KR20050096717A - 평면 디스플레이 검사장치 - Google Patents
평면 디스플레이 검사장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20050096717A KR20050096717A KR1020040022380A KR20040022380A KR20050096717A KR 20050096717 A KR20050096717 A KR 20050096717A KR 1020040022380 A KR1020040022380 A KR 1020040022380A KR 20040022380 A KR20040022380 A KR 20040022380A KR 20050096717 A KR20050096717 A KR 20050096717A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- database
- stage
- gate
- probe
- panel
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Abstract
Description
Claims (4)
- 스테이지(10)의 상면에 가로방향으로 장착되며, 데이터 니들(22)이 구비된 데이터 프로브(21)가 장착되는 데이터 베이스(20)와;상기 스테이지의 상면에 세로방향으로 장착되며, 게이트 니들(32)이 구비된 게이트 프로브(31)가 장착되는 게이트 베이스(30)를 포함하는 평면 디스플레이 검사장치에 있어서,상기 데이터 베이스를 상기 스테이지상의 가이드레일(11a,11b)을 따라 세로방향으로 이송가능하게 장착하되, 그 양측에는 제어부의 신호에 따라 상기 데이터 베이스를 자동으로 이송하는 제1 이송수단(40a,40b)을 각각 구비하고;상기 제1 이송수단과 연동하여 상기 데이터 베이스의 회동을 구현하는 회동수단(50)을 구비한 것을 특징으로 하는 평면 디스플레이 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 게이트 베이스(30)는 상기 스테이지(10)상의 가이드레일(11c,11d)을 따라 가로방향으로 이송가능하게 장착되고, 제어부의 신호에 따라 상기 게이트 베이스를 자동으로 이동시키는 제2 이송수단(40c)이 구비된 것을 특징으로 하는 평면 디스플레이 검사장치.
- 제2항에 있어서,상기 게이트 베이스(30)는 상기 스테이지(10)상에 상호 대향되게 설치되는 두 개의 게이트 베이스로 구성된 것을 특징으로 하는 평면 디스플레이 검사장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서 상기 제1,2 이송수단(40a,40b,40c)은,상기 스테이지(10)상에 장착되는 서보모터(41)와, 상기 서보모터에 의해 회전되는 나선축(42)과, 상기 나선축상에 구비되어 동력을 전달하는 이송블록(43)으로 구성된 것을 특징으로 하는 평면 디스플레이 검사장치
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040022380A KR100560162B1 (ko) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | 평면 디스플레이 검사장치 |
TW93128350A TWI252315B (en) | 2004-03-31 | 2004-09-17 | Inspection apparatus for flat display panel |
CNB2004100805492A CN100516844C (zh) | 2004-03-31 | 2004-09-28 | 平面显示屏检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040022380A KR100560162B1 (ko) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | 평면 디스플레이 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050096717A true KR20050096717A (ko) | 2005-10-06 |
KR100560162B1 KR100560162B1 (ko) | 2006-03-10 |
Family
ID=37276749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040022380A KR100560162B1 (ko) | 2004-03-31 | 2004-03-31 | 평면 디스플레이 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100560162B1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100822023B1 (ko) * | 2006-08-21 | 2008-04-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 패널 지지기구 및 검사 장치 |
KR101292261B1 (ko) * | 2012-06-29 | 2013-08-07 | 주식회사 디이엔티 | 평면 디스플레이 검사장치 |
KR101352125B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2014-01-15 | 양 전자시스템 주식회사 | 엘씨디 검사 장비용 스테이지의 평탄도 조절장치 |
KR20210112148A (ko) | 2020-03-04 | 2021-09-14 | 주식회사 두원테크 | 광학계측기를 이용한 화면 구동 검사 장치 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100768914B1 (ko) | 2006-03-17 | 2007-10-23 | 양 전자시스템 주식회사 | 프로브 검사장치 |
KR100946840B1 (ko) * | 2008-05-27 | 2010-03-09 | 쿠오 순-쿤 | Lcd 패널을 고정하는 검사 기구 |
KR101585068B1 (ko) | 2015-09-04 | 2016-01-13 | 주식회사 디이엔티 | Fpd 셀 검사장치의 점등 유닛 블록 이동 제어방법 |
-
2004
- 2004-03-31 KR KR1020040022380A patent/KR100560162B1/ko active Pre-grant Review Request
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100822023B1 (ko) * | 2006-08-21 | 2008-04-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 패널 지지기구 및 검사 장치 |
KR101292261B1 (ko) * | 2012-06-29 | 2013-08-07 | 주식회사 디이엔티 | 평면 디스플레이 검사장치 |
KR101352125B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2014-01-15 | 양 전자시스템 주식회사 | 엘씨디 검사 장비용 스테이지의 평탄도 조절장치 |
KR20210112148A (ko) | 2020-03-04 | 2021-09-14 | 주식회사 두원테크 | 광학계측기를 이용한 화면 구동 검사 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100560162B1 (ko) | 2006-03-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101682378B1 (ko) | 액정표시패널의 검사장치 | |
JP7085042B2 (ja) | プローブシステム | |
KR101616564B1 (ko) | 프로브 이동장치 | |
KR100732344B1 (ko) | 디스플레이 패널의 회전식 검사 장비 | |
KR101234088B1 (ko) | 어레이 테스트 장치 | |
CN103091521B (zh) | 一种探针和引脚自动对准的方法及其探针台测试系统 | |
US20180247578A1 (en) | Lighting-on device and method for cell test | |
KR101191343B1 (ko) | 어레이 테스트 장치 | |
KR101129195B1 (ko) | 어레이 테스트 장치 | |
JP6273131B2 (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
KR100560162B1 (ko) | 평면 디스플레이 검사장치 | |
KR20080015557A (ko) | 평판 디스플레이 기판 회로의 리페어 장치 | |
WO2015186542A1 (ja) | ワークの自動芯出し装置及び自動芯出し方法 | |
US20050121429A1 (en) | Apparatus and method for inspecting and repairing a circuit defect | |
KR100673795B1 (ko) | 평판 표시패널 검사장치 | |
JP3016992B2 (ja) | 半導体ウエハの検査リペア装置及びバーンイン検査装置 | |
CN105652187A (zh) | 一种主板测试机 | |
JP2001296547A (ja) | 液晶基板用プローバ | |
JP2769372B2 (ja) | Lcdプローブ装置 | |
JP2019007949A (ja) | ワークの自動芯出し装置及び自動芯出し方法、並びに、検査又は測定装置及び検査又は測定方法 | |
KR101607089B1 (ko) | 액정표시패널 검사장치의 셀 장착장치 | |
KR100744000B1 (ko) | 웨이퍼 검사장치 및 방법 | |
KR101292261B1 (ko) | 평면 디스플레이 검사장치 | |
KR101588855B1 (ko) | 액정표시패널 검사장치의 프로브 유닛 각도조절장치 | |
JP2735859B2 (ja) | プローバ及びプロービング方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
O035 | Opposition [patent]: request for opposition | ||
O074 | Maintenance of registration after opposition [patent]: final registration of opposition | ||
O132 | Decision on opposition [patent] | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130306 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140306 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150305 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160304 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170306 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180406 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190306 Year of fee payment: 14 |