KR20080063850A - 참고레벨 기반 기록 스트래티지 최적화 장치 및 방법 - Google Patents

참고레벨 기반 기록 스트래티지 최적화 장치 및 방법 Download PDF

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KR20080063850A
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

본 발명은 기록처리에 있어서 기록 스트래티지를 최적화하는 수단을 구비한 광 기록장치에 관한 것이다. 이 광 기록장치는, 기록 스트래티지에 따라 방사빔을 방출하기 위한 방사원과, 판독신호를 제공하는 판독부와, 상기 판독신호에 대응한 변조 비트들을 제공하는 비트 검출기와, 상기 변조 비트들을 그룹 지어 변조 비트 시퀀스를 만들고, 주어진 변조 비트 시퀀스에 대한 상기 판독신호의 평균 진폭에 대응하는 참고레벨에 대해 상기 판독신호의 각 변조 비트 시퀀스를 서로 관련시키는 처리부를 구비한다. 상기 참고레벨의 위치에 의거하여 선행구간 및/또는 후미구간의 평균 천이 시프트를 결정하고, 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 상기 참고레벨의 상대적인 값들에 의거하여 최적화 처리에서 최적화한다. 옵션으로, 광학 결과의 비대칭은, 상기 기록 스트래티지가 그 비대칭에 의거하여 최적화되도록 상기 참고레벨들로부터 결정되어도 된다.
광 기록장치, 기록 스트래티지, 참고레벨, 선행구간, 후미구간.

Description

참고레벨 기반 기록 스트래티지 최적화 장치 및 방법{Apparatus and method for reference level based write strategy optimization}
본 발명은 최적화 기록 스트래티지 제어를 포함한 광 기록장치와, 이에 대응한 광 기록처리에서 기록 스트래티지를 최적화하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은, 특히 상기 기록 스트래티지의 하나 이상의 파라미터의 최적화에 관한 것이다.
(예를 들면, CD, DVD 및 BD 등의) 광학 매체에 데이터를 기록하는데 필요한 최적양의 방사전력은, 사용된 특정의 매체, 그 중에서도 기록속도에 의존하고, 심지어 데이터가 기록될 매체의 위치에 의존하기도 한다. 중요한 것은, 방사전력 설정값이 부정확하여서 부정확한 광학 결과(종종, 마크라고 함), 이를테면 너무 작거나 너무 큰 결과가 생기기도 하므로, 정확한 방사전력을 상기 매체에 공급하는 것이다. 이들의 광학 결과가 상기 기록된 데이터를 나타내므로, 그에 따라서 부정확한 방사전력 설정값으로 기록물에 오류가 나기 쉽다.
현 세대의 DVD 드라이브와 차세대의 BD 드라이브에 있어서, 디스크에 데이터를 기록하는데 사용된 방사전력과 기록 스트래티지는, 매우 정밀하게 제어되어야 한다. 이는, 예를 들면 다음의 방식으로 행해져도 된다. 지터 측정에 의거하고 디스크의 내경에서 수행된 초기의 최적화 단계(OPC, Optimum Power Control) 후, 상기 초기의 최적화 단계에서 구한 최적의 설정값을 사용하면서 기록된 상기 광학 결과에 관한 비대칭을 측정한다. 수 트랙(예를 들면, ∼100)을 기록한 후, 최종 트랙을 다시 판독하고, 상기 기록된 광학결과의 비대칭을 측정한다. 그 트랙의 비대칭이 최적의 비대칭보다 높은 것처럼 보일 경우 상기 기록전력은 감소되고, 상기 트랙의 비대칭이 보다 낮게 보일 경우는 그 기록전력이 증가된다. 이러한 상기 기록전력의 반연속적 적응법을 워킹 OPC라고 하는데, 그 이유는 특정 간격(또는 위치)에만 상기 기록전력이 필요한 경우 변경되기 때문이다.
저장용량의 대용량화 및 액세스의 고속화의 요구가 끝없이 증가하면, 기록시에 방사전력을 제어하기 위해 보다 정확하고 반응하는 제어기구의 사용을 필요로 한다. 그러므로, 본 기술에서는 개량된 광 기록장치와 최적의 광 기록을 확보하는 개량된 방식이 필요하다.
(발명의 요약)
본 발명은, 기록처리시에 기록 파라미터들의 최적화된 설정값을 확보하는 수단을 갖는 개량된 광 기록장치를 제공하려고 한다. 기록 파라미터의 조합을, 기록 스트래티지라고하는 경우도 있다.
본 발명자가 고찰한 것은, 지금까지는, 모든 결과 길이(런길이라고도 함)에서 "평균" 비대칭인 단일의 파라미터만이 전력제어 메카니즘에서 측정된다는 것이 다. 이러한 제한된 양의 정보의 사용은, 예를 들면 고속 BD 기록에서, 필요한 경우 정밀한 전력제어 요구사항을 만족시키기 위해 문제를 일으킨다.
본 발명의 제 1 국면에 따른 최적화 기록 스트래티지 제어에 의한 광 기록장치는,
- 광 기록매체에 광학 결과를 기록하고 광학 결과를 그 광 기록매체로부터 판독하도록 하나 이상의 기록 파라미터를 포함한 기록 스트래티지에 따라 기록 상황에서 방출되는 방사빔을 방출하기 위한 방사원과,
- 제 1 길이를 갖는 상기 기록매체의 제 1 영역으로부터 반사된 제 1 섹션과, 제 2 길이를 갖는 상기 기록매체의 제 2 영역으로부터 반사된 제 2 섹션으로 이루어진 판독신호를 제공하도록 상기 기록된 결과를 판독하되, 여기서 상기 제 1 영역으로부터 상기 제 2 영역으로의 천이가 선행구간이라고 라벨이 붙여지고, 상기 제 2 영역으로부터 상기 제 1 영역으로의 천이가 후미구간이라고 라벨이 붙여진, 판독부와,
- 상기 판독신호에 대응한 변조 비트들을 제공하는 비트 검출기와,
- 상기 변조 비트들을 그룹지어 변조 비트 시퀀스를 만들고, 주어진 변조 비트 시퀀스에 대한 상기 판독신호의 평균 진폭에 대응하는 참고레벨에 대해 상기 판독신호의 각 변조 비트 시퀀스를 서로 관련시키는 처리부와,
- 상기 참고레벨의 값들에 의거한 상기 기록매체의 상기 선행구간 및/또는 상기 후미구간의 평균 천이 시프트를 결정하는 수단과,
- 상기 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 상기 참고레벨의 값들에 의거하여 설정하는 수단을 구비한다.
상기 판독신호는, 1회 기록 또는 재기록 가능형 CD 타입 디스크, DVD 타입 디스크, BD 타입 디스크 등으로부터 반사된 측정된 광 신호 등의 측정된 광 신호(로부터 얻어져도 된다)이다. 이 판독신호는 변조된 신호이고, 여기서 그 변조는 디스크에 저장된 이진 데이터를 나타낸다. 전형적인 상기 디스크에 저장된 데이터의 인코딩은 런길이 인코딩이고, 이때의 정보는 광학 결과의 길이와, 그 광학 결과 사이의 공간의 길이로 저장된다. 디스크에 저장된 비트 패턴은, 런길이 인코딩시에, 공간과 광학 결과(마크) 사이의 천이 시프트의 타이밍 시퀀스로 나타내어진다.
광학 결과는, 기록 스트래티지에 따라 방사원을 구동하여서 광학매체에 형성된다. 일반적으로, 상기 광학 결과는, 다수의 기록 파라미터를 특징으로 하는 펄스 형상을 갖는 방사 펄스들에 의해 기록된다. 전형적으로, 상기 기록 스트래티지는, 방사전력을 온 또는 오프로 바꾸고, 그 방사전력을 특정 레벨로 설정하고, 주어진 지속기간동안 그 방사전력을 유지하는 등의 명령어들과 같은 다수의 기록 파라미터를 포함한다.
특정 기록 스트래티지는, 원하는 광학 결과, 이를테면 상기 결과의 원하는 길이에 좌우되기도 한다. 표준 기록 스트래티지는, 기록되는 광학 결과의 원하는 길이에 따라 카테고리화 되게, 즉 I2 마크를 기록하는 I2 스트래티지, I3 마크를 기록하는 I3 스트래티지 등으로 존재하여도 된다.
그것은, 광 기록 가능 매체에 데이터의 기록 전뿐만 아니라 기록 동안에도 상기 기록 스트래티지를 교정(즉, 재 최적화)하는데 중요하고 때때로 필요하기도 하다. 이것은, 디스크가 완전히 동종이 아니고, 그 시스템의 온도가 상승하는 등 때문이다.
모든 광학 결과에서 평균 비대칭만이 측정되는 종래의 시스템에서, 정보의 양은, 정밀한 전력 제어 요구사항을 만족시키기 어렵도록 제한된다. 상기 참고레벨의 값들에 의거하여 상기 판독신호에서의 선행구간 및/또는 후미구간의 평균 천이 시프트를 결정함으로써, 보다 상세하고 보다 완벽한 최적화는 본 발명에 따른 장치에서 수행된다. 본 발명의 실시예에서는, 상기 평균 천이 시프트를, 서로에 대해 이들 참고레벨의 상대값들에 기초한다.
본 발명에 의해, 상기 참고레벨이 상기 데이터 밀도를 위해 제공되므로, 데이터 용량이 30GB 이상인, 예를 들면 30-37GB의 범위의 저장매체에 관한 기록처리를 최적화 가능하게 한다. 이것은, 상기 고용량 매체에 관한 기록처리를 최적화하기 위한 대안법이 현재 존재하지 않으므로 이점이다.
본 발명에 따른 장치의 실시예는, 종속항 2에 기재되어 있다. 이러한 실시예의 이점은, 상기 광학 결과의 길이의 함수로서 참고레벨로부터 광학 결과의 비대칭을 결정함으로써, 런길이 종속 비대칭 정보를 상기 참고레벨로부터 추출 가능하게 하여서, 상기 기록 스트래티지의 런길이 종속 최적화를 가능하게 한다는 것이다.
파형의 비대칭은 마크들이 상기 공간에 대해 얼마나 긴 지의 직접 측정값이고, 상기 비대칭에 의거한 기록 스트래티지를 최적화함으로써 정확한 사이즈의 광학 결과가 확보된다.
본 발명에 따른 장치의 또 다른 바람직한 실시예들은, 종속항 3 내지 5에 기 재되어 있다. 이들 실시예에서, 참고레벨의 위치와 이에 따라서 주어진 천이에 대한 천이 시프트의 값은, 전력레벨, 레벨 지속기간 또는 기록펄스의 타이밍과 직접 상관된다. 옵션으로, 이들 상관관계는, 상기 처리수단에서 사용될 수 있는 규칙들에 의해 정의되어 상기 기록 파라미터를 최적화한다.
본 발명에 따른 장치의 실시예는, 종속항 6에 기재되어 있다. 본 실시예의 이점은, 상기 기록처리의 제 1 부분동안 광학 결과의 시퀀스의 제 1 부분을 판독하고, 최적화 처리에서 상기 기록 스트래티지를 최적화하고 나서, 상기 최적화된 기록 스트래티지를 상기 기록처리의 제 2 부분에서 사용함으로써, 전체 기록처리에 최적의 기록 품질을 확보한다는 것이다.
본 발명의 제 2 국면에 따른 하나 이상의 기록 파라미터를 포함한 기록 스트래티지를 최적화하는 대응한 방법은,
- 제 1 길이를 갖는 기록매체의 제 1 영역으로부터 반사된 제 1 섹션과, 제 2 길이를 갖는 상기 기록매체의 제 2 영역으로부터 반사된 제 2 섹션으로 이루어진 판독신호를 제공하되, 여기서 상기 제 1 영역으로부터 상기 제 2 영역으로의 천이가 선행구간이라고 라벨이 붙여지고, 상기 제 2 영역으로부터 상기 제 1 영역으로의 천이가 후미구간이라고 라벨이 붙여진, 측정된 판독신호를 제공하는 단계와,
- 상기 판독신호에 대응하고 변조 비트 시퀀스로서 제공된 변조 비트들을 제공하는 단계와,
- 주어진 변조 비트 시퀀스에 대한 상기 판독신호의 러닝(running) 평균 진폭을 반영하는 참고레벨에 대해 각 변조 비트 시퀀스를 서로 관련시키는 단계와,
- 상기 참고레벨의 값들에 의거하여 상기 판독신호에서의 선행구간 및/또는 후미구간의 평균 천이 시프트를 결정하는 단계와,
- 상기 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 상기 평균 천이 시프트에 의거하여 설정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 제 3 국면에서는, 본 발명에 따라 광 기록장치를 제어하는 집적회로(IC)를 제공한다. 이러한 IC는, 본 발명의 제 1 국면에 따른 장치에 내장되어도 되거나, 이와는 달리 본 발명의 최적화 처리를 구비하기 위해서 임의의 광 기록장치에 내장되어도 되는 스탠드얼론 IC(또는 칩셋)로서 설치되어도 된다.
본 발명의 제 4 국면에서는, 본 발명의 제 2 국면에 따른 방법에 따라 광 기록장치를 제어하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 코드를 제공한다. 상기 컴퓨터 판독 가능한 코드는, 본 발명의 최적화 처리의 기능을 구비하도록 기록장치를 제어할 수 있도록, 예를 들면, 본 발명의 제 3 국면에 따른 IC 등의 IC를 제어하여도 된다. 일반적으로, 본 발명의 다양한 국면은, 본 발명의 범위 내에서 가능한 임의의 방식으로 조합 및 결합되어도 된다. 본 발명의 이들 및 다른 국면, 특징 및/또는 이점은, 이후 설명된 실시예들로부터 명백해지고 이 실시예들을 참조하여 설명될 것이다.
본 발명의 실시예들은, 아래의 도면을 참조하여 예시로만 설명될 것이다:
도 1은 광 기록장치의 소자를 개략적으로 나타내고,
도 2는 광 신호로부터 연속되는 채널비트를 개략적으로 나타내며,
도 3은 참고레벨 추출모듈의 실시예를 개략적으로 나타내고,
도 4a 및 4b는 광 신호와 참고레벨간의 관계를 나타내고,
도 5는 3T 기록 스트래티지의 개략도를 나타낸다.
(실시예의 설명)
도 1은 광 기록매체(8)로부터 및/또는 광 기록매체에 정보를 판독 및/또는 기록할 수 있는 본 발명에 따른 광 기록장치(1)의 소자를 개략적으로 도시한 것이다. 주목하는 것은, 광 기록장치가 여러 가지 기능을 갖는 대다수의 소자를 구비하고, 그 중의 가장 관련된 것만 여기서 예를 든 것이다. 제어수단 CTRL 2는, 상기 광 기록장치를 제어하는데 사용된 임의의 형태의 제어수단이라고 한다. 이러한 제어수단 CTRL 2는, 기계적 제어소자, 전자제어소자 및 마이크로프로세서 수단과 같은 제어소자를 구비하기도 한다. 상기 기계적 제어소자는, 디스크형 광 기록매체(8)를 회전시키고 그 광 픽업장치(5)를 이동시키는 모터수단을 구비한다. 상기 전자 제어소자는, 상기 광 픽업장치(5)의 운동을 제어하는 제어소자를 구비한다. 상기 마이크로프로세서 수단(예를 들면, 집접회로(IC)수단)은, 상기 장치의 동작을 하이레벨로 제어할 수 있는 하드와이어 처리수단 및/또는 소프트웨어 처리수단을 구비하기도 한다. 하이레벨 제어의 예들로는, 기록모드시 상기 방출된 레이저 전력의 펄스 형상(즉, 기록 스트래티지)의 설정값에 관한 제어가 있다.
상기 광 기록장치는, (OPU라고도 하는) 광 픽업장치(5)를 구비한다. 이 광 픽업장치(5)는, 다수의 광학소자를 사용하여 상기 디스크에 초점을 맞춘 레이저 빔을 방출하는 레이저(6)를 구비한다. 기록모드에서, 상기 초점을 맞춘 레이저 빔은, 충분히 강렬하여서 광 디스크에 물리적 변화를 제공한다, 즉 광학 결과(마크)는, 그 디스크 상에 형성된다. 이와는 달리, 판독모드에서, 상기 레이저 빔의 전력은 상기 물리적 변화를 유도하기엔 불충분하고, 상기 디스크에서 반사된 레이저 광은 광 검출기(7)에 의해 검출되어 상기 디스크의 광학 결과(마크)를 판독한다.
상기 광 검출기(7)로 나타낸 것처럼, 광 기록매체로부터 상기 측정된 광 신호를, 고주파 신호, 즉 간단히 HF 신호라고 한다. 상기 광 검출기(7)에 의해 측정된 신호는, 전용 유닛(미도시됨)에 의해 또는 상기 제어수단 CTRL 2에 포함된 처리수단에 의해 추가로 처리하는데 적절한 형태로 변환된다.
도 2는 판독신호(40)로부터 연속되는 채널비트(20)를 나타낸 신호를 도시한 것이다. 상기 연속되는 채널비트는, 공간이나 고반사율 영역을 나타낸 제 1 길이(211)를 갖는 기록매체(8)에 제 1 영역으로부터 반사된 레이저 광에 대응한 제 1 섹션(21)과, 마크나 저반사율 영역을 나타낸 제 2 길이(221)를 갖는 기록매체(8)의 제 2 영역으로부터 반사된 레이저 광에 대응한 제 2 섹션(22)으로 이루어진다. 제 1 영역으로부터 제 2 영역으로의 천이가 선행구간(23)이라고 라벨이 붙여지고, 제 2 영역으로부터 제 1 영역으로의 천이가 후미구간(24)이라고 라벨이 붙여진다.
디스크형 기록매체(8)의 광학 결과는, 통상 그 중심과 바깥쪽으로부터 대체로 나선형으로 하는 트랙을 따라 정렬된다. (제 2 섹션(22)으로 나타낸) 이들 광학 결과는, 마크라고 하는 경우도 있는 반면에, (제 2 섹션(21)으로 나타낸) 이들 마 크간의 영역은 공간이라고 하는 경우도 있다. 상변화형 디스크(재기록 가능형 디스크로서 통상 사용됨)에서, 상기 마크들은 반사율이 낮은 비정질 영역인 반면에, 상기 공간은 반사율이 높은 결정성 영역이다.
광 기록시에, 상기 데이터는, 서로 다른 런길이, 즉 다른 길이의 마크들과 공간들로 이루어진 패턴으로 저장된다. 주어진 디스크의 최적의 성능에 중요한 것은, 모든 마크와 공간의 길이가 표준 채널 비트 길이의 정확히 배수이다는 것이다. 예를 들면, 블루레이 디스크(BD)에서, 최단 결과는 표준 채널 비트 길이(길이의 단위임)에 2배, I2라고도 한다. 최장 결과는 채널 비트 길이에 9배이고 I9라고 한다. 상기 마크와 공간의 길이가 정확히 채널 비트 길이의 배수가 아닌 경우, 이것은, 최적의 경우로부터의 편차로서 보여질 것이고 비트 검출 성능이 저하하게 될 것이다.
실제 디스크에서, 고반사율 영역(공간) 및 저반사율 영역(마크)간의 천이는 항상 우측 위치에 있지 않다. 일부는 너무나 많이 좌측 위치(즉, 시간상 너무 이르다; 해상력(definition)에 대해 네가티브)에 있고, 일부는 너무나 많이 우측 위치(즉, 시간상 너무 늦다; 해상력에 대해 포지티브)에 있어도 된다. 이것은, 상기 천이의 상기 측정된 위치를 나타내는 점-파선(27,271,272)으로 도시되어 있다. 도 2에서, 수평축(28)은, 시간축을 나타낸다. 이 시간축은, 소위 1T 해상도(즉, 시간축의 일 단위는 1채널 비트의 지속기간에 해당한다)를 갖는다. 이상적인 신호에 대해, 상기 천이는, 시간축의 상기 1T단위와 정확히 정렬되어야 한다.
이하에서, 본 발명의 실시예들은, 예시에 의해 설명된다. 이들 실시예에서 측정된 참고레벨의 값들은 상기 마크와 공간의 위치와 상기 마크와 공간 사이의 천이의 위치에 관한 타이밍 정보를 추출하도록 처리된다.
도 3은 상기 제어수단 CTRL 2의 일부이기도 한 참고레벨 추출모듈(30)의 실시예를 도시한 것이다. 참고레벨은, 주어진 변조비트 시퀀스동안 (평균 레이저 광 강도를 나타낸) HF 신호의 평균값으로서 보여질 수 있다. 참고레벨의 수는, 계산에 있어서 동시에 취해진 상기와 같은 변조비트의 시퀀스(ak-4...ak)에서의 비트 수에 의존한다. 그에 따라, 본 실시예에 도시된 것보다 어느 정도 참고레벨은, 본 발명을 벗어나지 않고 사용되어도 된다. 상기 변조비트 ak는 디지털화된 HF 신호 dk로부터, 예를 들면 한계치 검출기나 비터비 비트 검출기에 의해 추출된다. 비터비 검출기는, 종종 현재의 광 디스크 시스템에 사용된다. 이러한 비터비 비트 검출기가 사용되는 경우, 변조비트들로 이루어진 시퀀스에서 동시에 취해진 비트의 수는, 비터비 비트 검출기에 사용된 탭의 수에 직접 관련된다. 상기 도시된 실시예에서는, 5-탭 참고레벨 추출모듈(30)이 설명되어 있고, 이 모듈에서 17PP 변조 코드는, 16개의 서로 다른 참고레벨을 갖는다(17PP는, (1,7)RLL 패리티 보존 금지 반복형 최소 천이 런길이의 약칭임). 그렇지만, 다른 양의 탭(즉, 변조비트의 수), 및 이에 따라서 어느 정도 참고레벨은, 교대로 처리될 수 있다. 따라서, 본 실시예에 도시된 16보다 어느 정도 참고레벨이 측정되는 실시예들은, 본 발명의 범위 내에서 생각될 것이다. 참고레벨은, 옵션으로 비터비 참고레벨의 형태이어도 된다. 상기 참고레벨은, 사용된 비터비 검출기의 타입에 의존하기도 한다. 비터비 비트 검출기가 사용 되는 경우, 이들 참고레벨이 비터비 비트 검출 엔진의 일부로서 하드웨어로 구성되어도 되므로, 그것은 런길이 의존 비대칭 정보가 비터비 참고레벨로부터 추출되어도 된다는 이점이다.
상술한 것처럼, 5개의 변조비트의 시퀀스(ak-4...ak)를 이용하는 실시예는, 도 3을 참조하여 설명된다. 이와 같이, 각 참고레벨은 5개의 변조비트에 관한 평균이고, 그에 따라서 실시간 비트 스트림은, 적어도 5개의 변조비트가 미리 판독될 필요가 있으므로 시간에 있어서 지연된다. 이에 상기 검출된 변조비트 ak는 4개의 지연 유닛 Z-1만큼 지연된다. 상기 디지털화된 HF 신호 dk는 2개의 지연 유닛 Z-1만큼 지연되어서, 그 변조 비트들을 HF 신호와 동기화한다. 각 클록 사이클 동안, 5개의 변조비트(ak-4...ak)는 어드레스 인코더(31)에 의해 4비트 어드레스(33)로 변환된다. 이러한 4비트 어드레스는, 러닝 평균부(32)에 저장된 16개의 참고레벨(R1 ..... R16) 중 하나를 가리킨다. 상기 선택된 참고레벨의 상기 러닝 평균은, dk를 지연하여서 얻어진 것처럼, 시간 동기화된 HF 신호 dk-2로 상기 러닝 평균부(32)에서 갱신된다. 날짜 참고레벨 R1 내지 R16까지의 16개의 참고레벨은, 상기 러닝 평균부(32)에서 사용 가능하고, 기록 스트래티지 파라미터를 설정하기 위해 출력될 수 있다. 예로서, 표 1은 비트 스트림용 17PP 코드와 대응한 참고레벨 RL(Ref Level)을 수반하는 경우 허용되는 5비트의 변조비트 시퀀스(ak-4...ak)(Mod Bit Sequence)를 나타 낸다:
Figure 112008035938741-PCT00001
표 1
제 1(10) 참고레벨(R1 내지 R10) 각각은, 단일의 천이(즉, 단지 0의 시퀀스와 1의 시퀀스간의 하나의 천이)를 갖는 변조비트 시퀀스에 해당한다. 이들 참고레벨은, 주로 하나의 긴 결과로부터 또 다른 긴 결과로의 천이에 관련된다. 참고레벨 R11 및 R13은, (저반사율을 갖고, 그래서 2개의 연속적인 0) I2 마크가 어떻게 위치결정되고/어떤 치수로 되는지를 의미하고, 참고레벨 R12와 R14는 (고반사율을 갖고, 그래서 2개의 연속적인 1) I2 공간에 대한 정보를 포함한다. 끝으로, 참고레벨 R15는 I3 마크(3개의 연속적인 0)에 관계되고, 참고레벨 R16은 I3 공간(3개의 연속적인 1)에 관계된다.
도 4는 광 신호와 참고레벨간의 관계를 나타낸다. 도 4a는 25GB BD 디스크로부터 판독된 광 신호(40)를 도시한 것이다. 또한, 상기 광 신호로부터 추출된 비트들이 도시되어 있고 점 41 및 42로 나타내어져 있다. 도면부호 41은 고반사율 영역, 즉 공간이라고 하고, 도면부호 42는 저반사율, 즉 마크라고 한다. 연속적인 점의 수는, 추출된 런길이를 말하고, 예를 들면, 도면부호 43으로 나타낸 I2 공간 런길이(2개의 연속적인 점)와 도면부호 44로 나타낸 I3 마크 런길이(3개의 연속적인 점)가 도시되어 있다. 더욱이, 광학신호(40)를 오버랩핑하는 것은 원(45)으로 나타낸 5-탭 참고레벨이고, 여기서 각 원은 상기 판독신호의 평균 진폭에 해당하여서, 주어진 비트 시퀀스 동안 평균 레이저 광 강도에 해당한다.
도 4b는 시간 t에 대한 참고레벨(45)의 러닝 평균을 도시한 것이다. 이러한 도면에서, 상기 참고레벨의 러닝 평균은, 각 클록 사이클 후(그리고 그에 따라, 매 새로운 측정 후) 그래프를 갱신하여서 도시되어 있다. 주목하는 것은, 도 4a가 실제로 도 4b의 일부(49)의 크게 확대된 도면이다는 것이다. 또한, 광 신호로부터 추출된 비트(41,42)가 도시되어 있지만, 그 갱신으로 인해 그 비트는 단일의 실선으로 바뀐다. 마찬가지로, 광 신호(40)는, 어느 정도 완전히 덮힌 영역으로 바뀐다. 도 4b에서는, 16개의 참고레벨(45) 중 10개만을 볼 수 있다. 이것은, 주어진 설정에 있어서 거의 채널 왜곡이 존재하지 않아서, 서로의 상부에 떨어지는 일부의 참고레벨이 생기기 때문이다. 이들의 참고레벨을 오버랩핑하는 것은, 그럼에도 불구하고 각 레벨이 대응한 변조 비트 시퀀스에 의해 마킹되므로 분리되어도 된다.
본 발명에 의하면, 마크와 공간의 위치에 대한 정보, 보다 구체적으로는 마크와 공간 사이의 천이의 위치에 대한 정보는, 상기 참고레벨의 값들로부터 또 이 값들간의 관계로부터 추출된다.
물리적으로, 변조비트와 참고레벨간의 링크는, 기록매체의 마크와 공간을 갖는 기록매체에 초점이 맞추어진 광 스폿의 콘벌루션에 해당한다. 수학적으로, 상기 변조비트와 참고레벨간의 링크는 다음의 행렬식으로 표현될 수 있다:
Figure 112008035938741-PCT00002
여기서, Rx는 참고레벨 x를 의미한다. 16×5 행렬은 상기 변조비트 패턴(ak-4...ak)을 나타내고, h-벡터는 광학 채널 임펄스 응답을 나타내고, 여기서 h0는 중심 강도, h±1 및 h±2는 각각 플러스 1과 마이너스 1 클록단위, 플러스 2와 마이너스 2 클록 단위에서의 강도를 말한다.
상기 참고레벨을 측정하면, 원리상 광학 채널 임펄스 응답 벡터 h를 구할 수 있다. 상기 행렬식은, 미지의 변수가 단지 5개(h-2,h-1,h0, h+1,h+2)인 16개의 식으로 이루어진다. 예를 들면, 최소자승 오차법을 사용하면 상기와 같은 문제를 풀 수 있다.
그렇지만, 실제 실험으로 측정된 참고레벨의 세트에 관해 상기 행렬식을 풀려고 하는 경우, 상기와 같은 단순 모델을 사용하여 모든 참고레벨을 맞추기는 거의 불가능해 보인다. 이것은, 주로 상기 마크와 공간의 비대칭을 고려하지 않는 사실에 기인한다. 본 발명에 의하면, 상기 비대칭의 참고레벨에 관한 영향은, 상기 모델에 포함된다. 상기 참고레벨 R1 내지 R10(표 1)은, 모두 단일 천이 패턴에 관련된다(즉, 대응한 변조 비트 시퀀스 각각에는 연속되는 0과 연속되는 1 사이에서 한번의 천이만 있다). 1(상기 신호에서의 하이값)에서 0(상기 신호에서의 로우값)으로의 천이는, 하나의 마크의 선행구간을 나타내고, (가능한) 비대칭은, 이 천이에 가장 근접한 1을 L로 나타낸 변수로 대체함으로써 상기 모델에 도입된다. 1이하의 L값은, (예를 들면 도 2의 천이(27) 등의) 너무 일찍 시작하는 마크의 결과와 유사하다. 유사하게, (마크의 후미구간을 나타내는) 0에서 1로의 모든 천이의 경우, 1들은, 상기 마크들의 후미구간에 구간(edge) 시프트(272)와 유사한 T로 나타낸 변수로 대체된다.
상기 참고레벨 R11 내지 R16(표 1)에서의 구간 시프트 모두는, 특정 런길이에 대해 특정한 것이다. 또한, 비대칭을 이들 천이에 대한 모델에 포함시키기 위해 서, 상기 특정 천이마다의 특정 변수들이 도입된다. 이들 특정 변수는 코딩된 X(X)YZ이고, 여기서 X(X)는 선행구간을 나타낸 L과 후미구간을 나타낸 T를 갖는 1 또는 2 레터 코드이고, Y는 상기 결과의 길이를 나타낸 수치(예를 들면, X3Z는 I3 결과에 관련됨)이고, Z는 마크 결과를 가리키는 M과 공간을 가리키는 S를 갖는 레터 코드이다. 이제, 모든 변조 비트 패턴(ak-4...ak)을 참고레벨 Rx에 관련시킨 상기 행렬식은 다음과 같이 나타낼 수 있다:
Figure 112008035938741-PCT00003
이 행렬식은, 예를 들면, 다음의 2단계의 방법으로 풀어질 수 있다:
- 제 1 단계에서는, 광학 채널 임펄스 응답 벡터 h와 런길이 L 및 T를 참고레벨 R1 내지 R10에 의거하여 풀고,
- 제 2 단계에서는, 상기 특정 변수들을 나머지 참고레벨에 의거하여 푼다.
단계 1: h와 런길이 L 및 T를 참고레벨 R1 내지 R10에 의거하여 푼다: 제 1 단계에서는, 예를 들면, 공지된 최소자승 오차법을 적용하거나, 이와는 달리, 컴퓨터 기반 수치법으로(예를 들면, 공지의 소프트웨어 프로그램 Maple이나 Mathematica를 사용하여) 해결될 수 있다. 최소자승 오차법을 사용하여 상기 행렬식의 첫 번째 10개의 식을 푸는 경우, 상기 측정된 참고레벨과 모델링된 참고레벨간의 오차를 계산하여, h를 갱신하기 위해서 이 오차를 상기 비트 패턴과 콘볼루션하여서 h값을 구할 수 있다. 상기 L 및 T 변수는, DC 오차 성분이 대응한 L(참고레벨 R7 내지 R10)과 T(참고레벨 R2 내지 R5)에 있다고 생각하여서 구해질 수 있다. 다수의 반복 후, 가장 적절한 해를 구한다. 수렴을 개량하기 위해서, 그 해가 대칭적 h 벡터를 갖게 할 수 있어, 변수가 보다 적고, 또한 그 해는 보다 좋다고 정의되어 진다. 광학 채널 임펄스 응답 벡터 h와 변수 L 및 T를 추정하면, 특정 천이마다의 특정 변수는, 제 2 단계에서 결정될 수 있다.
단계 2: 참고레벨 R11 내지 R16에 의거하여 I2 및 I3에 대한 특정 변수를 푼다:
단계 2a: 공지된 h 벡터와, R11 및 R13에 의거하여 L2M 및 T2M을 푼다(2개가 미지인 2개의 식):
Figure 112008035938741-PCT00004
단계 2b: 공지된 h 벡터와, R12 및 R14에 의거하여 L2S 및 T2S을 푼다(2개가 미지인 2개의 식):
Figure 112008035938741-PCT00005
단계 2c: 공지된 h 벡터와 R15에 의거하여 LT3M을 푼다(1개만이 미지인 1개의 식):
Figure 112008035938741-PCT00006
단계 2d: h 벡터와 R16에 의거하여 LT3S를 푼다(1개만이 미지인 1개의 식):
Figure 112008035938741-PCT00007
상기 예에서는, 하나의 긴 결과로부터 또 다른 긴 결과로의 천이를 포함하는 런길이의 비대칭(참고레벨 R1 내지 R10)을 결정하고, I2 런길이의 비대칭(참고레벨 R11 내지 R14)을 결정하며, I3 런길이의 비대칭(참고레벨 R15 내지 R16)을 결정한다. 주목할 것은, 보다 많은 참고레벨을 이용함으로써, 다양한 런길이에 대해 훨씬 더 상세한 비대칭 결정을 할 수 있고 및/또는 상기 예에서와 같이 단지 I2 및 I3결과의 경우보다 많은 런길이의 비대칭을 결정할 수 있다.
서로 다른 런길이에 대해 비대칭 결정을 용이하게 함으로써, 기록 스트래티지를 보다 정밀하게 실행한다. 이것은, 향상된 워킹 OPC 방법에 특히 적합하기도 하다. 이러한 워킹 최적 전력 교정방법에 있어서, 상기 기록 스트래티지는, 통상적으로 디스크의 예약 구역에서 최적화된 후 데이터를 실제로 기록한다. 다음에, 상기 시스템은, 데이터를 기록하기 시작한다. 소정 수의 트랙을 기록한 후, 상기 시스템은 1트랙을 반대로 점프하여 마지막에 기록된 트랙의 품질을 분석한다. 그것은, 디스크가 완벽히 동종이 아니고, 그 시스템의 온도가 상승하는 등 때문에, 기록 스트래티지를 약간 변경하여 기록 성능을 개량할 필요가 있을지도 모른다. 이러한 처리를 소정 간격으로 반복하고, 이렇게 하여 디스크 전체를 신뢰성 있게 기록할 수 있다. 통상, 하나의 파라미터만이 마지막에 기록된 트랙을 판독할 때 측정되 기 때문에, 기록전력만이 변경될 수 있다. 그렇지만, 런길이 의존 비대칭을 제공함으로써, 상기 기록 스트래티지에서의 하나보다 많은 파라미터를 변경하는 것이 가능하다. 이와는 달리, 주어진 기록 스트래티지에서 특정 파라미터를 변경하는 것이 가능하다.
도 5는 3T 마크 기록 스트래티지(50)의 개략도를 도시한 것이다. 레이저 전력 PL은, 시간 t의 함수로서 도시되어 있다. 기록 스트래티지는, 기록매체에 다양한 광학 결과(마크들)를 형성하는데 사용된 레이저 광 펄스를 한정한다. 이 도시된 기록 스트래티지는, 4개의 전력레벨(E,W,B,C)과 이들 전력레벨마다의 시간 지속기간인 다수의 기록 파라미터를 포함한다. 레이저는, 소거 전력레벨(E)로 시작하여 기록전력레벨(W)을 갖는 기록 펄스가 후속된다. 이 기록 펄스 후에, 그 전력은 바이어스 전력레벨(B)까지 감소되어 상변화 물질을 억제한다. 끝으로, 전력레벨 C의 소거 펄스를 사용하여 후미구간이 우측 위치에 놓이도록 비정질 마크의 일부를 재결정화한다. 상기 기록 펄스의 펄스 형상은, 서브펄스들의 수와 각 서브펄스의 지속기간을 특정하여서 디스크 타입에 따라 변경되어도 된다. 도 5의 예에는, 전력레벨 W가 사이에 바이어스 전력레벨 B를 갖는 2개의 서브펄스로 이루어지는 기록 펄스가 예로 도시되어 있다. 그것은, 본 발명이 도 5에 도시된 타입의 기록 스트래티지에 한정되지 않고, 도 5가 기록 스트래티지의 예로서만 제공된다는 것을 가리킨다.
본 발명에 의거하여, 기록 스트래티지에서 하나 이상의 기록 파라미터는, 상기 참고레벨의 값에 의거한 최적화 처리에서 최적화될 수 있다. 본 발명의 실시예 에서, 상기 최적화 처리는, 서로에 대한 참고레벨의 값에 기초한다. 상기 하나 이상의 기록 파라미터는, 전력레벨, 전력레벨 지속기간, 펄스나 서브펄스의 타이밍 등으로 이루어지기도 한다.
상술한 실시예에서는, (I2 결과에 대한) 런길이 특정의 L2M/T2M 및 L2S/T2S 천이뿐만 아니라 (I3 결과에 대한) LT3M 및 LT3S 천이도 상기 긴 런길이 광학 결과의 비대칭을 추출할 수 있다. 이들 비대칭에 의거하여, I2 및 I3 결과를 기록하기 위해 상기 기록 스트래티지에서의 특정 파라미터 설정값을 조정할 수 있고, 이 결과들은, 데이터를 신뢰성 있게 기록하는데 가장 중요한 결과이다.
일반적으로, 평균 천이 시프트를 평가하여, 예를 들어 결정된 비대칭에 의거한 일부의 소정 규칙에 따라 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 최적화하는 것이 가능하다. 이 규칙은, 상기 런길이 의존 비대칭과 기록 스트래티지에서의 다양한 파라미터들의 설정값간의 관계를 포함한다. 이와는 달리, 이 규칙은, 기록 스트래티지(또는 스트래티지들)가 최적화되는 것을 결정하는 방법의 스킴, 및/또는 기록 스트래티지에서의 파라미터들 중 어느 파라미터들이 조정되는지와 그 조정의 정도를 결정하는 방법의 스킴을 포함한다.
본 발명의 다양한 국면들을 바람직한 실시예들과 관련지어 설명하였지만, 본 발명은 여기서 제안한 특정 형태에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 본 발명의 범위는 첨부하는 청구항에 의해서만 한정된다. 상기에서는, 상기 개시된 실시예들의 확실한 구체적인 상세 내용이 한정하기보다는 설명상 제안되어, 본 발명의 명백하고 전체적인 이해를 제공한다. 그렇지만, 당업자가 이해해야 하는 것은, 상기 개시 내 용의 사상과 범위로부터 상당히 벗어남이 없이 여기서 제안한 상세 내용에 대해 정확히 따르지 않는 다른 실시예에서 실행될 수도 있다는 것이다. 또한, 이와 관련해서, 또한 간략함과 명백함을 위해서, 잘 알려진 장치, 회로 및 방법론들의 상세한 설명을 생략하여 불필요한 상세 내용 및 혼동 가능성을 피하였다. 본 발명에 따른 장치의 소자는 일부의 독특한 항목의 하드웨어에 의해 구현되어도 되거나, 일부의 소자는 동일한 항목의 하드웨어에 조합되어도 된다. 더욱이, 일부의 소자는, 적절하게 프로그램된 프로세서에 의해 구현되어도 된다.
참조부호는, 청구항에 포함된다. 그렇지만, 이들 참조부호가 포함되는 것은 단지 명백을 기할 뿐, 청구항의 범위를 한정하는 것으로서 파악되어서는 안 된다.

Claims (9)

  1. 최적화 기록 스트래티지 제어에 의한 광 기록장치(1)로서,
    - 광 기록매체(8)에 광학 결과를 기록하고 광학 결과를 그 광 기록매체로부터 판독하도록 하나 이상의 기록 파라미터(E,W,B,C)를 포함한 기록 스트래티지(50)에 따라 기록 상황에서 방출되는 방사빔을 방출하기 위한 방사원(6)과,
    - 제 1 길이(211)를 갖는 상기 기록매체의 제 1 영역으로부터 반사된 제 1 섹션(21)과, 제 2 길이(221)를 갖는 상기 기록매체의 제 2 영역으로부터 반사된 제 2 섹션(22)으로 이루어진 판독신호(40)를 제공하도록 상기 기록된 결과를 판독하되, 여기서 상기 제 1 영역으로부터 상기 제 2 영역으로의 천이가 선행구간(23)이라고 라벨이 붙여지고, 상기 제 2 영역으로부터 상기 제 1 영역으로의 천이가 후미구간(24)이라고 라벨이 붙여진, 판독부(7)와,
    - 상기 판독신호(40)에 대응한 변조 비트들을 제공하는 비트 검출기와,
    - 상기 변조 비트들을 그룹 지어 변조 비트 시퀀스(ak-4...ak)를 만들고, 주어진 변조 비트 시퀀스에 대한 상기 판독신호(40)의 평균 진폭에 대응하는 참고레벨(Rx,45)에 대해 상기 판독신호의 각 변조 비트 시퀀스를 서로 관련시키는 처리부를 구비하고,
    - 상기 참고레벨의 값들에 의거한 상기 기록매체의 상기 선행구간(27,271) 및/또는 상기 후미구간(272)의 평균 천이 시프트를 결정하는 수단과,
    - 상기 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 상기 참고레벨의 값들에 의거하여 설정하는 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학 결과(211,221)의 길이의 함수로서 상기 참고레벨(Rx, 45)로부터 광학 결과의 비대칭을 결정하는 수단과, 상기 결정된 비대칭에 의거하여 기록 스트래티지(50) 파라미터들 중 적어도 하나를 설정하는 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 기록 파라미터는, 전력레벨(E,W,B,C) 및/또는 전력레벨 지속기간을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 기록 파라미터는, 상기 방사빔에서의 기록 펄스의 타이밍을 포함하고, 이 타이밍은 기준 클록과 관련하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 선행구간 및/또는 상기 후미구간의 평균 천이 시프트를 평가하는 수단과, 소정의 규칙에 따라 상기 기록 스트래티지(50)에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터(E,W,B,C) 중 적어도 하나를 최적화하는 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    기록 가능형 매체에 광학 결과의 시퀀스를 기록하도록 작동하는 제어수단을 구비하고, 상기 판독부는 기록처리의 제 1 부분 동안 상기 시퀀스의 제 1 부분을 판독하고 상기 시퀀스의 상기 제 1 부분으로부터 상기 판독신호를 얻도록 작동하고, 상기 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터들 중 적어도 하나는 상기 시퀀스의 상기 제 1 부분으로부터 얻어진 상기 판독신호에 따라 설정되고, 상기 제어수단은, 상기 기록 스트래티지에서의 상기 설정 파라미터들이 사용되고 있는 동안 상기 기록처리의 제 2 부분에 광학 결과의 시퀀스를 기록하도록 더 작동하는 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  7. 광 기록장치에서 사용하기 위한 집적회로(IC)로서, 상기 IC는, 측정된 판독신호(40)의 선행구간(23) 및/또는 후미구간(24)의 평균 천이 시프트에 따라 기록 스트래티지(50)에서의 하나 이상의 기록 파라미터(E,W,B,C)를 설정하도록 구성되고, 상기 평균 천이 시프트는 참고레벨(Rx,45)의 값들에 의거하여 결정되고, 상기 참고레벨은 주어진 변조 비트 시퀀스(ak-4...ak) 동안 상기 판독신호(40)의 진폭을 반영하는 것을 특징으로 하는 광 기록장치.
  8. 광 기록장치를 제어하기 위한 컴퓨터 판독 가능형 코드로서, 상기 광 기록장치는, 측정된 판독신호(40)의 선행구간(23) 및/또는 후미구간(24)의 평균 천이 시프트에 따라 기록 스트래티지(50)에서의 하나 이상의 기록 파라미터(E,W,B,C)를 최적화하도록 제어되고, 상기 평균 천이 시프트는 참고레벨(Rx,45)의 값들에 의거하여 결정되고, 상기 참고레벨은 주어진 변조 비트 시퀀스(ak-4...ak) 동안 상기 판독신호(40)의 진폭을 반영하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능형 코드.
  9. 하나 이상의 기록 파라미터(E,W,B,C)를 포함한 기록 스트래티지(50)를 최적화하는 방법으로서,
    - 제 1 길이(211)를 갖는 기록매체의 제 1 영역으로부터 반사된 제 1 섹션(21)과, 제 2 길이(221)를 갖는 상기 기록매체의 제 2 영역으로부터 반사된 제 2 섹션(22)으로 이루어진 판독신호(40)를 제공하되, 여기서 상기 제 1 영역으로부터 상기 제 2 영역으로의 천이가 선행구간(23)이라고 라벨이 붙여지고, 상기 제 2 영역으로부터 상기 제 1 영역으로의 천이가 후미구간(24)이라고 라벨이 붙여진, 판독신호 제공 단계와,
    - 상기 판독신호에 대응하고 변조 비트 시퀀스(ak-4...ak)로서 제공된 변조 비트들을 제공하는 단계와,
    - 주어진 변조 비트 시퀀스(ak-4...ak)에 대한 상기 판독신호(40)의 러닝 평균 진폭을 반영하는 참고레벨(Rx,45)에 대해 각 변조 비트 시퀀스를 서로 관련시키는 단계를 포함하고,
    상기 참고레벨의 값들에 의거하여 상기 판독신호에서의 선행구간(27,271) 및/또는 후미구간(272)의 평균 천이 시프트를 결정하고, 상기 기록 스트래티지에서의 상기 하나 이상의 기록 파라미터 중 적어도 하나를 상기 평균 천이 시프트에 의거하여 설정하는 것을 포함한 것을 특징으로 하는 기록 스트래티지 최적화 방법.
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