KR20080061278A

KR20080061278A - 데이터 기록 평가 방법 및 광 디스크 기록 재생 장치

Info

Publication number: KR20080061278A
Application number: KR1020070129169A
Authority: KR
Inventors: 히로야 카키모토; 후유키 미야자와; 미쯔오 세키구치; 카츠히로 오야마
Original assignee: 다이요 유덴 가부시키가이샤
Priority date: 2006-12-27
Filing date: 2007-12-12
Publication date: 2008-07-02
Also published as: EP1942498A2; US20080205221A1; TWI413115B; EP1942498A3; JP4523583B2; TW200837727A; US7965600B2; KR100951629B1; JP2008165863A; CN101211587A; CN101211587B

Abstract

본 발명의 과제는 신규의 평가 지표를 도입하여 데이터 기록을 종합적으로도 개별 검출 패턴에 대해서도 평가할 수 있도록 하는 것이다.

상기 과제를 해결하기 위한 수단으로, 본 발명에 따른 데이터 기록 평가 방법은, 광 디스크에 데이터 기록을 수행한 결과의 소정 기간을 재생하고, 재생신호에서 미리 정해진 검출 패턴을 특정하는 스텝과, 미리 정해진 검출 패턴에 대응하는 재생 신호의 신호 상태를 검출하는 스텝과, 검출된 상기 신호 상태와 미리 정해진 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태에 의거한 제1 평가 지표치를 산출하는 제1 산출 스텝을 포함한다. 또한, 상기에 기술된 미리 정해진 검출 패턴이 복수인 경우, 미리 정해진 검출 패턴의 각각에 대한 제1 평가 지표치를 이용하여 제2 기록 상태 평가 지표치를 산출하는 제2 산출 스텝을 더 포함한다. 제1 및 제2 기록 상태 평가 지표치를 통해 데이터 기록을 적절하게 평가할 수 있다.

광 디스크, 데이터, 기록, 평가, 검출 패턴

Description

데이터 기록 평가 방법 및 광 디스크 기록 재생 장치 {DATA RECORD EVALUATION METHOD AND OPTICAL DISC RECORD PLAYBACK APPARATUS}

본 발명은 광 디스크에 대한 데이터 기록 평가를 위한 기술에 관한 것이다.

추기형 블루 레이 디스크(BD-R라고 한다) 또는 추기형 HD-DVD 디스크(HD-DVD-R라고 한다) 등의 광 디스크(광 디스크라고 한다)는 광 투과성 디스크형 기판의 일측면 위에 기록층, 반사층 및 필요에 따라 보호층을 형성한 구조를 가지고 있다. 또한, 기록층이나 반사층이 형성되어 있는 상기 기판의 일측 면에는 그루브라 불리우는 나선형 또는 동심원형 홈이 형성되어 있고, 이웃하는 그루브 사이에는 랜드라 불리우는 볼록부가 형성되어 있다. 이와 같은 광 디스크에 광 디스크 기록 재생 장치를 통해 기록용 레이저광을 홈을 따라 트래킹시키며 그루브상의 기록층에 조사하여 피트를 형성함으로써 기록이 수행된다. 이 피트의 길이(nT)(기준 채널 클럭간의 비트 길이를 T라고 하고, n 정수배의 길이를 nT라고 한다), 그리고 피트와 피트 사이의 부분(이하 스페이스라 한다)의 길이(nT) 및 이들 배열에 재생용 레이저광을 조사하고 반사광을 재생 신호로 변환함으로써 재생이 수행된다.

이와 같은 기록이나 재생을 수행하는 광 디스크 기록 재생 장치는, 예를 들 면 드라이브, 광 디스크(미디어라고도 한다), 기록 속도 등에 기인하여 개별 광 디스크에 기록할 때마다 서로 다른 기록 조건으로 대응할 수 있도록 설계되어 있다. 이들 기록 조건에 맞게 대응하기 위하여 상기 기록 재생 장치에서는 레이저광 강도(이하, 기록 파워라고 한다)를 최적으로 설정하는 방법을 취하고 있다. 그 방법으로는, OPC(Optimal Power Calibration)를 하나의 선택 수단으로 하는 장치가 있다. 이 OPC에서는 데이터 기록에 앞서 기록 디스크 내의 테스트 에리어(Power Calibration Area)에 기록 파워를 변화시켜 테스트 기록을 수행한다. 다음에는, 이 테스트 기록 결과중 기록 품질이 양호한 최적 기록 파워를 미리 등록되어 있는 초기 조건과 비교하여 선택 설정한다. 설정된 최적 기록 파워의 기록용 레이저광으로 광 디스크의 데이터 기록 영역에 기록을 수행한다. 이어서, 기록 파워 조건을 변경하였을 때의 기록 재생 신호의 변화로부터 기록 상태를 나타내는 파라미터인 기록 파형을 재생한 파형으로부터 여러 평가 지표를 산출하고, 이 값이 목표치 또는 그에 가까운 값이 되도록 최적 기록 파워로 결정하여 최적 기록 보정하는 방법을 채용하고 있다.

그러한 방법으로는 여러 가지가 존재하는데, PRML(Partial Response Maximum Likelihood) 신호 처리 방식의 기술을 사용한 예를 포함하여 간단하게 설명한다. 이 PRML 신호 처리 방식은 무왜곡 조건을 실현하기 위하여 주파수 리스폰스에 대한 부호간 간섭이 남아있는 불완전한 주파수 리스폰스를 처리하고, 최우복호(最尤複號) 기술과 조합하여 부호간 간섭을 제거하여 신호 품질의 저하를 커버하는 것이다.

예를 들면, 일본 특개2004-335079호 공보에는 최우복호법으로 최적 기록 파라미터를 설정하기 위한 기술이 개시되어 있다. 구체적으로는, 기록 마크 에지의 시종단 부분에 상당하며 또한 최우복호법에서 에러의 발생 확률이 높은 부분의 최우복호 결과의 신뢰성값 │Pa-Pb│-Pstd의 연산을 미리 정해진 마크 길이와 직전 스페이스 길이의 조합과, 마크 길이와 직후 스페이스 길이의 조합마다 수행하며, 그 연산 결과로부터 에지 시프트 위치를 최적화하는 기록 파라미터를 구하고, 구한 기록 파라미터를 반영하여 기록을 수행하는 것이다.

또한, 일본 특개2003-303417호 공보에는 고밀도 기록에서도 노이즈의 영향을 받지 않으며, 양호한 정밀도로 기록 스트래티지의 최적화를 수행하기 위한 기술이 개시되어 있다. 구체적으로는, 기록 데이터에 고주파 펄스를 중첩한 기록 펄스 신호를 광 기록 매체상에 기록 재생하여 얻어진 재생 파형과, 기록 데이터와 펄스 응답을 반영하여 연산한 파형과의 차이가 최소가 되도록 펄스 응답을 정함으로써, 기록 스트래티지를 최적화한다. 이때, 동일 기록 펄스 파형을 광 기록 매체의 동일 트랙에 3번 이상 기록하고, 재생된 재생 파형의 샘플링값을 샘플링 순서마다 평균화한 값을 재생 파형의 데이터로 이용한다. 평균화한 데이터를 이용하기 때문에 재생 파형으로의 랜덤 노이즈 영향을 제거할 수 있는 것이다.

나아가, 일본 특개2003-151219호 공보에는 재생 신호의 품질 평가에 관한 기술이 개시되어 있다. 구체적으로는, 미리 정해진 재생 신호, 이 재생 신호의 신호 파형 패턴에 대응하는 제1 패턴 및 이 제1 패턴 이외의 재생 신호의 신호 파형 패턴에 대응하는 임의의 패턴(제2 또는 제3 패턴)이 이용된다. 먼저, 재생 신호와 제 1 패턴 사이의 거리(Eo)와, 재생 신호와 임의의 패턴 사이의 거리(Ee)간의 거리차(D=Ee-Eo)를 구한다. 다음에는, 복수의 재생 신호 샘플에 대한 거리차(D)의 분포를 구한다. 다음에는, 구한 거리차(D)의 평균(M)과 구한 거리차(D) 분포의 표준 편차(σ)와의 비율에 의거하여 재생 신호의 품질 평가 파라미터(M/σ)를 정한다. 그리고, 품질 평가 파라미터로 나타내어지는 평가 지표치(Mgn)로 재생 신호의 품질을 판단한다.

또한, 일본 특개2003-141823호 공보에는 최우복호를 이용하여 얻어진 2치화 결과의 오차율을 적절히 예상할 수 있는 지표에 의거하여 신호 품질을 평가하는 기술이 개시되어 있다. 구체적으로는, 시각 k(k는 임의의 정수)에서 복수의 상태를 가지고, 시각 k-j(j는 2 이상의 정수)에서의 상태로부터 시각 k에서의 상태에 이르기까지 n(n은 2 이상의 정수)가지의 상태 천이열을 취할 수 있는 상태 천이 법칙을 가지며, n가지의 상태 천이열중 가장 확실한 상태 천이열을 추정하는 최우복호 방식에 있어서, n가지의 상태 천이열중 가장 확실한 상태 천이열의 시각 k-j에서의 상태로부터 시각 k에서의 상태에 이르기까지의 상태 천이의 확실함을 PA로 하고, 2번째로 확실한 상태 천이열의 시각 k-j에서의 상태로부터 시각 k까지의 상태에 이르기까지의 상태 천이의 확실함을 PB로 하며, 시각 k-j로부터 시각 k까지의 복호 결과의 신뢰성을 ｜PA-PB｜로 하면, 미리 정해진 시간 혹은 미리 정해진 횟수, ｜PA-PB｜의 값을 구하고, 그 분산을 구하는 것으로 최우복호의 2치화 결과의 오차율과 상관이 있는 신호 품질을 나타내는 지표가 얻어진다.

나아가, 일본 특개2002-197660호 공보에는 고밀도 기록된 정보에 비타비 검 출기를 이용하여 재생을 수행하는 경우에 채널에 적합한 기록 상태를 검출할 수 있는 기록 상태 검출 기술이 개시되어 있다. 구체적으로는, 디스크 장치로부터 판독된 재생 신호는 대역 제한 필터 및 등화기를 통해 특정 채널 특성이 되도록 보정된 후, PLL 회로에 의해 생성된 동기 클럭의 타이밍으로 A/D 변환기에 의해 디지털 신호 x_i로서 판독된다. x_i는 비타비 검출기에 입력되고, 비타비 검출 출력 신호를 얻는다. 비타비 검출 출력은 기준 레벨 판정기와 오차 산출 회로에 입력된다. 오차 산출 회로는 디지털 신호 x_i와 비타비 검출 출력과의 차이 E_i를 산출하여 기록 상태 검출 회로로 출력한다. 기록 상태 검출 회로는 기준 레벨 판정기의 출력을 이용하여 진폭 또는 진폭 레벨과의 비대칭을 검출하여 검출 정보를 출력한다.

[특허문헌 1] 일본 특개2004-335079호 공보

[특허문헌 2] 일본 특개2003-303417호 공보

[특허문헌 3] 일본 특개2003-151219호 공보

[특허문헌 4] 일본 특개2003-141823호 공보

[특허문헌 5] 일본 특개2002-197660호 공보

상술한 바와 같이 데이터 기록을 평가하는 기술은 여러 가지가 존재하지만, 모두 데이터 기록 전체에 대한 평가와 개별 기록 패턴에 대한 데이터 기록 평가가 적절하게 관련지어져 있는 것은 아니었다.

이에 본 발명의 목적은 신규의 평가 지표를 도입하여 데이터 기록을 종합적으로 평가하기 위한 기술을 제공하는 것이다.

또한, 본 발명의 다른 목적은 신규의 평가 지표를 도입하여 개별 기록 패턴에 대한 평가를 적절히 수행할 수 있도록 하기 위한 기술을 제공하는 것이다.

나아가, 본 발명의 다른 목적은 데이터 기록의 종합적인 평가와 개별 기록 패턴의 데이터 기록 평가를 적절하게 관련지을 수 있도록 하기 위한 기술을 제공하는 것이다.

나아가, 본 발명의 다른 목적은 데이터 기록의 평가에 의거하여 기록 조건 또는 기록 파라미터를 적절하게 조정하기 위한 기술을 제공하는 것이다.

본 발명에 관한 데이터 기록 평가 방법은, 광 디스크에 데이터 기록을 수행한 결과의 소정 기간을 재생하고, 상기 재생에 의거한 재생 신호를 검출하는 스텝과, 검출된 상기 재생 신호로부터 미리 정해진 부호를 포함하는 검출 패턴을 특정하는 스텝과, 상기 검출 패턴에 대응하는 상기 재생 신호의 신호 상태를 검출하는 스텝과, 검출된 상기 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태에 의거 한 제1 평가 지표치를 산출하는 제1 산출 스텝을 포함하는 것이다.

이와 같이 제1 평가 지표치를 산출함으로써, 미리 정해진 검출 패턴에 대하여 기준 상태와의 관계에 있어서 적절한 데이터 기록이 수행되어 있는지 판단할 수 있게 된다. 즉, 개별 기록 패턴에 대한 평가를 적절하게 판단할 수 있게 된다.

또한, 상술한 미리 정해진 검출 패턴이 복수인 경우, 미리 정해진 검출 패턴의 각각에 대한 제1 평가 지표치를 이용하여 제2 평가 지표치를 산출하는 제2 산출 스텝을 더 포함하여도 된다. 이와 같이 제2 평가 지표치를 산출함으로써, 여러 가지 기록 패턴에 대하여 종합하여 데이터 기록을 평가할 수 있게 된다.

나아가, 제2 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록의 기록 조건을 변경하는 제1 변경 스텝을 더 포함하여도 된다. 제2 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록의 기록 조건을 종합적인 형태로 적절하게 조정할 수 있게 된다.

또한, 상술한 제2 산출 스텝이 미리 정해진 검출 패턴의 출현 확률과 이 출현 확률과 일치하는 검출 패턴마다의 제1 평가 지표치와의 곱의 복수를 총합하여 산출하는 스텝을 더 포함하여도 된다. 보다 많이 출현하는 검출 패턴에 대해서는 가중치를 부여하여 데이터 기록에의 영향을 종합적으로 제2 평가 지표치에 반영하기 위해서이다.

나아가, 본 발명에 있어서, 상기 제2 평가 지표치가 미리 정해진 역치를 넘는지 여부를 판단하는 스텝과, 상기 제2 평가 지표치가 상기 미리 정해진 역치를 넘은 경우에 상기 제2 평가 지표치에 일정 레벨 이상(예를 들면, 소정치 이상의 것 또는 상위 소정 개수)의 영향을 미치는 상기 검출 패턴을 대응하는 상기 제1 기록 상태 평가 지표치에 의거하여 특정하는 스텝을 더 포함하여도 된다. 이에 따라 문제가 되는 기록 패턴을 특정할 수 있다.

또한, 본 발명에 있어서, 특정된 상기 검출 패턴에 대한 제1 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록에 이용되는 기록 파라미터를 변경하는 제2 변경 스텝을 더 포함하여도 된다. 이에 따라, 효과적으로 기록 파라미터의 조정을 수행할 수 있게 된다.

또한, 상기에서 기술된 검출 패턴이 적어도 하나의 마크와 스페이스로 이루어진 패턴인 경우도 있다.

나아가, 상기 미리 정해진 검출 패턴이 출현 빈도가 일정치 이상의 검출 패턴인 경우도 있다. 출현 빈도가 너무 낮은 경우에는 처리 부하를 삭감하기 위하여 처리 대상에서 제외시키는 것이다.

또한, 상술한 제1 변경 스텝이 기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 제2 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터로부터 제2 평가 지표치가 최적치가 되는 경우의 기록 조건을 특정하는 스텝을 포함하여도 된다. 예를 들면, 데이터 기록 개시 이전에 데이터 기록시에 가장 바람직한 기록 조건을 특정할 수 있게 된다.

나아가, 상술한 제1 변경 스텝이 기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 제2 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터와 현재의 제2 평가 지표치를 이용하여 현재의 기록 조건 보정량을 산출하는 스텝을 포함하여도 된다. 이와 같이, 데이터 기록시 에 기록 조건을 조정할 때에도 제2 평가 지표치를 이용할 수 있다.

또한, 기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 제2 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터가 테스트 기록시에 얻어지는 데이터인 경우도 있다. 테스트 기록시라면 기록 조건을 변화시켜 각 케이스에 대한 제2 평가 지표치를 산출할 수 있기 때문이다.

나아가, 상술한 제2 변경 스텝이 기록 파라미터와 이 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터로부터 제1 평가 지표치가 최적치가 되는 경우의 상기 기록 파라미터를 특정하는 스텝을 포함하여도 된다.

또한, 상술한 제2 변경 스텝이 기록 파라미터와 이 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터와 현재의 제1 평가 지표치를 이용하여 현재의 기록 파라미터 보정량을 산출하는 스텝을 포함하여도 된다.

나아가, 기록 파라미터와 이 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터가 테스트 기록시에 얻어지는 데이터인 경우도 있다.

또한, 상술한 제1 산출 스텝이 검출된 상기 신호 상태와 미리 정해진 검출 패턴으로부터 특정되는 기준 상태와의 차이의 크기를 산출하는 스텝을 포함하여도 된다. 이에 따라, PRML 신호 처리 방식을 이용하는 고밀도 기록 재생용 광 디스크 기록 재생 시스템(Blu-ray 규격 또는 HD-DVD 규격에 준거한 시스템)에의 대응도 충분히 할 수 있게 된다.

본 발명에 이용하는 고밀도 기록 재생용 광 디스크 기록 재생 시스템(광 디스크 기록 재생 장치라 한다)은, 광 디스크에 대한 데이터 기록 결과의 미리 정한 소정 기간을 재생하고, 재생 신호에서 미리 정해진 검출 패턴을 특정하는 수단과, 상기 검출 패턴에 대응하는 재생 신호의 신호 상태를 검출하는 수단과, 검출된 상기 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태에 의거한 제1 평가 지표치를 산출하는 수단을 갖는다.

또한, 상술한 미리 정해진 검출 패턴이 복수인 경우에는 상기 검출 패턴의 각각에 대한 제1 평가 지표치를 이용하여 제2 평가 지표치를 산출하는 제2 산출 수단을 더 갖도록 해도 된다.

나아가, 본 발명에 따른 광 디스크 기록 재생 장치는, 제2 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록의 기록 조건을 변경하는 제1 변경 수단을 더 갖도록 해도 된다.

또한, 상기에 기술한 제2 산출 수단이 미리 정해진 검출 패턴의 출현 확률과 제1 평가 지표치와의 곱의 복수를 총합하여 산출하도록 해도 된다.

나아가 본 발명에 따른 광 디스크 기록 재생 장치가, 제2 평가 지표치가 미리 정해진 역치를 넘는지 여부를 판단하는 수단과, 제2 평가 지표치가 미리 정해진 역치를 넘는 경우에 제2 평가 지표치에 미리 정해진 일정 레벨 이상 영향을 미치는 상기 검출 패턴을 대응하는 제1 평가 지표치에 의거하여 특정하는 수단을 더 갖도 록 해도 된다.

또한, 본 발명에 따른 광 디스크 기록 재생 장치가, 특정된 상기 검출 패턴에 대한 제1 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록에 이용되는 기록 파라미터를 변경하는 제2 변경 수단을 더 갖도록 해도 된다.

본 발명에 따른 제1 광 정보 기록 매체에는, 재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 재생 신호의 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와, 상기 검출 패턴의 출현 확률과의 곱의 복수를 총합하여 산출되는 제2 평가 지표치의 역치가 기록되어 있다.

본 발명에 따른 제2 광 정보 기록 매체에는, 재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 상기 재생 신호의 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와, 상기 검출 패턴의 출현 확률과의 곱의 복수를 총합하여 산출되는 제2 평가 지표치와, 상기 제2 평가 지표치를 산출하는 근원이 되는 데이터 기록의 기록 조건과의 관계를 나타내는 데이터가 기록되어 있다.

본 발명에 따른 제3 광 정보 기록 매체에는, 재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 상기 재생 신호의 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와, 이 제1 평가 지표치를 산출하는 근원이 되는 데이터 기록의 기록 파라미터와의 관계를 나타내는 데이터가 기록되어 있다.

본 발명의 데이터 기록 평가 방법을 프로세서에서 실행시키기 위한 프로그램 을 작성할 수 있으며, 상기 프로그램은 예를 들면 플렉시블 디스크, CD-ROM 등의 광 디스크, 광 자기 디스크, 반도체 메모리, 하드디스크 등의 기억 매체 또는 기억 장치 혹은 프로세서의 불휘발성 메모리에 저장된다. 또한, 네크워크를 통해 디지털 신호로 분포되어 있는 경우도 있다. 또한, 처리중인 데이터는 프로세서의 메모리 등의 기억 장치에 일시 보관된다.

본 발명에 따르면, 신규의 평가 지표를 도입하여 데이터 기록을 종합적으로 평가할 수 있다.

또한, 본 발명의 다른 측면에 따르면, 신규의 평가 지표를 도입하여 개별 기록 패턴에 대한 평가를 적절하게 수행할 수 있다.

나아가, 본 발명의 다른 측면에 따르면, 데이터 기록의 종합적인 평가와 개별 기록 패턴에 대한 데이터 기록 평가를 적절하게 관련지을 수 있다.

나아가, 본 발명의 다른 측면에 따르면, 데이터 기록의 평가에 의거하여 기록 조건 또는 기록 파라미터를 적절하게 조정할 수 있다.

[발명의 원리]

(1) 패턴별 PRerror

미리 정해진 검출 패턴으로, 예를 들면 4T 마크(4T 길이의 마크로, 이 마크를 피트라고도 한다)의 양측에 3T 스페이스(3T 길이의 스페이스로, 이 스페이스를 랜드라고도 한다)가 인접한 패턴을 포함하여 판독하는 경우의 진폭 레벨을 도 1에 도시하였다. 도 1에서 종축은 진폭 레벨을 나타내고, 횡축은 인접한 3T 스페이스의 영향을 받는 4T 마크의 주행 방향의 위치 정보의 데이터 샘플을 나타낸 것이다. 4T 마크의 중앙 위치로부터 멀어짐에 따라 인접 스페이스의 영향이 커진다. 상술한 바와 같은 패턴에서 이상적인 검출 신호(이상 신호), 즉 기준 상태는 Blu-ray 규격에 사용되는 PR(1, 2, 2, 1)을 이용하는 경우에 예를 들면 마크의 길이를 마크 부분에서의 반사광 양이 스페이스 부분의 반사광 양보다 커지는 미디어 조건에서의 예, 즉 'Low to High'의 조건에서 프로파일치(1, 3, 5, 6, 5, 3, 1)로부터 얻어지는 이상 신호를 진폭 레벨로 변환하여 플롯한 값이다. 이에 반하여 실제 검출 신호는 4T 마크의 중앙 위치의 진폭 레벨이 피크치가 되지만, 이 중앙 위치로부터 멀어지는 위치에서는 인접 스페이스의 영향을 받아 진폭 레벨의 값이 이상 신호치와 동일한 비율로 변환되어 플롯되어 있다. 이들 값은 도 1에 도시된 바와 같이 하드, 미디어(디스크라고도 부른다), 기록 조건에 따라 기준 상태와 괴리가 생긴다. 이에, 수학식1을 이용하여 이상 신호와 검출 신호의 괴리량을 정량화하여(제1 평가 지표치) 기록 상태의 평가를 수행한다(제1 산출 스텝).

여기서, D(x)는 검출 신호의 값, R(x)는 이상 신호의 값, x는 데이터 프로파일 번호, a는 연산 개시 데이터 번호, n은 연산 데이터 샘플 수[개], p는 기록 패턴 종별(번호)을 나타낸다.

또한, 상술의 설명은 Blu-ray 규격의 PR(1, 2, 2, 1)로 설명하였으나, HD-DVD 규격에 이용되는 PR(1, 2, 2, 2, 1) 등에 이용하여도 된다. 또한, 여기에 나타낸 예와 다른 마크 부분에서의 반사광 양이 스페이스부의 반사광 양보다 작아지는 미디어 조건, 즉 'High to Low'의 조건이어도 된다. 아울러, 상기에 기술한 패턴은 일예로, 다른 패턴에 대해서도 수학식1로 평가할 수 있다. 예를 들면, 2T 스페이스 또는 마크, 2T 마크 또는 스페이스, 2T 스페이스 또는 마크의 세트 부호 패턴(세트 기록 패턴이라고도 한다), 2T 스페이스 또는 마크, 3T 마크 또는 스페이스, 2T 스페이스 또는 마크의 세트 기록 패턴, 2T 스페이스 또는 마크, 4T 마크 또는 스페이스, 2T 스페이스 또는 마크의 세트 기록 패턴, 3T 스페이스 또는 마크, 2T 마크 또는 스페이스, 3T 스페이스 또는 마크의 세트 기록 패턴, 4T 스페이스 또는 마크, 2T 마크 또는 스페이스, 4T 스페이스 또는 마크의 세트 기록 패턴, 4T 스페이스 또는 마크, 3T 마크 또는 스페이스, 4T 스페이스 또는 마크의 세트 기록 패턴 등을 채용하고 있으면, 오차 없이 본 발명의 목적을 달성할 수 있다.

예를 들면, a=1 또한 n=7이고, 피크치를 중심으로 한 7점을 이용하여 제1 평가 지표치가 되는 PRerror_ptn(p)을 산출하는데, a=3 또한 n=3과 같이 피크치를 중심으로 하는 3점을 통해 PRerror_ptn(p)를 산출하여도 된다. 또한, p는 세트 기록 패턴을 특정하기 위해 할당한 번호로서, 그 수는 평가에 필요한 세트 기록 패턴 수이며, 세트 기록 패턴의 단위 구성을 몇 개의 부호의 나열로 정의하는지에 따라 달라진다. 여기서 주의할 것은 상기의 산출에 있어서, 도 1의 예에서는 스페이스_마크_스페이스와 동시에 마크_스페이스_마크를 하나의 세트 기록 패턴으로 반영시킬 필요가 있다. 즉, 같은 nT의 세트 기록 패턴에서는 마크도 스페이스도 동시에 반영하는 고려가 보다 바람직한 결과를 얻을 수 있다. 이상에서는 3개의 nT 세트 기록 패턴으로 설명하였으나, 2개의 세트 기록 패턴, 4개의 세트 기록 패턴, 5개의 세트 기록 패턴이어도 에러에 영향이 있는 출현 확률의 세트 기록 패턴이라면 본 발명의 목적을 달성할 수 있다.

나아가, 수학식1에서는 기록 패턴(p)을 1번 검출하였을 때의 연산을 나타내고 있지만, 실제로는 기록 또는 검출 분산의 영향을 고려하여 여러 개{cnt(p)}의 값의 평균치를 얻는 것이 바람직하다. cnt(p)는 소정 길이의 샘플 데이터 중에서 얻은 세트 기록 패턴(p)의 검출 카운트 수이며, 최종적인 PRerror_ptn(p)의 값의 도출에는 검출마다 산출되는 PRerror_ptn(p)를 PRerror_ptn{p, cnt(p)}로서 메모리에 기록하고, 그것을 평균화한 것을 이용하는 것이 바람직하다.

(2) 종합 평가 지표 PRerror_ttl

다음에는 상기에서 기술한 PRerror_ptn(p)를 이용하여 재생 신호를 종합적으로 평가하는 방법에 대하여 설명한다.

미리 정한 데이터 범위 내에서의 세트 기록 패턴(p)의 출현 빈도는 각각 다르며, 기록 특성에 대한 영향 정도도 각각 다르다. 즉, 출현 빈도가 높은 기록 패턴일수록 기록 특성에 영향을 미치기 쉽다. 따라서, 재생 신호의 기록 특성을 종합적으로 평가하는데 있어서, 세트 기록 패턴(p)의 특성치 PRerror_ptn(p)와, 미리 정한 데이터 범위에서의 기록 패턴(p)의 출현 확률(또는 출현 빈도)을 이용하여 재생 신호의 기록 특성을 종합적으로 정량화하는 제2 평가 지표치가 되는 PRerror_ttl을 산출하는 것이 바람직하다(제2 산출 스텝이라 한다). 구체적으로는, 이하의 식으로 PRerror_ttl을 산출한다.

도 2에 수많은 세트 기록 패턴과 그 출현 확률의 관계의 일예를 나타내었다. 도 2에서 종축은 전 기록 패턴을 100%로 한 경우의 출현 확률을 나타내고, 횡축은 3개의 세트 부호 [T]의 나열을 하나의 세트 기록 패턴으로 한 경우의 기록 패턴 종별을 나타낸 것이다. 이 횡축의 기호에 있어서, 2는 첫번째(전방) x를 나타내는 스페이스 또는 마크 부호, y 및 z는 각각 2번째(중앙) 마크 또는 스페이스 부호 y[T] 및 3번째(후방) 스페이스 또는 마크 부호 z[T]를 나타낸 것이며, y와 z의 값은 Blu-ray 규격에 채용된 1-7PP 변조 방식으로 나타내어지는 2 내지 8[T](동기 부호를 포함하는 경우에는 9[T])이고, 도 2에서 오른쪽으로 갈수록 그 값은 커지는 것으로 한다. 도 2에서 알 수 있듯이, 짧은 부호일수록 출현 확률이 높기 때문에 짧은 부호를 이용한 세트 기록 패턴일수록 출현 확률은 높아진다. 반대로, 긴 부호를 이용한 기록 패턴일수록 그 출현 확률은 낮다는 것을 알 수 있다. 이와 같이 짧은 부호인 마크나 스페이스가 반복 출현하면, 재생 신호의 진폭 레벨이 작아서 에러가 발생하기 쉽다는 것을 나타낸다. 이것이 본 발명에 출현 확률을 채용한 이유이다.

상술한 바와 같이, 출현 확률이 높다는 것은 그 기록 패턴의 기록 특성, 즉 PRerror_ptn(p) 식의 값의 대소가 기록 특성 전체에 미치는 영향이 크다고 할 수 있다. 반대로 생각하면, 출현 확률이 극단적으로 낮은 세트 기록 패턴에서는 그 기록 특성{상술한 PRerror-ptn(p)}의 값의 대소가 기록 특성 전체에 그다지 반영되지 않기 때문에 고려하지 않아도 된다고 할 수도 있다.

따라서, 도 2에 나타낸 바와 같이 미리 정해진 출현 확률을 규정치로 하고, 이 규정치 이상이 되는 기록 패턴만을 유효 패턴으로 하여 재생 신호의 기록 특성을 종합적으로 정량화하여도 된다. 이로 인해, 결과적으로 얻고 싶은 특성치(PRerror_ttl)의 정밀도를 유지하면서 이 특성치의 연산 부하를 저감시킬 수 있게 된다.

도 3에는 상기 출현 확률의 규정치를 변화시킨 경우에 있어서 미리 정해진 측정 범위 내의 전 기록 패턴의 총 수에서의 유효 패턴의 총 수의 비율(패턴 유효율)의 변화와, 그 때의 PRerror_ttl의 변화의 각 값을 플롯하여 그 관계를 나타내었다. 도 3에서 좌측의 종축은 PRerror_ttl의 값을 나타내고, 우측의 종축은 패턴 유효율을 나타내며, 횡축은 유효 패턴의 규정치(역치)를 나타낸다.

도 3으로부터 미리 정해진 규정치에서 출현 확률이 낮은 기록 패턴을 특성치 PRerror_ttl의 산출에 이용하지 않는 경우에도 PRerror_ttl의 정밀도를 확보 가능한 규정치의 설정이 가능하다는 것을 확인할 수 있다. 즉, 도 3의 검증 결과에서는 미리 정해진 규정치를 0.3%로 하여도 PRerror_ttl이 거의 변화하지 않는다. 그리고, 유효 패턴율이 약 70%이므로, 약 30%의 연산 부하를 저감시킬 수 있다.

이와 같이 전 기록 패턴에 대하여 PRerror_ptn(p)를 산출하지 않고, 예를 들면 출현 확률이 0.3% 이상인 기록 패턴에 대하여 PRerror_ptn(p)를 산출함으로써, 정밀도를 확보하면서도 종합적인 평가 지표 PRerror_ttl을 산출할 수도 있다.

다음에는 연속적으로 기록 파워를 변화시킨 경우의 PRerror_ttl의 변화를 현행 평가 지표인 DC 지터(DCJ라고도 한다) 및 심볼 에러 레이트(SER이라고도 한다)와 비교하여 도 4 및 도 5에 나타내었다. 도 4에서 좌측의 종축은 DCJ[%]를 나타내고, 우측의 종축은 PRerror_ttl을 나타내며, 횡축은 기록 파워〔㎽〕를 나타낸다. 도 5에서 좌측의 종축은 SER을 나타내고, 우측의 종축은 PRerror-ttl을 나타내며, 횡축은 기록 파워〔㎽〕를 나타낸다.

도 4 및 도 5에서 본 평가치 PRerror_ttl은 현행의 평가 지표(DCJ 및 SER)와 상관이 높은 지표인 것을 알 수 있다. 따라서, 이 평가치 PRerror_ttl의 변화에 따라 기록 조건을 조정함으로써, 기록 특성을 개선할 수 있다(이 조정에 의한 실시를 제1 변경 스텝이라 한다). 구체적으로, 복수의 기록 조건에 대하여 PRerror_ttl을 계산할 수 있는 경우에는 가장 PRerror_ttl이 작아지는 기록 조건을 채용하고 설정함으로써, 가장 바람직한 기록 특성을 얻을 수 있다. 또한, 이하에서 상세히 기술하겠지만, 복수의 기록 조건에 대하여 PRerror_ttl을 계산할 수 없는 경우에도 검출 결과에 의거하여 산출되는 PRerror_ttl을 이용하여 기록 조건을 조정할 수도 있다. 이 제1 변경 스텝에 대하여 실무적으로는 도 4 및 도 5의 데이터를 고려하여 제2 평가 지표치인 PRerror_ttl이 일정치 이하의 범위로 작아지도록 설정하면, 광 디스크의 기록 품질을 높은 상태로 유지할 수 있다. 예를 들면, 도 4에서 DCJ[%]가 약 7% 이하면 목적에 따른 결과를 얻을 수 있다. 또한, PRerror_ttl이 거의 0.17 이하면 마찬가지로 목적에 따른 결과를 얻을 수 있다. 또한, 예를 들어 도 5에서 SER이 약 2.0E-04 이하면 목적에 따른 결과를 얻을 수 있다. 나아가, PRerror_ttl이 상기와 마찬가지로 거의 0.17 이하면 목적에 따른 결과가 얻어진다.

(3) 종합 평가 지표 PRerror_ttl에 의한 세트 기록 패턴별 영향량 평가

다음에는 PRerror_ttl을 구성하는 세트 기록 패턴별 영향량{PRerror_ptn(p)}의 비교로부터 기록 패턴별로 기록 상태를 평가하는 방법에 대하여 설명한다.

광 디스크에 신호를 부호로 기입할 때에는 레이저광의 강도를 제어하면서 실행한다. 길이 nT 부호 마크중 예를 들면 3T 마크 이상의 길이의 마크를 일정 폭으로 기입하는 경우에는 레이저광의 단순한 구형파가 아니라 복수의 짧은 구형파로 분할하여 열 제어를 행하며, 기입 종료에 의해 열이 잔존하는 경우가 있었다. 이와 같이 기입할 때에 변조 파형으로 조작하는 방법을 라이트 스트래티지라고 한다. 또한, 기입 시작의 레이저광 조사는 겨냥한 위치로부터 길이 nT 마크를 일정 폭으로 기입할 수 있도록 선두 펄스의 개시 위치(dTtop라고 한다)의 기준 위치(0)로부터 전후로 시프트량을 제어하면서 실시된다.

도 6은 특정 스트래티지 파라미터 dTtop2T에 있어서, 스페이스 2T 후의 중앙의 y만을 변화시킨 경우의 PRerror_ttl과 SER의 변화를 나타낸 것이다. 도 6에서 좌측의 종축은 PRerror_ttl을 나타내고, 우측의 종축은 SER을 나타내며, 횡축은 dTtop2T를 나타낸다. 이와 같이 dTtop2T의 변화에 대하여 PRerror_ttl 및 SER 모두 동일한 U자형 최소치를 갖는 변화를 가지고 있다는 것을 확인할 수 있다. 실제 PRerror_ttl 및 SER의 최소치는 모두 -1 부근인 것을 알 수 있다. 이 값을 검지하고, 선두 펄스의 개시 위치(dTtop라고 한다)의 기준 위치로부터의 시프트량에 반영 시킨다.

나아가, 도 7 내지 도 10은 도 6에서 dTtop2T의 보정량=0일 때의 PRerror_ttl을 구성하는 기록 패턴별 영향량{PRerror_ptn(p)}을 나타낸 일반적인 실험 데이터이다. 도 7은 Pit_f 패턴으로, 메인 부호가 마크 nT[T]이고, 인접 부호가 전방의 스페이스 nT[T]인 경우의 각 PRerror_ptn(p)를 나타낸 것이다. 또한, 도 8은 Pit_r 패턴으로, 메인 부호가 마크 nT[T]이고, 인접 부호가 후방의 스페이스 nT[T]인 경우의 각 PRerror_ptn(p)를 나타낸 것이다. 도 9는 Land_f 패턴으로, 메인 부호가 스페이스 nT[T]이고, 인접 부호가 전방의 마크 nT[T]인 경우의 각 PRerror_ptn(p)를 나타낸 것이다. 도 10은 Land_r 패턴으로, 메인 부호가 스페이스 nT[T]이고, 인접 부호가 후방의 마크 nT[T]인 경우의 각 PRerror_ptn(p)를 나타낸 것이다.

도 7 내지 도 10에서, 마크 2T나 스페이스 2T와 같은 짧은 부호를 포함하는 패턴의 영향량이 큰 것은 2T 부호는 개구(開口)가 벌어지기 힘들고, 이상 상태와의 괴리가 발생하기 쉬우며, 이 부호를 포함하는 패턴의 출현 확률이 높다는 점에 따른 것이다.

이와 같이 종합 평가 지표치 PRerror_ttl을 구성하는 PRerror_ptn(p)을 통해 각 세트 기록 패턴을 평가할 수 있다.

또한, 도 7 내지 도 10에서는 도면 표현의 문제로 인해 메인 부호와 일측 인접 부호(전방 또는 후방)의 조합 패턴에서의 영향량밖에 나타낼 수 없었지만, 실제 시스템에서는 메인 부호와 양쪽 인접 부호(전방 및 후방)의 조합 세트 패턴에 대하 여 평가하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 필요에 따라 인접 부호보다 더 전방 또는 후방의 부호까지 조합시킨 패턴에 포함시켜도 된다.

다음에는 dTtop2T를 연속적으로 변화(-2 내지 +1)시킨 경우의 패턴별 영향량{PRerror_ptn(p)}의 변화에 대하여 설명한다. 도 11 내지 도 14A에는 dTtop2T의 변화의 영향이 현저하게 나타나는 Pit_f 패턴(메인 부호가 마크 nT[T]이고, 인접 부호가 전방 스페이스 nT[T])의 변화를 나타내었다.

도 11 내지 도 14A에서, dTtop2T의 변동이 스페이스 2T 다음의 마크 2T라는 기록 패턴에 대응하는 PRerror_ptn(p)에 크게 영향을 미친다는 것을 알 수 있다. 특히 dTtop2T=-2인 경우(도 11)에는 현저히 증가하고 있다.

다음으로, 도 14B에는 dTtop2T라는 기록 파라미터의 변동에 대한 스페이스 2T 다음의 마크 2T라는 기록 패턴의 PRerror_ptn(p)의 변동을 나타내었다. 도 14B에서 종축은 PRerror_ptn(p)를 나타내고, 횡축은 dTtop2T를 나타낸다. 또한, 마름모형 점은 실제 계산치를 나타내고, 곡선은 실제 계산치를 바탕으로 2차 곡선 회귀한 결과를 나타낸다. 이와 같은 데이터를 이용하면, PRerror_ptn(p)를 이용하여 기록 파라미터 dTtop2T를 최적화하거나, 조정할 수 있게 된다(이 조정에 의한 실시를 제2 변경 스텝이라 한다).

또한, 상기에서는 dTtop2T의 변화 파라미터로 한 예를 기술하였으나, 각종 기록 파라미터에 대하여 적용 가능하다. 또한, 도 11 내지 도 14A에서는 전방 스페이스 다음의 마크의 조합 패턴에서의 영향량의 변화를 살펴보았으나, 이 조합 패턴의 선택은 기록 파라미터에 의해 정해진다. 또한, 특정 기록 패턴인 PRerror_ptn(p)가 큰 값을 나타내고 있어 대처가 필요하다고 판단되는 경우에는 조정 대상으로 하고자 하는 대응 기록 파라미터도 특정된다.

[실시 형태]

본 발명의 실시 형태에 관한 광 디스크 기록 재생 시스템의 기능 블록도를 도 15에 나타내었다. 본 실시 형태에 관한 광 기록 재생 시스템은 광 디스크(15)에 레이저광을 조사하여 기록 또는 재생을 수행하기 위한 광학 유닛(PU)(1)과, 광학 유닛(1)에 포함되는 포토디텍터로부터의 전기 신호를 다음 스텝의 디지털 신호로 변환하기 쉽게 파형 등가 처리하는 프리이퀄라이저(Pre-EQ)(3), 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog Digital Converter)(5), 2치화된 디지털 신호를 부호간 간섭이 남아있는 불완전한 주파수 리스폰스에 대하여 nT 마크의 길이 방향의 중앙 위치의 진폭 레벨이 피크치가 되고, 중앙 위치로부터 떨어진 위치에서는 인접한 nT 스페이스 영향을 받아 진폭 레벨의 값이 이상 신호의 파형과 같은 비율이 되는 파형으로 등화시키는 등화기(7), 및 등화기(7)에서의 변환에 의해 파형 등화된 재생 신호중 가장 확실한 표준 신호 계열에서 선택 복호하여 노이즈에 영향받지 않는 이상 신호에 가까운 최우복호 신호(2치화된 디지털 신호로 되돌린 신호)를 출력하는 비타비 디코더(9)와, 상기 등화기(7) 및 상기 비타비 디코더(9)로부터의 출력을 이용하여 처리를 실시하는 제어부(11)와, 제어부(11)로부터의 설정 출력에 따라 기입 데이터(Write 데이터)를 위한 기록 파형을 생성하여 광학 유닛(1)으로 출력하는 기록 파형 생성부(13)를 갖는다.

또한, 고밀도 광 기록 재생 시스템은 도시되지 않은 표시 장치나 퍼스널 컴 퓨터에 접속되며, 경우에 따라서는 네트워크에 접속되어 하나 또는 복수의 컴퓨터 등과 통신을 수행하는 경우도 있다.

제어부(11)는 등화기(7)의 출력(파형을 연속형으로 등화한 재생 RF 신호)과 비타비 디코더(9)의 출력(최우복호의 부호 데이터)을 대응시키는 부호 식별부(111)와, 부호 식별부(111)로부터의 부호 데이터에 의거하여 미리 설정된 검출 패턴, 예를 들면 인접한 nT 스페이스의 영향을 받는 nT 마크 진폭 레벨의 기록 상태의 출현이 검출되면 진폭 레벨의 검출을 특정 지시하는 검출 지시부(113)와, 검출 지시부(113)로부터의 지시에 따라 부호 식별부(111)로부터의 RF 신호에 대하여 진폭 레벨의 신호 상태를 검출 처리하는 검출부(115)와, 도시되지 않은 메모리를 가지고 있으며, 또한 검출부(115)로부터의 출력에 의거하여 기준 상태를 생성하고, 이하에서 기술하는 연산을 실시하여 기록 파형 생성부(13)에 대한 설정을 수행하는 연산부(117)를 갖는다. 연산부(117)는, 예를 들면 이하에서 설명하는 기능을 실시하기 위한 프로그램과, 프로세서의 조합으로 실현되는 경우도 있다. 이때, 프로세서 내의 메모리에 프로그램이 저장되는 경우도 있다.

다음에는 도 16 내지 도 21을 이용하여 광 기록 재생 시스템의 처리 내용에 대하여 설명한다. 먼저, 데이터 기록에 앞서 수행되는 광 디스크(15)의 가장 내주에 설치된 테스트 기입 영역을 이용한 기록 조건 최적화 처리에 대하여 설명한다.

먼저, 도 15의 동작의 일부인 진폭 레벨의 레퍼런스 신호를 작성하는 스텝을 도 16에 따라 설명한다. 예를 들면, 제어부(11)의 연산부(117)는 개별 광 디스크의 파라미터인 미리 정해진 기록 조건을 기록 파형 생성부(13)에 설정한다(스텝S1). 그리고, 기록 파형 생성부(13)는 미리 정해진 기록 패턴을 설정된 기록 조건에 따라 광 디스크(15)의 테스트 기록 영역에 PU(1)를 통해 기입한다(스텝S3). 그리고, PU(1), 프리이퀄라이저(3), 등화기(7) 및 비타비 디코더(9)를 통해 스텝S3에서 실시된 기입 결과를 판독하고, 부호 식별부(111)를 통해 등화기(7)의 출력과 비타비 디코더(9)의 출력을 대응시킨다. 검출 지시부(113)는 설정에 의거하여 전 검출 패턴(검출된 부호 [T]열. 정확히 디코더되어 있으면 기록 패턴과 동일)에 대하여, 또는 미리 정해진 유효 패턴을 검출한 경우에 검출부(115)에 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하도록 지시한다. 검출부(115)는 검출 지시부(113)의 지시 신호에 따라 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하고, 검출 결과를 연산부(117)로 출력한다. 그리고, 연산부(117)는 각 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)을 산출하고, 메모리 등의 기록 장치에 저장한다(스텝S5). 상술한 바와 같이, 검출 패턴(p)은 여러번 검출되므로, PRerror_ptn(p)에 대해서는 평균치를 산출한다. 또한, 연산부(117)는 이후에 이용되는 특정 검출 패턴(p_c)에 대한 진폭 레벨을 저장하여 둔다. 피크치만을 저장하여도 된다.

그 후, 연산부(117)는 스텝S5에서 산출된 각 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)와 미리 메모리에 저장되어 있는 각 검출 패턴(p)의 출현 확률을 이용하여 PRerror_ttl을 산출하고, 스텝S1에서 설정된 기록 조건에 대응하여 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S7). 이 데이터는 데이터 기록중의 기록 조건 조정에서도 이용된다.

그리고, 연산부(117)는 미리 정해진 모든 기록 조건, 예를 들면 테스트 기록을 참조하여 설정하였는지 여부를 판단하고(스텝S9), 미설정 기록 조건이 존재하면 스텝S1로 되돌아간다. 한편, 미리 정해진 모든 기록 조건에 대하여 설정이 끝난 경우에는 각 기록 조건에 대한 PRerror_ttl에 의거하여 PRerror_ttl이 최소가 되는 기록 조건을 최적 기록 조건으로 특정한다(스텝S11). 예를 들면, 도 4에 도시된 바와 같이 PRerror_ttl이 최소가 되는 기록 파워 등을 특정할 수 있으므로, 이 기록 파워 등을 채용한다.

그리고, 연산부(117)는 이 최적 기록 조건을 기록 파형 생성부(13)에 설정한다(스텝S13). 또한, 최적 기록 조건에서의 특정 기록 패턴(p_c)에 대한 진폭 레벨을 레퍼런스 신호로서 메모리 등의 기억 장치에 저장하여 둔다(스텝S15). 이 데이터는 데이터 기록중의 기록 조건 조정에 이용된다.

이와 같은 처리를 실시하면, PRerror_ttl에 의거하여 테스트 기입 영역을 이용한 기록 조건의 최적화 처리를 수행하여 기록 파워 등을 최적의 기록 조건으로 설정할 수 있다.

다음에는 테스트 기입 영역에서의 기록 조건을 최적화 처리하는 제2 예로서, 개별 PRerror_ptn(p)를 이용하는 경우를, 진폭 레벨의 레퍼런스 신호를 작성하는 스텝을 도 17에 따라 설명한다.

예를 들면, 제어부(11)의 연산부(117)는 미리 정해진 기록 파라미터를 기록 파형 생성부(13)에 설정한다(스텝S21). 그리고, 기록 파형 생성부(13)는 미리 정해 진 기록 패턴을 설정된 기록 파라미터에 따라 광 디스크(15)의 테스트 기입 영역에 PU(1)을 통해 기입한다(스텝S23). 그리고, PU(1), 프리이퀄라이저(3), 등화기(7) 및 비타비 디코더(9)를 통해 스텝S23에서 실시된 기입 결과를 판독하고, 부호 식별부(111)를 통해 등화기(7)의 출력과 비타비 디코더(9)의 출력을 대응시킨다. 검출 지시부(113)는 미리 정해진 검출 패턴(p)에 대하여 검출부(115)에 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하도록 지시한다. 검출부(115)는 검출 지시부(113)의 지시에 따라 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하고, 검출 결과를 연산부(117)로 출력한다. 그리고, 연산부(117)는 상기에 기술된 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)을 산출하고, 스텝S21에서 설정된 기록 파라미터에 대응하여 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S25). 이 데이터는 데이터 기록중의 기록 파라미터 조정에서 이용된다. 위에서도 기술한 바와 같이 검출 패턴(p)은 여러 번 검출되므로, PRerror_ptn(p)에 대해서는 평균치를 산출한다. 또한, 연산부(117)는 이 검출 패턴(p)에 대한 진폭 레벨을 저장하여 둔다. 피크치만을 저장하여도 된다.

그리고, 연산부(117)는 기록 파라미터의 미리 정해진 모든 값을 설정하였는지 여부를 판단하고(스텝S27), 미설정 기록 조건이 존재하면 스텝S21로 되돌아간다. 한편, 기록 파라미터의 미리 정해진 모든 값에 대하여 설정이 끝난 경우에 연산부(117)는 기록 파라미터의 각 값에 대하여 각 PRerror_ptn(p)에 의거하여 PRerror_ptn(p)가 최소가 되는 기록 파라미터의 값을 최적치로 특정한다(스텝S29). 상기에서 기술한 바와 같이, 검출 패턴(p)마다 조정하는 것은 적절한 기록 파라미터가 있기 때문이므로, 스텝S29에서는 이와 같이 조정하여 적절한 기록 파라미터에 대한 최적치를 특정한다. 예를 들면, 도 14B에 도시된 바와 같이, 스페이스 2T의 다음에 마크 2T라는 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)가 최소가 되는 dTtop2T의 값(-1)을 특정할 수 있으므로, 이 dTtop2T의 값을 채용한다.

그리고, 연산부(117)는 특정된 최적치를 기록 파형 생성부(13)에 설정한다(스텝S31). 또한, 최적치의 상기 검출 패턴(p)에 대한 진폭 레벨을 레퍼런스 신호로서 메모리 등의 기억 장치에 저장하여 둔다(스텝S33). 이 데이터는 데이터 기록 중의 기록 파라미터 조정에 이용된다.

이와 같은 처리를 실시하면, PRerror_ptn(p)에 의거하여 테스트 기입 영역을 이용한 기록 파라미터 최적화 처리를 수행하여 적어도 일부의 기록 파라미터에 대하여 최적화할 수 있다.

다음에는 데이터 기록을 개시한 후에 기록 조건을 조정할 때의 처리에 대한 제1 예를 도 18 및 도 19를 이용하여 설명한다.

먼저, 도 15를 참조하면서 도 18에 의거하여 설명한다. 기록 파형 생성부(13)는 기입할 데이터를 설정된 기록 조건에 따라 PU(1)을 통해 기입한다(스텝S41). 여기서는 소정량의 데이터 또는 소정 시간 기입을 수행한다. 그리고, PU(1), 프리이퀄라이저(3), 등화기(7) 및 비타비 디코더(9)을 통해 스텝S41에서 실시된 기입 결과를 판독하고, 부호 식별부(111)를 통해 등화기(7)의 출력과 비타비 디코더(9)의 출력을 대응시킨다. 검출 지시부(113)는 설정에 의거하여 전 검출 패턴에 대하여 또는 미리 정해진 유효 패턴을 검출한 경우에 검출부(115)에 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하도록 지시한다. 검출부(115)는 검출 지시부(113)의 지시에 따라 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하고, 검출 결과를 연산부(117)로 출력한다. 그리고, 연산부(117)는 각 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)을 산출하고, 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S45). 상기에서 기술한 바와 같이, 검출 패턴(p)은 여러 번 검출되므로, PRerror_ptn(p)에 대해서는 평균치를 산출한다. 또한, 연산부(117)는 이후에 이용되는 최적 기록 조건에서의 특정 검출 패턴(p_c)에 대한 진폭 레벨 값을 저장하여 둔다. 그 값의 피크치만을 저장하여도 된다.

그 후, 연산부(117)는 스텝S45에서 산출된 각 검출 패턴(p)에 대한 PRerror_ptn(p)와 미리 메모리에 저장된 각 검출 패턴(p)의 출현 확률을 이용하여 PRerror_ttl을 산출하고, 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S47).

그리고, 연산부(117)는 PRerror_ttl이 미리 정해진 역치를 넘었는지 여부를 판단한다(스텝S49). PRerror_ttl이 미리 정해진 역치 미만인 경우에는 기록 조건의 조정이 불필요하기 때문에 스텝S55로 이행한다. 한편, PRerror_ttl이 미리 정해진 역치를 넘은 경우에 연산부(117)는 PRerror_ttl 베이스의 기록 조건인 보정량 결정 처리를 실시한다(스텝S51).

상술의 기록 조건인 보정량 결정 처리에 대해서 도 19를 이용하여 설명한다. 먼저, 연산부(117)는 특정 검출 패턴(pc)에 대한 이상 신호의 진폭 레벨과, 예를 들면 도 16에서 설명한 스텝S15에서 특정된 레퍼런스 신호와의 차이를 산출한다(스텝S61). 상기에서 기술한 바와 같이 피크치의 차이를 산출하여도 되고, 피크 이외의 부분의 차이를 가산하여도 된다. 또한, 스텝S49에서는 PRerror_ttl이 미리 정해 진 역치를 넘었다고 판단되는 경우이므로, 진폭 레벨과 레퍼런스 신호와의 차이가 0이 되는 일은 없는 것으로 한다.

그리고, 연산부(117)는 차이가 양인지 여부를 판단한다(스텝S63). 차이가 양이면, 차이가 양이면서 스텝S47에서 산출된 PRerror_ttl의 값에 대응하는 기록 조건을 PRerror_ttl과 기록 조건의 관계(도 16의 스텝S7의 결과)로부터 특정한다(스텝S65). 도 4에 도시된 바와 같은 경우, PRerror_ttl의 값은 기록 파워가 3.3㎽일 때 최소가 되고, 3.3㎽보다 감소되어도 증가되어도 PRerror_ttl의 값은 증가한다. 이에 따라, 스텝S47에서 산출된 PRerror_ttl의 값이 예를 들면 0.15인 경우, 대응하는 기록 파워는 약 3.1㎽ 또는 약 3.7㎽ 중 어느 하나가 된다. 어느 쪽이냐에 따라 보정 방향 및 보정량이 달라진다. 3.1㎽라면 0.2㎽ 증가시키도록 한다. 3.7㎽라면 0.4㎽ 감소시키도록 한다. 어느 쪽인지는 데이터 기록을 수행하는 미미디어의 특성, 기록 조건, 검출 패턴 중 적어도 하나의 조건에 의해 결정된다. 예를 들면, 개별 광 디스크가 기록 파워의 증가에 대하여 진폭 레벨이 증가하는지 혹은 감소하는지 미리 기록되어 있는 타입 식별 코드에 의거하여 판단한다. 그리고, 예를 들면 기록 파워의 증가에 따라 진폭 레벨이 증가하고, 또한 상기 차이가 양인 경우에는 기록 파워가 너무 높은, 즉 약 3.7㎽와 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, 기록 파워를 0.4㎽ 감소시키도록 한다. 한편, 기록 파워의 증가에 따라 진폭 레벨이 감소하고, 또한 상기 차이가 양인 경우에는 기록 파워가 너무 낮은, 즉 약 3.1㎽와 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, 기록 파워를 0.2㎽ 증가시킨다. 또한, 타입 식별 코드가 아니라 테스트 기록시에 실제로 판별하고, 이 판별 결과에 의거하여 판단하여도 된다. 이와 같은 관계를 미리 특정하여 두고, 스텝S65에서는 어느 기록 조건에 해당하는지를 특정한다.

그리고, 연산부(117)는 특정된 기록 조건과 최적 기록 조건과의 차이를 보정량으로 산출한다(스텝S69). 그리고, 원래의 처리로 돌아간다.

한편 차이가 음이면, 차이가 음이며 스텝S47에서 산출된 PRerror_ttl의 값에 대응하는 기록 조건을 PRerror_ttl과 기록 조건의 관계로부터 특정한다(스텝S67). 예를 들면, 광 디스크의 타입 식별 코드로부터 기록 파워의 증가에 따라 진폭 레벨이 증가한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 음인 경우에는 기록 파워가 너무 낮은, 즉 약 3.1㎽와 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, 기록 파워를 0.2㎽ 증가시키도록 한다. 한편, 광 디스크의 타입 식별 코드로부터 기록 파워의 증가에 따라 진폭 레벨이 감소한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 음인 경우에는 기록 파워가 너무 높은, 즉 약 3.7㎽와 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, 기록 파워를 0.4㎽ 감소시킨다. 이와 같은 관계를 미리 특정하여 두고, 스텝S67에서는 어느 기록 조건에 해당하는지를 특정한다. 그리고, 스텝S69로 이행한다.

도 18의 설명으로 되돌아가서 처리를 계속해서 설명한다. 연산부(117)는 스텝S51에서 결정된 기록 조건의 보정량을 기록 파형 생성부(113)에 설정한다(스텝S53). 그리고, 데이터 기록이 종료인지 여부를 판단하고(스텝S55), 데이터 기록이 종료가 아닌 경우에는 스텝S41로 되돌아간다. 한편, 데이터 기록이 종료인 경우에는 처리를 종료한다.

이상과 같은 처리를 실시함으로써, 데이터 기록중이어도 기록 조건의 조정을 수행할 수 있다.

다음에는 PRerror_ptn(p)을 베이스로 기록 파라미터를 보정하는 경우의 처리에 대하여 도 20 및 도 21을 이용하여 설명한다.

먼저, 도 20에 의거하여 설명한다. 기록 파형 생성부(13)는 기입할 데이터를 설정된 기록 조건에 따라 PU(1)를 통해 기입한다(스텝S71). 여기서는 소정량의 데이터 또는 소정 시간의 기입을 수행하는 것으로 한다. 그리고, PU(1), 프리이퀄라이저(3), 등화기(7) 및 비타비 디코더(9)를 통해 스텝S71에서 실시된 기입 결과를 판독하고, 부호 식별부(111)를 통해 등화기(7)의 출력과 비타비 디코더(9)의 출력을 대응시킨다. 검출 지시부(113)는 설정에 의거하여 전 검출 패턴에 대하여, 또는 미리 정해진 유효 패턴을 검출한 경우에 검출부(115)에 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하도록 지시한다. 검출부(115)는 검출 지시부(113)의 지시에 따라 RF 신호의 진폭 레벨을 검출하고, 검출 결과를 연산부(117)로 출력한다. 그리고, 연산부(117)는 각 검출 패턴(p)에 대하여 PRerror_ptn(p)을 산출하고, 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S73). 상기에서 기술한 바와 같이, 검출 패턴(p)은 여러 번 검출되므로, PRerror_ptn(p)에 대해서는 평균치를 산출한다. 또한, 연산부(117)는 이후에 이용되는 특정 검출 패턴(p_c)에 대한 진폭 레벨의 값을 저장하여 둔다. 그 값의 피크치만을 저장하여도 된다.

그 후, 연산부(117)는 스텝S73에서 산출된 각 검출 패턴(p)에 대한 PRerror_ptn(p)와 미리 메모리에 저장된 각 검출 패턴(p)의 출현 확률을 이용하여 PRerror_ttl을 산출하고, 메모리 등의 기억 장치에 저장한다(스텝S75).

그리고, 연산부(117)는 PRerror_ttl이 미리 정해진 역치를 넘었는지 여부를 판단한다(스텝S77). PRerror_ttl이 미리 정해진 역치 미만인 경우에는 기록 조건의 조정이 불필요하므로 스텝S87로 이행한다. 한편, PRerror_ttl이 미리 정해진 역치를 넘은 경우에 연산부(117)는 미리 정해진 역치를 넘는 PRerror_ptn(p)을 특정한다(스텝S79). 미리 정해진 역치를 넘는 것이 아니라 상위의 미리 결정된 수이어도 된다. 그리고, 특정된 PRerror_ptn(p)에 관한 검출 패턴(p)에 대응하는 기록 파라미터를 특정한다(스텝S81). 예를 들면, 스페이스 2T의 다음에 마크 2T가 마련된 패턴인 경우에는 dTtop2T2T와 같이 패턴의 ID에 미리 대응시켜 예를 들면 메모리 등에 저장하여 두고, 이 대응 관계를 이용한다.

그리고, 연산부(117)는 PRerror_ptn(p) 베이스의 기록 파라미터 보정량 결정 처리를 실시한다(스텝S83).

기록 파라미터 보정량 결정 처리에 대하여 도 21을 이용하여 설명한다. 먼저, 연산부(117)는 특정 검출 패턴(p_c)에 대한 진폭 레벨과 예를 들면 스텝S33에서 특정된 레퍼런스 신호와의 차이를 산출한다(스텝S91). 상기에서 기술한 바와 같이, 피크치의 차이를 산출하여도 되고, 피크 이외의 부분의 차이를 가산하여도 된다. 또한, 스텝S77에서는 PRerror_ttl이 미리 정해진 역치를 넘는다고 판단되는 경우이므로, 진폭 레벨과 레퍼런스 신호와의 차이가 0이 되는 일은 없는 것으로 한다.

그리고, 연산부(117)는 차이가 양인지 여부를 판단하다(스텝S93). 차이가 양 이면, 차이가 양이며 스텝S79에서 특정된 PRerror_ptn(p)의 값에 대응하는 기록 파라미터의 값을 PRerror_ptn(p)와 기록 파라미터의 관계(스텝S25의 결과)로부터 특정한다(스텝S95). 도 14B에 도시된 바와 같은 경우, PRerror_ptn(p)의 값은 dTtop2T가 약 -0.1인 경우에 최소가 되고, 이 최소치 이외의 수치에서는 dTtop2T가 감소되어도 증가되어도 PRerror_ptn은 증가한다. 이에 따라, 스텝S73에서 산출된 PRerror_ptn(p)의 값이 예를 들면 0.01인 경우, 대응하는 dTtop2T는 약 -1 또는 약 0.7 중 어느 하나가 된다. 이 값에 따라 광 기록 파워 값의 보정 방향 및 보정량이 서로 달라진다. -1이면 0.9를 증가시키도록 한다. 0.7이면 0.8을 감소시키도록 한다. 어느 쪽인지는 데이터 기록을 수행하는 미디어의 특성, 기록 조건, 검출 패턴 중 적어도 하나의 조건에 의해 결정된다. 미디어의 특성에 대해서는 이하와 같이 판별하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 스텝S25(도 17 참조)에서 기록 파라미터의 각 값에 대하여 검출 패턴(p)에 대한 진폭 레벨을 저장하여 두지만, 여러번 스텝S25를 실행하여 기록 파라미터가 증가하면 진폭 레벨이 증가하는지 감소하는지를 판별하여 저장하여 두고, 이 판별 결과를 이용한다. 예를 들면, 판별 결과에서 dTtop2T의 증가에 따라 진폭 레벨이 증가한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 양인 경우에는 dTtop2T가 너무 높은, 즉 0.7과 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, dTtop2T를 0.8 감소시키도록 한다. 한편, 판별 결과에서 dTtop2T의 증가에 따라 진폭 레벨이 감소한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 양인 경우에는 dTtop2T가 너무 낮은, 즉 약 -1과 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, dTtop2T를 0.9 증가시킨다. 이와 같은 관계를 미리 특정하여 두고, 스텝S95에서는 어느 기록 조건 에 해당하는지를 특정한다.

그리고, 연산부(117)는 특정된 기록 파라미터의 값과 기록 파라미터의 최적치와의 차이를 보정량으로 산출한다(스텝S99). 그리고, 원래의 처리로 돌아간다.

한편 차이가 음이면, 차이가 음이며 PRerror_ptn(p)의 값에 대응하는 기록 파라미터의 값을 PRerror_ptn(p)와 기록 파라미터의 관계로부터 특정한다(스텝S97). 예를 들면, 사전 판별 결과에서 dTtop2T의 증가에 따라 진폭 레벨이 증가한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 음인 경우에는 dTtop2T가 너무 낮은, 즉 약 -1과 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, dTtop2T의 값을 0.9 증가시키도록 한다. 한편, 사전 판별 결과에서 dTtop2T의 값의 증가에 따라 진폭 레벨이 감소한다고 판단되고, 또한 상기 차이가 음인 경우에는 dTtop2T의 값이 너무 높은, 즉 약 0.7과 동일한 상태라고 판단할 수 있다. 따라서, dTtop2T의 값을 0.8 감소시킨다. 이와 같은 관계를 미리 특정하여 두고, 스텝S97에서는 어느 기록 조건에 해당하는지를 특정한다. 그리고, 스텝S99로 이행한다.

도 20의 설명으로 되돌아가서, 연산부(117)는 스텝S83에서 결정된 기록 파라미터의 보정량을 기록 파형 생성부(113)에 설정한다(스텝S85). 그리고, 데이터 기록이 종료인지 여부를 판단하고(스텝S87), 데이터 기록이 종료가 아닌 경우에는 스텝S71로 되돌아간다. 한편, 데이터 기록이 종료인 경우에는 처리를 종료한다.

이상과 같은 처리를 실시함으로써, 데이터 기록중이어도 기록 파라미터의 조정을 수행할 수 있다.

또한, 도 19 또는 도 21의 처리 플로어에서의 레퍼런스 신호의 값, 도 4나 도 14B와 같은 PRerror_ttl과 기록 조건의 관계나 PRerror_ptn(p)와 기록 파라미터의 관계에 대해서는 도 16 또는 도 17의 처리 플로어에 의해 취득된 예를 나타내었으나, 미리 메모리에 저장해 두어도 된다. 광 디스크 기록 재생 장치가 네트워크에 접속되어 있는 경우에는 다른 컴퓨터로부터 데이터를 취득하여도 된다. 아울러, 도 16 또는 도 17의 처리 플로어에 의해 미리 메모리 등에 기억되어 있는 데이터를 수정 또는 갱신하도록 해도 된다.

또한, 도 19 또는 도 21에서는 일단 데이터 기록을 중단하는 경우를 나타내고 있으나, 데이터 기록과 병행하여 기록 조건이나 기록 파라미터를 조정하도록 해도 된다.

아울러, 도 16이나 도 17에서는 하나의 기록 조건 등으로 데이터 기록을 수행한 후에 재생을 수행하고, 나아가 다른 기록 조건 등으로 데이터 기록을 수행한 후에 재생을 수행하는 예를 나타냈으나, 한번에 모든 기록 조건으로 데이터 기록을 수행하고 나서 재생을 수행하도록 해도 된다.

기타 처리 플로어에 대해서는 필요에 따라 변경할 수 있다.

이상, 본 발명의 실시 형태를 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 도 15에 도시된 광 디스크 기록 재생 장치의 기능 블록도는 일예로서, 상기에서 기술한 기능을 실현할 수 있으면 도 15의 기능 블록 구성에 한정되는 것은 아니다.

또한, 상기에서는 dTtop2T의 값을 조정하는 예를 나타내었으나, 반대로 후방의 스페이스에 대한 조정이 필요한 경우에는 기록 펄스의 입하 파라미터인 T1p를 조정하는 등의 검출 패턴에 따라 미리 적절한 기록 파라미터가 특정되고 조정된다. 상기에서 기술한 실시 형태에서는 연산부(117)에 내장되는 메모리 또는 연산부(117)의 외부 메모리에 데이터 기록중의 기록 조건 등의 조정 처리에 이용되는 역치 등의 기준 데이터를 저장하는 예를 나타내었으나, 반드시 메모리에 저장할 필요는 없다. 예를 들면, 광 디스크(15)에 저장해 두어도 된다. 광 디스크(15)에 저장하는 경우에는 도 22에 도시된 바와 같은 Lead-in 영역중에 저장하여 둔다. Lead-in 영역은 시스템 Lead-in 영역과, 커넥션 영역과, 데이터 Lead-in 영역으로 크게 나누어져 있으며, 시스템 Lead-in 영역은 이니셜 존, 버퍼 존, 컨트롤 데이터 존, 버퍼 존을 포함한다. 또한, 커넥션 영역은 케넥션 존을 포함한다. 아울러, 데이터 Lead-in 영역은 가드 트랙 존, 디스크 테스트 존, 드라이브 테스트 존, 가드 트랙 존, RMD 듀플리케이션 존, 레코딩 매니지먼트 존, R-피지컬 포맷 인포메이션 존, 레퍼런스 코드 존을 포함한다.

본 실시 형태에서는 시스템 Lead-in 영역의 컨트롤 데이터 존에 레코딩 컨디션 데이터 존(170)을 포함하도록 한다.

이 레코딩 컨디션 데이터 존(170)에 메모리에 저장하고자 하는 기준 데이터를 저장하고, 필요할 때 읽어낸다. 기록할 값에 대해서는, 디스크(15)의 평균적인 값을 일률적으로 등록하여도 되고, 그 광 디스크(15)에 대하여 출하 전의 테스트에 따라 값을 등록하여도 된다.

이와 같이 기록이 수행되는 광 디스크(15)에 따른 값을 광 디스크(15)가 보유함으로써, 드라이브측의 처리 부하를 낮출 수도 있다. 또한, 필요에 따라 광 디 스크(15)에 저장된 값을 수정하여 이용할 수도 있다.

도 1은 진폭 레벨의 시간 천이를 도시한 도면.

도 2는 기록 패턴과 출현 확률의 관계를 도시한 도면.

도 3은 유효 패턴과 PRerror_ttl 및 패턴 유효율의 관계를 도시한 도면.

도 4는 기록 파워와 DCJ 및 PRerror_ttl의 관계를 도시한 도면.

도 5는 기록 파워와 SER 및 PRerror_ttl의 관계를 도시한 도면.

도 6은 기록 파라미터 dTtop2T와 SER 및 PRerror_ttl의 관계를 도시한 도면.

도 7은 기록 패턴을 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 8은 기록 패턴을 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 9는 기록 패턴을 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 10은 기록 패턴을 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 11은 기록 파라미터를 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 12는 기록 파라미터를 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 13은 기록 파라미터를 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 14A는 기록 파라미터를 변화시킨 경우의 PRerror_ptn(p)의 변화를 도시한 도면.

도 14B는 dTtop2T와 PRerror_ptn(p)의 관계를 도시한 도면.

도 15는 본 발명의 실시 형태에 따른 광 기록 재생 시스템의 기능 블록도.

도 16은 데이터 기록전에 기록 조건을 최적화하기 위한 처리 플로어를 도시한 도면.

도 17은 데이터 기록전에 기록 파라미터를 최적화하기 위한 처리 플로어를 도시한 도면.

도 18은 데이터 기록중에 기록 조건을 보정하기 위한 처리 플로어를 도시한 도면.

도 19는 기록 조건 보정량 결정 처리의 처리 플로어를 도시한 도면.

도 20은 데이터 기록중에 기록 파라미터를 보정하기 위한 처리 플로어를 도시한 도면.

도 21은 기록 파라미터 보정량 결정 처리의 처리 플로어를 도시한 도면.

도 22는 기준 데이터를 광 디스크에 저장할 때의 데이터 구조의 일 예를 도시한 도면.

도면중 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 광학 유닛(PU)

3 : 프리이퀄라이저(Pre-EQ)

5 : ADC

7 : 등화기

9 : 비타비 디코더

11 : 제어부

13 : 기록 파형 생성부

15 : 광 디스크

111 : 부호 식별부

113 : 검출 지시부

115 : 검출부

117 : 연산부

Claims

광 디스크에 데이터 기록을 수행한 결과의 소정 기간을 재생하고, 상기 재생에 의거한 재생 신호를 검출하는 스텝과, 검출된 상기 재생 신호로부터 미리 정해진 부호를 포함하는 검출 패턴을 특정하는 스텝과, 상기 검출 패턴에 대응하는 상기 재생 신호의 신호 상태를 검출하는 스텝과, 검출된 상기 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태에 의거한 제1 평가 지표치를 산출하는 제1 산출 스텝을 포함하는 데이터 기록 평가 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 검출 패턴이 복수이며, 상기 복수의 검출 패턴의 각각으로부터 산출된 상기 제1 평가 지표치를 이용하여 제2 평가 지표치를 산출하는 제2 산출 스텝을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 제2 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록의 기록 조건을 변경하는 제1 변경 스텝을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 제2 산출 스텝은 상기 검출 패턴의 출현 확률과 상기 출현 확률과 일치 하는 검출 패턴마다의 상기 제1 평가 지표치와의 곱의 복수를 총합하여 산출하는 스텝을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 제2 평가 지표치가 미리 정해진 역치를 넘는지 여부를 판단하는 스텝과, 상기 제2 평가 지표치가 상기 미리 정해진 역치를 넘은 경우에 상기 제2 평가 지표치에 일정 레벨 이상의 영향을 미치는 상기 검출 패턴을 대응하는 상기 제1 기록 상태 평가 지표치에 의거하여 특정하는 스텝을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 5 항에 있어서,

특정된 상기 검출 패턴에 대한 상기 제1 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록에 이용되는 기록 파라미터를 변경하는 제2 변경 스텝을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 검출 패턴이 적어도 하나의 마크와 스페이스로 이루어진 패턴인 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 검출 패턴이 출현 빈도가 일정치 이상의 검출 패턴인 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 3 항에 있어서,

상기 제1 변경 스텝은 기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과를 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제2 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터로부터 상기 제2 평가 지표치가 일정치 이하가 되는 범위의 상기 기록 조건을 특정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 3 항에 있어서,

상기 제1 변경 스텝은,

기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제2 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터와 현재의 상기 제2 평가 지표치를 이용하여 현재의 기록 조건 보정량을 산출하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 9 항에 있어서,

상기 기록 조건과 이 기록 조건에서의 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제2 평가 지표치와의 관계를 나 타내는 데이터가 테스트 기록시에 얻어지는 데이터인 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 6 항에 있어서,

상기 제2 변경 스텝은 기록 파라미터와 상기 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터로부터 상기 제1 평가 지표치가 최적치가 되는 경우의 상기 기록 파라미터를 특정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 6 항에 있어서,

상기 제2 변경 스텝은 기록 파라미터와 상기 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터와 현재의 상기 제1 평가 지표치를 이용하여 현재의 기록 파라미터 보정량을 산출하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 12 항에 있어서,

상기 제2 변경 스텝에서, 기록 파라미터와 상기 기록 파라미터를 이용한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생함으로써 얻어지는 데이터에 의거하여 산출된 상기 제1 평가 지표치와의 관계를 나타내는 데이터가 테스트 기록시에 얻어지는 데이터인 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제1 산출 스텝은 검출된 상기 신호 상태와 상기 검출 패턴으로부터 특정되는 기준 상태와의 차이의 크기를 산출하는 스텝인 것을 특징으로 하는 데이터 기록 평가 방법.
광 디스크에 대한 데이터 기록 결과의 소정 기간을 재생하고, 재생 신호에서 미리 정해진 검출 패턴을 특정하는 수단과,

상기 검출 패턴에 대응하는 상기 재생 신호의 신호 상태를 검출하는 수단과,

검출된 상기 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태에 의거한 제1 평가 지표치를 산출하는 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 검출 패턴이 복수이며, 상기 검출 패턴의 각각에 대한 상기 제1 평가 지표치를 이용하여 제2 평가 지표치를 산출하는 제2 산출 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 17 항에 있어서,

상기 제2 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록의 기록 조건을 변경하는 제1 변경 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 17 항에 있어서,

상기 제2 산출 수단은 상기 검출 패턴의 출현 확률과 상기 출현 확률과 일치하는 검출 패턴마다의 상기 제1 평가 지표치와의 곱의 복수를 총합하여 산출하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 17 항에 있어서,

상기 제2 평가 지표치가 미리 정해진 역치를 넘는지 여부를 판단하는 수단과,

상기 제2 평가 지표치가 상기 미리 정해진 역치를 넘는 경우에 상기 제2 평가 지표치에 일정 레벨 이상 영향을 미치는 상기 검출 패턴을 대응하는 상기 제1 평가 지표치에 의거하여 특정하는 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 20 항에 있어서,

특정된 상기 검출 패턴에 대한 상기 제1 평가 지표치에 의거하여 데이터 기록에 이용되는 기록 파라미터를 변경하는 제2 변경 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 광 디스크 기록 재생 장치.
제 1 항 내지 제 15 항중 어느 하나에 기재된 데이터 기록 평가 방법을 프로세서에 실행시키기 위한 프로그램.
제 22 항에 기재된 프로그램을 저장한 메모리를 포함하는 프로세서.
재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와, 상기 검출 패턴의 출현 확률과의 곱의 복수를 총합하여 산출되는 제2 평가 지표치의 역치가 기록된 광 기록 정보 매체.
재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와, 상기 검출 패턴의 출현 확률과의 곱의 복수를 총합하여 산출되는 제2 평가 지표치와, 상기 제2 평가 지표치를 산출하는 근원이 되는 데이터 기록의 기록 조건과의 관계를 나타내는 데이터가 기록된 광 기록 정보 매체.
재생 신호로부터 특정된 검출 패턴에 대응하는 신호 상태와 상기 검출 패턴으로 특정되는 기준 상태와의 괴리에 대응하는 제1 평가 지표치와 상기 제1 평가 지표치를 산출하는 근원이 되는 데이터 기록의 기록 파라미터와의 관계를 나타내는 데이터가 기록된 광 기록 정보 매체.