KR20050067066A

KR20050067066A - 피폭선량 계산 방법 및 ｘ선 촬영 시스템

Info

Publication number: KR20050067066A
Application number: KR1020040112072A
Authority: KR
Inventors: 문길와르나레쉬
Original assignee: 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨
Priority date: 2003-12-26
Filing date: 2004-12-24
Publication date: 2005-06-30
Also published as: KR100647930B1; JP4119835B2; CN100406910C; EP1549115A3; US20050152498A1; JP2005185648A; US7190763B2; EP1549115A2; EP1549115B1; CN1637435A

Abstract

본 발명의 목적은 X선을 검출하는 일 없이 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 계산하는 방법을 제공하는 것이다. X선 촬영 시스템은 X선을 이용하여 피검체를 촬영하는 촬영 수단과 X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 검출하는 검출 수단을 포함한다. 검출 수단은 X선관(10)의 관 전압 값과 연관된 도우즈 레이트 값이 기록되는 제 1 룩업 테이블(804)과, 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드(222,242)의 위치를 각각 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값이 기록되는 제 2 룩업 테이블(806)과, 관 전압의 현재값과 연관된 도우즈 레이트의 값을 제 1 룩업 테이블로부터 구하고, 블레이드(222,242)의 위치를 나타내는 현재 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값을 제 2 룩업 테이블로부터 구하며, 도우즈 레이트, X선 영역의 면적, X선관(10)의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적을 구하는 계산기를 포함한다.

Description

피폭선량 계산 방법 및 Ｘ선 촬영 시스템{EXPOSURE CALCULATION METHOD AND RADIOGRAPHY SYSTEM}

본 발명은 피폭선량 계산 방법 및 X선 촬영 시스템에 관한 것으로, 특히 X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 계산하는 방법 및 X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 계산하는 수단을 포함하는 X선 촬영 시스템에 관한 것이다.

X선 촬영 시스템은 X선의 피폭선량이 미리 정한 값으로 되도록 제어한다. 미리 정한 값은 예컨대 최소한의 필요 피폭선량이다. 그와 같은 제어를 하기 위해서, X선 촬영 동안 X선의 피폭선량을 전용의 검출기로 검출하거나 감시한다. 검출 신호의 성분의 시간 적분값이 미리 정한 값에 도달하는 경우, X선 조사를 정지한다(예컨대, 특허 문헌1 참조).

[특허 문헌1] 미국 특허 제 5,694,449호(제 3 내지 5 컬럼 및 도 1 내지 도 4)

상기 방법에 따르면, X선 촬영 동안 X선의 피폭선량을 검출하기 위해서 전용의 검출기가 필요하다. 또한, 그 검출 신호의 성분에 대한 시간 적분을 포함하는 소정의 처리를 실시하는 신호 처리 회로 등이 필요하다. 이 때문에, 이 방법은 구성의 간소화, 경량화, 저비용화 등이 요구되는 이동식 X선 촬영 시스템 및 다른 X선 촬영 시스템에는 적당하지 않다.

그래서, 본 발명의 목적은 X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 X선을 검출하는 일 없이 계산하는 방법, 및 이와 같은 피폭선량 계산 수단을 포함하는 X선 촬영 시스템을 제공하는 것이다.

(1) 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 관점에 따르면, X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 계산하는 방법이 제공된다. X선관의 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트의 값을 미리 작성된 제 1 룩업 테이블로부터 구한다. X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터에 포함된 블레이드(blades)의 위치를 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값을 미리 작성된 제 2 룩업 테이블로부터 구한다. 도우즈 레이트, X선 영역의 면적, X선관의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적이 계산된다.

(2) 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 관점에 따르면, X선을 이용하여 피검체를 촬영하는 촬영 수단과 X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 검출하는 검출 수단을 갖는 X선 촬영 시스템이 제공된다. 이 검출 수단은 X선관의 관전압의 값과 연관된 도우즈 레이트의 값이 기록되는 제 1 룩업 테이블과, X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터에 포함된 블레이드 위치를 각각 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값이 기록되는 제 2 룩업 테이블과, 관 전압의 현재값과 연관된 도우즈 레이트 값을 제 1 룩업 테이블로부터 구하고, 콜리메이터에 포함된 블레이드 위치를 나타내는 현재값과 연관된 X선 영역의 면적 값을 제 2 룩업 테이블로부터 구하며, 도우즈 레이트, X선 영역의 면적, X선관의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적을 구하는 계산 수단을 포함한다.

바람직하게, 제 1 룩업 테이블은 선량계(dosimeter)를 이용하여 수행되는 X선관의 칼리브레이션(calibration)에 의해 작성되어 X선관의 관 전압의 값과 도우즈 레이트의 값 사이의 대응 관계를 적절하게 구할 수 있다.

바람직하게, 2 룩업 테이블은 X선 영역의 면적에 대한 실제 측정을 포함하는 콜리메이터의 칼리브레이션에 의해 작성되어 콜리메이터에 포함된 블레이드의 위치를 각각 나타내는 값과 X선 영역의 면적 값 사이의 대응 관계를 적절하게 구할 수 있다.

바람직하게, 콜리메이터에 포함된 홍채 조리개 및 셔터 각각을 구성하는 블레이드 위치를 나타내는 값과 X선 영역의 면적 값 사이의 대응 관계가 제 2 룩업 테이블에 기록되어 홍채 조리개와 셔터의 조합을 사용하여 X선 영역을 조절할 수 있다.

본 발명에 따르면, X선관의 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트의 값을 미리 작성된 제 1 룩업 테이블로부터 구한다. X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터에 포함된 블레이드의 위치를 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적 값을 미리 작성된 제 2 룩업 테이블로부터 구한다. 도우즈 레이트, X선 영역의 면적, X선관의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적을 구한다. 따라서, X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 X선을 검출하는 일 없이 계산하는 방법 및 그와 같은 피폭선량 계산 수단을 갖는 X선 촬영 시스템이 제공된다.

본 발명의 목적은 첨부한 도면에 도시된 본 발명의 바람직한 실시예의 후속하는 설명으로부터 분명해질 것이다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태를 상세히 설명한다. 본 발명은 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태에 한정되지 않는다. 도 1은 X선 촬영 시스템의 블럭도이다. 본 X선 촬영 시스템은 본 발명을 실시하기 위한 최선의 형태의 일례이다. 본 X선 촬영 시스템의 구성은 본 발명을 최선의 형태로 구현하는 X선 촬영 시스템의 일례를 제공한다. 본 X선 촬영 시스템에 수행되는 동작은 본 발명이 최선의 형태로 구현되는 피폭선량 계산 방법의 일례를 제공한다.

도 1에 도시하는 바와 같이, 본 X선 촬영 시스템은 X선관(10)을 포함한다. X선관(10)의 초점(F)에서 발생한 X선이 콜리메이터(콜리메이터)(20)를 통하여 피검체(P)에 조사된다. 투과된 X선은 화상 증폭기(image intensifier)(30)의 입사면에 입사한다. 이하, 화상 증폭기는 I.I.(30)라고 지칭된다.

X선관(10)은 X선관 구동부(40)에 의해서 구동된다. X선관 구동부(40)는 X선관이 X선을 발생시키도록 X선관(10)에 관 전압 및 관 전류가 공급되도록 한다. X선관 구동부(40)는 데이터 처리부(50)에 의해서 제어된다. 데이터 처리부(50)는 예컨대 컴퓨터에 의해서 구성된다.

데이터 처리부(50)는 콜리메이터(20)를 제어하여 X선 영역을 조절한다. 콜리메이터(20)는 위치가 가변적인 블레이드를 포함한다. 블레이드의 위치를 바꿈으로써, X선 영역이 달라질 수 있다. 콜리메이터(20)에 내장된 검출기는 블레이드의 위치를 검출하고 검출된 위치를 데이터 처리부(50)에 피드백(feedback)한다. 콜리메이터(20)는 이후에 설명될 것이다.

데이터 처리부(50)는 I.I.(30)로부터 X선 검출 신호를 수신하고 이 입력 신호에 근거하여 화상을 형성한다. 이 화상은 X선에 의해 가시화된 피검체(P)의 투시 화상이다. 투시 화상은 데이터 처리부(50)에 포함된 표시부(60)에 표시되고 진단에 이용된다.

데이터 처리부(50)는 조작부(70)를 포함한다. 조작부(70) 및 표시부(60)는 사용자가 X선 촬영 시스템을 대화식으로(interactively) 조작할 수 있는 사용자 인터페이스를 제공한다.

데이터 처리부(50)는 피폭선량 계산부(80)를 포함한다. 피폭선량 계산부(80)는 예컨대 컴퓨터로 구성된다. 피폭선량 계산부(80)는 데이터 처리부(50)에 내장될 수 있다. 피폭선량 계산부(80)는 데이터 처리부(50)로부터 수신되는 데이터에 근거하여 피검체(P)가 받는 피폭선량을 계산하고, 계산 결과를 데이터 처리부(50)에 전송한다. 데이터 처리부(50)는 계산된 피폭선량에 따라 X선 촬영을 제어한다. X선관(10)으로부터 조작부(70)까지의 구성요소들은 본 발명에 있어서의 촬영 수단의 일례이다. 피폭선량 계산부(80)는 본 발명에 있어서의 검출 수단의 일례로서 역할을 한다.

도 2는 피폭선량 계산부(80)의 블럭도를 나타낸다. 도시되어 있는 바와 같이, 피폭선량 계산부(80)는 계산 블록(802) 및 룩업 테이블(804 및 806)을 갖는다. 계산 블록(802)은 데이터 처리부(50)로부터 수신된 데이터에 따른 룩업 테이블(804 및 806)을 참조하면서 피폭선량을 계산한다. 피폭선량의 계산은 이하에서 설명할 것이다.

계산 블록(802)은 본 발명에 있어서의 계산 수단의 일례로서 역할을 한다. 룩업 테이블(804)은 본 발명에 있어서의 제 1 룩업 테이블의 일례로서 역할을 한다. 룩업 테이블(806)은 본 발명에 있어서의 제 2 룩업 테이블의 일례로서 역할을 한다.

이하에서 콜리메이터(20)에 대하여 설명한다. 도 3 및 도 4는 콜리메이터(20)의 구성을 나타낸다. 도 3은 콜리메이터(20)의 측면도이고, 도 4는 X선의 초점(F)을 사이에 두고 마주보는 측면으로 본 콜리메이터(20)의 평면도이다. 도시되어 있는 바와 같이, 콜리메이터(20)는 홍채 조리개(22) 및 셔터(24)를 포함한다.

또한, 콜리메이터(20)는 셔터(24)를 생략하여 홍채 조리개(22)만을 포함할 수 있다. 이하, 콜리메이터(20)가 홍채 조리개(22)와 셔터(24)를 포함한다는 가정 하에 설명이 이루어진다. 홍채 조리개(22)만을 갖는 콜리메이터의 경우도 마찬가지이다.

홍채 조리개(22)는 예컨대 8개의 블레이드(222)에 의해서 구성된다. 블레이드(222)는 예컨대 납(Pb)이나 텅스텐(W) 등의 X선 흡수성의 재료로 구성된다. 8개의 블레이드(222)는 서로 겹쳐져 중앙에 8각형의 윈도우를 형성한다. 윈도의 크기는 8개의 블레이드(222)를 동시에 움직임으로써 변경될 수 있다. 윈도우는 파선으로 도시하는 바와 같이 내접원으로 근사화된다.

블레이드(222)는 도시하지 않는 액츄에이터(actuator)로 구동되어 변위된다. 블레이드(222)의 위치는 위치 검출기(224)로 검출되어 데이터 처리부(50)에 피드백된다.

셔터(24)는 예컨대 2개의 블레이드(242)로 구성된다. 블레이드(242)도 X선 흡수성의 재료로 구성된다. 2개의 블레이드(242)는 그들의 평행한 측면이 서로 대향하도록 조립된다. 2개의 블레이드(242)를 서로 반대 방향에 일제히 움직임으로써 두 개의 블레이드(242)의 대향 측면 사이의 간격이 변경될 수 있다. 블레이드(242)는 도시하지 않는 액츄에이터로 구동되어 변위한다. 블레이드(242)의 위치는 위치 검출기(244)로 검출되어 데이터 처리부(50)에 피드백된다.

이하에서 피폭선량 계산에 대하여 설명한다. 우선, 피폭선량 계산에 이용되는 룩업 테이블에 대하여 설명한다. 미리 측정한 관 전압의 값과 도우즈 레이트의 값 사이의 대응 관계가 룩업 테이블(804)에 기록된다. 관 전압 값과 도우즈 레이트 값의 대응 관계는 선량계를 사용하여 실제 측정된 도우즈 레이트 값에 근거하여 설정된다.

구체적으로, 피검체(P)가 없는 상태로 I.I.(30)의 입사면에 선량계를 설치한다. 이 선량계를 사용하여 복수의 전압으로 설정된 관 전압에서의 도우즈 레이트를 측정한다. 또한, 관 전류는 예를 들어 1mA의 소정의 값으로 유지된다. 이것에 의해서, 예를 들어 도 5에 나타내는 것 같은 관 전압 값과 도우즈 레이트 값 사이의 대응 관계가 결정된다. 이러한 측정은 본 X선 촬영 시스템의 제조 동안 X선관(10)의 칼리브레이션의 과정에서 행하여진다.

실제 측정된 값은 후속하는 2차식으로 제공된 2차 함수로 피팅된다.

이 2차 함수로의 피팅에 의해 계수(A, B 및 C)가 결정되고, 관 전압과 도우즈 레이트 사이의 대응을 나타내는 관계식이 결정된다. 이 관계식을 이용하여, 여러가지 관 전압 값과 연관된 도우즈 레이트 값을 계산한다. 관 전압 값과 도우즈 레이트 값의 대응 관계를 테이블의 형태로 룩업 테이블에 기록한다.

미리 측정 또는 계산된 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드의 위치를 각각 나타내는 값과 X선 영역의 면적 값 사이의 대응 관계가 룩업 테이블(806)에 기록된다. 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드의 위치를 나타내는 값과 X선 영역의 면적 값 사이의 대응 관계는 실제로 측정한 값과 이 실제로 측정한 값을 이용하여 계산된 값에 근거하여 결정된다.

피검체 P가 없는 경우, I.I.(30)의 입사면에 납 스케일(lead scale)을 설치한다. 다양하게 변경되는 복수의 블레이드 위치에서 콜리메이터(20)의 윈도우를 나타내는 투영 화상의 크기를 측정한다. 투영 화상의 크기는 X선 영역의 면적을 결정한다.

홍채 조리개(22)에 관해서, 이것의 윈도우의 투영 화상은 도 6에 도시하는 바와 같이 원형이다. 이 원형의 변경(r)이 측정된다. 셔터(24)에 있어서, 이것의 윈도우의 투영 화상은 도 7에 도시하는 바와 같이 띠형을 갖는다. 이 띠의 반폭이 측정된다.

이것에 의해서, 예컨대 도 8 및 도 9에 도시하는 바와 같이, 블레이드의 위치를 각각 나타내는 값과 반경(r) 또는 반폭의 값 사이의 대응 관계를 결정하기 위해 상이한 위치의 블레이드에 대하여 투영 화상의 반경(r) 및 반폭의 값이 실제로 측정된다. 그러나, 블레이드 위치를 각각 나타내는 값은 홍채 조리개 또는 셔터와 연관된 위치 검출기에 의해 제공된 카운트값(count values)이다. 이러한 측정은 본 X선 촬영 시스템의 제조 동안 콜리메이터(20)의 칼리브레이션의 과정에서 행하여진다.

측정된 값은 후속하는 1차식에 의해 제공된 1차 함수로 피팅된다.

1차 함수로의 피팅에 의해 계수(D, D', F 및 F')가 결정되고, 블레이드 위치를 나타내는 값과 X선 영역의 면적 사이의 대응을 나타내는 관계식이 결정된다. 이 관계식을 이용하여, 다양하게 변경되는 블레이드 위치에 있어서의 반경(r) 또는 반폭(d)을 계산한다.

반경(r) 및 반폭(d)을 알면, 이 반경(r) 및 반폭(d)에 근거하여 X선 영역의 면적을 계산할 수 있다. X선 영역의 면적의 계산을 도 1O과 연계하여 설명할 것이다. 도 10에 도시되어 있는 바와 같이, 반경(r) 및 반폭(d)이 알려져 있는 경우, X선 영역의 면적은 반경(r)을 갖는 원의 면적으로부터 현(chord)(c)으로 정의된, 반경(r)을 갖는 원의 일부분인 면적(K)의 2배를 뺌으로써 계산된다.

원의 일부분인 면적(K)은 맞꼭지각(θ)의 부채형 영역에서, 이 부채형 영역의 맞꼭지각과 동일한 맞꼭지각을 갖고 저변의 길이가 c인 이등변 삼각형의 면적을 뺌으로써 계산된다.

이등변 삼각형은 높이 d를 갖고, 이등변 삼각형의 저변의 길이(c)는 다음과 같이 제공된다.

원의 일부분인 원호의 길이(s)는 다음과 같이 제공된다.

따라서, 원의 일부분인 면적(K)은 다음과 같이 제공된다.

수학식(7)은 수학식(3)에 할당되어, X선 영역의 면적은 다음과 같이 제공된다.

또, 콜리메이터(20)가 홍채 조리개(22)만을 포함하는 경우, X선 영역의 면적은 수학식(3)에서 제 2 항을 제외함으로써 제공된다.

수학식(8)에 의한 면적 계산은 다양한 값의 반경(r) 및 반폭(d)에 대하여 수행된다. 최종적으로, 블레이드 위치를 각각 나타내는 값과 X선 영역의 면적 값 사이의 대응 관계를 나타내는 테이블이 생성된다. 이 테이블은 룩업 테이블(806)에 기록된다.

본 X선 촬영 시스템에 수행되는 동작을 설명한다. 도 11은 이러한 동작을 설명하는 흐름도이다. 도면에 도시하는 바와 같이, 단계(1O1)에서, X선 촬영 범위가 설정된다. 사용자는 조작부(70)를 사용하여 촬영 범위를 설정한다. 단계(103)에서, X선 촬영 조건이 설정된다. 사용자는 조작부(70)를 사용하여 촬영 조건을 설정한다. 이것에 의해서, 관 전압 및 관 전류가 설정된다.

이후, 단계(105)에서, 피폭선량이 설정된다. 사용자는 조작부(70)를 사용하여 피폭선량을 설정한다. 이것에 의해서, X선 촬영 동안 피검체(P)에 조사하는 X선의 피폭선량으로서 소망하는 값이 설정된다. 다음 단계(107)에서, X선 조사를 시작한다. 사용자가 조작부(70)에 포함된 조사 버튼을 누르는 경우, X선 조사는 시작된다.

다음에, 단계(109)에서, 피폭선량이 계산된다. 피폭선량 계산부(80)에 포함된 계산 블록(802)에서 피폭선량을 계산한다. 계산 블록(802)은 데이터 처리부(50)로부터 수신된 관 전압, 관 전류, 조사 시간 및 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드의 위치 정보에 근거하여 피폭선량을 계산한다.

구체적으로, 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트의 값은 룩업 테이블(804)로부터 구하여진다. 블레이드 위치에 대한 정보와 연관된 X선 영역의 면적의 값은 룩업 테이블(806)로부터 구하여진다. 이들 정보 조각과 관 전류(mA) 및 X선 조사 시간(sec)의 값을 이용하여 다음식에 의해 피폭선량을 계산한다.

이것에 의해서, 피검체(P)의 피폭선량, 즉 DAP(dose area product)를 계산한다. 이 계산에 이용하는 도우즈 레이트 및 X선 영역의 면적의 값은 I.I.(30)의 입사면 상에서 측정된 값이다. 그럼에도 불구하고, 이들 값을 사용하여 계산된 DAP는 피검체(P)의 피부 상에 있어서의 피폭선량과 유사한 DAP로서 간주될 수 있다. 왜냐하면, 도우즈 레이트는 초점(F)으로부터의 거리의 2승에 반비례하지만, X선 영역의 면적은 초점(F)으로부터의 거리의 2승에 비례하기 때문에, 도우즈 레이트와 X선 영역의 면적의 적은 초점(F)으로부터의 거리와 무관하기 때문이다.

다음에, 단계(111)에서, 피폭선량이 설정량에 도달했는지 여부를 판정한다. 이 판정은 데이터 처리부(50)에 의해서 행하여진다. 피폭선량이 설정량에 도달하지 않은 경우, X선 조사를 계속한다. 단계(109)에서, 피폭선량을 계산한다. 피폭선량은 조사 시간의 경과와 동시에 증가하기 때문에 시간이 되면 설정량에 도달한다. 단계(115)에서, X선 조사가 정지된다. X선 조사는 데이터 처리부(50)에 의해 자동적으로 정지된다. 따라서, 촬영 동안 피검체(P)가 받는 피폭선량은 사용자가 의도한 대로 조절된다.

본 발명의 다수의 상이한 실시예가 본 발명의 사싱 및 범주를 벗어나지 않고서 구성될 수 있다. 본 발명은 첨부한 청구항에서 정의된 것을 제외하고는 본 명세서에서 설명한 특정 실시예에 제한되지 않는다는 것을 이해해야 한다.

본 발명에 따르면, X선관의 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트의 값을 미리 작성된 제 1 룩업 테이블로부터 구한다. X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터에 포함된 블레이드의 위치를 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적값을 미리 작성된 제 2 룩업 테이블로부터 구한다. 도우즈 레이트, X선 영역의 면적, X선관의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적을 구한다. 따라서, X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 X선을 검출하는 일 없이 계산하는 방법 및 그와 같은 피폭선량 계산 수단을 갖는 X선 촬영 시스템이 제공된다.

도 1은 X선 촬영 시스템의 블록도,

도 2는 피폭선량 계산부의 블록도,

도 3은 콜리메이터의 구성을 도시하는 도면,

도 4는 콜리메이터의 구성을 도시하는 도면,

도 5는 피폭선량의 실제 측정값을 도시하는 도면,

도 6은 콜리메이터의 윈도우의 투영 화상을 도시하는 도면,

도 7은 콜리메이터의 또 다른 윈도우의 투영 화상을 도시하는 도면,

도 8은 투영 화상의 반경의 실제 측정값을 도시하는 도면,

도 9는 투영 화상의 절반폭의 실제 측정값을 도시하는 도면,

도 10은 X선 영역의 면적의 계산을 설명하는 설명도,

도 11은 X선 촬영의 흐름도.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1O : X선관 20 : 콜리메이터

40 : X선관 구동부 50 : 데이터 처리부

60 : 표시부 70 : 조작부

80 : 피폭선량 계산부 802 : 계산부

804,806 : 룩업 테이블 242,244 : 위치 검출기

Claims

X선 촬영 동안 피검체가 받는 피폭선량을 계산하는 방법에 있어서,

X선관(10)의 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트(dose rate)의 값을 미리 작성된 제 1 룩업 테이블로부터 구하는 단계와,

X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드(222,242)의 위치를 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값을 미리 작성된 제 2 룩업 테이블로부터 구하는 단계와,

상기 도우즈 레이트, 상기 X선 영역의 상기 면적, 상기 X선관(10)의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적(product)을 계산하는 단계

를 포함하는 피폭선량 계산 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제 1 룩업 테이블은 선량계(dosimeter)를 이용하여 수행된 상기 X선관(10)의 칼리브레이션(calibration)에 의해 작성되는 피폭선량 계산 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 제 2 룩업 테이블은 상기 X선 영역의 상기 면적의 측정을 포함하는 상기 콜리메이터(20)의 칼리브레이션에 의해 작성되는 피폭선량 계산 방법.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 콜리메이터(20)에 포함된 홍채 조리개 및 셔터(24) 각각을 구성하는 상기 블레이드(222,242)의 위치를 각각 나타내는 상기 값과 상기 X선 영역의 면적의 상기 값 사이의 대응 관계를 상기 제 2 룩업 테이블에 기록하는 피폭선량 계산 방법.
X선을 이용하여 피검체를 촬영하는 촬영 장치와 X선 촬영 동안 피검가 받는 피폭선량을 검출하는 검출부를 갖는 X선 촬영 시스템에 있어서,

상기 검출부는,

X선관(10)의 관 전압의 값과 연관된 도우즈 레이트 값이 기록되는 제 1 룩업 테이블과,

X선의 조사 범위를 제한하는 콜리메이터(20)에 포함된 블레이드(222,242)의 위치를 각각 나타내는 값과 연관된 X선 영역의 면적의 값이 기록되는 제 2 룩업 테이블과,

상기 관 전압의 현재값과 연관된 상기 도우즈 레이트의 값을 상기 제 1 룩업 테이블로부터 구하고, 상기 콜리메이터(20)에 포함된 상기 블레이드(222,242)의 위치를 나타내는 현재의 값과 연관된 X선 영역의 면적의 상기 값을 상기 제 2 룩업 테이블로부터 구하며, 상기 도우즈 레이트, 상기 X선 영역의 상기 면적, 상기 X선관(10)의 관 전류 및 X선 조사 시간의 적을 구하는 계산 장치

를 포함하는 X선 촬영 시스템.
제 5 항에 있어서,

상기 제 1 룩업 테이블은 선량계를 이용하여 수행된 상기 X선관(10)의 칼리브레이션에 의해 작성되는 X선 촬영 시스템.
제 6 항에 있어서,

상기 제 2 룩업 테이블은 상기 X선 영역의 상기 면적의 측정을 포함하는 상기 콜리메이터(20)의 칼리브레이션에 의해 작성되는 X선 촬영 시스템.
제 5 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 콜리메이터(20)에 포함된 홍채 조리개 및 셔터(24) 각각을 구성하는 상기 블레이드(222,242) 위치를 나타내는 상기 값과 상기 X선 영역의 면적의 상기 값 사이의 대응 관계가 상기 제 2 룩업 테이블에 기록되는 X선촬영 시스템.