KR20080018773A - Liquid crystal display device - Google Patents

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Abstract

A liquid crystal display device is provided to form resistance parts between gate lines and gate pads to delay gate signals before entering a display area to reduce a delay change range of the gate signals and a kickback voltage change range, thereby improving brightness uniformity. A liquid crystal display device includes a first substrate having a display area, a second substrate opposite to the first substrate, and a liquid crystal layer interposed between the first substrate and the second substrate. The first substrate includes gate lines(121) placed in the display area, gate pads(124) placed outside the display area, and resistance parts(163) electrically connecting the gate lines with the gate pads, made of a material having resistance higher than resistance of the gate lines.

Description

액정표시장치{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}Liquid crystal display {LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치에서 제1기판의 배치도이고,1 is a layout view of a first substrate in a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention;

도 2는 도 1의 A부분의 확대도이고,FIG. 2 is an enlarged view of portion A of FIG. 1,

도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ을 따른 단면도이고,3 is a cross-sectional view taken along line III-III of FIG. 2,

도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치에서 화소전압에 따른 투과율을 나타낸 도면이고,4 is a view showing transmittance according to pixel voltage in the liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치에서 화소의 등가회로도이고,5 is an equivalent circuit diagram of a pixel in a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention;

도 6a 내지 도 6c는 게이트 신호 지연에 따른 휘도불균일을 설명하기 위한 도면이고,6A to 6C are diagrams for describing luminance unevenness according to a gate signal delay.

도 7은 도 1의 B부분의 확대도이고,7 is an enlarged view of a portion B of FIG. 1,

도 8은 도 7의 Ⅷ-Ⅷ을 따른 단면도이고,8 is a cross-sectional view taken along the line VIII-VIII of FIG. 7,

도 9는 본 발명의 제1실시예에 따른 액정표시장치에서 휘도불균일 개선을 설명하기 위한 도면이고,9 is a view for explaining the luminance non-uniformity improvement in the liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention,

도 10은 게이트 신호 지연과 휘도와의 관계를 나타낸 도면이고,10 is a diagram illustrating a relationship between a gate signal delay and luminance.

도 11은 기생용량과 휘도와의 변화를 나타낸 도면이고,11 is a view showing a change between parasitic capacitance and luminance,

도 12는 저항부의 저항값에 따른 게이트 신호 지연을 나타낸 도면이고,12 is a diagram illustrating a gate signal delay according to a resistance value of a resistor unit;

도 13은 저항부의 저항값에 따른 화소전압을 나타낸 도면이고,13 is a diagram illustrating pixel voltages according to resistance values of a resistor unit;

도 14는 본 발명의 제2실시예에 따른 액정표시장치를 설명하기 위한 도면이고,14 is a view for explaining a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention;

도 15은 도 14의 ⅩⅤ-ⅩⅤ를 따른 단면도이고,15 is a cross-sectional view taken along the line VV-VV of FIG. 14,

도 16은 본 발명의 제3실시예에 따른 액정표시장치에서 화소의 등가회로도이고,16 is an equivalent circuit diagram of a pixel in a liquid crystal display according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 17은 본 발명의 제3실시예에 따른 액정표시장치에서 시인성 개선 원리를 나타낸 것이고17 illustrates a principle of improving visibility in a liquid crystal display according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 18은 본 발명의 제3실시예에 따른 액정표시장치의 배치도이고,18 is a layout view of a liquid crystal display according to a third embodiment of the present invention;

도 19는 본 발명의 제4실시예에 따른 액정표시장치의 배치도이다.19 is a layout view of a liquid crystal display according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분의 부호에 대한 설명 *Explanation of Signs of Major Parts of Drawings

121 : 게이트선 122 : 게이트 전극121: gate line 122: gate electrode

123 : 팬-아웃부 124 : 게이트 패드123: fan-out 124: gate pad

131 : 게이트 절연막 151 : 보호막131: gate insulating film 151: protective film

161 : 화소전극 166 : 화소전극 절개패턴161: pixel electrode 166: pixel electrode incision pattern

163 : 저항부 200 : 제2기판163: resistor 200: second substrate

251 : 공통전극 252 : 공통전극 절개패턴 251: common electrode 252: common electrode incision pattern

300 : 실런트300: sealant

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 게이트 신호 지연차이를 감소시켜 휘도균일성을 향상시킨 액정표시장치에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device having improved luminance uniformity by reducing a gate signal delay difference.

액정표시장치는 박막트랜지스터가 형성되어 있는 제1기판과, 제1기판에 대향 배치되어 있는 제2기판, 그리고 이들 사이에 위치하는 액정층을 포함한다. The liquid crystal display device includes a first substrate on which a thin film transistor is formed, a second substrate disposed opposite to the first substrate, and a liquid crystal layer disposed therebetween.

박막트랜지스터 기판에 마련된 게이트선과 데이터선은 서로 교차하면서 화소를 형성하며 각 화소는 박막트랜지스터에 연결되어 있다. 게이트선에 게이트 신호(게이트 온전압(Von))가 인가되어 박막트랜지스터가 턴온되면 데이터선을 통해 인가된 데이터 전압(Vd)이 화소에 충전된다. The gate line and the data line provided on the thin film transistor substrate cross each other to form pixels, and each pixel is connected to the thin film transistor. When the gate signal (gate on voltage Von) is applied to the gate line and the thin film transistor is turned on, the data voltage Vd applied through the data line is charged in the pixel.

화소에 충전된 화소 전압(Vp)과 제2기판의 공통전극에 형성된 공통전압(Vcom) 사이에 형성된 전계에 따라 액정층의 배열상태가 결정된다. 데이터 전압(Vd)은 프레임 별로 극성을 달리하여 인가된다.The arrangement state of the liquid crystal layer is determined according to the electric field formed between the pixel voltage Vp charged in the pixel and the common voltage Vcom formed on the common electrode of the second substrate. The data voltage Vd is applied with different polarities for each frame.

화소에 인가된 데이터 전압(Vd)은 게이트 전극과 소스 전극(드레인 전극) 간의 기생 용량 (Cp)에 의해 강하되어 화소 전압(Vp)을 형성한다. 데이터 전압(Vd)과 화소 전압(Vp) 간의 전압 차이를 킥백 전압(Vkb)이라 한다.The data voltage Vd applied to the pixel is dropped by the parasitic capacitance Cp between the gate electrode and the source electrode (drain electrode) to form the pixel voltage Vp. The voltage difference between the data voltage Vd and the pixel voltage Vp is called a kickback voltage Vkb.

게이트선은 단부에 연결되어 있는 게이트 패드를 통해 게이트 신호를 인가 받는다. 게이트 패드에 인접한 화소에는 지연이 적은 게이트 신호가 인가되고, 게이트 패드에서 먼 화소에는 게이트선의 저항에 의해 지연이 많이 된 게이트 신호가 인가된다.The gate line receives a gate signal through a gate pad connected to an end of the gate line. A gate signal having a low delay is applied to a pixel adjacent to the gate pad, and a gate signal having a large delay due to the resistance of the gate line is applied to a pixel far from the gate pad.

그런데 게이트 신호의 지연 정도에 따라 킥백전압의 크기가 달라지고, 킥백전압의 변화에 의해 화소전압이 달라져 화면의 휘도가 불균일해지는 문제가 발생한다.However, the magnitude of the kickback voltage varies according to the delay level of the gate signal, and the luminance of the screen becomes uneven due to the change of the pixel voltage due to the change of the kickback voltage.

따라서 본 발명의 목적은 게이트 신호 지연 차이로 인한 휘도불균일이 감소된 액정표시장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device in which luminance unevenness due to a difference in gate signal delay is reduced.

상기 본 발명의 목적은 표시영역을 가지는 제1기판과, 상기 제1기판과 대면하는 제2기판과, 상기 제1기판과 상기 제2기판 사이에 위치하는 액정층을 포함하는 액정표시장치에 있어서, 상기 제1기판은, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와; 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부를 포함하는 것에 의하여 달성된다.An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device comprising a first substrate having a display area, a second substrate facing the first substrate, and a liquid crystal layer positioned between the first substrate and the second substrate. The first substrate may include a gate main line positioned in the display area; A gate pad positioned outside the display area; It is achieved by electrically connecting the gate main line and the gate pad and including a resistor part made of a material having a higher resistance than the gate main line.

상기 제1기판은, 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있는 화소전극을 더 포함하는 것이 바람직하다.The first substrate may include a thin film transistor connected to the gate main line; The pixel electrode may further include a pixel electrode electrically connected to the thin film transistor.

상기 저항부는 상기 화소전극과 동일한 재질로 마련되어 있는 것이 바람직하다.Preferably, the resistor unit is made of the same material as the pixel electrode.

상기 저항부는 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide)를 포함 하는 것이 바람직하다.The resistance unit preferably includes indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO).

상기 저항부는 연결하는 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드와의 거리가 길수록 저항값이 작게 마련되는 것이 바람직하다.Preferably, the resistance unit is provided with a smaller resistance value as the distance between the gate main line connecting the gate pad and the gate pad is increased.

상기 게이트 패드와 상기 저항부 사이에 위치하는 팬-아웃부를 더 포함하는 것이 바람직하다.The apparatus may further include a fan-out part disposed between the gate pad and the resistor part.

상기 게이트 본선, 상기 게이트 패드 및 상기 팬-아웃부는 동일한 층으로 형성되어 있는 것이 바람직하다.Preferably, the gate main line, the gate pad, and the fan-out portion are formed of the same layer.

상기 팬-아웃부 상에 형성되어 있으며, 상기 제1기판과 상기 제2기판을 결합시키는 실런트를 더 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable to further include a sealant which is formed on the fan-out part and which couples the first substrate and the second substrate.

상기 게이트 패드와 상기 저항부 사이에 위치하는 팬-아웃부를 더 포함하는 것이 바람직하다.The apparatus may further include a fan-out part disposed between the gate pad and the resistor part.

상기 게이트 패드, 상기 팬-아웃부 및 상기 저항부는 같은 층으로 이루어진 것이 바람직하다.Preferably, the gate pad, the fan-out part and the resistor part are made of the same layer.

상기 저항부의 적어도 일부는 지그재그로 형성되어 있는 것이 바람직하다.At least a part of the resistance portion is preferably formed in a zigzag.

상기 액정층은 VA(vertical alignment) 모드인 것이 바람직하다.The liquid crystal layer is preferably in VA (vertical alignment) mode.

화소전극은 화소전극 절개패턴이 형성되어 있으며, 상기 제2기판은 공통전극 절개패턴이 형성되어 있는 공통전극을 포함하는 것이 바람직하다.The pixel electrode may include a pixel electrode cutting pattern, and the second substrate may include a common electrode on which a common electrode cutting pattern is formed.

상기 화소전극은 서로 분리되어 있는 제1화소전극 및 제2화소전극을 포함하며, 상기 제1화소전극과 상기 제2화소전극에는 서로 다른 화소 전압이 인가되는 것이 바람직하다.The pixel electrode includes a first pixel electrode and a second pixel electrode which are separated from each other, and different pixel voltages are applied to the first pixel electrode and the second pixel electrode.

상기 박막트랜지스터는 드레인 전극을 포함하며, 상기 드레인 전극은 상기 제1화소전극에 직접 데이터 전압을 인가하는 제1드레인 전극과 상기 제2화소전극과 결합용량을 형성하는 제2드레인 전극을 포함하는 것이 바람직하다.The thin film transistor includes a drain electrode, and the drain electrode includes a first drain electrode applying a data voltage directly to the first pixel electrode and a second drain electrode forming a coupling capacitance with the second pixel electrode. desirable.

상기 박막트랜지스터는 상기 제1화소전극에 연결되어 있는 제1박막트랜지스터와 상기 제2화소전극에 연결되어 있는 제2박막트랜지스터를 포함하는 것이 바람직하다.The thin film transistor may include a first thin film transistor connected to the first pixel electrode and a second thin film transistor connected to the second pixel electrode.

상기 저항부의 총 저항은 상기 게이트 본선의 총 저항의 10% 내지 50%인 것이 바람직하다.The total resistance of the resistor unit is preferably 10% to 50% of the total resistance of the gate main line.

상기 게이트 본선의 게이트 신호 지연의 변화는 100%내에서 이루어지는 것이 바람직하다.The change in the gate signal delay of the gate main line is preferably within 100%.

상기 본 발명의 목적은 표시영역을 가지는 제1기판과, 상기 제1기판과 대면하는 제2기판과, 상기 제1기 판과 상기 제2기판 사이에 위치하는 액정층을 포함하는 액정표시장치에 있어서, 상기 제1기판은, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와; 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부와; 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있으며 상기 저항부와 동일한 재질로 이루어진 화소전극을 포함하며, 상기 액정층은 VA모드인 것이 의해서도 달성된다.An object of the present invention is to provide a liquid crystal display comprising a first substrate having a display area, a second substrate facing the first substrate, and a liquid crystal layer positioned between the first substrate and the second substrate. The first substrate may include: a gate main line positioned in the display area; A gate pad positioned outside the display area; A resistor unit electrically connecting the gate main line and the gate pad and having a resistance higher than that of the gate main line; A thin film transistor connected to the gate main line; And a pixel electrode electrically connected to the thin film transistor and made of the same material as the resistor, wherein the liquid crystal layer is also in VA mode.

상기 본 발명의 목적은 표시영역과 비표시영역을 갖는 기판, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와; 상 기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부와; 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있으며 상기 저항부와 동일한 재질로 이루어진 화소전극을 포함하는 박막트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 액정표시장이에 의해서도 달성된다.An object of the present invention is to provide a substrate having a display area and a non-display area, a gate main line located in the display area; A gate pad positioned outside the display area; A resistor unit electrically connecting the gate main line to the gate pad and having a resistance higher than that of the gate main line; A thin film transistor connected to the gate main line; It is also achieved by a liquid crystal display including a thin film transistor array substrate electrically connected to the thin film transistor and including a pixel electrode made of the same material as the resistor.

이하 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하겠다. 이하에서 어떤 막(층)이 다른 막(층)의 '상부에' 형성되어(위치하고) 있다는 것은, 두 막(층)이 접해 있는 경우 뿐 아니라 두 막(층) 사이에 다른 막(층)이 존재하는 경우도 포함한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. In the following, a film is formed (located) on top of another film, not only when two films are in contact with each other but also when another film is between two layers. It also includes the case where it exists.

도 1 내지 도 3을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치를 설명한다.A liquid crystal display according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.

액정표시장치(1)는 박막트랜지스터(T)가 형성되어 있는 제1기판(100), 제1기판(100)과 대향하는 제2기판(200), 양 기판(100, 200) 사이에 위치하는 액정층(300) 및 양 기판(100, 200)을 접합시키는 실런트(400)를 포함한다.The liquid crystal display device 1 is positioned between the first substrate 100 on which the thin film transistor T is formed, the second substrate 200 facing the first substrate 100, and both substrates 100 and 200. And a sealant 400 for bonding the liquid crystal layer 300 and both substrates 100 and 200.

제1기판(100)은 표시영역과, 표시영역을 둘러싸는 비표시영역으로 나누어진다. 표시영역의 게이트선(121)은 비표시영역의 팬-아웃부(123)를 통해 게이트 패드(124)와 연결된다.The first substrate 100 is divided into a display area and a non-display area surrounding the display area. The gate line 121 of the display area is connected to the gate pad 124 through the fan-out part 123 of the non-display area.

먼저 제1 기판(100)에 대하여 설명한다.First, the first substrate 100 will be described.

제1절연기판(111) 상에 게이트 배선이 형성되어 있다. 게이트 배선은 금속 단일층 또는 다중층일 수 있다. 게이트 배선은 표시영역 내에 위치하며 가로 방향으로 뻗어 있는 게이트 본선(121), 게이트 본선(121)에서 연결되어 있는 게이트 전극(122), 게이트 본선(121)에서 비표시영역으로 연장되어 있는 팬-아웃부(123) 및 팬-아웃부(123)의 단부에 연결되어 있는 게이트 패드(124) 그리고 게이트선(121)과 평행하게 연장되어 있는 유지전극선(125)을 포함한다. Gate wiring is formed on the first insulating substrate 111. The gate wiring can be a metal single layer or multiple layers. The gate wiring is located in the display area and extends in the horizontal direction to the gate main line 121, the gate electrode 122 connected to the gate main line 121, and the fan-out extending from the gate main line 121 to the non-display area. The gate pad 124 connected to the end of the unit 123, the fan-out unit 123, and the storage electrode line 125 extending in parallel with the gate line 121 are included.

게이트 패드(124)는 게이트 구동부(도시하지 않음)에 연결되어, 게이트 신호를 인가받는다. 게이트 패드(124)는 게이트 본선(121)에 비해 폭이 크게 마련되어 있다.The gate pad 124 is connected to a gate driver (not shown) to receive a gate signal. The gate pad 124 is larger in width than the gate main line 121.

제1절연기판(111)위에는 실리콘 질화물(SiNx) 등으로 이루어진 게이트 절연막(131)이 게이트 배선을 덮고 있다.On the first insulating substrate 111, a gate insulating layer 131 made of silicon nitride (SiNx) or the like covers the gate wiring.

게이트 전극(122)의 게이트 절연막(131) 상부에는 비정질 실리콘 등의 반도체로 이루어진 반도체층(132)이 형성되어 있으며, 반도체층(132)의 상부에는 실리사이드 또는 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 n+ 수소화 비정질 실리콘 등의 물질로 만들어진 저항 접촉층(133)이 형성되어 있다. 소스 전극(142)과 드레인 전극(143) 사이의 채널부에서는 저항 접촉층(133)이 제거되어 있다.A semiconductor layer 132 made of a semiconductor such as amorphous silicon is formed on the gate insulating layer 131 of the gate electrode 122, and n + is doped with silicide or n-type impurities at a high concentration on the semiconductor layer 132. An ohmic contact layer 133 made of a material such as hydrogenated amorphous silicon is formed. The ohmic contact layer 133 is removed from the channel portion between the source electrode 142 and the drain electrode 143.

저항 접촉층(133) 및 게이트 절연막(131) 위에는 데이터 배선이 형성되어 있다. 데이터 배선 역시 금속층으로 이루어진 단일층 또는 다중층일 수 있다. 데이터 배선은 세로방향으로 형성되어 게이트선(121)과 교차하여 화소를 형성하는 데이터선(141), 데이터선(141)의 분지이며 저항 접촉층(133)의 상부까지 연장되어 있는 소스 전극(142), 소스전극(142)과 분리되어 있으며 소스전극(142)의 반대쪽 저항 접촉층(133) 상부에 형성되어 있는 드레인 전극(143), 데이터선(141)에서 비표시영역으로 연장된 팬-아웃부(144) 및 팬-아웃부(144)의 단부에 연결되어 있는 데이터 패드(145)를 포함한다. The data line is formed on the ohmic contact layer 133 and the gate insulating layer 131. The data line may also be a single layer or multiple layers of a metal layer. The data line is a branch of the data line 141 and the data line 141 which are formed in the vertical direction and intersect the gate line 121 to form a pixel, and extends to the upper portion of the ohmic contact layer 133. ) And a fan-out separated from the source electrode 142 and extending from the data line 141 to the non-display area of the drain electrode 143 and the data line 141 formed on the resistive contact layer 133 opposite to the source electrode 142. And a data pad 145 connected to the end of the portion 144 and the fan-out portion 144.

데이터 패드(145)는 데이터 구동부(도시하지 않음)에 연결되어, 데이터 구동 신호를 인가받는다. 데이터 패드(145)는 데이터 본선(141)에 비해 폭이 크게 마련되어 있다.The data pad 145 is connected to a data driver (not shown) and receives a data driving signal. The data pad 145 is larger in width than the data main line 141.

데이터 배선 및 이들이 가리지 않는 반도체층(132)의 상부에는 보호막(151)이 형성되어 있다. 보호막(151)에는 드레인 전극(143)을 드러내는 접촉구(152)가 형성되어 있다. 도 7 및 도 8을 보면 보호막(151)에는 접촉구(153, 154, 155)가 더 형성되어 있으며, 이 부분에는 게이트 절연막(131)도 같이 제거되어 있다.The passivation layer 151 is formed on the data line and the semiconductor layer 132 that does not cover the data line. A contact hole 152 exposing the drain electrode 143 is formed in the passivation layer 151. 7 and 8, contact holes 153, 154, and 155 are further formed in the passivation layer 151, and the gate insulating layer 131 is also removed therein.

보호막(151)의 상부에는 화소전극(161)이 형성되어 있다. 화소전극(161)은 통상 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide)등의 투명한 도전물질로 이루어진다. 화소전극(161)은 접촉구(152)를 통해 드레인 전극(143)과 연결되어 있다. 화소전극(161)에는 화소전극 절개패턴(166)가 형성되어 있다. The pixel electrode 161 is formed on the passivation layer 151. The pixel electrode 161 is usually made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The pixel electrode 161 is connected to the drain electrode 143 through the contact hole 152. The pixel electrode cut pattern 166 is formed on the pixel electrode 161.

화소전극(161)의 화소전극 절개패턴(166)은 후술하는 공통전극 절개패턴(252)과 함께 액정층(300)을 다수의 영역으로 분할한다.The pixel electrode cutout pattern 166 of the pixel electrode 161 divides the liquid crystal layer 300 into a plurality of regions together with the common electrode cutout pattern 252 described later.

이어 제2 기판(200)에 대하여 설명하겠다.Next, the second substrate 200 will be described.

제2절연기판(211) 위에 블랙매트릭스(221)가 형성되어 있다. 블랙매트릭 스(221)는 일반적으로 적색, 녹색 및 청색 필터 사이를 구분하며, 제1기판(100)에 위치하는 박막트랜지스터로의 직접적인 광조사를 차단하는 역할을 한다. 블랙매트릭스(221)는 통상 검은색 안료가 첨가된 감광성 유기물질로 이루어져 있다. 상기 검은색 안료로는 카본블랙이나 티타늄 옥사이드 등을 사용한다.The black matrix 221 is formed on the second insulating substrate 211. The black matrix 221 generally distinguishes between red, green, and blue filters, and serves to block direct light irradiation to the thin film transistor positioned on the first substrate 100. The black matrix 221 is usually made of a photosensitive organic material to which black pigment is added. As the black pigment, carbon black or titanium oxide is used.

컬러필터(231)는 블랙매트릭스(221)를 경계로 하여 적색, 녹색 및 청색 필터가 반복되어 형성된다. 컬러필터(231)는 백라이트 유닛(도시하지 않음)으로부터 조사되어 액정층(300)을 통과한 빛에 색상을 부여하는 역할을 한다. 컬러필터(231)는 통상 감광성 유기물질로 이루어져 있다.The color filter 231 is formed by repeating the red, green, and blue filters with the black matrix 221 as the boundary. The color filter 231 serves to impart color to light emitted from the backlight unit (not shown) and passed through the liquid crystal layer 300. The color filter 231 is usually made of a photosensitive organic material.

컬러필터(231)와 컬러필터(231)가 덮고 있지 않은 블랙매트릭스(221)의 상부에는 오버코트층(241)이 형성되어 있다. 오버코트층(241)은 컬러필터(231)를 평탄화하면서, 컬러필터(231)를 보호하는 역할을 한다. 오버코트층(241)은 감광성 아크릴계 수지일 수 있다.An overcoat layer 241 is formed on the black matrix 221 not covered by the color filter 231 and the color filter 231. The overcoat layer 241 serves to protect the color filter 231 while planarizing the color filter 231. The overcoat layer 241 may be a photosensitive acrylic resin.

오버코트층(241)의 상부에는 공통전극(251)이 형성되어 있다. 공통전극(251)은 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide)등의 투명한 도전물질로 이루어진다. 공통전극(251)은 박막트랜지스터 기판의 화소전극(161)과 함께 액정층(300)에 직접 전압을 인가한다. The common electrode 251 is formed on the overcoat layer 241. The common electrode 251 is made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The common electrode 251 directly applies a voltage to the liquid crystal layer 300 together with the pixel electrode 161 of the thin film transistor substrate.

공통전극(251)에는 공통전극 절개패턴(252)이 형성되어 있다. 공통전극 절개패턴(252)은 화소전극(161)의 화소전극 절개패턴(166)과 함께 액정층(300)을 다수의 영역으로 나누는 역할을 한다. 화소전극 절개패턴(166)과 공통전극 절개패턴(252)은 실시예에 한정되지 않고 다양한 형상으로 형성될 수 있다. 다른 실시예 서는 절개패턴(166, 252) 대신 돌기부가 마련되어 액정층(300)을 다수의 영역으로 나눌 수 있다.The common electrode cutting pattern 252 is formed on the common electrode 251. The common electrode cutout pattern 252 divides the liquid crystal layer 300 into a plurality of regions together with the pixel electrode cutout pattern 166 of the pixel electrode 161. The pixel electrode cut pattern 166 and the common electrode cut pattern 252 may be formed in various shapes without being limited to the exemplary embodiments. In another embodiment, a protrusion may be provided instead of the cutting patterns 166 and 252 to divide the liquid crystal layer 300 into a plurality of regions.

제1기판(100)과 제2기판(200)의 사이에는 액정층(300)이 위치한다. 액정층(300)은 VA(vertically aligned)모드로서, 액정분자는 전압이 가해지지 않은 상태에서는 길이방향이 수직을 이루고 있다. 전압이 가해지면 액정분자는 유전율 이방성이 음이기 때문에 전기장에 대하여 수직방향으로 눕는다. The liquid crystal layer 300 is positioned between the first substrate 100 and the second substrate 200. The liquid crystal layer 300 is a VA (vertically aligned) mode, and the liquid crystal molecules are vertical in the length direction when no voltage is applied. When voltage is applied, the liquid crystal molecules lie perpendicular to the electric field because the dielectric anisotropy is negative.

그런데 절개패턴(166, 252)이 형성되어 있지 않으면, 액정분자는 눕는 방위각이 결정되지 않아서 여러 방향으로 무질서하게 배열하게 되고, 배향 방향이 다른 경계면에서 전경선(disclination line)이 생긴다. 절개 패턴(166, 252)은 액정층(300)에 전압이 걸릴 때 프린지 필드를 만들어 액정 배향의 방위각을 결정해 준다. 또한 액정층(300)은 절개 패턴(166, 252)의 배치에 따라 다중영역으로 나누어진다.However, when the incision patterns 166 and 252 are not formed, the liquid crystal molecules are arranged in a random order in various directions because the azimuth angles of the lying are not determined, and a foreground line is formed at the boundary planes having different alignment directions. The cutting patterns 166 and 252 form a fringe field when a voltage is applied to the liquid crystal layer 300 to determine the azimuth angle of the liquid crystal alignment. In addition, the liquid crystal layer 300 is divided into multiple regions according to the arrangement of the cutting patterns 166 and 252.

제1실시예에 따른 액정표시장치(1)은 노말리 블랙(normally black) 모드로서, 화소전압에 따른 투과율은 도 4와 같다. 도 4의 C부분에 도시한 저 계조에서의 투과율 변화는 TN(twisted nematic) 액정과 비교하여 약 3배 정도 급격하다.The liquid crystal display device 1 according to the first embodiment is a normally black mode, and the transmittance according to the pixel voltage is shown in FIG. 4. The change in transmittance at low gradation shown in part C of FIG. 4 is about three times faster than that of TN (twisted nematic) liquid crystal.

이상 설명한 액정표시장치(1)에서 게이트본선(121)은 단부에 연결되어 있는 게이트 패드(124)를 통해 게이트 신호를 인가 받는다. 게이트본선(121)의 저항에 의해 게이트 패드(124)에 인접한 박막트랜지스터(T), 즉 좌측의 박막트랜지스터(T) 에는 지연이 적은 게이트 신호가 인가된다. 반면 게이트 패드(123)에서 먼 박막트랜지스터(T), 즉 우측의 박막트랜지스터(T)에는 지연이 많이 된 게이트 신호가 인가된다. In the liquid crystal display device 1 described above, the gate main line 121 receives a gate signal through a gate pad 124 connected to an end thereof. The gate signal having a low delay is applied to the thin film transistor T adjacent to the gate pad 124, that is, the thin film transistor T on the left side by the resistance of the gate main line 121. On the other hand, a gate signal with a large delay is applied to the thin film transistor T far from the gate pad 123, that is, the thin film transistor T on the right side.

게이트 신호 지연의 차이에 따른 화면 휘도의 변화를 도 5 내지 도 6c를 참조하여 설명한다.The change in the screen brightness according to the difference in the gate signal delay will be described with reference to FIGS. 5 to 6C.

킥백 전압(Vkb)은 다음과 같이 식 1로 표현된다.The kickback voltage Vkb is expressed by Equation 1 as follows.

식 1Equation 1

Vkb = (Von-Voff)*Cp/(Clc+Cst+Cp)Vkb = (Von-Voff) * Cp / (Clc + Cst + Cp)

여기서 도 3 및 도5에서와 같이 Cp는 게이트 전극과 소스 전극간의 기생용량(Cgs) + 게이트 전극과 드레인 전극간의 기생용량(Cgd), Clc는 액정용량, Cst는 저장용량, Von은 게이트 온 전압, Voff는 게이트 오프 전압을 나타낸다.3 and 5, Cp is the parasitic capacitance (Cgs) between the gate electrode and the source electrode + parasitic capacitance (Cgd) between the gate electrode and the drain electrode, Clc is the liquid crystal capacitance, Cst is the storage capacitance, Von is the gate-on voltage , Voff represents the gate off voltage.

게이트 신호의 지연이 크면 게이트 온 전압 인가가 불량해져 킥백전압은 작아지며, 포지티브 화소전압이 인가될 때보다 네가티브 화소전압이 인가될 때 킥백전압은 더 커진다.If the gate signal delay is large, the gate-on voltage is poorly applied and the kickback voltage is decreased, and the kickback voltage is larger when the negative pixel voltage is applied than when the positive pixel voltage is applied.

도 6a 및 도 6b는 각각 게이트 신호의 지연이 작은 표시영역 좌측의 화소와 게이트 신호의 지연이 큰 표시영역 우측의 화소를 대상으로 킥백전압을 나타낸 것이다. 6A and 6B illustrate kickback voltages for pixels on the left of the display area having a small delay of the gate signal and pixels on the right of the display area having a large delay of the gate signal, respectively.

도 6a에 나타낸 좌측 화소의 경우, 포지티브 화소전압 인가 시 킥백전압은 1V이고 네가티브 화소전압 인가 시 킥백전압은 1.2V이다. 도 8b에 나타낸 우측 화소의 경우, 포지티브 화소전압 인가 시와 네가티브 화소전압 인가 시 모두 킥백전압은 0.8V이다.In the case of the left pixel illustrated in FIG. 6A, the kickback voltage is 1V when the positive pixel voltage is applied, and the kickback voltage is 1.2V when the negative pixel voltage is applied. In the case of the right pixel shown in Fig. 8B, the kickback voltage is 0.8V both when the positive pixel voltage is applied and when the negative pixel voltage is applied.

따라서 좌측 화소의 경우가 최종적으로 화소에 남게 되는 평균(root mean square) 화소 전압이 더 커지고, 화면은 좌측 화소에 해당하는 부분이 더 밝게 인식된다.Accordingly, the root mean square pixel voltage at which the left pixel is finally left in the pixel becomes larger, and the screen corresponding to the left pixel is more brightly recognized.

도 6c를 보면 게이트 패드(124)에 가까이 갈수록 게이트 신호 지연이 작고 킥백전압(Vkb)은 커진다. 반면, 게이트 패드(124)에서 멀어질수록 게이트 신호지연은 커지고 킥백전압(Vkb)은 작아진다. 따라서 좌측 화소가 우측 화소에 비해 평균(root mean square) 화소 전압이 더 커져 밝게 된다.Referring to FIG. 6C, the closer to the gate pad 124, the smaller the gate signal delay and the larger the kickback voltage Vkb. On the other hand, the further away from the gate pad 124, the greater the gate signal delay and the smaller the kickback voltage Vkb. Therefore, the left pixel is brighter because the root mean square pixel voltage is larger than that of the right pixel.

이상과 같이 화면 좌우의 휘도가 달라지고, 이에 따라 가로줄이 인식되는 문제가 발생한다. 이와 같은 문제는 게이트 본선(121)이 길어 게이트 신호지연이 크게 발생하는 대형 액정표시장치에서 더욱 심각해진다.As described above, the brightness of the left and right sides of the screen is changed, and thus a horizontal line is recognized. This problem is further exacerbated in a large liquid crystal display device in which the gate main line 121 is long and a large gate signal delay occurs.

본 발명의 제1실시예에서는 이와 같이 게이트 지연 차이에 의한 문제를 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124) 사이에 저항부(163)를 형성시켜 해결한다.In the first embodiment of the present invention, the problem caused by the gate delay difference is solved by forming the resistor unit 163 between the gate main line 121 and the gate pad 124.

도 7 내지 도 9를 참조하여 저항부(163)에 대하여 설명한다.The resistor unit 163 will be described with reference to FIGS. 7 to 9.

저항부(163)는 비표시영역에서 팬-아웃부(123)와 게이트 본선(121) 사이에 위치한다. 저항부(163)는 화소전극(161)과 동일한 층으로 이루어져 있으며, 팬-아웃부(123)와 연결되는 제1부분(163a), 게이트 본선(121)과 연결되는 제2부분(163b) 및 제1부분(163a)과 제2부분(163b) 사이에 위치하는 제3부분(163c)을 포함한다The resistor unit 163 is positioned between the fan-out unit 123 and the gate main line 121 in the non-display area. The resistor unit 163 is formed of the same layer as the pixel electrode 161, and includes a first part 163a connected to the fan-out part 123, a second part 163b connected to the gate main line 121, and A third portion 163c positioned between the first portion 163a and the second portion 163b.

제1부분(163a)은 접촉구(154)를 통해 팬-아웃부(123)과 접촉하며, 제2부분(163b)는 접촉구(155)를 통해 게이트 본선(121)과 접촉한다. The first portion 163a contacts the fan-out portion 123 through the contact hole 154, and the second portion 163b contacts the gate main line 121 through the contact hole 155.

접촉구(153)에 의해 노출된 게이트 패드(124)는 화소전극(161)과 동일한 층으로 이루어진 접촉부재(162)가 덮고 있다.The gate pad 124 exposed by the contact hole 153 is covered by a contact member 162 made of the same layer as the pixel electrode 161.

저항부(163)는 ITO, IZO 등으로 이루어지는데, 이들 물질은 게이트 본선(121)을 이루는 금속물질에 비하여 저항이 크다. 저항이 큰 저항부(163)에 의해 게이트 신호는 표시영역에 들어가기 전에 도 9와 같이 이미 지연이 발생된다. The resistor unit 163 is made of ITO, IZO, or the like, and these materials have a higher resistance than the metal materials forming the gate main line 121. Due to the resistance 163 having a large resistance, a delay is already generated as shown in FIG. 9 before the gate signal enters the display area.

따라서 게이트 신호의 지연 변화 폭과 킥백전압(Vkb) 변화 폭이 감소한다. 또한 표시영역 좌우에서의 휘도 차이도 감소한다.Therefore, the delay variation of the gate signal and the variation of the kickback voltage Vkb decrease. In addition, the luminance difference on the left and right of the display area is also reduced.

게이트 본선(121)의 총 저항은 통상 4000Ω 내지 7000Ω인데, 저항부(163)의 총저항은 게이트 본선(121)의 총 저항의 10% 내지 50%일 수 있다. 저항부(163)의 저항값은 저항부(163)의 두께, 폭 및 길이를 조절하여 변화시킬 수 있다. The total resistance of the gate main line 121 is typically 4000 Ω to 7000 Ω, and the total resistance of the resistor unit 163 may be 10% to 50% of the total resistance of the gate main line 121. The resistance value of the resistor unit 163 may be changed by adjusting the thickness, width, and length of the resistor unit 163.

저항부(163)의 저항값은 게이트 지연 변화가 100% 내에서 변화하도록, 즉 표시영역 최우측 화소의 게이트 지연값이 표시영역 최좌측 화소의 게이트 지연값의 2배 이내가 되도록 정해지는 것이 바람직하다.The resistance value of the resistor unit 163 is preferably determined so that the change in the gate delay is within 100%, that is, the gate delay value of the rightmost pixel of the display area is less than twice the gate delay value of the leftmost pixel of the display area. Do.

한편 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124)의 거리는 다양한데, 이로 인해 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124) 사이의 저항이 달라져 휘도가 달라지는 문제가 있다.On the other hand, the distance between the gate main line 121 and the gate pad 124 varies, which causes a problem in that the luminance is changed due to a change in resistance between the gate main line 121 and the gate pad 124.

저항부(163)의 제3부분(163c)의 길이는 해당하는 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124)의 거리에 반비례하도록 마련되어 있다. 이에 의해 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124)의 거리 차이로 인한 휘도의 불균일이 감소된다.The length of the third portion 163c of the resistor unit 163 is provided in inverse proportion to the distance between the corresponding gate main line 121 and the gate pad 124. As a result, unevenness in luminance due to the difference in distance between the gate main line 121 and the gate pad 124 is reduced.

실런트(400)는 팬-아웃부(123) 상에 위치하여, 저항부(163)는 실런트(400) 내에 위치한다. 저항부(163)가 외부에 노출되어 있지 않기 때문에 저항부(163)가 부식되는 문제가 발생하지 않는다.The sealant 400 is located on the fan-out part 123, and the resistor part 163 is located in the sealant 400. Since the resistor unit 163 is not exposed to the outside, the problem of corrosion of the resistor unit 163 does not occur.

제조과정에서는 외부로부터 유입되는 정전기가 박막트랜지스터(T) 등을 손상하는 문제가 발생할 수 있다. 제1실시예에 따르면 게이트 패드(124)를 통해 유입된 정전기는 저항이 큰 저항부(163)에서 어느 정도 소멸되어, 정전기로 인한 문제가 감소한다.In the manufacturing process, the static electricity flowing from the outside may cause a problem of damaging the thin film transistor (T). According to the first embodiment, the static electricity introduced through the gate pad 124 may be dissipated to some extent in the resistor 163 having a large resistance, thereby reducing the problem caused by static electricity.

다른 실시예에서 저항부(163)는 화소전극(161)과 별도로, 게이트 본선(121)보다 저항이 높은 다른 물질로 이루어질 수 있다. 또 다른 실시예에서, 저항부(163)의 형태는 모두 동일하며, 게이트 본선(121)과 게이트 패드(124) 간의 거리 차이는 팬-아웃부(123)의 형태를 변경하여 해결할 수 있다. In another embodiment, the resistor unit 163 may be formed of another material having a higher resistance than the gate main line 121, separately from the pixel electrode 161. In another embodiment, the shape of the resistor unit 163 is the same, and the distance difference between the gate main line 121 and the gate pad 124 may be solved by changing the shape of the fan-out unit 123.

이하에서는 휘도불균일을 조절하기 위하여 게이트 신호 지연을 조절한 이유에 대하여 설명한다.Hereinafter, the reason why the gate signal delay is adjusted to adjust the luminance nonuniformity will be described.

도 10은 표시영역에서의 게이트 신호 지연값에 따른 휘도 편차율을 나타내었다. 휘도편차율은 (표시영역 좌측의 휘도-표시영역 중앙부분의 휘도)/표시영역 중앙부분의 휘도*100으로서, 수치가 크면 휘도 차이가 큰 것을 나타낸다. 10 illustrates a luminance deviation rate according to a gate signal delay value in the display area. The luminance deviation ratio is (luminance at the left of the display area-luminance at the center of the display area) / luminance * 100 at the center of the display area, where a large value indicates that the luminance difference is large.

도 10을 보면 게이트 신호 지연값이 약 43%증가(2.55㎲에서 3.67㎲)할 경우, 휘도편차율은 약 64%증가(30.6%에서 50.3%)한다. 10, when the gate signal delay increases by about 43% (2.55 GHz to 3.67 GHz), the luminance deviation increases by about 64% (30.6% to 50.3%).

도 11은 킥백전압에 비례하는 Cp/(Clc+Cst+Cp)에 따른 휘도 편차율을 나타내었다. 도 11을 보면 Cp/(Clc+Cst+Cp)이 24%증가(0.037에서 0.046)할 경우, 휘도편차율은 약 26.4%(35.6%에서 45%)증가한다.FIG. 11 shows the luminance deviation ratio according to Cp / (Clc + Cst + Cp) proportional to the kickback voltage. 11, when Cp / (Clc + Cst + Cp) increases by 24% (0.037 to 0.046), the luminance deviation increases by about 26.4% (35.6% to 45%).

이상 도 10 및 도 11로부터 휘도불균일을 개선하기 위해서는 게이트 신호 지연값을 조절하는 것이 효과적임을 알 수 있다.10 and 11, it can be seen that it is effective to adjust the gate signal delay value in order to improve luminance unevenness.

게이트 신호 지연과 화소전압은 비표시영역에서의 저항, 즉 게이트 패드에서 게이트 본선까지의 저항에 의해 변화되는데 이를 도 12 및 도 13을 참조하여 설명한다. The gate signal delay and the pixel voltage are changed by the resistance in the non-display area, that is, the resistance from the gate pad to the main line, which will be described with reference to FIGS. 12 and 13.

도 12 및 도 13에서 비표시영역에서의 저항은 1/6kΩ, 1/3kΩ, 1/2kΩ, 2/3kΩ의 4가지 값을 가진다. 0kΩ으로 표시된 데이터는 저항부가 존재하지 않고, 게이트 본선과 게이트 패드가 일체로 형성된 경우이다.12 and 13, the resistance in the non-display area has four values of 1/6 kΩ, 1/3 kΩ, 1/2 kΩ, and 2/3 kΩ. The data indicated by 0 kΩ is a case where no resistance portion exists and the gate main line and the gate pad are integrally formed.

도 12를 보면 비표시영역의 저항이 커질수록, 게이트 신호 지연 값은 전체적으로 커짐을 알 수 있다. 한편 비표시영역 저항이 커질수록, 우측 게이트 신호 지연값/좌측 게이트 신호 지연값이 감소한다.12, it can be seen that as the resistance of the non-display area increases, the gate signal delay value increases as a whole. On the other hand, as the non-display area resistance increases, the right gate signal delay value / left gate signal delay value decreases.

즉 0kΩ의 경우 우측 게이트 신호 지연값/좌측 게이트 신호 지연값은 6.53(4.18/0.64)인데 반해, 2/3kΩ의 경우 우측 게이트 신호 지연값/좌측 게이트 신호 지연값은 1.77(8.12/4.57)이다.That is, in the case of 0 kΩ, the right gate signal delay value / left gate signal delay value is 6.53 (4.18 / 0.64), whereas in the case of 2/3 kΩ, the right gate signal delay value / left gate signal delay value is 1.77 (8.12 / 4.57).

도 13을 보면 비표시영역 저항이 커질수록, 화소전압은 전체적으로 작아짐을 알 수 있다. 한편 저항부 저항이 커질수록, 좌측 화소전압/우측 화소전압이 감소한다. 즉 0kΩ의 경우 좌측 화소전압/우측 화소전압은 1.028(3.3/3.21)인데 반해, 2/3kΩ의 경우 좌측 화소전압/우측 화소전압은 1.012(3.19/3.15)이다.13, it can be seen that as the non-display area resistance increases, the pixel voltage as a whole decreases. On the other hand, as the resistance of the resistor increases, the left pixel voltage / right pixel voltage decreases. That is, in the case of 0 kΩ, the left pixel voltage / right pixel voltage is 1.028 (3.3 / 3.21), whereas in the case of 2/3 kΩ, the left pixel voltage / right pixel voltage is 1.012 (3.19 / 3.15).

도 12와 도 13으로부터 비표시영역 저항을 증가시키면 게이트 신호 지연과 화소전압의 좌측 표시 영역과 우측 표시 영역에서의 차이를 감소시킬 수 있음을 알 수 있다. 다만, 비표시영역 저항이 커지면 게이트 신호 전달이 어려워지므로, 비표시영역 저항은 게이트 본선(121)의 총 저항 등을 감안하여 결정되어야 한다.12 and 13, it can be seen that increasing the non-display area resistance can reduce the gate signal delay and the difference in the left and right display areas of the pixel voltage. However, since the gate signal transmission becomes difficult when the non-display area resistance increases, the non-display area resistance should be determined in consideration of the total resistance of the gate main line 121 and the like.

이하 도 14 및 도 15를 참조하여 제2실시예에 대하여 설명한다.Hereinafter, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 14 and 15.

제2실시예에 따르면 게이트 패드(164)와 팬-아웃부(165)는 저항부(163)와 일체로 형성되어 있으며, ITO 또는 IZO로 이루어진다. 저항부(163)는 게이트 본선(121)과 접촉구(156)를 통해 연결된다. 제2실시예에서는 게이트 패드(164)와 팬-아웃부(165)도 제1실시예의 저항부(163)와 같은 역할을 한다.According to the second embodiment, the gate pad 164 and the fan-out part 165 are integrally formed with the resistor part 163 and are made of ITO or IZO. The resistor unit 163 is connected to the gate main line 121 and the contact hole 156. In the second embodiment, the gate pad 164 and the fan-out part 165 also function as the resistor part 163 of the first embodiment.

제1실시예와 같이 저항부(163)는 해당하는 게이트 본선(121)과 게이트 패드(164)의 거리에 반비례하도록 마련되어 있다. 이에 의해 게이트 본선(121)과 게이트 패드(164)의 거리 차이로 인한 휘도의 불균일이 감소된다As in the first embodiment, the resistor unit 163 is provided to be inversely proportional to the distance between the corresponding gate main line 121 and the gate pad 164. As a result, unevenness in luminance due to the difference in distance between the gate main line 121 and the gate pad 164 is reduced.

다른 실시예에서는 저항부(163) 없이, 팬-아웃부(165) 만을 ITO 또는 IZO로 만들어 게이트 신호를 지연시킬 수 있다.In another embodiment, the fan-out unit 165 may be made of ITO or IZO without the resistor unit 163 to delay the gate signal.

도 16 내지 도 18을 참조하여 제3실시예를 설명한다.A third embodiment will be described with reference to FIGS. 16 to 18.

도 16을 보면 박막트랜지스터(T)에 2개의 액정용량(CLC1, CLC2)이 연결되어 있다. 제1액정용량(CLC1)은 제1화소전극(PE1)과 공통전극(CE) 사이에 형성되며, 제1화소전극(PE1)은 박막트랜지스터(T)에 직접 연결되어 있다. 제2액정용량(CLC2)은 제2화소전극(PE2)와 공통전극(CE) 사이에 형성되며, 제2화소전극(PE2)는 결합 용량(CCP)을 거쳐서 간접적으로 박막트랜지스터(T)와 연결되어 있다. Referring to FIG. 16, two liquid crystal capacitors C LC1 and C LC2 are connected to the thin film transistor T. The first liquid crystal capacitor C LC1 is formed between the first pixel electrode PE1 and the common electrode CE, and the first pixel electrode PE1 is directly connected to the thin film transistor T. The second liquid crystal capacitor C LC2 is formed between the second pixel electrode PE2 and the common electrode CE, and the second pixel electrode PE2 is indirectly through the thin film transistor T through the coupling capacitor C CP . Connected with

여기서 제1화소전극(PE1)과 제2화소전극(PE2)은 서로 분리되어 있다. Here, the first pixel electrode PE1 and the second pixel electrode PE2 are separated from each other.

제3실시예에 따르면 시인성이 향상되는데 이를 도 17을 참조하여 설명한다.According to the third embodiment, visibility is improved, which will be described with reference to FIG. 17.

제1화소 전극(PE1)에는 박막트랜지스터(T)를 통해 데이터 신호가 정상적으로 인가된다. 반면 제2화소 전극(PE2)은 박막트랜지스터(T)로부터 직접적으로 데이터 신호를 받지 못하고, 제2화소전극(PE2)과 박막트랜지스터(T) 사이의 절연막에 의해 발생하는 결합용량(CCP)으로 인하여 유도되는 전압에 의해 신호를 인가 받는다. The data signal is normally applied to the first pixel electrode PE1 through the thin film transistor T. On the other hand, the second pixel electrode PE2 does not receive a data signal directly from the thin film transistor T and is a coupling capacitance C CP generated by an insulating film between the second pixel electrode PE2 and the thin film transistor T. The signal is applied by the induced voltage.

따라서 제2화소 전극(PE2)에는 제1화소 전극(PE1)에 비하여 약한 신호가 인 가되어, 제1화소전극(PE1)에 해당하는 화소영역의 휘도와 제2화소전극(PE2)에 해당하는 화소영역의 휘도가 다르게 된다. 제2화소전극(PE2)에 인가되는 전압은 제1화소전극(PE1)에 인가되는 전압의 50% 내지 90%이다.Therefore, a weaker signal is applied to the second pixel electrode PE2 than the first pixel electrode PE1, and thus, luminance of the pixel area corresponding to the first pixel electrode PE1 and corresponding to the second pixel electrode PE2 are applied. The luminance of the pixel region is different. The voltage applied to the second pixel electrode PE2 is 50% to 90% of the voltage applied to the first pixel electrode PE1.

이와 같이 한 화소 내에 감마 커브가 다른 복수의 영역이 존재하는 것이다.이에 의해 정면과 측면의 휘도 및 칼러가 서로 보상되어 측면시인성이 향상되는 것이다. As described above, a plurality of regions having different gamma curves exist in one pixel. As a result, the front and side luminance and color are compensated for each other, thereby improving side visibility.

도 18을 보면 화소전극(161)은 화소전극 분리패턴(167)에 의해 서로 분리된 제1화소전극(161a)과 제2화소전극(161b)을 포함한다. 제2화소전극(161b)은 사다리꼴이며, 3면이 제1화소전극(161a)으로 둘러싸여 있다. 제1화소전극(161a)과 제2화소전극(161b)에는 각각 화소전극 분리패턴(167)과 나란한 화소전극 절개패턴(166)이 형성되어 있다.Referring to FIG. 18, the pixel electrode 161 includes a first pixel electrode 161a and a second pixel electrode 161b separated from each other by the pixel electrode isolation pattern 167. The second pixel electrode 161b is trapezoidal and three surfaces thereof are surrounded by the first pixel electrode 161a. The pixel electrode cutout pattern 166 parallel to the pixel electrode isolation pattern 167 is formed on the first pixel electrode 161a and the second pixel electrode 161b, respectively.

드레인 전극(143)은 제1화소전극(161a)과 연결되어 제1화소전극(161a)에 직접 전기신호를 인가하는 제1드레인 전극(143a)과 제2화소전극(161b) 하부로 연장되어 잇는 제2드레인 전극(143b)을 포함한다. 제2드레인 전극(143b)은 제2화소전극(161b)과 함께 결합용량(Ccp)을 형성한다. The drain electrode 143 is connected to the first pixel electrode 161a and extends below the first drain electrode 143a and the second pixel electrode 161b for directly applying an electrical signal to the first pixel electrode 161a. The second drain electrode 143b is included. The second drain electrode 143b forms a coupling capacitor Ccp together with the second pixel electrode 161b.

화소전극 분리패턴(167)과 화소전극 절개패턴(166)은 공통전극 절개패턴(252)과 함께 액정층(300)을 다수의 영역으로 분할한다.The pixel electrode separation pattern 167 and the pixel electrode cutting pattern 166, along with the common electrode cutting pattern 252, divide the liquid crystal layer 300 into a plurality of regions.

한편, 유지전극선(125)은 화소전극(161)의 둘레를 따라 형성되어 있으며, 상하부의 유지전극선(125)은 접촉구(157)와 브릿지 전극(168)을 통해 서로 연결되어 있다.On the other hand, the sustain electrode line 125 is formed along the circumference of the pixel electrode 161, and the upper and lower sustain electrode lines 125 are connected to each other through the contact hole 157 and the bridge electrode 168.

도 19를 참조하여 본 발명의 제4실시예를 설명한다.A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

화소전극(161)은 전체적으로 사각형 형상이며 데이터선(141)의 연장방향으로 길게 형성되어 있다. 화소전극(161)은 상하로 대칭형상을 가지고 있다.The pixel electrode 161 is generally rectangular in shape and elongated in the extending direction of the data line 141. The pixel electrode 161 has a symmetrical shape up and down.

화소전극(161)은 화소전극 분리패턴(167)에 의해 서로 분리되어 있는 제1화소전극(161a)과 제2화소전극(161b)을 포함한다. 제1화소전극(161a)은 화소의 중앙부에 위치하며 꺽쇠형상을 하고 있다. 제2화소전극(161b)은 제1화소전극(161a)의 내부, 상부, 하부를 감싸고 있다. 제2화소전극(161b)은 제1화소전극(161a)에 비해 넓게 형성되어 있다.The pixel electrode 161 includes a first pixel electrode 161a and a second pixel electrode 161b separated from each other by the pixel electrode separation pattern 167. The first pixel electrode 161a is located in the center of the pixel and has a cramp shape. The second pixel electrode 161b surrounds the inside, the top, and the bottom of the first pixel electrode 161a. The second pixel electrode 161b is formed wider than the first pixel electrode 161a.

박막트랜지스터(T)는 제1화소전극(161a)에 연결되어 있는 제1박막트랜지스터(TFT1)과 제2화소전극(161b)에 연결되어 있는 제2박막트랜지스터(TFT2)를 포함한다.The thin film transistor T includes a first thin film transistor TFT1 connected to the first pixel electrode 161a and a second thin film transistor TFT2 connected to the second pixel electrode 161b.

각 박막트랜지스터(TFT1, TFT2)의 드레인 전극(143)은 화소전극(161)과 중첩되어 저장용량(Cst)을 형성하는 역할을 하며, 저장용량은 드레인 전극(143)과 화소전극(161)의 중첩 면적에 비례한다. The drain electrode 143 of each of the thin film transistors TFT1 and TFT2 overlaps the pixel electrode 161 to form a storage capacitor Cst, and the storage capacitor of the thin film transistors TFT1 and TFT2 is formed of the drain electrode 143 and the pixel electrode 161. Proportional to the overlap area.

제4실시예에서는 독립된 박막트랜지스터(TFT1, TFT2)를 이용하여 각 화소전극(161a, 161b)에 서로 다른 화소전압을 인가할 수 있다. 제4실시예에서의 시인성 개선 원리는 제3실시예와 동일하며 반복 설명은 생략한다.In the fourth exemplary embodiment, different pixel voltages may be applied to the pixel electrodes 161a and 161b using independent thin film transistors TFT1 and TFT2. The principle of improving visibility in the fourth embodiment is the same as in the third embodiment, and the description thereof is omitted.

이상 설명한 제3실시예와 제4실시예에서 비표시영역의 구성은 제1실시예 또는 제2실시예를 따른다.In the above-described third and fourth embodiments, the configuration of the non-display area follows the first or second embodiment.

한편 제3실시예와 제4실시예에서는 화소전극(161)이 나누어져 있어서 액정용량(Clc)과 저장용량(Cst)이 작다. 이로 인해 킥백전압(Vkb)이 커져(식 1 참조) 휘도 차이가 더욱 문제된다. 따라서 제3실시예와 제4실시예의 경우에는 저항부를 이용한 게이트 신호 지연의 균일화가 더욱 필요하다.On the other hand, in the third and fourth embodiments, the pixel electrode 161 is divided so that the liquid crystal capacitor Clc and the storage capacitor Cst are small. As a result, the kickback voltage Vkb becomes large (see Equation 1), which causes further problems in luminance difference. Therefore, in the third and fourth embodiments, it is necessary to further uniformize the gate signal delay using the resistor unit.

비록 본발명의 실시예가 도시되고 설명되었지만, 본발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 본발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.Although embodiments of the present invention have been shown and described, it will be apparent to those skilled in the art that the present embodiments may be modified without departing from the spirit or principles of the present invention. It is intended that the scope of the invention be defined by the claims appended hereto and their equivalents.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 게이트 신호 지연 차이로 인한 휘도불균일이 감소된 액정표시장치가 제공된다.As described above, according to the present invention, there is provided a liquid crystal display device in which luminance unevenness due to a gate signal delay difference is reduced.

Claims (20)

표시영역을 가지는 제1기판과, 상기 제1기판과 대면하는 제2기판과, 상기 제1기판과 상기 제2기판 사이에 위치하는 액정층을 포함하는 액정표시장치에 있어서,A liquid crystal display device comprising a first substrate having a display area, a second substrate facing the first substrate, and a liquid crystal layer positioned between the first substrate and the second substrate. 상기 제1기판은,The first substrate, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과;A gate main line positioned in the display area; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와;A gate pad positioned outside the display area; 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부를 포함하는 액정표시장치.And a resistor unit electrically connecting the gate main line and the gate pad and having a resistance higher than that of the gate main line. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1기판은,The first substrate, 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와;A thin film transistor connected to the gate main line; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있는 화소전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치The display device further comprises a pixel electrode electrically connected to the thin film transistor. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 저항부는 상기 화소전극과 동일한 재질로 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 표시장치. And the resistor unit is made of the same material as the pixel electrode. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 저항부는 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide)를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.The resistor unit includes indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 저항부는 연결하는 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드와의 거리가 길수록 저항값이 작게 마련되는 것을 특징으로 하는 표시장치.And the resistance is smaller as the distance between the gate main line and the gate pad connecting the resistor unit increases. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 패드와 상기 저항부 사이에 위치하는 팬-아웃부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치,And a fan-out part disposed between the gate pad and the resistor part. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 게이트 본선, 상기 게이트 패드 및 상기 팬-아웃부는 동일한 층으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the gate main line, the gate pad and the fan-out portion are formed of the same layer. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 팬-아웃부 상에 형성되어 있으며, 상기 제1기판과 상기 제2기판을 결합시키는 실런트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a sealant formed on the fan-out part, the sealant coupling the first substrate and the second substrate. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 패드와 상기 저항부 사이에 위치하는 팬-아웃부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a fan-out part disposed between the gate pad and the resistor part. 제9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 게이트 패드, 상기 팬-아웃부 및 상기 저항부는 같은 층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시장치. And the gate pad, the fan-out part and the resistor part are formed of the same layer. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 저항부의 적어도 일부는 지그재그로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 표시장치.At least a portion of the resistor unit is formed in a zigzag. 제2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 액정층은 VA(vertical alignment) 모드인 것을 특징으로 하는 액정표시장치. And the liquid crystal layer is in VA (vertical alignment) mode. 제12항에 있어서,The method of claim 12, 화소전극은 화소전극 절개패턴이 형성되어 있으며,The pixel electrode has a pixel electrode incision pattern formed thereon, 상기 제2기판은 공통전극 절개패턴이 형성되어 있는 공통전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the second substrate includes a common electrode having a common electrode cutting pattern formed thereon. 제13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 화소전극은 서로 분리되어 있는 제1화소전극 및 제2화소전극을 포함하며, 상기 제1화소전극과 상기 제2화소전극에는 서로 다른 화소 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The pixel electrode includes a first pixel electrode and a second pixel electrode which are separated from each other, and different pixel voltages are applied to the first pixel electrode and the second pixel electrode. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 박막트랜지스터는 드레인 전극을 포함하며,The thin film transistor includes a drain electrode, 상기 드레인 전극은 상기 제1화소전극에 직접 데이터 전압을 인가하는 제1드레인 전극과 상기 제2화소전극과 결합용량을 형성하는 제2드레인 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the drain electrode includes a first drain electrode applying a data voltage directly to the first pixel electrode and a second drain electrode forming a coupling capacitance with the second pixel electrode. 제14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 박막트랜지스터는 상기 제1화소전극에 연결되어 있는 제1박막트랜지스터와 상기 제2화소전극에 연결되어 있는 제2박막트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The thin film transistor includes a first thin film transistor connected to the first pixel electrode and a second thin film transistor connected to the second pixel electrode. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 저항부의 총 저항은 상기 게이트 본선의 총 저항의 10% 내지 50%인 것 을 특징으로 하는 액정표시장치.Wherein the total resistance of the resistor unit is 10% to 50% of the total resistance of the gate main line. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 본선의 게이트 신호 지연의 변화는 100%내에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 Liquid crystal display device characterized in that the change in the gate signal delay of the gate main line is within 100% 표시영역을 가지는 제1기판과, 상기 제1기판과 대면하는 제2기판과, 상기 제1기판과 상기 제2기판 사이에 위치하는 액정층을 포함하는 액정표시장치에 있어서,A liquid crystal display device comprising a first substrate having a display area, a second substrate facing the first substrate, and a liquid crystal layer positioned between the first substrate and the second substrate. 상기 제1기판은,The first substrate, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과;A gate main line positioned in the display area; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와;A gate pad positioned outside the display area; 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부와;A resistor unit electrically connecting the gate main line and the gate pad and having a resistance higher than that of the gate main line; 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와;A thin film transistor connected to the gate main line; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있으며 상기 저항부와 동일한 재질로 이루어진 화소전극을 포함하며,A pixel electrode electrically connected to the thin film transistor and made of the same material as the resistor; 상기 액정층은 VA모드인 액정표시장치.The liquid crystal layer is a liquid crystal display device in VA mode. 표시영역과 비표시영역을 갖는 기판,A substrate having a display area and a non-display area, 상기 표시영역 내에 위치하는 게이트 본선과;A gate main line positioned in the display area; 상기 표시영역 외부에 위치하는 게이트 패드와;A gate pad positioned outside the display area; 상기 게이트 본선과 상기 게이트 패드를 전기적으로 연결하며 상기 게이트 본선보다 저항이 높은 물질로 이루어진 저항부와;A resistor unit electrically connecting the gate main line and the gate pad and having a resistance higher than that of the gate main line; 상기 게이트 본선에 연결되어 있는 박막트랜지스터와;A thin film transistor connected to the gate main line; 상기 박막트랜지스터에 전기적으로 연결되어 있으며 상기 저항부와 동일한 재질로 이루어진 화소전극을 포함하는 박막트랜지스터 어레이 기판.And a pixel electrode electrically connected to the thin film transistor, the pixel electrode being made of the same material as the resistor.
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