CN107478260A - 计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法，其中，该感测器的自动校准方法包括：在模组组装的生产流程中，获取待测模组对应的测试件在同类多个感测器上测试得到的多个特征值；根据同类多个感测器测试对应的测试件得到的多个特征值，计算获得第一逻辑值；根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值；根据同类各台感测器所对应的第一校准值，校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值。本发明提出的技术方案可以在不影响流水线上设备的正常运行情况下，实现模组组装机台的感测器的自动校准。

Description

计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法

技术领域

本发明涉及产品组装与测试技术领域，尤其涉及一种计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法。

背景技术

在产品的实际组装过程中，为提高物料利用率、改善产品组装的合格率，组装流水线上的每个工位均设置有感测器，对组装的原料、半成品和成品的性能分别进行测量。

但是，感测器存在一定的测试误差，从而可能导致获得的性能不可靠。目前，常通过定期手动对感测器进行校准来解决上述问题。但是这种方式存在切机时间长、手动操作繁琐以及不同工位的仪器校准难以同时进行等耗时耗力的问题，对组装流水线的正常运行造成较大影响。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法，旨在解决现有的校准方法对组装流水线的正常运行造成较大影响的问题。

为实现上述目的，本发明提供的一种感测器的自动校准方法，所述感测器用于检测产品的组装流水线上同类感测器的工位下的待测模组的特征值，所述自动校准方法包括以下步骤：

在模组组装的生产流程中，获取待测模组对应的测试件在同类多个感测器上测试得到的多个特征值；

根据同类多个感测器测试对应的测试件得到的多个特征值，计算获得第一逻辑值；

根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值；

根据同类各台感测器所对应的第一校准值，校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值。

优选地，所述根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值之后还包括步骤：

检测各台感测器所对应的第一校准值是否超出第一预设范围；

在任一感测器所对应的第一校准值超出所述第一预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

优选地，所述校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值具体为：

根据所述待测模组在所述组装流水线上对应工位的感测器测试得到的特征值和该工位对应的感测器所对应的第一校准值之间的预设公式，计算获得实际输出特征值。

为实现上述目的，本发明提供另一种感测器的自动校准方法，所述感测器用于检测产品的组装流水线上同类感测器的工位下的待测模组的特征值，其中，所述组装流水线的数量大于一条，所述自动校准方法包括以下步骤：

获取所述同类感测器的工位上的待测模组所对应的测试件在不同组装流水线上对应工位测试得到的特征值；

根据所述不同组装流水线上同类多个感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，计算获得第二逻辑值；

根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值；

根据所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值，校准所述待测模组在所述不同组装流水线上对应的感测器的工位测试得到的特征值。

优选地，所述根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值之后还包括步骤：

检测所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值是否超出第二预设范围；

在任一所述组装流水线的任一感测器的工位所对应的第二校准值超出所述第二预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

为实现上述目的，本发明提供的一种感测器，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述的感测器的自动校准方法的步骤。

为实现上述目的，本发明提供的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的感测器的自动校准方法的步骤。

本发明提出的技术方案中，对于具有同类型多个感测器的流水线的模组组装，试产前，先将测试件放置于同一类型的感测器进行性能检测，同一类型的传感器将对应获得多个特征值，通过一定的运算得到逻辑值，然后对比该逻辑值与流水线上对应工位上测得的特征值，得到差异值作为流水线对应感测器的校准值，用来自动校准各个感测器的实际输出值。本发明在不影响流水线上机台和设备的正常运行情况下，实现了对流水线的多台感测器的自动校准，减小了实际输出特征值的误差，确保了感测器在运行过程中相对准确度的自动维护，提高了实际生产过程中修正的及时性。

附图说明

图1为本发明一实施例中产品的组装流水线的功能模块结构示意图；

图2为本发明用于图1中感测器的自动校准方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明用于图1中感测器的自动校准方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明另一实施例中产品的组装流水线的功能模块结构示意图；

图5为本发明用于图4中感测器的自动校准方法第一实施例的流程示意图；

图6为本发明用于图4中感测器的自动校准方法第二实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提出的感测器及其自动校准方法中，感测器用于检测产品的组装流水线上同类感测器的工位下的待测模组的特征值，需要说明的是，该感测器是一种检测装置，能将检测感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求，如光学感测器、温度感测器、压力感测器以及速度感测器等。

请参照图1，在本发明的一实施例中，以组装流水线的模组组装机台用于组装显示模组为例，来说明本发明的感测器及其自动校准方法，以该组装流水线包括a、b和c三个工序为例，一条组装流水线中a工序对应有多个工位，分别标记为a1、a2……an，同样b工序对应的多个工位标记为b1、b2……bn以及c工序对应的多个工位标记为c1、c2……cn，其中同类型工位上均设置同类感测器，该三个工序具体对应的待测模组依次为原材BLU、显示面板Panel和显示模组成品LCM/TPM。当感测器为光学感测器时，所检测的特征值包括穿透率、亮度或色坐标等光学特征值中的至少一种。

如图2所示，本发明第一实施例提出的感测器的自动校准方法包括：

步骤S100，在模组组装的生产流程中，获取待测模组对应的测试件在同类多个感测器上测试得到的多个特征值。

具体地，以感测器为光学感测器为例进行说明，获取组装流水线的待测光学模组对应的测试件在同一类型多个感测器下测试得到的光学特征值。

可以理解，对于组装流水线上的其他感测器均采用相同的方法获得对应工位上光学感测器的校准值。

步骤S200，根据同类多个感测器测试对应的测试件得到的多个特征值，计算获得第一逻辑值。

具体地，以该组装流水线包括三个工序即三个类型的感测器为例进行说明，三个工序的每个类型感测器各自对应有4个工位。需要说明的是，测试件可以是标准件也可以是待测件，当测试件是标准件时，可以在同一类型感测器的4个工位上同时放置标准件，然后同时获取到该类型感测器所对应的4个测试特征值；当测试件是待测件时，可以将该待测件依次放置在4个工位上的感测器上，依次获取到该类型感测器对应的4个测试特征值。

具体地，可以将同类型工位对应的测试特性值上传计算机集成制造(Contemporary Integrated Manufacturing，CIM)系统，存储数据并通过相应的逻辑运算计算各工序，也即同类产品(原材BLU/显示面板Panel/显示模组成品LCM/TPM)的性能平均值，该性能平均值可作为第一逻辑值来与各感测器测试获得特征值进行比对。

步骤S300，根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值。

具体地，仍以组装流水线上的原材BLU工序进行说明，通过一定的逻辑运算获得4个测试特征值的第一逻辑值后，将该第一逻辑值和流水线上每一个感测器测试原材BLU得到的测试特征值进行比对，从而可以分别获得每一个原材BLU工位上感测器的校准值，将其设定为第一校准值。比如，组装流水线上第一个原材BLU工位的第一校准值可以为多个原材BLU工位测试特征值的平均值与组装流水线上第一个原材BLU工位对应的测试特征值的差值。

步骤S400，根据同类各台感测器所对应的第一校准值，校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值。

具体地，以a工序进行说明，将测试件放置在a1、a2……an工位上，用各工位上的感测器对测试件进行性能测试，获取到a1、a2……an工位对应的测试特征值。

计算a1、a2……an工位对应的测试特征值的一个或多个逻辑值，将一个或多个逻辑值分别与a1、a2……an工位对应的测试特征值进行比对(比如平均值与a1的测试特征值)，可以获得a1、a2……an工位各自对应的第一校准值(比如a1工位的第一校准值)，利用对应的第一校准值可以对后续在a1、a2……an任一感测器的工位上的待测模组的特征值进行校准(比如a1工位上待测模组的特征值)。

可以理解，b工序和c工序的测试方式和a工序一样，三个工序的测试可以同时进行，或者分别进行。

进一步地，在一实施方式中，所述步骤S400具体包括：根据所述待测模组在所述组装流水线上对应工位的感测器测试得到的特征值和该工位对应的感测器所对应的第一校准值之间的预设公式，计算获得实际输出特征值。比如，将测试获得原材BLU工序a1工位上的原材BLU的特征值与a1工位对应的第一校准值相乘除或相加减，从而获得原材BLU校准后的特征值，将其设定为实际输出特征值，将该实际输出特征值输出至CIM系统，并存储。

本发明提出的技术方案中，对于具有多个同类型工位的流水线的模组组装，试产前，先将对应于不同工位的测试件放置于工位上进行性能检测，同一类型的工位将对应获得多个测试特征值，求取平均值，然后对比该平均值与流水线上对应工位上测得的测试特征值，得到差异值作为流水线对应工位的校准值，用来自动校准各个工位的实际输出值。本发明在不影响流水线上机台和设备的正常运行情况下，实现了对流水线的多台感测器的自动校准，减小了实际输出特征值的误差，确保了感测器在运行过程中相对准确度的自动维护，提高了实际生产过程中修正的及时性。

进一步地，参照图3，为基于图1的组装流水线，本发明感测器的自动校准方法的第二实施例，所述根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值之后还包括：

步骤S500，检测各台感测器所对应的第一校准值是否超出第一预设范围；

步骤S600，在任一感测器所对应的第一校准值超出所述第一预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

当第一校准值超出第一预设范围时，说明感测器的测试误差较大，输出的特征值不可靠，此时对应的感测器需要停机并进行检修。

在本实施例中，若组装流水线的任一感测器所对应的第一校准值超出第一预设范围，该工序自动进行报警处理，即可及时反馈原料/半成品/成品(比如原材BLU/显示面板Panel/显示模组成品LCM/TPM)的性能异常现象。

本发明还提供另一种感测器的自动校准方法，该感测器用于检测产品的组装流水线大于1条时的待测模组的特征值，请参照图4，在本发明的一实施例中，以组装流水线的模组组装机台用于组装显示模组为例，来说明本发明的感测器及其自动校准方法，以该组装流水线包括A、B和C三个工序为例，多条组装流水线不同的工序分别标识为A1、A2……An，B1、B2……Bn以及C1、C2……Cn，该三个工序具体对应的待测模组依次为原材BLU、显示面板Panel和显示模组成品LCM/TPM。当感测器为光学感测器时，所检测的特征值包括穿透率、亮度或色坐标等光学特征值中的至少一种。

可以理解的是，不同工序感测器上所测试的特征值可以不同，请参照图4，比如使用A1工序的光学感测器对A1工序对应的待测模组进行测试，获得的特征值为光学特征值；使用A2工序的温度感测器对A2工序对应的待测模组进行测试，获得的特征值为温度。各工序的校准程序不需要完全统一，可以根据实际情况对各工序的各感测器进行校准。

如图5所示，在本发明的一实施例中，基于图4的组装流水线，所述感测器的自动校准方法包括：

步骤S110，在确定所述组装流水线的数量大于一条时，获取所述同类感测器的工位上的待测模组所对应的测试件在不同组装流水线上对应工位测试得到的特征值。

具体地，用户可设定组装流水线的数量，比如工厂中实际有8条流水线，用户可只对其中4条流水线的感测器进行校准，那么用户将不同工序的待测模组对应的测试件放置在需要测试的4条流水线对应的工序上，并利用感测器检测，获得相应的测试特征值，以该组装流水线包括三个工序为例进行说明，三个工序中每个工序各自对应有4个测试特征值。需要说明的是，测试件可以是标准件也可以是待测件，当测试件是标准件时，可以在4条流水线的同一工序上同时放置标准件，然后同时获取到该工序对应的4个测试特征值；当测试件是待测件时，可以将该待测件依次放置在4条流水线的同一工序上，依次获取到该工序对应的4个测试特征值。

步骤S210，根据所述不同组装流水线上同类多个感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，计算获得第二逻辑值。

具体地，可以将各条流水线各工序对应的测试特性值上传计算机集成制造(Contemporary Integrated Manufacturing，CIM)系统，存储数据并计算各工序，也即同类产品(原材BLU/显示面板Panel/显示模组成品LCM/TPM)的性能平均值，该性能平均值作为第二逻辑值来与各感测器测试获得特征值进行比对。

步骤S310，根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值。

仍以4条流水线上的原材BLU工序进行说明，计算获得4个测试特征值的平均值后，将该平均值和每一条流水线上原材BLU工序测得的测试特征值进行比对，从而可以分别获得每一条流水线上原材BLU工序上感测器的校准值，将其设定为第二校准值。比如，第一条流水线上原材BLU工序的第二校准值为原材BLU工序测试特征值的平均值与第一条流水线原材BLU工序对应的测试特征值的差值。

步骤S410，根据所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值，校准所述待测模组在所述不同组装流水线上对应的感测器的工位测试得到的特征值。

进一步地，在一实施方式中，所述步骤S410具体包括：根据所述待测模组在所述不同组装流水线上对应的感测器的工位测试得到的特征值和所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值之间的预设公式，计算获得实际输出特征值。比如，将测试获得第一流水线原材BLU工序上的原材BLU的特征值与对应该流水线原材BLU工序的第二校准值相乘除或相加减，从而获得第一流水线原材BLU校准后的特征值，将其设定为实际输出特征值，将该实际输出特征值输出至CIM系统，并存储。

本发明提出的技术方案中，对于多条流水线的模组组装，试产前，先将测试件放置于同一类型的感测器进行性能检测，同一类型的传感器将对应获得多个特征值，通过一定的运算得到第二逻辑值，然后对比该第二逻辑值与各流水线上各工位上测得的测试特征值，得到差异值作为各流水线各工位的第二校准值，用来自动校准各个感测器的实际输出值。本发明在不影响流水线上机台和设备的正常运行情况下，实现了对多条流水线的多台感测器的自动校准，减小了实际输出特征值的误差，确保了感测器在运行过程中相对准确度的自动维护，提高了实际生产过程中修正的及时性。

进一步地，参照图6，为基于图4的组装流水线，本发明感测器的自动校准方法的第二实施例，所述步骤S310，根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值之后还包括步骤：

步骤S510，检测所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值是否超出第二预设范围；

步骤S610，在任一所述组装流水线的任一感测器的工位所对应的第二校准值超出所述第二预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

当第二校准值超出第二预设范围时，说明感测器的测试误差较大，输出的特征值不可靠，此时对应的感测器需要停机并进行检修。

在本实施例中，若任一组装流水线的任一感测器所对应的第二校准值超出第二预设范围，该工序自动进行报警处理，即可及时反馈原料/半成品/成品(比如原材BLU/显示面板Panel/显示模组成品LCM/TPM)的性能异常现象。

本发明还提供一种光学感测器，该光学感测器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一实施例中的感测器的自动校准方法的步骤。

具体地，所述处理器执行所述计算机程序时用于实现如下步骤：

步骤S100，在模组组装的生产流程中，获取待测模组对应的测试件在同类多个感测器上测试得到的多个特征值；

步骤S200，根据同类多个感测器测试对应的测试件得到的多个特征值，计算获得第一逻辑值；

步骤S300，根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值；

步骤S400，根据同类各台感测器所对应的第一校准值，校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值。

在一实施例中，步骤S400中的校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值具体为：

根据所述待测模组在所述组装流水线上对应工位的感测器测试得到的特征值和该工位对应的感测器所对应的第一校准值之间的预设公式，计算获得实际输出特征值。

本发明提出的技术方案中，对于具有同类型多个感测器的流水线的模组组装，试产前，先将测试件放置于同一类型的感测器进行性能检测，同一类型的传感器将对应获得多个特征值，通过一定的运算得到逻辑值，然后对比该逻辑值与流水线上对应工位上测得的特征值，得到差异值作为流水线对应感测器的校准值，用来自动校准各个感测器的实际输出值。本发明在不影响流水线上机台和设备的正常运行情况下，实现了对流水线的多台感测器的自动校准，减小了实际输出特征值的误差，确保了感测器在运行过程中相对准确度的自动维护，提高了实际生产过程中修正的及时性。

进一步地，所述处理器在执行所述计算机程序时，在所述步骤S300之后还包括：

步骤S500，检测各台感测器所对应的第一校准值是否超出第一预设范围；

步骤S600，在任一感测器所对应的第一校准值超出所述第一预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

在本实施例中，若任一感测器所对应的第一校准值超出第一预设范围，该工序自动进行报警处理，即可及时反馈原料/半成品/成品(比如原材BLU/显示面板Panel/显示模组成品LCM/TPM)的光学性能异常现象。

具体地，所述处理器执行所述计算机程序时用还于实现如下步骤：

步骤S110，获取所述同类感测器的工位上的待测模组所对应的测试件在不同组装流水线上对应工位测试得到的特征值；

步骤S210，根据所述不同组装流水线上同类多个感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，计算获得第二逻辑值；

步骤S310，根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值；

步骤S410，根据所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值，校准所述待测模组在所述不同组装流水线上对应的感测器的工位测试得到的特征值。

进一步地，所述处理器在执行所述计算机程序时，在所述步骤S310之后还包括：

步骤S510，检测所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值是否超出第二预设范围；

步骤S610，在任一所述组装流水线的任一感测器的工位所对应的第二校准值超出所述第二预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例中的感测器的自动校准方法的步骤。

在本说明书的描述中，参考术语“一实施例”、“另一实施例”、“其他实施例”、或“第一实施例～第X实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料、方法步骤或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。

Claims (7)

1.一种感测器的自动校准方法，所述感测器用于检测产品的组装流水线上同类感测器的工位下的待测模组的特征值，其特征在于，所述自动校准方法包括以下步骤：

在模组组装的生产流程中，获取待测模组对应的测试件在同类多个感测器上测试得到的多个特征值；

根据同类多个感测器测试对应的测试件得到的多个特征值，计算获得第一逻辑值；

根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值；

根据同类各台感测器所对应的第一校准值，校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值。

2.如权利要求1所述的感测器的自动校准方法，其特征在于，所述根据所述第一逻辑值与同类各台感测器测试对应的测试件得到的特征值，计算各台感测器所对应的第一校准值之后还包括步骤：

检测各台感测器所对应的第一校准值是否超出第一预设范围；

在任一感测器所对应的第一校准值超出所述第一预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

3.如权利要求1所述的感测器的自动校准方法，其特征在于，所述校准待测模组在生产工艺中对应的感测器测试得到的特征值具体为：

根据所述待测模组在所述组装流水线上对应工位的感测器测试得到的特征值和该工位对应的感测器所对应的第一校准值之间的预设公式，计算获得实际输出特征值。

4.一种感测器的自动校准方法，所述感测器用于检测产品的组装流水线上同类感测器的工位下的待测模组的特征值，其中，所述组装流水线的数量大于一条，其特征在于，所述自动校准方法包括以下步骤：

获取所述同类感测器的工位上的待测模组所对应的测试件在不同组装流水线上对应工位测试得到的特征值；

根据所述不同组装流水线上同类多个感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，计算获得第二逻辑值；

根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值；

根据所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值，校准所述待测模组在所述不同组装流水线上对应的感测器的工位测试得到的特征值。

5.如权利要求4所述的感测器的自动校准方法，其特征在于，所述根据所述第二逻辑值与所述不同组装流水线上同类各感测器的工位下测试对应的测试件得到的特征值，获取所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值之后还包括步骤：

检测所述不同组装流水线的同类各感测器的工位所对应的第二校准值是否超出第二预设范围；

在任一所述组装流水线的任一感测器的工位所对应的第二校准值超出所述第二预设范围时，发出报警信号，或启动预设的特定动作。

6.一种感测器，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5中任一项所述的感测器的自动校准方法的步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的感测器的自动校准方法的步骤。