KR20070041496A

KR20070041496A - 센서 교정 방법

Info

Publication number: KR20070041496A
Application number: KR1020077000188A
Authority: KR
Inventors: 게오르그 쿠르티우스; 미카엘 파우스; 레인하르트 헤링
Original assignee: 베에스하 보쉬 운트 지멘스 하우스게랫테 게엠베하
Priority date: 2004-07-23
Filing date: 2005-07-22
Publication date: 2007-04-18
Also published as: EP1773172B1; CN1988838A; DE102004035848A1; US7558690B2; US20080040063A1; CN1988838B; WO2006010744A1; EP1773172A1

Abstract

본 발명에 따르는, 기준 값을 사용하여, 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은

- 하나 이상의 세정 프로그램 시퀀스(s)에서, 둘 이상의 측정 값을 결정하는 단계,

- 통계학적 방법, 또는 확률 계산식을 사용하여, 하나 이상의 측정 값을 선택하는 단계로서, 이때 상기 통계학적 방법, 또는 확률 계산식은 다음의 뒤따르는 단계에서는 고려되지 않는 단계,

- 센서를 교정하기 위하여, 하나 이상의 가능한 기준 값을, 선택되지 않은 측정 값들로부터 결정하는 단계,

- 셋 이상의 가능한 기준 값이 결정되었을 경우, 하나 이상의 가능한 기준 값으로부터 최적 기준 값을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

센서 교정 방법{METHOD FOR CALIBRATING SENSORS}

본 발명은 센서를 교정하기 위한 방법에 관한 것이며, 특히, 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법에 관한 것이며, 상기 방법을 수행하기 위한 관련 가전제품에 관한 것이다.

가전제품, 가령 식기세척기에서, 세정 용액, 가령 세척액의 오염 정도를 판단하기 위해, 탁도 센서(turbidity sensor)가 사용된다. 상기 탁도 센서에 의해 판단된 오염의 정도의 값은 가전제품의 세정 프로그램을 추가로 제어하기 위해 사용된다. 식기세척기에서, 세정 프로그램은, 예를 들어, 부분 프로그램 단계인, “선-세척(pre-wash)”과, “세정(clean)”과, “중간 헹굼(intermediate rinse)”과, “완전 헹굼(clear rinse)”과, “건조(dry)”로 구성되어 있다. 다수의 중간 헹굼 단계가 상기 부분 프로그램 단계 “중간 헹굼”에서 수행된다. 탁도 센서에 의해 판단되는 오염 정도의 값을 사용함으로써, 상기 오염의 정도가 특정 값보다 작을 때, 상기 식기세척기의 제어기는 추가적인 중간 헹굼 단계의 실행을 중단시킬 수 있다. 따라서 상당한 양의 물과 에너지가, 동일한 세정 결과를 갖고 절약될 수 있다. 덧붙이자면, “선-세척”동안 오염의 정도가 낮을 경우, 상기 “선-세척”에서의 세정 용액은 “세정”부분 프로그램 단계를 위해 사용될 수 있다.

탁도는, 빛을 세정 용액에 통과시킴으로써 측정되는 것이 일반적이다. 그러나 그 밖의 다른 물리적 측정 방법, 가령, 소리를 사용하는 방법이 또한 가능하다. 상기 세정 용액에 빛을 통과시키는 것에 있어, 세정 용액에서 압축된 입자가 서스펜션으로서 빛의 한 부분을 보유하는 물리학적 법칙을 사용할 때, 광 송신 장치 및 광 수신 장치가 필요하다. 예를 들어, 송신 장치는 램프, 또는 발광 다이오드를 포함하며, 상기 수신 장치는 포토트랜지스터(phototransistor)를 포함한다. 그러나 상기 송신 장치와 수신 장치는 사용과 에이징에 따른 변화에 종속된다. 덧붙이자면, 일부 경우에서, 상당한 양의 침전물이 광학 장치 상에서 발생할 수 있다. 송신 장치와 수신 장치 상의 일시적인 불순물에 의해, 측정에 있어 인지할만한 오류가 초래될 수 있다. 시간의 경과에 따라, 세정 용액의 탁도 측정에서 오류는 지속적으로 증가한다. 이에 따라서, 가전제품의 제어에 있어서도 오류가 초래된다.

EP 0 862 892 B1은 세정 용액의 오염 정도를 판단하기 위한 측정 장치를 갖는 가전제품에 관한 것이다. 세정 용액의 오염 정도를 판단하기 위해 측정 장치가 사용되는 세정 프로그램에 앞서, 세정 프로그램에서 측정치 조정이 수행되어, 올바르지 못한 측정이 방지되며, 이는 오염되지 않은 세척 용액, 가령 깨끗한 헹굼액을 사용하는 프로그램에서 수행되는 것이 바람직하다. 뒤따르는 세정 프로그램에서 측정 장치의 조정을 위한 측정된 값이 비-휘발성 메모리에 저장될 수 있다. 중간 헹굼이 거의 수행되지 않을 경우, 헹굼 동안, 헹굼 용액이 불순물을 포함하여, 측정이 잘못될 수 있다는 단점이 존재한다. 덧붙이자면, 측정 조정이 단 한번만 이뤄져서, 가령, 송신 장치 상의 국부 침전물에 의해 초래되는 심각한 오염이 발생되는 경우, 측정 장치의 조정을 위한 측정 값은 심각한 오류를 가질 수 있다.

탁도 센서를 조정하기 위한 방법이 DE 101 11 006 A1에서 공개되어 있다. 몇가지 교정 값의 측정치가 세정 프로그램내의 여러 다른 시간대에서 얻어지고, 제 1 메모리 테이블에 저장되며, 교정 값 측정이 여러 세척 프로그램에서 획득된다. 이러한 교정 값의 측정에서, 가장 낮은 오염 정도를 갖는 교정 측정된 값이 각각의 세척 프로그램에 대한 선택에 의해 판단되고, 제 2 메모리 테이블에 저장된다. 이렇게 제 2 메모리 테이블의 저장된 선택 교정 측정된 값들의 평균이 구해지며, 이는 탁도 센서를 사용하는 측정을 위한 기준 값을 형성한다.

비교적 작은 개수의 교정 측정치만을 기저(basis)로, 세척 프로그램내에서의 다수의 개별적 측정치의 단순 평균인 기준 값을 결정한다는 단점이 존재한다. 결론적으로, 몇 가지 세척 프로그램에서 발생하는, 또는 전체 세척 프로그램내에서의 오류의 근원, 가령 송신 장치의 광소자 상의 오염물질은 식별될 수 없다. 각각의 세척 프로그램에 대하여 교정 측정된 모든 값으로부터의 단순 평균에 의해, 기준 값이 결정됨에 따라, 상당한 오류를 내포하고 있는 이러한 교정 측정된 값이 평균 내기에 포함된다. 예를 들어, 3개의 사전 세척 프로그램에서 오염 물질이 발생하고, 상기 오염물질이 뒤따르는 세척 프로그램에서 다시 제거되는 경우, 결함 있는 개별 측정치의 평균에 따른 기준 값을 사용하여, 측정이 획득되고, 이에 따라서, 기준 값을 위한 기저를 형성하는 모든 교정 측정이 일시적인 불순물에 의해 초래되는 오류에 의해 더 이상 영향을 받지 않을 때까지, 오류는 계속된다.

따라서 본 발명의 목적은, 가전제품의 모든 동작 조건 하에서, 특히 일시적 인 오염물질이 존재하는 경우에서, 단순한 방식으로 센서, 가령 탁도 센서가 신뢰할만하게 교정될 수 있게 하는 방법을 수행하기 위한 방법 및 관련 가전제품을 제공하는 것이다.

이러한 목적은, 청구항 제 1 항 및 제 11 항에 따르는 센서를 교정하기 위한 본 발명에 따르는 방법과 청구항 제 15 항에 따르는 방법을 수행하기 위한 가전제품에 의해 획득된다. 본 발명의 추가적인 이점은 종속 청구항에 의해 특징 지워진다.

를 포함하는 것을 특징으로 한다.

더욱 세부적으로, 다음의 뒤따르는 단계에서는 고려되지 않는 통계학적 방법, 또는 확률 계산법을 이용하는 하나 이상의 측정 값을 선택하는 단계는, 세척 프로그램 시퀀스(s)내의 동일한 시간대에서 측정되는 측정 값의 수열로부터의 각각의 경우에서 이뤄지는 것을 특징으로 한다. 따라서 세척 프로그램 시퀀스내에서 동일한 시간대에 측정되었던 측정 값이, 서로 유사하고, 선택 방법이나 선택 수식에 적합하도록 선택되어진다.

상기 다음의 뒤따르는 단계는 하나 이상의 측정 값을 선택하기 위해 수행되는 것이 바람직하며,

수식

을 따라 측정 값(a=1, 2, ..., a에 대한 m_a ^s)에 대한 등차 중앙(d₁, ..., d_a)을 결정하는 단계,

수식

에 따라, 상기 등차 중앙을 결정하는 단계로부터의 da를 이용하여 평균 제곱 에러(σ₁ ²부터 σ_a ²까지에 대한 σ_a ²)를 결정하는 단계,

가능한 기준 값의 확률 한계(probable limit)를 결정하는 단계로서, 이때 가능한 기준 값은

의 범위 내에 존재하는 단계,

상기 한계를 벗어나 존재하는 기준 값을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또 다른 변형예에서, 어떠한 측정 값도 상기 가능한 기준 값의 확률 한계를 벗어나서 존재하지 않을 경우, 상기 가능한 기준 값의 확률 한계의 간격은, 하나 이상의 측정 값이 상기 한계를 벗어나 존재하도록 더 작게 설정되며, 이러한 하나 이상의 측정 값이 선택되는 것을 특징으로 한다. 이러한 수단에 의해, 하나 이상의 측정 값이 항상 선택되어질 수 있다. 따라서, 이러한 방법은 변화 관계에 적용될 수 있다.

또 다른 변형예에서, 가능한 기준 값의 상기 확률 한계를 결정하기 위해, 지정된 실험적 값이 추가로 사용되며, 이는 프로세스 시퀀스에서의 변화 관계에 자동으로 적용되는 것을 특징으로 한다. 따라서, 이러한 방법은 새로운 가전 제품에서 최적으로 적용될 수 있으며, 변화 관계, 가령, 불순물에 의한 변화 관계에 적용될 수 있다.

센서의 교정을 위한 하나 이상의 가능한 기준 값은, 평균내기(averaging)를 이용하여, 남아 있는 선택되지 않은 측정 값 중에서 선택되어지는 것을 특징으로 한다. 이러한 수단에 의해, 측정 값의 수열에 대한 상기 가능한 기준 값이, 측정 값의 각각의 시간대에 대하여 간단하게 결정될 수 있고, 어떠한 올바르지 못한 측정도 평균 내기의 결과에 거의 영향을 끼치지 않게 된다.

센서를 교정하기 위한 하나 이상의 가능한 기준 값은, 통계학적 방법, 또는 확률 계산법을 이용하여 측정 값을 선택함으로써, 남아 있는 선택되지 않은 측정 값들로부터 결정되는 것을 특징으로 한다. 이에 따라서, 단 하나의 신호 측정 값만이 선택될 수 있는 것에 따르는 개별적인 바람직하지 못한 측정으로 초래되는 에러가 제거될 수 있다.

선택되지 않은 측정 값 중에서 가장 높은 확률 밀도를 갖는 측정 값이 선택되는 것을 특징으로 한다. 이에 따라서, 결함 가능성이 존재하는 측정 값을 기저로 하는 평균과 비교하여 가능한 에러가 제거될 수 있다.

- 선택되지 않은 측정 값의 등차 중앙(a=1, 2, ..., a에 대한 d'_a)을 결정하는 단계, 그리고

- │d'_a - m_a ^s│의 크기를 결정하는 단계로서, 이때, 상기 측정 값은 가장 작은 크기의 │d'_a - m_a ^s│에 대하여 선택되는 단계

에 의해, 측정 값은 선택되지 않은 측정 값의 등차 중앙에 가장 가깝게 존재하는 가능한 기준 값으로서 선택되는 것을 특징으로 한다.

가능한 기준 값으로부터 가장 최적치가, 즉, 가장 낮은 오염도를 갖는 기준 값이, 센서 교정을 위한 기준 값으로서 선택되어지는 것을 특징으로 한다.

기준 값을 사용하여, 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)(6)를 교정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은

- 통계학적 방법, 또는 확률 계산식을 사용하여 측정 값을 선택함으로써, 측정 값으로부터 하나 이상의 가능한 기준 값을 결정하는 단계, 그리고

- 둘 이상의 가능한 기준 값이 결정된 경우, 상기 가능한 기준 값으로부터 최적의 기준 값을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 한다.

하나 이상의 측정 값의 선택은, 세척 프로그램 시퀀스(s)내의 동일한 시간대에서 측정된 측정 값들의 수열의 각각의 경우에서, 통계학적 방법, 또는 확률 계산식에 의해 획득되는 것을 특징으로 한다. 따라서 상기 가능한 기준 값은 서로 비교 가능한 측정 값들로부터 선택되어진다.

에 의해, 측정 값은 선택되지 않은 측정 값의 등차 중앙에 가장 가깝게 존재하는 기준 값으로서 선택되는 것을 특징으로 한다.

상기 기준 값으로부터, 가장 최적치가, 즉, 가장 낮은 오염도를 갖는 기준 값이, 센서 교정을 위한 기준 값으로서 선택되어지는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따르는 가전제품에서, 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따르는 방법이 구현될 수 있다.

컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 프로그램, 또는 이에 대응하는 프로세싱 유닛 상에서 실행될 경우, 컴퓨터 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램이 앞서 언급된 모든 방법의 모든 단계를 수행한다.

컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 프로그램, 또는 이에 대응하는 프로세싱 유닛에서 실행될 경우, 컴퓨터 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램 프로덕트가 앞서 언급된 모든 방법의 모든 단계를 수행하기 위한 컴퓨터 판독가능형 데이터 이동매체에 저장된다.

도 1은 탁도 센서의 개념도이다.

도 2는 식기세척기의 세척 프로그램을 위한 흐름도이다.

도 3은 탁도 센서를 교정하기 위한 기준 값을 결정하기 위한 본 발명에 따르는 흐름도이다.

도 4는 탁도 센서를 교정하기 위한 기준 값을 결정하기 위한 본 발명에 따르른 또 다른 흐름도이다.

도 1은 탁도 센서(6)를 나타내는 개념도이다. 이는 가시광을 발산하는 램프의 형태로 존재하는 송신 장치(1)를 포함한다. 또한 상기 송신 장치(1)는 임의의 주파수 범위의, 전자기파, 가령 적외선을 방출할 수 있다. 포토셀(photocell)의 형태로 존재하는 수신 장치(2)에 있어서, 입사하는 광이 전류로 변환된다. 불순물을 포함하는 세척 용액(3)이 상기 송신 장치(1)와 수신 장치(2) 사이에 위치한다. 제어 및 산출 유닛(4)이 상기 송신 장치(1)로 전류를 공급하고, 수신 장치(2)에 의해 전달되는 전류를 산출한다. 상기 송신 장치(1)와 수신 장치(2)는, 전기 리드(5)를 통해 제어 및 산추 유닛(4)에 연결되어 있다. 제어 및 산출 유닛(4)은 본 발명에 따르는 식기세척기의 제어기의 한 부분일 수 있다. 즉, 탁도 센서(6)에 있어서 별도의 제어 및 산출 유닛이 요구되지 않는다. 세척 용액(3)의 오염의 정도는, 송신 장치(1)로 공급되는 파워가 바람직하게 일정할 때, 송신 유닛(2) 상으로 입사되는 광의 변화를 토대로 판단된다. 수신 장치(2)에 의해 전달되는 전류가 작을수록, 오염의 정도는 더 높다. 탁도 센서(6)가 본 발명에 따르는 식기세척기의 내부로, 가령 세척 컨테이너, 또는 세척 용액을 위한 라인에 장착될 수 있다. 오염의 정도를 나타내는 값을 사용하여, 본 발명에 따르는 식기세척기의 제어기에 의해 추가적인 프로그램 시퀀스가 제어된다. 예를 들어, 오염도가 특정 레벨 이하로 떨어질 때, 추가적인 중간 헹굼 단계의 실시는 중단되거나, 세척 용액이 선-세척 단계와 완전 세정 단계 사이에서 교체되지 않는다.

도 2는 식기세척기의 종래의 프로그램 시퀀스를 나타낸다. 시간은 가로 좌표 상에서 나타나고, 식기세척기의 세척 용액의 양은 세로 좌표 상에서 나타난다. 세척 프로그램의 시퀀스는 부분 프로그램 단계인, “선-세척(pre-wash)”과, “세정(clean)”과, “중간 헹굼(intermediate rinse)”과, “완전 헹굼(clear rinse)”과, “건조(dry)”로 구성되어 있다. 측정된 값은 m₁ ¹, m₂ ¹, m₃ ¹ 및 m₄ ¹(m_a ^s에서, a 는 세척 프로그램 시퀀스내에서의 측정치의 시간t_a이며, s는 세척 프로그램 시퀀스 s = 1, 2, 3, ..., s인 각각의 경우에서, 동일한 시간 t_a에서 측정된 값의 측정 번호이다.)이다. 상기 측정된 값 m₁ ¹, m₂ ¹, m₃ ¹ 및 m₄ ¹은 각각 탁도 센서(6)를 교정하기 위해, 시간 t_a = t₁, t₂, t₃, t₄에서 판단된 값이다. 단 하나의 측정 값이 세척 프로그램 시퀀스 s내에서, 특히 바람직하게는 “완전 헹굼(clear rinse)”부분 프로그램 단계에서 측정될 수 있으나, 세척 프로그램내에서 다수의 기준 값이 측정될 수 있고, 이때 다수의 측정 값, 가령 m₃ ¹, m₄ ¹은 하나의 부분 프로그램 단계, 가령 탁도 센서(6)를 교정하기 위해, “완전 헹굼(clear rinse)”단계에서 측정될 수 있다. 시간 t_a에서의 측정 값 m_a ^s는 열의 형태로 측정 수열로서 하나의 아래에 다른 하나가 배열된다(도 2). 하나의 세척 프로그램 시퀀스내에서, 측정 값은 동일한 시간대에서 측정된다. 도 2를 참조하여, 세척 프로그램 시퀀스에 대하여, 서로 다른 시간대 t_a = t₁, t₂, t₃, t₄에서 4번의 측정이 수행되어, 측정 수열의 4개의 열이 나타난다(도 2). 서로 다른 세척 프로그램, 가령 개별 부분 프로그램 단계의 서로 다른 지속 시간을 갖는 부드러운 50도, 집중 세탁 70도, 자동 55도 내지 65도의 경우에 있어서, 각각의 경우에서, 부분 프로그램 단계의 종료의 전, 또는 후로 동일한 시간대에서 측정이 이뤄진다. 덧붙이자면, 본 발명의 방법은 개별 측정 수열이 각각의 서로 다른 세척 프로그램에 대하여 저장되도록 개선될 수 있다. 이러한 절차에 서, 측정 수열의 번호는 측정 시간 t_s의 번호와 대응하지 않으나, 개별 측정 시간 t_a들의 합이 각각의 개별 세척 프로그램에 대응한다.

도 3은 기준 값 m_a ^s를 결정하기 위한 본 발명에 따르는 흐름도를 나타낸다. 상기 측정된 값 m_a ^s는 최상부 섹션에서 나타난다. 각각의 경우의 세척 프로그램 시퀀스 s=1, ..., s로부터, 각각의 경우의 동일한 시간대 t_a에서 측정된 값 m_a ^s가, 하나의 열(column)로 나타난다. 상기 측정 값 m_a ^s는, 각각의 경우에서, 실제 세척 프로그램 시퀀스 s+1에 앞서는 세척 프로그램 시퀀스 s = 1, ..., s 상에서 순차적으로 결정되는 것이 바람직하다. 이러한 경우에 있어서, 여러 다른 절차(procedure)가 또한 가능하다. 예를 들어, 측정된 값 m_a ^s가 낮은 하중을 갖는 세척 프로그램 시퀀스 s로부터만 결정되는, 예를 들어 하중 센서에 대응하는 절차가 가능할 수 있다. 따라서 측정 시간 t_a의 번호는 열의 번호에 대응한다. 제 1 열에서는 시간 t₁에서의, 세척 프로그램 시퀀스 s=1, ..., s의 측정 값 m_a ₌₁ ^{s=1, ..., s}가 제공되며, 서로 다른 세척 프로그램에서의 측정 값 m_a ^s가 또한 포함된다.

이러한 열들 다음에서 연산 유닛이 나타난다. 이러한 최상부 연산 유닛에서, 다음 단계에서는 더 이상 고려되지 않는 하나 이상의 측정 값 m_a ^s는 통계적 방법에의해 선택되는 것이 바람직하다. 이러한 통계적 방법의 하나의 예가 다음에서 서술된다. 그 밖의 다른 방법이 또한 고려된다. 가령 확률 계산에 대한 방법이 고려된다. 연산 유닛의 다음에서, 세척 시퀀스에서의 측정 값 m_a ^s가 다시 열로 배열되며, 하나의 측정 값 m_a ^s가 각각의 경우에서 선택된다. 예를 들어, 외쪽에서 두 번째 열에서, 측정 값 m₂ ²는 세척 시퀀스 s = 2로부터 선택되어진 것이다.

도 3에서, 이러한 열 다음에서, 연산 유닛이 나타난다. 상기 연사 유닛에서,하나의 열에서의 남겨진 측정 값 m_a ^s가 형성된다, 즉, 기준으로서의

가 결정된다. 이러한 측정 값의 대표 값

로부터, 최적 평균 측정 값

가 다음의 연산기에서 선택되어지고, 이러한 최적 값은 가장 낮은 오염도를 갖는 평균 측정 값

, 즉, 가장 큰 평균 측정 값

인 것이 일반적이다. 이러한 최적 평균 측정 값

는 뒤따르는 세척 프로그램에서의 탁도 측정에 있어 기준 값이 된다. 가장 낮은 오염도라는 척도 외에도, 그 밖의 다른 척도가 사용될 수 있다, 가령 특정 열에서의 가능한 척도 값이 사용될 수 있으며, 이때 이러한 척도는 지정된 전작업이거나, 자동으로 적용되는 것이다.

도 4를 따르는 이러한 절차의 대안예로서, 이러한 연산 유닛에서, 통계적 방법, 오류, 이론, 확률 계산을 이용하는 선택 방법에 의해, 선택된 측정 값 m_a ^s로부터, 단일 측정 값 m^* _a ^s가, 각각의 t_a에 대한 측정 값 m_a ^s의 각각의 열에서 선택될 수 있다. 다음의 연산기에서, 이러한 측정 값 m^* _a ^s로부터, 가능한 기준 값으로서 최적 측정 값 m^* _a ^s가 선택되고, 상기 최적 값은 가장 낮은 오염도를 갖는 측정 값 m^* _a ^s, 즉 가장 높은 측정 값 m^* _a ^s인 것이 일반적이다. 상기 최적 측정 값 m^* _a ^s는 뒤따르는 세척 프로그램에서 탁도 측정을 위한 기준 값이 된다.

도 3 및 4의 최상부 연산 유닛에 대응하는 하나 이상의 측정 값 m_a ^s를 선택하기 위한 통계적 방법이 다음에서 설명된다.

측정 값 m_a ^s는 시간 t_a에서의 측정 값에 대한 세척 프로그램 시퀀스 s에 대한, 수열 m₁ ¹, m₁ ², m₁ ³, m₁ ⁴, m₁ ⁵, ..., m₁ ^s를 나타낸다. 이러한 측정 값 m_a ^s로부터, 시간 t₁~t_a에서의 측정 값 m_a ^s에 대하여 연산 수단 d1~da가 결정되며, 이때 s는 시간 t_a에서의 측정 값 m_a ^s의 개수이다.

평균 제곱 오류 σ_a ²는 a = 1, 2 내지 a에 대하여 결정된다.

기준 값 m^* _a ^s, 또는

의 확률 한계는 에러의 법칙 이론에 따른다.

그 후, 측정 값 m_a ^s가 이러한 확률 한계를 벗어나서 존재하는지의 여부가 알고리즘으로 검사된다. 측정 값 m_a ^s가 벗어나서 존재할 경우, 이것이 선택된다. 상기 벗어나서 존재하는 측정 값의 개수가 측정 값 m_a ^s의 개수에 비교하여 너무 클 경우, 확률 한계를 특정 값만큼만 벗어나서 위치하는 측정 값 m_a ^s만이 제외될 수 있다. 어떠한 측정 값 m_a ^s도 상기 확률 한계를 벗어나 존재하지 않을 경우, 상기 확률 한계내에 존재하는 측정 값 m_a ^s가 제외될 것이다. 실험적으로 결정된 값이 이러한 목적을 위해 지정될 수 있으며, 이는 방법 시퀀스에서의 변동 관계에 수리적으로 적용 된다.

이러한 절차는 각각의 시간 t_a에서의 측정 값 m_a ^s의 모든 수열에 대하여 수행된다.

평균 값 d_a 대신, 확률 계산에 의해, 개별 측정 값 m_a ^s의 확률을 판단하는 것, 그리고 가장 작은 확률을 갖는 상기 측정 값 m_a ^s을 선택하는 것이 또한 가능하다(도 4).

탁도 센서를 교정하기 위한 기준 값으로서 사용되기 위하여, 세척 프로그램 시퀀스 s에 대한 측정 값의 수열 m_a ^s, 가령 m₁ ¹, m₁ ², m₁ ³, m₁ ⁴, m₁ ⁵, ..., m₁ ^s로부터 측정 값 m_a ^s를 선택하기 위한 확률 계산의 방법이 도 4의 두 번째 연산에 따라 설명된다.

등차 중앙에 대한 가우시안 가설에 따라서, 측정 값 m_a ^s의 등차 중앙의 확률 밀도는 가우시안 에러 법칙의 조건에 관계없이, 가장 높다.

하나 이상의 측정 값 m_a ^s을 선택한 후, 등차 중앙 d'이 남아 있는 측정 값 m_a ^s으로부터 결정된다. 개별 측정 값 m_a ^s과 상기 등차 중앙 d'_a 사이의 차이, 즉│d'_a - m_a ^s│가 d'₁, d'₂, ..., d'_a를 이용하여 결정된다. 알고리즘을 사용하여, 가장 작은 값이 이러한 수열로부터 선택되어진다. 이러한 가장 낮은 값에 관련되어 잇는 측정 값 m_a ^s는 탁도 센서를 교정하기 위한 가능한 기준 값으로서 사용된다.

본 발명에 따르는 또 다른 변형예에서, 최상부 연산 유닛에서 하나 이상의 측정 값 m_a ^s을 선택하기 전에, 측정 값 m_a ^s이, 기준 값으로서 사용될 측정 값 m_a ^s의 선택을 위한 초기 기저로서 선택될 수 있다. 따라서 도 4의 최상부 연산 유닛은 사용되지 않는다.

가장 낮은 오염도를 갖는 기준 값에 대응하는 가장 최적의 기준 값이, 세척 프로그램 시퀀스 s내에서의 측정 값 m_a ^s의 측정을 위한 시간 t_a의 개수 a에 대응하는 개수 a를 갖는 가능한 기준 값 m^* _a ^s에서 선택된다. 가장 높은 값을 결정하기 위한 대응하는 알고리즘을 사용하여 이것이 이뤄진다.

이러한 절차와는 다르게, 확률 밀도는, 확률 법칙 계산을 사용하여, 각각의 측정 값 m_a ^s에 대하여 결정될 수 있고, 가장 높은 확률 밀도를 갖는 측정 값이 기준 값으로서 선택되어진다. 이러한 절차 중에 결정되는 도중 값, 또는 최종 값은 비휘발성 메모리에 버퍼링되는 것이 바람직하다. 대응하는 컴퓨터 시스템을 사용하여 이러한 제어가 수행된다.

본 발명에 따르는 방법을 수행하기에 적합한 가전제품, 컴퓨터 프로그램 및 컴퓨터 프로그램 프로덕트가 또한 본 발명의 일부가 된다.

통계학적 방법에 의해 개별 측정 값이 선택됨으로써, 본 발명에 따르는, 가전제품에서의 센서를 교정하기 위한 본 방법이 사용되어, 큰 오차를 갖는 측정 값 의 사용으로 인한 에러, 가령 일시적인 불순물에 의해 초래되는 에러가 최소화되어, 측정 수열 내에서 기준 값을 결정할 수 있다. 큰 오차를 갖는 개별 측정 값은, 특히 통계학적 방법에 의해 선택되어진다.

평균 내기(averaging)와 비교하여, 특히, 확률 계산 방법을 사용하여 기준 값으로서 개별 측정 값을 선택함으로써, 올바르지 못한 측정, 가령 침전물이 수신, 또는 송신 장치 상에 잠시 존재할 때의 측정에 의해 초래되는 강력한 오차를 갖는 측정 값에 의해 발생하는 에러가 방지될 수 있다.

Claims

기준 값(
, m^* _a ^s)을 사용하여, 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)(6)를 교정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은

하나 이상의 세정 프로그램 시퀀스(s)에서, 둘 이상의 측정 값(m_a ^s)을 결정하는 단계,

통계학적 방법, 또는 확률 계산식을 사용하여, 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)을 선택하는 단계로서, 이때 상기 통계학적 방법, 또는 확률 계산식은 다음의 뒤따르는 단계에서는 고려되지 않는 단계,

센서를 교정하기 위하여, 하나 이상의 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)을, 선택되지 않은 측정 값들(m_a ^s)로부터 결정하는 단계, 그리고

셋 이상의 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)이 결정되었을 경우, 하나 이상의 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)으로부터 최적 기준 값(
, m^* _a ^s)을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항에 있어서, 다음의 뒤따르는 단계에서는 고려되지 않는 통계학적 방법, 또는 확률 계산법을 이용하는 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)을 선택하는 단계는, 세척 프로그램 시퀀스(s)내의 동일한 시간대(ta)에서 측정되는 측정 값(m_a ^s)의 수열로부터의 각각의 경우에서 이뤄지는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 다음의 뒤따르는 단계는 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)을 선택하기 위해 수행되며,

수식
을 따라 측정 값(a=1, 2, ..., a에 대한 m_a ^s)에 대한 등차 중앙(d₁, ..., d_a)을 결정하는 단계,

수식
에 따라, 상기 등차 중앙을 결정하는 단계로부터의 da를 이용하여 평균 제곱 에러(σ₁ ²부터 σ_a ²까지에 대한 σ_a ²)를 결정하는 단계,

가능한 기준 값(m^* ₁ ^s,
부터 m^* _a ^s,
까지에 대한 m^* _a ^s,
)의 확률 한계(probable limit)를 결정하는 단계로서, 이때 가능한 기준 값은
의 범위 내에 존재하는 단계,

상기 한계를 벗어나 존재하는 기준 값(m_a ^s)을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 3 항에 있어서, 어떠한 측정 값(m_a ^s)도 상기 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)의 확률 한계를 벗어나서 존재하지 않을 경우, 상기 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)의 확률 한계의 간격은, 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)이 상기 한계를 벗어나 존재하도록 더 작게 설정되며, 이러한 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)이 선택되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)의 상기 확률 한 계를 결정하기 위해, 지정된 실험적 값이 추가로 사용되며, 이는 프로세스 시퀀스에서의 변화 관계에 자동으로 적용되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 센서의 교정을 위한 하나 이상의 가능한 기준 값(
)은, 평균내기(averaging)를 이용하여, 남아 있는 선택되지 않은 측정 값(m_a ^s) 중에서 선택되어지는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 센서를 교정하기 위한 하나 이상의 가능한 기준 값(m^* _a ^s)은, 통계학적 방법, 또는 확률 계산법을 이용하여 측정 값(m_a ^s)을 선택함으로써, 남아 있는 선택되지 않은 측정 값들(m_a ^s)로부터 결정되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 7 항에 있어서, 선택되지 않은 측정 값(m_a ^s) 중에서 가장 높은 확률 밀도를 갖는 측정 값(m_a ^s)이 선택되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센 서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,

선택되지 않은 측정 값(m_a ^s)의 등차 중앙(a=1, 2, ..., a에 대한 d'_a)을 결정하는 단계, 그리고

│d'_a - m_a ^s│의 크기를 결정하는 단계로서, 이때, 상기 측정 값(m_a ^s)은 가장 작은 크기의 │d'_a - m_a ^s│에 대하여 선택되는 단계

에 의해, 측정 값(m_a ^s)은 선택되지 않은 측정 값의 등차 중앙에 가장 가깝게 존재하는 가능한 기준 값(m^* _a ^s)으로서 선택되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 가능한 기준 값(
, m^* _a ^s)으로부터 가장 최적치가, 즉, 가장 낮은 오염도를 갖는 기준 값(
, m^* _a ^s)이, 센서 교정을 위한 기준 값(
, m^* _a ^s)으로서 선택되어지는 것을 특징으로 하는 가전제품 의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
기준 값을 사용하여, 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)(6)를 교정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은

하나 이상의 세정 프로그램 시퀀스(s)에서, 둘 이상의 측정 값(m_a ^s)을 결정하는 단계,

통계학적 방법, 또는 확률 계산식을 사용하여 측정 값(m_a ^s)을 선택함으로써, 측정 값(m_a ^s)으로부터 하나 이상의 가능한 기준 값(m^* _a ^s)을 결정하는 단계, 그리고

둘 이상의 가능한 기준 값(m^* _a ^s)이 결정된 경우, 상기 가능한 기준 값(m^* _a ^s)으로부터 최적의 기준 값(m^* _a ^s)을 선택하는 단계

를 포함하는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 11 항에 있어서, 하나 이상의 측정 값(m_a ^s)의 선택은, 세척 프로그램 시퀀스(s)내의 동일한 시간대에서 측정된 측정 값들의 수열의 각각의 경우에서, 통계학적 방법, 또는 확률 계산식에 의해 획득되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁 도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 11 항 또는 제 12 항에 있어서, 선택되지 않은 측정 값(m_a ^s)의 등차 중앙(a=1, 2, ..., a에 대한 d'_a)을 결정하는 단계, 그리고

│d'_a - m_a ^s│의 크기를 결정하는 단계로서, 이때, 상기 측정 값(m_a ^s)은 가장 작은 크기의 │d'_a - m_a ^s│에 대하여 선택되는 단계

에 의해, 측정 값(m_a ^s)은 선택되지 않은 측정 값의 등차 중앙에 가장 가깝게 존재하는 기준 값(m^* _a ^s)으로서 선택되는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 12 항 또는 제 13 항에 있어서, 상기 기준 값(m^* _a ^s)으로부터, 가장 최적치가, 즉, 가장 낮은 오염도를 갖는 기준 값(m^* _a ^s)이, 센서 교정을 위한 기준 값(m^* _a ^s)으로서 선택되어지는 것을 특징으로 하는 가전제품의 탁도 센서(turbidity sensor)를 교정하기 위한 방법.
제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따르는 방법이 구현되는 것을 특징으로 하는 가전제품.
컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 프로그램, 또는 이에 대응하는 프로세싱 유닛 상에서 실행될 경우, 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따르는 방법의 모든 단계를 수행하기 위한 프로그램 코드가 기록된 컴퓨터 프로그램.
컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 프로그램, 또는 이에 대응하는 프로세싱 유닛에서 실행될 경우, 제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따르는 방법의 모든 단계를 수행하기 위한 컴퓨터 판독가능형 데이터 이동매체에 저장되는 컴퓨터 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램 프로덕트.