KR20050039827A

KR20050039827A - 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법

Info

Publication number: KR20050039827A
Application number: KR1020050029710A
Authority: KR
Inventors: 강경석
Original assignee: 주식회사 메모리앤테스팅
Priority date: 2005-04-09
Filing date: 2005-04-09
Publication date: 2005-04-29
Also published as: KR100694413B1

Abstract

본 발명은 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것으로, 2개 이상의 메모리를 동시에 테스트장치에 병렬 접속시키고, 테스트를 위한 입력신호를 인가시키고, 그 입력신호에 의해 메모리에서 출력되는 출력신호를 기준 신호와 비교하여 장착된 메모리의 불량여부를 신속하게 판단하여 불량시 단수 메모리 테스트를 재실행하고, 양호시 해당 메모리를 패스시킴으로써 메모리 테스트 시간을 효과적으로 절감시킨 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법을 제공함에 그 목적이 있다.

본 발명은 다수개의 메모리를 신호선을 분기하여 반복적으로 접속시킴으로써 메모리를 장착하는 과정과; 해당 메모리들이 모두 양호할 때의 데이터를 기준데이터로 저장하는 과정과; 메모리로부터 출력되는 테스트 출력데이터를 해당 기준데이터와 비교하는 과정과; 테스트 메모리 전부가 불량인지 어느 한 메모리가 불량인지, 전부가 양호인지를 판단하는 과정으로 이루어짐으로써 메모리의 상태를 신속하게 테스트할 수 있도록 한 것을 특징으로 한다.

본 발명을 적용하면, 다수개의 메모리를 신호선을 분기하여 반복적으로 접속시키고, 해당 메모리들이 모두 양호할 때의 데이터를 기준데이터로 저장함으로써 테스트 출력데이터를 해당 기준데이터와 비교함으로써 메모리의 상태를 신속하게 테스트할 수 있다는 장점이 있다.

Description

메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법{APPARATUS FOR TESTING A MEMORY AND METHOD OF THE SAME}

본 발명은 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게 2개 이상의 메모리를 동시에 테스트장치에 병렬 접속시키고, 테스트를 위한 입력신호를 인가시키고, 그 입력신호에 의해 메모리에서 출력되는 출력신호를 기준 신호와 비교하여 장착된 메모리의 불량여부를 신속하게 판단하여 불량시 단수 메모리 테스트를 재실행하고, 양호시 해당 메모리를 패스시킴으로써 메모리 테스트 시간을 효과적으로 절감시킨 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것이다.

주지된 바와 같이, 현재 생산되는 대부분의 칩들은 데이터 처리를 위해 여러 종류의 메모리 장치를 내장하고 있다. 디지탈 신호 처리 장치의 경우는 신호처리를 위해 크고 작은 메모리 장치들을 여러개 사용하는 것이 보통이다.

서브-마이크론(sub-micron) 공정 기술의 발달로 메모리 장치의 집적도가 더욱 커져 가고 있기 때문에 칩에 내장된 메모리 장치를 테스트한다는 것은 어려울 뿐만 아니라, 메모리 장치 내부의 여러 셀들의 조합으로 인한 에러 현상들이 매우 다양하기 때문에 테스트하는데도 많은 시간이 소요되게 된다. 이와 같은 이유로 내장된 메모리 장치에 대한 효과적인 테스트 기술이 요구되고 있다.

자기 테스트 방법(Built-In Self Test; BIST)을 사용하여 그러한 테스트 문제를 해결하고자 하는 움직임이 오래 전부터 있어 왔다. 이 방법은 메모리 장치를 테스트하는 회로를 칩의 내부에 구성하여 칩 자체적으로 내장된 메모리 장치를 테스트하는 것이다.

메모리 장치의 자기 테스트 방법이 많이 사용되고 있는 이유는 로직 블럭들을 테스트하는 자기 테스트 방법에 비해 그 구성이 매우 간단하고, 추가적으로 사용되는 하드웨어가 매우 작은 비율을 차지하고 있어 설계자의 요구를 대체적으로 만족하고 있기 때문이다.

도 1은 종래의 실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 구성을 도시한 블록구성도이다. 이를 참조하면, 종래의 실시예에 따른 메모리 테스트 장치(2)는 메모리 테스터 또는 메인보드의 칩세트에서 해당 메모리의 불량 여부를 읽기모드에서 판단하기 위한 장치로서, 이러한 메모리 테스터 또는 메인보드의 칩세트를 광범위하게 메모리를 테스트하기 위한 테스트수단(4)이라 칭한다.

먼저, 상기 테스트수단(4)은 각종 메모리 제어신호인 Clock, RAS, CAS, CS 등의 제어신호를 송출하기 위한 제어신호 입력부(6)가 그 내부에 구성되어져 있으며, 그 제어신호 입력부(6)와 테스트하기 위한 메모리(20)는 제어신호 입력 레지스터(14)를 매개로 단일의 신호선에 의해 상호 접속되어져 있다.

또한, 상기 테스트수단(4)의 내부에는 테스트 데이터를 입력하기 위한 데이터입력부(8)가 구비되어져 있으며, 그 데이터 입력부(8)는 데이터입력단 레지스터(16)를 매개로 테스트하기 위한 메모리(20)와 상호 접속되어져 있으며, 해당 데이터입력으로 인해 그 메모리(20)로부터 출력된 출력 데이터는 데이터 출력 레지스터(18)를 매개로 상기 테스트수단(4)의 내부에 구비된 비교부(10)로 인가되게 상호 접속되어져 있다.

또한, 상기 테스트수단(4)에 구비된 비교부(10)는 메모리(20)로부터 인가된 출력데이터와의 비교를 위해 독취되는 기준 데이터를 저장하는 기준데이터 저장부(12)와 상호 접속되어져 있다.

따라서, 메모리 장치의 상기 테스트수단(4)은 입력단에서 테스트 벡터를 메모리에 쓰고, 메모리로부터 읽어내는 과정을 반복함으로써 해당 메모리(20)의 불량상태를 판단할 수 있게 되는 것이다.

결과적으로 테스트모드시(테스트 모드 입력신호가 1일 때), 상기 기준데이터 저장부(12)로부터 독취한 기준신호가 1이어야되나, 상기 메모리(20)로부터 발생된 출력신호가 0인 경우에는 해당 메모리(20)상태가 불량임을 알 수 있게 된다.

하지만, 이러한 종래의 메모리 테스트장치는 복수개의 메모리나 그 이상의 메모리를 동시에 테스트할 수 없으므로 생산성이 매우 떨어지게 되므로 비효율적이며, 경제적이지 못하다.

본 발명은 상기한 종래 기술의 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 2개 이상의 메모리를 동시에 테스트장치에 병렬 접속시키고, 테스트를 위한 입력신호를 인가시키고, 그 입력신호에 의해 메모리에서 출력되는 출력신호를 기준 신호와 비교하여 장착된 메모리의 불량여부를 신속하게 판단하여 불량시 단수 메모리 테스트를 재실행하고, 양호시 해당 메모리를 패스시킴으로써 메모리 테스트 시간을 효과적으로 절감시킨 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법을 제공함에 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면 다수개의 메모리를 신호선을 분기하여 반복적으로 접속시킴으로써 메모리를 장착하는 과정과; 해당 메모리들이 모두 양호할 때의 데이터를 기준데이터로 저장하는 과정과; 메모리로부터 출력되는 테스트 출력데이터를 해당 기준데이터와 비교하는 과정과; 테스트 메모리 전부가 불량인지 어느 한 메모리가 불량인지, 전부가 양호인지를 판단하는 과정으로 이루어짐으로써 메모리의 상태를 신속하게 테스트할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법이 제공된다.

한편, 본 발명은 각종 메모리 제어신호인 Clock, RAS, CAS, CS 등의 제어신호를 송출하기 위한 제어신호 입력부와; 그 제어신호 입력부의 후단에 접속되어 테스트하기 위한 메모리를 병렬 접속하기 위해 매개된 제어신호 입력 레지스터와; 테스트 데이터를 입력하기 위한 데이터입력부와; 그 데이터 입력부의 후단에 접속되어 테스트하기 위한 메모리를 병렬 접속하기 위해 매개된 데이터입력단 레지스터와; 양품일 때의 출력데이터인 기준데이터를 저장하는 기준데이터 저장부와; 메모리로부터 출력된 출력데이터를 기준데이터와 비교하는 비교부와; 상기 비교부와 메모리의 사이에 구비되고 메모리의 출력데이터를 인가받는 멀티플렉서와; 상기 멀티플렉서와 비교부의 사이에 매개하여 출력데이터를 비교부로 인가시키는 데이터 출력 레지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 장치가 제공된다.

바람직하게, 상기 제어신호 레지스터와, 데이터입력 레지스터, 데이터 출력레지스터와 제 1 메모리와 접속된 신호선은 분기되어 제 2 메모리와 접속되는 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 장치가 제공된다.

이하, 본 발명에 대해 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 구성을 도시한 블록구성도이다.

이를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치(102)는 2개 이상의 메모리를 동시에 테스트장치에 병렬 접속시키고, 테스트를 위한 입력신호를 인가시키고, 그 입력신호에 의해 메모리에서 출력되는 출력신호를 기준 신호와 비교하여 장착된 메모리의 불량여부를 신속하게 판단하여 불량시 단수 메모리 테스트를 재실행하고, 양호시 해당 메모리를 패스시킴으로써 메모리 테스트 시간을 효과적으로 절감시킨 테스트장치이다.

이를 위해, 본 발명에 따른 메모리 테스트 장치(102)는 메모리 테스터 또는 메인보드의 칩세트에서 해당 메모리의 불량 여부를 읽기모드에서 판단하기 위한 장치로서, 이러한 메모리 테스터 또는 메인보드의 칩세트를 광범위하게 메모리를 테스트하기 위한 테스트수단(104)이라 칭한다.

먼저, 상기 테스트수단(104)은 각종 메모리 제어신호인 Clock, RAS, CAS, CS 등의 제어신호를 송출하기 위한 제어신호 입력부(106)가 그 내부에 구성되어져 있으며, 그 제어신호 입력부(106)와 테스트하기 위한 어느 한 메모리(120a)는 제어신호 입력 레지스터(114)를 매개로 단일의 신호선에 의해 상호 접속되어져 있으며, 그 신호선으로부터 병렬로 분기되어 상기 메모리(120a)와 또 다른 메모리가 접속되어져 있다.

또한, 상기 테스트수단(104)의 내부에는 테스트 데이터를 입력하기 위한 데이터입력부(108)가 구비되어져 있으며, 그 데이터 입력부(108)는 데이터입력단 레지스터(116)를 매개로 테스트하기 위한 어느 한 메모리(120a)는 제어신호 입력 레지스터(114)를 매개로 단일의 신호선에 의해 상호 접속되어져 있으며, 그 신호선으로부터 병렬로 분기되어 상기 메모리(120a)와 또 다른 메모리가 접속되어져 있으며, 해당 데이터입력으로 인해 그 메모리(120a, 120b)로부터 출력된 출력 데이터는 멀티플렉서(122)를 통해 인가되고, 데이터 출력 레지스터(118)를 매개로 상기 테스트수단(104)의 내부에 구비된 비교부(110)로 인가되게 상호 접속되어져 있다.

또한, 상기 테스트수단(104)에 구비된 비교부(110)는 메모리(120a, 120b)로부터 인가된 출력데이터와의 비교를 위해 독취되는 기준 데이터를 저장하는 기준데이터 저장부(112)와 상호 접속되어져 있다.

따라서, 메모리 장치의 상기 테스트수단(104)은 입력단에서 테스트 벡터를 메모리에 쓰고, 메모리들(120a, 120b)로부터 읽어내는 과정을 반복하고, 그 출력데이터를 기준데이터와 비교함으로써 해당 메모리(120a, 120b)들의 불량상태 즉, 어느 한 메모리에 대한 불량인지, 두 메모리(120a, 120b) 모두 불량인지, 두 메모리(120a, 120b) 모두 양호한 지를 판단할 수 있게 된다. 이하 기준데이터와 결과 데이터를 통한 메모리 상태비교에 대해 상세하게 기술한다.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치를 통해 검지가능한 메모리의 상태를 나타내는 파형도이다.

이를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치는 그 내부에 구비된 데이터 입력부(108)를 통해 테스트하고자 하는 메모리들(120a, 120b)에 쓰기모드에서 일정패턴의 데이터(예컨대, 101010....)를 기록한다.

그리고, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치는 그 내부에 구비된 비교부(110)를 통해 상기 메모리들(120a, 120b)로부터 출력데이터를 인가받아 기준 데이터와 비교한다. 기준데이터는 도 3에 도시된 바와 같이 양품데이터로 도시된 데이터이며, 입력된 01010101의 데이터에 대해 0011001100110011의 데이터를 출력하게 되면 테스트하는 메모리들(120a, 120b) 모두 양호한 메모리인 것을 비교 판단할 수 있게 된다.

만약, 상기 메모리들(120a, 120b)로부터 출력된 데이터가 0011000000110011 등과 같이 기준데이터가 11임에 불구하고, 출력된 데이터가 00인 경우 두 개의 메모리(120a, 120b)가 모두 불량임을 비교 판단할 수 있으며, 상기 메모리들(120a, 120b)로부터 출력된 데이터가 001100△△00110011 등과 같이 기준데이터가 11임에 불구하고, 출력된 데이터가 △△(찌그러진 파형을 의미함.)인 경우 두 개의 메모리(120a, 120b)중 어느 한 메모리가 불량임을 비교 판단할 수 있다.

따라서, 두 개중 어느 한 메모리만 불량인 경우에는 일단 해당 테스트 대상 메모리(120a, 120b)들을 따로 분류하여 차후 단수개의 메모리테스트 과정에서 불량 메모리만을 다시 골라내어 폐기토록 하며, 두 개 모두 불량 메모리인 경우에는 즉시 해당 메모리를 폐기할 수 있으므로 메모리 테스트 시간을 효과적으로 감소시킬 수 있게 된다.

또한, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치 및 그 장치를 이용한 테스트 방법의 경우에는 복수개의 메모리 테스트에 한정되는 것이 아니고, 신호선을 분기하는 것을 거듭하여 더 많은 메모리를 동시에 테스트할 수 있다.

상기한 구성의 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 기능과 작용을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 신호흐름을 도시한 플로우챠트이다.

먼저, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치는 먼저 테스트하고자 하는 메모리(예컨대, 복수개의 메모리를 테스트한다고 가정함; 120a, 120b)들을 테스트장치에 장착한다.

그 상태에서, 상기 테스트 장치(102)의 내부에 구비된 데이터 입력부(108)를 통해 테스트하고자 하는 메모리들(120a, 120b)에 쓰기모드에서 일정패턴의 데이터(예컨대, 101010....)를 기록한다.

그리고, 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치는 그 내부에 구비된 비교부(110)를 통해 상기 메모리들(120a, 120b)로부터 출력데이터를 인가받아 기준 데이터와 비교한다. 기준데이터는 메모리(120a, 120b)가 모두 양품일 때의 데이터인 양품데이터이며, 입력된 01010101의 데이터에 대해 0011001100110011의 데이터를 출력하게 되면 테스트하는 메모리들(120a, 120b) 모두 양호한 메모리인 것을 비교 판단할 수 있게 된다. 즉, 0011001100110011이 기준데이터인 것이다.

즉, 상기 테스트 장치(102)는 기준데이터와의 비교를 통해 어느 한 메모리가 불량인지, 두 메모리 모두 불량인지, 두 메모리가 모두 양호한지를 판단하여 테스트 대상 메모리들이 모두 양호한 경우에는 제품 포장단계로 이송하고, 어느 한 메모리가 불량인 경우에는 단수 메모리 테스트 장치로 이송하며, 두 메모리가 모두 불량인 경우에는 폐기단계로 분류하여 처리한다.

따라서, 메모리 테스트 시간을 효과적으로 감소시킬 수 있게 된다.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법은 단지 상기한 실시예에 한정되는 것이 아니라 그 기술적 요지를 이탈하지 않는 범위내에서 다양한 변경이 가능하다.

상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법은 다수개의 메모리를 신호선을 분기하여 반복적으로 접속시키고, 해당 메모리들이 모두 양호할 때의 데이터를 기준데이터로 저장함으로써 테스트 출력데이터를 해당 기준데이터와 비교함으로써 메모리의 상태를 신속하게 테스트할 수 있다는 장점이 있다.

도 1은 종래의 실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 구성을 도시한 블록구성도,

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치의 구성을 도시한 블록구성도,

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 테스트 장치를 통해 검지가능한 메모리의 상태를 나타내는 파형도,

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

104:테스트수단, 106:제어신호입력부,

108:데이터입력부, 110:비교부,

112:기준데이터저장부, 114:제어신호입력레지스터,

116:데이터입력레지스터, 118:데이터출력레지스터,

120a,120b:메모리.

Claims

다수개의 메모리를 신호선을 분기하여 반복적으로 접속시킴으로써 메모리를 장착하는 과정과; 해당 메모리들이 모두 양호할 때의 데이터를 기준데이터로 저장하는 과정과; 메모리로부터 출력되는 테스트 출력데이터를 해당 기준데이터와 비교하는 과정과; 테스트 메모리 전부가 불량인지 어느 한 메모리가 불량인지, 전부가 양호인지를 판단하는 과정으로 이루어짐으로써 메모리의 상태를 신속하게 테스트할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법.
각종 메모리 제어신호인 Clock, RAS, CAS, CS 등의 제어신호를 송출하기 위한 제어신호 입력부와;

그 제어신호 입력부의 후단에 접속되어 테스트하기 위한 메모리를 병렬 접속하기 위해 매개된 제어신호 입력 레지스터와;

테스트 데이터를 입력하기 위한 데이터입력부와;

그 데이터 입력부의 후단에 접속되어 테스트하기 위한 메모리를 병렬 접속하기 위해 매개된 데이터입력단 레지스터와;

양품일 때의 출력데이터인 기준데이터를 저장하는 기준데이터 저장부와;

메모리로부터 출력된 출력데이터를 기준데이터와 비교하는 비교부와;

상기 비교부와 메모리의 사이에 구비되고 메모리의 출력데이터를 인가받는 멀티플렉서와;

상기 멀티플렉서와 비교부의 사이에 매개하여 출력데이터를 비교부로 인가시키는 데이터 출력 레지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 장치.
제 2 항에 있어서, 상기 제어신호 레지스터와, 데이터입력 레지스터, 데이터 출력레지스터와 제 1 메모리와 접속된 신호선은 분기되어 제 2 메모리와 접속되는 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 장치.