 직렬의 전류 조정 다이오드(85)를 또한 포함한다. 전류 조정 다이오드(85)는 전류원(84)으로부터 출력 저항기(83)로 일정 전류(Is)의 일방향 흐름을 제공한다.
예시적인 전자 회로(80)에서, 출력 전압(Vo)은 이하의 식으로 나타낼 수 있다.
[수학식 1]
Vo=(Vs×이득)+(Is×Roffset)=Vs×이득+(Voffset)
여기서, Vs는 입력된 전압 신호이고, "이득"은 전압 이득이고, Is는 출력 저항기에 제공된 일정 전류이고, Roffset은 출력 저항기의 저항이고, Voffset은 전압 이득에 무관한 전압 오프셋 성분이다.
예시적인 전자 회로(80)는 최대 약 2500㎷의 전압 크기를 갖는 전압 신호를 처리하는 장치와 연계하여 사용될 수 있다. 전형적으로, 예시적인 전자 회로(80)는, 입력된 전압 신호가 약 0 내지 약 2500㎷의 범위의 전압을 갖고, 전압 이득이 약 0.1 내지 약 16의 범위인 배수이며, 출력 저항기로의 일정 전류가 약 100㎂ 내지 약 2.0㎃의 범위이며, 출력 저항기가 약 2000 내지 약 5.0 오옴의 범위의 저항을 가지며, 전압 오프셋 성분이 약 100㎶ 내지 약 50㎷의 범위의 전압을 갖도록 장치와 연계하여 사용될 수 있다. 일 바람직한 실시예에서, 예시적인 전자 회로(80)는, 입력된 전압 신호가 약 1500 내지 약 2500㎷(더 바람직하게는, 약 2000㎷)의 범위의 전압을 갖고, 전압 이득이 약 1 내지 약 16의 범위의 배수이며, 출력 저항 기로의 일정 전류가 약 100㎂ 내지 약 1.0㎃이며, 출력 저항기가 약 200 내지 약 5 오옴(더 바람직하게는, 약 10 오옴)의 범위의 저항을 가지며, 전압 오프셋 성분이 약 100㎶ 내지 약 20㎷(더 바람직하게는, 약 10㎷)의 범위의 전압을 갖도록 장치와 연계하여 사용될 수 있다.
예시적인 전자 회로(80)와 같은 본 발명의 전자 회로는 부가의 전자 구성요소, 하나 이상의 외부 시스템 구성요소, 또는 이들 모두와 조합하여 사용될 수 있다. 특히, 본 발명의 전자 회로는 네거티브 입력 전압을 처리할 수 없는 하나 이상의 전자 구성요소를 포함하는 시스템에 유용하다. 예를 들면, 아날로그-디지털 변환을 수행할 수 있는 다수의 전자 시스템은 포지티브(+) 및 네거티브(-) 입력 전압의 모두를 처리하고 대신에 단지 포지티브(+) 입력 전압만을 처리하는 장치를 사용하여 이격되어 있다.
본 발명의 전자 회로는 또한 하나 이상의 외부 시스템 구성요소를 포함하는 시스템에 특히 유용하고, 여기서 네거티브 입력 전압은 외부 시스템 구성요소 중 적어도 하나의 출력에 부정적인 영향을 준다. 예를 들면, 크로마토그래피 검출기의 출력 대 시간을 추적하는 기능을 하고 후속하여 100%에서 총 분석된 샘플을 계산하도록 검출기 응답의 피크 영역, 뿐만 아니라 총 100%의 몇퍼센트로서의 개별 피크 응답에서 수학적인 적분 연산을 수행하는 적분기는 일부 경우에 네거티브 피크 성분으로서 해석되는 네거티브 입력 전압의 전위에 기인하여 네거티브 입력 전압을 취급할 수 없다(예를 들어, 네거티브 입력 전압은 임의의 주어진 개별 피크 응답을 감소시키기 위해 포지티브 입력 전압과 합산될 수 있음).
본 발명의 일 바람직한 실시예에서, 전자 회로는 입력된 전압 신호를 처리하는데 사용되고, 입력된 전압 신호는 광검출기로부터의 전압 신호를 포함한다. 본 발명의 추가의 바람직한 실시예에서, 전자 회로는 증기화 광 산란 검출기의 구성요소이다.
Ⅱ. 구성요소 제조 방법
본 발명은 또한 본 발명의 전술된 구성요소를 제조하는 방법에 관한 것이다. 전술된 구성요소의 각각은 통상의 기술을 사용하여 준비될 수 있다. 예를 들면, 일 예시적인 관형 부재 제조 방법에서, 이 방법은 금속 주조 프로세스 단계를 사용하여 불활성 재료(예를 들어, 스테인레스강)로부터 제 1 층 또는 제 1 슬리브(23)를 형성하는 단계와, 외부층(24)으로 내부층(23)의 외부면(25)을 둘러싸는 단계를 포함할 수 있다. 외부층(24)은 예를 들면 금속 스퍼터링 단계를 사용하여 내부층(23)의 외부면(25) 상에 코팅될 수 있거나, 성형 또는 주조 단계를 사용하여 수행될 수 있고, 후속하여 내부층(23) 상에 끼워맞춤된다. 금속 주조 단계는 또한 카트리지(58) 및 임팩터(52)를 형성하는데 사용될 수 있다. 이들 구성요소 중 임의의 구성요소가 폴리머 재료를 포함하면, 임의의 통상의 열성형 단계(예를 들어, 사출 성형, 주조 성형 등)가 구성요소를 형성하는데 사용될 수 있다.
Ⅲ. 구성요소 사용 방법
본 발명은 또한 ELSD 장치와 같은 분석 장치에서 전술된 구성요소 중 하나 이상을 사용하는 방법에 관한 것이다.
A. 테스트 샘플의 분석 방법
전술된 구성요소의 하나 이상은 테스트 샘플을 분석하기 위해 ELSD 장치와 같은 분석 장치에 사용될 수 있다. 일 예시적인 실시예에서, 이 방법은 길이(L), 제 1 단부, 제 2 단부, 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체를 포함하고 가열 요소에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸인 관형 부재 내로 테스트 샘플을 도입하는 단계와, 내부가 약 8℃ 미만(또는, 약 7℃ 미만, 또는 약 6℃ 미만, 또는 약 5℃ 미만, 또는 약 4℃ 미만, 또는 약 3℃ 미만, 또는 약 2℃ 미만, 또는 약 1.5℃ 미만, 또는 약 1.0℃ 미만)의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 갖도록 일정 온도로 관형 벽 구조체의 내부를 유지하는 단계를 포함한다. 일 바람직한 실시예에서, 이 방법은 제 1 금속(예를 들어, 스테인레스강)의 내부층 및 제 2 금속(예를 들어, 구리)의 외부층을 포함하는 관형 벽 구조체를 이용하고, 제 2 금속은 제 1 금속과 비교하여 더 높은 열전달계수를 갖는다. 이 예시적인 방법에서, 관형 부재는 ELSD 장치의 드리프트 튜브로서 이용될 수 있다.
예시적인 테스트 샘플 분석 방법은 또한 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 위치된 2개 이상의 온도 센서를 갖는 관형 부재를 이용할 수 있다.
추가의 예시적인 실시예에서, 테스트 샘플 분석 방법은 분할 흐름 형태로부터 단일 흐름 형태로, 단일 흐름 형태로부터 분할 흐름 형태로의 신속한 변환을 가능하게 하기 위해 카트리지와 조합하여 관형 부재(예를 들어, 드리프트 튜브로서) 를 이용하는 단계를 포함한다. 이 예시적인 실시예에서, 이 방법은 (i) 관형 부재의 내부벽면을 따라 관형 부재의 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트와, (ii) 카트리지 인서트의 길이를 따른 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 포함하고, 임팩터 위치설정 부재의 각각은 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 카트리지 인서트 내에 선택적인 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는 카트리지를 이용하는 단계를 포함할 수 있다. 관형 부재는 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 카트리지 인서트 내에 위치설정 가능하도록 치수 설정된 적어도 하나의 임팩터를 더 포함할 수 있다.
상기 예시적인 테스트 샘플 분석 방법은 이하의 단계, 즉 테스트 샘플을 분무하여 이동상 내에 입자의 에어로졸을 형성하는 단계와, 관형 부재(예를 들어, 드리프트 튜브) 내에 테스트 샘플을 도입하기 전에 입자의 일부를 선택적으로 제거하는 단계와, 관형 부재의 길이(L)를 따라 이동상의 일부를 증발시키는 단계와, 광빔을 산란시키기 위해 잔류 입자에 광빔을 지향시키는 단계와, 산란된 광을 검출하는 단계와, 검출 단계에서 얻어진 데이터를 분석하는 단계 중 임의의 단계를 더 포함할 수 있다.
전형적으로, 전술된 방법에서 얻어진 데이터는 존재한다면 테스트 샘플 내에 존재하는 분석물의 양의 지시를 제공하는 전압 신호의 형태이다. 본 발명의 전자 회로는 전술된 예시적인 방법에서 얻어진 전압 신호를 더 처리하는데 사용될 수 있다.
B. 입력 전압 신호의 처리 방법
추가의 실시예에서, 본 발명은 전자 시스템의 하나의 전자 구성요소로부터 입력 전압 신호를 처리하는 방법에 관한 것이다. 일 예시적인 실시예에서, 입력된 전압 신호를 처리하는 방법은 입력된 전압 신호를 제공하는 단계와, 전압 증폭기를 거쳐 입력된 전압 신호를 증폭하는 단계와, 입력된 전압 신호를 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압으로 변환하는 단계를 포함한다.
입력된 전압 신호를 출력 전압으로 변환하는 단계는 전술된 수학식 1에 제공된 바와 같은 출력 전압(Vo)을 생성할 수 있다. 일 예시적인 실시예에서, 약 0 내지 약 2000㎷의 범위의 전압을 갖는 입력된 전압 신호로 약 500㎶ 내지 약 2.0㎷의 범위의 전압을 갖는 요구되는 전압 오프셋 성분을 생성하기 위해, 전압 증폭기는 약 1 내지 약 16의 범위의 배수를 포함하는 전압 이득을 제공하고, 출력 저항기는 약 2000 내지 약 5.0 오옴의 범위의 조항을 갖고, 출력 저항기에 제공된 일정 전류는 약 100㎂ 내지 약 2.0㎃의 범위이다.
입력된 전압 신호를 처리하는 방법은 하나 이상의 부가의 전자 구성요소를 포함하는 전자 시스템 내의 입력된 전압 신호를 출력 전압으로 변환하는데 특히 유용하고, 상기 부가의 전자 구성요소의 적어도 하나는 네거티브 입력 전압을 처리할 수 없다. 입력된 전압 신호를 처리하는 방법은 또한 하나 이상의 외부 시스템 구성요소를 포함하는 시스템 내의 입력된 전압 신호를 출력 전압으로 변환하는데 특 히 유용하고, 네거티브 입력 전압은 전술된 상기 외부 시스템 구성요소의 적어도 하나의 출력에 부정적인 영향을 준다.
일 바람직한 실시예에서, 입력된 전압 신호 처리 방법은 광검출기로부터 입력된 전압 신호를 처리하는 방법을 포함한다. 추가의 바람직한 실시예에서, 입력된 전압 신호 처리 방법은 증기화 광 산란 검출기 내의 입력된 전압 신호를 처리하는 방법을 포함한다.
본 발명은 어떠한 방식으로도 그 범주에 대한 한정을 부여하는 것으로서 해석되어서는 안되는 이하의 예에 의해 더 예시된다. 대조적으로, 의도는 본 명세서의 설명을 숙독한 후에, 본 발명의 사상 및/또는 첨부된 청구범위의 범주로부터 일탈하지 않고 당 기술 분야의 숙련자들 자신에게 제안될 수 있는 다양한 다른 실시예, 수정 및 등가물을 가질 수 있다는 것이라는 것을 명백하게 이해해야 한다.
예 1
드리프트 튜브로서 사용하기에 적합한 관형 벽 구조체의 준비
스테인레스강(타입 316)을 포함하는 관형 부재가 다이 캐스팅 프로세스 중에 형성되었다("내부층"). 최종 관형 부재는 28.24㎝(11.12in)의 전체 길이(예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같은 L+X1+X2)[여기서 L=24.13㎝(9.5in), X1=X2=2.06㎝(0.81in)]와, 2.21㎝(0.87in)의 내경 및 2.54㎝(1.00in)의 외경을 갖는 원형 단면 형태를 가졌다.
미리 형성된 구리 슬리브("외부층")가 이어서 도 1에 도시된 바와 같은 약 24.13㎝(9.5in)의 스테인레스강 내부층을 덮도록 내부층 둘레에 끼워맞춰졌다. 구리 슬리브는 2.54㎝(1.00in)의 내경과 3.18㎝(1.25in)의 외경을 가졌다.
최종 관형 벽 구조체는 9.65㎜(0.38in)의 전체 벽 두께와, 약 34.5 MPa(5000 psig)의 압력 용량을 가졌다.
예 2
다수의 센서를 갖는 관형 부재의 준비
예 1에서 형성된 관형 부재는 다수의 온도 센서를 관형 부재 내에 통합하기 위해 더 처리되었다. 2개의 센서가 관형 벽 구조체의 외부벽면 상에(예를 들어, 구리 외부층의 외부면 상에) 접착식으로 배치되었다. 센서들은 도 2에 도시된 바와 같이 관형 벽 구조체의 각 단부로부터 대략 8.26㎝(3.25in)[길이(d2) 및 길이(d3)] 이격되었다.
예 3
다수의 가열 요소 및 센서를 갖는 관형 부재의 준비
예 2에서 형성된 관형 부재는 가열 요소를 관형 부재와 조합하기 위해 더 처리되었다. 가열 시트 내에 위치된 4개의 실리콘 고무 가열 요소가 도 3에 도시된 바와 같이 2개의 센서 및 구리 외부층의 외부면 상에 위치되었다. 가열 시트 길이는 24.13㎝(9.5in)이고, 구리 외부층 상에 직접 위치되었다.
예 4
관형 부재를 따른 온도 구배 데이터
예 3의 관형 부재는 외부 구리층이 없는 제 2 관형 부재와 비교되었다. 온도 판독치가 관형 벽 구조체의 각각을 따른 다수의 위치에서 취해졌다. 테스트는 차세대 ELSD 표본(Next Generation ELSD Prototype): 3.0 mL/min에서 100% H2O의 이동상을 갖는 45C/1.5L/min/임팩터 온/이득 16을 사용하여 수행되었다. 플루크(Fluke) 54II 온도계 온도 센서(19)가 2개의 각각의 관형 벽 구조체 상의 4개의 위치에 배치되었고, 500개의 데이터점(data point)이 각각의 구역에서 취해졌다(각각의 데이터점은 약 5초로 시간 조정됨). 제 1 센서/구역은 제 1 단부(11)에 가장 근접하여 위치되었고, 제 2 센서/구역이 그 다음에 위치되었고, 다음에 제 3 센서/구역이 위치되었고, 최종적으로 제 4 센서/구역이 제 2 단부(12)에 가장 인접하여 위치되었다. 이하의 표 1은 단지 스테인레스강만을 포함하는 관형 부재에 대한 온도 프로파일의 결과를 요약하고 있고, 반면에 표 2는 구리로 둘러싸인 관형 벽 구조체를 포함하는 관형 부재에 대한 온도 프로파일의 결과를 요약하고 있다.
[표 1]
Figure 112008070317112-PCT00004
[표 2]
Figure 112008070317112-PCT00005
예 5
드리프트 튜브와 함께 사용하기에 적합한 카트리지/임팩터 조립체의 준비
예 1에 형성된 관형 부재는 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같은 카트리지/임팩터 조립체를 통합하기 위해 더 처리되었다. 카트리지의 길이(C1)는 8.10㎝(3.19in)이고, 길이(C2)=7.62㎝(3.00in)였다. 카트리지 인서트의 외경은 22.1㎜(0.87in)이고, 내경은 15.7㎜(0.62in)였다.
일 세트의 임팩터로부터의 제 1 임팩터는 14.0㎜(0.55in)의 폭(I1), 15.7㎜(0.62in)의 길이(I2), 및 3.2㎜(0.125in)의 두께(I3)를 가졌다(도 7a 내지 도 8b 참조). 일 세트의 임팩터로부터의 제 2 임팩터는 7.6㎜(0.3in)의 폭(I1), 15.7㎜(0.62in)의 길이(I2), 및 3.2㎜(0.125in)의 두께(I3)를 가졌다. 임팩터는 카트리지 인서트를 통해 그리고 임팩터의 측벽 내로 연장하는 나사에 의해 적소에 유지된다.
예 6
드리프트 튜브와 함께 사용하기에 적합한 카트리지/임팩터 조립체의 준비
카트리지가 예 1에서 형성된 드리프트 튜브의 중간부 길이(L)와 실질적으로 동일한 카트리지 길이(C3)를 갖는 것을 제외하고는, 예 5의 카트리지/임팩터 조립체와 유사한 카트리지/임팩터 조립체가 형성되었다.
예 7
증기화 광 산란 검출기에 사용하기에 적합한 전자 회로의 준비
도 9에 도시된 바와 같은 전자 회로가 준비되어 예 1의 드리프트 튜브와 함께 증기화 광 산란 검출기(ELSD) 내에 통합되었다.
본 발명이 그 특정 실시예에 대해 상세히 설명되었지만, 당 기술 분야의 숙련자들은 상기 내용의 이해를 얻은 후에, 이들 실시예의 변경, 변형 및 등가물을 즉시 착상할 수 있을 것이라는 것이 이해될 수 있다. 따라서, 본 발명의 범주는 첨부된 청구범위의 범주 및 그 임의의 등가물로서 평가되어야 한다.

Claims (63)

  1. 복합 관형 부재에 있어서,
    제 1 단부, 제 2 단부, 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체를 포함하며,
    상기 관형 벽 구조체는 제 1 금속의 내부층 및 제 2 금속의 외부층을 포함하고, 상기 제 2 금속은 상기 제 1 금속에 비교하여 더 높은 열전달계수를 갖는
    복합 관형 부재.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 내부층의 외부면은 상기 외부층의 내부면과 접촉하고 있는
    복합 관형 부재.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체는 상기 제 2 금속의 외부 슬리브 및 상기 제 1 금속의 내부 슬리브를 포함하며, 상기 내부 슬리브의 내부면은 상기 내부벽면을 형성하는
    복합 관형 부재.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 내부 슬리브는 상기 내부 슬리브의 대향 단부들 상에 플랜지부를 포함 하고, 상기 플랜지부는 상기 관형 벽 구조체의 제 1 단부 및 제 2 단부를 형성하는
    복합 관형 부재.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체의 상기 외부벽면은 상기 관형 벽 구조체의 외주부의 대부분의 둘레로 연장하는 연속적인 표면인
    복합 관형 부재.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체의 상기 제 1 단부는 입구 단면 흐름 영역을 갖고, 상기 관형 벽 구조체의 상기 제 2 단부는 출구 단면 흐름 영역을 가지며, 상기 관형 벽 구조체는 상기 제 1 단부와 상기 제 2 단부 사이에 관형 단면 흐름 영역을 갖고, 상기 관형 단면 흐름 영역은 입구 단면 흐름 영역, 출구 단면 흐름 영역, 또는 이들 모두와 실질적으로 동일한
    복합 관형 부재.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 관형 단면 흐름 영역은 상기 입구 단면 흐름 영역 및 상기 출구 단면 흐름 영역의 모두와 실질적으로 동일한
    복합 관형 부재.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 관형 단면 흐름 영역, 상기 입구 단면 흐름 영역 및 상기 출구 단면 흐름 영역의 각각은 원형 단면 흐름 영역을 갖는
    복합 관형 부재.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체는 적어도 약 2.54㎜(0.10in)의 벽 두께를 갖는
    복합 관형 부재.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 내부층은 약 2.54㎜(0.10in) 내지 약 5.08㎜(0.20in)의 벽 두께를 갖고, 상기 외부층은 약 2.54㎜(0.10in) 내지 약 7.62㎜(0.30in)의 벽 두께를 갖는
    복합 관형 부재.
  11. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 금속은 스테인레스강을 포함하고, 상기 제 2 금속은 구리를 포함하는
    복합 관형 부재.
  12. 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체의 길이를 따라 위치된 하나 이상의 온도 센서를 더 포함하는
    복합 관형 부재.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 온도 센서는 상기 관형 벽 구조체의 상기 외부벽면을 따라 위치되는
    복합 관형 부재.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 온도 센서는 상기 관형 벽 구조체를 따라 위치된 적어도 2개의 개별 온도 센서를 포함하는
    복합 관형 부재.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체는 중간부 길이(L)를 갖는 관형 중간부를 갖고, 상기 개별 온도 센서들 중 적어도 2개는 상기 관형 벽 구조체를 따라 서로로부터 적어도 L/2의 거리에 위치되는
    복합 관형 부재.
  16. 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체의 길이를 따라 상기 외부벽면 상에 위치된 가열 요소를 더 포함하는
    복합 관형 부재.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 가열 요소는 상기 외부벽면의 모두를 실질적으로 덮고 있는
    복합 관형 부재.
  18. 관형 부재에 있어서,
    제 1 단부, 제 2 단부, 길이(L), 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체와,
    상기 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 위치된 2개 이상의 온도 센서와,
    상기 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 상기 외부벽면 상에 위치된 가열 요소를 포함하는
    관형 부재.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 약 8℃ 미만의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 갖는
    관형 부재.
  20. 제 18 항에 있어서,
    상기 2개 이상의 온도 센서 중 적어도 2개는 상기 관형 벽 구조체를 따라 서로로부터 적어도 L/2의 거리에 위치되는
    관형 부재.
  21. 제 18 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 상기 관형 벽 구조체를 따라 서로로부터 거리(d)에 위치된 x개의 온도 센서를 포함하는
    관형 부재.
  22. 제 18 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 상기 관형 벽 구조체를 따라 서로로부터 약 L/(x-1)의 거리에 위치된 x개의 온도 센서를 포함하는
    관형 부재.
  23. 제 18 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 가열 요소는 상기 관형 벽 구조체의 길이를 따라 상기 외부벽면 상에 위치된 2개 이상의 개별 가열 요소를 포함하는
    관형 부재.
  24. 제 18 항 내지 제 22 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 가열 요소는 상기 관형 벽 구조체의 길이를 따라 상기 외부벽면 상에 위치된 4개 이상의 개별 가열 요소를 포함하는
    관형 부재.
  25. 제 18 항 내지 제 24 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 가열 요소는 상기 관형 벽 구조체의 길이를 따라 상기 외부벽면 상에 위치된 가열 시트를 포함하는
    관형 부재.
  26. 제 25 항에 있어서,
    상기 가열 시트는 상기 외부벽면의 모두를 실질적으로 덮고 있는
    관형 부재.
  27. 제 18 항 내지 제 26 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체는 제 1 재료의 내부층 및 제 2 재료의 외부층을 포함하고, 상기 제 2 재료는 상기 제 1 재료와 동일하거나 다른
    관형 부재.
  28. 드리프트 튜브에 있어서,
    제 1 항 내지 제 27 항 중 어느 한 항의 복합 관형 부재 또는 관형 부재를 포함하는
    드리프트 튜브.
  29. 제 28 항에 있어서,
    분무기, 선택적인 카트리지, 하나 이상의 선택적인 임팩터, 광원, 광검출기, 증폭기, 또는 이들의 조합과 조합되는
    드리프트 튜브.
  30. 제 29 항에 있어서,
    상기 제 1 단부에 부착된 분무기, 상기 분무기와 상기 드리프트 튜브 사이에 위치된 선택적인 카트리지, 상기 선택적인 카트리지 내에 위치된 하나 이상의 선택적인 임팩터, 및 (i) 광원, (ii) 광검출기, 및 (iii) 상기 제 2 단부에 근접하여 위치된 증폭기와 조합되는
    드리프트 튜브.
  31. 제 28 항 내지 제 30 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체의 상기 내부벽면의 일부를 따라 연장 가능한 카트리지 인서트를 포함하는 제거 가능한 카트리지와, 상기 제거 가능한 카트리지 내에 위치된 하나 이상의 선택적인 임팩터와 조합되며, 상기 하나 이상의 선택적인 임팩터는 상기 제거 가능한 카트리지로부터 제거 가능한
    드리프트 튜브.
  32. 제 31 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 선택적인 임팩터는 일 세트의 임팩터 내에 하나의 임팩터를 포함하고, 상기 일 세트의 임팩터는 다양한 상이한 임팩터 크기를 갖는 2개 이상의 임팩터를 포함하며, 상기 일 세트의 임팩터 내의 각각의 임팩터는 상기 제거 가능한 카트리지를 통해 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 상기 제거 가능한 카트리지에 제거 가능하게 부착될 수 있는
    드리프트 튜브.
  33. 드리프트 튜브 및 증기화 광 산란 검출기와 함께 사용하기에 적합한 카트리지/임팩터 조립체에 있어서,
    상기 드리프트 튜브의 내부벽면을 따라 드리프트 튜브의 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트와; 상기 카트리지 인서트의 길이를 따른 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재로서, 상기 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 상기 카트리지 인서트 내에 하나 이상의 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는, 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 포함하는 카트리지와,
    상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 상기 카트리지 인서트 내에 위치설정 가능하도록 치수 설정된 하나 이상의 임팩터를 포함하는
    카트리지/임팩터 조립체.
  34. 제 33 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 임팩터는 일 세트의 임팩터를 포함하고, 상기 일 세트의 임팩터는 다양한 상이한 임팩터 크기를 갖는 2개 이상의 임팩터를 포함하며, 상기 일 세트의 임팩터 내의 각각의 임팩터는 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 상기 카트리지 인서트에 제거 가능하게 부착될 수 있는
    카트리지/임팩터 조립체.
  35. 제 34 항에 있어서,
    상기 일 세트의 임팩터는 상기 카트리지 인서트를 통한 총 단면 흐름 영역의 약 25% 내지 약 75%를 점유할 수 있는
    카트리지/임팩터 조립체.
  36. 제 33 항 내지 제 35 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재에 상기 하나 이상의 임팩터를 부착하기에 적합한 하나 이상의 부착 장치를 더 포함하는
    카트리지/임팩터 조립체.
  37. 드리프트 튜브 내의 정지 위치에 임팩터를 위치설정하기에 적합한 카트리지에 있어서,
    상기 드리프트 튜브의 내부벽면을 따라 드리프트 튜브의 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트와,
    상기 카트리지 인서트의 길이를 따른 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재로서, 상기 임팩트가 상기 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 상기 임팩터 위치설정 부재의 각각이 상기 카트리지 인서트 내에 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는, 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 포함하는
    카트리지.
  38. 제 37 항에 있어서,
    일 세트의 임팩터와 조합되며, 상기 일 세트의 임팩터는 다양한 상이한 임팩터 크기를 갖는 2개 이상의 임팩터를 포함하고, 상기 일 세트의 임팩터 내의 각각의 임팩터는 상기 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 상기 카트리지 인서트에 제거 가능하게 부착될 수 있는
    카트리지.
  39. 제 37 항 또는 제 38 항에 있어서,
    제 28 항의 드리프트 튜브와 조합되는
    카트리지.
  40. 전자 회로에 있어서,
    입력된 전압 신호에 전압 이득을 제공할 수 있는 전압 증폭기와,
    상기 전압 증폭기와 직렬의 출력 저항기와,
    상기 출력 저항기에 일정 전류를 제공하는 전류원과,
    상기 전류원과 직렬의 전류 조정 다이오드를 포함하며,
    상기 전류 조정 다이오드는 상기 전류원으로부터 상기 출력 저항기에 일정 전류의 일방향 흐름을 제공하며,
    상기 전자 회로는 상기 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압을 제공할 수 있는
    전자 회로.
  41. 제 40 항에 있어서,
    상기 출력 전압(Vo)은 이하의 식으로 제공되며,
    Vo=(Vs×이득)+(Is×Roffset)=Vs×이득+(Voffset)
    여기서,
    Vs는 상기 입력된 전압 신호이고,
    이득은 상기 전압 이득이며,
    Is는 상기 출력 저항기로의 상기 일정 전류이며,
    Roffset은 상기 출력 저항기의 저항이며,
    Voffset은 상기 전압 이득에 무관한 상기 전압 오프셋 성분인
    전자 회로.
  42. 제 40 항 또는 제 41 항에 있어서,
    상기 입력된 전압 신호는 약 0 내지 약 2500㎷의 범위의 전압을 갖고,
    상기 전압 이득은 약 0.1 내지 약 16의 범위의 배수이며,
    상기 출력 저항기로의 상기 일정 전류는 약 100㎂ 내지 약 2.0㎃의 범위이며,
    상기 출력 저항기는 약 2000 내지 약 5.0 오옴의 범위의 저항을 가지며,
    상기 전압 오프셋 성분은 약 500㎶ 내지 약 2.0㎷의 범위의 전압을 갖는
    전자 회로.
  43. 제 40 항 내지 제 42 항 중 어느 한 항에 있어서,
    부가의 전자 구성요소, 하나 이상의 외부 시스템 구성요소, 또는 이들 모두와 조합되는
    전자 회로.
  44. 제 43 항에 있어서,
    부가의 전자 구성요소와 조합되며,
    상기 부가의 전자 구성요소의 적어도 하나는 네거티브 입력 전압을 처리할 수 없는
    전자 회로.
  45. 제 43 항에 있어서,
    하나 이상의 외부 시스템 구성요소와 조합되며,
    네거티브 입력 전압은 상기 외부 시스템 구성요소의 적어도 하나의 출력에 부정적인 영향을 주는
    전자 회로.
  46. 제 40 항 내지 제 45 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 입력된 전압 신호는 광검출기로부터의 전압 신호를 포함하는
    전자 회로.
  47. 증기화 광 산란 검출기에 있어서,
    제 1 항 내지 제 46 항 중 어느 한 항의 복합 관형 부재, 관형 부재, 드리프 트 튜브, 카트리지/임팩터 조립체, 카트리지, 또는 전자 회로를 포함하는
    증기화 광 산란 검출기.
  48. 적어도 하나의 분석물을 잠재적으로 포함하는 테스트 샘플을 분석하는 방법에 있어서,
    제 1 항 내지 제 17 항 중 어느 한 항의 복합 관형 부재, 제 18 항 내지 제 27 항 중 어느 한 항의 관형 부재, 제 28 항 내지 제 32 항 중 어느 한 항의 드리프트 튜브, 제 33 항 내지 제 36 항 중 어느 한 항의 카트리지/임팩터 조립체, 제 37 항 내지 제 39 항 중 어느 한 항의 카트리지, 제 40 항 내지 제 46 항 중 어느 한 항의 전자 회로를 포함하는 장치, 또는 제 47 항의 증기화 광 산란 검출기 내로 상기 테스트 샘플을 도입하는 단계를 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  49. 적어도 하나의 분석물을 잠재적으로 포함하는 테스트 샘플을 분석하는 방법에 있어서,
    길이(L), 제 1 단부, 제 2 단부, 관형 벽 구조체의 내부에 대면하는 내부벽면, 및 외부벽면을 갖는 관형 벽 구조체를 포함하고 가열 요소에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸인 관형 부재 내로 상기 테스트 샘플을 도입하는 단계와,
    상기 내부가 약 8℃ 미만의 길이(L)를 따른 평균 온도 구배를 갖도록 상기 관형 벽 구조체의 내부를 일정 온도로 유지하는 단계를 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  50. 제 48 항에 있어서,
    상기 관형 벽 구조체는 제 1 금속의 내부층 및 제 2 금속의 외부층을 포함하고, 상기 제 2 금속은 상기 제 1 금속과 비교하여 더 높은 열전달계수를 갖는
    테스트 샘플 분석 방법.
  51. 제 50 항에 있어서,
    상기 제 1 금속은 스테인레스강을 포함하고, 상기 제 2 금속은 구리를 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  52. 제 49 항 내지 제 51 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 상기 관형 벽 구조체의 길이(L)를 따라 위치된 2개 이상의 온도 센서를 더 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  53. 제 49 항 내지 제 52 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 카트리지를 더 포함하며,
    상기 카트리지는,
    상기 관형 부재의 내부벽면을 따라 상기 관형 부재의 상기 제 1 단부 내에서 연장 가능하도록 치수 설정된 카트리지 인서트와,
    상기 카트리지 인서트의 길이를 따른 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재로서, 상기 카트리지 인서트를 통한 단면 흐름 영역의 일부를 점유하도록 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재의 각각이 상기 카트리지 인서트 내에 선택적인 임팩터를 일시적으로 고정할 수 있는, 상기 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  54. 제 53 항에 있어서,
    상기 관형 부재는 하나 이상의 임팩터 위치설정 부재를 거쳐 상기 카트리지 인서트 내에 위치설정 가능하도록 치수 설정된 적어도 하나의 임팩터를 더 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  55. 제 49 항 내지 제 54 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스트 샘플을 분무하여 이동상(mobile phase) 내에 입자의 에어로졸을 형성하는 단계와,
    상기 도입 단계 이전에 상기 입자의 일부를 선택적으로 제거하는 단계와,
    상기 관형 부재의 길이(L)를 따라 상기 이동상의 일부를 증발시키는 단계와,
    광빔을 산란시키도록 잔류 입자에 광빔을 지향시키는 단계와,
    상기 산란된 광을 검출하는 단계와,
    상기 검출 단계에서 얻어진 데이터를 분석하는 단계를 포함하는
    테스트 샘플 분석 방법.
  56. 입력된 전압 신호를 처리하는 방법에 있어서,
    제 40 항 내지 제 46 항 중 어느 한 항의 전자 회로를 통해 입력된 전압 신호를 처리하는 단계를 포함하는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  57. 입력된 전압 신호를 처리하는 방법에 있어서,
    입력된 전압 신호를 제공하는 단계와,
    전압 증폭기를 거쳐 상기 입력된 전압 신호를 증폭하는 단계와,
    상기 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압으로 상기 입력된 전압 신호를 변환하는 단계를 포함하는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  58. 제 57 항에 있어서,
    상기 출력 전압(Vo)은 이하의 식으로 제공되며,
    Vo=(Vs×이득)+(Is×Roffset)=Vs×이득+(Voffset)
    여기서,
    Vs는 상기 입력된 전압 신호이고,
    이득은 상기 전압 이득이며,
    Is는 상기 전압 증폭기와 직렬의 출력 저항기에 제공된 일정 전류이며,
    Roffset은 상기 출력 저항기의 저항이며,
    Voffset은 상기 전압 이득에 무관한 상기 전압 오프셋 성분인
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  59. 제 57 항 또는 제 58 항에 있어서,
    상기 입력된 전압 신호는 약 0 내지 약 2500㎷의 범위의 전압을 갖고,
    상기 전압 이득은 약 0.1 내지 약 16의 범위의 배수이며,
    상기 출력 저항기로의 상기 일정 전류는 약 100㎂ 내지 약 2.0㎃의 범위이며,
    상기 출력 저항기는 약 2000 내지 약 5.0 오옴의 범위의 저항을 가지며,
    상기 전압 오프셋 성분은 약 500㎶ 내지 약 2.0㎷의 범위의 전압을 갖는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  60. 제 57 항 내지 제 59 항 중 어느 한 항에 있어서,
    하나 이상의 부가의 전자 구성요소를 포함하는 전자 시스템 내의 상기 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압으로 상기 입력된 전압 신호를 변환하는 단계를 더 포함하며, 상기 부가의 전자 구성요소의 적어도 하나는 네거티브 입력 전압을 처리할 수 없는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  61. 제 57 항 내지 제 60 항 중 어느 한 항에 있어서,
    하나 이상의 외부 시스템 구성요소를 포함하는 시스템 내의 상기 전압 증폭기에 의해 제공된 증폭기 이득에 무관한 전압 오프셋 성분을 포함하는 출력 전압으로 상기 입력된 전압 신호를 변환하는 단계를 더 포함하며, 네거티브 입력 전압은 상기 외부 시스템 구성요소의 적어도 하나의 출력에 부정적인 영향을 주는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  62. 제 57 항 내지 제 61 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 입력된 전압 신호는 광검출기로부터 오는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
  63. 제 57 항 내지 제 62 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 입력된 전압 신호는 증기화 광 산란 검출기 내에서 처리되는
    입력된 전압 신호 처리 방법.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8653984B2 (en) * 2008-10-24 2014-02-18 Ilumisys, Inc. Integration of LED lighting control with emergency notification systems
US20110302994A1 (en) * 2008-12-10 2011-12-15 Anderson Jr James M Components Suitable for Use in Devices Such as an Evaporative Light Scattering Detector
CN104155396B (zh) * 2014-08-29 2016-03-16 上海通微分析技术有限公司 蒸发光散射检测器的鞘流装置
CN106269726B (zh) * 2016-09-13 2018-09-04 内蒙古蒙牛乳业（集团）股份有限公司 清洗蒸发光散射检测器漂移管的方法
CN107389615B (zh) * 2016-12-20 2020-03-24 苏州赛德福科学仪器有限公司 一种蒸发光检测装置及基于该装置的蒸发光测量方法
CN107817245A (zh) * 2017-10-26 2018-03-20 苏州林恩色谱科技有限公司 一种蒸发光检测器的制造方法
CN108445122B (zh) * 2018-01-25 2023-10-03 无锡赛那尔仪器设备制造有限公司 一种蒸发光散射检测装置
FR3112653A1 (fr) * 2020-07-15 2022-01-21 STMicroelectronics (Alps) SAS Circuit intégré et procédé de diagnostic d’un tel circuit intégré

Family Cites Families (98)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL106722C (ko) 1954-05-19
US2880357A (en) 1955-10-21 1959-03-31 Varian Associates Electron cavity resonator tube apparatus
GB824137A (en) 1957-03-13 1959-11-25 British Insulated Callenders An improved structural member and structures incorporating one or more such members
GB1054461A (ko) * 1963-02-06
US3318340A (en) * 1964-06-19 1967-05-09 Nat Res Corp Metal product
US3504195A (en) 1965-05-04 1970-03-31 Cohu Electronics Inc Amplifier control circuit
US3426420A (en) * 1966-04-08 1969-02-11 Nat Res Corp Method of making brazed composite tubing for heat exchangers used in corrosive fluids
US3807173A (en) * 1971-03-23 1974-04-30 Owens Illinois Inc Exhaust reactor for combustion engine
US4059405A (en) 1972-04-11 1977-11-22 Damon Corporation Method and apparatus for analysis of constituent carried in fibrous medium
US4207364A (en) * 1972-09-01 1980-06-10 Raychem Corporation Heat-shrinkable laminate
US3877817A (en) 1973-07-02 1975-04-15 Wilson Ralston Temperature stabilized photometer for kinetic analysis
US4059712A (en) * 1976-01-26 1977-11-22 Bothwell Bruce E Metal-ceramic composite and method for making same
US4070111A (en) 1976-06-10 1978-01-24 Nicolas James Harrick Rapid scan spectrophotometer
US4159523A (en) 1977-10-07 1979-06-26 Phillips Petroleum Company Voltage offset network
US4185369A (en) * 1978-03-22 1980-01-29 General Electric Company Method of manufacture of cooled turbine or compressor buckets
US4213703A (en) 1978-05-30 1980-07-22 Beckman Instruments, Inc. Photometer with stationary sample holder and rotatable shutter
US4249291A (en) * 1979-06-01 1981-02-10 General Electric Company Method for forming a liquid cooled airfoil for a gas turbine
DE2951459C2 (de) 1979-12-20 1984-03-29 Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden Optische Anordnung für einen Rauchmelder nach dem Lichtstreuungsprinzip
US4333597A (en) * 1980-05-27 1982-06-08 Explosive Fabricators Method of explosively forming bi-metal tubeplate joints
US4518700A (en) 1981-12-04 1985-05-21 Beckman Instruments, Inc. Method and apparatus for regulating the temperature of an analytical instrument reactor
US4484061A (en) * 1982-05-13 1984-11-20 Sys-Tec, Inc. Temperature control system for liquid chromatographic columns employing a thin film heater/sensor
US4565447A (en) 1983-11-21 1986-01-21 Millipore Corporation Photometric apparatus with multi-wavelength excitation
JPS6332351A (ja) 1986-07-26 1988-02-12 Hitachi Ltd 吸光光度計
JPS63241337A (ja) 1986-11-07 1988-10-06 Hitachi Ltd 光度計用フローセル
US4827435A (en) 1986-11-12 1989-05-02 Westinghouse Electric Corp. Blade pitch measurement apparatus and method
US4929078A (en) 1987-04-08 1990-05-29 Oklahoma State University Conversion of dual wave beam spectrophotometer to dual wavelength spectrophotometer
DE3733573A1 (de) 1987-10-03 1989-04-20 Leybold Ag Vorrichtung zum messen des fremdstoffanteils in stroemenden fluessigkeiten
JPH0827212B2 (ja) 1987-11-09 1996-03-21 大塚電子株式会社 分光器
US4848904A (en) 1988-02-16 1989-07-18 Applied Biosystems Inc. Dual beam multichannel spectrophotometer with a unique logarithmic data converter
DE3912032C1 (ko) 1989-04-12 1990-09-13 Messerschmitt-Boelkow-Blohm Gmbh, 8012 Ottobrunn, De
US5134276A (en) 1990-10-09 1992-07-28 International Business Machines Corporation Noise cancelling circuitry for optical systems with signal dividing and combining means
US5434412A (en) 1992-07-15 1995-07-18 Myron J. Block Non-spectrophotometric measurement of analyte concentrations and optical properties of objects
CA2142332A1 (en) 1992-08-13 1994-03-03 Meinrad Machler Spectroscopic systems for the analysis of small and very small quantities of substances
US5376783A (en) 1992-09-16 1994-12-27 Ophir Optronics Ltd. Power meter with background subtraction
US5840978A (en) 1993-03-05 1998-11-24 Air Products And Chemicals, Inc. Process for preparing ethylidene bisformamide
US5540825A (en) 1993-08-02 1996-07-30 Iowa State University Research Foundation, Inc. Noise suppressing capillary separation system
GB9324596D0 (en) 1993-11-30 1994-01-19 Oxford Analytical Instr Ltd Variable temperature nmr probe
US6207369B1 (en) 1995-03-10 2001-03-27 Meso Scale Technologies, Llc Multi-array, multi-specific electrochemiluminescence testing
FR2738355B1 (fr) 1995-08-28 1997-10-31 Aerospatiale Piege a lumiere
US5921285A (en) * 1995-09-28 1999-07-13 Fiberspar Spoolable Products, Inc. Composite spoolable tube
JP3435931B2 (ja) * 1995-09-29 2003-08-11 株式会社島津製作所 原子吸光分光光度計
US5983709A (en) 1995-10-30 1999-11-16 O'keeffe; Michael G. Device and method for measuring, monitoring, and controlling fat and protein concentration in standardized milk
US5628891A (en) 1995-12-06 1997-05-13 Aat Laboratories, Inc. Electrophoresis device
JPH09243419A (ja) * 1996-03-12 1997-09-19 Rion Co Ltd 液体試料の吸引装置
GB9618428D0 (en) 1996-09-04 1996-10-16 Polymer Lab Ltd ELSD diffuser
US5742200A (en) 1996-05-14 1998-04-21 Alliedsignal Inc. Environmentally rugged optical sensor with improved noise cancellation
WO1998012541A1 (en) 1996-09-16 1998-03-26 Varian Australia Pty. Ltd. Improved spectrophotometer
DK173073B1 (da) 1996-11-01 1999-12-20 Foss Electric As Fremgangsmåde og flowsystem til spektrometri og en kuvette til flowsystemet
US5745243A (en) 1996-11-15 1998-04-28 Optical Solutions, Inc. Photometer apparatus
GB9702360D0 (en) 1997-02-05 1997-03-26 Brocklebank Ed J Bike alight
US6040914A (en) 1997-06-10 2000-03-21 New Focus, Inc. Simple, low cost, laser absorption sensor system
US6717179B1 (en) * 1997-08-19 2004-04-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and semiconductor display device
US6362880B1 (en) * 1997-09-17 2002-03-26 Alltech Associates, Inc. Low temperature adaptor for evaporative light detection
US6004639A (en) * 1997-10-10 1999-12-21 Fiberspar Spoolable Products, Inc. Composite spoolable tube with sensor
US5938932A (en) 1997-11-14 1999-08-17 Pharmacopeia, Inc. High-throughput method and apparatus for identifying, quantitating and determining the purity of chemical compounds in mixtures
FR2773398A1 (fr) 1997-12-22 1999-07-02 Sedere Sa Procede de separation et d'analyse directe et simultanee de cations et d'anions faiblement volatils contenus dans un echantillon
US6097034A (en) 1998-02-12 2000-08-01 Instrumentarium Oy Radiation source assembly and transducer for analyzing gases or other substances
US6406632B1 (en) 1998-04-03 2002-06-18 Symyx Technologies, Inc. Rapid characterization of polymers
US6175409B1 (en) 1999-04-02 2001-01-16 Symyx Technologies, Inc. Flow-injection analysis and variable-flow light-scattering methods and apparatus for characterizing polymers
US6866786B2 (en) 1998-04-03 2005-03-15 Symyx Technologies, Inc. Rapid characterization of polymers
US6260407B1 (en) 1998-04-03 2001-07-17 Symyx Technologies, Inc. High-temperature characterization of polymers
US6249348B1 (en) 1998-11-23 2001-06-19 Lj Laboratories, L.L.C. Integrated spectrometer assembly and methods
JP3753873B2 (ja) 1998-11-11 2006-03-08 株式会社島津製作所 分光光度計
US6077438A (en) 1998-12-22 2000-06-20 Combichem, Inc. Automated on-line evaporation light scattering detection to quantify isolated fluid sample compounds in microtiter plate format
US6243170B1 (en) 1999-02-04 2001-06-05 Cymer, Inc. Double pass etalon spectrometer
US6855258B2 (en) 1999-04-02 2005-02-15 Symyx Technologies, Inc. Methods for characterization of polymers using multi-dimensional liquid chromatography with parallel second-dimension sampling
US6091494A (en) 1999-05-25 2000-07-18 Venturedyne, Ltd. Particle sensor with cooled light trap and related method
US6595049B1 (en) 1999-06-18 2003-07-22 Mks Instruments, Inc. Thermal mass flow sensor with improved sensitivity and response time
US6511850B1 (en) 1999-07-13 2003-01-28 The Texas A&M University System Pneumatic nebulizing interface to convert an analyte-containing fluid stream into an aerosol, method for using same and instruments including same
US6106710A (en) 1999-09-10 2000-08-22 Agilent Technologies, Inc. Fraction collection delay calibration for liquid chromatography
US6497631B1 (en) * 1999-09-15 2002-12-24 Wilson Sporting Goods Co. Ball bat
US6809819B1 (en) 1999-09-27 2004-10-26 Monsanto Technology Llc Methods for determining oil in seeds
US6229605B1 (en) 2000-03-10 2001-05-08 Alltech Associates, Inc. Evaporative light scattering device
US6767467B2 (en) 2000-07-06 2004-07-27 Agilent Technologies, Inc. Fraction collection delay calibration for liquid chromatography
JP3642730B2 (ja) 2000-11-29 2005-04-27 株式会社荏原製作所 めっき装置及びめっき液組成の管理方法
US6411383B1 (en) 2000-12-22 2002-06-25 Wyatt Technology Corporation Method for measuring the 2nd virial coefficient
AU2002326291A1 (en) 2001-02-28 2003-01-02 Hiroshi Deguchi Plasma glucosylceramide deficiency as risk factor for thrombosis and modulator of anticoagulant protein c
US7118917B2 (en) * 2001-03-07 2006-10-10 Symyx Technologies, Inc. Parallel flow reactor having improved thermal control
US20030086092A1 (en) 2001-07-11 2003-05-08 Henry Gangloff Method of controlling an evaporative light scattering detector
WO2003021251A1 (en) 2001-08-28 2003-03-13 Symyx Technologies, Inc. Methods for characterization of polymers using multi-dimentional liquid chromatography
US20030066803A1 (en) 2001-10-05 2003-04-10 Wright Adrian Geoffrey Analytical instrument calibration and data correction
US6717665B2 (en) * 2002-03-13 2004-04-06 Rudolph Research Analytical Polarimeter
JP2005530132A (ja) 2002-03-18 2005-10-06 イーエスエイ，インク． 製薬的発見および開発の改良
US6741348B2 (en) 2002-04-29 2004-05-25 The Curators Of The University Of Missouri Ultrasensitive spectrophotometer
US6758568B2 (en) 2002-05-10 2004-07-06 The Boeing Company Light trap and associated light focusing assembly
US6908557B2 (en) 2002-06-25 2005-06-21 Thar Technologies, Inc. Collection system for chromatographic system
US6865810B2 (en) * 2002-06-27 2005-03-15 Scimed Life Systems, Inc. Methods of making medical devices
JP2004031185A (ja) 2002-06-27 2004-01-29 Yazaki Corp 薄型スイッチ
JP3849601B2 (ja) 2002-07-12 2006-11-22 株式会社島津製作所 分取液体クロマトグラフ装置
US6651009B1 (en) 2002-07-24 2003-11-18 Wyatt Technology Corporation Method for determining average solution properties of macromolecules by the injection method
FR2851045B1 (fr) 2003-02-12 2005-04-15 Sedere Sa Procede de pilotage d'un detecteur evaporatif a diffusion de lumiere couple a une colonne de chromatographie en phase liquide
GB0304253D0 (en) 2003-02-25 2003-03-26 Polymer Lab Ltd Apparatus
US20040214341A1 (en) 2003-04-25 2004-10-28 Fedorova Galina V. Analytical method for the detection and quantitation of fuel additives
US20050240385A1 (en) 2004-04-22 2005-10-27 Waters Investments Limited System and method for determining radius of gyration, molecular weight, and intrinsic viscosity of a polymeric distribution using gel permeation chromatography and light scattering detection
WO2005116628A1 (en) 2004-05-25 2005-12-08 Irm Llc Single-pass compound purification and analysis
US20060093769A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Ghislain Biebuyck Multilayer tube assembly and methods for forming and using the same
JP5468206B2 (ja) 2005-01-18 2014-04-09 ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン 蒸発光散乱検出器
US7543895B2 (en) * 2006-12-14 2009-06-09 Burkett Jerald S Metal-sheathed composite vehicle axle

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