CN113252095B - 一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 - Google Patents
一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113252095B CN113252095B CN202110485614.3A CN202110485614A CN113252095B CN 113252095 B CN113252095 B CN 113252095B CN 202110485614 A CN202110485614 A CN 202110485614A CN 113252095 B CN113252095 B CN 113252095B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- standard
- station
- workpieces
- workpiece
- stations
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D11/00—Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mobile Radio Communication Systems (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
本发明提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置,所述方法包括以下步骤:S1、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为第一标准工件时,使第一标准工件停止流动;S2、获取其它工位上的工件的类型,若为第一标准工件,则执行S3,否则执行S4;S3、使其它工位上的第一标准工件停止流动;S4、使没有检测到第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为第一标准工件;对各工位上的第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;将第一标准工件放行;获取各工位的第二测试结果;判断各工位的测试结果是否准确。本方法缩短了并行工位校验的时间。
Description
技术领域
本发明涉及工件测试技术领域,特别涉及一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置。
背景技术
并行工位在生产过程中效率高,工位之间独立工作,互不干扰。并行工位的流转路线如图1所示,被测产品通过传送带进入并行工位,工位1、2、3组成一个测试站,被测工件可能会遇到以下几种状态:
一、被测工件在本站测量,工位1、2、3中至少有一个空闲状态,被测产品进入空闲工位进行测量。
二、被测工件在本站测量,工位1、2、3中没有空闲状态,被测工件在本站入口处排队等待,直到工位1、2、3中任意一个工位出现空闲,被测工件自动进入空闲工位进行测量。
三、被测工件不在本站测量,被测量工件通过空闲工位流出本站,如果所有工位没有空闲状态,被测工件在本站入口排队等待,直至工位1、2、3中任意一个工位出现空闲,被测工件通过该空闲工位流出本站。
为了保证测试用的仪器仪表测试结果的准确性,在规定的时间间隔内或交接班时,需要对并行工位中的各工位上的仪器仪表进行校验,用来校验的标准工件称为“Master”,一般对于一种仪器仪表有两种类型的Master,分别为“OK Master”和“NGMaster”,即合格标准工件和不合格标准工件。OK Master通过工位对仪器仪表进行校验时,仪表的测试结果为“合格”。NG Master通过工位对仪器仪表进行校验时,仪表的测试结果为“不合格”。
标准工件由操作人员在上料工位上料,自动进入测试站进行校验。由于并行线的并行结构设计,标准工件进入的工位具有随机性,这样导致某一个工位可能被同一类型的标准工件校验多次,而有的工位一直没有标准工件流入进行校验,最终导致并行工位的校验时间较长。
发明内容
本发明提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置,以解决并行工位的校验时间较长的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述方法包括以下步骤:
S1、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,则执行S3,否则执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S5、重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
S6、对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
S7、将各工位上的所述第一标准工件放行;
S8、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,则执行S10,否则执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S12、重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
S13、对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
S14、根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
可选的,所述S6具体包括:同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
所述S7具体包括:同时将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述S13具体包括:同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。
可选的,所述第一标准工件的数量、所述第二标准工件的数量和所述工位的数量相等。
可选的,所述并行工位包括流入传送带和流出传送带,所述流入传送带用于将工件输送至工位上,所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:
将多个所述第一标准工件依次放入所述流入传送带;
将多个所述第二标准工件依次放入所述流入传送带。
可选的,所述并行工位包括流入传送带和流出传送带,所述流入传送带用于将工件输送至工位上,所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:
将多个所述第一标准工件和多个所述第二标准工件按照随机顺序放入所述流入传送带。
可选的,所述S1具体包括:
利用射频识别技术获取各工位上的工件的类型。
本发明还提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述装置包括以下模块:
获取模块,用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S2;
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,所述获取模块还用于执行S3,否则所述获取模块还用于执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
测试模块,用于对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
放行模块,用于将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述获取模块还用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S9;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,所述获取模块还用于执行S10,否则所述获取模块还用于执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
所述测试模块还用于对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
所述测试模块还用于根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
可选的,所述测试模块用于同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
所述放行模块用于同时将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述测试模块还用于同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。
可选的,所述装置还包括射频识别模块,所述射频识别模块用于利用射频识别技术分别获取各工位上的工件的类型。
本发明提供的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置,可以使并联的各工位上尽快流入标准工件,缩短了并行工位校验的时间,提高了并行工位的设备利用率。
附图说明
图1是本发明一实施例提供的测试站示意图;
图2是本发明一实施例提供的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法流程图。
[附图标记说明如下]:
10-流入传送带;20-流出传送带。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
参考图1和图2所示,本实施例提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,所述方法的执行主体可以是计算机,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述方法包括以下步骤:
S1、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
工件上可以粘贴电子标签,电子标签上注明工件的类型,计算机可以通过射频识别技术(Radio Frequency Identification,RFID)获取电子标签上的信息,从而获取工件的类型。当第一标准工件是合格标准工件时,第二标准工件是不合格标准工件,当第一标砖工件是不合格标准工件时,第二标准工件是合格标准工件。图1中,被校验的工位包括工位1、工位2和工位3;流入传送带10用于流入工件;流出传送带20用于流出工件。工件通常放在托盘上,工位上可以设置顶升气缸用于控制托盘停止或继续流动。在其它实施例中,也可以通过控制工位本身的传动来控制工件停止或继续流动。图2中的空心箭头表示工件的流动方向。
当被测试站处于校验测量模式时,如果有空闲空位,不属于该模式下的工件会通过被测试站的空闲工位流出该站。如果所有工位都处在繁忙中,不属于该模式下的工件会在站外排队等待通过。
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,则执行S3,否则执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S5、重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
S6、对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
S7、将各工位上的所述第一标准工件放行;
S8、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,则执行S10,否则执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S12、重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
S13、对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
S14、根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
当第一测试结果、第二测试结果均和被测试的标准工件的类型一致,表示工位的仪器仪表的测试结果准确;当第一测试结果或第二测试结果有一个和被测试的标准工件的类型不一致,表示工位的仪器仪表的测试结果不准确。
本实施例提供的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,可以使并联的各工位上尽快流入标准工件,缩短了并行工位校验的时间,提高了并行工位的设备利用率。
可选的,所述S6具体包括:同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;所述S7具体包括:同时将各工位上的所述第一标准工件放行;所述S13具体包括:同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。同时对各工位上的第一标准工件或第二标准工件进行测试、同时放行已经检测完的标准工件,可以缩短并行工位校验的时间。在其它实施例中,这3个步骤中的动作也可以不同时。
可选的,所述第一标准工件的数量、所述第二标准工件的数量和所述工位的数量相等。由于并联的各工位停放有相同类型的标准工件才进行校验,所以合格标准工件的数量、不合格标准工件的数量和工位的数量可以相等,不用配置过多的标准工件。
可选的,如图1所示,所述并行工位包括流入传送带10和流出传送带20,所述流入传送带10用于将工件输送至工位上,所述流出传送带20用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:将多个所述第一标准工件依次放入所述流入传送带10;将多个所述第二标准工件依次放入所述流入传送带10。这样可以使多个第一标准工件流入并行工位进行校验,然后使多个第二标准工件流入并行工位进行校验,减小了检验时间。
可选的,如图1所示,所述并行工位包括流入传送带10和流出传送带20,所述流入传送带10用于将工件输送至工位上,所述流出传送带20用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:将多个所述第一标准工件和多个所述第二标准工件按照随机顺序放入所述流入传送带10。本实施例提供的校验时间虽然比上个实施例的校验时间长,但是比现有技术的校验时间短。上料顺序的随机性,方便了上料人员的上料过程。
例如,如图1所示,测试站有3个工位需要测试标准工件,共有3个OK Master和3个NG Master。OK Master对应的测试结果为“合格”,NG Master对应的测试结果为“不合格”。操作员可以在上料工位即流入传送带10按照随机的顺序上6个标准工件。由于流入传送带10的首端与流出传送带20的末端通常相互连接,标准工件可以在流入传送带10、并行工位、流出传送带20之间循环流动,直至校验结束后,再将标准工件从上料工位移出。
基于与上述一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法相同的技术构思,本实施例还提供了一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述装置包括以下模块:
获取模块,用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S2;
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,所述获取模块还用于执行S3,否则所述获取模块还用于执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
测试模块,用于对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
放行模块,用于将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述获取模块还用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S9;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,所述获取模块还用于执行S10,否则所述获取模块还用于执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
所述测试模块还用于对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
所述测试模块还用于根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
本实施例提供的一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,可以使并联的各工位上尽快流入标准工件,缩短了并行工位校验的时间,提高了并行工位的设备利用率。
可选的,所述测试模块用于同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;所述放行模块用于同时将各工位上的所述第一标准工件放行;所述测试模块还用于同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。同时对各工位上的第一标准工件或第二标准工件进行测试、同时放行已经检测完的标准工件,可以缩短并行工位校验的时间。
可选的,所述装置还包括射频识别模块,所述射频识别模块用于利用射频识别技术分别获取各工位上的工件的类型。利用射频技术可以实现远程自动获取各工件的类型。
综上所述,本发明提供的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置,可以使并联的各工位上尽快流入标准工件,缩短了并行工位校验的时间,提高了并行工位的设备利用率。
上述实施例对一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置的不同方案进行了详细说明,当然,本发明包括但不局限于上述实施中所列举的方案,任何在上述实施例提供的方案基础上进行变换的内容,均属于本发明所保护的范围。本领域技术人员可以根据上述实施例的内容举一反三。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述,并非对本发明范围的任何限定,本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述方法包括以下步骤:
S1、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,则执行S3,否则执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S5、重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
S6、对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
S7、将各工位上的所述第一标准工件放行;
S8、获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,则执行S10,否则执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
S12、重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
S13、对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
S14、根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
2.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述S6具体包括:同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
所述S7具体包括:同时将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述S13具体包括:同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。
3.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述第一标准工件的数量、所述第二标准工件的数量和所述工位的数量相等。
4.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述并行工位包括流入传送带和流出传送带,所述流入传送带用于将工件输送至工位上,所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:
将多个所述第一标准工件依次放入所述流入传送带;
将多个所述第二标准工件依次放入所述流入传送带。
5.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述并行工位包括流入传送带和流出传送带,所述流入传送带用于将工件输送至工位上,所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外,所述S1之前还包括以下步骤:
将多个所述第一标准工件和多个所述第二标准工件按照随机顺序放入所述流入传送带。
6.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法,其特征在于,所述S1具体包括:
利用射频识别技术获取各工位上的工件的类型。
7.一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,其特征在于,所述并行工位包括两个以上并联的工位,所述标准工件包括两种类型,两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件,每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量,所述装置包括以下模块:
获取模块,用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时,使工位上的所述第一标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S2;
S2、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第一标准工件,若为所述第一标准工件,所述获取模块还用于执行S3,否则所述获取模块还用于执行S4,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位;
S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动;
S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S2~S4,直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件;
测试模块,用于对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
放行模块,用于将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述获取模块还用于获取各工位上的工件的类型,当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时,使工位上的所述第二标准工件停止流动;
所述获取模块还用于执行S9;
S9、获取其它工位上的工件的类型,判断是否为所述第二标准工件,若为所述第二标准工件,所述获取模块还用于执行S10,否则所述获取模块还用于执行S11,其中,其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位;
S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动;
S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动;
所述获取模块还用于重复执行S9~S11,直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件;
所述测试模块还用于对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果;
所述测试模块还用于根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型,判断各工位的测试结果是否准确。
8.如权利要求7所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,其特征在于,所述测试模块用于同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试,并获取各工位的第一测试结果;
所述放行模块用于同时将各工位上的所述第一标准工件放行;
所述测试模块还用于同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试,并获取各工位的第二测试结果。
9.如权利要求7所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的装置,其特征在于,所述装置还包括射频识别模块,所述射频识别模块用于利用射频识别技术分别获取各工位上的工件的类型。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110485614.3A CN113252095B (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110485614.3A CN113252095B (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113252095A CN113252095A (zh) | 2021-08-13 |
CN113252095B true CN113252095B (zh) | 2022-08-12 |
Family
ID=77223816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110485614.3A Active CN113252095B (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113252095B (zh) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08257880A (ja) * | 1995-03-23 | 1996-10-08 | Yazaki Corp | ライン上のワーク搬送方法および搬送装置 |
CN201438214U (zh) * | 2009-07-22 | 2010-04-14 | 广州市格宁电气有限公司 | 一种用于电能表检验的多表并行检验装置 |
WO2010073919A1 (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-01 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 試験装置の制御方法 |
CN105783971A (zh) * | 2016-04-29 | 2016-07-20 | 国家电网公司 | 一种计量器具自动化检定流水线 |
CN107478260A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-12-15 | 武汉华显光电技术有限公司 | 计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法 |
CN110132166A (zh) * | 2019-05-05 | 2019-08-16 | 广州佳帆计算机有限公司 | 一种可自动配光的产品图像检测方法及比对装置 |
-
2021
- 2021-04-30 CN CN202110485614.3A patent/CN113252095B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08257880A (ja) * | 1995-03-23 | 1996-10-08 | Yazaki Corp | ライン上のワーク搬送方法および搬送装置 |
WO2010073919A1 (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-01 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 試験装置の制御方法 |
CN201438214U (zh) * | 2009-07-22 | 2010-04-14 | 广州市格宁电气有限公司 | 一种用于电能表检验的多表并行检验装置 |
CN105783971A (zh) * | 2016-04-29 | 2016-07-20 | 国家电网公司 | 一种计量器具自动化检定流水线 |
CN107478260A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-12-15 | 武汉华显光电技术有限公司 | 计算机可读存储介质、感测器及其自动校准方法 |
CN110132166A (zh) * | 2019-05-05 | 2019-08-16 | 广州佳帆计算机有限公司 | 一种可自动配光的产品图像检测方法及比对装置 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
Capacity failure rate based opportunistic maintenance modeling for series- parallel multi-station manufacturing systems;Zhou Xiaojun等;《Reliability Engineering & System Safety》;20191231(第JANa期);第46-53页 * |
IC测试多工位防呆技术的研究与实现;刘成惠;《工业控制计算机》;20170625(第06期);全文 * |
基于全局空闲工位优先的机动车检测调度算法;刘晓鑫等;《计算机工程与设计》;20200316(第03期);全文 * |
多工位壳体零件微机检测系统的研制;冯萍等;《交通与计算机》;19980830(第04期);全文 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113252095A (zh) | 2021-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100442069C (zh) | 同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法 | |
CN101556303B (zh) | 整合无线射频识别的晶片测试系统及其测试方法 | |
CN113252095B (zh) | 一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置 | |
CN215067073U (zh) | 用于半导体芯片的探针卡及晶圆测试装置 | |
CN102446557A (zh) | 一种芯片和一种芯片并行测试的方法 | |
CN104677653A (zh) | 一种自动测试系统 | |
CN212160007U (zh) | 一种自动化芯片测试装置 | |
CN203643181U (zh) | 一种自动测试设备 | |
US20170227600A1 (en) | Multiple Rate Signature Test to Verify Integrated Circuit Identity | |
CN110021334B (zh) | 一种晶圆测试方法 | |
CN108792563B (zh) | 一种集成电路板自动测试设备及其测试方法 | |
CN214173417U (zh) | 一种传感器芯片标定测试调度装置 | |
CN110556600B (zh) | 制造控制系统及方法 | |
CN112325920B (zh) | 一种传感器芯片标定测试调度方法及系统 | |
CN210171975U (zh) | 触控元件自动电测机 | |
CN108789405B (zh) | 一种基于六轴机械臂的自动测试路径规划方法及其系统 | |
US20150192638A1 (en) | Semiconductor test device and method of operating the same | |
CN113909945B (zh) | 一种主动寻位安装托板单元及其加工质量控制方法 | |
CN205049697U (zh) | Led芯片光电参数差异的测量工具 | |
JP3316075B2 (ja) | Ic試験装置用オートハンドラ | |
US10126351B2 (en) | Systems and methods for placement of singulated semiconductor devices for multi-site testing | |
EP3842883B1 (en) | Production equipment system and production method | |
CN112804704A (zh) | 一种wifi模块自动测试设备及测试方法 | |
CN104597342A (zh) | 点阵结构体测试机多工位单型号多步骤测试方法 | |
CN118034192A (zh) | 法兰后处理系统及方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |