KR20070017858A - Probe assembly for a tester of the liquid crystal display - Google Patents

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KR20070017858A
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Abstract

본 발명은 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 프로브 블록의 프로브를 각각 전후단의 수평과 수직방향으로 입, 출력단을 갖는 다각형상의 본체를 2층 구조로 대향 형성하여 배열하되, 상기 프로브중 손상된 프로브만을 교체 가능하도록 구성함은 물론 상기 프로브 블록(3)은 전방으로 체결부(82)를 형성하여 체결구(85)로 조절장치의 지지블록에 전방에서 후방으로 체결 고정하고, 상기 프로브(50)는 그 입력단(52a)이 TCP블록(2)과 수직방향으로 접촉되게 연결되어서 전방에서 차례를 분해, 조립이 가능한 프로브 조립체를 제공하므로서; 프로브 간격(Pitch) 및 위치를 더욱 미세하고 정밀하게 배열하여 고정 설치하여서 고밀도의 프로브 블록을 제공하여 검사 정밀도를 극대화하고, 또한 상기 프로브 블록을 전방에서 간편하게 분해, 조립할 수 있도록 함은 물론 상기 프로브중 손상된 프로브만을 용이하게 교체 사용할 수 있어 작업성 및 경제성을 극대화하는데 그 특징이 있다.The present invention relates to a probe assembly for a liquid crystal display inspector, and in more detail, the probe of the probe block is arranged in a two-layer structure in which a polygonal main body having an input and an output end in the horizontal and vertical directions of the front and rear ends thereof is formed to face each other. Of the probes configured to replace only the damaged probes, as well as the probe block (3) to form a fastening portion 82 to the front fastening fixed to the support block of the adjustment device from the front to the rear with a fastener 85, The probe 50 is connected to the input terminal 52a in vertical contact with the TCP block 2 to provide a probe assembly capable of disassembling and assembling a turn from the front; By arranging and fixing the probe pitch and position more finely and precisely, the probe block of high density is provided to maximize the inspection accuracy, and also the probe block can be easily disassembled and assembled from the front. Only damaged probes can be easily replaced and used to maximize workability and economy.

액정디스플레이, 검사기, 프로브, 블레이드, 절연, 입, 출력단 LCD, Inspector, Probe, Blade, Insulation, Input, Output

Description

액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체{PROBE ASSEMBLY FOR A TESTER OF THE LIQUID CRYSTAL DISPLAY}PROBE ASSEMBLY FOR A TESTER OF THE LIQUID CRYSTAL DISPLAY}

도 1은 종래의 프로브 조립체를 보여주는 분해 사시도.1 is an exploded perspective view showing a conventional probe assembly.

도 2는 도 1의 측면도.2 is a side view of FIG. 1;

도 3은 종래의 프로브 입, 출력단의 접촉 예를 보여주는 구성도.Figure 3 is a block diagram showing an example of contact of the conventional probe input and output terminals.

도 4는 본 발명의 프로브 블록을 보여주는 외관 사시도.Figure 4 is an external perspective view showing a probe block of the present invention.

도 5a는 본 발명의 일부를 분해한 프로브 조립체를 보여주는 분해 사시도.5A is an exploded perspective view showing a probe assembly disassembled a portion of the invention.

도 5b는 도 5a의 요부 발췌 확대도Figure 5b is an enlarged view of the main portion excerpt of Figure 5a

도 6은 본 발명의 요부를 분해, 결합한 상태의 사시도.6 is a perspective view of a state in which the main part of the present invention is disassembled and combined.

도 7은 본 발명의 프로브 블록을 보여주는 단면도.7 is a cross-sectional view showing a probe block of the present invention.

도 8은 본 발명의 프로브 입, 출력단의 수평과 임의의 각(수직)을 가지는 접촉예를 보여주는 구성도,8 is a block diagram showing a contact example having a horizontal and an arbitrary angle (vertical) of the probe input and output terminals of the present invention,

도 9는 도 7의 "G"부분을 확대한 확대도.9 is an enlarged view illustrating an enlarged portion “G” of FIG. 7.

도 10은 도 7의 "H"부분을 확대한 확대도.10 is an enlarged view illustrating an enlarged portion “H” of FIG. 7.

도 11은 도 7의 "I"부분을 확대한 확대도.FIG. 11 is an enlarged view of a portion “I” of FIG. 7 enlarged; FIG.

도 12는 본 발명의 사용상태를 보여주는 측면도.12 is a side view showing a state of use of the present invention.

** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **** Description of symbols for the main parts of the drawing **

3: 프로브 블록 50: 프로브3: probe block 50: probe

52: 프로브 본체 52a, 52b: 입, 출력단52: probe body 52a, 52b: input and output terminals

53: 내측요홈 55: 핀공53: inner groove 55: pin hole

57: 외측요홈 63: 절연봉57: outer groove 63: insulating rod

65: 절연핀 67: 지지구65: insulation pin 67: support

68,69: 절연슬릿 70: 측면판68, 69: insulation slit 70: side plate

80: 지지몸체 85: 체결구80: support body 85: fastener

본 발명은 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 세팅되는 다수의 프로브 간격을 더욱 미세하고 정밀하게 그리고 간편하게 배열되도록 설치함은 물론 사용중 손상된 프로브만을 교체할 수 있도록 하므로서, 고밀도의 패널 검사는 물론 그 검사 정밀도를 극대화하고 작업성 및 경제성을 극대화하는 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체에 관한 것이다.The present invention relates to a probe assembly for a liquid crystal display inspector, and more particularly, to install a plurality of probe intervals to be set more finely, precisely and easily, as well as to replace only damaged probes during use, and thus, a high density panel. As well as inspection, the present invention relates to a probe assembly for a liquid crystal display inspector that maximizes inspection precision and maximizes workability and economy.

최근에 이르러 TV, 컴퓨터 모니터, 핸드폰 등과 같은 가전제품의 영상 표시장치로서 액정디스플레이(LCD)가 주로 사용되고 있는 추세이다.Recently, liquid crystal displays (LCDs) are mainly used as image display devices of home appliances such as TVs, computer monitors, and mobile phones.

이러한 액정디스플레이 패널은 두개의 어레이 기판과 컬러 기판이 액정을 사이에 두고 합착된 구조로서, 외부에서 인가되는 전압에 의해 액정의 전기 광학적인 특성을 사용하여 디스플레이하는 장치이다.The liquid crystal display panel is a structure in which two array substrates and a color substrate are bonded to each other with a liquid crystal interposed therebetween, and are displayed by using an electro-optical characteristic of the liquid crystal by a voltage applied from the outside.

이와 같은 액정디스플레이 패널은 제조완료 후, 가전제품에 장착하기 전에 제조 공정상 발생할 수 있는 결함(예를 들면, 점결함, 선결함, 얼룩결함 등)의 유무를 검사하는 출화검사과정을 거치게 된다.Such a liquid crystal display panel is subjected to a fire inspection test that inspects for the presence of defects (eg, point defects, predecessors, stain defects, etc.) that may occur in the manufacturing process after completion of manufacture and before mounting to home appliances.

이는 보통 액정디스플레이 패널 라인의 단선검사와 색상검사를 위해 프로브 조립체를 이용한 점등검사와, 그 밖의 현미경을 이용하여 육안검사를 행하게 된다.This is usually performed by the lighting test using the probe assembly and the visual inspection by using a microscope for the disconnection test and the color test of the liquid crystal display panel line.

상기한 검사장치에서 필수적으로 요구되는 프로브 조립체는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, LCD를 테스트하기 위한 소정의 신호를 발생시키는 신호 발생기로부터 Source/Gate PCB를 통해 소정의 신호를 전달받는 FPC(1)와, 상기 소정의 전기적 신호를 프로브의 입력단에 전달하는 TCP블록(2)과, LCD의 전극과 접촉하여 테스트를 위한 전기적신호를 인가하는 프로브의 집합체인 프로브블록(3)과, 상기 프로브블록(3)과 상기 TCP블록(2)을 결합하고 상기 프로브블록(3)의 프로브가 적당한 물리적 압력으로 LCD의 전극과 접촉하도록 상하로 이동 및 고정시키는 조절장치(4)를 포함하여 구성된다. The probe assembly, which is essentially required in the inspection apparatus, receives a predetermined signal through a source / gate PCB from a signal generator that generates a predetermined signal for testing the LCD, as shown in FIGS. 1 and 2. An FPC 1, a TCP block 2 for transmitting the predetermined electrical signal to an input terminal of the probe, a probe block 3 which is a collection of probes which contacts an electrode of the LCD and applies an electrical signal for a test; Combining the probe block 3 and the TCP block (2) and comprises an adjusting device (4) for moving and fixing up and down to contact the probe of the probe block 3 to the electrode of the LCD at a suitable physical pressure do.

상기에서, 프로브블록(3)은 몸체의 폭방향으로 입, 출력단을 갖는 다수의 프로브를 각각 절연되게 배열하여 고정 설치하도록 이루어진다.In the above, the probe block (3) is made to be fixed by arranging a plurality of probes each having an input and an output end insulated in the width direction of the body.

상기와 같이 사용되는 프로브는 니들형(Needle Type), 블레이드형(Blade Type), 포고형(Pogo Type), 그리고 반도체 MEMS 공정기술을 이용한 MEMS형(MEMS Type) 등이 있으며, 이중 가장 널리 이용되고 있는 것은 블레이드형 이다.Probes used as described above are needle type, blade type, pogo type, and MEMS type using semiconductor MEMS process technology. It is blade type.

그런데 상기한 종래의 프로브 조립체는 다음과 같은 문제점을 갖고 있었다.However, the above-described conventional probe assembly had the following problems.

첫째, 최근에 LCD가 고화질화 되어감에 따라 화소의 밀도가 증가하고 있어 이를 검사하기 위한 고밀도의 프로브 조립체가 요구되고 있으나 이에 한계를 갖고 있었다.First, recently, as the LCD has become higher in quality, the density of pixels has increased, so a high density probe assembly for inspecting the same has been required, but this has a limitation.

즉, 종래의 프로브 블록(3)은 다수의 프로브를 몸체상에 일렬로 배열하고 있고, 더우기 각 프로브는 에폭시로 고정 설치하는 구조를 갖고 있어 프로브간의 간격(Pitch) 및 위치를 미세하고 정밀하게 배열하여 설치하기 곤란한 문제점이 있었다.That is, the conventional probe block 3 arranges a plurality of probes in a row on the body, and furthermore, each probe has a structure that is fixedly fixed with epoxy so that the pitch and position between the probes are finely and precisely arranged. There was a problem that is difficult to install.

특히, 블레이드형 프로브의 경우에는 단층구조의 형상으로 더욱 곤란하여 현실적으로 45㎛ 이하의 간격으로 고정 설치함이 곤란하였다.In particular, in the case of the blade-type probe, it is more difficult in the form of a single layer structure, and in reality, it is difficult to fix and install at intervals of 45 μm or less.

둘째, 상기 프로브는 몸체상에 에폭시로 고정하는 구조를 갖기 때문에 개별적인 프로브의 손상시 그 손상된 프로브만의 교체가 곤란하여 프로브 블록 전체를 교체해야되는 비 경제적인 문제점이 있었다.Secondly, since the probe has a structure to be fixed with epoxy on the body, it is difficult to replace only the damaged probe when the individual probe is damaged, so that the entire probe block has to be replaced.

셋째, 상기 프로브 블록(3)은 장치의 점검, 보수시 그 분해, 조립에 따른 작업이 매우 불편하였다.Third, the probe block 3 was very inconvenient for its disassembly and assembly during inspection and maintenance of the device.

다시말해, 상기 프로브 블록(3)은 TCP블록(2)과 함께 조절장치(4)의 하부에 결합된 지지블록(5)의 하부에서 수직 방향으로 각각 결합된다.In other words, the probe blocks 3 are respectively coupled in the vertical direction at the bottom of the support block 5 coupled to the bottom of the adjusting device 4 together with the TCP block 2.

따라서, 상기 프로브 블록(3)을 분해하기 위해서는 조절장치와 지지블록을 분해하고, 다시 지지블록에서 프로브블록과 TCP블록을 분해하여야 하며, 특히 상기 분해되는 구조가 체결볼트를 수직방향에서 분해하므로 전방의 작업자가 작업을 행하기에는 매우 불편하였다.Therefore, in order to disassemble the probe block 3, it is necessary to disassemble the adjusting device and the support block, and then disassemble the probe block and the TCP block from the support block, and in particular, since the disassembled structure disassembles the fastening bolt in the vertical direction, It was very inconvenient for the worker to work.

뿐만아니라, 상기 프로브는 도 3에 도시된 바와 같이, 그 입, 출력단이 수평 구조로 형성되어 있어 TCP블록을 상하 방향에서 조립하기 때문에 이 또한 조립, 분해작업을 불편하게 제공하는 문제점이 있었다.In addition, the probe has a problem in that the input and output terminals are formed in a horizontal structure as shown in FIG.

본 발명은 상기한 종래 기술이 갖는 제반 문제점을 근본적으로 해결하고자 연구 개발된 것으로서, 프로브 간격(Pitch) 및 위치를 더욱 미세하고 정밀하게 배열하여 고정 설치하도록 함으로서, 고밀도의 프로브 블록을 제공하여 검사 정밀도를 극대화하도록 하는데 그 목적이 있다.The present invention has been researched and developed in order to fundamentally solve all the problems of the prior art, by providing a probe block of high density by precisely arranging probe pitch and position more precisely, providing a high-density probe block The purpose is to maximize.

또한, 본 발명은 상기 프로브의 손상 부분만을 용이하게 교체 사용할 수 있도록 함은 물론 프로브 블록을 전방에서 작업자가 간편하게 분해, 조립할 수 있도록 하므로서 작업성 및 경제성을 극대화하는데 그 목적이 있다.In addition, the present invention has an object to maximize the workability and economical efficiency by allowing the operator to easily disassemble and assemble the probe block from the front as well as to easily replace only the damaged portion of the probe.

이러한 본 발명의 목적은, 프로브 블록의 프로브를 각각 전후단의 수평과 수직방향으로 입, 출력단을 갖는 다각형상의 본체를 2층 구조로 대향 형성하여 배열하되, 상기 프로브중 손상된 프로브만을 교체 가능하도록 구성함은 물론 상기 프로브 블록은 전방으로 체결부를 형성하여 체결구로 조절장치의 지지블록에 전방에서 후방으로 체결 고정하고, 상기 프로브는 그 입력단이 TCP블록과 수직방향으로 접촉되게 연결되어서 전방에서 차례로 분해, 조립이 가능한 프로브 조립체에 의해 달성된다.The object of the present invention is to arrange the probe block of the probe block in the horizontal and vertical direction of the front and rear ends, respectively, to form a polygonal body having a two-layer structure facing each other, it is configured to replace only the damaged probe of the probe Of course, the probe block is fastened to form a fastening portion to the front to the fastening fastening from the front to the rear of the support block of the adjusting device by the fastener, the probe is connected in contact with the vertical direction in the vertical direction with the TCP block, and in turn disassembled from the front, Assembly is accomplished by means of a probe assembly.

이하, 상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 구체적으로 살펴보기로 한다.Hereinafter, a preferred embodiment for achieving the above object of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 액정디스플레이 패널의 검사기에 적용되는 프로브 조립체는 도 4 내지 도 12에 도시된 바와 같이, 액정디스플레이 패널을 테스트하기 위한 소정의 전기적 신호를 전달받아 프로브의 입력단에 전달하는 FPC(1)와 TCP블록(2); LCD의 전극과 접촉하여 테스트를 위한 전기적신호를 인가하는 프로브의 집합체인 프로브블록(3); 상기 프로브블록(3)과 TCP블록(2)을 결합하고 상기 프로브블록(3)의 프로브가 적당한 물리적 압력으로 패널의 전극과 접촉하도록 상하로 이동 및 고정시키는 조절장치(4)를 포함하되, 상기 프로브블록은 지지몸체 하부에 전후로 입,출력단을 갖는 프로브를 다수 배열하여 고정 설치한 것에 있어서,As shown in FIGS. 4 to 12, the probe assembly applied to the inspector of the liquid crystal display panel of the present invention receives an electric signal for testing the liquid crystal display panel and transmits it to the input terminal of the probe. TCP block 2; A probe block (3), which is an assembly of probes which contacts an electrode of the LCD and applies an electrical signal for a test; And an adjusting device (4) for coupling the probe block (3) and the TCP block (2) and moving and fixing the probe block (3) up and down to contact the electrodes of the panel at a suitable physical pressure. Probe block is fixedly arranged by arranging a plurality of probes having an input and an output end before and after the support body,

상기 프로브 블록(3)의 프로브(50)는 각각 전, 후단의 수평의 출력단(52b)과 이 출력단에 대하여 예각 내지 둔각의 범위 내에서 형성되는 입력단(52a)을 갖는 다각형상의 본체(52)의 각 입력단(52a) 및 출력단(52b)이 2층 구조로 대향 배열하여 설치된다.The probe 50 of the probe block 3 has a polygonal main body 52 each having a front and rear horizontal output end 52b and an input end 52a formed within a range of acute or obtuse angles with respect to the output end. Each input terminal 52a and the output terminal 52b are provided in a two-layered structure facing each other.

이때, 상기 프로브(50)는 도면에 도시된 바와 같이, 전체적인 형상이 삼각 형태로 형성함이 바람직하다.In this case, the probe 50 is preferably formed in a triangular shape as a whole, as shown in the figure.

또한, 상기 각 프로브(50)의 본체(52)는 2층 구조로 대향 형성하되, 상부 본체의 입, 출력단(52a, 52b)이 전방에 하부 본체의 입, 출력단(52a, 52b)이 후방에 위치하도록 전후로 배열하거나, 상,하부 본체의 입, 출력단(52a, 52b)을 좌우로 이격시켜 좌우로 배열할 수도 있게 된다.In addition, the main body 52 of each of the probes 50 is formed to face each other in a two-layer structure, the input and output ends (52a, 52b) of the upper body to the front, the input and output ends (52a, 52b) of the lower body to the rear It may be arranged back and forth to position, or may be arranged to the left and right by separating the input and output terminals 52a and 52b of the upper and lower bodies from side to side.

상기 프로브(50)를 좌우로 배열하는 경우에는 25㎛이하의 미세 간격으로의 고정 설치가 가능하게 된다.When the probes 50 are arranged side to side, fixed installation at minute intervals of 25 μm or less is possible.

또한, 상기 프로브(50)를 프로브 블록(3) 상에 상호 절연되게 결합 설치하는 구조는 프로브의 본체(52) 내측으로 내측 요홈(53)과, 중앙으로 핀공(55) 및 외측으로 외측 요홈(57)을 대향 형성하여 절연봉(63), 절연핀(65), 상,하 지지구(67)를 각각 대향 삽입하여 그 좌우측에서 측면판(70)(70)에 의해 지지몸체(80) 상에 체결 고정하게 된다. In addition, the structure in which the probe 50 is installed to be mutually insulated on the probe block 3 has an inner groove 53 inside the main body 52 of the probe, a pin hole 55 in the center and an outer groove outside the center ( 57 is formed to face the insulating rod 63, the insulating pin 65, and the upper and lower supporters 67, respectively, and the upper and lower sides of the support body 80 by the side plates 70 and 70 on the left and right sides thereof. It is fixed to the fastener.

또한, 상기 프로브(50)는 프로브 본체(52) 외측의 외측 요홈(57)과 이에 삽입되는 지지구(67) 사이로 삽입되어 위치 결정되는 슬롯홈(68')(69')을 갖는 사이드 및 중앙의 절연슬릿(68)(69)을 삽입 설치하여 이룬다.In addition, the probe 50 has a side and a center having slot grooves 68 'and 69' which are inserted and positioned between the outer recess 57 outside the probe body 52 and the support 67 inserted therein. By inserting and installing the insulating slit (68, 69).

또한, 상기 프로브 블록(3)의 지지몸체(80)는 전방으로 체결부(82)를 형성하여 체결구(85)로 조절장치의 지지블록에 전방에서 후방으로 체결 고정하고, 상기 프로브(50)는 그 입력단(52a)이 TCP블록(2)과 수직방향으로 접촉되게 연결되어서 전방에서 차례로 분해, 조립이 가능하도록 구성된다.In addition, the support body 80 of the probe block (3) forms a fastening portion 82 to the front to fasten and fix the fastening from the front to the rear of the support block of the adjusting device by the fastener 85, the probe 50 The input terminal 52a is connected to be in contact with the TCP block 2 in the vertical direction, and is configured to be disassembled and assembled in order from the front.

이때, 상기 체결구(85)는 조절장치(4)의 지지블록에 내 삽입된 암너트에 볼트를 나합하고, 이에 체결되는 너트에 의해 지지몸체(80)를 체결 고정하게 된다.At this time, the fastener 85 is bolted to the female nut inserted in the support block of the adjusting device 4, and is fastened and fixed to the support body 80 by a nut fastened thereto.

본 발명의 프로브 블록(3)의 조립은, 상기 프로브(50)의 본체(52)를 2층 구조로 대향되게 위치시킨 상태로 상기 프로브의 내측 요홈(53)과, 중앙의 핀공(55) 및 외측 요홈(57)으로 각각 절연봉(63), 절연핀(65), 상하 지지구(67)를 삽입한 상태로 조립한다.In the assembly of the probe block 3 of the present invention, the inner groove 53 of the probe, the pin hole 55 in the center, and the main body 52 of the probe 50 are disposed to face each other in a two-layer structure. The insulating bar 63, the insulating pin 65, and the upper and lower support members 67 are respectively assembled into the outer grooves 57 in the inserted state.

이때, 상기 프로브(50)는 상부 본체(52)의 입, 출력단(52a, 52b)이 전방에 하부 본체의 입, 출력단이 후방에 위치하도록 전후로 배열하거나, 상,하부 본체(52)의 입, 출력단(52a, 52b)을 좌우로 이격시켜 좌우로 배열할 수도 있게 된다At this time, the probe 50 is arranged in front and rear so that the input and output terminals 52a and 52b of the upper body 52 are located at the rear and the input and output terminals of the lower main body at the front, or the upper and lower bodies 52 have the upper and lower ends. The output terminals 52a and 52b may be arranged side by side by spaced apart from side to side.

특히, 상기 프로브(50)의 간격을 더욱 미세하게 배열하고자 하는 경우에는 상, 하부 본체(52)의 입, 출력단(52a, 52b)이 좌, 우로 조밀한 엇갈림 배치에 의해 가능하게 된다.In particular, when the spacing of the probes 50 is to be arranged more finely, the input and output terminals 52a and 52b of the upper and lower main bodies 52 can be arranged by a tight staggered arrangement of left and right.

또한, 상기 프로브(50)는 본체(52) 외측의 외측 요홈(57)과 이에 삽입되는 지지구(67) 사이로 사이드 및 중앙의 절연슬릿(68)(69)을 삽입 설치하고, In addition, the probe 50 inserts and installs side and center insulating slits 68 and 69 between the outer recess 57 outside the main body 52 and the support 67 inserted therein.

더욱이, 상기 절연슬릿(68)(69)은 프로브(50)가 삽입되는 슬롯홈(68')(69')을 각각 형성하고 있기 때문에 프로브의 위치 결정은 물론, 프로브 상호간의 절연을 확실히 행하게 되는 것이다.Furthermore, since the insulating slits 68 and 69 respectively form slot grooves 68 'and 69' into which the probe 50 is inserted, it is possible to reliably not only position the probe but also insulate the probes from each other. will be.

상기와 같이 조립된 상태에서 프로브(50)의 좌, 우측의 측면판(70)(70)에 의해 지지몸체(80)상에 체결 고정하여 프로브 블록(3)을 구성하게 된다.In the assembled state as described above, the probe block 3 is configured by fastening and fixing on the support body 80 by the left and right side plates 70 and 70 of the probe 50.

이와 같이 조립된 본 발명의 프로브 블록(3)은 조립 및 분해는 도 12에 도시된 바와 같이, 상기 프로브 블록(3)의 지지몸체(80) 전방으로 형성된 체결부(82)에 의해 조절장치(4)의 지지블록 전방에서 후방으로 체결 고정하도록 하므로 가능하다.The probe block 3 of the present invention assembled as described above is assembled and disassembled as shown in FIG. 12, by the fastening part 82 formed in front of the support body 80 of the probe block 3. It is possible to fasten and fix the support block in front of the rear of 4).

이때, 상기 프로브 블록(3)의 각 프로브(50)는 도 8 내지 도 10을 참조하면, 그 입력단(52a)과 출력단(52b)이 TCP블록(2)과 액정디스플레이 패널 간의 접촉이 서로 방향성이 다른 상태로 접촉한 구성을 갖고 있다.8 to 10, the input terminal 52a and the output terminal 52b of the probe block 3 have a directional contact with each other between the TCP block 2 and the liquid crystal display panel. It has the structure which contacted in the other state.

다시 말하여, 상기 액정디스플레이 패널의 접촉단인 출력단(52b)의 수평방향 에 대하여 상기 입력단(52a)는 TCP블록(2)의 접촉방향이 예각에서 둔각방향인 임의의 각(A")(본 발명의 실시는 수직)으로 접촉하도록 구성함으로서, 프로브블록(3)을 상기 TCP블록(2)의 전방 측에서 분리 및 체결이 가능한 것이다.In other words, with respect to the horizontal direction of the output end 52b, which is the contact end of the liquid crystal display panel, the input end 52a has an arbitrary angle A ″ in which the contact direction of the TCP block 2 is an obtuse angle at an acute angle. The embodiment of the invention is configured to contact vertically, so that the probe block 3 can be separated and fastened at the front side of the TCP block 2.

따라서 상기 프로브 블록(3)은 지지몸체(80)의 전방으로 체결부(82)를 형성하여 체결구로 상기 조절장치(4)의 지지블록에 전방에서 후방으로 체결 고정하고, 상기 각 프로브(50)는 그 입력단(52a)이 TCP블록(2)과 예각 내지 둔각의 범위, 바람직하게는 수직방향으로 접촉되게 연결되어서 전방에서 차례로 분해, 조립이 가능하게 된다.Therefore, the probe block 3 forms a fastening portion 82 toward the front of the support body 80 to fasten and fix the fastening from the front to the back of the support block of the adjusting device 4 with the fastener, and each of the probes 50 The input terminal 52a is connected to the TCP block 2 in an acute to obtuse angle, preferably in a vertical direction, so that it can be disassembled and assembled in order from the front.

그리고, 본 발명의 프로브 블록(3)은 그 사용중 어느 하나의 프로브(50)에 손상이 발생되는 경우에 상기 손상된 프로브만의 교체 사용이 가능하여 매우 경제적이다.Further, the probe block 3 of the present invention is very economical because it is possible to replace and use only the damaged probe when damage occurs to any one of the probes 50 in use.

이를 구체적으로 살펴보면, 전술한 조립의 역순으로 프로브 블록(3)의 좌, 우 측면판(70)을 분리한 상태에서 다수의 프로브(50)를 배열한 프로브군의 프로브(50)들을 일측에서 차례로 분리하여 해당 손상된 것만을 교체하여 다시 조립하면 가능하게 되는 것이다.In detail, the probes 50 of the probe group in which the plurality of probes 50 are arranged in order from one side in a state in which the left and right side plates 70 of the probe block 3 are separated in the reverse order of the above-described assembly will be described. It will be possible to remove and replace only the damaged ones and reassemble them.

즉, 기존의 블레이드 타입의 경우에 있어, 절연봉이 다수의 프로브를 관통하여 배치된 구조를 갖고 있어 일부 프로브의 불량 및 손상에 따른 개별 교체작업 시에는 교체를 요하는 해당 프로브까지 절연봉을 이격 후 다시 삽입해야 불편한 단점이 있으나, 본 발명은 프로브(50)가 절연봉(63)의 표면과 결합된 구조를 갖고 있어, 교체해야 할 해당 프로브(50)만을 쉽게 분리하여 교체할 수 있다.That is, in the case of the existing blade type, the insulating rod has a structure arranged through a plurality of probes, so in the case of individual replacement work due to the failure and damage of some probes, the insulating rod is separated from the corresponding probe that needs to be replaced. Although it is inconvenient to be reinserted afterwards, the present invention has a structure in which the probe 50 is coupled to the surface of the insulating rod 63, so that only the corresponding probe 50 to be replaced can be easily separated and replaced.

특히, 프로브 본체(52)의 내측에 형성된 내측요홈(53)이 사각봉 형상의 절연봉(53)의 길이방향 모서리에 접하는 두변을 감싸는 상태로 대향으로 배치되는 표면 결합구조를 갖고 있어 각 프로브의 위치결정이 용이하고, 대향으로 배치되는 프로브(50)의 각 본체(52)를 상기 절연봉(63)의 크기(단면적)에 의해 일정간격 이격함으로서 전기적 도통을 차단하게 된다.In particular, the inner groove 53 formed in the inner side of the probe body 52 has a surface coupling structure that is disposed opposite to each other in a state surrounding the two sides of the rectangular rod-shaped insulated rod 53 in contact with the longitudinal edge of each of the probes Positioning is easy, and electrical conduction is interrupted by separating the main bodies 52 of the probes 50 which are disposed opposite each other by a predetermined distance (cross-sectional area) of the insulating rod 63.

그 결과, 본 발명은 종래와 같이 다수의 프로브(50)를 에폭시로 고정하는 것이 아니라 단순히 위치 배열에 의한 조립구조를 갖고 있어, 손상된 것만의 교체가 가능하어 프로브의 교체는 더욱 편리하고, 필요 적소의 보정 및 교체의 가능으로 매우 경제적이다.As a result, the present invention does not fix a plurality of probes 50 with epoxy as in the prior art, but has an assembly structure by simply arranging positions, so that only the damaged ones can be replaced so that the replacement of probes is more convenient and necessary. It is very economical with the possibility of correction and replacement.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 다각형상의 프로브를 2층 구조로 대향 형성하여 배열하므로 프로브 간격(Pitch) 및 위치를 더욱 미세하고 정밀하게 배열하여 고정 설치하도록 함으로써, 고밀도의 프로브 블록을 제공하여 검사 정밀도를 극대화하고, 또한 상기 프로브 블록을 전방에서 간편하게 분해, 조립할 수 있도록 함은 물론 상기 프로브 중에 불량 및 손상된 프로브만을 용이하게 교체 사용할 수 있어 작업성 및 경제성을 극대화하는 효과를 갖는 것이다.As described above, according to the present invention, since the polygonal probes are arranged to face each other in a two-layered structure, the probe pitch and position are more finely and precisely arranged to be fixed and installed, thereby providing a high-density probe block for inspection accuracy. Maximize and maximize the workability and economics by easily disassembling and assembling the probe block from the front, as well as easily replace and use only defective and damaged probes in the probe.

Claims (5)

액정디스플레이 패널을 테스트하기 위한 소정의 전기적 신호를 전달받아 프로브의 입력단에 전달하는 FPC와 TCP블록; LCD의 전극과 접촉하여 테스트를 위한 전기적신호를 인가하는 프로브의 집합체인 프로브블록; 상기 프로브블록과 TCP블록을 결합하고 상기 프로브블록의 프로브가 적당한 물리적 압력으로 패널의 전극과 접촉하도록 상하로 이동 및 고정시키는 조절장치를 포함하되, 상기 프로브블록은 지지몸체 하부에 전후로 입, 출력단을 갖는 프로브를 다수 배열하여 고정 설치한 것에 있어서,An FPC and a TCP block for receiving a predetermined electrical signal for testing a liquid crystal display panel and transmitting the predetermined electrical signal to an input terminal of the probe; A probe block which is an assembly of probes which contacts an electrode of the LCD and applies an electrical signal for a test; And a control unit for coupling the probe block and the TCP block and moving and fixing the probe block up and down to contact the electrodes of the panel at a suitable physical pressure. In the case where a large number of probes are arranged in a fixed manner, 상기 프로브 블록의 각 프로브는 전, 후단의 수평의 출력단과 예각 내지 둔각의 입력단을 갖는 다각형상의 본체를 각각 대향으로 배열하여 각 입, 출력단이 2층 구조로 배열 구성한 것을 특징으로 하는 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체.Each probe of the probe block has a polygonal main body having a horizontal output end of the front and rear ends and an acute or obtuse input end of the probe block, and each input and output end is arranged in a two-layer structure for a liquid crystal display inspector. Probe assembly. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프로브의 본체는 2층 구조로 대향으로 배치되되, 각각의 수평, 수직위치에서 상부 본체의 입, 출력단이 전방에 하부 본체의 입, 출력단의 후방에 위치하도록 전, 후로 배열하고 상기 각 프로브 간격의 미세 배열은 상, 하부 본체의 입, 출력단이 좌, 우로 엇갈리게 위치하도록 배열되는 것을 특징으로 하는 액정디스플 레이 검사기용 프로브 조립체.The main body of the probe is arranged in a two-layer structure facing each other, arranged before and after the upper and lower ends of the upper body and the output end of the upper body in the horizontal and vertical positions, respectively, and the probe interval The fine array of the liquid crystal display inspector assembly, characterized in that the upper and lower body is arranged so that the input and output terminals are staggered left and right. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 프로브의 본체는 내측의 요홈과, 중앙으로 핀공 및 외측의 요홈을 대향 형성하여 절연봉, 절연핀, 상, 하 지지구를 각각 대향 삽입하여 그 좌, 우측에서 측면판에 의해 지지몸체상에 체결 고정으로 조립되되, 상기 각 프로브는 절연봉의 길이방향의 모서리에 접하는 두변에 상기 본체의 내측 요홈으로 표면에 위치하여 위치결정 및 대향의 프로브 간의 간격결정, 교체시 개별분리가 더욱 가능토록 구성된 것을 특징으로 하는 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체.The main body of the probe is formed to face the inner groove and the pin hole and the outer groove in the center to insert the insulating rod, the insulating pin, the upper and lower supports respectively, and the left and right sides on the support body by the side plate It is assembled by fastening and fixing, each probe is located on the surface of the inner groove of the main body on the two sides in contact with the longitudinal edge of the insulated rod, so that the separation and positioning between the different probes, the separation between the probes can be separated separately Probe assembly for a liquid crystal display inspector, characterized in that. 제3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 프로브는 본체 외측의 요홈과 이에 삽입되는 지지구 사이로 프로브가 삽입되어 위치 결정되는 슬롯홈을 갖는 사이드 및 중앙의 절연슬릿을 삽입 설치하여 구성되고, 각각의 절연슬릿은 수평과 예각 내지 둔각의 연장선상에 위치하도록 구성된 것을 특징으로 하는 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체.The probe is formed by inserting the side and the center of the insulating slit having a slot groove in which the probe is inserted and positioned between the groove on the outside of the main body and the support inserted therein, each insulating slit extends horizontally and acutely to obtuse angles. Probe assembly for a liquid crystal display inspector, characterized in that configured to be located on the line. 제3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 프로브 블록의 지지몸체는 전방으로 체결부를 형성하여 체결구로 상기 조절장치의 지지블록에 전방에서 후방으로 체결 고정하고, 상기 프로브는 그 입력단이 TCP블록의 전방에서 접촉되게 연결되어서 전방에서 차례로 분해, 조립이 가능 하도록 구성된 것을 특징으로 하는 액정디스플레이 검사기용 프로브 조립체.The support body of the probe block is fastened to form a fastening portion to the front to the fastening fastening from the front to the rear of the support block of the adjusting device, the probe is connected to the input end in contact with the front of the TCP block in order to disassemble from the front, Probe assembly for a liquid crystal display inspector, characterized in that configured to enable assembly.
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