JP4336871B2 - 光学情報の記録条件調整方法および記録再生装置 - Google Patents
光学情報の記録条件調整方法および記録再生装置 Download PDFInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体に対してレーザ光の照射により情報の記録及び再生を行う光学情報の記録方法および記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光記録媒体として、光磁気ディスクや相変化光ディスク等の書き換え型光ディスクがある。これらの光記録媒体に記録データを記録する際の代表的な記録方式として、記録マークの位置に情報を持たせるマークポジション記録と、記録マークの前端及び後端それぞれに情報を持たせるマークエッジ記録とがある。
【０００３】
マークエッジ記録は、高密度化に適した記録方式であるが、再生時に記録データを忠実に再生できるように、記録マークの長さを高精度に制御しなければならない。光磁気ディスクや相変化光ディスクにおける記録マークの長さは、レーザ光照射に起因した記録膜の温度上昇により決定される。また、光ディスクにレーザ光を照射した際の温度上昇は、ディスクの構成や線速により大きく変化する。
【０００４】
光記録媒体に記録データを記録する際、記録データ波形を複数の短パルスに分割して記録を行う記録技術、いわゆる記録ストラテジ技術が一般に用いられる。温度上昇量を制御してマーク長を高精度に制御するには、この複数の短パルスに分割された記録パルス波形（レーザ変調パルス波形）における各パルスの強度や幅を線速やディスク構成に応じて最適化する必要がある。パルス幅やパルス間隔などの記録ストラテジを最適化する方法の一例が、「信学技報ＭＲ９３−５５、ＣＰＭ９３−１０７、１３−１８頁、１９９３年」に記載されている。この方法では、基準マークから被測定マークの前端及び後端までの長さ（時間）が計測され、記録パルス波形の照射開始位置やパルス幅が決定される。
【０００５】
しかしながら、高密度化がより進み、ディスク上に記録される記録マーク長が短くなっていくにつれ、再生波形の信号振幅が低下し、記録マーク測定のためのスライサのスライスレベルよりも低くなってしまう事態も発生する。その結果、被測定マークの前端及び後端の位置を精度良く測定することができなくなるので、上述のような従来技術では、記録ストラテジの最適化を行うことが困難となってしまう。
【０００６】
高記録密度条件下において記録ストラテジを最適化する手法として、特開２００１−１２６２６０号公報に、記録再生系が線形であるとして、再生波形からパルス応答を導出して記録ストラテジを最適化する手法が提案されている。この従来技術によれば、ある記録パルス波形を用いたときの記録再生波形から、下記式（７）で表されるε'最小とするｈｊが、パルス応答の時系列データとして求められる。
【０００７】
【数７】
【０００８】
ここで、ａｌは通常1、０で表現される記録データ、ｙｌは再生波形を記録データのクロック周波数でサンプリングして得られる時系列データである。ｊの範囲は、時系列データｈｊが零でない有限の大きさを取る範囲で定まり、また、ｋは、再生波形の時系列データの全数で定まる。次に、記録パルス波形を変化させて、同様に、各々の記録パルス波形におけるｈｊおよびε'の最小値を導出し、ε'の最小値のうちの最も小さい値を与える記録パルス波形が最適な記録パルス波形として定めることができる。
【０００９】
線型な記録再生系では、１ビットのデータを記録再生した際の記録再生系の出力（一般にパルス応答あるいはインパルス応答と呼ばれる）をｈｊとすると、ある時刻での再生波形出力はノイズが全く無い場合には下記式（８）で表現される。パルス応答は記録密度及びビーム径あるいは記録再生条件（チルトやデフォーカス等）毎に異なる値を取る。上述のε'は、再生波形の非線形成分を評価した指標であり、ε'の値が小さいほど、再生波形の線型性が高いこととなる。
【００１０】
【数８】
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来技術による手法では、記録密度が非常に高く再生波形の信号振幅が大きく低下した場合には、ノイズの影響が無視できなくなるため、上述のパルス応答の時系列データｈｊやε'の最小値の導出精度が低くなり、記録ストラテジの最適化が難しくなるという問題がある。
【００１２】
また、この従来技術による手法では、再生波形からクロック周波数が抽出され、このクロック周波数を利用して、再生波形のサンプリングが行われている。再生波形からクロック周波数を抽出するにはPLL回路が必要となるため、回路構成が煩雑となってしまい、また、所定長さ（PLLの回路性能にも依存するが例えば1000bit程度のデータ）のデータが必要となり、処理に時間がかかってしまうという問題がある。
【００１３】
従来技術では主に、記録パルス幅の最適化について触れられているが、レーザパワーの調整を行う場合、記録パワーが適切でない場合には、PLL回路が正常に動作しない場合があり、パルス応答を導出することができないという問題が生じる。また、従来技術では線型性からのずれの絶対値（前記ε'）のみを用いているが、記録パワーを調整することを考えると、記録パワーの変化とともに、信号の振幅も変化するので、何らかの形で線型性からのずれを規格化する必要が生じる。
【００１４】
本発明はこれらの課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、記録密度が高い場合であっても、精度良く、かつ、短時間に記録条件（記録ストラテジ及びレーザパワー）が最適化される光学情報の記録方法および記録装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明にかかる光学情報の記録条件調整方法は、クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して該光記録媒体に記録マーク群を形成し、該記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、該再生波形に基づいてパルス応答を導出し、該パルス応答及び前記記録信号の畳込みで得られる波形と前記再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、前記パルス応答の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明にかかる光学情報の記録条件調整方法は、クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して光記録媒体に記録マーク群を形成し、記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、再生波形に基づいてパルス応答を導出し、パルス応答及び記録信号の畳込みで得られる波形と再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、再生波形の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整することを特徴とする。
【００１７】
また、本発明にかかる光学情報の記録再生装置は、光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれをレーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、パルス応答と記録信号との畳み込みで求められる波形と再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、パルス応答の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、を有することを特徴とする。
【００１８】
また、本発明にかかる光学情報の記録再生装置は、光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれを前記レーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、パルス応答と記録信号との畳み込みで求められる波形と再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、再生波形の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、を有することを特徴とする。
【００３０】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００３１】
図１は、本発明の実施の形態に係る光学情報記録装置のブロック図である。図２は、図１の光学情報記録装置の記録に使用される記録データと記録パルス波形の波形図の一部である。図３は、図１の光学情報記録装置のＣＰＵに取り込まれる繰り返し再生波形の波形図である。図４は、図３の繰り返し再生波形を平均化した波形図である。図５は、本実施の形態に用いられる光ディスクの断面図である。
【００３２】
本発明は再生波形からパルス応答を導出し、パルス応答から得られる情報に基づいて記録再生条件を調整する方法に関する発明であるが、パルス応答を導出するためには、クロック周期での再生波形の時系列データが必要である。クロック周期は、通常、ＰＬＬ（位相同期ループ）を用いて再生波形から抽出されるが、この操作には一定長さのデータと回路処理のための時間が必要であり、また、ＰＬＬ回路自体が必要である。本発明においては、ＰＬＬによるクロック周期の抽出は行われず、クロック周期以下の（クロック周期より短い）周期で再生波形のサンプリングが行われる。このサンプリングによって得られた再生波形の時系列データがＣＰＵに取り込まれ、この時系列データから補間法にてクロック周期での再生波形の時系列データが求められる。このようにして求められたクロック周期での再生波形の時系列データを用いて、パルス応答が導出される。これによって、PLL回路を不要とし回路構成を単純化できるとともに、パルス応答の導出時間を短縮することが可能である。また、レーザパワーが最適パワーからずれて、ＰＬＬ回路が正常に動作しない場合であっても、クロック周期毎の再生波形データを求めることができるので、再生波形の線型性を評価することが可能である。
【００３３】
なお、何らかの外乱で光ディスクの回転数が変動し、記録を行った時点と再生を行った時点で回転数が異なる事態が生じることが考えられる。この場合、記録時と再生時で基準クロック時間が異なってしまうため、再生時の波形データに対して、記録時のクロック時間に基づいて線型補間を行っても正しいデータが得られなくなってしまう。しかしながら、この場合であっても、複数のクロック時間を想定して、それぞれ想定したクロック時間毎に波形データを補間して前記のe、Ｒ１、Ｒ２を求め、最小のeあるいは最大のＲ１、Ｒ２を調べることで、再生時の正しいクロック時間を算出するとともに波形の線型性の評価を行うことができる。
【００３４】
一方、記録密度の高密度化が進み、ディスク上に記録される記録マーク長が短くなるにつれて、再生波形の信号振幅が低下し、ノイズの影響が大きくなる。このノイズは、記録再生系の本来持っているパルス応答とは異なるパルス応答を与えるように働く、もしくは、パルス応答の算出を不確定なものにする。したがって、パルス応答と記録データとの畳み込み演算で求められる演算結果と再生波形との差もまた、ノイズの存在しない場合の差と異なるもの、あるいは、不確定なものとなり、選択される記録パルス波形を最適な記録ストラテジを持つ波形と異なるものとする。本発明者は、同一の記録パルス波形を光記録媒体上に複数回繰り返し記録して記録マークを形成し、この記録マークから再生した複数の再生波形の平均化操作を行うことにより、ランダム性のノイズの影響が低減され、最適な記録ストラテジを持つ記録パルス波形を導出できることを見出したので、以下に詳述する。
【００３５】
図１に示すように、本実施の形態の光学情報の記録再生装置１は、光ディスク２にレーザ光を照射する光ヘッド３と、レーザ光の強度を変化させる駆動部としてのＬＤドライバ４と、制御部としてのＣＰＵ５とを備えている。ＣＰＵ５は、ＬＤドライバ４および光ヘッド３を介して記録データを種々の記録パルス波形に変換して光ディスク上に記録マークとして記録する機能と、光ディスク上の記録マーク情報を光ヘッドを介して再生して再生波形を得る機能と、各記録パルス波形において再生された再生波形からパルス応答を導出する機能と、このパルス応答及び記録データの畳み込みで求められる波形と再生波形との差が最も小さくなるように記録パルス波形を調整して最適な記録パルス波形を求める機能と、再生波形を平均化する機能、とを有する。これらの機能は、ＣＰＵに記憶されたソフトウェアによって実現されている。
【００３６】
記録ストラテジ決定のために使用される記録データは、例えばＭ系列等の一般的なランダムデータを適当に変調することによって得られる。記録データの長さとしては２００ビット程度あれば、パルス応答を精度良く導出するのに十分である。
【００３７】
再生波形の平均化操作は、ある１本のトラックに記録されている記録マークを複数回再生し、得られた再生波形を平均化することによってなされてもよい。しかし、データの取り込み時間を短縮するためには、同一の記録パルス波形の複数回の繰り返しパターンを同一トラック内に記録し、これを再生して平均化操作を行う方がより望ましい。記録領域が非常に長くなると、単一トラック周内においても信号振幅が変動してしまい、正確な平均化操作を行うことが困難となる場合もある。しかしながら、本実施の形態で用いられる記録データはたかだか２００ビット程度であるので、１ビット長を０．５μｍとして、例えば１０回の繰り返しパターンが使用されても、その占める領域はトラック１周のうちのごくわずかの領域であるにすぎず、信号振幅が変動することはない。
【００３８】
図２に、本実施の形態に用いた記録データと記録パルス波形の一部をクロック信号とともに示す。Ｔは、クロック周期である。最適な記録ストラテジを有する記録パルス波形は、以下のようにして導出される。まず、光ヘッドからのレーザ光によって記録パルス波形が光ディスクに記録されて記録マークが形成され、この記録マーク情報が読み出されて再生波形となる。再生された再生波形がクロック周期以下の周期でサンプリングされ、ＣＰＵに取り込まれる。図３は、図２の記録パルス波形が３回繰り返して同一トラックに記録された後に再生された再生波形の一部を示している。図３において、図示の簡単のために、繰り返しのそれぞれにおいて、図２の記録データのうちの最初の５Ｔの長さの部分の記録データに対応する再生波形のパルスのみが示されている。ｚｐ，１…ｚｐ＋３，１、ｚｐ，２…ｚｐ＋３，２、ｚｐ，３…ｚｐ＋３，３は、繰り返しのそれぞれにおける再生波形の時系列データである。ここで、ｚの最初の添え字は、繰り返しのそれぞれにおけるサンプリングの順番を表し、２番目の添え字は繰り返しの回数を表している。次に、同一のｐ値における３つの再生波形データ…ｚｐ，１…ｚｐ＋３，１…、…ｚｐ，２…ｚｐ＋３，２…、…ｚｐ，３…ｚｐ＋３，３…を平均した平均再生波形の時系列データ…ｚｐ…ｚｐ＋３…が求められる。図４は、このようにして求められた平均再生波形の時系列データ…ｚｐ…を黒の丸印にてプロットしたものである。次に、クロック信号の“０”と“１”との遷移点における時系列データｙｋが、その前後の時系列データｚｐを補間することによって得られる。図４の下向きの矢印で示される点が、ｙｋを与える補間点である。このような補間を容易に行うためには、例えば、記録データの先頭に基準パルスを付加し、再生の際にこの基準パルスを記録した基準マークからの再生信号を起点として時系列データを取り込めばよい。ｋは、０≦ｋ≦ｎを満たす整数である。ｎは、０以上の整数である。時系列データｙｋの全数は、（ｎ＋１）個である。いま、εが、次の式（１）で定義されるものとする。但し、ｉは、０≦ｉ≦ｋを満たす整数である。
【００３９】
【数１２】
【００４０】
ここで、ａｋ−ｉは記録データである。例えば最小二乗法によって、あるいは、偏微分方程式∂ε／∂ｈｉ＝０を解くことによって、εが最小値を取る時系列データｈｉを求めると、ｋの最大値、即ち、時系列データｙｋの個数にもよるが、得られた時系列データｈｉは、高い精度で記録再生系のパルス応答ｈの時系列データを与える。パルス応答ｈの時系列データｈｉが零でない有限の大きさを取る範囲は、記録再生系の回路特性、光ヘッド特性、ならびに記録密度などに依存するが、通常、ｉ＝２〜２０程度であり、それ以上のｉの値に対しては、事実上、ｈｉ＝０としてよい。したがって、式（１）において、ｉに対する和は、最大でも２０程度とれば十分である。
【００４１】
次に、記録ストラテジを変化させて上述の過程を実施し、パルス応答の時系列データならびにそのときのεの最小値を求める。同様に、順次、記録ストラテジを変化させて求められるεの最小値のうちで最も小さな値を持つ記録ストラテジが、最適な記録ストラテジである。εの値が小さいということは、記録データと再生波形データとの線型性が高いということであり、マークエッジ記録で想定している再生波形に近い再生波形が得られるということを意味する。理想的にはεの値を０とすることが望ましいが、再生波形にはディスクノイズやレーザノイズ、回路ノイズ等、ノイズの影響があるので、実際にはεの値を完全に０とすることは難しく、記録ストラテジを変化させた中で最もεの値を小さくすることができた記録ストラテジが最適な記録ストラテジということになる。
【００４２】
記録ストラテジ最適化の指標としては、εに換えて、下記の式（２）から式（５）で定義されるＲ１あるいはＲ２およびＩ１あるいはＩ２が用いられてもよい
【００４３】
【数１３】
【００４４】
【数１４】
【００４５】
【数１５】
【００４６】
【数１６】
【００４７】
式（２）から明らかなように、指標Ｒ（Ｒ１、Ｒ２）は、指標εを再生波形から得られる情報を用いて規格化して、その逆数をとったものである。指標Ｉ（Ｉ１、Ｉ２）は、指標Ｒの対数表示である。記録ストラテジの最適化は、記録パルス波形のパルス幅やパルス間隔を調整して行われるが、これらの量を多少変更しても、再生波形の時系列データｙｋの二乗 の総和は大きくは変化しない（ykの絶対値が大きくなるのは長マークや長スペースに対してであり、ストラテジの調整が主に必要なのは短マークや短スペースに対してである）ので、εを最小化する代りに、ＲあるいはＩを最大化しても結果に影響を与えることはない。εの単位が信号振幅の二乗であり、再生回路のゲインや再生パワー等により変化する量であるのに対して、ＲおよびＩは、それら再生回路のゲインや再生パワー等に依存しない無次元量であるという利点を有する。
【００４８】
一方、情報の記録に用いるレーザパワーの調整を行う場合を考えると、記録パワーの変化とともに、信号の振幅も変化するので、何らかの形で線型性からのずれを規格化する必要が生じる。すなわち、記録パワーが小さい場合には、εの絶対値が小さく、かつ、信号振幅自体が非常に小さい条件が存在する可能性が考えられるが、その場合は、εを最小とするレーザパワーが必ずしも最適なパワーと一致しない可能性が考えられる。本発明者は、レーザパワー調整のためのεを規格化した指標として、上述のＲ１あるいはＲ２（もしくはI1あるいはI2）を用いれば良いことを見出した。Ｒ１は規格化の信号振幅として、パルス応答のエネルギーに評価したビット数をかけた値を用いており、Ｒ２は規格化の信号振幅として再生波形のエネルギの総和を用いている。Ｒ１あるいはＲ２いずれの指標を用いてレーザパワーを調整しても良いが、Ｒ２で用いられている再生波形のエネルギにはノイズ成分や非線型成分をそのまま含んでいるため、有色性のノイズが極端に高い場合や、再生波形の非線形性が顕著な場合には、レーザパワー調整を行うことが困難であると考えられるので、信号のエネルギとして線型な成分のみを用いているＲ１の方がより好適である。なお、Ｒ１に代えて下記式（６）のＲ３を用いることも可能である。Ｒ３はパルス応答のエネルギを振幅の自乗で代表させた値となっている。下記式（６）においてhi_maxはパルス応答の振幅を表している。記録条件調整の指標としては、Ｒ３の値そのままでも良いし、Ｉ１、Ｉ２と同様にＲ３の対数を取った値Ｉ３を用いても良い。
【００４９】
【数１７】
【００５０】
レーザパワーの調整を行う場合には、同一の記録データを繰り返し記録して平均化操作を行う必要は必ずしも無い。これは、例えば、相変化光ディスクのオーバライト時のレーザパワー調整において、レーザパワーが最適パワーからずれた場合には、ノイズよりもオーバライト前に存在していた前データの消し残り成分の方が支配的となるため、ノイズ成分を抑圧しなくても波形の線型性評価を行うことが可能となるからである。
（実施例１）
図５は、本実施の形態において用いた光ディスクの断面図である。図５に示すように、本実施の形態において用いた光ディスクでは、プラスチック基板１０上に、反射膜１１、保護膜１２、記録膜１３、保護層１４および光透過層１５が、この順に積層されている。記録膜１３は、相変化型記録媒体で形成されている。プラスチック基板１０にはポリカーボネートが用いられ、その案内溝ピッチは０．３２μｍである。また、本実施の形態の光ヘッドのレーザ波長は４００ｎｍ、そのＮＡ値は０．８５である。
【００５１】
図６は、本発明の実施例１における記録ストラテジ最適化を説明するための記録信号と記録パルス波形の波形図の一部である。図７は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ２特性図である。図８は、図６の記録パルス波形の繰り返し回数（平均化回数）−指標Ｉ２特性図である。図９は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ２、e 特性図である。図１０は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−ビット誤り率特性図である。
【００５２】
線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数９０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。光ヘッドからのレーザ光が、光ディスクの光透過層側から入射され、案内溝間の平坦部に記録マークが形成された。記録パワーは４ｍＷ、消去パワーは１．５ｍＷである。光ディスク上の光ビームの直径は、０．４μｍである。また、マークエッジ記録に適合するように、上述の２００ビットの長さのＭ系列疑似ランダムデータを１−７ＲＬＬ（Run Length Limited）変換し、ＮＲＺＩ（NonReturn-to-Zero-Inverted）変調符号化を行って、記録データを生成した。この場合、ディスク上には、再生時間換算で２Ｔ〜８Ｔの長さの７種類の記録マーク（以後、それぞれ、「２Ｔの記録マーク」、‥、「８Ｔの記録マーク」という）が形成され、最短記録マークの長さは０．１２μｍとなる。Ｔはクロック周期であり、本実施例においてはＴ＝１１．１１ｎｓである。再生波形の取り込みは、１０ｎｓ毎に行った。
【００５３】
b.e.r.の測定は、各ストラテジに毎に長さ１０6ビットの長さのＭ系列疑似ランダムデータを記録再生して行った。
【００５４】
図６は、記録ストラテジを説明するために、３Ｔのパルス幅の記録データとそれに対応する記録パルス波形とを示している。以下において、３Ｔのパルス幅の記録データに対応する記録パルス波形を、３Ｔ信号という。他の長さの記録信号に対応する記録パルス波形においても、同様である。図６に示すように、記録パルス波形は、消去パワーレベルの区間Ｔｓｔの後に、パルス幅Ｔｔｏｐで記録パワーレベルの先頭パルスと、パルス幅Ｔｓｍｐでバイアスパワーレベルの低レベルパルスとパルス幅Ｔｍｐで記録パワーレベルの高レベルパルスとよりなるマルチパルス部と、パルス幅Ｔｃｌのクーリング部と、を持つパルス信号である。クーリング部には、通常、０．１〜０．５ｍＷ程度のレーザパワーが存在するが、完全にレーザパワーを零にしても得られる結果にほとんど変化はない。区間Ｔｓｔ、パルス幅Ｔｔｏｐ、Ｔｓｍｐ、Ｔｍｐ、Ｔｃｌが、記録ストラテジを最適化するための記録補償パラメータとして用いられ得る。
【００５５】
これらの記録補償パラメータの調整のなかで、高密度記録条件下で特に必要となるのは、２Ｔ信号および３Ｔ信号の記録補償パラメータの調整である。４Ｔ信号〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは各信号毎に調整する必要は必ずしもなく、例えば４Ｔ信号を最適化すれば、他の信号は、マルチパルス部のパルス数を増減することによって最適化することが可能である。
【００５６】
以下に、３Ｔ信号を例として、その先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを変化させて記録ストラテジを最適化するステップを述べる。表１に本実施例において用いた各パラメータを示す。本実施例においては、３Ｔ信号の先頭パルス開始前期間Ｔｓｔと先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐのみを変化させ、２Ｔ、４〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは固定とした。表１で、マルチパルス部のパルス幅Ｔｓｍｐの低レベルパルスとパルス幅Ｔｍｐの高レベルパルスとで形成される対の数が、４Ｔ信号において２対、５Ｔ信号において３対というように、３Ｔ信号から８Ｔ信号にかけて１対ずつ増加される。
【００５７】
【表１】
【００５８】
まず、上述のように生成された記録データを、図２に示すような形状の記録パルス波形に変換し、その記録パルス波形の８回の繰り返しパターンを光ディスクに記録し、記録ストラテジ最適化に必要な平均操作回数を調べた。その際、記録パルス波形の繰り返し毎に、各記録パルス波形の先頭に１０Ｔの基準マークが記録され、この１０Ｔの基準マークから再生される再生波形を起点として、再生波形の時系列データが取り込まれた。これは、データ取り込みの位置精度を高めるためである。なお、起点となるべき基準マークあるいはスペースは１０Ｔの長さに限る必要はなく、記録データに用いられないパターンで、かつ、安定に検出できる長さ（光ビームの直径以上が望ましい）を有していればよい。
【００５９】
図７は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときの指標Ｉ２をプロットしたものである。図７において、４本の曲線は、それぞれ、８個の繰り返し記録パルス波形のうちの１個、２個、３個、８個を平均化した場合のものである。図７に示すように、平均化個数：１（平均化操作なし）及び平均化個数：２の平均化操作では、ノイズの影響で指標Ｉ２の値が小さく、かつ、記録ストラテジ最適化のための記録補償パラメータである先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐの変化に対する指標Ｉ２の変化が明確でない。したがって、平均化個数：２以下の平均化操作では、最適な記録ストラテジを決定することが困難である。平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値が大きく、かつ、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐの変化に対する指標Ｉ２の変化も明確である。
【００６０】
また、平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値が、平均化個数にほとんど依存しない。図８は、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが０．４Ｔである３Ｔ信号の平均化個数に対して、指標Ｉ２をプロットしたものである。図８に示すように、平均化個数：２以下の平均化操作では、指標Ｉ２の値が変化するが、平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値がほぼ一定になる。したがって、平均化個数：３以上の平均化操作によって、ノイズによる影響がほとんど完全に除去される。
【００６１】
図９は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときの指標Ｉ２と指標εとをプロットしたものである。指標Ｉ２と指標εとの値は、記録パルス波形の３回の繰り返しパターンの平均化操作から得られた値である。図９に示すように、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが同一の０．４Ｔのとき、指標Ｉ２が最大になり、指標εが最小となる。これは、指標εに代えて指標Ｉ２を用いることが妥当であることを示している。
【００６２】
図１０は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときのビット誤り率ｂ．ｅ．ｒ．をプロットしたものである。ビット誤り率の値は、記録パルス波形の３回の繰り返しパターンの平均化操作から得られた値である。図１０に示すように、ビット誤り率は、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが０．４Ｔのとき最小になる。この先頭パルスのパルス幅０．４Ｔは、図７の指標Ｉ２が最大となる先頭パルスのパルス幅０．４Ｔと等しい。
（実施例２）
図１１は、本発明の実施例２における記録ストラテジ最適化を説明するための記録パルス波形のクーリング部のパルス幅−指標Ｉ２、ビット誤り率特性図である。
【００６３】
線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数７０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーは４ｍＷ、消去パワーは１．５ｍＷである。光ディスク上の光ビームの直径は、０．４μｍである。ストラテジ調整、b.e.r.測定に用いた記録データとしては、実施例１と同じ記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、実施例１と同様に、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１６μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１４．２９ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１０ｎｓ毎に行った。
【００６４】
本実施例においては、調整される記録補償パラメータとして、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌが選択された。表２に本実施例において用いた各パラメータを示す。本実施例においては、２Ｔ信号のパルス幅Ｔｃｌのみを０．２〜０．４Ｔと変化させ、３〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは固定とした。表２において、マルチパルス部のパルス対の数が、３Ｔ信号において１対であり、３Ｔ信号から８Ｔ信号にかけて１対ずつ増加されている。
【００６５】
【表２】
【００６６】
記録パルス波形の繰り返し回数を３回とし、３個の繰り返しパターンの平均値として、指標Ｉ２およびビット誤り率ｂ．ｅ．ｒ．が算出された。図１１は、このようにして得られた指標Ｉ２およびビット誤り率を、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌに対してプロットしたものである。図１１に示すように、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌとしては、０．３Ｔ が最適である。
【００６７】
なお、実施例１及び実施例２について代表的に規格化した線型性の指標としてＩ２についてデータを示したが、Ｉ１あるいはＩ３についてもＩ２と同様のストラテジ依存を有しており、Ｉ１あるいはＩ３を用いてもストラテジの最適化が可能であることが確認できた。
（実施例３）
厚さ０．６ｍｍのプラスチック基板上に、保護膜、記録膜、保護膜、反射膜が順に積層され、反射膜上に紫外線硬化樹脂層が形成された相変化光ディスクを用いてレーザパワーとＩ１、Ｉ２、Ｉ３の関係を調べた。記録膜は、相変化型記録媒体で形成されている。プラスチック基板にはポリカーボネートが用いられ、その案内溝ピッチは０．４２μｍである。また、光ヘッドのレーザ波長は４０５ｎｍ、そのＮＡ値は０．６５である。
【００６８】
線速５．２ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数６０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーと消去パワーの比を２．４とし、レーザパワーを変化させながら記録を行った。光ディスク上の光ビームの直径は、０．５２μｍである。記録データとしては、レーザパワー調整に用いたデータは実施例１と同じ長さ２００ビットのランダムデータ、ｂ．ｅ．ｒ．測定に用いた記録データも実施例１と同じ１０６長さの記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、実施例１と同様に、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１７μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１６．６６ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１５ｎｓ毎に行った。
【００６９】
同一のレーザパワーで１０回オーバライトを行う行程をそれぞれのレーザパワーに対して行い、それぞれの条件に対して、ｂ．ｅ．ｒ．及びＲ１、Ｒ２、Ｒ３を求めた。図１２にその結果を示す。本実施例では、平均化操作は行わなかった。なお、本実施例では平均化操作を行ってもＲ１，Ｒ２，Ｒ３の値はほとんど改善されなかった。これは、波形の線型性が白色ノイズではなく、オーバライト動作時に存在していた前データの消し残り成分が波形の線型性を支配しているためと考えられる。
【００７０】
図１２におけるレーザパワーは、規格化して示してあり、１に相当するレーザパワーは、記録パワー6mW、消去パワー2.5mWである。同様に1.2に相当するレーザパワーは、記録パワー7.2mW、消去パワー3mWである。図１２から、b.e.r.が最良となるレーザパワーとＲ１、Ｒ２、Ｒ３が最大となる（図１２ではそれぞれの対数Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３が表示されている）レーザパワーが一致しており、レーザパワーを変化させながらＲ１、Ｒ２、Ｒ３の値を調べることでレーザパワーの調整が可能であることが分かる。
【００７１】
また、上述の相変化光ディスクを用いて、同一のレーザパワーによるオーバライト回数を変化させて測定を行い、オーバライト回数を変化させた場合のレーザパワーとＲ１、Ｒ２、Ｒ３の関係を調べた。その結果の代表例としてＩ１（Ｒ１）を図１３に示す。本測定でも平均化操作は行わなかった。
【００７２】
図１３から分かるように、オーバライト回数１回（初回の記録）では、Ｉ１（Ｒ１）の最大値を見つけることが難しく、レーザパワーの最適化を行うことが困難であることが分かる。これは、初回の記録ではオーバライトに特有の、前に記録したデータの影響を全く受けないためと考えられる。すなわち、消去パワーが適切でない場合には前に記録したデータの消し残りが信号の歪み成分として現れるので、波形の線型性が大きく変化するが、初回の記録では前のデータの消し残り成分は全くないということである。なお、図には示さなかったがＲ２，Ｒ３についても同様の結果が得られた。従って、相変化光ディスクについて、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の値を調べてレーザパワーの最適化を行うためには、少なくとも２回以上オーバライトを行う必要がある。
（実施例４）
厚さ０．６ｍｍのプラスチック基板上に、保護膜、記録膜、保護膜、反射膜が順に積層され、反射膜上に紫外線硬化樹脂層が形成された相変化光ディスクを用いてレーザパワーとＩ１、Ｉ２、Ｉ３の関係を調べた。記録膜は、相変化型記録媒体で形成されている。記録膜の膜厚を３０ｎｍと厚くし、かつ、反射膜の厚さを１０ｎｍと薄くして、放熱性を低くし、記録時のエッジシフト（非線形成分）が大きくなるディスク構成とした。プラスチック基板にはポリカーボネートを用い、案内溝ピッチは０．４２μｍとした。また、光ヘッドのレーザ波長は４０５ｎｍ、そのＮＡ値は０．６５とした。
【００７３】
線速５．２ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数６０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーと消去パワーの比を２．４とし、レーザパワーを変化させながら記録を行った。光ディスク上の光ビームの直径は、０．５２μｍである。記録データとしては、実施例３と同じ記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１７μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１６．６６ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１５ｎｓ毎に行った。
【００７４】
同一のレーザパワーで１０回オーバライトを行う行程をそれぞれのレーザパワーに対して行い、それぞれの条件に対して、ｂ．ｅ．ｒ．及びＲ１、Ｒ２、Ｒ３を求めた。図１４にその結果を示す。本実施例では、平均化操作は行わなかった。
【００７５】
図１４から分かるように、Ｒ１、Ｒ３が最大となるレーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．が最小となるレーザパワーは一致していることが分かるが、Ｒ２に対しては、Ｒ２が最大となるレーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．が最小となるレーザパワーは一致していない。これは、レーザパワーが高い時には記録時のエッジシフトが大きくなるが、Ｒ２ではエッジシフトを含んだ信号成分で線型性の指標を規格化しているためと考えられる。従って、レーザパワーの最適化には、Ｒ１あるいはＲ３を用いる方がより好適である。
（実施例５）
実施例３で得られた再生波形に対して、パルス応答の長さを５〜２０（T：Tはチャネルクロック）の間で変化させてＩ１，Ｉ２，Ｉ３の値を求め、パルス応答の長さとＩ１，Ｉ２，Ｉ３の関係を調べた。その結果を図１５に示す。なお、図１５に示したデータは実施例３においてレーザパワー１に対して得られた再生波形データに対して求めたものである。図１５から分かるように、Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３がほぼ飽和した値となるのはパルス応答の長さを１５T以上とした場合であり、長さが短い場合には、値がばらついてしまい、正しく線型性の評価を行うことができない。
（実施例６）
実施例３で記録したデータを線速５．３ｍ／ｓで再生し、補間するためのクロック時間を変化させながらＩ１、Ｉ２、Ｉ３のデータを計算した。実施例３に記述した通り、記録は線速５．２ｍ／ｓにおいてクロック時間１６．６６ｎｓの条件で行われたので、線速５．３ｍ／ｓで再生した場合には、正しいクロック時間は１６．３５ｎｓとなる。再生波形を補間するためのクロック時間を１５ｎｓから１８ｎｓまで０．０５ｎｓ毎に変化させてＩ１，Ｉ２，Ｉ３を計算したところ、クロック時間を１６．３５ｎｓと想定した場合にＩ１，Ｉ２，Ｉ３が最大値を取ることが確認できた。従って、何らかの外乱で光ディスクの回転数が変動し、記録を行った時点と再生を行った時点で回転数が異なる事態が生じたとしても、複数のクロック時間を想定して、それぞれ想定したクロック時間毎に波形データを補間することで、再生時の正しいクロック時間を算出するとともに波形の線型性の評価を行うことができる。
（実施例７）
図１６、図１７は、本発明の実施例２における記録ストラテジ最適化により得られる最短ビット長−指標Ｉ１及び指標Ｉ２特性図である。
【００７６】
実施例１で用いた相変化光ディスクについて波長４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５及びＮＡ＝０．７５の光ヘッドを用いて、線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数を変化させて、光ディスク上に記録される最短記録マーク長を変化させて記録を行って、レーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．の関係を調べた。同様に、実施例３で用いた相変化光ディスクについて波長４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．６５及びＮＡ＝０．６の光ヘッドを用いて、線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数を変化させて、光ディスク上に記録される最短記録マーク長を変化させて記録を行って、レーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．の関係を調べた。ビーム径はNA=0.6, 0.65, 0.75, 0.85 の場合にそれぞれ、0.6, 0.52, 0.46, 0.4mmであった。
【００７７】
レーザパワーを変化させる際には、記録パワーと消去パワーの比を一定として、レーザパワーを変化させながらそれぞれのレーザパワーで１０回オーバライトを行った後、Ｉ１，Ｉ２及びｂ．ｅ．ｒ．の測定を行った。記録データとしては、Ｉ１，Ｉ２の測定には実施例１と同じ長さ２００ビットのデータを、ｂ．ｅ．ｒ．の測定にも実施例１と同じ長さ106ビットのデータを用いた。クロック周波数を変化させることで最短マーク長を変化させた。
【００７８】
図１６、図１７に、各最短記録マーク長Ｌにおいて、ビット誤り率が１×１０−４となる指標Ｉ１及びＩ２の値がプロットされている。ここでビット誤り率として１×１０−４を基準としたのは、一般的にリードソロモンなどの誤り訂正を用いて誤り訂正が可能（装置が支障無く動作する）な上限の誤り率が１×１０−４であるからである。指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２）は、図中、ほぼ一直線上にあり、その直線を境にして紙面上方の領域が、１×１０−４以下のビット誤り率を与える指標Ｉの領域である。即ち、Ｉ１≧２０−aＬ、Ｉ２≧２１−aＬの条件が満足されたときに、ビット誤り率が１×１０−４以下となっている。また、aの値がビーム径が大きくなるにつれて小さくなっていることが分かる。そこで、aの値とビーム径の関係を調べたところ、aはビーム径に反比例しており、図１６、図１７の直線はそれぞれ、Ｉ１＝２０−２０（Ｌ／ｗ）、Ｉ２＝２１−２０（Ｌ／ｗ）で近似できることが確認された。即ち、Ｉ１＝２０−２０（Ｌ／ｗ）、Ｉ２＝２１−２０（Ｌ／ｗ）の条件が満足されたときに、ビット誤り率が１×１０−４以下となる。したがって、この条件を満足するようにレーザパワーを調整すれば、ビット誤り率が１×１０−４以下となる。
【００７９】
以上、本発明をその好適な実施の形態に基づいて説明したが、本発明の光学情報の記録方法および記録装置は、上述した実施の形態のみに制限されるものではなく、本願発明の要旨を変更しない範囲で種々の変化を施した光学情報の記録方法および記録装置も、本発明の範囲に含まれる。例えば、記録媒体としては、相変化光ディスクに限られることなく、光磁気ディスクや追記型ディスク等の記録再生のできる光記録媒体であればいずれでも用いられ得る。また、記録データ生成時に用いた１−７変換は、１−７変換に限らず、２−７変換等のＲＬＬ符号化を行う変換であればいずれでもよい。
【００８０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る光学情報の記録方法および記録装置は、記録データに記録ストラテジ処理を施した記録パルス信号を光記録媒体上に記録再生して得られた再生波形と、記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差が最小になるようにパルス応答を定めることによって記録条件を最適化する際に、再生波形をクロック周期より短い周期でサンプリングを行って記録条件の最適化を行うので、回路構成を煩雑とすることなく短時間に記録ストラテジの最適化を行うことが可能である。
【００８１】
また、ＰＬＬによるクロック周期の抽出を行わないので、レーザパワーが最適パワーからずれてＰＬＬ回路が正常に動作しない場合であっても、再生波形の線型性を評価することが可能である。
【００８２】
また、同一の記録パルス波形を光記録媒体の同一トラックに３回以上記録し、再生された再生波形を平均化した再生波形を用いるものであるので、高記録密度の場合であっても、ノイズの影響を受けることなく、精度良く記録ストラテジの最適化を行うことが可能である。
【００８３】
また、本発明に係る光学情報の記録方法および記録装置は、記録パルス信号を光記録媒体上に記録再生して得られた再生波形と、記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差が最小になるようにパルス応答を定めることによってレーザパワーを最適化する際に、前記再生波形と記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差を再生波形から得られる情報を元に規格化しているので、波形の線型性が高く、かつ、信号振幅ができるだけ大きくなるレーザパワーを精度良く決定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施の形態に係る光学情報記録装置のブロック図。
【図２】 図１の光学情報記録装置の記録に使用される記録データと記録パルス波形の波形図の一部。
【図３】 図１の光学情報記録装置のＣＰＵに取り込まれる繰り返し再生波形の波形図。
【図４】 図３の繰り返し再生波形を平均化した波形図。
【図５】 図１の光学情報記録装置の記録に使用される光ディスクの１例の断面図。
【図６】 本発明の実施例１における記録ストラテジ最適化を説明するための記録データと記録パルス波形との波形図。
【図７】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）特性図。
【図８】 図６の記録パルス波形の繰り返し回数−指標Ｉ（Ｉ２）特性図。
【図９】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）、ε特性図。
【図１０】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−ビット誤り率特性図。
【図１１】実施例２における記録パルスのクーリングパルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）、ビット誤り率特性図
【図１２】レーザパワー指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）、ビット誤り率特性図。
【図１３】オーバライト回数を変化させた際のレーザパワーと指標Ｉ１の関係を説明する図。
【図１４】レーザパワー指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）、ビット誤り率特性図。
【図１５】パルス応答長さと指標（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）の関係を説明する図。
【図１６】所定のビット誤り率を達成するための指標Ｉ１とディスク上に記録される最短マークの関係を説明する図。
【図１７】所定のビット誤り率を達成するための指標Ｉ２とディスク上に記録される最短マークの関係を説明する図。
【符号の説明】
１ 光学情報記録装置
２ 光ディスク
３ 光ヘッド
４ ＬＤドライバ
５ ＣＰＵ
１０ プラスチック基板
１１ 反射膜
１２、１４ 保護膜
１３ 記録膜
１５ 光透過層
Ｔｓｔ 先頭パルス始端開始期間
Ｔｔｏｐ、Ｔｓｍｐ、Ｔｍｐ、Ｔｃｌ パルス幅
ｚｐ，１、ｚｐ＋３，１、ｚｐ，２、ｚｐ＋３，２、ｚｐ，３、ｚｐ＋３，３再生波形の時系列データ
ｚｐ、ｚｐ＋３ 平均化された再生波形の時系列データ
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体に対してレーザ光の照射により情報の記録及び再生を行う光学情報の記録方法および記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光記録媒体として、光磁気ディスクや相変化光ディスク等の書き換え型光ディスクがある。これらの光記録媒体に記録データを記録する際の代表的な記録方式として、記録マークの位置に情報を持たせるマークポジション記録と、記録マークの前端及び後端それぞれに情報を持たせるマークエッジ記録とがある。
【０００３】
マークエッジ記録は、高密度化に適した記録方式であるが、再生時に記録データを忠実に再生できるように、記録マークの長さを高精度に制御しなければならない。光磁気ディスクや相変化光ディスクにおける記録マークの長さは、レーザ光照射に起因した記録膜の温度上昇により決定される。また、光ディスクにレーザ光を照射した際の温度上昇は、ディスクの構成や線速により大きく変化する。
【０００４】
光記録媒体に記録データを記録する際、記録データ波形を複数の短パルスに分割して記録を行う記録技術、いわゆる記録ストラテジ技術が一般に用いられる。温度上昇量を制御してマーク長を高精度に制御するには、この複数の短パルスに分割された記録パルス波形（レーザ変調パルス波形）における各パルスの強度や幅を線速やディスク構成に応じて最適化する必要がある。パルス幅やパルス間隔などの記録ストラテジを最適化する方法の一例が、「信学技報ＭＲ９３−５５、ＣＰＭ９３−１０７、１３−１８頁、１９９３年」に記載されている。この方法では、基準マークから被測定マークの前端及び後端までの長さ（時間）が計測され、記録パルス波形の照射開始位置やパルス幅が決定される。
【０００５】
しかしながら、高密度化がより進み、ディスク上に記録される記録マーク長が短くなっていくにつれ、再生波形の信号振幅が低下し、記録マーク測定のためのスライサのスライスレベルよりも低くなってしまう事態も発生する。その結果、被測定マークの前端及び後端の位置を精度良く測定することができなくなるので、上述のような従来技術では、記録ストラテジの最適化を行うことが困難となってしまう。
【０００６】
高記録密度条件下において記録ストラテジを最適化する手法として、特開２００１−１２６２６０号公報に、記録再生系が線形であるとして、再生波形からパルス応答を導出して記録ストラテジを最適化する手法が提案されている。この従来技術によれば、ある記録パルス波形を用いたときの記録再生波形から、下記式（７）で表されるε'最小とするｈｊが、パルス応答の時系列データとして求められる。
【０００７】
【数７】
ここで、ａｌは通常1、０で表現される記録データ、ｙｌは再生波形を記録データのクロック周波数でサンプリングして得られる時系列データである。ｊの範囲は、時系列データｈｊが零でない有限の大きさを取る範囲で定まり、また、ｋは、再生波形の時系列データの全数で定まる。次に、記録パルス波形を変化させて、同様に、各々の記録パルス波形におけるｈｊおよびε'の最小値を導出し、ε'の最小値のうちの最も小さい値を与える記録パルス波形が最適な記録パルス波形として定めることができる。
【０００９】
線型な記録再生系では、１ビットのデータを記録再生した際の記録再生系の出力（一般にパルス応答あるいはインパルス応答と呼ばれる）をｈｊとすると、ある時刻での再生波形出力はノイズが全く無い場合には下記式（８）で表現される。パルス応答は記録密度及びビーム径あるいは記録再生条件（チルトやデフォーカス等）毎に異なる値を取る。上述のε'は、再生波形の非線形成分を評価した指標であり、ε'の値が小さいほど、再生波形の線型性が高いこととなる。
【００１０】
【数８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来技術による手法では、記録密度が非常に高く再生波形の信号振幅が大きく低下した場合には、ノイズの影響が無視できなくなるため、上述のパルス応答の時系列データｈｊやε'の最小値の導出精度が低くなり、記録ストラテジの最適化が難しくなるという問題がある。
【００１２】
また、この従来技術による手法では、再生波形からクロック周波数が抽出され、このクロック周波数を利用して、再生波形のサンプリングが行われている。再生波形からクロック周波数を抽出するにはPLL回路が必要となるため、回路構成が煩雑となってしまい、また、所定長さ（PLLの回路性能にも依存するが例えば1000bit程度のデータ）のデータが必要となり、処理に時間がかかってしまうという問題がある。
【００１３】
従来技術では主に、記録パルス幅の最適化について触れられているが、レーザパワーの調整を行う場合、記録パワーが適切でない場合には、PLL回路が正常に動作しない場合があり、パルス応答を導出することができないという問題が生じる。また、従来技術では線型性からのずれの絶対値（前記ε'）のみを用いているが、記録パワーを調整することを考えると、記録パワーの変化とともに、信号の振幅も変化するので、何らかの形で線型性からのずれを規格化する必要が生じる。
【００１４】
本発明はこれらの課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、記録密度が高い場合であっても、精度良く、かつ、短時間に記録条件（記録ストラテジ及びレーザパワー）が最適化される光学情報の記録方法および記録装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明にかかる光学情報の記録条件調整方法は、クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して該光記録媒体に記録マーク群を形成し、該記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、該再生波形に基づいてパルス応答を導出し、該パルス応答及び前記記録信号の畳込みで得られる波形と前記再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、前記パルス応答の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明にかかる光学情報の記録条件調整方法は、クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して光記録媒体に記録マーク群を形成し、記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、再生波形に基づいてパルス応答を導出し、パルス応答及び記録信号の畳込みで得られる波形と再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、再生波形の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整することを特徴とする。
【００１７】
また、本発明にかかる光学情報の記録再生装置は、光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれをレーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、パルス応答と記録信号との畳み込みで求められる波形と再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、パルス応答の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、を有することを特徴とする。
【００１８】
また、本発明にかかる光学情報の記録再生装置は、光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれを前記レーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、パルス応答と記録信号との畳み込みで求められる波形と再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、再生波形の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、を有することを特徴とする。
【００３０】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００３１】
図１は、本発明の実施の形態に係る光学情報記録装置のブロック図である。図２は、図１の光学情報記録装置の記録に使用される記録データと記録パルス波形の波形図の一部である。図３は、図１の光学情報記録装置のＣＰＵに取り込まれる繰り返し再生波形の波形図である。図４は、図３の繰り返し再生波形を平均化した波形図である。図５は、本実施の形態に用いられる光ディスクの断面図である。
【００３２】
本発明は再生波形からパルス応答を導出し、パルス応答から得られる情報に基づいて記録再生条件を調整する方法に関する発明であるが、パルス応答を導出するためには、クロック周期での再生波形の時系列データが必要である。クロック周期は、通常、ＰＬＬ（位相同期ループ）を用いて再生波形から抽出されるが、この操作には一定長さのデータと回路処理のための時間が必要であり、また、ＰＬＬ回路自体が必要である。本発明においては、ＰＬＬによるクロック周期の抽出は行われず、クロック周期以下の（クロック周期より短い）周期で再生波形のサンプリングが行われる。このサンプリングによって得られた再生波形の時系列データがＣＰＵに取り込まれ、この時系列データから補間法にてクロック周期での再生波形の時系列データが求められる。このようにして求められたクロック周期での再生波形の時系列データを用いて、パルス応答が導出される。これによって、PLL回路を不要とし回路構成を単純化できるとともに、パルス応答の導出時間を短縮することが可能である。また、レーザパワーが最適パワーからずれて、ＰＬＬ回路が正常に動作しない場合であっても、クロック周期毎の再生波形データを求めることができるので、再生波形の線型性を評価することが可能である。
【００３３】
なお、何らかの外乱で光ディスクの回転数が変動し、記録を行った時点と再生を行った時点で回転数が異なる事態が生じることが考えられる。この場合、記録時と再生時で基準クロック時間が異なってしまうため、再生時の波形データに対して、記録時のクロック時間に基づいて線型補間を行っても正しいデータが得られなくなってしまう。しかしながら、この場合であっても、複数のクロック時間を想定して、それぞれ想定したクロック時間毎に波形データを補間して前記のe、Ｒ１、Ｒ２を求め、最小のeあるいは最大のＲ１、Ｒ２を調べることで、再生時の正しいクロック時間を算出するとともに波形の線型性の評価を行うことができる。
【００３４】
一方、記録密度の高密度化が進み、ディスク上に記録される記録マーク長が短くなるにつれて、再生波形の信号振幅が低下し、ノイズの影響が大きくなる。このノイズは、記録再生系の本来持っているパルス応答とは異なるパルス応答を与えるように働く、もしくは、パルス応答の算出を不確定なものにする。したがって、パルス応答と記録データとの畳み込み演算で求められる演算結果と再生波形との差もまた、ノイズの存在しない場合の差と異なるもの、あるいは、不確定なものとなり、選択される記録パルス波形を最適な記録ストラテジを持つ波形と異なるものとする。本発明者は、同一の記録パルス波形を光記録媒体上に複数回繰り返し記録して記録マークを形成し、この記録マークから再生した複数の再生波形の平均化操作を行うことにより、ランダム性のノイズの影響が低減され、最適な記録ストラテジを持つ記録パルス波形を導出できることを見出したので、以下に詳述する。
【００３５】
図１に示すように、本実施の形態の光学情報の記録再生装置１は、光ディスク２にレーザ光を照射する光ヘッド３と、レーザ光の強度を変化させる駆動部としてのＬＤドライバ４と、制御部としてのＣＰＵ５とを備えている。ＣＰＵ５は、ＬＤドライバ４および光ヘッド３を介して記録データを種々の記録パルス波形に変換して光ディスク上に記録マークとして記録する機能と、光ディスク上の記録マーク情報を光ヘッドを介して再生して再生波形を得る機能と、各記録パルス波形において再生された再生波形からパルス応答を導出する機能と、このパルス応答及び記録データの畳み込みで求められる波形と再生波形との差が最も小さくなるように記録パルス波形を調整して最適な記録パルス波形を求める機能と、再生波形を平均化する機能、とを有する。これらの機能は、ＣＰＵに記憶されたソフトウェアによって実現されている。
【００３６】
記録ストラテジ決定のために使用される記録データは、例えばＭ系列等の一般的なランダムデータを適当に変調することによって得られる。記録データの長さとしては２００ビット程度あれば、パルス応答を精度良く導出するのに十分である。
【００３７】
再生波形の平均化操作は、ある１本のトラックに記録されている記録マークを複数回再生し、得られた再生波形を平均化することによってなされてもよい。しかし、データの取り込み時間を短縮するためには、同一の記録パルス波形の複数回の繰り返しパターンを同一トラック内に記録し、これを再生して平均化操作を行う方がより望ましい。記録領域が非常に長くなると、単一トラック周内においても信号振幅が変動してしまい、正確な平均化操作を行うことが困難となる場合もある。しかしながら、本実施の形態で用いられる記録データはたかだか２００ビット程度であるので、１ビット長を０．５μｍとして、例えば１０回の繰り返しパターンが使用されても、その占める領域はトラック１周のうちのごくわずかの領域であるにすぎず、信号振幅が変動することはない。
【００３８】
図２に、本実施の形態に用いた記録データと記録パルス波形の一部をクロック信号とともに示す。Ｔは、クロック周期である。最適な記録ストラテジを有する記録パルス波形は、以下のようにして導出される。まず、光ヘッドからのレーザ光によって記録パルス波形が光ディスクに記録されて記録マークが形成され、この記録マーク情報が読み出されて再生波形となる。再生された再生波形がクロック周期以下の周期でサンプリングされ、ＣＰＵに取り込まれる。図３は、図２の記録パルス波形が３回繰り返して同一トラックに記録された後に再生された再生波形の一部を示している。図３において、図示の簡単のために、繰り返しのそれぞれにおいて、図２の記録データのうちの最初の５Ｔの長さの部分の記録データに対応する再生波形のパルスのみが示されている。ｚｐ，１…ｚｐ＋３，１、ｚｐ，２…ｚｐ＋３，２、ｚｐ，３…ｚｐ＋３，３は、繰り返しのそれぞれにおける再生波形の時系列データである。ここで、ｚの最初の添え字は、繰り返しのそれぞれにおけるサンプリングの順番を表し、２番目の添え字は繰り返しの回数を表している。次に、同一のｐ値における３つの再生波形データ…ｚｐ，１…ｚｐ＋３，１…、…ｚｐ，２…ｚｐ＋３，２…、…ｚｐ，３…ｚｐ＋３，３…を平均した平均再生波形の時系列データ…ｚｐ…ｚｐ＋３…が求められる。図４は、このようにして求められた平均再生波形の時系列データ…ｚｐ…を黒の丸印にてプロットしたものである。次に、クロック信号の“０”と“１”との遷移点における時系列データｙｋが、その前後の時系列データｚｐを補間することによって得られる。図４の下向きの矢印で示される点が、ｙｋを与える補間点である。このような補間を容易に行うためには、例えば、記録データの先頭に基準パルスを付加し、再生の際にこの基準パルスを記録した基準マークからの再生信号を起点として時系列データを取り込めばよい。ｋは、０≦ｋ≦ｎを満たす整数である。ｎは、０以上の整数である。時系列データｙｋの全数は、（ｎ＋１）個である。いま、εが、次の式（１）で定義されるものとする。但し、ｉは、０≦ｉ≦ｋを満たす整数である。
【００３９】
【数１２】
ここで、ａｋ−ｉは記録データである。例えば最小二乗法によって、あるいは、偏微分方程式∂ε／∂ｈｉ＝０を解くことによって、εが最小値を取る時系列データｈｉを求めると、ｋの最大値、即ち、時系列データｙｋの個数にもよるが、得られた時系列データｈｉは、高い精度で記録再生系のパルス応答ｈの時系列データを与える。パルス応答ｈの時系列データｈｉが零でない有限の大きさを取る範囲は、記録再生系の回路特性、光ヘッド特性、ならびに記録密度などに依存するが、通常、ｉ＝２〜２０程度であり、それ以上のｉの値に対しては、事実上、ｈｉ＝０としてよい。したがって、式（１）において、ｉに対する和は、最大でも２０程度とれば十分である。
【００４１】
次に、記録ストラテジを変化させて上述の過程を実施し、パルス応答の時系列データならびにそのときのεの最小値を求める。同様に、順次、記録ストラテジを変化させて求められるεの最小値のうちで最も小さな値を持つ記録ストラテジが、最適な記録ストラテジである。εの値が小さいということは、記録データと再生波形データとの線型性が高いということであり、マークエッジ記録で想定している再生波形に近い再生波形が得られるということを意味する。理想的にはεの値を０とすることが望ましいが、再生波形にはディスクノイズやレーザノイズ、回路ノイズ等、ノイズの影響があるので、実際にはεの値を完全に０とすることは難しく、記録ストラテジを変化させた中で最もεの値を小さくすることができた記録ストラテジが最適な記録ストラテジということになる。
【００４２】
記録ストラテジ最適化の指標としては、εに換えて、下記の式（２）から式（５）で定義されるＲ１あるいはＲ２およびＩ１あるいはＩ２が用いられてもよい
【００４３】
【数１３】
【数１４】
【数１５】
【数１６】
式（２）から明らかなように、指標Ｒ（Ｒ１、Ｒ２）は、指標εを再生波形から得られる情報を用いて規格化して、その逆数をとったものである。指標Ｉ（Ｉ１、Ｉ２）は、指標Ｒの対数表示である。記録ストラテジの最適化は、記録パルス波形のパルス幅やパルス間隔を調整して行われるが、これらの量を多少変更しても、再生波形の時系列データｙｋの二乗 の総和は大きくは変化しない（ykの絶対値が大きくなるのは長マークや長スペースに対してであり、ストラテジの調整が主に必要なのは短マークや短スペースに対してである）ので、εを最小化する代りに、ＲあるいはＩを最大化しても結果に影響を与えることはない。εの単位が信号振幅の二乗であり、再生回路のゲインや再生パワー等により変化する量であるのに対して、ＲおよびＩは、それら再生回路のゲインや再生パワー等に依存しない無次元量であるという利点を有する。
【００４８】
一方、情報の記録に用いるレーザパワーの調整を行う場合を考えると、記録パワーの変化とともに、信号の振幅も変化するので、何らかの形で線型性からのずれを規格化する必要が生じる。すなわち、記録パワーが小さい場合には、εの絶対値が小さく、かつ、信号振幅自体が非常に小さい条件が存在する可能性が考えられるが、その場合は、εを最小とするレーザパワーが必ずしも最適なパワーと一致しない可能性が考えられる。本発明者は、レーザパワー調整のためのεを規格化した指標として、上述のＲ１あるいはＲ２（もしくはI1あるいはI2）を用いれば良いことを見出した。Ｒ１は規格化の信号振幅として、パルス応答のエネルギーに評価したビット数をかけた値を用いており、Ｒ２は規格化の信号振幅として再生波形のエネルギの総和を用いている。Ｒ１あるいはＲ２いずれの指標を用いてレーザパワーを調整しても良いが、Ｒ２で用いられている再生波形のエネルギにはノイズ成分や非線型成分をそのまま含んでいるため、有色性のノイズが極端に高い場合や、再生波形の非線形性が顕著な場合には、レーザパワー調整を行うことが困難であると考えられるので、信号のエネルギとして線型な成分のみを用いているＲ１の方がより好適である。なお、Ｒ１に代えて下記式（６）のＲ３を用いることも可能である。Ｒ３はパルス応答のエネルギを振幅の自乗で代表させた値となっている。下記式（６）においてhi_maxはパルス応答の振幅を表している。記録条件調整の指標としては、Ｒ３の値そのままでも良いし、Ｉ１、Ｉ２と同様にＲ３の対数を取った値Ｉ３を用いても良い。
【００４９】
【数１７】
レーザパワーの調整を行う場合には、同一の記録データを繰り返し記録して平均化操作を行う必要は必ずしも無い。これは、例えば、相変化光ディスクのオーバライト時のレーザパワー調整において、レーザパワーが最適パワーからずれた場合には、ノイズよりもオーバライト前に存在していた前データの消し残り成分の方が支配的となるため、ノイズ成分を抑圧しなくても波形の線型性評価を行うことが可能となるからである。
（実施例１）
図５は、本実施の形態において用いた光ディスクの断面図である。図５に示すように、本実施の形態において用いた光ディスクでは、プラスチック基板１０上に、反射膜１１、保護膜１２、記録膜１３、保護層１４および光透過層１５が、この順に積層されている。記録膜１３は、相変化型記録媒体で形成されている。プラスチック基板１０にはポリカーボネートが用いられ、その案内溝ピッチは０．３２μｍである。また、本実施の形態の光ヘッドのレーザ波長は４００ｎｍ、そのＮＡ値は０．８５である。
【００５１】
図６は、本発明の実施例１における記録ストラテジ最適化を説明するための記録信号と記録パルス波形の波形図の一部である。図７は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ２特性図である。図８は、図６の記録パルス波形の繰り返し回数（平均化回数）−指標Ｉ２特性図である。図９は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ２、e 特性図である。図１０は、図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−ビット誤り率特性図である。
【００５２】
線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数９０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。光ヘッドからのレーザ光が、光ディスクの光透過層側から入射され、案内溝間の平坦部に記録マークが形成された。記録パワーは４ｍＷ、消去パワーは１．５ｍＷである。光ディスク上の光ビームの直径は、０．４μｍである。また、マークエッジ記録に適合するように、上述の２００ビットの長さのＭ系列疑似ランダムデータを１−７ＲＬＬ（Run Length Limited）変換し、ＮＲＺＩ（NonReturn-to-Zero-Inverted）変調符号化を行って、記録データを生成した。この場合、ディスク上には、再生時間換算で２Ｔ〜８Ｔの長さの７種類の記録マーク（以後、それぞれ、「２Ｔの記録マーク」、‥、「８Ｔの記録マーク」という）が形成され、最短記録マークの長さは０．１２μｍとなる。Ｔはクロック周期であり、本実施例においてはＴ＝１１．１１ｎｓである。再生波形の取り込みは、１０ｎｓ毎に行った。
【００５３】
b.e.r.の測定は、各ストラテジに毎に長さ１０6ビットの長さのＭ系列疑似ランダムデータを記録再生して行った。
【００５４】
図６は、記録ストラテジを説明するために、３Ｔのパルス幅の記録データとそれに対応する記録パルス波形とを示している。以下において、３Ｔのパルス幅の記録データに対応する記録パルス波形を、３Ｔ信号という。他の長さの記録信号に対応する記録パルス波形においても、同様である。図６に示すように、記録パルス波形は、消去パワーレベルの区間Ｔｓｔの後に、パルス幅Ｔｔｏｐで記録パワーレベルの先頭パルスと、パルス幅Ｔｓｍｐでバイアスパワーレベルの低レベルパルスとパルス幅Ｔｍｐで記録パワーレベルの高レベルパルスとよりなるマルチパルス部と、パルス幅Ｔｃｌのクーリング部と、を持つパルス信号である。クーリング部には、通常、０．１〜０．５ｍＷ程度のレーザパワーが存在するが、完全にレーザパワーを零にしても得られる結果にほとんど変化はない。区間Ｔｓｔ、パルス幅Ｔｔｏｐ、Ｔｓｍｐ、Ｔｍｐ、Ｔｃｌが、記録ストラテジを最適化するための記録補償パラメータとして用いられ得る。
【００５５】
これらの記録補償パラメータの調整のなかで、高密度記録条件下で特に必要となるのは、２Ｔ信号および３Ｔ信号の記録補償パラメータの調整である。４Ｔ信号〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは各信号毎に調整する必要は必ずしもなく、例えば４Ｔ信号を最適化すれば、他の信号は、マルチパルス部のパルス数を増減することによって最適化することが可能である。
【００５６】
以下に、３Ｔ信号を例として、その先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを変化させて記録ストラテジを最適化するステップを述べる。表１に本実施例において用いた各パラメータを示す。本実施例においては、３Ｔ信号の先頭パルス開始前期間Ｔｓｔと先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐのみを変化させ、２Ｔ、４〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは固定とした。表１で、マルチパルス部のパルス幅Ｔｓｍｐの低レベルパルスとパルス幅Ｔｍｐの高レベルパルスとで形成される対の数が、４Ｔ信号において２対、５Ｔ信号において３対というように、３Ｔ信号から８Ｔ信号にかけて１対ずつ増加される。
【００５７】
【表１】
まず、上述のように生成された記録データを、図２に示すような形状の記録パルス波形に変換し、その記録パルス波形の８回の繰り返しパターンを光ディスクに記録し、記録ストラテジ最適化に必要な平均操作回数を調べた。その際、記録パルス波形の繰り返し毎に、各記録パルス波形の先頭に１０Ｔの基準マークが記録され、この１０Ｔの基準マークから再生される再生波形を起点として、再生波形の時系列データが取り込まれた。これは、データ取り込みの位置精度を高めるためである。なお、起点となるべき基準マークあるいはスペースは１０Ｔの長さに限る必要はなく、記録データに用いられないパターンで、かつ、安定に検出できる長さ（光ビームの直径以上が望ましい）を有していればよい。
【００５９】
図７は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときの指標Ｉ２をプロットしたものである。図７において、４本の曲線は、それぞれ、８個の繰り返し記録パルス波形のうちの１個、２個、３個、８個を平均化した場合のものである。図７に示すように、平均化個数：１（平均化操作なし）及び平均化個数：２の平均化操作では、ノイズの影響で指標Ｉ２の値が小さく、かつ、記録ストラテジ最適化のための記録補償パラメータである先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐの変化に対する指標Ｉ２の変化が明確でない。したがって、平均化個数：２以下の平均化操作では、最適な記録ストラテジを決定することが困難である。平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値が大きく、かつ、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐの変化に対する指標Ｉ２の変化も明確である。
【００６０】
また、平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値が、平均化個数にほとんど依存しない。図８は、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが０．４Ｔである３Ｔ信号の平均化個数に対して、指標Ｉ２をプロットしたものである。図８に示すように、平均化個数：２以下の平均化操作では、指標Ｉ２の値が変化するが、平均化個数：３以上の平均化操作では、指標Ｉ２の値がほぼ一定になる。したがって、平均化個数：３以上の平均化操作によって、ノイズによる影響がほとんど完全に除去される。
【００６１】
図９は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときの指標Ｉ２と指標εとをプロットしたものである。指標Ｉ２と指標εとの値は、記録パルス波形の３回の繰り返しパターンの平均化操作から得られた値である。図９に示すように、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが同一の０．４Ｔのとき、指標Ｉ２が最大になり、指標εが最小となる。これは、指標εに代えて指標Ｉ２を用いることが妥当であることを示している。
【００６２】
図１０は、３Ｔ信号の先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐを０．３Ｔから０．５Ｔまで変化させたときのビット誤り率ｂ．ｅ．ｒ．をプロットしたものである。ビット誤り率の値は、記録パルス波形の３回の繰り返しパターンの平均化操作から得られた値である。図１０に示すように、ビット誤り率は、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐが０．４Ｔのとき最小になる。この先頭パルスのパルス幅０．４Ｔは、図７の指標Ｉ２が最大となる先頭パルスのパルス幅０．４Ｔと等しい。
（実施例２）
図１１は、本発明の実施例２における記録ストラテジ最適化を説明するための記録パルス波形のクーリング部のパルス幅−指標Ｉ２、ビット誤り率特性図である。
【００６３】
線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数７０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーは４ｍＷ、消去パワーは１．５ｍＷである。光ディスク上の光ビームの直径は、０．４μｍである。ストラテジ調整、b.e.r.測定に用いた記録データとしては、実施例１と同じ記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、実施例１と同様に、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１６μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１４．２９ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１０ｎｓ毎に行った。
【００６４】
本実施例においては、調整される記録補償パラメータとして、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌが選択された。表２に本実施例において用いた各パラメータを示す。本実施例においては、２Ｔ信号のパルス幅Ｔｃｌのみを０．２〜０．４Ｔと変化させ、３〜８Ｔ信号の記録補償パラメータは固定とした。表２において、マルチパルス部のパルス対の数が、３Ｔ信号において１対であり、３Ｔ信号から８Ｔ信号にかけて１対ずつ増加されている。
【００６５】
【表２】
記録パルス波形の繰り返し回数を３回とし、３個の繰り返しパターンの平均値として、指標Ｉ２およびビット誤り率ｂ．ｅ．ｒ．が算出された。図１１は、このようにして得られた指標Ｉ２およびビット誤り率を、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌに対してプロットしたものである。図１１に示すように、２Ｔ信号のクーリング部のパルス幅Ｔｃｌとしては、０．３Ｔ が最適である。
【００６７】
なお、実施例１及び実施例２について代表的に規格化した線型性の指標としてＩ２についてデータを示したが、Ｉ１あるいはＩ３についてもＩ２と同様のストラテジ依存を有しており、Ｉ１あるいはＩ３を用いてもストラテジの最適化が可能であることが確認できた。
（実施例３）
厚さ０．６ｍｍのプラスチック基板上に、保護膜、記録膜、保護膜、反射膜が順に積層され、反射膜上に紫外線硬化樹脂層が形成された相変化光ディスクを用いてレーザパワーとＩ１、Ｉ２、Ｉ３の関係を調べた。記録膜は、相変化型記録媒体で形成されている。プラスチック基板にはポリカーボネートが用いられ、その案内溝ピッチは０．４２μｍである。また、光ヘッドのレーザ波長は４０５ｎｍ、そのＮＡ値は０．６５である。
【００６８】
線速５．２ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数６０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーと消去パワーの比を２．４とし、レーザパワーを変化させながら記録を行った。光ディスク上の光ビームの直径は、０．５２μｍである。記録データとしては、レーザパワー調整に用いたデータは実施例１と同じ長さ２００ビットのランダムデータ、ｂ．ｅ．ｒ．測定に用いた記録データも実施例１と同じ１０６長さの記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、実施例１と同様に、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１７μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１６．６６ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１５ｎｓ毎に行った。
【００６９】
同一のレーザパワーで１０回オーバライトを行う行程をそれぞれのレーザパワーに対して行い、それぞれの条件に対して、ｂ．ｅ．ｒ．及びＲ１、Ｒ２、Ｒ３を求めた。図１２にその結果を示す。本実施例では、平均化操作は行わなかった。なお、本実施例では平均化操作を行ってもＲ１，Ｒ２，Ｒ３の値はほとんど改善されなかった。これは、波形の線型性が白色ノイズではなく、オーバライト動作時に存在していた前データの消し残り成分が波形の線型性を支配しているためと考えられる。
【００７０】
図１２におけるレーザパワーは、規格化して示してあり、１に相当するレーザパワーは、記録パワー6mW、消去パワー2.5mWである。同様に1.2に相当するレーザパワーは、記録パワー7.2mW、消去パワー3mWである。図１２から、b.e.r.が最良となるレーザパワーとＲ１、Ｒ２、Ｒ３が最大となる（図１２ではそれぞれの対数Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３が表示されている）レーザパワーが一致しており、レーザパワーを変化させながらＲ１、Ｒ２、Ｒ３の値を調べることでレーザパワーの調整が可能であることが分かる。
【００７１】
また、上述の相変化光ディスクを用いて、同一のレーザパワーによるオーバライト回数を変化させて測定を行い、オーバライト回数を変化させた場合のレーザパワーとＲ１、Ｒ２、Ｒ３の関係を調べた。その結果の代表例としてＩ１（Ｒ１）を図１３に示す。本測定でも平均化操作は行わなかった。
【００７２】
図１３から分かるように、オーバライト回数１回（初回の記録）では、Ｉ１（Ｒ１）の最大値を見つけることが難しく、レーザパワーの最適化を行うことが困難であることが分かる。これは、初回の記録ではオーバライトに特有の、前に記録したデータの影響を全く受けないためと考えられる。すなわち、消去パワーが適切でない場合には前に記録したデータの消し残りが信号の歪み成分として現れるので、波形の線型性が大きく変化するが、初回の記録では前のデータの消し残り成分は全くないということである。なお、図には示さなかったがＲ２，Ｒ３についても同様の結果が得られた。従って、相変化光ディスクについて、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３の値を調べてレーザパワーの最適化を行うためには、少なくとも２回以上オーバライトを行う必要がある。
（実施例４）
厚さ０．６ｍｍのプラスチック基板上に、保護膜、記録膜、保護膜、反射膜が順に積層され、反射膜上に紫外線硬化樹脂層が形成された相変化光ディスクを用いてレーザパワーとＩ１、Ｉ２、Ｉ３の関係を調べた。記録膜は、相変化型記録媒体で形成されている。記録膜の膜厚を３０ｎｍと厚くし、かつ、反射膜の厚さを１０ｎｍと薄くして、放熱性を低くし、記録時のエッジシフト（非線形成分）が大きくなるディスク構成とした。プラスチック基板にはポリカーボネートを用い、案内溝ピッチは０．４２μｍとした。また、光ヘッドのレーザ波長は４０５ｎｍ、そのＮＡ値は０．６５とした。
【００７３】
線速５．２ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数６０ＭＨｚで光ディスク上に記録を行った。記録パワーと消去パワーの比を２．４とし、レーザパワーを変化させながら記録を行った。光ディスク上の光ビームの直径は、０．５２μｍである。記録データとしては、実施例３と同じ記録データで、クロック周波数のみ変化させた。この場合、ディスク上には、２Ｔ〜８Ｔの記録マークが形成されるが、最短記録マークの長さは０．１７μｍとなる。クロック周期Ｔは、Ｔ＝１６．６６ｎｓである。再生再生波形の取り込みは、１５ｎｓ毎に行った。
【００７４】
同一のレーザパワーで１０回オーバライトを行う行程をそれぞれのレーザパワーに対して行い、それぞれの条件に対して、ｂ．ｅ．ｒ．及びＲ１、Ｒ２、Ｒ３を求めた。図１４にその結果を示す。本実施例では、平均化操作は行わなかった。
【００７５】
図１４から分かるように、Ｒ１、Ｒ３が最大となるレーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．が最小となるレーザパワーは一致していることが分かるが、Ｒ２に対しては、Ｒ２が最大となるレーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．が最小となるレーザパワーは一致していない。これは、レーザパワーが高い時には記録時のエッジシフトが大きくなるが、Ｒ２ではエッジシフトを含んだ信号成分で線型性の指標を規格化しているためと考えられる。従って、レーザパワーの最適化には、Ｒ１あるいはＲ３を用いる方がより好適である。
（実施例５）
実施例３で得られた再生波形に対して、パルス応答の長さを５〜２０（T：Tはチャネルクロック）の間で変化させてＩ１，Ｉ２，Ｉ３の値を求め、パルス応答の長さとＩ１，Ｉ２，Ｉ３の関係を調べた。その結果を図１５に示す。なお、図１５に示したデータは実施例３においてレーザパワー１に対して得られた再生波形データに対して求めたものである。図１５から分かるように、Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３がほぼ飽和した値となるのはパルス応答の長さを１５T以上とした場合であり、長さが短い場合には、値がばらついてしまい、正しく線型性の評価を行うことができない。
（実施例６）
実施例３で記録したデータを線速５．３ｍ／ｓで再生し、補間するためのクロック時間を変化させながらＩ１、Ｉ２、Ｉ３のデータを計算した。実施例３に記述した通り、記録は線速５．２ｍ／ｓにおいてクロック時間１６．６６ｎｓの条件で行われたので、線速５．３ｍ／ｓで再生した場合には、正しいクロック時間は１６．３５ｎｓとなる。再生波形を補間するためのクロック時間を１５ｎｓから１８ｎｓまで０．０５ｎｓ毎に変化させてＩ１，Ｉ２，Ｉ３を計算したところ、クロック時間を１６．３５ｎｓと想定した場合にＩ１，Ｉ２，Ｉ３が最大値を取ることが確認できた。従って、何らかの外乱で光ディスクの回転数が変動し、記録を行った時点と再生を行った時点で回転数が異なる事態が生じたとしても、複数のクロック時間を想定して、それぞれ想定したクロック時間毎に波形データを補間することで、再生時の正しいクロック時間を算出するとともに波形の線型性の評価を行うことができる。
（実施例７）
図１６、図１７は、本発明の実施例２における記録ストラテジ最適化により得られる最短ビット長−指標Ｉ１及び指標Ｉ２特性図である。
【００７６】
実施例１で用いた相変化光ディスクについて波長４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５及びＮＡ＝０．７５の光ヘッドを用いて、線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数を変化させて、光ディスク上に記録される最短記録マーク長を変化させて記録を行って、レーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．の関係を調べた。同様に、実施例３で用いた相変化光ディスクについて波長４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．６５及びＮＡ＝０．６の光ヘッドを用いて、線速５．５ｍ／ｓでディスク回転を行いながら、クロック周波数を変化させて、光ディスク上に記録される最短記録マーク長を変化させて記録を行って、レーザパワーとｂ．ｅ．ｒ．の関係を調べた。ビーム径はNA=0.6, 0.65, 0.75, 0.85 の場合にそれぞれ、0.6, 0.52, 0.46, 0.4mmであった。
【００７７】
レーザパワーを変化させる際には、記録パワーと消去パワーの比を一定として、レーザパワーを変化させながらそれぞれのレーザパワーで１０回オーバライトを行った後、Ｉ１，Ｉ２及びｂ．ｅ．ｒ．の測定を行った。記録データとしては、Ｉ１，Ｉ２の測定には実施例１と同じ長さ２００ビットのデータを、ｂ．ｅ．ｒ．の測定にも実施例１と同じ長さ106ビットのデータを用いた。クロック周波数を変化させることで最短マーク長を変化させた。
【００７８】
図１６、図１７に、各最短記録マーク長Ｌにおいて、ビット誤り率が１×１０−４となる指標Ｉ１及びＩ２の値がプロットされている。ここでビット誤り率として１×１０−４を基準としたのは、一般的にリードソロモンなどの誤り訂正を用いて誤り訂正が可能（装置が支障無く動作する）な上限の誤り率が１×１０−４であるからである。指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２）は、図中、ほぼ一直線上にあり、その直線を境にして紙面上方の領域が、１×１０−４以下のビット誤り率を与える指標Ｉの領域である。即ち、Ｉ１≧２０−aＬ、Ｉ２≧２１−aＬの条件が満足されたときに、ビット誤り率が１×１０−４以下となっている。また、aの値がビーム径が大きくなるにつれて小さくなっていることが分かる。そこで、aの値とビーム径の関係を調べたところ、aはビーム径に反比例しており、図１６、図１７の直線はそれぞれ、Ｉ１＝２０−２０（Ｌ／ｗ）、Ｉ２＝２１−２０（Ｌ／ｗ）で近似できることが確認された。即ち、Ｉ１＝２０−２０（Ｌ／ｗ）、Ｉ２＝２１−２０（Ｌ／ｗ）の条件が満足されたときに、ビット誤り率が１×１０−４以下となる。したがって、この条件を満足するようにレーザパワーを調整すれば、ビット誤り率が１×１０−４以下となる。
【００７９】
以上、本発明をその好適な実施の形態に基づいて説明したが、本発明の光学情報の記録方法および記録装置は、上述した実施の形態のみに制限されるものではなく、本願発明の要旨を変更しない範囲で種々の変化を施した光学情報の記録方法および記録装置も、本発明の範囲に含まれる。例えば、記録媒体としては、相変化光ディスクに限られることなく、光磁気ディスクや追記型ディスク等の記録再生のできる光記録媒体であればいずれでも用いられ得る。また、記録データ生成時に用いた１−７変換は、１−７変換に限らず、２−７変換等のＲＬＬ符号化を行う変換であればいずれでもよい。
【００８０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る光学情報の記録方法および記録装置は、記録データに記録ストラテジ処理を施した記録パルス信号を光記録媒体上に記録再生して得られた再生波形と、記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差が最小になるようにパルス応答を定めることによって記録条件を最適化する際に、再生波形をクロック周期より短い周期でサンプリングを行って記録条件の最適化を行うので、回路構成を煩雑とすることなく短時間に記録ストラテジの最適化を行うことが可能である。
【００８１】
また、ＰＬＬによるクロック周期の抽出を行わないので、レーザパワーが最適パワーからずれてＰＬＬ回路が正常に動作しない場合であっても、再生波形の線型性を評価することが可能である。
【００８２】
また、同一の記録パルス波形を光記録媒体の同一トラックに３回以上記録し、再生された再生波形を平均化した再生波形を用いるものであるので、高記録密度の場合であっても、ノイズの影響を受けることなく、精度良く記録ストラテジの最適化を行うことが可能である。
【００８３】
また、本発明に係る光学情報の記録方法および記録装置は、記録パルス信号を光記録媒体上に記録再生して得られた再生波形と、記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差が最小になるようにパルス応答を定めることによってレーザパワーを最適化する際に、前記再生波形と記録データとパルス応答とを畳み込み演算した波形との差を再生波形から得られる情報を元に規格化しているので、波形の線型性が高く、かつ、信号振幅ができるだけ大きくなるレーザパワーを精度良く決定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施の形態に係る光学情報記録装置のブロック図。
【図２】 図１の光学情報記録装置の記録に使用される記録データと記録パルス波形の波形図の一部。
【図３】 図１の光学情報記録装置のＣＰＵに取り込まれる繰り返し再生波形の波形図。
【図４】 図３の繰り返し再生波形を平均化した波形図。
【図５】 図１の光学情報記録装置の記録に使用される光ディスクの１例の断面図。
【図６】 本発明の実施例１における記録ストラテジ最適化を説明するための記録データと記録パルス波形との波形図。
【図７】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）特性図。
【図８】 図６の記録パルス波形の繰り返し回数−指標Ｉ（Ｉ２）特性図。
【図９】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）、ε特性図。
【図１０】 図６の記録パルス波形の先頭パルス幅−ビット誤り率特性図。
【図１１】実施例２における記録パルスのクーリングパルス幅−指標Ｉ（Ｉ２）、ビット誤り率特性図
【図１２】レーザパワー指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）、ビット誤り率特性図。
【図１３】オーバライト回数を変化させた際のレーザパワーと指標Ｉ１の関係を説明する図。
【図１４】レーザパワー指標Ｉ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）、ビット誤り率特性図。
【図１５】パルス応答長さと指標（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３）の関係を説明する図。
【図１６】所定のビット誤り率を達成するための指標Ｉ１とディスク上に記録される最短マークの関係を説明する図。
【図１７】所定のビット誤り率を達成するための指標Ｉ２とディスク上に記録される最短マークの関係を説明する図。
【符号の説明】
１ 光学情報記録装置
２ 光ディスク
３ 光ヘッド
４ ＬＤドライバ
５ ＣＰＵ
１０ プラスチック基板
１１ 反射膜
１２、１４ 保護膜
１３ 記録膜
１５ 光透過層
Ｔｓｔ 先頭パルス始端開始期間
Ｔｔｏｐ、Ｔｓｍｐ、Ｔｍｐ、Ｔｃｌ パルス幅
ｚｐ，１、ｚｐ＋３，１、ｚｐ，２、ｚｐ＋３，２、ｚｐ，３、ｚｐ＋３，３再生波形の時系列データ
ｚｐ、ｚｐ＋３ 平均化された再生波形の時系列データ
Claims (12)
- クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して該光記録媒体に記録マーク群を形成し、
該記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、
該再生波形に基づいてパルス応答を導出し、
該パルス応答及び前記記録信号の畳込みで得られる波形と前記再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、前記パルス応答の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整すること
を特徴とする光学情報の記録条件調整方法。 - 前記光記録媒体に記録するクロック周期毎の時系列データ列Ａを
Ａ＝〔ａ０、ａ１、‥、ａｋ、‥、ａｎ−１、ａｎ〕、
前記再生波形のクロック周期毎の時系列データ列Ｙを
Ｙ＝〔ｙ０、ｙ１、‥、ｙｋ、‥、ｙｎ−１、ｙｎ〕
（ｎは０以上の整数、ｋは０≦ｋ≦ｎを満たす整数）、
ある記録再生条件に対する記録再生系のパルス応答Ｈを
Ｈ＝[ｈ ０ 、ｈ １ 、・・ｈ ｍ ]（ｍは０≦ｍ≦ｎを満たす整数）
として、前記パルス応答の振幅二乗和と前記非線型成分の二乗和との比として、下記式（２）（ｉは０≦ｉ≦ｍを満たす整数）を求めて記録条件を調整すること
を特徴とする請求項１に記載の光学情報の記録条件調整方法。
- クロック周期に同期した記録信号を基礎として生成された記録パルス波形のレーザ光を光記録媒体に照射して該光記録媒体に記録マーク群を形成し、
該記録マーク群を読み出すことによって再生波形を得、
該再生波形に基づいてパルス応答を導出し、
該パルス応答及び前記記録信号の畳込みで得られる波形と前記再生波形との差に基づいて求められる非線型成分の二乗和と、前記再生波形の振幅二乗和との比に基づいて再生波形の線型性を評価して記録条件を調整すること
を特徴とする光学情報の記録条件調整方法。 - 前記光記録媒体に記録するクロック周期毎の時系列データ列Ａを
Ａ＝〔ａ０、ａ１、‥、ａｋ、‥、ａｎ−１、ａｎ〕、
前記再生波形のクロック周期毎の時系列データ列Ｙを
Ｙ＝〔ｙ０、ｙ１、‥、ｙｋ、‥、ｙｎ−１、ｙｎ〕
（ｎは０以上の整数、ｋは０≦ｋ≦ｎを満たす整数）、
ある記録再生条件に対する記録再生系のパルス応答Ｈを
Ｈ＝[ｈ ０ 、ｈ １ 、・・ｈ ｍ ]（ｍは０≦ｍ≦ｎを満たす整数）
として、前記再生波形の振幅二乗和と前記非線型成分の二乗和との比として、下記式（３）（ｉは０≦ｉ≦ｍを満たす整数）を求めて記録条件を調整すること
を特徴とする請求項３に記載の光学情報の記録条件調整方法。
- 前記再生波形をクロック周期より短い周期でサンプリングしたサンプリング値を線型補間することによってクロック周期毎の再生波形の時系列データを導出し、
該時系列データに基づいてパルス応答を導出すること
を特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の光学情報の記録条件調整方法。 - 情報の記録再生に用いるレーザビームのビーム直径をｗ、光学情報記録媒体に記録される最短のマーク長をlとした場合、10logR1>20-20(l/w) dBを満足するよう、Ｒ１を調整すること
を特徴とする請求項２に記載の光学情報の記録条件調整方法。
【数３】 - 情報の記録再生に用いるレーザビームのビーム直径をｗ、光学情報記録媒体に記録される最短のマーク長をlとした場合、10logR2>21-20(l/w) dBを満足するよう、Ｒ２を調整することを特徴とする請求項４に記載の光学情報の記録条件調整方法。
【数４】 - パルス応答Ｈにおいて有限の値を取る成分の数を１５以上に設定し、最小二乗法を用いて前記パルス応答Ｈを決定すること
を特徴とする請求項２、請求項４及び請求項５のいずれか１項に記載の光学情報の記録条件調整方法。 - 光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、
前記レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、
クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれを前記レーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、該パルス応答と前記記録信号との畳み込みで求められる波形と前記再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、前記パルス応答の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、
を有する光学情報の記録再生装置。 - 前記制御部における前記評価が、前記光記録媒体に記録するクロック周期毎の時系列データを
〔ａ０、ａ１、‥、ａｋ、‥、ａｎ−１、ａｎ〕、
前記再生波形のクロック周期毎の時系列データを
〔ｙ０、ｙ１、‥、ｙｋ、‥、ｙｎ−１、ｙｎ〕
（ｎは０以上の整数、ｋは０≦ｋ≦ｎを満たす整数）、
ある記録再生条件に対する記録再生系のパルス応答Ｈを
Ｈ＝[ｈ ０ 、ｈ １ 、・・ｈ ｍ ]（ｍは０≦ｍ≦ｎを満たす整数）
とした場合、下記式（２）（ｉは０≦ｉ≦ｍを満たす整数）を定義し、これを評価することで記録条件を調整するものであること
を特徴とする請求項９に記載の記録再生装置。
- 光記録媒体にレーザ光を照射しその反射光を受光する光ヘッドと、
前記レーザの出力光強度を変化させるレーザ駆動部と、
クロック周期に同期した記録信号を記録パルス波形に変換しこれを前記レーザ駆動部に伝達する機能と、光記録媒体に記録された記録マークの再生波形に基づいてパルス応答を算出する機能と、該パルス応答と前記記録信号との畳み込みで求められる波形と前記再生波形との差に基づいて定められる非線型性分の二乗和と、前記再生波形の振幅二乗和との比、を評価して記録パルス波形の幅あるいはパワーを調整する機能と、を備えた制御部と、
を有する光学情報の記録再生装置。 - 前記制御部における前記評価が、前記光記録媒体に記録するクロック周期毎の時系列データを
〔ａ０、ａ１、‥、ａｋ、‥、ａｎ−１、ａｎ〕、
前記再生波形のクロック周期毎の時系列データを
〔ｙ０、ｙ１、‥、ｙｋ、‥、ｙｎ−１、ｙｎ〕
（ｎは０以上の整数、ｋは０≦ｋ≦ｎを満たす整数）、
ある記録再生条件に対する記録再生系のパルス応答Ｈを
Ｈ＝[ｈ ０ 、ｈ １ 、・・ｈ ｍ ]（ｍは０≦ｍ≦ｎを満たす整数）
とした場合、下記式（３）（ｉは０≦ｉ≦ｍを満たす整数）を定義し、これを評価することで記録条件を調整するものであること
を特徴とする請求項１１に記載の記録再生装置。
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